JP2024041496A - 磁気ディスク装置及びリフレッシュ処理方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 効率的にデータの書き直しを行うことのできる磁気ディスク装置及びリフレッシュ処理方法を提供する。【解決手段】 磁気ディスク装置１は、ディスクＤＫと、ヘッドＨＤと、制御部と、を備える。上記制御部は、第１重み係数であるｋ１を調整可能な調整部６４と、第１ライト回数を上記ｋ１回とカウントするカウンタ６２と、上記第１ライト回数の第１累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する判断部６５と、上記第１累計が上記第１ライト回数閾値を超えた際に、ディスクＤＫの第１対象セクタをリフレッシュするリフレッシュ処理部６３と、を備える。調整部６４は、第１期間に上記ｋ１を第１範囲内の数値に調整し、第２期間に上記ｋ１を第２範囲内の数値に調整する。上記第２範囲内の数値の上限は、上記第１範囲内の数値の下限より小さい。【選択図】図３

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及びリフレッシュ処理方法に関する。

磁気ディスク装置として、ディスクの半径方向に間隔に置いて複数のトラックをライトする通常記録（Conventional Magnetic Recording:ＣＭＲ）型式（又は、従来記録型式）の磁気ディスク装置、ディスクの半径方向に複数のトラックを重ね書きする瓦記録（Shingled write Magnetic Recording：ＳＭＲ、又はShingled Write Recording：ＳＷＲ）型式の磁気ディスク装置、及び通常記録型式及び瓦記録型式を選択して実行するハイブリッド記録型式の磁気ディスク装置が知られている。

米国特許第９０９９１５５号明細書 米国特許第８１７４７８０号明細書 米国特許第９０９９１５７号明細書

本実施形態は、効率的にデータの書き直しを行うことのできる磁気ディスク装置及びリフレッシュ処理方法を提供する。

一実施形態に係る磁気ディスク装置は、
第１記録層に、第１対象セクタを含む第１対象トラックと、半径方向に前記第１対象セクタに隣接する第１隣接セクタを含む第１隣接トラックと、を有するディスクと、
前記ディスクの前記第１記録層に対してデータをライトし、前記第１記録層からデータをリードする第１ヘッドと、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
第１重み係数であるｋ１を調整可能な調整部と、
前記第１隣接セクタにデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数を前記ｋ１回とカウントするカウンタと、
前記カウンタでカウントした前記第１ライト回数の第１累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する判断部と、
前記第１累計が前記第１ライト回数閾値を超えた際に、前記第１対象セクタの第１対象データをリードし、前記第１対象データを前記第１対象セクタにリライトし、前記第１対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第１ライト回数をリセットするリフレッシュ処理部と、を備え、
前記調整部は、
前記制御部に最初に電源が投入されるタイミングから特定の期間である第１期間に、前記ｋ１を第１範囲内の数値に調整し、
前記第１期間を経過した後の第２期間に、前記ｋ１を第２範囲内の数値に調整し、
前記第２範囲内の数値の上限は、前記第１範囲内の数値の下限より小さい。

また、一実施形態に係るリフレッシュ処理方法は、
第１記録層に、第１対象セクタを含む第１対象トラックと、半径方向に前記第１対象セクタに隣接する第１隣接セクタを含む第１隣接トラックと、を有するディスクと、前記ディスクの前記第１記録層に対してデータをライトし、前記第１記録層からデータをリードする第１ヘッドと、制御部と、を備える磁気ディスク装置に適用されるリフレッシュ処理方法であって、第１重み係数をｋ１とした場合、
前記第１隣接セクタにデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数を前記ｋ１回とカウントし、
前記第１ライト回数の第１累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
前記制御部による制御の下、前記第１累計が前記第１ライト回数閾値を超えた際に、前記第１対象セクタの第１対象データをリードし、前記第１対象データを前記第１対象セクタにリライトし、前記第１対象セクタをリフレッシュし、前記第１ライト回数をリセットし、
前記第１累計が前記第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する際、
前記制御部に最初に電源が投入されるタイミングから特定の期間である第１期間に、前記ｋ１を第１範囲内の数値に調整し、
前記第１期間を経過した後の第２期間に、前記ｋ１を第２範囲内の数値に調整し、
前記第２範囲内の数値の上限は、前記第１範囲内の数値の下限より小さい。

図１は、一実施形態に係る磁気ディスク装置を示す分解斜視図である。 図２は、上記磁気ディスク装置のベースの背面側及び制御回路基板を示す分解斜視図である。 図３は、上記磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図４は、上記磁気ディスク装置の一部を示す斜視図であり、複数枚のディスク及び複数のヘッドを示す図である。 図５は、通常記録処理が行われる複数のトラックの一部を示す模式図である。 図６は、上記磁気ディスク装置の環境温度に対する環境の絶対湿度の変化をグラフで示す図である。 図７は、上記磁気ディスク装置の初期の使用時間に対する上記磁気ディスク装置の内部の湿度の変化をグラフで示す図である。 図８は、上記磁気ディスク装置の内部の湿度に対するヘッド浮上の低下量の変化をグラフで示す図である。 図９は、上記磁気ディスク装置のうち半径方向に並んだ３つのセクタを示す概略図であり、ヘッドの浮上量が通常である場合のＡＴＩ影響を説明するための図である。 図１０は、上記磁気ディスク装置のうち半径方向に並んだ３つのセクタを示す概略図であり、ヘッドの浮上量が通常より低下している場合のＡＴＩ影響を説明するための図である。 図１１は、上記磁気ディスク装置の制御部に最初に電源が投入されるタイミングからの経過時間と、重み係数と、の対応関係を表で示す図である。 図１２は、第１の変形例に係る磁気ディスク装置のディスクの複数のゾーンの配置の一例を示す概略図である。 図１３は、第４の変形例に係る磁気ディスク装置のうち半径方向に並んだ３つのセクタを示す概略図であり、図１０に示した３つのセクタの反対側を示す図である。

以下、図面を参照しながら一実施形態及び各変形例について説明する。
（一実施形態）
初めに、一実施形態に係る磁気ディスク装置１及びリフレッシュ処理方法について詳細に説明する。まず、磁気ディスク装置１の構成について説明する。図１は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１を示す分解斜視図である。本実施形態において、磁気ディスク装置１は、通常記録型式の磁気ディスク装置である。

図１に示すように、磁気ディスク装置１は、ほぼ矩形状の筐体１０を備えている。筐体１０は、上面の開口した矩形箱状のベース１２と、複数のねじ１３によりベース１２に固定されベース１２の上端開口を閉塞するトップカバー１４と、を有している。

ベース１２は、トップカバー１４と隙間を置いて対向する矩形状の底壁１２ａと、底壁１２ａの周縁に沿って立設された側壁１２ｂとを有し、例えば、アルミニウムにより一体に成形されている。側壁１２ｂは、互いに対向する一対の長辺壁と互いに対向する一対の短辺壁とを含んでいる。側壁１２ｂの上端面に、ほぼ矩形枠状の固定リブ１２ｃが突設されている。
トップカバー１４は、例えば、ステンレスにより矩形板状に形成されている。トップカバー１４は、ベース１２に溶接されていない。筐体１０内には空気が存在している。

筐体１０内には、記録媒体としての複数、例えば、１～６枚のディスク（磁気ディスク）ＤＫと、複数枚のディスクＤＫを支持及び回転させる駆動モータとしてのスピンドルモータ（ＳＰＭ）２０と、が設けられている。各ディスクＤＫは、例えば、直径９５ｍｍ（３．５インチ）に形成され、その両面に記録層（磁気記録層）を有している。
なお、本実施形態において、１～６枚のディスクＤＫが筐体１０内に収容されるが、ディスクＤＫの枚数はこれに限られない。また、単一のディスクＤＫが筐体１０内に収容されてもよい。

筐体１０内には、ディスクＤＫに対して情報の記録、再生を行なう複数のヘッド（磁気ヘッド）ＨＤ、これらのヘッドＨＤをディスクＤＫに対して移動自在に支持したヘッドスタックアッセンブリ（アクチュエータ）２２が収容されている。また、筐体１０内には、ボイスコイルモータ（以下ＶＣＭと称する）２４、ランプロード機構２５等が収容されている。
ヘッドスタックアッセンブリ２２は、回転自在な軸受ユニット２８と、軸受ユニット２８から延出した複数のアーム３０と、各アーム３０から延出したサスペンション３４と、を有している。各サスペンション３４の先端部にヘッドＨＤが支持されている。

図２は、磁気ディスク装置１のベースの背面側及び制御回路基板を示す分解斜視図である。
図２に示すように、制御回路基板５４は、筐体１０の外側に位置し、筐体１０に取付けられている。制御回路基板５４は、ベース１２の底壁１２ａの外面に、ねじにより固定されている。

ベース１２の底壁１２ａにおいて、一方の短辺側の端部に例えば矩形状の第１透孔（貫通孔）５８が形成されている。第１透孔５８は、リング状の封止部材（connector packing）及び板状の蓋部５９で閉塞されている。なお蓋部５９及び底壁１２ａは、第１透孔５８を囲んだ上記封止部材を挟んでいる。上記封止部材は、樹脂などの弾性体で形成され、上記樹脂としては、ゴム、エラストマー等を挙げることができる。

