JP2599511Y2 - 自動試料吸引器用ニードル - Google Patents
自動試料吸引器用ニードルInfo
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- JP2599511Y2 JP2599511Y2 JP1993047534U JP4753493U JP2599511Y2 JP 2599511 Y2 JP2599511 Y2 JP 2599511Y2 JP 1993047534 U JP1993047534 U JP 1993047534U JP 4753493 U JP4753493 U JP 4753493U JP 2599511 Y2 JP2599511 Y2 JP 2599511Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は自動試料吸引器用ニード
ル、特にその材質及び構造の改良に関する。
ル、特にその材質及び構造の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】高速液体クロマトグラフ（ＨＰＬＣ）な
どにおいて、多数の試料を分離定量する場合、各サンプ
ルビンから試料を次々と効率良くカラムに送るために自
動試料吸引器が汎用されている。前記自動試料吸引器を
用いて多数の試料を順次カラムに送る場合、所定配列さ
れた各サンプルビンと自動試料吸引器の試料吸引部であ
るニードルとを相対移動させ、該ニードルをサンプルビ
ン上に位置させる。そして、前記ニードルを下降させて
サンプルビン内に挿入して試料を吸引し、該ニードルを
上昇させサンプルビンから抜取り試料をカラムへ送出し
た後、次のサンプルビン上にニードルを移動させ、この
工程を繰返すのである。ここで、図５（Ａ）に示すよう
に前記サンプルビン１０は、内部の試料１２が気化しな
いように、ビン口にパッキン１４等の封止膜を設けサン
プルビン１０内を密封している。
どにおいて、多数の試料を分離定量する場合、各サンプ
ルビンから試料を次々と効率良くカラムに送るために自
動試料吸引器が汎用されている。前記自動試料吸引器を
用いて多数の試料を順次カラムに送る場合、所定配列さ
れた各サンプルビンと自動試料吸引器の試料吸引部であ
るニードルとを相対移動させ、該ニードルをサンプルビ
ン上に位置させる。そして、前記ニードルを下降させて
サンプルビン内に挿入して試料を吸引し、該ニードルを
上昇させサンプルビンから抜取り試料をカラムへ送出し
た後、次のサンプルビン上にニードルを移動させ、この
工程を繰返すのである。ここで、図５（Ａ）に示すよう
に前記サンプルビン１０は、内部の試料１２が気化しな
いように、ビン口にパッキン１４等の封止膜を設けサン
プルビン１０内を密封している。
【０００３】一方、自動試料吸引器においては、前記図
５（Ａ）に示したサンプルビン１０を多数配列し、自動
的に次々とニードルから各サンプルビン１０内の試料を
吸引していかなければならない。このため、ニードルを
各サンプルビン１０内に挿入する際には、サンプルビン
１０のパッキン１４を外すのではなく、同図（Ｂ）に示
すようにニードル１６の先端で前記パッキン１４のセプ
タム面１４ａを突き破り挿入させる。そして、前記セプ
タム面１４ａの材質には、サンプルビン１０内の気密状
態を良好に保つため、シリコンゴムが一般的に用いられ
ており、該シリコンゴムからなるセプタム面１４ａを突
き破るためには、ニードル１６の材質に硬質のものを使
用しなければならず、従来は金属が用いられていた。
５（Ａ）に示したサンプルビン１０を多数配列し、自動
的に次々とニードルから各サンプルビン１０内の試料を
吸引していかなければならない。このため、ニードルを
各サンプルビン１０内に挿入する際には、サンプルビン
１０のパッキン１４を外すのではなく、同図（Ｂ）に示
すようにニードル１６の先端で前記パッキン１４のセプ
タム面１４ａを突き破り挿入させる。そして、前記セプ
タム面１４ａの材質には、サンプルビン１０内の気密状
態を良好に保つため、シリコンゴムが一般的に用いられ
ており、該シリコンゴムからなるセプタム面１４ａを突
き破るためには、ニードル１６の材質に硬質のものを使
