JP2024040772A - Pickup device, control method for pickup device, and control program for pickup device - Google Patents

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Yasuhiro Hanawa
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pickup device that has a simpler structure and is reducible in bending moment applied to a chip component when peeled off from a dicing tape.
SOLUTION: A pickup device is configured to pick up a chip component, stuck on a dicing tape, from the dicing tape, and has a conical spring which decreases in spring constant from its outer peripheral part to its center part, and spring moving means which moves the conical spring in the direction of a normal to a principal surface of the chip component so that the center part of the conic spring is pressed against the chip component from the reverse surface of the dicing tape.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2024,JPO&INPIT

Description

本発明は、ピックアップ装置等に関する。 The present invention relates to a pickup device and the like.

半導体等のチップ部品の製造では、一般的に、1枚のウェハに複数のチップ部品が形成される。そして、ダイシング等の分割手法を用いて、ウェハが個々のチップ部品に分割される。一般的なダイシングでは、ダイシングテープが用いられる。ダイシングテープは片面に粘着性を有するフィルムである。ダイシングテープは、ダイシングシート、ウェハシート、粘着シートなどとも呼ばれる。 In manufacturing chip components such as semiconductors, a plurality of chip components are generally formed on one wafer. The wafer is then divided into individual chip components using a dividing method such as dicing. In general dicing, a dicing tape is used. Dicing tape is a film that is adhesive on one side. Dicing tape is also called a dicing sheet, wafer sheet, adhesive sheet, etc.

ダイシングを行う際に、まずウェハの裏面がダイシングテープに貼付される。次にダイシングによってウェハが個々のチップ部品に分割される。ダイシングが終わると、次に、ダイシングテープを引き延ばす加工であるエキスパンドが施され、チップ部品とチップ部品の間に隙間が形成される。次に、紫外線照射等によって、ダイシングテープの粘着性が低下される。次にコレットと呼ばれる吸着手段を備えたピックアップ装置によって、チップ部品の表面が吸着され、チップ部品がピックアップされる。この際、一般的な方法では、突き上げピンによって、ダイシングテープの裏面が突き上げられる。この突き上げによって、チップ部品のダイシングテープからの剥離が促進される。 When dicing, the backside of the wafer is first attached to a dicing tape. The wafer is then divided into individual chip components by dicing. Once dicing is complete, the dicing tape is expanded, which is a process that stretches the dicing tape, forming gaps between the chip components. The adhesiveness of the dicing tape is then reduced by exposure to ultraviolet light or other methods. The front side of the chip components is then adsorbed by a pick-up device equipped with an adsorption means called a collet, and the chip components are picked up. In a typical method, the backside of the dicing tape is pushed up by a push-up pin. This push-up promotes the peeling of the chip components from the dicing tape.

上記のピックアップ装置では、チップ部品の中央を1本の突き上げピンで突き上げるのが最も簡単な構成である。この構成で突き上げを行うと、チップ部品の端部から剥離が始まる。この際、突き上げピンの先端部が突き当たっている場所を支点とし、チップ部品の端部を作用点とし、作用点にダイシングテープの粘着力(剥離力)が作用する曲げモーメントが発生する。チップ部品のサイズが大きくなると、支点から、作用点であるチップ部品の端部までの距離が長くなる。これに伴って、チップ部品に加わる曲げモーメントが大きくなる。この曲げモーメントによりチップ部品に加わる応力がチップ部品の破壊応力を超えると、チップ部品に破損が生じる。このため、チップ部品のサイズが大きくなると、チップ部品が破損するリスクが増大する。 In the above pickup device, the simplest configuration is to push up the center of the chip component with a single push-up pin. When push-up is performed with this configuration, peeling begins from the end of the chip component. At this time, a bending moment is generated where the tip of the push-up pin abuts as a fulcrum, the end of the chip component as a point of action, and the adhesive force (peel force) of the dicing tape acts on the point of action. As the size of the chip component increases, the distance from the fulcrum to the end of the chip component, which is the point of action, increases. Along with this, the bending moment applied to the chip component increases. When the stress applied to the chip component due to this bending moment exceeds the breaking stress of the chip component, the chip component is damaged. Therefore, as the size of the chip component increases, the risk of the chip component being damaged increases.

そこで、チップ部品に加わる曲げモーメントを低減する方法が特許文献1で提案されている。例えば、特許文献1には、チップ部品(チップ)の外周部から剥離を行うピックアップ方法および装置の発明が記載されている。特許文献1のピックアップ装置は、径の異なる複数の筒体(第1吸引筒体、第2吸引筒体、第1突き上げ筒体、第2突き上げ筒体)と複数の突き上げピンを備えている。 Therefore, a method for reducing the bending moment applied to chip components is proposed in Patent Document 1. For example, Patent Document 1 describes an invention of a pickup method and device for peeling off a chip component (chip) from its outer periphery. The pickup device of Patent Document 1 includes a plurality of cylinders having different diameters (a first suction cylinder, a second suction cylinder, a first push-up cylinder, and a second push-up cylinder) and a plurality of push-up pins.

ピックアップにおいては、まず、最も外側の筒体(第1吸引筒体)の吸引孔を介してダイシングテープ(貼付シート、ダイシングシート)を吸引することにより、ダイシングテープが第1吸引筒体の上端部に吸着される(引用文献1の図3(a))。 In the pickup, first, by suctioning the dicing tape (applying sheet, dicing sheet) through the suction hole of the outermost cylinder (first suction cylinder), the dicing tape is attached to the upper end of the first suction cylinder. (Figure 3(a) of Cited Document 1).

次に、第1吸引筒体の内側に配置されている第1突き上げ筒体、第2吸引筒体、第2突き上げ筒体および突き上げピンを同じ高さまで上昇させて、ダイシングテープを介してチップ部品を上方に突き上げる(引用文献1の図3(b))。これにより、チップ部品が貼り付けられているダイシングテープのうち、第1突き上げ筒体の外周側でチップ部品の下面の外周縁からチップ部品の内側に向かってわずかに剥離される。この動作では、第1突き上げ筒体の突き当り部分が支点となり、第1吸引筒体の上のチップ部品端部が剥離ポイント(作用点)になる。 Next, the first push-up cylinder, the second suction cylinder, the second push-up cylinder and the push-up pin arranged inside the first suction cylinder are raised to the same height to push the chip component upward through the dicing tape (FIG. 3(b) of Reference 1). As a result, the dicing tape to which the chip component is attached is slightly peeled off from the outer edge of the underside of the chip component on the outer periphery side of the first push-up cylinder toward the inside of the chip component. In this operation, the abutting portion of the first push-up cylinder becomes the fulcrum, and the end of the chip component above the first suction cylinder becomes the peeling point (point of action).

次に、第1吸着筒体と第1突き上げ筒体の高さを維持したまま、第1突き上げ筒体の内側に位置する第2突き上げ筒体と第2吸引筒体と突き上げピンをピックアップ装置が同じ高さだけ上昇させる。そして、ダイシングテープを介して、ピックアップ装置がチップ部品をさらに上方に突き上げる(引用文献1の図3(c))。これにより、第2突き上げ筒体の外周側で、先の貼付面外周縁からチップ部品の内側に向って、さらにダイシングテープが剥離される。この動作では、第2突き上げ筒体の突き当り部分が支点となり、第1突き上げ筒体の上のチップ部品端部が剥離ポイント(作用点)になる。 Next, while maintaining the heights of the first suction cylinder and the first push-up cylinder, the pickup device picks up the second push-up cylinder, the second suction cylinder, and the push-up pin located inside the first push-up cylinder. Raise the same height. Then, the pickup device pushes the chip component further upward via the dicing tape (FIG. 3(c) of Cited Document 1). As a result, the dicing tape is further peeled off from the outer periphery of the pasting surface toward the inside of the chip component on the outer periphery side of the second push-up cylinder. In this operation, the abutting portion of the second thrusting cylinder becomes a fulcrum, and the end of the chip component above the first thrusting cylinder becomes a peeling point (point of action).

