JP2580943Y2 - イオン源 - Google Patents

イオン源

Info

Publication number
JP2580943Y2
JP2580943Y2 JP4428292U JP4428292U JP2580943Y2 JP 2580943 Y2 JP2580943 Y2 JP 2580943Y2 JP 4428292 U JP4428292 U JP 4428292U JP 4428292 U JP4428292 U JP 4428292U JP 2580943 Y2 JP2580943 Y2 JP 2580943Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
generation chamber
plasma generation
ions
ion source
plasma
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP4428292U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH065100U (ja
Inventor
昌平 奥田
和紀 飛川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP4428292U priority Critical patent/JP2580943Y2/ja
Publication of JPH065100U publication Critical patent/JPH065100U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2580943Y2 publication Critical patent/JP2580943Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、イオン注入装置等にお
いて使用される、イオンを生成してイオンビームとして
引き出すイオン源に関し、特に、所望のイオンを選択的
に取り出す質量分析手段の前段に設けられるイオン源に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】イオン源には、例えばマイクロ波型や高
周波型、PIG(Penning IonizationGauge)型等の多
くの種類が存在しており、これらの各種のイオン源は、
必要とされるイオン種やエネルギー、電流等に応じて最
適の機種が使い分けられるようになっている。
【0003】例えばマイクロ波型のイオン源は、図7に
示すように、マイクロ波を出力するマグネトロン51
と、このマグネトロン51に導波管52を介して接続さ
れたプラズマチャンバー53とを有しており、プラズマ
チャンバー53の導波管52側の壁面には、プラズマチ
ャンバー53によって形成されたプラズマ生成室56と
導波管52とを隔離するウインドウ54が設けられてい
る。そして、このイオン源は、マグネトロン51から出
力されたマイクロ波を導波管52およびウインドウ54
を介してプラズマ生成室56に導入させ、プラズマ生成
室56内に導入されているBF3 等のガスをマイクロ波
放電によりプラズマ化させるようになっている。これに
より、導入ガスに応じた複数種類のイオン(例えば、導
入ガスがBF3 の場合、B+ 、BF2 +等)がプラズマ生
成室56内に生成される。
【0004】また、上記プラズマ生成室56にプラズマ
が生成された後、上記プラズマチャンバー53と引出し
電極57との間に高電圧を印加して所定の電位差を生じ
させることにより、上記プラズマ生成室56内から複数
種類の同極性のイオンを引出してイオンビームを形成す
るようになっている。
【0005】上記のようなイオン源が、例えばイオン注
入装置に用いられる場合、プラズマ生成室56内から引
出された複数種類のイオンから成るイオンビームは、図
示しない質量分析装置において所望のイオンのみが選別
され、この選別された所望のイオンのみが図示しないタ
ーゲットに照射されるようになっている。
【0006】そして、ターゲット上におけるイオンビー
ム(所望の単一イオンから成るイオンビーム)の電流量
を調整するには、マグネトロン51から出力されるマイ
クロ波電力を変化させ、プラズマ生成室56内に生成さ
れるブラズマ密度(即ち、イオンの密度)を調整するこ
とにより行われている。
【0007】
【考案が解決しようとする課題】ここで、例えば、プラ
ズマ生成室56内にBF3 を導入してB+ 、BF2 +を含
む複数種類のイオンを生成し、質量分析部においてB+
あるいはBF2 +のみを選択的に取り出してB+ あるいは
