JPS63304139A - 光吸収物の検知装置 - Google Patents

光吸収物の検知装置

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JPS63304139A
JPS63304139A JP62140438A JP14043887A JPS63304139A JP S63304139 A JPS63304139 A JP S63304139A JP 62140438 A JP62140438 A JP 62140438A JP 14043887 A JP14043887 A JP 14043887A JP S63304139 A JPS63304139 A JP S63304139A
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JP
Japan
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light
wavelength
reflecting
reflected
absorbing object
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JP62140438A
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English (en)
Inventor
Akio Kono
河野 明夫
Tsutomu Hiraoka
平岡 励
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Osaka Gas Co Ltd
Original Assignee
Osaka Gas Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、たとえば埋設配管より路面上に漏れたガス
の検知等に適用される光吸収物の検知装置に関するもの
である。
〔従来の技術〕
路面におけるガス漏れを迅速に知ることは社会保安の面
から重要である。
このようなガスを検知する技術としてガスが特定波長の
光を吸収する性質を利用し、ガスの吸収波長と同じ検出
用波長の光を、ガス漏れを検知する場所に投射して、そ
の透過光の光量をガスに吸収されない比較用波長の光の
光量と比較することにより、ガスのを無を検知すること
が考えられる。
たとえば、最近の都市ガスは従来の石炭ガスからメタン
を主成分とする天然ガスに転換されているが、メタンガ
スの場合、周知のように1.331μ誠。
1.665μm、 3.39μm、 7.68μm等の
波長を吸収する性質を有する。
このような光吸収物質の検知装置の従来例を第4図に示
す、すなわち、30はメタンガスを吸収する波長と同じ
検出用波長の光を発光する光源、31は検出用波長と異
なる比較用波長の光を発光する光源、32.33は光源
30.光源31を交互に遮蔽する遮蔽板、34はハーフ
ミラ−135゜36はミラー、37は検知対象の光吸収
物であるメタンガス、38は反射利用用の物体、39は
受光装置の受光素子、40は遮蔽板32.33に連動す
る連動スイッチである。遮蔽板32.33を操作して検
出用波長の光源30を遮蔽し比較用波長の光−a31の
光をメタンガスに投射し、物体38の散乱等による反射
光の光量を受光素子39で電流に変換し比較信号線42
より比較信号を得る。
同様に遮蔽板32.33を操作して、比較用波長の光源
31を遮蔽し検出用波長の光源30の光をメタンガスに
投射して、物体38の反射光より光量に対応した電流の
検出信号を検出信号線41より得る。メタンガスがある
場合、検出用波長の光は吸収されるため反射光の光量が
比較用波長の反射光の光量よりも少なくなるので、検出
信号と比較信号の電圧の比較からメタンガスの存在を知
ることができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、この光吸収物の検知装置は、メタンガスに対
する入射側の光学系が光源30,31゜ハーフミラ−3
4およびミラー35.36で構成されるため複雑であり
、しかも光源30.31の各光の物体38への投射点が
一致するように相互の配置精度が要求されるという欠点
があった。物体38の反射を利用しないで物体38の位
置に受光装置を配置する場合も同様である。
したがって、この発明の目的は、光学系を簡単にするこ
とができる光吸収物の検知装置を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明の光吸収物の検知装置は、光源と、この光源に
対向配置されて前記光源の投射光を光吸収物へ反射する
とともに前記投射光と同方向に移動可能な反射面を有す
る反射装置と、前記反射面の反射光が前記光吸収物の吸
収波長と同じ検出用波長と前記吸収波長と異なる比較用
波長とにドツプラ効果で変化するように前記反射装置の
前記反射面の移動速度を制御する制御手段と、前記反射
光の前記光吸収物の透過光の光量を検出する受光装置と
を備えたものである。
〔作用〕
この発明の構成によれば、反射面が所定の速度で移動し
