JP2585781Y2 - Film forming equipment - Google Patents

Film forming equipment

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JP2585781Y2
JP2585781Y2 JP2472293U JP2472293U JP2585781Y2 JP 2585781 Y2 JP2585781 Y2 JP 2585781Y2 JP 2472293 U JP2472293 U JP 2472293U JP 2472293 U JP2472293 U JP 2472293U JP 2585781 Y2 JP2585781 Y2 JP 2585781Y2
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、成膜装置に関し、特に
スパッタ装置、CVD装置、エッチング装置等の成膜装
置において、基板の受け取り及び受渡しを行う基板授受
機構に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a film forming apparatus, and more particularly to a substrate transfer mechanism for receiving and transferring a substrate in a film forming apparatus such as a sputtering apparatus, a CVD apparatus, and an etching apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、成膜装置において、基板の受け渡
しや受け取りを行う授受機構として以下の技術が知られ
ている。図6は従来の成膜装置の基板授受機構を説明す
る構成図である。
2. Description of the Related Art Conventionally, the following technology has been known as a transfer mechanism for transferring and receiving substrates in a film forming apparatus. FIG. 6 is a configuration diagram illustrating a substrate transfer mechanism of a conventional film forming apparatus.

【0003】図6において、基板1は基板ホルダ3に対
して保持部6によって固定され、対向電極2と対向する
位置に設定される。保持部6は、その先端部分である保
持端部61が基板ホルダ3の外周部の少なくとも一部分
を覆うように湾曲して形成されている。そして、この保
持部6の保持端部61と基板ホルダ3の間に基板1を挾
持することによって、基板1の基板ホルダ3への固定が
行われる。ここで、基板1の挾持は、保持部駆動軸62
の軸方向への駆動によって保持部6をベース4に対して
接近させることによって行われる。
In FIG. 6, a substrate 1 is fixed to a substrate holder 3 by a holding portion 6 and set at a position facing the counter electrode 2. The holding portion 6 is formed so as to be curved such that a holding end portion 61 as a tip portion covers at least a part of the outer peripheral portion of the substrate holder 3. By holding the substrate 1 between the holding end 61 of the holding portion 6 and the substrate holder 3, the substrate 1 is fixed to the substrate holder 3. Here, the holding of the substrate 1 is performed by the holding portion drive shaft 62.
This is performed by moving the holding portion 6 closer to the base 4 by driving in the axial direction.

【0004】[0004]

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
成膜装置では、以下のような問題点がある。
However, the conventional film forming apparatus has the following problems.

【0005】前記従来の成膜装置の基板授受機構におい
ては、基板ホルダはベースに対して固定されているた
め、基板と対向電極との位置関係は一定に固定されてお
り、変更することができない。これは、保持部駆動軸が
ベースに対して移動可能であるものの、この保持部駆動
軸の移動は基板を基板ホルダに固定するためであって、
基板と対向電極との距離は基板ホルダと対向電極との距
離によって一定に定められ、変更することができないた
めである。
In the substrate transfer mechanism of the conventional film forming apparatus, since the substrate holder is fixed to the base, the positional relationship between the substrate and the counter electrode is fixed and cannot be changed. . This is because the holding unit drive shaft is movable with respect to the base, but the movement of the holding unit drive shaft is for fixing the substrate to the substrate holder,
This is because the distance between the substrate and the counter electrode is fixed by the distance between the substrate holder and the counter electrode and cannot be changed.

【0006】したがって、基板の対向電極に対する軸方
向駆動及び回転駆動が不可能であり、基板と対向電極間
と位置関係の調節によって成膜処理における調節を行う
ことができないという問題点を有している。
Therefore, there is a problem that the axial driving and the rotational driving of the substrate with respect to the counter electrode are impossible, and the adjustment in the film forming process cannot be performed by adjusting the positional relationship between the substrate and the counter electrode. I have.

【0007】そこで、本考案は前記従来の成膜装置の問
題点を解決して、成膜装置の基板の授受を行う機構にお
いて、基板の軸方向移動及び回転移動を可能とすること
を目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the conventional film forming apparatus, and to make it possible to move the substrate in the axial direction and rotationally in a mechanism for transferring the substrate of the film forming apparatus. I do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本考案は、前記目的を達
成するために、基板の受取り及び受渡しを行う基板授受
機構を有する成膜装置において、直線方向及び回転方向
に移動可能であって基板を支持する基板ホルダと、一端
が固定されるとともに基板ホルダを一方向に付勢する第
1の付勢部と、基板ホルダに設置されるとともに一端を
第1の付勢部に対して前記一方向と対向する方向に当接
して付勢し他端を基板に当接して支持する第2の付勢部
とによって構成し、第1の付勢部及び第2の付勢部は基
板ホルダの直線方向の移動により駆動して基板の受取り
及び受渡しを行うものである。
According to the present invention, there is provided a film forming apparatus having a substrate transfer mechanism for receiving and transferring a substrate, wherein the substrate is movable in a linear direction and a rotational direction. A first urging portion having one end fixed and urging the substrate holder in one direction; and a first urging portion mounted on the substrate holder and having one end with respect to the first urging portion. A second urging portion that abuts and urges the substrate in a direction opposite to the first direction and supports the other end of the substrate by abutting the substrate. The first and second urging portions are provided on the substrate holder. It is driven by linear movement to receive and deliver substrates.

【0009】また、本考案において、前記第1の付勢部
及び前記第1の付勢部は、ピンとそのピンを付勢する弾
性部材によって構成することができ、この弾性部材とし
て例えばスプリング等を採用することができる。
In the present invention, the first urging portion and the first urging portion can be constituted by a pin and an elastic member for urging the pin. For example, a spring or the like is used as the elastic member. Can be adopted.

【0010】[0010]

【作用】本考案によれば、前記の構成によって、基板の
受取り及び受渡しを行う基板授受機構を有する成膜装置
において、基板ホルダを移動することによって基板ホル
ダと基板との間、及び第2の付勢部の基板と当接する端
部と基板との間に隙間を形成し、その隙間に基板を挿入
し、次に再び基板ホルダを移動することによって第2の
付勢部の基板と当接する端部を基板側に移動して該基板
を支持することによって基板の受け取りを行い、さらに
基板ホルダを移動することによって基板ホルダを基板に
当接させ、この基板ホルダと基板との当接によって、基
板ホルダによる支持を行うものである。
According to the present invention, in a film forming apparatus having a substrate transfer mechanism for receiving and delivering a substrate by the above-described structure, the substrate holder is moved by moving the substrate holder; A gap is formed between the substrate and the end of the urging unit that contacts the substrate, the substrate is inserted into the gap, and then the substrate holder is moved again to contact the substrate of the second urging unit. By moving the end to the substrate side to support the substrate, the substrate is received, and further, by moving the substrate holder, the substrate holder is brought into contact with the substrate, and by the contact between the substrate holder and the substrate, The support is performed by the substrate holder.

