JP2024040937A - 基板搬送機構、リソグラフィ装置及び物品の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 装置の単純化に有利な基板搬送機構を提供する。【解決手段】 基板を保持する保持部と、前記保持部を移動させる移動部と、前記移動部の移動を案内するガイドと、を有し、前記ガイドの形状は、前記移動部が前記ガイドに沿って移動することによって前記保持部の角度が変化するように構成され、前記保持部は傾いた状態で前記基板を保持しながら前記移動部により移動させられる。【選択図】 図2

Description

本発明は、基板搬送機構、リソグラフィ装置及び物品の製造方法に関する。
半導体デバイスや液晶表示デバイスなどの製造工程において、基板を載置する載置位置から所定位置まで搬送する動作が行われ、この搬送動作は短い時間で実施されることが好ましい。また、特許文献1には、基板ステージに内蔵された基板搬出装置により基板を吸着保持しつつ搬送する方法が開示されている。
特開2015-146045号公報
しかし、基板を吸着保持しつつ基板を搬送するために、基板の吸着を行うための機構を搬送部に設けると、装置が複雑化する。
そこで、本発明は、装置の単純化に有利な基板搬送機構を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての基板搬送機構は、基板を保持する保持部と、前記保持部を移動させる移動部と、前記移動部の移動を案内するガイドと、を有し、前記ガイドの形状は、前記移動部が前記ガイドに沿って移動することによって前記保持部の角度が変化するように構成され、前記保持部は傾いた状態で前記基板を保持しながら前記移動部により移動させられることを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される実施形態によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、装置の単純化に有利な基板搬送機構を提供することができる。
第1実施形態における基板処理装置の構成を示す概略図である。 第1実施形態における基板ステージの断面図である。 第1カムフォロア及び第2カムフォロアの詳細な構成を説明する図である。 第3カムフォロア及び第4カムフォロアの詳細な構成を説明する図である。 基板搬送機構と基板支持部とを+Z方向から見た場合の図である。 第1実施形態における基板搬送動作を示す図である。 第2実施形態におけるベースの構成を示す図である。 第3実施形態における物品の製造方法のフローチャートである。
以下に、本発明の実施形態を添付の図面に基づいて説明する。尚、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
また、本明細書および添付図面では、基本的に、鉛直方向をZ軸とし、鉛直方向に対し垂直な水平面をXY平面とし、各軸が相互に直交するXYZ座標系によって方向が示されている。ただし、各図面にXYZ座標系が記載されている場合はその座標系を優先する。
以下、各実施形態において、具体的な構成を説明する。
<第1実施形態>
図1は、本実施形態における基板処理装置100の構成を示す概略図である。基板処理装置100は、本実施形態では、原版(マスク、レチクル)のパターンを、投影光学系を介して基板に露光する投影露光装置である。但し、基板処理装置100は、露光装置に限定されるものではない。例えば、基板処理装置100は、電子線やイオンビームなどによって基板に描画を行い、パターンを基板に形成する描画装置であってもよい。また、基板処理装置100は、他のリソグラフィ装置、例えば、基板の上のインプリント材を型により成形してパターンを基板上に形成するインプリント装置であってもよい。あるいは、基板処理装置100は、イオン打ち込み装置、現像装置、エッチング装置、成膜装置、アニール装置、スパッタリング装置、蒸着装置など、半導体ウエハやガラスプレートなどの基板を処理する他の装置であってもよい。また、基板処理装置100は、平坦な板を用いて基板上の組成物を平坦化する平坦化装置であってもよい。
