JP2569755B2

JP2569755B2 - 可動部材の位置検出装置

Info

Publication number: JP2569755B2
Application number: JP63227332A
Authority: JP
Inventors: 良弘田中; 哲哉宇野; 道広岩田; 完房辻; 博司大塚; 健橋本; 伸一横山
Original assignee: ミノルタ株式会社
Priority date: 1988-09-09
Filing date: 1988-09-09
Publication date: 1997-01-08
Anticipated expiration: 2012-01-08
Also published as: JPH01118118A

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は、可動部材、例えばカメラのシャッター装置
におけるシャッター羽根が所定の位置まで移動したこと
を検出する位置検出装置に関する。

［従来の技術］従来から、この種の装置においては、一般に、可動部
材が所定位置まで移動したことを、センサ等による検出
信号でもって判断するようにしている。

かかる可動部材の位置検出装置の適用例として、例え
ば特開昭60−169839号公報に示されるような、カメラの
露出制御装置がある。本装置においては、カメラのシャ
ッター羽根（絞り羽根）の位置に応じて出力されるパル
スをカウントしてシャッター開口量（絞り口径）を検出
し、さらに、レンズの位置に応じて出力されるパルスを
カウントしてレンズの繰出量を検出するようにしてい
る。そして、これらパルスの検出は、シャッター開動作
およびレンズ繰出動作の直後から行なわれるようになっ
ている。

ところが、このような従来の装置では、ノイズ等の影
響により、可動部材が所定位置に達していないにも拘ら
ず、可動部材が所定位置に達したと誤判断してしまう虞
れがあった。そして、特に、ノイズ等は装置の機構、作
動上の理由から可動部材を移動させた直後に起り易いこ
とから、上記のような検出方法では問題がある。この現
象については、後述するような、かかる装置での可動部
材がカメラのシャッター装置におけるシャッター羽根で
ある場合の機構・作動の説明から明らかとなる。

また、特開昭56−111842号公報に示されるように、露
光量制御のために副絞りを設け、シャッターの動作と連
動して副絞りをプリ測光の可能な開口状態から一旦、閉
成させ、この閉成したことを検出してから露出時間のカ
ウントを開始するようにしたものがある。この装置では
低輝度のために、副絞りが閉成したことを検出できない
ときは、シャーター開信号発生より一定時間後に露出時
間のカウント開始を行わしめるタイマーを備えている。

この装置では、低輝度時には、シャッター開信号の直
後は、上記タイマー時間だけ露出時間のカウントを行わ
ないことになるが、このタイマーは、低輝度時に露出時
間のカウントが始まらない不都合を解消するために設け
られているのであって、積極的にシャッター駆動直後の
カウントを禁止しようとする意図のものではない。

さらに、通常の電子機器におけるチャタリングによる
誤動作対策として、入力端子の状態が反転したことが検
出されると、その後の所定時間は入力を禁止し、所定時
間経過後に改めて入力端子の状態を検出するようにした
ものがある。このようなチャタリング対策は、入力端子
に信号が入力されると、それに同期して該端子への入力
を禁止するものであって、該入力端子とは別個の端子に
入力された信号に応じて入力端子の入力を禁止するもの
ではない。つまり、入力端子とは別の端子へ信号が入力
され、それとの関係で入力端子への誤信号入力を禁止し
ようとする思想は全く含まれていない。

［発明が解決しようとする課題］本発明は、上記事情に鑑みなされたもので、可動部材
が所定の位置まで移動したことを検出する装置におい
て、可動部材の移動開始直後から所定時間、位置検出を
行わないことにより、誤検出動作が生じるのを防止し、
可動部材の位置を正確に検出し得る可動部材の位置検出
装置を提供することを目的とする。

［課題を解決するための手段］本発明は、可動部材と、上記可動部材の移動を開始さ
せる信号を出力する手段と、上記移動開始信号に応答し
て上記可動部材を移動させる手段と、上記可動部材が所
定の位置に達したときにそれを検出して信号を出力する
検出手段と、上記検出手段が出力した信号を受けて上記
可動部材が所定の位置に達したと判断する手段と、上記
移動開始信号が出力されてから所定時間、上記判断手段
の動作を禁止する手段とを具備したことを特徴としてい
る。

［作用］この構成により、移動開始信号による可動部材の移動
開始直後に、判断手段は所定時間だけ、その動作を禁止
されているので、ノイズ等が発生しても、可動部材が所
定位置に達していないにも拘らず所定位置に達したと誤
判断することがなくなる。

［実施例］本発明装置を、カメラのシャッター装置に適用し、可
動部材がバイモルフ素子を駆動源としたシャッター羽根
である実施例について、以下、説明する。

まず、バイモルフ素子を用いたシャッター装置の機構
部の一例を第16図〜第19図により説明する。第16図にお
いて、シャッター装置は片支持したバイモルフBiに生じ
る駆動力によって、一対のシャッター羽根2,4を同時に
互いに反対方向に回動させる。そして、閃光撮影の際に
はシャッター羽根2,4に設けたシャッター開度検知用小
孔群の通過を光検出素子10により検知し、もって指定し
たシャッターの開口位置を上記光検出素子10の光検出回
数により検知し、これが所定の回数になれば、指定した
シャッター開度になったと判断して閃光発生させるとと
もに、シャッター羽根の開動を中止し、シャッター羽根
を初期位置に戻す動作を行なうような構成としている。

このシャッターの個々の部品の詳細構成について説明
する。第16図では各構成が理解しやすいように、シャッ
ター前板８の大半部分を省略して示している。図におい
て、シャッター羽根２および４はシャッター前板８に固
設された軸8aに回動可能に保持されており、シャッター
台板６の露出開口6aの中心と軸8aの中心を結ぶ線に対し
て対称な形状とされている。シャッター羽根２および４
は、第17図および第18図に示すように、シャッター前板
８および中間板７の間に形成された空間に収められてい
る。シャッター羽根２および４は、シャッター羽根２の
先端が、シャッター台板６に固設されたピン6cに当接す
るまで閉じ方向へ回動することができる。中間板７の長
孔7aはシャッター羽根２の作動方向に直交する方向に沿
って形成されている。光検出素子10は、第19図に示すよ
うに、中間板７の長孔7aおよびシャッター羽根２の小孔
（後述）の通過領域を挾むように、投光素子10aおよび
受光素子10bを備えている。シャッター台板６は、金属
製で、シャッター羽根やシャッター前板を含むシャッタ
ー装置および不図示の撮影レンズを支持した状態で、不
図示のカメラ本体に支持される。このため、取付孔等多
数の孔が形成されており、シャッター羽根を直接、該台
板６に支持させると、シャッター作動中に羽根が孔に引
っ掛かることもある。そこで中間板７を設けることによ
り、シャッター羽根を平坦な面で支持して、円滑な作動
が行なえるようにしている。

