JP2572786Y2 - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
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- JP2572786Y2 JP2572786Y2 JP1992029506U JP2950692U JP2572786Y2 JP 2572786 Y2 JP2572786 Y2 JP 2572786Y2 JP 1992029506 U JP1992029506 U JP 1992029506U JP 2950692 U JP2950692 U JP 2950692U JP 2572786 Y2 JP2572786 Y2 JP 2572786Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、二つの部材が相対移
動した際の距離や角度等を測定する測定装置に関し、特
に被測定物への取付け構造に関する。
動した際の距離や角度等を測定する測定装置に関し、特
に被測定物への取付け構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】二つの部材が相対移動した際の距離や角
度を測定する測定装置において、検出手段を含む機器本
体を被測定物に取付ける構造は、従来、機器本体と、こ
の機器本体が固定される被測定物の間に、部分球面部材
及びこの部分球面部材と嵌合する凹部材を介在し、被測
定物に対して機器本体が任意の姿勢を取り得る構成のも
のが知られている。
度を測定する測定装置において、検出手段を含む機器本
体を被測定物に取付ける構造は、従来、機器本体と、こ
の機器本体が固定される被測定物の間に、部分球面部材
及びこの部分球面部材と嵌合する凹部材を介在し、被測
定物に対して機器本体が任意の姿勢を取り得る構成のも
のが知られている。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】二つの部材が相対移動
した際の距離や角度等を測定する測定装置は、被測定物
に所定の位置で且つ所定の姿勢で取付け固定される必要
がある。しかしながら、被測定物の取付け面は、測定装
置の機器本体が所定の位置で且つ所定の姿勢で取り付く
ようには、常に平面に仕上げられているとは限らない。
ところで、測定装置の機器本体が所定の位置で且つ所定
の姿勢でなければ、測定で得られる結果は当然信頼でき
るものではない。従って、被測定物の取付け面が粗い場
合には、測定装置の機器本体は被測定物に対する高さ位
置及び被測定物に対する姿勢を調整して所定の状態に位
置決めする必要がある。
した際の距離や角度等を測定する測定装置は、被測定物
に所定の位置で且つ所定の姿勢で取付け固定される必要
がある。しかしながら、被測定物の取付け面は、測定装
置の機器本体が所定の位置で且つ所定の姿勢で取り付く
ようには、常に平面に仕上げられているとは限らない。
ところで、測定装置の機器本体が所定の位置で且つ所定
の姿勢でなければ、測定で得られる結果は当然信頼でき
るものではない。従って、被測定物の取付け面が粗い場
合には、測定装置の機器本体は被測定物に対する高さ位
置及び被測定物に対する姿勢を調整して所定の状態に位
置決めする必要がある。
【０００４】しかし、従来の測定装置では被測定物に対
する姿勢の調節は可能であるが、被測定物の高さ位置を
調節することができず、従って、結果的に信頼できる測
定が得られないという問題がある。この考案は、上記の
事情に鑑みてなされたものであり、測定装置の機器本体
を被測定物に取付け固定する際に、測定装置の機器本体
を所定の状態に位置決めできるように、測定装置の機器
本体の被測定物に対する高さ位置及び被測定物に対する
姿勢が調節可能であり、よって信頼のできる測定をおこ
ない得る測定装置を提供するものである。
する姿勢の調節は可能であるが、被測定物の高さ位置を
調節することができず、従って、結果的に信頼できる測
定が得られないという問題がある。この考案は、上記の
事情に鑑みてなされたものであり、測定装置の機器本体