図３は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。
図３に示すように、磁気ディスク装置１は、ヘッドスタックアッセンブリ２２と、ドライバＩＣ１２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）１３０と、揮発性メモリ７０と、バッファメモリ（バッファ）８０と、不揮発性メモリ９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１１０とを備えている。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する）１００と接続される。

ヘッドスタックアッセンブリ２２は、ＶＣＭ２４の駆動により、アーム３０に搭載されているヘッドＨＤをディスクＤＫ上の目標位置まで移動制御する。
ディスクＤＫは、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域Ｕと、システム管理に必要な情報をライトするシステム領域Ｓとが割り当てられている。ここで、ディスクＤＫの複数のトラックのうち、任意のトラックを対象トラックとし、ディスクＤＫの半径方向に対象トラックに隣接するトラックを隣接トラックとする。対象トラックにおいて、ディスクＤＫの円周方向に並んだ複数のセクタのうち任意のセクタを対象セクタとする。隣接トラックにおいて、ディスクＤＫの円周方向に並んだ複数のセクタのうちディスクＤＫの半径方向に対象セクタに隣接するセクタを隣接セクタとする。

ヘッドＨＤは、スライダを本体として、スライダに実装されているライトヘッドＷＨＤとリードヘッドＲＨＤとを備えている。ライトヘッドＷＨＤは、ディスクＤＫ上にデータをライトする。リードヘッドＲＨＤは、ディスクＤＫ上のデータトラックに記録されているデータをリードする。

ドライバＩＣ１２０は、システムコントローラ１１０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ２０およびＶＣＭ２４の駆動を制御する。
ヘッドアンプＩＣ１３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスクＤＫからリードしたリード信号を増幅して、システムコントローラ１１０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル１４０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル１４０から出力される信号に応じたライト電流をヘッドＨＤに出力する。

揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。
バッファメモリ８０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ８０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ８０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。
不揮発性メモリ９０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ９０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。

システムコントローラ（コントローラ）１１０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１１０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル１４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０とを含んでいる。システムコントローラ１１０は、ドライバＩＣ１２０、ヘッドアンプＩＣ１３０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０、及びホスト１００に電気的に接続されている。

Ｒ／Ｗチャネル１４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスクＤＫからホスト１００に転送されるリードデータ及びホスト１００から転送されるライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル１４０は、ライトデータを変調する回路、又は機能を有している。また、Ｒ／Ｗチャネル１４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル１４０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ１３０、ＨＤＣ１５０、ＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。

ＨＤＣ１５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル１４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ１５０は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル１４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御する制御部であり、メインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ１２０を介してＶＣＭ２４を制御し、ヘッドＨＤの位置決めを行なうサーボ制御を実行する。ＭＰＵ６０は、ディスクＤＫへのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスクＤＫからのデータのリード動作を制御すると共に、ディスクＤＫからホスト１００に転送されるリードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ１２０、Ｒ／Ｗチャネル１４０、ＨＤＣ１５０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、リード／ライト処理部６１と、カウンタ６２と、リフレッシュ処理部６３と、調整部６４と、判断部６５と、を備えている。ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト処理部６１、カウンタ６２、リフレッシュ処理部６３、調整部６４、判断部６５等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部を回路として備えてもよい。

リード／ライト処理部６１は、ホスト１００からのコマンドに従って、データのリード処理及びライト処理を制御する。リード／ライト処理部６１は、ドライバＩＣ１２０を介してＶＣＭ２４を制御し、ヘッドＨＤをディスクＤＫ上の目標位置（所定の半径位置）に位置決めし、リード処理又はライト処理を実行する。

調整部６４は、重み係数であるｋ（ｋ１、ｋ２、及びｋ３）を調整することができる。
カウンタ６２は、ディスクＤＫのセクタ毎にデータをライトする毎に、ライトする回数（ライト回数とも称する）Ｎをｋ回とカウントすることができる。例えば、カウンタ６２は、ライト回数Ｎを、不揮発性メモリ９０に記憶し、ライト回数Ｎを不揮発性メモリ９０で管理することができる。なお、カウンタ６２がライト回数Ｎを記憶させる記録部は、不揮発性メモリ９０に限定されるものではなく、磁気ディスク装置１内の記録部であればよく、例えばシステム領域Ｓであってもよい。

判断部６５は、ライト回数閾値を持っている。判断部６５は、ライト回数Ｎの累計がライト回数閾値を超えたかどうかを判断することができる。例えば、判断部６５は、上記隣接セクタにて、ライト回数Ｎの累計がライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

リフレッシュ処理部６３は、判断部６５での判断結果に応じて、データのリード処理及びライト処理を制御することができる。例えば、隣接セクタにてライト回数Ｎの累計がライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際、判断部６５は、リフレッシュ処理を実行するための信号（リフレッシュ信号とも称する）をリフレッシュ処理部６３に出力し、リフレッシュ処理部６３は、上記対象セクタの対象データをリードし、上記対象データを対象セクタにリライトし、対象セクタをリフレッシュし、対象セクタにおけるライト回数Ｎをリセットする。例えば、リフレッシュ処理部６３は、不揮発性メモリ９０に記憶したライト回数Ｎを０回にリセットする。

図４は、磁気ディスク装置１の一部を示す斜視図であり、複数枚のディスクＤＫ及び複数のヘッドＨＤを示す図である。
図４に示すように、円周方向において、ディスクＤＫの回転する方向を回転方向ｄ３と称する。なお、図４に示した例では、回転方向は、反時計回りで示しているが、逆向き（時計回り）であってもよい。また、ディスクＤＫに対するヘッドＨＤの進行方向ｄ２は、回転方向ｄ３と逆向きである。

磁気ディスク装置１は、ディスクＤＫ１乃至ディスクＤＫｉのｉ枚のディスクと、ヘッドＨＤ１乃至ヘッドＨＤｊのｊ個のヘッドと、を備えている。本実施形態において、ヘッドＨＤの個数は、ディスクＤＫの枚数の２倍である（ｊ＝２・ｉ）。
ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉは、同軸に設けられ、互いに間隔を置いて重ねられている。ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉは、の径は、同じである。ここで、“同じ”、“同一”、“一致”、“同等”などの用語は、全く同じという意味はもちろん、実質的に同じであると見做せる程度に異なるという意味を含んでいる。なお、ディスクＤＫ１乃至ＤＫｉの径は、互いに異なってもよい。

各々のディスクＤＫは、両側に記録層Ｌを有している。例えば、ディスクＤＫ１は、第１記録層Ｌａ１と、第１記録層Ｌａ１の反対側の第２記録層Ｌｂ１と、を有している。ディスクＤＫ２は、第１記録層Ｌａ２と、第１記録層Ｌａ２の反対側の第２記録層Ｌｂ２と、を有している。ディスクＤＫｉは、第１記録層Ｌａｉと、第１記録層Ｌａｉの反対側の第２記録層Ｌｂｉと、を有している。各々の第１記録層Ｌａは、表面又は記録面と称される場合もある。各々の第２記録層Ｌｂは、裏面又は記録面と称される場合もある。

上述したように、本実施形態の磁気ディスク装置１は、通常記録型式の磁気ディスク装置である。そのため、各々の記録層Ｌのユーザデータ領域Ｕは、通常記録領域である。通常記録型式の磁気ディスク装置において、ユーザデータ領域Ｕ内でランダムにデータをライトすることが許可されている、つまり、通常記録が許可されている。

各々の記録層Ｌは、ユーザデータ領域Ｕ及びシステム領域Ｓを有している。
第１記録層Ｌａ１は、ユーザデータ領域Ｕａ１及びシステム領域Ｓａ１を有している。
第２記録層Ｌｂ１は、ユーザデータ領域Ｕｂ１及びシステム領域Ｓｂ１を有している。
第１記録層Ｌａ２は、ユーザデータ領域Ｕａ２及びシステム領域Ｓａ２を有している。
第２記録層Ｌｂ２は、ユーザデータ領域Ｕｂ２及びシステム領域Ｓｂ２を有している。
第１記録層Ｌａｉは、ユーザデータ領域Ｕａｉ及びシステム領域Ｓａｉを有している。
第２記録層Ｌｂｉは、ユーザデータ領域Ｕｂｉ及びシステム領域Ｓｂｉを有している。

ユーザデータ領域Ｕａ１（第１記録層Ｌａ１）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴａ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂ１（第２記録層Ｌｂ１）のうち、トラックＴａ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｂ１とする。
ユーザデータ領域Ｕａ２（第１記録層Ｌａ２）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴｃ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂ２（第２記録層Ｌｂ２）のうち、トラックＴｃ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｄ１とする。
ユーザデータ領域Ｕａｉ（第１記録層Ｌａｉ）のうち、図中二重の破線で挟まれたトラックをトラックＴｅ１とする。ユーザデータ領域Ｕｂｉ（第２記録層Ｌｂｉ）のうち、トラックＴｅ１の反対側に位置するトラックをトラックＴｆ１とする。
本実施形態において、トラックＴａ１，Ｔｂ１，Ｔｃ１，Ｔｄ１，Ｔｅ１，Ｔｆ１は、同一のシリンダに位置している。

