JP2023116216A - ウエーハの生成方法 - Google Patents

ウエーハの生成方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2023116216A
JP2023116216A JP2022018893A JP2022018893A JP2023116216A JP 2023116216 A JP2023116216 A JP 2023116216A JP 2022018893 A JP2022018893 A JP 2022018893A JP 2022018893 A JP2022018893 A JP 2022018893A JP 2023116216 A JP2023116216 A JP 2023116216A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ingot
crack layer
wafer
laser beam
forming step
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2022018893A
Other languages
English (en)
Inventor
一馬 関家
Kazuma Sekiya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2022018893A priority Critical patent/JP2023116216A/ja
Priority to US18/156,581 priority patent/US20230249282A1/en
Priority to DE102023200832.7A priority patent/DE102023200832A1/de
Publication of JP2023116216A publication Critical patent/JP2023116216A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/0093Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring combined with mechanical machining or metal-working covered by other subclasses than B23K
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/062Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/062Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam
    • B23K26/0622Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam by shaping pulses
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • B23K26/0823Devices involving rotation of the workpiece
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/08Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
    • B23K26/083Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction
    • B23K26/0853Devices involving movement of the workpiece in at least in two axial directions, e.g. in a plane
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/50Working by transmitting the laser beam through or within the workpiece
    • B23K26/53Working by transmitting the laser beam through or within the workpiece for modifying or reforming the material inside the workpiece, e.g. for producing break initiation cracks
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B26HAND CUTTING TOOLS; CUTTING; SEVERING
    • B26DCUTTING; DETAILS COMMON TO MACHINES FOR PERFORATING, PUNCHING, CUTTING-OUT, STAMPING-OUT OR SEVERING
    • B26D3/00Cutting work characterised by the nature of the cut made; Apparatus therefor
    • B26D3/28Splitting layers from work; Mutually separating layers by cutting
    • B26D3/282Splitting layers from work; Mutually separating layers by cutting by peeling-off
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B26HAND CUTTING TOOLS; CUTTING; SEVERING
    • B26DCUTTING; DETAILS COMMON TO MACHINES FOR PERFORATING, PUNCHING, CUTTING-OUT, STAMPING-OUT OR SEVERING
    • B26D7/00Details of apparatus for cutting, cutting-out, stamping-out, punching, perforating, or severing by means other than cutting
    • B26D7/08Means for treating work or cutting member to facilitate cutting
    • B26D7/086Means for treating work or cutting member to facilitate cutting by vibrating, e.g. ultrasonically
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2101/00Articles made by soldering, welding or cutting
    • B23K2101/36Electric or electronic devices
    • B23K2101/40Semiconductor devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2103/00Materials to be soldered, welded or cut
    • B23K2103/50Inorganic material, e.g. metals, not provided for in B23K2103/02 – B23K2103/26
    • B23K2103/56Inorganic material, e.g. metals, not provided for in B23K2103/02 – B23K2103/26 semiconducting

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Forests & Forestry (AREA)
  • Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Processing Of Stones Or Stones Resemblance Materials (AREA)
  • Perforating, Stamping-Out Or Severing By Means Other Than Cutting (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

【課題】クラック層に沿ってインゴットからウエーハを剥離する際に、未熟なクラック層によってウエーハの剥離が妨げられることのないウエーハの生成方法を提供する。【解決手段】ウエーハの生成方法は、インゴット62に対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴット62の端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する領域に位置づけてレーザー光線をインゴット62に照射しクラック層76を形成するクラック層形成工程と、クラック層76の延長線上に切削ブレード30を位置づけてクラック層76に連なる切削溝80をインゴット62の外周に形成する切削溝形成工程と、インゴット62の端面に超音波を付与してクラック層76に沿って生成すべきウエーハを剥離する剥離工程と、を含む。【選択図】図4