【0011】また、本考案によれば、前記の構成によっ
て、基板の受取り及び受渡しを行う基板授受機構を有す
る成膜装置で、基板が基板ホルダによって支持されてい
る状態において、基板ホルダを移動することによって、
基板を基板ホルダから離隔して第2の付勢部により支持
し、この第2の付勢部により基板を支持している状態に
おいて、基板の受け渡しを行うものである。
Further, according to the present invention, with the above configuration, the substrate holder is moved while the substrate is supported by the substrate holder in the film forming apparatus having the substrate transfer mechanism for receiving and transferring the substrate. By
The substrate is separated from the substrate holder and supported by the second urging unit, and the substrate is transferred while the substrate is supported by the second urging unit.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本考案の実施例について図を参照しな
がら詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0013】(実施例1) (実施例1の構成) 本考案の実施例1の構成を、図1に示す本考案の成膜装
置の実施例1の一部断面を示す斜視図、図2に示す本考
案の成膜装置の実施例1の構成図を用いて説明する。な
お、図において、基板ホルダ駆動軸の軸方向を垂直方向
とし、該軸方向と直交する方向を水平方向として説明す
る。
(Embodiment 1) (Structure of Embodiment 1) FIG. 1 is a perspective view showing a partial cross section of Embodiment 1 of the film forming apparatus of the present invention shown in FIG. This will be described with reference to the configuration diagram of Embodiment 1 of the film forming apparatus of the present invention shown in FIG. In the drawings, the axial direction of the substrate holder driving shaft is defined as a vertical direction, and the direction orthogonal to the axial direction is defined as a horizontal direction.

【0014】図1において、基板授受装置は基板1を保
持する基板ホルダ30と、該基板ホルダ30をベース4
に取り付ける第1付勢部10及び第2付勢部20とから
構成される。
In FIG. 1, a substrate transfer apparatus includes a substrate holder 30 for holding a substrate 1 and a base 4
The first urging unit 10 and the second urging unit 20 are attached to the first urging unit.

【0015】この基板ホルダ30は、基板ホルダ枠31
と基板ホルダ駆動軸32と基板ホルダ面33とからな
り、基板ホルダ面33は基板ホルダ枠31の内側部分に
形成する段部であり、基板1はこの段部内にはめ込まれ
る。なお、基板ホルダ枠31は石英等の素材によって形
成することができる。また、基板ホルダ駆動軸32は、
ベース4を通して装置外部の図示しない駆動装置と接続
され、基板ホルダ30を基板ホルダ駆動軸32の軸方向
及び軸の回転方向に移動可能としている。この基板ホル
ダ駆動軸32の駆動によって、基板ホルダ30上の基板
1は、対向電極2に対する対向電極間距離と水平方向位
置における位置関係を変更することができる。
The substrate holder 30 includes a substrate holder frame 31
And a substrate holder drive shaft 32 and a substrate holder surface 33. The substrate holder surface 33 is a step formed on an inner portion of the substrate holder frame 31, and the substrate 1 is fitted into the step. Note that the substrate holder frame 31 can be formed of a material such as quartz. The substrate holder drive shaft 32 is
The substrate holder 30 is connected to a drive device (not shown) outside the apparatus through the base 4 so that the substrate holder 30 can be moved in the axial direction of the substrate holder drive shaft 32 and the rotational direction of the shaft. By driving the substrate holder drive shaft 32, the substrate 1 on the substrate holder 30 can change the positional relationship between the distance between the counter electrodes with respect to the counter electrode 2 and the horizontal position.

【0016】また、第1付勢部10及び第2付勢部20
は、ベース4と基板ホルダ30との間に設置されてお
り、基板ホルダ駆動軸32と協動して基板ホルダ枠31
の移動を行うものである。
The first urging unit 10 and the second urging unit 20
Is installed between the base 4 and the substrate holder 30, and cooperates with the substrate holder drive shaft 32.
Is to move.

【0017】この第1付勢部10及び第2付勢部20の
構成について、図2の実施例1の構成図を用いて、より
詳細に説明する。第1付勢部10の第1ピン11はベー
ス4側に設けられるものであり、ベース4に固定された
第1ピン支持部13に対して基板ホルダ駆動軸32の軸
方向と平行な方向に移動可能に支持され、さらにその第
1ピン11の先端に設けられた第1ピン当接部14と第
1ピン支持部13の外側端部との間に第1スプリング1
2が設置されている。この第1スプリング12は、第1
ピン当接部14を押圧して第1ピン11をベース4から
離隔する方向、つまり対向電極2に近接する方向に付勢
するものである。
The configuration of the first urging unit 10 and the second urging unit 20 will be described in more detail with reference to the configuration diagram of the first embodiment shown in FIG. The first pin 11 of the first urging portion 10 is provided on the base 4 side, and is arranged in a direction parallel to the axial direction of the substrate holder drive shaft 32 with respect to the first pin support portion 13 fixed to the base 4. The first spring 1 is movably supported between a first pin contact portion 14 provided at the tip of the first pin 11 and an outer end of the first pin support portion 13.
2 are installed. The first spring 12 has a first
The pin contact portion 14 is pressed to urge the first pin 11 in a direction separating from the base 4, that is, in a direction approaching the counter electrode 2.

【0018】また、第2付勢部20の第2ピン21は基
板ホルダ30側に設けられるものであり、基板ホルダ枠
31に対して基板ホルダ駆動軸32の軸方向と平行な方
向に移動可能に支持され、さらにその第2ピン21の先
端に設けられた第2ピン当接部24と基板ホルダ枠31
の内側端部との間に第2スプリング22が設置されてい
る。この第2スプリング22は、第2ピン当接部24を
押圧して第2ピン21をベース4に近接する方向、つま
り対向電極2から離隔する方向に付勢するものである。
The second pin 21 of the second biasing portion 20 is provided on the substrate holder 30 side, and can move in a direction parallel to the axial direction of the substrate holder driving shaft 32 with respect to the substrate holder frame 31. And a second pin contact portion 24 provided at the tip of the second pin 21 and the substrate holder frame 31.
A second spring 22 is provided between the first spring 22 and the inner end of the second spring 22. The second spring 22 presses the second pin contact portion 24 to urge the second pin 21 in a direction approaching the base 4, that is, in a direction away from the counter electrode 2.

【0019】そして、第1付勢部10と第2付勢部20
は対向する位置に設置され、それぞれの第1ピン当接部
14と第2ピン当接部24は、その当接面が接触するよ
うに配置され、前記した第1スプリング12と第2スプ
リング22の付勢方向により当接可能となっている。
The first urging unit 10 and the second urging unit 20
Are disposed at opposing positions, and the first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 are arranged so that their contact surfaces are in contact with each other. Can be abutted depending on the biasing direction of.

【0020】また、第2ピン21の第2ピン当接部24
と反対側の端部は、基板ホルダ枠31から対向電極2側
に突出し、その先端部分はL字状に湾曲して第2ピンピ
ックアップ部25を形成している。この第2ピンピック
アップ部25のL字状部分は基板ホルダ面33側に湾曲
しており、このL字状部分と基板ホルダ面33側の間に
基板1を挾持することによって基板1の基板ホルダ30
への固定が行われる。
The second pin contact portion 24 of the second pin 21
The other end protrudes from the substrate holder frame 31 to the counter electrode 2 side, and the tip end is curved in an L shape to form the second pin pickup section 25. The L-shaped portion of the second pin pickup section 25 is curved toward the substrate holder surface 33, and the substrate 1 is held between the L-shaped portion and the substrate holder surface 33 so that the substrate holder 30
Fixation is performed.

【0021】また、前記構成において、図示しない駆動
装置によって基板ホルダ駆動軸32を介して直接駆動さ
れる部分は基板ホルダ30のみであり、第1付勢部10
及び第2付勢部20は前記駆動装置によって直接駆動さ
れることはなく、基板ホルダ30の移動及び第1スプリ
ング12並びに第2スプリング22の協動動作によって
駆動される。
In the above configuration, only the substrate holder 30 is directly driven by the driving device (not shown) via the substrate holder driving shaft 32.
The second urging unit 20 is not directly driven by the driving device, but is driven by the movement of the substrate holder 30 and the cooperative operation of the first spring 12 and the second spring 22.

