JP2023044121A - 液体吐出ヘッド - Google Patents
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Abstract
【課題】 液体の温度の検知を感度よく行うことができる液体吐出ヘッドを提供することを目的とする。【解決手段】 液体吐出ヘッド118は、基体100と、吐出口111と、加熱素子102と、液体の温度を検知する温度検知素子115と、加熱素子102と電気的に接続している配線層と、液体から加熱素子102および配線層を保護する保護層101と、吐出口111に液体を供給するための液体供給口108と、を有する。基体100に垂直な方向から見た際に、温度検知素子115は、加熱素子102と液体供給口108の間に配置されており、かつ、保護層101上に形成されていることを特徴とする。【選択図】 図1
Description
本発明は、液体を吐出する液体吐出ヘッドに関する。
液体を吐出して記録を行う記録装置として、液体吐出プリンタが挙げられる。液体吐出プリンタには、液体を吐出する部品である液体吐出ヘッドが備えられている。液体吐出ヘッドには、吐出口から液体を吐出するための圧力を発生させるために液体を膜沸騰させる形態のものがある。液体を膜沸騰させるために、液体吐出ヘッドは、加熱素子を有している。
加熱素子を使用した際に、吐出口から液体が正常に吐出されているか否かを検知(以下、吐出検知と称す)するため、液体の温度を検知することができる温度検知素子(温度センサ)を備える液体吐出ヘッドが知られている。特許文献1においては、フローセンサと呼ばれる温度検知素子を用い、吐出検知する方法を開示している。吐出口から正常に液体を吐出できている状態と、吐出不良の状態とで、フローセンサが検知する液体の温度が異なることを利用し、吐出検知を行っている。
しかしながら、特許文献1においては、フローセンサ上に保護層等が形成されているため、フローセンサは保護層等を介して液体の温度を検知している。そのため、液体の温度検知の感度が低いという問題があった。
本発明は、上記課題を鑑み、液体の温度の検知を感度よく行うことができる液体吐出ヘッドを提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明は、基体と、液体を吐出する吐出口と、前記基体上に形成され、前記吐出口から液体を吐出するために液体を加熱する加熱素子と、前記基体上に形成され、液体の温度を検知する温度検知素子と、前記基体上に形成され、前記加熱素子と電気的に接続している配線層と、前記基体上に形成され、液体から前記加熱素子および前記配線層を保護する保護層と、前記基体を貫通し、前記吐出口に液体を供給するための液体供給口と、を有する液体吐出ヘッドにおいて、前記基体に垂直な方向から見た際に、前記温度検知素子は、前記加熱素子と前記液体供給口の間に配置されており、前記温度検知素子は、前記保護層上に形成されていることを特徴とする。
本発明によれば、液体の温度の検知を感度よく行うことができる液体吐出ヘッドを提供することができる。
以下、図面を参照して本発明を実施するための形態を説明する。同一あるいは類似の構成については共通の符号を付しており、共通の符号を付した構成については適宜説明を省略する。
(第1の実施形態)
図1を参照しながら第1の実施形態を説明する。図1(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図1(b)は図1(a)のA-A’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。図1(c)は図1(a)のB-B’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。液体吐出ヘッドは例えば単結晶シリコンからなる基体100を有している。基体100上に絶縁層101が配置されている。絶縁層101は例えば酸化珪素の無機質材料で形成され、電気絶縁性を備えており、各配線を電気的に分離している。基体および基体上には、図示しないがトランジスタや多層の配線から成る配線層が配置されている。配線層は、吐出口から液体を吐出するために液体を加熱する発熱抵抗素子102(加熱素子とも称する)と電気的に接続されている。絶縁層101は、配線層等を液体から保護するための機能も有しているため、絶縁層101を保護層とも称する。
