JP2557393B2 - 眼科測定装置 - Google Patents
眼科測定装置Info
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- JP2557393B2 JP2557393B2 JP62156660A JP15666087A JP2557393B2 JP 2557393 B2 JP2557393 B2 JP 2557393B2 JP 62156660 A JP62156660 A JP 62156660A JP 15666087 A JP15666087 A JP 15666087A JP 2557393 B2 JP2557393 B2 JP 2557393B2
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- light
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は眼科測定装置、さらに詳細にはレーザー光を
光学系を通して眼内特に前房の所定の点に照射し、その
眼内からのレーザー散乱光を検出して眼科疾患を測定す
る眼科測定装置に関するものである。
光学系を通して眼内特に前房の所定の点に照射し、その
眼内からのレーザー散乱光を検出して眼科疾患を測定す
る眼科測定装置に関するものである。
［従来の技術］ 前房内の浮遊物数測定は眼内炎症即ち血液房水棚を判
定する上で極めて重要である。従来は細隙灯顕微鏡を用
いてのグレーティングによる目視判定が繁用されている
一方、定量的な方法としては写真計測法が報告されてい
るが容易に臨床応用出来る方法は未だ出来ていない。
定する上で極めて重要である。従来は細隙灯顕微鏡を用
いてのグレーティングによる目視判定が繁用されている
一方、定量的な方法としては写真計測法が報告されてい
るが容易に臨床応用出来る方法は未だ出来ていない。
［発明が解決しようとする問題点］ 従来の目視判定では個人差により判定基準が異なりデ
ータの新憑性に欠けるという問題点があるので、これを
解決するためにレーザー光を眼内に照射し、そこからの
散乱光を受光しそれを解析することにより前房内の浮遊
物の数を定量化することが行なわれている。しかし、従
来の方法では測定部の体積が限定され、測定精度が悪く
なるという問題があった。
ータの新憑性に欠けるという問題点があるので、これを
解決するためにレーザー光を眼内に照射し、そこからの
散乱光を受光しそれを解析することにより前房内の浮遊
物の数を定量化することが行なわれている。しかし、従
来の方法では測定部の体積が限定され、測定精度が悪く
なるという問題があった。
従って本発明はこのような問題点を解決するためにな
されたもので、簡単な方法でしかも精度よく眼内浮遊物
を測定することが可能な眼科測定装置を提供することを
目的とする。
されたもので、簡単な方法でしかも精度よく眼内浮遊物
を測定することが可能な眼科測定装置を提供することを
目的とする。
［問題点を解決するための手段］ 本発明は、上述の問題点を解決するために、レーザー
光源からの光を眼内の所定の点に集光させるレーザー投
光部と、集光されたレーザー光を水平及び垂直方向に走
査する手段と、眼内からのレーザー散乱光を所定幅のス
リットと有するマスクを介して受光する光電変換素子
と、光電変換素子からの信号を処理して眼内浮遊物数を
演算処理する手段とを設け、前記レーザー光の垂直方向
の走査幅を前記スリットの垂直方向の幅より小さく設定
する構成を採用した。
光源からの光を眼内の所定の点に集光させるレーザー投
光部と、集光されたレーザー光を水平及び垂直方向に走
査する手段と、眼内からのレーザー散乱光を所定幅のス
リットと有するマスクを介して受光する光電変換素子
と、光電変換素子からの信号を処理して眼内浮遊物数を
演算処理する手段とを設け、前記レーザー光の垂直方向
の走査幅を前記スリットの垂直方向の幅より小さく設定
する構成を採用した。
［作用］ このような構成では、レーザー光を二次元的に走査さ
せることになるので、測定体積が増加し、測定精度が向
上する。また、レーザー光の垂直方向の走査幅がスリッ
トの垂直方向の幅よりも小さいので、眼内反射光などの
ノズル成分が少なくなり、眼科測定精度が向上する。
せることになるので、測定体積が増加し、測定精度が向
上する。また、レーザー光の垂直方向の走査幅がスリッ
トの垂直方向の幅よりも小さいので、眼内反射光などの
ノズル成分が少なくなり、眼科測定精度が向上する。
