JP2575479B2 - ガスセンサ - Google Patents
ガスセンサInfo
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- JP2575479B2 JP2575479B2 JP28160188A JP28160188A JP2575479B2 JP 2575479 B2 JP2575479 B2 JP 2575479B2 JP 28160188 A JP28160188 A JP 28160188A JP 28160188 A JP28160188 A JP 28160188A JP 2575479 B2 JP2575479 B2 JP 2575479B2
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- catalyst
- gas sensor
- semiconductor
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Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、経時安定性、特に耐湿性に優れ、かつガス
選択性が良好なガスセンサに関する。
選択性が良好なガスセンサに関する。
(従来の技術) 従来から、可燃性ガスの漏出検知や室内の空気汚れの
検知等の目的で、ガス感応体として金属酸化物半導体を
用いたガスセンサが使用さている。これらのガスセンサ
の中で、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化インジウムのような
n型半導体をガス感応体として用いたものでは、還元性
ガスとの接触によって、その電気抵抗が減少することを
利用してガスが検知され、反応にp型半導体を用いたも
のでは、還元性ガスとの接触によって、半導体の抵抗が
増加することを利用してガスが検知される。
検知等の目的で、ガス感応体として金属酸化物半導体を
用いたガスセンサが使用さている。これらのガスセンサ
の中で、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化インジウムのような
n型半導体をガス感応体として用いたものでは、還元性
ガスとの接触によって、その電気抵抗が減少することを
利用してガスが検知され、反応にp型半導体を用いたも
のでは、還元性ガスとの接触によって、半導体の抵抗が
増加することを利用してガスが検知される。
これらのガスセンサは、半導体式ガスセンサと呼ばれ
るもので、感度、応答速度、さらに経済性に優れている
という特長を備えている。
るもので、感度、応答速度、さらに経済性に優れている
という特長を備えている。
しかし、現在普及しているこれらの半導体式ガスセン
サには、 特定成分を選択的に識別検知することが困難であ
る。
サには、 特定成分を選択的に識別検知することが困難であ
る。
被毒劣化や湿度、温度による経時変化が存在する。
等の問題が残っている。
の選択性の問題は、使用できる感応材料が少ないこ
とが主な原因であり、新しい材料の開発や、従来材料の
改良が活発に行なわれている。
とが主な原因であり、新しい材料の開発や、従来材料の
改良が活発に行なわれている。
の信頼性は、半導体式のみならず、化学センサの宿
命とも言うべき問題であって、化学センサの感応部が化
学成分と直接接触することにより反応するというこられ
のガスセンサの原理に起因するものである。
命とも言うべき問題であって、化学センサの感応部が化
学成分と直接接触することにより反応するというこられ
のガスセンサの原理に起因するものである。
したがって、これまでも経時変化の少ない安定性に優
れたガスセンサを得るため、その劣化機構が研究されて
きた。
れたガスセンサを得るため、その劣化機構が研究されて
きた。
例えばSnO2焼結型半導体式ガスセンサでは、 金属酸化物半導体粒子の成長 貴金属触媒の表面積の減少 表面水酸基の減少 等が劣化原因であることがフィガロ技研(株)の五百蔵
らにより示されている(五百蔵、電気化学50,(NO.1),
99,(1982)、松浦、高畠、五百蔵、第6回「センサの
基礎と応用」シポジウム講演予稿集、B3−1,P63,(198
6)、中村、他、第5回化学センサ研究発表会講演予稿
集、Z−26,P55,(1986)。
らにより示されている(五百蔵、電気化学50,(NO.1),
99,(1982)、松浦、高畠、五百蔵、第6回「センサの
基礎と応用」シポジウム講演予稿集、B3−1,P63,(198
6)、中村、他、第5回化学センサ研究発表会講演予稿
集、Z−26,P55,(1986)。
彼らは、これらの発見に基き改善対策として焼結条
件、およびバインダの変更を行ない良好な結果を得てい
