JP2023102032A

JP2023102032A - 眼科装置

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Publication number: JP2023102032A
Application number: JP2022002356A
Authority: JP
Inventors: 陽子広原; Yoko Hirohara
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 2022-01-11
Filing date: 2022-01-11
Publication date: 2023-07-24
Also published as: EP4209171A1; US20230218161A1; CN116421136A

Abstract

【課題】低コスト、且つ、省スペースで、両眼の特性を高精度に測定可能な新たな技術を提供する。【解決手段】眼科装置は、対物レンズと、ＯＣＴ光学系と、光軸切替部材と、制御部と、眼内パラメータ算出部とを含む。ＯＣＴ光学系は、対物レンズを介し測定光を第１測定光軸上に配置される左被検眼又は第２測定光軸上に配置される右被検眼に投射し、左被検眼又は右被検眼からの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光との干渉光を検出する。光軸切替部材は、ＯＣＴ光学系の光軸を第１測定光軸又は第２測定光軸に略一致するように切り替える。制御部は、光軸切替部材を制御する。眼内パラメータ算出部は、ＯＣＴ光学系の光軸が第１測定光軸又は第２測定光軸に略一致するように切り替えられた状態で得られた干渉光の検出結果に基づいて左被検眼又は右被検眼の眼内パラメータを算出する。【選択図】図１

Description

この発明は、眼科装置に関する。

被検眼に対して複数の検査や測定を実行可能な眼科装置が知られている。被検眼に対する検査や測定には、自覚検査や他覚測定がある。自覚検査は、被検者からの応答に基づいて結果を得るものである。他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主として物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得するものである。

例えば、特許文献１には、自覚検査や他覚測定が可能な眼科装置が開示されている。この眼科装置は、他覚測定として、屈折力測定、角膜形状測定、及び光コヒーレンストモグラフィを用いた撮影や計測を行うことができる。この眼科装置は、左右眼で共通の光学系を備え、この光学系を用いて左右眼の一方に対して自覚検査や他覚測定を実行することが可能である。

また、例えば、特許文献２には、左右眼のそれぞれに対して独立に固視標を提示しつつ、１つの光学系を用いて左右眼の一方に対して屈折力測定を実行することが可能な眼科装置が開示されている。

これに対して、例えば、特許文献３には、左右眼で独立に設けられた２つの光学系を備え、２つの光学系を用いて左右眼に対して屈折力測定及び角膜形状測定を同時に実行することが可能な眼科装置が開示されている。

また、例えば、特許文献４には、左右眼のハルトマン像を同時に取得して、左右眼の波面収差を同時に測定することが可能な眼科装置が開示されている。

特開２０１６－１８７４６１号公報特開平０６－３０４１３９号公報特開２０１９－０６２９３９号公報米国特許第８５０６０７９号明細書

しかしながら、特許文献１及び特許文献２に開示された構成では、左右眼の一方ずつを測定する構成であり、両眼開放下で両眼の特性を測定することができない。これに対して、特許文献３に開示された構成は、両眼開放下で両眼を同時に測定することが可能であるが、装置の大型化やコスト高を招く。また、特許文献４に開示された構成は、波面収差測定以外の測定を行う場合に装置の大型化を招いたり、波面収差測定以外の測定の際に好適な状態で測定することができずに測定精度の低下を招いたりする場合がある。

本発明は、このような事情を鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、低コスト、且つ、省スペースで、両眼の特性を高精度に測定可能な新たな技術を提供することにある。

実施形態の１つの態様は、対物レンズと、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記対物レンズを介して前記測定光を第１測定光軸上に配置される左被検眼又は第２測定光軸上に配置される右被検眼に投射し、前記左被検眼又は前記右被検眼からの前記測定光の戻り光と参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出するＯＣＴ光学系と、前記ＯＣＴ光学系の光軸を前記第１測定光軸及び前記第２測定光軸のいずれかに略一致するように切り替える光軸切替部材と、前記光軸切替部材を制御する制御部と、前記ＯＣＴ光学系の光軸が前記第１測定光軸に略一致するように切り替えられた状態で得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記左被検眼の眼内パラメータを算出し、前記ＯＣＴ光学系の光軸が前記第２測定光軸に略一致するように切り替えられた状態で得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記右被検眼の眼内パラメータを算出する眼内パラメータ算出部と、を含む、眼科装置である。

本発明によれば、低コスト、且つ、省スペースで、両眼の特性を高精度に測定可能な新たな技術を提供することができる。

第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作例のフローを示す概略図である。第１実施形態に係る眼科装置の動作例のフローを示す概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の光学系を説明するための概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第２実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。第３実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。第３実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。

この発明に係る眼科装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る眼科装置は、測定種別が互いに異なる複数の測定を行うための複数の光学系で対物レンズを共用化しつつ、両眼開放下で両眼に対して所定の検査や測定を順次に実行可能である。特に、実施形態に係る眼科装置は、単一のＯＣＴ光学系を用いて両眼に対してＯＣＴ計測を順次に実行し、両眼のそれぞれの眼内パラメータを算出することが可能である。両眼のＯＣＴ計測でＯＣＴ光学系及び対物レンズを共用化することで装置の小型化や低コスト化を図ることができる。

いくつかの実施形態では、眼科装置は、ＯＣＴ計測と異なる他覚測定を行うための他覚測定光学系、及び自覚検査を行うための自覚検査光学系の少なくとも１つを更に含む。このような眼科装置において、検査や測定の種別に対応した複数の光学系で対物レンズを共用化することで装置の小型化や低コスト化を図ることができる。

他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主に物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得する測定手法である。他覚測定には、被検眼の特性を取得するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。その他の他覚測定には、眼圧測定、眼底撮影等がある。いくつかの実施形態では、眼科装置は、他覚測定として屈折力測定（レフ測定）とＯＣＴ計測とを実行可能である。いくつかの実施形態では、眼科装置は、他覚測定として屈折力測定と角膜形状測定とＯＣＴ計測とを実行可能である。

以下では、実施形態に係る眼科装置が、前眼部や眼底に対してＯＣＴ計測を実行する場合について説明する。以下、実施形態では、スペクトラルドメインタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について特に詳しく説明する。しかしながら、他のタイプ（例えば、スウェプトソースタイプ、タイムドメインタイプ）のＯＣＴを用いる眼科装置に対して、実施形態に係る構成を適用することも可能である。

自覚検査は、被検者からの応答を利用して情報を取得する測定手法である。自覚検査には、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレア検査等の自覚屈折測定や、視野検査などがある。

以下、眼底共役位置は、アライメントが完了した状態での被検眼の眼底と光学的に略共役な位置であり、被検眼の眼底と光学的に共役な位置又はその近傍を意味するものとする。同様に、瞳孔共役位置は、アライメントが完了した状態での被検眼の瞳孔と光学的に略共役な位置であり、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置又はその近傍を意味するものとする。

また、以下の実施形態において、光学系の光軸に直交する水平方向（左右方向）をＸ方向とし、光学系の光軸に直交する垂直方向（上下方向）をＹ方向とし、光学系の光軸方向（前後方向）をＺ方向とする。

［第１実施形態］
＜光学系の構成＞
図１及び図２に、第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図１は、上方から見たときの第１実施形態に係る眼科装置の光学系の構成を模式的に表したものである。図２は、図１の測定光学系３００の構成例のブロック図を表したものである。

第１実施形態に係る眼科装置１は、測定光学系３００と、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲと、光軸切替部材ＳＷと、固視投影系４Ｌと、固視投影系４Ｒとを含む。測定光学系３００は、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲと、光軸切替部材ＳＷと、固視投影系４Ｌと、固視投影系４Ｒとを含んでもよい。

（測定光学系３００）
測定光学系３００は、図示しない対物レンズと、被検者の左眼である左被検眼ＥＬと右眼である右被検眼ＥＲとを対物レンズを介して測定するための光学系とを含む。上記の光学系を用いて測定を行う際、対物レンズには、互いに離隔して配置される測定光軸ＯＬ、ＯＲのうち、測定光学系３００の光軸（ＯＣＴ光学系８の光軸）と略一致するように調整された測定光軸が通過する。測定光軸ＯＬには、左被検眼ＥＬが配置される。測定光軸ＯＲには、右被検眼ＥＲが配置される。

図２に示すように、測定光学系３００は、上記の対物レンズに加えて、ケラト測定系３と、前眼部観察系５と、レフ測定投射系６と、レフ測定受光系７と、ＯＣＴ光学系８とを含む。

ケラト測定系３は、左被検眼ＥＬの角膜ＣＬｒの形状を表す情報、及び右被検眼ＥＲの角膜ＣＲｒの形状を表す情報を測定するための光学系である。ケラト測定系３は、上記の対物レンズを介さずに測定対象の被検眼に角膜形状測定用の光を投射して、角膜形状測定用の光の戻り光を受光するように構成される。

前眼部観察系５は、左被検眼ＥＬの前眼部、及び右被検眼ＥＲの前眼部のいずれかを照明し、対物レンズを介して照明光の戻り光を受光するように構成される。

レフ測定投射系６は、対物レンズを介して左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのいずれかにレフ測定用の光を投射し、測定光軸ＯＬ又は測定光軸ＯＲを中心とする測定パターン（リングパターン）を眼底ＥＬｆ又は眼底ＥＲｆに投影する。

レフ測定受光系７は、眼底ＥＬｆ又は眼底ＥＲｆからの戻り光を対物レンズを介して受光するように構成される。

ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴ光源からの光を測定光と参照光とに分割し、対物レンズを介して測定光を測定光軸ＯＬ上に配置される左被検眼ＥＬ、及び測定光軸ＯＲ上に配置される右被検眼ＥＲのいずれかに投射し、左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲからの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光との干渉光を検出する。

（ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲ）
ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲのそれぞれは、可視領域の波長成分を有する光を透過させ、近赤外領域（又は赤外領域）の波長成分を有する光を反射する。ここで、固視投影系４Ｌ、４Ｒにより投射される固視光束は可視領域の波長成分を有し、測定光学系３００により投射される光は近赤外領域（又は赤外領域）の波長成分を有するものとする。

ダイクロイックミラーＭＬは、測定光軸ＯＬに配置される。ダイクロイックミラーＭＬは、固視投影系４Ｌからの固視光束を透過させて左被検眼ＥＬに導く。また、ダイクロイックミラーＭＬは、測定光学系３００からの光を左被検眼ＥＬに向けて反射すると共に、左被検眼ＥＬからの戻り光を測定光学系３００に向けて反射する。同様に、ダイクロイックミラーＭＲは、測定光軸ＯＲに配置される。ダイクロイックミラーＭＲは、固視投影系４Ｒからの固視光束を透過させて右被検眼ＥＲに導く。また、ダイクロイックミラーＭＲは、測定光学系３００からの光を右被検眼ＥＲに向けて反射すると共に、右被検眼ＥＲからの戻り光を測定光学系３００に向けて反射する。

（光軸切替部材ＳＷ）
光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００とダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲとの間に配置される。光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００の光軸（すなわち、測定光学系３００からの光又は測定光学系３００への光）をダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲのいずれかに導くように構成される。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００の光軸を偏向する。例えば、光軸切替部材ＳＷは、光軸の偏向方向を変更可能な１以上の偏向面を有する。この場合、光軸切替部材ＳＷは、偏向面の向きが第１偏向方向のとき測定光学系３００の光軸をダイクロイックミラーＭＬに導き、偏向面の向きが第２偏向方向のとき測定光学系３００の光軸をダイクロイックミラーＭＲに導く。例えば、光軸切替部材ＳＷは、法線方向が互いに異なる２以上の偏向面を有し、Ｙ軸方向にのびる回動軸を中心に回動可能に構成される。図１では、光軸切替部材ＳＷは、両面に形成された２つの偏向面を有し、Ｙ軸方向にのびる回動軸を中心に回動可能な切替ミラーを含む。このような光軸切替部材ＳＷを回動軸を中心に回動することにより、測定光学系３００の光軸の偏向方向を切り替えることができる。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００の光軸に対して挿脱可能に構成される。例えば、光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００の光軸上に配置されているとき当該光軸をダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの一方に導き、測定光学系３００の光軸から退避されているとき当該光軸をダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの他方に導く。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００の光軸を偏向する偏向面を有し、当該光軸に沿って移動可能に構成される。例えば、光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００の光軸上の第１偏向位置に配置されているとき当該光軸を偏向してダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの一方に導き、測定光学系３００の光軸上の第２偏向位置に配置されているとき当該光軸を偏向してダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの他方に導く。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、測定光軸ＯＬと測定光軸ＯＲとに交互に略一致するように測定光学系３００の光軸を高速に切り替える。すなわち、光軸切替部材ＳＷは、測定光学系３００からの光を両眼に対して実質的に同時に投射するように測定光学系３００の光軸を高速に切り替えてもよい。例えば、光軸切替部材ＳＷは、少なくとも、両眼の一方に対して測定光学系３００からの光を投射して、その戻り光を受光するまでの時間を設けて、両眼の他方に測定光学系３００の光軸を切り替えることが可能である。

以下、説明の便宜上、光軸切替部材ＳＷは、両面に形成された２つの偏向面を有し、回動軸を中心とした回動によって偏向面の向きを変更することにより、測定光学系３００の光軸をダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲのいずれかに導くものとする。

（固視投影系４Ｌ、４Ｒ）
固視投影系４Ｌは、左被検眼ＥＬの眼底ＥＬｆに固視光束を投射することで、左被検眼ＥＬに固視標を提示する。固視投影系４Ｌは、固視ユニット４０Ｌと、リレーレンズ４３Ｌ、４４Ｌとを含む。固視ユニット４０Ｌは、液晶パネル４１Ｌと、リレーレンズ４２Ｌとを含む。液晶パネル４１Ｌは、後述の制御部からの制御を受け、固視標を表すパターンを表示する。液晶パネル４１Ｌの画面上におけるパターンの表示位置を変更することにより、左被検眼ＥＬの固視位置を変更できる。また、固視ユニット４０Ｌは、後述の制御部からの制御を受け、光軸方向に移動可能である。

液晶パネル４１Ｌからの光は、リレーレンズ４２Ｌ、４３Ｌ、４４Ｌを通過し、ダイクロイックミラーＭＬを透過し、眼底ＥＬｆに投射される。いくつかの実施形態では、固視ユニット４０Ｌは、リレーレンズ４３Ｌ、４４Ｌと独立に光軸方向に移動可能である。

同様に、固視投影系４Ｒは、右被検眼ＥＲの眼底ＥＲｆに固視光束を投射することで、右被検眼ＥＲに固視標を提示する。固視投影系４Ｒは、固視ユニット４０Ｒと、リレーレンズ４３Ｒ、４４Ｒとを含む。固視ユニット４０Ｒは、液晶パネル４１Ｒと、リレーレンズ４２Ｒとを含む。液晶パネル４１Ｒは、後述の制御部からの制御を受け、固視標を表すパターンを表示する。液晶パネル４１Ｒの画面上におけるパターンの表示位置を変更することにより、右被検眼ＥＲの固視位置を変更できる。また、固視ユニット４０Ｒは、後述の制御部からの制御を受け、光軸方向に移動可能である。

液晶パネル４１Ｒからの光は、リレーレンズ４２Ｒ、４３Ｒ、４４Ｒを通過し、ダイクロイックミラーＭＲを透過し、眼底ＥＲｆに投射される。いくつかの実施形態では、固視ユニット４０Ｒは、リレーレンズ４３Ｒ、４４Ｒと独立に光軸方向に移動可能である。

固視ユニット４０Ｌは、固視ユニット４０Ｒと独立に光軸方向に移動可能である。すなわち、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれの屈折力に応じて、固視ユニット４０Ｌ、４０Ｒのそれぞれは独立に光軸方向に移動可能である。

左被検眼ＥＬ、及び右被検眼ＥＲのそれぞれの固視位置としては、眼底の黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。固視標を表すパターンの表示位置を任意に変更することが可能である。

眼科装置１は、固視投影系４Ｌにより左被検眼ＥＬに固視標が提示された状態で、測定光学系３００により左被検眼ＥＬに対してケラト測定、レフ測定、及びＯＣＴ計測を実行することができる。また、眼科装置１は、固視投影系４Ｒにより右被検眼ＥＲに固視標が提示された状態で、測定光学系３００により右被検眼ＥＲに対してケラト測定、レフ測定、及びＯＣＴ計測を実行することができる。いくつかの実施形態では、眼科装置１は、固視投影系４Ｌ、４Ｒにより左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれに固視標が提示された状態で、測定光学系３００により左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれに対してケラト測定、レフ測定、及びＯＣＴ計測の少なくとも１つを順次に実行する。