シャッター羽根２および４に設けられた長孔2b,4bは
開閉レバー12に設けられた係合ピン12a,12bと係合し、
係合ピン12a,12bの移動によってシャッター羽根２およ
び４を回動させる。シャッター羽根２および４に設けら
れたＶ字状の切欠の開口部2a,4aは上記の回動により露
出開口6aを開閉する。シャッター羽根２および４に複数
の開口2A〜2Hを軸8aを中心とする同一円周上に設け、シ
ャッター羽根２および４の回動に合わせて上記開口群が
移動し、台板６の切欠6bに設置した光検出素子10の測定
位置において、開口2Aは羽根開口直前に、開口2Bは最小
口径絞りまで開いた時点で、開口2Hは最大口径絞りまで
開いた時点で中間板７の長孔7aと重なるように配置され
ており、その他の開口2C〜2Gはシャッター羽根が最小口
径絞りと最大口径絞りの中間の所定絞りまで開いた時点
で重なるように配置されている。なお、開口は検出すべ
き絞り値に対応して適当な数を適当な位置に設ければよ
い。

シャッター台板６には露出開口6aと、光検出素子10を
設置するための切欠6bと、開閉レバー12に立てたピン12
a,12bが接触して同レバーの動きを妨げるのを避けるた
めの切欠6eと長孔6dが設けられている。シャッター開閉
レバー12はシャッター前板８上の軸8bに回動可能に保持
されており、図上右端部には軸8aと接触しないように設
けた長孔12eと、シャッター羽根の長孔2b,4bに係合する
ピン12a,12bを長孔12eに対してほぼ対称に設け、図上の
左端は平面視コ字形に形成した先端部に、バイモルフBi
の先端部を挟持するようにピン12c,12dを設けている。
バイモルフBiは一方の端部をピン12c,12dによって挟持
され、もう一方の端部はバイモルフホルダ25を介してシ
ャッター台板６に支持されている。

第16図に示したシャッター閉成状態において、バイモ
ルフBiに電圧を印加すると、バイモルフBiがバイモルフ
ホルダ25側の端を固定端として時計方向に回動変位し、
これにより駆動力が発生する。その駆動力により開閉レ
バー12が軸8bの回りに時計方向に回動駆動されると、ピ
ン12aおよび12bによって、シャッター羽根2,4の長孔2b,
4bが押動されて、シャッター羽根2,4が相互に開く方向
に回動せしめられる。シャッター羽根2,4の回動に伴い
開口2A〜2Hが順次中間板７の長孔7aに重なる。光検出素
子10は、測定位置において、その重なりを検知して信号
を出力し、閃光撮影においては、その検知信号の出力回
数が所定の回数になれば、制御回路は指定したシャッタ
ー開度になったと判断して閃光発光を行なうとともにバ
イモルフBiへの電圧の印加を中止して、シャッター羽根
2,4の開動を中止し、シャッター羽根2,4を初期位置に戻
す動作を行なう。

第１図は本実施例に用いられるカメラを制御するため
の回路ブロックを示し、μＣはカメラ全体のシーケンス
制御および演算を行なうマイクロコンピュータ（以下、
マイコンという）、PCはシャッターの開口位置を検出す
る光検出素子およびそれを駆動する駆動回路を含む開口
位置検出回路で、シャッターに設けられた開口を通過す
る度に１パルスを出力するように構成されている。STは
電子閃光装置で、それぞれヒステリシスをもった２つの
充電完了レベルを有する。BiCは、バイモルフを駆動源
としたシャッターを制御するシャッター制御回路で、こ
れら電子閃光装置STおよびシャッター制御回路BiCの詳
細は後述する。

AFは被写体の距離を測距する周知の測距回路である。
DXはフィルム感度自動読取り回路で装填されているフィ
ルムのフィルム感度およびフィルム枚数に応じたDXコー
ドを読み取る。Bvは被写体の明るさを測光する測光回路
である。DISPは撮影情報を表示する表示回路、TEMPはバ
イモルフの近傍に配置され、その周囲の温度を検出する
温度検出回路で、この検出素子としては、例えばサーミ
スタ等が用いられる。なお、測距回路AFの測距データ、
フィルム感度自動読取り回路DXのフィルム感度データ、
測光回路Bvの測光データ、温度検出回路TEMPの温度デー
タはマイコンμＣからの指令によりデータバスDBを介し
てマイコンμＣの端子I03に出力される。また、表示回
路DISPの表示データは、マイコンμＣの端子I03よりデ
ータバスDBを介して表示回路DISPへ出力され、これに応
じて表示回路DISPは所定の撮影情報を表示する。なお、
測距回路AF、測光回路Bv、温度検出回路TEMPは、測定し
たそれぞれのアナログ情報をデジタル情報に変換するA/
D変換回路を内部に有している。

S/Tは焦点切換を行なうための焦点切換駆動回路で、
マイコンμＣからの情報により所定の切換制御を行な
う。LE・DRは測距結果に基いて焦点調節を行なうための
焦点調節駆動回路で、マイコンμＣからの方向信号DIR
と駆動量を示すパルス信号PULとで、レンズの繰り出
し、繰り込みの制御を行なう。MDはマイコンμＣからの
信号によりフィルムの巻き上げ、巻き戻しの制御を行な
うフィルム駆動回路、Ｅはカメラ全体の電源である電
池、DIは逆充電防止用ダイオード、C1はバックアップ用
コンデンサ、R_R,C_Rは電池装着時（但し、バックアップ
用コンデンサC1の電圧が低いとき）に、マイコンμＣに
リセットをかけるためのリセット用抵抗とコンデンサで
ある。Tr1はマイコンμＣ、電子閃光装置ST、シャッタ
ー制御回路BiCの一部とを除いたブロックで示した回路
に電流を供給する給電トランジスタである。

次にスイッチ類を説明すると、S1は不図示のレリーズ
ボタンの第１ストロークの押し下げでONする撮影準備ス
イッチ、S2は同レリーズボタンの第２ストローク（第１
ストロークよりも長い）でONするレリーズスイッチ、S
_RCは裏蓋が閉じている時、スイッチがONとなる裏蓋開閉
スイッチ、Ｓ_S/Tはレンズの焦点距離を切換えるための
焦点距離変更スイッチであり、常開のプッシュスイッチ
からなっており、１回のプッシュ操作で焦点距離が一方
から他方へ切換わるようになっている。マイコンμＣは
裏蓋開閉スイッチS_RCのONあるいは焦点距離変更スイッ
チＳ_S/Tの操作によりこれらの制御を行なうための後述
する割り込みを実行する。Sssは、レンズの焦点距離の
状態がスタンダード（例えば、焦点距離＝35mm）である
ような位置にあるときONするスイッチ、S_TSは同じくレ
ンズの焦点距離の状態がテレ（例えば、焦点距離＝70m
m）であるような位置にあるときONするスイッチであ
る。

S_FDはフィルムが送られていることを検出するスイッ
チで、不図示の従動スプロケットが、フィルムに噛み合
い、フィルムが送られると、このスプロケットが動き、
フィルムのパーフォーレーション（穴）に応じてON,OFF
する。そして、８個のONあるいはOFFの信号を検出する
ことによってフィルムが１駒巻き上げられたことを検出
している。Sppは多重露出を行なう時に操作される状態
スイッチで、多重露出が選択された際にONとなる。