【0022】また、基板ホルダの加熱あるいは冷却等の
温度制御を行うために、基板ホルダに図示しない加熱装
置あるいは冷却装置を設け、基板ホルダ駆動軸等を通し
て電力あるいは媒体の供給を行うこともできる。 (実施例1の作用) 次に、本考案の実施例1の作用について、図3の本考案
の実施例1の基板を受け取るフローチャート、図4の本
考案の実施例1の基板を受け渡すフローチャート、図5
の本考案の実施例1の動作を説明する図を用いて説明す
る。 (基板の受け取り) はじめに、基板を搬送装置から受け取る場合の動作につ
いて説明する。
Further, in order to control the temperature such as heating or cooling of the substrate holder, a heating device or a cooling device (not shown) may be provided on the substrate holder to supply power or a medium through a substrate holder driving shaft or the like. (Operation of First Embodiment) Next, regarding the operation of the first embodiment of the present invention, a flowchart for receiving the substrate of the first embodiment of the present invention in FIG. 3 and a flowchart for transferring the substrate of the first embodiment of the present invention in FIG. , FIG.
The operation of the first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. (Reception of Substrate) First, an operation when a substrate is received from a transfer device will be described.

【0023】図3において、基板1を図示しない搬送装
置から受け取る場合の各工程をステップSを用いてフロ
ーチャートを表し、このフローチャートに併設して各工
程における基板1の位置、基板ホルダ30の基板ホルダ
枠31の端部の位置、第1ピン11の第1ピン当接部1
4の位置、及び第2ピン21の第2ピンピックアップ部
25の位置をベース4を基準位置として表し、またその
ときの第1スプリング12の長さ、及び第2スプリング
22の長さを示している。
In FIG. 3, each step of receiving the substrate 1 from a transfer device (not shown) is represented by a flowchart using step S. The position of the substrate 1 in each step and the substrate holder of the substrate holder 30 are also shown in the flowchart. Position of end of frame 31, first pin contact portion 1 of first pin 11
4 shows the position of the second pin pickup portion 25 of the second pin 21 with the base 4 as a reference position, and shows the length of the first spring 12 and the length of the second spring 22 at that time. I have.

【0024】ステップS1: はじめに、基板1を一点鎖線で示すパスライン5に沿っ
て図示しない搬送装置によって搬送し、基板授受装置の
位置に移動させる。この工程における基板ホルダ30の
位置を、図5の(a)に示す。図5の(a)において、
基板ホルダ駆動軸32を駆動して基板ホルダ30を移動
させて、基板ホルダ枠31の端部をベース4からA2の
距離とし、第2ピンピックアップ部25をベース4から
A2+C1の距離とすることにより、パスライン5を基
板ホルダ枠31の端部と第2ピンピックアップ部25の
間に位置決めする。この位置関係によって、第2ピンピ
ックアップ部25は基板ホルダ枠31の端部からC1の
距離分だけ対向電極2側に突出し、基板ホルダ枠31の
端部との間に隙間が形成される。この隙間を形成するこ
とによって、搬送される基板1を基板ホルダ30の基板
ホルダ枠31の端部と第2ピン21の第2ピンピックア
ップ部25の間に挿入することができる。このとき、基
板1は図示しない搬送装置によりパスライン上に位置し
ている。また、この状態では、第1ピン当接部14と第
2ピン当接部24とは当接状態にあり、この当接状態に
よって基板ホルダ枠31の端部からの第2ピンピックア
ップ部25の突出量をC1としている。
Step S1: First, the substrate 1 is transferred by a transfer device (not shown) along a path line 5 indicated by a dashed line, and is moved to the position of the substrate transfer device. The position of the substrate holder 30 in this step is shown in FIG. In FIG. 5A,
By driving the substrate holder drive shaft 32 to move the substrate holder 30, the end of the substrate holder frame 31 is set at a distance of A2 from the base 4, and the second pin pickup unit 25 is set at a distance of A2 + C1 from the base 4. Then, the pass line 5 is positioned between the end of the substrate holder frame 31 and the second pin pickup unit 25. Due to this positional relationship, the second pin pickup portion 25 protrudes from the end of the substrate holder frame 31 toward the counter electrode 2 by a distance of C1 to form a gap with the end of the substrate holder frame 31. By forming this gap, the conveyed substrate 1 can be inserted between the end of the substrate holder frame 31 of the substrate holder 30 and the second pin pickup section 25 of the second pin 21. At this time, the substrate 1 is located on the pass line by a transport device (not shown). Further, in this state, the first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 are in contact with each other, and the contact between the first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 causes the second pin pickup portion 25 from the end of the substrate holder frame 31 to move. The amount of protrusion is C1.

【0025】なお、パスライン5はべース4からP1の
距離にあり、搬送された基板1の位置はべース4からP
1の距離である。この位置関係とするためには、基板ホ
ルダ30をべース4側に移動させて、第2スプリング2
2を圧縮させてSB1とする。また、このとき第1スプ
リング12は伸張しておりSA2の長さである。
The pass line 5 is at a distance of P1 from the base 4, and the position of the transferred substrate 1 is P
1 distance. To achieve this positional relationship, the substrate holder 30 is moved toward the base 4 and the second spring 2
2 is compressed to SB1. At this time, the first spring 12 is extended and has the length of SA2.

【0026】ステップS2: 次に、基板ホルダ30を上昇させて基板1をピックアッ
プする。なお、ここでは、基板ホルダ30が対向電極2
から離隔する方向を基板ホルダ30の上昇方向としてい
る。この工程における基板ホルダ30の位置は、図5の
(b)に示している。図5の(b)において、基板ホル
ダ駆動軸32を駆動して基板ホルダ30を移動させて、
基板ホルダ枠31の端部をベース4からA1の距離と
し、第2ピンピックアップ部25をベース4からA1+
C1の距離として第2ピンピックアップ部25を上昇さ
せ、パスライン5上にある基板1をその上昇途中におい
てピックアップする。この工程において、ピックアップ
される基板1は第2ピンピックアップ部25のみによっ
て支持され、パスライン5からベース4側にE1の距離
だけ上昇した位置となる。
Step S2: Next, the substrate 1 is picked up by raising the substrate holder 30. Here, here, the substrate holder 30 is
The direction away from the substrate holder 30 is defined as the upward direction of the substrate holder 30. The position of the substrate holder 30 in this step is shown in FIG. 5B, the substrate holder driving shaft 32 is driven to move the substrate holder 30, and
The end of the substrate holder frame 31 is set at a distance of A1 from the base 4 and the second pin pickup unit 25 is connected to the base 4 by A1 +
The second pin pickup unit 25 is raised as the distance of C1, and the substrate 1 on the pass line 5 is picked up while being raised. In this step, the substrate 1 to be picked up is supported only by the second pin pick-up unit 25, and is at a position elevated from the pass line 5 to the base 4 by the distance of E1.