このような眼科装置１は、ＯＣＴ光学系８の光軸（測定光の光路の軸）を調整する光軸調整部を含む。光軸調整部は、後述の制御部からの制御を受け、測定光の経路における光学部材を制御して、測定光を偏向したり、ＯＣＴ光学系８の光軸を移動したりすることでＯＣＴ光学系８の光軸を調整することができる。制御部は、測定光軸ＯＬ、ＯＲのいずれかにＯＣＴ光学系８の光軸が略一致するように光軸調整部を制御する。

また、眼科装置１は、被検者の瞳孔間距離に合わせて測定光軸ＯＬ、ＯＲとの間のＸ方向の距離を変更する瞳孔間距離調整部を含む。

図３に、第１実施形態に係る眼科装置１における瞳孔間距離調整部の動作例の説明図を示す。図３において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

瞳孔間距離調整部は、光軸切替部材ＳＷを測定光軸ＯＬ又は測定光軸ＯＲ（Ｚ方向、測定光学系３００の光軸）に沿って移動することにより測定光軸ＯＬ、ＯＲの間のＸ方向の距離を変更する。例えば、光軸切替部材ＳＷが初期位置にあるとき、測定光軸ＯＬ、ＯＲの間のＸ方向の距離が瞳孔間距離ＰＤとなる。ここで、光軸切替部材ＳＷの偏向面を一定に維持しつつ、光軸切替部材ＳＷを初期位置から測定光軸ＯＬ又は測定光軸ＯＲに沿って移動する。これにより、図３に示すように、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲにより偏向される光軸の位置が変化し、測定光軸ＯＬが測定光軸ＯＬ′となり、測定光軸ＯＲが測定光軸ＯＲ′となる。その結果、測定光軸ＯＬ′、ＯＲ′の間のＸ方向の距離が瞳孔間距離ＰＤ′となり、瞳孔間距離が変更される。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷを図３に示すＸ方向に移動することで、瞳孔間距離を変更する。

いくつかの実施形態では、光軸調整部は、測定光軸ＯＬ、ＯＲのいずれかにＯＣＴ光学系８の光軸が略一致するように、光軸切替部材ＳＷを測定光軸ＯＬ又は測定光軸ＯＲに沿って移動する。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、後述の制御部からの制御を受け、図示しない移動機構により移動される。この場合、図示しない移動機構（及び制御部）により瞳孔間距離調整部の機能が実現される。いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、手動により図示しない移動機構により移動される。この場合、図示しない移動機構により瞳孔間距離調整部の機能が実現される。

また、眼科装置１は、被検眼の輻輳角に合わせて、瞳孔を通じて左被検眼ＥＬに入射する測定光軸ＯＬの向き、及び瞳孔を通じて右被検眼ＥＲに入射する測定光軸ＯＲの向きの少なくとも一方を変更する輻輳角調整部を含む。

図４に、第１実施形態に係る眼科装置１における輻輳角調整部の動作例の説明図を示す。図４において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

輻輳角調整部は、ダイクロイックミラーＭＬの向き、及びダイクロイックミラーＭＲの向きの少なくとも一方を変更することにより、測定光軸ＯＬ、ＯＲの少なくとも一方の向きを変更する。ここで、ダイクロイックミラーＭＬの向きは、測定光学系３００の光路（光軸）と固視投影系４Ｌの光路（光軸）とを結合する光路結合部材の光路結合面の向き（法線方向）に相当する。また、ダイクロイックミラーＭＲの向きは、測定光学系３００の光路と固視投影系４Ｒの光路とを結合する光路結合部材の光路結合面の向きに相当する。

例えば、ダイクロイックミラーＭＬの光路結合面（偏向面）は、Ｙ軸方向にのびる回動軸を中心に回動可能に構成される。例えば、ダイクロイックミラーＭＲの光路結合面（偏向面）は、Ｙ軸方向にのびる回動軸を中心に回動可能に構成される。

例えば、ダイクロイックミラーＭＬの偏向面の向きが第１方向であり、ダイクロイックミラーＭＲの偏向面の向きが第２方向であるとき、測定光軸ＯＬ、ＯＲのそれぞれの向きは測定光学系３００の光軸方向に略平行な方向である。ここで、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲのそれぞれの偏向面の向きを内側に変更する。これにより、図４に示すように、ダイクロイックミラーＭＬにより偏向される測定光軸ＯＬが測定光軸ＯＬ′となり、測定光軸ＯＲが測定光軸ＯＲ′となり、輻輳角が変更される。

いくつかの実施形態では、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲは、後述の制御部からの制御を受け、図示しない移動機構（回動機構）により回動される。この場合、図示しない移動機構（及び制御部）により輻輳角調整部の機能が実現される。いくつかの実施形態では、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲは、手動により図示しない移動機構（回動機構）により回動される。この場合、図示しない移動機構により輻輳角調整部の機能が実現される。

また、輻輳角調整部は、光軸切替部材ＳＷによる偏向面の偏向角度を調整することにより、測定光軸ＯＬ、ＯＲの少なくとも一方の向きを変更してもよい。例えば、光軸切替部材ＳＷによる偏向面の偏向角度を調整することで、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの偏向面における測定光学系３００の光軸の入射方向を変更することができる。その結果、輻輳角が変更される。

いくつかの実施形態では、眼科装置１は、光軸切替部材ＳＷの偏向面の向き（偏向方向）、ダイクロイックミラーＭＬの偏向面（光路結合面）の向き、ダイクロイックミラーＭＲの偏向面の向きを変更する高さ調整部を含む。これにより、測定光軸ＯＬ、ＯＲの配列方向が調整される。例えば、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲとの配列方向が水平方向（Ｘ方向）ではないとき、上記の高さ調整部により測定光軸ＯＬ、ＯＲの配列方向を左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲとの配列方向に一致させることができる。光軸切替部材ＳＷの偏向面、ダイクロイックミラーＭＬの偏向面（光路結合面）、及びダイクロイックミラーＭＲの偏向面を回転させる移動機構は、高さ調整部の一例である。

また、眼科装置１は、ＯＣＴ光学系８により得られた干渉光の検出結果に基づいて、被検眼の眼内パラメータを算出する演算処理部を含む。具体的には、演算処理部は、ＯＣＴ光学系８の光軸が測定光軸ＯＬに略一致するように調整された状態で得られた干渉光の検出結果に基づいて左被検眼ＥＬの眼内パラメータを算出し、ＯＣＴ光学系８の光軸が測定光軸ＯＲに略一致するように調整された状態で得られた干渉光の検出結果に基づいて右被検眼ＥＲの眼内パラメータを算出する。

固視投影系４Ｌは、実施形態に係る「第１固視光学系」の一例である。固視投影系４Ｒは、実施形態に係る「第２固視光学系」の一例である。ダイクロイックミラーＭＬは、実施形態に係る「第１光路結合部材」の一例である。ダイクロイックミラーＭＲは、実施形態に係る「第２光路結合部材」の一例である。光軸切替部材ＳＷ（又は光軸切替部材ＳＷと光軸切替部材ＳＷを回動する移動機構）は、実施形態に係る「光軸切替部材」の一例である。ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲを回動する移動機構は、輻輳角調整部の一例である。輻輳角調整部は、実施形態に係る「第１調整部」の一例である。光軸切替部材ＳＷの偏向面、ダイクロイックミラーＭＬの偏向面（光路結合面）、及びダイクロイックミラーＭＲの偏向面を回転させる移動機構は、高さ調整部の一例である。高さ調整部は、実施形態に係る「第２調整部」の一例である。瞳孔間距離調整部は、実施形態に係る「第３調整部」の一例である。

以下、測定光学系３００の構成例について説明する。以下、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲを単に被検眼と表記する場合がある。

図５及び図６に、第１実施形態に係る測定光学系３００の構成例を示す。図５は、測定光学系３００を側方（Ｘ方向）から見た構成例を模式的に表したものである。図６は、図５のＯＣＴユニット１００の構成例を模式的に表したものである。なお、図５において、説明の便宜上、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡがＸ方向に配列され、前眼部カメラ１５ＬＢ、１５ＲＢがＸ方向に配列されるように図示されているが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。また、説明の便宜上、図５において、図１に示すダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの図示が省略されている。図５において、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。図６において、図５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

測定光学系３００は、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのいずれかを観察するための光学系と、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのいずれかを検査するための光学系と、これらの光学系の光路を波長分離するダイクロイックミラーとを含む。左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのいずれかを観察するための光学系として、前眼部観察系５が設けられている。左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのいずれかを検査するための光学系として、ケラト測定系３と、レフ測定光学系（屈折力測定光学系）と、ＯＣＴ光学系８とが設けられている。レフ測定光学系は、図２に示すように、レフ測定投射系６と、レフ測定受光系７とを含む。

第１実施形態では、ケラト測定系３、レフ測定投射系６、レフ測定受光系７、及びＯＣＴ光学系８が、左被検眼ＥＬの検査及び右被検眼ＥＲの検査で共用される。また、ＯＣＴ光学系８の光軸は、レフ測定光学系（レフ測定投射系６、レフ測定受光系７）の光軸に同軸に結合される。

具体的には、測定光学系３００は、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、前眼部観察系５、レフ測定投射系６、レフ測定受光系７、ＯＣＴ光学系８、及び前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡ、１５ＬＢ、１５ＲＢを含む。以下では、例えば、前眼部観察系５が９４０ｎｍ～１０００ｎｍの光を用い、レフ測定光学系（レフ測定投射系６、レフ測定受光系７）が８３０ｎｍ～８８０ｎｍの光を用い、ＯＣＴ光学系８が８００ｎｍ～９００ｎｍの光を用いるものとする。この場合、図１に示す固視投影系４Ｌ、４Ｒは、４００ｎｍ～７００ｎｍの光を用いることができる。いくつかの実施形態では、ＯＣＴ光学系８は、１０００ｎｍ～１１００ｎｍの光を用いる。

（前眼部観察系５）
前眼部観察系５は、対物レンズ５１（測定光学系３００）の光軸が光学的に同軸に結合されている測定光軸上の左被検眼ＥＬの前眼部又は右被検眼ＥＲの前眼部を動画撮影する。前眼部観察系５を経由する光学系において、撮像素子５９の撮像面は瞳孔共役位置に配置されている。前眼部照明光源５０は、左被検眼ＥＬの前眼部又は右被検眼ＥＲの前眼部に照明光（例えば、赤外光）を照射する。

いくつかの実施形態では、前眼部照明光源５０は、測定光軸ＯＬ、ＯＲから離れた位置から左被検眼ＥＬの前眼部又は右被検眼ＥＲの前眼部を照明するための一対の照明光源を含む。いくつかの実施形態では、前眼部照明光源５０は、測定光軸ＯＬから離れた位置から左被検眼ＥＬの前眼部を照明するための一対の照明光源と、測定光軸ＯＲから離れた位置から右被検眼ＥＲの前眼部を照明するための一対の照明光源とを含む。この場合、左被検眼ＥＬの前眼部を照明するための一対の照明光源の１つと、右被検眼ＥＲの前眼部を照明するための一対の照明光源の１つとが共用されてもよい。

左被検眼ＥＬの前眼部又は右被検眼ＥＲの前眼部により反射された光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２を透過し、絞り（テレセン絞り）５３に形成された孔部を通過し、ハーフミラー２３を透過し、リレーレンズ５５及び５６を通過し、ダイクロイックミラー７６を透過する。ダイクロイックミラー５２は、レフ測定光学系の光路と前眼部観察系５の光路とを合成（分離）する。ダイクロイックミラー５２は、これらの光路を合成する光路合成面が対物レンズ５１の光軸に対して傾斜して配置される。ダイクロイックミラー７６を透過した光は、結像レンズ５８により撮像素子５９（エリアセンサー）の撮像面に結像される。撮像素子５９は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子５９の出力（映像信号）は、後述の処理部９に入力される。処理部９は、この映像信号に基づく左被検眼ＥＬの前眼部画像又は右被検眼ＥＲの前眼部画像を後述の表示部２７０に表示させる。左被検眼ＥＬの前眼部画像及び右被検眼ＥＲの前眼部画像は、例えば赤外動画像である。

（前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡ、１５ＬＢ、１５ＬＢ）
前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢは、左被検眼ＥＬの前眼部を撮影する。前眼部カメラ１５ＬＡ及び１５ＬＢは、例えば、所定のフレームレートで動画撮影を行うビデオカメラである。前眼部カメラ１５ＬＡ及び１５ＬＢは、前眼部を異なる方向から実質的に同時に撮影する。例えば、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢは、左被検眼ＥＬに対する光学系の位置合わせを行うために用いられる。

左被検眼ＥＬの前眼部を撮影する前眼部カメラの個数は２以上の任意の個数であってよいが、異なる２方向から実質的に同時に前眼部を撮影可能な構成であればよい。また、１つの前眼部カメラが前眼部観察系５における撮像素子５９であってもよい。

「実質的に同時」とは、２以上の前眼部カメラによる撮影において、眼球運動を無視できる程度の撮影タイミングのズレを許容することを示す。それにより、被検眼が同じ位置（向き）にあるときの画像を２以上の前眼部カメラによって取得することができる。

前眼部カメラ１５ＲＡ、１５ＲＢは、右被検眼ＥＲの前眼部を撮影する。前眼部カメラ１５ＲＡ及び１５ＲＢは、例えば、所定のフレームレートで動画撮影を行うビデオカメラである。前眼部カメラ１５ＲＡ及び１５ＲＢは、前眼部を異なる方向から実質的に同時に撮影する。例えば、前眼部カメラ１５ＲＡ、１５ＲＢは、右被検眼ＥＲに対する光学系の位置合わせを行うために用いられる。

右被検眼ＥＲの前眼部を撮影する前眼部カメラの個数は２以上の任意の個数であってよいが、異なる２方向から実質的に同時に前眼部を撮影可能な構成であればよい。また、１つの前眼部カメラが前眼部観察系５における撮像素子５９であってもよい。

いくつかの実施形態では、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢに代えて、光てこ方式の公知のＺアライメント系が設けられる。いくつかの実施形態では、前眼部カメラ１５ＲＡ、１５ＲＢに代えて、光てこ方式の公知のＺアライメント系が設けられる。

（ＸＹアライメント系２）
ＸＹアライメント系２は、前眼部観察系５の光軸に直交する方向（左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向））のアライメントを行うための光（赤外光）を、対物レンズ５１（測定光学系３００）の光軸が光学的に同軸に結合されている測定光軸上の左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲに照射する。ＸＹアライメント系２は、ハーフミラー２３により前眼部観察系５の光路から分岐された光路に設けられたＸＹアライメント光源２１とコリメータレンズ２２とを含む。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、コリメータレンズ２２を通過し、ハーフミラー２３により反射され、前眼部観察系５を通じて左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲに投射される。左被検眼ＥＬの角膜ＣＬｒ又は右被検眼ＥＲの角膜ＣＲｒによる反射光は、前眼部観察系５を通じて撮像素子５９に導かれる。

角膜ＣＬｒからの反射光に基づく像（ＸＹ輝点像）は左被検眼ＥＬの前眼部画像に含まれる。角膜ＣＲｒからの反射光に基づく像（ＸＹ輝点像）は右被検眼ＥＲの前眼部画像に含まれる。例えば、処理部９は、左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲについて、ＸＹ輝点像を含む前眼部画像とアライメントマークとを表示部に表示させる。手動でＸＹアライメントを行う場合、ユーザは、アライメントマーク内にＸＹ輝点像を誘導するように光学系の移動操作を行う。自動でアライメントを行う場合、処理部９は、アライメントマークに対するＸＹ輝点像の変位がキャンセルされるように、光学系を移動させる機構を制御する。いくつかの実施形態では、処理部９は、アライメントマークに対するＸＹ輝点像の変位がキャンセルされるように、光学系を移動させる機構と図１に示す光軸切替部材ＳＷ、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲとを移動させる機構とを制御する。

（ケラト測定系３）
ケラト測定系３は、左被検眼ＥＬの角膜ＣＬｒの形状又は右被検眼ＥＲの角膜ＣＲｒの形状（角膜形状情報）を測定するためのリング状光束（赤外光）を角膜ＣＬｒ又は角膜ＣＲｒに投射する。ケラト板３１は、対物レンズ５１と左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラト板３１には、対物レンズ５１（測定光学系３００）の光軸を中心とする円周上に沿ってケラトリング光源３２からの光を透過するケラトパターン（透過部）が形成されている。いくつかの実施形態では、ケラト板３１には、光軸を中心とする円周上に沿ってケラトリング光源３２からの光を透過するケラトパターン（透過部）が形成されている。なお、ケラトパターンは、光軸を中心とする円弧状（円周の一部）に形成されていてもよい。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、角膜ＣＬｒ又は角膜ＣＲｒにリング状光束（円弧状又は円周状の測定パターン）が投射される。角膜ＣＬｒ又は角膜ＣＲｒからの反射光（ケラトリング像）は撮像素子５９により左被検眼ＥＬの前眼部画像又は右被検眼ＥＲの前眼部画像とともに検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで、角膜ＣＬｒの形状を表す角膜形状パラメータ及び角膜ＣＲｒの形状を表す角膜形状パラメータを算出する。