BF2 +から成るイオンビームを得ようとする場合を考え
てみる。例えば、大電流のイオンビーム(B+ またはB
2 +の単一イオンから成るイオンビーム)を得ようとす
る場合、所望のイオンがB+ であっても、BF2 +であっ
ても、従来では、単にマグネトロン51から出力される
マイクロ波電力をアップし、プラズマ生成室56内に生
成されるブラズマ密度(即ち、イオンの密度)を高める
ことのみしか行われていない。したがって、例えばB+
のイオンビームを得ようとするとき、B+ 以外の不要イ
オン(BF2 +等)を生成するためにも多量のマイクロ波
電力が消費されるため、効率が悪く大電流のイオンビー
ムが得られないと共に、それだけイオン源の負担も大き
くなる。
【0008】本考案は上記に鑑みなされたものであり、
その目的は、プラズマ生成室内に生成されるプラズマを
構成する複数のイオンの構成比を調整することにより、
所望イオンのビーム形成を効率的に行い、所望イオンの
ビーム量の増大を図り、イオン源の負担を軽減すること
ができるイオン源を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の本考案のイオ
ン源は、上記の課題を解決するために、所望のイオンを
選択的に取り出す質量分析手段の前段に設けられるもの
であり、導入されたイオン源物質を電離させて複数種類
のイオンを含むプラズマを生成するプラズマ生成室を有
し、このプラズマ生成室からイオンを引き出してイオン
ビームを形成するイオン源であって、以下の手段を講じ
ている。
【0010】即ち、上記プラズマ生成室内で生成される
複数種類のイオンのうち、上記質量分析手段により取り
出されるイオンの構成比が大きくなるような温度となる
ように、上記プラズマ生成室内を加熱する加熱手段を備
えている。
【0011】請求項2の本考案のイオン源は、上記の課
題を解決するために、所望のイオンを選択的に取り出す
質量分析手段の前段に設けられるものであり、導入され
たイオン源物質を電離させて複数種類のイオンを含むプ
ラズマを生成するプラズマ生成室を有し、このプラズマ
生成室からイオンを引き出してイオンビームを形成する
イオン源であって、以下の手段を講じている。
【0012】即ち、上記プラズマ生成室内で生成される
複数種類のイオンのうち、上記質量分析手段により取り
出されるイオンの構成比が大きくなるような温度となる
ように、上記プラズマ生成室内を冷却する冷却手段を備
えている。
【0013】請求項3の本考案のイオン源は、上記の課
題を解決するために、所望のイオンを選択的に取り出す
質量分析手段の前段に設けられるものであり、導入され
たイオン源物質を電離させて複数種類のイオンを含むプ
ラズマを生成するプラズマ生成室を有し、このプラズマ
生成室からイオンを引き出してイオンビームを形成する
イオン源であって、以下の手段を講じている。
【0014】即ち、上記プラズマ生成室内を加熱する加
熱手段と、上記プラズマ生成室内を冷却する冷却手段と
を有する温度調整手段を備え、上記温度調整手段は、
記プラズマ生成室内で生成される複数種類のイオンのう
ち、上記質量分析手段により取り出されるイオンの構成
比が大きくなるような温度となるようにプラズマ生成室
内の温度を調整するようになっている。
【0015】
【作用】上記請求項1の構成によれば、イオン源は質量
分析手段の前段に設けられており、イオン源において生
成された複数種類のイオンを含むイオンビームは、質量
分析手段において所望のイオンのみが選択的に取り出さ
れ、単一のイオンから成るイオンビームになる。
【0016】ところで、プラズマ生成室内で生成される
複数種類のイオンの構成比は、プラズマ生成室内の温度
により変化する。例えば、イオン源物質としてBF3
用いられた場合、プラズマ生成室内温度が高くなる程、
+ の構成比がBF2 +のそれに比べて大きくなる。
【0017】本イオン源は、プラズマ生成室内を加熱す
る加熱手段を有しているので、質量分析手段により取り
出されるイオンが、温度が高い方がプラズマ生成室内で
の構成比が大きくなるようなイオン(例えば上記B
+ 等)である場合、上記加熱手段によりプラズマ生成室
内を加熱することにより、そのイオンのイオン源から引
き出されたイオンビーム中の構成比も大きくなる。した
がって、質量分析手段により取り出されるイオンのビー
ム量が増加する。即ち、質量分析手段において効率よく
所望のイオンを取り出すことができ、イオン源の負担が
軽減される。
【0018】上記請求項2の構成によれば、プラズマ生
成室内を冷却する冷却手段を有しているので、質量分析
手段により取り出されるイオンが、温度が低い方がプラ
ズマ生成室内での構成比が大きくなるようなイオン(例
えば上記BF2 +等)である場合、上記冷却手段によりプ