基板処理装置100は、光を照射する光照射部である照明光学系1と、レチクル2を保持するレチクルステージ3と、投影光学系4と、基板5を保持しつつ移動可能な基板ステージ6と、基板処理装置100の各部分を制御する制御部7と、を有する。レチクル2は、例えば石英ガラスの表面に転写されるべきパターン(例えば回路パターン)がクロムで形成されている原版である。また、基板5は、例えば単結晶シリコンであり、基板処理装置100が露光装置である場合において基板処理装置100に搬送される基板5は、表面上に感光性材料(レジスト)が塗布されている。ここで、照明光学系1は基板5にパターンを形成するパターン形成部である。なお、本実施形態では光を用いてパターンを形成するリソグラフィ装置の例を示し、パターン形成部は照明光学系1であるが、熱硬化性材料を熱により硬化させるリソグラフィ装置であってもよい。その場合のパターン形成部は、例えば、熱硬化性材料を加熱する加熱部である。
基板処理装置100において、光源(不図示)からの露光光は、照明光学系1を介して、レチクルステージ3に保持されたレチクル2を照明する。レチクル2を透過した光は、投影光学系4を介して、基板5に照射される。この時、レチクル2に形成されたパターンからの光が基板5表面に結像される。基板処理装置100はこのように基板5上のショット領域を露光し、複数のショット領域のそれぞれについて同様に露光を行う。
図2は、本実施形態における基板ステージ6の断面図である。基板ステージ6は、基板載置部20と、X駆動部30と、Xエアベアリング30aと、Y駆動部50と、Yエアベアリング50aと、Yガイド60と、駆動制御部80と、支柱201と、Xバーミラー90と、を有する。また、基板ステージ6は、搬送ガイド401と、搬送用移動部402と、Zガイド403と、Z移動部470と、ベース404と、保持部430と、圧縮コイルばね460と、を有する。そして、基板ステージ6は、ベース404の位置を任意の位置に配置するための、第1ガイド410aと、第2ガイド410bと、第3ガイド410cと、第4ガイド410dと、を有する。このようにガイドを複数配置することで、ベース404を任意の位置に配置できる。ここで、ベース(移動部)404を任意の位置に配置することで、ベース404の移動を案内することができ、ベース(移動部)404の移動を規制することができる。なお、第1ガイド410aと、第3ガイド410cと、第4ガイド410dと、後述する第5ガイド410eはそれぞれ傾斜部を備える。つまり、複数のガイドは傾斜部が設けられたガイドを複数含む。この傾斜部の傾斜の長さ及び角度と各ガイドの水平部の長さから決定される各ガイドの形状によりベース404及び保持部430と保持部430に保持された基板5の傾きの量(角度の変化量)が決定される。なお、この傾斜の長さ又は角度は基板5を搬送する速度、基板5の形状、基板5の厚さのうちいずれか1つ以上に基づいて決定される。この決定とは、具体的には各ガイドの設計値を決定することであり、基板5を搬送する速度、基板5の形状、基板5の厚さのうちいずれか1つ以上に基づいて各ガイドの傾斜部の傾斜の長さ又は角度を設計する。そして設計した傾斜部を含む各ガイドを製造する。また、本実施形態では複数の傾斜部を有するガイドにより基板搬送機構の移動を案内する例を示したが、複数のガイドのうち少なくとも1つのガイドに傾斜部が設けられている構成により保持部430(基板保持面)を傾ける構成としてもよい。さらに基板ステージ6はベース404に備えられた円筒状の軸付きベアリングである、第1カムフォロア420aと、第2カムフォロア420bと、第3カムフォロア420cと、第4カムフォロア420dと、を有する。
本実施形態では、搬送用移動部402と、Zガイド403と、Z移動部470と、ベース404と、保持部430と、圧縮コイルばね460と、各カムフォロアと、各ガイドと、をまとめて基板搬送機構と呼ぶ。なお、各ガイドは基板搬送機構の一部であるが、各ガイドはそれぞれ所定位置に固定されており移動を行わないため、後述する基板搬送機構の移動(位置変化)についての記載において基板搬送機構の移動を行う部分(位置変化をする部分)は各ガイドを含まない。基板載置部20は、支柱201を介してX駆動部30上に固定されており基板5を載置可能である。X駆動部30は、Xエアベアリング30aを介して、不図示のリニアモーター等によりY駆動部50上をX方向に駆動する。Y駆動部50はYエアベアリング50aを介して、不図示のリニアモーター等によりYガイド60上をY方向に駆動する。駆動制御部80は、基板搬送機構を含む基板ステージ6の各部分の駆動を制御する。Xバーミラー90は、不図示の干渉計からの光を反射し、基板5のX座標における位置決めのために用いられる。また、基板ステージ6は不図示のYバーミラーを有し、Yバーミラーは不図示の干渉計からの光を反射し、基板5のY座標における位置決めのために用いられる。