［実施例］ 以下、図面に示す実施例に基づき本発明を詳細に説明
する。
する。
第１図〜第３図には本発明に係わる眼科測定装置の概
略構成が図示されており、同図において符号１で図示す
るものは、ヘリウムネオン、アルゴン等で構成されるレ
ーザー光源で、このレーザー光源１は架台２上に配置さ
れる。レーザー光源１からの光はレーザー用フィルタ
３、垂直走査用ミラー４、水平走査用ミラー４′、プリ
ズム５、プリズム６、レンズ７、ビームスプリッタ８、
レンズ９、プリズム10を介して被検眼11の前房11aの１
点に集光される。
略構成が図示されており、同図において符号１で図示す
るものは、ヘリウムネオン、アルゴン等で構成されるレ
ーザー光源で、このレーザー光源１は架台２上に配置さ
れる。レーザー光源１からの光はレーザー用フィルタ
３、垂直走査用ミラー４、水平走査用ミラー４′、プリ
ズム５、プリズム６、レンズ７、ビームスプリッタ８、
レンズ９、プリズム10を介して被検眼11の前房11aの１
点に集光される。
このレーザー投光部にはスリット光用光源12が設けら
れ、この光源12からの光はスリット光用シャッタ13、ス
リット14を経てビームスプリッタ８、レンズ９、プリズ
ム10を介し前房11aにスリット像として結像される。こ
のスリット像は、上述したレーザー光源からの光が点状
に集光されるため、その周囲を照明して集光点の位置を
容易に確認するためのものである。
れ、この光源12からの光はスリット光用シャッタ13、ス
リット14を経てビームスプリッタ８、レンズ９、プリズ
ム10を介し前房11aにスリット像として結像される。こ
のスリット像は、上述したレーザー光源からの光が点状
に集光されるため、その周囲を照明して集光点の位置を
容易に確認するためのものである。
またスリット14のスリット幅並びにスリット長さは調
整ノブ15及び切換ノブ16を介してそれぞれ調整ないし切
り換えることができる。
整ノブ15及び切換ノブ16を介してそれぞれ調整ないし切
り換えることができる。
前房11aにおける計測点からのレーザー散乱光の一部
は検出部29の対物レンズ20を経てビームスプリッタ21に
より分割されてその一部はレンズ22、プリズム23、スリ
ット26aを有するマスク26を経て光電変換素子として機
能する光電子増倍管27の入射される。また、ビームスプ
リッタ21により分割された他方の散乱光は変倍レンズ3
0、プリズム31、34を経て接眼レンズ32により検者33に
よって観察することができる。
は検出部29の対物レンズ20を経てビームスプリッタ21に
より分割されてその一部はレンズ22、プリズム23、スリ
ット26aを有するマスク26を経て光電変換素子として機
能する光電子増倍管27の入射される。また、ビームスプ
リッタ21により分割された他方の散乱光は変倍レンズ3
0、プリズム31、34を経て接眼レンズ32により検者33に
よって観察することができる。
また、光電子増倍管27の出力はアンプ28′を経てカウ
ンター40に入力され、光電子増倍管によって検出された
散乱光強度が単位時間当りのパルス数として計数され
る。このカウンター40の出力即ち、サンプリング回数や
総パルス数は、各単位時間ごとに割り当てられたメモリ
25内に格納される。メモリ25に格納されたデータは演算
装置41により後述するように演算処理され、前房内浮遊
物の数が演算される。
ンター40に入力され、光電子増倍管によって検出された
散乱光強度が単位時間当りのパルス数として計数され
る。このカウンター40の出力即ち、サンプリング回数や
総パルス数は、各単位時間ごとに割り当てられたメモリ
25内に格納される。メモリ25に格納されたデータは演算
装置41により後述するように演算処理され、前房内浮遊
物の数が演算される。
また垂直及び水平走査用ミラー４、４′は第３図に詳
細に図示したように、それぞれ鋸歯状波発生回路42,4
2′、垂直、水平走査用ミラー駆動回路43,43′を介して
演算装置41によって垂直、水平方向にそれぞれ揺動さ
れ、それによりレーザー光を水平、垂直方向に走査し前
房内のレーザー光点を水平及び垂直方向に移動させるこ
とができる。このレーザー光点の垂直方向の走査は、後
述するようにスリット26aを中心にして縦方向（垂直方
向）にスリット幅を越えないように行なわれる。
細に図示したように、それぞれ鋸歯状波発生回路42,4
2′、垂直、水平走査用ミラー駆動回路43,43′を介して
演算装置41によって垂直、水平方向にそれぞれ揺動さ
れ、それによりレーザー光を水平、垂直方向に走査し前
