JP2581701B2 - 波高選別器 - Google Patents
波高選別器Info
- Publication number
- JP2581701B2 JP2581701B2 JP62224461A JP22446187A JP2581701B2 JP 2581701 B2 JP2581701 B2 JP 2581701B2 JP 62224461 A JP62224461 A JP 62224461A JP 22446187 A JP22446187 A JP 22446187A JP 2581701 B2 JP2581701 B2 JP 2581701B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lower limit
- upper limit
- value
- circuit
- sorter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、Ｘ線分析装置等に使用される波高選別器に
関する。
関する。
（ロ）従来技術とその問題点 従来、Ｘ線分析装置には、波高選別器が使用される。
この波高選別器は、Ｘ線検出器から出力される検出パル
スの大きさがＸ線のもつエネルギーに比例することを利
用し、分析対象となるＸ線以外の不要な妨害Ｘ線が含ま
れている場合には、これをエネルギー的に分離除去する
ものである。
この波高選別器は、Ｘ線検出器から出力される検出パル
スの大きさがＸ線のもつエネルギーに比例することを利
用し、分析対象となるＸ線以外の不要な妨害Ｘ線が含ま
れている場合には、これをエネルギー的に分離除去する
ものである。
このような波高選別器として、従来、第２図に示す構
成のものがある。この波高選別器は、比例増幅器ａ、上
限選別回路ｂ、下限選別回路ｃおよび逆同時回路ｄとか
らなる。図外のＸ線検出器から出力される検出パルス
は、第３図に示すように、比例増幅器ａで増幅された
後、上限選別回路ｂと下限選別回路ｃとにそれぞれ入力
される。上限選択回路ｂは、検出パルスの波高値が上限
値を超えたものだけを選別して出力する（同図（ｂ）参
照）。また、下限選別回路ｃは検出パルスの波高値が下
限値を超えたものだけを選別して出力する（同図（ｃ）
参照）。逆同時回路ｄは、下限選別回路ｃを通った検出
パルスから上限選別回路ｂを通った検出パルスを除く。
これにより、逆同時回路ｄからは上限値と下限値との間
の波高値をもつ検出パルスだけが取り出される（同図
（ｄ）参照）。このようにして、第４図に示すように、
上限値と下限値との間の波高値をもつＸ線のみを選別す
ることができる。
成のものがある。この波高選別器は、比例増幅器ａ、上
限選別回路ｂ、下限選別回路ｃおよび逆同時回路ｄとか
らなる。図外のＸ線検出器から出力される検出パルス
は、第３図に示すように、比例増幅器ａで増幅された
後、上限選別回路ｂと下限選別回路ｃとにそれぞれ入力
される。上限選択回路ｂは、検出パルスの波高値が上限
値を超えたものだけを選別して出力する（同図（ｂ）参
照）。また、下限選別回路ｃは検出パルスの波高値が下
限値を超えたものだけを選別して出力する（同図（ｃ）
参照）。逆同時回路ｄは、下限選別回路ｃを通った検出
パルスから上限選別回路ｂを通った検出パルスを除く。
これにより、逆同時回路ｄからは上限値と下限値との間
の波高値をもつ検出パルスだけが取り出される（同図
（ｄ）参照）。このようにして、第４図に示すように、
上限値と下限値との間の波高値をもつＸ線のみを選別す
ることができる。
ところで、従来の波高選別器では、逆同時回路ｄを論
理回路やワンショット回路等を組み合わせて使用し、検
出パルスをトリガとして動作させる構成としているの
で、ワンショット回路のCR時定数のために一定の放電時
間が必要であり、50nsec以下の短い信号に対しては応答
性が悪くていわゆるデッドタイムが生じ、Ｘ線検出器か
ら出力される検出パルスの波高値を十分に選別できない
場合があった。
理回路やワンショット回路等を組み合わせて使用し、検
出パルスをトリガとして動作させる構成としているの
で、ワンショット回路のCR時定数のために一定の放電時
間が必要であり、50nsec以下の短い信号に対しては応答
性が悪くていわゆるデッドタイムが生じ、Ｘ線検出器か
ら出力される検出パルスの波高値を十分に選別できない
場合があった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであ
って、波高値選別のデッドタイムを無くし、波高値の選
別が確実に行えるようにして、分析精度を向上させるこ
とを目的とする。
って、波高値選別のデッドタイムを無くし、波高値の選
別が確実に行えるようにして、分析精度を向上させるこ
とを目的とする。
（ハ）問題点を解決するための手段 本発明は、上記の目的を達成するためには、Ｘ線検出
