JP2547864B2

JP2547864B2 - 露光制御装置

Info

Publication number: JP2547864B2
Application number: JP1264729A
Authority: JP
Inventors: 隆章寺下
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1989-10-11
Filing date: 1989-10-11
Publication date: 1996-10-23
Anticipated expiration: 2011-10-23
Also published as: JPH03126024A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は露光制御装置に係り、カラー原画から複写感
材特にカラーフィルムからカラーペーパに画像を焼付け
る自動写真焼付装置等の画像複写装置の露光量を制御す
る露光制御装置に関する。

〔従来の技術〕

一般に、カラー原画から複写感材へカラー画像を再現
するときの露光量は、色素フイルタや蒸着フイルタで構
成された色分解フイルタを備えた測光装置を用いて赤
（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）光の積算透過（または反
射）濃度を測定し、Ｒ、Ｇ、Ｂ光各々について決定して
いる。露光量を正確に決定するには、測光装置の分光感
度分布を複写感材の分光感度に一致させる必要がある。
この複写感材の分光感度分布は、感光度が最大になる波
長に関して非対称になっている。しかしながら、色素フ
イルタや蒸着フィルタでは、透過率分布が非対称となる
ように作成することは多くのフイルタを組み合わせる必
要があり、量産の上でまた精度の上で困難である。

そこで、フオトレジスト露光装置において原画からの
光をスペクトル光に分解し、分解光に重みを付けて加算
する処理を行うことにより測光装置の光感度分布が複写
感材の分光感度分布に一致させることが知られている。
特開昭58−88624号公報には、フオトレジスト露光装置
として回折格子、収斂光学系およびフオトデイテクタを
用いて上記の処理を行うことが開示されているが、これ
らの相互配置により分光感度特性が変化しないようにす
るため、複雑なメカニズムが必要になる。特開昭61−95
525号公報では、フオトレジスト露光装置として上記回
折格子に代えて多数個の干渉フイルタを配置している。
しかしながら、分解光と同数の干渉フイルタが必要とな
るため、測光波長の数が多い場合には量産するのが困難
である。また、カラー写真用プリンタにおいては特開平
１−134353号公報で、プリズム、回折格子またはスペク
トルフイルタを用いて原画からの光をスペクトル分解
し、光電センサのパネルへコピー原稿の一部をスリツト
状に結像する。パネルの行で異なる測光位置を表し、パ
ネルの列は測光位置に応じてスペクトル光を電気信号に
変換する。回折格子やスペクトルフイルタを用いる場合
には上記と同様の問題があり、プリズムを使用する場合
には、屈折によって分光しているため、投影光を平行に
する必要があること、装置が大型化すること、行を列に
分解するため光量の大幅なダウンが生じること、各スペ
クトルにおいて大きな光量差が生じ同一パネルで測光で
きないこと等の欠点がある。特開平１−142719号公報に
もプリズムまたは回折格子とレンズと２次元アレイセン
サとを用いることが記載されているが、プリズムや回折
格子を用いているため上記と同様の問題がある。

本発明は上記問題点を解決すべく成されたもので、小
型でかつ低コストで製造することができ、高い精度の分
光感度分布をもつ測光センサを有する露光制御装置を提
供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために本発明は、透明基板上の異
なる位置に異る厚みの干渉膜を有して、原画からの光を
前記干渉膜の厚みに応じた中心波長の光に分光する干渉
フィルタを備え、原画からの光を多数のスペクトル光に
分光して測光する第１のセンサと、原画を多数個に分割
して赤光、緑光、青光を測光する第２のセンサと、少な
くとも第１のセンサのスペクトル測光値から求めた合成
値に基づいて基本露光量を決定すると共に基本露光量に
基づいて露光量を制御する制御手段と、を含んで構成し
たものである。

前記制御手段は、第１のセンサのスペクトル測光値か
ら求めた合成値に基づいて基本露光量を決定するかまた
は第１のセンサのスペクトル測光値から求めた合成値に
基づいて決定した色制御値と第２のセンサの測光値に基
づいて決定した濃度制御値とに基づいて基本露光量を決
定し、基本露光量に基づいて露光量を制御することがで
きる。

また、前記制御手段は、更に第２のセンサの測光値に
基づいて原画の画像内容に応じた補正値を決定し、基本
露光量を補正値で補正した値で露光量を制御するように
することができる。