次に上記電子閃光装置STとシャッター制御回路BiCの
詳細を第２図により説明する。

図中、点線の左側が電子閃光装置ST、右側がシャッタ
ー制御回路BiCである。電子閃光装置STは、電池電圧を
高圧に昇圧するDC−DCコンバータ（Ｄ−Ｄ）と、このコ
ンバータＤ−Ｄを制御する制御トランジスタTr2と、整
流ダイオードD2と、コンバータＤ−Ｄから電荷を蓄積す
るメインコンデンサMCと、メインコンデンサMCの充電電
圧レベルを検出する充電検出回路CHDと、Xe管を含み、
発光の制御を行なう発光制御回路ECCとからなる。

上記制御トランジスタTr2はマイコンμＣからの信号C
HCにより、ON,OFF制御され、これに応じて、コンバータ
Ｄ−ＤがON,OFFする。充電検出回路CHDは、２つの充電
検出レベルを有し、１つはメインコンデンサMCの電圧が
一旦300Vになり、その後、260Vに下がるまで充電完了と
するもので、その間CH1信号は「Ｈ」レベルとなる。他
方はメインコンデンサMCの電圧が一旦230V以上になり、
その後、200Vに下がるまで充電完了とするもので、その
間CH2信号は「Ｈ」レベルとなる。そして、マイコンμ
Ｃは、CH1信号が「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに反転
したことを検出すると、信号CHCを「Ｌ」レベルにして
コンバータＤ−ＤをOFFにする。発光制御回路ECCはマイ
コンμＣからの「Ｈ」レベルの発光信号Ｘにより閃光発
光を行なう。

また、上記シャッター制御回路BiCは、シャッターを
駆動するためのバイモルフBiと、シャッターを開放すべ
くバイモルフを定電流で充電し、駆動する定電流回路を
構成する定電流源I1,トランジスタTr6,Tr5と、定電流で
のバイモルフへの充電を制御するトランジスタTr4と、
適正露出になった後、シャッターを閉成すべくバイモル
フの両端を短絡するための回路を構成するトランジスタ
Tr7,Tr3と、定電流の電流量を変化させるための定電流
源I2,I3と、アナログスイッチASW1,ASW2と、バイモルフ
Biからの逆起ノイズを除去するためのコンデンサC2とか
ら構成されている。そして、定電流制御のトランジスタ
Tr4はマイコンμＣからのシャッター開放信号OPNによっ
て制御され、バイモルフBiを短絡する回路（Tr7,Tr3）
はマイコンμＣからのシャッター閉成信号CLSによって
制御される。アナログスイッチASW1,ASW2はそれぞれマ
イコンμＣからの電流制御信号CC1,CC2によって制御さ
れ、バイモルフの充電電流量を可変にしている。この電
流量を変化させることについては後述する。

以上からなる回路を有するカメラの動作を第３図以降
に示すフローチャートを参照して説明する。

カメラの電池Ｅが装着されると、第１図のリセット用
コンデンサC_Rが充電され、所定の電圧に達し、マイコン
μＣがこれを検出すると、第３図（ａ）のリセットのル
ーチンを実行する。

まず、マイコンμＣはフラグおよび出力端子を全てリ
セットし、端子CLSを「Ｈ」レベルにしてバイモルフを
短絡することを停止して消費電流を少なくし、裏蓋の閉
成あるいは焦点距離変更のための操作により割り込みSo
pINTを許可する（ステップ＃５〜10）。昇圧を開始すべ
く端子CHCを「Ｈ」レベルにし、メインコンデンサの電
圧が300Vになったかを端子CH1が「Ｈ」レベルであるか
否かで検出する（＃15,20）。端子CH1が「Ｌ」レベルで
ある時、すなわち300Vに達していない時は撮影準備スイ
ッチS1がONされているか否かを端子IP1のレベルで検出
する（＃25）、スイッチS1がOFFであって端子IP1が
「Ｈ」レベルであるとき、ステップ＃20へ戻る。スイッ
チS1がONであって端子IP1のレベルが「Ｌ」レベルであ
れば端子CHCを「Ｌ」レベルにして昇圧動作を停止させ
（＃30）、ステップ＃45に進む。

ステップ＃20において、メインコンデンサMCの電圧が
300Vに達すると、すなわち端子CH1が「Ｌ」レベルから
「Ｈ」レベルに反転するとマイコンμＣはこれを検出
し、端子CHCを「Ｌ」レベルにして、昇圧動作を停止さ
せ（＃35）、撮影準備スイッチS1がONされるまで、すな
わち端子IP1が「Ｌ」になるまでステップ＃40を実行す
る。ここで端子IP1が「Ｌ」レベルになると、すなわち
撮影準備スイッチS1がONされると、ステップ＃45に進み
（ステップ＃30から進んで来たときも同様）、撮影準備
の開始を行なう。まずマイコンμＣは裏蓋の閉成あるい
は焦点距離変更の操作による割り込みSopINTを禁止し
て、給電トランジスタTr1をONすべく端子OP2を「Ｈ」レ
ベルにする（＃50）。この給電により、測光回路Bvは測
光を開始する。各回路が安定するまで50msec待ち、測距
動作を行なわせ、測距信号（距離データ）を端子IO3よ
り入力する（＃55,60）。

次にマイコンμＣは、フィルムの情報を入力する（＃
65）。このサブルーチンを第４図に示す。同図におい
て、マイコンμＣは入力した信号から使用されているフ
ィルムがDXコードについているフィルムか否かを検出
し、DXコードがついている場合には、DXコードのあるフ
ィルムを使用していることを示すDXフラグ（DXF）をセ
ットしフィルム感度のアペックス値をSvに設定してリタ
ーンする（＃1000〜1010）。DXコードのついていないフ
ィルムの場合には上記DXフラグ（DXF）をリセットし、
フィルム感度として「５」（ISO＝100）をSvにセットし
てリターンする（＃1020,1025）。

第３図（ａ）のフローチャートに戻り、マイコンμＣ
は測光回路Bvから測光値Bvを読み取り上記フィルム感度
Svと測光値Bvとから露出演算を行なう（＃70,75）。

本実施例ではシャッターの駆動源としてバイモルフBi
を用いているが、バイモルフには温度特性がある。すな
わちバイモルフBiは等価的に一種のコンデンサであり、
このコンデンサ成分は温度に対して正の温度特性をも
ち、温度が高くなると容量が増え、低くなると容量が減
る。したがって、バイモルフBiに同一時間だけ定電流を
流すとバイモルフBiは温度が高いとき変位量が少なく
（変位速度が遅い）、温度が低いときには変位量が大き
く（変位速度が速い）なる。これを露出量で言い換える
と、温度が高いと露出アンダー、温度が低いと露出オー
バーとなる。常温（20℃）を適正（ΔEv＝０）とした温
度と露出量の誤差を示したものを第１表に示す。

上記の表からもわかるように、温度の低い時の方が、
同一量の温度偏差に対して露出誤差が大きくなってい
る。本実施例では、この露出量の温度依存性を露出演算
において補正している。なお、バイモルフBiを除いたシ
ャッター機構による露出量の温度依存性は殆どない。

上記の露出補正を含む露出演算のサブルーチンを第５
図に示す。同図において、まず露出値Evを、 Ev＝Bv＋Sv から求める。次に温度検出回路TEMPから温度情報を入力
し、この温度情報から露出のずれ量ΔEvを内部にメモリ
した温度・ΔEvのテーブル（第１表）から読み出し、新
たに露出値EvをEv＝Ev＋ΔEvで求め、これから露出時間
Ｔを算出し、リターンする（＃1050〜1070）。