次に、第1吸着筒体と第1突き上げ筒体と第2突き上げ筒体の高さを維持したまま、第2突き上げ筒体よりも内側に位置する第2吸着筒体と突き上げピンを同じ高さだけさらに上昇させ、チップ部品をさらに突き上げる(引用文献1の図3(d))。これにより、第2吸着筒体の外周側で、先の貼付面外周縁からチップ1の内側に向って、さらにダイシングテープが剥離される。この動作では、第2突き上げ筒体の突き当り部分が支点となり、第1突き上げ筒体の上のチップ部品端部が剥離ポイント(作用点)になる。 Next, while maintaining the heights of the first suction cylinder, first push-up cylinder, and second push-up cylinder, move the second suction cylinder located inside the second push-up cylinder and the push-up pin to the same height. The chip component is pushed up even further (FIG. 3(d) of Cited Document 1). As a result, the dicing tape is further peeled off from the outer periphery of the pasting surface toward the inside of the chip 1 on the outer periphery side of the second adsorption cylinder. In this operation, the abutting portion of the second thrusting cylinder becomes a fulcrum, and the end of the chip component above the first thrusting cylinder becomes a peeling point (point of action).

次に、第1吸着筒体、第1突き上げ筒体、第2突き上げ筒体および第2吸着筒体の高さが維持される。そして、この状態のまま、突き上げピンがさらに上昇される。これにより、チップ部品がさらに突き上げられる。その結果、突き上げピンの先端上にチップ部品が支持される(引用文献1の図3(e))。この時、第2吸着筒体の吸引溝からの吸引により第2吸着筒体に接するダイシングテープが第2吸着筒体に吸着されて固定される。こうして、突き上げピンにより、ダイシングテープからチップ部品がより効果的に剥離される。この動作では、突き上げピンの突き当り部分が支点となり、第2突き上げ筒体の上のチップ部品端部が剥離ポイント(作用点)になる。 Next, the heights of the first suction cylinder, the first push-up cylinder, the second push-up cylinder, and the second suction cylinder are maintained. Then, in this state, the push-up pin is further raised. As a result, the chip component is further pushed up. As a result, the chip component is supported on the tip of the push-up pin (FIG. 3(e) of Cited Document 1). At this time, the dicing tape in contact with the second suction cylinder is attracted and fixed to the second suction cylinder by suction from the suction groove of the second suction cylinder. In this way, the push-up pins can more effectively peel off the chip components from the dicing tape. In this operation, the abutting portion of the push-up pin becomes a fulcrum, and the end of the chip component on the second push-up cylinder becomes a peeling point (point of action).

以上の各工程において、支点から作用点までの距離が、チップ部品の中心を1本の突き上げピンの突上げる構成と比較して、短くなる。このため、チップ部品の中心を1本の突き上げピンの突上げる構成に比べて、チップ部品に作用する曲げモーメントが大幅に低減される。そして、特許文献1に記載の技術では、剥離の進行に応じて、順次、内側の筒体や突き上げピンが突き上げられる。こうして、ダイシングテープがチップの外周縁から順次剥離され、ダイシングテープとチップ部品との間の貼付面積が徐々に減少される。 In each of the above steps, the distance from the fulcrum to the point of action is shorter than in a configuration in which one push-up pin pushes up the center of the chip component. Therefore, the bending moment acting on the chip component is significantly reduced compared to a configuration in which a single push-up pin pushes up the center of the chip component. In the technique described in Patent Document 1, the inner cylinder and the push-up pin are pushed up one after another as the peeling progresses. In this way, the dicing tape is sequentially peeled off from the outer periphery of the chip, and the bonding area between the dicing tape and the chip component is gradually reduced.

特開2006-005030号公報Japanese Patent Application Publication No. 2006-005030

特許文献1のピックアップ装置では、複数の筒体や突き上げピンを独立して動かすために、複数のアクチュエータが複数の筒体や突き上げピンごとに設けられていた。このため構造が複雑になるという問題があった。 In the pickup device of Patent Document 1, a plurality of actuators are provided for each of the plurality of cylinders and the push-up pins in order to independently move the plurality of cylinders and the push-up pins. Therefore, there was a problem that the structure became complicated.

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、より構造が簡単で、ダイシングテープからの剥離の際に、チップ部品に加わる曲げモーメントが低減されるピックアップ装置等を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and aims to provide a pick-up device etc. that has a simpler structure and reduces the bending moment applied to chip components when peeling from a dicing tape. The purpose is

上記の課題を解決するため、本発明のピックアップ装置は、ダイシングテープの上に貼り付けられているチップ部品を前記ダイシングテープからピックアップするためのピックアップ装置であって、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる錐体状のバネと、前記ダイシングテープの下面を介して前記チップ部品を前記錐体状のバネの中心部により押圧するように、前記錐体状のバネを前記チップ部品の主面の法線方向に移動させるバネ移動手段と、を有する。 In order to solve the above-mentioned problems, a pickup device of the present invention is a pickup device for picking up a chip component pasted on a dicing tape from the dicing tape, and the pickup device picks up a chip component stuck on a dicing tape from the outer periphery to the center. The cone-shaped spring is attached to the chip component so that the center part of the cone-shaped spring presses the chip component through the lower surface of the dicing tape. Spring moving means for moving in the normal direction of the main surface.

また、本発明のピックアップ装置の制御方法は、ダイシングテープの上に貼り付けられているチップ部品を前記ダイシングテープからピックアップするためのピックアップ装置の制御方法であって、前記ピックアップ装置は、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる錐体状のバネ、を備え、前記ピックアップ装置が、前記ダイシングテープの下面を介して前記チップ部品を前記錐体状のバネの中心部により押圧するように、前記錐体状のバネを前記チップ部品の主面の法線の方向に移動させる。 Further, a method for controlling a pickup device according to the present invention is a method for controlling a pickup device for picking up a chip component pasted on a dicing tape from the dicing tape, the pickup device controlling the pickup device from the outer peripheral portion. A cone-shaped spring whose spring constant decreases toward the center, and the pickup device presses the chip component by the center of the cone-shaped spring via the lower surface of the dicing tape. , moving the cone-shaped spring in a direction normal to the main surface of the chip component.

また、本発明のピックアップ装置の制御プログラムは、ダイシングテープの上に貼り付けられているチップ部品を前記ダイシングテープからピックアップするためのピックアップ装置の制御プログラムであって、前記ピックアップ装置は、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる錐体状のバネ、を備え、前記ピックアップ装置の制御プログラムは、前記ダイシングテープの下面を介して前記チップ部品を前記錐体状のバネの中心部により押圧するように、前記錐体状のバネを前記チップ部品の主面の法線の方向に移動させる処理を、前記ピックアップ装置に実行させる。 Further, a control program for a pickup device according to the present invention is a control program for a pickup device for picking up a chip component pasted on a dicing tape from the dicing tape, the pickup device A cone-shaped spring whose spring constant decreases toward the center, and a control program for the pickup device presses the chip component through the lower surface of the dicing tape by the center of the cone-shaped spring. The pickup device is caused to perform a process of moving the cone-shaped spring in a direction normal to the principal surface of the chip component.

本発明の効果は、より構造が簡単で、ダイシングテープからの剥離の際に、チップ部品に加わる曲げモーメントが低減されるピックアップ装置等を提供できることである。 An advantage of the present invention is that it is possible to provide a pickup device and the like that has a simpler structure and reduces the bending moment applied to the chip component when it is peeled off from the dicing tape.