【0027】この位置関係において前記ステップS1と
同様に、第2ピンピックアップ部25は基板ホルダ枠3
1の端部からC1の距離分だけ対向電極2側に突出して
隙間を形成しており、また第1ピン当接部14と第2ピ
ン当接部24とは接合状態にあり、これによって第2ピ
ンピックアップ部25の基板ホルダ枠31の端部から突
出量をC1としている。
In this positional relationship, as in step S1, the second pin pickup section 25 is mounted on the substrate holder frame 3.
The first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 are in a joined state by protruding toward the counter electrode 2 by a distance of C1 from the end of the first pin. The amount of protrusion of the 2-pin pickup unit 25 from the end of the substrate holder frame 31 is C1.

【0028】この位置関係によって、基板1を搬送して
きた搬送装置の搬送路上から基板1及び第2ピンピック
アップ部25を移動することができ、搬送装置の図示し
ない搬送アームを後退させることができる。
According to this positional relationship, the substrate 1 and the second pin pickup unit 25 can be moved from the transfer path of the transfer device that has transferred the substrate 1, and the transfer arm (not shown) of the transfer device can be retracted.

【0029】また、この位置関係とするためには、基板
ホルダ30を前記ステップS1よりさらにべース4側に
移動させて、第1スプリング12を圧縮させてSA1と
する。なお、第2スプリング22はSB1の圧縮したま
まの状態である。
In order to achieve this positional relationship, the substrate holder 30 is further moved to the side of the base 4 than in step S1, and the first spring 12 is compressed to SA1. In addition, the second spring 22 is in a state where SB1 is compressed.

【0030】ステップS3: 図5の(b)に示す前記ステップS2の位置において、
図示しない搬送装置の搬送アームを後退させる。この搬
送アームの後退によって、基板1の対向電極2側への移
動が可能となる。なお、この工程における位置関係は、
前記ステップS2と同じである。
Step S3: At the position of the step S2 shown in FIG.
The transfer arm of the transfer device (not shown) is retracted. By retreating the transfer arm, the substrate 1 can be moved to the counter electrode 2 side. The positional relationship in this step is
This is the same as step S2.

【0031】ステップS4: 次に、基板ホルダ30を下降させて、基板1を基板ホル
ダ30の基板ホルダ面33に設置する。なお、ここで
は、基板ホルダ30が対向電極2に近接する方向を基板
ホルダ30の下降方向としている。この工程における基
板ホルダ30の位置は、図5の(c)に示している。図
5の(c)において、基板ホルダ駆動軸32を駆動して
基板ホルダ30を下降させて、基板ホルダ枠31の端部
及び第2ピンピックアップ部25をベース4からA3の
距離とする。この基板ホルダ30の下降により、基板1
は基板ホルダ面33と第2ピンピックアップ部25の間
に挟まれて挾持される。基板1を挾持する力は、第2ス
プリング22の伸張する弾性力により発生される。基板
ホルダ面33と第2ピンピックアップ部25によって挾
持された基板1は、この工程によりパスライン5から対
向電極2側にE2の距離だけ下降した位置となる。この
位置関係によって、基板1を基板ホルダ30に設置する
ことができる。
Step S4: Next, the substrate holder 30 is lowered, and the substrate 1 is set on the substrate holder surface 33 of the substrate holder 30. Here, the direction in which the substrate holder 30 approaches the counter electrode 2 is defined as the downward direction of the substrate holder 30. The position of the substrate holder 30 in this step is shown in FIG. In FIG. 5C, the substrate holder drive shaft 32 is driven to lower the substrate holder 30, and the end of the substrate holder frame 31 and the second pin pickup unit 25 are set at a distance of A3 from the base 4. The lowering of the substrate holder 30 causes the substrate 1
Is pinched between the substrate holder surface 33 and the second pin pickup section 25. The force holding the substrate 1 is generated by the elastic force of the second spring 22 extending. The substrate 1 sandwiched between the substrate holder surface 33 and the second pin pickup portion 25 is at a position lowered from the pass line 5 toward the counter electrode 2 by a distance of E2 in this step. With this positional relationship, the substrate 1 can be placed on the substrate holder 30.

【0032】また、この位置関係とするためには、基板
ホルダ30を対向電極2側に移動させて、第1スプリン
グ12を伸張させてSA2とし、第2スプリング22を
伸張させてSB2とする。
In order to achieve this positional relationship, the substrate holder 30 is moved to the counter electrode 2 side, and the first spring 12 is extended to SA2, and the second spring 22 is extended to SB2.

【0033】ステップS5: 次に、基板ホルダ30を前記ステップS4より下降させ
て、基板1を対向電極2側の任意の位置に設置する。こ
の工程における基板ホルダ30の位置は、図5の(d)
に示している。図5の(d)において、基板ホルダ駆動
軸32を駆動して基板ホルダ30を下降させて、基板ホ
ルダ枠31の端部及び第2ピンピックアップ部25をベ
ース4からA4の距離とする。この基板ホルダ30の下
降により、基板1は基板ホルダ面33と第2ピンピック
アップ部25の間に挾持された状態のまま対向電極2側
に下降し、パスライン5から対向電極2側に例えばE3
の距離だけ下降した任意の位置の設置することができ
る。この設置位置は、成膜処理に応じて設定するもので
ある。
Step S5: Next, the substrate holder 30 is lowered from the step S4, and the substrate 1 is set at an arbitrary position on the counter electrode 2 side. The position of the substrate holder 30 in this step is as shown in FIG.
Is shown in In FIG. 5D, the substrate holder driving shaft 32 is driven to lower the substrate holder 30, and the end of the substrate holder frame 31 and the second pin pickup section 25 are set at a distance of A4 from the base 4. Due to the lowering of the substrate holder 30, the substrate 1 is lowered toward the opposing electrode 2 while being sandwiched between the substrate holder surface 33 and the second pin pickup portion 25, and is moved from the pass line 5 to the opposing electrode 2 side, for example, E3.
Can be installed at any position lowered by a distance of. This installation position is set according to the film forming process.

【0034】また、この位置関係とするためには、前記
ステップS4と同様に第1スプリング12を伸張させて
SA2とし、第2スプリング22を伸張させてSB2と
した状態のまま基板ホルダ30を対向電極2側に移動さ
せ、第1ピン当接部14と第2ピン当接部24の当接状
態を解消し、D4の間隔を生じさせる。また、基板1を
挾持する力は、第2スプリング22の伸張する弾性力で
ある。
In order to achieve this positional relationship, the substrate holder 30 is opposed to the first spring 12 in the state of SA2 by extending the first spring 12 and SB2 by extending the second spring 22 in the same manner as in step S4. By moving to the electrode 2 side, the contact state between the first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 is eliminated, and an interval of D4 is generated. The force holding the substrate 1 is the elastic force of the second spring 22 extending.

