JP2549338Y2 - Semiconductor substrate automatic processing equipment - Google Patents

Semiconductor substrate automatic processing equipment

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JP2549338Y2
JP2549338Y2 JP4723492U JP4723492U JP2549338Y2 JP 2549338 Y2 JP2549338 Y2 JP 2549338Y2 JP 4723492 U JP4723492 U JP 4723492U JP 4723492 U JP4723492 U JP 4723492U JP 2549338 Y2 JP2549338 Y2 JP 2549338Y2
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semiconductor substrate
substrate holding
substrate
holding means
semiconductor
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篤泰 朝香
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Kaijo Corp
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  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、シリコンウエハーやガ
ラス基板等の半導体基板を複数枚まとめて処理槽内の処
理液中に浸漬して洗浄処理を施す半導体基板自動処理装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic semiconductor substrate processing apparatus for performing a cleaning process by immersing a plurality of semiconductor substrates such as silicon wafers and glass substrates in a processing solution in a processing bath.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、この種の半導体基板自動処理装置
として、例えば特開平3−54827号公報において開
示されているものがある。
2. Description of the Related Art Conventionally, as this type of semiconductor substrate automatic processing apparatus, there is one disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-54827.

【0003】この従来の半導体基板自動処理装置におい
ては、被洗浄物としての半導体基板を箱型の保持具内に
配列して収納し、この収納状態のままにて処理槽内の処
理液に浸漬させて洗浄作業を行っている。そして、洗浄
中は超音波振動子によって超音波振動を与え、その衝撃
波によって半導体基板に付着している汚れを破壊洗浄し
ている。
In this conventional semiconductor substrate automatic processing apparatus, semiconductor substrates as objects to be cleaned are arranged and stored in a box-shaped holder, and immersed in a processing liquid in a processing tank in this stored state. We are doing cleaning work. During the cleaning, ultrasonic vibration is applied by an ultrasonic vibrator, and the shock wave destroys and cleans the dirt attached to the semiconductor substrate.

【0004】また、半導体基板に対する処理液の流れを
生ぜしめて洗浄効果を上げると共に、上記保持具により
遮られることにより半導体基板上に生ずる超音波の陰の
部分を可能な限り小さく抑えて洗浄効果の更なる向上を
図るために、処理槽内で保持具を支える台を揺動形式の
スイング台としてこれを揺動させることが行われてい
る。
In addition, the cleaning effect is enhanced by generating a flow of the processing solution to the semiconductor substrate, and the shadow of the ultrasonic wave generated on the semiconductor substrate by being blocked by the holder is suppressed as small as possible. In order to achieve a further improvement, a pedestal supporting a holder in a processing tank is oscillated as a oscillating type oscillating table.

【0005】かかる従来の装置においては、保持具に付
着していた塵埃により処理液が混濁して半導体基板が汚
染される一方、保持具の占有スペースが大きいために処
理槽の容積をはじめ装置全体の小型化を図ることが困難
であるという欠点がある。
In such a conventional apparatus, the processing liquid becomes turbid due to dust adhering to the holder and the semiconductor substrate is contaminated. On the other hand, since the space occupied by the holder is large, not only the volume of the processing tank but also the entire apparatus is increased. There is a disadvantage that it is difficult to reduce the size.

【0006】[0006]

【考案が解決しようとする課題】そこで、出願人は、上
記の如き保持具を用いることなく半導体基板の洗浄作業
を行う考案について考えた。そして、その場合、下記の
各問題を併せて解消すべきであることを考慮した。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present applicant has considered a device for cleaning a semiconductor substrate without using a holder as described above. In such a case, it was considered that the following problems should be solved together.

