JP2548046B2 - Contact probe - Google Patents
Contact probeInfo
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- coil spring
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- conductor
- interposed
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、高容量、高電流コン
デンサ等のデバイス及び同デバイス等を具備したプリン
ト配線基板の電気回路の断線、ショート等を点検するコ
ンパクト化したコンタクトプローブに関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a compact contact probe for inspecting devices such as high-capacity and high-current capacitors and printed circuit boards equipped with such devices for breaks and short circuits in electric circuits. .
【0002】[0002]
【従来の技術】プリント配線基板の電気回路の断線、シ
ョート等を点検するため従来からコンタクトプローブが
使用されている。このコンタクトプローブは、プリント
基板検査機の取付板に固定的に装着されるソケツトに嵌
合される胴部外部導体と、この胴部外部導体にコイルス
プリングを介して装着される中心導体(プランジャーコ
ンタクト)とからなり、該中心導体の先端部がプリント
基板の被測定面に押し当てられたときに、中心導体が胴
部外部導体に対して相対移動可能に構成されている。2. Description of the Related Art Contact probes have been conventionally used to check for breaks and short circuits in electric circuits of printed wiring boards. The contact probe includes a body outer conductor fitted in a socket fixedly mounted on a mounting plate of a printed circuit board inspection machine, and a center conductor (plunger attached to the body outer conductor via a coil spring). Contact), and the center conductor is configured to be movable relative to the body outer conductor when the tip end portion of the center conductor is pressed against the surface to be measured of the printed circuit board.
【0003】しかして、高容量、高電流コンデンサ等の
デバイスの検査をする場合には、このコンタクトプロー
ブはその容量に比例して十分対応することのできる大き
さに製作されていたが、近年新素材の開発に伴い、高容
量コンデンサ等のデバイスがチップに近い小型形状の製
品が開発されてきたことから、小型高容量コンデンサ等
デバイスに対応できるコンパクトなコンタクトプローブ
が要求されている。しかしながら、従来のコンタクトプ
ローブを小型化した場合には、高容量コンデンサの検査
をする場合、コンタクトプローブのコイルスプリングに
高電流が流れ、そのためコイルスプリングが発熱溶融す
る問題があった。However, when inspecting devices such as high-capacity and high-current capacitors, this contact probe has been manufactured to a size that can sufficiently cope with the capacitance, but in recent years it has been newly developed. Along with the development of materials, devices such as high-capacitance capacitors having a small shape close to a chip have been developed. Therefore, compact contact probes compatible with devices such as small high-capacity capacitors are required. However, when the conventional contact probe is downsized, when inspecting a high-capacity capacitor, a high current flows through the coil spring of the contact probe, which causes a problem of heat generation and melting of the coil spring.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】この発明は、このよう
な問題を解消しようとするものであり、高容量コンデン
サの検査をすることができるコンパクトに小型化したコ
ンタクトプローブを提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is intended to solve such problems, and an object thereof is to provide a compact and miniaturized contact probe capable of inspecting a high-capacity capacitor. To do.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記目的に沿う本発明の
構成は、筒状の外部導体にコイルスプリングを介して中
心導体を摺動自在に装着してなるコンタクトプローブに
於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ状の
絶縁体を介在させたことを特徴とする。また本発明は、
プリント基板の被測定面に押し当てられるチップ部とソ
ケット内を摺動する摺動部とを具備してなる中心導体
と、前記チップ部と前記ソケットとの間に介装されるコ
イルスプリングとを具備してなるコンタクトプローブに
於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ状の
絶縁体を介在させると共に前記コイルスプリングと前記
中心導体の摺動部との当接面に絶縁体を介在させたこと
を特徴とするThe structure of the present invention which meets the above object is a contact probe in which a central conductor is slidably mounted on a cylindrical outer conductor via a coil spring. It is characterized in that flange-shaped insulators are interposed at both ends of the. The present invention also provides
A center conductor having a tip portion pressed against the surface to be measured of the printed circuit board and a sliding portion that slides in the socket; and a coil spring interposed between the tip portion and the socket. In the provided contact probe, flange-shaped insulators are provided at both ends of the coil spring, and insulators are provided at a contact surface between the coil spring and the sliding portion of the central conductor. Characterized by
