JP2559113B2

JP2559113B2 - 三次元測定機における測定情報生成方法

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Publication number: JP2559113B2
Application number: JP62040566A
Authority: JP
Inventors: 秀夫岩野; 聰一門脇
Original assignee: Mitutoyo Corp
Current assignee: Mitutoyo Corp
Priority date: 1987-02-23
Filing date: 1987-02-23
Publication date: 1996-12-04
Anticipated expiration: 2011-12-04
Also published as: JPS63206608A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、測定対象物と測定子とを相対移動させる本
体を測定情報に従って駆動させるとともに、測定対象物
と測定子との相対移動変位量を利用して測定対象物の形
状、寸法を測定する三次元測定機における測定情報生成
方法に関する。

〔背景技術とその問題点〕

従来の三次元測定機の１つの形態は、測定子と測定対
象物とを三次元軸方向に相対移動させつつその相対移動
量を検出する本体と、内蔵する測定手順プログラムによ
って所定の手順に従ってその両者を相対移動するために
本体を駆動制御するとともに前記相対移動量等から測定
対象物の形状寸法を求めるための制御装置とから構成さ
れ、測定プログラムは基準測定対象物を用いて希望する
実際の測定手順を行いつつ取り込んだデータから作成す
るいわゆるプレイバック方式によって作成されていた。
従って、精巧な基準測定対象物の製作が必須となりかつ
その製作後でなければ測定手順プログラムを作成できな
いので極めて時間的、経済的損失の大きい欠点を有して
いた。

ここに、本出願人はその欠点除去のために基準測定対
象物を製作しなくとも測定手順プログラムを作成するこ
とができるような測定手順教示手段を備えた三次元測定
機を先に提案した。

しかしながら、測定手順教示手段の上記欠点を解消す
る形状図形データ生成方法すなわち基準測定対象物を製
作しなくとも測定対象物の三次元的形状を生成する方法
によっては作業が複雑となりまた高度の熟練と長時間を
必要とし必ずしも所期の効果を発揮することが難しいと
いう問題があった。

〔発明の目的〕

本発明は、多様な測定対象物の形状相当の形状図形デ
ータを迅速かつ正確に生成することができ、しかも、そ
の形状図形データを基に生成した相対移動系路を含む測
定情報によって測定したときに生じる干渉の有無を簡単
にチェックすることができる三次元測定機における測定
情報生成方法を提供することを目的とする。

〔問題点を解決するための手段および作用〕

本発明は、測定手順教示手段の実効を期するには測定
対象物形状相当の形状図形データの生成が最重要事項で
あるとの認識に基づいて創成したものである。

すなわち、第１発明は、測定対象物と測定子とを三次
元方向に相対移動可能に形成した本体と、この本体を測
定情報に従って駆動させるとともに測定対象物と測定子
との相対移動変位量を利用して測定対象物の形状、寸法
を測定する制御装置とを有する三次元測定機における測
定情報生成方法において、基本線を平行移動または回転
による掃引を施して測定面形状図形を生成し、次いで、
複数の測定面形状図形を組み合わせて立体図形を構築し
て前記測定対象物の形状相当の形状図形データを生成す
る工程と、この形状図形データを基に、測定評価目的、
測定位置および測定点数を含む測定条件を加味して前記
測定対象物と測定子との相対移動系路を含む測定情報を
生成する工程と、前記測定対象物の形状相当の形状図形
データおよび前記測定氏の形状を単純化した形状図形に
置換し、この単純形状図形どうしにより前記工程で生成
された測定情報の相対移動系路における前記測定対象物
と測定子との干渉の有無をチェックする干渉チェック工
程と、を有することを特徴としている。