用しなければならず、従来は金属が用いられていた。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、前記ニ
ードル１６を金属製とすると、該ニードル１６が接触す
る試料１２に悪影響を及ぼすという問題があった。すな
わち、特にイオンを測定するイオンクロマトなどにおい
ては、試料１２に金属製のニードル１６が接触すると、
そこから金属が溶けだし、試料１２が汚染され、正確な
測定分析が行えなくなってしまうのである。また、たん
ぱく質などの生体試料を扱う場合には、金属特に鉄イオ
ンと接触すると、該生体試料の３次元構造が変化し、目
的としたサンプルの分離精製の際、変性してしまう場合
もある。本考案は前記従来技術の課題に鑑みなされたも
のであり、その目的はニードルが試料へ接触しても該ニ
ードルの侵食などにより、試料の汚染や変性などが発生
しない試料吸引器用ニードルを提供することにある。
ードル１６を金属製とすると、該ニードル１６が接触す
る試料１２に悪影響を及ぼすという問題があった。すな
わち、特にイオンを測定するイオンクロマトなどにおい
ては、試料１２に金属製のニードル１６が接触すると、
そこから金属が溶けだし、試料１２が汚染され、正確な
測定分析が行えなくなってしまうのである。また、たん
ぱく質などの生体試料を扱う場合には、金属特に鉄イオ
ンと接触すると、該生体試料の３次元構造が変化し、目
的としたサンプルの分離精製の際、変性してしまう場合
もある。本考案は前記従来技術の課題に鑑みなされたも
のであり、その目的はニードルが試料へ接触しても該ニ
ードルの侵食などにより、試料の汚染や変性などが発生
しない試料吸引器用ニードルを提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本考案にかかる自動試料吸引器用ニードルは、各サ
ンプルビンのビン口を封止した薄膜フィルム等の封止膜
を先端で貫通し、該サンプルビン内の試料を吸引するニ
ードル部を剛性を有する不活性樹脂により形成したこと
を特徴とする。なお、前記剛性を有する不活性樹脂とし
ては、ポリエーテルエーテルケトンが好適である。ま
た、本考案の請求項３記載の自動試料吸引器用ニードル
は、管内を前記ニードル部が摺動するニードルガード部
を備え、前記ニードルガード部の下端部が、ニードル部
の下降時にサンプルビンの封止膜の上方近傍に位置する
ように配置されたことを特徴とする。
に、本考案にかかる自動試料吸引器用ニードルは、各サ
ンプルビンのビン口を封止した薄膜フィルム等の封止膜
を先端で貫通し、該サンプルビン内の試料を吸引するニ
ードル部を剛性を有する不活性樹脂により形成したこと
を特徴とする。なお、前記剛性を有する不活性樹脂とし
ては、ポリエーテルエーテルケトンが好適である。ま
た、本考案の請求項３記載の自動試料吸引器用ニードル
は、管内を前記ニードル部が摺動するニードルガード部
を備え、前記ニードルガード部の下端部が、ニードル部
の下降時にサンプルビンの封止膜の上方近傍に位置する
ように配置されたことを特徴とする。
【０００６】
【作用】本考案にかかる自動試料吸引器用ニードルは、
前述したようにニードル部をポリエーテルエーテルケト
ンなどの剛性を有する不活性樹脂により形成している。
このため、前記ニードル部から試料を吸引する際の該ニ
ードル部の試料への接触において、ニードル部の試料に
よる侵食が生じることなく、試料の汚染を防止すること
ができる。またタンパク質などの生体試料との接触にお
いても、該試料の変性を防止することができる。なお、
前記ニードル部にポリエーテルエーテルケトンなどの硬
い樹脂を用いても、その剛性は金属と比較すると劣って
しまう。しかし、前述した試料との接触によりニードル
部の侵食などの畏れがある試料の殆どは水溶液であるた
め、パッキンによるサンプルビン内の気密状態はそれ程
高くなくとも問題がない。このため、前記パッキンのセ
プタム面にはポリエチレンなどの薄膜フィルム（封止
膜）の使用が充分可能であり、該薄膜フィルムの貫通に
おいては前記ポリエーテルエーテルケトンなどの樹脂の
剛性で全く問題はない。
前述したようにニードル部をポリエーテルエーテルケト
ンなどの剛性を有する不活性樹脂により形成している。
このため、前記ニードル部から試料を吸引する際の該ニ
ードル部の試料への接触において、ニードル部の試料に
よる侵食が生じることなく、試料の汚染を防止すること
ができる。またタンパク質などの生体試料との接触にお
いても、該試料の変性を防止することができる。なお、
前記ニードル部にポリエーテルエーテルケトンなどの硬
い樹脂を用いても、その剛性は金属と比較すると劣って
しまう。しかし、前述した試料との接触によりニードル
部の侵食などの畏れがある試料の殆どは水溶液であるた
め、パッキンによるサンプルビン内の気密状態はそれ程
高くなくとも問題がない。このため、前記パッキンのセ
プタム面にはポリエチレンなどの薄膜フィルム（封止
膜）の使用が充分可能であり、該薄膜フィルムの貫通に
おいては前記ポリエーテルエーテルケトンなどの樹脂の
剛性で全く問題はない。
【０００７】さらに、請求項３記載の自動試料吸引器
は、ニードルガード部を設けており、その下端がサンプ
ルビンの封止膜の上方近傍に位置するように配置されて
いる。従って、前記ニードルガード部内を摺動下降する
ニードル部の先端がサンプルビンの封止膜に当った状態
においては、ニードルガード部から突出しているニード
ル部は先端付近のみとなる。このように、ニードル部先
端でサンプルビンの封止膜を貫通する際、該ニードル部
の先端付近以外はニードルガード部によって補強される
ため、該封止膜が一般的に用いられるシリコンゴムなど
でも、その膜厚を調整さえすればポリエーテルエーテル
ケトンなどの樹脂の剛性でも充分貫通することが可能と
なる。
は、ニードルガード部を設けており、その下端がサンプ
ルビンの封止膜の上方近傍に位置するように配置されて
いる。従って、前記ニードルガード部内を摺動下降する
ニードル部の先端がサンプルビンの封止膜に当った状態
においては、ニードルガード部から突出しているニード
ル部は先端付近のみとなる。このように、ニードル部先
端でサンプルビンの封止膜を貫通する際、該ニードル部
の先端付近以外はニードルガード部によって補強される
ため、該封止膜が一般的に用いられるシリコンゴムなど
でも、その膜厚を調整さえすればポリエーテルエーテル
ケトンなどの樹脂の剛性でも充分貫通することが可能と
なる。
【０００８】
【実施例】以下、図面に基づき本考案の好適な実施例を
説明する。図１には、本考案の一実施例にかかる自動試
料吸引器用ニードルの概略構成が示されている。同図に
示す自動試料吸引器用ニードルは、ニードル部１１６
と、該ニードル部１１６の外周に設けられた管状の金属
製ニードルガード部１１８とを有している。また、前記
ニードルガード部１１８は、取り付け金具１２０により
自動試料吸引器のアーム（図示省略）などに固定されて
おり、一定の高さに維持されている。一方、前記ニード
ル部１１６は、ニードルガード部１１８の管内を摺動可
能に設けられており、該ニードル部１１６の上部に接続
された送りネジなど（図示省略）により上下動を行う機
構となっている。そして、同図に示すように、前記ニー
ドル部１１６と試料１１２の入っているサンプルビン１
１０を相対移動させ、該ニードル部１１６をサンプルビ
ン１１０の上方に位置させる。
説明する。図１には、本考案の一実施例にかかる自動試
料吸引器用ニードルの概略構成が示されている。同図に
示す自動試料吸引器用ニードルは、ニードル部１１６
と、該ニードル部１１６の外周に設けられた管状の金属
製ニードルガード部１１８とを有している。また、前記
ニードルガード部１１８は、取り付け金具１２０により
自動試料吸引器のアーム（図示省略）などに固定されて
おり、一定の高さに維持されている。一方、前記ニード
ル部１１６は、ニードルガード部１１８の管内を摺動可
能に設けられており、該ニードル部１１６の上部に接続
された送りネジなど（図示省略）により上下動を行う機
構となっている。そして、同図に示すように、前記ニー
ドル部１１６と試料１１２の入っているサンプルビン１
１０を相対移動させ、該ニードル部１１６をサンプルビ
ン１１０の上方に位置させる。
【０００９】前記サンプルビン１１０は、ビン内の気密
性を保つために、ビン口にパッキン１１４が設けられて
いる。そして、同図の位置においてニードル部１１６を
下降させ、図２に示すようにニードル部１１６の先端で
パッキン１１４のセプタム面１１４ａを突き破り、ニー
ドル部１１６をサンプルビン１１０内の試料１１２に浸
漬させ、ニードル部１１６の先端から試料１１２を吸引
する。ここで、前述したようにニードル部１１６を金属
により形成すると、特に試料１１２が強酸性やたんぱく
質などの場合、該ニードル部１１６と試料１１２との接
触により、ニードル部１１６が侵食したり、試料１１２
が変性したりしてしまう。
性を保つために、ビン口にパッキン１１４が設けられて
いる。そして、同図の位置においてニードル部１１６を
下降させ、図２に示すようにニードル部１１６の先端で
パッキン１１４のセプタム面１１４ａを突き破り、ニー
ドル部１１６をサンプルビン１１０内の試料１１２に浸
漬させ、ニードル部１１６の先端から試料１１２を吸引
する。ここで、前述したようにニードル部１１６を金属
により形成すると、特に試料１１２が強酸性やたんぱく
質などの場合、該ニードル部１１６と試料１１２との接
触により、ニードル部１１６が侵食したり、試料１１２
が変性したりしてしまう。
【００１０】そこで、本実施例においては、ニードル部
１１６を耐溶媒性を有する不活性樹脂であるポリエーテ
ルエーテルケトン（ＰＥＥＫ）により形成している。こ
のため、試料１１２が前記強酸性やたんぱく質などの場
合であっても、ニードル部１１６との接触により、前記
ニードル部１１６の侵食や試料１１２の変性を生じるこ
とがなく、試料１１２への悪影響を防止するとともに、
ニードル部１１６の長寿命化を図ることが可能となる。
しかし、一方でニードル部１１６をＰＥＥＫ材とした場
合、金属と比較すると剛性という点で劣ってしまう。こ
のため、該ニードル部１１６の先端による前記パッキン
１１４のセプタム面１１４ａの貫通において、該ニード
ル部１１６が損傷してしまう危険がある。
１１６を耐溶媒性を有する不活性樹脂であるポリエーテ
ルエーテルケトン（ＰＥＥＫ）により形成している。こ
のため、試料１１２が前記強酸性やたんぱく質などの場
合であっても、ニードル部１１６との接触により、前記
ニードル部１１６の侵食や試料１１２の変性を生じるこ
とがなく、試料１１２への悪影響を防止するとともに、
ニードル部１１６の長寿命化を図ることが可能となる。
しかし、一方でニードル部１１６をＰＥＥＫ材とした場
合、金属と比較すると剛性という点で劣ってしまう。こ
のため、該ニードル部１１６の先端による前記パッキン
１１４のセプタム面１１４ａの貫通において、該ニード
ル部１１６が損傷してしまう危険がある。
【００１１】すなわち、ニードル部１１６は細長状に形
成されており、一方前記セプタム面１１４ａの材質には
一般的に比較的硬いシリコンゴムが用いられているた
め、前記ＰＥＥＫ材では剛性が不足してしまう。そこ
で、本実施例においては、前記ニードル部１１６の外周
にステンレスなどの金属から成るニードルガード部１１
８を設けることによりニードル部１１６の剛性を補強し
ている。前記ニードルガード部１１８は、前記図１に示
すように、ニードル部１１６がサンプルビン１１０の上
方に位置した状態において、該ニードルガード部１１８
の下端とパッキン１１４のセプタム面１１４ａが僅かな
間隙を有するように配置されている。このため、前記図
１の状態からニードル部１１６を下降させ、図３に示す
ように該ニードル部１１６の先端がセプタム面１１４ａ
に接した状態においては、ニードルガード部１１８から
突出しているニードル部１１６は先端付近のみとなる。
成されており、一方前記セプタム面１１４ａの材質には
一般的に比較的硬いシリコンゴムが用いられているた
め、前記ＰＥＥＫ材では剛性が不足してしまう。そこ
で、本実施例においては、前記ニードル部１１６の外周
にステンレスなどの金属から成るニードルガード部１１
８を設けることによりニードル部１１６の剛性を補強し
ている。前記ニードルガード部１１８は、前記図１に示
すように、ニードル部１１６がサンプルビン１１０の上
方に位置した状態において、該ニードルガード部１１８
の下端とパッキン１１４のセプタム面１１４ａが僅かな
間隙を有するように配置されている。このため、前記図
１の状態からニードル部１１６を下降させ、図３に示す
ように該ニードル部１１６の先端がセプタム面１１４ａ
に接した状態においては、ニードルガード部１１８から
突出しているニードル部１１６は先端付近のみとなる。
【００１２】このように、ニードル部１１６先端による
セプタム面１１４ａの貫通時において、ニードル部１１
６の殆どの外周はニードルガード部１１８により補強さ
れているため、ニードル部１１６の曲りなどによる損傷
を防止することが可能となる。また、前記ニードルガー
ド部１１８は、ニードル部１１６のガイドとしての役割
も果し、該ニードル部１１６の上下動の精度を向上させ
ることができる。なお、前記ニードルガード部１１８は
取り付け金具１２０により交換可能となっており、サン
プルビン１１０の高さに合せて、該ニードルガード部１
１８の下端がセプタム面１１４ａの上方近傍となるよう
適当な長さのものに適宜交換するのが好適である。さら
に、機構的には複雑になるが、前記ニードルガード部１
１８をニードル部１１６と独立して上下動させることに
より、前記ニードル部１１６の剛性という問題点を完全
に解消することができる。
セプタム面１１４ａの貫通時において、ニードル部１１
６の殆どの外周はニードルガード部１１８により補強さ
れているため、ニードル部１１６の曲りなどによる損傷
を防止することが可能となる。また、前記ニードルガー
ド部１１８は、ニードル部１１６のガイドとしての役割
も果し、該ニードル部１１６の上下動の精度を向上させ
ることができる。なお、前記ニードルガード部１１８は
取り付け金具１２０により交換可能となっており、サン
プルビン１１０の高さに合せて、該ニードルガード部１
１８の下端がセプタム面１１４ａの上方近傍となるよう
適当な長さのものに適宜交換するのが好適である。さら
に、機構的には複雑になるが、前記ニードルガード部１
１８をニードル部１１６と独立して上下動させることに
より、前記ニードル部１１６の剛性という問題点を完全
に解消することができる。
【００１３】すなわち、図４に示すようにセプタム面１
１４ａを貫通する場合、ニードルガード部１１８を同図
（Ａ）の位置から下降させ、該ニードルガード部１１８
によりセプタム面１１４ａを貫通させた後、同図（Ｂ）
に示すようにニードルガード部１１８の下降を試料１１
２の液面上方で停止させる。そして、同図（Ｂ）の状態
から同図（Ｃ）に示すようにニードル部１１６を下降さ
せ、該ニードル部１１６を試料１１２に浸漬させて吸引
を行う。このように、金属製のニードルガード部１１８
を試料１１２に接触させないようにセプタム面１１４ａ
を貫通させれば、ニードルガード部１１８の侵食などを
生じないと共に、ニードル部１１６の剛性に関係なくセ
プタム面１１４ａを貫通することが可能となる。なお、
前記ニードル部１１６と試料１１２との化学反応を防止
するために、本実施例のようにニードル部１１６の材質
にＰＥＥＫ材などの不活性樹脂を用いる試料の殆どは水
溶液であり、本来パッキン１１４のセプタム面１１４ａ
の材質にはそれ程高い気密性が要求されない。このた
め、前記パッキン１１４のセプタム面１１４ａには、従
来のシリコンゴムに変えてポリエチレンなどの薄膜フィ
ルムでも充分であり、該薄膜フィルムを用いた場合に
は、ニードルガード部１１８が無くとも、ＰＥＥＫ材の
ニードル部１１６だけの剛性でもセプタム面１１４ａの
貫通が可能である。
１４ａを貫通する場合、ニードルガード部１１８を同図
（Ａ）の位置から下降させ、該ニードルガード部１１８
によりセプタム面１１４ａを貫通させた後、同図（Ｂ）
に示すようにニードルガード部１１８の下降を試料１１
２の液面上方で停止させる。そして、同図（Ｂ）の状態
から同図（Ｃ）に示すようにニードル部１１６を下降さ
せ、該ニードル部１１６を試料１１２に浸漬させて吸引
を行う。このように、金属製のニードルガード部１１８
を試料１１２に接触させないようにセプタム面１１４ａ
を貫通させれば、ニードルガード部１１８の侵食などを
生じないと共に、ニードル部１１６の剛性に関係なくセ
プタム面１１４ａを貫通することが可能となる。なお、
