JP2586253B2 - 遮断器の投入試験回路 - Google Patents
遮断器の投入試験回路Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、遮断器、特に多点切
投入抵抗付遮断器の無負荷送電線を高速再閉路時におけ
る投入試験回路に関するものである。
投入抵抗付遮断器の無負荷送電線を高速再閉路時におけ
る投入試験回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】まず、投入抵抗付遮断器について説明す
る。一般に高電圧大容量の遮断器においては、無負荷送
電線路の遮断時に線路に電荷が残留し、この残留電荷の
ある線路を遮断器で投入する場合、回路電圧の数倍に至
る過電圧を発生することがある。従って、遮断器の投入
時にこの過電圧を抑制する必要があり、このために遮断
器の主接点の投入前に、この主接点に並列に抵抗を入れ
る抵抗接点を持った遮断器、つまり投入抵抗付遮断器が
考えられている。
る。一般に高電圧大容量の遮断器においては、無負荷送
電線路の遮断時に線路に電荷が残留し、この残留電荷の
ある線路を遮断器で投入する場合、回路電圧の数倍に至
る過電圧を発生することがある。従って、遮断器の投入
時にこの過電圧を抑制する必要があり、このために遮断
器の主接点の投入前に、この主接点に並列に抵抗を入れ
る抵抗接点を持った遮断器、つまり投入抵抗付遮断器が
考えられている。
【０００３】図４は例えば特公昭61-49770号公報に示さ
れた従来の投入抵抗付遮断器の回路を示すものであり、
主接点Ｓ1 に接点装置としての抵抗接点Ｓ2 が抵抗Ｒを
介して並列に接続されている。図５に示すように、主接
点Ｓ1 および抵抗接点Ｓ2 とも開路した状態（開）にお
いて投入指令が与えられると、まず抵抗接点Ｓ2 が時刻
ａで閉路（閉）し、それから時刻Ｔ1 だけ経過した時刻
ｂで主接点Ｓ1 が閉路するようになっている。この場
合、抵抗Ｒの値は、例えば国内の電圧500KV 系統の遮断
器においては１相当たり 500Ω〜1000Ωが、またＴ1 の
値は約0.5 サイクル程度が適当であり、このような数値
に設定すれば、無負荷送電線路の投入時の過電圧倍数は
1.7 以下に押えられる。
れた従来の投入抵抗付遮断器の回路を示すものであり、
主接点Ｓ1 に接点装置としての抵抗接点Ｓ2 が抵抗Ｒを
介して並列に接続されている。図５に示すように、主接
点Ｓ1 および抵抗接点Ｓ2 とも開路した状態（開）にお
いて投入指令が与えられると、まず抵抗接点Ｓ2 が時刻
ａで閉路（閉）し、それから時刻Ｔ1 だけ経過した時刻
ｂで主接点Ｓ1 が閉路するようになっている。この場
合、抵抗Ｒの値は、例えば国内の電圧500KV 系統の遮断
器においては１相当たり 500Ω〜1000Ωが、またＴ1 の
値は約0.5 サイクル程度が適当であり、このような数値
に設定すれば、無負荷送電線路の投入時の過電圧倍数は
1.7 以下に押えられる。
【０００４】上述のような投入抵抗付遮断器は、通常２
点または４点の複数の遮断点で構成されている。このた
め投入抵抗付遮断器による無負荷送電線の再閉路時に
は、以下に述べる現象がおこる。
点または４点の複数の遮断点で構成されている。このた
め投入抵抗付遮断器による無負荷送電線の再閉路時に
は、以下に述べる現象がおこる。
【０００５】図６に無負荷送電線の開閉を行う場合の２
点切投入抵抗付遮断器と周辺の等価回路を示す。図６に
おいて、図の中央部枠内が遮断器を示し、Ｂ11−Ｂ12、
Ｂ21−Ｂ22が主接点、Ｓ11−Ｓ12、Ｓ21−Ｓ22は前記主
接点に並列に接続された抵抗接点、Ｃc1、Ｃc2は分圧コ
ンデンサで２点切遮断器中央部の対地静電容量Ｃｅに起
因する各遮断点の分担電圧の不平等を補正するためのも
の、Ｒc1、Ｒc2は投入抵抗体、Ｌｃは各部導体のインダ
タンスを示す。次に遮断器周辺の試験回路について、Ｌ
ｓ、Ｃｓはそれぞれ電源の等価インダタンスと等価静電
容量、Ｌｂ11、Ｌｂ12、Ｌｂ21、Ｌｂ22は各部導体のイ
ンダタンス、Ｃe1、Ｃe2は各部の対地静電容量を模擬す
るものである。
点切投入抵抗付遮断器と周辺の等価回路を示す。図６に
