JP2562299Y2 - 画像読取装置用の照明装置 - Google Patents

画像読取装置用の照明装置

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JP2562299Y2
JP2562299Y2 JP4520792U JP4520792U JP2562299Y2 JP 2562299 Y2 JP2562299 Y2 JP 2562299Y2 JP 4520792 U JP4520792 U JP 4520792U JP 4520792 U JP4520792 U JP 4520792U JP 2562299 Y2 JP2562299 Y2 JP 2562299Y2
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Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この考案は、例えばプリント基板
の配線パターンの欠陥の検査に用いられる、画像読取装
置用の照明装置に関する。
【0002】
【従来の技術】プリント基板の配線パターンの欠陥の検
査等に用いられる画像読取装置用の照明装置の光源に
は、長寿命で安定性が高く保守を要しない発光ダイオー
ド(LED)が一般に用いられる。画像読取装置では2
次元平面に展開された対象物の画像(対象画像)を読み
取る必要があるために、その照明装置は例えば実開昭6
0−192559号公報、特開昭60−257164号
公報に開示されるように、多数のLEDを線状に一方向
に並べた線状光源を備えている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来装置では検査対象物の表面である被照射面におい
て、均一な照度分布が得られないという問題点があっ
た。図5はこの問題点を明確にする実測に関する説明図
である。代表的な従来装置において、図5(a)に示す
ように、複数のLED1を一方向に配列して成る線状光
源2は、その配列の基準線3が被照射面4に平行になる
ように配置され、基準線3と被照射面4との間の距離h
は、h=80mmである。また、線状光源2におけるL
ED1の配列ピッチdは5mmである。図5(b)はこ
の装置について行った実測により得られた、被照射面4
上の線状光源2の基準線3に平行な方向xに沿った照度
分布を示すグラフである。グラフが示すように、照度は
LED1の配列ピッチdに対応したピッチで反復する凹
凸を有しており、極大照度と極小照度の比率は2:1を
超えている。
【0004】照度に凹凸があると対象画像における濃度
情報が正しく得られないため、従来の照明装置を用いた
画像読取装置では、対象画像を読取って得られる画像信
号に、照度の凹凸に対応した補正を施している。すなわ
ち、照度の低い領域に対応する画像信号に対しては適宜
増幅率を高くするような処理が施される。
【0005】しかしながら、高い増幅率で画像信号が増
幅されるときには、画像信号に不可避的に含まれるノイ
ズ信号も、同じく高い増幅率で増幅される。このため従
来の照明装置を用いた画像読取装置では、照度の低い領
域に対応する画像信号においては、他の領域に比べてノ
イズの比率が高くなるという問題点があった。従来装置
では更に、画像信号が2値化処理によりデジタル信号に
変換されたときに、照度が相対的に低い領域に対応する
画像信号に、量子化誤差が過度に含まれるという問題点
があった。
【0006】この考案は、従来装置が有する上記の欠点
を解消することを目指したもので、ほぼ均一な照度分布
が得られる画像読取装置用の照明装置を提供することを
目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この考案にかかる請求項
1に記載の画像読取装置用の照明装置は、画像を読取る
対象物を照明する画像読取装置用の照明装置であって、
(a)線状に配列された複数個の発光ダイオードと、
(b)前記発光ダイオードの照射光が前記対象物へ至る
経路に介在し、以下の条件(b−1)、及び(b−2)
を満たすように、その焦点距離及び前記経路上の位置が
規定される、レンチキュラレンズと、を備えるものであ
る。
【0008】この考案にかかる請求項2に記載の画像読
取装置用の照明装置は、さらに以下の条件(b−3)を
満たすものである。