搬送ガイド401は、基板搬送機構がY方向に移動する際のガイドであり、X駆動部30の上面に配置され、搬送用移動部402は搬送ガイド401に沿ってY方向に移動する。Zガイド403は、基板搬送機構の一部がZ方向に移動する際のガイドであり、搬送用移動部402に連結されている。Z移動部470は、ベース404と連結されており、Zガイド403に沿ってZ方向に移動することで、ベース404をZ方向に移動させる。第1ガイド410aと、第2ガイド410bと、第3ガイド410cと、第4ガイド410dと、後述する第5ガイド410eと、第6ガイド410fとは、滑走面を有するガイドレールであり、各カムフォロアは滑走面に沿って移動する。保持部430はベース404上に配置され、基板搬送機構が基板5を搬送する際に基板5を保持する。なお、基板搬送機構はY方向に高い加速度で移動をするため、保持部430の基板5を保持する面は、基板5の落下を抑制するため基板5との間に高摩擦力を生じさせることが可能であることが好ましい。
図3は、第1カムフォロア420a及び第2カムフォロア420bの詳細な構成を説明する図である。図3(a)に示すように、ベース404には、第1かわし用Zガイド421と、第1かわし用Z移動部422と、第1かわし用ばね423と、第1メカストッパー424とが備えられている。第1かわし用Zガイド421と、第1かわし用Z移動部422と、第1かわし用ばね423と、第1メカストッパー424とは、第1カムフォロア420aをZ方向に移動させるために配置されている。本実施形態では、第1カムフォロア420aがZ方向に駆動可能な構成となっているが、この例に限定されない。例えば、第1ガイド410a、第2ガイド410b、第3ガイド410c、第4ガイド410dの形状に応じて、第2カムフォロア420bがZ方向に駆動する構成としてもよい。或いは、第1カムフォロア420aと第2カムフォロア420bとの両方がZ方向に駆動する構成としてもよい。
第1かわし用Zガイド421はベース404に固定されており、第1かわし用Z移動部422は第1かわし用Zガイド421に沿ってZ方向に移動する。なお、第1かわし用Zガイド421の負荷を減らすため、第1カムフォロア420aのY方向における中心位置と、第1かわし用Zガイド421のY方向における中心位置のY座標が一致することが好ましい。
第1カムフォロア420aは第1かわし用Z移動部422に連結されており、第2カムフォロア420bはベース404と一体となっている。第1かわし用ばね423の+Z方向の端部はベース404に、-Z方向の端部は第1かわし用Z移動部422に連結されている。そして、第1かわし用ばね423のばね定数は、第1かわし用Z移動部422と第1カムフォロア420aの重力による-Z方向への力より第1かわし用ばね423の張力が大きくなるよう設定される。
第1メカストッパー424はベース404と一体となっており、第1かわし用Z移動部422の-Z方向の面の一部と、第1メカストッパー424の+Z方向の面の一部が接触するように配置されている。また、第1メカストッパー424は第1かわし用Z移動部422と接触することで、第1かわし用ばね423の-Z方向への伸びを規制している。ここで、第1メカストッパー424の第1かわし用Z移動部422と接触する面は、球面状であることが好ましく、接触面を球面状にすることで第1メカストッパー424と第1かわし用Z移動部422とが接触する時の状態が毎回の接触において概ね類似する。なお、本実施形態では第1メカストッパー424の第1かわし用Z移動部422と接触する面が球面状である例を説明したが、第1かわし用Z移動部422の第1メカストッパー424と接触する面が球面状であってもよい。