【0035】この状態においては、第1ピン当接部14
と第2ピン当接部24は当接していないので、基板ホル
ダ30とベース4との間は分離状態となる。これによ
り、基板ホルダ駆動軸32を回転駆動することによっ
て、基板ホルダ30を回転駆動することが可能となる。
したがって、基板ホルダ30に設置された基板1は、対
向電極2に対する相対的な位置を変更させることができ
る。 (基板の受け渡し) 次に、基板を基板ホルダから搬送装置に受け渡す場合の
動作について説明する。図4において、基板1を基板ホ
ルダから図示しない搬送装置に受け渡す場合の各工程を
ステップSの10番代の符号を用いてフローチャートを
表し、そのフローチャートに併設して各工程における基
板1の位置、基板ホルダ30の基板ホルダ枠31の端部
の位置、第1ピン11の第1ピン当接部14の位置、及
び第2ピン21の第2ピンピックアップ部25の位置を
ベース4を基準位置として表し、またそのときの第1ス
プリング12の長さ、及び第2スプリング22の長さを
示している。
In this state, the first pin contact portion 14
And the second pin contact portion 24 are not in contact with each other, so that the substrate holder 30 and the base 4 are separated from each other. Thus, the substrate holder 30 can be rotationally driven by rotating the substrate holder drive shaft 32.
Therefore, the position of the substrate 1 placed on the substrate holder 30 with respect to the counter electrode 2 can be changed. (Delivery of Substrate) Next, an operation when the substrate is delivered from the substrate holder to the transfer device will be described. In FIG. 4, each step in the case of transferring the substrate 1 from the substrate holder to a transfer device (not shown) is represented by a flowchart using the tenth code of step S, and the position of the substrate 1 in each step is provided along with the flowchart. The position of the end of the substrate holder frame 31 of the substrate holder 30, the position of the first pin contact portion 14 of the first pin 11, and the position of the second pin pickup portion 25 of the second pin 21 are determined based on the base 4. And the length of the first spring 12 and the length of the second spring 22 at that time.

【0036】ステップS11: この工程においては、はじめに基板1の位置、基板ホル
ダ30の基板ホルダ枠31の端部の位置、第1ピン11
の第1ピン当接部14の位置、及び第2ピン21の第2
ピンピックアップ部25の位置、並びに第1スプリング
12の長さ、及び第2スプリング22の長さは、前記ス
テップS5における位置にあるのものとする。
Step S11: In this step, first, the position of the substrate 1, the position of the end of the substrate holder frame 31 of the substrate holder 30, the first pin 11
Of the first pin contact portion 14 and the second position of the second pin 21
It is assumed that the position of the pin pickup unit 25, the length of the first spring 12, and the length of the second spring 22 are at the positions in step S5.

【0037】はじめに、前記位置関係において基板ホル
ダ30を上昇させて基板1を基板ホルダ30の基板ホル
ダ面33から分離し、基板1をパスライン5よりもベー
ス4側に移動させる。この工程における基板ホルダ30
の位置を、図5の(b)に示している。図5の(b)に
おいて、基板ホルダ駆動軸32を駆動して基板ホルダ3
0を移動させて、基板ホルダ枠31の端部をベース4か
らA1の距離とし、第2ピンピックアップ部25をベー
ス4からA1+C1の距離として第2ピンピックアップ
部25を上昇させる。この工程において、ピックアップ
される基板1は第2ピンピックアップ部25のみによっ
て支持され、パスライン5からベース4側にE1の距離
だけ上昇した位置となる。
First, the substrate holder 30 is raised in the above positional relationship to separate the substrate 1 from the substrate holder surface 33 of the substrate holder 30, and the substrate 1 is moved to the base 4 side from the pass line 5. Substrate holder 30 in this step
Is shown in FIG. 5B. In FIG. 5B, the substrate holder drive shaft 32 is driven to drive the substrate holder 3.
0, the end of the substrate holder frame 31 is set at a distance of A1 from the base 4 and the second pin pickup unit 25 is set at a distance of A1 + C1 from the base 4 to raise the second pin pickup unit 25. In this step, the substrate 1 to be picked up is supported only by the second pin pick-up unit 25, and is at a position elevated from the pass line 5 to the base 4 by the distance of E1.

【0038】この位置関係において前記ステップS2と
同様に、第2ピンピックアップ部25は基板ホルダ枠3
1の端部からC1の距離分だけ対向電極2側に突出して
隙間を形成しており、また第1ピン当接部14と第2ピ
ン当接部24とは接合状態にあり、これによって第2ピ
ンピックアップ部25の基板ホルダ枠31の端部から突
出量をC1としている。
In this positional relationship, as in step S2, the second pin pickup unit 25 is
The first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 are in a joined state by protruding toward the counter electrode 2 by a distance of C1 from the end of the first pin. The amount of protrusion of the 2-pin pickup unit 25 from the end of the substrate holder frame 31 is C1.

【0039】この位置関係によって、第2ピンピックア
ップ部25はパスライン5からベース4側に位置してい
るため、図示しない搬送装置の搬送アームを挿入するこ
とができる。
Due to this positional relationship, since the second pin pickup section 25 is located on the side of the base 4 from the pass line 5, a transfer arm of a transfer device (not shown) can be inserted.

【0040】また、この位置関係とするためには、基板
ホルダ30をべース4側に移動させて、第1スプリング
12を圧縮してSA1とし、第2スプリング22を圧縮
してSB1とする。
To achieve this positional relationship, the substrate holder 30 is moved toward the base 4 to compress the first spring 12 to SA1, and to compress the second spring 22 to SB1. .

【0041】ステップS12: 図5の(b)に示す前記ステップS11の位置におい
て、図示しない搬送装置の搬送アームを挿入させる。こ
の搬送アームの挿入によって、基板1の対向電極2側へ
の移動が可能となる。なお、この工程における位置関係
は、前記ステップS11と同じである。
Step S12: At the position of step S11 shown in FIG. 5B, a transfer arm of a transfer device (not shown) is inserted. By inserting the transfer arm, the substrate 1 can be moved to the counter electrode 2 side. The positional relationship in this step is the same as that in step S11.

【0042】ステップS13: 次に、基板1を下降させて、前記ステップS12におい
て挿入された搬送アーム上に基板1を渡す。この工程に
おける基板ホルダ30の位置を、図5の(a)に示す。
図5の(a)において、基板ホルダ駆動軸32を駆動し
て基板ホルダ30を移動させて、基板ホルダ枠31の端
部をベース4からA2の距離とし、第2ピンピックアッ
プ部25をベース4からA2+C1の距離とすることに
より、パスライン5を基板ホルダ枠31の端部と第2ピ
ンピックアップ部25の間に位置決めする。この位置に
位置決めする途中において、基板1はパスライン5上の
図示しない搬送アーム上に渡される。この位置関係によ
って、第2ピンピックアップ部25は基板ホルダ枠31
の端部からC1の距離分だけ対向電極2側に突出し、基
板ホルダ枠31の端部との間に隙間が形成される。この
隙間を形成することによって、搬送アームを基板ホルダ
30の基板ホルダ枠31の端部と第2ピン21の第2ピ
ンピックアップ部25の間で、基板1の下方に挿入する
ことができる。また、この状態では、第1ピン当接部1
4と第2ピン当接部24とは当接状態にあり、この当接
状態によって基板ホルダ枠31の端部からの第2ピンピ
ックアップ部25の突出量をC1としている。
Step S13: Next, the substrate 1 is lowered, and the substrate 1 is transferred onto the transfer arm inserted in step S12. The position of the substrate holder 30 in this step is shown in FIG.
In FIG. 5A, the substrate holder driving shaft 32 is driven to move the substrate holder 30, the end of the substrate holder frame 31 is set at a distance of A2 from the base 4, and the second pin pickup unit 25 is connected to the base 4 The path line 5 is positioned between the end of the substrate holder frame 31 and the second pin pickup section 25 by setting the distance to A2 + C1 from the distance. During positioning at this position, the substrate 1 is transferred onto a transfer arm (not shown) on the pass line 5. Due to this positional relationship, the second pin pickup unit 25 is connected to the substrate holder frame 31.
Projecting toward the counter electrode 2 by the distance of C1 from the end of the substrate holder frame 31 to form a gap between the end and the end of the substrate holder frame 31. By forming this gap, the transfer arm can be inserted below the substrate 1 between the end of the substrate holder frame 31 of the substrate holder 30 and the second pin pickup portion 25 of the second pin 21. In this state, the first pin contact portion 1
4 and the second pin contact portion 24 are in contact with each other, and the amount of protrusion of the second pin pickup portion 25 from the end of the substrate holder frame 31 is C1 by this contact state.