ヘッドＨＤは、ディスクＤＫに対向している。本実施形態において、ディスクＤＫの各記録層Ｌには、１個のヘッドＨＤが対向している。例えば、ヘッドＨＤ１は、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｌａ１に対向し、第１記録層Ｌａ１にデータをライトし、第１記録層Ｌａ１からデータをリードする。ヘッドＨＤ２は、ディスクＤＫ１の第２記録層Ｌｂ１に対向し、第２記録層Ｌｂ１にデータをライトし、第２記録層Ｌｂ１からデータをリードする。ヘッドＨＤ３は、ディスクＤＫ２の第１記録層Ｌａ２に対向し、第１記録層Ｌａ２にデータをライトし、第１記録層Ｌａ２からデータをリードする。ヘッドＨＤ４は、ディスクＤＫ２の第２記録層Ｌｂ２に対向し、第２記録層Ｌｂ２にデータをライトし、第２記録層Ｌｂ２からデータをリードする。ヘッドＨＤｊ－１は、ディスクＤＫｉの第１記録層Ｌａｉに対向し、第１記録層Ｌａｉにデータをライトし、第１記録層Ｌａｉからデータをリードする。ヘッドＨＤｊは、ディスクＤＫｉの第２記録層Ｌｂｉに対向し、第２記録層Ｌｂｉにデータをライトし、第２記録層Ｌｂｉからデータをリードする。

図５は、通常記録処理が行われる複数のトラックの一部を示す模式図である。
図５に示すように、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｌａ１は、半径方向ｄ１に並んだトラックＴａ１、トラックＴａ２、トラックＴａ３、…、トラックＴａ（ｍ－１）、トラックＴａｍ、トラックＴａ（ｍ＋１）等を有している。図中、トラックＴａ１はディスクＤＫ１の最も外周ＯＤ側に位置し、トラックＴａ（ｍ＋１）はディスクＤＫ１の最も内周ＩＤ側に位置している。

トラックＴａ１は、半径方向ｄ１にトラック幅Ｗ１を有し、半径方向ｄ１の中心にトラックセンタＣ１を有している。トラックＴａ１と同様に、トラックＴａ２はトラック幅Ｗ２及びトラックセンタＣ２を有し、トラックＴａ３はトラック幅Ｗ３及びトラックセンタＣ３を有し、トラックＴａ（ｍ－１）はトラック幅Ｗ（ｍ－１）及びトラックセンタＣ（ｍ－１）を有し、トラックＴａｍはトラック幅Ｗｍ及びトラックセンタＣｍを有し、トラックＴａ（ｍ＋１）はトラック幅Ｗ（ｍ＋１）及びトラックセンタＣ（ｍ＋１）を有している。トラック幅Ｗ１乃至Ｗ（ｍ＋１）は、同一である。但し、トラック幅Ｗ１乃至Ｗ（ｍ＋１）は、互いに異なってもよい。

トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｍ＋１）は、半径方向ｄ１にピッチ（通常記録トラックピッチ）Ｐｔで配置されている。例えば、トラックセンタＣ１とトラックセンタＣ２とは半径方向ｄ１にピッチＰｔで離れ、トラックセンタＣ２とトラックセンタＣ３とは半径方向ｄ１にピッチＰｔで離れている。また、トラックセンタＣ（ｍ－１）とトラックセンタＣｍとは半径方向ｄ１にピッチＰｔで離れ、トラックセンタＣｍとトラックセンタＣ（ｍ＋１）とは半径方向ｄ１にピッチＰｔで離れている。なお、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｍ＋１）は、それぞれ、半径方向ｄ１に異なるピッチで配置されてもよい。
通常記録型式の磁気ディスク装置において、記憶容量を増大させるためにピッチＰｔを狭く設計することで高密度化を図ることができる。

また、図５に示した例では、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｍ＋１）は、それぞれ、半径方向ｄ１にギャップｇを置いて配置されている。例えば、トラックＴａ１及びトラックＴａ２は半径方向ｄ１にギャップｇで離れ、トラックＴａ２及びトラックＴａ３は、半径方向ｄ１にギャップｇで離れている。また、トラックＴａ（ｍ－１）及びトラックＴａｍは半径方向ｄ１にギャップｇで離れ、トラックＴａｍ及びトラックＴａ（ｍ＋１）は半径方向ｄ１にギャップｇで離れている。なお、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｍ＋１）は、互いに異なるギャップを置いて配置されてもよい。

図５では、説明の便宜上、各トラックＴａを長方形状に示しているが、実際には、各トラックＴａは円周方向に沿って湾曲している。また、各トラックは、半径方向ｄ１に変動しながら円周方向に延出している波状であってもよい。

ライト処理を実行する際、リード／ライト処理部６１（又はリフレッシュ処理部６３）は、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ１に位置決めしてデータをトラックＴａ１にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ２に位置決めしてデータをトラックＴａ２にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ３に位置決めしてデータをトラックＴａ３にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ（ｍ－１）に位置決めしてデータをトラックＴａ（ｍ－１）にライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣｍに位置決めしてデータをトラックＴａｍにライトし、ヘッドＨＤ１をトラックセンタＣ（ｍ＋１）に位置決めしてデータをトラックＴａ（ｍ＋１）にライトする。

図５に示した例では、リード／ライト処理部６１は、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｍ＋１）にシーケンシャルにライト処理を実行してもよく、トラックＴａ１乃至Ｔａ（ｍ＋１）のそれぞれの所定のセクタにランダムにライト処理を実行してもよい。
本実施形態の磁気ディスク装置１は上述したように構成されている。

次に、図６乃至図１０を用いてＡＴＩ（隣接トラック干渉）の影響について説明する。図６は、磁気ディスク装置１の環境温度（environmental temperature）に対する環境の絶対湿度の変化をグラフで示す図である。
図６に示すように、環境湿度（environmental humidity）に関してはmaximum wet bulb温度（最高湿球温度）にて規定され、グラフの直線から分かるように、maximum wet bulb温度Ｔｗより高温になるに従い絶対湿度は小さくなる。上記温度Ｔｗ以下において、相対湿度１００％とした場合、グラフの曲線から分かるように、高温になるに従い絶対湿度は高くなる。環境の絶対湿度は、グラフの値となる。例えば、相対湿度が１００％ではなく８０％である場合、環境の絶対湿度は、グラフ以下の値となる。

なお、上記環境とは、磁気ディスク装置１の外部、磁気ディスク装置１の周囲等を意味している。上記環境温度は、磁気ディスク装置１の外部の雰囲気の温度である。上記環境湿度は、磁気ディスク装置１の外部の雰囲気の湿度である。
ところで、上記温度Ｔｗでありかつ高湿である環境（保管環境）下に、磁気ディスク装置１がしばらく放置される場合があり、その後、環境温度が上記温度Ｔｗより高い温度Ｔｈで磁気ディスク装置１が使用される場合がある。

環境温度を温度Ｔｈに上げた場合の磁気ディスク装置１の内部の湿度（絶対湿度）は、点ＰＬとしてプロットしている。点ＰＬとグラフから分かるように、磁気ディスク装置１の内部の絶対湿度と、環境の絶対湿度との差ＤＩが大きくなる。磁気ディスク装置１の内部の部品（例えば、活性炭）が吸収していた水分により、磁気ディスク装置１の内部の湿度が極端に高くなると考えられる。

図７は、磁気ディスク装置１の初期の使用時間に対する磁気ディスク装置１の内部の湿度の変化をグラフで示す図である。
図７に示すように、磁気ディスク装置１の内部の湿気は、磁気ディスク装置１の外部に抜けるが、タイムリーに抜けていく訳ではない。磁気ディスク装置１の内部の湿気は使用時間の経過とともに減少し、磁気ディスク装置１の内部の湿度は使用時間の経過とともに環境湿度に近づくことになる。磁気ディスク装置１の内部の湿度が環境湿度から乖離している期間は、磁気ディスク装置１を保管環境から使用環境に移動してから一定期間のみであることが分かる。

図８は、磁気ディスク装置１の内部の湿度に対するヘッドＨＤ浮上の低下量の変化をグラフで示す図である。なお、図８において、磁気ディスク装置１の内部の温度を一定としている。
図８に示すように、磁気ディスク装置１は、一般的に、内部の湿度が高いと、ヘッドＨＤ浮上の低下量が多くなる特性を有している。湿度が高いと、ヘッドＨＤは十分に浮上しない。

図９は、磁気ディスク装置１のうち半径方向ｄ１に並んだ３つのセクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａｍ，ＳＣａ（ｍ＋１）を示す概略図であり、ヘッドＨＤ１の浮上量が通常である場合のＡＴＩ影響を説明するための図である。図１０は、上記３つのセクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａｍ，ＳＣａ（ｍ＋１）を示す概略図であり、ヘッドＨＤ１の浮上量が通常より低下している場合のＡＴＩ影響を説明するための図である。

図９及び図１０において、セクタＳＣａｍを対象とするデータのライト処理が行われた領域に斜線を付し、セクタＳＣａ（ｍ－１）を対象とするデータのライト処理が行われた領域及びセクタＳＣａ（ｍ＋１）を対象とするデータのライト処理が行われた領域にドットパターンを付している。