（レフ測定投射系６、レフ測定受光系７）
レフ測定光学系は、屈折力測定に用いられるレフ測定投射系６及びレフ測定受光系７を含む。レフ測定投射系６は、屈折力測定用の光束（例えば、リング状光束）（赤外光）を、対物レンズ５１（測定光学系３００）の光軸が光学的に同軸に結合されている測定光軸上の左被検眼ＥＬの眼底ＥＬｆ又は右被検眼ＥＲの眼底ＥＲｆに投射する。レフ測定受光系７は、屈折力測定用の光束の左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲからの戻り光を受光する。

レフ測定投射系６は、レフ測定受光系７の光路に設けられた孔開きプリズム６５によって分岐された光路に設けられる。孔開きプリズム６５に形成されている孔部は、対物レンズ５１（測定光学系３００）の光軸が光学的に同軸に結合されている測定光軸上の左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲの瞳孔共役位置に配置される。レフ測定受光系７を経由する光学系において、撮像素子５９の撮像面は眼底共役位置に配置される。

いくつかの実施形態では、レフ測定光源６１は、高輝度光源であるＳＬＤ（ＳｕｐｅｒｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔＤｉｏｄｅ）光源である。レフ測定光源６１は、光軸方向に移動可能である。レフ測定光源６１は、対物レンズ５１（測定光学系３００）の光軸が光学的に同軸に結合されている測定光軸上の左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲの眼底共役位置に配置される。

レフ測定光源６１から出力された光は、リレーレンズ６２を通過し、円錐プリズム６３の円錐面に入射する。円錐面に入射した光は偏向され、円錐プリズム６３の底面から出射する。円錐プリズム６３の底面から出射した光は、リング絞り６４にリング状に形成された透光部を通過する。リング絞り６４の透光部を通過した光（リング状光束）は、孔開きプリズム６５の孔部の周囲に形成された反射面により反射され、ロータリープリズム６６を通過し、ダイクロイックミラー６７により反射される。ダイクロイックミラー６７により反射された光は、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１を通過し、対物レンズ５１の光軸に略一致するように調整された測定光軸上の左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲに投射される。ロータリープリズム６６は、眼底の血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化や光源に起因するスペックルノイズの低減のために用いられる。

左被検眼ＥＬの眼底ＥＬｆ又は右被検眼ＥＲの眼底ＥＲｆに投射されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及びダイクロイックミラー６７により反射される。ダイクロイックミラー６７により反射された戻り光は、ロータリープリズム６６を通過し、孔開きプリズム６５の孔部を通過し、リレーレンズ７１を通過し、反射ミラー７２により反射され、リレーレンズ７３及び合焦レンズ７４を通過する。合焦レンズ７４は、レフ測定受光系７の光軸に沿って移動可能である。合焦レンズ７４を通過した光は、反射ミラー７５により反射され、ダイクロイックミラー７６により反射され、結像レンズ５８により撮像素子５９の撮像面に結像される。

処理部９は、撮像素子５９からの出力を基に公知の演算を行うことで左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲの屈折力値を算出する。具体的には、処理部９は、撮像素子５９からの出力に基づいて左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲからのリングパターン像を特定し、特定されたリングパターン像に対して公知の演算を行うことで、左被検眼ＥＬの屈折力値又は右被検眼ＥＲの屈折力値を算出する。レフ測定光学系の光軸を測定光軸ＯＬ、ＯＲに順次に切り替えることにより、処理部９は、左被検眼ＥＬの屈折力値、及び右被検眼ＥＲの屈折力値を順次に算出することが可能である。例えば、屈折力値は、球面度数、乱視度数及び乱視軸角度、又は等価球面度数を含む。

いくつかの実施形態では、測定光学系３００は、固視投影系４Ｌ、４Ｒを含む。

（ＯＣＴ光学系８）
ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴ計測を行うための光学系である。例えば、ＯＣＴ計測よりも前に実施されたレフ測定結果に基づいて、光ファイバーｆ１の端面が撮影部位（眼底又は前眼部）と光学系に共役となるように合焦レンズ８７の位置が調整される。

ＯＣＴ光学系８は、ダイクロイックミラー６７によりレフ測定光学系の光路から波長分離された光路に設けられる。ＯＣＴ光学系８の光軸は、対物レンズ５１の光軸（レフ測定光学系の光軸）と同軸に結合され、測定光軸ＯＬ、ＯＲのいずれか一方と略一致するように調整可能である。

ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴユニット１００を含む。図６に示すように、ＯＣＴユニット１００には、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのいずれか一方に対してＯＣＴ計測（ＯＣＴ撮影、ＯＣＴスキャン）を行うための光学系が設けられている。この光学系は、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、広帯域光源からの光（低コヒーレンス光）を参照光と測定光とに分割し、被検眼（ＯＣＴ計測部位）を経由した測定光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル成分を検出するように構成されている。この検出結果（検出信号）は処理部９に送られる。

光源ユニット１０１は広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。低コヒーレンス光Ｌ０は、例えば、近赤外領域の波長帯（約８００ｎｍ～９００ｎｍ程度）の波長成分を有し、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。また、人眼では視認できない波長帯、例えば１０４０～１０６０ｎｍ程度の中心波長を有する近赤外光を低コヒーレンス光Ｌ０として用いてもよい。

以下、光源ユニット１０１は、８４０ｎｍの波長成分を有する低コヒーレンス光Ｌ０を出力するものとする。

光源ユニット１０１は、スーパールミネセントダイオード（ＳｕｐｅｒＬｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔＤｉｏｄｅ：ＳＬＤ）や、ＬＥＤや、ＳＯＡ（ＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒＯｐｔｉｃａｌＡｍｐｌｉｆｉｅｒ）等の光出力デバイスを含んで構成される。

光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバー１０２によりファイバーカプラー１０３に導かれて測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。

参照光ＬＲは、光ファイバー１０４により導かれてアッテネータ（光減衰器）１０５に到達する。アッテネータ１０５は、公知の技術を用いて、処理部９の制御の下、光ファイバー１０４により導かれる参照光ＬＲの光量を自動で調整する。アッテネータ１０５により光量が調整された参照光ＬＲは、光ファイバー１０４により導かれて偏波コントローラ（偏波調整器）１０６に到達する。偏波コントローラ１０６は、例えば、ループ状にされた光ファイバー１０４に対して外部から応力を与えることで、光ファイバー１０４内を導かれる参照光ＬＲの偏波状態を調整する装置である。なお、偏波コントローラ１０６の構成はこれに限定されるものではなく、任意の公知技術を用いることが可能である。偏波コントローラ１０６により偏波状態が調整された参照光ＬＲは、ファイバーカプラー１０９に到達する。

ファイバーカプラー１０３により生成された測定光ＬＳは、光ファイバーｆ１によりコリメータレンズ９０（図６）に導かれ、コリメータレンズ９０により平行光束とされる。更に、測定光ＬＳは、光路長変更部８９、光スキャナー８８、合焦レンズ８７、リレーレンズ８５、８２、及び反射ミラー８１を経由して、ダイクロイックミラー６７に到達する。

いくつかの実施形態では、合焦レンズ８７と光スキャナー８８とは、光軸方向に移動可能な１つのユニット内に収容される。これにより、合焦レンズ８７と光スキャナー８８との光学的な位置関係が維持されたまま光軸方向に移動することができる。このように合焦レンズ８７と光スキャナー８８とを一体的に移動可能に構成することにより、光スキャナー８８と被検眼との共役関係を維持したまま光学系の調整が可能となる。また、この構成の場合、合焦レンズ８７の焦点距離ｆを変えることで、被検眼の瞳孔と光スキャナー８８の倍率関係を容易に変更ことが可能である。

いくつかの実施形態では、合焦レンズ８７と光スキャナー８８とは、ユニット内で独立に光軸方向に移動される。いくつかの実施形態では、合焦レンズ８７と光スキャナー８８とは、処理部９からの制御を受けて独立に又は一体的に光軸方向に移動される。例えば、対物レンズ５１の焦点位置に被検眼の瞳孔が配置され、合焦レンズ８７の焦点位置に光スキャナー８８の偏向面が配置される（合焦レンズ８７の焦点位置に光スキャナー８８が配置される場合、瞳孔共役関係が保たれ、光スキャナー８８の偏向面は瞳孔共役位置に配置される）。

光路長変更部８９は、測定光ＬＳの光路長を変更する。測定光ＬＳの光路長を変更することにより、参照光ＬＲの光路長と測定光ＬＳの光路長との差を変更することが可能である。例えば、光路長変更部８９は、測定光ＬＳの光路及び測定光ＬＳの戻り光の光路に沿って移動可能なリトロリフレクター（ｒｅｔｒｏｒｅｆｌｅｃｔｏｒ）を含み、リトロリフレクターを移動することで測定光ＬＳの光路長を変更する。

光スキャナー８８は、測定光ＬＳを１次元的又は２次元的に偏向する。

いくつかの実施形態では、光スキャナー８８は、第１ガルバノミラーと、第２ガルバノミラーとを含む。第１ガルバノミラーは、ＯＣＴ光学系８の光軸に直交する水平方向（Ｘ方向）にＯＣＴ計測部位をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。第２ガルバノミラーは、ＯＣＴ光学系８の光軸に直交する垂直方向（Ｙ方向）に撮影部位をスキャンするように、第１ガルバノミラーにより偏向された測定光ＬＳを偏向する。このような光スキャナー８８による測定光ＬＳの走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャン、リサージュスキャンなどがある。

いくつかの実施形態では、光スキャナー８８は、測定光ＬＳを２次元的に偏向するＭＥＭＳスキャナー（ＭＥＭＳミラースキャナー）を含む。ＭＥＭＳスキャナーは、ＯＣＴ光学系８の光軸に直交する水平方向及び垂直方向にＯＣＴ計測部位をスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。

なお、光スキャナー８８は、ガルバノミラー及びＭＥＭＳスキャナー以外に、ポリゴンミラー、回転ミラー、ダボプリズム、ダブルダボプリズム、ローテーションプリズムなどを含んで構成されていてもよい。

ダイクロイックミラー６７に到達した測定光ＬＳは、ダイクロイックミラー６７を透過し、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１により屈折される。対物レンズ５１により屈折された測定光ＬＳは、光軸切替部材ＳＷによりダイクロイックミラーＭＬ又はダイクロイックミラーＭＲに向けて偏向される。ダイクロイックミラーＭＬ又はダイクロイックミラーＭＲにより偏向された測定光ＬＳは、左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲのＯＣＴ計測部位に照射される。測定光ＬＳは、ＯＣＴ計測部位の様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。ＯＣＴ計測部位による測定光ＬＳの後方散乱光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバーカプラー１０３に導かれ、光ファイバー１０８を経由してファイバーカプラー１０９に到達する。

ファイバーカプラー１０９は、測定光ＬＳの後方散乱光と、アッテネータ１０５等を経由した参照光ＬＲとを干渉させる。これにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバー１１０により導かれて出射端１１１から出射される。更に、干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１１２により平行光束とされ、回折格子（分光器）１１３により分光（スペクトル分解）され、ズーム光学系１１４により集光されてＣＣＤイメージセンサ１１５の受光面に投影される。なお、図８に示す回折格子１１３は透過型であるが、例えば反射型の回折格子など、他の形態の分光素子を用いることも可能である。

ＣＣＤイメージセンサ１１５は、例えばラインセンサーであり、２以上の受光素子（検出素子）が配列され、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤイメージセンサ１１５は、この電荷を蓄積して検出信号を生成し、これを処理部９に送る。

この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、例えばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、ＣＣＤイメージセンサに代えて、他の形態のイメージセンサ、例えばＣＭＯＳ（ＣｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙＭｅｔａｌＯｘｉｄｅＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサなどを用いることが可能である。

また、図５に示す構成では、光路長変更部８９により測定光ＬＳの光路長を変更することにより、測定光ＬＳの光路長と参照光ＬＲの光路長との差を変更するように構成されているが、実施形態に係る構成は、これに限定されるものではない。例えば、公知の手法により参照光ＬＲの光路長を変更することにより、測定光ＬＳの光路長と参照光ＬＲの光路長との差を変更するように構成されていてもよい。

処理部９は、レフ測定光学系を用いて得られた測定結果から左被検眼ＥＬの屈折力値を算出し、算出された屈折力値に基づいて、眼底ＥＬｆとレフ測定光源６１と撮像素子５９とが共役となる位置に、レフ測定光源６１を光軸方向に移動させることが可能である。また、処理部９は、レフ測定光学系を用いて得られた測定結果から右被検眼ＥＲの屈折力値を算出し、算出された屈折力値に基づいて、眼底ＥＲｆとレフ測定光源６１と撮像素子５９とが共役となる位置に、レフ測定光源６１を光軸方向に移動させることが可能である。いくつかの実施形態では、処理部９は、左被検眼ＥＬの屈折値と右被検眼ＥＲの屈折値とから求められる合成屈折値（例えば、中間度数）に対応する位置に、合焦レンズ７４を移動させる。

いくつかの実施形態では、処理部９は、合焦レンズ７４の移動に連動して合焦レンズ８７及び光スキャナー８８をその光軸方向に移動させる。いくつかの実施形態では、処理部９は、レフ測定光源６１及び合焦レンズ７４の移動に連動して液晶パネル４１Ｌ（固視ユニット４０Ｌ）をその光軸方向に移動させる。いくつかの実施形態では、処理部９は、レフ測定光源６１及び合焦レンズ７４の移動に連動して液晶パネル４１Ｒ（固視ユニット４０Ｒ）をその光軸方向に移動させる。

上記の実施形態において、合焦レンズ７４、８７の少なくとも１つの機能が液晶レンズ又は液体レンズにより実現されてもよい。

実施形態に係る眼科装置１の光学系の構成は、図１～図６に示す構成に限定されるものではない。

＜前眼部カメラの配置例＞
図７に、図１の前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡ、１５ＬＢ、１５ＬＢの配置例を模式的に示す。

図７に示すように、例えば、前眼部カメラ１５ＬＡは、測定光軸ＯＬに対してＹ方向の正の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影し、前眼部カメラ１５ＬＢは、測定光軸ＯＬに対してＹ方向の負の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影するように配置される。前眼部カメラ１５ＬＡは、測定光軸ＯＬに対してＸ方向の正の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影し、前眼部カメラ１５ＬＢは、測定光軸ＯＬに対してＸ方向の負の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影するように配置されてよい。

同様に、例えば、前眼部カメラ１５ＲＡは、測定光軸ＯＲに対してＹ方向の正の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影し、前眼部カメラ１５ＲＢは、測定光軸ＯＲに対してＹ方向の負の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影するように配置される。前眼部カメラ１５ＲＡは、測定光軸ＯＲに対してＸ方向の正の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影し、前眼部カメラ１５ＲＢは、測定光軸ＯＲに対してＸ方向の負の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影するように配置されてよい。

前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡ、１５ＬＢ、１５ＬＢの一部の機能を１つの前眼部カメラで実現してもよい。

図８に、図１の前眼部カメラ１５ＬＢ、１５ＲＢの機能を前眼部カメラ１５ＬＲで実現する場合の配置例を模式的に示す。

前眼部カメラ１５ＬＲは、左被検眼ＥＬの前眼部及び右被検眼ＥＲの前眼部を撮影する。図８に示すように、例えば、前眼部カメラ１５ＬＡは、測定光軸ＯＬに対してＹ方向の正の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影し、前眼部カメラ１５ＬＲは、測定光軸ＯＬに対してＹ方向の負の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影するように配置される。前眼部カメラ１５ＬＡは、測定光軸ＯＬに対してＸ方向の正の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影し、前眼部カメラ１５ＬＲは、測定光軸ＯＬに対してＸ方向の負の角度をなす方向から左被検眼ＥＬを撮影するように配置されてよい。