【0007】まず、ある程度の洗浄効果を発揮させるた
めには洗浄作業中に超音波振動を付与することが不可欠
である。前述したように、従来技術においては半導体基
板を収容した保持具を揺動させて、該保持具に遮られる
ことにより各半導体基板上に生ずる超音波の陰を軽減し
ている。故に、この保持具を用いないこととすれば、一
層この陰が除去できるであろうが、この陰の除去をそれ
より更に一歩進めることが望まれる。なお、他に、超音
波の出力を増大して陰を除去する方法もあるが、それに
よって陰でない部分に剥離等の影響が出ると共に、超音
波効率が悪いという欠点がある。
First, it is indispensable to apply ultrasonic vibration during the cleaning operation in order to exert a certain cleaning effect. As described above, in the related art, the holder holding the semiconductor substrate is swung to reduce the shadow of the ultrasonic wave generated on each semiconductor substrate by being blocked by the holder. Therefore, if the holder is not used, this shade can be further removed, but it is desired to further remove the shade. In addition, there is another method of removing the shadow by increasing the output of the ultrasonic wave. However, this method has a disadvantage that the non-shade portion has an effect of peeling and the like and the ultrasonic efficiency is low.

【0008】一方、前述した従来の装置においては半導
体基板をその中心よりも下方を揺動中心として揺動させ
ているが、かかる構成では揺動動作を停止させた時点に
おける各半導体基板のずれ量が大きく、位置決めを高精
度に行うことが困難である。すると、これら各半導体基
板を把持して処理槽内に持ち来したり処理槽外に搬出す
るための自動搬送機構(例えば特開昭57−52138
号公報において開示されている)を設けた場合、該自動
搬送機構が半導体基板を処理槽外に搬出する際に該各半
導体基板を把持し損ねたり、逆に半導体基板を搬入する
ときに基板の受け渡しミスが生ずる恐れがある。
On the other hand, in the above-described conventional apparatus, the semiconductor substrate is swung with the swing center below the center thereof, but in such a configuration, the amount of displacement of each semiconductor substrate at the time of stopping the swing operation is described. And it is difficult to perform positioning with high accuracy. Then, an automatic transfer mechanism (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 57-52138) for grasping each of these semiconductor substrates and bringing them into the processing bath or carrying them out of the processing bath.
(Disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open Publication No. H11-163,036), the automatic transfer mechanism fails to grip each semiconductor substrate when carrying out the semiconductor substrate out of the processing tank, or conversely, when the semiconductor substrate is carried in, Delivery error may occur.

【0009】そこで、本考案は、上記した問題を全て解
消した洗浄装置を提供することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide a cleaning apparatus which has solved all of the above problems.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本考案は、処理液を貯留
する処理槽と、前記処理槽に設けられて前記処理液を超
音波にて励振する励振手段と、前記処理槽内に配置され
て複数枚の半導体基板をその主面同士が平行となるよう
に整列して保持する基板保持手段と、前記基板保持手段
をその保持した半導体基板の主面に略平行な面内におい
て揺動自在に支持する支持機構と、前記基板保持手段を
揺動せしめる駆動手段とを備えた半導体基板自動処理装
置であって、前記基板保持手段は、夫々略棒状に形成さ
れて前記半導体基板の整列方向において互いに平行に延
在し、各々前記半導体基板の外周部に係合してこれらを
受ける複数の受け溝が長手方向に並設された複数の基板
保持部材から成り、この基板保持手段の揺動中心が前記
基板保持手段により保持された半導体基板の中心に略一
致するように構成したものである。
According to the present invention, there is provided a processing tank for storing a processing liquid, excitation means provided in the processing tank for exciting the processing liquid by ultrasonic waves, and disposed in the processing tank. Means for holding a plurality of semiconductor substrates in alignment so that their main surfaces are parallel to each other, and swinging the substrate holding means in a plane substantially parallel to the main surface of the held semiconductor substrate. A semiconductor substrate automatic processing apparatus comprising: a support mechanism for supporting the substrate holding means; and a driving means for swinging the substrate holding means. A plurality of receiving grooves extending in parallel with each other, each engaging with the outer peripheral portion of the semiconductor substrate and receiving the same, are formed of a plurality of substrate holding members arranged in parallel in the longitudinal direction. Is caused by the substrate holding means. Is obtained by configured to substantially coincide with the center of the semiconductor substrate held.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本考案の実施例としての半導体基板自
動処理装置について添付図面を参照しつつ説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An automatic semiconductor substrate processing apparatus as an embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0012】図1乃至図3に示すように、本考案に係る
半導体基板自動処理装置は、処理液1が満たされた処理
槽2を備えている。なお、処理槽2の底面は水平面に対
して多少傾斜させてあり、低い側の底部には排液管2a
が連結されている。
As shown in FIGS. 1 to 3, the automatic semiconductor substrate processing apparatus according to the present invention includes a processing tank 2 filled with a processing liquid 1. The bottom of the processing tank 2 is slightly inclined with respect to the horizontal plane, and the bottom of the lower side is a drain pipe 2a.
Are connected.