房内のレーザー光点を水平及び垂直方向に移動させるこ
とができる。このレーザー光点の垂直方向の走査は、後
述するようにスリット26aを中心にして縦方向（垂直方
向）にスリット幅を越えないように行なわれる。
また本発明では電源51から給電される発光ダイオード
等からなる固視灯50が被検者が固視できる位置に配置さ
れる。この固視灯50の色光は、レーザー光源１の色光と
異なるように、例えばレーザー光源からの光が赤色であ
る場合は、緑色のように選らればれる。また、この固視
灯50はリンク機構52により矢印方向に回動でき被検者に
対して好適な位置に調節可能である。
等からなる固視灯50が被検者が固視できる位置に配置さ
れる。この固視灯50の色光は、レーザー光源１の色光と
異なるように、例えばレーザー光源からの光が赤色であ
る場合は、緑色のように選らればれる。また、この固視
灯50はリンク機構52により矢印方向に回動でき被検者に
対して好適な位置に調節可能である。
また、架台２上には押しボタン46を備えた例えばジョ
イスティック45のような入力装置が設けられており、こ
れを操作することによりレーザー用フィルタ３、スリッ
ト光用シャッタ13をそれぞれの光学系に挿入または離脱
させることができる。
イスティック45のような入力装置が設けられており、こ
れを操作することによりレーザー用フィルタ３、スリッ
ト光用シャッタ13をそれぞれの光学系に挿入または離脱
させることができる。
次にこのように構成された装置の動作を説明する。測
定に際しては、先ず光源12を点灯し、ビームスプリッタ
8,10、レンズ９を介して前房11aの測定点Ｐを含む部分
にスリット14のスリット像を結像する。続いてレーザー
光源からの光をその光学系を介して測定点Ｐに集光させ
る。
定に際しては、先ず光源12を点灯し、ビームスプリッタ
8,10、レンズ９を介して前房11aの測定点Ｐを含む部分
にスリット14のスリット像を結像する。続いてレーザー
光源からの光をその光学系を介して測定点Ｐに集光させ
る。
測定点Ｐで散乱された光は、その一部がビームスプリ
ッタ21により検者33の方向に向けられ観察されると同時
にレンズ22、プリズム23、マスク26を介して光電子増倍
管27に入射される。
ッタ21により検者33の方向に向けられ観察されると同時
にレンズ22、プリズム23、マスク26を介して光電子増倍
管27に入射される。
一方、演算装置41の制御により鋸歯状波発生回路42,4
2′及び垂直走査用ミラー駆動回路43、水平走査用ミラ
ー駆動回路43′を介して垂直、水平走査用ミラー４、
４′が走査される。この場合、鋸歯状波発生回路42,4
2′はそれぞれ第４図（Ａ），（Ｂ）に図示したような
信号を発生し、レーザー光を走査する。X1,X2はそれぞ
れ測定開始及び終了時点を示す。水平周波数をHf、垂直
周波数をVf，垂直走査回数をＮとすると、Hf＝Vf/Nの式
が成立する。
2′及び垂直走査用ミラー駆動回路43、水平走査用ミラ
ー駆動回路43′を介して垂直、水平走査用ミラー４、
４′が走査される。この場合、鋸歯状波発生回路42,4
2′はそれぞれ第４図（Ａ），（Ｂ）に図示したような
信号を発生し、レーザー光を走査する。X1,X2はそれぞ
れ測定開始及び終了時点を示す。水平周波数をHf、垂直
周波数をVf，垂直走査回数をＮとすると、Hf＝Vf/Nの式
が成立する。
この信号波でミラー4,4′が走査され、それに従って
レーザー光（ビーム）が測定点Ｐを中心に走査される
が、実際レーザー投光部から見た走査の状態が第５図に
図示されている。この垂直方向の走査幅は眼内反射光な
どノイズ成分を除去して散乱光に基づく信号を効率よく
受光するためにスリット26aの垂直方向の幅より小さく
設定しておく。
レーザー光（ビーム）が測定点Ｐを中心に走査される
が、実際レーザー投光部から見た走査の状態が第５図に
図示されている。この垂直方向の走査幅は眼内反射光な
どノイズ成分を除去して散乱光に基づく信号を効率よく
受光するためにスリット26aの垂直方向の幅より小さく
設定しておく。
このようにして、光電子増倍管はスリット26aを介し
て入射されるレーザー散乱光を受光し、前房11a内の浮
遊物によって散乱される散乱光の強度を検出し、それに
応じてパルス列に変換され単位時間当りのパルス数とし
てカウンター40で計数され、その計数値が各単位時間ご
とに割り当てられたメモリ25に格納される。
て入射されるレーザー散乱光を受光し、前房11a内の浮
遊物によって散乱される散乱光の強度を検出し、それに