【0009】この考案にかかる請求項3に記載の画像読
取装置用の照明装置は、さらに以下の条件(b−4)を
満たすものである。
【0010】ここで、上述の条件(b−1)ないし(b
−4)は、(b−1)前記レンチキュラレンズの表面に
おいて凹凸の反復方向が前記発光ダイオードの配列方向
に平行であること、(b−2)前記発光ダイオードの実
質的な光源の位置から前記レンチキュラレンズまでの前
記照射光の経路が、当該レンチキュラレンズから前記光
源の実像を結像する位置までの前記照射光の経路よりも
長いこと、(b−3)前記実像を結像する位置から前記
対象物までの前記照射光の経路の長さが、前記レンチキ
ュラレンズから前記実像を結像する位置までの前記照射
光の経路の長さ以上であること、(b−4)前記レンチ
キュラレンズの凹凸の反復ピッチが前記発光ダイオード
の配列ピッチの3分の1以下であること、である。
【0011】なお、この考案においてレンチキュラレン
ズとは、入射光を1本の線上に集束させる複数の同一構
成のシリンドリカルレンズを、当該線に垂直な方向に沿
って等ピッチで配列した構成を有するレンズをいい、シ
リンドリカルレンズを複数個配列した形状に一体成型し
て成るもの、及び個別のシリンドリカルレンズを単に配
列して成るもの、の双方を含む概念である。
【0012】
【作用】この考案における照明装置では、線状に配列し
た複数個の発光ダイオードからの照射光の経路にレンチ
キュラレンズを配置し、その凹凸の反復方向を発光ダイ
オードの配列方向に平行とし、しかも発光ダイオードの
実質的な光源の位置からレンチキュラレンズまでの経路
が、当該レンチキュラレンズから光源の実像を結像する
位置までの照射光の経路よりも長いので、発光ダイオー
ドの配列密度よりも密度の高い光源の実像が結像され、
これらが2次的な光源となって対象物を照明する。その
結果、対象物上の照度の分布はほぼ均一になる(請求項
1〜請求項3)。
【0013】この考案における照明装置では、更に、実
像を結像する位置から対象物までの照射光の経路が、レ
ンチキュラレンズから前記実像を結像する位置までの経
路以上であるので、対象物上の照度の分布は各2次光源
の拡散分布の重畳効果により、更に均一になる(請求項
2、請求項3)。
【0014】この考案における照明装置では、更に、レ
ンチキュラレンズの凹凸の反復ピッチが前記発光ダイオ
ードの配列ピッチの3分の1以下であるようにレンチキ
ュラレンズが設定されるので、2次的な光源の密度が更
に高くなる。このため、対象物上の照度の分布は更に均
一となる(請求項3)。
【0015】
【実施例】<1.この考案の装置の原理> 図2はこの考案にかかる画像読取装置用の照明装置に用
いられるレンチキュラレンズの一例を示す斜視図であ
る。レンチキュラレンズ5は入射光を線状に集束させる
複数のシリンドリカルレンズ6を、当該線に垂直な方向
7に沿って等ピッチで配列した構成である。複数のシリ
ンドリカルレンズ6は互いに同一構成物であり、従って
互いに同一の焦点距離を有している。図2(a)は、シ
リンドリカルレンズ6を実質的に複数個配列した形状に
一体成型して成るレンチキュラレンズ5の例を示し、図
2(b)は、個別のシリンドリカルレンズ6を単に配列
して成るレンチキュラレンズ5の例を示す。
【0016】図1はこの考案にかかる画像読取装置用の
照明装置の原理を説明する説明図である。LED1を線
状に配列して成る線状光源2と被照射面4の間にレンチ
キュラレンズ5を配置する。線状光源2は、その基準線
3が被照射面4に平行になるように配置される。レンチ
キュラレンズ5は、シリンドリカルレンズ6の配列方向
7(凹凸の反復方向)が線状光源2の基準線3に平行に
なるように配置される。
【0017】LED1は、集光性を向上させるために凸
レンズ状の透明樹脂モールドを有している。このため、
LED1の発光点8からの照射光9は、LED1の表面
で屈折して照射光10となる。このため線状光源2は、
仮想的な点光源11がLED1の配列ピッチと同一のピ
ッチdをもって、基準線3に平行な仮想基準線12上に
配列したものと等価である。
【0018】以上の配置において、仮想基準線12とレ
ンチキュラレンズ5との間の距離a、レンチキュラレン
ズ5の焦点距離fに対して、レンチキュラレンズ5か
ら、
【0019】
【数1】
【0020】の関係を満たす距離bをもって離れた面1