図９及び図１０に示すように、トラックＴａｍは、セクタＳＣａｍを有している。トラックＴａ（ｍ－１）は、半径方向ｄ１にセクタＳＣａｍに隣接したセクタＳＣａ（ｍ－１）を有している。トラックＴａ（ｍ＋１）は、半径方向ｄ１にセクタＳＣａｍに隣接したセクタＳＣａ（ｍ＋１）を有している。

以下、トラックＴａｍを第１対象トラックＴａｍと称し、トラックＴａ（ｍ－１）を第１隣接トラックＴａ（ｍ－１）と称し、トラックＴａ（ｍ＋１）を第１隣接トラックＴａ（ｍ＋１）と称する。第１隣接トラックＴａ（ｍ＋１）は、第１対象トラックＴａｍより内側に位置した第１内側隣接トラックである。第１隣接トラックＴａ（ｍ－１）は、第１対象トラックＴａｍより外側に位置した第１外側隣接トラックである。

また、セクタＳＣａｍを第１対象セクタＳＣａｍと称し、セクタＳＣａ（ｍ－１）を第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１）と称し、セクタＳＣａ（ｍ＋１）を第１隣接セクタＳＣａ（ｍ＋１）と称する。第１隣接セクタＳＣａ（ｍ＋１）は、半径方向ｄ１に第１対象セクタＳＣａｍに隣接する第１内側隣接セクタである。第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１）は、半径方向ｄ１に第１対象セクタＳＣａｍに隣接する第１外側隣接セクタである。

図９に示すように、ヘッドＨＤ１の浮上量が通常である場合、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１）を対象とするデータのライト処理が行われたり、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ＋１）を対象とするデータのライト処理が行われたりしても、第１対象セクタＳＣａｍのデータへのＡＴＩ影響は小さい。

図１０に示すように、しかしながら、ヘッドＨＤ１の浮上量が通常より低下している場合、ディスクＤＫ１へのライティング特性が上がることになる。ヘッドＨＤ１からディスクＤＫ１への磁気の影響が強くなるため、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１）を対象とするデータのライト処理が行われたり、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ＋１）を対象とするデータのライト処理が行われたりすると、第１対象セクタＳＣａｍのデータ又はその近傍の領域へのＡＴＩ影響は大きくなる。

さらに、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）にデータのライトが何回も行われる場合、都度、第１対象セクタＳＣａｍのうち第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）との境界近傍にもデータがライト（オーバーライト）される。第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）へのライトの回数が多くなると、第１対象セクタＳＣａｍの本来の対象データをリードできなくなる恐れがある。

上述したことから、磁気ディスク装置１は、ＡＴＩ影響を考慮し、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）へのライト回数がライト回数閾値を超えた場合にＡＴＩリフレッシュ動作と呼ばれるリフレッシュ処理を実施している。リフレッシュ処理は、第１対象セクタＳＣａｍのデータをリードし、リードしたデータを第１対象セクタＳＣａｍにリライトし、第１対象セクタＳＣａｍをリフレッシュする処理である。これにより、ＡＴＩ影響による第１対象セクタＳＣａｍの本来の対象データをリードできなくなる事態を事前に回避することができる。

ところで、上記リフレッシュ処理に課題がある。例えば、磁気ディスク装置１（筐体１０）の内部の湿度が極端に高い状態では、ＡＴＩリフレッシュが間に合わず、第１対象セクタＳＣａｍのデータのリード時にエラーに至るリスクが高まってしまう。磁気ディスク装置１の内部の湿度が極端に高い状態でも、ＡＴＩリフレッシュが間に合うようにするには、上記ライト回数閾値を下げることが考えられる。

しかしながら、ライト回数閾値を下げると、磁気ディスク装置１の性能悪化が懸念され、磁気ディスク装置１は、長期にわたって効率的にデータを書き直すことができなくなる。そこで、本実施形態は、上記課題を解決するものであり、効率的にデータの書き直しを行うことのできる磁気ディスク装置１及びリフレッシュ処理方法が得られるものである。本実施形態は、例えば、図７に示す第１期間と第２期間とで条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うものである。詳しくは、磁気ディスク装置１の性能悪化を極力小さくするために、磁気ディスク装置１は、第１期間（使用開始後の一定期間）に、ＡＴＩリフレッシュのタイミングを早める機能を備えている。

次に、本実施形態に係るリフレッシュ処理方法について、磁気ディスク装置１の動作と併せて説明する。ここでは、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｌａ１の第１対象セクタＳＣａｍにリフレッシュ処理を適用した場合について説明する（図１０）。調整部６４は、第１重み係数であるｋ１を調整可能である（図３）。

図３、図４、及び図１０に示すように、リフレッシュ処理方法を開始すると、まず、カウンタ６２は、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）にデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数Ｎ１をｋ１回とカウントする。
続いて、判断部６５は、第１ライト回数Ｎ１の第１累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

ＭＰＵ６０による制御の下、第１累計が第１ライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際に、リフレッシュ処理部６３は、第１対象セクタＳＣａｍの第１対象データをリードし、第１対象データを第１対象セクタＳＣａｍにリライトし、第１対象セクタＳＣａｍをリフレッシュし、第１ライト回数Ｎ１をリセットする。

第１累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する際、ＭＰＵ６０に最初に電源が投入されるタイミングから特定の期間である第１期間に、調整部６４は、第１重み係数ｋ１を第１範囲内の数値に調整している。例えば、第１期間から第２期間に切り替わるタイミングは、磁気ディスク装置１の内部の湿度が環境湿度と実質的に同一となるタイミングである。第１期間を経過した後の第２期間に、調整部６４は、第１重み係数ｋ１を第２範囲内の数値に調整している。上記第２範囲内の数値の上限は、上記第１範囲内の数値の下限より小さい。

本実施形態において、調整部６４は、第１期間に第１重み係数ｋ１を１を超える数値に調整し、第２期間に第１重み係数ｋ１を１に固定している。第１範囲内の数値は１を超える数値であり、第２範囲内の数値は１以下の数値である。但し、調整部６４は、第２期間に第１重み係数ｋ１等の重み係数ｋを複数回、調整したり、１以外の数値に固定したりしてもよい。又は、調整部６４は、第１期間に第１重み係数ｋ１等の重み係数ｋを利用し、第２期間に別の重み係数を利用してもよい。

これにより、第２期間より第１期間の方が、第１累計が第１ライト回数閾値を超え易くなる。第１期間にＡＴＩ影響による第１対象セクタＳＣａｍのデータのリードエラーを回避しつつ、第２期間にＡＴＩリフレッシュの発動による性能悪化を最小限にとどめることができる。

なお、第１ライト回数Ｎ１をリセットするタイミングは、第１対象セクタＳＣａｍをＡＴＩリフレッシュするタイミングに限定されるものではない。例えば、第１累計が第１ライト回数閾値を超える前に第１対象セクタＳＣａｍにデータをライトした場合、リフレッシュ処理部６３はカウンタ６２でカウントした第１ライト回数Ｎ１をリセットする。

また、第１重み係数ｋ１は、磁気ディスク装置１を使用する期間の長さに応じて変化してもよい。図１１は、磁気ディスク装置１のＭＰＵ６０に最初に電源が投入されるタイミングからの経過時間と、第１重み係数ｋ１と、の対応関係の一例を表で示す図である。
図３及び図１１に示すように、磁気ディスク装置１が図１１に示すような表をパラメータとして記憶しておくことで、調整部６４は上記表を参照して第１重み係数ｋ１を調整することができる。

調整部６４は、第１期間のうちの第１期に、第１重み係数ｋ１をｋ１ａに調整することができる（ｋ１ａ＝２．０）。調整部６４は、第１期間のうちの第１期に続く第２期に、第１重み係数ｋ１をｋ１ｂに調整することができる（ｋ１ｂ＝１．８）。調整部６４は、第１期間のうちの第２期に続く第３期に、第１重み係数ｋ１をｋ１ｃに調整することができる（ｋ１ｃ＝１．６）。調整部６４は、第１期間のうちの第３期に続く第４期に、第１重み係数ｋ１をｋ１ｄに調整することができる（ｋ１ｄ＝１．４）。調整部６４は、第１期間のうちの第４期に続く第５期に、第１重み係数ｋ１をｋ１ｅに調整することができる（ｋ１ｅ＝１．２）。調整部６４は、第２期間に、第１重み係数ｋ１をｋ１ｘに調整することができる（ｋ１ｘ＝１．０）。本実施形態において、ｋ１ａ＞ｋ１ｂ＞ｋ１ｃ＞ｋ１ｄ＞ｋ１ｅ＞ｋ１ｘである。

例えば、第２期間に第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）にデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数Ｎ１を１．０回とカウントする。第１期に第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）にデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数Ｎ１を２．０回とカウントする。第２期に第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１）にデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数Ｎ１を１．８回とカウントする。なお、第１ライト回数閾値は、アンリカバード限界ＢＥＲ（ビットエラーレート）に対してマージンを持った値であり、例えば１万回である。第１ライト回数閾値及び第１重み係数ｋ１は、磁気ディスク装置１の使用環境及び磁気ディスク装置１の個体差を含めた各種のばらつきを考慮して設計される。