第1カムフォロア420aに+Z方向の所定値以上の外力が加わった場合、図3(b)のように第1かわし用ばね423が縮み、第1カムフォロア420a及び第1かわし用Z移動部422が、第1かわし用Zガイド421に沿って+Z方向に移動する。外力が所定値未満となると、第1かわし用ばね423が伸び、第1カムフォロア420a及び第1かわし用Z移動部422が、第1かわし用Zガイド421に沿って-Z方向に移動する。そして、図3(a)のように第1カムフォロア420a及び第1かわし用Z移動部422は、第1メカストッパー424と第1かわし用Z移動部422とが接触する位置に静止する。
図4は、第3カムフォロア420c及び第4カムフォロア420dの詳細な構成を説明する図である。図4(a)に示すように、ベース404には、第2かわし用Zガイド425と、第2かわし用Z移動部426と、第2かわし用ばね427と、第2メカストッパー428とが備えられている。第2かわし用Zガイド425と、第2かわし用Z移動部426と、第2かわし用ばね427と、第2メカストッパー428とは、第4カムフォロア420dをZ方向に移動させるために配置されている。本実施形態では、第4カムフォロア420dがZ方向に駆動可能な構成となっているが、この例に限定されない。例えば、第1ガイド410a、第2ガイド410b、第3ガイド410c、第4ガイド410dの形状に応じて、第3カムフォロア420cがZ方向に駆動する構成としてもよい。或いは、第3カムフォロア420cと第4カムフォロア420dとの両方がZ方向に駆動する構成としてもよい。
第2かわし用Zガイド425はベース404に固定されており、第2かわし用Z移動部426は第2かわし用Zガイド425に沿ってZ方向に移動する。なお、第2かわし用Zガイド425の負荷を減らすため、第4カムフォロア420dのY方向における中心位置と、第2かわし用Zガイド425のY方向における中心位置のY座標が一致することが好ましい。
第4カムフォロア420dは第2かわし用Z移動部426に連結されており、第3カムフォロア420cはベース404と一体となっている。第2かわし用ばね427の+Z方向の端部はベース404に、-Z方向の端部は第2かわし用Z移動部426に連結されている。そして、第2かわし用ばね427のばね定数は、第2かわし用Z移動部426と第4カムフォロア420dの重力による-Z方向への力より第2かわし用ばね427の張力が大きくなるよう設定される。
第2メカストッパー428はベース404と一体となっており、第2かわし用Z移動部426の+Z方向の面の一部と、第2メカストッパー428の-Z方向の面の一部が接触するように配置されている。また、第2メカストッパー428は第2かわし用Z移動部426と接触することで、第2かわし用ばね427の+Z方向への縮みを規制している。ここで、第2メカストッパー428の第2かわし用Z移動部426と接触する面は、球面状であることが好ましく、接触面を球面状にすることで第2メカストッパー428と第2かわし用Z移動部426とが接触する時の状態が毎回の接触において概ね類似する。なお、本実施形態では第2メカストッパー428の第2かわし用Z移動部426と接触する面が球面状である例を説明したが、第2かわし用Z移動部426の第2メカストッパー428と接触する面が球面状であってもよい。
第4カムフォロア420dに-Z方向の所定値以上の外力が加わった場合、図4(b)のように第2かわし用ばね427が伸び、第4カムフォロア420d及び第2かわし用Z移動部426が、第2かわし用Zガイド425に沿って-Z方向に移動する。外力が所定値未満となると、第2かわし用ばね427が縮み、第4カムフォロア420d及び第2かわし用Z移動部426が、第2かわし用Zガイド425に沿って+Z方向に移動する。そして、図4(a)のように第4カムフォロア420d及び第2かわし用Z移動部426は、第2メカストッパー428と第2かわし用Z移動部426とが接触する位置に静止する。
図5は基板搬送機構と基板支持部70とを+Z方向から見た場合の図である。また、図5は第3カムフォロア420cと、第4カムフォロア420dと、第3ガイド410cと、第4ガイド410dと、第5ガイド410eと、第6ガイド410fとのX方向における位置関係を示している。基板支持部70は基板搬送機構から搬送された基板5が載置される台であり、台に備えられた複数のピンにより基板5を支持する。
