JP2024017625A - Part sorting device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a part sorting device that improves the accuracy of part sorting.
SOLUTION: A part sorting device 1 is a part sorting device that inspects a part while conveying the part, and sorts a good part. The part sorting device 1 comprises: a turntable 30 that rotates and conveys the part; a plurality of imaging devices 40 that image a plurality of respective outer surfaces of the part on the turntable 30; an inspection sorting controller 70 that performs appearance inspection of the part based on an imaging result from the plurality of imaging devices 40 and sorts the good part based on a result of the appearance inspection; an ejection mechanism 50 that ejects the good part sorted by the inspection sorting controller 70 from the turntable 30; and a cover arranged on the turntable 30 and covering the part rotated and conveyed on the turntable 30.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2024,JPO&INPIT

Description

本発明は、部品選別装置に関する。 The present invention relates to a parts sorting device.

積層セラミックコンデンサ等の表面実装型の電子部品(チップ部品ともいう。)の良品および不良品を選別する装置がある。特許文献1には、このような部品選別装置として外観検査装置が開示されている。特許文献1に開示の外観検査装置は、電子部品を搬送するリニアフィーダと、リニアフィーダによって搬送された電子部品を回転搬送するターンテーブルと、ターンテーブル上の電子部品の6面を撮像する複数の撮像デバイスとを備え、電子部品を搬送しながら電子部品の6面の外観検査を行う。これにより、良品および不良品を選別して排出することができる。 2. Description of the Related Art There is a device that separates good and defective surface-mounted electronic components (also referred to as chip components) such as multilayer ceramic capacitors. Patent Document 1 discloses an appearance inspection device as such a parts sorting device. The appearance inspection device disclosed in Patent Document 1 includes a linear feeder that conveys electronic components, a turntable that rotationally conveys the electronic components conveyed by the linear feeder, and a plurality of devices that image six sides of the electronic components on the turntable. It is equipped with an imaging device and conducts visual inspections on six sides of electronic components while transporting them. Thereby, good products and defective products can be sorted and discharged.

特許文献1に開示の外観検査装置は、リニアフィーダにおいて、振動により電子部品を搬送することによって、電子部品を帯電させ、ターンテーブルにおいて、静電気により電子部品を静電吸着して回転搬送する。ターンテーブルの搬送速度は、リニアフィーダの搬送速度よりも速い。これにより、ターンテーブルにおいて電子部品の間隔を空けることができ、電子部品の搬送方向の端面の外観検査が可能となる。 The appearance inspection apparatus disclosed in Patent Document 1 charges the electronic components by transporting the electronic components using vibration in a linear feeder, and electrostatically attracts the electronic components using static electricity and rotatably transports the electronic components in the turntable. The conveyance speed of the turntable is faster than the conveyance speed of the linear feeder. Thereby, it is possible to leave a space between the electronic components on the turntable, and it is possible to visually inspect the end face of the electronic component in the transport direction.

特開2017-44579号公報Japanese Patent Application Publication No. 2017-44579

このような部品選別装置では、製造ロットごとに異なる種類の電子部品の検査および選別を行うことがある。例えば、表面実装型の電子部品には、同一サイズであっても特性が異なる部品がある。より具体的には、積層セラミックコンデンサには、同一サイズであっても容量が異なる部品がある。 Such a component sorting device may inspect and sort different types of electronic components for each manufacturing lot. For example, some surface-mounted electronic components have different characteristics even if they are the same size. More specifically, multilayer ceramic capacitors include components that are the same size but have different capacities.

また、このような部品検査装置では、ターンテーブル上の電子部品を撮像デバイスで撮像するため、一般にターンテーブル上は開放状態であり、ターンテーブル上に種類が異なる電子部品が混入してしまう可能性がある。このように同サイズ/異特性の電子部品が混入してしまうと、例え外観検査の精度が高くとも、選別の精度が低下してしまう。 In addition, in such component inspection equipment, since the electronic components on the turntable are imaged by an imaging device, the turntable is generally in an open state, and there is a possibility that different types of electronic components may get mixed in on the turntable. There is. If electronic components of the same size/different characteristics are mixed in this way, even if the accuracy of appearance inspection is high, the accuracy of sorting will be reduced.

本発明は、部品選別の精度を向上する部品選別装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide a parts sorting device that improves the accuracy of parts sorting.

(1) 本発明に係る部品選別装置は、部品を搬送しながら検査し、良品を選別する部品選別装置であって、前記部品を回転搬送するターンテーブルと、前記ターンテーブル上の前記部品における複数の外面をそれぞれ撮像する複数の撮像デバイスと、前記複数の撮像デバイスからの撮像結果に基づいて前記部品の外観検査を行い、前記外観検査の結果に基づいて前記良品を選別する検査選別コントローラと、前記検査選別コントローラによって選別された前記良品を、前記ターンテーブルから排出する排出機構と、前記ターンテーブル上に配置され、前記ターンテーブル上において回転搬送される前記部品を覆うカバーと、を備える。 (1) The parts sorting device according to the present invention is a parts sorting device that inspects parts while conveying them and selects non-defective products, and includes a turntable that rotationally conveys the parts, and a plurality of parts on the turntable. a plurality of imaging devices that respectively image the outer surface of the component; an inspection and sorting controller that performs an appearance inspection of the component based on the imaging results from the plurality of imaging devices and selects the non-defective products based on the result of the appearance inspection; The present invention includes a discharge mechanism for discharging the non-defective products selected by the inspection and sorting controller from the turntable, and a cover that is placed on the turntable and covers the parts that are rotated and conveyed on the turntable.