第1の実施形態のピックアップ装置を示す側面図である。FIG. 2 is a side view showing the pickup device of the first embodiment. 第1の実施形態のピックアップ装置の第1の動作状態を示す側面図である。FIG. 2 is a side view showing a first operating state of the pickup device of the first embodiment. 第1の実施形態のピックアップ装置の第2の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a second operating state of the pickup device of the first embodiment. 第1の実施形態のピックアップ装置の第3の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a third operating state of the pickup device of the first embodiment. 第1の実施形態のピックアップ装置の第4の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a fourth operating state of the pickup device of the first embodiment. 第1の実施形態のピックアップ装置の第5の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a fifth operating state of the pickup device of the first embodiment. 第1の実施形態のピックアップ装置の第6の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a sixth operating state of the pickup device of the first embodiment. 第2の実施形態のピックアップ装置を示す側面図である。It is a side view which shows the pick-up device of 2nd Embodiment. 第2の実施形態のピックアップ装置の第1の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a first operating state of the pickup device of the second embodiment. 第2の実施形態のピックアップ装置の第2の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a second operating state of the pickup device of the second embodiment. 第2の実施形態のピックアップ装置の第3の動作状態を示す側面図である。FIG. 7 is a side view showing a third operating state of the pickup device of the second embodiment. 第2の実施形態の錐体状のバネの製造方法の一例を示す平面図である。FIG. 7 is a plan view showing an example of a method for manufacturing a cone-shaped spring according to a second embodiment. 第2の実施形態の錐体状のバネの第1の変形例を示す平面図である。It is a top view which shows the 1st modification of the cone-shaped spring of 2nd Embodiment. 第2の実施形態の錐体状のバネの第2の変形例を示す平面図である。It is a top view which shows the 2nd modification of the cone-shaped spring of 2nd Embodiment.

以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を詳細に説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい限定がされているが、発明の範囲を以下に限定するものではない。なお各図面の同様の構成要素には同じ番号を付し、説明を省略する場合がある。 Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. However, although the embodiments described below include technically preferable limitations for implementing the present invention, the scope of the invention is not limited to the following. Note that similar components in each drawing may be designated by the same numbers and their descriptions may be omitted.

(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態のピックアップ装置を示す側面図である。ピックアップ装置100は、ダイシングテープ200の上に貼り付けられているチップ部品300をピックアップするための装置である。ピックアップ装置100は、錐体状のバネ10と、バネ移動手段20と、を有する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a side view showing a pickup device according to a first embodiment. The pickup device 100 is a device for picking up the chip component 300 stuck on the dicing tape 200. The pickup device 100 includes a cone-shaped spring 10 and a spring moving means 20.

錐体状のバネ10は、錐体状の鶴巻バネである。錐体状のバネ10は、根元部(図1の紙面の下側)から先端部(図1の紙面の上側)に向けて、徐々に外径が小さくなるように形成されている。錐体状のバネ10の先端部は、ダイシングテープ200の裏面に当接される。錐体状のバネ10の根元部は、バネ移動手段20に取り付けられている。錐体状のバネ10は、後述の吸着ブロック30の内部に収容されている。錐体状のバネ10は、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなるように形成されている。錐体状のバネ10においては、例えば、外周部から中心部に向かって断面の外径が小さくなる。これにより、上記のバネ定数が実現される。 The cone-shaped spring 10 is a cone-shaped crane spring. The cone-shaped spring 10 is formed so that its outer diameter gradually decreases from the base (lower side of the paper in FIG. 1) to the tip (upper side of the paper in FIG. 1). The tip of the cone-shaped spring 10 is brought into contact with the back surface of the dicing tape 200. The base of the cone-shaped spring 10 is attached to a spring moving means 20. The cone-shaped spring 10 is housed inside a suction block 30, which will be described later. The cone-shaped spring 10 is formed such that the spring constant decreases from the outer periphery toward the center. In the cone-shaped spring 10, for example, the outer diameter of the cross section decreases from the outer periphery toward the center. This achieves the above spring constant.

例えば、線径がテーパー状の線材を螺旋状に巻くことによって、錐体状のバネ10が形成される。ここで、テーパー状とは線径が大から小へ徐々に変化することである。線材の断面の形状は、例えば、円状である。また、錐体状のバネ10の全体の形状は、線材の巻き方によって決定される。錐体状のバネ10の全体の形状は、例えば、円錐、楕円錐、多角錐とされる。 For example, the cone-shaped spring 10 is formed by spirally winding a wire rod having a tapered wire diameter. Here, the tapered shape means that the wire diameter gradually changes from large to small. The cross-sectional shape of the wire is, for example, circular. Further, the overall shape of the cone-shaped spring 10 is determined by the way the wire is wound. The overall shape of the cone-shaped spring 10 is, for example, a cone, an elliptical cone, or a polygonal pyramid.

また、例えば、板状のバネ鋼を打ち抜くことによっても、錐体状のバネ10が形成され得る。この場合、まず、外周部から中心に向かって線幅が減少するような螺旋の形状にバネ鋼が打ち抜かれる。そして、全体が錐体を形成するように、打ち抜いたバネ鋼が変形される。この際、錐体状のバネ10の線材の断面は矩形状になる。なお、打ち抜いた線材の端部が面取りされても良い。この場合、線材の断面は、矩形が面取りされた形になる。 Further, the cone-shaped spring 10 can also be formed, for example, by punching out a plate-shaped spring steel. In this case, first, spring steel is punched out into a spiral shape in which the line width decreases from the outer periphery toward the center. The punched spring steel is then deformed so that the whole forms a cone. At this time, the cross section of the wire rod of the cone-shaped spring 10 becomes rectangular. Note that the ends of the punched wire may be chamfered. In this case, the cross section of the wire has a rectangular shape with a chamfer.

バネ移動手段20は、後述の吸着ブロック30に、チップ部品300の主面の法線nの方向に移動可能に取り付けられている。また、バネ移動手段20は、錐体状のバネ10をチップ部品300の主面の法線nの方向に移動させる。この際、錐体状のバネ10の中心がダイシングテープ200の下面に近づくように、バネ移動手段20の移動が行われる。バネ移動手段20が錐体状のバネ10をダイシングテープ200に近づく方向に移動させると、ダイシングテープ200の下面を介して、錐体状のバネ10がチップ部品300を押圧する。なお、図示はしていないが、電動モータなどによって、バネ移動手段20が、チップ部品300の主面の法線nの方向に移動される。つまり、バネ移動手段20によって、図1の上下方向に、錐体状のバネ10が移動される。 The spring moving means 20 is attached to a suction block 30, which will be described later, so as to be movable in the direction of the normal n to the main surface of the chip component 300. Further, the spring moving means 20 moves the cone-shaped spring 10 in the direction of the normal n to the main surface of the chip component 300. At this time, the spring moving means 20 is moved so that the center of the conical spring 10 approaches the lower surface of the dicing tape 200. When the spring moving means 20 moves the cone-shaped spring 10 in a direction approaching the dicing tape 200, the cone-shaped spring 10 presses the chip component 300 via the lower surface of the dicing tape 200. Although not shown, the spring moving means 20 is moved in the direction of the normal n to the main surface of the chip component 300 by an electric motor or the like. That is, the spring moving means 20 moves the cone-shaped spring 10 in the vertical direction in FIG.