図1を参照しながら第1の実施形態を説明する。図1(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図1(b)は図1(a)のA-A’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。図1(c)は図1(a)のB-B’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。液体吐出ヘッドは例えば単結晶シリコンからなる基体100を有している。基体100上に絶縁層101が配置されている。絶縁層101は例えば酸化珪素の無機質材料で形成され、電気絶縁性を備えており、各配線を電気的に分離している。基体および基体上には、図示しないがトランジスタや多層の配線から成る配線層が配置されている。配線層は、吐出口から液体を吐出するために液体を加熱する発熱抵抗素子102(加熱素子とも称する)と電気的に接続されている。絶縁層101は、配線層等を液体から保護するための機能も有しているため、絶縁層101を保護層とも称する。
絶縁層101中に発熱抵抗素子102が配置されている。発熱抵抗素子102はビア103を介して給電配線104に接続されている。発熱抵抗素子102は例えば窒化タンタルシリコン、窒化タングステンシリコン等の抵抗材料により形成されている。
加熱素子上(発熱抵抗素子102上)にある絶縁層101上に耐キャビテーション膜105が配置されている。耐キャビテーション膜105は、発熱抵抗素子102の駆動により発生するキャビテーションから発熱抵抗素子102や絶縁層101、配線層等を保護するための膜である。耐キャビテーション膜105はビア106を介して信号配線107に接続されている。但し耐キャビテーション膜105はフローティングでも良いので、必ずしもビア106、信号配線107に接続する必要はない。耐キャビテーション膜105は例えばイリジウム、タンタル、チタン、タングステン、シリコン、窒化タンタルシリコン、窒化タングステンシリコン等の機械的強度や化学的強度の大きい金属材料や合金が単層又は積層で形成されている。
耐キャビテーション膜105上には感光樹脂等からなるフィルタ109、ノズル形成部材110により吐出口111と発泡室112が形成されている。また基体100と絶縁層101を貫通する液体の液体供給口108(単に供給口と称することもある)が形成されている。発泡室112は液体の吐出に寄与する領域であり、平面視上発熱抵抗素子102よりひとまわり大きい領域であり、少なくともノズル形成部材110の壁とフィルタ109より吐出口111側に位置した領域である。
耐キャビテーション膜105と同層には温度検知素子115が配置されている。耐キャビテーション膜105は、保護層上に形成されている。温度検知素子115も同様に、保護層上に形成されている。そのため、温度検知素子115は、液体に直接触れていてもよい。温度検知素子115は、基体に垂直な方向から見た際に、発熱抵抗素子102と液体供給口108との間に配置されている。温度検知素子115はビア116を介して信号配線117に接続されている。温度検知素子115は例えばイリジウム、タンタル、チタン、タングステン、シリコン、窒化タンタルシリコン、窒化タングステンシリコン等の抵抗温度係数の大きい金属材料や合金が単層又は積層で形成されている。温度検知素子115は耐キャビテーション膜105と同じ材料でも良い。また温度検知素子115は耐キャビテーション膜105と同時に形成しても良い。温度検知素子115の製造工程を耐キャビテーション膜105と兼ねると、温度検知素子115専用の工程が不要となり、製造コストを低減することが可能となる。
給電配線104、信号配線107、117は例えばアルミニウムや銅を主成分とする金属材料で形成されている。ビア103、106、117は例えばタングステンや銅を主成分とする金属材料で形成されている。絶縁層101の最上面は平坦化されている。平坦化処理は例えばCMP(Chemical Mechanical Polishing:化学機械研磨)により行われる。平坦化処理はビア、信号配線、給電配線、発熱抵抗素子、温度検知素子の形成工程前、もしくは形成工程後に毎回行っても良い。発熱抵抗素子102の膜厚は10~50nmであり、給電配線104の膜厚は500~1000nmである。このように絶縁層101には、図示しない多層の配線、発熱抵抗素子102、ビア103、106、116、給電配線104、信号配線107、117、耐キャビテーション膜105、温度検知素子115といった複数の導電層が設けられている。
液体吐出ヘッドは発熱抵抗素子102の熱エネルギーを利用して吐出口111から発泡室112にある液体を吐出する。その後、吐出した尾引の液体と供給口108からの液体の供給により発泡室112の液体は再充填される。温度検知素子115はその際の温度の変化を検知し、液体の吐出が正常に行われているかを判別する。液体が正常に吐出されている場合には、リフィルの液体の量が多いため、温度の低い液体が温度検知素子115上を多く流動する。一方、正常に吐出されていない場合には、リフィルの量が少ない(あるいはゼロ)のため、温度検知素子115上を流動する温度の低い液体は少ない。この差により、温度検知素子115が検知する温度は、正常吐出の場合には、低い温度を検知し、吐出不良の場合には、高い温度を検知する。この温度差を利用して、吐出検知を行っている。