Description

本発明は、インゴットからウエーハを生成するウエーハの生成方法に関する。
IC、LSI、LED等のデバイスは、Si(シリコン)やAl(サファイア)等を素材としたウエーハの表面に機能層が積層され分割予定ラインによって区画されて形成される。また、パワーデバイス、LED等は、SiC(炭化ケイ素)、GaN(窒化ガリウム)等の六方晶単結晶を素材としたウエーハの表面に機能層が積層され分割予定ラインによって区画されて形成される。
デバイスが形成されたウエーハは、切削装置、レーザー加工装置によって分割予定ラインに加工が施されて個々のデバイスチップに分割され、分割された各デバイスチップは携帯電話やパソコン等の電気機器に利用される。
デバイスが形成されるウエーハは、一般的に円柱状のインゴットをワイヤーソーで薄く切断することにより生成される。生成されたウエーハの表面および裏面は、研磨することにより鏡面に仕上げられる(たとえば特許文献1参照)。
しかし、インゴットをワイヤーソーで切断し、切断したウエーハの表面および裏面を研磨すると、インゴットの大部分(70~80%)が捨てられることになり不経済であるという問題がある。特に、SiC、GaN等の六方晶単結晶インゴットにおいては、硬度が高くワイヤーソーでの切断が困難であり相当の時間を要するため生産性が悪いと共に、インゴットの単価が高く効率よくウエーハを生成することに課題を有している。
そこで、インゴットに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴットの内部に位置づけてインゴットにレーザー光線を照射して切断予定面にクラック層を形成し、クラック層が形成された切断予定面に沿ってインゴットからウエーハを剥離する技術が提案されている(たとえば特許文献2参照)。
特開2000-94221号公報 特開2013-49161号公報
しかし、クラック層の延長線上にあたるインゴットの外周では、レーザー光線が屈折もしくは乱反射し、または蹴られて、クラック層が未熟に形成されてしまう場合がある。このような場合には、インゴットからウエーハを剥離する際に、未熟なクラック層によってウエーハの剥離が妨げられ、ウエーハが破損するおそれがある。
本発明の課題は、クラック層に沿ってインゴットからウエーハを剥離する際に、未熟なクラック層によってウエーハの剥離が妨げられることのないウエーハの生成方法を提供することである。
本発明によれば、上記課題を解決する以下のウエーハの生成方法が提供される。すなわち、
「インゴットからウエーハを生成するウエーハの生成方法であって、
インゴットに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴットの端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する領域に位置づけてレーザー光線をインゴットに照射しクラック層を形成するクラック層形成工程と、
該クラック層の延長線上に切削ブレードを位置づけて該クラック層に連なる切削溝をインゴットの外周に形成する切削溝形成工程と、
インゴットの端面に超音波を付与して該クラック層に沿って生成すべきウエーハを剥離する剥離工程と、を含むウエーハの生成方法」が提供される。
該インゴットは、該端面を構成する第一の面と、該第一の面の反対側の第二の面と、該第一の面から該第二の面に至るc軸と、該c軸に直交するc面とを有するSiCインゴットであり、
該クラック層形成工程において、SiCに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点と該インゴットとをオフ角が形成される方向と直交する方向に相対的に移動して直線状のクラック層を形成するクラック層形成ステップと、
該オフ角が形成される方向に該集光点と該インゴットとを相対的に移動して所定量インデックス送りするインデックスステップとを含むのが好ましい。
本発明のウエーハの生成方法は、
インゴットに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴットの端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する領域に位置づけてレーザー光線をインゴットに照射しクラック層を形成するクラック層形成工程と、
該クラック層の延長線上に切削ブレードを位置づけて該クラック層に連なる切削溝をインゴットの外周に形成する切削溝形成工程と、
インゴットの端面に超音波を付与して該クラック層に沿って生成すべきウエーハを剥離する剥離工程と、を含むので、インゴットの外周に位置する未熟なクラック層が切削溝を形成する際に除去される。したがって、クラック層に沿ってインゴットからウエーハを剥離する際に、未熟なクラック層によってウエーハの剥離が妨げられることがなく、インゴットからウエーハを効率よく生成できる。
本発明のウエーハの生成方法を実施可能なウエーハ生成装置を示す斜視図。 (a)インゴットの斜視図、(b)(a)に示すインゴットの平面図、(c)(a)に示すインゴットの正面図。 (a)クラック層形成工程を示す斜視図、(b)クラック層形成工程を示す正面図、(c)クラック層が形成されたインゴットの断面図。 (a)切削溝形成工程を示す斜視図、(b)切削溝が形成されたインゴットの断面図。 剥離工程を示す模式図。
以下、本発明のウエーハの生成方法の好適実施形態について、図面を参照しつつ説明する。
(ウエーハ生成装置2)
図1には、本発明のウエーハの生成方法を実施可能なウエーハ生成装置の一例が示されている。ウエーハ生成装置2は、インゴットを保持する保持手段4と、インゴットに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴットの端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する領域に位置づけてレーザー光線をインゴットに照射しクラック層を形成するクラック層形成手段6と、クラック層の延長線上に切削ブレードを位置づけてクラック層に連なる切削溝をインゴットの外周に形成する切削溝形成手段8と、インゴットの端面に超音波を付与してクラック層に沿って生成すべきウエーハを剥離する剥離手段10と、保持手段4を移動させる移動手段12と、を備える。
(保持手段4)