前記第１のセンサは、透過光量制御層を設けるかまた
はセンサの画素面積を変更することによって短波域の感
度に対する長波域の感度を低下するのが好ましい。ま
た、このとき、500〜600nmの波長域の感度を1/2〜1/5、
600〜750nmの波長域の感度を1/4〜1/20に感度を低下さ
せるようにするのがよい。

〔作用〕

第１のセンサは、透明基板上の異なる位置に異なる厚
みの干渉膜を有し、原画からの光を前記干渉膜の厚みに
応じた中心波長の光に分光する干渉フイルタを備えてい
る。透明基板上の異なる位置に異なる厚みを有する干渉
膜は、くさび状に連続的に厚みを変更させることで容易
に形成できる。また、２枚のAg膜の間に低屈折率膜（Mg
F₂、氷晶石等）を挟むことにより、この低屈折率膜の厚
みに応じて可視域より近赤外域までの中の一つのスペク
トル光を透過さすことができる。透明基板上の異なる位
置に異なる厚みの干渉膜を有する干渉フイルタをMOS、C
CD等の光起電力効果型光センサ（以下センサまたはエリ
アセンサまたはラインセンサ）上に配設することにより
干渉膜の厚みに応じた多数のスペクトル光を測光するこ
とが可能となる。従って、従来のように中心波長が異な
る複数の干渉フイルタを組合せる場合に比較して低コス
トで製造することができ、また干渉を利用して分光して
いるため屈折を利用して分光するプリズムに比較して小
型化することができる。そして、第１のセンサは、原画
を透過した光または原画から反射された光を多数のスペ
クトル光に分光して測光する。第１のセンサのスペクト
ル測光値には、複写感材の相対分光感度分布に応じて定
まる重みが付加される。このように、スペクトル測光値
に重みを付加することによって第１のセンサの分光感度
分布と複写感材の分光感度分布とを一致させることがで
きるので、制御手段は、第１のセンサの測光値から基本
露光量を決定し、この基本露光量で露光量を制御するこ
とができる。

第２のセンサは、原画を多数個に分割してＲ、Ｇ、Ｂ
光を測光する。第１のセンサは多数のスペクトル光に分
光して測光するため第１のセンサのスペクトル測光値か
ら求めた合成値に基づいて色制御値を決定することがで
きる。第２のセンサの分光感度分布は複写感材の分光感
度分布と必ずしも正確に一致していない。このため、第
１のセンサのスペクトル測光値から求めた合成値に基づ
いて決定した色制御値と第２のセンサの測光値に基づい
て決定した濃度制御値とに基づいて基本露光量を決定す
るようにしてもよい。

また、第２のセンサは原画を多数個に分割して測光し
ているため、測光値から求めた画像特徴量により所定の
演算を行なったり（特開昭54−28131号、特開昭55−384
10号、特開昭61−3133号の技術を使用できる。）必要な
測光値を選択する（特開昭62−189457号、特開昭61−19
8144号、特開昭63−311241号の技術を使用できる。）等
によって原画の画像内容に応じた補正値を決定し、上記
の基本露光量を補正値で補正してもよい。

通常露光光源に用いるランプは短波域の光量が少な
く、またセンサも短波域において感度が低い。従って、
光源としてハロゲンランプを使用するときには、第１の
センサの短波域の感度に対する長波域の感度を低下させ
る必要がある。感度を変更するには、透過光量制御層
（干渉膜またはフイルタ）を設けるかまたはセンサの画
素面積を変更する感度低下手段を用いればよい。感度の
低下は、具体的には500〜600nmの波長域の感度を1/2〜1
/5、600〜750nmの波長域の感度を1/5〜1/20に低下すれ
ばよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、透明基板上の異
なる位置に厚みの異なる干渉膜を有する干渉フイルタを
用いているため、中心波長の異なる干渉フイルタを多数
個組合せる場合に比較して量産化しやすいと共に、複写
感材の変更による分光感度分布の変化に対しフイルタを
交換することなく、単にスペクトル測光値の重み値を変
更すればよい、という効果が得られる。さらに本発明は
プリズムを使用していないため小型化低コストにするこ
とができる、という効果も得られる。