を被測定物に取付け固定する際に、測定装置の機器本体
を所定の状態に位置決めできるように、測定装置の機器
本体の被測定物に対する高さ位置及び被測定物に対する
姿勢が調節可能であり、よって信頼のできる測定をおこ
ない得る測定装置を提供するものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この考案は、検出手段を
含む機器本体と被測定物の間に介在されるスペーサを備
え、そのスペーサが、高さ位置を調整可能にする螺合部
材と、姿勢を調整可能にする部分球面部と凹部を設けて
なる測定装置である。その詳細な構成は、二つの部材の
相対移動を検出する検出手段と、その検出手段からの信
号を演算処理する演算手段と、その検出手段が内設され
ている機器本体と、その機器本体と被測定物の間に介在
されるスペーサが備えられ、上記スペーサが、上記機器
本体に一体若しくは別体である第一の部材と、被測定物
の側に位置する第二の部材と、それら第一の部材と第二
の部材の間に介在され、且つ第一の部材若しくは第二の
部材のいずれか一方に螺合して一体化されその螺合する
部材に対する高さ位置が可変な第三の部材とからなり、
上記第三の部材が第一の部材に螺合する構成では、第二
の部材と第三の部材のいずれか一方側に部分球面部が設
けられ、且つ他方側にその部分球面部と嵌合する、スリ
鉢形状の凹部が設けられてなり、第三の部材が第二の部
材に螺合する構成では、第一の部材と第三の部材のいず
れか一方側に部分球面部が設けられ、且つ他方側にその
部分球面部と嵌合する、スリ鉢形状の凹部が設けられて
なる測定装置。
含む機器本体と被測定物の間に介在されるスペーサを備
え、そのスペーサが、高さ位置を調整可能にする螺合部
材と、姿勢を調整可能にする部分球面部と凹部を設けて
なる測定装置である。その詳細な構成は、二つの部材の
相対移動を検出する検出手段と、その検出手段からの信
号を演算処理する演算手段と、その検出手段が内設され
ている機器本体と、その機器本体と被測定物の間に介在
されるスペーサが備えられ、上記スペーサが、上記機器
本体に一体若しくは別体である第一の部材と、被測定物
の側に位置する第二の部材と、それら第一の部材と第二
の部材の間に介在され、且つ第一の部材若しくは第二の
部材のいずれか一方に螺合して一体化されその螺合する
部材に対する高さ位置が可変な第三の部材とからなり、
上記第三の部材が第一の部材に螺合する構成では、第二
の部材と第三の部材のいずれか一方側に部分球面部が設
けられ、且つ他方側にその部分球面部と嵌合する、スリ
鉢形状の凹部が設けられてなり、第三の部材が第二の部
材に螺合する構成では、第一の部材と第三の部材のいず
れか一方側に部分球面部が設けられ、且つ他方側にその
部分球面部と嵌合する、スリ鉢形状の凹部が設けられて
なる測定装置。
【０００６】
【作用】第三の部材は、第一の部材若しくは第二の部材
に螺合して高さ位置が可変である。加えて、第三の部材
は、第一の部材と第二の部材のうち前記高さ位置可変に
関わらない方の部材に姿勢可変で嵌合する。
に螺合して高さ位置が可変である。加えて、第三の部材
は、第一の部材と第二の部材のうち前記高さ位置可変に
関わらない方の部材に姿勢可変で嵌合する。
【０００７】
【実施例】この考案を、図１〜図５に示す実施例によっ
て詳述する。しかし、この実施例によって、この考案が
限定されるものではない。測定装置１は、図１及び図２
に示すように、検出手段２と、演算手段３と、機器本体
４と、スペーサ５が備えられている。検出手段２は、メ
インスケール６、インデックススケール７、発光素子
８、受光素子９等から構成されている。検出手段２は、
二つの被測定物（図示省略）が矢印Ａ方向に相対移動し
た際に、その相対移動の距離を検出するものである。演
算手段３は、検出手段２から信号を演算処理して、前記
二つの被測定物に連結される機器本体４及びスライダ１
４の相対移動の距離を算出表示するものである。演算手
段３は、検出手段２とケーブル１０で接続されている。
演算手段３の前面は、操作・表示パネル１１になってい
る。
て詳述する。しかし、この実施例によって、この考案が
