JP2023527907A - モノリシックledアレイ及びその前駆体 - Google Patents
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Abstract
モノリシックLEDアレイ前駆体であって、第1の半導体層を共有する複数のLED構造を含み、第1の半導体層は、LEDアレイ前駆体の平面を画定し、各LED構造は、(i)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第1の半導体層上の第2の半導体層であって、第2の半導体層が傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第2の半導体層と、(ii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第2の半導体層上の第3の半導体層であって、第3の半導体層が、第2の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第3の半導体層と、(iii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第3の半導体層上の第4の半導体層であって、第4の半導体層が、第3の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第4の半導体層と、(iv)第4の半導体層上の一次電気接点であって、LEDアレイ前駆体の平面に平行な第4の半導体層の上面部分上のみにある一次電気接点と、(v)第4の半導体層の傾斜側面上の電気絶縁性の光学的透明スペーサであって、第4の半導体層の傾斜側面に面する内面及び対向する外面を有する、電気絶縁性の光学的透明スペーサと、(vi)スペーサの外面の上に延びる導電性の反射層とを含み、第3の半導体層は、複数の量子井戸副層を含み、量子井戸副層は、LEDアレイ前駆体の平面に平行な部分においてより大きい厚みを有し、且つLEDアレイ前駆体の平面に平行でない部分において減少した厚みを有する、モノリシックLEDアレイ前駆体。
Description
本開示は、モノリシックLEDアレイ、モノリシックLEDアレイを含むLEDデバイス及びその製造方法に関する。特に、本開示は、改善された発光を有するモノリシックLEDアレイを提供する。
マイクロ発光ダイオード(LED)アレイは、100×100μm2以下のサイズを有するLEDのアレイとして定義され得る。マイクロLEDアレイは、自発光マイクロディスプレイ及びプロジェクタなど、いくつかの商業用途及び軍事用途のために開発されており、ウェアラブルディスプレイ、ヘッドアップディスプレイ、カムコーダ、ビューファインダ、マルチサイト励起源及びピコプロジェクタなどの多様なデバイスに組み込まれ得る。
III族窒化物ベースのマイクロLEDは、活性発光領域においてGaN並びにそのInN及びAlNとの合金を含む無機半導体LEDである。III族窒化物ベースのマイクロLEDは、従来の大面積LED、特に発光層が有機化合物である有機発光ダイオード(OLED)よりも著しく高い電流密度で駆動され、高い光パワー密度で発光し得るため、一般に普及している。その結果、所与の方向に光源の単位面積当たりに発光される光量として定義され、カンデラ毎平方メートル(cd/m2)でも測定され、一般にニト(nt)と呼ばれる、輝度(明度)が高いほど、マイクロLEDは、高い明度を必要とする又は高い明度から恩恵を受ける用途、例えば高明度環境のディスプレイ又は投影に適したものとなる。
加えて、III族窒化物マイクロLEDのルーメン毎ワット(lm/W)で表される高い発光効率は、他の光源と比較してより低い電力使用を可能にし、マイクロLEDをポータブルデバイスに特に適したものにする。さらに、III族窒化物の固有の材料特性により、マイクロLEDは、高温又は低温及び高湿又は低湿などの極限条件において動作可能であり、それにより、ウェアラブル用途及び屋外用途における性能及び信頼性の利点をもたらす。
無機マイクロLEDアレイの生成のために、現在2つの主な手法が存在する。第1の手法では、個々のマイクロLEDデバイスが従来サイズのLEDのための技術と類似の技術で生成され、これらは、次いでピックアンドプレース技術によって基板上にアレイとして組み立てられる。基板は、個々のマイクロLEDアドレシングのための駆動回路を含むアクティブマトリクスバックプレーンであり得る。この第1の手法により、異なる成長用基板上に製作されている、異なる発光波長などの異なる特性を有するLEDが、フルカラーディスプレイを実現するために製品基板上に転写されることが可能となる。加えて、それは、故障デバイスがアレイの一部になる前それらを破棄することを可能にして、アレイの最終歩留まりを潜在的に改善する。一方、多様な用途において必要とされる解像度(小さいピッチ)及びアレイサイズ(多数のマイクロLED)は、ピックアンドプレース精度及び転写時間の点からこの手法に重大な課題をもたらし、プロセスの信頼性及びそのスループットにそれぞれ影響を及ぼす。
第2の手法は、単一の成長用基板上でマイクロLEDアレイを製作するためにモノリシック集積化を使用し、それにより、より高い集積密度、より小さいLED及びより小さいピッチ(即ちより高いアレイ解像度)を可能にする。この第2の手法は、フルカラーディスプレイを実現するためのカラー化技術に依拠している。マイクロLEDに使用されるカ
ラー化技術は、マイクロLEDアレイのピッチに依存する。照明用途の従来の蛍光材料は、現在大きいピッチ且つ低解像度アレイにのみ適しており、量子ドットベースの波長変換材料は、より高解像度の用途に必要とされる。使用される手法にかかわらず、アレイ内の個々のマイクロLEDの活性領域の周囲は、概して、発光活性領域の一部を除去するエッチングプロセスによって形成され、それにより、各マイクロLEDにおける独立した電流注入を可能にし、且つアレイの各マイクロLED内の放射再結合の量を調整する目的で、個々のマイクロLEDを電気的に絶縁する。
ラー化技術は、マイクロLEDアレイのピッチに依存する。照明用途の従来の蛍光材料は、現在大きいピッチ且つ低解像度アレイにのみ適しており、量子ドットベースの波長変換材料は、より高解像度の用途に必要とされる。使用される手法にかかわらず、アレイ内の個々のマイクロLEDの活性領域の周囲は、概して、発光活性領域の一部を除去するエッチングプロセスによって形成され、それにより、各マイクロLEDにおける独立した電流注入を可能にし、且つアレイの各マイクロLED内の放射再結合の量を調整する目的で、個々のマイクロLEDを電気的に絶縁する。
あまり一般的に採用されない製造プロセスでは、米国特許第7,087,932号明細書に開示されるように、エッチングステップを使用することなく独立して電流が注入され得る活性領域の電気的絶縁部分を実現するために、選択領域成長(SAG)を使用する。選択領域成長技術では、バッファ層上にマスクがパターニングされる。マスクの材料は、成長条件において、下層のバッファ層の表面の一部を露出させる開口の内側のみを除くマスク上で、追加の材料が直接成長しないようにされる。
III族窒化物LEDの輝度は、動作電流の増加と共に増加するが、発光効率は、電流密度(A/cm2)に依存し、電流密度が増加するにつれて最初は上昇し、最大値に到達し、その後「効率降下」として知られている現象に起因して低下する。内部量子効率(IQE)と呼ばれる、内部で光子を発生させる能力を含む多くの因子がLEDデバイスの発光効率に寄与している。外部量子効率(EQE)は、活性領域で放出される光子の数を、注入される電子の数で割った数として定義される。EQEは、LEDデバイスのIQE及び光抽出効率(LEE)の関数である。低電流密度において、効率は、非放射再結合と呼ばれる、光を発生させることなく電子と正孔とが再結合する、欠陥又は他のプロセスの強い影響に起因して低い。それらの欠陥が飽和するにつれて、放射再結合が支配し、効率が上昇する。注入電流密度がLEDデバイスについての特性値を上回ると、「効率降下」又は効率の漸減が始まる。
表面再結合は、マイクロLEDにおける非放射再結合に主に寄与するものであると考えられている。マイクロLED活性領域の周辺の欠陥及びダングリングボンドは、原子格子を遮り、電子エネルギーレベルを通常は禁じられた半導体バンドギャップの内側に導入する。これは、伝導帯と価電子帯との間の電荷キャリア遷移のための足がかりとして機能することにより、非放射再結合を強化し得る。
表面再結合は、面積比に対する大きい周長及び活性領域の周囲を画定するために一般に使用されるドライエッチング技術のために、無機マイクロLEDにおいて特に重要である。ウエットエッチング液若しくは高温処理を用いた表面処理又は活性発光領域の周囲において損傷を軽減し、ダングリングボンドを減少させることを目的とする、米国特許第9,601,659号明細書に開示されるような適当な「パッシベーション層」を用いた周辺被覆を含む、様々な技術が当業者に知られている。
しかしながら、非放射再結合、特に表面再結合に関連する問題を回避しつつ、高集積密度、より小さいLED及びより小さいピッチを有するマイクロLEDアレイ及びLEDアレイ前駆体並びにそれを生成する方法に対する必要性が残っている。
発光ダイオード(LED)デバイスは、広範囲の用途に対して効率的な光源を提供することがさらに知られている。LEDの光発生効率及び抽出の増大は、(より小さい発光面積を有する)より小さいLEDの生成及び異なる波長のLEDエミッタのアレイへの統合と共に、特にディスプレイ技術において複数用途を有する高品質色アレイの供給をもたらしている。
拡張現実、複合現実、仮想現実並びにスマートウォッチ及びモバイルデバイスなどの直視型ディスプレイを含む様々な用途において使用するためのマイクロLEDディスプレイについて、いくつかのディスプレイ技術が考えられ、使用されている。デジタルマイクロミラー(DMD)及び液晶オンシリコン(LCoS)などの技術は、反射技術に基づいており、反射技術では、時系列モードで赤、緑及び青の光子を生成するために外光源が使用され、画素は、画像を形成するために光を光学素子から転換させ(DMD)又は光を吸収して(LCoS)画素の明度を調整する。液晶ディスプレイ(LCD)は、典型的には、バックライト、アドレス可能なバックプレーン上のLCDパネル及びカラーフィルタを使用して、画像を生成する。バックプレーンは、個々の画素をオン及びオフし、ビデオフレーム毎に個々の画素の明度を調整する必要がある。有機発光ダイオード(OLED)又はアクティブマトリクスOLED(AMOLED)及びより近年ではマイクロLEDなどの発光型ディスプレイ技術は、無接続マイクロディスプレイ用途のための低い消費電力及び高い画像コントラストを提供するにつれて一層増加している。特に、マイクロLEDは、マイクロOLED及びAMOLEDディスプレイよりも高効率で良好な信頼性を提供する。
本文書に記載されている発明の態様は、内部量子効率(IQE)及び光抽出効率(LEE)を改善して長所の効率及び明度特徴を改善する高効率マイクロLEDアレイ結合技術を作成する方法に関する。
多重量子井戸(MQW)において発生した光子を発光面の方に向ける疑似放物面状LED構造の使用を含む、光抽出効率を上昇させるように設計された構造がLED産業において周知である。
そのような疑似放物面形状を製作するために使用される1つの技術は、半導体材料の反応性イオンエッチング(RIE)又は誘電結合エッチング(ICP)を含む。そのようなエッチング技術では、RF、高電圧(DCバイアス)及び反応性ガスを含み、多くの場合、フリーラジカルを含む高エネルギープラズマは、半導体材料を選択的にエッチングするために使用される。フィーチャは、エッチングプロセスを受ける領域とエッチングされないままの領域とを画定するために、写真感光材料を用いたフォトリソグラフィックプロセスを用いて画定される。半導体材料の精密な形状は、パターンを定義するために使用される写真感光材料のプロファイルにより且つエッチング圧力、電力、ガス流及びガス種により制御され得る。
これは、製造プロセスを複雑にするだけでなく、このエッチングプロセスの結果として、半導体材料のエッジが損傷されることがあり、それがマイクロLEDのIQEに影響を及ぼす。
図9に示されるように、DCバイアス及びプラズマ密度が増加するにつれて、フィーチャのエッジにより多くの損傷が与えられて、結晶損傷、窒素空孔及びダングリングボンドによって形成される表面漏洩経路につながる。ドライエッチングは、表面における高エネルギーイオン衝撃に起因して多くの結晶欠陥を生じさせる。ダングリングボンドは酸化し易く、結晶損傷は、表面においてキャリア再結合中心として機能するエネルギー帯に多くの欠陥レベルを生じさせ、非放射再結合につながる。
表面再結合速度(非放射再結合速度)は、バルクMQWにおける放射再結合速度より速く、したがって、小さいマイクロLEDは、表面再結合及び結果として起こるIQEの減少に対して脆弱である。
エッチング中に引き起こされる損傷の広く報告されている結果は、図10に示されるよ
うに、より小さいマイクロLED寸法による効率低下である。外部量子効率(EQE)は、IQEの積(電子の数に対する発生した光子の数の比)である。この傾向を動かすメカニズムは、面積に対するマイクロLEDの周辺の比率である。マイクロLEDのサイズが減少するにつれて、MQWの面積に対して側壁の面積が増加し。したがって、マイクロLEDのエッジにおける表面漏洩経路が非放射再結合の増加を引き起こす。
うに、より小さいマイクロLED寸法による効率低下である。外部量子効率(EQE)は、IQEの積(電子の数に対する発生した光子の数の比)である。この傾向を動かすメカニズムは、面積に対するマイクロLEDの周辺の比率である。マイクロLEDのサイズが減少するにつれて、MQWの面積に対して側壁の面積が増加し。したがって、マイクロLEDのエッジにおける表面漏洩経路が非放射再結合の増加を引き起こす。
拡張現実及びヘッドマウントディスプレイに使用されるマイクロLEDディスプレイは、1A/cm2~10A/cm2の電流密度で動作し得る。これは、大型LEDと比較して小型LEDの効率の20倍の低下を示唆し得る。
マイクロLEDの効率は、図11に示されるように、エッチングによって引き起こされる損傷を修復することによって著しく上昇し得る。典型的には、最適化された損傷修復体制を実行することによってEQEの10倍の改善をもたらすことが可能である。ピークEQEは損傷修復後に上昇し、より低い電流密度でピークEQEが発生し、それにより典型的な動作条件において効率の10倍の上昇が得られ得る。そのような体制は、しかしながら、図12に示されるように修復プロセスがエッチングによって損傷された半導体材料を除去するため、高LEEに対して最適化された成形構造を維持することと比較できない。したがって、そのような疑似放物面状LED構造を実現する代替手段を提供することが望ましい。
本発明の目的は、先行技術のアレイに関連する問題の少なくとも1つに取り組む、改善されたLEDアレイ前駆体を提供すること又は少なくともそれに対する商業的に有用な代替物を提供することである。
第1の態様によれば、本開示は、モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法を提供し、方法は、
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)複数の開口を含むマスク層を第1の半導体層上に成膜することにより、第1の半導体層を選択的にマスクすることと、
(iv)傾斜側面及び略平坦な上面部分を伴う、基板に垂直な正台形断面をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、マスク層の開口を通して第1の半導体層の非マスク部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、且つ傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、第4の半導体層は、傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと、
(viii)第4の半導体層の傾斜側面上に電気絶縁性の光学的透明スペーサを形成することであって、スペーサは、第4の半導体層の傾斜側面に面する内面及び対向する外面を有する、形成することと、
(ix)スペーサの外面の上に反射導電層を成膜することと
を含む。
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)複数の開口を含むマスク層を第1の半導体層上に成膜することにより、第1の半導体層を選択的にマスクすることと、
(iv)傾斜側面及び略平坦な上面部分を伴う、基板に垂直な正台形断面をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、マスク層の開口を通して第1の半導体層の非マスク部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、且つ傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、第4の半導体層は、傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと、
(viii)第4の半導体層の傾斜側面上に電気絶縁性の光学的透明スペーサを形成することであって、スペーサは、第4の半導体層の傾斜側面に面する内面及び対向する外面を有する、形成することと、
(ix)スペーサの外面の上に反射導電層を成膜することと
を含む。
本発明のさらなる態様は、説明、図面及び添付された特許請求の範囲から明らかとなる
。
。
本発明は、ここで、さらに説明される。以下の文章では、本発明の異なる態様がより詳細に定義される。そのように定義された各態様は、明確に相反する指示がされない限り、任意の他の態様と組み合わされ得る。特に、好ましい又は有利であると示される任意の特徴は、好ましい又は有利であると示される任意の他の特徴と組み合わされ得る。
本開示は、電気的に絶縁されたLED構造が、改善された発光特性及び減少した非放射再結合を示して生成され得るように、モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法を提供する。本発明者らは、開示される特定の構造の成長及びLED構造の特定領域上のみの電気接点の供給により、改善された特性を有するLEDデバイスを提供するLEDアレイ前駆体が形成され得ることを発見した。
本発明は、モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法に関する。LEDは、当技術分野において周知であり、発光ダイオードを指す。
モノリシックアレイは、単一片として形成された複数のLED構造の供給を指す。アレイは、LEDがモノリシック構造にわたって意図的に間隔を空けられ、典型的には、LEDの六角形密充填アレイ又は正方形充填アレイなどの規則的アレイを形成することを意味する。
「前駆体」という用語により、説明されるLEDアレイは、発光を可能にするなどのためのLED毎に必要な対向電気接点も、関連する回路も有していないことに留意されたい。したがって、説明されるアレイは、基板を除去することによって実現され得るような、対向電極及び任意の光抽出面を含む、必要なさらなるステップが行われると形成されるモノリシックLEDアレイに対する前駆体である。
方法は、いくつかの採番されたステップを伴う。これらのステップは可能な範囲で同時に又は並行して実行され得ると理解されたい。
第1のステップは、表面を有する基板の供給を伴う。適当な基板は、サファイア、SiC及びシリコンを含む。他の適当な基板は、当技術分野において周知である。
第2のステップは、基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することを伴う。第1の半導体層は、バッファ層として機能し得る。第1の半導体層及び実際にはさらなる半導体層がIII族窒化物を含む。好ましくは、III族窒化物は、AllnGaN、AlGaN、InGaN及びGaNの1つ又は複数を含む。
本明細書で用いられる、その構成成分による種類へのいかなる言及も、それらの全ての利用可能な化学量論量を含む。したがって、例えば、AlGaNは、AlxGa1-xNなどのその全ての合金を含み、ここで、xは、1又は0に等しくない。好適な化学量論量は、特定の層の機能に依存して変化することとなる。
第3のステップは、複数の開口を含むマスク層を第1の半導体層上に成膜することにより、第1の半導体層を選択的にマスクすることを伴う。好ましくは、マスク層は、SiO2及び/又はSiNxを含む。SiO2及び/又はSiNxマスク層は、プラズマ増強化学蒸着などの標準的な成膜技術を用いてエクスサイチュで成膜され得る。代替として、インサイチュSiNxマスク層は、反応チャンバ内で成膜され得、MOCVDリアクタなどの適当な反応チャンバが当技術分野において周知である。
任意選択で、複数の開口は、規則的な間隔のアレイを形成する。これは、正方形充填又は六角形充填など、円の密充填のための任意の構成に類似し得る。
第3のステップを実現する好ましい方法は、
(a)連続的なマスク層を成膜すること、及び(b)複数の開口を提供するために上記マスク層の複数の部分を選択的に除去することによる。
(a)連続的なマスク層を成膜すること、及び(b)複数の開口を提供するために上記マスク層の複数の部分を選択的に除去することによる。
任意選択で、上記マスク層の複数の部分を選択的に除去することは、第1の半導体層の複数の対応する部分を選択的に除去することを含む。これは、第2の任意選択的に不連続な層が次いで第1の半導体層の井戸内に形成されることを意味する。
第4のステップは、基板に垂直な正台形断面及び略平坦な上面部分をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、マスク層の開口を通して第1の半導体層の非マスク部分上に任意選択的に不連続な第2の半導体層を成長させることを伴う。平坦上面部分は、層が形成される基板表面の平面に平行な平面内にある。
「正台形断面」により、柱状部の上部が下部より細いこと及び傾斜した直線状側面と共に略平坦で平行な上面及び下面を有することを意味する。これは、円錐台形状をもたらし得るか、又は3つ以上の側面、典型的には6つの側面を有するピラミッド台形形状の可能性がより高い。「正台形断面」という記述は、第1の半導体層の上に延びる第2の半導体層の部分を指す。第2の半導体層の最下部分は、第1の半導体層によって画定される開口内にあり、したがって、下部分は、典型的には、テーパ付き断面ではなく一定の断面を有する。柱状部のテーパ付き側面は、本明細書では側面又はファセットと呼ばれる。第2の層が連続的である場合、台形断面は、第2の半導体層の連続平面部分の上に延びる第2の半導体層の不連続部分である。
好ましくは、柱状部の側面は、第1の半導体層に平行な平面に対して略一定の角度(α)を有する。即ち、柱状部の側面と第1の半導体に平行な平面との間の角度は、著しく変化しない。好ましくは、角度αは、50°~70°であり、より好ましくは58°~64°であり、最も好ましくは約62°である。
好ましくは、第2の半導体層の複数の柱状部のそれぞれは、切頭六角ピラミッド形である。
第5のステップは、任意選択的に不連続な第2の半導体層を覆う任意選択的に不連続な第3の半導体層を形成することを伴い、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、下層の第2の半導体層の形状に従った略平坦な上面部分及び傾斜側面を有する。
「略平坦な上面部分」により、特定の半導体層の上部が概して第1の半導体層に平行である(即ち基板の平面に平行な平面を設ける)ことを意味することを理解されたい。
本発明者らは、第2の半導体層上の第3の半導体層の材料の成膜が、最上面は厚いが、ファセット上には著しくより薄い層が成膜されて生じることを発見した。これは、結晶構造に対する様々な方向の成長速度に起因して自動的に発生する。
マスク開口周辺の傾斜面上に成膜されている層は、c面配向面部分の上に成膜されている層と比較すると、概して薄い。特に、LED内のp-n接合のn型ドープ層とp型ドープ層との間に成膜されたInGaN多重量子井戸(MQW)は、c面配向面に接触して成膜された部分と比較して、傾斜面と接触して成膜された部分が薄い。
傾斜したGaN面からの発光は、半極性面の減少した分極場によって照明デバイスの効率改善手段を提供し得ることが当業者に知られている。加えて、平坦面部分と比較しての傾斜面における異なるMQW厚さの存在は、色調整の目的で単一デバイスからの無蛍光体多波長発光も実現し得る。
これとは対称的に、本発明の1つの目的は、光発生を略平坦面領域に閉じ込めて傾斜面へのキャリア注入及び/又は拡散並びに結晶中の原子の周期的配列が終結する活性領域の周辺における潜在的な非放射再結合を防止することである。上部平坦領域のキャリア閉じ込めは、電気接点領域の形成を傾斜面から離れた上部平坦面の部分に制限することによって実現されることとなる。
加えて、c平面に沿って配向されたMQWの部分と傾斜ファセット上のMQWの部分とのMQW厚さの差は、平坦MQW部分から傾斜MQW部分へのキャリア拡散を効果的に妨げる2つのMQW部分間のバンドギャップ差に対応する。これは、注入キャリアが貫通転位コアから離れて閉じ込められて非放射再結合の可能性を妨げる、III族窒化物LEDにおける貫通転位の周囲で発生するものと類似のメカニズムである。付随的に、ファセット上に成膜されている領域内のMQW組成はまた、厚い最上面のキャリア閉じ込めが依然として発生するような厚い最上面のMQWの組成と異なり得る。その結果、均一で比較的狭い発光波長が予期される。
第6のステップは、任意選択的に不連続な第3の半導体層を覆う任意選択的に不連続な第4の半導体層を形成することを伴い、それにより、第4の半導体層は、下層の第3及び第2の半導体層の形状に従った略平坦な上面部分及び傾斜側面を有する。この場合も、第3の半導体層上の第4の半導体層の材料の成膜は、最上面は厚いが、ファセット上にははるかに薄い層が成膜されて生じる。
好ましくは、第4の半導体層は、マグネシウムでドープされる。任意選択で、第3の半導体層の厚い最上面へのキャリア注入の閉じ込めをさらに助けるために、Mgドーピング密度は、厚い最上面ではより高いが、ファセット上に成膜されている層でははるかに低い。
好ましくは、第2の半導体層、第3の半導体層及び第4の半導体層は、不連続である。好ましくは、第1の態様のマスク方法は、不連続層を生成するが、特に密なピッチを有するいくつかの実施形態では、第3の半導体層、第4の半導体層及び第5の半導体層が融合し得る。これは、これらの層がいくつかのLED構造によって共有される連続部分又は部分的連続部分を形成する。
第1の半導体は、100nm~8μm、好ましくは3μm~5μmの厚さを有し得る。
第2の半導体層の柱状部は、500nm~4μm、好ましくは1μm~2μmの厚さを有し得る。
第3の半導体層の略平坦な上面部分は、30nm~150nm、好ましくは40nm~60nmの厚さを有し得る。加えて、マスク開口/ピラミッド幅は、1μm~8μmであり得る。
第4の半導体層の略平坦な上面部分は、50nm~300nm、好ましくは100nm~150nmの厚さを有し得る。
マスク内の開口と整列されていない半導体層の部分は、0nmから最大で上述したそれ
ぞれの層の最小値までの厚さを有する。マスク領域は、後続の半導体層の成長に比較的有利ではないが、完全に妨げないこともある。
ぞれの層の最小値までの厚さを有する。マスク領域は、後続の半導体層の成長に比較的有利ではないが、完全に妨げないこともある。
第7のステップは、任意選択で不連続な第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することを伴う。任意の従来の電極材料が使用され得、それは、熱蒸着又は電子ビーム蒸着などの従来技術によって塗布され得る。
任意選択で、一次電気接点は、酸化インジウムスズなどの透明導電性酸化物を成膜してレンズ状構造を第4の半導体層の平坦上面部分上に形成することによって形成され、透明導電性酸化物の外側面は、概して凸状であるか又は特に円形若しくは放物面形状である。
第8のステップは、第4の半導体層の傾斜側面上に電気絶縁性の光学的透明スペーサを形成することを伴い、スペーサは、第4の半導体層の傾斜側面に面する内面及び対向する外面を有する。好ましくは、スペーサの外面は、内面に対して角度が付けられ、より好ましくは、スペーサの外面が疑似放物面状プロファイルを有する。放物面形状は、放出された光子がデバイスの発光面上に臨界角未満の入射角で入射するように、放出された光子を上記面の方に向けるように作用し、それにより光子が高効率で空気中に抽出されることを可能にする。
好ましくは、スペーサの外面は、0.5のベジェ係数と共に2つの制御点を有するベジェ曲線を近似するプロファイルを有する。これにより、最大光抽出がもたらされることが分かっている。ある実施形態では、スペーサは、窒化ケイ素、酸化ケイ素又は酸化スズから形成される。
任意選択で、各スペーサの外面上の第2の電気絶縁性の光学的透明材料、第2の電気絶縁性の光学的透明材料は、第1の電気絶縁性の光学的透明材料と異なる屈折率を有する。これにより、放出された光子がより容易に抽出されるように、段階的な屈折率を有する材料の使用が可能となる。さらなる実施形態では、追加のスペーサ層は、第4の半導体層の傾斜側面から離れて減少した屈折率で使用され得る。
第9のステップは、スペーサの外面の上に反射導電層を形成することを伴う。ある実施形態では、反射導電層は、アルミニウムから形成されるが、当業者は、任意の適当な材料が使用され得ることを認識している。ある実施形態では、スペーサと反射導電層との間の境界面は、光抽出効率を低下させる光の拡散を妨げるように、Ra<50nm、最も好ましくはRa<10nmの表面粗度を有する。
上述した層のそれぞれは、1つ又は複数の副層から形成され得る。例えば、第1の半導体層は、AlxGa1-xNの組成傾斜層から形成され得る。
任意選択的に、第1の半導体層は、第2の半導体の近位に副層を含み、副層は、シリコンドープされたGaNを含む。好ましくは、第1の半導体層は、シリコンドープされた副層を除いて、実質的にアンドープである。一実施形態では、第1の半導体層は、複数のアンドープ(Al)GaN副層の層及びシリコンドープされた副層を含む。シリコンドープされたAlxGa1-xN副層は、100nm~1μm、好ましくは、300nm~500nmの厚さを有し得る。好ましくは、Al組成は、x=0~0.2、より好ましくは、0.05~0.1である。好ましくは、ドーピングレベルは、1×1018at/cm3~1×1021at/cm3、より好ましくは、1×1020at/cm3~2×1020at/cm3である。
好ましくは、第1の半導体層がシリコンドープされた副層を含む場合、第2の半導体層
が第1の半導体層のアンドープ部分の上に直接形成されるように、シリコンドープされた副層は、複数の開口を形成するときに部分的に除去される。有利には、この構造は、第2の半導体が成長した場所で(Al)GaN:Si副層が除去されるため、材料品質を低下させることなく、有益に電流拡散させるための高シリコンドープ層の使用を可能にする。
が第1の半導体層のアンドープ部分の上に直接形成されるように、シリコンドープされた副層は、複数の開口を形成するときに部分的に除去される。有利には、この構造は、第2の半導体が成長した場所で(Al)GaN:Si副層が除去されるため、材料品質を低下させることなく、有益に電流拡散させるための高シリコンドープ層の使用を可能にする。
上記成膜ステップの全ては、従来の半導体形成システムを用いて行われ得る。LED生成のための半導体層の形成は、MOCVDのように当技術分野において周知である。
理解されるように、第2の半導体層の柱状部のそれぞれは、最終モノリシックLEDアレイ前駆体における関連する層から形成される個々のLED構造に底部を設ける。
発明のさらなる態様は、類似の方法を提供するが、第2の半導体層を形成するための代替手法を有する。上述した第1の態様の全ての態様は、本実施形態と自由に組み合わされ得る。
このさらなる態様では、第1の半導体層は、その後の層成長のためにあまり好ましくないアモルファス材料のパターンを提供するために処理される。これは、第2の半導体層が結晶未処理領域上で優先的に形成して柱状部をもたらすことを意味する。この層は、処理済み領域及び未処理領域において達成される相対成長に応じて、連続的又は非連続的であり得る。台形断面は、第2の半導体層の連続平面部分の上に延びる第2の半導体層の不連続部分である。
具体的には、このさらなる態様は、モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法を提供し、方法は、
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)アモルファス表面領域を形成するために第1の半導体層を選択的に処理することであって、アモルファス表面領域は、第1の半導体層の複数の未処理部分を画定する、処理することと、
(iv)基板に垂直な正台形断面及び略平坦な上面部分をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、第1の半導体層の未処理部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、第4の半導体層は、略平坦な上面部分を有する、形成することと、(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することとを含む。
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)アモルファス表面領域を形成するために第1の半導体層を選択的に処理することであって、アモルファス表面領域は、第1の半導体層の複数の未処理部分を画定する、処理することと、
(iv)基板に垂直な正台形断面及び略平坦な上面部分をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、第1の半導体層の未処理部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、第4の半導体層は、略平坦な上面部分を有する、形成することと、(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することとを含む。
任意選択的に、第1の半導体層は、第2の半導体の近位に副層を含み、副層は、シリコンドープされたGaNを含む。好ましくは、第1の半導体層は、シリコンドープされた副層を除いて、実質的にアンドープである。即ち、好ましくは、第1の半導体層は、複数のアンドープ(Al)GaN副層の層及びシリコンドープされた副層を含む。
好ましくは、第1の半導体層を選択的に処理することは、イオン注入によって第1の半導体層の表面部分をアモルファス化することを含む。好ましくは、選択的に処理することは、イオン注入が後に続く、リソグラフィックパターニング及びエッチングのステップを含む。注入に適したイオンは、N+、H+及びAr+から選択され得る。有利には、適当なマスクパターンをリソグラフィックパターニング及びエッチングすることにより、第1の半導体層のエッチング残り領域に対するイオン損傷が防止される。
任意選択で、第2の態様の方法において、ステップ(iii)は、
(a)連続的な第1の半導体層上にマスク層材料を含む連続的なマスク層を成膜することと、
(b)第1の半導体層の複数のマスク領域を提供するために、マスク層材料を選択的に除去することと、
(c)マスク領域を除く第1の半導体層にアモルファス材料を形成するために、第1の半導体層をイオン注入で処理することと、(b)残りのマスク層材料を除去することと、任意選択的に、第1の半導体層の複数の非処理部分を提供するために、第1の半導体層の複数の対応部分を除去することとを含む。
(a)連続的な第1の半導体層上にマスク層材料を含む連続的なマスク層を成膜することと、
(b)第1の半導体層の複数のマスク領域を提供するために、マスク層材料を選択的に除去することと、
(c)マスク領域を除く第1の半導体層にアモルファス材料を形成するために、第1の半導体層をイオン注入で処理することと、(b)残りのマスク層材料を除去することと、任意選択的に、第1の半導体層の複数の非処理部分を提供するために、第1の半導体層の複数の対応部分を除去することとを含む。
好ましくは、第1の半導体層がシリコンドープされた副層を含む場合、第2の半導体層が第1の半導体層のアンドープ部分の上に直接形成されるように、シリコンドープされた副層は、複数の開口を形成するときに部分的に除去される。有利には、この構造は、第2の半導体が成長した場所でAlGaN:Si副層が除去されるため、材料品質を低下させることなく、有益に電流拡散させるために高シリコンドープ層の使用を可能にする。
好ましくは、第2の態様の方法では、第2の半導体層、第3の半導体層及び第4の半導体層は、不連続である。
以下の開示は、上述した態様の両方に同様に適用し得る好ましい特徴に関する。
好ましくは、第2の半導体層は、n型ドープである。好ましくは、第2の半導体層は、シリコン又はゲルマニウム、好ましくはシリコンで、n型ドープされる。
好ましくは、第3の半導体層は、アンドープである。
好ましくは、第4の半導体層は、p型ドープであり、好ましくは、第4の半導体層は、マグネシウムでドープされる。
有利には、上記の層組成は、良好な光発生及び発光特性を有するLED活性領域を提供する。
好ましくは、第1の半導体層は、(0001)平面を伴うウルツァイト型結晶構造を有し、第4の半導体層の略平坦な上面部分は、第1の半導体層の(0001)平面に平行である。同様に、第2の半導体層及び第3の半導体層の平坦上面のそれぞれは、第1の半導体層の(0001)平面に平行であるべきである。
好ましくは、方法は、製造されたデバイス(使用時に裏返される)の底部からの光抽出を容易にするために基板を除去することをさらに含む。基板の代替的な少なくとも一部は、上述した個々のLED構造のそれぞれに対応して除去されて、アレイ前駆体からの光抽出のために第1の半導体層の一部を露出する。好ましくは、基板は、完全に除去され、任意選択で、粗面層は、露出した第1の半導体層に付着される。基板は、成長用基板とも呼ばれ、LEDアレイがその上で成長する表面を設けるが、概して最終的なデバイスの一部を形成しない。好ましくは、基板は、Siなどの非透明基板の場合には吸収を最小化し、SiC又はサファイアなどの透明基板の場合にはアレイ内のLED構造間のクロストークを最小化するために実質的に完全に除去される。
任意選択で、基板は、複数のコリメートチャネルを形成するために選択的に除去され、コリメートチャネルのそれぞれは、第4の半導体層の略平坦な上面部分上に形成された一
次接点と整列される。
次接点と整列される。
任意選択で、方法は、第2の半導体層の複数の柱状部のそれぞれに対応し、且つ複数の柱状部のそれぞれと整列される複数のドーム又はレンズ構造を形成するために、基板を少なくとも部分的に除去し、且つ第1の半導体層を少なくとも部分的に除去するステップを提供することをさらに含む。好ましくは、方法は、基板を完全に除去することと、第2の半導体層の遠位に複数の凸状ドームを設けるために第1の半導体層を部分的に除去することとを含む。各ドームは、アレイの複数のLED構造の1つに整列されている。
有利には、ドーム構造は、さらなる材料を追加する必要なしにLED構造の光抽出及びコリメーションを改善する。好ましくは、複数のドーム構造は、ドームの表面の反射を最小化するために、誘電体コーティング又はクリアエポキシ層でコーティングされ得る。
好ましくは、方法は、一次電気接点が設けられていない第3の半導体層の遠位の第4の半導体層の少なくとも一部の上に、反射層が後に続く1つ又は複数の透明絶縁層を提供するステップをさらに含み得る。好ましくは、絶縁層は、SiO2及び/又はSiNxを含む。有利には、そのようなコーティング層は、アレイ内の光損失を減少させることによってLED構造からの光抽出を改善し、抽出された光のコリメーションを改善し得る。
任意選択で、方法は、モノリシックLEDアレイを形成するために、量子井戸副層にわたって一次電気接点と電気通信する1つ又は複数の二次電気接点を形成することをさらに含む。二次電気接点を設けることにより、LEDアレイが機能するために必要な全ての特徴が提供される。即ち、一次接点と二次接点とにわたって電位差を適用することにより、LED構造が光を生成する。
好ましくは、1つ又は複数の二次電気接点は、第1の半導体層上に形成される。さらにより好ましくは、二次電気接点は、第1の半導体層と接触する透明導電性酸化物層によって提供される。
形成されるモノリシックLEDアレイ前駆体は、好ましくは、少なくとも4つのLED構造を含み、各LED構造は、別個の第2の半導体層部分に対応し、対応する第3の半導体層部分がその上に形成され、対応する第4の半導体層部分がその上に形成され、対応する1次電気接点がその上に形成される。LEDアレイ前駆体は、好ましくはマイクロLEDアレイである。
好ましくは、モノリシックLEDアレイ前駆体は、LED構造の少なくとも第1のサブアレイ及び第2のサブアレイを含み、各サブアレイは、異なる主波長において光を放射することが可能である。
さらなる態様において、本開示は、モノリシックLEDアレイ前駆体を提供する。これは、好ましくは、上記態様において説明された方法の1つによって取得可能である。したがって、上記方法で形成される構造に関連して説明される全ての態様は、本明細書において説明される前駆体に同様に適用する。
さらなる態様において、本開示は、モノリシックLEDアレイ前駆体であって、
第1の半導体層を共有する複数のLED構造を含み、第1の半導体層は、LEDアレイ前駆体の平面を画定し、各LED構造は、
(i)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第1の半導体層上の第2の半導体層であって、第2の半導体層が傾斜側面を有するように、第2の半導体層が上面部分に垂直な正台形断面を有する、第2の半導体層と、
(ii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第2の半導体層上の第3の半導体層であって、第3の半導体層が第2の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、第3の半導体層が上面部分に垂直な正台形断面を有する、第3の半導体層と、
(iii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第3の半導体層上の第4の半導体層であって、第4の半導体層が第3の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、第4の半導体層が上面部分に垂直な正台形断面を有する、第4の半導体層と、
(iv)第4の半導体層上の一次電気接点であって、LEDアレイ前駆体の平面に平行な第4の半導体層の上面部分上のみにある一次電気接点とを含み、
第3の半導体層は、複数の量子井戸副層を含み、量子井戸副層は、LEDアレイ前駆体の平面に平行な部分においてより大きい厚みを有し、且つLEDアレイ前駆体の平面に平行でない部分において減少した厚みを有する、モノリシックLEDアレイ前駆体を提供する。
第1の半導体層を共有する複数のLED構造を含み、第1の半導体層は、LEDアレイ前駆体の平面を画定し、各LED構造は、
(i)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第1の半導体層上の第2の半導体層であって、第2の半導体層が傾斜側面を有するように、第2の半導体層が上面部分に垂直な正台形断面を有する、第2の半導体層と、
(ii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第2の半導体層上の第3の半導体層であって、第3の半導体層が第2の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、第3の半導体層が上面部分に垂直な正台形断面を有する、第3の半導体層と、
(iii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第3の半導体層上の第4の半導体層であって、第4の半導体層が第3の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、第4の半導体層が上面部分に垂直な正台形断面を有する、第4の半導体層と、
(iv)第4の半導体層上の一次電気接点であって、LEDアレイ前駆体の平面に平行な第4の半導体層の上面部分上のみにある一次電気接点とを含み、
第3の半導体層は、複数の量子井戸副層を含み、量子井戸副層は、LEDアレイ前駆体の平面に平行な部分においてより大きい厚みを有し、且つLEDアレイ前駆体の平面に平行でない部分において減少した厚みを有する、モノリシックLEDアレイ前駆体を提供する。
ある実施形態では、第4の半導体層は、pGaNで作られている。代替実施形態では、第4の半導体層は、側壁をさらに絶縁するために、p-AlGaNで作られている。この実施形態では、側壁領域のAl含有量は平面領域よりも高く、電流注入が平面領域からのみ生じるように、側壁をさらに絶縁する。
好ましくは、LEDアレイ前駆体は、第1の半導体層と第2の半導体層との間の境界面にマスク部分を含む。LED前駆体のマスク部分は、上記第1の態様に関して説明されたものと同一であり得る。代替的に、LEDアレイ前駆体は、イオン注入によって生成される第1の半導体層のアモルファス化部分を有し得る。
好ましくは、第2の半導体層の傾斜側面から第3の半導体層の傾斜側面への間隔は、第2の半導体層の上面部分から第3の半導体層の上面部分への間隔より小さい。
好ましくは、第3の半導体層の傾斜側面から第4の半導体層の傾斜側面への間隔は、第3の半導体層の上面部分から第4の半導体層の上面部分への間隔より小さい。
任意選択で、第2の半導体層、第3の半導体層及び第4の半導体層は、アレイ内のLED構造間で共有される。これは、上述した第2の態様を用いて前駆体を製造するときに起こることがあり、それは、後続のオーバレイ成長を妨げるアモルファス基材パターンを有する。
好ましくは、複数のLED構造は、規則的な間隔のアレイを形成する。好ましくは、LED構造の第2~第4の層は、切頭六角ピラミッド形である。
有利には、上記の層組成は、良好な光発生特性及び光抽出特性を有するLED活性領域を提供する。
好ましくは、第1の半導体層は、(0001)平面を伴うウルツァイト型結晶構造を有し、第4の半導体層の略平坦な上面部分は、第1の半導体層の(0001)平面に平行である。
好ましくは、LEDアレイ前駆体のLED構造は、第2の半導体層から遠位の表面上の第1の半導体層上に共有光抽出層を含む。一実施形態において、共有光抽出層は、複数のコリメートチャネルを含み、各コリメートチャネルは、一次接点と整列されている。代替的に、第1の半導体層は、第2の半導体層から遠位の表面上の複数のLED構造に対応し
、且つ上記複数のLED構造と整列される複数のドーム又はレンズ構造を形成する。
、且つ上記複数のLED構造と整列される複数のドーム又はレンズ構造を形成する。
さらなる態様において、本開示は、本明細書で説明されるモノリシックLEDアレイ前駆体を含むモノリシックLEDアレイを提供し、量子井戸副層にわたって一次電気接点と電気通信する1つ又は複数の二次電気接点をさらに含む。このアレイは、上述した、且つ好ましくは本明細書に記載される方法から得られるような前駆体に基づく。したがって、それらの態様に記載される全ての特徴は、このさらなる態様に同様に適用する。
好ましくは、モノリシックLEDアレイは、少なくとも4つのLED構造を含む。LEDアレイは、好ましくはマイクロLEDアレイである。好ましくは、モノリシックLEDアレイは、LED構造の少なくとも第1のサブアレイ及び第2のサブアレイを含み、各サブアレイが異なる主波長において光を放射することが可能である。好ましくは、各サブアレイ内の光発生層は、狭い波長帯域幅で、好ましくは370nm~680nm、より好ましくは440nm~550nmの範囲において、光を放射する。
さらなる態様において、本開示は、本明細書に開示されるモノリシックLEDアレイを含むディスプレイデバイスを提供する。好ましくは、本開示の方法は、本明細書に開示されるLEDアレイ前駆体及びLEDアレイを生成するのに適当である。
本発明は、ここで、以下の非限定的な図面に関連して説明される。本開示のさらなる利点は、図面と併せて考慮されると詳細な説明への参照により明らかである。図面は、詳細をより明確に示すように縮尺通りではない。類似の参照番号は、複数の図を通して類似の要素を示している。
図1aは、本開示の第1の態様による、LEDアレイ前駆体の一部の平面図を示す。図1bは、直線S1に沿った垂直断面を示す。
図1のLEDアレイ前駆体1は、成長用基板(100)、第1の半導体層(110)、マスク層(120)、複数の柱状部を含む不連続の第2の半導体層(130)、複数の量子井戸副層(141)を含む不連続の第3の半導体層(140)、不連続の第4の半導体層(150)及び不連続の第4の半導体層(150)の略平坦な上面部分上の一次電気接点(160)を含む。
第2の半導体層(130)の正台形断面が断面において見られ得る。図示される実施形態では、第3の半導体層(140)及び第4の半導体層(150)の傾斜部分は、略平坦な上面部分に平行な部分よりも薄い。同様に、量子井戸副層(141)の傾斜部分は、第2の半導体層(130)の略平坦な上面部分に平行な部分よりも薄い。
図1bの平面図において、柱状部の六角形状は、第4の半導体層(150)の上面として見られ、一次電気接点(160)が各柱状部の真ん中に隔離され得る。柱状部間の領域は、マスク層(120)の上面である。
図2のLEDアレイ前駆体は、成長用基板(100)、第1の半導体層(110)、第1の半導体層のアモルファス表面領域(121)、複数の柱状部を含む第2の半導体層(130)、複数の量子井戸副層(図示せず)を含む第3の半導体層(140)、第4の半導体層(150)及び不連続の第4の半導体層(150)の略平坦な上面部分上の一次電気接点(160)を含む。
図2の実施形態では、第2の半導体層(130)、第3の半導体層(140)及び第4の半導体層(150)は、連続的である。
図3は、発明のLEDアレイ前駆体の単一LED構造の断面を示し、第1の半導体層(110)は、第2の半導体層(130)に近位の面にシリコンドープ副層(190)を含む。追加として、マスク層(120)を形成する際に、第2の半導体層(130)がシリコンドープ副層(190)を通って第1の半導体層(110)に入り込むように、第1の半導体層は、マスク層の開口の下を部分的に除去されている。
図4aは、第1の態様のLEDアレイ前駆体の単一LED構造を示しており、そこでは、成長用基板が完全に除去されており、第1の半導体層(110)は、LED構造と整列されたドームの形態に成形されている。図4bのLED構造では、ドームの表面は、凸状ドームの表面における反射を最小化するために、誘電体コーティング又はクリアエポキシ層(115)でコーティングされている。図4cでは、ドームは、図4bのようにコーティングされており、柱状部の表面は、SiO2及び/又はSiNxの透明層並びに反射層(170)でコーティングされている。具体的には、第4の半導体層(150)の傾斜部分の露出した面は、コーティングされている。有利には、これらの特徴(ドーム、ドームコーティング及び柱状部の側面のコーティング)が光抽出及びコリメーションを改善する。
本発明者らは、ピラミッド底面と整列されたドーム形状領域を追加することにより、図4a~図4cに示されるようにピラミッドからの光抽出が強化されることを発見した。有利には、これは、ピラミッドの側壁の内部全反射によって得られるようにコリメーション効果を補完する。好ましくは、ドーム形状領域は、ピラミッドの底面のサイズに一致する曲率半径を有する。即ち、ドーム形状領域の底面とピラミッドの底面とは、好ましくは略
同じサイズである。
同じサイズである。
図4d及び図4eは、本発明によるマイクロLEDの中の例示的な光経路を示す。図4dを図4eと比較すると、ピラミッド底面に整列された凸状ドームの追加により、光抽出面(光がLEDから漏れ出る面)においてマイクロLEDの内側で反射する光量が減少し、それにより光抽出効率がさらに改善される。
図5a~図5cは、本開示の3つのモデルLEDについてのシミュレートした光抽出効率値及び半値全幅ビーム角度を示す。具体的には、図5aは、柱状部の側面がコーティングされていないLEDに対応し、図5bでは側面がSiO2でコーティングされ、図5cでは側面がAg/Si3N4でコーティングされている。
ピラミッドが平坦且つ無限の光発生領域から遠位の表面上でエッチングされる、従来のLEDからの光抽出を改善することを目的とする既知の構造と比較して、開示される発明における光発生領域は、ピラミッド状構造の中に完全に含まれ、それによって横方向(LED層に平行)への光伝播を実質的に妨げる。
光発生領域は、光抽出を改善する目的でドライエッチングにより得られる(例えば、米国特許第7518149号明細書を参照)傾斜面内に完全に含まれる、既知の類似構造のさらに別のクラスと比較して、選択領域成長プロセスで得られる傾斜したファセットは、ドライエッチングにより得られる表面と比較して滑らかであり、それにより傾斜した側壁における内部全反射を促進し、垂直に近い角度で交わる光抽出面に向かってより高い割合の発生した光をコリメートするため、光抽出の点からみて優れている。
図6aは、SEM画像を示し、図6bは、本開示によるマイクロLEDのAFM測定値を示す。図6cは、側壁に対応するマイクロLEDのトポグラフィをより詳細に示す図6bにおけるAFM測定の断面である。画像は、本発明において開示される方法が滑らかなマイクロLED側壁を生成することを実証する。
異方性ドライエッチングと比較して異なる結晶面上の偏差成長率により、概してピラミッドの底面と62°に近い角度(図4aのα)を有する、より一貫して再現可能な側壁の傾斜が得られる。これは、図6cのAFM断面によって示される。
光発生領域を取り囲む傾斜側壁の存在により得られる光抽出の改善は、内部全反射の効果に帰する一方、大部分の光が傾斜ファセットによって既に部分的にコリメートされており、したがって垂直に近い角度で内部ドーム面と交わるため、ドーム形状領域を追加することにより得られる光抽出の強化は、光抽出面における内部全反射の減少から生じることが当業者により理解される。したがって、ドーム形状面からの光抽出が内部全反射に依存しないということを考慮して、ドライエッチングによってドームを得ることは、本明細書により開示される作動原理を損なうことを構成しない。
図7は、本開示のLEDアレイを通る断面を示す。図7のLEDアレイは、図1のLEDアレイ前駆体を含む。アレイ前駆体は、裏返され、バックプレーン基板(200)及びバックプレーンコンタクトパッド(202)を含むバックプレーンに接着されている。LEDアレイ前駆体の成長用基板は除去され、粗化層(112)は、第1の半導体層(110)の露出した表面上にラミネートされている。加えて、二次電気接点(180)は、第1の半導体層に付けられている。一次電気接点及び二次電気接点は、LED構造を介して互いに電気接触している。
上述した且つ後述する様々な実施形態は、単一LEDデバイスに結合され得ることが当
業者により理解されるであろう。例えば、図4に示されるような、ドーム、ドームコーティング115及び柱状部のコーティングされた側面(170)は、図3のシリコンドープされた副層(190)と組み合わされ得る。
業者により理解されるであろう。例えば、図4に示されるような、ドーム、ドームコーティング115及び柱状部のコーティングされた側面(170)は、図3のシリコンドープされた副層(190)と組み合わされ得る。
図13は、本開示のさらなる態様によるLED構造を示す。LED構造は、第4の半導体層150の傾斜面上に位置するスペーサ300の追加特徴を伴い、図1~4に関連して上述された通りである。スペーサ300は、屈折率n1を有する二酸化ケイ素から形成される。代替の実施形態では、スペーサは、窒化ケイ素又は酸化チタンから形成される。スペーサの外表面又は外面は、例示する実施形態では、疑似放物面状プロファイルを有する一方、それらは、2つの制御点及び係数Bを有するベジェ曲線の範囲によって描かれる任意の適当なプロファイルを有し得、Bは、0.1、0.5、0.2及び0.05の1つである。好ましい実施形態では、ベジェ係数は、0.5であり、その結果、側壁から外側に角度を有する側面が略直線状のスペーサをもたらす。
ある実施形態では、スペーサ300は、屈折率n1及びn2をそれぞれ有する内側部分及び外側部分から形成される。好ましい実施形態では、n1>n2であり、これは、内部スペーサ材料として窒化ケイ素、第2のスペーサ材料として酸化アルミニウムを使用することによって実現され得る。さらなる実施形態では、追加のスペーサ層は、第4の半導体層150(即ちn1>n2>nN)の側壁から離れて屈折率が低下して使用され得る。概略的な図13では、2つの別個のスペーサとして描かれているが、スペーサは、実際には発光構造を取り囲む連続層として形成され得る。
スペーサ300の外面上に延びる反射導電層310も示されている。ある実施形態では、反射導電層310は、アルミニウム又は銀から形成され、Ra=50nmの表面粗度を有する。好ましい実施形態では、デバイスの光抽出効率を低下させる光の拡散を妨げるように、表面粗度はRa<10nmである。スペーサ300の外面を覆うことに加えて、反射導電層310は、電流拡散層として機能するように、スペーサ310又は一次電気接点160によって覆われない第4の半導体層150の任意の部分の上にも延び得る。
図14~図16は、図13に示される構造に対応するLEDアレイの製作プロセスを示す。図1bに示される構造から始まって、スペーサが第4の半導体層150の傾斜面上に成膜される(図14b)。ある実施形態では、傾斜面は、二酸化ケイ素、窒化ケイ素又は酸化スズのコンフォーマルフィルムが成膜される前に、二酸化ケイ素、酸化アルミニウム又は窒化立方アルミニウムの層の塗布により、最初に側壁パッシベーションを受ける。これは、次いで、所望のスペーサ形状を形成するためにグローバルエッチバックプロセスを受ける。任意選択で、下層の傾斜面の表面粗度は、ドライエッチングを行うこと又は適当なレジストプロファイルを有するフォトリソグラフィックレジストを使用することのいずれかにより調整され得る。有利には、粗化された側壁は、輝度均一性を改善し、LED構造からの光抽出を強化することが分かっている一方、スペーサ300の付加後、LED構造のプロファイルが所望により成形されることが可能となる。
反射導電材料310は、次いでスペーサ300及び/又は第4の半導体層150の露出した部分の上に成膜されて、光抽出効率をさらに強化する(図15a)。
成長用基板及びLED構造は、次いで、既知のプロセスによって裏返され、CMOSバックプレーンウェハに整列及び接着される(図15b)。バックプレーンウェハは、バックプレーン基板(200)及びバックプレーンコンタクトパッド(202)を含む。LEDアレイ前駆体の成長用基板は、次いで、除去され(図16a)、透明導電性酸化物層330は、第1の半導体(110)の露出面に塗布される。ある実施形態では、層330は酸化インジウムスズITOから形成され、それぞれのLED構造を介して一次接点と電気
接続する共通の二次電気接点として機能する。さらなる実施形態では、層330は、各LED構造の上に光抽出特徴(レンズ状構造など)を提供するようにパターニング又は成形され得る。
接続する共通の二次電気接点として機能する。さらなる実施形態では、層330は、各LED構造の上に光抽出特徴(レンズ状構造など)を提供するようにパターニング又は成形され得る。
光抽出効率をさらに上昇させるために、透明導電性酸化物層330の屈折率は、透明導電性酸化物の多孔性の変化を通して変化され得る。ITOなどの透明導電性酸化物の多孔性を変化させる1つの既知の方法は、電子ビーム蒸着を用いた斜め蒸着である。蒸気フル蒸着に対して成膜面の角度を変化させることにより、成膜されたままの材料によってかかる影の量が制御され得、それにより形成されたままの層の多孔性を制御する。ITOのための斜め蒸着のさらなる説明は、少なくとも“Light-Extraction Enhancement of GaInN Light Emitting Diodes
by Graded-Refractive-Index Indium Tin Oxide Anti-Reflection Contact”,Jong Kyu Kim et.al.,Advanced Materials,vol.20,no.4
pp.801-804(2008)の中に見つけられ得る。
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使用中、電流がLED構造にわたって印加される。量子井戸によって放射される光は、直接的に、或いはi)スペーサ300との境界面における反射及び/若しくは屈折により、ii)反射導電層310により、又はiii)上記の組み合わせを含む構造の中の多重反射により、放射する光の方に向けられる。したがって、LED構造は、光の透過を可能にするために臨界角度範囲内の発光面への入射光の比率を増加させるように配置される。
図17は、一次電気接点が概して凸状外面を有する透明導電性酸化物320を用いて形成され、凸状外面の上に反射導電層310が延びる、さらなる実施形態を示す。これにより、p型コンタクト160がLED構造から放射される光の放射角を狭めるように作用する拡張リフレクタとして機能することが可能となる。
図18~図20は、図17に示される構造に対応するLEDアレイの製作プロセスを示す。図1bに示される構造から始まって(一次電気接点160の形成前であるが)、スペーサが第4の半導体層150の傾斜面上に形成される(図18b)。透明導電性酸化物320は、次いで、第4の半導体層の露出面上に成膜され(図19a)、凸状外面をもたらすように既知の化学的手段又は機械的手段によって成形される。反射導電材料は、次いで、光抽出効率をさらに強化するためにスペーサ300、透明導電性酸化物320及び/又は第4の半導体層150の露出部分の上に成膜される(図19b)。
成長用基板及びLED構造は、次いで、既知のプロセスによって裏返され、CMOSバックプレーンウェハに整列及び接着され(図20a)、バックプレーンコンタクトパッド(202)は、反射導電層310を介してLED構造への電気接点を形成する。LEDアレイ前駆体の成長用基板は、次いで除去され(図20b)、さらなる透明導電性酸化物層330が第1の半導体層(110)の露出面に塗布される。上述の通り、層330は、酸化インジウムスズITOから形成され得、それぞれのLED構造を介して一次接点と電気接続する共通の二次電気接点として機能する。層330は、各LED構造の上に光抽出特徴(レンズ状構造など)を提供するようにパターニング又は成形され得る。層330の屈折率は、図16bに関して説明されたようにも変化され得る。
図21は、透明導電性酸化物320(酸化インジウムスズなど)が一次接点160及びスペーサ材料300の両方として使用される、さらなる実施形態を示す。これは、LED構造を通して進む光によって経験される屈折率においてより低いコントラストをもたらす。上記実施形態では、二酸化ケイ素マスク層120(n=1.5)を通って、(ITOがn=2.0を有する)層320を通過し、最終的にGaN半導体層(n=2.4)に到達
する光は、二酸化ケイ素の比較的低い率のために後方反射を経験する可能性が高い。図21(b)の実施形態では、スペーサ300は、酸化インジウムスズから形成され、絶縁(アンドープ)AlGaN層125(より高い屈折率n=2.4を有する)は、透明導電性酸化物320と第1の半導体層110との間に設けられる。したがって、フレネル反射の確率は、二酸化ケイ素マスク層120が除去されるときに低下する一方、アンドープAlGaN層125が一次電気接点320と第1の半導体層110との間の短絡を防止する。
する光は、二酸化ケイ素の比較的低い率のために後方反射を経験する可能性が高い。図21(b)の実施形態では、スペーサ300は、酸化インジウムスズから形成され、絶縁(アンドープ)AlGaN層125(より高い屈折率n=2.4を有する)は、透明導電性酸化物320と第1の半導体層110との間に設けられる。したがって、フレネル反射の確率は、二酸化ケイ素マスク層120が除去されるときに低下する一方、アンドープAlGaN層125が一次電気接点320と第1の半導体層110との間の短絡を防止する。
図22~23は、図13に示されるデバイスのシミュレーションを示す。
図22bは、ディスプレイに結合された光学系の受光角に対するシミュレートされた結合効率利得を示し、受光角θは図22aに示されている。結合利得は、ランバートエミッタに対する本発明のコリメートされたビームの結合効率の比率として定義される。したがって、投影/中継レンズF/2の場合、受光角は約14度であり、それは、約2倍の結合利得をもたらす。これは、従来のランバートディスプレイと比較した場合、2倍の光がF/2レンズに結合されることを意味する。
図23a及び図23bは、シミュレートされたデバイスから放出された光の角度分布及び極性分布を示して、図23aは、40°の全幅半値を示す。
したがって、先行技術に対する外部量子効率についての著しい改善に影響を及ぼすために高い光抽出効率を維持する一方での内部量子効率の増加、より高いインチ毎の画素(PPI)でより小さいマイクロLEDの製造を可能にする、マスク層の数の減少及びより狭い角度放出分布における利点をもたらす、LEDアレイ前駆体、LEDアレイ及びそれらを製造する方法が提供される。
発明の好ましい実施形態が本明細書に詳細に記載されているが、発明の範囲又は添付の特許請求の範囲から逸脱することなくそれらに対して変形が行われ得ることが当業者により理解されるであろう。
採番された記述
1.モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法であって、
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)複数の開口を含むマスク層を第1の半導体層上に成膜することにより、第1の半導体層を選択的にマスクすることと、
(iv)基板に垂直な正台形断面及び略平坦な上面部分をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、マスク層の開口を通して第1の半導体層の非マスク部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、第4の半導体層は、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、それにより、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと
を含む方法。
1.モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法であって、
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)複数の開口を含むマスク層を第1の半導体層上に成膜することにより、第1の半導体層を選択的にマスクすることと、
(iv)基板に垂直な正台形断面及び略平坦な上面部分をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、マスク層の開口を通して第1の半導体層の非マスク部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、第4の半導体層は、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、それにより、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと
を含む方法。
2.第2の半導体層、第3の半導体層及び第4の半導体層が不連続である、採番された記述1に記載の方法。
3.ステップ(iii)は、(a)連続的なマスク層を成膜することと、(b)複数の
開口を提供するために上記マスク層の複数の部分を選択的に除去することとを含み、任意選択的に、上記マスク層の複数の部分を選択的に除去することは、第1の半導体層の複数の対応する部分を選択的に除去することを含む、採番された記述1又は採番された記述2に記載の方法。
開口を提供するために上記マスク層の複数の部分を選択的に除去することとを含み、任意選択的に、上記マスク層の複数の部分を選択的に除去することは、第1の半導体層の複数の対応する部分を選択的に除去することを含む、採番された記述1又は採番された記述2に記載の方法。
4.モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法であって、
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)アモルファス表面パターンを形成するために第1の半導体層を選択的に処理することであって、アモルファス表面パターンは、第1の半導体層の複数の未処理部分を画定する、処理することと、
(iv)基板に垂直な正台形断面及び略平坦な上面部分をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、第1の半導体層の未処理部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、第4の半導体層は、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと
を含む方法。
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)基板の表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)アモルファス表面パターンを形成するために第1の半導体層を選択的に処理することであって、アモルファス表面パターンは、第1の半導体層の複数の未処理部分を画定する、処理することと、
(iv)基板に垂直な正台形断面及び略平坦な上面部分をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、第1の半導体層の未処理部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、第4の半導体層は、略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)第4の半導体層の略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと
を含む方法。
5.複数の開口は、規則的な間隔のアレイを形成する、採番された記述1~4のいずれか1つに記載の方法。
6.第1の半導体層は、(0001)平面を伴うウルツァイト型結晶構造を有し、第4の半導体層の略平坦な上面部分は、第1の半導体層の(0001)平面に平行である、採番された記述1~5のいずれか1つに記載の方法。
7.モノリシックLEDアレイを形成するために量子井戸副層にわたって一次電気接点と電気通信する1つ又は複数の二次電気接点を形成することであって、好ましくは1つ又は複数の二次電気接点は、第1の半導体層上に形成される、形成することをさらに含む、採番された記述1~6のいずれか1つに記載の方法。
8.モノリシックLEDアレイ前駆体は、LED構造の少なくとも第1のサブアレイ及び第2のサブアレイを含み、各サブアレイは、異なる主波長において光を放射することが可能である、採番された記述1~7のいずれか1つに記載の方法。
9.第2の半導体層の複数の柱状部のそれぞれに対応し、且つ複数の柱状部のそれぞれと整列される複数のドーム又はレンズ構造を形成するために、基板を少なくとも部分的に除去し、且つ第1の半導体層を少なくとも部分的に除去するステップをさらに含む、採番された記述1~8のいずれか1つに記載の方法。
10.基板は、複数のコリメートチャネルを形成するために選択的に除去され、コリメートチャネルのそれぞれは、第4の半導体層の略平坦な上面部分上に形成された一次接点と整列される、採番された記述1~9のいずれか1つに記載の方法。
11.採番された記述1~10のいずれか1つに記載の方法によって得られる、モノリシックLEDアレイ前駆体又はLEDアレイ。
12.モノリシックLEDアレイ前駆体であって、
第1の半導体層を共有する複数のLED構造を含み、第1の半導体層は、LEDアレイ前駆体の平面を画定し、各LED構造は、
(i)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第1の半導体層上の第2の半導体層であって、第2の半導体層が傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第2の半導体層と、
(ii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第2の半導体層上の第3の半導体層であって、第3の半導体層が、第2の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第3の半導体層と、
(iii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第3の半導体層上の第4の半導体層であって、第4の半導体層が、第3の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第4の半導体層と、(iv)第4の半導体層上の一次電気接点であって、LEDアレイ前駆体の平面に平行な第4の半導体層の上面部分上のみにある一次電気接点と
を含み、第3の半導体層は、複数の量子井戸副層を含み、量子井戸副層は、LEDアレイ前駆体の平面に平行な部分においてより大きい厚みを有し、且つLEDアレイ前駆体の平面に平行でない部分において減少した厚みを有する、モノリシックLEDアレイ前駆体。
第1の半導体層を共有する複数のLED構造を含み、第1の半導体層は、LEDアレイ前駆体の平面を画定し、各LED構造は、
(i)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第1の半導体層上の第2の半導体層であって、第2の半導体層が傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第2の半導体層と、
(ii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第2の半導体層上の第3の半導体層であって、第3の半導体層が、第2の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第3の半導体層と、
(iii)LEDアレイ前駆体の平面に平行な上面部分を有する、第3の半導体層上の第4の半導体層であって、第4の半導体層が、第3の半導体層の傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、上面部分に垂直な正台形断面を有する第4の半導体層と、(iv)第4の半導体層上の一次電気接点であって、LEDアレイ前駆体の平面に平行な第4の半導体層の上面部分上のみにある一次電気接点と
を含み、第3の半導体層は、複数の量子井戸副層を含み、量子井戸副層は、LEDアレイ前駆体の平面に平行な部分においてより大きい厚みを有し、且つLEDアレイ前駆体の平面に平行でない部分において減少した厚みを有する、モノリシックLEDアレイ前駆体。
13.第2の半導体層の傾斜側面から第3の半導体層の傾斜側面への間隔は、第2の半導体層の上面部分から第3の半導体層の上面部分への間隔より小さく、及び/又は第3の半導体層の傾斜側面から第4の半導体層の傾斜側面の間隔は、第3の半導体層の上面部分から第4の半導体層の上面部分への間隔より小さい、採番された記述12に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
14.各層の傾斜面は、複数の平面ファセットを形成する、採番された記述12又は採番された記述13に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
15.第2の半導体層、第3の半導体層及び第4の半導体層は、LED構造間で共有される、採番された記述12~14のいずれか1つに記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
16.第1の半導体層は、(0001)平面を伴うウルツァイト型結晶構造を有し、第4の半導体層の略平坦な上面部分は、第1の半導体層の(0001)平面に平行である、採番された記述12~15のいずれか1つに記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
17.第1の半導体層は、複数のLED構造に対応し、且つ複数のLED構造と整列された複数のレンズ構造を含む、採番された記述12~15のいずれか1つに記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
18.採番された記述12~17のいずれか1つに記載のモノリシックLEDアレイ前駆体を含み、量子井戸副層にわたって一次電気接点と電気通信する1つ又は複数の二次電気接点をさらに含む、モノリシックLEDアレイ。
19.モノリシックLEDアレイは、LED構造の少なくとも第1のサブアレイ及び第2のサブアレイを含み、各サブアレイが異なる主波長において光を放射することが可能である、採番された記述18に記載のモノリシックLEDアレイ。
20.採番された記述18又は19に記載のモノリシックLEDアレイを含む、ディスプレイデバイス。
Claims (25)
- モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法であって、
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)前記基板の前記表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)複数の開口を含むマスク層を前記第1の半導体層上に成膜することにより、前記第1の半導体層を選択的にマスクすることと、
(iv)傾斜側面及び略平坦な上面部分を伴う、前記基板に垂直な正台形断面をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、前記マスク層の前記開口を通して前記第1の半導体層の非マスク部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)前記第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、前記第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、且つ傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)前記第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、前記第4の半導体層は、傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)前記第4の半導体層の前記略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、前記第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと、
(viii)前記第4の半導体層の前記傾斜側面上に電気絶縁性の光学的透明スペーサを形成することであって、前記スペーサは、前記第4の半導体層の前記傾斜側面に面する内面及び対向する外面を有する、形成することと、
(ix)前記スペーサの前記外面の上に反射導電層を成膜することと
を含む方法。 - ステップ(iii)は、(a)連続的なマスク層を成膜することと、(b)複数の開口を提供するために前記マスク層の複数の部分を選択的に除去することとを含み、任意選択的に、前記マスク層の複数の部分を選択的に除去することは、前記第1の半導体層の複数の対応する部分を選択的に除去することを含む、請求項1に記載の方法。
- モノリシックLEDアレイ前駆体を形成する方法であって、
(i)表面を有する基板を提供することと、
(ii)前記基板の前記表面上に連続的な第1の半導体層を形成することと、
(iii)アモルファス表面パターンを形成するために、前記第1の半導体層を選択的に処理することであって、前記アモルファス表面パターンは、前記第1の半導体層の複数の未処理部分を画定する、選択的に処理することと、
(iv)傾斜側面及び略平坦な上面部分を伴う、前記基板に垂直な正台形断面をそれぞれ有する複数の柱状部を形成するために、前記第1の半導体層の前記未処理部分上に第2の半導体層を成長させることと、
(v)前記第2の半導体層を覆う第3の半導体層を形成することであって、前記第3の半導体層は、1つ又は複数の量子井戸副層を含み、且つ傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vi)前記第3の半導体層を覆う第4の半導体層を形成することであって、それにより、前記第4の半導体層は、傾斜側面及び略平坦な上面部分を有する、形成することと、
(vii)前記第4の半導体層の前記略平坦な上面部分上に一次電気接点を形成することであって、前記第1~第4の半導体層は、III族窒化物を含む、形成することと、
(viii)前記第4の半導体層の前記傾斜側面上に電気絶縁性の光学的透明スペーサを形成することであって、前記スペーサは、前記第4の半導体層の前記傾斜側面に面する内面及び対向する外面を有する、形成することと、
(ix)前記スペーサの前記外面の上に反射導電層を成膜することと
を含む方法。 - 前記一次電気接点を形成することは、前記第4の半導体層の前記略平坦な上面部分と接触する内面及び凸状外面を有する透明導電性酸化物を成膜することを含む、請求項1~3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記透明導電性酸化物の前記凸状外面の上に反射導電層を成膜することをさらに含む、請求項4に記載の方法。
- 前記スペーサの前記外面は、疑似放物面状若しくは放物面状プロファイルを有し、及び/又は前記スペーサの前記外面の前記プロファイルは、0.5のベジェ係数と共に2つの制御点を有するベジェ曲線を近似する、請求項1~5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記スペーサは、透明導電性酸化物から形成され、及び絶縁層は、前記透明導電性酸化物スペーサと、前記下にある第1の半導体層との間に提供される、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記スペーサは、二酸化ケイ素、窒化ケイ素又は酸化チタンのいずれか1つから形成される、請求項1~6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記スペーサの前記内面は、第1の材料から形成され、及び前記スペーサの前記外面は、第2の材料から形成され、前記第1の材料は、前記第2の材料よりも高い屈折率を有する、請求項1~8のいずれか一項に記載の方法。
- モノリシックLEDアレイを形成するために、前記量子井戸副層にわたって前記一次電気接点と電気通信する1つ又は複数の二次電気接点を形成することをさらに含み、好ましくは、前記1つ又は複数の二次電気接点は、前記第1の半導体層上に形成される、請求項1~9のいずれか一項に記載の方法。
- 前記第2の半導体層の前記複数の柱状部のそれぞれに対応し、且つそれと整列される複数のドーム又はレンズ構造を形成するために、前記基板を少なくとも部分的に除去し、且つ前記第1の半導体層を少なくとも部分的に除去するステップをさらに含む、請求項1~10のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基板は、複数のコリメートチャネルを形成するために選択的に除去され、前記コリメートチャネルのそれぞれは、前記第4の半導体層の前記略平坦な上面部分上に形成された一次接点と整列される、請求項1~11のいずれか一項に記載の方法。
- 請求項1~12のいずれか一項に記載の方法によって得ることができるモノリシックLEDアレイ前駆体又はLEDアレイ。
- モノリシックLEDアレイ前駆体であって、第1の半導体層を共有する複数のLED構造を含み、前記第1の半導体層は、前記LEDアレイ前駆体の平面を画定し、各LED構造は、
(i)前記LEDアレイ前駆体の前記平面に平行な上面部分を有する、前記第1の半導体層上の第2の半導体層であって、前記第2の半導体層が傾斜側面を有するように、前記上面部分に垂直な正台形断面を有する第2の半導体層と、
(ii)前記LEDアレイ前駆体の前記平面に平行な上面部分を有する、前記第2の半導体層上の第3の半導体層であって、前記第3の半導体層が、前記第2の半導体層の前記傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、前記上面部分に垂直な正台形断面を有する第3の半導体層と、
(iii)前記LEDアレイ前駆体の前記平面に平行な上面部分を有する、前記第3の
半導体層上の第4の半導体層であって、前記第4の半導体層が、前記第3の半導体層の前記傾斜側面に平行な傾斜側面を有するように、前記上面部分に垂直な正台形断面を有する第4の半導体層と、
(iv)前記第4の半導体層上の一次電気接点であって、前記LEDアレイ前駆体の前記平面に平行な前記第4の半導体層の前記上面部分上のみにある一次電気接点と、
(v)前記第4の半導体層の前記傾斜側面上の電気絶縁性の光学的透明スペーサであって、前記第4の半導体層の前記傾斜側面に面する内面及び対向する外面を有する、電気絶縁性の光学的透明スペーサと、
(vi)前記スペーサの前記外面の上に延びる導電性の反射層と
を含み、前記第3の半導体層は、複数の量子井戸副層を含み、前記量子井戸副層は、前記LEDアレイ前駆体の前記平面に平行な部分においてより大きい厚みを有し、且つ前記LEDアレイ前駆体の前記平面に平行でない部分において減少した厚みを有する、モノリシックLEDアレイ前駆体。 - 前記一次電気接点は、前記第4の半導体層の前記略平坦な上面部分と接触する内面及び凸状外面を有する透明導電性酸化物を含む、請求項14に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 前記反射導電層は、前記透明導電性酸化物の前記凸状外面の上に延びる、請求項14又は15に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 前記スペーサの前記外面は、疑似放物面状若しくは放物面状プロファイルを有し、及び/又は前記スペーサの前記外面の前記プロファイルは、0.5のベジェ係数と共に2つの制御点を有するベジェ曲線を近似する、請求項14~16のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 前記スペーサは、透明導電性酸化物から形成され、及び絶縁層は、前記透明導電性酸化物スペーサと、前記下にある第1の半導体層との間に提供される、請求項14~17のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 前記スペーサは、二酸化ケイ素、窒化ケイ素又は酸化チタンのいずれか1つから形成される、請求項14~17のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 前記スペーサの前記内面は、第1の材料から形成され、及び前記スペーサの前記外面は、第2の材料から形成され、前記第1の材料は、前記第2の材料よりも高い屈折率を有する、請求項14~19のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 前記第2の半導体層の前記傾斜側面からの前記第3の半導体層の前記傾斜側面の間隔は、前記第2の半導体層の前記上面部分からの前記第3の半導体層の前記上面部分の間隔より小さく、及び/又は前記第3の半導体層の前記傾斜側面からの前記第4の半導体層の前記傾斜側面の間隔は、前記第3の半導体層の前記上面部分からの前記第4の半導体層の前記上面部分の間隔より小さい、請求項14~20のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 前記第1の半導体層は、前記複数のLED構造に対応し、且つそれと整列された複数のレンズ構造を含む、請求項14~21のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体。
- 請求項14~22のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイ前駆体を含み、且つ前記量子井戸副層にわたって前記一次電気接点と電気通信する1つ又は複数の二次電気
接点をさらに含むモノリシックLEDアレイ。 - 前記二次電気接点は、前記第1の半導体層と接触する透明導電性酸化物層によって提供される、請求項23に記載のモノリシックLEDアレイ。
- 請求項14~24のいずれか一項に記載のモノリシックLEDアレイを含むディスプレイデバイス。
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