吸着ブロック30は、錐体状のバネ10と、バネ移動手段20の一部とを収容する。吸着ブロック30は、バネ移動手段20がチップ部品300の主面の法線nの方向に移動できるように、バネ移動手段20を保持する。また、吸着ブロック30の上面には、チップ部品300が貼り付けられたダイシングテープ200が、載置される。吸着ブロック30は、ダイシングテープ200の裏面を吸着する。吸着ブロック30において、ピックアップの対象となるチップ部品300に対応する部分は、開口部(不図示)となっている。この開口部を介して空気を吸引することで、吸着ブロック30は、ダイシングテープ200の裏面を吸着する。つまり、ピックアップを行う領域では、ダイシングテープ200が吸着されない。 The suction block 30 accommodates the cone-shaped spring 10 and a part of the spring moving means 20. The suction block 30 holds the spring moving means 20 so that the spring moving means 20 can move in the direction of the normal n of the main surface of the chip component 300. The dicing tape 200 to which the chip component 300 is attached is placed on the upper surface of the suction block 30. The suction block 30 suctions the back surface of the dicing tape 200. The part of the suction block 30 that corresponds to the chip component 300 to be picked up is an opening (not shown). By sucking air through this opening, the suction block 30 suctions the back surface of the dicing tape 200. In other words, the dicing tape 200 is not suctioned in the area where the pickup is to be performed.

次に、ピックアップ装置100の動作について説明する。図2は、第1の実施形態のピックアップ装置100の第1の動作状態を示す側面図である。まず、図1の状態から、ダイシングテープ200の下面に近づくように、バネ移動手段20が、法線nの方向に移動される。これにより、錐体状のバネ10が同じ方向に移動される。そして、錐体状のバネ10の中心部が、ダイシングテープ200の下面に当接する。図2は、この状態を表している。 Next, the operation of the pickup device 100 will be explained. FIG. 2 is a side view showing the first operating state of the pickup device 100 of the first embodiment. First, from the state shown in FIG. 1, the spring moving means 20 is moved in the direction of the normal line n so as to approach the lower surface of the dicing tape 200. As a result, the conical spring 10 is moved in the same direction. Then, the center portion of the cone-shaped spring 10 comes into contact with the lower surface of the dicing tape 200. FIG. 2 represents this state.

次に、錐体状のバネ10が圧縮されるように、さらにバネ移動手段20がダイシングテープ200の下面に近づけられる。錐体状のバネ10は、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなっている。このため、上記の動作では、錐体状のバネ10は、中心部から圧縮が始まり、圧縮が錐体状のバネ10の外周部に向かって徐々に広がっていく。 Next, the spring moving means 20 is brought closer to the lower surface of the dicing tape 200 so that the cone-shaped spring 10 is compressed. The conical spring 10 has a spring constant that decreases from the outer periphery toward the center. Therefore, in the above operation, the cone-shaped spring 10 begins to be compressed from the center, and the compression gradually spreads toward the outer periphery of the cone-shaped spring 10.

図3は、第1の実施形態のピックアップ装置100の第2の動作状態を示す側面図である。図3では、ダイシングテープ200の下面とバネ移動手段との距離が、錐体状のバネ10の外周部の線径と同じになっている。つまり、錐体状のバネ10の全体が圧縮されている。 FIG. 3 is a side view showing the second operating state of the pickup device 100 of the first embodiment. In FIG. 3, the distance between the lower surface of the dicing tape 200 and the spring moving means is the same as the wire diameter of the outer periphery of the conical spring 10. In other words, the entire cone-shaped spring 10 is compressed.

図4は、第1の実施形態のピックアップ装置100の第3の動作状態を示す側面図である。錐体状のバネ10の復元力によって、チップ部品300が法線nの方向に押し上げられている。この際、錐体状のバネ10の外周部が復元し、錐体状のバネ10の、それより中央側の部分は圧縮されたままである。本実施形態では、錐体状のバネ10のバネ定数が、外周部で大きく、中央に行くにしたがって小さくなっている。これが、上記の状態となる理由である。この動作によって、チップ部品300の外周部がダイシングテープ200から剥離される。 FIG. 4 is a side view showing the third operating state of the pickup device 100 of the first embodiment. The chip component 300 is pushed up in the direction of the normal line n by the restoring force of the cone-shaped spring 10. At this time, the outer periphery of the cone-shaped spring 10 is restored, and the part of the cone-shaped spring 10 closer to the center remains compressed. In this embodiment, the spring constant of the conical spring 10 is large at the outer periphery and becomes small toward the center. This is the reason for the above situation. Through this operation, the outer peripheral portion of the chip component 300 is peeled off from the dicing tape 200.

図5は、第1の実施形態のピックアップ装置100の第4の動作状態を示す側面図である。第4の状態では、第3の状態よりも、錐体状のバネ10の復元が、中央側に進行している。これにより、第3の状態よりも、ダイシングテープ200の剥離が、チップ部品300の中央側に進行している。 FIG. 5 is a side view showing the fourth operating state of the pickup device 100 of the first embodiment. In the fourth state, the restoration of the cone-shaped spring 10 is progressing toward the center compared to the third state. As a result, peeling of the dicing tape 200 progresses toward the center of the chip component 300 compared to the third state.

図6は、第1の実施形態のピックアップ装置100の第5の動作状態を示す側面図である。第5の状態では、第4の状態よりも、錐体状のバネ10の復元が、中央側に進行している。これにより、第4の状態よりも、ダイシングテープ200の剥離が、チップ部品300の中央側に進行している。 FIG. 6 is a side view showing the fifth operating state of the pickup device 100 of the first embodiment. In the fifth state, the cone-shaped spring 10 is restored more toward the center than in the fourth state. As a result, peeling of the dicing tape 200 progresses toward the center of the chip component 300 compared to the fourth state.

図7は、第1の実施形態のピックアップ装置100の第6の動作状態を示す側面図である。第6の状態では、第4の状態よりも、錐体状のバネ10の復元が、中央側に進行している。そして、錐体状のバネ10の全体が、外力の無い状態まで復元している。これにより、第4の状態よりも、ダイシングテープ200の剥離が、チップ部品300の中央側に進行している。この状態では、チップ部品300の大部分がダイシングテープ200から剥離されている。このため、チップ部品300が容易にピックアップされる。 FIG. 7 is a side view showing the sixth operating state of the pickup device 100 of the first embodiment. In the sixth state, the restoration of the conical spring 10 is progressing toward the center compared to the fourth state. The entire cone-shaped spring 10 has been restored to its state without any external force. As a result, peeling of the dicing tape 200 progresses toward the center of the chip component 300 compared to the fourth state. In this state, most of the chip component 300 has been peeled off from the dicing tape 200. Therefore, the chip component 300 is easily picked up.

以上のような動作によって、剥離の際に、チップ部品300を折り曲げる曲げモーメントが低減される。 The above operation reduces the bending moment that bends the chip component 300 during peeling.

以上に説明したピックアップ装置100では、特許文献1のピックアップ装置と同様に、ダイシングテープ200からの剥離において、チップ部品300に加わる曲げモーメントが低減される。そして、ピックアップ装置100は、バネ移動手段20によって錐体状のバネ10を上下動させるだけの簡単な構成となっている。つまり、複数のアクチュエータを使用して複数の突き上げ手段を制御する特許文献1のピックアップ装置100より簡単な構成で、同様な動作が実現される。 In the pickup device 100 described above, the bending moment applied to the chip component 300 during peeling from the dicing tape 200 is reduced, similar to the pickup device of Patent Document 1. The pickup device 100 has a simple configuration in which the cone-shaped spring 10 is moved up and down by the spring moving means 20. In other words, a similar operation can be realized with a simpler configuration than the pickup device 100 of Patent Document 1, which uses a plurality of actuators to control a plurality of push-up means.

以上、本実施形態のピックアップ装置100等について説明した。 The pickup device 100 and the like of this embodiment have been described above.

