JP2023044139A - 磁気ディスク装置及び記録型式の変更方法 - Google Patents

Abstract

【課題】信頼性を向上可能な磁気ディスク装置及び記録型式の変更方法を提供する。【解決手段】磁気ディスク１０と、磁気ディスクからデータをリードするリードヘッド１５Ｒと、ディスクにデータをライトするライトヘッド１５Ｗと、ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生するアシスト素子（例えば、スピントルク発振子２００）とを有するヘッド１５と、第１記録型式と、第１記録型式と異なる第２記録型式と、を選択して実行し、アシスト素子のアシスト効果に応じて、第１記録型式及び第２記録型式のいずれか一方を選択して実行する、コントローラと、を備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及び記録型式の変更方法に関する。

磁気ディスク装置の高記録密度化及び高記録容量化を実現するために、高周波（マイクロ波）アシスト磁気記録型式（Microwave Assisted Magnetic Recording : MAMR）や、熱アシスト磁気記録（Thermally Assisted Magnetic Recording : TAMR）型式等が開発されている。高周波アシスト記録型式は、記録電流が印加されることで励磁されて記録磁界を発生する記録磁極（主磁極）と高周波発振子とを有する磁気ヘッドを使用し、高周波発振子に通電することで発生する高周波磁界をディスクに印加することによって、高周波磁界を印加したディスクの部分の保磁力を低下させる技術である。熱アシスト磁気記録型式は、ディスクに向かって照射光を照射する光照射素子を有する磁気ヘッドを使用し、光照射素子の先端からディスクに照射光を照射してディスクを局所的に加熱することで、加熱されたディスクの部分の保磁力を低下させる技術である。

また、ディスクの半径方向に間隔に置いて複数のトラックをライトする通常記録（Conventional Magnetic Recording:ＣＭＲ）型式（又は、従来記録型式）の磁気ディスク装置とディスクの半径方向に複数のトラックを重ね書きする瓦記録（Shingled write Magnetic Recording：ＳＭＲ、又はShingled Write Recording：ＳＷＲ）型式の磁気ディスク装置とがある。近年、通常記録型式と瓦記録型式とを選択して実行可能な磁気ディスク装置が開発されている。

米国特許第９２１８８４９号明細書 米国特許第１０８７２６２２号明細書 米国特許第９３０５５８４号明細書

本発明の実施形態が解決しようとする課題は、信頼性を向上可能な磁気ディスク装置及び記録型式の変更方法を提供することである。

本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、前記ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生するアシスト素子とを有するヘッドと、第１記録型式と前記第１記録型式と異なる第２記録型式とを選択して実行し、前記アシスト素子のアシスト効果に応じて、前記第１記録型式及び前記第２記録型式のいずれか一方を選択して実行する、コントローラと、を備える。

図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図２は、第１実施形態に係るディスクに対するヘッドの配置の一例を示す模式図である。 図３は、第１実施形態に係るディスク及びヘッドの一例を示す拡大断面図である。 図４は、通常記録処理の一例を示す模式図である。 図５は、瓦記録処理の一例を示す模式図である。 図６は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の使用時間に対するＢＥＲの差分値の変化の一例を示す模式図である。 図７は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置の使用時間に対するアシスト素子抵抗値の差分値の変化の一例を示す模式図である。 図８は、第１実施形態に係るアシスト素子の寿命に応じた対象ヘッドの記録型式の変更方法の一例を示すフローチャートである。 図９は、変形例１に係るヘッドの一例を示す拡大断面図である。 図１０は、変形例２に係るアシスト素子の寿命に応じた対象ヘッドの記録型式の変更方法の一例を示すフローチャートである。 図１１は、変形例３に係るアシスト素子の寿命に応じた所定のヘッドの記録型式の変更方法の一例を示すフローチャートである。 図１２は、第２実施形態に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。 図１３は、変形例４に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。 図１４は、第３実施形態に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。 図１５は、変形例５に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。

以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、不揮発性メモリ８０と、バッファメモリ（バッファ）９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する）１００と接続される。

ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスクと称する）１０と、スピンドルモータ（以下、ＳＰＭと称する）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（以下、ＶＣＭと称する）１４とを有する。ディスク１０は、ＳＰＭ１２に取り付けられ、ＳＰＭ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０の所定の位置まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、それぞれ、複数個設けられている。なお、ディスク１０及びヘッド１５は、それぞれ、１つのみ設けられていてもよい。

ディスク１０は、そのデータをライト可能な領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、ホスト等から転送されたデータ（又はコマンド）をユーザデータ領域１０ａの所定の領域にライトする前に一時的に保存又は記録するメディアキャッシュ（メディアキャッシュ領域又は保存領域と称する場合もある）１０ｂと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｃとが割り当てられている。以下、ディスク１０の内周から外周へ向かう方向、又はディスク１０の外周から内周へ向かう方向を半径方向と称する。半径方向において、内周から外周へ向かう方向を外方向（外側）と称し、外周から内周へ向かう方向を内方向（内側）と称する。ディスク１０の半径方向に直交する方向を円周方向と称する。円周方向は、ディスク１０の円周に沿った方向に相当する。半径方向及び円周方向は、互いに直交している。また、ディスク１０の半径方向の所定の位置を半径位置と称し、ディスク１０の円周方向の所定の位置を円周位置と称する場合もある。半径位置及び円周位置をまとめて単に位置と称する場合もある。ディスク１０は、複数の領域に区分され得る。例えば、ディスク１０は、半径方向において、所定の数のトラックを含む領域（以下、ゾーンと称する場合もある）毎に区分され得る。ゾーンは、半径方向において、トラック毎に区分され得る。

なお、“トラック”は、ディスク１０を半径方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域、ディスク１０の所定の半径位置の１周分の記録領域、ディスク１０の所定の半径位置の所定の記録領域、ディスク１０の円周方向に延長する記録領域、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路に相当する記録領域、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路、ディスク１０を半径方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置の１周分の記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置の所定の記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の円周方向に延長する記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路に相当する記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置に位置決めしたヘッド１５の経路に沿ってライトしたデータ、ディスク１０において円周方向に延長するデータ、ディスク１０の所定のトラックにライトされたデータ、ディスク１０の所定のトラックにライトされた１周分のデータ、ディスク１０の所定のトラックにライトされたデータの一部や、その他の種々の意味で用いる。“セクタ”は、ディスク１０の所定のトラックを円周方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域、ディスク１０の所定の半径位置で円周方向に延長する記録領域を区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域、ディスク１０の所定のトラックの所定の記録領域、ディスク１０の所定のトラックの所定の円周位置、ディスク１０の所定の半径位置における所定の円周位置（所定の位置）、ディスク１０の所定のトラックを円周方向に区分した複数の記録領域の内の１つの記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置で円周方向に延長する記録領域を区分した複数の記録領域の１つの記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定のトラックの所定の記録領域にライトされたデータ、ディスク１０の所定のトラックの所定の円周位置にライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置における所定の円周位置（所定の位置）にライトされたデータ、所定のセクタにライトされたデータや、その他の種々の意味で用いる。“トラックの半径方向の幅”を“トラック幅”と称する場合もある。“所定のトラックにおけるトラック幅の中心位置を通る経路”を“トラックセンタ”と称する場合もある。ユーザデータ領域１０ａにライトされるユーザにより利用可能なデータをユーザデータと称する場合もある。

ヘッド１５は、ディスク１０に対向している。例えば、ディスク１０の１つの面には、１つのヘッド１５が対向している。ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒとを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒは、ディスク１０にライトされたデータをリードする。なお、“ライトヘッド１５Ｗ”を単に“ヘッド１５”と称する場合もあるし、“リードヘッド１５Ｒ”を単に“ヘッド１５”と称する場合もあるし、“ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ”をまとめて“ヘッド１５”と称する場合もある。“ヘッド１５の中心部”を“ヘッド１５”と称し、“ライトヘッド１５Ｗの中心部”を“ライトヘッド１５Ｗ”と称し、“リードヘッド１５Ｒの中心部”を“リードヘッド１５Ｒ”と称する場合もある。“ライトヘッド１５Ｗの中心部”を単に“ヘッド１５”と称する場合もあるし、“リードヘッド１５Ｒの中心部”を単に“ヘッド１５”と称する場合もある。“ヘッド１５の中心部を所定のトラックのトラックセンタに位置決めする”ことを“ヘッド１５を所定のトラックに位置決めする”、“ヘッド１５を所定のトラックに配置する”、又は“ヘッド１５を所定のトラックに位置する”等で表現する場合もある。

図２は、本実施形態に係るディスク１０に対するヘッド１５の配置の一例を示す模式図である。図２に示すように、円周方向において、ディスク１０の回転する方向を回転方向と称する。なお、図２に示した例では、回転方向は、反時計回りで示しているが、逆向き（時計回り）であってもよい。

図２に示した例では、ディスク１０は、ディスク１０－０…を含む。ディスク１０は、面１０Ｓ（１０Ｓ０、１０Ｓ１、…）を有する。ディスク１０－０は、表面１０Ｓ０と表面１０Ｓ０の反対側の裏面１０Ｓ１とを有する。表面１０Ｓ０は、ユーザデータ領域１０ａ０と、メディアキャッシュ１０ｂ０と、システムエリア１０ｃ０とを有する。裏面１０Ｓ１は、ユーザデータ領域１０ａ１と、メディアキャッシュ１０ｂ１と、システムエリア１０ｃ１とを有する。

ヘッド１５は、複数のヘッド１５を含む。図２に示した例では、ヘッド１５は、ヘッド１５－０と、ヘッド１５－１と…を含む。ヘッド１５は、面１０Ｓに対向している。複数のヘッド１５は、それぞれ、複数のディスクの面１０Ｓに対向している。図２に示した例では、ヘッド１５－０は、表面１０Ｓ０に対向している。ヘッド１５－０は、表面１０Ｓ０にデータをライトし、表面１０Ｓ０からデータをリードする。ヘッド１５－１は、裏面１０Ｓ１に対向している。ヘッド１５－１は、裏面１０Ｓ１にデータをライトし、裏面１０Ｓ１からデータをリードする。なお、ヘッド１５及びディスク１０は、３つ以上設けられていてもよい。

図３は、本実施形態に係るディスク１０及びヘッド１５の一例を示す拡大断面図である。図３において、ディスク１０（１０－０、…）の回転方向Ｂと空気流Ｃの方向とは一致している。以下、ヘッド１５（１５－０、１５－１、…）からディスク１０へ向かう方向を下方向又は、単に、下と称し、ディスク１０からヘッド１５へ向かう方向を上方向又は、単に、上と称する。「所定の層の上の他の層」及び「所定の層の下の他の層」というような表現をした場合、他の層は、所定の層に接していてもよいし、所定の層から離れて位置していてもよい。