3上に、仮想点光源11の実像が結像される。これらの
実像が、2次的な点光源14となって被照射面4を照明
する。被照射面4上の照度分布を均一化するためには、
2次的な点光源14を緻密に配列することが必要であ
る。
【0021】1個のシリンドリカルレンズ6によって結
像される、複数の仮想点光源11に対応した複数の点光
源14の間隔rは、
【0022】
【数2】
【0023】で与えられる。従来装置におけるよりも均
一な被照射面4上の照度分布を得るためには、
【0024】
【数3】
【0025】であることが要求される。従って、数2の
関係から、
【0026】
【数4】
【0027】であることが条件となる。
【0028】更に、レンチキュラレンズ5におけるシリ
ンドリカルレンズ6の配列ピッチpは、短いほど被照射
面4上の照度分布はより均一となる。実用的には、
【0029】
【数5】
【0030】であれば好ましい結果が得られる。
【0031】また、被照射面4は面13からより遠方に
位置するほど、照度分布はより均一となる。実用的に
は、
【0032】
【数6】
【0033】の条件を満たすことが望ましい。
【0034】<2.実測の結果> 図3は、上述の数4ないし数6の条件を満たす図1の配
置を備える照明装置において、被照射面4上の基準線3
に平行な方向xに沿った、照度分布を測定した結果を示
すグラフである。図3の縦軸と横軸のスケールは図5と
同一である。この照明装置において、LED1の配列ピ
ッチdは、d=5mmであり、基準線3と被照射面4の
間の距離hは、h=80mmである。これらの条件は、
図5に示す実測の条件と同一である。レンチキュラレン
ズ5の焦点距離f、シリンドリカルレンズ6の配列ピッ
チpは、それぞれf=5mm、p=0.5mmに設定さ
れている。
【0035】図3のグラフが示すように照度分布は、図
5に示す従来装置における結果に比べて相当に平坦であ
る。極大照度と極小照度の差の平均照度に対する比率
は、10%未満であり、従来装置における50%を超え
る比率から大きく改善されている。
【0036】<3.装置の構成と動作> 図4は、上述の原理に基づいて構成される、この考案の
一実施例としての照明装置を組み込んだ、プリント基板
の検査に用いられる画像読取装置の断面図である。画像
読取装置50は、照明装置60、撮像部100、及び対
象物載置部70とを備えている。対象物載置部70は、
検査対象物であるプリント基板20を透明ガラス板15
の上に載置し、正及び負のY方向に移動する機構を備え
る。照明装置60は反射照明部200と透過照明部30
0とを備えている。反射照明部200はプリント基板2
0の上方よりプリント基板20に向かって光を照射する
装置であり、透過照明部300はプリント基板20の下
方から光を照射する装置である。撮像部100は、反射
照明部200による照射光がプリント基板20の上面に
おいて反射した反射光と、透過照明部300による照射
光がプリント基板20のスルーホール25などを通過し
た透過光とを光学的に処理して、画像信号を得る装置で
ある。
【0037】反射照明部200の光源である線状光源2
01〜203は、おのおの支持材204〜206を介し
て撮像部本体130に取り付けられている。線状光源2
01〜203は、それぞれX軸の方向(紙面に垂直な方
向)に配列したLEDを備えている。線状光源201〜
203の照射方向の前面に、それぞれレンチキュラレン
ズ207〜209が配置されている。これらのレンチキ
ュラレンズ207〜209は、支持材210〜212を
介して撮像部本体130に固定されている。レンチキュ
ラレンズ207〜209において、これらを構成するシ
リンドリカルレンズはX軸方向に配列している。すなわ
ち、シリンドリカルレンズの配列の方向は、線状光源2
01〜203におけるLEDの配列する方向に平行であ
る。
【0038】線状光源201〜203からの照射光は、
これらレンチキュラレンズ207〜209を経てプリン
ト基板20の上面を照明する。線状光源201からの照
射光は、略水平方向に放出されるために、ハーフミラー
214により一旦その進行方向を変更されて、プリント
基板20の上面を照明する。ハーフミラー214は、支
持材215によって撮像部本体130へ取付られてい
る。プリント基板20を照明する照射光はプリント基板
20の上面で反射し、その反射光が撮像部100へ入射
