JP2023058238A - 放射線検出装置および試料分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
Spectroscopy、EDS)や、波長分散型X線検出装置(Wavelength-Dispersive X-ray Spectroscopy、WDS)が知られている。
放射線を検出する検出器と、
前記検出器の出力信号を微分して第1パルス信号に変換する第1微分フィルターと、
前記第1微分フィルターよりも大きい時定数を有し、前記検出器の出力信号を微分して第2パルス信号に変換する第2微分フィルターと、
前記第1パルス信号のピークのタイミングと前記第2パルス信号のピークのタイミングの差に基づいて、ノイズを検知するノイズ検知部と、
を含む。
放射線を検出する検出器と、
前記検出器の出力信号を微分して第1パルス信号に変換する第1微分フィルターと、
前記第1微分フィルターよりも大きい時定数を有し、前記検出器の出力信号を微分して第2パルス信号に変換する第2微分フィルターと、
前記第1パルス信号のピーク強度と前記第2パルス信号のピーク強度に基づいて、ノイズを検知するノイズ検知部と、
を含む。
上記放射線検出装置を含む。
1.1. X線検出装置の構成
まず、第1実施形態に係るX線検出装置の構成について、図面を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態に係るX線検出装置100の構成を示す図である。
クトル生成処理部6と、を含む。
低く設定する必要がある。しかしながら、閾値TH2を低く設定すると、ノイズも閾値TH2を超えてしまうため、イベント検知部40ではノイズまでイベントとして検知してしまう。そのため、X線検出装置100では、ノイズ検知部50において、ノイズを検知する。以下、ノイズを検知する手法について説明する。
されるまでの時間の計測を開始する。メモリ53bには、タイムカウンター54で計測された第2パルス信号S30のピーク(最大値)のタイミングT1、すなわち、第1パルス信号S20が閾値TH2を超えてから第2パルス信号S30のピークが検出されるまでの時間が記憶される。
図13は、X線検出装置100の信号処理回路4の処理を説明するための図である。
0は、それぞれ出力信号S2を微分する。これにより、メインパルス信号S10にはピークP10が現れ、第1パルス信号S20にはピークP11が現れ、第2パルス信号S30にはピークP12が現れる。
X線検出装置100は、X線検出器2と、X線検出器2の出力信号S2を微分して第1パルス信号S20に変換するイベント検知フィルター20と、イベント検知フィルター20よりも大きい時定数を有し、X線検出器2の出力信号S2を微分して第2パルス信号S30に変換するノイズ検知フィルター30と、第1パルス信号S20のピークのタイミングT0と第2パルス信号S30のピークのタイミングT1との差T1-T0に基づいてノイズを検知するノイズ検知部50と、を含む。そのため、X線検出装置100では、ノイズとX線信号を効果的に判別できる。
2.1. X線検出装置の構成
次に、第2実施形態に係るX線検出装置について、図面を参照しながら説明する。図1
5は、第2実施形態に係るX線検出装置200の構成を示す図である。以下、第2実施形態に係るX線検出装置200において、第1実施形態に係るX線検出装置100の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
図21は、X線検出装置200の信号処理回路4の処理を説明するための図である。
20が現れ、第1パルス信号S20にはピークP21が現れ、第2パルス信号S30にはピークP22が現れる。
X線検出装置200は、X線検出器2と、X線検出器2の出力信号S2を微分して第1パルス信号S20に変換するイベント検知フィルター20と、イベント検知フィルター20よりも大きい時定数を有し、X線検出器2の出力信号S2を微分して第2パルス信号S30に変換するノイズ検知フィルター30と、第1パルス信号S20のピーク強度α0と第2パルス信号S30のピーク強度α1に基づいて、ノイズを検知するノイズ検知部50と、を含む。そのため、X線検出装置200では、X線検出装置100と同様に、ノイズとX線信号を効果的に判別できる。
次に、第3実施形態に係るX線検出装置について、図面を参照しながら説明する。図22は、第3実施形態に係るX線検出装置300の構成を示す図である。以下、第3実施形態に係るX線検出装置300において、第1実施形態に係るX線検出装置100および第2実施形態に係るX線検出装置200の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
ノイズを検知し、かつ、第1パルス信号S20のピーク強度α0に対する第2パルス信号S30のピーク強度α1の強度比α1/α0に基づいてノイズを検知する。
次に、第4実施形態に係る試料分析装置400について、図面を参照しながら説明する。図23は、第4実施形態に係る試料分析装置400の構成を示す図である。
Claims (8)
- 放射線を検出する検出器と、
前記検出器の出力信号を微分して第1パルス信号に変換する第1微分フィルターと、
前記第1微分フィルターよりも大きい時定数を有し、前記検出器の出力信号を微分して第2パルス信号に変換する第2微分フィルターと、
前記第1パルス信号のピークのタイミングと前記第2パルス信号のピークのタイミングの差に基づいて、ノイズを検知するノイズ検知部と、
を含む、放射線検出装置。 - 請求項1において、
前記ノイズ検知部は、前記第1パルス信号のピークのタイミングと前記第2パルス信号のピークのタイミングとの差と、前記第1微分フィルターの時定数と前記第2微分フィルターの時定数の差を比較して、ノイズを検知する、放射線検出装置。 - 請求項1または2において、
前記ノイズ検知部は、さらに、前記第1パルス信号のピーク強度と前記第2パルス信号のピーク強度に基づいて、ノイズを検知する、放射線検出装置。 - 放射線を検出する検出器と、
前記検出器の出力信号を微分して第1パルス信号に変換する第1微分フィルターと、
前記第1微分フィルターよりも大きい時定数を有し、前記検出器の出力信号を微分して第2パルス信号に変換する第2微分フィルターと、
前記第1パルス信号のピーク強度と前記第2パルス信号のピーク強度に基づいて、ノイズを検知するノイズ検知部と、
を含む、放射線検出装置。 - 請求項4において、
前記ノイズ検知部は、
前記第1パルス信号のピーク強度と前記第2パルス信号のピーク強度の比に基づいて、ノイズを検知する、放射線検出装置。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記第1微分フィルターおよび前記第2微分フィルターよりも大きい時定数を有し、前記検出器の出力信号を微分してメインパルス信号を出力するメインフィルターと、
前記第1パルス信号に基づいて、イベント信号を出力するイベント検知部と、
前記イベント信号に基づいて前記メインパルス信号の波高値の検出を開始し、前記波高値の情報を含む信号を出力する波高値検出部と、
を含む、放射線検出装置。 - 請求項1ないし6のいずれか1項において、
前記検出器の出力信号は、前記放射線のエネルギーに相当する高さの段差を有する階段波である、放射線検出装置。 - 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の放射線検出装置を含む、試料分析装置。
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