磁気ディスク装置１の使用の経過とともに、磁気ディスク装置１の内部の湿度が環境湿度に徐々に近づき、ヘッドＨＤ１の浮上量が通常時の浮上量に徐々に近づくため、調整部６４は、第１重み係数ｋ１を段階的に下げてもよい。これにより、磁気ディスク装置１は、一層、効率的にデータの書き直しを行うことができる。

上記のように構成された一実施形態に係る磁気ディスク装置１及びリフレッシュ処理方法によれば、調整部６４は、磁気ディスク装置１を最初に使用するタイミングから特定の期間である第１期間に、第１重み係数ｋ１を第１範囲内の数値に調整することができる。調整部６４は、第１期間を経過した後の第２期間に、第１重み係数ｋ１を第２範囲内の数値に調整することができる。

常時、第１重み係数ｋ１を特定の数値（例えば「１」）に固定する場合と比較して、効率的にデータの書き直しを行うことのできる磁気ディスク装置１及びリフレッシュ処理方法を得ることができる。

（第１の変形例）
次に、第１の変形例について説明する。磁気ディスク装置１は、本第１の変形例で説明する構成以外、上記実施形態と同様に構成されている。リフレッシュ処理方法は、本第１の変形例で説明する工程以外、上記実施形態と同様である。図１２は、第１の変形例に係る磁気ディスク装置１のディスクＤＫ１の複数のゾーンＺの配置の一例を示す概略図である。

図１２に示すように、ディスクＤＫ１は、第１記録層Ｌａ１に、第１ゾーンＺ１と、第１ゾーンＺ１より内側に位置した第２ゾーンＺ２と、第２ゾーンＺ２より内側に位置した第３ゾーンＺ３と、を有している。第１ゾーンＺ１ｍはゾーン０、第２ゾーンＺ２はゾーン１、第３ゾーンＺ３はゾーン２、ともそれぞれ称される。

第１ゾーンＺ１は、第１対象セクタＳＣａｍを含む第１対象トラックＴａｍ、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ－１）を含む第１隣接トラックＴａ（ｍ－１）、第１隣接セクタＳＣａ（ｍ＋１）を含む第１隣接トラックＴａ（ｍ＋１）等の複数のトラックＴを有している。

第２ゾーンＺ２は、第２対象セクタＳＣａｑを含む第２対象トラックＴａｑ、第２隣接セクタＳＣａ（ｑ－１）を含む第２隣接トラックＴａ（ｑ－１）、第２隣接セクタＳＣａ（ｑ＋１）を含む第２隣接トラックＴａ（ｑ＋１）、等の複数のトラックＴを有している。

第２隣接トラックＴａ（ｑ＋１）は第２対象トラックＴａｑより内側に位置した第２内側隣接トラックであり、第２隣接セクタＳＣａ（ｑ＋１）は半径方向ｄ１に第２対象セクタＳＣａｑに隣接する第２内側隣接セクタである。第２隣接トラックＴａ（ｑ－１）は第２対象トラックＴａｑより外側に位置した第２外側隣接トラックであり、第２隣接セクタＳＣａ（ｑ－１）は半径方向ｄ１に第２対象セクタＳＣａｑに隣接する第２外側隣接セクタである。
本第１の変形例のディスクＤＫ１は、上述したように構成されている。

次に、本第１の変形例に係るリフレッシュ処理方法について、磁気ディスク装置１の動作と併せて説明する。ここでは、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｌａ１の第２対象セクタＳＣａｑにリフレッシュ処理を適用した場合について説明する。本第１の変形例において、調整部６４は、第１重み係数ｋ１を、第１ゾーンＺ１、第２ゾーンＺ２、及び第３ゾーンＺ３に適用する。

図３、図４、及び図１２に示すように、リフレッシュ処理方法を開始すると、カウンタ６２は、第２隣接セクタＳＣａ（ｑ－１），ＳＣａ（ｑ＋１）にデータを第２ライトする毎に、第２ライト回数Ｎ２をｋ１回とカウントする。

判断部６５は、第２ライト回数閾値を第２ゾーンＺ２に適用する。なお、判断部６５は、第１ライト回数閾値を第１ゾーンＺ１に適用する。続いて、判断部６５は、カウンタ６２でカウントした第２ライト回数Ｎ２の第２累計が第２ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

ＭＰＵ６０による制御の下、第２累計が第２ライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際に、リフレッシュ処理部６３は、第２対象セクタＳＣａｑの第２対象データをリードし、第２対象データを第２対象セクタＳＣａｑにリライトし、第２対象セクタＳＣａｑをリフレッシュし、第２ライト回数Ｎ２をリセットする。第２累計が第２ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する際、調整部６４は、第１期間に第１重み係数ｋ１を第１範囲内の数値に調整し、第２期間に第１重み係数ｋ１を第２範囲内の数値に調整している（例えば、１に固定している）。

上述したことから、本第１の変形例は、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。
第１重み係数ｋ１は、第１ゾーンＺ１、第２ゾーンＺ２、及び第３ゾーンＺ３で共通であるため、第１ライト回数Ｎ１及び第２ライト回数Ｎ２をそれぞれカウントする際、第１重み係数ｋ１は同様に適用される。但し、ゾーンＺ毎に、ライト回数閾値を設定することができる。本第１の変形例において、ゾーンＺ毎に、条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うことができる。そのため、第１ライト回数閾値と第２ライト回数閾値とは、互いに異なってもよい。例えば、第２ゾーンＺ２のＡＴＩ影響より第１ゾーンＺ１のＡＴＩ影響の方が大きい場合、第１ライト回数閾値を、第２ライト回数閾値より小さく設定すればよい。これにより、磁気ディスク装置１は、一層、効率的にデータの書き直しを行うことができる。

（第２の変形例）
次に、第２の変形例について説明する。磁気ディスク装置１は、本第２の変形例で説明する構成以外、上記第１の変形例と同様に構成されている。リフレッシュ処理方法は、本第２の変形例で説明する工程以外、上記実施形態と同様である。

本第２の変形例に係るリフレッシュ処理方法について、磁気ディスク装置１の動作と併せて説明する。ここでは、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｌａ１の第２対象セクタＳＣａｑにリフレッシュ処理を適用した場合について説明する。本第２の変形例において、判断部６５は、第１ライト回数閾値を、第１ゾーンＺ１、第２ゾーンＺ２、及び第３ゾーンＺ３に適用する。

図３、図４、及び図１２に示すように、調整部６４は、重み係数をゾーンＺ毎に調整することができる。例えば、調整部６４は、第２ゾーンＺ２に適用する第２重み係数であるｋ２を調整可能である。リフレッシュ処理方法を開始すると、調整部６４は、第１期間に第２重み係数ｋ２を第１範囲内の数値に調整し、第２期間に第２重み係数ｋ２を第２範囲内の数値に調整する。

カウンタ６２は、第２隣接セクタＳＣａ（ｑ－１），ＳＣａ（ｑ＋１）にデータを第２ライトする毎に、第２ライト回数Ｎ２をｋ２回とカウントする。
判断部６５は、第１ライト回数閾値を、第１ゾーンＺ１、第２ゾーンＺ２、及び第３ゾーンＺ３に適用する。続いて、判断部６５は、カウンタ６２でカウントした第２ライト回数Ｎ２の第２累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

ＭＰＵ６０による制御の下、第２累計が第１ライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際に、リフレッシュ処理部６３は、第２対象セクタＳＣａｑの第２対象データをリードし、第２対象データを第２対象セクタＳＣａｑにリライトし、第２対象セクタＳＣａｑをリフレッシュし、第２ライト回数Ｎ２をリセットする。

上述したことから、本第２の変形例は、上記第１の変形例と同様の効果を得ることができる。
第１ライト回数閾値は、第１ゾーンＺ１、第２ゾーンＺ２、及び第３ゾーンＺ３で共通であるため、第１累計及び第２累計を判断する際、第１ライト回数閾値は同様に適用される。但し、ゾーンＺ毎に、重み係数を設定することができる。本第２の変形例においても、ゾーンＺ毎に、条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うことができる。そのため、第１重み係数ｋ１と第２重み係数ｋ２とは、互いに異なってもよい。例えば、第２ゾーンＺ２のＡＴＩ影響より第１ゾーンＺ１のＡＴＩ影響の方が大きい場合、第１重み係数ｋ１を第２重み係数ｋ２より大きく設定すればよい。これにより、磁気ディスク装置１は、一層、効率的にデータの書き直しを行うことができる。

（第３の変形例）
次に、第３の変形例について説明する。磁気ディスク装置１は、本第３の変形例で説明する構成以外、上記第１の変形例及び第２の変形例と同様に構成されている。リフレッシュ処理方法は、本第３の変形例で説明する工程以外、上記第１の変形例及び第２の変形例と同様である。

本第３の変形例に係るリフレッシュ処理方法について、磁気ディスク装置１の動作と併せて説明する。ここでは、ディスクＤＫ１の第１記録層Ｌａ１の第２対象セクタＳＣａｑにリフレッシュ処理を適用した場合について説明する。

図３、図４、及び図１２に示すように、調整部６４は、重み係数をゾーンＺ毎に調整することができる。例えば、調整部６４は、第２ゾーンＺ２に適用する第２重み係数であるｋ２を調整可能である。リフレッシュ処理方法を開始すると、調整部６４は、第１期間に第２重み係数ｋ２を第１範囲内の数値に調整し、第２期間に第２重み係数ｋ２を第２範囲内の数値に調整する。