また、第２発明は、測定対象物と測定子とを三次元方
向に相対移動可能に形成した本体と、この本体を測定情
報に従って駆動させるとともに測定対象物と測定子との
相対移動変位量を利用して測定対象物の形状、寸法を測
定する制御装置とを有する三次元測定機における測定情
報生成方法において、寸法がパラメータとされた基本図
形を生成し、次いで、登録された基本図形のパラメータ
の一部または全部に設定データに基づいて所定寸法値を
指定して測定面形状図形を生成し、その後複数の測定面
形状図形を組み合わせて前記測定対象物の形状相当の形
状図形データを生成する工程と、この形状図形データを
基に、測定評価目的、測定位置および測定点数を含む測
定条件を加味して前記測定対象物と測定子との相対移動
系路を含む測定情報を生成する工程と、前記測定対象物
の形状相当の形状図形データおよび前記測定子の形状を
単純化した形状図形に置換し、この単純形状図形どうし
により前記工程で生成された測定情報の相対系路におけ
る前記測定対象物と測定子との干渉の有無をチェックす
る干渉チェック工程と、を有することを特徴としてい
る。

従って、第１発明によれば、例えば、直線や曲線から
なる基本線を平行移動または回転するいわゆる掃引を施
して多様な測定面形状を生成し、次いで、生成された複
数の測定面形状図形を組み合わせて立体図形を構築する
ことによって、未製作の測定対象物の形状と同一の形状
図形データを生成することができる。

また、第２発明によれば、代表的基本図形を生成かつ
登録しておき、その基本図形のパラメータである寸法を
所望値に指定すれば、基本図形と類似する形状あるいは
拡大縮小した形状の各種測定面形状図形を生成すること
ができ、その後生成された複数の測定面形状を組み合わ
せて立体図形を構築することによって、未製作の測定対
象物の形状と同一の形状図形データを生成することがで
きる。

また、第１および第２発明は、ともに、測定対象物の
形状相当の形状図形データおよび測定子の形状を単純化
した形状図形に置換し、この単純形状図形どうしによ
り、生成された測定情報の相対移動系路における測定対
象物と測定子との干渉の有無をチェックするようにして
いるから、両者の干渉の有無を短時間でチェックでき
る。つまり、測定対象物の形状相当の形状図形データお
よび測定子の形状をそのまま用いると、それらの形状図
形の凹凸などによってチェックに時間、労力がかかる
が、本発明のようにすれば、単純化されているから干渉
の有無を短時間でチェックできる。

〔実施例〕

本発明に係る測定情報生成方法をこれを実施するため
の三次元測定機とともに図面を参照して詳細に説明す
る。

本実施例では第３図、第４図に示したように本体31と
制御装置51と測定手順教示手段10とから三次元測定機30
が構成され、また測定手順教示手段10に設計データを入
力する手段としての補助手段60が設けられている。

まず、本31は、基台32と、基台31の両側に立設された
支柱34,34と支柱34,34間に渡架された梁部材35と、この
梁部材35を図でＸ方向に摺動自在に装着されたＸスライ
ダ36と、このＸスライダ36に一体的に取り付けられたＺ
案内ボックス37と、Ｚ案内ボックス37に図でＺ方向に摺
動案内されたスピンドル38と、基台32上を図でＹ方向に
往復移動可能に設けられた載物台42と、載物台42の下方
に収容された主にＹ方向駆動手段やＹ方向変位検出器等
の防塵を行うための側板33,33、蛇腹46と、スピンドル3
8の下端側に取り付けられる測定子45を有するタッチ信
号プローブ44とから形成されていた。なお、43は複数種
のタッチ信号プローブ44,44,44,…を保持するためのプ
ローブ支持枠であり、この例示で図示省略したプローブ
自動着脱装置によってスピンドル38にタッチ信号プロー
ブ44が自動交換されるものとされている。

また、制御装置51は模式的に表現した制御ユニット52
と各種設定、指令等を行うためのコンソール（図示省
略）と、測定結果を出力するタイプライタ、CRT等から
形成された出力装置54とから形成され、制御ユニット52
には測定子45と載物台42に取り付けられた測定対象物１
との関係すなわち、両者45,1との関与位置や点数、両者
45,1の相対移動変位量から形状、寸法の測定値を求める
所定の測定手順プログラムが格納されていた。