【0013】処理槽2の下部には超音波を発生する超音
波振動子3が設けられている。この超音波振動子3は、
当該半導体基板自動処理装置の筐体内所定位置に配設さ
れた超音波発振器(図示せず)により駆動され、処理液
1を励振させるものである。これら超音波振動子3及び
超音波発振器を、励振手段と総称する。この励振手段を
設けたことにより著しい洗浄効果が得られる。
An ultrasonic vibrator 3 for generating ultrasonic waves is provided below the processing tank 2. This ultrasonic transducer 3
The processing liquid 1 is driven by an ultrasonic oscillator (not shown) disposed at a predetermined position in the housing of the semiconductor substrate automatic processing apparatus. The ultrasonic vibrator 3 and the ultrasonic oscillator are collectively referred to as excitation means. By providing this excitation means, a remarkable cleaning effect can be obtained.

【0014】処理槽2の内部には、複数、この場合3本
の棒状の基板保持部材4、5及び6から成る基板保持手
段7が配置されている。該基板保持手段7は、図2に示
す自動搬送機構8によって処理槽2内に搬入される多
数、例えば50枚の半導体基板9を保持するものであ
る。なお、該自動搬送機構8は、相対的に作動する複数
の把持アーム8aを具備し、該各把持アーム8aによ
り、各半導体基板9をその主面同士が平行であるように
且つ各々が直立した状態にて一定間隔で整列して把持す
る。そして、図示の搬送経路X1 〜X4 に沿って移動
し、該各半導体基板9を処理槽2内に持ち来したり処理
槽2外に搬出することを行う。
Inside the processing tank 2, a substrate holding means 7 comprising a plurality of, in this case, three rod-shaped substrate holding members 4, 5, and 6, is disposed. The substrate holding means 7 holds a large number, for example, 50 semiconductor substrates 9 carried into the processing tank 2 by the automatic transfer mechanism 8 shown in FIG. The automatic transfer mechanism 8 includes a plurality of gripping arms 8a that operate relatively, and the gripping arms 8a cause the semiconductor substrates 9 to stand upright so that their main surfaces are parallel to each other. It is aligned and held at regular intervals in the state. Then, the semiconductor substrate 9 moves along the transport paths X 1 to X 4 shown in the figure to carry each semiconductor substrate 9 into or out of the processing tank 2.

【0015】上記した基板保持手段7は、自動搬送機構
8により搬入された各半導体基板9を、整列状態を維持
して保持する。
The above-mentioned substrate holding means 7 holds the semiconductor substrates 9 carried in by the automatic transfer mechanism 8 while maintaining the aligned state.

【0016】ここで、基板保持手段7を構成する各基板
保持部材4乃至6について、詳述する。
Here, each of the substrate holding members 4 to 6 constituting the substrate holding means 7 will be described in detail.