前記ニードル部１１６と試料１１２との化学反応を防止
するために、本実施例のようにニードル部１１６の材質
にＰＥＥＫ材などの不活性樹脂を用いる試料の殆どは水
溶液であり、本来パッキン１１４のセプタム面１１４ａ
の材質にはそれ程高い気密性が要求されない。このた
め、前記パッキン１１４のセプタム面１１４ａには、従
来のシリコンゴムに変えてポリエチレンなどの薄膜フィ
ルムでも充分であり、該薄膜フィルムを用いた場合に
は、ニードルガード部１１８が無くとも、ＰＥＥＫ材の
ニードル部１１６だけの剛性でもセプタム面１１４ａの
貫通が可能である。
【００１４】
【考案の効果】以上説明したように、本考案にかかる自
動試料吸引器用ニードルによれば、試料と接触するニー
ドル部をポリエーテルエーテルケトンなどの不活性樹脂
で形成しているため、ニードル部の侵食や試料の変性を
防止することが可能となる。また、前記ニードル部の外
周にニードルガード部を設けることにより、該ニードル
部の剛性を補強し、ニードル部の損傷を防止することが
可能となる。
動試料吸引器用ニードルによれば、試料と接触するニー
ドル部をポリエーテルエーテルケトンなどの不活性樹脂
で形成しているため、ニードル部の侵食や試料の変性を
防止することが可能となる。また、前記ニードル部の外
周にニードルガード部を設けることにより、該ニードル
部の剛性を補強し、ニードル部の損傷を防止することが
可能となる。
【図１】本考案の一実施例にかかる自動試料吸引器用ニ
ードルの概略構成の説明図である。
ードルの概略構成の説明図である。
【図２】図１に示す自動試料吸引器用ニードルによる試
料吸引時の説明図である。
料吸引時の説明図である。
【図３】図１に示す自動試料吸引器用ニードルによるパ
ッキンの貫通時の説明図である。
ッキンの貫通時の説明図である。
【図４】ニードルガード部によりパッキンを貫通する場
合の説明図である。
合の説明図である。
【図５】自動試料吸引器用ニードルのニードル部の動作
説明図である。
説明図である。
１０，１１０ … サンプルビン １２，１１２ … 試料 １４，１１４ … パッキン １６，１１６ … ニードル部 １１８ … ニードルガード部 １２０ … 取り付け金具
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 1/00 101 G01N 35/00 - 35/08
Claims (3)
- 【請求項１】 所定配列されたサンプルビンに対しニー
ドル部を相対移動及び上下動させ、該ニードル部先端か
ら各サンプルビン内の試料を順次吸引する自動試料吸引
器用ニードルにおいて、 各サンプルビンのビン口の封止膜を先端で貫通し、該サ
ンプルビン内の試料を吸引するニードル部を剛性を有す
る不活性樹脂により形成したことを特徴とする自動試料
吸引器用ニードル。 - 【請求項２】 請求項１記載の自動試料吸引器用ニード
ルにおいて、 前記ニードル部をポリエーテルエーテルケトンにより形
成したことを特徴とする自動試料吸引器用ニードル。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の自動試料吸引器用
ニードルにおいて、 管内を前記ニードル部が摺動するニードルガード部を備
え、 前記ニードルガード部の下端部が、ニードル部の下降時
にサンプルビンの封止膜の上方近傍に位置するように配
置されたことを特徴とする自動試料吸引器用ニードル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993047534U JP2599511Y2 (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | 自動試料吸引器用ニードル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993047534U JP2599511Y2 (ja) | 1993-08-09 | 1993-08-09 | 自動試料吸引器用ニードル |
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