応じてパルス列に変換され単位時間当りのパルス数とし
てカウンター40で計数され、その計数値が各単位時間ご
とに割り当てられたメモリ25に格納される。
測定対象物である前房内の浮遊物は、数ミクロン以上
の大きさをもっているため、レーザー光が浮遊物を横切
ったとき散乱光強度に１つのピークが生じる。従って、
レーザー光が浮遊物を横切るに必要な時間よりも短く測
定単位時間を設定し、浮遊物を測定すれば、メモリ25に
格納されている計数値を時系列的に表わすと、レーザー
光が浮遊物を横切った所だけ計数値が多くなるため、第
６図に図示したような波形が得られる。同図において各
ピークになっているところが浮遊物からの散乱光に基づ
くものである。このピークの数を演算装置41により計数
することによりレーザー光によって水平、垂直走査され
た前房内の体積内に存在する浮遊物の数を測定すること
ができる。
の大きさをもっているため、レーザー光が浮遊物を横切
ったとき散乱光強度に１つのピークが生じる。従って、
レーザー光が浮遊物を横切るに必要な時間よりも短く測
定単位時間を設定し、浮遊物を測定すれば、メモリ25に
格納されている計数値を時系列的に表わすと、レーザー
光が浮遊物を横切った所だけ計数値が多くなるため、第
６図に図示したような波形が得られる。同図において各
ピークになっているところが浮遊物からの散乱光に基づ
くものである。このピークの数を演算装置41により計数
することによりレーザー光によって水平、垂直走査され
た前房内の体積内に存在する浮遊物の数を測定すること
ができる。
なおレーザー光が浮遊物を横切るときの速度が一定で
あれば、レーザー光のビーム径が既知であることからピ
ークの山の幅から浮遊物の大きさが計算できる。そして
１つの浮遊物を２度カウントするのを防止するために、
第５図に図示したように走査波形が鋸歯状波となり、し
かもピーク間隔ｘがレーザービームの径よりも大きくな
るように水平走査幅を決定する。
あれば、レーザー光のビーム径が既知であることからピ
ークの山の幅から浮遊物の大きさが計算できる。そして
１つの浮遊物を２度カウントするのを防止するために、
第５図に図示したように走査波形が鋸歯状波となり、し
かもピーク間隔ｘがレーザービームの径よりも大きくな
るように水平走査幅を決定する。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、水平及び垂直
方向に走査されたレーザー光による眼内からの散乱光が
マスクを介して受光され、その場合レーザー光の垂直方
向の走査幅がスリットの垂直方向の幅より小さく設定さ
れるので、レーザー光が垂直方向に余分に走査されなく
なる分眼内反射光などのノズル成分を減少させることが
でき、その結果散乱光に基づく信号を効率よく受光する
ことができるので、眼科測定精度を顕著に向上させるこ
とが可能になる、という優れた効果が得られる。
方向に走査されたレーザー光による眼内からの散乱光が
マスクを介して受光され、その場合レーザー光の垂直方
向の走査幅がスリットの垂直方向の幅より小さく設定さ
れるので、レーザー光が垂直方向に余分に走査されなく
なる分眼内反射光などのノズル成分を減少させることが
でき、その結果散乱光に基づく信号を効率よく受光する
ことができるので、眼科測定精度を顕著に向上させるこ
とが可能になる、という優れた効果が得られる。
第１図は本発明に係る装置の外観を示す斜視図、第２図
は装置の光学的配置を示す構成図、第３図はレーザー光
の走査光学系を示す光学配置図、第４図（Ａ），（Ｂ）
はレーザー光を走査される信号波形図、第５図はレーザ
ー投光部からみたレーザー光の走査軌跡の説明図、第６
図は浮遊物からのレーザー散乱光に基づくピークを示し
た説明図である。 １……レーザー光源、12……スリット光用光源 25……メモリ、26……マスク 26a……スリット、27……光電子増倍管 40……カウンター、41……演算装置
は装置の光学的配置を示す構成図、第３図はレーザー光
の走査光学系を示す光学配置図、第４図（Ａ），（Ｂ）
はレーザー光を走査される信号波形図、第５図はレーザ
ー投光部からみたレーザー光の走査軌跡の説明図、第６
図は浮遊物からのレーザー散乱光に基づくピークを示し
た説明図である。 １……レーザー光源、12……スリット光用光源 25……メモリ、26……マスク 26a……スリット、27……光電子増倍管 40……カウンター、41……演算装置
Claims (2)
- 【請求項１】レーザー光源からの光を眼内の所定の点に