(2) (1)に記載の部品選別装置において、前記カバーは光透過性を有していてもよい。 (2) In the parts sorting device according to (1), the cover may have optical transparency.

(3) (1)または(2)に記載の部品選別装置において、前記カバーと前記ターンテーブルとは離間していてもよく、前記カバーと前記ターンテーブルとの離間距離は、前記部品の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さくてもよい。 (3) In the parts sorting device according to (1) or (2), the cover and the turntable may be spaced apart, and the distance between the cover and the turntable is determined by the length of the parts. , width, and thickness.

(4) (1)から(3)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記部品の回転搬送経路を覆うように配置されていてもよく、前記複数の撮像デバイスの各々は、前記カバーを介して前記部品を撮像してもよい。 (4) In the parts sorting device according to any one of (1) to (3), the cover may be arranged to cover a rotational conveyance path of the parts on the turntable, and Each of the plurality of imaging devices may image the component through the cover.

(5) (4)に記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿った円弧形状を有していてもよい。 (5) In the parts sorting device according to (4), the cover may have an arc shape along the rotational conveyance path on the turntable.

(6) (4)または(5)に記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面を有していてもよい。 (6) In the parts sorting device according to (4) or (5), the cover may have a surface perpendicular to the line of sight of each of the plurality of imaging devices.

(7) (6)に記載の部品選別装置において、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に交差する前記カバーの断面形状は、円弧形状であってもよい。 (7) In the parts sorting device according to (6), the cross-sectional shape of the cover intersecting the rotational conveyance path on the turntable may be an arc shape.

(8) (6)に記載の部品選別装置において、前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿う方向に傾斜する面を有していてもよい。 (8) In the parts sorting device according to (6), the cover may have a surface inclined in a direction along the rotational conveyance path on the turntable.

(9) (6)から(8)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーにおける前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面は、前記カバーにおける他の面よりも薄くてもよい。 (9) In the parts sorting device according to any one of (6) to (8), a surface of the cover perpendicular to the line of sight of each of the plurality of imaging devices is larger than other surfaces of the cover. It may also be thin.

(10) (1)から(9)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーは、偏光性を有していてもよい。 (10) In the parts sorting device according to any one of (1) to (9), the cover may have polarizing properties.

(11) (1)から(9)のいずれか1つに記載の部品選別装置において、前記カバーは、有色であってもよい。 (11) In the parts sorting device according to any one of (1) to (9), the cover may be colored.

本発明によれば、部品選別装置における部品選別の精度を向上することができる。 According to the present invention, the accuracy of parts sorting in a parts sorting device can be improved.

本実施形態に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図である。FIG. 1 is a schematic plan view of an example of the parts sorting device according to the present embodiment, viewed from above. 図1に示す部品選別装置におけるII部分を拡大した概略平面図である。FIG. 2 is an enlarged schematic plan view of part II in the parts sorting device shown in FIG. 1. FIG. 図1に示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図である。FIG. 2 is a schematic side view of the parts sorting device shown in FIG. 1 viewed from the side, and is an enlarged schematic side view of portion II. 図1に示す部品選別装置のIV-IV線断面図である。2 is a sectional view taken along the line IV-IV of the parts sorting device shown in FIG. 1. FIG. 変形例に係る部品選別装置の断面図であって、図1に示す部品選別装置のIV-IV線相当の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of a parts sorting device according to a modified example, and is a cross-sectional view taken along line IV-IV of the parts sorting device shown in FIG. 1; 変形例に係る部品選別装置の断面図であって、図1に示す部品選別装置のIV-IV線相当の断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view of a parts sorting device according to a modified example, and is a cross-sectional view taken along line IV-IV of the parts sorting device shown in FIG. 1; 図1に示す部品選別装置のV-V線断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along the line V-V of the parts sorting device shown in FIG. 1. FIG. 図1に示す部品選別装置のVI-VI線断面図である。2 is a sectional view taken along line VI-VI of the parts sorting device shown in FIG. 1. FIG. 本実施形態の変形例に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図である。It is a schematic plan view seen from above of an example of a parts sorting device concerning a modification of this embodiment. 部品の外観の概略斜視図である。FIG. 3 is a schematic perspective view of the external appearance of the component.

以下、添付の図面を参照して本発明の実施形態の一例について説明する。なお、各図面において同一または相当の部分に対しては同一の符号を附すこととする。 Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In addition, the same reference numerals are given to the same or corresponding parts in each drawing.

図1は、本実施形態に係る部品選別装置の一例を上方からみた概略平面図であり、図2は、図1に示す部品選別装置におけるII部分を拡大した概略平面図であり、図3は、図1に示す部品選別装置を側方からみた概略側面図であって、II部分を拡大した概略側面図である。なお、図1~図3には、XY直交座標系が示されている。 FIG. 1 is a schematic plan view of an example of the parts sorting device according to the present embodiment viewed from above, FIG. 2 is an enlarged schematic plan view of part II of the parts sorting device shown in FIG. 1, and FIG. , is a schematic side view of the parts sorting device shown in FIG. 1 seen from the side, and is a schematic side view with portion II enlarged. Note that an XY orthogonal coordinate system is shown in FIGS. 1 to 3.