る。
件、およびバインダの変更を行ない良好な結果を得てい
る。
またSnO2積層型ガスセンスにおいても、信頼性向上の
ために半導体薄膜の成膜条件を変更したり電極材料を代
えることにより、その寿命を数倍にのばしたことを報告
されている。
ために半導体薄膜の成膜条件を変更したり電極材料を代
えることにより、その寿命を数倍にのばしたことを報告
されている。
しかし、これらの方法を用いた場合には高湿中での劣
化を抑制することはできなかった。
化を抑制することはできなかった。
本発明者等は、この点の改善を目的として、半導体の
熟成を試みた。
熟成を試みた。
この方法では、半導体薄膜まで形成した基板をプレッ
シャークッカーテスターに数時間入れることにより行な
った。そして、処理した半導体の上に触媒厚膜を形成
し、一定時間通電耐久試験にかけて、その特成を測定し
た。測定結果を次表に示す。
シャークッカーテスターに数時間入れることにより行な
った。そして、処理した半導体の上に触媒厚膜を形成
し、一定時間通電耐久試験にかけて、その特成を測定し
た。測定結果を次表に示す。
この表から明らかなように、処理時間の長さあるいは
有無と信頼性には相関関係は認められなかった。
有無と信頼性には相関関係は認められなかった。
一方、触媒厚膜の成膜条件に改良を加えて耐湿性を向
上させる試みも従来よりなされている。
上させる試みも従来よりなされている。
この方法は、次のような考え方に基くものである。
すなわち、積層型SnO2半導体式ガスセンサにおいて
は、ガスはSnO2半導体とその上部に形成された触媒厚膜
をなかだちとして反応するのであり、触媒厚膜はガスに
対して吸着、反応、拡散、透過の場を提供していること
による。
は、ガスはSnO2半導体とその上部に形成された触媒厚膜
をなかだちとして反応するのであり、触媒厚膜はガスに
対して吸着、反応、拡散、透過の場を提供していること
による。
前記の半導体の高圧水蒸気処理の不成功も考慮すると
積層型SnO2半導体式ガスセンサの高湿中での劣化は半導
体膜に起因するのではなく、触媒活性の低下に起因する
ものとも考えられる。
積層型SnO2半導体式ガスセンサの高湿中での劣化は半導
体膜に起因するのではなく、触媒活性の低下に起因する
ものとも考えられる。
触媒の耐湿性評価の試みは、例えば前記の水蒸気処理
を触媒被膜に施すことにより行ないことが考えらるが、
この結果は単に触媒の劣化を促進するだけに終ってい
る。
を触媒被膜に施すことにより行ないことが考えらるが、
この結果は単に触媒の劣化を促進するだけに終ってい
る。
また、一般に触媒の長寿命化の方策として、触媒物質
の単体上への分散性を向上させるとか、触媒担持量を減
らすことが考えられるが、半導体式ガスセンサにこれを
試みる限りでは良好な結果は得られていない。
の単体上への分散性を向上させるとか、触媒担持量を減
らすことが考えられるが、半導体式ガスセンサにこれを
試みる限りでは良好な結果は得られていない。
(発明が解決しようとする課題) 上述したように、従来のガスセンサは、高湿雰囲気中
において、湿度の影響により半導体抵抗値の変化、エタ
ノール等の妨害ガスの感度を増大するという問題があ
り、信頼性が不十分であるという問題もあった。
において、湿度の影響により半導体抵抗値の変化、エタ
ノール等の妨害ガスの感度を増大するという問題があ
り、信頼性が不十分であるという問題もあった。
本発明は、かかる点に対処してなされたもので、耐湿
性の良好な信頼性に優れたガスセンサを提供することを
目的とする。
性の良好な信頼性に優れたガスセンサを提供することを
目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本発明は、一対の対向電極
と、前記絶縁基板上に前記対向電極間に跨がって形成さ
た金属酸化物半導体からなるガス感応膜と、前記ガス感
応膜上に形成された触媒膜とを備えたガスセンサにおい
て、前記触媒膜が、#400メッシュと#100メッシュのふ
るいにかけることによって、粒径を38μm〜152μmの
範囲に制御された触媒担持粒子からなることを特徴とし
ている。
と、前記絶縁基板上に前記対向電極間に跨がって形成さ
た金属酸化物半導体からなるガス感応膜と、前記ガス感
応膜上に形成された触媒膜とを備えたガスセンサにおい
て、前記触媒膜が、#400メッシュと#100メッシュのふ
るいにかけることによって、粒径を38μm〜152μmの
範囲に制御された触媒担持粒子からなることを特徴とし
ている。
本発明における上記触媒担持粒子は、38μm〜152μ
mの範囲に制御された担持触媒の2次粒子を含むペース
トの塗布、焼成によって形成される。
mの範囲に制御された担持触媒の2次粒子を含むペース
