JP2568581Y2 - 試験片支持装置 - Google Patents
試験片支持装置Info
- Publication number
- JP2568581Y2 JP2568581Y2 JP734492U JP734492U JP2568581Y2 JP 2568581 Y2 JP2568581 Y2 JP 2568581Y2 JP 734492 U JP734492 U JP 734492U JP 734492 U JP734492 U JP 734492U JP 2568581 Y2 JP2568581 Y2 JP 2568581Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test piece
- measuring
- indenter
- receiving members
- supporting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、材料試験用試験片の寸
法測定用支持装置に関するものである。
法測定用支持装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】材料試験用の試験片の寸法測定は、従
来、図２に示すように試験片Ｔの両端部をチャック４０
で挟んで板厚、板幅等を測定していた。しかしながら、
引張試験中の試験片の幅寸法変化を測定したいという要
望がある場合は、試験機に試験片を取り付けた状態で幅
寸法を測定するという方式が採用されるようになってい
る。この方式で使用された厚さ測定装置は、図３に示す
ように、１対の板状支持具４１，４１に試験片Ｔを載
せ、中間部の３点の厚みを上下の測寸圧子で測定してい
た。
来、図２に示すように試験片Ｔの両端部をチャック４０
で挟んで板厚、板幅等を測定していた。しかしながら、
引張試験中の試験片の幅寸法変化を測定したいという要
望がある場合は、試験機に試験片を取り付けた状態で幅
寸法を測定するという方式が採用されるようになってい
る。この方式で使用された厚さ測定装置は、図３に示す
ように、１対の板状支持具４１，４１に試験片Ｔを載
せ、中間部の３点の厚みを上下の測寸圧子で測定してい
た。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】上記従来の測定装置で
は、測定時に測寸圧子が試験片に当接した時、試験片が
受け具から浮き上がったり、試験片のバランスが崩れて
傾いたりするため、誤差が発生し、高精度の測定が行わ
れにくいという問題点があった。そこで、本考案は、試
験片の寸法測定に際して誤差の生じにくい支持装置を提
供することを課題としている。
は、測定時に測寸圧子が試験片に当接した時、試験片が
受け具から浮き上がったり、試験片のバランスが崩れて
傾いたりするため、誤差が発生し、高精度の測定が行わ
れにくいという問題点があった。そこで、本考案は、試
験片の寸法測定に際して誤差の生じにくい支持装置を提
供することを課題としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本考案は次のような構成を採用した。すなわち、本
考案にかかる試験片支持装置は、試験片の両端部を載せ
て支持する左右１対の受け具と、該左右１対の受け具の
間隔部にあって該受け具と同レベルでかつ受け具とは独
立に左右に移動自在な測寸圧子とを備え、これら受け具
と測寸圧子とが一体として昇降可能に設けられているこ
とを特徴としている。
め、本考案は次のような構成を採用した。すなわち、本
考案にかかる試験片支持装置は、試験片の両端部を載せ
て支持する左右１対の受け具と、該左右１対の受け具の
間隔部にあって該受け具と同レベルでかつ受け具とは独
立に左右に移動自在な測寸圧子とを備え、これら受け具
と測寸圧子とが一体として昇降可能に設けられているこ
とを特徴としている。
【０００５】
【作用】試験片を１対の受け具と下側の測寸圧子上に載
せ、これら受け具と測寸圧子を一体として上昇させて、
中間部の厚みを下側の測寸圧子と上側の測寸圧子で挟ん
で測定する。測寸圧子は左右に移動可能であるので、異
なる複数点の測定を行うことができる。試験片が受け具
上に載せられた時、その中間部が同レベルの測寸圧子に
よって支持されるので、試験片が常に３点で安定して支
持されることになり、浮き上りや傾きが生じにくく、測
定精度が向上する。
せ、これら受け具と測寸圧子を一体として上昇させて、
中間部の厚みを下側の測寸圧子と上側の測寸圧子で挟ん
で測定する。測寸圧子は左右に移動可能であるので、異