【0006】[0006]
【実施例】次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は、本発明の実施例を示す断面図であり、筒
状の外部導体1と、該外部導体1にコイルスプリング4
を介して摺動自在に装着される中心導体2と、前記コイ
ルスプリングの両端部に装着したフランジ状の絶縁体
3、3′とから構成された例を示す。本発明の機能を更
に十分発揮させるため、コイルスプリング4は、図2及
び図3に示すように、スプリング素材5の外周面に絶縁
性のコーテイング膜6が形成されている。絶縁体3、
3′は、円板の中央に突起が立設した形状をしており、
この円板部が外部導体1に嵌合し、突起部がコイルスプ
リング4内に嵌入している。絶縁体3、3′の材質は、
特に限定されないが、テフロンで形成するのが特に好ま
しい。スプリング素材としては、ピアノ線、バネ性ステ
ンレス、ベリリウム合金等を使用することができるが、
外部導体には、瞬間的に高電流が流れるので、耐久性の
点からタングステン線材を使用するのが特に好ましい。
絶縁性のコーテイング膜としては、伸縮性と耐熱性とを
兼備した材質、例えばテフロンが特に好ましく、膜圧も
ある程度厚く形成するのが良い。図4は、他の本発明の
実施例を示すものであり、中心導体2′は、被測定面に
押し当てられるチップ部7とソケット8内を摺動するピ
ストン状の摺動部9とからなり、前記チップ部7と前記
ソケット8との間には、フランジ状の絶縁体3a、3
a′を介してコイルスプリング4′が介装、コイルスプ
リング4′に当接する中心導体の摺動部9には、絶縁性
の材質好ましくはテフロンから形成された筒状絶縁体1
0が密嵌されている。コイルスプリング4′は、図1に
示す実施例と同様に、スプリング素材5′の外周面に絶
縁性のコーテイング膜6′が形成されている。Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention, in which a cylindrical outer conductor 1 and a coil spring 4 are attached to the outer conductor 1.
An example is shown, which is composed of a center conductor 2 slidably mounted via a coil, and flange-shaped insulators 3 and 3'mounted on both ends of the coil spring. In order to more fully exert the function of the present invention, the coil spring 4 has an insulating coating film 6 formed on the outer peripheral surface of the spring material 5, as shown in FIGS. Insulator 3,
3'has a shape in which a protrusion is erected at the center of the disc,
The disk portion fits into the outer conductor 1, and the protrusion fits into the coil spring 4. The material of the insulators 3 and 3'is
Although not particularly limited, Teflon is particularly preferable. As the spring material, piano wire, spring stainless steel, beryllium alloy, etc. can be used.
Since a high current instantaneously flows in the outer conductor, it is particularly preferable to use a tungsten wire from the viewpoint of durability.
As the insulating coating film, a material having both stretchability and heat resistance, for example, Teflon is particularly preferable, and it is preferable to form the film pressure to a certain degree thick. FIG. 4 shows another embodiment of the present invention. The center conductor 2'includes a tip portion 7 pressed against a surface to be measured and a piston-shaped sliding portion 9 that slides in the socket 8. Between the tip portion 7 and the socket 8, flange-shaped insulators 3a, 3
A tubular insulator 1 made of an insulating material, preferably Teflon, is provided on the sliding portion 9 of the central conductor which is provided with the coil spring 4'via a'and contacts the coil spring 4 '.
0 is tightly fitted. In the coil spring 4 ', an insulating coating film 6'is formed on the outer peripheral surface of the spring material 5', as in the embodiment shown in FIG.
【0007】[0007]
【効果】以上述べたごとく、本発明によれば、コイルス
プリング両端に介在させた絶縁体によって、コイルスプ
リングが絶縁されるので、大容量、高電流コンデンサ等
の検査に使用した場合にも、コイルスプリングに電流が
流れないから、コイルスプリングに高電流が流れること
による発熱溶融を防止することができる。また、コイル
スプリングを絶縁性の膜をコーテイングした構造とすれ
ば、仮にコイルスプリングにある程度の電流が流れて
も、或は外部導体の発熱によってコイルスプリングが加
熱されても、コイルスプリングの発熱溶融を完全に防止
することができる。As described above, according to the present invention, the coil springs are insulated by the insulators provided at both ends of the coil springs. Therefore, even when the coil springs are used for inspection of large capacity, high current capacitors, etc. Since no current flows through the spring, it is possible to prevent heat generation and melting due to high current flowing through the coil spring. In addition, if the coil spring has a structure in which an insulating film is coated, even if a certain amount of current flows in the coil spring or the coil spring is heated by the heat generated by the outer conductor, the coil spring will not heat and melt. Can be completely prevented.