図1~図3に示す部品選別装置1は、複数の電子部品3を順次に搬送しながら検査し、良品を選別する装置である。部品選別装置1は、ボールフィーダ10と、リニアフィーダ20と、ターンテーブル30と、カバー36と、複数の撮像デバイス40と、排出機構50と、検査選別コントローラ70とを備える。 A component sorting device 1 shown in FIGS. 1 to 3 is a device that inspects a plurality of electronic components 3 while sequentially conveying them and selects non-defective products. The parts sorting device 1 includes a ball feeder 10, a linear feeder 20, a turntable 30, a cover 36, a plurality of imaging devices 40, a discharge mechanism 50, and an inspection sorting controller 70.

電子部品3は、積層セラミックコンデンサ等の表面実装型の電子部品(チップ部品ともいう。)である。電子部品3は、例えば図8に示すように、セラミック材料からなる複数の誘電体層と1または複数の導体層とが積層された積層体3aと、積層体3aの2つの端面の各々に配置された2つの外部電極3bとを備える。積層体3a、すなわち電子部品3は、直方体形状であり、積層方向に相対する2つの主面TS1およびTS2と、積層方向に交差する幅方向に相対する2つの側面WS1およびWS2と、積層方向および幅方向に交差する長さ方向に相対する2つの端面LS1およびLS2とを有する。 The electronic component 3 is a surface-mounted electronic component (also referred to as a chip component) such as a multilayer ceramic capacitor. For example, as shown in FIG. 8, the electronic component 3 is arranged on a laminate 3a in which a plurality of dielectric layers made of a ceramic material and one or more conductor layers are laminated, and on each of two end faces of the laminate 3a. and two external electrodes 3b. The laminate 3a, that is, the electronic component 3, has a rectangular parallelepiped shape, and has two main surfaces TS1 and TS2 facing each other in the stacking direction, two side surfaces WS1 and WS2 facing each other in the width direction crossing the stacking direction, and two main surfaces TS1 and TS2 facing each other in the stacking direction. It has two end faces LS1 and LS2 that are opposite to each other in the length direction and intersect with the width direction.

電子部品3の寸法は特に限定されないが、例えば、長さ方向の寸法が3.2mm以上0.1mm以下であり、幅方向の寸法が1.6mm以上0.05mm以下であり、積層方向の寸法が1.6mm以上0.05mm以下であってもよい。なお、これらの寸法は、交差により変動し得る。 The dimensions of the electronic component 3 are not particularly limited, but for example, the length direction dimension is 3.2 mm or more and 0.1 mm or less, the width direction dimension is 1.6 mm or more and 0.05 mm or less, and the lamination direction dimension is may be 1.6 mm or more and 0.05 mm or less. Note that these dimensions may vary due to intersections.

電子部品3は、上述した誘電体セラミックを用いた積層セラミックコンデンサに限定されず、圧電体セラミックを用いた圧電部品、半導体セラミックを用いたサーミスタ、磁性体セラミックを用いたインダクタ等の種々の電子部品であってもよい。 The electronic component 3 is not limited to the above-mentioned multilayer ceramic capacitor using dielectric ceramic, but may include various electronic components such as piezoelectric components using piezoelectric ceramic, thermistor using semiconductor ceramic, and inductor using magnetic ceramic. It may be.

図1~図3に示すように、ボールフィーダ10は、例えばホッパーによって供給された複数の電子部品3を整列させて搬送する。ホッパーは、ボールフィーダ10内の電子部品3の数の不足を検知して、ボールフィーダ10に電子部品3を自動的に補充し、ボールフィーダ10内の電子部品3の数を一定量に保つ装置である。 As shown in FIGS. 1 to 3, the ball feeder 10 aligns and conveys a plurality of electronic components 3 supplied by a hopper, for example. The hopper is a device that detects a shortage in the number of electronic components 3 in the ball feeder 10, automatically replenishes the electronic components 3 to the ball feeder 10, and maintains the number of electronic components 3 in the ball feeder 10 at a constant level. It is.

ボールフィーダ10には、ボールフィーダ10に振動を供給する振動機構12が設けられている。振動機構12としては、例えば電圧に応じた周波数の振動を発生する圧電素子が挙げられる。ボールフィーダ10の外形形状は円形状である。ボールフィーダ10は、振動により、円形状の中央部から外側へ向けて、電子部品3を円運動させながら、スパイラル状に整列させて搬送する。 The ball feeder 10 is provided with a vibration mechanism 12 that supplies vibration to the ball feeder 10. As the vibration mechanism 12, for example, a piezoelectric element that generates vibration at a frequency depending on a voltage can be used. The outer shape of the ball feeder 10 is circular. The ball feeder 10 moves the electronic components 3 in a circular motion outward from the center of the circular shape by vibration, and conveys the electronic components 3 in a spirally aligned manner.

リニアフィーダ20は、ボールフィーダ10によって整列搬送された複数の電子部品3を順次に直線的に搬送する。リニアフィーダ20には、リニアフィーダ20に振動を供給する振動機構22が設けられている。振動機構22としては、例えば電圧に応じた周波数の振動を発生する圧電素子が挙げられる。リニアフィーダ20は水平面に対して傾斜していると好ましい。リニアフィーダ20は、振動により、電子部品3を搬送する。 The linear feeder 20 sequentially linearly transports the plurality of electronic components 3 that have been aligned and transported by the ball feeder 10 . The linear feeder 20 is provided with a vibration mechanism 22 that supplies vibration to the linear feeder 20. As the vibration mechanism 22, for example, a piezoelectric element that generates vibration at a frequency depending on a voltage can be used. Preferably, the linear feeder 20 is inclined with respect to the horizontal plane. The linear feeder 20 transports the electronic components 3 by vibration.