また、本発明は、波長域に応じて感度を変更すれば、
測光に充分な光量を確保できる、という効果も得られ
る。

さらに第１のセンサで画面平均濃度に基づく基本露光
量を求め、第２のセンサで画面を多数個に分割測光して
露光補正量を求めるようにしてあるので、第２のセンサ
の分光感度分布は必ずしも複写感材の分光感度分布に合
わせる必要はない。

〔実施例〕

以下本発明の実施例を詳細に説明する。本実施例は、
カラー写真焼付装置に本発明を適用したものである。第
１図に示すように、ネガキヤリアに装填されて焼付部に
搬送されたネガフイルム20の下方には、ミラーボツクス
18およびハロゲンランプを備えたランプハウス10が配置
されている。ミラーボツクス18とランプハウス10との間
には、調光フイルタ60が配置されている。調光フイルタ
60は、周知のようにＹ（イエロ）フイルタ、Ｍ（マゼン
タ）フイルタおよびＣ（シアン）フイルタの３つの色フ
イルタで構成されている。

ネガフイルム20の上方には、レンズ22、ブラツクシヤ
ツタ24およびカラーペーパ26が順に配置されており、ラ
ンプハウス10から照射されて調光フイルタ60、ミラーボ
ツクス18およびネガフイルム20を透過した光線はレンズ
22によってカラーペーパ26上に結像するように構成され
ている。

上記の結像光学系の光軸に対して傾斜した方向でかつ
ネガフイルム20の画像濃度を測光可能な位置に第１のセ
ンサ28と第２のセンサ30とが配置されている。

第１のセンサ28は、重み付け回路40を介して露光量演
算回路42に直接接続され、第２のセンサ30は露光量演算
回路42に接続されている。露光量制御回路44は、露光量
演算回路42の出力に基づいて露光制御量を演算し、調光
フイルタ60を制御する。

第１のセンサ28は、第２図に示すように、二次元イメ
ージセンサ32と金属干渉フイルタ34とから構成されてい
る。二次元イメージセンサ32は、単位波長を１ピクセル
とする画素密度で構成されている。単位波長としては２
〜20nmの範囲内の値、例えば５〜10nmが好ましく、干渉
膜はくさび状に形成して、連続的に厚みが変わるように
構成するのが好ましい。金属干渉フイルタ34は、透明基
板11上に蒸着した銀Agの薄膜16の上に、くさび状に厚み
を変更したフツ化マグネシウムMgF₂の薄膜12を形成し、
さらにその上に銀Agの薄膜14を蒸着して構成している。
薄膜14、16の厚みは、一定でもよく、またAg薄膜14、16
の厚みによって透過率をコントロールすることができる
ことより、薄膜12の厚みが厚い部分から薄い部分にかけ
て、徐々に厚くなるようにしてもよい。これは、ハロゲ
ンランプが420nm〜500nmの短波域で光量が少ないこと、
短波域で二次元イメージセンサ感度が低いことから、ス
ペクトル光の短波域（例えば、420nm〜500nm）のセンサ
感度に対してスペクトル光の長波域（例えば500nm〜750
nm）のセンサ感度を低下させるためであり、センサ感度
を低下させるために第２図では長波域側の薄膜14、16の
厚みを厚くして透過率を低下させている。この金属干渉
フイルタ34で分光される光の中心波長は、くさび状薄膜
12の厚みに応じて定まり、厚みが厚い程中心波長は短波
側になる。

短波長域は２次干渉光を、長波長域側は１次干渉光を
利用する等、不要な干渉光をカツトするためシヤープカ
ツトフイルタまたはバンドパスフイルタ13を併用する必
要がある。またさらに膜の劣化防止のためにAg膜の保護
膜（SiO膜、MgF₂膜）を重ねるようにしてもよい。

第３図は、第１のセンサの他の例を示すもので、金属
干渉フイルタは、透明基板11の上にくさび状に厚みを変
化させたフツ化マグネシウムMgF₂の薄膜12と、薄膜12を
挟んで蒸着された厚さが均一ない銀Agの薄膜14、16とか
ら構成されている。さらに不要な干渉光をカツトするた
めにシヤープカツトフイルタまたはバンドパスフイルタ
13を重ねる。この第１のセンサでは、短波域のセンサ感
度に対して長波域のセンサ感度を低下させるために、二
次元イメージセンサの短波側のピクセルの面積を長波側
のピクセルの面積に対して大きくしている。このように
面積を大きくすることにより１ピクセルで受光される光
量が多くなるため短波側の感度が長波側の感度に対して
高くなる。