おいて、図の中央部枠内が遮断器を示し、Ｂ11−Ｂ12、
Ｂ21−Ｂ22が主接点、Ｓ11−Ｓ12、Ｓ21−Ｓ22は前記主
接点に並列に接続された抵抗接点、Ｃc1、Ｃc2は分圧コ
ンデンサで２点切遮断器中央部の対地静電容量Ｃｅに起
因する各遮断点の分担電圧の不平等を補正するためのも
の、Ｒc1、Ｒc2は投入抵抗体、Ｌｃは各部導体のインダ
タンスを示す。次に遮断器周辺の試験回路について、Ｌ
ｓ、Ｃｓはそれぞれ電源の等価インダタンスと等価静電
容量、Ｌｂ11、Ｌｂ12、Ｌｂ21、Ｌｂ22は各部導体のイ
ンダタンス、Ｃe1、Ｃe2は各部の対地静電容量を模擬す
るものである。
【０００６】遮断器が遮断動作を行うと、ラインには電
源電圧のビーク値とほぼ同レベルの電圧が残留する。次
に遮断器が投入動作を開始し、遮断器の抵抗接点間のギ
ャップ間隔がある寸法以下になると閃絡を生じるが、こ
の場合、各接点のギャップ間隔のばらつきや放電のばら
つきなどのために、各接点の閃絡するタイミングにずれ
を生じ、Ｓ11−Ｓ12、Ｓ21−Ｓ22いずれか一方の接点が
先に閃絡する。これによって２遮断点の中央部分Ｎ１の
電位は、先に閃絡した側から電荷の供給を受け、電源電
圧またはラインの残留電圧に向かって上昇する。この電
圧の上昇率（峻度）は、Ｒc1、Ｃc2、ＣｅまたはＲc2、
Ｃc1、Ｃｅでほぼ支配され、雷インパルス電圧の峻度に
ほぼ近い。
源電圧のビーク値とほぼ同レベルの電圧が残留する。次
に遮断器が投入動作を開始し、遮断器の抵抗接点間のギ
ャップ間隔がある寸法以下になると閃絡を生じるが、こ
の場合、各接点のギャップ間隔のばらつきや放電のばら
つきなどのために、各接点の閃絡するタイミングにずれ
を生じ、Ｓ11−Ｓ12、Ｓ21−Ｓ22いずれか一方の接点が
先に閃絡する。これによって２遮断点の中央部分Ｎ１の
電位は、先に閃絡した側から電荷の供給を受け、電源電
圧またはラインの残留電圧に向かって上昇する。この電
圧の上昇率（峻度）は、Ｒc1、Ｃc2、ＣｅまたはＲc2、
Ｃc1、Ｃｅでほぼ支配され、雷インパルス電圧の峻度に
ほぼ近い。
【０００７】上記Ｎ１点の電圧の変化により、Ｓ11−Ｓ
12、Ｓ21−Ｓ22のいずれかの閃絡していない抵抗接点に
は、ほぼ雷インパルスと同等の峻度をもつ電圧が加わ
る。この電圧は、最大でラインの残留電圧と電源電圧の
差で示される値（約２√２Ｅ、Ｅ＝定格電圧／√３）と
なり得るが、電圧の上昇過程で接点間に閃絡を生じるた
め、接点間のギャップ間隔に対応した値で制限される。
12、Ｓ21−Ｓ22のいずれかの閃絡していない抵抗接点に
は、ほぼ雷インパルスと同等の峻度をもつ電圧が加わ
る。この電圧は、最大でラインの残留電圧と電源電圧の
差で示される値（約２√２Ｅ、Ｅ＝定格電圧／√３）と
なり得るが、電圧の上昇過程で接点間に閃絡を生じるた
め、接点間のギャップ間隔に対応した値で制限される。
【０００８】次に、上記投入過程での抵抗接点間の閃絡
電圧について述べる。図７は抵抗接点の閃絡電圧とコン
タクトストロークの関係を示したものである。投入動作
時に一方の消弧室ユニットの抵抗接点に加わる電圧を１
p.u.とすると抵抗接点閃絡時の平均的なコンタクトスト
ロークはＬ0 となる。しかし放電のばらつきの下限（平
均値−３σ）で閃絡すると仮定すると、閃絡時のコンタ
クトストロークはＬ1 となる。この閃絡によって他方の
抵抗接点間には雷インパルス電圧とほぼ同等の峻度を有
する電圧が加わるが、この抵抗接点間が放電のばらつき
の上限（平均値＋３σ）で閃絡する場合を考える。図７
において、インパルス比を1.3 、放電のばらつきの３σ
の値をＡＣ電圧における閃絡で７％、雷インパルスにお
ける閃絡で９％とし、先に閃絡する接点間の放電電圧を
１p.u.とすると、遅れて閃絡する接点間の電圧は、最大
で1.52p.u.となることがわかる。
電圧について述べる。図７は抵抗接点の閃絡電圧とコン
タクトストロークの関係を示したものである。投入動作
時に一方の消弧室ユニットの抵抗接点に加わる電圧を１
p.u.とすると抵抗接点閃絡時の平均的なコンタクトスト
ロークはＬ0 となる。しかし放電のばらつきの下限（平
均値−３σ）で閃絡すると仮定すると、閃絡時のコンタ
