JP2623833B2 - Clock advance control system - Google Patents

Clock advance control system

Info

Publication number
JP2623833B2
JP2623833B2 JP1139816A JP13981689A JP2623833B2 JP 2623833 B2 JP2623833 B2 JP 2623833B2 JP 1139816 A JP1139816 A JP 1139816A JP 13981689 A JP13981689 A JP 13981689A JP 2623833 B2 JP2623833 B2 JP 2623833B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
mounting
input
gates
clock signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1139816A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH034334A (en
Inventor
淳 岩田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1139816A priority Critical patent/JP2623833B2/en
Publication of JPH034334A publication Critical patent/JPH034334A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2623833B2 publication Critical patent/JP2623833B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はクロックアドバンス制御システムに関し、特
に情報処理装置に実装モジュール内の内部ブロックへ選
択的にクロックを供給制御する選択的クロックアドバン
ス制御システムに関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a clock advance control system, and more particularly, to a selective clock advance control system that selectively controls a clock supply to an internal block in a mounting module for an information processing apparatus.

従来技術 情報処理装置内の選択的クロックアドバンス制御は、
F/F(フリップフロップ)チェーン構成のスキャパスに
よるスキャンイン,スキャンアウト制御や情報装置内の
部分診断制御に有効なものである。かかるスキャンイ
ン,スキャンアウト制御を実現する場合、F/F数の少な
い小型の情報処理装置では装置内を1本のF/Fチェーン
のスキャンパス構成としてスキャンイン,スキャンアウ
ト制御を行えば良いが、F/F数が非常に多い大型の計算
機やスーパーコンピュータのような情報処理装置では、
特定のレジスタ,制御F/Fのスキャンをある程度高速化
しないと、初期設定やログアウトの性能に影響する。そ
こで、装置内を複数のブロックに分割し、ブロック単位
にスキャンパスを設けるのが一般的である。後者のよう
に装置内に複数のスキャンパスを有する場合は、選択し
たスキャンパスを含むブロック単位のクロックアドバン
ス制御が必要である。
Prior art Selective clock advance control in an information processing device
This is effective for scan-in and scan-out control using a scaffold having an F / F (flip-flop) chain configuration and partial diagnostic control in an information device. When implementing such scan-in / scan-out control, in a small information processing apparatus having a small number of F / Fs, scan-in / scan-out control may be performed within the apparatus as a scan path configuration of one F / F chain. In information processing devices such as large computers and supercomputers with a very large number of F / Fs,
Unless the speed of scanning specific registers and control F / Fs is increased to some extent, the performance of initial setting and logout will be affected. Therefore, it is common to divide the inside of the apparatus into a plurality of blocks and provide a scan path for each block. When the apparatus has a plurality of scan paths as in the latter case, it is necessary to perform clock advance control in block units including the selected scan path.

装置内の部分診断制御はハードウェア量の非常に多い
大型計算機やスーパコンピュータのような情報処理装置
で行われるもので、装置全体で診断を行うと、その実行
時間が非常に大きくなるため、障害時のようにエラーの
インジケータによりある程度診断すべき範囲が限定でき
るときには、その部分のみの診断を行うことができれば
非常に効率的である。
Partial diagnosis control in the device is performed by an information processing device such as a large-scale computer or supercomputer with a very large amount of hardware.If a diagnosis is performed on the entire device, the execution time becomes extremely long. When the range to be diagnosed can be limited to some extent by an error indicator as in the case of time, it is very efficient if the diagnosis can be performed only on that part.

部分診断が前述したスキャンパス単位のブロック単位
にできれば、それが最良であるが、通常は隣接する複数
のブロックにまたがることが多い。これはハードウェア
の機能単位に診断を行うのが診断し易いためである。従
って、装置内の部分診断では選択した複数のブロック単
位のクロックアドバンス制御が必要となる。
It is best if the partial diagnosis can be performed in units of the above-described block in units of the scan path, but usually, it is often performed over a plurality of adjacent blocks. This is because it is easy to make a diagnosis for each functional unit of hardware. Therefore, in the partial diagnosis in the apparatus, clock advance control is required for a plurality of selected blocks.

上述のような選択した1つ又は複数のブロック単位の
クロックアドバンス制御を実現する方式としては、各ブ
ロックに分配するクロック信号対応のビットを有するク
ロックアドバンス選択レジスタを用意して、このクロッ
クアドバンス選択レジスタで有効設定されたビットに対
応するクロック信号のみをアドバンスさせる方式が広く
採用されている。
As a method for implementing the clock advance control for one or a plurality of blocks selected as described above, a clock advance selection register having bits corresponding to a clock signal to be distributed to each block is prepared. A method of advancing only a clock signal corresponding to a bit set valid in the above is widely adopted.