なる複数点の測定を行うことができる。試験片が受け具
上に載せられた時、その中間部が同レベルの測寸圧子に
よって支持されるので、試験片が常に３点で安定して支
持されることになり、浮き上りや傾きが生じにくく、測
定精度が向上する。
【０００６】
【実施例】以下、図面に表された実施例について説明す
ると、図１は本考案の１実施例を表すもので、この試験
片支持装置１は、機枠２に支持プレ−ト３，３が設けら
れ、この支持プレ−ト３にリニアブッシング５がそれぞ
れ取り付けられている。このリニアブッシング５には縦
軸７が支承されており、該縦軸の下端部に横軸９が固着
されている。支持プレ−ト３の下端部には、内側へ張り
出すストッパ１０が設けられている。
ると、図１は本考案の１実施例を表すもので、この試験
片支持装置１は、機枠２に支持プレ−ト３，３が設けら
れ、この支持プレ−ト３にリニアブッシング５がそれぞ
れ取り付けられている。このリニアブッシング５には縦
軸７が支承されており、該縦軸の下端部に横軸９が固着
されている。支持プレ−ト３の下端部には、内側へ張り
出すストッパ１０が設けられている。
【０００７】横軸９の両端部付近には位置決め具１２，
１２が設けられ、これに断面コ字形の受け具１３がそれ
ぞれ固定されている。位置決め具１２は、螺子１４を締
め付けることによって横軸９に固定される雄螺子部材１
５と、該雄螺子部材のねじ部に螺合するナット１６から
なり、前記雄螺子部材のフランジ部とねじ部との間には
断面長方形の嵌合部１７が設けられている。一方受け具
１３には上下方向に長い長穴１３ａが設けられ、この長
穴に前記螺子部材の嵌合部１７が摺動自在に嵌合してい
る。このため、位置決め具１２に対する受け具１３の上
下取り付け位置を調節することができる。
１２が設けられ、これに断面コ字形の受け具１３がそれ
ぞれ固定されている。位置決め具１２は、螺子１４を締
め付けることによって横軸９に固定される雄螺子部材１
５と、該雄螺子部材のねじ部に螺合するナット１６から
なり、前記雄螺子部材のフランジ部とねじ部との間には
断面長方形の嵌合部１７が設けられている。一方受け具
１３には上下方向に長い長穴１３ａが設けられ、この長
穴に前記螺子部材の嵌合部１７が摺動自在に嵌合してい
る。このため、位置決め具１２に対する受け具１３の上
下取り付け位置を調節することができる。
【０００８】横軸９の中間部には、測寸部のフレ−ム２
０に設けられている上下動自在な支持部材２１に取り付
けたリニアブッシング２５が嵌合しており、フレ−ム２
０が横軸９に沿って左右に円滑に移動することができる
ようになっている。リニアブッシング２５には、下側の
測寸圧子２７を支持する支持棒２９が固着されている。
この測寸圧子２７の上端面は、前記受け具１３の試料載
置部上面１３ｂと同レベルとなっている。なお、受け具
１３の下端部の係止部１３ｃは、該受け具が下降した時
ストッパ１０に当接する。前記下側の測寸圧子２７の直
上部には、フレ−ム２０に取り付けた上側の測寸圧子３
０が対向させて設けられている。フレ−ム２０は、横移
動装置３２により、横軸９に沿って所定の位置まで左右
に移動させられ、支持部材２１は、昇降装置３３によっ
て左右の受け具１３，１３、測寸圧子２７等とともに一
体となって昇降させられる。そして、上昇時には、試験
片Ｔが上側の測寸圧子３０に当接した時その上昇が停止
し、上下の測寸圧子２７，３０の間の距離が計測される
ようになっている。
０に設けられている上下動自在な支持部材２１に取り付
けたリニアブッシング２５が嵌合しており、フレ−ム２
０が横軸９に沿って左右に円滑に移動することができる
ようになっている。リニアブッシング２５には、下側の
測寸圧子２７を支持する支持棒２９が固着されている。
この測寸圧子２７の上端面は、前記受け具１３の試料載
置部上面１３ｂと同レベルとなっている。なお、受け具
１３の下端部の係止部１３ｃは、該受け具が下降した時
ストッパ１０に当接する。前記下側の測寸圧子２７の直
上部には、フレ−ム２０に取り付けた上側の測寸圧子３
０が対向させて設けられている。フレ−ム２０は、横移
動装置３２により、横軸９に沿って所定の位置まで左右
に移動させられ、支持部材２１は、昇降装置３３によっ
て左右の受け具１３，１３、測寸圧子２７等とともに一
体となって昇降させられる。そして、上昇時には、試験
片Ｔが上側の測寸圧子３０に当接した時その上昇が停止
し、上下の測寸圧子２７，３０の間の距離が計測される
ようになっている。
【０００９】この試験片支持装置の使用に際しては、受