クトストロークはＬ1 となる。この閃絡によって他方の
抵抗接点間には雷インパルス電圧とほぼ同等の峻度を有
する電圧が加わるが、この抵抗接点間が放電のばらつき
の上限（平均値＋３σ）で閃絡する場合を考える。図７
において、インパルス比を1.3 、放電のばらつきの３σ
の値をＡＣ電圧における閃絡で７％、雷インパルスにお
ける閃絡で９％とし、先に閃絡する接点間の放電電圧を
１p.u.とすると、遅れて閃絡する接点間の電圧は、最大
で1.52p.u.となることがわかる。
【０００９】図６の回路についてＥＭＴＰを用い、先に
述べた現象を解析した結果について次に述べる。解析に
当たって、電源電圧は404kＶ（＝定格電圧700kＶ／√
３）で、ラインに負の電圧−571kＶ（＝−404kＶ×√
２）が残留し、電源電圧の正のピーク値＋571kＶのタイ
ミングで抵抗接点Ｓ11−Ｓ12が先に閃絡し、他方の抵抗
接点Ｓ21−Ｓ22は電圧870kＶ（＝−571kＶ×1.52）で閃
絡するとした。
述べた現象を解析した結果について次に述べる。解析に
当たって、電源電圧は404kＶ（＝定格電圧700kＶ／√
３）で、ラインに負の電圧−571kＶ（＝−404kＶ×√
２）が残留し、電源電圧の正のピーク値＋571kＶのタイ
ミングで抵抗接点Ｓ11−Ｓ12が先に閃絡し、他方の抵抗
接点Ｓ21−Ｓ22は電圧870kＶ（＝−571kＶ×1.52）で閃
絡するとした。
【００１０】結果を図８に示す。図８（イ）は２遮断点
中央部Ｎ１の電位、（ロ）は抵抗接点Ｓ21−Ｓ22間の電
位、（ハ）は投入抵抗体Ｒc2の電位、についてそれぞれ
投入時の経時変化を示したものである。（イ）から、２
遮断点中央部Ｎ１の電位はほぼ雷インパスル電圧と同等
の峻度をもって立ち上がっているのが解る。この電位の
上昇によって閃絡しなかった抵抗接点Ｓ21−Ｓ22を含む
もう一方の遮断点には（ロ）、（ハ）のように高い電圧
が加わるため、この電圧に対する主接点間の絶縁性能や
抵抗閃絡後の抵抗接点と主接点の間の絶縁性能などにつ
いての検証が必要となる。
中央部Ｎ１の電位、（ロ）は抵抗接点Ｓ21−Ｓ22間の電
位、（ハ）は投入抵抗体Ｒc2の電位、についてそれぞれ
投入時の経時変化を示したものである。（イ）から、２
遮断点中央部Ｎ１の電位はほぼ雷インパスル電圧と同等
の峻度をもって立ち上がっているのが解る。この電位の
上昇によって閃絡しなかった抵抗接点Ｓ21−Ｓ22を含む
もう一方の遮断点には（ロ）、（ハ）のように高い電圧
が加わるため、この電圧に対する主接点間の絶縁性能や
抵抗閃絡後の抵抗接点と主接点の間の絶縁性能などにつ
いての検証が必要となる。
【００１１】前述の２点切投入抵抗付遮断器の無負荷送
電線高速再閉路時の現象に対し、現状では図９に示す回
路による試験が行われている。供試遮断器は２点切遮断
器であっても通常一遮断点による試験（ユニット試験）
が行われている。そしてこの場合、一遮断点に印加する
試験電圧は全遮断点を供試する場合の１／２としてい
る。
電線高速再閉路時の現象に対し、現状では図９に示す回
路による試験が行われている。供試遮断器は２点切遮断
器であっても通常一遮断点による試験（ユニット試験）
が行われている。そしてこの場合、一遮断点に印加する
試験電圧は全遮断点を供試する場合の１／２としてい
る。
【００１２】図９において、２は送電線を模擬するコン
デンサで、電源９との間に供試遮断器１が置かれる。図
９の回路による高速再閉路試験は以下の手順で行われ
る。供試遮断器１の投入状態から試験は始まり供試遮断
器１は開路指令により電流（進み電流）の遮断を行う
が、コンデンサ２には供試遮断器１の遮断位相により正
負いずれかの極性の電荷が残留する。供試遮断器１によ
る遮断が完了すると、供試遮断器１には閉路指令が送ら
れ、供試遮断器１はコンデンサ２に電荷が残留した状態
で投入動作を開始する。このため、供試遮断器１の極間
には、最大で２√２ｅ（ｅ＝電源電圧実効値＝Ｅ／２、
但し、Ｅ＝定格電圧／√３）が加わることになる。
デンサで、電源９との間に供試遮断器１が置かれる。図
９の回路による高速再閉路試験は以下の手順で行われ
る。供試遮断器１の投入状態から試験は始まり供試遮断