図３に示した例では、ディスク１０は、基板１１１と、軟磁性層１１２と、磁気記録層１１３と、保護膜層１１４とが順に積層されている。基板１１１は、円板状の非磁性体で形成されている。軟磁性層１１２は、基板１１１の上に位置している。軟磁性層１１２は、軟磁気特性を示す材料で形成されている。磁気記録層１１３は、軟磁性層１１２の上に位置している。磁気記録層１１３は、ディスク１０の表面（磁気記録層１１３の表面又は保護膜層１１４の表面）に対して垂直方向に磁気異方性を有する。保護膜層１１４は、磁気記録層１１３の上に位置している。

図３に示した例では、ヘッド１５は、スライダ１５０を備えている。スライダ１５０は、例えば、アルミナとチタンカーバイドの焼結体（アルチック）とで形成されている。スライダ１５０は、ディスク１０の表面、例えば、保護膜層１１４に対向するディスク対向面（エア・ベアリング・サーフェイス（ＡＢＳ））１５１と、空気流Ｃの流出側に位置するトレーリング端１５３とを有している。リードヘッド１５Ｒおよびライトヘッド１５Ｗの一部は、ディスク対向面１５１に露出している。

リードヘッド１５Ｒは、磁性膜１６１と、シールド膜１６２と、シールド膜１６３とで構成されている。磁性膜１６１は、シールド膜１６２とシールド膜１６３との間に位置し、磁気抵抗効果を生じる。シールド膜１６２は、磁性膜１６１に対してトレーリング端１５３側に位置する。シールド膜１６３は、シールド膜１６２と対向している。磁性膜１６１、シールド膜１６２、及びシールド膜１６３の下端は、ディスク対向面１５１に露出している。

ライトヘッド１５Ｗは、リードヘッド１５Ｒに対して、スライダ１５０のトレーリング端１５３側に設けられている。ライトヘッド１５Ｗは、主磁極１７１と、トレーリングシールド（ライトシールド）１７２と、絶縁体１７３と、主磁極１７１に磁束を流すために主磁極１７１およびライトシールド１７２を含む磁気回路に巻きつくように配置された記録コイル１８０と、アシスト素子、例えば、磁束制御部｛スピントルク発振子（spin torque osillator：ＳＴＯ）｝２００と、を備えている。

主磁極１７１は、高飽和磁束密度を有する軟磁性体からなる。主磁極１７１は、ディスク１０の磁気記録層１１３を磁化させるために、ディスク１０の表面に対して垂直方向の記録磁界を発生させる。図示した例では、主磁極１７１は、ディスク対向面１５１に対してほぼ垂直に延出している。主磁極１７１のディスク対向面１５１側の先端部１７１ａの下面は、ディスク対向面１５１に露出している。主磁極１７１の先端部１７１ａは、ディスク対向面１５１に向かって先細に絞り込まれ、他の部分に対して幅の狭い柱状に形成されている。主磁極１７１の先端部１７１ａのクロストラック方向の幅は、所定のトラックのトラック幅にほぼ対応している。クロストラック方向は、例えば、半径方向に沿った方向である。

ライトシールド１７２は、高飽和磁束密度を有する軟磁性体からなる。ライトシールド１７２は、主磁極１７１直下の軟磁性層１１２を介して効率的に磁路を閉じるために設けられている。ライトシールド１７２は、主磁極１７１に対してトレーリング端１５３側に位置している。ライトシールド１７２は、絶縁体１７３を介して主磁極１７１に連結している。主磁極１７１とライトシールド１７２とは、電気的に絶縁され、且つ磁気回路を形成している。ライトシールド１７２は、略Ｌ字形状に形成され、ディスク対向面１５１側に主磁極１７１の先端部１７１ａにライトギャップを置いて対向する先端部１７２ａを有している。先端部１７２ａの下面は、スライダ１５０のディスク対向面１５１に露出している。

記録コイル１８０は、主磁極１７１に磁束を流すために主磁極１７１およびライトシールド１７２を含む磁気回路に巻きつくように設けられている。記録コイル１８０は、例えば、主磁極１７１とライトシールド１７２との間に設けられている。記録コイル１８０に所定の大きさの電流（ライト電流、又は記録電流と称する）が供給されることで、主磁極１７１及びライトシールド１７２に記録磁界が励起される。そのため、主磁極１７１及びライトシールド１７２が磁化される。この磁化された主磁極１７１及びライトシールド１７２を流れる磁束によりディスク１０の磁気記録層１１３の記録ビットの磁化方向を変化させることで、ディスク１０に記録電流に応じた磁化パターンを記録する。

アシスト素子、例えば、スピントルク発振子（ＳＴＯ）２００は、主磁極１７１の先端部１７１ａ及びライトシールド１７２の先端部１７２ａの間に設けられている。言い換えると、アシスト素子（ＳＴＯ）２００は、ライトギャップに設けられている。アシスト素子（ＳＴＯ）２００は、例えば、非磁性導電層からなる下地層と、スピン注入層と、中間層と、発振層と、非磁性導電層からなるギャップ層とを主磁極１７１の先端部１７１ａ側からライトシールド１７２の先端部１７２ａ側に順に積層された構造を有する。

アシスト素子（ＳＴＯ）２００は、ライトヘッド１５Ｗによるディスク１０へのライト性能を高めるエネルギをディスク１０の面１０Ｓ（１０Ｓ０、１０Ｓ１、…）に対して発生する。アシスト素子（ＳＴＯ）２００は、所定のエネルギ（以下、素子エネルギと称する場合もある）、例えば、所定の電流（以下、バイアス電流、駆動電流、又はアシスト電流と称する）又は所定の電圧（以下、バイアス電圧、駆動電圧、又はアシスト電圧と称する）が印加されることで、ライトギャップ内に発生したギャップ磁界により、磁化が一様に回転し（スピンの歳差運動）、ディスク１０に向かって記録信号の周波数と比較して十分に周波数の高い高周波磁界（マイクロ波）を発生させる。アシスト素子（ＳＴＯ）２００は、ディスク１０の磁気記録層１１３に高周波磁界を印加することで、磁気記録層１１３の保磁力を低減する。アシスト素子（ＳＴＯ）２００でスピンの歳差運動が大きく発生している場合、アシスト素子（ＳＴＯ）２００の透磁率は、空気の透磁率と同等まで低い状態になる。そのため、主磁極１７１からの磁束は、ライトギャップ（アシスト素子２００）よりもディスク１０の方へ流れ易くなる。一方、アシスト素子（ＳＴＯ）２００でスピンの歳差運動が発生していない、又は通常よりも小さく発生している場合、アシスト素子（ＳＴＯ）２００の透磁率は、空気の透磁率よりも高い状態になる。そのため、主磁極１７１からの磁束は、ディスク１０よりもライトギャップ（アシスト素子２００）の方へ流れ易くなる。以下、アシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００に素子エネルギ、例えば、駆動電流（若しくはアシスト電流と称する場合もある）又は駆動電圧（若しくはアシスト電圧と称する場合もある）を供給してデータをライトするライト処理をアシスト記録又は高周波アシスト記録と称する場合もある。以下、ディスク１０へのライト処理を補助する効果をアシスト効果と称する場合もある。また、“アシスト記録する”ことを単に“ライトする”と称する場合もある。

ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には後述するＭＰＵ６０）、ＳＰＭ１２、及びＶＣＭ１４に接続され、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２及びＶＣＭ１４の駆動を制御する。

ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、図示しないリードアンプ、及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードしたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０）に出力する。ライトドライバは、例えば、記録電流制御回路３１０、及び素子エネルギ制御回路３２０等を備えている。記録電流制御回路３１０は、記録コイル１８０に電気的に接続され、Ｒ／Ｗチャネル４０から出力されるライトデータに応じた記録電流を記録コイル１８０に供給する。以下、ディスク１０にライトされるデータをライトデータと称し、ディスク１０からリードされるデータをリードデータと称する場合もある。例えば、記録電流制御回路３１０は、システムコントローラ１３０（ＭＰＵ６０）の制御に応じて記録電流を記録コイル１８０に供給する。素子エネルギ制御回路３２０は、アシスト素子、例えば、スピントルク発振子２００に電気的に接続され、システムコントローラ１３０、例えば、ＭＰＵ６０の制御に応じてスピントルク発振子２００に所定の素子エネルギ、例えば、所定のアシスト電流又は所定のアシスト電圧を印加する。また、素子エネルギ制御回路３２０は、アシスト素子、例えば、スピントルク発振子２００の抵抗値（以下、アシスト素子抵抗値と称する場合もある）を測定する。

揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。

不揮発性メモリ８０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ８０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。

バッファメモリ９０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ９０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ９０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。

システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル４０と、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０と、を含む。Ｒ／Ｗチャネル４０、ＨＤＣ５０、及びＭＰＵ６０は、それぞれ、互いに電気的に接続されている。システムコントローラ１３０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ６０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、バッファメモリ９０、及びホストシステム１００等に電気的に接続されている。

Ｒ／Ｗチャネル４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ディスク１０からホスト１００に転送されるデータ、例えば、リードデータとホスト１００から転送されるデータ、例えば、ライトデータとの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル４０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０、ＨＤＣ５０、及びＭＰＵ６０等に電気的に接続されている。Ｒ／Ｗチャネル４０は、ライトデータを変調する回路、又は機能を有している。また、Ｒ／Ｗチャネル４０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。

ＨＤＣ５０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ５０は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル４０、ＭＰＵ６０、揮発性メモリ７０、不揮発性メモリ８０、及びバッファメモリ９０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを実行する。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるデータ、例えば、ライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、ディスク１０からホスト１００に転送されるデータ、例えば、リードデータの処理を制御する。また、ＭＰＵ６０は、データを記録する領域を管理する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ２０、Ｒ／Ｗチャネル４０、及びＨＤＣ５０等に電気的に接続されている。

ＭＰＵ６０は、エネルギ制御部６１０、抵抗値測定部６２０、リード／ライト制御部６３０、及び寿命管理部６４０などを備えている。ＭＰＵ６０は、各部、例えば、エネルギ制御部６１０、抵抗値測定部６２０、リード／ライト制御部６３０、及び寿命管理部６４０などの処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、各部、例えば、エネルギ制御部６１０、抵抗値測定部６２０、リード／ライト制御部６３０、及び寿命管理部６４０などを回路として備えていてもよい。

エネルギ制御部６１０は、ヘッド１５に供給するエネルギを制御（又は、調整）する。エネルギ制御部６１０は、記録コイル１８０に供給（又は印加）する記録電流とアシスト素子とに供給（又は印加）する素子エネルギとを制御（又は、調整）する。

エネルギ制御部６１０は、記録電流制御回路３１０を介して記録コイル１８０に供給（又は印加）するエネルギ、例えば、記録電流又は記録電圧を制御（又は制御）する。エネルギ制御部６１０は、記録電流制御回路３１０を介して複数のヘッド１５、例えば、ヘッド１５－０、ヘッド１５－１、…にそれぞれ搭載された複数の記録コイル１８０に供給（又は印加）するエネルギ、例えば、記録電流又は記録電圧を制御（又は、調整）する。