器から出力される検出パルスの波高値が高エネルギー妨
害Ｘ線を除去するための上限値以上のものを選別する上
限選別回路と、ノイズ成分を除去するための下限値以上
のものを選別する下限値選別回路とを有する波高選別器
において、 上限選別回路の選別出力をカウントする上限カウンタ
と、下限選別回路の選別出力をカウントする下限カウン
タと、両カウンタのカウント出力の差を算出する演算器
とを備え、妨害Ｘ線をエネルギー的に分離除去し、か
つ、波高値選別のデッドタイムを無くすようにした。
器から出力される検出パルスの波高値が高エネルギー妨
害Ｘ線を除去するための上限値以上のものを選別する上
限選別回路と、ノイズ成分を除去するための下限値以上
のものを選別する下限値選別回路とを有する波高選別器
において、 上限選別回路の選別出力をカウントする上限カウンタ
と、下限選別回路の選別出力をカウントする下限カウン
タと、両カウンタのカウント出力の差を算出する演算器
とを備え、妨害Ｘ線をエネルギー的に分離除去し、か
つ、波高値選別のデッドタイムを無くすようにした。
（ニ）作用 上記の構成によれば、上限選別回路を通過した検出パ
ルスは上限カウンタで、また、下限選別回路を通過した
検出パルスは下限カウンタでそれぞれカウントされる。
そして、両カウンタの出力は次段の演算器でカウント値
の差が算出される。ワンショット回路や論理回路を組み
合わせた逆同時回路を使用しないので、測定すべきＸ線
よりエネルギーの高い妨害Ｘ線をエネルギー的に分離除
去しつつ、波高値選別のデッドタイムを無くすことがで
きる。
ルスは上限カウンタで、また、下限選別回路を通過した
検出パルスは下限カウンタでそれぞれカウントされる。
そして、両カウンタの出力は次段の演算器でカウント値
の差が算出される。ワンショット回路や論理回路を組み
合わせた逆同時回路を使用しないので、測定すべきＸ線
よりエネルギーの高い妨害Ｘ線をエネルギー的に分離除
去しつつ、波高値選別のデッドタイムを無くすことがで
きる。
（ホ）実施例 第１図は本発明の波高選別器のブロック図である。同
図において、符号１は波高選別器の全体を示し、２は比
例増幅器、4aはＸ線検出器から出力される検出パルスの
波高値が上限値以上のものを選別する上限選別回路とし
ての上記比較器、4bは検出パルスの波高値が下限値以上
のものを選別する下限選別回路としての上限比較器であ
る。また、6aは上限比較器4aの出力パルスをカウントす
る上限カウンタ、6bは下限比較器4bの出力パルスをカウ
ントする下限カウンタ、８は両カウンタ6a、6bのカウン
ト出力の差を算出する演算器である。
図において、符号１は波高選別器の全体を示し、２は比
例増幅器、4aはＸ線検出器から出力される検出パルスの
波高値が上限値以上のものを選別する上限選別回路とし
ての上記比較器、4bは検出パルスの波高値が下限値以上
のものを選別する下限選別回路としての上限比較器であ
る。また、6aは上限比較器4aの出力パルスをカウントす
る上限カウンタ、6bは下限比較器4bの出力パルスをカウ
ントする下限カウンタ、８は両カウンタ6a、6bのカウン
ト出力の差を算出する演算器である。
したがって、この実施例の波高選別器１では、比例増
幅器２で増幅された検出パルスが上限比較器4aと下限比
較器4bとにそれぞれ入力される。上限比較器4aは、波高
値が上限値を超えた検出パルスだけを選別して出力す
る。また、下限比較器4bは、波高値が下限値を超えた検
出パルスだけを選別して出力する。上限比較器4aの出力
パルスは上限カウンタ6aで、また、下限比較器4bの出力
パルスは下限カウンタ6bでそれぞれ一定期間カウントさ
れる。そして、一定期間にカウントされた両カウンタ6
a、6bの出力は次段の演算器８でカウント値の差が算出
される。これにより、上限値と下限値との間の波高値を
もつ検出パルスのみ選別される。
幅器２で増幅された検出パルスが上限比較器4aと下限比
較器4bとにそれぞれ入力される。上限比較器4aは、波高
値が上限値を超えた検出パルスだけを選別して出力す
る。また、下限比較器4bは、波高値が下限値を超えた検
出パルスだけを選別して出力する。上限比較器4aの出力
パルスは上限カウンタ6aで、また、下限比較器4bの出力
パルスは下限カウンタ6bでそれぞれ一定期間カウントさ
れる。そして、一定期間にカウントされた両カウンタ6
a、6bの出力は次段の演算器８でカウント値の差が算出
される。これにより、上限値と下限値との間の波高値を
もつ検出パルスのみ選別される。
なお、下限カウンタ6bのカウント値のみ取り出せば積
分方式の出力が得られる。
分方式の出力が得られる。
（ヘ）効果 以上のように本発明によれば、上限選択回路と下限選
択回路をそれぞれ通過した検出パルスを個別に計測した
後、両者の差を算出するので、従来のようなワンショッ
ト回路と論理回路が使用する必要がない。そのため、波