なお、実施例は干渉膜をくさび状にして厚みを変更し
ているが、別法として階段状に干渉膜の厚みを変更して
もよい。また、第５図に示されるように、金属干渉フイ
ルタ34の長波域側に色フイルタやNDフイルタ等の透過光
量制御フイルタ36を設けて感度を低下させてもよい。ま
た低屈折率膜としてフツ化マグネシウムに代えて氷晶石
を使用してもよい。

第４図は、干渉フイルタの更に他の例を示すものであ
り、この干渉フイルタは、ガラス基板50に酸化チタンTi
O₂、酸化セリウムCeO₂等の高屈折物質膜52とフツ化マシ
ウムMgF₂等の低屈折物質膜54とから成る交互膜を真空蒸
着して構成されている。中心波長λ、屈折率ｎ、膜厚ｄ
の関係はλ＝４・ｎ・ｄで表わされるから、この式に基
づいて膜厚が決定される。膜52の厚さと膜54の厚さとの
比は1:3また3:1が通常よく用いられる。膜を連続的に変
化させるには、蒸着発生源から傾けて基板を設置して真
空蒸着機で蒸着するかまたは基板の前方に膜厚をコント
ロールするマスクを設置して蒸着すればよい。基板のか
わりにイメージセンサに蒸着してもよい。

フイルタ形成後またはフイルタをイメージセンサに蒸
着した後窒素ガス等の不活性ガスを封入してカバーガラ
スで密封すれば蒸着膜の耐久性も向上させることができ
る。このフイルタは、短波側または長波側の不要な透過
光をカツトするため、例えば紫外カツトや赤外カツトの
ためにシヤープカツトの色ガラスフイルタや誘電体多層
膜フイルタを併用して用いる。

第６図はくさび状の干渉フイルタを２個使用した第１
のセンサの他の例を示すものである。この第１のセンサ
は、二次元イメージセンサ32と、透明基板11上に設けら
れた短波域用干渉フイルタ34Aと、長波域用干渉フイル
タ34Bとを備えている。短波域用干渉フイルタ34Aの最大
厚みは、長波域用干渉フイルタ34Bの最大厚みより厚く
形成されている。また、二次元イメージセンサ32の短波
域側のピクセルの面積は長波側のピクセルの面積より広
くされており、これによって短波域側の感度に対して長
波域側の感度が低下するようにされている。

第６図のフイルタの代わりに第１のセンサは、測光域
を３つの領域に区分して測光するＲ光用干渉フイルタ
（580〜750nm用）、Ｇ光用干渉フイルタ（480〜600nm
用）、Ｂ光用干渉フイルタ（400〜500nm用）の３個のく
さび状の干渉フイルタと二次元イメージセンサ32とから
構成されてもよい。当然３個を一体に構成したセンサで
あっても３個別々でも、２個のみ一体化したものであっ
てもよい。別々の３個のセンサに分離した場合、バンド
パスフイルタやシヤープカツトフイルタを利用して容易
に干渉光を選択したり透過光量をコントロールする上で
容易である。また各干渉光フイルタの波長域は上記より
も狭めて、分光波長精度をアップしても、小型化しても
よい。

第２のセンサ40は、三色分解フイルタと二次元イメー
ジセンサとで構成され、ネガフイルム20の画像を多数個
に分割してＲ、Ｇ、Ｂ光を測光する。ここで、Ｒ光は58
0〜750nm、Ｇ光は480〜600nm、Ｂ光は400〜500nmの範囲
内の光を採用することができる。

重み付け回路40は、（１）式のように重み係数Kijを
用いてスペクトル測光値から合成値SSiを求める。

（１）式においてSij/Soijはフイルム画像の各波長ij
における透過率であり、合成値SSiはフイルムがないと
きを濃度０とした濃度値である。当然定数αｉ、βｉを
付加した値Ｓ′ｉ＝αｉ＋βiSSiとして露光量演算に用
いてもよい。

ただし、Soijはフイルム画像が存在しないときのピク
セルijにおけるスペクトル測光値、Sijは同じピクセル
の原画を透過した光のスペクトル測光値である。ｉは
Ｒ、Ｇ、Ｂの各波長域を表し、ｊは測光波長に対応する
ピクセルナンバー、ｎは各Ｒ、Ｇ、Ｂ中の測光波長数
（＝ピクセル数）を表す。