カウンタ６２は、第２隣接セクタＳＣａ（ｑ－１），ＳＣａ（ｑ＋１）にデータを第２ライトする毎に、第２ライト回数Ｎ２をｋ２回とカウントする。
判断部６５は、第２ライト回数閾値を第２ゾーンＺ２に適用する。なお、判断部６５は、第１ライト回数閾値を第１ゾーンＺ１に適用する。続いて、判断部６５は、カウンタ６２でカウントした第２ライト回数Ｎ２の第２累計が第２ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

ＭＰＵ６０による制御の下、第２累計が第２ライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際に、リフレッシュ処理部６３は、第２対象セクタＳＣａｑの第２対象データをリードし、第２対象データを第２対象セクタＳＣａｑにリライトし、第２対象セクタＳＣａｑをリフレッシュし、第２ライト回数Ｎ２をリセットする。

上述したことから、本第３の変形例は、上記第１の変形例及び第２の変形例と同様の効果を得ることができる。
ゾーンＺ毎に、重み係数を設定することができ、かつ、ライト回数閾値を設定することができる。本第３の変形例においても、ゾーンＺ毎に、条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うことができる。そのため、第１重み係数ｋ１と第２重み係数ｋ２とは、互いに異なってもよい。また、第１ライト回数閾値と第２ライト回数閾値とは、互いに異なってもよい。これにより、一層、効率的にデータの書き直しを行うことができる磁気ディスク装置１及びリフレッシュ処理方法を得ることができる。

（第４の変形例）
次に、第４の変形例について説明する。磁気ディスク装置１は、本第４の変形例で説明する構成以外、上記実施形態と同様に構成されている。リフレッシュ処理方法は、本第４の変形例で説明する工程以外、上記実施形態と同様である。図１３は、磁気ディスク装置１のうち半径方向ｄ１に並んだ３つのセクタＳＣｂを示す概略図であり、図１０に示した３つのセクタＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａｍ，ＳＣａ（ｍ＋１）の反対側を示す図である。

図１３において、セクタＳＣｂｍを対象とするデータのライト処理が行われた領域に斜線を付し、セクタＳＣｂ（ｍ－１）を対象とするデータのライト処理が行われた領域及びセクタＳＣｂ（ｍ＋１）を対象とするデータのライト処理が行われた領域にドットパターンを付している。

図１３に示すように、ディスクＤＫ１は、第１記録層Ｌａ１の反対側の第２記録層Ｌｂ１に、トラックＴｂ（ｍ－１）、トラックＴｂｍ、及びトラックＴｂ（ｍ＋１）を有している。トラックＴｂｍは、第１対象トラックＴａｍと同一のシリンダに位置し、セクタＳＣｂｍを有している。トラックＴｂ（ｍ－１）は、第１隣接トラックＴａ（ｍ－１）と同一のシリンダに位置し、半径方向ｄ１にセクタＳＣｂｍに隣接したセクタＳＣｂ（ｍ－１）を有している。トラックＴｂ（ｍ＋１）は、第１隣接トラックＴａ（ｍ＋１）と同一のシリンダに位置し、半径方向ｄ１にセクタＳＣｂｍに隣接したセクタＳＣｂ（ｍ＋１）を有している。
トラックＴｂｍはトラックセンタＣｍを有し、トラックＴｂ（ｍ－１）はトラックセンタＣ（ｍ－１）を有し、トラックＴｂ（ｍ＋１）はトラックセンタＣ（ｍ＋１）を有している。

以下、トラックＴｂｍを第３対象トラックＴｂｍと称し、トラックＴｂ（ｍ－１）を第３隣接トラックＴｂ（ｍ－１）と称し、トラックＴｂ（ｍ＋１）を第３隣接トラックＴｂ（ｍ＋１）と称する。第３隣接トラックＴｂ（ｍ＋１）は、第３対象トラックＴｂｍより内側に位置した第３内側隣接トラックである。第３隣接トラックＴｂ（ｍ－１）は、第３対象トラックＴｂｍより外側に位置した第３外側隣接トラックである。

また、セクタＳＣｂｍを第３対象セクタＳＣｂｍと称し、セクタＳＣｂ（ｍ－１）を第３隣接セクタＳＣｂ（ｍ－１）と称し、セクタＳＣｂ（ｍ＋１）を第３隣接セクタＳＣｂ（ｍ＋１）と称する。第３隣接セクタＳＣｂ（ｍ＋１）は、半径方向ｄ１に第３対象セクタＳＣｂｍに隣接する第３内側隣接セクタである。第３隣接セクタＳＣｂ（ｍ－１）は、半径方向ｄ１に第３対象セクタＳＣｂｍに隣接する第３外側隣接セクタである。
本第４の変形例のディスクＤＫ１は、上述したように構成されている。

次に、本第４の変形例に係るリフレッシュ処理方法について、磁気ディスク装置１の動作と併せて説明する。ここでは、ディスクＤＫ１の第２記録層Ｌｂ１の第３対象セクタＳＣｂｍにリフレッシュ処理を適用した場合について説明する。本第４の変形例において、調整部６４は、第１重み係数ｋ１を、ヘッドＨＤ１（第１記録層Ｌａ１）及びヘッドＨＤ２（第２記録層Ｌｂ１）に適用する。

図３、図４、及び図１３に示すように、リフレッシュ処理方法を開始すると、カウンタ６２は、第３隣接セクタＳＣｂ（ｍ－１），ＳＣｂ（ｍ＋１）にデータを第３ライトする毎に、第３ライト回数Ｎ３をｋ１回とカウントする。

判断部６５は、第３ライト回数閾値をヘッドＨＤ２（第２記録層Ｌｂ１）に適用する。なお、判断部６５は、第１ライト回数閾値をヘッドＨＤ１（第１記録層Ｌａ１）に適用する。続いて、判断部６５は、カウンタ６２でカウントした第３ライト回数Ｎ３の第３累計が第３ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

ＭＰＵ６０による制御の下、第３累計が第３ライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際に、リフレッシュ処理部６３は、第３対象セクタＳＣｂｍの第３対象データをリードし、第３対象データを第３対象セクタＳＣｂｍにリライトし、第３対象セクタＳＣｂｍをリフレッシュし、第３ライト回数Ｎ３をリセットする。なお、第３累計が第３ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する際、調整部６４は、第１期間に第１重み係数ｋ１を第１範囲内の数値に調整し、第２期間に第１重み係数ｋ１を第２範囲内の数値に調整している。

上述したことから、本第４の変形例は、上記実施形態と同様の効果を得ることができる。
第１重み係数ｋ１は、複数のヘッドＨＤで共通であるため、第１ライト回数Ｎ１及び第３ライト回数Ｎ３をそれぞれカウントする際、第１重み係数ｋ１は各々のヘッドＨＤに同様に適用される。但し、ヘッドＨＤ毎に、ライト回数閾値を設定することができる。本第４の変形例において、ヘッドＨＤ毎に、条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うことができる。そのため、第１ライト回数閾値と第３ライト回数閾値とは、互いに異なってもよい。例えば、ヘッドＨＤ１によるＡＴＩ影響よりヘッドＨＤ２によるＡＴＩ影響の方が大きい場合、第３ライト回数閾値を、第１ライト回数閾値より小さく設定すればよい。これにより、磁気ディスク装置１は、一層、効率的にデータの書き直しを行うことができる。

そして、同一シリンダに位置する第１記録層Ｌａ１のトラックと第２記録層Ｌｂ１のトラックとを対象としてＡＴＩリフレッシュ処理を行う際、条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うことが可能となる。

（第５の変形例）
次に、第５の変形例について説明する。磁気ディスク装置１は、本第５の変形例で説明する構成以外、上記第４の変形例と同様に構成されている。リフレッシュ処理方法は、本第５の変形例で説明する工程以外、上記実施形態と同様である。

本第５の変形例に係るリフレッシュ処理方法について、磁気ディスク装置１の動作と併せて説明する。ここでは、ディスクＤＫ１の第２記録層Ｌｂ１の第３対象セクタＳＣｂｍにリフレッシュ処理を適用した場合について説明する。本第５の変形例において、判断部６５は、第１ライト回数閾値を、ヘッドＨＤ１（第１記録層Ｌａ１）及びヘッドＨＤ２（第２記録層Ｌｂ１）に適用する。

図３、図４、及び図１３に示すように、調整部６４は、重み係数をヘッドＨＤ毎に調整することができる。例えば、調整部６４は、ヘッドＨＤ２（第２記録層Ｌｂ１）に適用する第３重み係数であるｋ３を調整可能である。リフレッシュ処理方法を開始すると、調整部６４は、第１期間に第３重み係数ｋ３を第１範囲内の数値に調整し、第２期間に第３重み係数ｋ３を第２範囲内の数値に調整する。

カウンタ６２は、第３隣接セクタＳＣｂ（ｍ－１），ＳＣｂ（ｍ＋１）にデータを第３ライトする毎に、第３ライト回数Ｎ３をｋ３回とカウントする。
判断部６５は、第１ライト回数閾値を、ヘッドＨＤ１（第１記録層Ｌａ１）及びヘッドＨＤ２（第２記録層Ｌｂ１）に適用する。続いて、判断部６５は、カウンタ６２でカウントした第３ライト回数Ｎ３の第３累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