高の小さいノイズ成分を除き、さらに測定すべきＸ線よ
りエネルギーの高い妨害Ｘ線をエネルギー的に分離除去
しつつ、波高選別に伴って従来必然的に発生していたデ
ッドタイムが無くなり、高い計数レートを持ちながら波
高値の選別が確実に行えるようになる等の優れた効果が
発揮される。
択回路をそれぞれ通過した検出パルスを個別に計測した
後、両者の差を算出するので、従来のようなワンショッ
ト回路と論理回路が使用する必要がない。そのため、波
高の小さいノイズ成分を除き、さらに測定すべきＸ線よ
りエネルギーの高い妨害Ｘ線をエネルギー的に分離除去
しつつ、波高選別に伴って従来必然的に発生していたデ
ッドタイムが無くなり、高い計数レートを持ちながら波
高値の選別が確実に行えるようになる等の優れた効果が
発揮される。
第１図は本発明の実施例に係る波高選別器の構成を示す
ブロック図、第２図は従来の波高選別器の構成を示すブ
ロック図、第３図は波高選別動作の説明図、第４図はＸ
線のエネルギー分布と波高選別特性を示す説明図であ
る。 １……波高選別器、4a……上限選別回路（上限比較
器）、4b……下限選別回路（下限比較器）、6a……上限
カウンタ、6b……下限カウンタ、８……演算器。
ブロック図、第２図は従来の波高選別器の構成を示すブ
ロック図、第３図は波高選別動作の説明図、第４図はＸ
線のエネルギー分布と波高選別特性を示す説明図であ
る。 １……波高選別器、4a……上限選別回路（上限比較
器）、4b……下限選別回路（下限比較器）、6a……上限
カウンタ、6b……下限カウンタ、８……演算器。
Claims (1)
- 【請求項１】Ｘ線検出器から出力される検出パルスの波
高値が高エネルギー妨害Ｘ線を除去するための上限値以
上のものを選別する上限選別回路と、ノイズ成分を除去
するための下限値以上のものを選別する下限値選別回路
とを有する波高選別器において、前記上限選別回路の選
別出力をカウントする上限カウンタと、前記下限選別回
路の選別出力をカウントする下限カウンタと、前記両カ
ウンタのカウント出力の差を算出する演算器とを備え、
妨害Ｘ線をエネルギー的に分離除去し、かつ、波高値選
別のデッドタイムを無くしたことを特徴とする波高選別
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62224461A JP2581701B2 (ja) | 1987-09-08 | 1987-09-08 | 波高選別器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62224461A JP2581701B2 (ja) | 1987-09-08 | 1987-09-08 | 波高選別器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6466587A JPS6466587A (en) | 1989-03-13 |
| JP2581701B2 true JP2581701B2 (ja) | 1997-02-12 |
Family
ID=16814145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62224461A Expired - Lifetime JP2581701B2 (ja) | 1987-09-08 | 1987-09-08 | 波高選別器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2581701B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9759819B2 (en) * | 2013-08-08 | 2017-09-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Radiation measurement device |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0640077B2 (ja) * | 1983-10-12 | 1994-05-25 | 松下電器産業株式会社 | 放射線受像方法 |
| JPS6275371A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-07 | Toshiba Corp | Ｍｃｐ荷電粒子計数装置 |
-
1987
- 1987-09-08 JP JP62224461A patent/JP2581701B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6466587A (en) | 1989-03-13 |
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