リニアフィーダ20は、SUS等の材料からなると好ましい。これにより、リニアフィーダ20において、振動によって電子部品3を搬送する際に、電子部品3を帯電させることができる。 The linear feeder 20 is preferably made of a material such as SUS. Thereby, in the linear feeder 20, when the electronic component 3 is conveyed by vibration, the electronic component 3 can be charged.

ターンテーブル30は、リニアフィーダ20によって搬送された複数の電子部品3を順次に回転搬送する。図1および図2に示すように、ターンテーブル30は、上流側にガイド機構32を有し、ガイド機構32によって、リニアフィーダ20からの電子部品3を、回転搬送経路(回転搬送軌跡)31に導く。ターンテーブル30は、回転搬送経路31に沿って電子部品3を搬送する。 The turntable 30 sequentially rotates and transports the plurality of electronic components 3 transported by the linear feeder 20. As shown in FIGS. 1 and 2, the turntable 30 has a guide mechanism 32 on the upstream side, and the guide mechanism 32 guides the electronic components 3 from the linear feeder 20 to a rotary conveyance path (rotary conveyance locus) 31. lead. The turntable 30 transports the electronic component 3 along a rotational transport path 31.

図3に示すように、ターンテーブル30の下側には、静電吸着機構34が設けられていると好ましい。これにより、リニアフィーダ20において帯電した電子部品3を静電吸着して搬送することができる。 As shown in FIG. 3, it is preferable that an electrostatic adsorption mechanism 34 is provided below the turntable 30. Thereby, the electrically charged electronic components 3 can be electrostatically attracted and transported in the linear feeder 20 .

ターンテーブル30の搬送速度は、リニアフィーダ20の搬送速度よりも速い。これにより、図2および図3に示すように、電子部品3の間隔を空けることができ、電子部品3の端面側の外観検査が可能となる。 The conveyance speed of the turntable 30 is faster than the conveyance speed of the linear feeder 20. Thereby, as shown in FIGS. 2 and 3, the electronic components 3 can be spaced apart, and the appearance of the end surface side of the electronic components 3 can be inspected.

ターンテーブル30は、ガラスまたは樹脂等の材料からなり、透明性を有する。これにより、電子部品3の裏面側の外観検査が可能となる。 The turntable 30 is made of a material such as glass or resin, and has transparency. This makes it possible to inspect the appearance of the back side of the electronic component 3.

図1に示すように、ターンテーブル30上には、電子部品3を覆うためのカバー36が配置されている。カバー36の詳細は後述する。 As shown in FIG. 1, a cover 36 for covering the electronic component 3 is arranged on the turntable 30. Details of the cover 36 will be described later.

図1に示すように、撮像デバイス40は、例えばカメラまたはイメージセンサである。なお、図示しないがカメラ近傍に光源を備えている。ターンテーブル30の回転搬送経路31に沿って、6個の撮像デバイス40が設けられている。6個の撮像デバイス40は、ターンテーブル30上の電子部品3の6個の外面、すなわち2つの主面TS1およびTS2、2つの側面WS1およびWS2、および2つの端面LS1およびLS2、をそれぞれ撮像する。撮像デバイス40の各々には、電子部品3の撮像面を照らす、リング照明またはドーム照明等の照明デバイスが設けられてもよい。 As shown in FIG. 1, the imaging device 40 is, for example, a camera or an image sensor. Although not shown, a light source is provided near the camera. Six imaging devices 40 are provided along the rotational conveyance path 31 of the turntable 30. The six imaging devices 40 image six outer surfaces of the electronic component 3 on the turntable 30, namely, two main surfaces TS1 and TS2, two side surfaces WS1 and WS2, and two end surfaces LS1 and LS2, respectively. . Each of the imaging devices 40 may be provided with a lighting device such as a ring lighting or a dome lighting that illuminates the imaging surface of the electronic component 3.

図1に示すように、排出機構50は、後述する検査選別コントローラ70によって外観検査の結果に基づいて選別された良品を、ターンテーブル30から排出してケース等に収容する。排出機構50による良品の排出方法は、特に限定されないが、エアー吹付、エアー吸引、物理的接触押出、等が挙げられる。例えば、排出機構50は、良品が搬送されてきた場合、検査選別コントローラ70からの指令に従って、ターンテーブル30上の良品にエアーを吹き付けることにより、良品をターンテーブル30から排出してケース等に収容する。 As shown in FIG. 1, the ejection mechanism 50 ejects non-defective products that have been selected by an inspection and selection controller 70 (described later) based on the results of the visual inspection from the turntable 30 and stores them in a case or the like. The method for discharging non-defective products by the discharging mechanism 50 is not particularly limited, and examples include air blowing, air suction, physical contact extrusion, and the like. For example, when a non-defective product is transported, the discharge mechanism 50 discharges the non-defective product from the turntable 30 and stores it in a case or the like by blowing air onto the non-defective product on the turntable 30 in accordance with a command from the inspection and sorting controller 70. do.

検査選別コントローラ70は、部品選別装置1全体を制御する。具体的には、検査選別コントローラ70は、撮像デバイス40からの撮像結果に基づいて、ターンテーブル30上の電子部品3の外観検査を行い、外観検査の結果に基づいて良品および不良品を選別する。 The inspection and sorting controller 70 controls the entire parts sorting device 1 . Specifically, the inspection and sorting controller 70 performs a visual inspection of the electronic components 3 on the turntable 30 based on the imaging results from the imaging device 40, and sorts non-defective products and defective products based on the results of the visual inspection. .