近年では情報処理装置の実装テクノロジーが改良さ
れ、また集積度が向上して、スキャンパスを構成できる
複数のブロックを実装でき、さらに内部に各ブロックに
クロックを供給するための分配回路を持つ実装モジュー
ルが開発されて普及し始めている。このような実装構造
の実装モジュールで構成された情報処理装置に対して、
上述のクロックアドバンス選択レジスタを使用してクロ
ックアドバンス制御を実現した例を次に説明する。
In recent years, the mounting technology of information processing devices has been improved, and the degree of integration has been improved. It is possible to mount multiple blocks that can constitute a scan path, and furthermore, a mounting module that has a distribution circuit inside to supply a clock to each block. Is being developed and becoming popular. For an information processing device composed of mounting modules with such a mounting structure,
An example in which clock advance control is realized using the above-described clock advance selection register will be described below.

第2図に示す情報処理装置は、保守診断プロセッサ1
とクロック供給回路2及び主機能を搭載する実装モジュ
ール3〜5で構成されている。
The information processing apparatus shown in FIG.
And a clock supply circuit 2 and mounting modules 3 to 5 having main functions.

実装モジュール3〜5は各々4つの内部ブロックとク
ロック分配用の2入力ゲート回路とを持っている。実装
モジュール3には内部ブロック3a,3b,3c及び3dと、これ
に対応するクロック分配用2入力アンドゲート30a,30b,
30c及び30dを有する。各々の内部ブロックにはF/Fチェ
ーン構成の1本のスキャンパスが構成されているが第2
図には示していない。
Each of the mounting modules 3 to 5 has four internal blocks and a two-input gate circuit for clock distribution. The mounting module 3 includes internal blocks 3a, 3b, 3c and 3d and corresponding two-input AND gates 30a, 30b for clock distribution.
It has 30c and 30d. Each internal block has one scan path of F / F chain configuration.
Not shown in the figure.

実装モジュール4,5も実装モジュール3と同様の構成
であり、実装モジュール4には内部ブロック4a,4b,4c及
び4dとクロック配分用2入力アンドゲート40a,40b,40c
及び40dが存在し、実装モジュール5には内部ブロック5
a,5b,5c及び5dとクロック配分用2入力アンドゲート50
a,50b,50c及び50dが存在する。
The mounting modules 4 and 5 have the same configuration as the mounting module 3, and the mounting module 4 includes internal blocks 4a, 4b, 4c and 4d and two-input AND gates 40a, 40b and 40c for clock distribution.
And 40d, and the mounting module 5 has an internal block 5
a, 5b, 5c and 5d and two-input AND gate 50 for clock distribution
a, 50b, 50c and 50d are present.

クロック供給回路2は実装モジュール3〜5及び保守
診断プロセッサ1にクロックを供給する回路であるが、
第2図には実装モジュール3〜5のクロック供給回路の
みを示してある。クロックオシレータ22は実装モジュー
ル3〜5の共通のクロックオシレータであり、その出力
即ちクロック信号は分配用バッファゲート210〜212で夫
々実装モジュール3〜5に入力される。
The clock supply circuit 2 is a circuit that supplies a clock to the mounting modules 3 to 5 and the maintenance diagnosis processor 1,
FIG. 2 shows only the clock supply circuits of the mounting modules 3 to 5. The clock oscillator 22 is a common clock oscillator of the mounting modules 3 to 5, and its output, that is, a clock signal is input to the mounting modules 3 to 5 by the distribution buffer gates 210 to 212, respectively.

バッファゲート210の出力クロック信号は実装モジュ
ール3に入力後、クロック分配用2入力アンドゲート30
a,30b,30c及び30dの各々の第1入力端子に入力接続され
る。同様にバッファゲート211,212の出力クロック信号
は夫々クロック分配用2入力アンドゲート40a,40b,40c
及び40dの第1入力端子、クロック分配用2入力アンド
ゲート50a,50b,50c及び50dの第1入力端子に入力接続さ
れている。保守診断プロセッサ1は実装モジュール3〜
5の保守診断を行うプロセッサであるが、第2図にはコ
ントローラ16とクロックアドバンス制御回路だけが示し
てある。
After the output clock signal of the buffer gate 210 is input to the mounting module 3, a two-input AND gate 30 for clock distribution is provided.
Input is connected to the first input terminal of each of a, 30b, 30c and 30d. Similarly, the output clock signals of the buffer gates 211 and 212 are two-input AND gates 40a, 40b and 40c for clock distribution, respectively.
And 40d, and two inputs for clock distribution and two input AND gates 50a, 50b, 50c and 50d. The maintenance diagnosis processor 1 includes mounting modules 3 to
5 is a processor for performing maintenance diagnosis, but FIG. 2 shows only the controller 16 and the clock advance control circuit.

F/F14は実装モジュール3〜5に含まれる全内部ブロ
ックにクロックを供給するモード(全クロック供給モー
ド)を設定するための1ビットのフリップフロップであ
り、“1"のとき全クロック供給モードを指定し、コント
ローラ16の指示で更新(セット/リセット)される。F/
F14の出力信号はオアゲート10a〜10d,11a〜11d及び12a
〜12dの第1入力端子に入力接続されている。
The F / F 14 is a 1-bit flip-flop for setting a mode for supplying a clock to all the internal blocks included in the mounting modules 3 to 5 (all clock supply mode). It is specified and updated (set / reset) by the instruction of the controller 16. F /
The output signals of F14 are OR gates 10a to 10d, 11a to 11d and 12a.
12d are connected to the first input terminals.