ラズマ生成室内を冷却することにより、そのイオンのイ
オン源から引き出されたイオンビーム中の構成比も大き
くなる。したがって、質量分析手段により取り出される
イオンのビーム量が増加する。即ち、質量分析手段にお
いて効率よく所望のイオンを取り出すことができ、イオ
ン源の負担が軽減される。
【0019】上記請求項3の構成によれば、上記プラズ
マ生成室内を加熱する加熱手段と、上記プラズマ生成室
内を冷却する冷却手段とを有する温度調整手段を備えて
いるので、質量分析手段により取り出されるイオン
ラズマ生成室内での構成比が大きくなるように、上記加
熱手段または冷却手段によりプラズマ生成室内の温度を
調整すれば、質量分析手段において効率よく所望のイオ
ンを取り出すことができ、質量分析手段により取り出さ
れるイオンのビーム量を増加させることができると共
に、イオン源の負担が軽減される。
【0020】
【実施例】〔実施例1〕 本考案の一実施例について図1に基づいて説明すれば、
以下の通りである。
【0021】本実施例のイオン源は、電子サイクロトロ
ン共鳴(ECR:Electron Cyclotron Resonance)条件
の磁界中でマイクロ波放電を生じさせてプラズマを生成
し、このプラズマからイオンをビームとして引き出すマ
イクロ波型のイオン源(ECRイオン源)であり、例え
ばイオン注入装置に搭載されるようになっている。
【0022】上記イオン源は、図1に示すように、例え
ば2.45GHzのマイクロ波を出力するマグネトロン1
と、このマグネトロン1を作動させるマグネトロン電源
2とを有しており、マグネトロン1は、導波管3を介し
てプラズマチャンバ4に接続されている。
【0023】上記のプラズマチャンバ4は、プラズマ生
成室7を形成しており、このプラズマ生成室7には、B
3 等のイオン源物質が導入されるようになっている。
また、プラズマチャンバ4の導波管3側の内壁面には、
ウインドウ5が配設されており、このウインドウ5は、
導波管3とプラズマ生成室7とを隔離するようになって
いると共に、マグネトロン1から導波管3を介して出力
されたマイクロ波をプラズマ生成室7に導入させるよう
になっている。
【0024】また、プラズマチャンバー4の他の内壁面
には、BF3 等のガスに対して耐蝕性を有した、例えば
BN等から成るライナー13…が設けられている。これ
らの各ライナー13…のプラズマチャンバー4側の一方
面には、溝部が刻み込まれており、この溝部に加熱手段
としてのヒータ線14(例えばニクロム線、Ta線等)
が嵌合されている(即ち、ヒータ線14が各ライナー1
3…に巻回されている)。上記ヒータ線14は、図示し
ない加熱電源(加熱手段)から電力が供給されることに
よって発熱し、プラズマ生成室7内の温度を上昇させ
る。
【0025】また、プラズマチャンバー4の一部位に
は、プラズマ生成室7内の温度を測定するための熱電対
15が設けられている。上記熱電対15は、図示しない
制御装置に接続されており、この制御装置は、熱電対1
5からの温度情報に基づいて、プラズマ生成室7内が設
定温度になるように加熱電源(加熱手段)の出力を調整
するようになっている。尚、プラズマ生成室7内の温度
を測定する温度測定手段として、上記熱電対15以外の
ものが使用されてもよい。
【0026】上記のプラズマチャンバ4は、後述の引出
電極8および減速電極9等と共に、気密状態にされたイ
オン源チャンバ12に内蔵されており、このイオン源チ
ャンバ12は、図示しない真空排気手段によって高真空
状態にされるようになっている。
【0027】また、プラズマチャンバ4の周囲には、ソ
レノイドコイル6a・6bを備えたソースマグネット6
が配設されており、このソースマグネット6は、プラズ
マ生成室7内に、ビーム引き出し方向と平行な磁界を形
成するようになっている。上記ソレノイドコイル6a・
6bには、図示しないソースマグネット電源が接続され
ており、ソースマグネット電源よりソースマグネット電
流が供給されるようになっている。
【0028】また、プラズマチャンバ4のウインドウ5
と対向する壁面には、外部にイオンを放出させるイオン
引出スリット4aが形成されている。このイオン引出ス
リット4aからイオンの放出方向には、ビーム通過孔8
aが形成された引出電極8およびビーム通過孔9aが形
成された減速電極9がこの順に配設されている。
【0029】上記減速電極9は接地されて大地電位に、
そして、引出電極8は減速電極9よりも負電位になるよ
うに、減速電源10より負電圧が印加されている。そし
て、プラズマチャンバ4には、引出電源11の正極端子
が接続されており、この引出電源11より高電圧の引出
電圧が印加されるようになっている。これにより、プラ