限定されるものではない。測定装置１は、図１及び図２
に示すように、検出手段２と、演算手段３と、機器本体
４と、スペーサ５が備えられている。検出手段２は、メ
インスケール６、インデックススケール７、発光素子
８、受光素子９等から構成されている。検出手段２は、
二つの被測定物（図示省略）が矢印Ａ方向に相対移動し
た際に、その相対移動の距離を検出するものである。演
算手段３は、検出手段２から信号を演算処理して、前記
二つの被測定物に連結される機器本体４及びスライダ１
４の相対移動の距離を算出表示するものである。演算手
段３は、検出手段２とケーブル１０で接続されている。
演算手段３の前面は、操作・表示パネル１１になってい
る。
【０００８】機器本体４は、メインスケール６を内設固
定することによって検出手段２が内設され、且つビス１
２によって被測定物の一方側に取付け固定されるもので
ある。尚、機器本体４は、被測定物の一方側に固定する
ためのビス１２が通る通孔１３が設けられている。スラ
イダ１４は、機器本体４に対して矢印Ａ方向に相対移動
するものであって、被測定物の他方側に取付け固定され
るものである。スライダ１４は、検出手段２のインデッ
クススケール７、発光素子８、受光素子９等が固定され
ている。スペーサ５は、機器本体４の側に位置する凹状
部材１５、被測定物の側に位置するマウント部材１６、
及びマウント部材１６と螺合して一体化し且つ凹状部材
１５と嵌合する凸状部材１７から構成されている。
定することによって検出手段２が内設され、且つビス１
２によって被測定物の一方側に取付け固定されるもので
ある。尚、機器本体４は、被測定物の一方側に固定する
ためのビス１２が通る通孔１３が設けられている。スラ
イダ１４は、機器本体４に対して矢印Ａ方向に相対移動
するものであって、被測定物の他方側に取付け固定され
るものである。スライダ１４は、検出手段２のインデッ
クススケール７、発光素子８、受光素子９等が固定され
ている。スペーサ５は、機器本体４の側に位置する凹状
部材１５、被測定物の側に位置するマウント部材１６、
及びマウント部材１６と螺合して一体化し且つ凹状部材
１５と嵌合する凸状部材１７から構成されている。
【０００９】凹状部材１５は、スリ鉢形状の凹部１８が
設けられた円柱形状である。凹状部材１５は、機器本体
４を被測定物の一方側に固定するビス１２用の通孔１９
が設けられている。尚、凹状部材１５は、機器本体４に
形成された凹部２０に嵌合して機器本体４に対して位置
決めされる。マウント部材１６は、被測定物の一方側と
接する面に対して垂直方向に軸線が伸びるオネジ部２１
が設けられている。マウント部材１６は、ビス１２用の
通孔２２が設けられている。
設けられた円柱形状である。凹状部材１５は、機器本体
４を被測定物の一方側に固定するビス１２用の通孔１９
が設けられている。尚、凹状部材１５は、機器本体４に
形成された凹部２０に嵌合して機器本体４に対して位置
決めされる。マウント部材１６は、被測定物の一方側と
接する面に対して垂直方向に軸線が伸びるオネジ部２１
が設けられている。マウント部材１６は、ビス１２用の
通孔２２が設けられている。
【００１０】凸状部材１７は、略円柱形状であって、マ
ウント部材１６のオネジ部２１と螺合するメネジ部２３
が下底面側に設けられると共に、部分球面形状であって
凹状部材１５の凹部１８と嵌合する部分球面部２４が上
底面側に設けられている。加えて、凸状部材１７は、ビ
ス１３用の通孔２５が設けられている。測定装置１は、
上述したように構成されている。測定装置１は、機器本
体４を矢印Ａ方向に相対移動する二つの被測定物の一方
の側に所定の高さ位置に所定の姿勢で取付け固定して用
いるが、機器本体４は三組のスペーサ５によって前記一
方の側の被測定物に対して位置決めがされる。
ウント部材１６のオネジ部２１と螺合するメネジ部２３
が下底面側に設けられると共に、部分球面形状であって
凹状部材１５の凹部１８と嵌合する部分球面部２４が上
底面側に設けられている。加えて、凸状部材１７は、ビ
ス１３用の通孔２５が設けられている。測定装置１は、