Ｌを定数（スペクトル光の波長間隔や波長分布、基準
フイルタやフイルム挿入による補正等によって定める。
波長毎に値を変更するようにしてもよい。）、ｊを10nm
間隔の波長に対し定め、PSijを露光光学系を含む複写材
料ij波長の実質的な分光感度、Soijをフイルムが存在し
ないときの各ピクセルｊにおけるスペクトル測光値とす
るとき、上記重み係数Kijは、（２）式から決定され
る。この係数Kijは予め装置にメモリしておくか、装置
毎に求めるようにすればよい。

PSij＝Kij（L/Soij） ……（２）第７図（１）、（２）は（２）式を説明したものであ
る。第７図（２）の点線は複写材料の相対分光感度分布
を表す。

なお、本発明は（１）、（２）式に限定されるもので
はない。特にスペクトルの波長幅やスペクトル波長間
隔、または理想的なスペクトルでないことによる分布形
状等を考慮するのがよい。基本的には第７図（２）の点
線（複写材料の相対分光感度分布）と実線（センサの各
ピクセルの感度分布）の面積が一致するようにKijを定
めればよい。

第９図は理想的なスペクトルが得られた場合の第１セ
ンサの重み付け結果としてのＲ、Ｇ、Ｂの相対分光感度
分布を示したものである。すなわち、第１センサにおい
てＢ、Ｇ、Ｒの極大感度波長を1.0とした時の各スペク
トルの重みを示したものである。極大感度を1.0とする
時、第９図はＢ、Ｇ、Ｒの相対感度分布に等しい。点線
は複写感材の分光感度分布を表す。

第１、２のセンサは光軸に対して斜めから測光してい
るため、フイルムが存在しないとき、または基準フイル
ム、フイルタを挿入したとき、全測光画面にわたって等
測光値になるようキヤリブレーシヨンを行なう。第８図
（１）は上下方向に干渉フイルタの厚みが変化するよう
に配置し、第１センサでフイルム画面を斜目から測光し
ている様子を示したものである。第８図（２）は第８図
（１）に示したフイルム上の位置Ａ〜Ｈがセンサ上に投
影された様子を示すものである。縦方向に分光し、横方
向にフイルム位置が投影されている。キヤリブレーシヨ
ンによって投影されたＡ〜Ｈを等しい測光値（例えば、
０と定める）となるように感度や補正値を調整してお
く。各スペクトル光に対しＡ〜Ｈの測光値を加算するこ
とによって斜目測光によるフイルム中の画像位置依存性
はなくなる。

また、シリンドリカルレンズ等でＡ〜Ｈ方向を縮少し
て測光しても、センサの各ピクセルは第２、３図のよう
に長方形としてもよい。

露光量演算回路42は、重み付け回路40の出力値、即ち
合成値SSiをSr、Sg、Sb、第２のセンサの画面平均測光
値をmr、mg、mbとすると、以下の式に従って基本露光量
Diを演算する。ただし、ｒ、ｇ、ｂは赤色、緑色、青色
を表わし、ｉはｒ、ｇ、ｂのうちのいずれか１つであ
る。

Di＝（mr＋mg＋mb）/3 ＋Si−（Sr＋Sg＋Sb）/3 ……（３）式（３）は第１センサと第２センサの画面平均濃度の
マツチングをとるため、第２センサの３色平均濃度に対
し、第１センサの色の差を加算したものである。第２セ
ンサによる基本露光量の補正値は、第２センサの３色平
均濃度に対し濃度の補正値及び第２センサのmr、mg、mb
に対する色補正値を求め、基本露光量Diに加算すればよ
い。

なお、以下の（４）、（５）、（６）式等に従って基
本露光量Diを演算してもよい。

Di＝（mr＋mg＋mb）/3 ＋（Si−Sg） ……（４） Di＝mg＋（Si−Sg） ……（５） Di＝Si ……（６）そして、露光量制御回路44は、基本露光量Diに従い調
光フイルタを制御することによって露光量を制御する。

なお、撮影シーンに基づく濃度、カラーフエリア等を
補正するために、第２のセンサの測光値に基づいて補正
量を演算して、基本露光量にこの補正値を加算した値を
露光制御値として露光量を制御する。補正量の演算方法
および露光量制御方法は特開昭63−311241号、特開昭63
−311242号等に詳しく記載されている。