同様に、例えば、前眼部カメラ１５ＲＡは、測定光軸ＯＲに対してＹ方向の正の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影し、前眼部カメラ１５ＬＲは、測定光軸ＯＲに対してＹ方向の負の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影するように配置される。前眼部カメラ１５ＬＲは、測定光軸ＯＲに対してＸ方向の正の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影し、前眼部カメラ１５ＲＡは、測定光軸ＯＲに対してＸ方向の負の角度をなす方向から右被検眼ＥＲを撮影するように配置されてよい。

実施形態に係る眼科装置１は、少なくともレフ測定光学系及びＯＣＴ光学系８において対物レンズを共用化しつつ、レフ測定光学系を用いたレフ測定（屈折力測定）とＯＣＴ光学系８を用いたＯＣＴ計測とを実行することが可能である。レフ測定及びＯＣＴ計測のそれぞれは、左被検眼及び右被検眼のいずれかに対して順次に実行することが可能である。いくつかの実施形態では、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの一方に対してＯＣＴ計測を実行する前に、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの他方の眼軸長及び屈折力に基づいてＯＣＴ光学系８を制御することで参照光路の光路長が調整される。これにより、一方の被検眼に対してＯＣＴ計測を行う前に、他方の被検眼の測定環境から推定される測定環境を設定することができ、ＯＣＴ計測に要する時間を短縮することができる。

第１実施形態に係る眼科装置１は、ＯＣＴ光学系８の光軸（測定光の光路の軸）を調整することが可能である。

＜ＯＣＴ光学系８の光軸の調整例＞
図９Ａに、第１実施形態に係るＯＣＴ光学系８の光軸の第１調整例の説明図を示す。図９Ａにおいて、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

測定光学系３００は、偏向部材ＤＦ１、ＤＦ２を含み、偏向部材ＤＦ１は、ＯＣＴ光学系８の光軸を偏向部材ＤＦ２に向けて偏向し、偏向部材ＤＦ２は、偏向部材ＤＦ１により偏向された光軸を光軸切替部材ＳＷに向けて偏向する。例えば、偏向部材ＤＦ１を光軸方向に移動することにより、測定光軸ＯＬ、ＯＲの一方から他方に略一致するようにＯＣＴ光学系８の光軸を調整することができる。例えば、偏向部材ＤＦ１′の位置において、ＯＣＴ光学系８の光軸を測定光軸ＯＬに略一致させ、偏向部材ＤＦ１の位置において、ＯＣＴ光学系８の光軸を測定光軸ＯＲに略一致させることができる。

例えば、眼科装置１は、被検者の瞳孔間距離に応じて偏向部材ＤＦ１を移動することにより、ＯＣＴ光学系８の光軸を測定光軸ＯＬ、ＯＲのいずれか一方に略一致させることが可能である。

図５において、偏向部材ＤＦ１の例として、反射ミラー８１がある。偏向部材ＤＦ２の例として、ダイクロイックミラー５２がある。

図９Ｂに、第１実施形態に係るＯＣＴ光学系８の光軸の第２調整例の説明図を示す。図９Ｂにおいて、図１と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

測定光学系３００（眼科装置１）は、後述の制御部からの制御を受け、ＯＣＴ光学系８を移動する移動機構を含む。例えば、この移動機構は、対物レンズ５１からコリメータレンズ９０に至る経路の光学素子とは独立にＯＣＴ光学系８（具体的にはＯＣＴユニット１００）を移動する。例えば、ＯＣＴユニット１００をＯＣＴ光学系８の光軸に交差する方向に移動することにより、測定光軸ＯＬ、ＯＲの一方から他方に略一致するようにＯＣＴ光学系８の光軸を調整することができる。例えば、ＯＣＴ光学系８′の位置において、ＯＣＴ光学系８の光軸を測定光軸ＯＬに略一致させ、ＯＣＴ光学系８の位置において、ＯＣＴ光学系８の光軸を測定光軸ＯＲに略一致させることができる。

例えば、眼科装置１は、被検者の瞳孔間距離に応じてＯＣＴ光学系８（ＯＣＴユニット１００）の光軸の位置を移動することにより、ＯＣＴ光学系８の光軸を測定光軸ＯＬ、ＯＲのいずれか一方に略一致させることが可能である。

また、第１実施形態に係るＯＣＴ光学系８の光軸の第３調整例として、測定光の経路中の光学部材によりＯＣＴ光学系８の光軸の偏向方向を変更することが可能である。光学部材の例として、図５の反射ミラー８１、ダイクロイックミラー５２、図示しない反射ミラーなどがある。例えば、被検者の瞳孔間距離に基づいて光学部材により偏向されるＯＣＴ光学系８の偏向方向を変更することによりＯＣＴ光学系８の光軸を調整する。

＜処理系の構成＞
眼科装置１の処理系の構成について説明する。

図１０及び図１１に、眼科装置１の処理系の機能的な構成例を示す。図１０は、眼科装置１の処理系の機能ブロック図の一例を表す。図１１は、図１０のＯＣＴ光学系８の機能ブロック図の一例を表す。図１０及び図１１において、図１又は図５と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

処理部９は、眼科装置１の各部を制御する。また、処理部９は、各種演算処理を実行可能である。処理部９の機能は、処理回路により実現される。処理部９は、１以上のプロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＧＰＵ（ＧｒａｐｈｉｃｓＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（ＡｐｐｌｉｃａｔｉｏｎＳｐｅｃｉｆｉｃＩｎｔｅｇｒａｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（ＳｉｍｐｌｅＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＬｏｇｉｃＤｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（ＣｏｍｐｌｅｘＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＬｏｇｉｃＤｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（ＦｉｅｌｄＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＧａｔｅＡｒｒａｙ））等の回路により実現される。処理部９は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

いくつかの実施形態では、処理部９は、実施形態に係る機能を実現する単一のプロセッサを含む。いくつかの実施形態では、処理部９は、それぞれが実施形態に係る１以上の機能を実現する複数のプロセッサを含む。

処理部９は、制御部２１０と、演算処理部２２０とを含む。また、眼科装置１は、移動機構２００、３１０、３２０と、表示部２７０と、操作部２８０と、通信部２９０とを含む。

移動機構２００は、前眼部カメラ１５ＬＡ、ＬＢ、ＲＡ、ＲＢ、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、前眼部観察系５、レフ測定投射系６、レフ測定受光系７及びＯＣＴ光学系８等の光学系が収納されたヘッド部をＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動させるための機構である。例えば、移動機構２００には、ヘッド部を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。制御部２１０（主制御部２１１）は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構２００に対する制御を行う。

移動機構３１０は、図３に示すように光軸切替部材ＳＷを移動する。例えば、移動機構３１０は、移動機構２００と同様の構成を有する。制御部２１０（主制御部２１１）は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構３１０に対する制御を行う。

移動機構３２０は、図４に示すようにダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲのそれぞれを独立に回動軸を中心に回動する。例えば、移動機構３２０には、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲのそれぞれを回動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。制御部２１０（主制御部２１１）は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構３２０に対する制御を行う。

なお、図示は省略するが、眼科装置１は、図９Ａ及び図９Ｂに示すＯＣＴ光学系８の光軸を調整するための機構を含むことができる。例えば、上記の機構は、移動機構２００又は移動機構３２０と同様の構成を有する。制御部２１０（主制御部２１１）は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより上記の機構に対する制御を行う。

（制御部２１０）
制御部２１０は、プロセッサを含み、眼科装置１の各部を制御する。制御部２１０は、主制御部２１１と、記憶部２１２とを含む。記憶部２１２には、眼科装置１を制御するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。コンピュータプログラムには、前眼部カメラ制御用プログラム、ＸＹアライメント系制御用プログラム、ケラト測定系制御用プログラム、固視投影系制御用プログラム、前眼部観察制御用プログラム、レフ測定制御用プログラム、ＯＣＴ計測制御用プログラム、演算処理用プログラム、ユーザインターフェイス用プログラム、通信制御用プログラムなどが含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部２１１が動作することにより、制御部２１０は制御処理を実行する。

主制御部２１１は、測定制御部として眼科装置の各種制御を行う。前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢ、１５ＲＡ、１５ＲＢに対する制御には、露光調整、ゲイン調整、フレームレート調整、撮影タイミング調整、撮影範囲調整、撮影倍率調整、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢの同期制御、前眼部カメラ１５ＲＡ、１５ＲＢの同期制御、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢ、１５ＲＡ、１５ＲＢの同期制御などがある。

前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢは、左被検眼ＥＬの前眼部を異なる方向から実質的に同時に撮影する。主制御部２１１は、後述のデータ処理部２２３を制御することにより、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢにより取得された２つの撮影画像から左被検眼ＥＬの３次元位置を特定させる。データ処理部２２３は、例えば特開２０１３－２４８３７６号公報に開示されているように、前眼部カメラ１５ＬＡ及び１５ＬＢにより実質的に同時に得られた２つの撮影画像のそれぞれを解析して公知の三角法を適用することにより、左被検眼ＥＬの前眼部の特徴部位に相当する特徴位置を特定する。前眼部の特徴部位は、例えば瞳孔中心である。更に、データ処理部２２３は、特定された特徴位置に基づいて左被検眼ＥＬの３次元位置を特定する。本例では、瞳孔中心の位置が被検眼の位置を近似している。なお、被検眼における角膜頂点と瞳孔との間の距離、又は、標準的な眼（模型眼、平均値等）における角膜頂点と瞳孔との間の距離を利用することで、角膜頂点の位置を被検眼の位置として求めることができる。

前眼部カメラ１５ＲＡ、１５ＲＢは、右被検眼ＥＲの前眼部を異なる方向から実質的に同時に撮影する。主制御部２１１は、後述のデータ処理部２２３を制御することにより、前眼部カメラ１５ＲＡ、１５ＲＢにより取得された２つの撮影画像から右被検眼ＥＲの３次元位置を特定させる。データ処理部２２３は、前眼部カメラ１５ＲＡ及び１５ＲＢにより実質的に同時に得られた２つの撮影画像のそれぞれを解析して公知の三角法を適用することにより、右被検眼ＥＲの前眼部の特徴部位に相当する特徴位置を特定する。更に、データ処理部２２３は、特定された特徴位置に基づいて右被検眼ＥＲの３次元位置を特定する。

主制御部２１１は、データ処理部２２３により特定された左被検眼ＥＬの３次元位置及び右被検眼ＥＲの３次元位置に基づいて移動機構２００を制御することにより、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに対する光学系の位置合わせを実行することができる。また、主制御部２１１は、特定された左被検眼ＥＬの３次元位置及び右被検眼ＥＲの３次元位置に基づいて移動機構３１０、３２０を制御することにより、瞳孔間距離の調整及び輻輳角の調整を行うことができる。更に、主制御部２１１は、特定された左被検眼ＥＬの３次元位置及び右被検眼ＥＲの３次元位置に基づいてＯＣＴ光学系８の光軸（すなわち、測定光学系３００の光軸又は対物レンズ５１の光軸）を測定光軸ＯＬ、ＯＲのいずれかに略一致させる光軸調整を行うことができる。

ＸＹアライメント系２に対する制御には、ＸＹアライメント光源２１の制御などがある。ＸＹアライメント光源２１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、ＸＹアライメント光源２１の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された信号を取り込み、データ処理部２２３を制御することにより、取り込まれた信号に基づいてＸＹアライメント光源２１からの光の戻り光に基づく輝点像の位置を特定させる。主制御部２１１は、所定の目標位置に対する輝点像の位置との変位がキャンセルされるように移動機構２００を制御してヘッド部を左右上下方向に移動させる（ＸＹアライメント）。

ケラト測定系３に対する制御には、ケラトリング光源３２の制御などがある。ケラトリング光源３２の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、ケラトリング光源３２の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出されたケラトリング像に対する公知の演算を演算処理部２２０（データ処理部２２３）に実行させる。それにより、被検眼の角膜形状パラメータが求められる。

固視投影系４Ｌ、４Ｒに対する制御には、液晶パネル４１Ｌ、４１Ｒの制御や固視ユニット４０Ｌ、４０Ｒの移動制御などがある。液晶パネル４１Ｌ、４１Ｒの制御には、固視標の表示のオン・オフや、検査や測定の種別に応じた固視標の切り替えや、固視標の表示位置の切り替えなどがある。

また、例えば、固視投影系４Ｌ、４Ｒには、液晶パネル４１Ｌ、４１Ｒ（又は固視ユニット４０Ｌ、４０Ｒ）のそれぞれを光軸方向に移動する移動機構が設けられる。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、少なくとも液晶パネル４１Ｌ、４１Ｒのそれぞれを光軸方向に移動させる。それにより、液晶パネル４１Ｌと眼底ＥＬｆ、及び液晶パネル４１Ｒと眼底ＥＲｆのそれぞれが光学的に共役となるように液晶パネル４１Ｌ、４１Ｒの位置が調整される。

前眼部観察系５に対する制御には、前眼部照明光源５０の制御、リレーレンズ５６を移動するレンズ移動機構の制御、撮像素子５９の制御などがある。前眼部照明光源５０の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、前眼部照明光源５０の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。レンズ移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることによりレンズ移動機構に対する制御を行い、リレーレンズ５６を光軸方向に移動させる。撮像素子５９の制御には、撮像素子５９の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部２２０に実行させる。

レフ測定投射系６に対する制御には、レフ測定光源６１の制御、ロータリープリズム６６の制御などがある。レフ測定光源６１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整などがある。それにより、レフ測定光源６１の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。例えば、レフ測定投射系６は、レフ測定光源６１を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、レフ測定光源６１を光軸方向に移動させる。ロータリープリズム６６の制御には、ロータリープリズム６６の回転制御などがある。例えば、ロータリープリズム６６を回転させる回転機構が設けられており、主制御部２１１は、この回転機構を制御することによりロータリープリズム６６を回転させる。

レフ測定受光系７に対する制御には、合焦レンズ７４の制御などがある。合焦レンズ７４の制御には、合焦レンズ７４の光軸方向への移動制御などがある。例えば、レフ測定受光系７は、合焦レンズ７４を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、合焦レンズ７４を光軸方向に移動させる。主制御部２１１は、レフ測定光源６１と眼底ＥＬｆ又は眼底ＥＲｆと撮像素子５９が光学的に共役となるように、例えば左被検眼ＥＬの屈折力、眼底ＥＲｆの屈折力、又は左被検眼ＥＬの屈折力及び眼底ＥＲｆの屈折力の合成屈折力に応じてレフ測定光源６１及び合焦レンズ７４をそれぞれ光軸方向に移動させることが可能である。

ＯＣＴ光学系８に対する制御には、光源ユニット１０１の制御、アッテネータ１０５の制御、偏波コントローラ１０６の制御、ズーム光学系１１４の制御、ＣＣＤイメージセンサ１１５の制御、合焦レンズ８７の制御、光スキャナー８８の制御、光路長変更部８９の制御などがある。

光源ユニット１０１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。アッテネータ１０５の制御には、参照光ＬＲの光量の調整などがある。偏波コントローラ１０６の制御には、参照光ＬＲの偏波状態の調整などがある。ズーム光学系１１４の制御には、光学倍率の制御などがある。ＣＣＤイメージセンサ１１５の制御には、ＣＣＤイメージセンサ１１５の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部２１１は、ＣＣＤイメージセンサ１１５により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部２２０に実行させる。

合焦レンズ８７の制御には、合焦レンズ８７の光軸方向への移動制御などがある。例えば、ＯＣＴ光学系８は、合焦レンズ８７を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部２１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、合焦レンズ８７を光軸方向に移動させる。

いくつかの実施形態では、眼科装置１には、合焦レンズ７４及び８７を保持する保持部材と、保持部材を駆動する駆動部が設けられる。主制御部２１１は、駆動部を制御することにより合焦レンズ７４及び８７の移動制御を行う。主制御部２１１は、例えば、合焦レンズ７４の移動に連動して合焦レンズ８７を移動させた後、干渉信号の強度に基づいて合焦レンズ８７だけを移動させるようにしてもよい。

光スキャナー８８の制御には、予め決められたスキャンパターンで計測部位をスキャンするためのスキャンモードの設定や、スキャン範囲の制御、スキャン速度の制御などがある。スキャン範囲（スキャン開始位置及びスキャン終了位置）を制御することで、測定光ＬＳを偏向する偏向面の角度範囲を制御することが可能である。スキャン速度を制御することで、偏向面の角度の変更速度を制御することが可能である。主制御部２１１は、光スキャナー８８に対して制御信号を出力することにより、スキャンモード、スキャン範囲、及びスキャン速度の少なくとも１つを制御する。

光路長変更部８９の制御には、測定光ＬＳの光路長の制御などがある主制御部２１１は、光路長変更部８９に対して制御信号を出力することにより、光路長変更部８９に測定光ＬＳの光路長を変更させる。