エネルギ制御部６１０は、素子エネルギ制御回路３２０に介してアシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００に供給（又は印加）する素子エネルギ、例えば、アシスト電流又はアシスト電圧を制御（又は、調整）する。エネルギ制御部６１０は、素子エネルギ制御回路３２０に介して複数のヘッド１５、例えば、ヘッド１５－０、ヘッド１５－１、…にそれぞれ搭載された複数のアシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００に供給（又は印加）する素子エネルギ、例えば、アシスト電流又はアシスト電圧を制御（又は、調整）する。

抵抗値測定部６２０は、ヘッド１５の各部の抵抗値を測定する。抵抗値測定部６２０はアシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００のアシスト素子抵抗値を測定する。抵抗値測定部６２０は、ヘッドアンプＩＣ３０の素子エネルギ制御回路３２０を介して、アシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００のアシスト素子抵抗値を測定する。アシスト素子抵抗値は、例えば、アシスト素子２００が劣化するに従って大きくなる。言い換えると、アシスト素子抵抗値は、例えば、アシスト素子２００の寿命が短くなるに従って大きくなる。つまり、アシスト素子抵抗値は、例えば、アシスト素子２００のアシスト効果が低下するに従って大きくなる。抵抗値測定部６２０は、素子エネルギ制御回路３２０に介して複数のヘッド１５、例えば、ヘッド１５－０、ヘッド１５－１、…にそれぞれ搭載された複数のアシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００にそれぞれ対応する複数のアシスト素子抵抗値を測定する。

リード／ライト制御部６３０は、ホスト１００等からのコマンド等に従って、データのライト処理及びリード処理を制御する。リード／ライト制御部６３０は、ホスト１００等からコマンドを受けた場合、所定の領域にデータをライトするライト処理を実行する。リード／ライト制御部６３０は、ホスト１００等からコマンドを受けた場合、所定の領域からデータをリードするリード処理を実行する。リード／ライト制御部６３０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５をディスク１０の目的位置に位置決めし、ライト処理又はリード処理を実行する。以下、“所定の領域にデータを記録若しくはライトすること（又はライト処理）”、“所定の領域からデータを読み出す若しくはリードすること（又はリード処理）”や、“所定の領域にヘッド１５等を移動させること”を含む意味で“アクセス”という用語を用いる場合もある。

リード／ライト制御部６３０は、例えば、所定のトラック若しくは所定のセクタから半径方向に所定の間隔（ギャップ）を置いてこのトラック若しくはこのセクタに隣接する他のトラック（以下、隣接トラックと称する場合もある）若しくは他のセクタ（以下、隣接セクタと称する場合もある）にデータをライトする、又はデータをランダムにライトする通常記録（Conventional Magnetic Recording:CMR）型式でライト処理を実行する。ここで、“隣接”とは、データ、物体、領域、及び空間等が接して並んでいることはもちろん、所定の間隔を置いて並んでいることも含む。”隣接トラック”は、“所定のトラックの外方向に隣接するトラック”、“所定のトラックの内方向に隣接トラック”、及び“所定のトラックの外方向及び内方向に隣接する複数のトラック”を含む。”隣接セクタ”は、“所定のセクタの外方向に隣接するセクタ”、“所定のセクタの内方向に隣接セクタ”、及び“所定のセクタの外方向及び内方向に隣接する複数のセクタ”を含む。以下、“通常記録型式でデータをライトする“ことを”通常記録する“、”通常記録処理を実行する“、又は単に”ライトする“と称する場合もある。以下、”通常記録したトラック“を”ＣＭＲトラック“と称する場合もある。

また、リード／ライト制御部６３０は、複数のトラックをシーケンシャルにライトする際に１つ前にライトしたトラックの半径方向の一部に次にライトするトラックを重ね書きする瓦記録（Shingled write Magnetic Recording：ＳＭＲ、又はShingled Write Recording：ＳＷＲ）型式でライト処理を実行する。以下、”瓦記録型式でデータをライトする“ことを”瓦記録する“、又は”瓦記録処理を実行する“、又は単に”ライトする“と称する場合もある。以下、”瓦記録したトラック“を”ＳＭＲトラック“と称する場合もある。リード／ライト制御部６３０は、ユーザデータ領域１０ａに瓦記録する場合、ホスト１００等から転送されたデータを一時的にメディアキャッシュ１０ｂにライトして、メディアキャッシュ１０ｂに一時的にライトしたデータをリードし、メディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータをユーザデータ領域１０ａにライトする。

リード／ライト制御部６３０は、ホスト１００からのコマンド等に従って、通常記録処理を実行する、又は瓦記録処理を実行する。言い換えると、リード／ライト制御部６３０は、ホスト１００からのコマンド等に従って、通常記録処理及び瓦記録処理を選択的に実行する。なお、リード／ライト制御部６３０は、通常記録処理のみを実行するように構成されていてもよいし、瓦記録処理のみを実行するように構成されていてもよい。例えば、リード／ライト制御部６３０は、ホスト１００からのコマンド等に従って、複数のヘッド１５、例えば、ヘッド１５－０、ヘッド１５－１、…の各々に対して選択的に通常記録処理又は瓦記録処理を実行できる。なお、磁気ディスク装置１には、ユーザが通常記録処理及び瓦記録処理を実行する領域を詳細に設定できるホストマネージド磁気ディスク装置と、ユーザが通常記録処理及び瓦記録処理を実行する領域を設定できないドライブマネージド磁気ディスク装置とがある。

図４は、通常記録処理の一例を示す模式図である。図４には、進行方向を示している。円周方向においてディスク１０に対してヘッド１５がデータをシーケンシャルにライト及びリードする方向、つまり、円周方向においてディスク１０に対してヘッド１５が進行する方向を進行方向と称する場合もある。例えば、進行方向は、ディスク１０の回転方向とは反対向きである。なお、進行方向は、ディスク１０の回転方向と同じ向きであってもよい。図４には、ＣＭＲトラックＣＴＲ１、ＣＴＲ２、及びＣＴＲ３を示している。図４では、例えば、ＣＭＲトラックＣＴＲ１、ＣＴＲ２、及びＣＴＲ３のトラック幅は、同じである。なお、ＣＭＲトラックＣＴＲ１乃至ＣＴＲ３のトラック幅は、異なっていてもよい。“同じ”、“同一”、“一致”、及び“同等”などの用語は、全く同じという意味はもちろん、実質的に同じであると見做せる程度に異なるという意味を含む。図４には、ＣＭＲトラックＣＴＲ１のトラックセンタＣＴＣ１、ＣＭＲトラックＣＴＲ２のトラックセンタＣＴＣ２、及びＣＭＲトラックＣＴＲ３のトラックセンタＣＴＣ３を示している。図４に示した例では、ＣＭＲトラックＣＴＲ１、及びＣＴＲ２は、トラックピッチＣＴＰ１でライトされている。ＣＭＲトラックＣＴＲ２、及びＣＴＲ３は、トラックピッチＣＴＰ２でライトされている。ＣＭＲトラックＣＴＲ１のトラックセンタＣＴＣ１とＣＭＲトラックＣＴＲ２のトラックセンタＣＴＣ２とは、トラックピッチＣＴＰ１で離れている。ＣＭＲトラックＣＴＲ２のトラックセンタＣＴＣ２とトラックＣＴＲ３のトラックセンタＣＴＣ３とは、トラックピッチＣＴＰ２で離れている。トラックピッチＣＴＰ１及びＣＴＰ２は、異なっていてもよいし、同じであってもよい。以下、トラックをライトする際のトラックピッチを記録ピッチと称する場合もある。ＣＭＲトラックＣＴＲ１及びＣＭＲトラックＣＴＲ２は、ギャップＧＰ１で離れている。ＣＭＲトラックＣＴＲ２及びＣＭＲトラックＣＴＲ３は、ギャップＧＰ２で離れている。ギャップＧＰ１及びＧＰ２は、異なっていてもよいし、同じであってもよい。図４では、説明の便宜上、各トラックを所定のトラック幅で円周方向に延出している長方形状に示しているが、実際には、円周方向に沿って湾曲している。また、各トラックは、半径方向に変動しながら円周方向に延出している波状であってもよい。

図４に示した例では、リード／ライト制御部６３０は、ディスク１０の所定の領域、例えば、ユーザデータ領域１０ａにおいて、トラックセンタＣＴＣ１にヘッド１５を位置決めしてＣＭＲトラックＣＴＲ１又はＣＭＲトラックＣＴＲ１の所定のセクタを通常記録する。リード／ライト制御部６３０は、ユーザデータ領域１０ａにおいて、ＣＭＲトラックＣＴＲ１のトラックセンタＣＴＣ１から内方向に記録ピッチＣＴＰ１で離間しているトラックセンタＣＴＣ２にヘッド１５を位置決めしてＣＭＲトラックＣＴＲ２又はＣＭＲトラックＣＴＲ２の所定のセクタを通常記録する。リード／ライト制御部６３０は、ユーザデータ領域１０ａにおいて、ＣＭＲトラックＣＴＲ２のトラックセンタＣＴＣ２から内方向に記録ピッチＣＴＰ２で離間しているトラックセンタＣＴＣ３にヘッド１５を位置決めしてＣＭＲトラックＣＴＲ３又はＣＭＲトラックＣＴＲ３の所定のセクタを通常記録する。リード／ライト制御部６３０は、ディスク１０の所定の領域、例えば、ユーザデータ領域１０ａにおいて、ＣＭＲトラックＣＴＲ１、ＣＴＲ２、及びＣＴＲ３をシーケンシャルに通常記録してもよいし、ＣＭＲトラックＣＴＲ１の所定のセクタ、ＣＭＲトラックＣＴＲ２の所定のセクタ、及びＣＭＲトラックＣＴＲ３の所定のセクタにランダムに通常記録してもよい。