集光させるレーザー投光部と、 集光されたレーザー光を水平及び垂直方向に走査する手
段と、 眼内からのレーザー散乱光を所定幅のスリットを有する
マスクを介して受光する光電変換素子と、 光電変換素子からの信号を処理して眼内浮遊物数を演算
処理する手段とを設け、 前記レーザー光の垂直方向の走査幅を前記スリットの垂
直方向の幅より小さく設定することを特徴とする眼科測
定装置。 - 【請求項２】前記レーザー光の垂直走査幅がレーザー光
のビーム径より大きくなるようにレーザー光を走査する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の眼科測
定装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62156660A JP2557393B2 (ja) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | 眼科測定装置 |
| EP88305550A EP0296769B1 (en) | 1987-06-25 | 1988-06-17 | Ophthalmic disease detection method and apparatus |
| DE3851183T DE3851183D1 (de) | 1987-06-25 | 1988-06-17 | Verfahren und Gerät zur Diagnostik von Augenleiden. |
| US07/210,811 US5000562A (en) | 1987-06-25 | 1988-06-24 | Ophthalmic disease detection method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62156660A JP2557393B2 (ja) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | 眼科測定装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS642623A JPS642623A (en) | 1989-01-06 |
| JPH012623A JPH012623A (ja) | 1989-01-06 |
| JP2557393B2 true JP2557393B2 (ja) | 1996-11-27 |
Family
ID=15632512
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62156660A Expired - Lifetime JP2557393B2 (ja) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | 眼科測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2557393B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3422144A1 (de) * | 1984-06-14 | 1985-12-19 | Josef Prof. Dr. 6900 Heidelberg Bille | Geraet zur darstellung flaechenhafter bereiche des menschlichen auges |
| EP0223356B1 (en) * | 1985-09-17 | 1990-06-27 | Eye Research Institute Of Retina Foundation | Two-dimensional eye fundus scanning apparatus |
| JPS62120834A (ja) * | 1985-11-21 | 1987-06-02 | 興和株式会社 | 眼科測定装置 |
-
1987
- 1987-06-25 JP JP62156660A patent/JP2557393B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS642623A (en) | 1989-01-06 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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