従って、載物台42に測定対象物１を取り付けるととも
に制御装置51の制御ユニット52に当該測定対象物１に対
応する測定手順プログラムをセットした後自動運転を開
始すると、載物台42、Ｘスライダ36、スピンドル38が所
定の手順で駆動され、測定子45と測定対象物１は三次元
（X,Y,Z）方向に相対移動されつつ所定の測定面におい
て両者45,1が順序関与（この例示ではタッチ信号プロー
ブ44ゆえ、両者45,1が当接）する。ここに、制御装置51
では、両者45,1が関与したときにプローブ44から発生さ
れるタッチ信号に基づいて両者45,1の相対移動量を特定
するとともに測定手順プログラムに従って測定対象物１
の形状、寸法等の測定値を高精度で求めることができる
よう構成されている。

なお、例えば、載物台42が固定の場合、測定子45が光
学式非接触方式の場合等本体31の形式が異なった場合に
も機能的には同様に構成される。

さて、測定手順教示手段10は基準測定対象物を利用し
て見本測定を行わなくとも制御装置51で測定手順プログ
ラムを作成することのできるようなデータすなわち測定
情報を生成しかつ出力するもので、大別して入力装置11
と三次元測定支援装置21とから形成されている。

そして、三次元測定支援装置21は、この実施例では中
央処理システムとして有機的、一体的に形成されたCAD
パート22および測定パート24と、各種データベース26,2
7,28と、制御装置51と接続されたポストプロセッサ29と
から構成されている。

ここに、本第１発明および第２発明を実施するための
CADパート22は、設定データを変換して測定対象物１の
形状相当の形状図形データを生成するための図形処理機
能を有する。すなわち、従来の如く基準測定対象物を製
作しなくとも当該素鵜丁対象物の形状と等しい形状図形
を生成しようとするもので、後記の測定パート24と独立
的に機能することができる。つまり測定データベースを
作成するものである。具体的には、立体形状図形生成機
能、面形状図形生成機能、パラメトリック図形生成機能
を含み図形処理機能が形成されてい。また、公差属性機
能等が付設されている。

さて、面形状図形生成機能は、直線、直線と曲線との
組合せあるいは曲線からなる基本線80を第１図（Ａ）に
示した如く平行移動させあるいは同（Ｂ）の如く回転さ
せることによって掃引し、基本的な測定面に相当する面
形状図形を生成するものである。従って、第１図に示す
形状図形の他、第６図（Ａ）〜（Ｄ）に例示したような
二次元、三次元的な多様な面形状図形を生成することが
できる。なお、図示省略したが面形状図形生成機能には
点や線を結んで面形状図形を生成する連結方式の機能を
も備えられ、生成すべき図形によって上記掃引方法と選
択的または組み合わせて使用することができる。また、
立体形状図形生成機能は、面形状図形を適宜選択組み合
わせて、例えば、第７図に示されたように直方体形状２
と円筒形状３との組み合わせの如く、直径Ｄの貫通穴が
設けられた測定対象物形状相当の立体形状図形を構築生
成することができる。ここに、第１発明の形状図形生成
方法が実施できる。

また、第２発明の形状図形生成方法を実施するため
に、この実施例では、実際の測定対象物１の一部分また
は全体の形状には類似形ないし拡大、縮小形の多いこと
に着目し迅速処理の実効を期して上記パラメトリック図
形生成機能が設けられ、この機能は寸法がパラメータと
された基本図形（パラメトリック図形）を登録してお
き、そのパラメータ変更設定を行い類似形を生成するこ
とができる。例えば、第２図（Ａ）に示した直方体２は
矩形平面（ａ×ｂ）５を基本図形とし、これにパラメー
タｃを指定することによって生成され、同（Ｂ）は輪ま
たは円板６を基本図形としパラメータＺを指定すること
によって円柱体または円筒外周面を生成する例でもあ
る。またこの機能は同（Ｃ）に示したように複数の基本
図形を組み合わせたものについても適用ある。さらに、
基本図形の多くは前記面形状図形生成機能で生成され
る。

また、公差属性機能は、前記各機能では幾何学的な図
形を完成することができるが、これのみによっては実際
の測定対象物１の形状と合一しない場合があり得ること
を考慮して、測定対象物１の寸法・角度公差あるいはJI
Sで定められた幾何公差等を容易かつ有機的に付加でき
るようにして実際的、図形を生成しようとするものであ
る。従って、公差相当の寸法が異なる図形の全てを都度
に生成する必要が省ける。なお公差情報の検索もでき
る。