レジスタ17〜19は各々4ビット構成であり、実装モジ
ュール3〜5に各々存在する4つの内部ブロックに対応
したクロックアドバンス選択レジスタである。レジスタ
17〜19はコントローラ16の指示で更新され、レジスタ17
のビット17a,17b,17c及び17dの出力は、オアゲート10a,
10b,10c及び10dの第2入力端子に、レジスタ18のビット
18a,18b,18c及び18dの出力はオアゲート11a,11b,11c及
び11dの第2入力端子に、レジスタ19のビット19a,19b,1
9c及び19dの出力はオアゲート12a,12b,12c及び12dの第
2入力端子に夫々対応して入力接続されている。
Each of the registers 17 to 19 has a 4-bit configuration, and is a clock advance selection register corresponding to four internal blocks existing in the mounting modules 3 to 5, respectively. register
17 to 19 are updated by the instruction of the controller 16, and the registers 17 to 19 are updated.
The outputs of bits 17a, 17b, 17c and 17d of the OR gates 10a,
The second input terminal of 10b, 10c and 10d is connected to the bit of register 18
The outputs of 18a, 18b, 18c and 18d are supplied to the second input terminals of the OR gates 11a, 11b, 11c and 11d, respectively.
The outputs of 9c and 19d are connected to the second input terminals of the OR gates 12a, 12b, 12c and 12d, respectively.

オアゲート10a,10b,10c及び10dは、実装モジュール3
の内部ブロック3a,3b,3c及び3dに対応したクロックイネ
ーブル信号を生成出力するゲート回路である。オアゲー
ト10a,10b,10c及び10dの出力は、夫々実装モジュール3
の内部のクロック分配用2入力ゲート30a,30b,30c及び3
0dの第2入力端子に入力接続されている。
OR gates 10a, 10b, 10c and 10d are mounted module 3
Is a gate circuit that generates and outputs a clock enable signal corresponding to the internal blocks 3a, 3b, 3c, and 3d. The output of the OR gates 10a, 10b, 10c and 10d is
2 input gates 30a, 30b, 30c and 3 for clock distribution inside
The input is connected to the second input terminal of 0d.

オアゲート11a,11b,11c及び11dは、実装モジュール4
の内部ブロック4a,4b,4c及び4dに対応したクロックイネ
ーブル信号を生成出力するゲート回路である。オアゲー
ト11a,11b,11c及び11dの出力は、夫々実装モジュール4
の内部のクロック分配用2入力ゲート40a,40b,40c及び4
0dの第2入力端子に入力接続されている。
The OR gates 11a, 11b, 11c and 11d are mounted module 4
Is a gate circuit that generates and outputs a clock enable signal corresponding to the internal blocks 4a, 4b, 4c, and 4d. The outputs of the OR gates 11a, 11b, 11c and 11d are respectively
2 input gates 40a, 40b, 40c and 4 for clock distribution inside
The input is connected to the second input terminal of 0d.

オアゲート12a,12b,12c及び12dは、実装モジュール5
の内部ブロック5a,5b,5c及び5dに対応したクロックイネ
ーブル信号を生成出力するゲート回路である。オアゲー
ト12a,12b,12c及び12dの出力は、夫々実装モジュール5
の内部のクロック分配用2入力ゲート50a,50b,50c及び5
0dの第2入力端子に入力接続されている。
The OR gates 12a, 12b, 12c and 12d are mounted on the mounting module 5
Is a gate circuit that generates and outputs a clock enable signal corresponding to the internal blocks 5a, 5b, 5c, and 5d. The outputs of the OR gates 12a, 12b, 12c and 12d are respectively
2 input gates 50a, 50b, 50c and 5 for clock distribution inside
The input is connected to the second input terminal of 0d.

次に、上述の構成におけるクロックアドバンス制御に
ついて説明する。クロックアドバンス制御を行う場合次
の3つのケースがある。
Next, the clock advance control in the above configuration will be described. When the clock advance control is performed, there are the following three cases.

(1)通常動作を行う場合のクロックアドバンス制御 (2)内部ブロック単位のスキャンイン/アウト動作を
行う場合のクロックアドバンス制御 (3)内部診断を行う場合のクロックアドバンス制御 (1)の場合は、実装モジュール3〜5の全内部ブロ
ックにクロックを供給するため、コントローラ16はレジ
スタ17〜19の全ビットを0クリアし、F/F14をセットし
て全クロック供給モードに設定する。
(1) Clock advance control when performing normal operation (2) Clock advance control when performing scan-in / out operation in units of internal blocks (3) Clock advance control when performing internal diagnosis (1) In order to supply a clock to all the internal blocks of the mounting modules 3 to 5, the controller 16 clears all bits of the registers 17 to 19 to 0, sets the F / F 14 and sets the mode to the all clock supply mode.