【0017】図から明らかなように、3本設けられたこ
れらの基板保持部材4乃至6は、夫々同じ長さにて形成
され、各半導体基板9の整列方向において互いに平行に
延在している。そして、そのうち1本の基板保持部材4
については長尺の矩形板状に形成されており、半導体基
板9の最下端部に係合するように配置されている。ま
た、残る2本の基板保持部材5及び6に関しては円柱状
に、且つ互いに同一形状にて形成されており、上記の基
板保持部材4の両側に配置されている。
As is apparent from the drawing, the three substrate holding members 4 to 6 provided are formed with the same length, and extend in parallel with each other in the direction in which the semiconductor substrates 9 are aligned. . And one of the substrate holding members 4
Is formed in a long rectangular plate shape, and is arranged so as to engage with the lowermost end of the semiconductor substrate 9. The remaining two substrate holding members 5 and 6 are formed in a columnar shape and have the same shape as each other, and are arranged on both sides of the substrate holding member 4.

【0018】図4及び図5に、基板保持部材5の詳細を
示す。図示のように、基板保持部材5には、各々半導体
基板9の外周部に係合してこれらを受ける受け溝5aが
等しいピッチにて長手方向に並設されている。なお、図
4から明らかなように、これら受け溝5aはその断面形
状が例えばV字状となっている。また、図5から明らか
なように、各受け溝5aは、基板保持部材5の一部分を
切り欠いた形態にて形成されており、それらの底面はこ
れに係合する半導体基板9の半径(100m/m)と等
しい曲率半径を有している。
FIG. 4 and FIG. 5 show details of the substrate holding member 5. As shown in the drawing, receiving grooves 5a that engage with and receive the outer peripheral portions of the semiconductor substrate 9 are arranged in the substrate holding member 5 at equal pitches in the longitudinal direction. As is apparent from FIG. 4, these receiving grooves 5a have, for example, a V-shaped cross section. As is apparent from FIG. 5, each receiving groove 5a is formed by cutting out a part of the substrate holding member 5, and the bottom surface thereof has a radius (100 m) of the semiconductor substrate 9 which engages with it. / M).

【0019】なお、前述したように、他の2本の基板保
持部材4及び6のうち基板保持部材6に関しては上述し
た基板保持部材5と同形状であり、また、残る矩形板状
の基板保持部材4についても上記の基板保持部材5と同
様の受け溝が形成されているのみであるから、詳細な説
明は省略する。
As described above, the substrate holding member 6 of the other two substrate holding members 4 and 6 has the same shape as the above-described substrate holding member 5, and the remaining rectangular plate-shaped substrate holding member 5 has the same shape. Since the member 4 has only the same receiving groove as that of the substrate holding member 5, the detailed description is omitted.

【0020】次に、上記した各基板保持部材4乃至6か
らなる基板保持手段7を揺動自在に支持する支持機構
と、該基板保持手段7に駆動力を付与して揺動せしめる
駆動手段について説明する。
Next, a supporting mechanism for swingably supporting the substrate holding means 7 comprising the above-described substrate holding members 4 to 6 and a driving means for applying a driving force to the substrate holding means 7 to swing the substrate holding means 7 will be described. explain.

【0021】図1に示すように、当該半導体基板自動処
理装置は処理槽2を囲むように設けられた本体フレーム
14を有し、該本体フレーム14に対して、ブッシュ1
5及び16を介して2本のシャフト17及び18が同心
的に回転すべく設けられている。なお、両シャフト1
7、18は水平方向に伸長して設けられている。そし
て、これらシャフト17、18の各一端部には略矩形板
状の垂直アーム21及び22が固着されている。該両垂
直アーム21及び22は上下方向において延在して設け
られ、その下端部にてシャフト17、18に取り付けら
れている。
As shown in FIG. 1, the semiconductor substrate automatic processing apparatus has a main body frame 14 provided so as to surround the processing tank 2.
Two shafts 17 and 18 are provided for concentric rotation via 5 and 16. In addition, both shafts 1
Reference numerals 7 and 18 extend in the horizontal direction. Then, substantially rectangular plate-shaped vertical arms 21 and 22 are fixed to one end of each of the shafts 17 and 18. The vertical arms 21 and 22 are provided to extend in the vertical direction, and are attached to the shafts 17 and 18 at lower ends thereof.