保持手段4は、X軸方向に移動自在に基台14に支持されたX軸可動板16と、Y軸方向に移動自在にX軸可動板16に支持されたY軸可動板18と、Y軸可動板18の上面に回転自在に支持された保持テーブル20と、保持テーブル20を回転させるモータ(図示していない。)とを含む。
なお、X軸方向は図1に矢印Xで示す方向であり、Y軸方向は図1に矢印Yで示す方向であってX軸方向に直交する方向である。X軸方向およびY軸方向が規定するXY平面は実質上水平である。
保持手段4においては、適宜の接着剤(たとえばエポキシ樹脂系接着剤)を介して保持テーブル20の上面でインゴットを保持する。あるいは、保持テーブル20の上面に複数の吸引孔が形成され、保持テーブル20の上面に吸引力を生成してインゴットを吸引保持するようになっていてもよい。
(クラック層形成手段6)
クラック層形成手段6は、基台14の上面から上方に延び次いで実質上水平に延びる筐体22と、筐体22に内蔵された発振器(図示していない。)と、筐体22の先端下面に配置された集光器24とを含む。
発振器は、被加工物であるインゴットに対して透過性を有する波長(たとえば、SiCインゴットの場合は1064nm)のパルスレーザー光線を発振する。集光器24は、発振器が発振したレーザー光線を集光してインゴットに照射するようになっている。
(切削溝形成手段8)
切削溝形成手段8は、筐体22の先端下面に昇降自在に装着されたスピンドルハウジング26と、スピンドルハウジング26を昇降させる昇降手段(図示していない。)と、スピンドルハウジング26に回転自在に支持されたスピンドル28と、スピンドル28に装着された環状の切削ブレード30とを含む。
昇降手段は、スピンドルハウジング26に連結され上下方向に延びるボールねじと、このボールねじを回転させるモータとを有する構成でよい。スピンドル28は上下方向に延びており、筐体22に内蔵されたスピンドル用モータ(図示していない。)によって上下方向を軸心として回転されるようになっている。また、スピンドル28の下端に固定されている切削ブレード30は、XY平面に沿って配置されており、上下方向を軸心としてスピンドル28と共に回転される。
(剥離手段10)
剥離手段10は、基台14上の案内レール14aの端部から上方に延びるケーシング32と、ケーシング32に昇降自在に支持されX軸方向に延びるアーム34とを含む。ケーシング32には、アーム34を昇降させる昇降手段(図示していない。)が内蔵されている。
アーム34の先端にはモータ36が付設され、モータ36の下面には上下方向に延びる軸線を中心として回転自在に吸着片38が連結されている。吸着片38は吸引手段(図示していない。)に接続されており、吸着片38の下面には複数の吸引孔(図示していない。)が形成されている。また、吸着片38には、吸着片38の下面に対して超音波振動を付与する超音波振動付与手段(図示していない。)が内蔵されている。
(移動手段12)
移動手段12は、クラック層形成手段6および切削溝形成手段8に対して保持手段4をX軸方向に移動させるX軸送り手段40と、クラック層形成手段6および切削溝形成手段8に対して保持手段4をY軸方向に移動させるY軸送り手段42とを含む。
(X軸送り手段40)
X軸送り手段40は、X軸可動板16に連結されX軸方向に延びるボールねじ44と、ボールねじ44を回転させるモータ46とを有する。X軸送り手段40は、ボールねじ44によりモータ46の回転運動を直線運動に変換してX軸可動板16に伝達し、基台14上の案内レール14aに沿ってX軸可動板16をX軸方向に移動させる。
(Y軸送り手段42)
Y軸送り手段42は、Y軸可動板18に連結されY軸方向に延びるボールねじ48と、ボールねじ48を回転させるモータ50とを有する。Y軸送り手段42は、ボールねじ48によりモータ50の回転運動を直線運動に変換してY軸可動板18に伝達し、X軸可動板16上の案内レール16aに沿ってY軸可動板18をY軸方向に移動させる。
図示していないが、ウエーハ生成装置2の筐体22には、クラック層形成手段6によってレーザー加工を施すべき領域を検出する撮像手段が設けられている。撮像手段によって撮像された画像は、筐体22の上面に配置された表示手段52に表示される。
(インゴット62)
図2には、本発明のウエーハの生成方法によって加工が施される円柱状のインゴット62が示されている。図示のインゴット62は、単結晶SiC(炭化ケイ素)から形成されている。
インゴット62は、円形状の第一の面64と、第一の面64の反対側に位置する円形状の第二の面66と、第一の面64および第二の面66の間に位置する周面68と、第一の面64から第二の面66に至るc軸と、c軸に直交するc面(図2(c)参照)とを有する。少なくとも第一の面64は、レーザー光線LBの入射を妨げない程度に研削または研磨によって平坦化されている。
インゴット62においては、第一の面64の垂線70に対してc軸が傾いており、c面と第一の面64とでオフ角α(たとえばα=1、3、6度)が形成されている。オフ角αが形成される方向を図2に矢印Aで示す。
インゴット62の周面68には、いずれも結晶方位を示す矩形状の第一のオリエンテーションフラット72および第二のオリエンテーションフラット74が形成されている。第一のオリエンテーションフラット72は、オフ角αが形成される方向Aに平行であり、第二のオリエンテーションフラット74は、オフ角αが形成される方向Aに直交している。図2(b)に示すとおり、上方からみて、第二のオリエンテーションフラット74の長さL2は、第一のオリエンテーションフラット72の長さL1よりも短い(L2<L1)。
なお、本発明のウエーハの生成方法によって加工が施されるインゴットは、上記インゴット62に限定されず、第一の面の垂線に対してc軸が傾いておらず、c面と第一の面とのオフ角αが0度である(すなわち、第一の面の垂線とc軸とが一致している)SiCインゴットでもよく、あるいは、Si(シリコン)やGaN(窒化ガリウム)等のSiC以外の素材から形成されているインゴットであってもよい。
(ウエーハの生成方法)
次に、上述のウエーハ生成装置2を用いて、インゴットからウエーハを生成する方法について説明する。
(保持工程)
図示の実施形態では、まず、保持手段4によってインゴット62を保持する保持工程を実施する。保持工程においては、第一の面64を上に向けて、適宜の接着剤(たとえばエポキシ樹脂系接着剤)を介してインゴット62を保持テーブル20の上面に固定する。なお、保持テーブル20の上面に複数の吸引孔が形成され、保持テーブル20の上面に吸引力を生成してインゴット62を吸引保持してもよい。