ズマチャンバ4と引出電極8との間に所定の電位差が生
じ、プラズマ生成室7に強い外部電界が形成され、この
外部電界により、プラズマ生成室7内のプラズマからイ
オンが引き出され、イオンビームが形成されるようにな
っている。また、上記のように、引出電極8を減速電極
9よりも負電位にすることにより、引出電極8よりも下
流で発生した電子の逆流を防ぐことができるようになっ
ている。
【0030】上記引出電極8によりプラズマ生成室7か
ら引き出されたイオンビームの進行方向には、図示しな
い質量分析装置(質量分析手段)が配設されている。こ
の質量分析装置は、特定質量のイオンのみを選択的に取
り出すようになっている。したがって、プラズマ生成室
7から引き出されたイオンビームは、この質量分析装置
を通過することにより、単一イオンから成るイオンビー
ムとなる。例えば、イオン注入装置の場合、質量分析装
置を通過後の単一イオンから成るイオンビームが、必要
により加速、偏向、整形、走査され、ターゲットに照射
される。
【0031】上記の構成において、イオン源の動作につ
いて説明する。
【0032】先ず、イオン源チャンバ12が図示しない
真空排気手段によって排気され、高真空状態にされる。
また、図示しない加熱電源の電力がヒータ線14に供給
されることによって、ヒータ線14が発熱を開始し、こ
のヒータ線14がライナー13…を介してプラズマ生成
室7内の温度を、プラズマによる加熱で平衡となる温度
付近まで上昇させる。次に、プラズマ生成室7内にイオ
ン源物質が導入される。ここでは、イオン源物質として
BF3 を用いて説明する。そして、ソースマグネット6
のソレノイドコイル6a・6bにソースマグネット電源
よりソースマグネット電流が供給され、プラズマ生成室
7にビーム引き出し方向と略平行な磁界が形成される。
この後、マグネトロン1が作動され、マイクロ波電力の
出力が開始されることになる。
【0033】このマイクロ波は、導波管3を介してウイ
ンドウ8に到達し、このウインドウ8を通過してプラズ
マ生成室7に導入されることになる。そして、ECR現
象によるマイクロ波放電によって、プラズマ生成室7に
導入されているBF3 がプラズマ化され、B+ 、BF2 +
を含む複数種類のイオンが生成される。
【0034】ところで、プラズマを構成するB+ および
BF2 +の構成比は、温度により変化する。具体的には、
温度が高くなる程、B+ の構成比がBF2 +のそれに比べ
て大きくなる。したがって、プラズマ生成室7内の温度
を調整すれば、プラズマを構成するB+ およびBF2 +
構成比を調整することができる。
【0035】そこで、本実施例では、B+ からなるイオ
ンビームを形成しようとする場合、ヒータ線14の発熱
量を多くし、プラズマ生成室7内の温度を強制的に高く
する。即ち、制御装置は、熱電対15からの温度情報に
基づいて、プラズマ生成室7内が設定温度になるように
加熱電源の出力を調整する。これにより、マイクロ波電
力が従来と同じでも、プラズマ生成室7内のB+ の構成
比が従来よりも大きくなる。一方、BF2 +からなるイオ
ンビームを形成しようとする場合、ヒータ線14の発熱
をゼロにし(または、少なくし)、プラズマ生成室7内
の温度を強制的に高めたりせず、プラズマ生成室7内の
BF2 +の構成比を比較的高い状態にする。
【0036】上記のように、得ようとするイオンビーム
の種類に応じてプラズマ生成室7内のB+ 、BF2 +の構
成比がコントロールされた状態で、引出電源11が投入
されることにより、上記プラズマチャンバ4と引出電極
8との間に所定の電位差が生じ、プラズマ生成室7に強
い外部電界が形成され、この外部電界により、プラズマ
生成室7内のプラズマからB+ およびBF2 +を含む正の
イオンが引き出され、イオンビームが形成される。
【0037】上記イオンビームは、引出電極8のビーム
通過孔8a、および減速電極9のビーム通過孔9aを通
過した後、質量分析装置へと移送される。そして、この
質量分析装置において所望のイオンが選別され、所望の
単一イオンからなるイオンビームが形成される。
【0038】このように、本実施例のイオン源は、プラ
ズマ生成室7内を加熱するヒータ線14を有し、このヒ
ータ線14によってプラズマ生成室7内の温度を、
ラズマ生成室7に生成されるプラズマを構成する複数の
イオンのうち、所望イオンの構成比が大きくなる温度
調整するようになっている。したがって、所望イオンの
ビーム形成を効率的に行うことができるので、マイクロ
波電力が従来と同じでも、所望イオンのビーム量の増大
が図れる。また、これにより、イオン源の負担を軽減す
ることができる。
【0039】尚、本実施例では、イオン源物質としてB