器１は開路指令により電流（進み電流）の遮断を行う
が、コンデンサ２には供試遮断器１の遮断位相により正
負いずれかの極性の電荷が残留する。供試遮断器１によ
る遮断が完了すると、供試遮断器１には閉路指令が送ら
れ、供試遮断器１はコンデンサ２に電荷が残留した状態
で投入動作を開始する。このため、供試遮断器１の極間
には、最大で２√２ｅ（ｅ＝電源電圧実効値＝Ｅ／２、
但し、Ｅ＝定格電圧／√３）が加わることになる。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】従来の回路による試験
では、最大で２√２ｅしか印加できない。先に述べた２
点切遮断器の各接点の放電のばらつきや、部品の寸法、
形状のばらつき等を考慮した電圧の苛酷条件を再現する
試験を行うには、ユニット試験ではなく全遮断点を供試
する必要があるが、この場合でも上記のばらつきを考慮
した場合に、一方の抵抗接点に加わり得る最大電圧（先
に閃絡する電圧の約1.5 倍）を再現するには膨大な回数
の試験を必要とするため、検証試験は事実上不可能と言
え、投入抵抗付遮断器の高速再閉路時の性能について十
分な検証試験ができないという問題があった。
では、最大で２√２ｅしか印加できない。先に述べた２
点切遮断器の各接点の放電のばらつきや、部品の寸法、
形状のばらつき等を考慮した電圧の苛酷条件を再現する
試験を行うには、ユニット試験ではなく全遮断点を供試
する必要があるが、この場合でも上記のばらつきを考慮
した場合に、一方の抵抗接点に加わり得る最大電圧（先
に閃絡する電圧の約1.5 倍）を再現するには膨大な回数
の試験を必要とするため、検証試験は事実上不可能と言
え、投入抵抗付遮断器の高速再閉路時の性能について十
分な検証試験ができないという問題があった。
【００１４】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、２点切あるいは４点切のよう
な多点切投入抵抗付遮断器であっても一遮断点による試
験によって、供試遮断器の各種ばらつきを含んだ電圧の
苛酷条件を再現できる試験回路を提供し、主接点間の絶
縁性能や抵抗閃絡後の抵抗接点と主接点間の絶縁性能な
どの検証試験を可能とする試験方法を提供することを目
的とする。
るためになされたもので、２点切あるいは４点切のよう
な多点切投入抵抗付遮断器であっても一遮断点による試
験によって、供試遮断器の各種ばらつきを含んだ電圧の
苛酷条件を再現できる試験回路を提供し、主接点間の絶
縁性能や抵抗閃絡後の抵抗接点と主接点間の絶縁性能な
どの検証試験を可能とする試験方法を提供することを目
的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】この発明に係る試験回路
は、供試遮断器の一遮断点の両側端子にそれぞれ第１、
第２のコンデンサを接続し、この第１及び第２のコンデ
ンサの他端同士を接続し、第２のコンデンサ側にはリア
クトルと第１の補助遮断器を介して第３のコンデンサを
並列に接続し、この第３のコンデンサに第２の補助遮断
器を介し並列に電源を接続したものである。
は、供試遮断器の一遮断点の両側端子にそれぞれ第１、
第２のコンデンサを接続し、この第１及び第２のコンデ
ンサの他端同士を接続し、第２のコンデンサ側にはリア
クトルと第１の補助遮断器を介して第３のコンデンサを
並列に接続し、この第３のコンデンサに第２の補助遮断
器を介し並列に電源を接続したものである。
【００１６】そして、第１および第２のコンデンサを同
極性に充電し、第３のコンデンサを前記第１および第２
のコンデンサとは逆極性に充電しておき、供試遮断器の
投入に先立ち第１の補助遮断器を投入することによっ
て、投入過程にある前記供試遮断器の一遮断点の両側端
子間に所定の峻度を有する電圧を印加して投入試験を行
うようにしたものである。
極性に充電し、第３のコンデンサを前記第１および第２
のコンデンサとは逆極性に充電しておき、供試遮断器の
投入に先立ち第１の補助遮断器を投入することによっ
て、投入過程にある前記供試遮断器の一遮断点の両側端
子間に所定の峻度を有する電圧を印加して投入試験を行