一方、測定パート24は、CADパート22と独立的に作動
可能であるとともに密接な連関をもちCADパート22で生
成された測定対象物形状相当の形状図形公差情報を参照
しつつ、詳細後記の入力装置11から設定された測定評価
目的、測定市、測定点数等々の測定条件に基づいて測定
子45と測定対象物１との相対移動系路等を含む測定情報
を生成する。つまり、ポストプロセッサ29を介し制御装
置51に出力すれば制御装置51では従来のプレイバック方
式等により基準測定対象物を利用して作成したと同様な
測定手順プログラムを作成できるに十分な測定情報を生
成することができる。

とりわけ、この実施例の測定パート24には測定子動作
シュミレーション機能、自動干渉チェック機能、情報編
集機能、測定点数自動配置機能および測定マクロ機能が
設けられている。測定子動作シュミレーション機能は入
力装置11の一部であるディスプレイ12に前記移動系路等
を表現出力できるとともにキーボード13等の操作により
その移動系路を修正等することもできる。自動干渉チェ
ック機能は以下の目的で設けられている。一般的に測定
点数が1000点に近い多数であること、測定対象物１の形
状は複雑多岐であること、測定子45を含むタッチ信号プ
ローブ44の形状も交換変更されること等を勘案するとい
かに慎重に最短移動系路を決定しても測定の実際にあっ
ては測定子45と測定対象物１とが衝突、接触等干渉する
場合がある。干渉が生じたのでは測定子等を破損するば
かりか測定を中断しなければならない。このことは測定
効率を向上させるには測定子45と測定対象物１との相対
移動速度ないし時間を最短とすべしとする周知事項を遵
守するときに比較的生じ易い問題である。ここに、本実
施例では、前記CADパート22で生成された測定対象物１
の形状相当の立体図形（形状図形）および測定子等形状
をそれぞれ一層単純な形状図形に置換し、この単純形状
図形同志により両者45,1の干渉の有無を評価できるよう
に自動干渉チェック機能が形成されている。これを第８
図、第９図を参照して詳述すると、第８図（Ａ）が測定
子45およびスピンドル38の実際形状、同（Ｂ）が測定対
象物１の実際形状とされると、第９図に示した如く単純
形状8,9と置換し両者45,1等の干渉をチェックできる。
つまり、第８図に示された実際形状で凹凸等があり、こ
れに習って干渉チェックをしたのでは時間労力が膨大と
なってしまう。そこで、例えば、第９図の如く測定子45
の形状をその軸線８で置換し、測定対象物１の形状を基
準三次元（X,Y,Z）座標軸に平行な面から形成された直
方体９で置換してチェックできるようにすれば安全確実
な評価を迅速に行うことができるわけである。なお、置
換すべき形状は測定対象物等の形態により任意に選択で
きる。また、測定点数自動配置機能は複数の測定点があ
るときに所定の精度で測定できる最適な位置で両者45,1
が関与できるよう自動的に配置しようとするものであ
る。例えば、穴の直径およびその軸心を求めるときに三
点法による３つの測定点数を指示すれば穴の内側に120
度間隔で自動配置される。情報編集機能は、箇々にある
いはグループとして生成された測定情報を測定の実際に
応じ、多くは時系列的に編集する機能である。さらに、
測定マクロ機能は同一、類似等形状の測定手順をマクロ
として登録しておきそれを繰り返し利用することによっ
て測定情報の迅速作成を達成するものである。これは使
用者の固有的な測定基準に合った測定位置や点数の決定
方法、その他ノウハウ等をまデシジョン・ルールとして
登録利用することにも利用できる。

なお、CADデータベース26、マクロデータベース27、
測定データベース28は全体として処理の簡単化、迅速可
ならびに記憶要素として機能させるためのものである。

一方、入力装置11は、CADパート22、測定パート24を
一体的とした中央処理システムと会話方式によってそれ
るパート22,24を所定動作させるための諸元諸量を選
択、指令、設定ならびに確認するためのものであり、第
４図、第５図に示したようにキーボード13、入力板16、
入力ペン17等から構成される。従って、測定評価目的、
測定位置、測定点数等を設定等することができる。入力
板16と入力ペン17による設定等の機能は第５図に示す如
くある。また、ディスプレイ12に表示された図形を直接
ヒットしたりすることができる。