3 を用いた場合について説明したが、これに限定され
るものではない。即ち、本実施例のイオン源は、その他
のイオン源物質を用いた場合でも、温度が高い方がプラ
ズマ生成室内での構成比が大きくなるようなイオンのビ
ームを発生させるときには非常に有効である。
【0040】また、本実施例のイオン源は、マイクロ波
によってイオン源物質を加熱する前に、ヒータ線14に
よりイオン源物質を加熱しているため、立ち上げ時のビ
ーム引出電流安定待ち時間を短縮することも可能になっ
ている。
【0041】また、本実施例ではライナー13に直接溝
部を刻んでこの溝部にヒータ線14を嵌合させているた
め、ライナー13全体がヒータの役割を果たし、プラズ
マ生成室7内の温度が上昇し易いと共に、構造が簡単で
スペース的にも余裕が大きくなる。
【0042】また、ベーパライザーを備え、イオン源物
質としてAs等の金属イオン種を使用できるイオン源の
場合、上記ヒータ線14によってプラズマ生成室7内を
金属イオン種の蒸発温度以上に加熱することにより、金
属イオン種の凝固(ライナーへの付着)が防止される。
これにより、プラズマ生成室7内におけるプラズマの生
成が安定し、安定なビームを得ることができる。
【0043】尚、本実施例では加熱手段としてヒータ線
14が用いられているが、これに限定されるものではな
い。例えば、各ライナー13…のプラズマチャンバー4
側の一方面に、セラミック系の板状の発熱部材を設けて
もよい。また、本実施例では加熱手段(ヒータ線14)
がライナー13に設けられているが、これに限定される
ことはない。即ち、加熱手段は、プラズマチャンバー4
の隔壁の外面または内面の少なくとも一方に設け、この
プラズマチャンバー4の隔壁を介してプラズマ生成室7
を加熱するようになっていれば良い。
【0044】〔実施例2〕 次に、本考案の他の実施例について図2に基づいて説明
すれば、以下の通りである。尚、便宜上、前記実施例1
と同一の構成を有する部材には同一の参照番号を付して
その説明を省略する。
【0045】本実施例のイオン源は、前記実施例1にお
けるヒータ線14(図1)および加熱電源が設けられて
いない代わりに、図2に示すように、冷却水が通る冷却
パイプ(冷却手段)16がプラズマチャンバー4の周囲
に巻き付けられている以外は、図1に示す前記実施例1
と同様の構成であり、質量分析装置の前段に設けられて
いる。
【0046】上記の構成において、本実施例のイオン源
においても、ヒータ線14による加熱を行わない以外は
前記実施例1と同様にプラズマ生成室内にプラズマを発
生させ、イオンビームを形成する。このとき、例えば、
プラズマ生成室内に導入されるイオン源物質としてBF
3 を用い、BF2 +から成るイオンビームを得ようとする
場合、上記冷却パイプ16に常に冷却水を流し、プラズ
マ生成室内の温度を強制的に下げる。これにより、マイ
クロ波電力が従来と同じでも、プラズマ生成室7内のB
2 +の構成比が従来よりも大きくなり、BF2 +からなる
イオンビームの形成を効率的に行うことができ、ビーム
量の増大が図れると共に、イオン源の負担を軽減するこ
とができる。
【0047】尚、本実施例では、イオン源物質としてB
3 を用いてBF2 +からなるイオンビームを形成する場
合について説明したが、これに限定されるものではな
い。即ち、本実施例のイオン源は、その他のイオン源物
質を用いた場合でも、温度が低い方がプラズマ生成室内
での構成比が大きくなるようなイオンのビームを発生さ
せる(質量分析装置により取り出す)ときには非常に有
効である。
【0048】〔実施例3〕 次に、本考案の他の実施例について図3ないし図6に基
づいて説明すれば、以下の通りである。尚、便宜上、前
記実施例1および実施例2と同一の構成を有する部材に
は同一の参照番号を付してその説明を省略する。
【0049】本実施例のイオン源には、図3に示すよう
に、前記実施例2における冷却パイプ16(図2)と同
様に、冷却水が通る冷却パイプ(温度調整手段、冷却手
段)16′がプラズマチャンバー4の周囲に巻き付けら
れている。また、上記冷却パイプ16′の内部には、ヒ
ータ線(温度調整手段、加熱手段)17が設けられてお
り、このヒータ線17とこれに電力を供給する図示しな
い加熱電源(温度調整手段、加熱手段)を有する以外
は、前記実施例2と同様の構成となっている。また、本
イオン源は、質量分析装置の前段に設けられている。
【0050】上記ヒータ線17は、図4に示すように、
ヒータ芯線17aと、このヒータ芯線17aを覆う絶縁
体17bと、この絶縁体17bを覆うヒータ被覆17c
とから構成されている。このヒータ線17は、冷却パイ
プ16′のプラズマチャンバー4への巻き付け開始部分
付近(図3中のAで示す)において、図5に示すよう