上述したように構成されている。測定装置１は、機器本
体４を矢印Ａ方向に相対移動する二つの被測定物の一方
の側に所定の高さ位置に所定の姿勢で取付け固定して用
いるが、機器本体４は三組のスペーサ５によって前記一
方の側の被測定物に対して位置決めがされる。
【００１１】機器本体４を前記一方の側の被測定物に対
して位置決めをおこなう際には、まず、位置決め治具
（図示省略）を用いて機器本体４の配置すべき位置を求
める。機器本体４をこの求めた位置に保持し続けるよう
に、各ビス１２を機器本体４の通孔１３、更に三組のス
ペーサ５の通孔、つまり凹状部材１５の通孔１９、凸状
部材１７の通孔２５及びマウント部材１６の通孔２２に
それぞれ通してから前記一方の側の被測定物に螺合す
る。この際、被測定物の取付け面の仕上げの形態が粗い
場合には、機器本体４は被測定物に対する高さ位置（矢
印Ｂ方向）を調節する必要があるが、凸状部材１７はマ
ウント部材１６に螺合して高さ位置が可変であるから、
機器本体４は前記被測定物に対して任意の高さ位置を得
ることができる。又、凸状部材１７は凹状部材１５に姿
勢可変で嵌合しているから、機器本体４は前記被測定物
に対して任意の姿勢を得ることができる。
して位置決めをおこなう際には、まず、位置決め治具
（図示省略）を用いて機器本体４の配置すべき位置を求
める。機器本体４をこの求めた位置に保持し続けるよう
に、各ビス１２を機器本体４の通孔１３、更に三組のス
ペーサ５の通孔、つまり凹状部材１５の通孔１９、凸状
部材１７の通孔２５及びマウント部材１６の通孔２２に
それぞれ通してから前記一方の側の被測定物に螺合す
る。この際、被測定物の取付け面の仕上げの形態が粗い
場合には、機器本体４は被測定物に対する高さ位置（矢
印Ｂ方向）を調節する必要があるが、凸状部材１７はマ
ウント部材１６に螺合して高さ位置が可変であるから、
機器本体４は前記被測定物に対して任意の高さ位置を得
ることができる。又、凸状部材１７は凹状部材１５に姿
勢可変で嵌合しているから、機器本体４は前記被測定物
に対して任意の姿勢を得ることができる。
【００１２】従って、機器本体４は三組のスペーサ５を
介することにより前記一方の側の被測定物に対して任意
の高さ位置で且つ任意の姿勢で支持される構造であるか
ら、機器本体４を前記一方側の被測定物に対して所定の
位置で且つ所定の姿勢に保持することができ、よってこ
のようにして機器本体４が前記一方の側の被測定物に対
して所定の相対位置を得ている測定装置１では検出結果
が信頼できる測定を行うことができる。図３に、この考
案の第二の実施例である測定装置１ａの要部を示す。測
定装置１ａは、測定装置１と同様に、機器本体４ａが被
測定物の一方側に三組のスペーサ５ａを介して取付け固
定されるものである。
介することにより前記一方の側の被測定物に対して任意
の高さ位置で且つ任意の姿勢で支持される構造であるか
ら、機器本体４を前記一方側の被測定物に対して所定の
位置で且つ所定の姿勢に保持することができ、よってこ
のようにして機器本体４が前記一方の側の被測定物に対
して所定の相対位置を得ている測定装置１では検出結果
が信頼できる測定を行うことができる。図３に、この考
案の第二の実施例である測定装置１ａの要部を示す。測
定装置１ａは、測定装置１と同様に、機器本体４ａが被
測定物の一方側に三組のスペーサ５ａを介して取付け固
定されるものである。
【００１３】スペーサ５ａは、機器本体４ａの側に位置
して凹部２０ａに嵌合して位置決めされ、部分球面部２
４ａが設けられている凸状部材１７ａと、略円柱形状で
あって、凸状部材１７ａの部分球面部２４ａと嵌合する
スリ鉢形状の凹部１８ａとメネジ部２３ａが互いに背向
して設けられている凹状部材１５ａと、被測定物の側に
位置し、凹状部材１５ａのメネジ部２３ａと螺合するオ
ネジ部２１ａが形成されているマウント部材１６ａから
構成されている。従って、測定装置１ａは、測定装置１
と同様に、一方の側の被測定物に対する任意の高さ位置
（矢印Ｂａ方向）及び任意の姿勢が得られ、機器本体４
ａが前記被測定物に対して所定の相対位置に位置決めさ
れ得る。このことにより、測定装置１ａは、検出結果が