【0043】なお、パスライン5はべース4からP1の
距離にあり、搬送アームに受け渡された基板1の位置は
べース4からP1の距離にある。この位置関係とするた
めには、基板ホルダ30をべース4側に移動させて、第
2スプリング22を圧縮させてSB1とする。また、こ
のとき第1スプリング12は伸張しておりSA2の長さ
である。
The pass line 5 is at a distance of P1 from the base 4, and the position of the substrate 1 transferred to the transfer arm is at a distance of P1 from the base 4. To achieve this positional relationship, the substrate holder 30 is moved to the base 4 side, and the second spring 22 is compressed to SB1. At this time, the first spring 12 is extended and has the length of SA2.

【0044】ステップS14: 次に、図示しない搬送アームを後退させることによっ
て、搬送アーム上の基板1を搬出する。この工程は、前
記ステップS13の工程で設定された位置において行わ
れる。 (実施例1の効果) 前記構成によって、基板はスプリングによって付勢され
るピンによって、基板ホルダの下方に対して設置及び保
持が行うことができ、下方位置にある対向電極に対する
位置を変更することができる。 (実施例2) (実施例2の構成) 本考案の実施例2の構成を、図7に示す本考案の成膜装
置の実施例2の一部断面を示す斜視図を用いて説明す
る。実施例2は前記実施例1の上下方向を逆にした構成
のものであり、基板を上方に支持して上方に設置した対
向電極によって成膜処理を行うものである。
Step S14: Next, the substrate 1 on the transfer arm is unloaded by retracting the transfer arm (not shown). This step is performed at the position set in the step S13. (Effect of First Embodiment) According to the above configuration, the substrate can be installed and held below the substrate holder by the pin urged by the spring, and the position of the substrate with respect to the lower counter electrode can be changed. Can be. (Embodiment 2) (Configuration of Embodiment 2) The configuration of Embodiment 2 of the present invention will be described with reference to a perspective view showing a partial cross section of Embodiment 2 of the film forming apparatus of the present invention shown in FIG. The second embodiment has a configuration in which the up-down direction of the first embodiment is reversed. In the second embodiment, the substrate is supported upward and the film forming process is performed by the counter electrode provided above.

【0045】図7において、基板授受装置は基板1を保
持する基板ホルダ30と、該基板ホルダ30をベース4
に取り付ける第1付勢部10及び第2付勢部20とから
構成される。なお、図7において、対向電極2側を上方
とし、ベース4側を下方とする。
In FIG. 7, a substrate transfer apparatus includes a substrate holder 30 for holding a substrate 1 and a base 4
The first urging unit 10 and the second urging unit 20 are attached to the first urging unit. In FIG. 7, the opposing electrode 2 side is set to the upper side, and the base 4 side is set to the lower side.

【0046】この基板ホルダ30は、基板ホルダ枠31
と基板ホルダ面33とヒータ34と反射板35から構成
され、基板ホルダ面33は基板ホルダ枠31の内側部分
に形成する段部であって、基板1はこの段部内にはめ込
まれる。また、この基板ホルダ30は図示しない基板ホ
ルダ駆動部が設けられており、ベース4を通して接続さ
れた装置外部の図示しない駆動装置によって、基板ホル
ダ30を基板ホルダ駆動軸32の軸方向及び軸の回転方
向に移動可能としている。この基板ホルダ駆動部の駆動
によって、基板ホルダ30上の基板1は、対向電極2に
対する対向電極間距離と水平方向位置における位置関係
を変更することができる。基板ホルダ面33の下方の基
板ホルダ枠31内にはヒータ34及び反射板35が設置
される。
The substrate holder 30 is provided with a substrate holder frame 31.
, A substrate holder surface 33, a heater 34, and a reflector 35. The substrate holder surface 33 is a step formed on an inner portion of the substrate holder frame 31, and the substrate 1 is fitted into the step. The substrate holder 30 is provided with a substrate holder driving unit (not shown), and the substrate holder 30 is rotated by a driving device (not shown) connected to the outside of the apparatus through the base 4. It is possible to move in the direction. By driving the substrate holder driving unit, the substrate 1 on the substrate holder 30 can change the positional relationship between the distance between the counter electrodes with respect to the counter electrode 2 and the horizontal position. A heater 34 and a reflection plate 35 are provided in the substrate holder frame 31 below the substrate holder surface 33.

【0047】また、第1付勢部10及び第2付勢部20
は、ベース4と基板ホルダ30との間に設置されてお
り、図示されない基板ホルダ駆動部と協動して基板ホル
ダ枠31の移動を行うものである。第1付勢部10の第
1ピン11はベース4側に設けられるものであり、ベー
ス4に対して上下方向に移動可能に支持され、さらにそ
の第1ピン11の先端に設けられた第1ピン当接部14
とべース4との間に第1スプリング12が設置されてい
る。この第1スプリング12は、第1ピン当接部14を
押圧して第1ピン11をベース4から離隔する方向、つ
まり対向電極2に近接する方向に付勢するものである。
The first urging unit 10 and the second urging unit 20
Is provided between the base 4 and the substrate holder 30 and moves the substrate holder frame 31 in cooperation with a substrate holder driving unit (not shown). The first pin 11 of the first biasing portion 10 is provided on the base 4 side, is supported movably in the up-down direction with respect to the base 4, and further has a first pin 11 provided at the tip of the first pin 11. Pin contact part 14
The first spring 12 is provided between the first spring 12 and the base 4. The first spring 12 presses the first pin contact portion 14 to urge the first pin 11 in a direction separating from the base 4, that is, in a direction approaching the counter electrode 2.

【0048】また、第2付勢部20の第2ピン21は基
板ホルダ30側に設けられるものであり、基板ホルダ枠
31に対して上下方向に移動可能に支持される。この第
2ピン21の一方の端部は基板ホルダ30から基板1側
に突出しており、また他方の端部は第2ピン当接部24
となり、基板ホルダ枠31の内側端部との間に第2スプ
リング22が設置されている。この第2スプリング22
は、第2ピン当接部24を押圧して第2ピン21をベー
ス4に近接する方向、つまり対向電極2から離隔する方
向に付勢するものである。
The second pin 21 of the second urging portion 20 is provided on the substrate holder 30 side, and is supported movably in the vertical direction with respect to the substrate holder frame 31. One end of the second pin 21 projects from the substrate holder 30 toward the substrate 1, and the other end of the second pin 21
The second spring 22 is provided between the substrate holder frame 31 and the inner end thereof. This second spring 22
Presses the second pin contact portion 24 to urge the second pin 21 in a direction approaching the base 4, that is, in a direction away from the counter electrode 2.

【0049】そして、第1付勢部10と第2付勢部20
は対向する位置に設置され、それぞれの第1ピン当接部
14と第2ピン当接部24は、その当接面が接触するよ
うに配置され、前記した第1スプリング12と第2スプ
リング22の付勢方向により当接可能となっている。
Then, the first urging unit 10 and the second urging unit 20
Are disposed at opposing positions, and the first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 are arranged so that their contact surfaces are in contact with each other. Can be abutted depending on the biasing direction of.