する。
【0039】透過照明部300は、透過照明部本体30
1に支持材302を介して線状光源303が取り付けら
れている。透過照明部本体301と撮像部本体130と
は、互いに固定的に連結している。線状光源303は、
線状光源201〜203と同様に、X軸の方向に配列し
たLEDを備えている。線状光源303からの照射光
は、線状光源303の前面に配置される全反射ミラー3
04によってその進行方向を変更する。全反射ミラー3
04は、支持材305を介して透過照明部本体301に
固定されている。全反射ミラー304の上方にはレンチ
キュラレンズ306が設けられており、進行方向を変更
した照射光は、このレンチキュラレンズ306を通過し
てプリント基板20の下面を照明する。レンチキュラレ
ンズ306において、これを構成するシリンドリカルレ
ンズはX軸方向、すなわち線状光源303を構成するL
EDの配列方向に平行な方向に配列する。プリント基板
20の下面を照明する照射光は、スルーホール25など
の貫通孔を通過し、透過光として撮像部100へ入射す
る。なお、線状光源201〜203からの照射光と線状
光源303からの照射光とは、互いに波長が異なるよう
に設定されている。
【0040】撮像部100は、これらの反射光及び透過
光を結像レンズ系140で処理し、分離ミラー150で
これら2種類の光を、その波長の差異に基づいて互いに
分離する。分離された反射光はCCDセンサ161によ
り光の強度に対応した電気信号すなわち画像信号PSに
変換し、他方の透過光は同じくCCDセンサ162によ
り画像信号HSに変換される。撮像部100は、Y方向
に移動しつつあるプリント基板20からの、X方向に広
がりを持った反射光及び透過光を逐次、画像信号PS、
HSに変換する。これによって、撮像部100はプリン
ト基板20の基板本体21の上面に形成された配線パタ
ーン22の画像、及びスルーホール25などの画像を表
現する画像信号を得る。なお、対象物載置部70及び撮
像部100、また線状光源201〜203、303につ
いては、同一出願人による特開平4−34345号公報
においてその詳細が開示されている。
【0041】反射照明部200及び透過照明部300に
おける、線状光源201〜203、303、レンチキュ
ラレンズ207〜209、306、及び被照射面4とし
てのプリント基板20の板面の幾何学的な相対位置関
係、並びにレンチキュラレンズ207〜209、306
の焦点距離は、前述の数4〜数6の条件を満たすように
設定されている。従って、撮像部100へ入射する反射
光、透過光は、ともに起伏の小さいX軸方向の照度分布
を有している。撮像部100は、このためCCDセンサ
ー161、162の画像信号にノイズ信号成分が少な
く、かつ量子化を行うに際しての量子化誤差の影響を受
けにくい。
【0042】
【考案の効果】この考案における照明装置では、線状に
配列した複数個の発光ダイオードからの照射光の経路に
レンチキュラレンズを配置し、その凹凸の反復方向を発
光ダイオードの配列方向に平行とし、しかも発光ダイオ
ードの実質的な光源の位置からレンチキュラレンズまで
の経路が、当該レンチキュラレンズから光源の実像を結
像する位置までの光路よりも長いので、発光ダイオード
の配列密度よりも密度の高い光源の実像が結像され、こ
れらが2次的な光源となって対象物を照明する。このた
め、この考案による照明装置では、対象物上の照度分布
がほぼ均一になる効果がある(請求項1〜請求項3)。
【0043】この考案における照明装置では、更に、実
像を結像する位置から対象物までの経路が、レンチキュ
ラレンズから前記実像を結像する位置までの経路以上で
あるので、各2次光源の拡散分布の重畳効果によって、
対象物上の照度分布が更に均一になる(請求項2、請求
項3)。
【0044】この考案における照明装置では、更に、レ
ンチキュラレンズの凹凸の反復ピッチが前記発光ダイオ
ードの配列ピッチの3分の1以下であるようにレンチキ
ュラレンズが設定されるので、2次的な光源の密度が更
に高くなる。このため、この考案による照明装置では、
対象物上の照度分布が更に均一となる効果がある(請求
項3)。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の装置の原理を説明する説明図であ
る。