トの塗布、焼成によって形成される。
(作用) 本発明のガスセンサにおいては、触媒担持粒子の粒径
が38μm〜152μmの範囲に制御されているので、粒径
が著しく異なるために触媒活性等の表面物性が異なって
劣化の原因となるような大小の粒子が除外され、高湿中
の劣化が抑制され良好な耐湿性が得らる。
が38μm〜152μmの範囲に制御されているので、粒径
が著しく異なるために触媒活性等の表面物性が異なって
劣化の原因となるような大小の粒子が除外され、高湿中
の劣化が抑制され良好な耐湿性が得らる。
(実施例) 以下図面を参照しながら本発明の実施例を詳細に説明
する。
する。
第1図(a)、(b)はこの実施例で製造されるガス
センサの構造の説明図であり、絶縁基板9の表面(第1
図(a))に対向電極本体1および対向電極用パッド2
からなる対向電極が設けられ、この対向電極本体の上層
に、ガス感応膜4が積層され、このガス感応膜4の上層
に触媒塗膜5が形成されている。
センサの構造の説明図であり、絶縁基板9の表面(第1
図(a))に対向電極本体1および対向電極用パッド2
からなる対向電極が設けられ、この対向電極本体の上層
に、ガス感応膜4が積層され、このガス感応膜4の上層
に触媒塗膜5が形成されている。
そして、前記対向電極用パッド2にリード線3が取り
付けられている。
付けられている。
一方、絶縁基板9の裏面(第1図(b))には、ヒー
タ6が形成され、このヒータ6にリード線8を取り付け
たヒータ用電極パッド7が接続されている。
タ6が形成され、このヒータ6にリード線8を取り付け
たヒータ用電極パッド7が接続されている。
このヒータ6は、センサへ付着する蒸気やほこりを燃
焼させるとともに、ガスの吸着脱離速度を早めて素子の
感度と応答性を高めるものである。
焼させるとともに、ガスの吸着脱離速度を早めて素子の
感度と応答性を高めるものである。
第2図は第1図の破線部断面から見た製造工程の説明
図、第3図は製造工程のフローチャートである。ただ
し、第2図は多数個取りの基板表面上に製造させる多数
のチャップの内の1チップ部分である。
図、第3図は製造工程のフローチャートである。ただ
し、第2図は多数個取りの基板表面上に製造させる多数
のチャップの内の1チップ部分である。
まず、基板9(ステップ101)の表面に対向電極1を
形成する(第2図(a)、ステップ102)。次いで基板
9の裏面ヒータ用電極パッド7を形成する(第2図
(b)、ステッピュ103)。さらに、基板9の裏面に前
記ヒータ用電極7に接続してヒータ6を設ける(第2図
(c)、ステップ104)。さらに、ガス感心膜4をスク
リーン印刷によりパターン形成した後(第2図(d)、
ステップ105)、乾燥し(ステップ106)、焼成する(ス
テップ107)。以下ステップ105〜107を2回以上繰り返
す(第2図(e))。
形成する(第2図(a)、ステップ102)。次いで基板
9の裏面ヒータ用電極パッド7を形成する(第2図
(b)、ステッピュ103)。さらに、基板9の裏面に前
記ヒータ用電極7に接続してヒータ6を設ける(第2図
(c)、ステップ104)。さらに、ガス感心膜4をスク
リーン印刷によりパターン形成した後(第2図(d)、
ステップ105)、乾燥し(ステップ106)、焼成する(ス
テップ107)。以下ステップ105〜107を2回以上繰り返
す(第2図(e))。
さらに前記積層したガス感応膜4の上に多孔質金属酸
化により触媒塗膜5を形成する(第2図(f)、ステッ
プ108)。そして、多数個取りの基板をチップ毎に分割
する(ステップ109)。
化により触媒塗膜5を形成する(第2図(f)、ステッ
プ108)。そして、多数個取りの基板をチップ毎に分割
する(ステップ109)。
リード線3、8を接続して(第2図(g)、ステップ
110)ガスセンサが完成する(ステップ111)。
110)ガスセンサが完成する(ステップ111)。
前記ガス感応膜4としては種々のものが使用できる。
また同一原料から膜形成を行なうため手軽であり、装置
も同じものを使用できるための繁雑さが少ない。
また同一原料から膜形成を行なうため手軽であり、装置
も同じものを使用できるための繁雑さが少ない。
以下に、本実施例を具体的に説明する。
多数個取りのアルミナ基板上に、薄膜金導体ペースト
により、表面に対向電極1と裏面にヒーター用電極7を
形成し、さらに裏面には、酸化ルテニウムのヒータ6を
設けた(ステップ101〜104)。次に、2−エチルヘキサ
ン酸スズ50%、2−ニオブレジネート0.5%、エチルヒ
ドロキシエチルセルロース5.0%、テルペン油44.5%か
らなるペーストを調整し、スクリーン印刷により対向電
極1上に、成膜した後、120℃で15分間乾燥した(ステ
ップ105〜106)。これを500℃で45分間熱処理し、金属