また、検査選別コントローラ70は、排出機構50による良品の排出を制御する。例えば、検査選別コントローラ70は、ターンテーブル30の搬送速度(或いは、回転速度、および、回転搬送経路長さまたは半径)、ターンテーブル30における撮像デバイス40の位置等の情報から、良品を排出機構50から排出するタイミングを算出して、排出機構50に指令する。 The inspection and sorting controller 70 also controls the discharge of non-defective products by the discharge mechanism 50. For example, the inspection and sorting controller 70 selects non-defective products from the discharge mechanism 50 based on information such as the conveyance speed (or rotational speed and rotational conveyance path length or radius) of the turntable 30 and the position of the imaging device 40 on the turntable 30. The timing for ejecting is calculated and the ejecting mechanism 50 is commanded.

検査選別コントローラ70は、例えば、PLC(Programmable Logic Controller)、DSP(Digital Signal Processor)、FPGA(Field-Programmable Gate Array)等の演算プロセッサで構成される。検査選別コントローラ70の各種機能は、例えば記憶部に格納された所定のソフトウェア(プログラム)を実行することで実現される。検査選別コントローラ70の各種機能は、ハードウェアとソフトウェアとの協働で実現されてもよいし、ハードウェア(電子回路)のみで実現されてもよい。 The inspection and selection controller 70 is composed of, for example, an arithmetic processor such as a PLC (Programmable Logic Controller), a DSP (Digital Signal Processor), or an FPGA (Field-Programmable Gate Array). Various functions of the inspection sorting controller 70 are realized, for example, by executing predetermined software (programs) stored in a storage unit. Various functions of the inspection sorting controller 70 may be realized by cooperation between hardware and software, or may be realized only by hardware (electronic circuit).

検査選別コントローラ70における記憶部は、例えばEEPROM等の書き換え可能なメモリである。記憶部は、選別コントローラの各種機能を実行するための所定のソフトウェア(プログラム)を格納する。また、記憶部は、例えば外部から入力された各種設定値を格納する。各種設定値は、リニアフィーダ20の搬送速度、ターンテーブル30の搬送速度(或いは、回転速度、および、回転搬送経路長さまたは半径)、撮像デバイス40の位置、および排出機構50の位置に関する情報、および良品/不良品の判定基準、等を含む。 The storage unit in the inspection selection controller 70 is a rewritable memory such as an EEPROM. The storage unit stores predetermined software (programs) for executing various functions of the sorting controller. Further, the storage unit stores various setting values inputted from the outside, for example. Various setting values include information regarding the conveyance speed of the linear feeder 20, the conveyance speed (or rotational speed, and rotational conveyance path length or radius) of the turntable 30, the position of the imaging device 40, and the position of the ejection mechanism 50; and criteria for determining good/defective products.

以下では、カバー36について詳細に説明する。図1に示すように、カバー36は、ターンテーブル30上に配置されており、ターンテーブル30上において回転搬送される電子部品3を覆う。より具体的には、カバー36は、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31を覆うように配置されている。カバー36は、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に沿った円弧形状を有する。 The cover 36 will be explained in detail below. As shown in FIG. 1, the cover 36 is placed on the turntable 30 and covers the electronic component 3 that is being rotated and conveyed on the turntable 30. More specifically, the cover 36 is arranged to cover the rotational conveyance path 31 of the electronic component 3 on the turntable 30. The cover 36 has an arcuate shape along the rotary conveyance path 31 on the turntable 30.

図4Aは、図1に示す部品選別装置のIV-IV線断面図であり、図5は、図1に示す部品選別装置のV-V線断面図である。図4Aおよび図5に示すように、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に交差するカバー36の断面形状は、円弧形状である。これにより、図4Aに示すように、カバー36は、例えば電子部品3の主面を撮像する撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を有することができる。また、図5に示すように、カバー36は、例えば電子部品3の側面を撮像する撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を有することができる。このように、カバー36の面が撮像デバイス40の視線に対して垂直であると、カバー36による屈折を低減でき、電子部品3の主面および側面を正確に撮像することができる。なお、円弧形状に限られず、撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を持つ形状を含むものとする。また、カバーの一部をレンズ状にして拡大機能を持たせてもよい。 4A is a sectional view taken along line IV-IV of the parts sorting apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 5 is a sectional view taken along line V-V of the parts sorting apparatus shown in FIG. As shown in FIGS. 4A and 5, the cross-sectional shape of the cover 36 intersecting the rotary conveyance path 31 on the turntable 30 is arcuate. Thereby, as shown in FIG. 4A, the cover 36 can have a surface perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 that images the main surface of the electronic component 3, for example. Further, as shown in FIG. 5, the cover 36 can have a surface perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 that images the side surface of the electronic component 3, for example. In this way, when the surface of the cover 36 is perpendicular to the line of sight of the imaging device 40, refraction due to the cover 36 can be reduced, and the main surface and side surfaces of the electronic component 3 can be accurately imaged. Note that the shape is not limited to a circular arc shape, and includes a shape having a surface perpendicular to the line of sight of the imaging device 40. Further, a part of the cover may be formed into a lens shape to have a magnification function.

図4Aおよび図5において、カバー36における撮像デバイス40の視線に対して垂直な面は、カバー36における他の面よりも薄くてもよい。これによれば、カバー36による屈折をより低減でき、電子部品3の主面および側面をより正確に撮像することができる。 4A and FIG. 5, a surface of the cover 36 perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 may be thinner than other surfaces of the cover 36. According to this, refraction caused by the cover 36 can be further reduced, and the main surface and side surfaces of the electronic component 3 can be imaged more accurately.