第3カムフォロア420cと第4カムフォロア420dとはX方向にずれた位置に配置されており、第3カムフォロア420cは第4カムフォロア420dより-X方向側に配置されている。第3ガイド410cは、第3カムフォロア420cのみ接触する位置に滑走面をもつ。第4ガイド410dは、第3カムフォロア420c及び第4カムフォロア420dの両方をガイドできるようX方向に幅広な滑走面をもつ。第5ガイド410eと第6ガイド410fは基板支持部70に備えられ、第4カムフォロア420dのみ接触する位置に滑走面をもつ。
図6は本実施形態における基板搬送動作を示す図である。図6(a)に示すように、基板搬送機構は基板載置部20よりも保持部430が低い位置となるように待機している。そして、基板搬送動作を開始し、図6(b)に示すように搬送用移動部402が搬送ガイド401に沿って-Y方向に移動する。これにより、基板搬送機構全体が-Y方向に移動する。この-Y方向への移動時には第1カムフォロア420aが第1ガイド410aの滑走面に沿って移動し、第4カムフォロア420dが第4ガイド410dの滑走面に沿って移動する。ここで、第1カムフォロア420aが第1ガイド410aに沿って移動すると、第1ガイド410aの+Y方向側に設けられた傾斜部において圧縮コイルばね460が+Z方向に伸びる。この圧縮コイルばね460の伸びによってZ移動部470がZガイド403に沿って+Z方向に移動しそれに伴いベース404が+Z方向に移動する。ベース404が+Z方向に移動することで保持部430は基板載置部20から基板5を受け取る(取得する)。
ここで、第1ガイド410aの+Y方向の傾斜角度と、第4ガイド410dの傾斜角度とを同じにすることで、基板搬送機構が基板5を基板載置部20から受け取る(取得する)際に、基板搬送機構の基板保持面が水平な状態で基板5を取得することができる。つまり、複数の傾斜部が設けられているガイドの傾斜部のうち2つ以上の傾斜部が同一の角度であるようガイドを配置する。
これにより、基板5の水平方向における位置ずれを抑制できる。ここで、第1ガイド410aの+Y方向側の傾斜角度と、第4ガイド410dの傾斜角度は、保持部430が基板5を保持した際に基板載置部20より+Z方向側となる位置となるよう設定する。そして、基板搬送機構が基板5を搬送する際に基板5の自重による-Z方向へのたわみが発生しても基板載置部20と基板5とが接触しないような位置となるよう設定する。
基板搬送機構がさらに-Y方向へ移動すると、図6(c)に示すように、第1ガイド410aの+Y方向側の傾斜長さと第4ガイド410dの傾斜長さの差により基板搬送機構は傾いた状態となる。なお、第1ガイド410aの+Y方向側の傾斜長さは、第4ガイド410dの傾斜長さよりも長くなるよう第1ガイド410aを配置する。つまり、複数の傾斜部が設けられているガイドの傾斜部のうちの第1傾斜部(第1ガイド410aの+Y方向側の傾斜部)と第1傾斜部とは異なる第2傾斜部(第4ガイド410dの傾斜部)の長さが異なるようガイドを配置する。
このような配置にすることにより、図6(c)に示すようにベース404が傾き、それに伴い保持部430も傾き、基板搬送機構は基板5を斜めに保持することができる。なお、基板5の搬送方向側の高さが基板5の搬送方向と反対側の高さよりも低くなるよう、第1ガイド410a及び第4ガイド410dの形状を決定し配置する。本実施形態では、基板搬送機構が基板5を搬送する際に、吸着による保持等を行わず、保持部430と基板5との間の摩擦力及び基板5を斜めに保持しつつY方向に移動させることによる基板5の面に対する空気抵抗によって、基板5を保持する。このような構成にすることにより、基板搬送機構(搬送部)に基板5の吸着を行うための機構を設ける必要がなく、装置を単純化することができる。また、基板5の搬送を行う際の振動により基板5の搬送方向側(-Y方向側)が+Z方向の揚力を受けることがないよう、第1ガイド410aの+Y方向側に設けられた傾斜の傾斜長さと第4ガイド410dの傾斜長さをそれぞれ設定する。
基板搬送機構がさらに-Y方向へ移動すると、図6(d)に示すように、第4ガイド410dと第5ガイド410eの滑走面は不連続であるため、第4カムフォロア420dが第4ガイド410dの滑走面から離れる。このとき、第3カムフォロア420cが第4ガイド410dの滑走面と接触し基板搬送機構を支えている。ここで、第4ガイド410dと接触するカムフォロアが第4カムフォロア420dから第3カムフォロア420cへ変わると、基板5を保持する角度が変化する。この角度の変化を抑制するために、第4ガイド410dの第4カムフォロア420dと接触する滑走面と、第4ガイド410dの第3カムフォロア420cと接触する滑走面とで高度差を設けてもよい。