うようにしたものである。
【００１７】また他の発明による試験回路では、供試遮
断器の一遮断点の両側端子にそれぞれ第１、第２のコン
デンサを接続し、この第１及び第２のコンデンサの他端
同士を接続し、第２のコンデンサ側にはリアクトルと第
１の補助遮断器を介して電源を並列に接続したものであ
る。
断器の一遮断点の両側端子にそれぞれ第１、第２のコン
デンサを接続し、この第１及び第２のコンデンサの他端
同士を接続し、第２のコンデンサ側にはリアクトルと第
１の補助遮断器を介して電源を並列に接続したものであ
る。
【００１８】そして、第１および第２のコンデンサを同
極性に充電し、供試遮断器の投入に先立ち、電源電圧の
極性が第１及び第２コンデンサに充電した極性と逆にな
る位相で第１の補助遮断器を投入することによって、投
入過程にある供試遮断器の一遮断点の両側端子間に所定
の峻度を有する電圧を印加して投入試験を行うようにし
たものである。
極性に充電し、供試遮断器の投入に先立ち、電源電圧の
極性が第１及び第２コンデンサに充電した極性と逆にな
る位相で第１の補助遮断器を投入することによって、投
入過程にある供試遮断器の一遮断点の両側端子間に所定
の峻度を有する電圧を印加して投入試験を行うようにし
たものである。
【００１９】
【作用】上記のように構成した試験回路では、供試遮断
器の一遮断点にほぼ雷インパルス電圧と同等の峻度をも
って立ち上がる電圧を印加することができ、多点切投入
抵抗付遮断器の投入試験における各遮断点の放電のばら
つきや、部品の寸法、形状のばらつき等を考慮した電圧
の苛酷条件を模擬することが可能となる。
器の一遮断点にほぼ雷インパルス電圧と同等の峻度をも
って立ち上がる電圧を印加することができ、多点切投入
抵抗付遮断器の投入試験における各遮断点の放電のばら
つきや、部品の寸法、形状のばらつき等を考慮した電圧
の苛酷条件を模擬することが可能となる。
【００２０】
実施例１．以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図１において、１は供試遮断器である２点切投入抵
抗付遮断器、２は無負荷送電線を模擬する第１のコンデ
ンサ、３は２点切遮断器の中極部分の対地静電容量を模
擬する第２のコンデンサ、４は電源を模擬する第３のコ
ンデンサ、５はリアクトル、６は２点切遮断器の投入時
に先行して放電する遮断点を模擬する第１の補助遮断
器、７は第２の補助遮断器、８はトランス、９は電源を
示す。またＶ1 、V2 、Ｖ3 は第１、第２、第３のコンデ
ンサのそれぞれの端子電圧を示す。
る。図１において、１は供試遮断器である２点切投入抵
抗付遮断器、２は無負荷送電線を模擬する第１のコンデ
ンサ、３は２点切遮断器の中極部分の対地静電容量を模
擬する第２のコンデンサ、４は電源を模擬する第３のコ
ンデンサ、５はリアクトル、６は２点切遮断器の投入時
に先行して放電する遮断点を模擬する第１の補助遮断
器、７は第２の補助遮断器、８はトランス、９は電源を
示す。またＶ1 、V2 、Ｖ3 は第１、第２、第３のコンデ
ンサのそれぞれの端子電圧を示す。
【００２１】各回路要素のうち、供試遮断器１の投入時
に極間に加わる電圧の峻度を決定する第２のコンデンサ
３とリアクトル５の定数は、例えば、第２のコンデンサ
３が3000ｐＦ、リアクトル５が 200μＨ程度のものが実
機での投入時に極間に発生する電圧の峻度を模擬するも
のとして選択される。
に極間に加わる電圧の峻度を決定する第２のコンデンサ
３とリアクトル５の定数は、例えば、第２のコンデンサ
３が3000ｐＦ、リアクトル５が 200μＨ程度のものが実
機での投入時に極間に発生する電圧の峻度を模擬するも
のとして選択される。
【００２２】図１の実施例の動作を図２の試験のシーケ
ンスを用いて説明する。図において（ａ）は各遮断器の
行程を、（ｂ）は接点の開閉を、（ｃ）は各部の電圧の
変化を示している。供試遮断器１、第１の補助遮断器
６、第２の補助遮断器７の投入状態から、まず第１の補
助遮断器６を時刻ｔ１で遮断し、第１のコンデンサ２お
よび第２のコンデンサ３に正の電荷を残し、次に第３の
コンデンサ４に負の電荷が残る位相の時刻ｔ２で第２の