信頼できる測定をおこなうことができる。
して凹部２０ａに嵌合して位置決めされ、部分球面部２
４ａが設けられている凸状部材１７ａと、略円柱形状で
あって、凸状部材１７ａの部分球面部２４ａと嵌合する
スリ鉢形状の凹部１８ａとメネジ部２３ａが互いに背向
して設けられている凹状部材１５ａと、被測定物の側に
位置し、凹状部材１５ａのメネジ部２３ａと螺合するオ
ネジ部２１ａが形成されているマウント部材１６ａから
構成されている。従って、測定装置１ａは、測定装置１
と同様に、一方の側の被測定物に対する任意の高さ位置
（矢印Ｂａ方向）及び任意の姿勢が得られ、機器本体４
ａが前記被測定物に対して所定の相対位置に位置決めさ
れ得る。このことにより、測定装置１ａは、検出結果が
信頼できる測定をおこなうことができる。
【００１４】図４に、この考案の第三の実施例である測
定装置１ｂの要部を示す。測定装置１ｂは、測定装置１
と同様に、機器本体４ｂが被測定物の一方側に三組のス
ペーサ５ｂを介して取付け固定されるものである。スペ
ーサ５ｂは、機器本体４ｂの側に位置して凹部２０ｂに
嵌合して位置決めされ、オネジ部２１ｂが形成されてい
るマウント部材１６ｂと、略円柱形状であって、マウン
ト部材１６ｂのオネジ部２１ｂと螺合するメネジ部２３
ｂと部分球面部２４ｂが互いに背向して設けられている
凸状部材１７ｂと、略円柱形状であって被測定物の側に
位置し、凸状部材１７ｂの部分球面部２４ｂと嵌合する
スリ鉢形状の凹部１８ｂが設けられている凹状部材１５
ｂから構成されている。
定装置１ｂの要部を示す。測定装置１ｂは、測定装置１
と同様に、機器本体４ｂが被測定物の一方側に三組のス
ペーサ５ｂを介して取付け固定されるものである。スペ
ーサ５ｂは、機器本体４ｂの側に位置して凹部２０ｂに
嵌合して位置決めされ、オネジ部２１ｂが形成されてい
るマウント部材１６ｂと、略円柱形状であって、マウン
ト部材１６ｂのオネジ部２１ｂと螺合するメネジ部２３
ｂと部分球面部２４ｂが互いに背向して設けられている
凸状部材１７ｂと、略円柱形状であって被測定物の側に
位置し、凸状部材１７ｂの部分球面部２４ｂと嵌合する
スリ鉢形状の凹部１８ｂが設けられている凹状部材１５
ｂから構成されている。
【００１５】従って、測定装置１ｂは、測定装置１と同
様に、一方の側の被測定物に対する任意の高さ位置（矢
印Ｂｂ方向）及び任意の姿勢が得られ、機器本体４ｂが
前記被測定物に対して所定の相対位置に位置決めされ得
る。このことより、測定装置１ｂは、検出結果が信頼で
きる測定をおこなうことができる。図５に、この考案の
第四の実施例である測定装置１ｃの要部を示す。測定装
置１ｃは、測定装置１同様に、機器本体４ｃが被測定物
の一方側に三組のスペーサ５ｃを介して取付け固定され
るものである。スペーサ５ｃは、機器本体４ｃの側に位
置して凹部２０ｃに嵌合して位置決めされ、オネジ部２
１ｃが形成されているマウント部材１６ｃと、略円柱形
状であって、マウント部材１６ｃのオネジ部２１ｃと螺
合するメネジ部２３ｃとスリ鉢形状の凹部１８ｃが互い
に背向して設けられている凹状部材１５ｃと、被測定物
の一方の側に位置し、凹状部材１５ｃの凹部１８ｃと嵌
合する部分球面部２４ｃが設けられている凸状部材１７
ｃから構成されている。
様に、一方の側の被測定物に対する任意の高さ位置（矢
印Ｂｂ方向）及び任意の姿勢が得られ、機器本体４ｂが
前記被測定物に対して所定の相対位置に位置決めされ得
る。このことより、測定装置１ｂは、検出結果が信頼で
きる測定をおこなうことができる。図５に、この考案の
第四の実施例である測定装置１ｃの要部を示す。測定装
置１ｃは、測定装置１同様に、機器本体４ｃが被測定物
の一方側に三組のスペーサ５ｃを介して取付け固定され
るものである。スペーサ５ｃは、機器本体４ｃの側に位
置して凹部２０ｃに嵌合して位置決めされ、オネジ部２
１ｃが形成されているマウント部材１６ｃと、略円柱形
状であって、マウント部材１６ｃのオネジ部２１ｃと螺
合するメネジ部２３ｃとスリ鉢形状の凹部１８ｃが互い
に背向して設けられている凹状部材１５ｃと、被測定物