【0050】また、第2ピン21の第2ピン当接部24
と反対側の端部は、前記したように基板ホルダ枠31か
ら対向電極2側に突出し、その先端部分は第2ピン支持
部26を形成している。この第2ピン支持部26は、基
板1を下方から支持するものである。
The second pin contact portion 24 of the second pin 21
The end on the opposite side protrudes from the substrate holder frame 31 toward the opposing electrode 2 as described above, and the end forms a second pin support 26. The second pin support 26 supports the substrate 1 from below.

【0051】また、前記構成において、図示しない駆動
装置によって基板ホルダ駆動部を介して駆動される部分
は基板ホルダ30のみであり、第1付勢部10及び第2
付勢部20は前記駆動装置によって直接駆動されること
はなく、基板ホルダ30の移動及び第1スプリング12
並びに第2スプリング22の協動動作によって駆動され
る。
In the above configuration, only the substrate holder 30 is driven by the driving device (not shown) via the substrate holder driving unit, and the first urging unit 10 and the second urging unit
The urging portion 20 is not directly driven by the driving device, but moves the substrate holder 30 and the first spring 12.
In addition, it is driven by the cooperative operation of the second spring 22.

【0052】また、基板ホルダの加熱あるいは冷却等の
温度制御を行うために、前記実施例1と同様に基板ホル
ダに図示しない加熱装置あるいは冷却装置を設け、基板
ホルダ駆動軸等を通して電力あるいは媒体の供給を行う
こともできる。 (実施例2の作用) 次に、本考案の実施例2の作用について、図8の本考案
の実施例2の動作を説明する図を用いて説明する。 (基板の受け取り) はじめに、基板を搬送装置から受け取る場合の動作につ
いて説明する。
In order to control the temperature such as heating or cooling of the substrate holder, a heating device or a cooling device (not shown) is provided on the substrate holder as in the first embodiment. A supply can also be made. (Operation of Second Embodiment) Next, the operation of the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 8 which illustrates the operation of the second embodiment of the present invention. (Reception of Substrate) First, an operation when a substrate is received from a transfer device will be described.

【0053】図8において、はじめに、基板1を図示し
ないパスラインに沿って図示しない搬送装置によって搬
送し、基板授受装置の位置に移動させる。この工程にお
ける基板ホルダ30の位置を、図8の(a)に示す。図
8の(a)において、基板ホルダ30を下方に移動させ
ておくことによって、第1スプリング12及び第2スプ
リング22を圧縮して第2ピン21を下降させ、第2ピ
ン21の先端の第2ピン支持部26と基板1との間に間
隔を設けた位置関係とする。この位置関係における間隔
を用いることによって、基板1の搬送を行う。なお、こ
の状態では、第1ピン当接部14と第2ピン当接部24
とは当接状態にある。
In FIG. 8, first, the substrate 1 is transported along a path line (not shown) by a transport device (not shown) and moved to the position of the substrate transfer device. The position of the substrate holder 30 in this step is shown in FIG. In FIG. 8A, by moving the substrate holder 30 downward, the first spring 12 and the second spring 22 are compressed to lower the second pin 21, and the second pin 21 at the tip of the second pin 21 is moved downward. The positional relationship is such that an interval is provided between the two-pin support 26 and the substrate 1. The substrate 1 is transported by using the interval in this positional relationship. In this state, the first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24
Is in a contact state.

【0054】次に、図示しない駆動装置によって基板ホ
ルダ30を上方に移動させると、第2ピン21の先端の
第2ピン支持部26は、基板ホルダ30の基板ホルダ面
33から突出した状態のまま上昇し、基板1の下面に当
接する。この状態を図8の(b)に示している。これに
よって、基板1は第2ピン支持部26により下方から支
持され、搬送中において基板1を支持していた図示しな
い搬送アームを後退させることができる。
Next, when the substrate holder 30 is moved upward by a driving device (not shown), the second pin supporting portion 26 at the tip of the second pin 21 is kept in a state of protruding from the substrate holder surface 33 of the substrate holder 30. Ascends and comes into contact with the lower surface of the substrate 1. This state is shown in FIG. As a result, the substrate 1 is supported from below by the second pin supporting portion 26, and the transfer arm (not shown) supporting the substrate 1 during the transfer can be retracted.

【0055】次に、図8の(c)において、図示しない
駆動装置によって基板ホルダ30をさらに上方に移動さ
せると、基板ホルダ30の基板ホルダ枠31が上昇して
基板ホルダ面33が基板1の下面と当接する。これによ
って、基板1は基板ホルダ面33により下方から支持さ
れることになる。このとき、基板1の対向電極2に対す
る位置は、基板ホルダ30の上下方向の移動によって任
意に設定することができる。また、この状態では、第1
ピン当接部14と第2ピン当接部24との当接状態は解
消され、基板ホルダ30はベース4から分離した状態と
なる。これにより、基板ホルダ30は、図示しない駆動
装置を回転駆動することによって回転移動を行うことも
可能となる。したがって、基板1は、図示しない駆動装
置により、対向電極2に対する垂直方向の位置と水平方
向の位置を変更することができる。 (基板の受け渡し) 次に、基板を基板ホルダから搬送装置に受け渡す場合の
動作について説明する。この工程においては、はじめに
基板1の位置、基板ホルダ30の基板ホルダ枠31の端
部の位置、第1ピン11の第1ピン当接部14の位置、
及び第2ピン21の第2ピン支持部26の位置、並びに
第1スプリング12の長さ、及び第2スプリング22の
長さは、前記基板の受け取りの工程の図8の(c)に示
す状態にあるのものとする。
Next, in FIG. 8C, when the substrate holder 30 is further moved upward by a driving device (not shown), the substrate holder frame 31 of the substrate holder 30 is raised and the substrate holder surface 33 is Contact the lower surface. Thus, the substrate 1 is supported by the substrate holder surface 33 from below. At this time, the position of the substrate 1 with respect to the counter electrode 2 can be arbitrarily set by moving the substrate holder 30 in the vertical direction. In this state, the first
The contact state between the pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 is cancelled, and the substrate holder 30 is separated from the base 4. Thus, the substrate holder 30 can be rotated by driving a driving device (not shown). Therefore, the position of the substrate 1 in the vertical direction and the horizontal position with respect to the counter electrode 2 can be changed by a driving device (not shown). (Delivery of Substrate) Next, an operation when the substrate is delivered from the substrate holder to the transfer device will be described. In this step, first, the position of the substrate 1, the position of the end of the substrate holder frame 31 of the substrate holder 30, the position of the first pin contact portion 14 of the first pin 11,
The position of the second pin support portion 26 of the second pin 21 and the length of the first spring 12 and the length of the second spring 22 are in the state shown in FIG. It is assumed that

【0056】はじめに、前記位置関係において基板ホル
ダ30を下降させて、基板1を基板ホルダ30の基板ホ
ルダ面33から分離させる。この状態を図8の(b)に
示す。この基板1の基板ホルダ面33から分離により、
基板1はその下面が第2ピン支持部26により支持さ
れ、基板1の下面と基板ホルダ面33との間に隙間が形
成される。この隙間の形成により、図示しない搬送装置
の搬送アームの挿入が可能となる。
First, the substrate holder 30 is lowered in the above positional relationship, and the substrate 1 is separated from the substrate holder surface 33 of the substrate holder 30. This state is shown in FIG. By separating the substrate 1 from the substrate holder surface 33,
The lower surface of the substrate 1 is supported by the second pin support 26, and a gap is formed between the lower surface of the substrate 1 and the substrate holder surface 33. The formation of this gap makes it possible to insert a transfer arm of a transfer device (not shown).