補助遮断器７を遮断する。この後時刻ｔ３で供試遮断器
１を遮断するが、これによって各部の電圧に変化はな
い。以上で投入動作に移る準備が完了する。
ンスを用いて説明する。図において（ａ）は各遮断器の
行程を、（ｂ）は接点の開閉を、（ｃ）は各部の電圧の
変化を示している。供試遮断器１、第１の補助遮断器
６、第２の補助遮断器７の投入状態から、まず第１の補
助遮断器６を時刻ｔ１で遮断し、第１のコンデンサ２お
よび第２のコンデンサ３に正の電荷を残し、次に第３の
コンデンサ４に負の電荷が残る位相の時刻ｔ２で第２の
補助遮断器７を遮断する。この後時刻ｔ３で供試遮断器
１を遮断するが、これによって各部の電圧に変化はな
い。以上で投入動作に移る準備が完了する。
【００２３】投入は、時刻ｔ４で第１の補助遮断器６、
続いて時刻ｔ５で供試遮断器１の順で行う。第１の補助
遮断器６が先に閉状態となると、第３のコンデンサ４は
第２のコンデンサに比べ十分大きい容量なので、第２の
コンデンサ３の端子電圧Ｖ2 は、図２（Ｃ）に示すよう
に第３のコンデンサ４の端子電圧Ｖ3 に向かって急激に
振動する。この時供試遮断器１の接点間には、（Ｖ1 −
Ｖ2 ）つまりＶｆの電圧が加わる。
続いて時刻ｔ５で供試遮断器１の順で行う。第１の補助
遮断器６が先に閉状態となると、第３のコンデンサ４は
第２のコンデンサに比べ十分大きい容量なので、第２の
コンデンサ３の端子電圧Ｖ2 は、図２（Ｃ）に示すよう
に第３のコンデンサ４の端子電圧Ｖ3 に向かって急激に
振動する。この時供試遮断器１の接点間には、（Ｖ1 −
Ｖ2 ）つまりＶｆの電圧が加わる。
【００２４】図１の回路における第１の補助遮断器６
は、２点切遮断器の先行して放電する接点を模擬するも
ので、第１の補助遮断器６と供試遮断器１の投入位相を
調整することにより前記Ｖｆの値を調整でき、従って、
２遮断点の放電のばらつきを模擬できることになる。ま
た供試遮断器１の接点間に加わる電圧の峻度は、リアク
トル５と第２のコンデンサ３で調整する。
は、２点切遮断器の先行して放電する接点を模擬するも
ので、第１の補助遮断器６と供試遮断器１の投入位相を
調整することにより前記Ｖｆの値を調整でき、従って、
２遮断点の放電のばらつきを模擬できることになる。ま
た供試遮断器１の接点間に加わる電圧の峻度は、リアク
トル５と第２のコンデンサ３で調整する。
【００２５】なお、上記実施例では電源９はトランス８
を介して接続したが、トランス８を省いて、第３のコン
デンサ４に第２の供試遮断器７を介して並列に電源を接
続しても、同様の効果を得ることができる。
を介して接続したが、トランス８を省いて、第３のコン
デンサ４に第２の供試遮断器７を介して並列に電源を接
続しても、同様の効果を得ることができる。
【００２６】実施例２．上記実施例１では、供試遮断器
の投入動作開始時点では、電源９、トランス８は、第２
の補助遮断器７によって供試遮断器を含む回路から切り
離されており、第３のコンデンサ４が電源の役目を果し
ているが、図３に示すように、第３のコンデンサ４の位
置にトランスを介した電源を接続しても上記実施例と等
価な試験が可能である。
の投入動作開始時点では、電源９、トランス８は、第２
の補助遮断器７によって供試遮断器を含む回路から切り
離されており、第３のコンデンサ４が電源の役目を果し
ているが、図３に示すように、第３のコンデンサ４の位
置にトランスを介した電源を接続しても上記実施例と等
価な試験が可能である。
【００２７】この場合の投入方法は、第１及び第２のコ
ンデンサに正の電荷を残した状態から、電源側電圧が負
の最大電圧となる位相で第１の補助遮断器６を投入し、
続いて供試遮断器１をタイミングを調整しながら投入す
ることによって実施例１と同様の結果を得られる。
ンデンサに正の電荷を残した状態から、電源側電圧が負
の最大電圧となる位相で第１の補助遮断器６を投入し、
続いて供試遮断器１をタイミングを調整しながら投入す
ることによって実施例１と同様の結果を得られる。
【００２８】なお、上記実施例２では、電源９はトラン
ス８を介して接続したが、トランス８を省いて、第２の
コンデンサ３にリアクトル５、第１の遮断器６を介して
