JP2575430Y2 - スケーリングモニタ装置 - Google Patents

スケーリングモニタ装置

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JP2575430Y2
JP2575430Y2 JP1993016412U JP1641293U JP2575430Y2 JP 2575430 Y2 JP2575430 Y2 JP 2575430Y2 JP 1993016412 U JP1993016412 U JP 1993016412U JP 1641293 U JP1641293 U JP 1641293U JP 2575430 Y2 JP2575430 Y2 JP 2575430Y2
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scale
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千幸人 塚原
洋子 田中
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は地熱発電プラントに地熱
熱水を導く配管等のスケーリングモニタ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スケールを含む地熱熱水、特に地熱発電
プラントで使用する熱水の地下還元においては、熱水中
に含まれるスケール成分、例えば、SiO2 、CaCO
3 、Fe3 4 、FeS等による還元配管や弁の閉塞ト
ラブルが発生する。スケール発生は、熱水中の溶解固形
物の析出や固形物の付着による場合と、熱水中の陰イオ
ン(Cl- 、SO4 2- )よる鋼材の腐食とがある。
【0003】特に近年、高濃度の塩分を含む地熱井を利
用した地熱発電プラントも開発されているが、不要とな
った熱水を地下に還元井を利用して還元する際に、Na
Clを中心とする塩分が圧力低下、温度低下により析出
し配管や弁を閉塞するケースも多発している。
【0004】このような状況を背景にスケール発生、ス
ケール付着の防止方法と共にスケールの進行状態を監視
できるスケーリングモニタ装置の開発が必要となってい
る。
【0005】図8は、スケーリングモニタ装置の従来例
を示す概略図である。従来のスケーリングモニタ装置
は、モニタと言えるものではなく、一測定方法でしかな
く、時々刻々モニタできるものではないのである。
【0006】従来法の概略を図8を用いて説明する。熱
水入口1と熱水出口2との間の配管3内に鋼製のクーポ
ン4を設置し、一定期間、配管3内に熱水を流すことに
より、クーポン4表面にスケール層を形成させる。
【0007】所定の期間(1週間〜1ケ月間)クーポン
4を熱水に浸漬した後、熱水の流れを停止し、配管3内
からクーポン4を取り出す。そしてクーポン4の重量増
加を化学天秤で、スケール層の厚みを顕微鏡でそれぞれ
計測することにより配管3内のスケーリングレートを求
めていた。
【0008】
【考案が解決しようとする課題】上記従来のスケーリン
グレートの測定方法では、一定期間クーポンを熱水が通
る流路内に浸漬した後、スケーリングレート測定のたび
に流路内への熱水供給を停止しなければならなかった。
また、熱水供給停止のたびに熱水中の塩分、特にNaC
lの析出付着によりスケール層が増加する欠点があっ
た。
【0009】さらに、スケール発生の原因が、熱水中の
塩分や固形物の付着によるものか、あるいは陰イオンに
よる腐食によるものかの判別も不可能であった。
【0010】また測定するための計器の性質上、現場向
きではないため、現場でスケーリング進行の状態をリア
ルタイムで知ることが出来なかった。
【0011】
【課題を解決するための手段】本考案は上記課題を解決
するため次の手段を講ずる。
【0012】すなわち、本考案のスケーリングモニタ装
置は、内部に地熱熱水が流れる計測対象の配管の一部を
形成するように配設され同配管とほぼ同一内径の透明管
と、同透明管内に地熱熱水の流れ方向に沿って順次配設
された上記配管と同一材質のクーポンおよび同クーポン
と同一形状の非腐食材製クーポンと、上記透明管外から
上記それぞれのクーポンのスケーリング成長を受像しそ
の差を表示する観測手段とを備えてなることを特徴とす
る。
【0013】
【作用】上記手段において、計測対象の金属製の配管の
途中に、透明管が接続される。そしてクーポンと非腐食
材製クーポンのスケーリング成長が観測手段により受像
され、その差が表示される。
【0014】計測対象の配管と同材質のクーポン表面に
は配管と同様な作用でスケールが付いてくる。この場
合、スケール生成は、次の要因によるものである。 流体中の溶解スケール成分の析出による付着、 固形物の付着、 腐食によるもの。
【0015】一方、非腐食材製クーポンも同様な流れ環
境にあるので、同様にスケールが付いてくる。しかし、
この場合、上記3要因のうち、の腐食によるものは生
じない。したがって、両クーポンのスケーリング成長の
差と計測対象の配管のスケーリングレートとの関係を予
め試験により求めておくと、表示されたスケーリング成
長の差から配管のスケーリングレートが得られる。
【0016】以上のようにして、自動的かつ容易に計測
対象の配管のスケーリングレートが精度よく計測でき
る。
【0017】