本実施形態のピックアップ装置100は、ダイシングテープ200の上に貼り付けられているチップ部品300をダイシングテープ200からピックアップする。ピックアップ装置100は、錐体状のバネ10と、バネ移動手段20と、を有する。錐体状のバネ10では、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる。そして、バネ移動手段20が、錐体状のバネ10をチップ部品300の主面の法線nの方向に移動させる。この際、錐体状のバネ10の中心部によって、ダイシングテープ200の下面が押圧されるように、移動が行われる。そして、ダイシングテープ200の下面を介して、チップ部品300の下面が押圧される。 The pickup device 100 of this embodiment picks up the chip component 300 stuck on the dicing tape 200 from the dicing tape 200. The pickup device 100 includes a cone-shaped spring 10 and a spring moving means 20. In the conical spring 10, the spring constant decreases from the outer periphery toward the center. Then, the spring moving means 20 moves the cone-shaped spring 10 in the direction of the normal n to the main surface of the chip component 300. At this time, the dicing tape 200 is moved so that the lower surface of the dicing tape 200 is pressed by the center of the cone-shaped spring 10. Then, the lower surface of the chip component 300 is pressed through the lower surface of the dicing tape 200.

このような構成により、剥離の際に、チップ部品300を折り曲げる曲げモーメントが低減される。そして、バネ移動手段20が錐体状のバネ10を移動させるだけの簡単な構成によって、上記の剥離が実現される。 Such a configuration reduces the bending moment that bends the chip component 300 during peeling. The above-mentioned separation is realized by a simple configuration in which the spring moving means 20 only moves the cone-shaped spring 10.

また一態様によれば、ピックアップ装置100の錐体状のバネ10がバネ線によって構成される。そしてバネ線の断面の外径が、外周部から中心部に向かって小さくなる。この構成では、断面の外径が外周から中心に向かって小さくなるため、バネ定数が漸減する構成が実現される。 Further, according to one embodiment, the cone-shaped spring 10 of the pickup device 100 is formed of a spring wire. The outer diameter of the cross section of the spring wire becomes smaller from the outer periphery toward the center. In this configuration, since the outer diameter of the cross section decreases from the outer periphery toward the center, a configuration in which the spring constant gradually decreases is realized.

また一態様によれば、ピックアップ装置100において、錐体状のバネ10を構成するバネ線の断面形状が、円状である。このような構成とするために、例えば、断面が円状の線材が用いられる。この線材は、線径がテーパー状である。太い方が外、細い方が中心となるように、線材をらせん状に巻くことで、錐体状のバネ10が形成される。 Further, according to one embodiment, in the pickup device 100, the cross-sectional shape of the spring wire forming the cone-shaped spring 10 is circular. For such a configuration, for example, a wire rod having a circular cross section is used. This wire has a tapered wire diameter. A cone-shaped spring 10 is formed by spirally winding the wire with the thicker end on the outside and the thinner end in the center.

また一態様によれば、ピックアップ装置100において、錐体状のバネ10を構成するバネ線の断面形状が、矩形状である。例えば、平板のバネ鋼400を打ち抜いたものが、錐体状のバネ10の原材料となる。まず、外周部から中心に向かって線幅が細くなるパターンで、平板のバネ鋼400が打ち抜かれる。そして、中心部が錐体の頂部となるように、打ち抜かれた材料を変形させることで、錐体状のバネ10が形成される。バネ鋼400が垂直に打ち抜かれれば、できたものは断面が矩形になる。この構成では、材料の角が面取りされても良い。 According to one embodiment, in the pickup device 100, the cross-sectional shape of the spring wire forming the cone-shaped spring 10 is rectangular. For example, a punched flat plate of spring steel 400 serves as the raw material for the cone-shaped spring 10. First, a flat plate of spring steel 400 is punched out in a pattern in which the line width becomes narrower from the outer periphery toward the center. A cone-shaped spring 10 is then formed by deforming the punched material so that the center becomes the top of the cone. If the spring steel 400 is punched vertically, the resulting product will have a rectangular cross section. In this configuration, the corners of the material may be chamfered.

また一態様によれば、ピックアップ装置100において、錐体状のバネ10の全体の形状が、円錐状または楕円錐状または多角錐状である。円錐状のバネは、円錐バネとして一般的に用いられている。しかしながら、錐体状のバネ10全体の形状は、円錐状に限られない。例えば、形状が、楕円錐状や多角錐状であっても良い。線材の巻き方や、平板の打ち抜くパターンを調整することで、このような形状が形成される。 According to one embodiment, in the pickup device 100, the entire shape of the cone-shaped spring 10 is a cone, an elliptical cone, or a polygonal pyramid. A conical spring is commonly used as a conical spring. However, the overall shape of the conical spring 10 is not limited to a conical shape. For example, the shape may be an elliptical cone or a polygonal pyramid. This shape is created by adjusting the way the wire is wound and the pattern in which the flat plate is punched out.

また、本発明のピックアップ装置の制御方法は、ピックアップ装置100を制御する。ダイシングテープ200の上にピックアップ対象のチップ部品300が貼り付けられている。ダイシングテープ200からチップ部品300がピックアップされる。ピックアップ装置100は、錐体状のバネ10を備える。錐体状のバネ10では、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる。そして、ダイシングテープ200の下面に近づくように、錐体状のバネ10が、チップ部品300の主面の法線nの方向に移動される。この際、錐体状のバネ10の中心部が、ダイシングテープ200の下面を押圧するように、移動が行われる。そして、ダイシングテープ200の下面を介して、チップ部品300の下面が押圧される。 Further, the pickup device control method of the present invention controls the pickup device 100. A chip component 300 to be picked up is pasted on the dicing tape 200. Chip components 300 are picked up from dicing tape 200. The pickup device 100 includes a cone-shaped spring 10. In the conical spring 10, the spring constant decreases from the outer periphery toward the center. Then, the conical spring 10 is moved in the direction of the normal n to the main surface of the chip component 300 so as to approach the lower surface of the dicing tape 200. At this time, the movement is performed such that the center of the cone-shaped spring 10 presses the lower surface of the dicing tape 200. Then, the lower surface of the chip component 300 is pressed through the lower surface of the dicing tape 200.

上記の構成では、チップ部品300の外周部からダイシングテープ200の剥離が始まる。そして、チップ部品300の中心部に向かって剥離が徐々に進行する。これは、錐体状のバネ10のバネ定数が、外周部から中心部に向かって小さくなっているためである。その結果、チップ部品300に加わる曲げモーメントが低減される。 In the above configuration, peeling of the dicing tape 200 starts from the outer periphery of the chip component 300. Then, the peeling gradually progresses toward the center of the chip component 300. This is because the spring constant of the conical spring 10 decreases from the outer periphery toward the center. As a result, the bending moment applied to the chip component 300 is reduced.

また、本発明のピックアップ装置の制御プログラムは、ピックアップ装置100に処理を実行させる。ダイシングテープ200の上にピックアップ対象のチップ部品300が貼り付けられている。ダイシングテープ200からチップ部品300がピックアップされる。ピックアップ装置100は、錐体状のバネ10を備える。錐体状のバネ10では、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる。そして、制御プログラムは、錐体状のバネ10を移動する処理をピックアップ装置100に実行させる。この処理では、錐体状のバネ10が、チップ部品300の主面の法線nの方向に移動される。この移動は、錐体状のバネ10が、ダイシングテープ200の下面に近づく移動である。この際、錐体状のバネ10の中心部が、ダイシングテープ200の下面を押圧するように、移動が行われる。そして、ダイシングテープ200の下面を介して、チップ部品300の下面が押圧される。 Further, the pickup device control program of the present invention causes the pickup device 100 to execute processing. A chip component 300 to be picked up is pasted on the dicing tape 200. Chip components 300 are picked up from dicing tape 200. The pickup device 100 includes a cone-shaped spring 10. In the conical spring 10, the spring constant decreases from the outer periphery toward the center. The control program then causes the pickup device 100 to execute a process of moving the cone-shaped spring 10. In this process, the cone-shaped spring 10 is moved in the direction of the normal n to the main surface of the chip component 300. This movement is a movement of the conical spring 10 approaching the lower surface of the dicing tape 200. At this time, the movement is performed such that the center of the cone-shaped spring 10 presses the lower surface of the dicing tape 200. Then, the lower surface of the chip component 300 is pressed through the lower surface of the dicing tape 200.