上記ではセンサ感度を短波域と長波域とで変更する例
について説明したが、400〜500nmの波長域の平均感度に
対し500〜600nmの波長域の平均感度が50％以下、600〜7
50nmの波長域の平均感度が20％以下に低下させるように
してもよい。このときには、フイルムが存在しないとき
の各スペクトル測光値は同程度の大きさになる。具体的
には、500〜600nmの波長域に対し透過率50％〜20％のフ
イルタを、600〜750nmの波長に対し透過率25〜５％のフ
イルタを干渉フイルタに重ねるようにする。また、別の
方法として400〜500nmのセンサのピクセル面積に対し50
0〜600nmのセンサとピクセル面積を1/2〜1/5に、600〜7
50nmのピクセル面積を1/4〜1/20にする。

以上説明したように本実施例によれば、特開昭63−31
1241号等に記載のようにフイルム特性の異なるフイルム
種を同一の焼付条件でプリントすることができ従来以上
に高い品質のプリントを各種のフイルムから作れる、と
いう効果が得られる。また、カラー複写機に適用すれ
ば、分光感度特性の異なる原画（写真原画、印刷原画、
イラスト、パース立体物等）を同一コピー条件でコピー
することができる。

実施例では基本露光量Diを式（３）〜（６）のように
示したが、これらに限定されるものでなく、さらに第２
センサの測光値から求めた画像特徴量（例えば、最大濃
度、最小濃度、部分面積濃度等）を付加した値を基本露
光量としてもよい。第１と第２のセンサの測光値との対
応関係から、第２のセンサの測光値の修正式（または変
換テーブル）を作成し、第２のセンサ測光値を第１のセ
ンサの測光値に近似した値に変換し、その変換値により
露光量を求め、露光制御してもよい。また第２のセンサ
で求めた露光量を第１のセンサーで求めた測光値で修正
するようにしてもよい。この場合、第１と第２の測光値
で求めた基本露光量の差を修正値とすればよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明が適用可能なカラー自動焼付機の実施例
を示すブロック図、第２図〜第６図は第１のセンサおよ
び第１のセンサに使用可能なフイルタの斜視図、第７図
（１）、（２）は（２）式を示す線図、第８図（１）、
（２）は斜め測光時のキヤリブレーシヨンのし方を説明
するための平面図、第９図はＲ、Ｂ、Ｇの相対感度分布
を示す線図である。 28……等１のセンサ、 30……第２のセンサ、 32……２次元イメージセンサ、 34……干渉フイルタ。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】透明基板上の異なる位置に異る厚みの干渉
膜を有して、原画からの光を前記干渉膜の厚みに応じた
中心波長の光に分光する干渉フィルタを備え、原画から
の光を多数のスペクトル光に分光して測光する第１のセ
ンサと、原画を多数個に分割して赤光、緑光、青光を測光する第
２のセンサと、少なくとも第１のセンサのスペクトル測光値から求めた
合成値に基づいて基本露光量を決定すると共に基本露光
量に基づいて露光量を制御する制御手段と、を含む露光制御装置。
【請求項２】前記制御手段は、第１のセンサのスペクト
ル測光値から求めた合成値に基づいて基本露光量を決定
するかまたは第１のセンサのスペクトル測光値から求め
た合成値に基づいて決定した色制御値と第２のセンサの
測光値に基づいて決定した濃度制御値とに基づいて基本
露光量を決定し、基本露光量に基づいて露光量を制御す
る請求項（１）記載の露光制御装置。
【請求項３】前記制御手段は、更に第２のセンサの測光
値に基づいて原画の画像内容に応じた補正値を決定し、
基本露光量を補正値で補正した値で露光量を制御する請
求項（２）記載の露光制御装置。
【請求項４】前記第１のセンサは、透過光量制御層を設
けるかまたはセンサの画素面積を変更することによって
短波域の感度に対する長波域の感度がより低下されてい
る請求項（１）、（２）または（３）記載の露光制御装
置。
【請求項５】前記第１のセンサは、500〜600nmの波長域
の感度を1/2〜1/5、600〜750nmの波長域の感度を1/4〜1
/20に感度を低下させる請求項（４）記載の露光制御装
置。