第３図（ａ）に戻り、マイコンμＣはレンズの焦点距
離切換および裏蓋の閉による割込みSopINTを許可し（＃
80）、メインコンデンサMCの電圧が撮影条件に適応して
いるかの判断を行う（＃85）。被写体の輝度が、低輝度
であるか否かを演算した露出値Evから判定し、低輝度で
ある場合にはステップ＃125以降の閃光撮影に対するメ
インコンデンサMCの電圧のチェック、低輝度でなければ
ステップ＃87以降の通常撮影に対するメインコンデンサ
MCの電圧チェックを行う。

まず、低輝度でない場合から説明すると、フラッシュ
撮影を行なうことを示すフラグFLFをリセットした（＃8
7）後、マイコンμＣはメインコンデンサMCの電圧が200
V以上であるか否かを充電完了信号CH2のレベルを検出す
ることにより判断し（＃90）、「Ｈ」レベルであればバ
イモルフBiがシャッターを開放位置まで駆動するのに十
分な電圧レベルであるとし、レリーズスイッチS2がONさ
れているか否かを端子IP2のレベルより判定する（＃9
5）。端子IP2が「Ｌ」レベルであればレリーズスイッチ
S2がONされているとし、第３図（ｂ）に示すステップ＃
165に進み、露出動作を行なわせる。端子IP2が「Ｈ」レ
ベルであれば、スイッチS2はOFFとし、撮影準備スイッ
チS1がONであるか否かを端子IP1のレベルより判定し、O
FFであれば（IP1＝「Ｈ」）、撮影は中止されたとし
て、ステップ＃７へ戻り、ONであれば（IP1＝
「Ｌ」）、ステップ＃90に戻る（＃100）。

ステップ＃90において、メインコンデンサMCの電圧が
200V未満であれば（CH2＝「Ｌ」）、バイモルフBiがシ
ャッターを開放位置まで駆動できないとして端子CHCを
「Ｈ」レベルとし、昇圧動作を開始させる（＃105）。
そして、メインコンデンサMCの電圧が230Vであるか否か
を端子CH2のレベルにより判定し（＃110）、230V未満で
あれば（CH2＝「Ｌ」）、ステップ＃120に進む。ステッ
プ＃120では撮影準備スイッチS1がONであるか否かを判
定し、ONであれば（IP1「Ｌ」）、ステップ＃110に戻り
メインコンデンサMCの電圧が230Vになるのを待つ。スイ
ッチS1がOFFであれば、撮影を中止したとしてステップ
＃７に戻る。ステップ＃110において、メインコンデン
サMCの電圧が230Vに達すれば（CH2＝「Ｈ」）、端子CHC
を「Ｌ」レベルにして昇圧を停止させ（＃115）、ステ
ップ＃90に進む。

ステップ＃85において、低輝度である場合、ステップ
＃125に進み、フラッシュ撮影を行なうことを示すフラ
ッグFLFをセットし、ステップ＃130以降のフローを実行
するが、その動作としては、低輝度でない時のメインコ
ンデンサMCの電圧のチェックおよびその電圧とレリーズ
動作（スイッチS1,S2のON,OFF）と全く同じであり、異
なるところはメインコンデンサMCの電圧チェックレベル
が閃光撮影が十分行なえる（予定されている発光量が発
光できる）レベルとしていることで、ステップ＃90の20
0Vが260V（＃130）、ステップ＃110の230Vが300V（＃15
0）となり、そのチェックを端子CH1のレベルで行なって
いることである。よって説明は省略する。

撮影操作（スイッチS2がON）が行なわれるとステップ
＃165に進み、露出制御の動作を行なう。この露出制御
のサブルーチンを第６図（ａ）（ｂ）（ｃ）に示す。

以下、同図に基いて説明すると、マイコンμＣは、ま
ずシャッター駆動電流を変化させるための端子CC1,CC2
を「Ｌ」レベルとしてリセットし、閃光撮影時の絞りを
決定すべく距離情報Dv、フィルム感度Svおよび電子閃光
装置の発光量Iv（全てアペックス系）とからAv＝Sv＋Iv
−DvのFM演算を行ない、この絞り値に対応した開口位置
のカウント数に変更して変数N7としてメモリする（＃11
00〜1103）。

次にステップ＃1110に進み、レンズ繰り出しの制御
（焦点調節）を行なう。この制御はレンズ駆動回路LE・
DRへ方向信号DIRと距離に応じたパルス信号PULを出力す
ることによって行なう。

そして、シャッターを開放すべく端子OPN,CLSを
「Ｈ」レベルとし、第２図のトランジスタTr4,Tr7をそ
れぞれOFFにして、バイモルフBiを定電流I1で充電し、
バイモルフBiを駆動する（＃1115）。マイコンμＣは20
msec待った後、開口位置検出手段PCからの信号の入力を
許可すべく端子OP1を「Ｈ」レベルにする（＃1125,113
0）。このようにシャッター開放動作開始から一定時
間、開口位置検出手段からの信号入力を許可しないのは
次の理由による。

今、シャッター駆動のための駆動源としてバイモルフ
Biを用いており、バイモルフBiを駆動するとノイズが発
生し、このために偽りのパルスが開口位置検出回路PCか
ら発生され、マイコンμＣはこれを検出してしまう。本
発明に用いているシャッターの露出制御は上述のシャッ
ター構成でも説明したように、開口位置検出回路からの
所定のパルスに応答して露出時間を計時するので、上記
のような偽りのパルスをカウントしてしまうとその時点
から露出時間の計時が行なわれ、露出誤差あるいは未露
光の撮影となってしまう。このパルスの発生原因は駆動
源としてバイモルフBiを用いていることが考えられる。
すなわちバイモルフBiと開閉レバー12との関係は、バイ
モルフ駆動前、通常、第20図に示すようになっており、
この状態からバイモルフBiを駆動すると、バイモルフBi
は第21図に示すように開閉レバー12の係合ピン12cに接
触する。このとき一瞬ではあるが、バイモルフBiには逆
方向に力が加わったことになる。バイモルフBiは電圧を
加えれば曲がるが、逆に力を加えてバイモルフBiを曲げ
れば、電圧が発生する。したがって、バイモルフBiが係
合ピン12cと接触することによって電圧が発生し、これ
がバイモルフBiと接続されているトランジスタを介して
回路全体に行きわたって、あるいは直接回路を伝播しな
くとも、電磁波的に回路を伝播して上記のような誤動作
を起こすことが考えられる。

このような誤動作を防止すべく一定時間開口位置検出
回路PCからのパルス入力を禁止した後、マイコンμＣは
開口2Aによる最初の開口パルス（バイモルフBiに電圧を
印加してから40msecぐらい経過したときに入力する）が
入力するのを待つ（第６図（ａ）の＃1135）。このパル
スの立ち上がりが入力するとマイコンμＣは入力される
パルスの数を示すＮを０にセットし、露出時間計時用の
タイマーT1をリセットスタートする（＃1140,1145）。
なお、タイマーT1は別の処で他の目的でも使用する。

なお、上述したように第16図において、シャッター羽
根に設けられた開口2A〜2Hにおいて、2Aは露出時間の計
時を開始させるための開口であり、実際の露出は2Bの開
口位置から行なわれるようになっている。