上記の構成では、チップ部品300の外周部からダイシングテープ200の剥離が始まる。そして、チップ部品300の中心部に向かって剥離が徐々に進行する。これは、錐体状のバネ10のバネ定数が、外周部から中心部に向かって小さくなっているためである。その結果、チップ部品300に加わる曲げモーメントが低減される。 In the above configuration, peeling of the dicing tape 200 starts from the outer periphery of the chip component 300. Then, the peeling gradually progresses toward the center of the chip component 300. This is because the spring constant of the conical spring 10 decreases from the outer periphery toward the center. As a result, the bending moment applied to the chip component 300 is reduced.

(第2の実施形態)
図8は、第2の実施形態のピックアップ装置101を示す側面図である。ピックアップ装置101は、コレット90と、コレット駆動手段91とを備えている。
(Second embodiment)
FIG. 8 is a side view showing the pickup device 101 of the second embodiment. The pickup device 101 includes a collet 90 and a collet driving means 91.

コレット90は、チップ部品300の上面と対向する位置に設けられる。そして、コレット90は、チップ部品300を吸着する。 The collet 90 is provided at a position facing the top surface of the chip component 300. The collet 90 then attracts the chip component 300.

コレット駆動手段91は、コレット90を少なくとも法線nの方向に移動させる。コレット駆動手段91はコレットに負荷する力を調整できるようになっている。また、図示はしていないが、コレット90の位置は、コレット位置検出手段で検出される。 The collet driving means 91 moves the collet 90 at least in the direction of the normal line n. The collet driving means 91 can adjust the force applied to the collet. Although not shown, the position of the collet 90 is detected by collet position detection means.

次に、ピックアップ装置101の動作について説明する。図9は、第2の実施形態のピックアップ装置101の第1の動作状態を示す側面図である。コレット90がチップ部品300の上面に当接している。そして、コレット90が、ピックアップ対象のチップ部品300を、隣のチップ部品300と同じ高さに制御している。また、錐体状のバネ10をダイシングテープ200の裏面に押し付けるように、バネ移動手段20が錐体状のバネ10を移動させている。第1の状態では、全体がつぶれた状態になるまで、錐体状のバネ10が圧縮されている。 Next, the operation of the pickup device 101 will be explained. FIG. 9 is a side view showing the first operating state of the pickup device 101 of the second embodiment. A collet 90 is in contact with the upper surface of the chip component 300. The collet 90 controls the chip component 300 to be picked up to be at the same height as the adjacent chip component 300. Further, the spring moving means 20 moves the cone-shaped spring 10 so as to press the cone-shaped spring 10 against the back surface of the dicing tape 200. In the first state, the cone-shaped spring 10 is compressed until it is completely collapsed.

図10は、第2の実施形態のピックアップ装置101の第2の動作状態を示す側面図である。コレット90が第1の状態よりも上方に移動している。バネ移動手段20は、第1の状態と同じ位置に保持されている。この状態では、錐体状のバネ10の外周部が復元し、錐体状のバネ10の、それより中央側の部分は圧縮されたままである。本実施形態では、錐体状のバネ10のバネ定数が、当該錐体状のバネ10の外周部から中央部に向かって小さくなっている。このため、錐体状のバネ10が上記の状態となる。この動作によって、チップ部品300の外周部がダイシングテープ200から剥離される。 FIG. 10 is a side view showing the second operating state of the pickup device 101 of the second embodiment. The collet 90 has moved higher than in the first state. The spring moving means 20 is held in the same position as in the first state. In this state, the outer periphery of the conical spring 10 is restored, and the central portion of the conical spring 10 remains compressed. In this embodiment, the spring constant of the cone-shaped spring 10 decreases from the outer periphery toward the center of the cone-shaped spring 10. Therefore, the cone-shaped spring 10 is in the above state. Through this operation, the outer peripheral portion of the chip component 300 is peeled off from the dicing tape 200.

図11は、第2の実施形態のピックアップ装置101の第3の動作状態を示す側面図である。第3の状態では、コレット90が第1の状態よりも上方に移動している。また、バネ移動手段20は、第2の状態と同じ位置に保持されている。この制御により、第2の状態よりも、錐体状のバネ10の復元が、中央側に進行している。そして、錐体状のバネ10の全体が、外力の無い状態まで復元している。この状態では、チップ部品300の大部分がダイシングテープ200から剥離されている。ピックアップ装置100には、第3の状態におけるコレット90の高さが予め記憶されている。そして、コレット駆動手段91が、コレット90をさらに上方に移動させる。これにより、チップ部品300がダイシングテープ200から完全に剥離され、ピックアップが完了する。 FIG. 11 is a side view showing the third operating state of the pickup device 101 of the second embodiment. In the third state, the collet 90 has moved higher than in the first state. Further, the spring moving means 20 is held at the same position as in the second state. Due to this control, the restoration of the cone-shaped spring 10 is progressing toward the center compared to the second state. The entire cone-shaped spring 10 has been restored to its state without any external force. In this state, most of the chip component 300 has been peeled off from the dicing tape 200. The height of the collet 90 in the third state is stored in advance in the pickup device 100. Then, the collet driving means 91 moves the collet 90 further upward. As a result, the chip component 300 is completely peeled off from the dicing tape 200, and the pickup is completed.

以上のような動作によって、ピックアップの際に、チップ部品300を折り曲げる曲げモーメントが低減される。 The above operation reduces the bending moment that bends the chip component 300 during pickup.

次に、錐体状のバネ10の具体例について説明する。図12は、第2の実施形態の錐体状のバネ10の製造方法の一例を示す平面図である。錐体状のバネ10は、例えば、板状のバネ鋼400を所定のパターンに打ち抜くことによって形成される。この所定のパターンとは、図12のような螺旋状のパターンである。図12の例では、外周部で幅が広く、中央に向かって幅が減少する。錐体状のバネ10の形成では、まず、図12の10aに示すパターンにバネ鋼400が打ち抜かれる。次に、打ち抜かれたパターン10aの中央部を図11の表面から上方に引き上げるように、線材が変形される。これにより、バネ材が錐体状に成形される。 Next, a specific example of the cone-shaped spring 10 will be described. FIG. 12 is a plan view showing an example of a method for manufacturing the cone-shaped spring 10 of the second embodiment. The cone-shaped spring 10 is formed, for example, by punching a plate-shaped spring steel 400 into a predetermined pattern. This predetermined pattern is a spiral pattern as shown in FIG. In the example of FIG. 12, the width is wide at the outer periphery and decreases toward the center. To form the cone-shaped spring 10, first, spring steel 400 is punched out in a pattern shown at 10a in FIG. 12. Next, the wire is deformed so that the central portion of the punched pattern 10a is pulled upward from the surface of FIG. As a result, the spring material is formed into a conical shape.