また、補助手段60は、一般的に設計工程、加工工程に
関する処理を行うCADシステム61、データベース62およ
び補助ファイル63からなり、本実施例においては数字、
記号で表現されたような具体的図形でない設計データを
直接的に三次元測定支援装置21に入力できるよう設けら
れたものである。測定工程に関する処理を含まない一般
的市販品につき詳細説明は省略する。

次にこの実施例の作用について説明する。

なお、便宜的に時間要素は省略し構成要素に関連して
説明するものとする。

（設定等）測定手順教示手段10の入力装置11によって行う。

キーボード13、入力板16と入力ペン17を操作し、また
ときにディスプレイ12も利用する。

（１）測定開始条件の設定新規に測定情報を作成するときには測定データベース
28から当該データを、また追加、挿入等の場合には編集
の対象である既存のデータを呼び出し宣言することによ
りオペレーション開始条件が成立する。

（２）基本条件の設定測定作業に必要な形式等測定機や測定子に係る情報、
座標系の情報、公差等級の情報等の基本条件を選択、設
定する。

（３）測定評価目的の設定測定対象物の測定面を指定するとともに評価目的を設
定する。代表的な測定評価目的を挙げれば下記を通りで
ある。

（ａ）位置、位置差（ｂ）距離（投影距離、空間距離）（ｃ）角度（実角度、投影角度、空間角度）（ｄ）固有量照合（径、円錐テーパー角度）（ｅ）幾何偏差照合（真直度、平面度等々）（ｆ）姿勢偏差照合（平行度、直角度等々）（ｇ）振れ偏差照合（円周振れ）（４）測定方法の設定上記で設定された測定評価情報を測定子45と測定対象
物１とを相対移動させる移動系路を決定するために、さ
らに以下のような具体的事項を設定、指令等する。

（ａ）測定点数の設定（ｂ）測定範囲の指定これは、加工により生じたまたは生じる虞れのある測
定対象物の“だれ”、“かえり”、“中高”あるいは
“中凹”等領域に対する処置策として有効である。

（ｃ）測定位置の決定よおび指示（ｄ）測定子の誘導条件の指示（ｅ）干渉チェック機能を選択、指定（５）測定情報の編集（形状図形の作成）入力装置11の操作により、CADシステム61を含む補助
手段60からの設定データ（図形イメージ）を入力とし図
形処理機能（面形状図形生成機能、立体形状図形生成機
能、パラメトリック図形生成機能、公差属性機能）でそ
れを変換しつつ測定データベースである測定面すなわち
測定対象物１の形状相当の三次元的形状図形をCADパー
ト22によって作成する。

すなわち、登録された直線、曲線あるいは直線と曲線
との組み合わせからなる基本線80を第１図（Ａ）に示し
たように平行移動させあるいは同（Ｂ）に示したように
回転させることによって掃引し基本的な測定面に相当す
るところの第１図に示す形状図形の他、第６図（Ａ）〜
（Ｄ）に例示したような各種の測定面形状図形を面形状
図形生成機能で生成する。次いで、立体形状図形生成機
能によって複数の測定滅形状を適宜選択しつつ組み合わ
せ、例えば第７図に示したように直方体形状２と円筒形
状３との組み合わせの如く直径Ｄの貫通穴が設けられた
測定対象物形状相当の立方形状図形を構築生成する。こ
のように第１発明では、単純な基本線80を掃引して部分
的要素である測定面形状図形を簡単に生成しこれら測定
面形状図形の組み合わせによって正確な測定対象物の形
状相当の形状図形データを迅速に構築することができ
る。