図6は、図1に示す部品選別装置のVI-VI線断面図である。図6に示すように、カバー36は、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に沿う方向に傾斜する面を有する。これにより、カバー36は、例えば電子部品3の端面を撮像する撮像デバイス40の視線に対して垂直な面を有することができる。このように、カバー36の面が撮像デバイス40の視線に対して垂直であると、カバー36による屈折を低減でき、電子部品3の端面を正確に撮像することができる。 FIG. 6 is a sectional view taken along the line VI-VI of the parts sorting device shown in FIG. As shown in FIG. 6, the cover 36 has a surface that slopes in a direction along the rotary conveyance path 31 on the turntable 30. As shown in FIG. Thereby, the cover 36 can have a surface perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 that images the end surface of the electronic component 3, for example. In this way, when the surface of the cover 36 is perpendicular to the line of sight of the imaging device 40, refraction due to the cover 36 can be reduced, and the end surface of the electronic component 3 can be accurately imaged.

図6において、カバー36における撮像デバイス40の視線に対して垂直な面は、カバー36における他の面よりも薄くてもよい。これによれば、カバー36による屈折をより低減でき、電子部品3の端面をより正確に撮像することができる。 In FIG. 6 , a surface of the cover 36 that is perpendicular to the line of sight of the imaging device 40 may be thinner than other surfaces of the cover 36 . According to this, refraction caused by the cover 36 can be further reduced, and the end face of the electronic component 3 can be imaged more accurately.

また、図4Aおよび図5に示すように、カバー36とターンテーブル30とは離間している。例えば、図1および図4Aに示すように、カバー36は、固定部材(図示省略)に固定された支持柱等を含むカバー支持部材47であって、等間隔に並んだ複数のカバー支持部材47によって、吊るされて支持されていてもよい。或いは、図4Bに示すように、カバー36は、撮像デバイス40の各々に固定された支持柱等を含む複数のカバー支持部材47によって、吊るされて支持されていてもよい。或いは、図4Cに示すように、カバー36は、カバー36とターンテーブル30との間に設けられた車輪等を含むカバー支持部材47であって、等間隔に並んだ複数のカバー支持部材47によって、支持されていてもよい。これにより、ターンテーブル30は、カバー36と干渉することなく、回転することができる。カバー36とターンテーブル30との離間距離は、電子部品3の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さい。これにより、カバー36内に、すなわちターンテーブル30上の回転搬送経路31に、種類が異なる電子部品が混入することを防止することができる。また、カバー36の外に、すなわちターンテーブル30上の回転搬送経路31の外に、搬送中の電子部品3が外れることを防止することができる。 Further, as shown in FIGS. 4A and 5, the cover 36 and the turntable 30 are spaced apart. For example, as shown in FIGS. 1 and 4A, the cover 36 is a cover support member 47 that includes support columns etc. fixed to a fixed member (not shown), and includes a plurality of cover support members 47 arranged at equal intervals. It may be suspended and supported by. Alternatively, as shown in FIG. 4B, the cover 36 may be suspended and supported by a plurality of cover support members 47 including support columns fixed to each of the imaging devices 40. Alternatively, as shown in FIG. 4C, the cover 36 is a cover support member 47 including wheels etc. provided between the cover 36 and the turntable 30, and is supported by a plurality of cover support members 47 arranged at equal intervals. , may be supported. Thereby, the turntable 30 can rotate without interfering with the cover 36. The distance between the cover 36 and the turntable 30 is smaller than the smallest dimension of the length, width, and thickness of the electronic component 3. Thereby, it is possible to prevent different types of electronic components from getting mixed into the cover 36, that is, the rotary conveyance path 31 on the turntable 30. Furthermore, it is possible to prevent the electronic component 3 being transported from falling out of the cover 36, that is, outside the rotary transport path 31 on the turntable 30.

カバー36は、ガラスまたは樹脂等の材料からなり、光透過性(例えば、透明性)を有する。これにより、撮像デバイス40は、カバー36を介して電子部品3を撮像することができる。 The cover 36 is made of a material such as glass or resin, and has light transmittance (for example, transparency). Thereby, the imaging device 40 can image the electronic component 3 through the cover 36.

なお、カバー36は、有色(例えば、長波長変調(赤色)または短波長変調(青色)させる色等)であってもよい。これにより、光を変調させ、透明光では検出できない部品の表面状態を検出することができる。或いは、カバー36は、偏光性を有していてもよい。これにより、透明光では検出できない部品の表面状態を検出することができる。なお、光の変調はカバーに限られず、光源の光を変調させてもいい。 Note that the cover 36 may be colored (for example, a color that modulates long wavelengths (red) or short wavelengths (blue)). Thereby, it is possible to modulate the light and detect the surface condition of the component that cannot be detected with transparent light. Alternatively, the cover 36 may have polarizing properties. Thereby, it is possible to detect the surface condition of the component that cannot be detected with transparent light. Note that the light modulation is not limited to the cover, and the light from the light source may also be modulated.

以上説明したように、本実施形態の部品選別装置1によれば、電子部品3を回転搬送する透明なターンテーブル30と、ターンテーブル30上の電子部品3の6つの外面をそれぞれ撮像する6つの撮像デバイス40と、撮像デバイス40からの撮像結果に基づいて電子部品3の外観検査を行い、外観検査の結果に基づいて良品を選別する検査選別コントローラ70と、検査選別コントローラ70によって選別された良品を、ターンテーブル30から排出する排出機構50とを備える。これにより、複数の電子部品3を搬送しながら外観検査し、良品を選別することができる。 As explained above, according to the component sorting device 1 of the present embodiment, the transparent turntable 30 rotatably conveys the electronic component 3, and the six An imaging device 40 , an inspection and sorting controller 70 that performs a visual inspection of the electronic component 3 based on the imaging results from the imaged device 40 and selects non-defective products based on the results of the visual inspection, and non-defective products selected by the inspection and sorting controller 70 and a discharge mechanism 50 for discharging from the turntable 30. Thereby, it is possible to visually inspect the plurality of electronic components 3 while transporting them and to select non-defective products.