次に、錐体状のバネ10の変形例について説明する。図13は、第2の実施形態の錐体状のバネ10の第1の変形例を示す平面図である。第1の変形例の錐体状のバネ10は、上から見た平面の形状が、楕円上の螺旋である。そして、外周部から中央部に向かって、幅が狭くなる。つまり、錐体状のバネ10全体の形状が、楕円錐状になる。 Next, a modification of the cone-shaped spring 10 will be described. FIG. 13 is a plan view showing a first modification of the conical spring 10 of the second embodiment. The conical spring 10 of the first modification has an elliptical spiral shape when viewed from above. The width becomes narrower from the outer periphery toward the center. In other words, the entire shape of the cone-shaped spring 10 becomes an elliptic cone shape.

図14は、第2の実施形態の錐体状のバネ10の第2の変形例を示す平面図である。第2の変形例の錐体状のバネ10は、上から見た平面の形状が、四角に近い螺旋である。そして、外周部から中央部に向かって、幅が狭くなる。第2の変形例では、錐体状のバネ10が、四角錐の形状になる。 FIG. 14 is a plan view showing a second modification of the cone-shaped spring 10 of the second embodiment. The conical spring 10 of the second modified example has a planar shape of a nearly square spiral when viewed from above. The width becomes narrower from the outer periphery toward the center. In the second modification, the pyramid-shaped spring 10 has a square pyramid shape.

以上、本実施形態のピックアップ装置101等について説明した。 The pickup device 101 and the like of this embodiment have been described above.

本実施形態のピックアップ装置101は、ダイシングテープ200の上に貼り付けられているチップ部品300をダイシングテープ200からピックアップする。ピックアップ装置100は、錐体状のバネ10と、バネ移動手段20と、コレット90と、コレット駆動手段91と、を有する。錐体状のバネ10では、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる。そして、バネ移動手段20が、錐体状のバネ10をチップ部品300の主面の法線n方向に移動させる。この際、錐体状のバネ10の中心部によって、ダイシングテープ200の下面が押圧されるように、移動が行われる。そして、ダイシングテープ200の下面を介して、チップ部品300の下面が押圧される。チップ部品300の上面と対向する位置にコレット90が設けられる。コレット90がチップ部品300を吸着する。コレット駆動手段91は、コレット90を少なくとも法線nの方向に移動させる。 The pickup device 101 of this embodiment picks up the chip component 300 stuck on the dicing tape 200 from the dicing tape 200. The pickup device 100 includes a conical spring 10, a spring moving means 20, a collet 90, and a collet driving means 91. In the conical spring 10, the spring constant decreases from the outer periphery toward the center. Then, the spring moving means 20 moves the cone-shaped spring 10 in the normal n direction of the main surface of the chip component 300. At this time, the dicing tape 200 is moved so that the lower surface of the dicing tape 200 is pressed by the center of the conical spring 10. Then, the lower surface of the chip component 300 is pressed through the lower surface of the dicing tape 200. A collet 90 is provided at a position facing the top surface of the chip component 300. The collet 90 attracts the chip component 300. The collet driving means 91 moves the collet 90 at least in the direction of the normal line n.

この構成では、コレット90によって、チップ部品300の上面の位置が制御される。これにより、錐体状のバネ10の圧縮量が自在に制御される。ここで、錐体状のバネ10のバネ定数は、外周部から中心に向かって小さくなっている。このため、チップ部品300の外周部からダイシングテープ200の剥離が始まる。そして、チップ部品300の中心部に向かって剥離が徐々に進行する。その結果、剥離の際に、チップ部品300を折り曲げる曲げモーメントが低減される。 In this configuration, the collet 90 controls the position of the top surface of the chip component 300. Thereby, the amount of compression of the cone-shaped spring 10 can be freely controlled. Here, the spring constant of the cone-shaped spring 10 decreases from the outer periphery toward the center. Therefore, the dicing tape 200 starts to peel off from the outer periphery of the chip component 300. Then, the peeling gradually progresses toward the center of the chip component 300. As a result, the bending moment that bends the chip component 300 during peeling is reduced.

また、本実施形態のピックアップ装置101の制御方法は、ピックアップ装置101を制御する。ダイシングテープ200の上にピックアップ対象のチップ部品300が貼り付けられている。ダイシングテープ200からチップ部品300がピックアップされる。そして、ピックアップ装置100が、錐体状のバネ10と、コレット90と、コレット駆動手段91と、を備える。錐体状のバネ10では、外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる。そして、ダイシングテープ200の下面に近づくように、錐体状のバネ10が、法線nの方向に移動される。この際、錐体状のバネ10の中心部が、ダイシングテープ200の下面を押圧するように、移動が行われる。そして、ダイシングテープ200の下面を介して、チップ部品300の下面が押圧される。チップ部品300の上面と対向する位置にコレット90が設けられる。コレット90がチップ部品300を吸着する。コレット駆動手段91は、コレット90を少なくとも法線nの方向に移動させる。ここで法線nは、チップ部品300の主面の法線である。そして、ピックアップ装置101の制御方法では、コレット駆動手段91が、コレット90をチップ部品300の上面に接触させる。また、錐体状のバネ10を圧縮させる力を、コレット駆動手段91がコレット90に印加する。また、錐体状のバネ10から離れる方向に、コレット駆動手段91がコレット90を移動させる。この移動によって、錐体状のバネ10の復元力がチップ部品300の下面に加わる。 Further, the method for controlling the pickup device 101 of this embodiment controls the pickup device 101. A chip component 300 to be picked up is pasted on the dicing tape 200. Chip components 300 are picked up from dicing tape 200. The pickup device 100 includes a conical spring 10, a collet 90, and a collet driving means 91. In the conical spring 10, the spring constant decreases from the outer periphery toward the center. Then, the conical spring 10 is moved in the direction of the normal n so as to approach the lower surface of the dicing tape 200. At this time, the movement is performed such that the center of the cone-shaped spring 10 presses the lower surface of the dicing tape 200. Then, the lower surface of the chip component 300 is pressed through the lower surface of the dicing tape 200. A collet 90 is provided at a position facing the top surface of the chip component 300. The collet 90 attracts the chip component 300. The collet driving means 91 moves the collet 90 at least in the direction of the normal line n. Here, the normal n is the normal to the main surface of the chip component 300. In the method for controlling the pickup device 101, the collet driving means 91 brings the collet 90 into contact with the upper surface of the chip component 300. Further, the collet driving means 91 applies a force to the collet 90 to compress the cone-shaped spring 10. Further, the collet driving means 91 moves the collet 90 in a direction away from the conical spring 10. Due to this movement, the restoring force of the cone-shaped spring 10 is applied to the lower surface of the chip component 300.

上記の構成では、コレット90によって、チップ部品300の上面の位置が制御される。これにより、錐体状のバネ10の圧縮量が自在に制御される。ここで、錐体状のバネ10のバネ定数は、外周部から中心に向かって小さくなっている。そして、コレット90を上昇させることにより、錐体状のバネ10の圧縮が徐々に解除される。この際、錐体状のバネ10の外周部から復元が始まる。これは、錐体状のバネ10のバネ定数が、外周部から中心部に向かって小さくなっているためである。このため、チップ部品300の外周部からダイシングテープ200の剥離が始まる。そして、コレット90の上昇に従って、錐体状のバネ10の復元が進行する。これに伴い、チップ部品300の中心部に向かって剥離が徐々に進行する。その結果、剥離の際に、チップ部品300を折り曲げる曲げモーメントが低減される。 In the above configuration, the position of the top surface of the chip component 300 is controlled by the collet 90. Thereby, the amount of compression of the cone-shaped spring 10 can be freely controlled. Here, the spring constant of the cone-shaped spring 10 decreases from the outer periphery toward the center. Then, by raising the collet 90, the compression of the cone-shaped spring 10 is gradually released. At this time, the restoration starts from the outer periphery of the cone-shaped spring 10. This is because the spring constant of the conical spring 10 decreases from the outer periphery toward the center. Therefore, the dicing tape 200 starts to peel off from the outer periphery of the chip component 300. Then, as the collet 90 rises, the cone-shaped spring 10 is restored. Along with this, peeling gradually progresses toward the center of the chip component 300. As a result, the bending moment that bends the chip component 300 during peeling is reduced.