(2)の場合は、実装モジュール3〜5の内部ブロッ
クの中から選択された1つの内部ブロックに対してクロ
ックを供給してその内部ブロックに対するスキャンイン
/アウトを行う。このためコントローラ16はF/F14をリ
セットし、所望の内部ブロックに対応するレジスタ17〜
19の中の1ビットをセットする。
In the case of (2), a clock is supplied to one internal block selected from the internal blocks of the mounting modules 3 to 5, and scan-in / out of the internal block is performed. Therefore, the controller 16 resets the F / F 14, and registers 17 to 17 corresponding to the desired internal block.
Set one bit in 19

(3)の場合の部分診断は、第3図に示す実装モジュ
ール3〜5の搭載機能単位に実行される。このためコン
トローラ16はF/F14をリセットし、所望の機能を搭載す
る1つ又は複数の内部ブロックに対応するレジスタ17〜
19の中のビットをセットする。
The partial diagnosis in the case of (3) is executed for each of the mounted functions of the mounting modules 3 to 5 shown in FIG. Therefore, the controller 16 resets the F / F 14, and registers 17 to 17 corresponding to one or a plurality of internal blocks having a desired function.
Set the bit in 19.

従って、上記(1)〜(3)の場合を満足するレジス
タ17〜19の設定組合わせは第4図のようになる。
Accordingly, the setting combinations of the registers 17 to 19 satisfying the above cases (1) to (3) are as shown in FIG.

上述したような実装モジュールで構成された情報処理
装置において、部分診断の対象となる機能はマシンサイ
クルを小さくして高速化する理由や、ハードウェアの分
割損をできるだけ小さくする理由等で、一般的に1つの
実装モジュール内に搭載されることが多い。また複数の
実装モジュールで構成しても何の利点もない。
In the information processing apparatus configured with the mounting modules as described above, the functions to be subjected to the partial diagnosis are generally used for reasons such as reducing the machine cycle and increasing the speed, and reducing the hardware division loss as much as possible. Are often mounted in one mounting module. In addition, there is no advantage even if it is constituted by a plurality of mounting modules.

従って、部分診断を行うためにクロックアドバンス選
択レジスタの設定パターンも比較的少なくて済む。とこ
ろが、従来技術のクロック選択レジスタは内部ブロック
単位独立のビットを持っているので、部分診断の対象に
なり得ない多くの組合せまでも設定可能にしている。こ
のように内部ブロック単位のビットを用意すれば全ての
バリエーションが可能にはなるが、実装モジュール数や
内部ブロック数が大きくなれば、クロック選択レジスタ
とし相当大きなハードウェア量を用意しなければならな
くなってしまうという大きな欠点が存在する。
Therefore, the pattern for setting the clock advance selection register for performing the partial diagnosis can be relatively small. However, since the clock selection register of the related art has independent bits for each internal block, it is possible to set many combinations that cannot be subjected to partial diagnosis. By preparing bits in units of internal blocks in this way, all variations are possible, but if the number of mounted modules and internal blocks becomes large, it is necessary to prepare a considerable amount of hardware as a clock selection register There is a major drawback of doing so.

発明の目的 本発明の目的はクロック選択レジスタのハードウェア
量を少なくし得るクロックアドバンス制御システムを提
供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a clock advance control system capable of reducing the amount of hardware of a clock selection register.

発明の構成 本発明によれば、各々n個(nは2以上の自然数)の
内部ブロックを有するm個(mは2以上の自然数)の実
装モジュールを含んで構成される情報処理装置のクロッ
クアドバンス制御システムであって、前記m個の実装モ
ジュールの各々に1系統のクロック信号を供給するクロ
ック信号供給手段と、このクロック供給手段からの前記
クロック信号の有効/無効を前記複数の実装モジュール
毎に制御する第1のクロック制御手段と、前記m個の実
装モジュールの各々に対応して設けられ、前記実装モジ
ュールに供給された前記クロック信号を前記n個の内部
ブロックの各々に分配するクロック分配手段と、このク
ロック分配手段により分配されたクロック信号の有効/
無効を前記n個の内部ブロック毎に制御する第2のクロ
ック制御手段とを含むことを特徴とするクロックアドバ
ンス制御システムが得られる。
According to the present invention, a clock advance of an information processing apparatus including m (m is a natural number of 2 or more) mounting modules each having n (n is a natural number of 2 or more) internal blocks is provided. A control system, comprising: a clock signal supply unit that supplies one clock signal to each of the m mounting modules; and a validity / invalidity of the clock signal from the clock supply unit for each of the plurality of mounting modules. First clock control means for controlling, and clock distribution means provided corresponding to each of the m mounting modules and distributing the clock signal supplied to the mounting module to each of the n internal blocks And validity of the clock signal distributed by the clock distribution means.
And a second clock control means for controlling invalidation for each of the n internal blocks.