また、主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。

（記憶部２１２）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、例えば他覚測定の測定結果（ＯＣＴ計測結果）、ＯＣＴ画像の画像データ、前眼部画像の画像データ、自覚検査の結果、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部２１２には、眼科装置を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（演算処理部２２０）
演算処理部２２０は、プロセッサを含み、各種の演算処理を実行する。図示しない記憶部（例えば、記憶部２１２）には、各種演算処理を実行するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。プロセッサは、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、各種の演算処理を実行する各部の機能を実現する。

図１０に示すように、演算処理部２２０は、眼屈折力算出部２２１と、画像形成部２２２と、データ処理部２２３とを含む。

眼屈折力算出部２２１は、両眼に対して順次に実行されたレフ測定の結果に基づいて左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれの屈折値を算出する。画像形成部２２２は、ＯＣＴ光学系８を用いて取得された干渉光ＬＣの検出結果に基づいてＯＣＴ画像を形成する。データ処理部２２３は、眼科装置１が備える光学系を用いて得られた測定結果（干渉光ＬＣの検出結果等）や画像形成部２２２により形成されたＯＣＴ画像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。

（眼屈折力算出部２２１）
眼屈折力算出部２２１は、レフ測定投射系６により眼底ＥＬｆに投影されたリング状光束（リング状の測定パターン）の戻り光を撮像素子５９が受光することにより得られたリング像（パターン像）を解析し、左被検眼ＥＬの屈折力値を算出する。また、眼屈折力算出部２２１は、レフ測定投射系６により眼底ＥＲｆに投影されたリング状光束の戻り光を撮像素子５９が受光することにより得られたリング像（パターン像）を解析し、右被検眼ＥＲの屈折力値を算出する。例えば、各リング像について、眼屈折力算出部２２１は、リング像が描出された画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部２２１は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を求める。或いは、眼屈折力算出部２２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。

また、眼屈折力算出部２２１は、前眼部観察系５により取得された左被検眼ＥＬのケラトリング像に基づいて、左被検眼ＥＬの角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。同様に、眼屈折力算出部２２１は、前眼部観察系５により取得された右被検眼ＥＲのケラトリング像に基づいて、右被検眼ＥＲの角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、各ケラトリング像について、眼屈折力算出部２２１は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。

（画像形成部２２２）
画像形成部２２２は、ＣＣＤイメージセンサ１１５により得られた干渉光ＬＣの検出信号に基づいて、被検眼のＯＣＴ画像（断層画像）の画像データを形成する。すなわち、画像形成部２２２は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼の画像データを形成する。この処理には、従来のスペクトラルドメインタイプのＯＣＴと同様に、フィルター処理、ＦＦＴ（ＦａｓｔＦｏｕｒｉｅｒＴｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のＡライン（被検眼内における各測定光ＬＳの経路）における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。

画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる（加算平均する）ことができる。

（データ処理部２２３）
データ処理部２２３は、画像形成部２２２により形成された断層画像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。例えば、データ処理部２２３は、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部２２３は、前眼部観察系５を用い得られた画像（前眼部画像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。

データ処理部２２３は、断層画像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼のボリュームデータ（ボクセルデータ）を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２２３は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像を形成する。

データ処理部２２３は、画像形成部２２２により形成されたＯＣＴ画像（断層画像）の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行して、眼底又は前眼部の３次元画像の画像データを形成することができる。なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部２２３は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（ＭａｘｉｍｕｍＩｎｔｅｎｓｉｔｙＰｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２７０等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。

また、３次元画像の画像データとして、複数の断層画像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数のスキャンラインに沿って得られた複数の断層画像を、スキャンラインの位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層画像を、１つの３次元座標系により表現する（つまり１つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。

データ処理部２２３は、取得された３次元データセット（ボリュームデータ、スタックデータ等）に各種のレンダリングを施すことで、任意断面におけるＢモード画像（縦断面像、軸方向断面像）、任意断面におけるＣモード画像（横断面像、水平断面像）、プロジェクション画像、シャドウグラムなどを形成することができる。Ｂモード画像やＣモード画像のような任意断面の画像は、指定された断面上の画素（ピクセル、ボクセル）を３次元データセットから選択することにより形成される。プロジェクション画像は、３次元データセットを所定方向（Ｚ方向、深さ方向、軸方向）に投影することによって形成される。シャドウグラムは、３次元データセットの一部（たとえば特定層に相当する部分データ）を所定方向に投影することによって形成される。Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラムのような、被検眼の正面側を視点とする画像を正面画像（ｅｎ－ｆａｃｅ画像）と呼ぶ。

データ処理部２２３は、ＯＣＴスキャンにより時系列に収集されたデータ（例えば、Ｂスキャン画像データ）に基づいて、網膜血管や脈絡膜血管が強調されたＢモード画像や正面画像（血管強調画像、アンギオグラム）を構築することができる。例えば、被検眼の略同一部位を反復的にスキャンすることにより、時系列のＯＣＴデータを収集することができる。

いくつかの実施形態では、データ処理部２２３は、略同一部位に対するＢスキャンにより得られた時系列のＢスキャン画像を比較し、信号強度の変化部分の画素値を変化分に対応した画素値に変換することにより当該変化部分が強調された強調画像を構築する。更に、データ処理部２２３は、構築された複数の強調画像から所望の部位における所定の厚さ分の情報を抽出してｅｎ－ｆａｃｅ画像として構築することでＯＣＴＡ像を形成する。

データ処理部２２３により生成された画像（例えば、３次元画像、Ｂモード画像、Ｃモード画像、プロジェクション画像、シャドウグラム、ＯＣＴＡ像）もまたＯＣＴ画像に含まれる。

また、データ処理部２２３は、上記のように、２つの前眼部カメラにより実質的に同時に取得された２つの撮影画像のそれぞれを解析することにより、前眼部の特徴部位に相当する特徴位置を特定する。データ処理部２２３は、２つの前眼部カメラの位置と、特定された２つの撮影画像における特徴部位に相当する特徴位置とに対して公知の三角法を適用することにより、特徴部位の３次元位置（すなわち、被検眼の３次元位置）を算出する。算出された３次元位置は、被検眼に対する光学系の位置合わせに用いることができる。

更に、眼科装置１は、左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲに対してＯＣＴスキャンを実行することにより眼内パラメータを測定することが可能である。眼内パラメータの例として、眼軸長、所定の層領域の厚さ、所定の部位間の距離などがある。

第１実施形態では、データ処理部２２３が、眼内パラメータ算出部として眼軸長を算出するものとする。この場合、データ処理部２２３は、ＯＣＴスキャンを実行して得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて、角膜頂点に相当する位置と網膜色素上皮（ＲｅｔｉｎａｌＰｉｇｍｅｎｔＥｐｉｔｈｅｌｉｕｍ：以下、ＲＰＥ）層に相当する位置との距離を眼軸長として算出することが可能である。例えば、データ処理部２２３は、干渉光ＬＣの検出結果に対応する干渉信号の強度の極大値の位置を特定することにより角膜頂点の位置とＲＰＥ層の位置とを特定し、特定された２つの位置の間の距離を眼軸長として算出する。例えば、データ処理部２２３は、干渉光ＬＣの検出結果に基づいて形成されたＯＣＴ画像に対してセグメンテーション処理を施し、特定された複数の層領域から角膜頂点の位置とＲＰＥ層の位置とを特定し、特定された２つの位置の間の距離を眼軸長として算出する。

（表示部２７０、操作部２８０）
表示部２７０は、ユーザインターフェイス部として、制御部２１０による制御を受けて情報を表示する。

操作部２８０は、ユーザインターフェイス部として、眼科装置を操作するために使用される。操作部２８０は、眼科装置に設けられた各種のハードウェアキー（ジョイスティック、ボタン、スイッチなど）を含む。また、操作部２８０は、タッチパネル式の表示画面に表示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含んでもよい。

表示部２７０及び操作部２８０の少なくとも一部が一体的に構成されていてもよい。その典型例として、タッチパネル式の表示画面がある。

（通信部２９０）
通信部２９０は、図示しない外部装置と通信するための機能を有する。通信部２９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム（ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（ＤｉｇｉｔａｌＩｍａｇｉｎｇａｎｄＣＯｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｉｎＭｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。通信部２９０は、例えば処理部９に設けられていてもよい。

第１調整例～第３調整例のいずれかにおけるＯＣＴ光学系８の光軸を調整する部材及び機構は、実施形態に係る「光軸調整部」の一例である。データ処理部２２３は、実施形態に係る「眼内パラメータ算出部」の一例である。前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢ、１５ＲＡ、１５ＲＢ、１５ＬＲは、実施形態に係る「２以上の撮影部」の一例である。前眼部カメラ１５ＬＡは、実施形態に係る「第１撮影部」の一例である。前眼部カメラ１５ＬＲは、実施形態に係る「第２撮影部」の一例である。前眼部カメラ１５ＲＡは、実施形態に係る「第３撮影部」の一例である。レフ測定投射系６及びレフ測定受光系７は、実施形態に係る「屈折力測定光学系」の一例である。

＜動作例＞
第１実施形態に係る眼科装置１の動作例について説明する。

図１２及び図１３に、眼科装置１の動作の一例を示す。図１２は、レフ測定とＯＣＴ計測とを順次に実行する場合の眼科装置１の動作例のフロー図を表す。図１３は、図１２のステップＳ２の処理例のフロー図を表す。記憶部２１２には、図１２及び図１３に示す処理を実現するためのコンピュータプログラムが記憶されている。主制御部２１１は、このコンピュータプログラムに従って動作することにより、図１２及び図１３に示す処理を実行する。

ここでは、図１２に示すフローの開始前に、あらかじめ近見時又は近見時のいずれかの状態で検査を行うことが決定されているものとする。

（Ｓ１：輻輳角を調整）
まず、主制御部２１１は、あらかじめ決定された近見時又は遠見時の状態に対応した視標距離に合わせてダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲを回動する移動機構３２０を制御し、輻輳角を調整する。

ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲは、図４に示すように、光軸切替部材ＳＷにより偏向された光軸の偏向方向を変更する。

（Ｓ２：アライメント）
続いて、主制御部２１１は、アライメントを実行する。ステップＳ２の詳細については、後述する。

ステップＳ２において、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに対する測定光学系３００の位置合わせが行われる。

（Ｓ３：両眼の前眼部画像を取得）
次に、主制御部２１１は、前眼部観察系５を制御して、両眼の前眼部画像を取得させる。

具体的には、主制御部２１１は、ケラト測定系３を制御してケラトリング光源３２を点灯させて、左被検眼ＥＬの角膜ＣＬｒにリング状光束と投射させる。続いて、主制御部２１１は、前眼部照明光源５０を制御して、前眼部照明光源５０を点灯させて左被検眼ＥＬの前眼部を照明させる。その後、主制御部２１１は、撮像素子５９の撮像面における照明光の戻り光の受光結果を取り込むことで、ケラトリング像が重畳された左被検眼ＥＬの前眼部が描出された左被検眼ＥＬの前眼部画像を取得させる。同様に、主制御部２１１は、ケラト測定系３を制御してケラトリング光源３２を点灯させて、右被検眼ＥＲの角膜ＣＲｒにリング状光束と投射させる。続いて、主制御部２１１は、前眼部照明光源５０を制御して、前眼部照明光源５０を点灯させて右被検眼ＥＲの前眼部を照明させる。その後、主制御部２１１は、撮像素子５９の撮像面における照明光の戻り光の受光結果を取り込むことで、ケラトリング像が重畳された右被検眼ＥＲの前眼部が描出された右被検眼ＥＲの前眼部画像を取得させる。

（Ｓ４：角膜形状解析）
次に、主制御部２１１は、眼屈折力算出部２２１を制御することにより、ステップＳ３において取得された両眼の前眼部画像を解析させる。眼屈折力算出部２２１は、上記のように、前眼部画像に描出された左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれのケラトリング像を特定し、特定された各ケラトリング像から左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれの角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。

（Ｓ５：片眼ごとに仮測定）
次に、主制御部２１１は、レフ測定のための仮測定を片眼ごとに行う。仮測定では、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれの屈折力に応じてレフ測定光学系における合焦状態が変更される。レフ測定（本測定）では、仮測定により変更された合焦状態を基準に左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの雲霧を促しつつ、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれの屈折力が測定される。

例えば、レフ測定光源６１、合焦レンズ７４、８７のそれぞれが光軸方向に移動され、被検眼の屈折力に対応した位置に配置される。主制御部２１１は、レフ測定光源６１を点灯させ、ロータリープリズム６６の回転を開始させる。

ここで、左被検眼ＥＬに対して仮測定を行った後に、右被検眼ＥＲに対して仮測定を行うものとする。

主制御部２１１は、リング状の測定パターン光束を左被検眼ＥＬに投射させる。左被検眼ＥＬからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が撮像素子５９の撮像面に結像される。

主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された眼底からの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。例えば、主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置（画素）を検出し、像の幅（外径と内径との差）が所定値以上であるか否かを判定する。或いは、主制御部２１１は、所定の高さ（リング径）以上の点（像）に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定してもよい。

リング像を取得できたと判定されたとき、眼屈折力算出部２２１は、左被検眼ＥＬについて、投射された測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を公知の手法で解析し、仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃを求める。

主制御部２１１は、求められた仮の球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃに基づき、レフ測定光源６１、合焦レンズ７４、及び液晶パネル４１を等価球面度数（Ｓ＋Ｃ／２）の位置へ移動させる。

再び、主制御部２１１は、リング状の測定パターン光束を左被検眼ＥＬに投射させる。左被検眼ＥＬからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が撮像素子５９の撮像面に結像される。主制御部２１１は、撮像素子５９により検出された眼底ＥＬｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。

続いて、右被検眼ＥＲについて、同様に、仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃを求める。このとき、上記のように、光軸切替部材ＳＷによりレフ測定光学系の光軸が切り替えられる。

主制御部２１１は、眼屈折力算出部２２１を制御して、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの中間度数位置を算出させる。例えば、中間度数位置は、左被検眼ＥＬの等価球面度数ＥＳＲと右被検眼ＥＲの等価球面度数ＥＳＬとの中間度数（（ＥＳＲ＋ＥＳＬ）／２）に相当する位置であってよい。

主制御部２１１は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７４、及び液晶パネル４１を中間度数の位置へ移動させる。移動された位置は、仮の遠点に相当する位置である。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、中間度数位置を求めることなく、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれの仮測定において、レフ測定光源６１、合焦レンズ７４、及び液晶パネル４１を等価球面度数の位置へ移動させる。

（Ｓ６：両眼の雲霧を促す）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ５の仮測定において求められた位置から液晶パネル４１を更に雲霧位置に移動させることにより、両眼の雲霧を同時に促す。

（Ｓ７：片眼ごとに屈折力測定）
続いて、主制御部２１１は、片眼ごとにレフ測定を実行する。

ここで、左被検眼ＥＬに対してレフ測定を行った後に、右被検眼ＥＲに対してレフ測定を行うものとする。

具体的には、主制御部２１１は、レフ測定光源６１が消灯されている場合にはレフ測定光源６１を点灯させる。また、主制御部２１１は、ロータリープリズム６６の回転が停止している場合にはロータリープリズム６６の回転を開始させる。遠見時の状態で測定する場合は、固視標は、上記のように、ステップＳ５において得られた遠点に相当する位置である。近見時の状態で測定する場合は、固視標は、あらかじめ決められた固定位置である。

主制御部２１１は、ステップＳ５における仮測定と同様に、レフ測定投射系６及びレフ測定受光系７を制御することによりリング像を取得させる。すなわち、レフ測定光学系は、左被検眼ＥＬの屈折力と右被検眼ＥＲの屈折力との中間度数に対応した位置が焦点位置となるように左被検眼用の測定パターン光束を投射して、リング像を取得する。主制御部２１１は、リング像の解析結果と合焦レンズ７４の移動量から球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を眼屈折力算出部２２１に算出させる。算出された球面度数、乱視度数及び乱視軸角度は、記憶部２１２に保存される。

続いて、右被検眼ＥＲについて、同様に、レフ測定を行う。このとき、上記のように、光軸切替部材ＳＷによりレフ測定光学系の光軸が切り替えられる。

すなわち、レフ測定光学系は、対物レンズ５１を介して測定光軸ＯＬに沿って左被検眼ＥＬに測定パターン光束を投射すると共に測定光軸ＯＲに沿って右被検眼ＥＲに測定パターン光束を投射し、左被検眼ＥＬからの測定パターン光束の戻り光と右被検眼ＥＲからの測定パターン光束の戻り光を受光する。眼屈折力算出部２２１は、左被検眼ＥＬからの測定パターン光束の戻り光の受光結果に基づいて左被検眼ＥＬの屈折力を算出し、右被検眼ＥＲからの測定パターン光束の戻り光の受光結果に基づいて右被検眼ＥＲの屈折力を算出する。