(クラック層形成工程)
保持工程を実施した後、インゴット62に対して透過性を有する波長のレーザー光線LBの集光点をインゴット62の端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する領域に位置づけて、レーザー光線LBをインゴット62に照射しクラック層を形成するクラック層形成工程を実施する。
クラック層形成工程においては、まず、X軸送り手段40を作動させ、保持テーブル20を撮像手段の直下に位置づける。次いで、撮像手段でインゴット62を撮像し、撮像手段で撮像したインゴット62の画像に基づいて、インゴット62の向きを所定の向きに調整すると共にインゴット62と集光器24との位置関係を調整する。
インゴット62の向きを所定の向きに調整する際は、図3(a)に示すとおり、第二のオリエンテーションフラット74をX軸方向に整合させる。これによって、オフ角αが形成される方向Aと直交する方向がX軸方向に整合すると共に、オフ角αが形成される方向AがY軸方向に整合する。
次いで、インゴット62の端面(第一の面64)から、生成すべきウエーハの厚みに相当する深さに、SiCに対して透過性を有する波長のパルスレーザー光線LBの集光点FP(図3(b)参照。)を位置づける。次いで、集光点FPとインゴット62とを相対的に所定の送り速度でX軸方向に移動する。これによって、図3(c)に示すとおり、SiCがSi(シリコン)とC(炭素)とに分離した直線状のクラック層76をX軸方向に沿って形成することができる(クラック層形成ステップ)。このクラック層76は、c面に沿って広がっている。
次いで、集光点FPとインゴット62とを相対的にY軸方向に移動して所定量インデックス送りする(インデックスステップ)。インデックス量Liは、クラック層76の幅を超えない長さとして、Y軸方向において隣接するクラック層76とクラック層76が上下方向に見て重なるようにする。そして、クラック層形成ステップと、インデックスステップとを交互に繰り返すことにより、生成すべきウエーハの厚みに相当する深さ(切断予定面)に複数のクラック層76を形成する。
ただし、クラック層76の延長線上にあたるインゴット62の外周では、レーザー光線LBの集光点FPが屈折若しくは乱反射し、または蹴られて、クラック層76が未熟に形成されてしまう場合がある。図3(c)において、インゴット62の外周に形成された未熟なクラック層を符号78で示す。
クラック層形成工程は、たとえば、以下の加工条件で実施することができる。
パルスレーザー光線の波長 :1064nm
パルス幅 :3ns
繰り返し周波数 :120kHz
送り速度 :750mm/s
第一の面からの集光点までの距離:700μm
(切削溝形成工程)
クラック層形成工程を実施した後、クラック層76の延長線上に切削ブレード30を位置づけて、クラック層76に連なる切削溝をインゴット62の外周に形成する切削溝形成工程を実施する。
切削溝形成工程では、まず、保持テーブル20を切削溝形成手段8の下方に移動させ、切削溝形成手段8の切削ブレード30とインゴット62との位置関係を調整する。この際は、切削ブレード30の高さをインゴット62のクラック層76の高さに合わせ、クラック層76の延長線上に切削ブレード30を位置づける。
次いで、図4(a)に示すとおり、切削ブレード30を矢印R1で示す方向に回転させる。また、保持テーブル20を矢印R2で示す方向に回転させる。次いで、保持テーブル20を切削ブレード30に向かって移動させ、切削ブレード30の刃先を所定深さまでインゴット62の外周に切り込ませると共に、切削ブレード30の刃先を切り込ませる部分に切削水を供給する。これによって、図4(b)に示すとおり、未熟なクラック層78を除去すると共に、クラック層76に連なる切削溝80をインゴット62の外周に形成することができる。
上記のとおり、図示の実施形態のインゴット62には、第一・第二のオリエンテーションフラット72、74が形成されている。このため、第一・第二のオリエンテーションフラット72、74に切削ブレード30が差し掛かった際には、保持テーブル20をX軸方向およびY軸方向に適宜移動させ、第一・第二のオリエンテーションフラット72、74に沿って切削溝80を形成する。このようにして、クラック層76に連なる所定深さの切削溝80をインゴット62の全周にわたって形成する。
切削溝形成工程は、たとえば、以下の加工条件で実施することができる。
切削ブレード :ニッケル電柱ブレード
切削ブレードの厚み :60μm
切削ブレードの直径 :52mm
切削ブレードの回転数 :3600rpm
切り込み深さ :200μm
送り速度 :1mm/s
(剥離工程)
切削溝形成工程を実施した後、インゴット62の端面に超音波を付与してクラック層76に沿って、生成すべきウエーハを剥離する剥離工程を実施する。
剥離工程では、まず、X軸送り手段40を作動させ、剥離手段10の吸着片38の下方に保持テーブル20を位置づける。次いで、図5に示すとおり、アーム34を下降させて吸着片38の下面をインゴット62の上面(第一の面64)に密着させる。次いで、吸引手段を作動させ、吸着片38の下面をインゴット62の上面に吸着させる。
そして、超音波付与手段を作動させ、インゴット62の上面に超音波を付与する。これにより、生成すべきウエーハの厚みに相当する深さに形成したクラック層76に沿って、インゴット62からウエーハ82を剥離することができる。超音波を付与する際は、モータ36で吸着片38を回転させて、インゴット62にねじり応力を付与してもよい。なお、ウエーハ82を剥離したら、インゴット62の剥離面およびウエーハ82の剥離面を研削または研磨によって平坦化する。
以上のとおりであり、図示の実施形態では、切削溝形成工程において、インゴット62の外周に位置する未熟なクラック層78を除去するので、クラック層76に沿ってウエーハ82を剥離する際に、未熟なクラック層78によってウエーハ82の剥離が妨げられることがない。したがって、ウエーハ82を破損することなく、インゴット62からウエーハ82を効率よく生成できる。
30:切削ブレード
62:インゴット
64:第一の面
66:第二の面
76:クラック層
78:未熟なクラック層
LB:レーザー光線
FP:集光点
80:切削溝
82:ウエーハ