実施例 以下、図面を用いて本発明の実施例を説明する。Embodiment Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示す情報処理装置は、保守診断プロセッサ1と
クロック供給回路2及び主機能を搭載する実装モジュー
ル3〜5で構成されている。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.
The information processing apparatus shown in FIG. 1 includes a maintenance diagnosis processor 1, a clock supply circuit 2, and mounting modules 3 to 5 having main functions.

実装モジュール3〜5は各々4つの内部ブロックとク
ロック分配用の2入力ゲート回路とを有する。実装モジ
ュール3には内部ブロック3a,3b,3c及び3dと、これに対
応するクロック分配用2入力アンドゲート30a,30b,30c
及び30dを有する。各々内部ブロックにはF/Fチェーン構
成の1本のスキャンパスが構成されているが第1図には
示していない。
Each of the mounting modules 3 to 5 has four internal blocks and a two-input gate circuit for clock distribution. The mounting module 3 includes internal blocks 3a, 3b, 3c, and 3d and corresponding two-input AND gates 30a, 30b, and 30c for clock distribution.
And 30d. Each internal block is provided with one scan path having an F / F chain configuration, but is not shown in FIG.

実装モジュール4,5も実装モジュール3と同様の構成
であり、実装モジュール4には内部ブロック4a,4b,4c及
び4dとクロック分配用2入力アンドゲート40a,40b,40c
及び40dが存在し、実装モジュール5には内部ブロック5
a,5b,5c及び5dとクロック分配用2入力アンドゲート50
a,50b,50c及び50dが存在する。
The mounting modules 4 and 5 have the same configuration as the mounting module 3. The mounting module 4 includes internal blocks 4a, 4b, 4c and 4d and two-input AND gates 40a, 40b and 40c for clock distribution.
And 40d, and the mounting module 5 has an internal block 5
a, 5b, 5c and 5d and 2-input AND gate 50 for clock distribution
a, 50b, 50c and 50d are present.

クロック供給回路2は実装モジュール3〜5及び保守
診断プロセッサ1にクロックを供給する回路であるが、
第1図には実装モジュール3〜5のクロック供給回路の
みを示している。クロックオシレータ22は実装モジュー
ル3〜5の共通のクロックオシレータであり、その出力
即ちクロック信号は分配用2入力アンドゲート210〜212
の第1入力端子に入力接続されている。
The clock supply circuit 2 is a circuit that supplies a clock to the mounting modules 3 to 5 and the maintenance diagnosis processor 1,
FIG. 1 shows only the clock supply circuits of the mounting modules 3 to 5. The clock oscillator 22 is a common clock oscillator of the mounting modules 3 to 5, and its output, that is, a clock signal is a 2-input AND gate 210 to 212 for distribution.
Is input connected to the first input terminal of

分配用2入力アンドゲート210〜212は夫々実装モジュ
ール3〜5にクロック信号を供給し、分配用2入力アン
ドゲート210の出力クロック信号は実装モジュール3に
入力後、クロック分配用2入力アンドゲート30a,30b,30
c及び30dの各々の第1入力端子に入力接続される。
The two-input AND gates 210 to 212 for distribution supply a clock signal to the mounting modules 3 to 5, respectively, and the output clock signal of the two-input AND gate 210 for distribution is input to the mounting module 3 and then the two-input AND gate 30a for clock distribution. , 30b, 30
The input is connected to the first input terminal of each of c and 30d.

同様に、分配用2入力アンドゲート211,212の出力ク
ロック信号は夫々クロック分配用2入力アンドゲート40
a,40b,40c及び40dの第1入力端子、クロック分配用2入
力アンドゲート50a,50b,50c及び50dの第1入力端子に夫
々入力接続されている。
Similarly, the output clock signals of the two-input AND gates 211 and 212 for distribution are respectively two-input AND gates 40 for clock distribution.
Inputs are connected to first input terminals of a, 40b, 40c and 40d, and first input terminals of two-input AND gates 50a, 50b, 50c and 50d for clock distribution, respectively.

オアゲート200〜202は夫々実装モジュール3〜5に対
応したクロックイネーブル信号を生成出力するゲート回
路であり、分配用2入力アンドゲート210〜212の第2入
力端子に入力接続されている。
The OR gates 200 to 202 are gate circuits that generate and output clock enable signals corresponding to the mounting modules 3 to 5, respectively, and are connected to the second input terminals of the two-input AND gates 210 to 212 for distribution.

保守診断プロセッサ1は実装モジュール3〜5の保守
診断を行うプロセッサであるが、第1図にはコントロー
ラ16とクロックアドバンス制御回路だけが示してある。
The maintenance diagnosis processor 1 is a processor that performs maintenance diagnosis of the mounted modules 3 to 5, and FIG. 1 shows only the controller 16 and the clock advance control circuit.