ＭＰＵ６０による制御の下、第３累計が第１ライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際に、リフレッシュ処理部６３は、第３対象セクタＳＣｂｍの第３対象データをリードし、第３対象データを第３対象セクタＳＣｂｍにリライトし、第３対象セクタＳＣｂｍをリフレッシュし、第３ライト回数Ｎ３をリセットする。

上述したことから、本第５の変形例は、上記第４の変形例と同様の効果を得ることができる。
第１ライト回数閾値は、複数のヘッドＨＤで共通であるため、第１累計及び第３累計を判断する際、第１ライト回数閾値は同様に適用される。但し、ヘッドＨＤ毎に、重み係数を設定することができる。本第５の変形例においても、ヘッドＨＤ毎に、条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うことができる。そのため、第１重み係数ｋ１と第３重み係数ｋ３とは、互いに異なってもよい。例えば、ヘッドＨＤ１によるＡＴＩ影響よりヘッドＨＤ２によるＡＴＩ影響の方が大きい場合、第３重み係数ｋ３を第１重み係数ｋ１より大きく設定すればよい。これにより、磁気ディスク装置１は、一層、効率的にデータの書き直しを行うことができる。

（第６の変形例）
次に、第６の変形例について説明する。磁気ディスク装置１は、本第６の変形例で説明する構成以外、上記第４の変形例及び第５の変形例と同様に構成されている。リフレッシュ処理方法は、本第６の変形例で説明する工程以外、上記第４の変形例及び第５の変形例と同様である。

本第６の変形例に係るリフレッシュ処理方法について、磁気ディスク装置１の動作と併せて説明する。ここでは、ディスクＤＫ１の第２記録層Ｌｂ１の第３対象セクタＳＣｂｍにリフレッシュ処理を適用した場合について説明する。

図３、図４、及び図１３に示すように、調整部６４は、重み係数をヘッドＨＤ毎に調整することができる。例えば、調整部６４は、ヘッドＨＤ２に適用する第３重み係数であるｋ３を調整可能である。リフレッシュ処理方法を開始すると、調整部６４は、第１期間に第３重み係数ｋ３を第１範囲内の数値に調整し、第２期間に第３重み係数ｋ３を第２範囲内の数値に調整する。

カウンタ６２は、第３隣接セクタＳＣｂ（ｍ－１），ＳＣｂ（ｍ＋１）にデータを第３ライトする毎に、第３ライト回数Ｎ３をｋ３回とカウントする。
判断部６５は、第３ライト回数閾値をヘッドＨＤ２に適用する。なお、判断部６５は、第１ライト回数閾値をヘッドＨＤ１に適用する。続いて、判断部６５は、カウンタ６２でカウントした第３ライト回数Ｎ３の第３累計が第３ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する。

ＭＰＵ６０による制御の下、第３累計が第３ライト回数閾値を超えたと判断部６５が判断した際に、リフレッシュ処理部６３は、第３対象セクタＳＣｂｍの第３対象データをリードし、第３対象データを第３対象セクタＳＣｂｍにリライトし、第３対象セクタＳＣｂｍをリフレッシュし、第３ライト回数Ｎ３をリセットする。

上述したことから、本第６の変形例は、上記第４の変形例及び第５の変形例と同様の効果を得ることができる。
ヘッドＨＤ毎に、重み係数を設定することができ、かつ、ライト回数閾値を設定することができる。本第６の変形例においても、ヘッドＨＤ毎に、条件を変えてＡＴＩリフレッシュ処理を行うことができる。そのため、第１重み係数ｋ１と第３重み係数ｋ３とは、互いに異なってもよい。また、第１ライト回数閾値と第３ライト回数閾値とは、互いに異なってもよい。これにより、一層、効率的にデータの書き直しを行うことができる磁気ディスク装置１及びリフレッシュ処理方法を得ることができる。

本発明の実施形態を説明したが、上記実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上記の新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。上記実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。必要に応じて、上記実施形態及び上記複数の変形例の２以上を組合せることも可能である。

例えば、上述した技術は、瓦記録型式の磁気ディスク装置と、通常記録型式及び瓦記録型式を選択して実行するハイブリッド記録型式の磁気ディスク装置とに適用してもよい。例えば、ハイブリッド記録型式において、記録層Ｌのユーザデータ領域Ｕは、内周側に瓦記録領域を有し、瓦記録領域より外周側に通常記録領域を有している。この通常記録領域は、コンベンショナルゾーン（Conventional Zone）と称される場合もあり、システムファイル、メタデータ等の頻繁に書き換えを行うデータが記録される領域になり得る。

１…磁気ディスク装置、６０…ＭＰＵ、６１…リード／ライト処理部、６２…カウンタ、６３…リフレッシュ処理部、６４…調整部、６５…判断部、７０…揮発性メモリ、８０…バッファメモリ、９０…不揮発性メモリ、１００…ホスト、１１０…システムコントローラ、１２０…ドライバＩＣ、１３０…ヘッドアンプＩＣ、１４０…Ｒ／Ｗチャネル、１５０…ＨＤＣ、ＤＫ，ＤＫ１，ＤＫ２，ＤＫｉ…ディスク、Ｌ，Ｌａ，Ｌａ１，Ｌａ２，Ｌａｉ，Ｌｂ，Ｌｂ１，Ｌｂ２，Ｌｂｉ…記録層、Ｚ，Ｚ１，Ｚ２，Ｚ３…ゾーン、Ｔ…トラック、Ｔａｍ，Ｔａｑ，Ｔｂｍ…対象トラック、Ｔａ（ｍ－１），Ｔａ（ｍ＋１），Ｔａ（ｑ－１），Ｔａ（ｑ＋１），Ｔｂ（ｍ－１），Ｔｂ（ｍ＋１）…隣接トラック、ＳＣ…セクタ、ＳＣａｍ，ＳＣａｑ，ＳＣｂｍ…対象セクタ、ＳＣａ（ｍ－１），ＳＣａ（ｍ＋１），ＳＣａ（ｑ－１），ＳＣａ（ｑ＋１），ＳＣｂ（ｍ－１），ＳＣｂ（ｍ＋１）…隣接セクタ、ＨＤ，ＨＤ１，ＨＤ２，ＨＤ３，ＨＤ４，ＨＤ（ｊ－１），ＨＤｊ…ヘッド、Ｎ，Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３…ライト回数、ｋ，ｋ１，ｋ２，ｋ３…重み係数、ｄ１…半径方向、ｄ２…進行方向、ｄ３…回転方向。

Claims (17)