Claims (2)

  1. インゴットからウエーハを生成するウエーハの生成方法であって、
    インゴットに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点をインゴットの端面から生成すべきウエーハの厚みに相当する領域に位置づけてレーザー光線をインゴットに照射しクラック層を形成するクラック層形成工程と、
    該クラック層の延長線上に切削ブレードを位置づけて該クラック層に連なる切削溝をインゴットの外周に形成する切削溝形成工程と、
    インゴットの端面に超音波を付与して該クラック層に沿って生成すべきウエーハを剥離する剥離工程と、を含むウエーハの生成方法。
  2. 該インゴットは、該端面を構成する第一の面と、該第一の面の反対側の第二の面と、該第一の面から該第二の面に至るc軸と、該c軸に直交するc面とを有するSiCインゴットであり、
    該クラック層形成工程において、SiCに対して透過性を有する波長のレーザー光線の集光点と該インゴットとをオフ角が形成される方向と直交する方向に相対的に移動して直線状のクラック層を形成するクラック層形成ステップと、
    該オフ角が形成される方向に該集光点と該インゴットとを相対的に移動して所定量インデックス送りするインデックスステップとを含む請求項1記載のウエーハの生成方法。
JP2022018893A 2022-02-09 2022-02-09 ウエーハの生成方法 Pending JP2023116216A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022018893A JP2023116216A (ja) 2022-02-09 2022-02-09 ウエーハの生成方法
US18/156,581 US20230249282A1 (en) 2022-02-09 2023-01-19 Wafer manufacturing method
DE102023200832.7A DE102023200832A1 (de) 2022-02-09 2023-02-02 Waferherstellungsverfahren