さらに、測定対象物１の一部分（測定面）または全体
の形状が類似形状あるいは拡大、縮小形を多く含む場合
にはパラメトリック図形生成機能を利用して能率のよい
測定面形状図形ないし立体形状図形を生成する。これは
第２図に示したように登録された基本図形（パラメトリ
ック図形）のパラメータである寸法を設定することによ
り、例えば第２図（Ａ）に示した矩形平面（ａ×ｂ×
ｃ）５のパラメータｃを設定し直方体２を生成する。同
様に同（Ｂ）に示したように輪または円板６とされた基
本図形のパラメータＺを設定して円柱体（または円筒外
周面）を生成する。また同（Ｃ）に示したように複数の
基本図形を組み合わせて一層複雑な具体的立体図形を生
成することができる。

（測定情報の作成）測定情報は、入力装置11の前記測定条件に基づきかつ
各データベース26,27,28のデータベースを適宜利用しな
がら測定パート24によって作成する。

測定パート24では、CADパート22と有機的に作用しつ
つ設定された前記基本条件、測定評価目的、測定点数、
測定範囲等に基づいて与えられた測定点数を満足するよ
うに測定範囲内に測定位置を自動決定するとともに測定
子45と測定対象物１（相当形状図形）との移動系路（プ
ローブ・パス）の決定を行う。これは、前記測定子45の
誘導条件の指示により“イニシャル平面”、“リトラク
ト平面”等の中間経由平面を利用して効率的に行われ
る。また、異なる測定評価でも部分的移動系路を共有し
作業能率を上げながら実行できる。この際、移動系路決
定に対しては、アニメーション機能を有するプローブ動
作シュミレーション機能を利用することが有効である。
グラフィック・ディスプレイ12を利用して目視確認もで
きる。

また、自動干渉チェック機能により測定子45と測定対
象物１の干渉の有無がチェックされるので実用的信頼性
の高い移動系路が確立できる。なお、自動干渉チェック
機能には全体としてあるいは段階的なチェックもするこ
とができ、さらに目視確認、自動計算等によっても静的
および動的なチェックができるよう形成されているので
要部を重点的に効率よくチェックできる。

このようにして、測定手順教示手段10は前記編集操作
により測定情報データの時系列管理を利用して、変更、
削除、挿入等を行い実用的測定情報を編集し、その後CA
Dデータベース26で当該三次元測定機処理系の命令に変
換しつつポストプロセッサ29を介し出力すれば、これを
受けた制御ユニット52に測定手順プログラムを格納する
ことすなわち測定手順を教示することができる。

かくして、三次元測定機30は、基準測定対象物ないし
実際の測定対象物を製作し利用しないで作成された測定
手順教示手段10から教示された測定手段に基づいて迅速
で正確な測定対象物１の測定、検査を行うことができ
る。

従って、この実施例によれば、CADパート22において
各種の測定面形状図形が基本線80の掃引またはパラメー
タ指定によって生成することができかつこのように生成
された測定面形状図形を組み合わせによって立体図形を
形成すればそのまま測定対象物の形状と等しい形状図形
データを容易かつ迅速に生成することができるので測定
対象物を利用しなくとも測定手順プログラムのための測
定情報を教示するという測定手段教示手段10の実効を飛
躍的に高められる。

また、CADパート22は、測定パート24と独立形式に形
成され、また測定手順教示手段10は制御装置51と分離し
て作動させることができるから実際の測定作業中におい
ても基本線の掃引または基本図形のパラメータ指定およ
び組み合わせにより多種多用の形状図形データを何時で
も生成しておくことができる。

なお、以上の実施例において基本線な直線と曲線とこ
れらの組み合わせに係る一体不可分的なものとしたが、
各部分が分離していたり対をなすよ形成したものであっ
てもよい。また、基本図形は上記開示に限定されず、さ
らに、パラメータは例えば立方体におけるる各辺寸法に
限らずその対角線等と適宜に定めることができる。