け具１３の係止部１３ｃがストッパ１０に当接するまで
下降させた左右の受け具１３，１３上に試験片（例えば
ＪＩＳ ５号試験片）を載置する。その時、試験片の中
央部は、下側の測寸圧子２７によって支持される。次に
支持部材２１を試験片Ｔが上側の測寸圧子３０に当接す
るまで上昇させる。この上昇時には、縦軸７がリニアブ
ッシング５に案内されるため、円滑に上昇が行われる。
試験片の上面が上側の測寸圧子３０に当接したら、上下
の測寸圧子２７，３０に挟まれた試験片の厚みを測定す
る。次に測寸圧子２７を下降させ、フレ−ム２０を横移
動させて同様な手順で異なる点の寸法を測定する。この
ようにして、複数の点の寸法を測定することができるの
である。この一連の操作は、図示を省略した制御装置に
よって自動的かつ連続的に行われるが、手動操作で行う
ようにしてもよい。
け具１３の係止部１３ｃがストッパ１０に当接するまで
下降させた左右の受け具１３，１３上に試験片（例えば
ＪＩＳ ５号試験片）を載置する。その時、試験片の中
央部は、下側の測寸圧子２７によって支持される。次に
支持部材２１を試験片Ｔが上側の測寸圧子３０に当接す
るまで上昇させる。この上昇時には、縦軸７がリニアブ
ッシング５に案内されるため、円滑に上昇が行われる。
試験片の上面が上側の測寸圧子３０に当接したら、上下
の測寸圧子２７，３０に挟まれた試験片の厚みを測定す
る。次に測寸圧子２７を下降させ、フレ−ム２０を横移
動させて同様な手順で異なる点の寸法を測定する。この
ようにして、複数の点の寸法を測定することができるの
である。この一連の操作は、図示を省略した制御装置に
よって自動的かつ連続的に行われるが、手動操作で行う
ようにしてもよい。
【００１０】
【考案の効果】以上の説明から明らかなように、本考案
にかかる試験片支持装置は、試験片の左右両端部を受け
具で、中央部を測寸圧子で支持して寸法の測定を行うの
で、試験片の浮き上がり等が生じにくく、高精度に寸法
測定を行うことが可能となった。
にかかる試験片支持装置は、試験片の左右両端部を受け
具で、中央部を測寸圧子で支持して寸法の測定を行うの
で、試験片の浮き上がり等が生じにくく、高精度に寸法
測定を行うことが可能となった。
【図１】本考案の一実施例を表す構成説明図である。
【図２】従来の測定法の説明図である。
【図３】従来の測定法の説明図である。
１ 試験片支持装置 ２ 機枠 ３ 支持プレ−ト ５，２５ リニアブッシング ７ 縦軸 ９ 横軸 ２７ 測寸圧子
Claims (1)
- 【請求項１】 試験片の両端部を載せて支持する左右１
対の受け具と、該左右１対の受け具の間隔部にあって該
受け具と同レベルでかつ受け具とは独立に左右に移動自
在な測寸圧子とを備え、これら受け具と測寸圧子とが一
体として昇降可能に設けられていることを特徴とする試
験片支持装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP734492U JP2568581Y2 (ja) | 1992-01-24 | 1992-01-24 | 試験片支持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP734492U JP2568581Y2 (ja) | 1992-01-24 | 1992-01-24 | 試験片支持装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0559289U JPH0559289U (ja) | 1993-08-06 |
| JP2568581Y2 true JP2568581Y2 (ja) | 1998-04-15 |
Family
ID=11663333
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP734492U Expired - Lifetime JP2568581Y2 (ja) | 1992-01-24 | 1992-01-24 | 試験片支持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2568581Y2 (ja) |
-
1992
- 1992-01-24 JP JP734492U patent/JP2568581Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0559289U (ja) | 1993-08-06 |
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