次にマイコンμＣは、次の開口パルスが入力するのを
待つ。この待つ間に露出時間Ｔになると（＃1245）ステ
ップ＃1250に進む。露出時間Ｔが経過しないうちに開口
パルスが入力すると（＃1210）、ステップ＃1215に進
み、上記タイマーT1を入力する。この入力したタイマー
T1はシャッターの開口速度のバラツキ、すなわちバイモ
ルフの駆動速度とシャッター機構（バイモルフを除く）
とのバラツキを補正するために使われる。このバイモル
フBiを含めたシャッターの開口速度のバラツキの原因と
しては、（１）湿度、（２）温度（本発明では露出量と
して補正している）、（３）姿勢差、（４）初期位置
（ヒステリシスによる初期位置のバラツキ）、（５）経
時的変化（これに関する変化は少ない）等が考えられ
る。

その補正方法であるが、バイモルフBiとシャッター機
構とを含めたシャッター開口速度のシャッター個々のバ
ラツキは組立段階等で補正するとすれば、一つの開口パ
ルスと次の開口パルスとの時間間隔はすべてのシャッタ
ーで同じになる。したがって、この時間を実際に測定し
た時間と比較すれば、シャッターの開口速度が速いか遅
いかがわかり、時間のずれからシャッターの開口速度を
補正することができる。具体的にはシャッター機構の方
を補正するのは難しいので、一実施例として、バイモル
フBiを駆動する定電流を変えることによりバイモルフの
駆動速度を変えればよい。

第２図において、定電流源I2,I3、アナログスイッチA
SW1、ASW2によってバイモルフBiへ流れる電流を変える
わけであるが、本発明では個々のバラツキは定電流源I1
を組立段階で調整することによって補正し、それ以外の
上記補正を時間T1に関して|0.5Ev|の誤差があるか否か
でバイモルフBiを駆動する定電流を変化させている。そ
のときの補正電流としては、I2＝I1,I3＝1/2 I1とし、
それぞれ0.5Ev以上オーバーではアナログスイッチASW1
をOFF、アナログスイッチASW2をONとし、駆動電流を1/2
倍、駆動速度を（単位時間当りの露出量としては、1Evだけアンダー）
とし、0.5Ev以上アンダーではアナログスイッチASW1をO
N、アナログスイッチASW2をOFFとし、駆動電流を２倍、
駆動速度を（単位時間当りの露出量としては1Evだけオーバー）と
する。

マイコンμＣ内には開口位置に応じた開口開始からの
所定の開口時間（基準時間）が内部テーブルにメモリー
されており、このメモリー値と上記入力した時間T1とを
比較し、±0.5Ev以上の誤差があれば、アナログスイッ
チASW1,ASW2を制御する。

上記テーブルの内容としては、シャッター羽根に設け
られた一つの開口が回路PCによって検出されてから次の
開口が検出されるまでに必要な時間を「Ｔ」とすると、
カウント数Ｎが１増える毎に「Ｔ」を加えていくものと
しておけばよい。厳密にはシャッターの波形まで考えた
上で個々の設計誤差を含めた開口位置に応じた値を、た
とえばE²PROMにメモリすればさらに正確にすることがで
きる。

第６図に戻り、定電流の値を必要に応じて補正し（＃
1225）、シャッターが開かなかったことを示すフラグNO
PFをリセットし（＃1230）、通過した開口位置の数をカ
ウントするＮに１を加えて（＃1235）、ステップ＃1210
に戻る。このステップ＃1210〜＃1235,1245を繰り返し
ているうちに適切な露出時間Ｔになると、ステップ＃12
50に進む。ステップ＃1250では露出が行なわれたか否か
を検出すべくシャッター羽根の2Bの開口までシャッター
羽根が開いたか否かを検出する。これは開口位置の数を
カウントするＮが０か否かで検出することができ、Ｎ＝
０であれば、シャッターが開かなかったことを示すフラ
グNOPFをセットし、シャッター閉じ制御を行なうべく端
子CLS,OPNを「Ｌ」レベルとし、Ｎ＝１に設定してステ
ップ＃1270以降のシャッター閉じの制御を行なう（＃13
05〜1307）。今、シャッターが開かない原因として考え
られるものは、シャッター機構の摩擦がある。この摩擦
が周囲温度および湿度、姿勢差によって変化し、摩擦が
増大して最悪、開かない、あるいは閉じ切らない現象が
起きることがある。

一方、Ｎ≠０であれば、ステップ＃1255に進み、閃光
撮影か否かを示すフラグFLFを判定し、フラグFLFがセッ
トされていれば、ステップ＃1315に進む。これに関して
は後述する。上記フラグFLFがセットされていないとき
には、シャッター閉じ（CLS,OPN→「Ｌ」）の制御を行
い、Ｎ＝Ｎ＋１としてステップ＃1270に進む。ステップ
＃1307,1265において、それぞれ１をセットまたはプラ
スするのは、シャッター閉時、開口位置2Aを通り過ぎた
ときにカウンタＮが０となるようにするためである。ス
テップ＃1270では、タイマーT1をリセットスタートさ
せ、開口位置検出手段PCからの立下がり信号を待つ（＃
1275）。立り下がり信号が入力されると、上記カウンタ
Ｎから１を引き、Ｎが０すなわち、完全に閉じきったか
否かを判定する（＃1280,1285）。Ｎが０でない場合、
ステップ＃1275に戻り、ステップ＃1270から1285までを
繰り返す。カウンタＮが０になれば、シャッターが閉じ
なかったことを示すフラグNCLFをリセットして（＃129
0）、第６図（ｂ）のステップ＃1385に進む。

ステップ＃1275で立ち下がり信号が入力しないとき
は、ステップ＃1295に進み、タイマーT1が一定時間Ｋに
なったかを判定する。このＫは正常のシャッターが全開
から閉成までシャッター羽根を閉じるのに必要とされる
時間よりも長くとってあるもので、この時間を越える
と、これ以上シャッターを閉じるべくバイモルフBiを短
絡してもシャッターが閉じないと判断している。開口位
置2A（Ｎ＝０）の信号を検出する前に、この時間Ｋを計
時すると、シャッターが完全には閉じていないとして、
これを示すフラグをセット（NCLF＝１）し、一度閉じ動
作を中止すべく端子CLSを「Ｈ」レベルにしてステップ
＃1385に進む（＃1300,1302）。

ステップ＃1385では、閉じなかったことを示すフラグ
NCLFがセットされているかを判定し、セットされていれ
ば、ステップ＃1430に進んで、この状態が１回目か否か
を示すフラグNCL1Fがセットされているかを判定する。
セットされていなければ、このフラグNCL1Fをセットし
て、今一度シャッター閉の制御を行なうべく端子CLS,OP
Nを「Ｌ」レベルとして閉じの制御を行ない、タイマーT
1をリセットスタートし（＃1445,1448）、ステップ＃12
75に進む。このように、シャッターが閉じきっていない
とき、一旦、シャッター閉じの制御を中止し、改めてシ
ャッター閉じの制御を行なう方が、シャッター閉じの制
御を続けるよりも、バイモルフBiを駆動するのに効果が
あることが実験上確認された。