基板搬送機構がさらに-Y方向へ移動すると、図6(e)に示すように第5ガイド410eの滑走面と第4カムフォロア420dとが接触する。ここで、第3カムフォロア420cと第4カムフォロア420dとの間の距離は、第4ガイド410dの-Y方向側の端部と第5ガイド410eの+Y方向側の端部との間の距離以上となるよう設定する。
基板搬送機構がさらに-Y方向へ移動すると、図6(f)に示すように第1ガイド410aの-Y方向側に設けられた傾斜部において圧縮コイルばね460が-Z方向に縮む。この圧縮コイルばね460の縮みによってZ移動部470がZガイド403に沿って-Z方向に移動しそれに伴いベース404が-Z方向に移動する。ここで、第1ガイド410aの-Y方向側に設けられた傾斜部の傾斜角度と、第5ガイド410eに設けられた傾斜部の傾斜角度とを同じにすることにより、基板5が基板支持部70と接触する前にベース404が水平となり、基板5を水平に保持する。なお、基板5を水平に保持した状態で基板搬送機構が-Y方向に移動する場合に、基板5の面で受けていた空気抵抗による保持部430の保持力が低下するため、このときの-Y方向への加速度は基板5が水平方向にずれることのないよう設定される。そして、基板5を水平に保持した状態で基板搬送機構が第1ガイド410a及び第5ガイド410eに沿って-Y方向且つ-Z方向へ移動することにより、保持部430は基板支持部70に基板5を受け渡す。
基板搬送機構がさらに-Y方向へ移動すると、図6(g)に示すように第1ガイド410aの-Y方向側に設けられた傾斜部において圧縮コイルばね460が-Z方向に縮む。そして、第4カムフォロア420dは第6ガイド410fと接触する。
次に、図6(h)に示すように搬送用移動部402が搬送ガイド401に沿って+Y方向に移動する。これにより、基板搬送機構全体が+Y方向に移動する。この+Y方向への移動時には第1カムフォロア420a及び第2カムフォロア420bが第2ガイド410bの滑走面に沿って移動し、第4カムフォロア420dが第6ガイド410fの滑走面に沿って移動する。なお、この第4カムフォロア420dの+Y方向移動の妨げとならないよう、第5ガイド410eの最下位置と第6ガイド410fの最上位置の距離は、第4カムフォロア420dの最外径よりも大きくなるよう配置する。そして、第4カムフォロア420dが第6ガイド410fの滑走面を離れる前に、第3カムフォロア420cが第3ガイド410cの滑走面と接触する。
基板搬送機構がさらに+Y方向へ移動すると、図6(i)に示すように、第3カムフォロア420cが第3ガイド410cの傾斜部において+Z方向に移動する。これに伴って圧縮コイルばね460が+Z方向に伸びる。この圧縮コイルばね460の伸びによってZ移動部470がZガイド403に沿って+Z方向に移動しそれに伴いベース404が+Z方向に移動する。ここで、第4ガイド410dの下面と第4カムフォロア420dとは干渉するように接触する。しかし、第2かわし用Zガイド425と、第2かわし用Z移動部426と、第2かわし用ばね427と、第2メカストッパー428とにより前述のように、第4カムフォロア420dは-Z方向に移動し、干渉により基板搬送機構の移動を妨げられることを抑制する。
基板搬送機構がさらに+Y方向へ移動すると、図6(j)に示すように、第2カムフォロア420bが第1ガイド410aと接触し、圧縮コイルばね460が+Z方向に伸びる。また、第4ガイド410dの下面と第4カムフォロア420dは接触しない状態となるため、第4カムフォロア420dは+Z方向に移動し元の位置に戻る。そして、基板搬送機構が-Y方向へ移動することにより図6(a)に示す初期位置に戻る。