【0022】両垂直アーム21及び22の各上端部に
は、水平方向に伸びる水平アーム24及び25が各々の
一端部にてボルト(参照符号は付していない)により締
結されている。そして、該両水平アーム24及び25の
他端部には、L字状に形成された支持フレーム27及び
28が垂下状態にてボルト締めされている。
Horizontal arms 24 and 25 extending in the horizontal direction are fastened to the upper ends of both vertical arms 21 and 22 by bolts (not denoted by reference numerals) at one ends thereof. L-shaped support frames 27 and 28 are bolted to the other ends of the horizontal arms 24 and 25 in a hanging state.

【0023】該両支持フレーム27及び28は処理槽2
の底部に向けて伸長し、前述した基板保持手段7の構成
部材である各基板保持部材4乃至6はこの支持フレーム
27及び28の下端部間に架設されている。
The supporting frames 27 and 28 are provided in the processing tank 2.
Each of the substrate holding members 4 to 6, which is a component of the above-described substrate holding means 7, extends between the lower ends of the support frames 27 and 28.

【0024】上記したブッシュ15、16と、シャフト
17、18と、垂直アーム21、22と、水平アーム2
4、25と、支持アーム27及び28とによって、上記
基板保持手段7を揺動自在に支持する支持機構が構成さ
れている。なお、基板保持手段7は、その保持した各半
導体基板9の主面に平行な面内において揺動するように
なされている。
The above-described bushes 15, 16; shafts 17, 18; vertical arms 21, 22;
The support mechanisms 4 and 25 and the support arms 27 and 28 support the substrate holding means 7 in a swingable manner. The substrate holding means 7 is configured to swing in a plane parallel to the main surface of each semiconductor substrate 9 held.

【0025】なお、上記垂直アーム21、水平アーム2
4及び支持フレーム27並びに垂直アーム22、水平ア
ーム25及び支持フレーム28については、このように
互いに個別の部材とせずに、一体に成形してもよい。
The vertical arm 21 and the horizontal arm 2
4 and the support frame 27, and the vertical arm 22, the horizontal arm 25, and the support frame 28 may be integrally formed instead of individual members.

【0026】上記した基板保持手段7の揺動中心、すな
わち各シャフト17及び18の軸中心は、該基板保持手
段7により保持された各半導体基板9の中心に一致せし
められている。
The swing center of the substrate holding means 7, that is, the axial center of each of the shafts 17 and 18 is matched with the center of each semiconductor substrate 9 held by the substrate holding means 7.

【0027】一方、図1に示すように、上記した揺動部
分の支持軸として作用する両シャフト17及び18の各
他端部には、それそぞれ歯車31及び32が固着されて
いる。これら各歯車31及び32にトルクを付与するト
ルク付与手段については図示を省略したが、該トルク付
与手段はモータ等を含み、両歯車31、32を互いに同
じ回転方向に所定各度だけ正転、逆転できるよう構成さ
れている。このトルク付与手段と、両歯車31及び32
とにより、上記基板保持手段7に対して駆動力を付与し
てこれを揺動せしめる駆動手段が構成されている。
On the other hand, as shown in FIG. 1, gears 31 and 32 are fixed to the other ends of both shafts 17 and 18 acting as support shafts of the above-mentioned swinging portion, respectively. The torque applying means for applying a torque to each of the gears 31 and 32 is not shown, but the torque applying means includes a motor and the like, and the two gears 31 and 32 are rotated forward by a predetermined angle in the same rotational direction. It is configured to be able to reverse. This torque applying means and both gears 31 and 32
Thus, a driving means for applying a driving force to the substrate holding means 7 and swinging the driving force is constituted.