いくつかの実施形態では、ステップＳ７において、ステップＳ３における前眼部画像の取得及びステップＳ４における角膜形状解析が同時に実行される。いくつかの実施形態では、ステップＳ８に移行する前に、ステップＳ２におけるアライメントが実行される。

（Ｓ８：片眼ごとにＯＣＴ計測）
続いて、主制御部２１１は、ＯＣＴ光学系８を制御することにより片眼ごとにＯＣＴ計測を実行させる。

ここで、左被検眼ＥＬに対してＯＣＴ計測を行った後に、右被検眼ＥＲに対してＯＣＴ計測を行うものとする。

例えば、主制御部２１１は、左被検眼ＥＬにＯＣＴ計測用の固視標を提示させ、ＯＣＴ光学系８を制御してＯＣＴ仮計測を実行させ、深さ方向の計測範囲の基準位置を調整するための調整用断層画像を取得させる。具体的には、主制御部２１１は、光スキャナー８８を制御することにより、光源ユニット１０１から出射された光Ｌ０に基づいて生成された測定光ＬＳを偏向し、偏向された測定光ＬＳで左被検眼ＥＬの所定部位（例えば眼底）をスキャンさせる。測定光ＬＳのスキャンにより得られた干渉光ＬＣの検出結果は、画像形成部２２２に送られる。画像形成部２２２は、得られた干渉信号から左被検眼ＥＬの断層画像（ＯＣＴ画像）を形成する。

続いて、主制御部２１１は、深さ方向（Ｚ方向）の計測範囲の基準位置を調整する。例えば、主制御部２１１は、得られた断層画像における所定の部位（例えば、強膜）をデータ処理部２２３に特定させ、特定された所定の部位の位置に対して深さ方向に所定の距離だけ離れた位置を計測範囲の基準位置として設定する。また、測定光ＬＳと参照光ＬＲの光路長が略一致するようにあらかじめ決められた所定の位置が計測範囲の基準位置として設定されてもよい。

次に、主制御部２１１は、フォーカス調整制御及び偏波調整制御を実行する。例えば、主制御部２１１は、合焦レンズ８７を所定の距離だけ移動させた後、ＯＣＴユニット１００を制御してＯＣＴ計測を実行させる。

主制御部２１１は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果に基づいて測定光ＬＳのフォーカス状態をデータ処理部２２３に判定させる。例えば、データ処理部２２３は、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出し、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。いくつかの実施形態では、フォーカス調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断され、フォーカス調整は、測定光ＬＳのフォーカス状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、上記のような反復的なＯＣＴ計測を行って干渉信号を取得しつつ、逐次に取得される干渉信号の強度（干渉強度、干渉感度）をモニタする。更に、このモニタ処理を行いながら、合焦レンズ８７を移動させることにより、干渉強度が最大となるような合焦レンズ８７の位置を探索する。このようなフォーカス調整によれば、干渉強度が最適化されるような位置に合焦レンズ８７を導くことができる。

また、データ処理部２２３は、ＯＣＴ計測により得られた干渉光の検出結果を解析して、測定光ＬＳ及び参照光ＬＲの少なくとも一方の偏波状態を判定する。

例えば、主制御部２１１は、偏波コントローラ１０６を所定のアルゴリズムにしたがって制御しつつ、反復的なＯＣＴ計測を行う。いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、アッテネータ１０５を制御して、参照光ＬＲの減衰量を変更する。データ処理部２２３は、ＯＣＴ計測により繰り返し取得される干渉光ＬＣの検出結果を解析することで、ＯＣＴ画像の画質に関する所定の評価値を算出し、算出された評価値が閾値以下であるか否か判定する。この閾値はあらかじめ設定される。偏波調整は、算出される評価値が閾値以下になるまで継続される。すなわち、評価値が閾値以下であるとき測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断され、偏波調整は、測定光ＬＳの偏波状態が適正であると判断されるまで継続される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、偏波調整においても干渉強度をモニタすることが可能である。

深さ方向の位置調整、フォーカス調整、及び偏波調整が完了すると、主制御部２１１は、光スキャナー８８を制御することにより左被検眼ＥＬの眼底の所定の部位を測定光ＬＳでスキャンさせる。例えば、測定光ＬＳのスキャンにより得られた検出信号は画像形成部２２２に送られる。画像形成部２２２は、得られた検出信号から眼底の断層画像を形成する。

続いて、右被検眼ＥＲについて、同様に、ＯＣＴ計測を行う。このとき、上記のように、光軸切替部材ＳＷによりＯＣＴ光学系８の光軸が切り替えられる。

いくつかの実施形態では、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの一方に対して測定光ＬＳを用いたＯＣＴ計測を実行する前に、主制御部２１１は、ＯＣＴ光学系８を制御して左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの他方の眼軸長及び屈折力に基づいて参照光路の光路長を調整する。すなわち、ＯＣＴ計測の測定環境の１つである参照光路の光路長が被検眼の眼軸長及び屈折力に関連付けることが可能であり、且つ、左右の眼で参照光路の光路長がほぼ同一である場合が多いことに着目し、最初に実行された被検眼のＯＣＴ計測時の参照光路の光路長から、次に実行される被検眼の眼軸長及び屈折力から当該被検眼に対するＯＣＴ計測時の参照光路の光路長を特定し、特定された光路長に調整する。これにより、両眼に対するＯＣＴ計測に要する時間を大幅に短縮することが可能である。

主制御部２１１は、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれについて、データ処理部２２３を制御して、得られた検出信号又は断層画像に基づいて、角膜頂点に相当する位置とＲＰＥ層に相当する位置との距離を眼軸長として算出させる。データ処理部２２３は、眼軸長以外の眼内パラメータを算出することが可能である。例えば、主制御部２１１は、ＯＣＴ光学系８を制御して、眼底及び角膜（前眼部）を順次に又は同時にスキャンさせる。主制御部２１１は、データ処理部２２３を制御して、角膜をスキャンすることにより得られた検出信号又は断層画像と眼底をスキャンすることにより得られた検出信号又は断層画像とに基づいて、角膜頂点に相当する位置とＲＰＥ層に相当する位置との距離を眼軸長として算出させる。このような眼軸長を算出する手法は、例えば、特開２０２０－０４４０２７号公報に開示されている。

以上で、眼科装置１の動作は終了である（エンド）。

いくつかの実施形態では、遠見時及び近見時の一方についてステップＳ１～ステップＳ８の処理を実行した後、遠見時及び近見時の他方に対してステップＳ１～ステップＳ８の処理を実行することで、遠見時及び近見時の双方の状態で検査を行う。

図１２のステップＳ２は、図１３に示すように実行される。

（Ｓ２１：両眼の瞳孔位置を特定）
まず、主制御部２１１は、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡ、１５ＬＢ、１５ＲＢを制御して得られた撮影画像から両眼の特徴位置を特定する。この実施形態では、特徴位置として瞳孔位置を特定する。

具体的には、主制御部２１１は、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢを制御して、左被検眼ＥＬを異なる方向から実質的に同時に撮影して、２つの撮影画像（前眼部画像）を取得させる。同様に、主制御部２１１は、前眼部カメラ１５ＲＡ、１５ＲＢを制御して、右被検眼ＥＲを異なる方向から実質的に同時に撮影して、２つの撮影画像を取得させる。いくつかの実施形態では、左被検眼ＥＬの２つの撮影画像と、右被検眼ＥＲの２つの撮影画像とは、実質的に同時に撮影される。

左被検眼ＥＬの瞳孔位置の特定処理と、右被検眼ＥＲの瞳孔位置の特定処理と同様である。以下、主に、左被検眼ＥＬの瞳孔位置の特定処理について説明する。

主制御部２１１は、特徴位置特定部として機能するデータ処理部２２３を制御して、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢにより得られた２つの撮影画像を解析させ、左被検眼ＥＬの瞳孔位置（瞳孔中心位置、又は瞳孔重心位置）を特定させる。

この場合、データ処理部２２３は、各撮影画像について、画素値（輝度値など）の分布に基づいて、瞳孔に相当する画像領域（瞳孔領域）を特定する。一般に瞳孔は他の部位よりも低い輝度で描画されるので、低輝度の画像領域を探索することによって瞳孔領域を特定することができる。このとき、瞳孔の形状を考慮して瞳孔領域を特定するようにしてもよい。つまり、略円形かつ低輝度の画像領域を探索することによって瞳孔領域を特定するように構成することができる。

次に、データ処理部２２３は、特定された瞳孔領域の中心位置を特定する。上記のように瞳孔は略円形であるので、瞳孔領域の輪郭を特定し、この輪郭（の近似円または近似楕円）の中心位置を特定し、これを瞳孔中心位置とすることができる。また、瞳孔領域の重心を求め、この重心位置を瞳孔重心位置として特定してもよい。

データ処理部２２３は、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢにより逐次に得られた撮影画像に対して瞳孔位置を逐次に特定することが可能である。また、データ処理部２２３は、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢにより逐次に得られた撮影画像に対して、１以上の任意の数のフレームおきに瞳孔位置を特定してもよい。

続いて、データ処理部２２３は、３次元位置算出部として、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢの位置と、特定された瞳孔位置とに基づいて、特徴位置の３次元位置を被検眼の３次元位置として特定する。例えば、データ処理部２２３は、特開２０１３－２４８３７６号公報に開示されているように、２つの前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢの位置（既知である）と、２つの撮影画像における瞳孔位置とに対して、公知の三角法を適用することにより被検眼の３次元位置を算出する。

右被検眼ＥＲの瞳孔位置についても、上記と同様の処理で特定可能である。

（Ｓ２２：測定光軸を移動）
主制御部２１１は、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置に基づいて、測定光学系３００の移動、光軸切替部材ＳＷによる瞳孔間距離の調整、及び、固視投影系４Ｌ、４Ｒにより提示される固視標の位置を制御する。

具体的には、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置から瞳孔間距離が特定される。例えば、主制御部２１１は、既知である測定光軸ＯＬ、ＯＲのそれぞれに、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置が最も近くなるように（略一致するように）、移動機構２００、移動機構３１０、及び固視投影系４Ｌ、４Ｒの少なくとも１つを調整する。主制御部２１１は、移動機構２００を制御することにより、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに対する測定光学系３００の相対位置を変更することができる。主制御部２１１は、移動機構３１０を制御することにより、光軸切替部材ＳＷを移動して、測定光軸ＯＬ、ＯＲの間の距離を変更することができる。主制御部２１１は、固視投影系４Ｌ、４Ｒを制御することにより、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲのそれぞれの固視位置（固視標の提示位置）を変更することができる。

その結果、左被検眼ＥＬのＸ方向及びＹ方向の位置が、測定光軸ＯＬのＸ方向及びＹ方向の位置と略一致し、且つ、Ｚ方向の距離が所定の作動距離になるように調整される。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１は、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置に基づいて、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの配列方向がＸ方向と平行であるか否か（すなわち、両眼の高さがずれているか否かを）を判定する。この場合、主制御部２１１は、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置に基づいて移動機構３１０、３２０を制御することで、光軸切替部材ＳＷの偏向方向、及びダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの偏向方向の少なくとも１つを変更することが可能である。

いくつかの実施形態では、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの配列方向がＸ方向と平行でないと判定されたとき、主制御部２１１は、表示部２７０を制御して、被検者に顔を傾けるように促すことができる。主制御部２１１は、音出力により、被検者に顔を傾けるように促してもよい。

（Ｓ２３：両眼の前眼部画像を取得）
続いて、主制御部２１１は、ＸＹアライメント光源２１を点灯させた後、再び前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡ、１５ＬＢ、１５ＲＢを制御して、ＸＹアライメント光源２１からの光の反射光に基づくＸＹ輝点像が描出された両眼の前眼部画像を取得させる。

（Ｓ２４：ＸＹ輝点像を検出？）
次に、主制御部２１１は、データ処理部２２３を制御して、ステップＳ２３において取得された両眼の前眼部画像についてＸＹ輝点像を検出させる。

例えば、データ処理部２２３は、左被検眼ＥＬの２つの前眼部画像、及び右被検眼ＥＲの２つの前眼部画像のそれぞれについて、画素値に基づいてＸＹ輝点像が描出さているか否かを検出する。データ処理部２２３により上記の４つの前眼部画像のすべてにＸＹ輝点像が描出されていることが検出されたとき（Ｓ２４：Ｙ）、眼科装置１の動作はステップＳ２５に移行する。データ処理部２２３により上記の４つの前眼部画像の少なくとも１つにＸＹ輝点像が描出されていないことが検出されたとき（Ｓ２４：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ２２に移行する

（Ｓ２５：両眼のＸＹ輝点像の位置を特定）
ステップＳ２４において両眼の前眼部画像にＸＹ輝点像が検出されたとき（Ｓ２４：Ｙ）、主制御部２１１は、データ処理部２２３を制御して、ステップＳ２４において検出された両眼のＸＹ輝点像の位置を特定する。ステップＳ２５では、ステップＳ２１と同様の特定処理で、両眼のＸＹ輝点像の位置が特定される。すなわち、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置に代えて、ステップＳ２５において特定される両眼のＸＹ輝点像の位置が特定される。

（Ｓ２６：測定光軸を移動）
主制御部２１１は、ステップＳ２５において特定された両眼のＸＹ輝点像の位置に基づいて、測定光学系３００の移動、図３に示す光軸切替部材ＳＷによる瞳孔間距離の調整、及び、固視投影系４Ｌ、４Ｒにより提示される固視標の位置を制御する。

ステップＳ２６では、ステップＳ２２と同様に、測定光軸の調整が行われる。

（Ｓ２７：両眼の前眼部画像を取得）
続いて、主制御部２１１は、前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＲＡ、１５ＬＢ、１５ＲＢを制御して、両眼の前眼部画像を取得させる。

（Ｓ２８：両眼のＸＹ輝点像の位置を特定）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ２５と同様に、データ処理部２２３を制御して、ステップＳ２７において取得された両眼の前眼部画像から両眼のＸＹ輝点像の位置を特定させる。

（Ｓ２９：アライメント完了？）
次に、主制御部２１１は、ステップＳ２８において特定された両眼のＸＹ輝点像の位置のそれぞれが、所定のアライメント完了範囲内にあるか否かを判定する。

両眼のＸＹ輝点像の位置のそれぞれが所定のアライメント完了範囲内にあると判定されたとき（Ｓ２９：Ｙ）、図１２のステップＳ２の処理は終了である（エンド）。両眼のＸＹ輝点像の位置の少なくとも一方が所定のアライメント完了範囲内にないと判定されたとき（Ｓ２９：Ｎ）、眼科装置１の動作はステップＳ２６に移行する。

以上のように、図１２のステップＳ２では、主制御部２１１は、２以上の前眼部カメラにより得られた２以上の画像に基づいて、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに対するＯＣＴ光学系８の相対位置を変更すると共に、測定光軸ＯＬが左被検眼ＥＬの視軸と一致し、且つ、測定光軸ＯＲが右被検眼ＥＲの視軸と一致するように、測定光軸ＯＬの向き及び測定光軸ＯＲの向き、及び測定光軸ＯＬと測定光軸ＯＲとの間の距離を変更する。

以上説明したように、第１実施形態によれば、互いに離隔して配置される測定光軸ＯＬ、ＯＲのいずれかに測定光学系３００の光軸（具体的には、ＯＣＴ光学系８の光軸、ＯＣＴ光学系８の光軸と光学的に同軸に結合されるレフ測定光学系）が略一致するように光軸切替部材ＳＷを用いて切り替えるようにしたので、両眼開放下で両眼に対して順次にＯＣＴ計測を実行することができる。これにより、低コスト、且つ、省スペースで、両眼の特性を高精度に測定可能な眼科装置を提供することができる。特に、両眼に対してＯＣＴ計測を実行可能な眼科装置の光学系の小型化及び低コスト化を図ることができる。

［第２実施形態］
第１実施形態では、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの透過方向に固視投影系４Ｌ、４Ｒが設けられている場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、測定光学系が、両眼に共通の固視投影系を備えていてもよい。

以下、第２実施形態に係る眼科装置について、第１実施形態に係る眼科装置１との相違点を中心に説明する。

図１４及び図１５に、第２実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図１４は、図１と同様に、上方から見たときの第２実施形態に係る眼科装置の光学系の構成を模式的に表したものである。図１５は、図１４の測定光学系３００ａの構成例のブロック図を表したものである。