【0057】次に、基板1の下面と基板ホルダ面33と
の間の前記隙間に搬送アームを挿入して、基板1の支持
をこの搬送アームによって行い、基板1の搬送アームへ
の受け渡しを行った後、図8の(a)に示すようにさら
に基板ホルダ30を下降させる。これにより、第2ピン
支持部26は基板1の下面から完全に離隔し、搬送アー
ムの後退を行うことができ、基板1を取り出すことがで
きる。このとき、第1スプリング12及び第2スプリン
グ22は共に圧縮状態にあり、第1ピン当接部14と第
2ピン当接部24は当接状態にある。 (実施例2の効果) 前記構成によって、基板はスプリングによって付勢され
るピンによって、基板ホルダの上方に対して設置及び保
持が行うことができ、上方位置にある対向電極に対する
位置を変更することができる。 (変形例) なお、本考案は上記実施例に限定されるものではなく、
本考案の趣旨に基づき種々の変形が可能であり、それら
を本考案の範囲から排除するものではない。
Next, a transfer arm is inserted into the gap between the lower surface of the substrate 1 and the substrate holder surface 33 to support the substrate 1 and transfer the substrate 1 to the transfer arm. After that, the substrate holder 30 is further lowered as shown in FIG. As a result, the second pin supporting portion 26 is completely separated from the lower surface of the substrate 1, so that the transfer arm can be retracted, and the substrate 1 can be taken out. At this time, the first spring 12 and the second spring 22 are both in a compressed state, and the first pin contact portion 14 and the second pin contact portion 24 are in a contact state. (Effect of Second Embodiment) With the above-described configuration, the substrate can be installed and held above the substrate holder by the pin urged by the spring, and the position of the substrate with respect to the upper counter electrode can be changed. Can be. (Modification) The present invention is not limited to the above embodiment,
Various modifications are possible based on the spirit of the present invention, and they are not excluded from the scope of the present invention.

【0058】図9は、本考案の変形例を示す構成図であ
り、前記実施例1に示したように基板を上方に設けられ
た基板ホルダに設置する構成を例として説明するもので
ある。この変形例においては、第1付勢部及び第2付勢
部からなる付勢部の複数個の組を基板ホルダに対して環
状に配置するものであり、これによって、複数枚の基板
の成膜処理をバッチ処理によって行うことが可能とな
る。
FIG. 9 is a structural view showing a modified example of the present invention, and illustrates an example in which the substrate is set on the substrate holder provided above as shown in the first embodiment. In this modified example, a plurality of sets of the urging portions including the first urging portion and the second urging portion are arranged in a ring shape with respect to the substrate holder, thereby forming a plurality of substrates. The film processing can be performed by batch processing.

【0059】なお、この変形例は、前記実施例2に示し
たように基板を下方に設けられた基板ホルダに設置する
構成に適用にすことも可能である。
This modification can also be applied to a configuration in which a substrate is placed on a substrate holder provided below as shown in the second embodiment.

【0060】また、本考案は、スパッタ装置、CVD装
置、エッチング装置等の成膜装置において基板授受を行
う機構に適用することができる。
The present invention can be applied to a mechanism for transferring a substrate in a film forming apparatus such as a sputtering apparatus, a CVD apparatus, and an etching apparatus.

【0061】[0061]

【考案の効果】以上説明したように、本考案によれば、
成膜装置の基板の授受を行う機構において、基板の軸方
向移動及び回転移動を可能とすることができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention,
In a mechanism for transferring a substrate of a film forming apparatus, the substrate can be moved in the axial direction and rotated.

【0062】また、基板を装着した状態で、連続回転を
可能とすることができる。
Further, continuous rotation can be made possible with the substrate mounted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の成膜装置の実施例1の一部断面を示す
斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a partial cross section of a first embodiment of a film forming apparatus of the present invention.

【図2】本考案の成膜装置の実施例1の構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram of Embodiment 1 of the film forming apparatus of the present invention.

【図3】本考案の実施例1の基板を受け取るフローチャ
ートである。
FIG. 3 is a flowchart of receiving a substrate according to the first embodiment of the present invention;

【図4】本考案の実施例1の基板を受け渡すフローチャ
ートである。
FIG. 4 is a flowchart for transferring a substrate according to the first embodiment of the present invention;

【図5】本考案の実施例1の動作を説明する図である。FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of the first embodiment of the present invention;

【図6】従来の成膜装置の基板授受機構を説明する構成
図である。
FIG. 6 is a configuration diagram illustrating a substrate transfer mechanism of a conventional film forming apparatus.

【図7】本考案の成膜装置の実施例2の一部断面を示す
斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view showing a partial cross section of Embodiment 2 of the film forming apparatus of the present invention.

【図8】本考案の実施例2の動作を説明する図である。FIG. 8 is a diagram illustrating the operation of the second embodiment of the present invention.

【図9】本考案の変形例を示す構成図である。FIG. 9 is a configuration diagram showing a modification of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…基板、2…対向電極、4…ベース、5…パスライ
ン、10…第1付勢部、11…第1ピン、12…第1ス
プリング、13…第1ピン支持部、14…第1ピン当接
部、20…第2付勢部、21…第2ピン、22…第2ス
プリング、24…第2ピン当接部、25…第2ピンピッ
クアップ部、26…第2ピン支持部、30…基板ホル
ダ、31…基板ホルダ枠、32…基板ホルダ駆動軸、3
3…基板ホルダ面、34…ヒータ、35…反射板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... board | substrate, 2 ... counter electrode, 4 ... base, 5 ... pass line, 10 ... 1st biasing part, 11 ... 1st pin, 12 ... 1st spring, 13 ... 1st pin support part, 14 ... 1st Pin contact portion, 20 ... second biasing portion, 21 ... second pin, 22 ... second spring, 24 ... second pin contact portion, 25 ... second pin pickup portion, 26 ... second pin support portion, Reference numeral 30: substrate holder, 31: substrate holder frame, 32: substrate holder drive shaft, 3
3 ... substrate holder surface, 34 ... heater, 35 ... reflector

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 基板の受取り及び受渡しを行う基板授受
機構を有する成膜装置において、 (a)直線方向及び回転方向に移動可能であって、前記
基板を支持する基板ホルダと、 (b)一端が固定されるとともに、前記基板ホルダを一
方向に付勢する第1の付勢部と、 (c)前記基板ホルダに設置されるとともに、一端を前
記第1の付勢部に対して前記一方向と対向する方向に付
勢して当接し、他端を前記基板に当接して支持する第2
の付勢部とから構成され、 (d)前記第1の付勢部及び前記第2の付勢部は前記基
板ホルダの直線方向の移動により駆動され、前記基板の
受取り及び受渡しを行うことを特徴とする成膜装置。
1. A film forming apparatus having a substrate transfer mechanism for receiving and transferring a substrate, comprising: (a) a substrate holder that is movable in a linear direction and a rotational direction and supports the substrate; and (b) one end. And a first urging unit for urging the substrate holder in one direction, and (c) being installed on the substrate holder and having one end with respect to the first urging unit. A second side that urges and abuts the substrate in the direction opposite to the other direction and abuts and supports the other end on the substrate.
(D) the first urging unit and the second urging unit are driven by the linear movement of the substrate holder to receive and deliver the substrate. Characteristic film forming apparatus.
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