てドツプラ効果により得た比較用波長ないし検出用波長
の反射光を光吸収物に反射するようにしたため、光吸収
物に対する入射側の光学系は単一の光源および反射装置
で構成される。このため、光学系が簡単になりかつ相互
の配置精度も要求されない。
〔実施例〕
この発明の第1の実施例を第1図および第2図に基づい
て説明する。すなわち、この光吸収物の検知装置は、光
a1と、この光源lに対向配置されて光源1の投射光2
を光吸収物5へ反射するとともに投射光2と同方向に移
動可能な反射面3を有する反射装置6と、反射面3の反
射光4が光吸収物5の吸収波長と同じ検出用波長と前記
吸収波長と異なる比較用波長とにドツプラ効果で変化す
るように反射装置6の反射面3の移動速度を制御する制
御手段7と、反射光4の光吸収物5の透過光の光量を検
出する受光装置8とを備えている。
前記光源1は指向性のよいレーザ装置を実施例としてい
る。また光源lの光の波長は光吸収物5の吸収波長に等
しい検出用波長に設定している。
前記光吸収物5はメタンガスを実施例としている。
前記反射装置6は、電気−歪特性を利用した圧電素子の
ひずみ方向の表面に反射面3を形成した反射板を実施例
としている。たとえば数百MHzに応答するポリビニル
ジラロライド(PVDF)の有機圧電素子や、数百KH
zに応答するセラミックの圧電素子等を用いる0反射面
3による反射光4の方向は光吸収物5およびその後方の
光反射用の物体17である。
前記制御手段7は、反射装置6に一定の周期で電圧を印
加することより周期的に所定の速度で反射面3を移動さ
せるものである0反射装置6に電圧を印加したとき、第
2図falのように反射面3が位置0から光源1に近い
位置にへ所定の速度で移動し、電圧印加を停止すると他
の速度で復帰する。
このとき図の傾斜P、、P2がそれぞれの移動速度を示
し、その傾斜勾配が大きいと速度が大きいことを表す。
反射装置6の反射面3の移動の速度をv (−/s)と
すると、波長λの投射光2に対する反射光4の波長λ′
はドツプラ効果により、 λ′=λ (1±(2V/Cal で与えられる。?31号士の−は反射面3が光源1へ近
づくとき、+は光源1から離れるときである。
Cは光の速度である。したがって、反射面3が第2図f
atのように傾斜p、、p2に対応する速度vII  
v2で光源1に対して移動するとき、反射光4は第2図
中)のように波長λ′、λ1となる。
このため、速度vIまたはv2の設定により波長λ′、
λ“が光吸収物5の吸収波長と異なるときこれを比較用
波長とすることができる。
前記受光装置8は、物体17を反射しさらに光吸収物5
を透過した反射光4が入射するミラー13゜16と、ミ
ラー16の反射した光を受光する光電変換作用を有する
受光素子9と、制御B手段7により反射装置6に電圧を
印加したときに同期して回路を切換えるスイッチング回
路lOとを有して、制御手段7により反射装置6に電圧
を印加しないときスイッチング回路10により受光素子
9を検出信号線14に接続し、反射装置6に電圧を印加
したときスイッチング回路10により受光素子9を比較
信号線15に接続し、比較信号線15より比較信号を取
り出し検出信号線14より検出信号を得ている。なお、
比較信号および検出信号は比較器(図示せず)で比較し
て光吸収物5の有無を表示する表示器(図示せず)を設
けてもよいし、比較信号および検出信号をアナログまた
はデジタルのデータとして取り出して比較してもよい。
この光吸収物の検知装置は、いま光B1の投射光2の波
長λを3.390μmとし、反射面3が5×10−”s
ec間に光B1の方向へ500μm移動したとすると、
前記式において V =500 Xl0−’15X10−”−10’m/
s、’、 2 V / C−2XIO’/3 XIO”
 −0,66X10−”λ′=λ (1−(2v/cN =3.390(1−0,66x 10−’)−3,39
0−0,002 −3,388μm となる、すなわち、波長λの反射光2よりも2nm短い
波長λ′の反射光4を得ることができる。この場合、メ
タンガスの吸収波長は3.390μmであるから投射光
2を検出用波長の光とし、3.388μmの光をメタン
ガスに吸収されない比較用波長の光として使用すること
ができる。したがって、光吸収物5が反射装置6の前方
にない場合、受光装置8で受光する検出信号および比較
信号は予め設定された一定の関係を示すが、光吸収物5
がある場合には検出用波長の光は光吸収物5に吸収され
るため検出信号と比較信号は異なった関係となり、光吸
収物5の有無を検知することができる。
この実施例によれば、反射面3が所定の速度で移動して
ドツプラ効果により得た比較用波長ないし検出用波長の
反射光4を光吸収物5に反射するようにしたため、光吸
収物5に対する入射側の光学系は単一の光源1および反
射装置6で構成される。このため、光学系が簡単になり
かつ相互の配置精度も要求されない。
またこの実施例は、反射面3の複数の移動速度Q、v 
1.V2を制御手段7により設定し、第2図(5)のよ
うに一定の順序で周期的に変更することにより複数の吸
収波長を得ることもできるので、複数の光吸収物5を同