F/F14は実装モジュール3〜5に含まれる全内部ブロ
ックにクロックを供給する全クロック供給モードを設定
するための1ビットのフリップフロップであり、“1"の
とき全クロック供給モードを指定し、コトンローラ16の
指示で更新される。F/F14の出力信号はオアゲート10a〜
10d,11a〜11d及び12a〜12dの第1入力端子に入力接続さ
れると共に、バッファゲート15を介してクロック供給回
路2のオアゲート200〜202の第2入力端子に入力接続さ
れている。
The F / F 14 is a 1-bit flip-flop for setting an all clock supply mode for supplying a clock to all the internal blocks included in the mounting modules 3 to 5, and when "1", specifies the all clock supply mode. Updated by the instruction of the cotton roller 16. The output signal of F / F14 is OR gate 10a ~
The input is connected to the first input terminals of 10d, 11a to 11d and 12a to 12d, and is also connected to the second input terminals of the OR gates 200 to 202 of the clock supply circuit 2 via the buffer gate 15.

レジスタ13は全7ビットのクロックアドバンス選択レ
ジスタであり、ビット130〜132の3ビットのフィールド
は実装モジュール3〜5に対応するクロックイネーブル
であり、その出力信号は夫々クロック供給回路2のオア
ゲート200〜202の第2入力端子に入力接続されている。
The register 13 is a clock advance selection register of all 7 bits, a 3-bit field of bits 130 to 132 is a clock enable corresponding to the mounting modules 3 to 5, and output signals thereof are OR gates 200 to 200 of the clock supply circuit 2, respectively. The input is connected to the second input terminal 202.

また、ビット13a〜13dの4ビットのフィールドは実装
モジュール3の内部ブロック3a〜3d、実装モジュール4
の内部ブロック4a〜4d及び実装モジュール5a〜5dに夫々
対応しており、ビット13aの出力信号はオアゲート10a,1
1a及び12aの第2入力端子に、ビット13bの出力信号はオ
アゲート10b,11b及び12bの第2入力端子に、ビット13c
の出力信号はオアゲート10c,11c及び12cの第2入力端子
に、ビット13dの出力信号はオアゲート10d,11d及び12d
の第2入力端子に夫々入力接続されている。レジスタ13
はコントローラ16の指示で更新される。
Also, the 4-bit field of bits 13a to 13d is the internal block 3a to 3d of the mounting module 3, the mounting module 4
Corresponding to the internal blocks 4a to 4d and the mounting modules 5a to 5d, respectively, and the output signal of the bit 13a is output from the OR gates 10a and 10a.
The output signal of bit 13b is applied to the second input terminals of 1a and 12a, and the output signal of bit 13b is applied to the second input terminals of OR gates 10b, 11b and 12b.
Is output to the second input terminals of the OR gates 10c, 11c and 12c, and the output signal of the bit 13d is output to the OR gates 10d, 11d and 12d.
Are respectively connected to the second input terminals. Register 13
Is updated by the instruction of the controller 16.

オアゲート10a,10b,10c及び10dは実装モジュール3の
内部ブロック3a,3b,3c及び3dに対応したクロックイネー
ブル信号を生成出力するためゲート回路である。オアゲ
ート10a,10b,10c及び10dの出力は夫々実装モジュール3
の内部のクロック分配用2入力ゲート30a,30b,30c及び3
0dの第2入力端子に入力接続されている。
The OR gates 10a, 10b, 10c and 10d are gate circuits for generating and outputting clock enable signals corresponding to the internal blocks 3a, 3b, 3c and 3d of the mounting module 3. The output of the OR gates 10a, 10b, 10c and 10d is the mounting module 3 respectively.
2 input gates 30a, 30b, 30c and 3 for clock distribution inside
The input is connected to the second input terminal of 0d.

オアゲート11a,11b,11c及び11dの出力は夫々実装モジ
ュール4の内部のクロック分配用2入力ゲート40a,40b,
40c及び40dの第2入力端子に入力接続されている。
The outputs of the OR gates 11a, 11b, 11c and 11d are two-input gates for clock distribution 40a, 40b,
The input is connected to the second input terminals of 40c and 40d.

オアゲート12a,12b,12c及び12dは実装モジュール5の
内部ブロック5a,5b,5c及び5dに対応したクロックイネー
ブル信号を生成出力するゲート回路である。オアゲート
12a,12b,12c及び12dの出力は夫々実装モジュール5の内
部のクロック分配用2入力ゲート50a,50b,50c及び50dの
第2入力端子に入力接続されている。
The OR gates 12a, 12b, 12c and 12d are gate circuits for generating and outputting clock enable signals corresponding to the internal blocks 5a, 5b, 5c and 5d of the mounting module 5. Or gate
The outputs of 12a, 12b, 12c and 12d are connected to the second input terminals of two input gates 50a, 50b, 50c and 50d for clock distribution inside the mounting module 5, respectively.

次に以上の構成で従来技術同様に実装モジュール3〜
5の内部ブロックに対するクロックアドバンス制御装置
を説明する。
Next, with the above configuration, the mounting modules 3 to
The clock advance controller for the 5 internal blocks will be described.