図2と図3を加えて参照しながら、具体的な液体の吐出と温度検知素子による検知の方法例を説明する。図2は本実施形態における動作原理を説明するための模式図である。図2(a)は発熱抵抗素子102に印可される駆動パルスの波形図である。図2(b)は図1に示した供給口108から吐出口111への方向を正としたときの時間軸上の液体の流量変化を示す図である。図2(c)は温度検知素子115に印可される電流の波形図である。図2(d)は時間軸上の温度検知素子115上部の液体の温度変化を示す図である。図2(e)は液体温度変化に対応した検出出力電圧の波形図である。
図2(c)に示すように、温度検知素子115に供給される電流は、時間t1からt2の期間がハイレベルとなるPAのパルスと、間t3からt4の期間がハイレベルとなるPBのパルスとを有する。PAのパルスは温度検知素子115を加温するために印可される電流である。PBのパルスは温度検知素子115の抵抗値を検出する電流である。
図3は本実施形態における吐出動作の際の発泡室内の液体の挙動を説明するための模式図である。位置関係が把握しやすいように、発熱抵抗素子302、耐キャビテーション膜305、温度検知素子315、発泡室312を模式的に示している。図3(a)に正常吐出の際の挙動を示し、図3(b)に一般的な不吐出の際の挙動を示す。
図3(a)を参照して正常吐出の際の挙動を説明する。定常状態(tA)から、発熱抵抗素子302に駆動パルスが印加されると発泡室内の液体の発熱抵抗素子302の上方で沸騰現象が生じて気泡が成長する(tB)。パルスの印加が終了すると気泡は消滅する。この消滅に伴って液体の前方部分が分離し、分離した部分は液滴として空気中を飛翔して例えば記録媒体に着弾する。また液体のうち分離した部分を除く残りの部分は、消泡時に生じる負圧により発泡室内に後退する。これは尾引の液体、もしくは吐出滴の一部と言われ、個体面に墜落する(tC)。液体がリフィルされると、液体界面は吐出口111へ向かって移動する。これは発泡室内の毛管力によって行われる。この結果、図2(b)に示すように、発泡動作が行われれば、液体は一旦供給口108側に流れ、気泡体積が最大になったのを境に吐出口111側に流れる。液体のリフィルが終了すると、定常状態に戻る(tD)。
図3(b)を参照して不吐出の際の挙動を説明する。発熱抵抗素子302に駆動パルスが印加されると沸騰現象が生じて気泡が成長するが、液体の分離は行われない。このように液体の吐出が行われないので、液体吐出動作によって減少する液体量はゼロである。このためリフィルされる液体量が正常吐出の場合に比べ少なく、リフィルに要する時間も長くなる。
この正常吐出と不吐出の場合の液体の温度は、図2(d)のように変化する。また検出出力電圧も図2(e)のように差が生じる。この液体の温度差、出力電圧差を利用して、吐出が正常に行われているか否かを判別することができる。なお図2(e)は正の抵抗温度係数の材料を温度検知素子とした例でおり、負の抵抗温度係数の材料を温度検知素子とした場合は傾向が逆となる。
本実施形態においては、温度検知素子115は、耐キャビテーション膜105と同層に配置され、また発泡室112の液体に最も近い位置にある金属材料として配置されている。換言すれば、温度検知素子115は保護層上に形成されているため、温度検知素子115は液体に直接接していてもよい。そのため、温度検知素子115は、高い感度を得ることが可能となる。温度検知素子115が高い感度を有することで、吐出検知に誤検知の発生を抑制することができる。
温度検知の感度をより高くするために、温度を検知する前に、温度検知素子115を適宜加温させてもよい。予め温度検知素子115を加温させておくことで、液体のリフィルの際に生じる温度差が大きくなり、より温度検知を高精度に行うことができる。
(第2の実施形態)
図4を参照しながら第2の実施形態を説明する。図4(a)は液体吐出ヘッド118の平面模式図である。図4(b)は図4(a)のC-C’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。図4(c)は図4(a)のD-D’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。第2の実施形態では温度検知素子の加温を自己発熱ではなく、第2の発熱抵抗素子を用いて加温することによって、更に感度を高くする形態の一例を説明する。
図4を参照しながら第2の実施形態を説明する。図4(a)は液体吐出ヘッド118の平面模式図である。図4(b)は図4(a)のC-C’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。図4(c)は図4(a)のD-D’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。第2の実施形態では温度検知素子の加温を自己発熱ではなく、第2の発熱抵抗素子を用いて加温することによって、更に感度を高くする形態の一例を説明する。