に、気密溶接により冷却パイプ16′内から外部に取り
出され、その端部が図示しない加熱電源に接続されてい
る。また、このヒータ線17の他端は、冷却パイプ1
6′のプラズマチャンバー4への巻き付け終了部分付近
(図3中のBで示す)において、図6に示すように、ヒ
ータ芯線17aが冷却パイプ16′の内壁に接続されて
いる(電気的に短絡されている)。
【0051】尚、上記冷却パイプ16′は、所定の基準
電位(高電位)に保持されたプラズマチャンバー4に接
触しており、また、上記加熱電源のヒータ線17と接続
されている側と反対側の端子も基準電位(プラズマチャ
ンバー4と同電位)に接続されている。上記構成によ
り、上記ヒータ線17は、上記加熱電源から電力が供給
されることによって発熱し、冷却パイプ16′およびプ
ラズマチャンバー4の隔壁を介してプラズマ生成室内の
温度を上昇させる。
【0052】上記の構成において、本実施例のイオン源
においても、前記実施例2と同様にプラズマ生成室内に
プラズマを発生させ、イオンビームを形成する。このと
き、例えば、プラズマ生成室内に導入されるイオン源物
質としてBF3 を用い、BF2 +から成るイオンビームを
得ようとする場合、前記実施例2と同様に上記冷却パイ
プ16′に常に冷却水を流し、プラズマ生成室内の温度
を強制的に下げる。これにより、マイクロ波電力が従来
と同じでも、プラズマ生成室7内のBF2 + の構成比が
従来よりも大きくなり、BF2 +からなるイオンビームの
形成を効率的に行うことができる。
【0053】一方、イオン源物質としてBF3 を用いた
場合でも、B+ から成るイオンビームを得ようとする場
合は、冷却パイプ16′内に入っている冷却水をオート
パージシステムにより抜き、加熱電源より上記ヒータ線
17に電力を供給してプラズマ生成室内の温度を強制的
に上げる。これにより、マイクロ波電力が従来と同じで
も、プラズマ生成室7内のB+ の構成比が従来よりも大
きくなり、B+ からなるイオンビームの形成を効率的に
行うことができる。
【0054】また、ベーパライザーを備え、イオン源物
質としてAs等の金属イオン種を使用できるイオン源の
場合、上記ヒータ線17によってプラズマ生成室内を金
属イオン種の蒸発温度以上に加熱することにより、金属
イオン種の凝固(ライナーへの付着)が防止され、プラ
ズマ生成室内におけるプラズマの生成が安定し、安定な
ビームを得ることができる。
【0055】以上のように、本実施例のイオン源は、プ
ラズマチャンバー4の冷却・加熱機能を備えたものであ
り、前記実施例1および実施例2の両方の効果を得るこ
とができる。
【0056】また、本実施例ではヒータ線17を冷却パ
イプ16′内に設けたことにより、スペース的に有利で
ある。勿論、ヒータ線17を冷却パイプ16′内に設け
ることには限定されず、前記実施例1同様に、プラズマ
チャンバー4の隔壁の内面側に設けてもよい。また、加
熱手段も上記ヒータ線17に限定されず、例えばセラミ
ック系の板状の発熱部材であってもよい。
【0057】尚、上記各実施例においては、マイクロ波
型のイオン源について説明しているが、これに限定され
るものではなく、例えばフリーマン型イオン源等、他の
方式のイオン源にも適応できる。
【0058】
【考案の効果】請求項1の本考案のイオン源は、以上の
ように、所望のイオンを選択的に取り出す質量分析手段
の前段に設けられるものであり、プラズマ生成室内で生
成され る複数種類のイオンのうち、上記質量分析手段に
より取り出されるイオンの構成比が大きくなるような温
度となるように、プラズマ生成室内を加熱する加熱手段
を備えている構成である。
【0059】それゆえ、上記加熱手段によりプラズマ生
成室内を加熱することにより、温度が高い方がプラズマ
生成室内での構成比が大きくなるようなイオン(例えば
BF3 をイオン源物質としたときのB+ 等)を質量分析
手段において取り出す場合に、質量分析手段において効
率よくそのイオンを取り出すことができる。したがっ
て、質量分析手段により取り出されるイオンのビーム量
を増加させることができると共に、イオン源の負担を軽
減することができるという効果を奏する。
【0060】請求項2の本考案のイオン源は、以上のよ
うに、所望のイオンを選択的に取り出す質量分析手段の
前段に設けられるものであり、プラズマ生成室内で生成
される複数種類のイオンのうち、上記質量分析手段によ
り取り出されるイオンの構成比が大きくなるような温度
となるように、プラズマ生成室内を冷却する冷却手段を
備えている構成である。
【0061】それゆえ、上記冷却手段によりプラズマ生
成室内を冷却することにより、温度が低い方がプラズマ
生成室内での構成比が大きくなるようなイオン(例えば