【図1】本発明の実施例を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention.
【図2】本発明に使用するコイルスプリングの縦断面図
である。FIG. 2 is a vertical sectional view of a coil spring used in the present invention.
【図3】本発明に使用するコイルスプリングの縦断面図
である。FIG. 3 is a vertical cross-sectional view of a coil spring used in the present invention.
【図4】他の本発明の実施例を示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing another embodiment of the present invention.
1 外部導体 2,2′ 中心導体 3,3′,3a,3a′ 絶縁体 4,4′ コイルスプリング 5,5′ コイルスプリング素材 6,6′ 絶縁性コーテイング膜 9 ピストン状の摺動部 10 筒状絶縁体 1 outer conductor 2, 2'center conductor 3, 3 ', 3a, 3a' insulator 4,4 'coil spring 5,5' coil spring material 6,6 'insulating coating film 9 piston-like sliding part 10 cylinder Insulator
Claims (5)
て中心導体を摺動自在に装着してなるコンタクトプロー
ブに於いて、前記コイルスプリングの両端部にフランジ
状の絶縁体を介在させたことを特徴とするコンタクトプ
ローブ。1. A contact probe in which a central conductor is slidably mounted on a tubular outer conductor via a coil spring, wherein flange-shaped insulators are interposed at both ends of the coil spring. A contact probe characterized by.
グの外周面に絶縁性のコーテイング膜を形成してなる請
求項1に記載のコンタクトプローブ。2. The contact probe according to claim 1, wherein the coil spring has an insulating coating film formed on an outer peripheral surface of the coil spring.
材から形成されてなる請求項2に記載のコンタクトプロ
ーブ。3. The contact probe according to claim 2, wherein the coil spring is formed of a tungsten wire.
チップ部とソケット内を摺動する摺動部とを具備してな
る中心導体と、前記チップ部と前記ソケットとの間に介
装されるコイルスプリングとを具備してなるコンタクト
プローブに於いて、前記コイルスプリングの両端部にフ
ランジ状の絶縁体を介在させると共に前記コイルスプリ
ングと前記中心導体の摺動部との当接面に絶縁体を介在
させたことを特徴とするコンタクトプローブ。4. A center conductor comprising a tip portion pressed against a surface to be measured of a printed circuit board and a sliding portion that slides in a socket, and is interposed between the tip portion and the socket. A contact probe including a coil spring, wherein a flange-shaped insulator is interposed at both ends of the coil spring, and an insulator is provided on a contact surface between the coil spring and the sliding portion of the central conductor. A contact probe characterized by interposing.
グの外周面に絶縁性のコーテイング膜を形成してなる請
求項4に記載のコンタクトプローブ。5. The contact probe according to claim 4, wherein the coil spring has an insulating coating film formed on an outer peripheral surface of the coil spring.
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JP3031486A JP2548046B2 (en) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | Contact probe |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH0694749A JPH0694749A (en) | 1994-04-08 |
JP2548046B2 true JP2548046B2 (en) | 1996-10-30 |
Family
ID=12332602
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP3031486A Expired - Lifetime JP2548046B2 (en) | 1991-02-02 | 1991-02-02 | Contact probe |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007316023A (en) * | 2006-05-29 | 2007-12-06 | Morihiro Shimano | Contact probe |
CN106716145A (en) * | 2014-09-23 | 2017-05-24 | 李诺工业股份有限公司 | A contact probe for a test device |
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JP2012163527A (en) * | 2011-02-09 | 2012-08-30 | Kiyota Seisakusho:Kk | Contact probe for power device |
TWI548879B (en) * | 2014-01-28 | 2016-09-11 | Spring sleeve probe | |
KR101841107B1 (en) * | 2016-04-27 | 2018-03-22 | 주식회사 아이에스시 | Bifurcated probe apparatus |
-
1991
- 1991-02-02 JP JP3031486A patent/JP2548046B2/en not_active Expired - Lifetime
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