並列に電源を接続しても、同様の効果を得ることができ
る。
ス８を介して接続したが、トランス８を省いて、第２の
コンデンサ３にリアクトル５、第１の遮断器６を介して
並列に電源を接続しても、同様の効果を得ることができ
る。
【００２９】また、実施例１、２とも第１及び第２のコ
ンデンサの残留電荷を正とし電源側の残留電荷を負とし
たが、それぞれの残留電荷の極性を逆にした場合でも同
様の試験が可能であることは言うまでもない。
ンデンサの残留電荷を正とし電源側の残留電荷を負とし
たが、それぞれの残留電荷の極性を逆にした場合でも同
様の試験が可能であることは言うまでもない。
【００３０】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば供試遮
断器の両端子にそれぞれ第１、第２のコンデンサを接続
し、第２のコンデンサに、リアクトルと２点切遮断器の
投入時に先行して放電する遮断点を模擬する第１の補助
遮断器を介して第３のコンデンサを接続し、第３のコン
デンサに第２の補助遮断器を介し電源を接続した試験回
路とし、また別の発明によれば、供試遮断器の両端子に
それぞれ第１、第２のコンデンサを接続し、第２のコン
デンサに、リアクトルと２点切遮断器の投入時に先行し
て放電する遮断点を模擬する第１の補助遮断器を介して
電源を接続した試験回路としたので、２点切あるいはそ
れ以上の遮断点数の遮断器による無負荷送電線再閉路時
の性能検証を一遮断点で行え、かつ、遮断器各遮断点の
放電のばらつきや部品の寸法、形状のばらつき等を考慮
した、遮断器極間にとっての電圧の苛酷条件を容易に模
擬できるため、主接点間の絶縁性能や抵抗接点閃絡後の
抵抗接点と主接点の間の絶縁性能についての十分な検証
が可能となる。
断器の両端子にそれぞれ第１、第２のコンデンサを接続
し、第２のコンデンサに、リアクトルと２点切遮断器の
投入時に先行して放電する遮断点を模擬する第１の補助
遮断器を介して第３のコンデンサを接続し、第３のコン
デンサに第２の補助遮断器を介し電源を接続した試験回
路とし、また別の発明によれば、供試遮断器の両端子に
それぞれ第１、第２のコンデンサを接続し、第２のコン
デンサに、リアクトルと２点切遮断器の投入時に先行し
て放電する遮断点を模擬する第１の補助遮断器を介して
電源を接続した試験回路としたので、２点切あるいはそ
れ以上の遮断点数の遮断器による無負荷送電線再閉路時
の性能検証を一遮断点で行え、かつ、遮断器各遮断点の
放電のばらつきや部品の寸法、形状のばらつき等を考慮
した、遮断器極間にとっての電圧の苛酷条件を容易に模
擬できるため、主接点間の絶縁性能や抵抗接点閃絡後の
抵抗接点と主接点の間の絶縁性能についての十分な検証
が可能となる。
【図１】この発明の実施例１による投入試験回路を示す
図である。
図である。
【図２】図１の試験シーケンスを示す図である。
【図３】この発明の実施例２による投入試験回路を示す
図である。
図である。
【図４】投入抵抗付遮断器の回路を示す図である。
【図５】投入抵抗付遮断器の動作を説明する図である。
【図６】無負荷送電線の開閉を行う場合の遮断器の周辺
の等価回路である。
の等価回路である。
【図７】コンタクトストロークと閃絡電圧の関係を示す
図である。
図である。
【図８】図６の等価回路で遮断器を投入した場合の現象
についての解析結果を示す図である。
についての解析結果を示す図である。
【図９】従来の試験回路を示す図である。
１ 供試遮断器 ２ 第１のコンデンサ ３ 第２のコンデンサ ４ 第３のコンデンサ ５ リアクトル ６ 第１の補助遮断器 ７ 第２の補助遮断器 ９ 電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 等 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電 機株式会社 伊丹製作所内 (72)発明者 亀井 健次 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電 機株式会社 伊丹製作所内 (56)参考文献 特開 昭64−68675（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−1866（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−161458（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】 供試遮断器の一遮断点の一方の端子に第