ここで、このような部品選別装置では、製造ロットごとに異なる種類の電子部品の検査および選別を行うことがある。例えば、表面実装型の電子部品には、同一サイズであっても特性が異なる部品がある。より具体的には、積層セラミックコンデンサには、同一サイズであっても容量が異なる部品がある。 Here, in such a component sorting device, different types of electronic components may be inspected and sorted for each manufacturing lot. For example, some surface-mounted electronic components have different characteristics even if they are the same size. More specifically, multilayer ceramic capacitors include components that are the same size but have different capacities.

また、従来の部品選別装置では、ターンテーブル上の電子部品を撮像デバイスで撮像するため、ターンテーブル上は開放状態であった。そのため、ターンテーブル上の回転搬送経路31に、種類が異なる電子部品が混入してしまう可能性がある。このように同サイズ/異特性の電子部品が混入してしい、良品として排出されてしまうと、部品の混入が生じてしまう。 Furthermore, in the conventional component sorting apparatus, the top of the turntable was in an open state because the electronic components on the turntable were imaged by an imaging device. Therefore, there is a possibility that different types of electronic components may be mixed into the rotary conveyance path 31 on the turntable. In this way, electronic components of the same size/different characteristics are likely to be mixed in, and if they are discharged as non-defective products, the mixing of parts will occur.

この点に関し、本実施形態の部品選別装置1によれば、ターンテーブル30上に、ターンテーブル30上において回転搬送される電子部品3を覆うカバー36が配置されている。これにより、カバー36内に、すなわちターンテーブル上の回転搬送経路31に、種類が異なる電子部品が混入することを防止することができる。そのため、部品選別の精度を向上することができる。 Regarding this point, according to the component sorting device 1 of the present embodiment, a cover 36 is disposed on the turntable 30 to cover the electronic component 3 that is rotationally conveyed on the turntable 30. Thereby, it is possible to prevent electronic components of different types from getting mixed into the cover 36, that is, the rotary conveyance path 31 on the turntable. Therefore, the accuracy of parts selection can be improved.

また、ターンテーブル上が開放状態である従来の部品選別装置では、搬送中の電子部品が、回転搬送経路の外に外れてしまい、前回ロットの電子部品がターンテーブル上に残ってしまうことがある。このような場合に、今回ロットの電子部品の種類が前回ロットの電子部品の種類と異なると、今回ロットの電子部品に、種類が異なる前回ロットの電子部品が混入してしまう可能性がある。このように同サイズ/異特性の電子部品が混入してしまうと、例え外観検査の精度が高くとも、選別の精度が低下してしまう。 In addition, in conventional component sorting equipment where the top of the turntable is open, electronic components being transported may fall outside the rotating transport path, and electronic components from the previous lot may remain on the turntable. . In such a case, if the type of electronic components in the current lot is different from the type of electronic components in the previous lot, there is a possibility that the electronic components in the current lot may be mixed with electronic components of a different type from the previous lot. If electronic components of the same size/different characteristics are mixed in this way, even if the accuracy of appearance inspection is high, the accuracy of sorting will be reduced.

この点に関し、本実施形態の部品選別装置によれば、カバー36は、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31を覆うように配置されている。これにより、カバー36の外に、すなわちターンテーブル30上の回転搬送経路31の外に、搬送中の電子部品3が外れることを防止することができる。そのため、部品選別の精度を向上することができる。 Regarding this point, according to the component sorting device of this embodiment, the cover 36 is arranged so as to cover the rotational conveyance path 31 of the electronic component 3 on the turntable 30. Thereby, it is possible to prevent the electronic component 3 being transported from coming off outside the cover 36, that is, outside the rotary transport path 31 on the turntable 30. Therefore, the accuracy of parts selection can be improved.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上述した実施形態に限定されることなく、種々の変更および変形が可能である。上述した実施形態では、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31に沿って連続する1つのカバー36を備える部品選別装置1を例示した(図1)。しかし、本発明はこれに限定されず、例えば、部品選別装置1は、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31に沿って分割された複数のカバー36を備える形態であってもよい(図7、なお図7では上述したカバー支持部材37を省略)。この場合、隣り合うカバー36の離間間隔は、電子部品3の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さいことが好ましい。例えば、0.02mm以下が好ましい。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the embodiments described above, and various changes and modifications are possible. In the embodiment described above, the component sorting device 1 is illustrated as having one cover 36 that is continuous along the rotary conveyance path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30 (FIG. 1). However, the present invention is not limited to this, and for example, the component sorting device 1 may include a plurality of covers 36 divided along the rotational conveyance path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30. (FIG. 7; the cover support member 37 described above is omitted in FIG. 7). In this case, the distance between adjacent covers 36 is preferably smaller than the smallest dimension of the length, width, and thickness of the electronic component 3. For example, it is preferably 0.02 mm or less.