【実施例】本発明の一実施例を図1〜図7により説明す
る。
【0018】図1にて、計測対象の配管3の途中に、同
内径の測定セル15をつなぐ。
【0019】測定セル15の詳細は図2、図3に示すよ
うに、中央部側にフランジaを持ち、外側に配管3に接
続するフランジを持つ端部管16が設けられる。フラン
ジaの端面には同内径のリング状の溝bが形成されてい
る。この溝bに耐熱耐圧のガラス管5の両端が挿入さ
れ、接合されている。ガラス管5に内接し、上下に対向
する長方形板形のクーポンラック6が配置される。クー
ポンラック6は四隅を支柱で固定している。また中央に
流れ方向に沿って、2つの長方形の穴cがそれぞれにあ
けられている。穴cは流れ方向に長手軸を向けている。
そして上流側の穴cに計測対象の配管3と同材質(鋼
製)の長方形のクーポン7(図4、図5参照)の両端が
挿入される。またクーポン7と同形状の非腐食材製クー
ポン、すなわちテフロン製クーポン8が下流側の穴cに
挿入される。
【0020】ガラス管5の横側にクーポン7、8を受像
するテレビスコープ10が配置される。テレビスコープ
10の出力はデータ処理器11を経て、CRT12につ
ながれる。図1中、4はクーポン7、8の照明装置であ
る。
【0021】以上において、配管3内には熱水が矢印1
からクーポン7、8を経て矢印2へ流れる。すると、鋼
製クーポン7とテフロン製クーポン8の表面にスケール
9が形成される(図6、図7参照)。これらのスケール
9部が影像としてテレビスコープ10により受像され
る。受像された影像信号は、データ処理器11に送られ
る。データ処理器11は入力から両クーポン7と8のス
ケール9の厚みの差を所定期間毎に求め、スケーリング
成長の差をCRT12へ送り表示する。
【0022】計測対象の配管3と同材質のクーポン7表
面には配管3と同様な作用でスケール9が付いてくる。
この場合、スケール生成は次の要因によるものである。 流体中の溶解スケール成分の析出による付着、 固形物の付着、 腐食によるもの。
【0023】一方、テフロン製クーポン8も同様な流れ
環境にあるので同様にスケール9が付いてくる。しか
し、この場合、上記3要因のうち、の腐食によるもの
は生じない。したがって、両クーポン7と8のスケーリ
ング成長の差は、熱水中の陰イオンであるCl- 、SO
4 2- による腐食量である。このスケーリング成長の差と
計測対象の配管3のスケーリングレートとの関係を予め
試験により求めておくと、表示されたスケーリング成長
の差から配管3のスケーリングレートが得られる。
【0024】以上のようにして、地熱発電プラント等の
熱水配管における現場でのスケーリングレートの高精度
でのモニタが簡易にできる。また、従来の問題点を解決
できるため、スケーリングモニタのたびに熱水供給を停
止する必要がないので塩分の付着が防止でき、付着によ
るものか、腐食によるものかのスケール発生原因の判別
も可能となり、その効果は大きい。
【0025】
【考案の効果】以上に説明したように本考案によれば、
計測対象の配管のスケーリングレートが、自動的に高精
度で計測できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例の全体構成系統図である。
【図2】同実施例の測定セル部の縦断面図である。
【図3】同実施例の図2のA−A断面図である。
【図4】同実施例のクーポンの斜視図である。
【図5】同実施例のクーポンラック部の斜視図である。
【図6】同実施例の作用説明図である。
【図7】同実施例の作用説明図である。
【図8】従来例の説明図である。
【符号の説明】
1,2 矢印 3 配管 4 照明装置 5 ガラス管 6 クーポンラック 7 鋼製クーポン 8 テフロン製クーポン 9 スケール 10 テレビスコープ 11 データ処理器 12 CRT 15 測定セル

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に地熱熱水が流れる計測対象の配管
    の一部を形成するように配設され同配管とほぼ同一内径
    の透明管と、同透明管内に地熱熱水の流れ方向に沿って
    順次配設された上記配管と同一材質のクーポンおよび同
    クーポンと同一形状の非腐食材製クーポンと、上記透明
    管外から上記それぞれのクーポンのスケーリング成長を
    受像しその差を表示する観測手段とを備えてなることを
    特徴とするスケーリングモニタ装置。
JP1993016412U 1993-04-02 1993-04-02 スケーリングモニタ装置 Expired - Fee Related JP2575430Y2 (ja)

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JP6139230B2 (ja) * 2013-04-11 2017-05-31 三菱重工業株式会社 ボイラ蒸気系統の塩分監視装置及び監視方法
JP5640286B2 (ja) * 2013-12-26 2014-12-17 札幌施設管理株式会社 配管評価方法
WO2015162662A1 (ja) * 2014-04-21 2015-10-29 札幌施設管理株式会社 配管評価方法

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