BF3 をイオン源物質としたときのBF2 +等)を質量分
析手段において取り出す場合に、質量分析手段において
効率よくそのイオンを取り出すことができる。したがっ
て、質量分析手段により取り出されるイオンのビーム量
を増加させることができると共に、イオン源の負担を軽
減することができるという効果を奏する。
【0062】請求項3の本考案のイオン源は、以上のよ
うに、所望のイオンを選択的に取り出す質量分析手段の
前段に設けられるものであり、プラズマ生成室内を加熱
する加熱手段と、上記プラズマ生成室内を冷却する冷却
手段とを有する温度調整手段を備え、上記温度調整手段
は、プラズマ生成室内で生成される複数種類のイオンの
うち、上記質量分析手段により取り出されるイオンの構
成比が大きくなるよう な温度となるようにプラズマ生成
室内の温度を調整するような構成である。
【0063】それゆえ、質量分析手段により取り出され
るイオンプラズマ生成室内での構成比が大きくなるよ
うに、上記加熱手段または冷却手段によりプラズマ生成
室内の温度を調整すれば、質量分析手段において効率よ
く所望のイオンを取り出すことができる。したがって、
質量分析手段により取り出されるイオンのビーム量を増
加させることができると共に、イオン源の負担を軽減す
ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例を示すものであり、マイクロ
波型イオン源の要部構成を示す概略の横断面図である。
【図2】本考案の他の実施例を示すものであり、マイク
ロ波型イオン源の要部構成を示す概略の説明図である。
【図3】本考案のさらに他の実施例を示すものであり、
マイクロ波型イオン源の要部構成を示す概略の説明図で
ある。
【図4】図3のイオン源に備えられている冷却パイプ内
に設けられているヒータ線を示す横断面図である。
【図5】図3のイオン源に備えられている冷却パイプの
プラズマチャンバーへの巻き付け開始部分付近を示す概
略の縦断面図である。
【図6】図3のイオン源に備えられている冷却パイプの
プラズマチャンバーへの巻き付け終了部分付近を示す概
略の縦断面図である。
【図7】従来例を示すものであり、マイクロ波型イオン
源の要部構成を示す概略の横断面図である。
【符号の説明】
4 プラズマチャンバー 7 プラズマ生成室 13 ライナー 14 ヒータ線(加熱手段) 15 熱電対 16 冷却パイプ(冷却手段) 16′ 冷却パイプ(温度調整手段、冷却手段) 17 ヒータ線(温度調整手段、加熱手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01J 37/08 H01J 27/02 H01J 37/317 H01J 49/10

Claims (3)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】所望のイオンを選択的に取り出す質量分析
    手段の前段に設けられるものであり、導入されたイオン
    源物質を電離させて複数種類のイオンを含むプラズマを
    生成するプラズマ生成室を有し、このプラズマ生成室か
    らイオンを引き出してイオンビームを形成するイオン源
    であって、上記プラズマ生成室内で生成される複数種類のイオンの
    うち、 上記質量分析手段により取り出されるイオンの構
    成比が大きくなるような温度となるように、上記プラズ
    マ生成室内を加熱する加熱手段を備えていることを特徴
    とするイオン源。
  2. 【請求項2】所望のイオンを選択的に取り出す質量分析
    手段の前段に設けられるものであり、導入されたイオン
    源物質を電離させて複数種類のイオンを含むプラズマを
    生成するプラズマ生成室を有し、このプラズマ生成室か
    らイオンを引き出してイオンビームを形成するイオン源
    であって、上記プラズマ生成室内で生成される複数種類のイオンの
    うち、 上記質量分析手段により取り出されるイオンの構
    成比が大きくなるような温度となるように、上記プラズ
    マ生成室内を冷却する冷却手段を備えていることを特徴
    とするイオン源。
  3. 【請求項3】所望のイオンを選択的に取り出す質量分析
    手段の前段に設けられるものであり、導入されたイオン
    源物質を電離させて複数種類のイオンを含むプラズマを
    生成するプラズマ生成室を有し、このプラズマ生成室か
    らイオンを引き出してイオンビームを形成するイオン源
    であって、 上記プラズマ生成室内を加熱する加熱手段と、上記プラ
    ズマ生成室内を冷却する冷却手段とを有する温度調整手
    段を備え、上記温度調整手段は、上記プラズマ生成室内