(1)の通常動作の場合は、コントローラ16はレジス
タ13の全ビットを0クリアし、F/F14をセットして全ク
ロック供給モードに設定する。
In the case of the normal operation of (1), the controller 16 clears all bits of the register 13 to 0, sets the F / F 14 and sets the mode to the all clock supply mode.

(2)のスキャンイン/アウト動作の場合は、コント
ローラ16はF/F14をリセットし、所望の内部ブロックに
対応するレジスタ13のビット13a〜13dの中の1ビット
と、所望の内部ブロックを含む実装モジュールに対応す
るレジスタ13のビット130〜132の中の1ビットを各々セ
ットする。
In the case of the scan-in / out operation of (2), the controller 16 resets the F / F 14 to include one of the bits 13a to 13d of the register 13 corresponding to the desired internal block and the desired internal block. One of the bits 130 to 132 of the register 13 corresponding to the mounting module is set.

(3)の部分診断動作の場合は、コントローラ16はF/
F14をリセットし、第3図で示される所望の機能を搭載
する1つ又は複数の内部ブロックに対応するレジスタの
ビット13a〜13dの中のビットと、その内部ブロックを含
む実装モジュールに対応するレジスタ13のビット130〜1
32の中の1ビットをセットする。
In the case of the partial diagnosis operation of (3), the controller 16
F14 is reset, and the bits in bits 13a to 13d of the register corresponding to one or more internal blocks having the desired function shown in FIG. 3 and the register corresponding to the mounting module including the internal block 13 bits 130-1
Set one bit of 32.

従って、上述の(1)〜(3)の場合を満足するレジ
スタ13の設定組合わせは第5図のようになる。
Therefore, the setting combinations of the register 13 satisfying the above cases (1) to (3) are as shown in FIG.

第4図と第5図とを比較すると、本発明を使用した第
5図の場合はビット数の少ないクロックアドバンス選択
レジスタで所望の動作を実現できることがわかる。
A comparison between FIG. 4 and FIG. 5 shows that in the case of FIG. 5 using the present invention, a desired operation can be realized with a clock advance selection register having a small number of bits.

発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、実装モジュー
ル単位のクロックアドバンス選択制御手段と、各実装モ
ジュール共通の内部ブロック単位のクロックアドバンス
選択制御手段とを設けることにより、少ないハードウェ
ア量でスキャンイン/アウト動作や部分診断動作を実行
できるという大きな効果がある。
Effects of the Invention As described above, according to the present invention, by providing the clock advance selection control means for each mounting module and the clock advance selection control means for each internal block common to each mounting module, a small amount of hardware is provided. Has a great effect that a scan-in / out operation or a partial diagnosis operation can be executed.

実装モジュール数m、内部ブロック数nを使用して、
クロックアドバンスレジスタのビット数を表現すれば、
従来技術では(m×n)ビット、本発明では(m+n)
ビットとなり、実施例の比較では従来技術が(3×4)
=12ビット、本発明が(3+4)=7ビットであるが、
m,nの数が大きくなればその効果はより顕著となる。
Using the number m of mounted modules and the number n of internal blocks,
Expressing the number of bits of the clock advance register,
(M × n) bits in the prior art, and (m + n) in the present invention
And the prior art is (3 × 4)
= 12 bits, the present invention is (3 + 4) = 7 bits,
The effect becomes more remarkable as the number of m and n increases.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の実施例のブロック図、第2図は従来技
術を示すブロック図、第3図は第1,第2における内部ブ
ロックの機能を示す図、第4図は第2図の従来例におけ
るクロックアドバンス制御例を示す図、第5図は本発明
の実施例におけるクロックアドバンス制御例を示す図で
ある。 主要部分の符号の説明 1……保守診断プロセッサ 2……クロック供給回路 3,4,5……実装モジュール 3a〜3d……内部ブロック 4a〜4d……内部ブロック 5a〜5d……内部ブロック 13……レジスタ 16……コントローラ
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a conventional technique, FIG. 3 is a diagram showing functions of internal blocks in FIGS. 1 and 2, and FIG. FIG. 5 is a diagram showing an example of clock advance control in a conventional example, and FIG. 5 is a diagram showing an example of clock advance control in an embodiment of the present invention. Description of Signs of Main Parts 1 ... Maintenance Diagnosis Processor 2 ... Clock Supply Circuit 3,4,5 ... Installed Module 3a-3d ... Internal Block 4a-4d ... Internal Block 5a-5d ... Internal Block 13 ... … Register 16 …… Controller