〔発明の効果〕

本発明は、多様な測定対象物形状相当の形状図形デー
タを迅速かつ正確に生成することができるから、測定対
象物を製作しなくとも測定手順プログラムを作成するた
めの測定手順を教示するという測定手順教示手段の実効
を飛躍的に向上できるという優れた効果を有する。ま
た、測定対象物の形状相当の形状図形データおよび測定
子の形状を単純化した形状図形に置換し、この単純形状
図形どうしにより両者の干渉の有無をチェックするよう
にしたから、形状図形データを基の生成した相対移動系
路を含む測定情報によって測定したときに生じる干渉の
有無を簡単にチェックすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は第１発明に係る測定情報生成方法の実施例を示
す説明図であって（Ａ）は平行移動による掃引の場合、
（Ｂ）は回転による掃引の場合を示す、第２図は第２発
明に係る測定情報生成方法の一実施例を示す説明図、第
３図は本両発明に係る測定情報生成方法を実施するため
の三次元測定機の全体構成図、第４図は同じく外観斜視
図、第５図は同じく入力装置の入力板の平面図、第６図
は同じくCADパートで生成した形状図形を示す外観図、
第７図は同じくCADパートにおける組合方式により生成
された形状図形を示す外観図、第８図は同じく測定子お
よび測定対象物の外観斜視図、第９図は同じく第８図に
対応させた置換後の外観斜視図である。１……測定対象物、５……基本図形である矩形平面、６
……基本図形である輪または円板、10……測定手順教示
手段、11……入力装置、21……三次元測定支援装置、22
……CADパート、24……測定パート、30……三次元測定
機、31……本体、45……測定子、51……制御装置、80…
…基本線。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献特開昭61−114121（ＪＰ，Ａ) 山口富士夫「ＣＡＤ／ＣＡＭ入門」工業調査会1986年５月30日（６版発行）ＰＰ．69−85

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】測定対象物と測定子とを三次元方向に相対
移動可能に形成した本体と、この本体を測定情報に従っ
て駆動させるとともに測定対象物と測定子の相対移動変
位量を利用して測定対象物の形状、寸法を測定する制御
装置とを有する三次元測定機における測定情報生成方法
において、基本線を平行移動または回転による掃引を施して測定面
形状図形を生成し、次いで、複数の測定面形状図形を組
み合わせて立体図形を構築して前記測定対象物の形状相
当の形状図形データを生成する工程と、この形状図形データを基に、測定評価目的、測定位置お
よび測定点数を含む測定条件を加味して前記測定対象物
と測定子との相対移動系路を含む測定情報を生成する工
程と、前記測定対象物の形状相当の形状図形データおよび前記
測定子の形状を単純化した形状図形に置換し、この単純
形状図形どうしにより前記工程で生成された測定情報の
相対移動系路における前記測定対象物と測定子との干渉
の有無をチェックする干渉チェック工程と、を有することを特徴とする三次元測定機における測定情
報生成方法。
【請求項２】前記特許請求の範囲第１項記載の三次元測
定機における測定情報生成方法において、基本線が直線
または曲線とされていることを特徴とする三次元測定機
における測定情報生成方法。
【請求項３】前記特許請求の範囲第１項記載の三次元測
定機における測定情報生成方法において、基本線が直線
と曲線の組み合わせとされていることを特徴とる三次元
測定機における測定情報生成方法。
【請求項４】測定対象物と測定子とを三次元方向に相対
移動可能に形成した本体と、この本体を測定情報に従っ
て駆動させるとともに測定対象物と測定子との相対移動
変位量を利用して測定対象物の形状、寸法を測定する制
御装置とを有する三次元測定機における測定情報生成方
法において、寸法がパラメータとされた基本図形を生成し、次いで、
登録された基本図形のパラメータの一部または全部に設
計データに基づいて所定寸法値を指定して測定面形状図
形を生成し、その後複数の測定面形状図形を組み合わせ
て前記測定対象物の形状相当の形状図形データを生成す
る工程と、この形状図形データを基に、測定評価目的、測定位置お
よび測定点数を含む測定条件を加味して前記測定対象物
と測定子との相対移動系路を含む測定情報を生成する工
程と、前記測定対象物の形状相当の形状図形データおよび前記
測定子の形状を単純化した形状図形に置換し、この単純
形状図形どうしにより前記工程で生成された測定情報の
相対移動系路における前記測定対象物と測定子との干渉
の有無をチェックする干渉チェック工程と、を有することを特徴とする三次元測定機における測定情
報生成方法。