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2022018893A JP2023116216A (ja) 2022-02-09 2022-02-09 ウエーハの生成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2023116216A true JP2023116216A (ja) 2023-08-22

Family

ID=87312625

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022018893A Pending JP2023116216A (ja) 2022-02-09 2022-02-09 ウエーハの生成方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20230249282A1 (ja)
JP (1) JP2023116216A (ja)
DE (1) DE102023200832A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117324788B (zh) * 2023-10-25 2024-06-25 苏州法特迪科技股份有限公司 一种晶圆激光切割机及晶圆驱动方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000094221A (ja) 1998-09-24 2000-04-04 Toyo Advanced Technologies Co Ltd 放電式ワイヤソー
JP5917862B2 (ja) 2011-08-30 2016-05-18 浜松ホトニクス株式会社 加工対象物切断方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE102023200832A1 (de) 2023-08-10
US20230249282A1 (en) 2023-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107877011B (zh) SiC晶片的生成方法
TWI724273B (zh) SiC晶圓之製成方法
CN108145307B (zh) SiC晶片的生成方法
TWI781306B (zh) 晶圓生成方法以及晶圓生成裝置
TWI730141B (zh) SiC晶圓之生成方法
CN110047746B (zh) 平坦化方法
TWI811325B (zh) 晶圓的生成方法
TWI748088B (zh) SiC晶圓之生成方法
US11340163B2 (en) Method and apparatus for detecting facet region, wafer producing method, and laser processing apparatus
KR20180094798A (ko) SiC 웨이퍼의 생성 방법
CN110911268B (zh) 晶片的生成方法和激光加工装置
KR20180094785A (ko) 웨이퍼 생성 방법
JP7321888B2 (ja) SiCインゴットの加工方法およびレーザー加工装置
JP2019102513A (ja) 剥離装置
KR102178776B1 (ko) SiC 웨이퍼의 생성 방법
TW201939599A (zh) 晶圓之生成方法及晶圓之生成裝置
JP2020035821A (ja) SiC基板の加工方法
CN110071034B (zh) 晶片的生成方法和晶片的生成装置
JP2023116216A (ja) ウエーハの生成方法
JP2023111383A (ja) ウエーハ生成装置
TW202140870A (zh) 晶圓之生成方法
JP2023026921A (ja) ウエーハの加工方法