ステップ＃1430において、フラグNCL1Fがセットされ
ており、再度、シャッター閉じ動作を行なってもシャッ
ターが閉じきらないときは、閉じ動作を何回行なっても
閉じないであろうとして、故障を示すべく表示回路DISP
に所定の警告信号を出力して全ての回路の割り込みを禁
止する（＃1435,1440）。ステップ＃1385において、閉
じていないことを示すフラグNCLFがセットされていない
ときは、ステップ＃1390に進んで開いていないことを示
すフラグNOPFがセットされているか否かを判定し、セッ
トされている場合にはステップ＃1415に進み、この状態
が１回目であるか否かを示すフラグNOP1Fがセットされ
ているか否かを判定する。フラグNOP1Fがセットされて
いなければ、このフラグNOP1Fをセットしてステップ＃1
115に進んでシャッター開の動作を繰り返す。フラグNOP
1Fがセットされているときはステップ＃1435に進み、上
述と同様、警告および割り込み禁止の制御を行なう。

ステップ＃1390において、シャッターが開いていない
ことを示すフラグNOPFがセットされていないときは、正
常な露出動作が行なわれたとしてバイモルフBiの短絡を
解除すべく端子CLSを「Ｈ」レベルにし（＃1392）、正
常な露出動作が行なわれたことを示す表示（例えばOKマ
ーク）を表示回路DISPに表示させ（＃1395）、レンズを
繰り込み（＃1400）、１回目の閉じていないことを示す
フラグNCL1Fおよび１回目開いていないことを示すフラ
グNOP1Fをリセットし（＃1405,1410）、第３図のフロー
チャートにリターンする。

以上が自然光撮影の場合を示すもので次に閃光撮影に
ついて説明する。

閃光撮影の場合、ステップ＃1255でフラグFLFがセッ
トされているのでステップ＃1255から第６図（ｃ）のス
テップ＃1315に進む。本実施例ではシャッターが閉じる
過程における所定の閃光撮影に適した絞り値になったと
きに閃光発光を行なうようにしている。

ステップ＃1315において、開口位置のカウント数Ｎと
閃光発光の開口位置の数を示すカウント値N7とを比較
し、Ｎ＜N7の場合、すなわち現在の絞り値が閃光発光に
適切な絞り値より大きいとき（小絞りのとき）、直ぐに
発光を行なうべく（＃1365）、端子Ｘからワンショット
信号（パルス）を出力し、シャッター閉じの動作（CLS,
OPN→「Ｌ」）（＃1370）をして、Ｎに１を加えて（＃1
375）、タイマーをリセットスタートさせ（＃1377）、
シャッター閉じの制御を行ない、第６図（ａ）のステッ
プ＃1275に進む。Ｎ≧N7の場合、すなわち、現在の絞り
値が閃光撮影に適切な絞り値以下のとき（開放あるいは
等しいとき）、シャッター閉信号（CLS,OPN＝「Ｌ」）
を出力してＮに１を加える。これは閃光発光に適切な絞
り口径になったときに発光させるために行なっている。
自然光撮影のステップ＃1275〜1285,1295と同様にシャ
ッター開口をモニターし、閃光発光に適切な絞り値にな
ったとき閃光発光を行なうべく端子Ｘからトリガ信号
（ワンショットパルス）を出力して（＃1335〜1350,138
0）、ステップ＃1275に進み、シャッター閉じの制御を
行なう。以下、上述の自然光撮影と同様の処理を行なう
ので説明を省略する。

マイコンμＣは露出制御を終えた後、多重露出モード
か否かを端子IP11のレベルで検出し、端子IP11が「Ｌ」
レベルであるとき多重露出モードであるとしてステップ
＃190に進み、巻上げ動作を行なわず、撮影準備スイッ
チS1がOFFになるのを待ち、OFFになれば、給電トランジ
スタTr1をOFFにしてステップ＃７に進む。一方、端子IP
11のレベルが「Ｈ」であれば巻上げ制御を行なってステ
ップ＃190に進む。

第７図に巻上げ制御のサブルーチンを示す。同図にお
いて、マイコンμＣは、まず振動によるバイモルフBiの
駆動を防止すべく、バイモルフBiを短絡制御（CLS＝
「Ｌ」）とする（＃1500）。そして、巻上げ開始信号
（OP3＝「Ｈ」,OP4＝「Ｈ」）を出力して巻上げを開始
させ、１コマ検出を行なった後、モータ停止の制御を行
なう（＃1510,1515）。そしてバイモルフBiの短絡を解
除すべく端子CLSを「Ｈ」レベルにしてリターンする。
上記１コマ検出、モータ停止の制御を示すフローチャー
トを第８図（ａ）（ｂ）に示す。

まず第８図（ａ）において、マイコンμＣはフィルム
のパーフォレーション（穴）をカウントするためのカウ
ンタN6をリセット（＃1550）し、端子IP10からのスイッ
チFDのONによる立下がりを検出し、これを検出したとき
N6に１を加える（＃1555,＃1560）。そして、Ｎ＝８に
なってフィルム１コマ分の送りが終われば、第７図に示
したフローチャートにリターンし、N6＝８でなければス
テップ＃1555に戻る。

第８図（ｂ）はモータ停止の制御のフローを示し、マ
イコンμＣはモータ停止信号（OP3＝「Ｈ」,CP4＝
「Ｌ」）を出力し、モータが完全に停止するまで10msec
待った後、モータOFF信号（OP3＝「Ｌ」,OP4＝「Ｌ」）
を出力してリターンする（＃1580〜1590）。

次に裏蓋の閉成あるいは焦点距離切換S/Tによる割り
込みを第９図に示す。端子SopINTに「Ｈ」から「Ｌ」に
変わる信号が入力すると、マイコンμＣは第９図に示す
フローを実行する。マイコンμＣは、まず、このフロー
への割り込みを禁止し、閉成時の初期巻上げ（イニシャ
ルロード）あるいは焦点距離切換S/Tの振動によるバイ
モルフBiの開きを防止するためにバイモルフBiを短絡す
る（CLS＝「Ｌ」）（＃250,255）。そして裏蓋が閉成さ
れたか否かを端子IP4によって検出する。端子IP4に接続
されたワンショット回路OSは裏蓋閉成のスイッチS_RCがO
Nされてから一定時間（50msec）だけ「Ｌ」レベルを出
力するものである。ステップ＃260で裏蓋が閉成された
ことを検出すると、３コマの初期巻上げを行なって（＃
270）、ステップ＃275に進む。

一方、裏蓋がONされていないことを検出すると、マイ
コンμＣは焦点切換の制御を行ない（＃265）、このフ
ローへの割り込みSopINTを許可し（＃275）、端子CLS
「Ｈ」にしてバイモルフBiの短絡をOFFしてリターンす
る（＃280）。

焦点距離切換の制御のフローを第10図に示す。同図に
おいて、まず、レンズが短焦点側（Ｓ）にあるか否かを
端子IP7のレベルにより検出し（＃300）、スイッチSss
がONして端子IP7が「Ｌ」レベルであれば、短焦点側に
あるとし、焦点切換用モータを駆動してレンズを長焦点
側に駆動制御すべく端子OT2から信号を出力し（＃30
5）、レンズが長焦点側（Ｔ）に達してスイッチS_TSがON
になるまで待ち（＃310）、スイッチS_TSがON（IP8＝
「Ｌ」）になれば、上記モータを停止する信号を出力し
（＃325）、モータが完全に停止するまで10msec待ち
（＃330）、モータをOFF（＃335）し、元のフローチャ
ートにリターンする。