1. 第１記録層に、第１対象セクタを含む第１対象トラックと、半径方向に前記第１対象セクタに隣接する第１隣接セクタを含む第１隣接トラックと、を有するディスクと、
   前記ディスクの前記第１記録層に対してデータをライトし、前記第１記録層からデータをリードする第１ヘッドと、
   制御部と、を備え、
   前記制御部は、
   第１重み係数であるｋ１を調整可能な調整部と、
   前記第１隣接セクタにデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数を前記ｋ１回とカウントするカウンタと、
   前記カウンタでカウントした前記第１ライト回数の第１累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する判断部と、
   前記第１累計が前記第１ライト回数閾値を超えた際に、前記第１対象セクタの第１対象データをリードし、前記第１対象データを前記第１対象セクタにリライトし、前記第１対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第１ライト回数をリセットするリフレッシュ処理部と、を備え、
   前記調整部は、
   前記制御部に最初に電源が投入されるタイミングから特定の期間である第１期間に、前記ｋ１を第１範囲内の数値に調整し、
   前記第１期間を経過した後の第２期間に、前記ｋ１を第２範囲内の数値に調整し、
   前記第２範囲内の数値の上限は、前記第１範囲内の数値の下限より小さい、
   磁気ディスク装置。
2. 前記第１隣接トラックは、
   前記第１対象トラックより内側に位置し、前記半径方向に前記第１対象セクタに隣接する第１内側隣接セクタを含む第１内側隣接トラックと、
   前記第１対象トラックより外側に位置し、前記半径方向に前記第１対象セクタに隣接する第１外側隣接セクタを含む第１外側隣接トラックと、を有し、
   前記カウンタは、前記第１内側隣接セクタ及び前記第１外側隣接セクタにデータを第１ライトする毎に、前記第１ライト回数を前記ｋ１回とカウントする、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記調整部は、
   前記第１期間のうちの第１期に、前記ｋ１をｋ１ａに調整し、
   前記第１期間のうちの前記第１期に続く第２期に、前記ｋ１をｋ１ｂに調整し、
   前記第２期間に、前記ｋ１をｋ１ｘに調整し、
   ｋ１ａ＞ｋ１ｂ＞ｋ１ｘである、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記調整部は、
   前記第１期間に、前記ｋ１を１を越える数値に調整し、
   前記第２期間に、前記ｋ１を１に固定する、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記第１累計が前記第１ライト回数閾値を超える前に前記第１対象セクタにデータをライトした場合、前記リフレッシュ処理部は前記カウンタでカウントした前記第１ライト回数をリセットする、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
6. 前記ディスクは、前記第１記録層に、第２対象セクタを含む第２対象トラックと、前記半径方向に前記第２対象セクタに隣接する第２隣接セクタを含む第２隣接トラックと、第１ゾーンと、前記第１ゾーンより内側に位置した第２ゾーンと、をさらに有し、
   前記第１対象トラックは、前記第１ゾーンに位置し、
   前記第２対象トラックは、前記第２ゾーンに位置し、
   前記カウンタは、前記第２隣接セクタにデータを第２ライトする毎に、第２ライト回数を前記ｋ１回とカウントし、
   前記判断部は、前記第１ライト回数閾値を前記第１ゾーンに適用し、第２ライト回数閾値を前記第２ゾーンに適用し、前記カウンタでカウントした前記第２ライト回数の第２累計が前記第２ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
   前記リフレッシュ処理部は、前記第２累計が前記第２ライト回数閾値を超えた際に、前記第２対象セクタの第２対象データをリードし、前記第２対象データを前記第２対象セクタにリライトし、前記第２対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第２ライト回数をリセットする、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
7. 前記ディスクは、前記第１記録層に、第２対象セクタを含む第２対象トラックと、前記半径方向に前記第２対象セクタに隣接する第２隣接セクタを含む第２隣接トラックと、第１ゾーンと、前記第１ゾーンより内側に位置した第２ゾーンと、をさらに有し、
   前記第１対象トラックは、前記第１ゾーンに位置し、
   前記第２対象トラックは、前記第２ゾーンに位置し、
   前記調整部は、第２重み係数であるｋ２を調整可能であり、前記第１期間に前記ｋ２を前記第１範囲内の数値に調整し、前記第２期間に前記ｋ２を前記第２範囲内の数値に調整し、
   前記カウンタは、前記第２隣接セクタにデータを第２ライトする毎に、第２ライト回数を前記ｋ２回とカウントし、
   前記判断部は、前記第１ライト回数閾値を前記第１ゾーン及び前記第２ゾーンに適用し、前記カウンタでカウントした前記第２ライト回数の第２累計が前記第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
   前記リフレッシュ処理部は、前記第２累計が前記第１ライト回数閾値を超えた際に、前記第２対象セクタの第２対象データをリードし、前記第２対象データを前記第２対象セクタにリライトし、前記第２対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第２ライト回数をリセットする、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
8. 前記ディスクは、前記第１記録層に、第２対象セクタを含む第２対象トラックと、前記半径方向に前記第２対象セクタに隣接する第２隣接セクタを含む第２隣接トラックと、第１ゾーンと、前記第１ゾーンより内側に位置した第２ゾーンと、をさらに有し、
   前記第１対象トラックは、前記第１ゾーンに位置し、
   前記第２対象トラックは、前記第２ゾーンに位置し、
   前記調整部は、第２重み係数であるｋ２を調整可能であり、前記第１期間に前記ｋ２を前記第１範囲内の数値に調整し、前記第２期間に前記ｋ２を前記第２範囲内の数値に調整し、
   前記カウンタは、前記第２隣接セクタにデータを第２ライトする毎に、第２ライト回数を前記ｋ２回とカウントし、
   前記判断部は、前記第１ライト回数閾値を前記第１ゾーンに適用し、第２ライト回数閾値を前記第２ゾーンに適用し、前記カウンタでカウントした前記第２ライト回数の第２累計が前記第２ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
   前記リフレッシュ処理部は、前記第２累計が前記第２ライト回数閾値を超えた際に、前記第２対象セクタの第２対象データをリードし、前記第２対象データを前記第２対象セクタにリライトし、前記第２対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第２ライト回数をリセットする、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
9. 前記第１ライト回数閾値と前記第２ライト回数閾値とは、互いに異なる、
   請求項６又は８に記載の磁気ディスク装置。
10. 前記ｋ１と前記ｋ２とは、互いに異なる、
    請求項７又は８に記載の磁気ディスク装置。
11. 第２ヘッドをさらに備え、
    前記ディスクは、前記第１記録層の反対側の第２記録層に、第３対象セクタを含み前記第１対象トラックと同一のシリンダに位置する第３対象トラックと、前記半径方向に前記第３対象セクタに隣接する第３隣接セクタを含む第３隣接トラックと、を有し、
    前記第２ヘッドは、前記ディスクの前記第２記録層に対してデータをライトし、前記第２記録層からデータをリードし、
    前記カウンタは、前記第３隣接セクタにデータを第３ライトする毎に、第３ライト回数を前記ｋ１回とカウントし、
    前記判断部は、前記カウンタでカウントした前記第３ライト回数の第３累計が第３ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
    前記リフレッシュ処理部は、前記第３累計が前記第３ライト回数閾値を超えた際に、前記第３対象セクタの第３対象データをリードし、前記第３対象データを前記第３対象セクタにリライトし、前記第３対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第３ライト回数をリセットする、
    請求項１に記載の磁気ディスク装置。
12. 第２ヘッドをさらに備え、
    前記ディスクは、前記第１記録層の反対側の第２記録層に、第３対象セクタを含み前記第１対象トラックと同一のシリンダに位置する第３対象トラックと、前記半径方向に前記第３対象セクタに隣接する第３隣接セクタを含む第３隣接トラックと、を有し、
    前記第２ヘッドは、前記ディスクの前記第２記録層に対してデータをライトし、前記第２記録層からデータをリードし、
    前記調整部は、第３重み係数であるｋ３を調整可能であり、前記第１期間に前記ｋ３を前記第１範囲内の数値に調整し、前記第２期間に前記ｋ３を前記第２範囲内の数値に調整し、
    前記カウンタは、前記第３隣接セクタにデータを第３ライトする毎に、第３ライト回数を前記ｋ３回とカウントし、
    前記判断部は、前記カウンタでカウントした前記第３ライト回数の第３累計が前記第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
    前記リフレッシュ処理部は、前記第３累計が前記第１ライト回数閾値を超えた際に、前記第３対象セクタの第３対象データをリードし、前記第３対象データを前記第３対象セクタにリライトし、前記第３対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第３ライト回数をリセットする、
    請求項１に記載の磁気ディスク装置。
13. 第２ヘッドをさらに備え、
    前記ディスクは、前記第１記録層の反対側の第２記録層に、第３対象セクタを含み前記第１対象トラックと同一のシリンダに位置する第３対象トラックと、前記半径方向に前記第３対象セクタに隣接する第３隣接セクタを含む第３隣接トラックと、を有し、
    前記第２ヘッドは、前記ディスクの前記第２記録層に対してデータをライトし、前記第２記録層からデータをリードし、
    前記調整部は、第３重み係数であるｋ３を調整可能であり、前記第１期間に前記ｋ３を前記第１範囲内の数値に調整し、前記第２期間に前記ｋ３を前記第２範囲内の数値に調整し、
    前記カウンタは、前記第３隣接セクタにデータを第３ライトする毎に、第３ライト回数を前記ｋ３とカウントし、
    前記判断部は、前記カウンタでカウントした前記第３ライト回数の第３累計が第３ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
    前記リフレッシュ処理部は、前記第３累計が前記第３ライト回数閾値を超えた際に、前記第３対象セクタの第３対象データをリードし、前記第３対象データを前記第３対象セクタにリライトし、前記第３対象セクタをリフレッシュし、前記カウンタでカウントした前記第３ライト回数をリセットする、
    請求項１に記載の磁気ディスク装置。
14. 前記第１ライト回数閾値と前記第３ライト回数閾値とは、互いに異なる、
    請求項１１又は１３に記載の磁気ディスク装置。
15. 前記ｋ１と前記ｋ３とは、互いに異なる、
    請求項１２又は１３に記載の磁気ディスク装置。
16. 前記ディスク及び前記第１ヘッドを収容し、内部に空気が存在する筐体をさらに備える、
    請求項１に記載の磁気ディスク装置。
17. 第１記録層に、第１対象セクタを含む第１対象トラックと、半径方向に前記第１対象セクタに隣接する第１隣接セクタを含む第１隣接トラックと、を有するディスクと、前記ディスクの前記第１記録層に対してデータをライトし、前記第１記録層からデータをリードする第１ヘッドと、制御部と、を備える磁気ディスク装置に適用されるリフレッシュ処理方法であって、第１重み係数をｋ１とした場合、
    前記第１隣接セクタにデータを第１ライトする毎に、第１ライト回数を前記ｋ１回とカウントし、
    前記第１ライト回数の第１累計が第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断し、
    前記制御部による制御の下、前記第１累計が前記第１ライト回数閾値を超えた際に、前記第１対象セクタの第１対象データをリードし、前記第１対象データを前記第１対象セクタにリライトし、前記第１対象セクタをリフレッシュし、前記第１ライト回数をリセットし、
    前記第１累計が前記第１ライト回数閾値を超えたかどうかを判断する際、
    前記制御部に最初に電源が投入されるタイミングから特定の期間である第１期間に、前記ｋ１を第１範囲内の数値に調整し、
    前記第１期間を経過した後の第２期間に、前記ｋ１を第２範囲内の数値に調整し、
    前記第２範囲内の数値の上限は、前記第１範囲内の数値の下限より小さい、
    リフレッシュ処理方法。

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