酸化物半導体薄膜4の1層めを形成する(ステップ10
7)。この1層目の上に、再び同一のスペースを印刷
し、乾燥、熱処理を行ない、2層めを形成した(ステッ
プ105〜107)。前記半導体薄膜2層めを前記条件で焼成
した後、この上部に多孔質金属酸化物よりなる触媒塗膜
5を形成する。
により、表面に対向電極1と裏面にヒーター用電極7を
形成し、さらに裏面には、酸化ルテニウムのヒータ6を
設けた(ステップ101〜104)。次に、2−エチルヘキサ
ン酸スズ50%、2−ニオブレジネート0.5%、エチルヒ
ドロキシエチルセルロース5.0%、テルペン油44.5%か
らなるペーストを調整し、スクリーン印刷により対向電
極1上に、成膜した後、120℃で15分間乾燥した(ステ
ップ105〜106)。これを500℃で45分間熱処理し、金属
酸化物半導体薄膜4の1層めを形成する(ステップ10
7)。この1層目の上に、再び同一のスペースを印刷
し、乾燥、熱処理を行ない、2層めを形成した(ステッ
プ105〜107)。前記半導体薄膜2層めを前記条件で焼成
した後、この上部に多孔質金属酸化物よりなる触媒塗膜
5を形成する。
この触媒塗膜は、第4図のようにして作成される。
まず、アルミナの微粉体を所定量計りとり(ステップ
201)これに例えば、塩化白金酸(ヘキサクロロ白金(I
V)酸)と塩化ロジウム水溶液を加え、ペースト状とし
(ステップ202(a))、一定時間撹拌する。
201)これに例えば、塩化白金酸(ヘキサクロロ白金(I
V)酸)と塩化ロジウム水溶液を加え、ペースト状とし
(ステップ202(a))、一定時間撹拌する。
これを減圧下で乾燥し(ステップ202(b))雷かい
機を用いて一定時間粉砕する(ステップ203)。
機を用いて一定時間粉砕する(ステップ203)。
焼成の後(ステップ204)、粒径調整のため、ふるい
にかけ#400メッシュ、#100メッシュ間に残った粒径の
触媒担持粒子の2次粒子を取り出す(ステップ205)。
それにアルミニウムレジネート,エチルヒドロキスセル
ロース(EHEC)、テレピン油を加えてペースト化し(ス
テップ206)、半導体上に所定のパターンにスクリーン
印刷し(ステップ207)、150℃、15分間で乾燥し(ステ
ップ208)、650℃、15分間焼成して(ステップ209)完
成する(ステップ210)。なお、ここでは触媒担持粒子
がスクリーン印刷により印刷されるが、EHEC等の量を調
整してマイクロディスペンサ、はけによる塗布も可能と
なる。また、前記担持触媒粒子を塩基性塩化アルミニウ
ム溶液に分散させて塗布する場合もある。
にかけ#400メッシュ、#100メッシュ間に残った粒径の
触媒担持粒子の2次粒子を取り出す(ステップ205)。
それにアルミニウムレジネート,エチルヒドロキスセル
ロース(EHEC)、テレピン油を加えてペースト化し(ス
テップ206)、半導体上に所定のパターンにスクリーン
印刷し(ステップ207)、150℃、15分間で乾燥し(ステ
ップ208)、650℃、15分間焼成して(ステップ209)完
成する(ステップ210)。なお、ここでは触媒担持粒子
がスクリーン印刷により印刷されるが、EHEC等の量を調
整してマイクロディスペンサ、はけによる塗布も可能と
なる。また、前記担持触媒粒子を塩基性塩化アルミニウ
ム溶液に分散させて塗布する場合もある。
このように触媒塗膜を形成した後、基板をチップに分
割し、対向電極パッド2およびヒータ用電極パッド7に
リード線3、8をとり付けチップの実装を行ないガスセ
ンサとした。
割し、対向電極パッド2およびヒータ用電極パッド7に
リード線3、8をとり付けチップの実装を行ないガスセ
ンサとした。
次に、このようにして得たガスセンサの特性を示す。
第5図に、高湿雰囲気中におけるガス感度の変化を示
した。
した。
この図から実施例のガスセンサでは、妨害ガスである
エタノールについてその感度の増加率が従来例と比較し
て小さくなっていることがわかる。
エタノールについてその感度の増加率が従来例と比較し
て小さくなっていることがわかる。
したがって実施例のガスセンサは、従来のものより耐
湿性に優れ、数倍長寿命化している。
湿性に優れ、数倍長寿命化している。
第6図は、4種類のガスに対するガス濃度特性を示し
たものである。この図から実施例のガスセンサでは、触
媒担持粒子を粒径をそろえることによりガスの透過拡散
係数が変化し、これに伴い、ガス種による選択性にも影
響があることがわかる。また、実施例では、従来のガス
センサよりパラフィン系ガスに対する選択性が向上して
いる。
たものである。この図から実施例のガスセンサでは、触
媒担持粒子を粒径をそろえることによりガスの透過拡散
係数が変化し、これに伴い、ガス種による選択性にも影