一方、短焦点側のスイッチSssがOFFで端子IP7が
「Ｈ」レベルである場合、レンズが長焦点側にあるとし
てレンズを短焦点側に駆動制御すべき信号を端子OT2か
ら出力（＃315）し、短焦点状態になるまでレンズを駆
動し、短焦点にレンズがきてスイッチSssがONになれば
（＃320）、ステップ＃325に進み、モータを停止させた
後、元のフローチャートにリターンする。

上記の実施例では、第６図（ａ）のステップ＃1225で
バイモルフBiの充電電流を補正したものを示したが、こ
れに限られず露出時間Ｔを補正するようにしてもよい。
この場合、第２図に示した定電流源I2,I3、アナログス
イッチASW1,ASW2およびマイコンμＣの端子CC1,CC2が不
要になる。

また、別のタイマーT2を設け、ステップ＃1145におい
て、両タイマーT1,T2をリセットスタートさせ、ステッ
プ＃1235でＮに１を加えた後、タイマーT1をリセットス
タートすることによって、タイマーT1で各開口間の時間
を計時し、この計時時間T1と、これに対応するマイコン
μＣにメモリーされている所定の基準時間とを比較し
（＃1220）、それに基づいてバイモルフBiの充電電流を
補正し（＃1225）、ステップ＃1245において、タイマー
T2が適切な露出時間Ｔになると、ステップ＃1250に進む
ようにしてもよい。

次に第11図〜第15図に基き本発明の変形実施例を説明
する。

上記第１の実施例では、測光値をメモリーし、このメ
モリーした値に対して露出時間を決定し、この時間に応
じた露出制御を行なったものを示したが、以下に示す実
施例では実時間測光による露出制御を行なうものを示
す。

以下に上記実施例と異なる点のみを説明する。第11図
は第１図に対応するもので、第１図と異なる点は、測光
回路Bvを新たにつけ加えた露出制御回路AE内に入れ、温
度検出回路TEMPを削除して温度に対する補正を行なわな
いようにしたことである。そして、シャッター制御回路
BiCへの信号線CC1,CC2を削除している。これに関しては
後述する。

新たにつけ加えた露出制御回路AEの詳細を第15図に示
す。同図において、受光素子SPC、オペアンプOP1、対数
圧縮用ダイオードD5、伸張トランジスタTr10、積分用コ
ンデンサC3、露出開始用トランジスタTr11は公知の露出
制御用の回路である。SvはマイコンμＣからのフィルム
感度に応じたディジタル信号を示し、D/A1,D/A2はディ
ジタル−アナログ変換回路である。コンパレーターCOMP
2は被写体の明るさが暗いか明るいかに応じて信号ILBv
を出力するもので、明るい場合「Ｌ」レベルの信号を、
暗い場合「Ｈ」レベルの信号を出力する。コンパレータ
ーCOMP1はシャッター閉じ信号ICLSを出力するためのも
ので、積分コンデンサC3のレベルとオペアンプOP2から
のフィルム感度に応じたアナログ信号とを比較し、両信
号が等しくなると、シャッター閉じ信号を出力する。オ
ペアンプOP2はフィルム感度SvがISO100（Sv＝５）のと
きに、適切なフィルム感度信号を出力するようになって
おり、これを実現するために補正電圧（I3・Ｒ）を発生
する定電流源I3を可変としている。

上記定電流源I3に並列接続されている定電流源I4,I5
は、シャッターの速度が正常よりも速い、あるいは遅い
ときに上記オペアンプの出力を変えるためのもので、こ
れにより露出のレベルを変えてシャッター速度の異常に
よる露出の誤差を補正するようにしている。

本実施例では、このように露出のレベルを変えて補正
しているので、上記第１の実施例と違ってシャッター速
度を変化させる必要がなく、これによりマイコンμＣの
端子CC1,CC2およびシャッター制御回路内の定電流源I2,
I3、アナログスイッチASW1,ASW2が不要となる。この変
更を第２図に付加したものを第12図に示す。

さらにこれに伴い、マイコンμＣのフローチャート内
での上記第３図（ａ）におけるBv信号入力（＃70）、露
出演算（＃75）、露出演算のサブルーチンを示した第５
図は不要となる。

第３図（ａ）を変更したものを第13図に示す。第13図
では上記２つのステップを消去したが、新たにフィルム
感度信号Svが露出制御回路に必要なので、これをステッ
プ＃67として追加している。

次に変更した部分についての動作を、第６図（ａ）の
ステップ＃1210〜1245の部分を変更した第14図および第
15図を参照して説明する。

ここでの説明は露出制御開始後、最初の開口位置信号
を入力したところから行なう。第14図のステップ＃1135
において、最初の開口位置2Aの信号が入力されると、マ
イコンμＣは開口位置数を示すカウンタＮをリセット
（＃1140）し、タイマーT1をリセットスタートする（＃
1145）。次の開口位置信号2Bを待ち（＃2000）、これが
入力されると、カウンタＮに１を加え（＃2005）、これ
が１か否かを判定する（＃2010）。Ｎ＝１であれば、タ
イマーT1をリセットスタートさせ（＃2015）、露出の制
御の開始をすべく端子TRIを「Ｈ」レベルにし（＃202
5）、第15図のトランジスタTr11をOFFにしてステップ＃
2000に戻る。＃2010においてＮが１でないならば（≧
２）ステップ＃2030に進み、＃2030においてＮ＝２であ
れば、上記タイマーT1を入力し（＃2035）、この計時時
間と内部にメモリーした正常なシャッターが開口位置2B
から2Cまで移動するに要する基準時間とを比較し、|0.5
Ev|の誤差がある場合、適正露出の基準を補正すべく第1
5図のコンパレーターCOMP1の基準入力電圧を変化させる
よう補正信号を出力する（第14図の＃2040）。

具体的には0.5Ev以上オーバーになるとき、第15図に
おける端子CHRE2を「Ｈ」レベルにし、トランジスタTr1
2に流れる電流を減らし、コンパレーターCOMP1の基準入
力電圧を低くしている。ここではI5＝I3としている。逆
に0.5Ev以上アンダーであれば、端子CHRE1を「Ｈ」レベ
ルにしてトランジスタTr12に流れる電流を増加し、コン
パレーターCOMP1の基準入力電圧を高くしている。第14
図に戻って説明を続けると、ステップ＃2040の後、ステ
ップ＃2000に戻り、またステップ＃2030において、Ｎ＝
２でなければ、すなわちＮ≧３であればステップ＃2000
に戻る。

開口位置信号を待っている間に露出適正信号ICLSが入
力されると（＃2045）、マイコンμＣは端子TRI,CHRE1,
CHRE2を全て「Ｌ」レベルにする（＃2050〜2060）。

開口位置信号を待つとともに露出適正信号ICLSが入っ
てこない間に時間T1が所定時間K_Tを経過すると（＃204
7）、ステップ＃1250に進み、以下、第１の実施例と同
様の制御を行なう。この時間K_Tは故障がなければ経過し
得ないような時間、例えば300msとしている。