【0028】上述したように、当該半導体基板自動処理
装置においては、基板保持手段7の揺動中心が、該基板
保持手段7により保持された半導体基板9の中心に一致
せしめられている。かかる構成においては、基板保持手
段7の揺動動作中及び停止時のいずれにおいても、各半
導体基板9は常に一定位置に保たれ、ずれを生ずること
がない。
As described above, in the automatic semiconductor substrate processing apparatus, the center of swing of the substrate holding means 7 coincides with the center of the semiconductor substrate 9 held by the substrate holding means 7. In such a configuration, the semiconductor substrate 9 is always kept at a constant position during the swinging operation of the substrate holding means 7 and at the time of stopping, and no displacement occurs.

【0029】よって、図2に示す自動搬送機構8が該各
半導体基板9を処理槽2の外に搬出しようとする場合に
その把持アーム8aによって該各半導体基板9を確実に
把持することが出来る。また、逆に、自動搬送機構8が
半導体基板9を処理槽2内に搬入して基板保持手段7に
受け渡す際に受け渡しミスを生ずる恐れもない。
Therefore, when the automatic transfer mechanism 8 shown in FIG. 2 attempts to carry out each semiconductor substrate 9 out of the processing tank 2, each semiconductor substrate 9 can be surely gripped by the gripping arm 8a. . Conversely, when the automatic transport mechanism 8 carries the semiconductor substrate 9 into the processing tank 2 and delivers it to the substrate holding means 7, there is no possibility that a delivery error occurs.

【0030】また、本実施例に係る半導体基板自動処理
装置においては、基板保持手段7によって半導体基板9
に発生する超音波の陰の部分は図2及び図3に示すよう
になる。即ち、図3に示すように、該基板保持手段7が
具備する基板保持部材5がその揺動ストロークの上死点
に位置するときに生じる陰の部分は、図において二点鎖
線にて囲む斜線領域43となり、基板保持部材5が下死
点に位置するときに生じる陰の部分は他の二点鎖線にて
囲む斜線領域44となり、該上死点から下死点までの全
区間にわたって揺動する際に常に生じる陰の部分は、実
線にて囲む斜線領域45となる。なお、他の基板保持部
材4及び6に関しても、図示を省略したが上記と同様に
陰の部分が発生する。
In the automatic semiconductor substrate processing apparatus according to the present embodiment, the semiconductor substrate 9 is
The shaded portion of the ultrasonic wave generated in FIG. That is, as shown in FIG. 3, a shaded portion generated when the substrate holding member 5 of the substrate holding means 7 is located at the top dead center of the swing stroke is indicated by a hatched line surrounded by a two-dot chain line in FIG. The shaded area generated when the substrate holding member 5 is located at the bottom dead center becomes the shaded area 44 surrounded by another two-dot chain line, and swings over the entire section from the top dead center to the bottom dead center. The shaded area that always occurs is a shaded area 45 surrounded by a solid line. Although the other substrate holding members 4 and 6 are not shown in the drawing, shaded portions are generated similarly to the above.

【0031】ここで、上記した本考案に係る半導体基板
自動処理装置の構成及びその効果との比較をなすため、
基板保持手段7の揺動中心を半導体基板9の中心よりも
所定距離だけ下方に移した場合について説明する。
Here, in order to make a comparison with the configuration of the automatic semiconductor substrate processing apparatus according to the present invention and its effects,
A case will be described in which the swing center of the substrate holding means 7 is shifted downward by a predetermined distance from the center of the semiconductor substrate 9.

【0032】図6にその構成を示す。FIG. 6 shows the configuration.