    で生成される複数種類のイオンのうち、上記質量分析手
    段により取り出されるイオンの構成比が大きくなるよう
    な温度となるようにプラズマ生成室内の温度を調整する
    ことを特徴とするイオン源。
JP4428292U 1992-06-25 1992-06-25 イオン源 Expired - Lifetime JP2580943Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4428292U JP2580943Y2 (ja) 1992-06-25 1992-06-25 イオン源

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4428292U JP2580943Y2 (ja) 1992-06-25 1992-06-25 イオン源

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH065100U JPH065100U (ja) 1994-01-21
JP2580943Y2 true JP2580943Y2 (ja) 1998-09-17

Family

ID=12687158

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4428292U Expired - Lifetime JP2580943Y2 (ja) 1992-06-25 1992-06-25 イオン源

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2580943Y2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2426693A3 (en) * 1999-12-13 2013-01-16 Semequip, Inc. Ion source
JP5832357B2 (ja) * 2012-03-30 2015-12-16 住友重機械工業株式会社 マイクロ波イオン源

Also Published As

Publication number Publication date
JPH065100U (ja) 1994-01-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Taylor et al. A high-current low-emittance dc ECR proton source
JP2002117780A (ja) イオン注入装置用のイオン源およびそのためのリペラ
EP0200035B1 (en) Electron beam source
KR890013820A (ko) 막막 형성 장치 및 이온원
US4608513A (en) Dual filament ion source with improved beam characteristics
JPH0531260B2 (ja)
JPH06176725A (ja) イオン源
JP2580943Y2 (ja) イオン源
JPS5813626B2 (ja) イオンシヤワ装置
JP2643763B2 (ja) イオン打込み方法
US4087720A (en) Multi-beam, multi-aperture ion sources of the beam-plasma type
JPH0770512B2 (ja) 低エネルギイオン化粒子照射装置
JP3498424B2 (ja) Ecrイオン源
JP3154018B2 (ja) イオン源
KR20020004934A (ko) 선형이온빔의 플라즈마소스
JP3379151B2 (ja) マイクロ波型イオン源
JPH0411975B2 (ja)
JPH06140196A (ja) パルス引出型の電子サイクロトロン共振イオン源
JP2571894Y2 (ja) イオン源
JPH06101307B2 (ja) 金属イオン源
JPH069041U (ja) イオン源
Lejeune et al. Small, simple and high efficiency arsenic ion source
JPH05266845A (ja) イオン源
JPH0837098A (ja) プラズマ発生装置
Gongpan et al. Some experimental studies of the calutron ion source

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R323113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term