の一方の側に位置し、凹状部材１５ｃの凹部１８ｃと嵌
合する部分球面部２４ｃが設けられている凸状部材１７
ｃから構成されている。
【００１６】従って、測定装置１ｃは、測定装置１と同
様に、一方の側の被測定物に対する任意の高さ位置（矢
印Ｂｃ方向）及び任意の姿勢が得られ、機器本体４ｃが
前記被測定物に対して所定の相対位置に位置決めされ得
る。このことにより、測定装置１ｃは、検出結果が信頼
できる測定をおこなうことができる。測定装置１は、マ
ウント部材１６のオネジ部２１に軸線方向に複数のワリ
を入れると共に末拡がり状にすることによって、マウン
ト部材１６のオネジ部２１が凸状部材１７のメネジ部２
３に押圧固定する構成にさせることができる。同様にし
て、測定装置１ａはマウント部材１６ａのオネジ部２１
ａが凹状部材１５ａのメネジ部２３ａに、測定装置１ｂ
はマウント部材１６ｂのオネジ部２１ｂが凸状部材１５
ａのメネジ部２３ｂにも測定装置１ｃはマウント部材１
６ｃのオネジ部２１ｃが凹状部材１５ｃのメネジ部２３
ｃに、それぞれ押圧固定する構成にさせることができ
る。
様に、一方の側の被測定物に対する任意の高さ位置（矢
印Ｂｃ方向）及び任意の姿勢が得られ、機器本体４ｃが
前記被測定物に対して所定の相対位置に位置決めされ得
る。このことにより、測定装置１ｃは、検出結果が信頼
できる測定をおこなうことができる。測定装置１は、マ
ウント部材１６のオネジ部２１に軸線方向に複数のワリ
を入れると共に末拡がり状にすることによって、マウン
ト部材１６のオネジ部２１が凸状部材１７のメネジ部２
３に押圧固定する構成にさせることができる。同様にし
て、測定装置１ａはマウント部材１６ａのオネジ部２１
ａが凹状部材１５ａのメネジ部２３ａに、測定装置１ｂ
はマウント部材１６ｂのオネジ部２１ｂが凸状部材１５
ａのメネジ部２３ｂにも測定装置１ｃはマウント部材１
６ｃのオネジ部２１ｃが凹状部材１５ｃのメネジ部２３
ｃに、それぞれ押圧固定する構成にさせることができ
る。
【００１７】測定装置１，１ａ，１ｂ及び１ｃは、それ
ぞれ三組のスペーサ５，５ａ，５ｂ及び５ｃを備えて被
測定物に取付け固定される構成であるが、他の固定治具
等との併用等により、その数を適宜選択するのが望まし
い。マウント部材１６と凸状部材１７の螺合、マウント
部材１６ａと凹状部材１５ａの螺合、マウント部材１６
ｂと凸状部材１７ｂの螺合、及びマウント部材１６ｃと
凹状部材１５ｃの螺合において、それぞれオネジとメネ
ジは逆の構成であってもよい。測定装置１，１ａ，１
ｂ，１ｃは、二つの部材が直線状に相対移動する際にそ
の移動の距離を測定するものであるが、この考案は二つ
の部材が相対的に回転移動する際にその回転角度、角速
度等を測定するものであってもよい。
ぞれ三組のスペーサ５，５ａ，５ｂ及び５ｃを備えて被
測定物に取付け固定される構成であるが、他の固定治具
等との併用等により、その数を適宜選択するのが望まし
い。マウント部材１６と凸状部材１７の螺合、マウント
部材１６ａと凹状部材１５ａの螺合、マウント部材１６
ｂと凸状部材１７ｂの螺合、及びマウント部材１６ｃと
凹状部材１５ｃの螺合において、それぞれオネジとメネ
ジは逆の構成であってもよい。測定装置１，１ａ，１
ｂ，１ｃは、二つの部材が直線状に相対移動する際にそ
の移動の距離を測定するものであるが、この考案は二つ
の部材が相対的に回転移動する際にその回転角度、角速
度等を測定するものであってもよい。
【００１８】
【考案の効果】この考案は、検出手段を内設した機器本
体と、この機器本体を取付け固定する被測定物の間にス
ペーサを介在させ、このスペーサが、被測定物に対する
任意の高さ位置及び任意の姿勢を得られるように構成し
たことより、被測定物の取付け面の加工仕上げが粗かっ
たり、段差がある場合であって、被測定物に対して機器
本体を所定の相対位置に位置決めするとができることに
より、検出結果が信頼できる測定を行うことができる測
定装置である。
体と、この機器本体を取付け固定する被測定物の間にス
ペーサを介在させ、このスペーサが、被測定物に対する
任意の高さ位置及び任意の姿勢を得られるように構成し