【0033】図示のように、かかる構成においては、基
板保持手段7の揺動動作に伴い半導体基板9も大きく揺
動し、揺動を停止したときに半導体基板9が常に一定位
置で停止するとは限らない。よって、上述した本考案に
係る半導体基板自動処理装置におけるが如き、自動搬送
機構8による基板保持手段7に対する半導体基板9の確
実な脱着動作は期待し得ない。
As shown in the figure, in such a configuration, the semiconductor substrate 9 also swings greatly with the swinging operation of the substrate holding means 7, and when the swing is stopped, the semiconductor substrate 9 always stops at a fixed position. Not exclusively. Therefore, as in the above-described automatic semiconductor substrate processing apparatus according to the present invention, a reliable operation of attaching and detaching the semiconductor substrate 9 to and from the substrate holding means 7 by the automatic transfer mechanism 8 cannot be expected.

【0034】また、図6に示す構成においては、各半導
体基板9上に、例えば基板保持部材5によって遮られる
ことによる陰の部分(図において実線で囲む斜線領域5
5に対応する。なお、図において、二点鎖線にて囲む斜
線領域53は基板保持部材5が上死点に位置するときに
生じる陰の部分、他の二点鎖線で囲む斜線領域54は当
該基板保持部材5が下死点に位置するときに生じる陰の
部分を表しており、上記実線にて囲む斜線領域55は上
死点から下死点までの全区間にわたって揺動する際に常
に生じる陰の部分を表している)が発生し、このような
陰の部分55に対する洗浄力が低下する。
Further, in the configuration shown in FIG. 6, on each semiconductor substrate 9, for example, a shaded portion (a hatched region 5 surrounded by a solid line in the drawing) caused by being blocked by the substrate holding member 5.
Corresponding to 5. In the drawing, a hatched area 53 surrounded by a two-dot chain line is a shaded portion generated when the substrate holding member 5 is located at the top dead center. The shaded area generated at the time of being located at the bottom dead center is shown. The shaded area 55 surrounded by the solid line represents the shaded area that is always generated when swinging over the entire section from the top dead center to the bottom dead center. ) Occurs, and the detergency of such a shadow portion 55 is reduced.

【0035】このような常に生じる陰の部分55の面積
を図3に示した実施例における陰の部分45の面積と比
較すれば明らかなように、揺動角度を互いに同一の揺動
角度θに設定した場合、本考案に係る半導体基板自動処
理装置による陰の部分45の面積は、図6に示した陰の
部分55の面積と比べて大幅に減少することがわかる。
As is clear from the comparison of the area of the shadow portion 55, which always occurs, with the area of the shadow portion 45 in the embodiment shown in FIG. 3, the swing angles are set to the same swing angle θ. When set, the area of the shadow portion 45 by the automatic semiconductor substrate processing apparatus according to the present invention is significantly reduced as compared with the area of the shadow portion 55 shown in FIG.

【0036】[0036]

【考案の効果】以上説明したように、本考案によれば、
各半導体基板を処理槽内の基板保持手段上に直接載置す
る形式である故に従来用いていた箱型の保持具が不要と
なり、処理液に対する塵埃の混濁量が極めて少なく抑え
られると共に、処理槽の容積、延いては装置全体として
の小型化が達成されるという効果がある。また、本発明
による半導体基板自動処理装置においては、上記基板保
持手段の揺動中心が、該基板保持手段上の半導体基板の
中心に略一致せしめられている。従って、半導体基板は
常に一定位置に保たれ、自動搬送機構による該基板保持
手段に対する半導体基板の脱着動作が常に確実に行われ
るという効果がある。また、かかる構成においては、該
基板保持手段により遮られることによって半導体基板上
に常に発生する超音波の陰の部分を大幅に減少させるこ
とが出来るという効果がある。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention,
Since each semiconductor substrate is directly mounted on the substrate holding means in the processing tank, the box-shaped holding tool conventionally used is not required, and the turbidity of dust with respect to the processing liquid can be extremely reduced. This has the effect of achieving a reduction in volume and, consequently, the overall size of the device. Also, in the semiconductor substrate automatic processing apparatus according to the present invention, the center of swing of the substrate holding means is substantially coincident with the center of the semiconductor substrate on the substrate holding means. Therefore, there is an effect that the semiconductor substrate is always kept at a fixed position, and the operation of attaching and detaching the semiconductor substrate to and from the substrate holding means by the automatic transfer mechanism is always performed reliably. Further, in such a configuration, there is an effect that the shaded portion of the ultrasonic wave constantly generated on the semiconductor substrate by being blocked by the substrate holding means can be greatly reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本考案の実施例としての半導体基板自
動処理装置の縦断面図である。
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of an automatic semiconductor substrate processing apparatus as an embodiment of the present invention.