時に検知することも可能になる。
なお、前記実施例は、メタンガスの吸収波長に一致する
検出用波長を光源1の発光する波長としたが、メタンガ
スの吸収波長と一致しない比較用波長を光源1の発光す
る波長とし、反射装置6で波長変換される反射光4をメ
タンガスの吸収波長と同一の検出用波長とすることもで
きる。
この発明の第2の実施例を第3図に示す、すなわち、こ
の光吸収物の検知装置は、反射装置6が反射面3の移動
する可動反射板11と可動反射板11に対向する固定反
射板12とを存するものである。
光atから出た投射光2は反射面3で波長変換されなが
ら反射され、さらに固定反射板12で反射されて再び反
射面3に入射し、相互に複数回たとえばN回の反射が繰
り返される。したがって、反射装置6から出る波長λ′
は、 λ′=λ±(2N v / c ) λとなり、第1の
実施例と比較してN倍の波長の変化量が得られる。この
N回は可動反射板1111!:内定反射板12とを平行
にずらすことにより制御することができる。いまλを3
.390μmとし、反射面3がlO“’sec間に50
0μm移動し、光の反射繰り返し回数を100回とする
と、 シー500xlO−’/ 10−’ −5xlOツλ′
−λ(1−+ 2X 100X 5X10”/(3X1
0”)l )−λ(1−3,33xlO−’) −3,390−0,011 −3,379μm となり、λよりもllnm短い波長の光を得ることがで
きる。このように、光源1の単一の波長λの投射光2か
ら二つ以上の波長λ、λ′、λ″の反射光4を作ること
ができて、しかも反射面3の移動速度および反射回数に
より任意の波長の反射光4を得ることができるので、広
範囲のIl!11の光吸収物5の検知が可能になる。
なお、反射面3の移動方向は移動成分が投射光2の光軸
方向と同方向であれば、前記ドツプラ効果を得ることが
できるので、この発明は反射面3の移動成分が投射光2
の光軸方向と同方向である場合を含むものである。
また前記各実施例の受光装置8は、物体17からの反射
した光を受光したが、反射装置6を含む入射側と受光装
置8側とを対向してその間に光吸収物5が位1するよう
に構成してもよい。
〔発明の効果〕
この発明の光吸収物の検知装置によれば、反射面が所定
の速度で移動してドツプラ効果により得た比較用波長な
いし検出用波長の反射光を光吸収物に反射するようにし
たため、光吸収物に対する入射側の光学系は単一の光源
および反射装置で構成される。このため、光学系が簡単
になりかつ相互の配置精度も要求されないという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1の実施例の概略説明図、第2図
は反射面の移動と波長の変化を示すグラフ、第3図は第
2の実施例の概略説明図、第4図は従来例の概略説明図
である。 1・・・光源、2・・・投射光、3・・・反射面、4・
・・反射光、5・・・光吸収物、6・・・反射装置、7
・・・制御手段、8・・・受光装置 奸跡力

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光源と、この光源に対向配置されて前記光源の投
    射光を光吸収物へ反射するとともに前記投射光と同方向
    に移動可能な反射面を有する反射装置と、前記反射面の
    反射光が前記光吸収物の吸収波長と同じ検出用波長と前
    記吸収波長と異なる比較用波長とにドップラ効果で変化
    するように前記反射装置の前記反射面の移動速度を制御
    する制御手段と、前記反射光の前記光吸収物の透過光の
    光量を検出する受光装置とを備えた光吸収物の検知装置
  2. (2)前記制御手段は前記反射面を複数種類の速度に可
    変である特許請求の範囲第(1)項記載の光吸収物の検
    知装置。
  3. (3)前記反射装置は、前記光源に対向して反射面が移
    動する可動反射板と、この可動反射板に対向して前記反
    射光を前記可動反射板に複数回反射させる固定反射板を
    有する特許請求の範囲第(1)項記載の光吸収物の検知
    装置。
JP62140438A 1987-06-03 1987-06-03 光吸収物の検知装置 Pending JPS63304139A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4209170A1 (en) 2022-01-11 2023-07-12 Topcon Corporation Ophthalmic apparatus
EP4209171A1 (en) 2022-01-11 2023-07-12 Topcon Corporation Ophthalmic apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP4209170A1 (en) 2022-01-11 2023-07-12 Topcon Corporation Ophthalmic apparatus
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