第２実施形態に係る眼科装置１ａの光学系の構成が第１実施形態に係る眼科装置１の光学系の構成と異なる点は、ダイクロイックミラーＭＬに代えて反射ミラーＭＬ１が設けられている点と、ダイクロイックミラーＭＲに代えて反射ミラーＭＲ１が設けられている点と、測定光学系３００、及び固視投影系４Ｌ、４Ｒに代えて測定光学系３００ａが設けられている点である。

反射ミラーＭＬ１は、光軸切替部材ＳＷにより偏向された測定光軸ＯＬを左被検眼ＥＬに向けて偏向する。反射ミラーＭＲ１は、光軸切替部材ＳＷにより偏向された測定光軸ＯＲを右被検眼ＥＲに向けて偏向する。

図１５に示すように、測定光学系３００ａは、ケラト測定系３と、固視投影系４と、前眼部観察系５と、レフ測定投射系６と、レフ測定受光系７と、ＯＣＴ光学系８とを含む。

眼科装置１と同様に、眼科装置１ａもまた、光軸調整部と、瞳孔間距離調整部と、輻輳角調整部とを含む。

図１６に、第２実施形態に係る眼科装置１ａにおける瞳孔間距離調整部の動作例の説明図を示す。図１６において、図３又は図１４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

瞳孔間距離調整部は、第１実施形態と同様に、光軸切替部材ＳＷを測定光軸ＯＬ又は測定光軸ＯＲ（Ｚ方向、測定光学系３００の光軸）に沿って移動することにより測定光軸ＯＬ、ＯＲの間のＸ方向の距離を変更する。これにより、図１６に示すように、反射ミラーＭＬ１、ＭＲ２により偏向される光軸の位置が変化し、測定光軸ＯＬが測定光軸ＯＬ′となり、測定光軸ＯＲが測定光軸ＯＲ′となる。その結果、測定光軸ＯＬ′、ＯＲ′の間のＸ方向の距離が瞳孔間距離ＰＤ′となり、瞳孔間距離が変更される。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷを図１６に示すＸ方向に移動することで、瞳孔間距離を変更する。

いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、後述の制御部からの制御を受け、図示しない移動機構により移動される。この場合、制御部及び図示しない移動機構により瞳孔間距離調整部の機能が実現される。いくつかの実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、手動により図示しない移動機構により移動される。この場合、図示しない移動機構により瞳孔間距離調整部の機能が実現される。

図１７に、第２実施形態に係る眼科装置１ａにおける輻輳角調整部の動作例の説明図を示す。図１７において、図４又は図１４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

輻輳角調整部は、第１実施形態と同様に、反射ミラーＭＬ１の向き、及び反射ミラーＭＲ１の向きの少なくとも一方を変更することにより、測定光軸ＯＬ、ＯＲの少なくとも一方の向きを変更する。

例えば、反射ミラーＭＬ１の偏向面は、Ｙ軸方向にのびる回動軸を中心に回動可能に構成される。例えば、反射ミラーＭＲ１の偏向面は、Ｙ軸方向にのびる回動軸を中心に回動可能に構成される。これにより、図１７に示すように、反射ミラーＭＬ１により偏向される測定光軸ＯＬが測定光軸ＯＬ′となり、測定光軸ＯＲが測定光軸ＯＲ′となり、輻輳角が変更される。

いくつかの実施形態では、反射ミラーＭＬ１、ＭＲ１は、後述の制御部からの制御を受け、図示しない移動機構（回動機構）により回動される。この場合、制御部及び図示しない移動機構により輻輳角調整部の機能が実現される。いくつかの実施形態では、反射ミラーＭＬ１、ＭＲ１は、手動により図示しない移動機構（回動機構）により回動される。この場合、図示しない移動機構により輻輳角調整部の機能が実現される。

図１８に、第２実施形態に係る測定光学系３００ａの構成例を示す。図１８は、図５と同様に、測定光学系３００ａを側方（Ｘ方向）から見た構成例を模式的に表したものである。図１８において、図５又は図１４と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

測定光学系３００ａの構成が測定光学系３００の構成と異なる点は、リレーレンズ８２とリレーレンズ８５との間に、ダイクロイックミラー８３と、反射ミラー８４と、固視投影系４とを設け、ダイクロイックミラー８３により固視投影系４の光路がＯＣＴ光学系８の光路に同軸に結合されるように構成されている点である。

ダイクロイックミラー８３は、可視領域の波長成分を有する光を透過させ、近赤外領域（又は赤外領域）の波長成分を有する光を反射する。ダイクロイックミラー８３の透過方向に固視投影系４が配置され、ダイクロイックミラー８３の反射方向にＯＣＴ光学系８が配置される。具体的には、リレーレンズ８２と固視投影系４との間にダイクロイックミラー８３が配置され、ダイクロイックミラー８３とＯＣＴ光学系８との間に反射ミラー８４が配置される。

固視投影系４は、対物レンズ５１（測定光学系３００）の光軸が光学的に同軸に結合されている測定光軸上の左被検眼ＥＬの眼底ＥＬｆ又は右被検眼ＥＲの眼底ＥＲｆに固視光束を投射することで、左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲに固視標を提示する。固視投影系４は、固視ユニット４０と、リレーレンズ４３、４４とを含む。固視ユニット４０は、液晶パネル４１と、リレーレンズ４２とを含む。液晶パネル４１は、制御部からの制御を受け、固視標を表すパターンを表示する。液晶パネル４１の画面上におけるパターンの表示位置を変更することにより、左被検眼ＥＬ又は右被検眼ＥＲの固視位置を変更できる。また、固視ユニット４０は、制御部からの制御を受け、光軸方向に移動可能である。

液晶パネル４１からの光は、リレーレンズ４２、４３、４４を通過し、ダイクロイックミラー８３を透過し、ＯＣＴ光学系８からの測定光ＬＳと同じ経路で被検眼に投射される。

いくつかの実施形態では、固視ユニット４０は、リレーレンズ４３、４４と独立に光軸方向に移動可能である。

また、第２実施形態においても、第１実施形態と同様に、ＯＣＴ光学系８の光軸を調整することができる。例えば、偏向部材ＤＦ１として反射ミラー８４と、偏向部材ＤＦ２としてダイクロイックミラー８３とを用いることで、図９Ａの第１調整例に示すようにＯＣＴ光学系８の光軸を調整することができる。また、第２実施形態においても、図９Ｂの第２調整例に示すように、ＯＣＴ光学系８の光軸を調整することができる。また、測定光の経路中の光学部材によりＯＣＴ光学系８の光軸の偏向方向を変更する第３調整例では、光学部材の例として、図１８の反射ミラー８１、ダイクロイックミラー５２、ダイクロイックミラー８３、反射ミラー８４、図示しない反射ミラーなどを用いることができる。

固視投影系４は、実施形態に係る「固視光学系」の一例である。ダイクロイックミラー８３は、実施形態に係る「光路結合部材」の一例である。反射ミラーＭＬ１は、実施形態に係る「第１反射部材」の一例である。反射ミラーＭＲ１は、実施形態に係る「第２反射部材」の一例である。輻輳角調整部は、実施形態に係る「第１調整部」の一例である。光軸切替部材ＳＷの偏向面、反射ミラーＭＬ１の偏向面、及び反射ミラーＭＲ１の偏向面を回転させる移動機構は、実施形態に係る「第２調整部」の一例である。

図１９に、第２実施形態に係る眼科装置１ａの処理系の機能的な構成例を示す。図１９は、眼科装置１ａの処理系の機能ブロック図の一例を示す。図１９において、図１０又は図１８と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

眼科装置１ａの処理系の構成が図１０に示す眼科装置１の処理系の構成と異なる点は、固視投影系４Ｌ、４Ｒに代えて固視投影系４が設けられている点と、処理部９に代えて処理部９ａが設けられている点である。

処理部９ａの構成が図１０に示す処理部９の構成と異なる点は、制御部２１０に代えて制御部２１０ａが設けられている点である。制御部２１０ａは、主制御部２１１ａと、記憶部２１２ａとを含む。主制御部２１１ａは、主制御部２１１による固視投影系４Ｌ、４Ｒに対する制御に代えて固視投影系４に対する制御を行う点を除いて、主制御部２１１と同様の制御を行うことができる。記憶部２１２ａは、固視投影系４Ｌ、４Ｒに対する制御を実行する処理を除いて、記憶部２１２と同様のプログラムを格納する。

第２実施形態に係る眼科装置１ａの動作は、固視投影系４に対する制御を除いて、図１２及び図１３に示す第１実施形態に係る眼科装置１の動作とほぼ同様である。

第２実施形態では、両眼開放下で両眼に対して同一の固視標が提示された状態で、片眼ずつＯＣＴ計測及びレフ測定を順次に実行することができる。

具体的には、主制御部２１１により固視投影系４Ｌ、４Ｒにより左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに対して独立に固視標が提示される制御に代えて、主制御部２１１ａは、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに対して同一の固視標を提示するように固視投影系４を制御する。

例えば、図１２のステップＳ７において遠見時の状態で検査する場合、主制御部２１１ａは、図１２のステップＳ５において求められた左被検眼ＥＬの仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃ（又は等価球面度数）及び右被検眼ＥＲの仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃ（又は等価球面度数）のうち、よりプラス側（遠見側）の仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃ（又は等価球面度数）に相当する位置から固視標を両眼に提示させる。

例えば、図１２のステップＳ７において近見時の状態で検査する場合、主制御部２１１ａは、遠見時の状態で検査する場合と同様の位置から固視標を両眼に提示させる。いくつかの実施形態では、被検者がモノビジョン（ｍｏｎｏｖｉｓｉｏｎ）である場合、主制御部２１１ａは、図１２のステップＳ５において求められた左被検眼ＥＬの仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃ（又は等価球面度数）及び右被検眼ＥＲの仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃ（又は等価球面度数）のうち、よりマイナス側（近見側）の仮の球面度数Ｓ及び仮の乱視度数Ｃ（又は等価球面度数）に相当する位置から固視標を両眼に提示させる。このとき、主制御部２１１ａは、必要に応じて、反射ミラーＭＬ１、ＭＬ２を制御して、輻輳角を調整することができる。

なお、図１３のステップＳ２２と同様に、主制御部２１１ａは、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置に基づいて、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの配列方向がＸ方向と平行であるか否か（すなわち、両眼の高さがずれているか否かを）を判定することが可能である。この場合、主制御部２１１ａは、第２調整部として、ステップＳ２１において特定された両眼の瞳孔位置に基づいて、反射ミラーＭＬ１の偏向方向、反射ミラーＭＲ１の偏向方向、光軸切替部材ＳＷの偏向面の向きを変更することにより、測定光軸ＯＬ及び測定光軸ＯＲの配列方向を調整することが可能である。

いくつかの実施形態では、主制御部２１１ａは、光軸切替部材ＳＷにより高速に光軸を切り替えることで、両眼で固視標をあたかも見ている状態でレフ測定を実行することが可能である。このとき、主制御部２１１ａは、光軸を切り替えたときに左右眼の測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を複数枚取得し、取得されたリング像を重ね合わせた画像を解析して屈折力値を算出する。

いくつかの実施形態では、第２実施形態に係る構成において、両眼の眼前にホロプターを設けたり、トライアルレンズを配置したりしてもよい。

以上説明したように、第２実施形態によれば、第１実施形態と同様に、低コスト、且つ、省スペースで、両眼の特性を高精度に測定可能な眼科装置を提供することができる。特に、両眼に対してＯＣＴ計測を実行可能な眼科装置の光学系の小型化及び低コスト化を図ることができる。

［第３実施形態］
第１実施形態では、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの透過方向に固視投影系４Ｌ、４Ｒが設けられている場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲの透過方向に、両眼に共通の視標提示部が配置されていてもよい。

以下、第３実施形態に係る眼科装置について、第１実施形態に係る眼科装置１との相違点を中心に説明する。

図２０に、第３実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。図２０は、図１と同様に、上方から見たときの第３実施形態に係る眼科装置の光学系の構成を模式的に表したものである。

第３実施形態に係る眼科装置１ｂの光学系の構成が第１実施形態に係る眼科装置１の光学系の構成と異なる点は、固視投影系４Ｌ、４Ｒに代えて視標提示部４００が設けられている点である。

視標提示部４００は、視標チャートを含む。例えば、視標チャートは、照明用光源と被検眼との間に配置され、固視標が表された透過型の視標チャートである。いくつかの実施形態において、視標チャートは、固視標が印刷された透過性のフィルムである。固視標の例として、風景チャート、ドット視標などがある。

制御部は、レフ測定を行うとき照明用光源を点灯させ、照明用光源からの光で視標チャートを照明する。視標チャートを透過した光は固視光としてダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲを透過し、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに投射される。

ダイクロイックミラーＭＬは、実施形態に係る「第１光路結合部材」の一例である。ダイクロイックミラーＭＲは、実施形態に係る「第２光路結合部材」の一例である。

図２１に、第３実施形態に係る眼科装置１ｂの処理系の機能的な構成例を示す。図２１は、眼科装置１ｂの処理系の機能ブロック図の一例を示す。図２１において、図１０又は図２０と同様の部分には同一符号を付し、適宜説明を省略する。

眼科装置１ｂの処理系の構成が図１０に示す眼科装置１の処理系の構成と異なる点は、固視投影系４Ｌ、４Ｒが省略されている点と、処理部９に代えて処理部９ｂが設けられている点である。

処理部９ｂの構成が図１０に示す処理部９の構成と異なる点は、制御部２１０に代えて制御部２１０ｂが設けられている点である。制御部２１０ｂは、主制御部２１１ｂと、記憶部２１２ｂとを含む。主制御部２１１ｂは、主制御部２１１による固視投影系４Ｌ、４Ｒに対する制御が省略されている点を除いて、主制御部２１１と同様の制御を行うことができる。記憶部２１２ｂは、固視投影系４Ｌ、４Ｒに対する制御を実行する処理を除いて、記憶部２１２と同様のプログラムを格納する。

第３実施形態に係る眼科装置１ｂの動作は、固視投影系４Ｌ、４Ｒに対する制御が省略されている点を除いて、図１２及び図１３に示す第１実施形態に係る眼科装置１の動作とほぼ同様である。

第３実施形態では、レフ測定、ケラト測定、及びＯＣＴ計測では、両眼に対して同一の固視標が提示される。すなわち、両眼開放下で両眼に対して同一の固視標が提示された状態で、片眼ずつレフ測定を順次に実行することができる。また、両眼開放下で両眼に対して同一の固視標が提示された状態で、片眼ずつＯＣＴ計測を順次に実行することができる。

いくつかの実施形態では、視標提示部４００は、検者の操作により視標の提示を行う。いくつかの実施形態では、視標提示部４００は、主制御部２１１ｂからの制御を受け、視標の提示を行う。この場合、主制御部２１１ｂは、第２実施形態に係る固視投影系４に対する制御と同様に、視標提示部４００を制御する。

いくつかの実施形態では、第３実施形態に係る構成において、両眼の眼前にホロプターを設けたり、トライアルレンズを配置したりしてもよい。

以上説明したように、第３実施形態によれば、第１実施形態と同様に、低コスト、且つ、省スペースで、両眼の特性を高精度に測定可能な眼科装置を提供することができる。特に、両眼に対してＯＣＴ計測を実行可能な眼科装置の光学系の小型化及び低コスト化を図ることができる。

［作用］
実施形態に係る眼科装置について説明する。

実施形態の第１態様は、対物レンズ（５１）と、ＯＣＴ光学系（８）と、光軸切替部材（ＳＷ）と、制御部（２１０、２１０ａ、２１０ｂ、主制御部２１１、２１１ａ、２１１ｂ）と、眼内パラメータ算出部（データ処理部２２３）とを含む眼科装置（１、１ａ、１ｂ）である。ＯＣＴ光学系は、光源（光源ユニット１０１）からの光（Ｌ０）を測定光（ＬＳ）と参照光（ＬＲ）とに分割し、対物レンズを介して測定光を第１測定光軸（測定光軸ＯＬ）上に配置される左被検眼（ＥＬ）又は第２測定光軸（測定光軸ＯＲ）上に配置される右被検眼（ＥＲ）に投射し、左被検眼又は右被検眼からの測定光の戻り光と参照光路を経由した参照光との干渉光（ＬＣ）を検出する。光軸切替部材は、ＯＣＴ光学系の光軸を第１測定光軸及び第２測定光軸のいずれかに略一致するように切り替える。制御部は、光軸切替部材を制御する。眼内パラメータ算出部は、ＯＣＴ光学系の光軸が第１測定光軸に略一致するように切り替えられた状態で得られた干渉光の検出結果に基づいて左被検眼の眼内パラメータ（例えば、眼軸長）を算出し、ＯＣＴ光学系の光軸が第２測定光軸に略一致するように切り替えられた状態で得られた干渉光の検出結果に基づいて右被検眼の眼内パラメータ（例えば、眼軸長）を算出する。