なお、上記各実施例では、シャッター閉の制御とし
て、バイモルフを短絡させるものを示したが、逆電圧を
印加させるようにしてもよい。

以上のように本実施例は、シャッターの移動速度を検
出し、適正な露出になるようシャッターの駆動速度の補
正、露出時間の補正あるいは露出量を決定するまで基準
電圧を補正するようにしたものであるが、以下にシャッ
ターの速度に応じて時間とシャッターの開口量との関係
で定まる露出量が、どのように変化するかについて第22
図〜第24図を用いて説明する。

ここに、上記第５図のステップ＃1070で求めた露出時
間（これは第６図（ａ）の＃1245で比較される）、ある
いは第15図でコンパレーターCOMP1の出力ICLSが「Ｌ」
から「Ｈ」に変わる時刻（これは第14図の＃2045で比較
される）をＴとする。第22図において、シャッターが理
想的に開いたとき（理想開口曲線）、露出量（これが適
正露出量となる）は、ΔXABの面積になる。いま、シャ
ッターが理想よりも遅く開いた場合（第22図の曲線
ａ）、補正しなければ露出量はΔYABの面積になり、ΔX
AYの面積だけ露出アンダーになる。逆にシャッターが理
想よりも速く開いた場合（第22図の曲線ｂ）、補正しな
ければ露出量はΔZABの面積になり、ΔZAXの面積だけ露
出オーバーになる。

本実施例ではこのような問題をなくし、常に適正露出
が得られるようにしている。すなわち第23図，第24図に
おいて、所定の開口2AになったときにタイマーT1（時間
計時手段）をスタートし、所定の開口2Bになるまでの時
間t1を計時する。そして、所定の開口2Bになるまでの基
準時間τ１（これはマイコンμＣ内のメモリーにメモリ
ーされている）と、計時時間t1を比較手段で比較し、比
較した結果に基いて補正手段でもって露出制御回路に対
し補正を行なうようにしている。

さらにこれに続いて１つの態様として、次の所定の開
口2Cになるまでの時間t2をタイマーで計時する。そし
て、所定の開口2Cになるまでの基準時間τ２と計時時間
t2を比較手段で比較し、その結果に基づいて補正手段で
もって露出制御回路に対し補正を行ない、以下、同様に
動作させる。

また、別の態様として、上記所定の開口2Bになったと
きにタイマーT1をリセットし（第14図の＃2015）、タイ
マーは所定の開口2Bから次の所定の開口2Cになるまでの
時間（t2−t1）を計時する。そして、この計時時間（t2
−t1）と基準時間（τ２−τ１）とを比較手段で比較
し、補正手段でもって露出制御回路に対し補正を行な
う。続いて、タイマーをリセットし、所定の開口2Cから
所定の開口2Dになるまでの時間（t3−t2）を計時し、所
定の開口2Cから次の所定の開口2Dになるまでの基準時間
（τ３−τ２）と計時時間（t3−t2）とを比較手段で比
較し、補正手段でもって露出制御回路に対し補正を行な
う。以下、同様に動作させる。

なお、第23図は上記第１実施例によるバイモルフの駆
動速度を制御する例を示し、第24図は露出誤差を露出時
間で補正する実施例における適正露出の基準露出時間T0
を補正してT1に変えた例を示している。第24図に示す例
は、実際の開口曲線としてシャッターの速度が遅く何ら
の補正を行なわなければ露出アンダーになる場合で、こ
こに適正露出の基準露出時間T0をT1に変更することによ
り、ΔXAB＝ΔＹ′AB′となるようにし、適正露出が得
られるようにしている。

なお、マイコンμＣによる動作手順のフローチャート
を示した第６図（ａ）、第14図における＃1115の“シャ
ッター開”は、シャッター羽根（可動部材）2,4の移動
を開始させる信号を出力する手段の動作に相当し、＃11
35のパルス入力を受け付けるステップは、シャッター羽
根2,4が所定の位置に達したと判断する手段の動作に相
当し、＃1125,＃1130の“20msecWAIT",“PC許可”が上
記判断手段の動作に相当する。

［発明の効果］以上のように本発明によれば、可動部材への移動開始
信号は発生直後から所定時間、可動部材の位置検出信号
が入力されて同部材が所定の位置に達したと判断する手
段の動作を禁止しているので、可動部材の移動開始直後
にノイズ等の影響を受けて誤検出することがなくなり、
可動部材の位置を正確に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の可動部材の位置検出装置をカメラのシ
ャッター装置に適用した場合における制御回路の一実施
例を示すブロック図、第２図は同実施例における電子閃
光装置とシャッター制御回路の詳細を示す構成図、第３
図（ａ）（ｂ），第４図，第５図，第６図（ａ）（ｂ）
（ｃ），第７図，第８図（ａ）（ｂ），第９図，第10図
は本実施例による動作のフローチャート、第11図は本発
明の変形実施例を示す第１図に対応するブロック図、第
12図は同変形実施例による第２図に対応する構成図、第
13図，第14図は同変形実施例における動作のフローチャ
ート、第15図は同変形実施例における露出制御回路の詳
細を示す構成図、第16図は本実施例のシャッター装置の
機構部の一実施例を示す平面図、第17図は第16図のＡ−
Ａ線断面図、第18図は同シャッター機構の概略分解斜視
図、第19図は同シャッター機構の一部の側断面図、第20
図，第21図は同機構におけるバイモルフとシャッター開
閉レバーの係合部の拡大図、第22図，第23図，第24図は
それぞれ本実施例の作用を説明するためのシャッターの
開口時間と開口量の関係図である。 2,4……シャッター羽根、10……光検出素子（検出手
段）、12……開閉レバー、μＣ……マイクロコンピュー
タ、PC……開口位置検出回路（検出手段）、BiC……シ
ャッター制御回路、Bi……バイモルフ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者岩田道広大阪府大阪市東区安土町２丁目30番地大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者辻完房大阪府大阪市東区安土町２丁目30番地大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者大塚博司大阪府大阪市東区安土町２丁目30番地大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者橋本健大阪府大阪市東区安土町２丁目30番地大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内 (72)発明者横山伸一大阪府大阪市東区安土町２丁目30番地大阪国際ビルミノルタカメラ株式会社内

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】可動部材と、上記可動部材の移動を開始さ
せる信号を出力する手段と、上記移動開始信号に応答し
て上記可動部材を移動させる手段と、上記可動部材が所
定の位置に達したときにそれを検出して信号を出力する
検出手段と、上記検出手段が出力した信号を受けて上記
可動部材が所定の位置に達したと判断する手段と、上記
移動開始信号が出力されてから所定時間、上記判断手段
の動作を禁止する手段とを具備したことを特徴とする可
動部材の位置検出装置。
【請求項２】上記検出手段として、光検出素子を用いた
ことを特徴とする請求項１記載の可動部材の位置検出装
置。
【請求項３】上記可動部材はバイモルフ素子の変位もし
くは変形によって駆動されるシャッター羽根であり、上
記移動開始信号はシャッター開信号であり、上記可動部
材を移動させる手段は上記バイモルフ素子に電圧を印加
する手段であることを特徴とした請求項１または２に記
載の可動部材の位置検出装置。