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】各々n個(nは2以上の自然数)の内部ブ
ロックを有するm個(mは2以上の自然数)の実装モジ
ュールを含んで構成される情報処理装置のクロックアド
バンス制御システムであって、前記m個の実装モジュー
ルの各々に1系統のクロック信号を供給するクロック信
号供給手段と、このクロック供給手段からの前記クロッ
ク信号の有効/無効を前記複数の実装モジュール毎に制
御する第1のクロック制御手段と、前記m個の実装モジ
ュールの各々に対応して設けられ、前記実装モジュール
に供給された前記クロック信号を前記n個の内部ブロッ
クの各々に分配するクロック分配手段と、このクロック
分配手段により分配されたクロック信号の有効/無効を
前記n個の内部ブロック毎に制御する第2のクロック制
御手段とを含むことを特徴とするクロックアドバンス制
御システム。
1. A clock advance control system for an information processing apparatus comprising m (m is a natural number of 2 or more) mounting modules each having n (n is a natural number of 2 or more) internal blocks. A clock signal supply unit that supplies a clock signal of one system to each of the m mounting modules; and a first unit that controls the validity / invalidity of the clock signal from the clock supply unit for each of the plurality of mounting modules. Clock distribution means provided corresponding to each of the m mounting modules, and distributing the clock signal supplied to the mounting module to each of the n internal blocks; Second clock control means for controlling the validity / invalidity of the clock signal distributed by the distribution means for each of the n internal blocks. Clock advance control system according to claim.
【請求項2】前記第1のクロック制御手段は前記クロッ
ク信号を有効とする実装モジュールを指定し、前記第2
のクロック制御手段は前記指定された実装モジュール内
の内部ブロックのうち前記クロック信号を有効とするも
のを指定することを特徴とする請求項1記載のクロック
アドバンス制御システム。
2. The method according to claim 1, wherein the first clock control means specifies a mounting module for which the clock signal is valid, and
2. The clock advance control system according to claim 1, wherein the clock control means specifies one of the internal blocks in the specified mounting module that makes the clock signal valid.
【請求項3】前記第1のクロック制御手段が前記実装モ
ジュールの各々に対応したm個のフリップフロップを含
み、これらm個のフリップフロップの各々が対応する前
記実装モジュールに供給される前記クロック信号の有効
/無効を示し、前記第2のクロック制御手段が前記内部
ブロックの各々に対応したn個のフリップフロップを含
み、これらn個のフリップフロップの各々が対応する内
部ブロックに供給される前記クロック信号の有効/無効
を示し、前記m個のフリップフロップの設定および前記
n個のフリップフロップの設定の組み合わせにより、前
記内部ブロックのうち前記クロック信号が有効とされる
ものが指定されることを特徴とする請求項1記載のクロ
ックアドバンス制御システム。
3. The clock signal supplied to the corresponding mounting module, wherein the first clock control means includes m flip-flops corresponding to each of the mounting modules. The second clock control means includes n flip-flops corresponding to each of the internal blocks, and each of the n flip-flops is supplied to the corresponding internal block. A signal indicating whether the clock signal is valid among the internal blocks is designated by a combination of the setting of the m flip-flops and the setting of the n flip-flops. The clock advance control system according to claim 1, wherein
JP1139816A 1989-06-01 1989-06-01 Clock advance control system Expired - Lifetime JP2623833B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1139816A JP2623833B2 (en) 1989-06-01 1989-06-01 Clock advance control system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1139816A JP2623833B2 (en) 1989-06-01 1989-06-01 Clock advance control system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH034334A JPH034334A (en) 1991-01-10
JP2623833B2 true JP2623833B2 (en) 1997-06-25

Family

ID=15254125

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1139816A Expired - Lifetime JP2623833B2 (en) 1989-06-01 1989-06-01 Clock advance control system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2623833B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7621285B2 (en) 2005-09-15 2009-11-24 Steris Inc. Tunnel washer system with improved cleaning efficiency

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS602699B2 (en) * 1978-11-27 1985-01-23 株式会社日立製作所 information processing equipment
JPS6293672A (en) * 1985-10-21 1987-04-30 Hitachi Ltd Hierarchy type logical apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPH034334A (en) 1991-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3209776B2 (en) Emulation device and microcontroller used for it
US7962816B2 (en) I/O switches and serializer for each parallel scan register
EP1234277B1 (en) Programmable event counter system
US4670838A (en) Single chip microcomputer capable of debugging an external program without an increase of the number of terminals/ports
US4621363A (en) Testing and diagnostic device for digital computers
JPH06342036A (en) Testing device of electronic device
JPS6029402B2 (en) Clock control signal generator
US6989695B2 (en) Apparatus and method for reducing power consumption by a data synchronizer
US5677915A (en) Customized method and apparatus for streamlined testing a particular electrical circuit
EP0082682B1 (en) Microcomputer unit
JP2623833B2 (en) Clock advance control system
GB2137847A (en) Picture Image Processing System
JPH10116131A (en) Circuit and system for clock signal control
JPS638493B2 (en)
JPS63108741A (en) Semiconductor integrated circuit device
JP3129397B2 (en) Emulation device for microcomputer
JP2000155701A (en) Debugging circuit
KR100196526B1 (en) Realtime control system for emulation
JPS59161752A (en) Central processor of data processing system
JPH03268159A (en) Console connection system for maintenance
JPH07152672A (en) Software strap initialization system of transmission equipment
JPH0764804A (en) Interrupt control circuit
JPS6041140A (en) Debugging device of read-only memory built in semiconductor integrated circuit
JPH06164342A (en) Clock signal generation circuit
JPH0358207A (en) Microcomputer