このような態様によれば、単一のＯＣＴ光学系を用いて、両眼開放下で両眼に対してＯＣＴ計測を実行することができる。それにより、低コスト、且つ、省スペースで、両眼の特性を高精度に測定可能な眼科装置を提供することができるようになる。

実施形態の第２態様では、第１態様において、左被検眼及び右被検眼の一方に対して測定光を用いたＯＣＴ計測を実行する前に、制御部は、ＯＣＴ光学系を制御して左被検眼及び右被検眼の他方の眼軸長及び屈折力に基づいて参照光路の光路長を調整する。

このような態様によれば、一方の被検眼に対してＯＣＴ計測を行う前に、他方の被検眼の測定環境から推定される測定環境を設定することができ、ＯＣＴ計測に要する時間を短縮することが可能になる。

実施形態の第３態様では、第１態様又は第２態様において、光軸切替部材は、測定光の光路を偏向する。本態様に係る眼科装置は、更に、左被検眼に第１固視光束を投影する第１固視光学系（固視投影系４Ｌ）と、光軸切替部材により偏向された測定光の光路を第１固視光束の光路に光学的に結合する第１光路結合部材（ダイクロイックミラーＭＬ）と、右被検眼に第２固視光束を投影する第２固視光学系（固視投影系４Ｒ）と、光軸切替部材により偏向された測定光の光路を第２固視光束の光路に光学的に結合する第２光路結合部材（ダイクロイックミラーＭＲ）と、を含む。

このような態様によれば、簡素な構成で、左被検眼及び右被検眼にそれぞれ独立して固視標を提示しつつ、両眼開放下でＯＣＴ計測を行うことができるようになる。

実施形態の第４態様では、第１態様又は第２態様において、光軸切替部材は、測定光の光路を偏向する。本態様に係る眼科装置は、更に、左被検眼及び右被検眼のいずれかに固視光束を投影する固視光学系（４）と、固視光束の光路を測定光の光路に光学的に結合し、固視光束を対物レンズに導く光路結合部材（ダイクロイックミラー８３）と、光軸切替部材により偏向された測定光の光路を左被検眼に向けて偏向する第１反射部材（反射ミラーＭＬ１）と、光軸切替部材により偏向された測定光の光路を右被検眼に向けて偏向する第２反射部材（反射ミラーＭＲ１）と、を含む。

このような態様によれば、両眼に共通の固視投影系を用いて両眼に同一の固視標を提示しつつ、両眼開放下でＯＣＴ計測を行うことができるようになる。

実施形態の第５態様では、第１態様又は第２態様において、光軸切替部材は、測定光の光路を偏向する。本態様に係る眼科装置は、更に、光軸切替部材により偏向された測定光の光路を左被検眼に向けて偏向すると共に、透過方向からの第１固視光束を透過させて左被検眼に導く第１光路結合部材（ダイクロイックミラーＭＬ）と、光軸切替部材により偏向された測定光の光路を右被検眼に向けて偏向すると共に、透過方向からの第２固視光束を透過させて右被検眼に導く第２光路結合部材（ダイクロイックミラーＭＲ）と、を含む。

このような態様によれば、両眼に共通の固視投影系を装置の外部に配置して、両眼に同一の固視標を提示しつつ、両眼開放下でＯＣＴ計測を行うことができるようになる。

実施形態の第６態様は、第３態様又は第５態様において、第１光路結合部材の光路結合面の向き、及び第２光路結合部材の光路結合面の向きを変更することにより第１測定光軸の向き及び第２測定光軸の向きを変更する第１調整部（輻輳角調整部、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲを回動する移動機構）を含む。

このような態様によれば、簡素な構成で、輻輳角を調整しつつ、両眼開放下でＯＣＴ計測を行うことができるようになる。

実施形態の第７態様は、第３態様、第５態様、又は第６態様において、光軸切替部材の偏向方向、第１光路結合部材の光路結合面の向き、及び第２光路結合部材の光路結合面の向きを変更することにより、第１測定光軸及び第２測定光軸の配列方向を調整する第２調整部第２調整部（高さ調整部、光軸切替部材ＳＷの偏向面、ダイクロイックミラーＭＬの偏向面（光路結合面）、及びダイクロイックミラーＭＲの偏向面を回転させる移動機構）を含む。

このような態様によれば、第１測定光軸及び第２測定光軸の配列方向が左被検眼及び右被検眼の配列方向に平行ではない場合に、簡素な構成で、第１測定光軸及び第２測定光軸の配列方向を左被検眼及び右被検眼の配列方向に揃えることができるようになる。

実施形態の第８態様は、第４態様において、第１反射部材の反射面の向き、及び第２反射部材の反射面の向きを変更することにより第１測定光軸の向き及び第２測定光軸の向きを変更する第１調整部（輻輳角調整部、反射ミラーＭＬ１、ＭＲ１を回動する移動機構）を含む。

実施形態の第９態様は、第４態様又は第８態様において、光軸切替部材の偏向方向、第１反射部材の反射面の向き、及び第２反射部材の反射面の向きを変更することにより、第１測定光軸及び第２測定光軸の配列方向を調整する第２調整部（高さ調整部、光軸切替部材ＳＷの偏向面、反射ミラーＭＬ１の偏向面、及び反射ミラーＭＲ１の偏向面を回転させる移動機構）を含む。

実施形態の第１０態様は、第３態様～第９態様のいずれかにおいて、光軸切替部材を第１測定光軸又は第２測定光軸に沿って移動することにより第１測定光軸と第２測定光軸との間の距離を変更する第３調整部（瞳孔間距離調整部、移動機構３１０）を含む。

このような態様によれば、簡素な構成で、第１測定光軸及び第２測定光軸を被検者の瞳孔間距離に合わせることができるようになる。

実施形態の第１１態様は、第１態様～第１０態様のいずれかにおいて、互いに異なる方向から左被検眼の前眼部と右被検眼の前眼部とを撮影する２以上の撮影部（前眼部カメラ１５ＬＡ、１５ＬＢ、１５ＲＡ、１５ＲＢ）と、少なくともＯＣＴ光学系を３次元的に移動する移動機構（２００）と、を含む。制御部は、２以上の撮影部により得られた２以上の画像に基づいて、左被検眼及び右被検眼に対するＯＣＴ光学系の相対位置を変更すると共に、第１測定光軸が左被検眼の視軸と一致し、且つ、第２測定光軸が右被検眼の視軸と一致するように、第１測定光軸の向き及び第２測定光軸の向き、及び第１測定光軸と第２測定光軸との間の距離を変更する。

このような態様によれば、簡素な構成で、広いダイナミックレンジで、両眼に対して、両眼開放下でＯＣＴ計測が可能な眼科装置の位置合わせが可能になる。

実施形態の第１２態様では、第１１態様において、２以上の撮影部は、左被検眼の前眼部を撮影する第１撮影部（前眼部カメラ１５ＬＡ）と、左被検眼の前眼部及び右被検眼の前眼部を撮影する第２撮影部（前眼部カメラ１５ＬＲ）と、右被検眼の前眼部を撮影する第３撮影部（前眼部カメラ１５ＲＡ）とを含む。

このような態様によれば、前眼部カメラの数を削減し、より低コストで、両眼に対して、両眼開放下でＯＣＴ計測が可能になる。

実施形態の第１３態様は、第１態様～第１２態様のいずれかにおいて、屈折力測定光学系（レフ測定投射系６、及びレフ測定受光系７）と、眼屈折力算出部（２２１）とを含む。屈折力測定光学系は、対物レンズを介して第１測定光軸に沿って左被検眼に第１測定パターン光束を投射すると共に第２測定光軸に沿って右被検眼に第２測定パターン光束を投射し、左被検眼からの第１測定パターン光束の戻り光と右被検眼からの第２測定パターン光束の戻り光を受光する。眼屈折力算出部は、第１測定パターン光束の戻り光の受光結果に基づいて左被検眼の屈折力を算出し、第２測定パターン光束の戻り光の受光結果に基づいて右被検眼の屈折力を算出する。

このような態様によれば、両眼開放下で両眼に対して屈折力測定を行うことができるようになる。

実施形態の第１４態様では、第１３態様において、屈折力測定光学系は、左被検眼の屈折力と右被検眼の屈折力との中間度数に対応した位置が焦点位置となるように第１測定パターン光束及び第２測定パターン光束を投射する。

このような態様によれば、両眼の屈折力が異なるような場合でも、両眼に対して屈折力測定を行うことができる。

＜その他＞
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

また、上記の実施形態では、眼科装置が眼底に対してＯＣＴを実行する場合について説明したが，実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、眼底と前眼部に対してＯＣＴを実行する眼科装置に対して本発明を適用することが可能である。

また、上記の実施形態では、光軸切替部材ＳＷは、ＸＺ平面内で光軸を折り返していたが、実施形態に係る構成はこれに限定されるものではない。例えば、光軸切替部材ＳＷは、Ｙ方向（被検者に対して上方向又は下方向）に光軸を折り返すように構成されていてもよい。この場合、瞳孔間距離調整部は、ダイクロイックミラーＭＬ、ＭＲを移動又は回動することで瞳孔間距離を調整することが可能である。

１、１ａ、１ｂ眼科装置
２ＸＹアライメント系
３ケラト測定系
４、４Ｌ、４Ｒ固視投影系
５前眼部観察系
６レフ測定投射系
７レフ測定受光系
８ＯＣＴ光学系
９、９ａ、９ｂ処理部
４０、４０Ｌ、４０Ｒ固視ユニット
４１、４１Ｌ、４１Ｒ液晶パネル
４２、４３、４４、４２Ｌ、４３Ｌ、４４Ｌ、４２Ｒ、４３Ｒ、４４Ｒリレーレンズ
５１対物レンズ
２１０、２１０ａ、２１０ｂ制御部
２１１、２１１ａ、２１１ｂ主制御部
３００、３００ａ測定光学系
４００視標提示部
ＣＬｒ、ＣＲｒ角膜
ＥＬ左被検眼
ＥＬｆ、ＥＲｆ眼底
ＥＲ右被検眼
ＭＬ、ＭＲダイクロイックミラー
ＭＬ１、ＭＲ１反射ミラー
ＯＬ、ＯＲ測定光軸
ＳＷ光軸切替部材

Claims

対物レンズと、
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記対物レンズを介して前記測定光を第１測定光軸上に配置される左被検眼又は第２測定光軸上に配置される右被検眼に投射し、前記左被検眼又は前記右被検眼からの前記測定光の戻り光と参照光路を経由した前記参照光との干渉光を検出するＯＣＴ光学系と、
前記ＯＣＴ光学系の光軸を前記第１測定光軸及び前記第２測定光軸のいずれかに略一致するように切り替える光軸切替部材と、
前記光軸切替部材を制御する制御部と、
前記ＯＣＴ光学系の光軸が前記第１測定光軸に略一致するように切り替えられた状態で得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記左被検眼の眼内パラメータを算出し、前記ＯＣＴ光学系の光軸が前記第２測定光軸に略一致するように切り替えられた状態で得られた前記干渉光の検出結果に基づいて前記右被検眼の眼内パラメータを算出する眼内パラメータ算出部と、
を含む、眼科装置。
前記左被検眼及び前記右被検眼の一方に対して前記測定光を用いたＯＣＴ計測を実行する前に、前記制御部は、前記ＯＣＴ光学系を制御して前記左被検眼及び前記右被検眼の他方の眼軸長及び屈折力に基づいて前記参照光路の光路長を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
前記光軸切替部材は、前記測定光の光路を偏向し、
前記左被検眼に第１固視光束を投影する第１固視光学系と、
前記光軸切替部材により偏向された前記測定光の光路を前記第１固視光束の光路に光学的に結合する第１光路結合部材と、
前記右被検眼に第２固視光束を投影する第２固視光学系と、
前記光軸切替部材により偏向された前記測定光の光路を前記第２固視光束の光路に光学的に結合する第２光路結合部材と、
を含む
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
前記光軸切替部材は、前記測定光の光路を偏向し、
前記左被検眼及び前記右被検眼のいずれかに固視光束を投影する固視光学系と、
前記固視光束の光路を前記測定光の光路に光学的に結合し、前記固視光束を前記対物レンズに導く光路結合部材と、
前記光軸切替部材により偏向された前記測定光の光路を前記左被検眼に向けて偏向する第１反射部材と、
前記光軸切替部材により偏向された前記測定光の光路を前記右被検眼に向けて偏向する第２反射部材と、
を含む
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
前記光軸切替部材は、前記測定光の光路を偏向し、
前記光軸切替部材により偏向された前記測定光の光路を前記左被検眼に向けて偏向すると共に、透過方向からの第１固視光束を透過させて前記左被検眼に導く第１光路結合部材と、
前記光軸切替部材により偏向された前記測定光の光路を前記右被検眼に向けて偏向すると共に、透過方向からの第２固視光束を透過させて前記右被検眼に導く第２光路結合部材と、
を含む
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の眼科装置。
前記第１光路結合部材の光路結合面の向き、及び前記第２光路結合部材の光路結合面の向きを変更することにより前記第１測定光軸の向き及び前記第２測定光軸の向きを変更する第１調整部を含む
ことを特徴とする請求項３又は請求項５に記載の眼科装置。
前記光軸切替部材の偏向方向、前記第１光路結合部材の光路結合面の向き、及び前記第２光路結合部材の光路結合面の向きを変更することにより、前記第１測定光軸及び前記第２測定光軸の配列方向を調整する第２調整部を含む
ことを特徴とする請求項３、請求項５、又は請求項６に記載の眼科装置。
前記第１反射部材の反射面の向き、及び前記第２反射部材の反射面の向きを変更することにより前記第１測定光軸の向き及び前記第２測定光軸の向きを変更する第１調整部を含む
ことを特徴とする請求項４に記載の眼科装置。
前記光軸切替部材の偏向方向、前記第１反射部材の反射面の向き、及び前記第２反射部材の反射面の向きを変更することにより、前記第１測定光軸及び前記第２測定光軸の配列方向を調整する第２調整部を含む
ことを特徴とする請求項４又は請求項８に記載の眼科装置。
前記光軸切替部材を前記第１測定光軸又は前記第２測定光軸に沿って移動することにより前記第１測定光軸と前記第２測定光軸との間の距離を変更する第３調整部を含む
ことを特徴とする請求項３～請求項９のいずれか一項に記載の眼科装置。
互いに異なる方向から前記左被検眼の前眼部と前記右被検眼の前眼部とを撮影する２以上の撮影部と、
少なくとも前記ＯＣＴ光学系を３次元的に移動する移動機構と、
を含み、
前記制御部は、前記２以上の撮影部により得られた２以上の画像に基づいて、前記左被検眼及び前記右被検眼に対する前記ＯＣＴ光学系の相対位置を変更すると共に、前記第１測定光軸が前記左被検眼の視軸と一致し、且つ、前記第２測定光軸が前記右被検眼の視軸と一致するように、前記第１測定光軸の向き及び前記第２測定光軸の向き、及び前記第１測定光軸と前記第２測定光軸との間の距離を変更する
ことを特徴とする請求項１～請求項１０のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記２以上の撮影部は、
前記左被検眼の前眼部を撮影する第１撮影部と、
前記左被検眼の前眼部及び前記右被検眼の前眼部を撮影する第２撮影部と、
前記右被検眼の前眼部を撮影する第３撮影部と、
を含む
ことを特徴とする請求項１１に記載の眼科装置。
前記対物レンズを介して前記第１測定光軸に沿って前記左被検眼に第１測定パターン光束を投射すると共に前記第２測定光軸に沿って前記右被検眼に第２測定パターン光束を投射し、前記左被検眼からの前記第１測定パターン光束の戻り光と前記右被検眼からの前記第２測定パターン光束の戻り光を受光する屈折力測定光学系と、
前記第１測定パターン光束の戻り光の受光結果に基づいて前記左被検眼の屈折力を算出し、前記第２測定パターン光束の戻り光の受光結果に基づいて前記右被検眼の屈折力を算出する眼屈折力算出部と、
含む
ことを特徴とする請求項１～請求項１２のいずれか一項に記載の眼科装置。
前記屈折力測定光学系は、前記左被検眼の屈折力と前記右被検眼の屈折力との中間度数に対応した位置が焦点位置となるように前記第１測定パターン光束及び前記第２測定パターン光束を投射する
ことを特徴とする請求項１３に記載の眼科装置。