第2の実施形態では、温度検知素子115の絶縁層101を介した下方に第2の発熱抵抗素子402を配置している。発熱抵抗素子402はビア403を介して給電配線404に接続されている。第2の発熱抵抗素子402は例えば窒化タンタルシリコン、窒化タングステンシリコン等の抵抗材料により形成されている。第2の発熱抵抗素子402は第1の発熱抵抗素子102と同じ材料を用い、また同じ工程で加工することで製造コストを増加させることなく配置することができる。給電配線404は例えばアルミニウムや銅を主成分とする金属材料で形成されている。ビア403は例えばタングステンや銅を主成分とする金属材料で形成されている。
図5を加えて参照しながら、具体的な液体の吐出と温度検知素子による検知の方法例を説明する。図5は本実施形態における動作原理を説明するための模式図である。図5(a)は第1の発熱抵抗素子102に印可される駆動パルスの波形図である。図5(b)は図5に示した供給口108から吐出口111への方向を正としたときの時間軸上の液体の流量変化を示す図である。図5(c)は第2の発熱抵抗素子402に印可される電流の波形図である。図5(d)は温度検知素子115に印可される電流の波形図である。図5(e)は液体温度変化に対応した検出出力電圧の波形図である。
図5(c)の第2の発熱抵抗素子402に印可される電流は、温度検知素子115、並びに温度検知素子115周辺の液体を加温するために印可される電流である。第2の発熱抵抗素子402に印可される電流は、温度検知素子115周辺の液体が発泡しない程度に制御する。図5(d)の温度検知素子115に印可される電流は温度検知素子115の抵抗値を検出する電流である。正常吐出と不吐出の場合の検出出力電圧は図5(e)のように差が生じる。このため液体の吐出が正常に行われているかを判別することができる。
本実施形態においては、第2の発熱抵抗素子402により、温度検知素子115、並びに温度検知素子115周辺の液体を十分に加温できるため、温度検知素子115の温度変化を大きくでき、より高い感度を得ることが可能となる。
(第3の実施形態)
図6を参照しながら第3の実施形態を説明する。図6(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図6(b)は図6(a)のE-E’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。図6(c)は図6(a)のF-F’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。第3の実施形態では異なる温度検知素子により異なる現象を検知することによって、高感度化または付加機能化ができる形態の一例を説明する。
図6を参照しながら第3の実施形態を説明する。図6(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図6(b)は図6(a)のE-E’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。図6(c)は図6(a)のF-F’における液体吐出ヘッド118の断面模式図である。第3の実施形態では異なる温度検知素子により異なる現象を検知することによって、高感度化または付加機能化ができる形態の一例を説明する。
第3の実施形態では、発熱抵抗素子102上に絶縁層101を介して第2の温度検知素子605が配置されている。第2の温度検知素子605はビア606を介して信号配線607に接続されている。第2の温度検知素子605は例えばイリジウム、タンタル、チタン、タングステン、シリコン、窒化タンタルシリコン、窒化タングステンシリコン等の抵抗温度係数の大きい金属材料や合金が単層又は積層で形成されている。第2の温度検知素子605は耐キャビテーション機能を有しても良い。第2の温度検知素子605は第1の温度検知素子115と同じ材料を用い、また同じ工程で加工することで製造コストを増加させることなく配置することができる。信号配線607は例えばアルミニウムや銅を主成分とする金属材料で形成されている。ビア606は例えばタングステンや銅を主成分とする金属材料で形成されている。
図7と図8を加えて参照しながら、具体的な液体の吐出と温度検知素子による検知の方法例を説明する。図7は本実施形態における動作原理を説明するための模式図である。図7(a)は第1の発熱抵抗素子102に印可される駆動パルスの波形図である。図7(b)は図6に示した供給口108から吐出口111への方向を正としたときの時間軸上の液体の流量変化を示す図である。図7(c)は第2の発熱抵抗素子402に印可される電流の波形図である。図7(d)は第1の温度検知素子115に印可される電流の波形図である。図7(e)は液体温度変化に対応した第1の温度検知素子115の出力電圧の波形図である。図7(f)は第2の温度検知素子605に印可される電流の波形図である。図7(g)は液体温度変化に対応した第2の温度検知素子605の出力電圧の波形図である。
図8は本実施形態における吐出動作の際の発泡室内の液体の挙動を説明するための模式図である。位置関係が把握しやすいように、第1の発熱抵抗素子302、第1の温度検知素子315、第2の温度検知素子805、発泡室312を模式的に示している。図8(a)に正常吐出の際の挙動を示し、図8(b)に一般的な不吐出の際の挙動を示す。
図8(a)を参照して正常吐出の際の挙動を説明する。定常状態(tA)から、第1の発熱抵抗素子302に駆動パルスが印加されると発泡室内の液体の第1の発熱抵抗素子302の上方で沸騰現象が生じて気泡が成長する(tB)。パルスの印加が終了すると気泡は消滅する。この消滅に伴って液体の前方部分が分離し、分離した部分は液滴として空気中を飛翔して例えば記録媒体に着弾する。また液体のうち分離した部分を除く残りの部分は、消泡時に生じる負圧により発泡室内に後退する。これは尾引の液体、もしくは吐出滴の一部と言われ、第2の温度検知素子805上に墜落する(tC)。図7(g)に示すように、第2の温度検知素子805上に吐出滴の一部が墜落すると第2の温度検知素子805が急激に冷却され、第2の温度検知素子805の出力電圧も急激に変化する。次に液体がリフィルされると、液体界面は吐出口111へ向かって移動する。これは発泡室内の毛管力によって行われる。この結果、図7(b)に示すように、発泡動作が行われれば、液体は一旦供給口108側に流れ、気泡体積が最大になったのを境に吐出口111側に流れる。液体のリフィルが終了すると、定常状態に戻る(tD)。
図8(b)を参照して不吐出の際の挙動を説明する。発熱抵抗素子302に駆動パルスが印加されると沸騰現象が生じて気泡が成長するが、液体の分離は行われない。このように液体の吐出が行われないと図7(g)に示すように、尾引の液体、もしくは吐出滴の一部の墜落は発生せず穏やかに温度は低下する。
この正常吐出と不吐出の場合の液体の温度は、検出出力電圧も図7(e)、および(g)のように差が生じる。このため液体の吐出が正常に行われているかを判別することができる。
本実施形態においては、吐出滴の一部の第2の温度検知素子上への墜落有無に起因する温度変化を判別する2つの温度検知素子を用いて判別する。具体的には、第2の温度検知素子605の出力と、液体のリフィル速度の差に起因する温度変化で判別する第1の温度検知素子115の出力という異なる現象を検知する。これにより、構造差や外的要因に影響を受けず常に高い感度を得ることが可能となり、検知精度の向上が可能となる。また第2の温度検知素子605を吐出が正常に行われているかを判別する機能として用い、第1の温度検知素子115を液体の流速、液体の有無など別々の機能として付加することも可能となる。
なお本実施形態では、第1の温度検知素子115の加温を第2の発熱抵抗素子402で行う例を挙げたが、その限りでなく、第2の発熱抵抗素子402による加温は必ずしも必要なものではない。特に第1の温度検知素子115が第1の発熱抵抗素子102に近接している場合は、第1の発熱抵抗素子102による加温で十分であることもある。
(第4の実施形態)
図9を参照しながら第4の実施形態を説明する。図9(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図9(b)は図9(a)のG-G’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。図9(c)は図9(a)のH-H’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。第4の実施形態では温度検知素子の抵抗を高くすることによって、更に感度を高くする形態の一例を説明する。
図9を参照しながら第4の実施形態を説明する。図9(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図9(b)は図9(a)のG-G’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。図9(c)は図9(a)のH-H’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。第4の実施形態では温度検知素子の抵抗を高くすることによって、更に感度を高くする形態の一例を説明する。
温度検知素子の抵抗値が低すぎる場合は、回路動作上十分な電圧を得ることができず、感度が低下してしまう。そのため温度検知素子は適度な抵抗値である方が望ましい。
第4の実施形態では、第2の温度検知素子905を複数回折り返して配置することで抵抗値を高くしている。また図示しないが第2の温度検知素子905は平面視上横方向に橋のように一本の線状に配置しても良い。また第2の温度検知素子905は比較的温度の高い発熱抵抗素子102の中央に縦方向に配置しても良い。この際第2の温度検知素子905には耐キャビテーション機能は期待できないが比較的寿命が短くても良い液体吐出ヘッドには採用可能である。また図示しないが第1の温度検知素子115も同様の方策で抵抗値を高くすることができる。
本実施形態においては、温度検知素子の抵抗値を高くできるため、より高い感度を得ることが可能となる。
(第5の実施形態)
図10を参照しながら第1実施形態を説明する。図10(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図10(b)は図10(a)のJ-J’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。図10(c)は図10(a)のK-K’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。第5の実施形態では温度検知素子数を増やすことによって、高感度化または付加機能化ができる形態の一例を説明する。
図10を参照しながら第1実施形態を説明する。図10(a)は液体吐出ヘッドの平面模式図である。図10(b)は図10(a)のJ-J’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。図10(c)は図10(a)のK-K’における液体吐出ヘッドの断面模式図である。第5の実施形態では温度検知素子数を増やすことによって、高感度化または付加機能化ができる形態の一例を説明する。
第5の実施形態では、発熱抵抗素子102の直上より外側に第1の温度検知素子115、第3の温度検知素子1015を配置している。第3の温度検知素子は、吐出口を境に、第1の温度検知素子115の反対側に形成されている。より好ましくは、第1の温度検知素子115と第3の温度検知素子1015は吐出口111を中心に略対象の位置に配置している。第3の温度検知素子1015はビア1016を介して信号配線1017(図示せず)に接続されている。第3の温度検知素子1015は例えばイリジウム、タンタル、チタン、タングステン、シリコン、窒化タンタルシリコン、窒化タングステンシリコン等の抵抗温度係数の大きい金属材料や合金が単層又は積層で形成されている。第3の温度検知素子1015は第1の温度検知素子115と同じ材料を用い、また同じ工程で加工することで製造コストを増加させることなく配置することができる。ビア1016は例えばタングステンや銅を主成分とする金属材料で形成されている。このように温度検知素子数が増えているので、例えば出力を加算することでより高い感度を得ることができる。
図11を加えて参照しながら、具体的な液体の吐出と温度検知素子による検知の方法例を説明する。図11は本実施形態における吐出動作の際の発泡室内の液体の挙動を説明するための模式図である。位置関係が把握しやすいように、発熱抵抗素子302、第1の温度検知素子315、第2の温度検知素子805、第3の温度検知素子1115、発泡室312を模式的に示している。
図11を参照して、吐出はするが画像不良となる際の挙動を説明する。定常状態(tA)から、発熱抵抗素子302に駆動パルスが印加されると発泡室内の液体の発熱抵抗素子302の上方で沸騰現象が生じて気泡が成長する(tB)。パルスの印加が終了すると気泡は消滅する。この消滅に伴って液体の前方部分が分離し、分離した部分は液滴として空気中を飛翔して例えば記録媒体に着弾する。また液体のうち分離した部分を除く残りの部分は、消泡時に生じる負圧により発泡室内に後退する。これは尾引の液体、もしくは吐出滴の一部と言われ、第2の温度検知素子805上に墜落する。図11(tC)のように、吐出口111付近に例えば紙粉のような異物がある場合、液滴は斜めに飛翔し、記録媒体には予定していた場所からずれて着弾する。このように記録媒体にずれて着弾した場合は画像不良となる。また液滴が斜めに飛翔する場合は、吐出滴の一部の墜落位置もずれることが解かっている。吐出滴の一部の墜落位置がずれると、矢印のQ方向とR方向で液体のリフィル速度に差が生じる。このように例えば第1の温度検知素子数115と第3の温度検知素子数1015の出力を減算することで、吐出はするが画像不良となる着弾位置のずれた吐出を検出するという機能を付加することが可能となる。
また例えば図10(b)の供給口108aから供給口108bに向かって矢印Qの方向に液体が循環する機構の場合、例えば発熱抵抗素子102に液体が発泡しない程度の電流を印可し、液体を加温する。その後、第1の温度検知素子115と第3の温度検知素子1015の出力差を得ることによって、循環の速度を検出するという機能を付加することが可能となる。
なお本実施形態では発熱抵抗素子102の直上より外側に2つの温度検知素子を用いる例を挙げたが、その限りでなく3つ以上でも構わない。
100 基体
101 保護層
102 加熱素子
108 液体供給口
111 吐出口
115 温度検知素子
118 液体吐出ヘッド
101 保護層
102 加熱素子
108 液体供給口
111 吐出口
115 温度検知素子
118 液体吐出ヘッド
Claims (15)
- 基体と、
液体を吐出する吐出口と、
前記基体上に形成され、前記吐出口から液体を吐出するために液体を加熱する加熱素子と、
前記基体上に形成され、液体の温度を検知する温度検知素子と、
前記基体上に形成され、前記加熱素子と電気的に接続している配線層と、
前記基体上に形成され、液体から前記加熱素子および前記配線層を保護する保護層と、
前記基体を貫通し、前記吐出口に液体を供給するための液体供給口と、
を有する液体吐出ヘッドにおいて、
前記基体に垂直な方向から見た際に、前記温度検知素子は、前記加熱素子と前記液体供給口の間に配置されており、
前記温度検知素子は、前記保護層上に形成されていることを特徴とする液体吐出ヘッド。 - 前記温度検知素子は、液体と触れている請求項1に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記加熱素子上にある前記保護層上に耐キャビテーション膜が形成されており、
前記温度検知素子は、前記耐キャビテーション膜と同じ材料で形成されている請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。 - 前記温度検知素子は、液体の温度を検知する前に、加温されている請求項1ないし3のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記温度検知素子の下方には、前記加熱素子が形成されている請求項1ないし4のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記温度検知素子を加温する加熱素子は、前記加熱素子と同じ材料で形成されている請求項1ないし5のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記温度検知素子を第1の温度検知素子としたとき、前記加熱素子上にある前記保護層上に液体の温度を検知する第2の温度検知素子が形成されている請求項1ないし6のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第2の温度検知素子は、耐キャビテーション膜と同じ材料で形成されている請求項7に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第2の温度検知素子は、前記第1の温度検知素子と同じ材料で形成されている請求項7または8に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第1の温度検知素子は、前記吐出口への液体のリフィル速度の差に起因する温度変化を検知し、
前記第2の温度検知素子は、前記吐出口から吐出された液体の一部が該第1の温度検知素子上に墜落するか否かに起因する温度変化を検知する請求項7ないし9のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。 - 前記基体に垂直な方向から見た際に、前記第2の温度検知素子は、複数回折り返されて形成されている請求項7ないし10のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記温度検知素子を第1の温度検知素子としたとき、前記吐出口を境に、前記第1の温度検知素子の反対側に液体の温度を検知する第3の温度検知素子が形成されている請求項1ないし11のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第3の温度検知素子は、前記吐出口を中心に、前記第1の温度検知素子に対して対象となる位置に形成されている請求項12に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第3の温度検知素子は、前記第1の温度検知素子と同じ材料で形成されている請求項12または13に記載の液体吐出ヘッド。
- 前記第1の温度検知素子により、前記吐出口からの液体の吐出が正常か否かを判別する請求項1ないし14のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
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