また、上述した実施形態では、ターンテーブル30上の電子部品3の回転搬送経路31を覆うように、ターンテーブル30上の回転搬送経路31に沿った円弧形状を有するカバー36を備える部品選別装置1を例示した。しかし、本発明はこれに限定されず、例えば、部品選別装置1は、ターンテーブル30の全体を覆うカバー36を備える形態であってもよい。 Further, in the embodiment described above, the component sorting device 1 includes the cover 36 having an arc shape along the rotational conveyance path 31 on the turntable 30 so as to cover the rotational conveyance path 31 of the electronic components 3 on the turntable 30. Illustrated as an example. However, the present invention is not limited to this, and for example, the component sorting device 1 may include a cover 36 that covers the entire turntable 30.

また、上述した実施形態では、カバー36がターンテーブル30と撮像デバイス40との間に介在する部品選別装置1を例示した。しかし、本発明はこれに限定されず、例えば、部品選別装置1は、カバー36が撮像デバイス40をも覆う形態であってもよい。 Further, in the embodiment described above, the component sorting device 1 is illustrated in which the cover 36 is interposed between the turntable 30 and the imaging device 40. However, the present invention is not limited to this, and for example, the component sorting device 1 may have a configuration in which the cover 36 also covers the imaging device 40.

1 部品選別装置
3 電子部品
10 ボールフィーダ
12 振動機構
20 リニアフィーダ
22 振動機構
30 ターンテーブル
31 回転搬送経路(回転搬送軌跡)
32 ガイド機構
34 静電吸着機構
36 カバー
37 カバー支持部材
40 撮像デバイス
50 排出機構
70 検査選別コントローラ
1 Component sorting device 3 Electronic components 10 Ball feeder 12 Vibration mechanism 20 Linear feeder 22 Vibration mechanism 30 Turntable 31 Rotary conveyance path (rotary conveyance path)
32 Guide mechanism 34 Electrostatic adsorption mechanism 36 Cover 37 Cover support member 40 Imaging device 50 Ejection mechanism 70 Inspection sorting controller

Claims (11)

部品を搬送しながら検査し、良品を選別する部品選別装置であって、
前記部品を回転搬送するターンテーブルと、
前記ターンテーブル上の前記部品における複数の外面をそれぞれ撮像する複数の撮像デバイスと、
前記複数の撮像デバイスからの撮像結果に基づいて前記部品の外観検査を行い、前記外観検査の結果に基づいて前記良品を選別する検査選別コントローラと、
前記検査選別コントローラによって選別された前記良品を、前記ターンテーブルから排出する排出機構と、
前記ターンテーブル上に配置され、前記ターンテーブル上において回転搬送される前記部品を覆うカバーと、
を備える、部品選別装置。
A parts sorting device that inspects parts while transporting them and selects non-defective products,
a turntable that rotationally conveys the parts;
a plurality of imaging devices each capturing images of a plurality of outer surfaces of the component on the turntable;
an inspection and sorting controller that performs a visual inspection of the component based on imaging results from the plurality of imaging devices, and selects the non-defective products based on the results of the visual inspection;
a discharge mechanism that discharges the non-defective products sorted by the inspection and sorting controller from the turntable;
a cover that is placed on the turntable and covers the component that is rotated and conveyed on the turntable;
A parts sorting device equipped with
前記カバーは光透過性を有する、請求項1に記載の部品選別装置。 The parts sorting device according to claim 1, wherein the cover has optical transparency. 前記カバーと前記ターンテーブルとは離間しており、
前記カバーと前記ターンテーブルとの離間距離は、前記部品の長さ、幅および厚さのうちの最も小さい寸法よりも小さい、
請求項1に記載の部品選別装置。
The cover and the turntable are spaced apart,
The distance between the cover and the turntable is smaller than the smallest dimension of the length, width, and thickness of the parts.
The parts sorting device according to claim 1.
前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記部品の回転搬送経路を覆うように配置されており、
前記複数の撮像デバイスの各々は、前記カバーを介して前記部品を撮像する、
請求項1~3のいずれか1項に記載の部品選別装置。
The cover is arranged to cover a rotational conveyance path of the component on the turntable,
each of the plurality of imaging devices images the component through the cover;
The parts sorting device according to any one of claims 1 to 3.
前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿った円弧形状を有する、請求項4に記載の部品選別装置。 The parts sorting device according to claim 4, wherein the cover has an arc shape along the rotational conveyance path on the turntable. 前記カバーは、前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面を有する、請求項4に記載の部品選別装置。 The parts sorting device according to claim 4, wherein the cover has a surface perpendicular to the line of sight of each of the plurality of imaging devices. 前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に交差する前記カバーの断面形状は、円弧形状である、請求項6に記載の部品選別装置。 7. The parts sorting device according to claim 6, wherein a cross-sectional shape of the cover intersecting the rotary conveyance path on the turntable is an arc shape. 前記カバーは、前記ターンテーブル上の前記回転搬送経路に沿う方向に傾斜する面を有する、請求項6に記載の部品選別装置。 The parts sorting device according to claim 6, wherein the cover has a surface inclined in a direction along the rotational conveyance path on the turntable. 前記カバーにおける前記複数の撮像デバイスの各々の視線に対して垂直な面は、前記カバーにおける他の面よりも薄い、請求項6に記載の部品選別装置。 7. The parts sorting device according to claim 6, wherein a surface of the cover perpendicular to the line of sight of each of the plurality of imaging devices is thinner than other surfaces of the cover. 前記カバーは、偏光性を有する、請求項1~3のいずれか1項に記載の部品選別装置。 The parts sorting device according to claim 1, wherein the cover has polarizing properties. 前記カバーは、有色である、請求項1~3のいずれか1項に記載の部品選別装置。 The parts sorting device according to claim 1, wherein the cover is colored.
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