本実施形態によれば基板搬送機構の基板5を保持する部分を傾けることで、基板5の面が受ける空気抵抗と基板5を保持する保持部430の摩擦力により基板搬送機構は基板5を保持することができる。したがって、基板搬送機構は基板5の吸着保持を行うための機構を搬送部に設ける必要がなく、装置を単純化することができる。また、基板搬送機構の基板保持面(保持部430)の傾けや基板5を取得又は載置するためのZ方向への移動はガイドに設けられた傾斜部の傾斜長さや傾斜角度により適切に実施される。つまり、本実施形態の基板搬送機構はZ方向に移動させるための実装部を設ける必要がない。これにより、装置を単純化するだけでなく、発塵リスクを低下させることも可能である。
<第2実施形態>
本実施形態では、第1実施形態の特徴に加えて、基板5の落下防止用部材を設けることを特徴とする。図7は本実施形態におけるベース500の構成を示す図である。本実施形態のベース500は、基板5の落下を防止するための落下防止用部材510を+Y方向及び-Y方向の端部にそれぞれ備えている。
本実施形態によれば、保持部430による基板5の保持力が不足し、基板5が落下する場合に、落下防止用部材510により基板5の落下を抑制することができる。
<第3実施形態>
本実施形態は、第1実施形態及び第2実施形態に記載の基板搬送機構を用いて物品を製造することを特徴とする。
図8は本実施形態における物品の製造方法のフローチャートである。基板にパターンを形成する形成工程(S510)を行い、第1、2実施形態に記載の基板搬送機構を用いて形成工程でパターンが形成された基板の搬送をする搬送工程(S520)を行う。そして、形成工程でパターンが形成され、搬送工程で搬送された基板から物品を製造する製造工程(S530)を行う。
ここで、図8のフローチャートでは形成工程の後に搬送工程を行う例を示したが第1、2実施形態に記載の基板搬送機構を用いて基板の搬送をする搬送工程を行った後に、搬送工程にて搬送された基板に対しパターンを形成する形成工程を行ってもよい。
この製造方法で製造する物品は、例えば、半導体IC素子、液晶表示素子、カラーフィルタ、MEMS等である。形成工程は、例えば、パターン材料上に感光材料が塗布された基板(シリコンウエハ、ガラスプレート等)を露光装置(リソグラフィ装置)により露光することで、基板の感光材料に潜像パタ-ンを形成する。
製造工程は、例えば、潜像パターンが形成された基板(感光材料)の現像、現像された基板のパターン材料に対するエッチング及びレジスト剥離等を含む前工程、ダイシング、ボンディング、パッケージング等を含む後工程の実施が含まれる。本製造方法によれば、従来よりも単位時間当たりの生産性が高い方法で物品を製造することができる。
本明細書の開示は、以下の基板搬送機構、リソグラフィ装置、ガイドの製造方法及び物品の製造方法を含む。
(項目1)
基板を保持する保持部と、
前記保持部を移動させる移動部と、
前記移動部の移動を案内するガイドと、を有し、
前記ガイドの形状は、前記移動部が前記ガイドに沿って移動することによって前記保持部の角度が変化するように構成され、前記保持部は傾いた状態で前記基板を保持しながら前記移動部により移動させられることを特徴とする基板搬送機構。
(項目2)
前記基板の受け渡し時に前記基板が水平となるよう前記ガイドが配置されていることを特徴とする項目1に記載の基板搬送機構。
(項目3)
前記移動部は、前記基板の搬送方向側の高さが前記基板の搬送方向と反対側の高さよりも低くなるよう傾くことを特徴とする項目1又は2に記載の基板搬送機構。
(項目4)
前記ガイドは複数配置され、複数の前記ガイドのうち少なくとも1つの前記ガイドには傾斜部が設けられていることを特徴とする項目1~3のうちいずれか1項に記載の基板搬送機構。
(項目5)
複数の前記ガイドは前記傾斜部が設けられているガイドを複数含み、
複数の前記傾斜部が設けられているガイドの前記傾斜部のうち2つ以上の前記傾斜部が同一の角度であることを特徴とする項目4に記載の基板搬送機構。
(項目6)
複数の前記ガイドは前記傾斜部が設けられているガイドを複数含み、
複数の前記傾斜部が設けられているガイドの前記傾斜部のうちの第1傾斜部と前記第1傾斜部とは異なる第2傾斜部の長さが異なることを特徴とする項目4又は5に記載の基板搬送機構。
(項目7)
前記保持部は前記基板との間に摩擦力を生じさせる材料から形成されていることを特徴とする項目1~6のうちいずれか1項に記載の基板搬送機構。
(項目8)
前記移動部は前記基板の落下を防止する部材を有することを特徴とする項目1~7のうちいずれか1項に記載の基板搬送機構。