図５は、瓦記録処理の一例を示す模式図である。図５には、順方向を示している。半径方向において複数のトラックを連続的に瓦記録する方向、つまり、半径方向において１つ前にライトしたトラックに対して次にライトするトラックを重ねる方向を順方向と称する場合もある。図５では、半径方向において内方向を順方向としているが、半径方向において外方向を順方向としてもよい。図５には、半径方向において一方向に連続的に重ね書きされた複数のＳＭＲトラックＳＴＲ１、ＳＴＲ２、及びＳＴＲ３を示している。以下、瓦記録では、ライトヘッド１５Ｗによりデータがライトされた領域をライトトラックと称し、所定のトラックにおいて他のライトトラックが重ね書きされた領域以外の残りの領域をリードトラックと称する場合もある。図５には、他のＳＭＲトラックが重ね書きされていない場合のＳＭＲトラックＳＴＲ１のトラックセンタＳＴＣ１と、他のＳＭＲトラックが重ね書きされていない場合のＳＭＲトラックＳＴＲ２のトラックセンタＳＴＣ２と、他のＳＭＲトラックが重ね書きされていない場合のＳＭＲトラックＳＴＲ３のトラックセンタＳＴＣ３とを示している。図５に示した例では、ＳＭＲトラックＳＴＲ１、及びＳＴＲ２は、トラックピッチ（記録ピッチ）ＳＴＲ１でライトされている。ＳＭＲトラックＳＴＲ２及びＳＴＲ３は、トラックピッチ（記録ピッチ）ＳＴＰ２でライトされている。ＳＭＲトラック（又はライトトラック）ＳＴＲ１のトラックセンタＳＴＣ１とＳＭＲトラック（又はライトトラック）ＳＴＲ２のトラックセンタＳＴＣ２とは、記録ピッチＳＴＰ１で離れている。ＳＭＲトラックＳＴＲ２のトラックセンタＳＴＣ２とＳＭＲトラックＳＴＲ３のトラックセンタＳＴＣ３とは、記録ピッチＳＴＰ２で離れている。記録ピッチＳＴＰ１及びＳＴＰ２は、異なっていてもよいし、同じであってもよい。図５において、ＳＭＲトラックＳＴＲ１においてＳＭＲトラックＳＴＲ２が重ね書きされていない領域（リードトラック）の半径方向の幅と、ＳＭＲトラックＳＴＲ２においてＳＭＲトラックＳＴＲ３が重ね書きされていない領域（リードトラック）の半径方向の幅とは、同じである。なお、ＳＭＲトラックＳＴＲ１においてＳＭＲトラックＳＴＲ２が重ね書きされていない領域（リードトラック）の半径方向の幅と、ＳＭＲトラックＳＴＲ２においてＳＭＲトラックＳＴＲ３が重ね書きされていない領域（リードトラック）の半径方向の幅とは、異なっていてもよい。図５では、説明の便宜上、各トラックを所定のトラック幅で円周方向に延出している長方形状に示しているが、実際には、円周方向に沿って湾曲している。また、各トラックは、半径方向に変動しながら円周方向に延出している波状であってもよい。なお、図５では、３つのトラックを重ね書きしているが、３つ未満、又は３つよりも多くのトラックを重ね書きしてもよい。

図５に示した例では、リード／ライト制御部６３０は、ＳＭＲトラックＳＴＲ１乃至ＳＴＲ３を内方向に向かってシーケンシャルに瓦記録する。なお、リード／ライト制御部６３０は、ＳＭＲトラックＳＴＲ１乃至ＳＴＲ３を外方向に向かってシーケンシャルに瓦記録してもよい。リード／ライト制御部６３０は、ＳＭＲトラックＳＴＲ１の内方向に記録ピッチＳＴＰ１でＳＭＲトラックＳＴＲ２をライトし、ＳＭＲトラックＳＴＲ１の内方向の一部にトラックＳＴＲ２を重ね書きする。リード／ライト制御部６３０は、ＳＭＲトラックＳＴＲ２の内方向に記録ピッチＳＴＰ２でＳＭＲトラックＳＴＲ３をライトし、ＳＭＲトラックＳＴＲ２の内方向の一部にＳＭＲトラックＳＴＲ３を重ね書きする。なお、リード／ライト制御部６３０は、ＳＭＲトラックＳＴＲ１の外方向に記録ピッチＳＴＰ１でＳＭＲトラックＳＴＲ２をライトし、ＳＭＲトラックＳＴＲ１の内方向の一部にトラックＳＴＲ２を重ね書きしてもよい。リード／ライト制御部６３０は、ＳＭＲトラックＳＴＲ２の外方向に記録ピッチＳＴＰ２でＳＭＲトラックＳＴＲ３をライトし、ＳＭＲトラックＳＴＲ２の内方向の一部にＳＭＲトラックＳＴＲ３を重ね書きしてもよい。

リード／ライト制御部６３０は、記録コイル１８０に記録電流を供給して主磁極１７１及びライトシールド１７２に記録磁界を励起し、アシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００に素子エネルギ、例えば、アシスト電流又はアシスト電圧を供給して高周波磁界を発生させ、ディスク１０の所定の領域にデータをライト（アシスト記録）する。なお、リード／ライト制御部６３０は、記録コイル１８０に記録電流を供給して主磁極１７１及びライトシールド１７２に記録時間を励起し、アシスト素子、例えば、ＳＴＯ２００に素子エネルギ、例えば、アシスト電流又はアシスト電圧を供給しないことによりアシスト効果なしで、ディスク１０の所定の領域にデータをライトしてもよい。リード／ライト制御部６３０は、複数のヘッド１５、例えば、ヘッド１５－０、ヘッド１５－１、…、にそれぞれ搭載された複数の記録コイル１８０に供給する記録電流をそれぞれ調整し、複数のヘッド１５、例えば、ヘッド１５－０、ヘッド１５－１、…、にそれぞれ搭載されたアシスト素子２００、例えば、ＳＴＯ２００に供給する素子エネルギ、例えば、アシスト電流又はアシスト電圧を調整する。

リード／ライト制御部６３０は、アシスト記録で通常記録又は瓦記録を選択的に実行することができる。以下、“アシスト記録で通常記録を実行すること”を“アシスト／通常記録する”と称する場合もある。“アシスト／通常記録を実行する”ことを単に“アシスト記録する”、“通常記録する”、又は“ライトする”と称する場合もある。“アシスト記録を実行しないで通常記録を実行すること”を単に “通常記録する”、又は“ライトする”と称する場合もある。また、“アシスト記録で瓦記録を実行する”ことを“アシスト／瓦記録する”と称する場合もある。“アシスト／瓦記録を実行する”ことを単に“アシスト記録する”、“瓦記録する”、又は“ライトする”と称する場合もある。“アシスト記録を実行しないで瓦記録を実行すること”を単に“瓦記録する” 又は“ライトする”と称する場合もある。リード／ライト制御部６３０は、複数のヘッド、例えば、ヘッド１５―０、ヘッド１５－１、…、のそれぞれに対してアシスト／通常記録又はアシスト／瓦記録を選択的に実行する。

寿命管理部６４０は、ヘッド１５、例えば、アシスト素子２００の寿命を管理する。アシスト素子２００の寿命は、例えば、アシスト効果が消失するまでの期間、アシスト効果が所定の量まで低減するまでの期間、アシスト素子２００を使用できなくなるまでの期間、アシスト素子２００の耐久性が所定の程度まで低下する期間、又はアシスト素子２００の劣化量が所定の値まで劣化する期間等に相当する。寿命管理部６４０は、アシスト素子２００の寿命に対応する評価指標に測定する。寿命管理部６４０は、複数のヘッド１５、例えば、ヘッド１５－０、１５－１、…、にそれぞれ搭載された複数のアシスト素子２００の寿命をそれぞれに対応する複数の評価指標を測定する。アシスト素子２００は、磁気ディスク装置１若しくはアシスト素子２００の使用回数と、磁気ディスク装置１若しくはアシスト素子２００の使用時間とに応じて劣化し得る。つまり、アシスト素子２００の寿命は、磁気ディスク装置１若しくはアシスト素子２００の使用回数と、磁気ディスク装置１若しくはアシスト素子２００の使用時間とに応じて短くなる。そのため、評価指標は、磁気ディスク装置１若しくはアシスト素子２００の使用回数と、磁気ディスク装置１若しくはアシスト素子２００の使用時間とに応じて劣化する。評価指標は、例えば、所定のヘッド１５でライトしたデータの記録品質、例えば、ビットエラーレート（ＢＥＲ）、及び所定のヘッド１５に搭載されたアシスト素子２００のアシスト素子抵抗値を含む。

寿命管理部６４０は、複数のヘッド１５の内の所定のヘッド１５（以下、対象ヘッドと称する場合もある）に搭載された所定のアシスト素子（以下、対象アシスト素子と称する場合もある）２００に対応する評価指標（以下、対象評価指標と称する場合もある）が対象アシスト素子２００の寿命の減少又は劣化の兆候を示す閾値（以下、指標閾値又は対象指標閾値と称する場合もある）よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、対象アシスト素子２００の寿命の減少又は劣化の兆候を示す信号（以下、劣化信号と称する場合もある）を出力する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応するＢＥＲ（以下、対象ＢＥＲと称する場合もある）が対象アシスト素子２００の寿命の減少又は劣化の兆候を示すＢＥＲに対応する閾値（以下、ＢＥＲ閾値又は対象ＢＥＲ閾値と称する場合もある）よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、劣化信号を出力する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応するアシスト素子抵抗値（以下、対象アシスト素子抵抗値と称する場合もある）が対象アシスト素子２００の寿命の減少又は劣化の兆候を示す抵抗値に対応する閾値（以下、抵抗閾値又は対象抵抗閾値と称する場合もある）よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、劣化信号を出力する。評価閾値は、ＢＥＲ閾値及び抵抗閾値を含む。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標に応じて、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を変更することを促す信号（以下、記録型式変更信号と称する場合もある）を出力する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標が対象指標閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を瓦記録型式に変更することを促す信号（以下、瓦記録変更信号と称する場合もある）を出力する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する評価指標が指標閾値以下であると判定した場合、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式に変更することを促す信号（以下、通常記録変更信号と称する場合もある）を出力する。記録型式変更信号は、瓦記録変更信号及び通常記録変更信号を含む。

瓦記録処理では、通常記録処理と比較して、ランダムライトを実行しなかったり、データをライトした際のヘッド１５からの磁束漏れ等による影響（Adjacent Track Interference : ATI）により劣化したデータを書き直す処理（以下、リフレッシュ処理と称る場合もある）を実行する頻度が少なかったりする。そのため、通常記録処理を実行するよりも瓦記録処理を実行する方が、ヘッド１５の使用頻度を抑制することができる。したがって、通常記録処理を実行するよりも瓦記録処理を実行する方が、ヘッド１５のアシスト素子２００の寿命を延長することが可能である。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲに応じて、対象アシスト素子２００に対応する記録型式変更信号を出力する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲが対象ＢＥＲ閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、対象アシスト素子２００に対応する瓦記録変更信号を出力する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲが対象ＢＥＲ閾値以下であると判定した場合、対象アシスト素子２００に対応する通常記録変更信号を出力する。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値に応じて、対象アシスト素子２００に対応する記録型式変更信号を出力する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値が対象抵抗閾値を超えたと判定した場合、瓦記録変更信号を出力する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値が対象抵抗閾値以下であると判定した場合、通常記録変更信号を出力する。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を変更する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標が指標閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５で瓦記録処理を実行する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標が対象指標閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を瓦記録型式から通常記録型式に変更して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５で通常記録処理を実行する。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応するＢＥＲに応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を変更する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲが対象ＢＥＲ閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５で瓦記録処理を実行する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲが対象ＢＥＲ閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を瓦記録型式から通常記録型式に変更して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５で通常記録処理を実行する。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値に応じて、リード／ライト制御部６５０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を変更する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値が対象抵抗閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６５０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更し、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５で瓦記録処理を実行する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値が対象抵抗閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６５０を介して、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を瓦記録型式から通常記録型式に変更し、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５で通常記録処理を実行する。

図６は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１の使用時間に対するＢＥＲの差分値の変化の一例を示す模式図である。図６において、横軸は、磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト素子２００）の使用時間（又は使用回数）を示し、縦軸は、磁気ディスク装置１の所定のヘッド１５に対応する磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト素子２００）の使用開始時のＢＥＲ及び現在のＢＥＲの差分値（以下、ＢＥＲ差分値と称する場合もある）ΔＢＥＲを示している。図６の縦軸において、ＢＥＲ差分値は、矢印の先端側に進むに従って大きくなり、矢印の先端と反対側に進むに従って小さくなる。図６の縦軸には、評価閾値、例えば、ＢＥＲ閾値ＴｈＢを示している。図６の横軸において、使用時間は、矢印の先端側に進むに従って経過する。図６の横軸には、評価閾値、例えば、ＢＥＲ閾値ＴｈＢに対応する使用時間Ｔ０（又は使用回数）を示している。図６には、ディスク１０に通常記録した場合の磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト素子２００）の使用時間（又は使用回数）に対するＢＥＲ差分値（ΔＢＥＲ）の変化（以下、通常記録時のＢＥＲ差分値の変化と称する場合もある）ＢＬ１と、ディスク１０に瓦記録した場合の磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト素子２００）の使用時間（又は使用回数）に対するＢＥＲ差分値（ΔＢＥＲ）の変化（以下、瓦記録時のＢＥＲ差分値の変化と称する場合もある）ＢＬ２とを示している。通常記録時のＢＥＲ差分値の変化ＢＬ１と瓦記録時のＢＥＲ差分値の変化ＢＬ２とは、ＢＥＲ閾値ＴｈＢに対応する点Ａを含む。

図６に示した例では、瓦記録時のＢＥＲ差分値の変化ＢＬ２の変化は、点Ａから通常記録時のＢＥＲ差分値の変化ＢＬ１よりも緩やかに変化している。つまり、所定のヘッド１５に対応するＢＥＲ差分値がＢＥＲ閾値ＴｈＢを超えた場合に、このヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式へ変更することでこのヘッド１５に対応するＢＥＲ差分値の変化を緩やかにすることができる。所定のヘッド１５に対応するＢＥＲ差分値がＢＥＲ閾値ＴｈＢを超えた場合に、このヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式へ変更することでこのヘッド１５に搭載されたアシスト素子２００の寿命を延長することができる。そのため、所定のヘッド１５に対応するＢＥＲ差分値がＢＥＲ閾値を超えた場合に、このヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式へ変更することでこのヘッド１５に搭載された磁気ディスク装置１の寿命を延長することができる。

図７は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１の使用時間に対するアシスト素子抵抗値の差分値の変化の一例を示す模式図である。図７において、横軸は、磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト２００）の使用時間（又は使用回数）を示し、縦軸は、磁気ディスク装置１の所定のヘッド１５に搭載された所定のアシスト素子２００に対応する磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト素子２００）の使用開始時のアシスト素子抵抗値及び現在のアシスト素子抵抗値の差分値（以下、抵抗差分値と称する場合もある）ΔＲを示している。図７の縦軸において、抵抗差分値は、矢印の先端側に進むに従って大きくなり、矢印の先端と反対側に進むに従って小さくなる。図７の縦軸には、評価閾値、例えば、抵抗閾値ＴｈＲを示している。図７の横軸において、使用時間は、矢印の先端側に進むに従って経過する。図７の横軸には、評価閾値、例えば、抵抗閾値ＴｈＲに対応する使用時間Ｔ１（又は使用回数）を示している。図７には、ディスク１０に通常記録した場合の磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト素子２００）の使用時間（又は使用回数）に対する抵抗差分値（ΔＲ）の変化（以下、通常記録時の抵抗差分値の変化と称する場合もある）ＲＬ１と、ディスク１０に瓦記録した場合の磁気ディスク装置１（所定のヘッド１５又は所定のアシスト素子２００）の使用時間（又は使用回数）に対する抵抗差分値（ΔＲ）の変化（以下、瓦記録時の抵抗差分値の変化と称する場合もある）ＲＬ２とを示している。通常記録時の抵抗差分値の変化ＲＬ１と瓦記録時の抵抗差分値の変化ＲＬ２とは、抵抗閾値ＴｈＲに対応する点Ｂを含む。

図７に示した例では、瓦記録時の抵抗差分値の変化ＲＬ２の変化は、点Ｂから通常記録時の抵抗差分値の変化ＲＬ１よりも緩やかに変化している。つまり、所定のヘッド１５の所定のアシスト素子２００に対応する抵抗差分値が抵抗閾値ＴｈＲを超えた場合に、このヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式へ変更することでこのアシスト素子２００に対応する抵抗差分値の変化を緩やかにすることができる。所定のヘッド１５の所定のアシスト素子２００に対応する抵抗差分値が抵抗閾値ＴｈＲを超えた場合に、このヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式へ変更することでこのヘッド１５に搭載されたアシスト素子２００の寿命を延長することができる。そのため、所定のヘッド１５に対応する抵抗差分値が抵抗閾値ＴｈＲを超えた場合に、このヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式へ変更することでこのヘッド１５に搭載された磁気ディスク装置１の寿命を延長することができる。

図８は、本実施形態に係るアシスト素子２００の寿命に応じた対象ヘッド１５の記録型式の変更方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５でディスク１０の所定の領域にアシスト／通常記録処理を実行する（Ｂ８０１）。ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５に対応する対象評価指標が対象指標閾値よりも大きいか対象指標閾値以下であるかを判定する（Ｂ８０２）。例えば、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５に対応するＢＥＲ(又は、ＢＥＲ差分値)がＢＥＲ閾値よりも大きいかＢＥＲ閾値以下であるか判定する。例えば、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５に搭載された対象アシスト素子２００に対応するアシスト素子抵抗値が抵抗閾値よりも大きいか抵抗閾値以下であるかを判定する。

対象評価閾値が対象指標閾値以下であると判定した場合（Ｂ８０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。例えば、対象ＢＥＲ（又は、ＢＥＲ差分値）が対象ＢＥＲ閾値以下であると判定した場合、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。例えば、対象アシスト素子抵抗値が対象抵抗閾値以下であると判定した場合、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。

対象評価閾値が対象指標閾値よりも大きいと判定した場合（Ｂ８０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する（Ｂ８０３）、処理を終了する。例えば、対象ＢＥＲ（又は、ＢＥＲ差分値）が対象ＢＥＲ閾値よりも大きいと判定した場合、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する、処理を終了する。例えば、対象アシスト素子抵抗値が対象抵抗閾値よりも大きいと判定した場合、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する、処理を終了する。

本実施形態よれば、磁気ディスク装置１は、複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５でディスク１０の所定の領域にアシスト／通常記録処理を実行する。対象ヘッド１５に対応する対象評価指標が対象指標閾値よりも大きいと判定した場合、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する。例えば、対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲ（又は、ＢＥＲ差分値）が対象ＢＥＲ閾値よりも大きいと判定した場合、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する、例えば、対象アシスト素子抵抗値が対象抵抗閾値よりも大きいと判定した場合、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する。磁気ディスク装置１は、複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５でディスク１０の所定の領域において対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行することで、ランダムライトを実行しなかったり、リフレッシュ処理の実行頻度が少なかったりするために、対象ヘッド１５の使用頻度を抑制することができる。そのため、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の寿命を延長することができる。つまり、磁気ディスク装置１は、寿命が延長され得る。したがって、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

次に、第１実施形態の変形例及び他の実施形態に係る磁気ディスク装置について説明する。変形例及び他の実施形態において、前述の第１実施形態と同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
（変形例１）
変形例１に係る磁気ディスク装置１は、熱アシスト磁気記録（Thermally Assisted Magnetic Recording : ＴＡＭＲ）型式でデータをライト可能なことが第１実施形態の磁気ディスク装置１と異なる。

図９は、変形例１に係るヘッド１５の一例を示す拡大断面図である。
図９に示した例では、スライダ１５０は、ライトヘッド１５Ｗ、リードヘッド１５Ｒ、光発生素子（例えば、レーザダイオード）２５０、導波路２５５、及び近接場光照射素子（プラズモン・ジェネレータ、ニアフィールド・トランデューサ）２５６を備えている。

光発生素子２５０は、（レーザ）光源であり、スライダ１５０の上部、あるいは、ジンバルに設けられている。光発生素子２５０は、ヘッドアンプＩＣ３０から電流又は電圧等を印加されることで導波路２５５に光を供給する。なお、光発生素子２５０は、スライダ１５０、又はジンバル以外の場所に設けられていてもよい。例えば、光発生素子２５０は、アーム１３及びヘッド１５の外部に設けられていてもよい。導波路２５５は、光発生素子２５０が発生する光を近接場光照射素子２５６に伝播する。

近接場光照射素子２５６は、ディスク１０に対向するスライダ１５０の下端部に設けられている。近接場光照射素子２５６は、ディスク１０にデータをライトする際に、導波路２５５を介して伝播されたレーザ光から近接場光を発生し、ディスク１０に近接場光を照射する。照射された近接場光は、ディスク１０の記録層を加熱し、ディスク１０の記録層の保磁力を低下させる。近接場光照射素子２５６は、金属部材を含む。なお、近接場光照射素子２５６の代わりに、光発生素子２５０から伝播する光を、ディスク１０に集光するレンズが、備えられていてもよい。このように、近接場光照射素子２５６から発生する近接場光をディスク１０に照射することにより、磁気ディスク装置１は、高保磁力媒体であるディスク１０に高密度な磁気記録をすることができる。以下、光発生素子２５０に所定の電圧又は所定の電流を供給してデータをライトするライト処理をアシスト記録又は熱アシスト記録と称する場合もある。なお、熱アシスト記録を実行するための構成、例えば、光発生素子（例えば、レーザダイオード）２５０、導波路２５５、及び近接場光照射素子（プラズモン・ジェネレータ、ニアフィールド・トランデューサ）２５６等をアシスト素子２００と称する場合もある。

近接場光照射素子２５６は、近接場光の照射範囲（又は、スポット範囲や、熱分布幅と称する場合もある）により、ライトヘッド１５Ｗによりライトするトラック幅（又は記録幅）を規定する。つまり、トラック幅は、近接場光の照射範囲の幅に対応する。例えば、近接場光照射素子２５６が近接場光の照射範囲をライトヘッド１５Ｗの幅よりも小さい幅で照射した場合、ライトヘッド１５Ｗによりライトしたトラックのトラック幅は、ライトヘッド１５Ｗの幅よりも小さくなり得る。また、近接場光照射素子２５６が近接場光の照射範囲をライトヘッド１５Ｗの幅よりも大きい幅で照射した場合、ライトヘッド１５Ｗによりライトしたトラックのトラック幅は、ライトヘッド１５Ｗの幅よりも大きくなり得る。そのため、近接場光を照射する際に生じる熱等の要因により、近接場光照射素子の形状が変化した場合、近接場光の照射範囲が変動し、これに伴って、ライトヘッド１５Ｗによりライトしたトラックのトラック幅が変化する。例えば、光発生素子２５０に供給する電流（バイアス電流、駆動電流、若しくはアシスト電流）又は電圧（バイアス電圧、駆動電圧、若しくはアシスト電圧と称する）を増大させた場合、近接場光照射素子２５６から照射される近接場光の強度は大きくなり熱アシスト効果が向上し得るが、照射範囲も広がりトラック幅も大きくなり得る。