上述した第1乃至第2の実施形態の処理を、コンピュータに実行させるプログラムおよび該プログラムを格納した記録媒体も本発明の範囲に含む。記録媒体としては、例えば、磁気ディスク、磁気テープ、光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ、などを用いることができる。 The scope of the present invention also includes a program that causes a computer to execute the processes of the first and second embodiments described above, and a recording medium that stores the program. As the recording medium, for example, a magnetic disk, magnetic tape, optical disk, magneto-optical disk, semiconductor memory, etc. can be used.

以上、上述した実施形態を模範的な例として本発明を説明した。しかしながら、本発明は、上記実施形態には限定されない。即ち、本発明は、本発明のスコープ内において、当業者が理解し得る様々な態様を適用することができる。 The present invention has been described above using the above-described embodiment as an exemplary example. However, the present invention is not limited to the above embodiments. That is, the present invention can apply various aspects that can be understood by those skilled in the art within the scope of the present invention.

10 錐体状のバネ
20 バネ移動手段
30 吸着ブロック
90 コレット
91 コレット駆動手段
100、101 ピックアップ装置
200 ダイシングテープ
300 チップ部品
400 バネ鋼
10 Cone-shaped spring 20 Spring moving means 30 Adsorption block 90 Collet 91 Collet driving means 100, 101 Pick-up device 200 Dicing tape 300 Chip parts 400 Spring steel

Claims (10)

ダイシングテープの上に貼り付けられているチップ部品を前記ダイシングテープからピックアップするためのピックアップ装置であって、
外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる錐体状のバネと、
前記ダイシングテープの下面を介して前記チップ部品を前記錐体状のバネの中心部により押圧するように、前記錐体状のバネを前記チップ部品の主面の法線の方向に移動させるバネ移動手段と、
を有することを特徴とするピックアップ装置。
A pickup device for picking up chip components stuck on a dicing tape from the dicing tape, the pickup device comprising:
A cone-shaped spring whose spring constant decreases from the outer periphery to the center,
Spring movement for moving the cone-shaped spring in the direction of the normal to the main surface of the chip component so that the chip component is pressed by the center of the cone-shaped spring through the lower surface of the dicing tape. means and
A pickup device comprising:
前記錐体状のバネを構成するバネ線の断面の外径は、
前記外周部から前記中心部に向かって小さくなる
ことを特徴とする請求項1に記載のピックアップ装置。
The outer diameter of the cross section of the spring wire constituting the cone-shaped spring is:
The pickup device according to claim 1, wherein the pickup device becomes smaller from the outer peripheral portion toward the center portion.
前記バネ線の断面形状が、
円状である、
ことを特徴とする請求項2に記載のピックアップ装置。
The cross-sectional shape of the spring wire is
circular,
The pickup device according to claim 2, characterized in that:
前記バネ線の断面形状が、
矩形状である、
ことを特徴とする請求項2に記載のピックアップ装置。
The cross-sectional shape of the spring wire is
It is rectangular,
The pickup device according to claim 2, characterized in that:
前記錐体状のバネの全体の形状が、
円錐状または楕円錐状または多角錐状である、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のピックアップ装置。
The overall shape of the conical spring is
Conical, elliptical or polygonal pyramidal;
The pickup device according to any one of claims 1 to 4.
前記チップ部品の上面と対向する位置に設けられ、前記チップ部品を吸着するコレットと、
前記コレットを少なくとも前記法線の方向に移動させるコレット駆動手段と、
を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のピックアップ装置。
a collet that is provided at a position facing the top surface of the chip component and that sucks the chip component;
collet driving means for moving the collet at least in the direction of the normal;
The pickup device according to any one of claims 1 to 4, characterized in that it has:
前記チップ部品の上面と対向する位置に設けられ、前記チップ部品を吸着するコレットと、
前記コレットを少なくとも前記法線の方向に移動させるコレット駆動手段と、
を有することを特徴とする請求項5に記載のピックアップ装置。
a collet that is provided at a position facing the top surface of the chip component and that sucks the chip component;
collet driving means for moving the collet at least in the direction of the normal;
The pickup device according to claim 5, characterized in that it has:
ダイシングテープの上に貼り付けられているチップ部品を前記ダイシングテープからピックアップするためのピックアップ装置の制御方法であって、
前記ピックアップ装置は、
外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる錐体状のバネ、
を備え、
前記ピックアップ装置が、
前記ダイシングテープの下面を介して前記チップ部品を前記錐体状のバネの中心部により押圧するように、前記錐体状のバネを前記チップ部品の主面の法線の方向に移動させる、
ことを特徴とするピックアップ装置の制御方法。
A method for controlling a pickup device for picking up chip components stuck on a dicing tape from the dicing tape, the method comprising:
The pickup device includes:
A cone-shaped spring whose spring constant decreases from the outer periphery to the center.
Equipped with
The pickup device is
moving the cone-shaped spring in a direction normal to the main surface of the chip component so that the chip component is pressed by the center of the cone-shaped spring through the lower surface of the dicing tape;
A method for controlling a pickup device, characterized in that:
前記ピックアップ装置は、
前記チップ部品の上面と対向する位置に設けられ、前記チップ部品を吸着するコレットと、
前記コレットを少なくとも前記法線の方向に移動させるコレット駆動手段と、
を備え、
前記ピックアップ装置が、
前記コレットを前記チップ部品の上面に接触させ、
前記コレットに前記錐体状のバネを圧縮させる力を印加し、
前記錐体状のバネの復元力が前記チップ部品の下面に加わるように、前記コレットを前記錐体状のバネから離れる方向に移動させる、
ことを特徴とする請求項8に記載のピックアップ装置の制御方法。
The pickup device includes:
a collet that is provided at a position facing the top surface of the chip component and that sucks the chip component;
collet driving means for moving the collet at least in the direction of the normal;
Equipped with
The pickup device is
bringing the collet into contact with the top surface of the chip component;
applying a force to the collet to compress the conical spring;
moving the collet in a direction away from the cone-shaped spring so that the restoring force of the cone-shaped spring is applied to the lower surface of the chip component;
9. The method of controlling a pickup device according to claim 8.
ダイシングテープの上に貼り付けられているチップ部品を前記ダイシングテープからピックアップするためのピックアップ装置の制御プログラムであって、
前記ピックアップ装置は、
外周部から中心部に向かってバネ定数が小さくなる錐体状のバネ、
を備え、
前記ピックアップ装置の制御プログラムは、
前記ダイシングテープの下面を介して前記チップ部品を前記錐体状のバネの中心部により押圧するように、前記錐体状のバネを前記チップ部品の主面の法線の方向に移動させる処理を、
前記ピックアップ装置に実行させることを特徴とするピックアップ装置の制御プログラム。
A control program for a pickup device for picking up chip components stuck on a dicing tape from the dicing tape, the program comprising:
The pickup device includes:
A cone-shaped spring whose spring constant decreases from the outer periphery to the center.
Equipped with
The control program for the pickup device includes:
A process of moving the cone-shaped spring in a direction normal to the main surface of the chip component so that the chip component is pressed by the center of the cone-shaped spring through the lower surface of the dicing tape. ,
A control program for a pickup device, which is executed by the pickup device.
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