響があることがわかる。また、実施例では、従来のガス
センサよりパラフィン系ガスに対する選択性が向上して
いる。
このように本発明のガスセンサは、耐湿性が良好で、
かつ選択性にも優れた特性を有している。
かつ選択性にも優れた特性を有している。
[発明の効果] 以上の実施例からも明らかなように、本発明のガスセ
ンサにおいては、触媒担持粒子の粒径を一定にそろえる
ことによりその活性の低下を小さくおさえ、高湿中にお
ける劣化が小さくなって耐湿性が向上し、またガス選択
性にも優れている。
ンサにおいては、触媒担持粒子の粒径を一定にそろえる
ことによりその活性の低下を小さくおさえ、高湿中にお
ける劣化が小さくなって耐湿性が向上し、またガス選択
性にも優れている。
第1図(a)、(b)はガスセンサの表面、および裏面
の構造説明図、第2図および第3図は、それぞれその製
造工程を示す断面図およびフローチャート、第4図は本
発明の触媒塗膜の形成工程を示すフローチャート、第5
図は本発明の実施例と従来例の高い湿度雰囲気中でエタ
ノール感度の変化を示すグラフ、第6図は本発明の実施
例と従来例の各種ガスに対するガス濃度依存性を示すグ
ラフである。 1……対向電極 2……対向電極用パッド 3……対向電極用リード線 4……金属酸化物半導体薄膜 5……触媒塗膜 6……ヒータ 7……ヒータ用電極パッド 8……ヒータ用リード線 9……絶縁基板
の構造説明図、第2図および第3図は、それぞれその製
造工程を示す断面図およびフローチャート、第4図は本
発明の触媒塗膜の形成工程を示すフローチャート、第5
図は本発明の実施例と従来例の高い湿度雰囲気中でエタ
ノール感度の変化を示すグラフ、第6図は本発明の実施
例と従来例の各種ガスに対するガス濃度依存性を示すグ
ラフである。 1……対向電極 2……対向電極用パッド 3……対向電極用リード線 4……金属酸化物半導体薄膜 5……触媒塗膜 6……ヒータ 7……ヒータ用電極パッド 8……ヒータ用リード線 9……絶縁基板
Claims (1)
- 【請求項1】絶縁基板と、この絶縁基板上に形成された
一対の対向電極と、前記絶縁基板上に前記対向電極間に
跨がって形成さた金属酸化物半導体からなるガス感応膜
と、前記ガス感応膜上に形成された触媒膜とを備えたガ
スセンサにおいて、 前記触媒膜が、400メッシュと100メッシュのふるいにか
けることによって、粒径を38μm〜152μmの範囲に制
御された触媒担持粒子からなることを特徴とするガスセ
ンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28160188A JP2575479B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-11-08 | ガスセンサ |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-79388 | 1988-03-31 | ||
| JP7938888 | 1988-03-31 | ||
| JP28160188A JP2575479B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-11-08 | ガスセンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01316650A JPH01316650A (ja) | 1989-12-21 |
| JP2575479B2 true JP2575479B2 (ja) | 1997-01-22 |
Family
ID=26420406
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28160188A Expired - Lifetime JP2575479B2 (ja) | 1988-03-31 | 1988-11-08 | ガスセンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2575479B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3130955B2 (ja) * | 1991-03-25 | 2001-01-31 | マツダ株式会社 | 車両のパワートレイン構造 |
-
1988
- 1988-11-08 JP JP28160188A patent/JP2575479B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01316650A (ja) | 1989-12-21 |
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