【図2】図2は、図1に示した半導体基板自動処理装置
の要部と、該半導体基板自動処理装置に対する半導体基
板の搬入及び搬出をなすための自動搬送機構を示す、一
部断面を含む正面図である。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a main part of the automatic semiconductor substrate processing apparatus shown in FIG. 1 and an automatic transport mechanism for loading and unloading the semiconductor substrate into and from the automatic semiconductor substrate processing apparatus. FIG.

【図3】図3は、図2に示した半導体基板自動処理装置
の要部の拡大図である。
FIG. 3 is an enlarged view of a main part of the automatic semiconductor substrate processing apparatus shown in FIG. 2;

【図4】図4は、図1に示した半導体基板自動処理装置
の構成部材である基板保持部材の側面図である。
FIG. 4 is a side view of a substrate holding member that is a component of the automatic semiconductor substrate processing apparatus shown in FIG.

【図5】図5は、図4に関するAーA断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along the line AA in FIG. 4;

【図6】図6は、図3に示した構成と比較するための構
成の正面図である。
FIG. 6 is a front view of a configuration for comparison with the configuration shown in FIG. 3;

【符合の説明】[Description of sign]

1 処理液 2 処理槽 3 超音波振動子 4、5、6 基板保持部材 7 基板保持手段 8 自動搬送機構 9 半導体基板 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Processing liquid 2 Processing tank 3 Ultrasonic vibrator 4, 5, 6 Substrate holding member 7 Substrate holding means 8 Automatic transfer mechanism 9 Semiconductor substrate

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 処理液を貯留する処理槽と、前記処理槽
に設けられて前記処理液を超音波にて励振する励振手段
と、前記処理槽内に配置されて複数枚の半導体基板をそ
の主面同士が平行となるように整列して保持する基板保
持手段と、前記基板保持手段をその保持した半導体基板
の主面に略平行な面内において揺動自在に支持する支持
機構と、前記基板保持手段を揺動せしめる駆動手段とを
備えた半導体基板自動処理装置であって、 前記基板保持手段は、夫々略棒状に形成されて前記半導
体基板の整列方向において互いに平行に延在し、各々前
記半導体基板の外周部に係合してこれらを受ける複数の
受け溝が長手方向に並設された複数の基板保持部材から
成り、この基板保持手段の揺動中心が前記基板保持手段
により保持された半導体基板の中心に略一致せしめられ
ていることを特徴とする半導体基板自動処理装置。
1. A processing tank for storing a processing liquid, an exciting unit provided in the processing tank to excite the processing liquid by ultrasonic waves, and a plurality of semiconductor substrates disposed in the processing tank, A substrate holding means for aligning and holding the main surfaces so as to be parallel to each other, a support mechanism for swingably supporting the substrate holding means in a plane substantially parallel to the main surface of the semiconductor substrate holding the substrate, A semiconductor substrate automatic processing apparatus provided with a driving unit for swinging the substrate holding unit, wherein the substrate holding units are each formed in a substantially rod shape and extend in parallel with each other in the alignment direction of the semiconductor substrate, and A plurality of receiving grooves which engage with the outer peripheral portion of the semiconductor substrate and receive them are formed of a plurality of substrate holding members arranged in parallel in a longitudinal direction, and a swing center of the substrate holding means is held by the substrate holding means. Semiconductor substrate Semiconductor substrate automatic processing apparatus characterized by being caused to substantially match the heart.
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