変形例１によれば、磁気ディスク装置１は、熱アシスト磁気記録（ＴＡＭＲ）型式でデータをライト可能である。そのため、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

（変形例２）
変形例２に係る磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５で瓦記録処理を実行する場合、対象ヘッド１５に対応するアシスト電流（又はアシスト電圧）を小さくすることが前述した実施形態及び変形例１に係る磁気ディスク装置１と異なる。

ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５に搭載された対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標が対象指標閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定して、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更した場合、対象アシスト素子２００に供給するアシスト電流（以下、対象アシスト電流と称する場合もある）又はアシスト電圧（以下、対象アシスト電圧と称する場合もある）を通常記録処理の実行時に対象アシスト素子２００に供給するアシスト電流（以下、通常記録アシスト電流又は対象通常記録アシスト電流と称する場合もある）又はアシスト電圧（以下、通常記録アシスト電圧又は対象通常記録アシスト電圧と称する場合もある）よりも小さい瓦記録処理の実行時に対象アシスト素子２００に供給するアシスト電流（以下、瓦記録アシスト電流又は対象瓦記録アシスト電流と称する場合もある）又はアシスト電圧（以下、瓦記録アシスト電圧又は対象瓦記録アシスト電圧と称する場合もある）に変更（又は調整）する。このとき、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５の記録コイル１８０に供給する記録電流（以下、対象記録電流と称する場合もある）又は記録電圧（以下、対象記録電圧と称する場合もある）を通常記録処理の実行時に対象ヘッド１５の記録コイル１８０に供給する記録電流（以下、通常記録電流又は対象通常記録電流と称する場合もある）又は記録電圧（以下、通常記録電圧又は対象通常記録電圧と称する場合もある）よりも大きい瓦記録処理の実行時に対象ヘッド１５の記録コイル１８０に供給する記録電流（以下、瓦記録電流又は対象瓦記録電流と称する場合もある）又は記録電圧（以下、瓦記録電圧又は対象瓦記録電圧と称する場合もある）に変更（又は調整）する。対象通常記録電流（又は対象通常記録電圧）から対象瓦記録電流（又は対象瓦記録電圧）に変更した際の対象ヘッド１５によりライトしたデータの記録品質の変化量（以下、通常記録電流（又は通常記録電圧）から瓦記録電流（又は瓦記録電圧）に変更時の記録品質の変化量と称する場合もある）は、対象通常記録アシスト電流（又は対象通常記録アシスト電圧）から対象瓦記録アシスト電流（又は対象瓦記録アシスト電圧）に変更した際の対象ヘッド１５によりライトデータの記録品質の変化量（以下、通常記録アシスト電流（又は通常記録アシスト電圧）から瓦記録アシスト電流（又は瓦記録アシスト電圧）に変更時の記録品質の変化量と称する場合もある）に相当する。

ＭＰＵ６０は、対象アシスト素子２００に対応する対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更した場合、対象アシスト素子２００に供給する対象アシスト電流又は対象アシスト電圧を対象通常記録アシスト電流又は対象通常記録アシスト電圧から対象瓦記録アシスト電流又は対象瓦記録アシスト電圧に低下させ、対象通常記録アシスト電流又は対象通常記録アシスト電圧から対象瓦記録アシスト電流又は対象瓦記録アシスト電圧を低下させたことで変化する対象ヘッド１５でデータをライトした際の記録品質の変化量を補償するように、対象ヘッド１５の記録コイル１８０に供給する対象記録電流又は対象記録電圧を対象通常記録電流又は対象通常記録電圧から対象瓦記録電流又は対象瓦記録電圧に増大させる。

図１０は、変形例２に係るアシスト素子２００の寿命に応じた対象ヘッド１５の記録型式の変更方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５でディスク１０の所定の領域にアシスト／通常記録処理を実行する（Ｂ８０１）。ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５に対応する対象評価指標が対象指標閾値よりも大きいか対象指標閾値以下であるかを判定する（Ｂ８０２）。

対象評価閾値が対象指標閾値以下であると判定した場合（Ｂ８０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。

対象評価閾値が対象指標閾値よりも大きいと判定した場合（Ｂ８０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する（Ｂ８０３）。

ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５に対応する対象アシスト素子２００に供給する対象アシスト電流（又は対象アシスト電圧）を対象通常記録アシスト電流（又は対象通常記録アシスト電圧）から対象瓦記録アシスト電流（又は対象瓦記録アシスト電圧）に低下させる（Ｂ１００１）。ＭＰＵ６０は、対象通常記録アシスト電流（又は対象通常記録アシスト電圧）から対象瓦記録アシスト電流（又は対象瓦記録アシスト電圧）を低下させたことで変化する対象ヘッド１５でデータをライトした際の記録品質の変化量を補償するように、対象ヘッド１５の記録コイル１８０に供給する対象記録電流（又は対象記録電圧）を対象通常記録電流（又は対象通常記録電圧）から対象瓦記録電流（又は対象瓦記録電圧）に増大させ、処理を終了する。

変形例２によれば、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更した場合、対象ヘッド１５に対応する対象アシスト素子２００に供給する対象アシスト電流又は対象アシスト電圧を対象通常記録アシスト電流又は対象通常記録アシスト電圧から対象瓦記録アシスト電流又は対象瓦記録アシスト電圧に低下させる。磁気ディスク装置１は、対象通常記録アシスト電流又は対象通常記録アシスト電圧から対象瓦記録アシスト電流又は対象瓦記録アシスト電圧を低下させたことで変化する対象ヘッド１５でデータをライトした際の記録品質の変化量を補償するように、対象ヘッド１５の記録コイル１８０に供給する対象記録電流又は対象記録電圧を対象通常記録電流又は対象通常記録電圧から対象瓦記録電流又は対象瓦記録電圧に増大させる。そのため、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の寿命を延長することができる。つまり、磁気ディスク装置１は、寿命が延長され得る。したがって、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

（変形例３）
変形例３に係る磁気ディスク装置１は、複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５で瓦記録処理を実行する場合、複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５と異なる他のヘッド１５でメディアキャッシュ１０ｂにライトし、対象ヘッド１５でユーザデータ領域１０ａにライトすることが前述した実施形態及び変形例１に係る磁気ディスク装置１と異なる。

ＭＰＵ６０は、複数のヘッドの内の対象ヘッド１５に搭載された対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標が対象指標閾値を超えたと判定して、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更した場合、評価指標（以下、他の評価指標と称する場合もある）が指標閾値（以下、他の指標閾値と称する場合もある）以下であるアシスト素子（以下、他のアシスト素子と称する場合もある）２００を搭載された複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５と異なるヘッド（以下、他のヘッドと称する場合もある）１５を選択する。ＭＰＵ６０は、選択した他のヘッド１５で、ホスト１００等から転送されたデータを他のヘッド１５が対向するディスク１０の面（以下、他の面と称する場合もある）のメディアキャッシュ（以下、他のメディアキャッシュと称する場合もある）１０ｂに一時的にライトし、他のメディアキャッシュ１０ｂにライトしたデータを他のヘッド１５でリードし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータを対象ヘッド１５で、対象ヘッド１５が対向するディスク１０の面（以下、対象面と称する場合もある）のユーザデータ領域（以下、対象ユーザデータ領域と称する場合もある）１０ａにアシスト／瓦記録する。

例えば、図２において、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５―０に搭載された対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標が対象評価閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定して、対象ヘッド１５－０の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更した場合、他の評価指標が他の評価閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５－１を選択する。ＭＰＵ６０は、選択した他のヘッド１５－１で、ホスト１００等から転送されたデータをメディアキャッシュ１０ｂ１に一時的にライトし、メディアキャッシュ１０ｂ１にライトしたデータを他のヘッド１５―１でリードし、他のヘッド１５－１でメディアキャッシュ１０ｂ１からリードしたデータを対象ヘッド１５―０で、ユーザデータ領域１０ａ０にアシスト／瓦記録する。

図１１は、変形例３に係るアシスト素子２００の寿命に応じた所定のヘッド１５の記録型式の変更方法の一例を示すフローチャートである。
ＭＰＵ６０は、複数のヘッド１５の内の対象ヘッド１５でディスク１０の所定の領域にアシスト／通常記録処理を実行する（Ｂ８０１）。ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５に対応する対象評価指標が対象指標閾値よりも大きいか指標閾値以下であるかを判定する（Ｂ８０２）。

対象評価閾値が対象指標閾値以下であると判定した場合（Ｂ８０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。

対象評価閾値が対象指標閾値よりも大きいと判定した場合（Ｂ８０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式を瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５でアシスト／瓦記録処理を実行する（Ｂ８０３）。

ＭＰＵ６０は、複数のヘッド１５内に他の評価指標が他の指標閾値以下である他のヘッド１５があるか他のヘッド１５がないかを判定する（Ｂ１１０１）。他のヘッド１５がないと判定した場合（Ｂ１１０１のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。他のヘッド１５があると判定した場合（Ｂ１１０１のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、複数のヘッド１５から他のヘッド１５を選択する（Ｂ１１０２）。ＭＰＵ６０は、選択した他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂにホスト１００等から転送されたデータをライトし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからライトしたデータをリードする（Ｂ１１０３）。ＭＰＵ６０は、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータを対象ヘッド１５で対象ユーザデータ領域１０ａにアシスト／瓦記録し（Ｂ１１０４）、処理を終了する。

変形例３によれば、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更した場合、複数のヘッド１５から他のヘッド１５を選択する。磁気ディスク装置１は、選択した他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂにホスト１００等から転送されたデータをライトし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからライトしたデータをリードする。磁気ディスク装置１は、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータを対象ヘッド１５で対象ユーザデータ領域１０ａにアシスト／瓦記録する。そのため、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の寿命を延長することができる。つまり、磁気ディスク装置１は、寿命が延長され得る。したがって、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。
なお、前述した実施形態及び変形例の構成は、ホストマネージド磁気ディスク装置、及びドライブマネージド磁気ディスク装置に適用することができる。

（第２実施形態）
第２実施形態に係る磁気ディスク装置１は、ライト処理方法が前述した第１実施形態、変形例１，変形例２，及び変形例３の磁気ディスク装置１と異なる。

寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータをディスク１０の対象とする記録領域（以下、対象記録領域と称する場合もある）にライトする場合、このデータの一部又は全部を対象記録領域と異なる記録領域（以下、他の記録領域と称する場合もある）に他のヘッド１５で一時的にライトし、他の記録領域に他のヘッド１５でライトしたデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。以下、“所定の領域の所定のデータをこの所定の領域と異なる領域に一時的にライトすること”を“退避する”と称する場合もある。寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータをディスク１０の対象記録領域にライトする場合、このデータの一部又は全部を他の記録領域に他のヘッド１５で退避し、他の記録領域に他のヘッド１５で退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

例えば、寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、ホスト１００から転送されたデータを対象面の対象ユーザデータ領域１０ａに対象ヘッド１５でライトする前に他の面の他のメディアキャッシュ領域１０ｂに他のヘッド１５で一時的にライトし、他のメディアキャッシュ領域１０ｂにライトしたデータを他のヘッド１５でリードし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータをディスク１０の対象面の対象ユーザデータ領域１０ａに対象ヘッド１５でライトする。言い換えると、寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、ホスト１００から転送されたデータを対象面の対象ユーザデータ領域１０ａに対象ヘッド１５でライトする前に他の面の他のメディアキャッシュ領域１０ｂに他のヘッド１５で退避し、他のメディアキャッシュ領域１０ｂに退避したデータを他のヘッド１５でリードし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータをディスク１０の対象面の対象ユーザデータ領域１０ａに対象ヘッド１５でライトする。

例えば、寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、対象面の対象ユーザデータ領域１０ａの所定の領域（以下、書き直し領域と称する場合もある）、例えば、所定のトラック（以下、書き直しトラックと称する場合もある）にライトされたデータへの一定期間内にアクセスした回数に相当するアクセス頻度が所定の回数（以下、アクセス頻度閾値と称する場合もある）以下である場合にこのデータを他の面の他のメディアキャッシュ領域１０ｂに他のヘッド１５で一時的にライトし、他のメディアキャッシュ領域１０ｂにライトしたデータを他のヘッド１５でリードし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータをディスク１０の対象面の対象ユーザデータ領域１０ａの書き直し領域、例えば、書き直しトラックに対象ヘッド１５で書き直すリフレッシュ処理を実行する。言い換えると、寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、対象面の対象ユーザデータ領域１０ａの書き直し領域にライトされたデータへのアクセス頻度閾値以下である場合にこのデータを他の面の他のメディアキャッシュ領域１０ｂに他のヘッド１５で退避し、他のメディアキャッシュ領域１０ｂに退避したデータを他のヘッド１５でリードし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータをディスク１０の対象面の対象ユーザデータ領域１０ａの書き直し領域に対象ヘッド１５で書き直すリフレッシュ処理を実行する。

図１２は、第２実施形態に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。
ＭＰＵ６０は、ライト処理を実行し（Ｂ１２０１）、他のヘッド１５を選択する（Ｂ１２０２）。ＭＰＵ６０は、所定のデータを他の記録領域に他のヘッド１５で退避し（Ｂ１２０３）、他の記録領域に他のヘッド１５で退避したデータを対象記録領域に対象ヘッド１５でライト（Ｂ１２０４）、処理を終了する。例えば、ＭＰＵ６０は、ホスト１００から転送されたデータを対象面の対象ユーザデータ領域１０ａに対象ヘッド１５でライトする前に他の面の他のメディアキャッシュ領域１０ｂに他のヘッド１５で退避し、他のメディアキャッシュ領域１０ｂに退避したデータを他のヘッド１５でリードし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータをディスク１０の対象面の対象ユーザデータ領域１０ａに対象ヘッド１５でライトする。また、例えば、ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６３０を介して、対象面の対象ユーザデータ領域１０ａの書き直し領域にライトされたデータへのアクセス頻度閾値以下である場合にこのデータを他の面の他のメディアキャッシュ領域１０ｂに他のヘッド１５で退避し、他のメディアキャッシュ領域１０ｂに退避したデータを他のヘッド１５でリードし、他のヘッド１５で他のメディアキャッシュ１０ｂからリードしたデータをディスク１０の対象面の対象ユーザデータ領域１０ａの書き直し領域に対象ヘッド１５で書き直すリフレッシュ処理を実行する。

第２実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、対象記録領域に対象ヘッド１５でライトするデータを他の記録領域に他のヘッド１５で退避し、他の記録領域に他のヘッド１５で退避したデータを対象記録領域に対象ヘッド１５でライトする。磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の使用頻度を抑制することができる。そのため、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の寿命を延長することができる。つまり、磁気ディスク装置１は、寿命が延長され得る。したがって、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

（変形例４）
変形例４に係る磁気ディスク装置１は、ライト処理方法が前述した第２実施形態に記載の磁気ディスク装置１と異なる。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータをディスク１０の対象記録領域にライトする場合、このデータの一部又は全部を他の記録領域に他のヘッド１５で一時的にライトし、他の記録領域に他のヘッド１５で一時的にライトしたデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータをディスク１０の対象記録領域にライトする場合、このデータの一部又は全部を他の記録領域に他のヘッド１５で退避し、他の記録領域に他のヘッド１５で退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。例えば、寿命管理部６４０は、対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他の評価指標（の変化量）が対象評価指標（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象評価指標（の変化量）が他の評価指標（の変化量）よりも大きく、且つ対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他の評価指標（の変化量）が対象評価指標（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、所定のデータの一部又は全部を他の記録領域に選択した他のヘッド１５で退避し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域に退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、所定のデータの一部又は全部を所定の記録領域に対象ヘッド１５で退避し、対象ヘッド１５で所定の記録領域に退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲに応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータをディスク１０の対象記録領域にライトする場合、このデータの一部又は全部を他の記録領域に他のヘッド１５で退避し、他の記録領域に他のヘッド１５で退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。寿命管理部６４０は、対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他のヘッド１５に対応する他のＢＥＲ（の変化量）が他のヘッド１５に対応するＢＥＲ（の変化量の）閾値（以下、他のＢＥＲ閾値と称する場合もある）以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。例えば、寿命管理部６４０は、対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他のＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象ＢＥＲ（の変化量）が他のＢＥＲ（の変化量）よりも大きく、且つ対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他のＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、所定のデータの一部又は全部を他の記録領域に選択した他のヘッド１５で退避し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域に退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。寿命管理部６４０は、対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、所定のデータの一部又は全部を所定の記録領域に対象ヘッド１５で退避し、対象ヘッド１５で所定の記録領域に退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータをディスク１０の対象記録領域にライトする場合、このデータの一部又は全部を他の記録領域に他のヘッド１５で退避し、他の記録領域に他のヘッド１５で退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他のヘッド１５に搭載された他のアシスト素子２００に対応するアシスト素子抵抗値（以下、他のアシスト素子抵抗値と称する場合もある）（の変化量）が他のアシスト素子２００に対応する抵抗閾値（以下、他の抵抗閾値と称する場合もある）（他の抵抗値の変化量の閾値）以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量）閾値よりも小さい他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が他のアシスト素子抵抗値（の変化量）よりも大きく、且つ対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が対象アシスト素子抵抗値（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、所定のデータの一部又は全部を他の記録領域に選択した他のヘッド１５で退避し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域に退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、所定のデータの一部又は全部を所定の記録領域に対象ヘッド１５で退避し、対象ヘッド１５で所定の記録領域に退避したデータを対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

図１３は、変形例４に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。
ＭＰＵ６０は、ライト処理を実行する（Ｂ１２０１）。ＭＰＵ６０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きいか対象評価指標（の変化量）閾値が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値以下であるかを判定する（Ｂ１３０１）。対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値以下であると判定した場合（Ｂ１３０１のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きいと判定した場合（Ｂ１３０１のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のヘッド１５があるかないかを判定する（Ｂ１３０２）。他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のヘッド１５がないと判定した場合（Ｂ１３０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のヘッド１５があると判定した場合（Ｂ１３０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、他のヘッド１５を選択する（Ｂ１２０２）。ＭＰＵ６０は、所定のデータを他の記録領域に他のヘッド１５で退避し（Ｂ１２０３）、他の記録領域に他のヘッド１５で退避したデータを対象記録領域に対象ヘッド１５でライト（Ｂ１２０４）、処理を終了する。

変形例４によれば、磁気ディスク装置１は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きいと判定した場合、他の評価指標（の変化量の）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。磁気ディスク装置１は、所定のデータを他の記録領域に選択した他のヘッド１５で退避し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域に退避したデータを対象記録領域に対象ヘッド１５でライトする。そのため、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の寿命を延長することができる。つまり、磁気ディスク装置１は、寿命が延長され得る。したがって、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

（第３実施形態）
第３実施形態に係る磁気ディスク装置１は、ライト処理方法が前述した第１実施形態、第２実施形態、変形例１、変形例２、変形例３、及び変形例４に記載の磁気ディスク装置１と異なる。

寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトしている場合に、記録型式を変更して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトする、又は他のヘッド１５で他の記録領域にライトする。

例えば、寿命管理部６４０は、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象面に通常記録している場合に、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域に瓦記録する、又は他のヘッド１５で他の面に通常記録する。

図１４は、第３実施形態に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。
ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５で対象面にライト処理を実行し（Ｂ１４０１）、対象ヘッド１５の記録型式を変更するか変更しないかを判定する（Ｂ１４０２）。例えば、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５で対象面に通常記録処理を実行し、記録型式を変更するか変更しないかを判定する。例えば、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５で対象面に瓦記録処理を実行し、対象ヘッド１５の記録型式を変更するか変更しないかを判定する。

対象ヘッド１５の記録型式を変更しないと判定した場合（Ｂ１４０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。対象ヘッド１５の記録型式を変更すると判定した場合（Ｂ１４０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、記録型式を変更した対象ヘッド１５でライトする、又は他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の面にライトする（Ｂ１４０３）。例えば、記録型式を変更すると判定した場合、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５で対象面に瓦記録する、又は他のヘッド１５で他の面に通常記録する。

第３実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５で対象面にライトしている際に、記録型式を変更する場合、他のヘッド１５で他の面にライトする。磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の使用頻度を抑制することができる。そのため、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の寿命を延長することができる。つまり、磁気ディスク装置１は、寿命が延長され得る。したがって、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

（変形例５）
変形例５に係る磁気ディスク装置１は、ライト処理方法が前述した第３実施形態に記載の磁気ディスク装置１と異なる。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトしている場合、対象ヘッド１５の記録型式を変更して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトする、又は他のヘッド１５で他の記録領域に所定のデータをライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象面に通常記録している場合、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域に瓦記録する、又は他のヘッド１５で他の面に通常記録する。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域にライトする。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他の評価指標（の変化量）が対象指標（の変化量）よりも小さい他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象評価指標（の変化量）が他の評価指標（の変化量）よりも大きく、且つ対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他の評価指標（の変化量）が対象指標（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域に通常記録する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他の評価指標（の変化量）が対象評価指標（の変化量）
よりも小さい他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象評価指標（の変化量）が他の評価指標（の変化量）よりも大きく、且つ対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他の評価指標（の変化量）が対象評価指標（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録する。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲに応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトしている場合、対象ヘッド１５の記録型式を変更して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトする、又は他のヘッド１５で他の記録領域に所定のデータをライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載する対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲに応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象面に通常記録している場合、記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域に瓦記録する、又は他のヘッド１５で他の面に所定のデータを通常記録する。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００を搭載した対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲが対象ＢＥＲ閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他のＢＥＲが他のＢＥＲ閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域にライトする。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他の評価指標が対象指標よりも小さい他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象ＢＥＲ（の変化量）が他のＢＥＲ（の変化量）よりも大きく、且つ対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他のＢＥＲが対象ＢＥＲよりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００搭載した対象ヘッド１５に対応する対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他のＢＥＲ（の変化量）が他のＢＥＲ（の変化量の）閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域に通常記録する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象ＢＥＲが対象ＢＥＲ閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他の対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量）よりも小さい他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象ＢＥＲ（の変化量）が他のＢＥＲ（の変化量）よりも大きく、且つ対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他のＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象ＢＥＲ（の変化量）が対象ＢＥＲ（の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録する。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトしている場合、対象ヘッド１５の記録型式を変更して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域にライトする、又は他のヘッド１５で他の記録領域にライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値に応じて、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象面に通常記録している場合に、記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で所定のデータを対象記録領域に瓦記録する、又は他のヘッド１５で他の記録領域に所定のデータを通常記録する。

例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が他の対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域にライトする。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が対象アシスト素子抵抗値（の変化量）よりも小さい他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が他のアシスト素子抵抗値（の変化量）よりも大きく、且つ対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に対象ヘッド１５の記録型式を変更して対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が対象アシスト素子抵抗値（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする。

寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に、対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が他の抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域に通常記録する。例えば、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が他の抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも小さい他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択する。言い換えると、寿命管理部６４０は、対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が他のアシスト素子抵抗値（の変化量）よりも大きく、且つ対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録している場合に対象ヘッド１５の記録型式を通常記録型式から瓦記録型式に変更して対象ヘッド１５で対象記録領域に瓦記録する、又は他のアシスト素子抵抗値（の変化量）が対象アシスト素子抵抗値（の変化量）よりも小さい他のヘッド１５を選択する。寿命管理部６４０は、対象アシスト素子２００に対応する対象アシスト素子抵抗値（の変化量）が対象抵抗（対象抵抗値の変化量の）閾値以下であると判定した場合、リード／ライト制御部６３０を介して、対象ヘッド１５で対象記録領域に通常記録する。

図１５は、変形例５に係るライト処理方法の一例を示す模式図である。
ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５で対象面にライト処理を実行し（Ｂ１４０１）、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きいか対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値以下であるかを判定する（Ｂ１５０１）。対象評価指標が対象指標閾値以下であると判定した場合（Ｂ１５０１のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。対象評価指標（の変化量）が対象指標（対象評価指標の変化量の）閾値よりも大きいと判定した場合（Ｂ１３０１のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、対象ヘッド１５の記録型式を変更するか変更しないかを判定する（Ｂ１４０２）。

対象ヘッド１５の記録型式を変更しないと判定した場合（Ｂ１４０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。対象ヘッド１５の記録型式を変更すると判定した場合（Ｂ１４０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のヘッド１５があるかないかを判定する（Ｂ１５０２）。他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のヘッド１５がないと判定した場合（Ｂ１３０２のＮＯ）、ＭＰＵ６０は、処理を終了する。他の評価指標（の変化量）が他の指標（他の評価指標の変化量の）閾値以下である他のヘッド１５があると判定した場合（Ｂ１３０２のＹＥＳ）、ＭＰＵ６０は、記録型式を変更した対象ヘッドでライトする、又は他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の面にライトする（Ｂ１４０３）。

変形例５によれば、磁気ディスク装置１は、対象アシスト素子２００に対応する対象評価指標が対象指標閾値よりも大きい（又は、を超えた）と判定した場合、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトしている場合に記録型式を変更して、対象ヘッド１５で対象記録領域にライトする、又は他の評価指標が他の指標閾値以下である他のアシスト素子２００を搭載された他のヘッド１５を選択し、選択した他のヘッド１５で他の記録領域にライトする。磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の使用頻度を抑制することができる。そのため、磁気ディスク装置１は、対象ヘッド１５の寿命を延長することができる。つまり、磁気ディスク装置１は、寿命が延長され得る。したがって、磁気ディスク装置１は、信頼性を向上することができる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…メディアキャッシュ、１０ｃ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、５０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…不揮発性メモリ、９０…バッファメモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。

Claims (20)

1. ディスクと、
   前記ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生するアシスト素子とを有するヘッドと、
   第１記録型式と前記第１記録型式と異なる第２記録型式とを選択して実行し、前記アシスト素子のアシスト効果に応じて、前記第１記録型式及び前記第２記録型式のいずれか一方を選択して実行する、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
2. 前記第１記録型式は、前記ディスクの半径方向に間隔を置いてトラックをライトする通常記録型式であり、
   前記第２記録型式は、前記半径方向に重ねてトラックをライトする瓦記録型式である、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記コントローラは、前記ヘッドに対応するエラーレートに応じて、前記第１記録型式及び前記第２記録型式のいずれか一方を選択して実行する、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記コントローラは、前記エラーレートが前記アシスト素子の劣化の兆候を示す第１閾値よりも大きいと判定した場合、前記第２記録型式を実行する、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記コントローラは、前記エラーレートが前記第１閾値よりも大きいと判定した場合、前記アシスト素子に供給する第１電流を低下させ、前記ライトヘッドに供給する第２電流を増大する、請求項４に記載の磁気ディスク装置。
6. 前記ディスクは、第１メディアキャッシュ及び第１ユーザデータ領域を含む第１面と、第２メディアキャッシュ及び第２ユーザデータ領域を含む前記第１面と異なる第２面とを有し、
   前記ヘッドは、前記第１面にライトする第１ヘッドと、前記第２面にライトする第２ヘッドとを有し、
   前記コントローラは、前記第１ヘッドに対応する第１エラーレートが前記第１閾値よりも大きいと判定した場合、第１データを前記第２ヘッドで前記第２メディアキャッシュに一時的にライトし、前記第２メディアキャッシュからリードした前記第１データを前記第１ヘッドで前記第１ユーザデータ領域にライトする、請求項４に記載の磁気ディスク装置。
7. 前記コントローラは、前記アシスト素子の抵抗値に応じて、前記第１記録型式及び前記第２記録型式のいずれか一方を選択して実行する、請求項２に記載の磁気ディスク装置。
8. 前記コントローラは、前記抵抗値が前記アシスト素子の劣化の兆候を示す第２閾値よりも大きいと判定した場合、前記第２記録型式を実行する、請求項７に記載の磁気ディスク装置。
9. 前記コントローラは、前記抵抗値が前記第２閾値よりも大きいと判定した場合、前記アシスト素子に供給する第１電流を低下させ、前記ライトヘッドに供給する第２電流を増大する、請求項８に記載の磁気ディスク装置。
10. 前記ディスクは、第１メディアキャッシュ及び第１ユーザデータ領域を含む第１面と、第２メディアキャッシュ及び第２ユーザデータ領域を含む前記第１面と異なる第２面とを有し、
    前記ヘッドは、前記第１面にライトする第１ヘッドと、前記第２面にライトする第２ヘッドとを有し、
    前記コントローラは、前記第１ヘッドに対応する第１抵抗値が前記第２閾値よりも大きいと判定した場合、第１データを前記第２ヘッドで前記第２メディアキャッシュに一時的にライトし、前記第２メディアキャッシュからリードした前記第１データを前記第１ヘッドで前記第１ユーザデータ領域にライトする、請求項８に記載の磁気ディスク装置。
11. ディスクと、前記ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生するアシスト素子とを有するヘッドと、を備える磁気ディスク装置に適用される記録型式の変更方法であって、
    第１記録型式と前記第１記録型式と異なる第２記録型式とを選択して実行し、
    前記アシスト素子のアシスト効果に応じて、前記第１記録型式及び前記第２記録型式のいずれか一方を選択して実行する、記録型式の変更方法。
12. 第１メディアキャッシュ及び第１ユーザデータ領域を含む第１面と、第２メディアキャッシュ及び第２ユーザデータ領域を含む前記第１面と異なる第２面とを有するディスクと、
    前記第１面からデータをリードする第１リードヘッドと、前記第１面にデータをライトする第１ライトヘッドと、前記第１ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生する第１アシスト素子とを有する第１ヘッドと、
    前記第２面からデータをリードする第２リードヘッドと、前記第２面にデータをライトする第２ライトヘッドと、前記第２ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生する第２アシスト素子とを有する第２ヘッドと、
    前記第１ヘッドで前記第１面に第１データをライトする場合に前記第１データを前記第２ヘッドで前記第２面に一時的にライトする、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
13. 前記第１アシスト素子の第１抵抗値の変化量は、前記第２アシスト素子の第２抵抗値の変化量よりも大きい、請求項１２に記載の磁気ディスク装置。
14. 前記第１ヘッドに対応する第１ＢＥＲの変化量は、前記第２ヘッドに対応する第２ＢＥＲの変化量よりも大きい、請求項１２に記載の磁気ディスク装置。
15. 前記コントローラは、前記第１データへのアクセス頻度が第１閾値以下である場合、前記第１データを含む第１トラックにリフレッシュ処理を実行する、請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
16. 前記コントローラは、前記第１ヘッドで前記第１ユーザデータ領域に第１データをライトする場合に前記第１データを前記第２ヘッドで前記第２メディアキャッシュに一時的にライトする、請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
17. 前記コントローラは、前記第１ヘッドで前記第１ユーザデータ領域に第１データをライトする場合に前記第１データを前記第２ヘッドで前記第２ユーザデータ領域に一時的にライトする、請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
18. 第１メディアキャッシュ及び第１ユーザデータ領域を含む第１面と、第２メディアキャッシュ及び第２ユーザデータ領域を含む前記第１面と異なる第２面とを有するディスクと、
    前記第１面からデータをリードする第１リードヘッドと、前記第１面にデータをライトする第１ライトヘッドと、前記第１ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生する第１アシスト素子とを有する第１ヘッドと、
    前記第２面からデータをリードする第２リードヘッドと、前記第２面にデータをライトする第２ライトヘッドと、前記第２ライトヘッドによるライト性能を高めるエネルギを発生する第２アシスト素子とを有する第２ヘッドと、
    前記第１ヘッドで前記第１面にライトしている際に記録型式を変更した場合、前記第１ヘッドで前記第１面にライトする、又は前記第２ヘッドで前記第２面にライトする、コントローラと、を備える磁気ディスク装置。
19. 前記第１アシスト素子の第１抵抗値の変化量は、前記第２アシスト素子の第２抵抗値の変化量よりも大きい、請求項１８に記載の磁気ディスク装置。
20. 前記第１ヘッドに対応する第１ＢＥＲの変化量は、前記第２ヘッドに対応する第２ＢＥＲの変化量よりも大きい、請求項１８に記載の磁気ディスク装置。

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