(項目9)
基板を搬送する項目1~8のうちいずれか1項に記載の基板搬送機構と、
前記基板にパターンを形成するパターン形成部と、
を有することを特徴とするリソグラフィ装置。
(項目10)
基板を保持する保持部を移動させる移動部の移動を案内するガイドの設計方法であって、
前記移動部が前記ガイドに沿って移動することによって前記保持部の角度が変化し前記保持部は傾いた状態で前記基板を保持しながら前記移動部により移動させられるよう、前記基板を搬送する速度と前記基板の形状と前記基板の厚さとのうちいずれか1つ以上に基づいて前記ガイドの傾斜部の傾斜の長さ又は角度を設計する設計工程と、
前記設計工程で設計した前記傾斜部を含む前記ガイドを製造する製造工程と、
を有することを特徴とするガイドの製造方法。
(項目11)
基板にパターンを形成する形成工程と、
項目1~8のうちいずれか1項に記載の基板搬送機構を用いて基板の搬送をする搬送工程と、
前記形成工程及び前記搬送工程を経た前記基板から物品を製造する製造工程と、
を有することを特徴とする物品の製造方法。
発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。

Claims (11)

  1. 基板を保持する保持部と、
    前記保持部を移動させる移動部と、
    前記移動部の移動を案内するガイドと、を有し、
    前記ガイドの形状は、前記移動部が前記ガイドに沿って移動することによって前記保持部の角度が変化するように構成され、前記保持部は傾いた状態で前記基板を保持しながら前記移動部により移動させられることを特徴とする基板搬送機構。
  2. 前記基板の受け渡し時に前記基板が水平となるよう前記ガイドが配置されていることを特徴とする請求項1に記載の基板搬送機構。
  3. 前記移動部は、前記基板の搬送方向側の高さが前記基板の搬送方向と反対側の高さよりも低くなるよう傾くことを特徴とする請求項1に記載の基板搬送機構。
  4. 前記ガイドは複数配置され、複数の前記ガイドのうち少なくとも1つの前記ガイドには傾斜部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の基板搬送機構。
  5. 複数の前記ガイドは前記傾斜部が設けられているガイドを複数含み、
    複数の前記傾斜部が設けられているガイドの前記傾斜部のうち2つ以上の前記傾斜部が同一の角度であることを特徴とする請求項4に記載の基板搬送機構。
  6. 複数の前記ガイドは前記傾斜部が設けられているガイドを複数含み、
    複数の前記傾斜部が設けられているガイドの前記傾斜部のうちの第1傾斜部と前記第1傾斜部とは異なる第2傾斜部の長さが異なることを特徴とする請求項4に記載の基板搬送機構。
  7. 前記保持部は前記基板との間に摩擦力を生じさせる材料から形成されていることを特徴とする請求項1に記載の基板搬送機構。
  8. 前記移動部は前記基板の落下を防止する部材を有することを特徴とする請求項1に記載の基板搬送機構。
  9. 基板を搬送する請求項1~8のうちいずれか1項に記載の基板搬送機構と、
    前記基板にパターンを形成するパターン形成部と、
    を有することを特徴とするリソグラフィ装置。
  10. 基板を保持する保持部を移動させる移動部の移動を案内するガイドの設計方法であって、
    前記移動部が前記ガイドに沿って移動することによって前記保持部の角度が変化し前記保持部は傾いた状態で前記基板を保持しながら前記移動部により移動させられるよう、前記基板を搬送する速度と前記基板の形状と前記基板の厚さとのうちいずれか1つ以上に基づいて前記ガイドの傾斜部の傾斜の長さ又は角度を設計する設計工程と、
    前記設計工程で設計した前記傾斜部を含む前記ガイドを製造する製造工程と、
    を有することを特徴とするガイドの製造方法。
  11. 基板にパターンを形成する形成工程と、
    請求項1~8のうちいずれか1項に記載の基板搬送機構を用いて基板の搬送をする搬送工程と、
    前記形成工程及び前記搬送工程を経た前記基板から物品を製造する製造工程と、
    を有することを特徴とする物品の製造方法。
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