【図2】この考案の照明装置に用いられるレンチキュラ
レンズの一例を示す斜視図である。
【図3】この考案の実施例に係る照明装置の特性の実測
結果を示すグラフである。
【図4】この考案の実施例に係る照明装置を組み込んだ
画像読取装置の断面図である。
【図5】従来の装置の特性の実測に関する説明図であ
る。
【符号の説明】
1 LED(発光ダイオード) 3 LEDの配列の基準線(発光ダイオードの配列の方
向) 4 被照射面(対象物) 5 レンチキュラレンズ 7 シリンドリカルレンズの配列方向(凹凸の反復方
向) 11 仮想点光源(実質的な光源) 13 結像位置 50 画像読取装置 60 照明装置 d LEDの配列ピッチ p シリンドリカルレンズの配列ピッチ(凹凸の反復ピ
ッチ)

Claims (3)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像を読取る対象物を照明する画像読取
    装置用の照明装置であって、 (a)線状に配列された複数個の発光ダイオードと、 (b)前記発光ダイオードの照射光が前記対象物へ至る
    経路に介在し、以下の条件(b−1)、及び(b−2)
    を満たすように、その焦点距離及び前記経路上の位置が
    規定される、レンチキュラレンズと、 を備える画像読取装置用の照明装置。ここで、前記条件
    (b−1)、及び(b−2)は、 (b−1)前記レンチキュラレンズの表面において凹凸
    の反復方向が前記発光ダイオードの配列方向に平行であ
    ること、 (b−2)前記発光ダイオードの実質的な光源の位置か
    ら前記レンチキュラレンズまでの前記照射光の経路が、
    当該レンチキュラレンズから前記光源の実像を結像する
    位置までの前記照射光の経路よりも長いこと、 である。
  2. 【請求項2】 さらに以下の条件(b−3)を満たす請
    求項1に記載の画像読取装置用の照明装置。ここで、前
    記条件(b−3)は、 (b−3)前記実像を結像する位置から前記対象物まで
    の前記照射光の経路の長さが、前記レンチキュラレンズ
    から前記実像を結像する位置までの前記照射光の経路の
    長さ以上であること、 である。
  3. 【請求項3】 さらに以下の条件(b−4)を満たす請
    求項2に記載の画像読取装置用の照明装置。ここで、前
    記条件(b−4)は、 (b−4)前記レンチキュラレンズの凹凸の反復ピッチ
    が前記発光ダイオードの配列ピッチの3分の1以下であ
    ること、 である。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009294061A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検査装置
US11466837B2 (en) 2019-09-30 2022-10-11 Photonic Endeavours Inc. Linear optical projection device and method of use thereof

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007029377A1 (ja) * 2005-09-08 2007-03-15 Mitsubishi Electric Corporation 画像読取装置
JP5950004B2 (ja) * 2015-07-21 2016-07-13 株式会社アイテックシステム 長尺物の表面をラインセンサカメラを用いて検査する装置における照明装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009294061A (ja) * 2008-06-05 2009-12-17 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検査装置
US11466837B2 (en) 2019-09-30 2022-10-11 Photonic Endeavours Inc. Linear optical projection device and method of use thereof

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