たことより、被測定物の取付け面の加工仕上げが粗かっ
たり、段差がある場合であって、被測定物に対して機器
本体を所定の相対位置に位置決めするとができることに
より、検出結果が信頼できる測定を行うことができる測
定装置である。
【図１】 この考案の一実施例を示す、一部切欠き及び
一部分解を含む斜視図である。
一部分解を含む斜視図である。
【図２】 図１のＩ−Ｉ断面図である。
【図３】 この考案の第二の実施例を示す図２相当図で
ある。
ある。
【図４】 この考案の第三の実施例を示す図２相当図で
ある。
ある。
【図５】 この考案の第四の実施例を示す図２相当図で
ある。
ある。
１，１ａ，１ｂ，１ｃ；測定装置 ２； 検出手段 ３； 演算手段 ４； 機器本体 ５，５ａ，５ｂ，５ｃ；スペーサ １５，１５ａ，１５ｂ，１５ｃ；凹状部材 １６，１６ａ，１６ｂ，１６ｃ；マウント部材 １７，１７ａ，１７ｂ，１７ｃ；凸状部材 １８，１８ａ，１８ｂ，１８ｃ；凹部 ２１，２１ａ，２１ｂ，２１ｃ；オネジ部 ２３，２３ａ，２３ｂ，２３ｃ；メネジ部 ２４，２４ａ，２４ｂ，２４ｃ；部分球面部
Claims (1)
- 【請求項１】 二つの部材の相対移動を検出する検出手
段と、その検出手段からの信号を演算処理する演算手段
と、その検出手段が内設されている機器本体と、その機
器本体と被測定物の間に介在されるスペーサが備えら
れ、 上記スペーサが、上記機器本体に一体若しくは別体であ
る第一の部材と、被測定物の側に位置する第二の部材
と、それら第一の部材と第二の部材の間に介在され、且
つ第一の部材若しくは第二の部材のいずれか一方に螺合
して一体化されその螺合する部材に対する高さ位置が可
変な第三の部材とからなり、 上記第三の部材が第一の部材に螺合する構成では、第二
の部材と第三の部材のいずれか一方側に部分球面部が設
けられ、且つ他方側にその部分球面部と嵌合する、スリ
鉢形状の凹部が設けられてなり、第三の部材が第二の部
材に螺合する構成では、第一の部材と第三の部材のいず
れか一方側に部分球面部が設けられ、且つ他方側にその
部分球面部と嵌合する、スリ鉢形状の凹部が設けられて
なる測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992029506U JP2572786Y2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992029506U JP2572786Y2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0581625U JPH0581625U (ja) | 1993-11-05 |
| JP2572786Y2 true JP2572786Y2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=12277980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992029506U Expired - Fee Related JP2572786Y2 (ja) | 1992-04-07 | 1992-04-07 | 測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2572786Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59151011A (ja) * | 1983-02-17 | 1984-08-29 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 変位測定装置用取付装置 |
-
1992
- 1992-04-07 JP JP1992029506U patent/JP2572786Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0581625U (ja) | 1993-11-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |