JP2023525861A - 基板移送のためのフローティングピン - Google Patents
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Abstract
基板支持体に対して基板を位置決めするためのフローティングピンが、基板支持体内のガイド孔を通過するように構成されたシャフトと、頂面および頂面とシャフトとの間に配置された平坦なショルダ面を含むピンヘッドとを含む。平坦なショルダ面は、基板支持体の凹面に位置付けられ、基板支持体のガイド孔を封止するように構成されている。
Description
本開示の実施形態は、一般に、半導体基板を処理するための方法および装置に関する。より詳細には、本開示の実施形態は、基板支持体に対して基板を位置決めするためのリフトピンアセンブリに関する。
従来の半導体基板処理ツール(たとえば、クラスタツール)は、基板処理中に1つまたは複数のプロセスを実行するように構成される。たとえば、クラスタツールは、基板上で物理的気相堆積(PVD)プロセスを実行するように構成されたPVDチャンバ、基板上で原子層堆積(ALD)プロセスを実行するように構成されたALDチャンバ、基板上で化学気相堆積(CVD)プロセスを実行するように構成されたCVDチャンバなど、および/または1つもしくは複数の他の処理チャンバ、たとえば前洗浄プロセスチャンバを含むことができる。クラスタツールは、クラスタツールのメインフレームに結合された様々な処理チャンバ、バッファチャンバ、および/またはロードロックの内外へ基板を動かすためのロボットを含むことができる。
そのような半導体基板処理ツール(すなわち、クラスタツール)は、1つの基板または複数の基板を処理するのに好適であるが、リフトピンを収容するためのガイド孔を有する基板支持体からプロセスガスが漏れる。リフトピンは、基板をロボットアームから基板支持体へ移送するために使用される。そのようなプロセスガスの漏れは、基板と基板を堆積させた基板支持体との間の熱接触抵抗に影響し、基板処理中に基板支持体に対する基板の不適切かつ不均一のチャッキングを招く。既存のリフトピンは、基板を基板支持体へ移送することだけが有効にされ、プロセスガスの漏れを回避するためのいかなるタイプの封止も提供しない。
したがって、基板を基板支持体へ移送するとともに、基板支持体を通じたプロセスガスの漏れを低減させるための封止を提供するリフトピンが、当技術分野で必要とされている。
本明細書に記載する実施形態は、基板支持体に対して基板を位置決めするためのフローティングピンを提供する。フローティングピンは、基板支持体内のガイド孔を通過するように構成されたシャフトと、頂面および頂面とシャフトとの間に配置された平坦なショルダ面を含むピンヘッドとを含む。平坦なショルダ面は、基板支持体の凹面に位置付けられ、基板支持体のガイド孔を封止するように構成される。
本明細書に記載する実施形態はまた、基板支持体に対して基板を位置決めするためのリフトピンアセンブリを提供する。リフトピンアセンブリは、ピンヘッドおよびシャフトを有するフローティングピンと、ピンヘッドとは反対側のシャフトの端部に接触し、基板支持体内のガイド孔にシャフトを通過させるように構成されたリフトピンとを含む。ピンヘッドは、頂面および頂面とシャフトとの間に配置された平坦なショルダ面を含み、平坦なショルダ面は、基板支持体の凹面に位置付けられ、基板支持体のガイド孔を封止するように構成される。
本明細書に記載する実施形態はまた、処理システムを提供する。処理システムは、ガイド孔が通過する基板支持体と、リフトピンアセンブリとを含む。ガイド孔は、位置付け部分およびガイド部分を含む。位置付け部分は、基板支持体の前面とガイド部分との間に平坦なショルダ面を含む。リフトピンアセンブリは、位置付け部分内に位置付けられるように構成されたピンヘッドと、ガイド部分を通過するように構成されたシャフトとを有するフローティングピンを含む。リフトピンは、ピンヘッドとは反対側のシャフトの端部に接触し、基板支持体内のガイド孔にフローティングピンを通過させるように構成される。ピンヘッドは、頂面および頂面とシャフトとの間に配置された平坦なショルダ面を含み、ピンヘッドの平坦なショルダ面は、位置付け部分の平坦なショルダ面に位置付けられ、基板支持体のガイド孔を封止するように構成される。
本開示の上記の特徴を詳細に理解することができるように、実施形態を参照することによって、上記で簡単に要約した本開示のより具体的な説明を得ることができ、実施形態のいくつかは添付の図面に示されている。しかし、添付の図面は例示的な実施形態のみを示し、したがってその範囲を限定すると見なされるべきではなく、他の等しく有効な実施形態も認めることができることに留意されたい。
理解を容易にするために、可能な限り、これらの図に共通する同一の要素を指すために同一の参照番号を使用した。さらなる記述がなくても、一実施形態の要素および特徴を他の実施形態に有益に組み込むことができることが企図される。
基板処理のための装置およびシステムの実施形態が、本明細書に提供される。特に、いくつかの実施形態は、フローティングピンと、基板支持体のガイド孔にフローティングピンを通過させるリフトピンとを含むリフトピンアセンブリを対象とする。後述するフローティングピンは、平坦なショルダを有するピンヘッド含み、平坦なショルダは、基板支持体の凹面に位置付けられ、基板支持体のガイド孔を封止する。この封止により、ガイド孔からのガス漏れが防止され、したがって処理チャンバ内のプロセス圧力が維持される。いくつかの実施形態では、ピンヘッドはまた、平坦なショルダ面の上に皿穴部分を有し、ガイド孔のさらなる封止を提供する。
図1は、本開示の少なくともいくつかの実施形態によるシステム100の上面図である。システム100は、フロントエンドモジュール110、インターフェースモジュール120、および1対のロードロック130(以下、ロードロック130と呼ぶ)を含む。システムはまた、バッファ(または真空移送)チャンバ140と、複数の処理チャンバ160a~160d(以下、処理チャンバ160)ならびに/または密閉区域170aおよび170b(以下、密閉区域170)を含む複数(たとえば、3つ)の多環境チャンバ150a~150cとを含む。
図2は、図1に関して上述した任意の処理チャンバを含む処理システム200の断面図を示す。処理システム200は概して、ガス源204に結合されたチャンバ本体202を備える。チャンバ本体202は典型的に、単体の機械加工された構造であり、アルミニウムなどの剛性の材料ブロックから製作される。チャンバ本体202内には、シャワーヘッド206および基板支持アセンブリ210が位置する。シャワーヘッド206は、チャンバ本体202の上面または蓋に結合されており、ガス源204から均一のガスの流れを提供し、このガス流は、基板支持アセンブリ210上に位置決めされた基板208の上に分散させられる。
基板支持アセンブリ210は概して、基板支持体212および心棒214を含む。心棒214は、基板支持体212をチャンバ本体202内に位置決めする。処理中は、基板支持体212の上に基板208が配置される。基板支持体212は、サセプタ、ヒータ、静電チャック、または真空チャックとすることができる。典型的に、基板支持体212は、セラミック、アルミニウム、ステンレス鋼、およびこれらの組合せから選択された材料から製作される。基板支持体212を通って、複数のガイド孔216が配置される。各ガイド孔216、または別法として、ガイド孔216内に配置されたガイドブッシングの内側通路(図3に示すブッシュ機構304内の貫通孔306など)が、リフトピンアセンブリ220のフローティングピン218を収容する。
リフトピンアセンブリ220は、基板支持体212と相互作用し、基板支持体212に対して基板208を位置決めする。リフトピンアセンブリ220は、フローティングピン218と、リフトピン224が配置されたリフト板222と、リフト板222に接続された心棒226と、リフト板222の高さを制御するためのアクチュエータなどの持上げ機構228とを含む。心棒226の高さが、持上げ機構228によって制御される。持上げ機構228は、空圧シリンダ、水圧シリンダ、親ねじ、ソレノイド、ステッパモータ、または他の運動デバイスとすることができ、典型的にチャンバ本体202の外側に位置決めされ、心棒226を動かすように適合される。心棒226および心棒226に接続されたリフト板222が基板支持体212に向かって上方へ動かされると、リフト板222に取り付けられたリフトピン224がフローティングピン218の下端に接触して、基板支持体212のガイド孔216にフローティングピン218を通過させる。フローティングピン218の上端は、基板支持体212のガイド孔216を出て基板208を持ち上げ、基板支持体212の前面212aから隔置された関係にする。
フローティングピン218は典型的に、セラミック、ステンレス鋼、アルミニウム、窒化アルミニウム、酸化アルミニウム、サファイア、または他の好適な材料から形成される。いくつかの実施形態では、フローティングピン218は、窒化アルミニウム(AlN)から形成される。AlNから形成されたフローティングピンは、その熱伝導率がより高いため、リフトピンの熱放散容量を改善する。所望される場合、熱伝導率をさらに高めるために、フローティングピン218は、約2質量%~約5質量%のAlN含有酸化イットリウム(Y2O3)とすることができる。加えて、摩擦および表面の摩耗を低減させるように、フローティングピン218の円筒形の外面を処理することができる。たとえば、摩擦の低減、表面硬度の変更、平滑さの改善、または引っ掻きおよび腐食に対する耐性の改善のために、フローティングピン218の円筒形の外面にはんだ、プラズマ溶射、または電気研磨を施すことができる。リフトピン224は、ステンレス鋼(SST)から形成することができる。
図3は、図2のフローティングピン218として使用することができる伸縮式のフローティングピン302を示す。ブッシュ機構304が基板支持体212のガイド孔216に少なくとも部分的に嵌められ、基板支持体212の裏面212bに結合される。ブッシュ機構304は、貫通孔306を有する。ブッシュ機構304は、セラミックから作ることができる。伸縮式のピン302は、ピンヘッド308およびシャフト310を有する。ピンヘッド308は、伸縮式のフローティングピン302が押し上げられて基板208を持ち上げたときに基板208に接触する丸めた先端312を有する。ピンヘッド308は、シャフト310より大きい横径を有する。シャフト310は、ブッシュ機構304の貫通孔306を通って延びる。伸縮式のフローティングピン302は、ピンヘッド308からシャフト310へ傾斜面314を有する。
ブッシュ機構304は、挿入部分318およびフランジ部分320を有する。挿入部分318は、基板支持体212の裏面212bから基板支持体212のガイド孔216に挿入され、フランジ部分320は、基板支持体212の裏面212bに接触する(裏面212bとの封止を形成する)。ブッシュ機構304は、たとえばフランジ部分320を通って基板支持体212に留められたねじによって、基板支持体212に固定することができる。挿入部分318の側壁外面は、ガイド孔216の側壁面に接触することができるが、これらの間にいくらかの間隙が生じてもよい。
挿入部分318はまた、挿入部分318の側壁外面からブッシュ機構304の貫通孔306の側壁内面まで延びる傾斜面316を有する。挿入部分318の傾斜面316は概して、伸縮式のフローティングピン302の傾斜面314に一致する。基板208が基板支持体212の前面212aに位置する後退位置で、2つの傾斜面314、316は嵌合する。フランジ部分320が基板支持体212の裏面212bに接触し、2つの傾斜面314、316が嵌合することで、ガイド孔216に封止が生じ、基板支持体212を通るガス漏れおよび粒子汚染が低減され、したがって処理中に処理チャンバ内の圧力が維持される。
後退位置で、対応するリフトピン224は、伸縮式のフローティングピン302に持上げ力を提供しておらず、伸縮式のフローティングピン302から分離することができる。この位置で、重力以外の力は伸縮式のフローティングピン302に作用していない。重力により、伸縮式のフローティングピン302は後退させられ、その結果、伸縮式のフローティングピン302の傾斜面314が、ブッシュ機構304の挿入部分318の傾斜面316に位置付けられて、傾斜面316に嵌合する。これにより、上述した封止がもたらされる。この位置で、丸めた先端312は、基板208が位置することができる基板支持体212の表面より完全に下に位置する。
基板支持体212の前面212aから基板208を持ち上げるために、持上げ機構228は、リフトピン224が配置されたリフト板222を上昇させ、それによりリフトピン224は内部切抜き322に入り、方向324に上方へ動く。リフトピン224がさらに上方へ動くことで、伸縮式のフローティングピン302に上向きの力が提供され、その結果、伸縮式のフローティングピン302のピンヘッド308が基板支持体212のガイド孔216を出る。伸縮式のフローティングピン302が基板支持体212の前面212aより上に延びることで、丸めた先端312は基板208の裏面に接触し、基板支持体212の前面212aから基板208を持ち上げる。
その後、持上げ機構228は、リフト板222を下方へ動かし、それによりリフトピン224を下方へ動かす。リフトピン224を下方へ動かすことで、伸縮式のフローティングピン302に以前に印加されていた上向きの力が除去され、その結果、伸縮式のフローティングピン302に作用する重力により、伸縮式のフローティングピン302が後退位置へ戻り、伸縮式のフローティングピン302の傾斜面が、ブッシュ機構304の挿入部分318の傾斜面に位置付けられて、この傾斜面に嵌合する。
フローティングピン218の複数の他の例について、以下に説明する。いくつかの例では、基板支持体212の前面212aから凹ませたガイド孔216の表面を使用して、フローティングピン218との封止を形成する。ブッシュ機構304を省略することができる。封止を形成する嵌合面の様々な構成およびフローティングピン218のヘッドの様々な構成について、以下に説明する。これらの構成の任意の態様を別の構成の任意の他の態様と組み合わせることができる。実現することができかつ他の例の範囲内で企図される修正形態および組合せが、当業者には容易に想到されよう。
図4は、図2のフローティングピン218として使用することができる例示的なフローティングピン402を示す。フローティングピン402は、皿穴付きピンヘッド408およびシャフト410を有する。皿穴付きピンヘッド408は、平坦な表面、丸めた表面、円錐形の表面など、またはこれらの表面の組合せを含む頂面412を有する。皿穴付きピンヘッド408は、フローティングピン402が押し上げられて基板208を持ち上げたときに基板208に接触する。皿穴付きピンヘッド408の頂面412は、フローティングピン402のシャフト410より大きい横径を有する。皿穴付きピンヘッド408は、皿穴付きピンヘッド408の頂面412からフローティングピン402のシャフト410へ延びる傾斜面414を有する。
基板支持体212のガイド孔216は、皿穴付きピンヘッド408を収容する位置付け部分(基板支持体212の開口とも呼ぶ)216aと、シャフト410を収容するガイド部分216bとを含む。位置付け部分216aは、基板支持体212の前面212aからガイド孔216のガイド部分216bの側壁内面へ延びる傾斜面416を有する。たとえば、傾斜面416は、ガイド孔216に皿穴を設けた結果とすることができる。位置付け部分216aの傾斜面416は概して、皿穴付きピンヘッド408の傾斜面414に一致する。後退位置で、2つの傾斜面414、416が嵌合する。2つの傾斜面414、416が嵌合することで、ガイド孔216に封止が生じ、それにより処理中に基板支持体212を通るガス漏れおよび粒子汚染が低減される。図3の伸縮式のフローティングピン302に関して上述したように、フローティングピン402を後退位置に配置することができ、基板支持体212の表面から延ばすことができる。
図5は、図2のフローティングピン218として使用することができる例示的なフローティングピン502を示す。フローティングピン502は、ショルダピンヘッド508およびシャフト510を有する。ショルダピンヘッド508は、平坦な表面、丸めた表面、円錐形の表面など、またはこれらの表面の組合せを含む頂面512を有する。ショルダピンヘッド508は、フローティングピン502が押し上げられて基板208を持ち上げたときに基板208に接触する。ショルダピンヘッド508は、フローティングピン502のシャフト510より大きい横径を有する。シャフト510は、基板支持体212のガイド孔216を通って延びる。ショルダピンヘッド508は、ショルダピンヘッド508の外縁からフローティングピン502のシャフト510へ平坦なショルダ面514を有する。
基板支持体212のガイド孔216は、ショルダピンヘッド508を収容する位置付け部分216aと、シャフト510を収容するガイド部分216bとを含む。位置付け部分216aは、基板支持体212の前面212aより下に凹ませた平坦なショルダ面516を有する。この平坦なショルダ面516を、基板支持体212の凹面とも呼ぶ。位置付け部分216aの平坦なショルダ面516は概して、ショルダピンヘッド508の平坦なショルダ面514に一致する。後退位置で、2つの平坦なショルダ面514、516が嵌合する。2つの平坦なショルダ面514、516が嵌合することで、ガイド孔216に封止が生じ、それにより処理中に基板支持体212を通るガス漏れおよび粒子汚染が低減される。
ガイド孔216の位置付け部分216aは、ショルダピンヘッド508の直径より大きい直径を有し、その結果、フローティングピン502がガイド孔216に対してわずかに傾斜して上方および下方へ動くときでも、ショルダピンヘッド508は位置付け部分216aの側壁内面に接触しない。ガイド孔216のガイド部分216bは、シャフト510の直径より大きい直径を有し、シャフト510がガイド部分216bを通過することを可能にする。平坦なショルダ面514は隙間を覆うのに十分に大きい直径を有するため、シャフト510とガイド部分216bの側壁内面との間の隙間は、ショルダピンヘッド508の平坦なショルダ面514によって封止される。フローティングピン502の中心線がガイド孔216の中心線に対してずれている(すなわち、傾斜している)場合、重力により、フローティングピン502は後退させられ、その結果、ショルダピンヘッド508が位置付け部分216a内に位置決めされ、ショルダピンヘッド508の平坦なショルダ面514が、ガイド孔216の位置付け部分216aの平坦なショルダ面516に対して位置付けられる。いくつかの実施形態では、ずれているフローティングピン502の後退、およびシャフト510とガイド孔216の側壁内面との間の隙間の封止を強化するために、シャフト510の下端(すなわち、ショルダピンヘッド508とは反対側)に死荷重522が追加される。死荷重622は、ステンレス鋼316(SS316)から作ることができ、約13g~約20gの重量とすることができる。
いくつかの実施形態では、ガイド孔216の位置付け部分216aの平坦なショルダ面516は、約10.6mm~約10.8mm、たとえば約10.8mmの直径を有し、ガイド孔216のガイド部分216bは、約3.95mm~約4.05mm、たとえば約4mmの直径を有する。ショルダピンヘッド518の平坦なショルダ面514は、約8.9mm~約9.1mm、たとえば約9mmの直径を有し、フローティングピン502のシャフト510は、約3.225mm~約3.285mm、たとえば約3.25mmの直径を有し、ガイド孔216のガイド部分216bの側壁内面に対して、約0.3mm~約0.4mm、たとえば約0.34mmの隙間を可能にする。
図3の伸縮式のフローティングピン302に関して上述したように、フローティングピン502を後退位置に配置することができ、基板支持体212の表面から延ばすことができる。
図6は、図2のフローティングピン218として使用することができる例示的なフローティングピン602を示す。フローティングピン602は、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608およびシャフト610を有する。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608は、平坦な表面、丸めた表面、円錐形の表面など、またはこれらの表面の組合せを含む頂面612を有する。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608は、フローティングピン602が押し上げられて基板208を持ち上げたときに基板208に接触する。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608は、ショルダ部分618および皿穴部分620を含む。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608の頂面612は、ショルダ部分618より大きい横径を有し、ショルダ部分618は、フローティングピン602のシャフト610のより大きい横径を有する。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608のショルダ部分618は、フローティングピン602のシャフト610からショルダを有する皿穴付きピンヘッド608のショルダ部分618の側壁外面へ延びる平坦なショルダ面614aを有する。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608の皿穴部分620は、ショルダ部分618の外面からショルダを有する皿穴付きピンヘッド608の頂面612へ延びる傾斜面614bを有する。
基板支持体212のガイド孔216は、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608を収容する位置付け部分216aと、シャフト610を収容するガイド部分216bとを含む。位置付け部分216aは、基板支持体212の前面212aより下に凹ませた平坦なショルダ面616aを含む。この平坦なショルダ面616aを、基板支持体212の凹面とも呼ぶ。位置付け部分216aは、平坦なショルダ面616aと基板支持体212の前面212aとの間に傾斜面616bをさらに含む。この傾斜面616bを、基板支持体212の傾斜面とも呼ぶ。位置付け部分216aの傾斜面616bは概して、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608の皿穴部分620の傾斜面614bに一致する。位置付け部分216aの平坦なショルダ面616aは概して、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608のショルダ部分618の平坦なショルダ面614aに一致する。後退位置で、2つの傾斜面614b、616bおよび/または2つの平坦なショルダ面614a、616aが嵌合する。2つの傾斜面614b、616bおよび/または2つの平坦なショルダ面614a、616aが嵌合することで、ガイド孔216に封止が生じ、それにより処理中に基板支持体212を通るガス漏れおよび粒子汚染が低減される。
ガイド孔216の位置付け部分216aは、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608の直径より大きい直径を有し、その結果、フローティングピン602がガイド孔216に対してわずかに傾斜して上方および下方へ動くときでも、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608は位置付け部分216aの側壁内面に接触しない。ガイド孔216のガイド部分216bは、シャフト610の直径より大きい直径を有し、シャフト610がガイド部分216bを通過することを可能にする。平坦なショルダ面614aは隙間を覆うのに十分に大きい直径を有するため、シャフト610とガイド部分216bの側壁内面との間の隙間は、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608のショルダ部分618の平坦なショルダ面614aによって封止される。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608の皿穴部分620の傾斜面614bは、シャフト610とガイド部分216bの側壁内面との間の隙間のさらなる封止を提供する。
フローティングピン602の中心線がガイド孔216の中心線に対してずれている(すなわち、傾斜している)場合、重力により、フローティングピン602は後退させられ、その結果、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608が位置付け部分216a内に位置決めされ、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608のショルダ部分618の平坦なショルダ面614aが、ガイド孔216の位置付け部分216aの平坦なショルダ面616aに対して位置付けられる。いくつかの実施形態では、ずれているフローティングピン602の後退、およびシャフト610とガイド孔216の側壁内面との間の隙間の封止を強化するために、シャフト610の下端(すなわち、ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608とは反対側)に死荷重622が追加される。死荷重622は、ステンレス鋼316(SS316)から作ることができ、約13g~約20gの重量とすることができる。
いくつかの実施形態では、基板支持体212の前面212aにおけるガイド孔216の位置付け部分216aは、約12.6mm~約12.8mm、たとえば約12.7mmの直径を有する。ガイド孔216の位置付け部分216aの平坦なショルダ面616は、約10.6mm~約10.8mm、たとえば約10.8mmの直径を有し、ガイド孔216のガイド部分216bは、約3.95mm~約4.05mm、たとえば約4mmの直径を有する。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608の頂面612は、約11.1mm~約11.2mm、たとえば約11.2mmの直径を有する。ショルダを有する皿穴付きピンヘッド608のショルダ部分618の平坦なショルダ面614aは、約8.9mm~約9.1mm、たとえば約9mmの直径を有し、フローティングピン602のシャフト610は、約3.225mm~約3.285mm、たとえば約3.25mmの直径を有し、ガイド孔216のガイド部分216bの側壁内面に対して、約0.3mm~約0.4mm、たとえば約0.34mmの隙間を可能にする。
図3の伸縮式のフローティングピン302に関して上述したように、フローティングピン602を後退位置に配置することができ、基板支持体212の表面から延ばすことができる。
本開示の利益は、基板処理システムにおいて基板支持体に対して基板を位置決めするための改善されたフローティングピンを含む。フローティングピンは、平坦なショルダ面を有し、平坦なショルダ面は、基板支持体の凹面に位置付けられ、基板支持体内でフローティングピンを案内するように形成されたガイド孔を封止する。この封止により、ガイド孔からのガス漏れが防止され、したがって基板処理システム内の圧力が維持される。
上記は本開示の実施形態を対象とするが、本開示の基本的な範囲を逸脱することなく、本開示の他のさらなる実施形態を考案することができ、本開示の範囲は以下の特許請求の範囲によって決定される。
Claims (20)
- 基板支持体に対して基板を位置決めするためのフローティングピンであって、
基板支持体内のガイド孔を通過するように構成されたシャフトと、
頂面および前記頂面と前記シャフトとの間に配置された平坦なショルダ面を含むピンヘッドとを備え、
前記平坦なショルダ面が、前記基板支持体の凹面に位置付けられ、前記基板支持体の前記ガイド孔を封止するように構成されている、フローティングピン。 - 前記平坦なショルダ面が、8.9mm~9.1mmの直径を有し、
前記シャフトが、3.225mm~3.285mmの直径を有し、前記ガイド孔の側壁内面に対して0.3mm~0.4mmの隙間を有する、
請求項1に記載のフローティングピン。 - 前記ピンヘッドが、
前記平坦なショルダ面を含むショルダ部分と、
前記平坦なショルダ面より大きい直径を有する前記頂面を含む皿穴部分とを含み、前記皿穴部分が、前記ショルダ部分の側壁外面から前記頂面へ延びる傾斜面を有する、請求項1に記載のフローティングピン。 - 前記平坦なショルダ面が、8.9mm~9.1mmの直径を有し、
前記頂面が、11.1mm~11.2mmの直径を有し、
前記シャフトが、3.225mm~3.285mmの直径を有し、前記ガイド孔の側壁内面に対して0.3mm~0.4mmの隙間を有する、
請求項3に記載のフローティングピン。 - 前記シャフトが酸化アルミニウムを含む、請求項1に記載のフローティングピン。
- 前記ピンヘッドとは反対側の前記シャフトの端部に配置された死荷重
をさらに備える、請求項1に記載のフローティングピン。 - 前記死荷重がステンレス鋼を含み、13g~20gの重量である、請求項6に記載のフローティングピン。
- 基板支持体に対して基板を位置決めするためのリフトピンアセンブリであって、
ピンヘッドおよびシャフトを有するフローティングピンと、
前記ピンヘッドとは反対側の前記シャフトの端部に接触し、前記基板支持体内のガイド孔に前記シャフトを通過させるように構成されたリフトピンとを備え、
前記ピンヘッドが、頂面および前記頂面と前記シャフトとの間に配置された平坦なショルダ面を含み、
前記平坦なショルダ面が、前記基板支持体の凹面に位置付けられ、前記基板支持体の前記ガイド孔を封止するように構成されている、リフトピンアセンブリ。 - 前記平坦なショルダ面が、8.9mm~9.1mmの直径を有し、
前記シャフトが、3.225mm~3.285mmの直径を有し、前記ガイド孔の側壁内面に対して0.3mm~0.4mmの隙間を有する、
請求項8に記載のリフトピンアセンブリ。 - 前記ピンヘッドが、
前記平坦なショルダ面を含むショルダ部分と、
前記平坦なショルダ面より大きい直径を有する前記頂面を含む皿穴部分とを含み、前記皿穴部分が、前記ショルダ部分の側壁外面から前記頂面へ延びる傾斜面を有する、請求項8に記載のリフトピンアセンブリ。 - 前記平坦なショルダ面が、8.9mm~9.1mmの直径を有し、
前記頂面が、11.1mm~11.2mmの直径を有し、
前記シャフトが、3.225mm~3.285mmの直径を有し、前記ガイド孔の側壁内面に対して0.3mm~0.4mmの隙間を有する、
請求項10に記載のリフトピンアセンブリ。 - 前記シャフトが酸化アルミニウムを含み、
前記リフトピンがステンレス鋼を含む、
請求項8に記載のリフトピンアセンブリ。 - 前記ピンヘッドとは反対側の前記シャフトの端部に配置された死荷重
をさらに備える、請求項8に記載のリフトピンアセンブリ。 - 前記死荷重がステンレス鋼を含み、13g~20gの重量である、請求項13に記載のリフトピンアセンブリ。
- ガイド孔が通過する基板支持体であって、前記ガイド孔が位置付け部分およびガイド部分を含み、前記位置付け部分が、前記基板支持体の前面と前記ガイド部分との間に平坦なショルダ面を含む、基板支持体と、
リフトピンアセンブリとを備え、前記リフトピンアセンブリが、
前記位置付け部分内に位置付けられるように構成されたピンヘッド、および前記ガイド部分を通過するように構成されたシャフトを有するフローティングピンと、
前記ピンヘッドとは反対側の前記シャフトの端部に接触し、前記基板支持体内の前記ガイド孔に前記フローティングピンを通過させるように構成されたリフトピンとを備え、
前記ピンヘッドが、頂面および前記頂面と前記シャフトとの間に配置された平坦なショルダ面を含み、
前記ピンヘッドの前記平坦なショルダ面が、前記位置付け部分の前記平坦なショルダ面に位置付けられ、前記基板支持体の前記ガイド孔を封止するように構成されている、
処理システム。 - 前記ピンヘッドの前記平坦なショルダ面が、8.9mm~9.1mmの直径を有し、
前記シャフトが、3.225mm~3.285mmの直径を有し、
前記位置付け部分の前記平坦なショルダ面が、10.6mm~10.8mmの直径を有し、
前記ガイド部分が、約3.95mm~約4.05mmの直径を有する、
請求項15に記載の処理システム。 - 前記ピンヘッドが、
前記平坦なショルダ面を含むショルダ部分と、
前記平坦なショルダ面より大きい直径を有する前記頂面を含む皿穴部分とを含み、前記皿穴部分が、前記ショルダ部分の側壁外面から前記頂面へ延びる傾斜面を有する、請求項15に記載の処理システム。 - 前記平坦なショルダ面が、8.9mm~9.1mmの直径を有し、
前記頂面が、11.1mm~11.2mmの直径を有し、
前記シャフトが、3.225mm~3.285mmの直径を有し、前記ガイド孔の側壁内面に対して0.3mm~0.4mmの隙間を有し、
前記位置付け部分の前記平坦なショルダ面が、12.6mm~12.8mmの直径を有し、
前記ガイド部分が、約3.95mm~約4.05mmの直径を有する、
請求項17に記載の処理システム。 - 前記シャフトが酸化アルミニウムを含み、
前記リフトピンがステンレス鋼を含む、
請求項15に記載の処理システム。 - 前記ピンヘッドとは反対側の前記シャフトの端部に配置された死荷重をさらに備え、前記死荷重がステンレス鋼を含み、13g~20gの重量である、
請求項15に記載の処理システム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US16/875,750 | 2020-05-15 | ||
US16/875,750 US20210358797A1 (en) | 2020-05-15 | 2020-05-15 | Floating pin for substrate transfer |
PCT/US2021/026793 WO2021231008A1 (en) | 2020-05-15 | 2021-04-12 | Floating pin for substrate transfer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023525861A true JP2023525861A (ja) | 2023-06-19 |
Family
ID=78512947
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022569223A Pending JP2023525861A (ja) | 2020-05-15 | 2021-04-12 | 基板移送のためのフローティングピン |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20210358797A1 (ja) |
JP (1) | JP2023525861A (ja) |
KR (1) | KR20230008213A (ja) |
CN (1) | CN115516618A (ja) |
TW (1) | TW202210656A (ja) |
WO (1) | WO2021231008A1 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3602324B2 (ja) * | 1998-02-17 | 2004-12-15 | アルプス電気株式会社 | プラズマ処理装置 |
JP5148955B2 (ja) * | 2007-09-11 | 2013-02-20 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板載置機構及び基板処理装置 |
JP5876065B2 (ja) * | 2011-10-13 | 2016-03-02 | 株式会社アルバック | 真空処理装置 |
KR101432916B1 (ko) * | 2013-01-04 | 2014-08-21 | 주식회사 엘지실트론 | 웨이퍼 리프트 장치 |
KR20160032501A (ko) * | 2014-09-16 | 2016-03-24 | 엘아이지인베니아 주식회사 | 기판안착장치 및 이를 포함한 기판처리장치 |
US10490436B2 (en) * | 2015-11-04 | 2019-11-26 | Applied Materials, Inc. | Enhanced lift pin design to eliminate local thickness non-uniformity in teos oxide films |
-
2020
- 2020-05-15 US US16/875,750 patent/US20210358797A1/en not_active Abandoned
-
2021
- 2021-04-12 US US17/923,908 patent/US20230178416A1/en active Pending
- 2021-04-12 JP JP2022569223A patent/JP2023525861A/ja active Pending
- 2021-04-12 CN CN202180033759.8A patent/CN115516618A/zh active Pending
- 2021-04-12 WO PCT/US2021/026793 patent/WO2021231008A1/en active Application Filing
- 2021-04-12 KR KR1020227043488A patent/KR20230008213A/ko not_active Application Discontinuation
- 2021-04-20 TW TW110114080A patent/TW202210656A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202210656A (zh) | 2022-03-16 |
US20230178416A1 (en) | 2023-06-08 |
WO2021231008A1 (en) | 2021-11-18 |
KR20230008213A (ko) | 2023-01-13 |
US20210358797A1 (en) | 2021-11-18 |
CN115516618A (zh) | 2022-12-23 |
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---|---|---|---|
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|
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