１のコンデンサ、他方の端子に第２のコンデンサを接続
し、前記第１及び第２のコンデンサの他端同士を接続
し、前記第２のコンデンサにリアクトルと第１の補助遮
断器を介して第３のコンデンサを並列に接続し、前記第
３のコンデンサに第２の補助遮断器を介して電源を並列
に接続した回路を備え、前記第１のコンデンサ及び第２
のコンデンサを同極性に充電し、前記第３のコンデンサ
を前記第１及び第２のコンデンサとは逆極性に充電し、
この状態から、前記供試遮断器の投入に先立ち前記第１
の補助遮断器を投入し、投入過程にある前記供試遮断器
の一遮断点の両側端子間に所定の峻度を有する電圧を印
加して投入試験を行う遮断器の投入試験回路。 - 【請求項２】 供試遮断器の一遮断点の一方の端子に第
１のコンデンサ、他方の端子に第２のコンデンサを接続
し、前記第１及び第２のコンデンサの他端同士を接続
し、前記第２のコンデンサにリアクトルと第１の補助遮
断器を介して電源を並列に接続した回路を備え、前記第
１のコンデンサ及び第２のコンデンサを同極性に充電
し、この状態から、前記供試遮断器の投入に先立ち、前
記電源電圧の極性が前記第１及び第２のコンデンサの充
電電圧と逆になる位相で前記第１の補助遮断器を投入
し、投入過程にある前記供試遮断器の一遮断点の両側端
子間に所定の峻度を有する電圧を印加して投入試験を行
う遮断器の投入試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3221640A JP2586253B2 (ja) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | 遮断器の投入試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3221640A JP2586253B2 (ja) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | 遮断器の投入試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0562564A JPH0562564A (ja) | 1993-03-12 |
| JP2586253B2 true JP2586253B2 (ja) | 1997-02-26 |
Family
ID=16769949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3221640A Expired - Fee Related JP2586253B2 (ja) | 1991-09-02 | 1991-09-02 | 遮断器の投入試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2586253B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102622922B1 (ko) * | 2016-10-28 | 2024-01-10 | 한국전력공사 | 2점절 차단기의 개폐동작 시간차 측정장치 및 방법 |
| CN113589155B (zh) * | 2021-06-16 | 2024-09-03 | 国网宁夏电力有限公司中卫供电公司 | 一种高压断路器的试验装置及方法 |
-
1991
- 1991-09-02 JP JP3221640A patent/JP2586253B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0562564A (ja) | 1993-03-12 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |