JP2022545883A - C8芳香族炭化水素の異性化法 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2019年8月23日出願の米国特許出願第62/890,935号、および2019年11月14日出願の欧州特許出願第19209114.8号の優先権および利益を主張し、それらの開示は、それらを参照することにより本明細書に組み込まれている。
本開示は、C8芳香族炭化水素の異性化に関する。特に、本開示は、C8芳香族炭化水素の大部分が液相中に存在する条件下でのC8芳香族炭化水素の異性化に関する。本開示は、例えば、p-キシレンを生成する方法に有用である。
異性化触媒の存在下で、かなりの低温においてキシレンの異性化が可能となる一層の新世代技術が開発されており、C8芳香族炭化水素は、液相に実質的に存在している(液相異性化(liquid-phase isomerization)すなわち「LPI」)。従来のVPIに比べLPIを使用すると、C8芳香族フィードを処理するために必要な相変化(液体から蒸気、蒸気から液体)の数を低減することができる。これによって、著しいエネルギー削減の形態で、持続性という利点を伴う方法が実現される。VPIユニットに加え、またはその代わりに、LPIユニットを配置することは、いずれのp-キシレン生産プラントにとっても非常に有利になると思われる。LPIのない既存のp-キシレン生産設備の場合、VPIユニットを補完(compliment)するためにLPIユニットを追加すること、またはVPIユニットに置きかえることが非常に有利であると思われる。
本開示は、この必要性および他の必要性を満たす。
したがって、本開示の第1の態様は、その中に配設されている異性化触媒を有する異性化反応器に、分子状水素、およびC8芳香族炭化水素を含む液相異性化炭化水素フィードを供給するステップであって、分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~5000質量ppmの供給速度で供給される、ステップと、異性化反応器中、異性化条件下で、分子状水素およびC8芳香族炭化水素に異性化触媒を接触させて、異性化排出液を生成するステップであって、異性化条件が、C8芳香族炭化水素が異性化反応器中で実質的に液相中に存在するよう、異性化反応器において1,700kPa-ゲージ~3,500kPa-ゲージの反応圧力および反応温度、ならびに5時間-1~20時間-1の時間あたりの質量空間速度を含む、ステップと、を含む、方法に関する。
「実質的に全体的に」は、少なくとも95質量%、好ましくは≧98質量%、好ましくは≧99質量%、好ましくは≧99.5質量%、好ましくは≧99.9質量%を意味する。したがって、反応器中で、C8芳香族炭化水素が液相中に実質的に全体的に存在する場合、反応器中で、このようなC8芳香族炭化水素の少なくとも95質量%、好ましくは≧98質量%、好ましくは≧99質量%、好ましくは≧99.5質量%、好ましくは≧99.9質量%が液相中に存在する。分子状水素が、液相中の異性化炭化水素フィードに、実質的に全体的に溶解している場合、このような分子状水素の少なくとも95質量%、好ましくは≧98質量%、好ましくは≧99質量%、好ましくは≧99.5質量%、好ましくは≧99.9質量%が、液相中の異性化炭化水素フィードに溶解している。
「液相異性化」および「LPI」は、互換的に、異性化触媒の存在下で、異性化ゾーンでのC8芳香族炭化水素の異性化プロセスを意味し、これによって、キシレンは、異性化ゾーンに存在するC8芳香族炭化水素が液相中に実質的に存在するような異性化条件下で異性化する。「実質的に液相中に」は、≧80質量%、好ましくは≧85質量%、好ましくは≧90質量%、好ましくは≧95質量%、好ましくは≧99質量%、好ましくは全部が、液相中に存在することを意味する。このような異性化条件は、液相異性化条件と呼ばれる。
「蒸気相異性化」および「VPI」は、互換的に、異性化触媒の存在下で、異性化ゾーンにおけるC8芳香族炭化水素の異性化プロセスを意味し、これによって、キシレンは、異性化ゾーンに存在するキシレンが蒸気相中に実質的に存在するような異性化条件下で異性化する。「実質的に蒸気相中に」は、≧90質量%、好ましくは≧95質量%、好ましくは≧99質量%、好ましくは全部が、蒸気相中に存在することを意味する。このような異性化条件は、蒸気相異性化条件と呼ばれる。
本明細書において使用されている、元素およびその群の命名法は、1988年以降の国際純正・応用化学連合によって使用されている周期表に準ずる。周期表の例は、Advanced Inorganic Chemistry, 6th Edition, by F. Albert Cotton et al. (John Wiley & Sons, Inc., 1999)の表紙の内側の頁に表示されている。
異性化反応器に向かうC8芳香族炭化水素を含む異性化炭化水素フィードは、様々な濃度の複数のキシレンの1種を含むことができる。例えば、異性化炭化水素フィードは、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、c(キシレン)1~c(キシレン)2質量%の全濃度でキシレンを含むことができ、c(キシレン)1およびc(キシレン)2は、c(キシレン)1<c(キシレン)2である限り、独立して、30、40、50、55、60、65、70、75、80、85、90、91、92、93、94、95、96、97、98、99、または100にもなり得る。好ましくは、c(キシレン)1=70である。より好ましくは、c(キシレン)1=80である。好ましくは、異性化炭化水素フィードは、キシレンから実質的になる。
先行技術のある種のLPIプロセスは、分子状水素を同時供給しないで、異性化ゾーンで行われる。本発明者らは、反応器に分子状水素をなんら同時供給しない場合、異性化触媒は、とりわけ≧5時間-1の高いWHSVにおいて、比較的速いペースで経時的に失活する恐れがあることを見出した。分子状水素が、異性化反応器に入る芳香族炭化水素フィードの総質量に対して、低い供給速度で、例えば≦10質量ppmで、該反応器に供給される場合、異性化触媒は、分子状水素が全く同時供給されない場合と比べて、一層低いペースでしか失活し得ないが、それでもやはり、かなりの量になり得る。異性化炭化水素フィードが、比較的容易に異性化される場合、例えば、異性化フィードが、p-キシレンを高濃度(キシレンの総質量に対して、例えば、≧5質量%、≧8質量%、≧10質量%)で含む場合、および/または異性化フィードが、エチルベンゼンを低濃度(例えば、≦8質量%、≦6質量%、≦5質量%、≦4質量%、≦2質量%)で含む場合でさえも、低供給速度の分子状水素では、または分子状水素を同時供給しないと、かなりのペースで異性化触媒の失活が観察され得る。
分子状水素は、異性化炭化水素フィードと事前混合されている場合、上で議論した入口温度で異性化反応器に供給される。分子状水素が、異性化炭化水素フィードとは別に供給される場合、分子状水素は、好ましくは異性化炭化水素フィードの入口温度に近い入口温度で、異性化反応器中で液相中に異性化炭化水素フィードが溶解して、異性化反応器においてLPIを行うことが可能なほど十分な圧力で、ストリームガスとして異性化反応器に供給されてもよい。
本開示の方法におけるLPIステップは、LPI条件下、LPI触媒の存在下、LPI反応器中で行われる。
LPI条件は、異性化反応器において、p1~p2kPaの範囲の反応ゲージ圧を含むことができ、ここで、p1およびp2は、p1<p2である限り、独立して、例えば、1700、1800、1900、2000、2100、2200、2300、2400、2500、2600、2700、2800、2900、3000、3100、3200、3300、3400、3500とすることができる。好ましくは、p2=3000である。好ましくは、p2=2500である。上で示した通り、反応圧力が高いほど、多量の分子状水素が、反応器中に存在する炭化水素の液相に溶解することができる。
LPI条件は、異性化反応器中で、T1~T2℃の範囲の反応温度を含むができ、ここで、T1およびT2は、T1<T2である限り、独立して、例えば、200、210、220、230、240、250、255、260、265、270、275、280、285、290、295、300とすることができる。LPIプロセスは、異性化炭化水素フィードを加熱するためにそれほど多くのエネルギーを必要とせず、かつ下流の処理のために、多量の高温の異性化排出液蒸気相を液体に凝縮する必要がないので、LPIプロセスの反応温度が比較的低いことは、特にエネルギー効率的となり得る。
米国特許第6,180,550号、同第6,448,459号、同第6,872,866号、同第7,244,409号、同第7,371,913号、同第7,495,137号、同第7,592,499号、同第8,221,707号、同第8,273,934号および同第8,697,929号は、芳香族炭化水素の異性化プロセスに好適なLPIプロセスおよび/または触媒を記載しており、それらの全体の関連部分が参照により本明細書に組み込まれている。当分野で公知の任意の好適なLPI触媒を、本開示の方法に使用することができる。
異性化触媒に有用なZSM-5ゼオライトは、以下の特徴:水素形態(HZSM-5)にあること;≦0.1μmのサイズの結晶を有すること;≧45m2/gのメソポーラス表面積(MSA)を有すること:メソポーラス表面積に対する全表面積の比が≦9であること;およびアルミナに対するシリカのモル比が20~50の範囲となることのうちの1つまたは複数を有することができる。
一部の実施形態では、反応器は、固定床反応器、流動床反応器または移動床反応器とすることができる。反応器中の炭化水素液体は、上方、下方または放射状に流れることができる。
反応器中の異性化反応の結果として、異性化排出液は、異性化炭化水素フィード中よりも高い濃度でp-キシレンを、ならびに異性化炭化水素フィード中よりも低い合計濃度でm-キシレンおよびo-キシレンを望ましくは含む。異性化排出液は、異性化排出液中のキシレンの総質量に対して、c(pX)1~c(pX)2質量%の濃度でp-キシレンを含んでもよく、この場合、c(pX)1およびc(pX)2は、c(pX)1<c(pX)2である限り、独立して、例えば、15、16、17、18、19、20、21、22、23とすることができる。好ましくは、c(pX)1=18である。好ましくは、c(pX)1=20である。好ましくは、c(pX)1=21である。好ましくは、c(pX)1=22である。好ましくは、c(pX)は、異性化温度において、平衡キシレン混合物でのその濃度に近い。本開示の方法では、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、≧100質量ppmの供給速度で分子状水素を同時供給することによって、異性化触媒の高い活性を実現することができ、≧5時間-1、≧7.5時間-1、≧10時間-1、≧12.5時間-1、≧15時間-1、≧17.5時間-1および≧20時間-1の高いWHSVでさえも、長い期間、c(pX)1≧20質量%となることができ、かつこれを持続することができ、これは、非常に驚くべきことである。
異性化排出液は、異性化炭化水素フィード中に存在するエチルベンゼン濃度に応じて、様々な濃度でエチルベンゼンを含むことができる。
異性化炭化水素フィードに比べると、p-キシレンに富み、かつm-キシレンおよびo-キシレンの合計が枯渇した異性化排出液を、p-キシレン回収サブシステムに供給することができ、このサブシステムから、高純度p-キシレン生成物を生成することができる。
p-キシレン回収システムは、吸着クロマトグラフィー処理を利用して、異性化排出液中に存在するm-キシレン、o-キシレンおよびエチルベンゼンからp-キシレンを分離することができる。例示的な吸着クロマトグラフィー処理およびシステムは、例えば、米国特許第3,040,777号、同第3,201,491号、同第3,422,848号、同第9,302,201号、同第3,761,533号、同第4,029,717号、同第6,149,874号および同第9,302,201号に記載されており、その関連部分の全体が本明細書において組み込まれている。
p-キシレン回収システムは、上記の吸着クロマトグラフィー処理および結晶化処理の組合せを利用することができる。
反応器温度を最適化して、低い/許容されるキシレン損失を維持すると同時に、触媒搭載量のサイズを低減することができる(WHSVの増大)。図1および2は、あるシミュレートされたLPIプロセスにおいて、それぞれ、WHSVおよび温度の関数としてのすべてのキシレンの総質量に対するp-キシレンの質量(p-キシレン/キシレンの比)、ならびにWHSVおよび温度の関数としてのキシレン損失を示している。図1は、この場合、設計WHSVは、LPI生成物混合物の排出液(「異性化排出液」)中のp-キシレン/キシレン比を同等に維持しながら、約20~30℃だけ稼働温度を向上することによって二倍にすることができることを実証している。一例として、240℃で稼働した、2.5時間-1のWHSVに設計したLPI反応器は、モデルフィード組成物から、異性化排出液において0.2347となるp-キシレン/キシレン比を達成すると推定される。260℃で稼働した、5.0時間-1のWHSVに設計したLPI反応器(これは、2.5時間-1のWHSVに設計した反応器における触媒搭載量のわずか半分しか必要としない)は、異性化排出液において0.2339となるp-キシレン/キシレン比を達成すると推定される。第2の例として、290℃で稼働した、10時間-1のWHSVに設計した反応器は、モデルフィード組成物から、異性化排出液において0.2355となるp-キシレン/キシレン比を達成すると推定される。稼働温度を260℃からさらに30℃向上することによって、反応器の触媒搭載量サイズは、5.0時間-1のWHSVに対して設計した反応器に比べて、半分にやはり削減される。これらの例は、異性化排出液中で類似のp-キシレン/キシレン比の目標を実現するために、稼働温度に対する設計触媒搭載量サイズを最適化することができることを明確に実証している。
反応器温度もまた、触媒活性損失(すなわち、エイジング)に応答して、反応器収量を維持/最適化する手段として使用することができる。図3は、具体的な異性化フィード組成物に関して、2.5時間-1のWHSVで稼働したシミュレートされたLPIプロセスにおいて、生成物混合物の排出液中のp-キシレン/キシレンの比を一定に維持するため、温度の関数としての触媒の相対活性損失を例示する。図3から分かる通り、触媒活性が低下すると(すなわち、相対活性損失が増大すると)、生成物混合物排出液中のp-キシレン/キシレンの比を一定に維持するために反応温度を向上することができる。触媒活性損失が起こると、相対的なキシレン損失は、やはり様々な速度で低下する(一定の稼働温度、WHSV、フィード濃度において)ことが、当業者によって認識されるはずである。活性損失を相殺するための温度向上は、反応器における1回の通過あたりの生成物中のp-キシレン/キシレン比とキシレン損失とを最適化することによって、制限/設定され得る。
温度、供給速度、WHSVおよび/またはフィード濃度の関数として、様々な性能パラメータをモニタリングすることによって、単一触媒システムまたは複数の触媒システムの相対活性損失を推定することができ、これらには、以下に限定されないが、生成物中のp-キシレン/キシレン比、反応器にかかるp-キシレン/キシレン比のデルタ、キシレン損失、生成物中のトルエン、生成物中のベンゼン、生成物中のトリメチルベンゼン、生成物中のメチルエチルベンゼン、生成物中の全C9芳香族(「A9」)、生成物中の全C10芳香族(「A10」)、生成物中の全C9+芳香族(「A9+」)、反応器にわたるトルエンのデルタ、反応器にわたるベンゼンのデルタ、反応器にわたるトリメチルベンゼンのデルタ、反応器にわたるメチルエチルベンゼンのデルタ、反応器にわたる全A9のデルタ、反応器にわたる全A10のデルタ、反応器にわたる全A9+のデルタ、反応器にわたるエチルベンゼンの変換率、反応器にわたる非芳香族変換率(個々の化学種、化学種の部分群または全非芳香族)、C5-生成物(個々の化学種、化学種の部分群または全C5-)、反応器にわたるC5-のデルタ(個々の化学種、化学種の部分群または全C5-)、またはこれらのパラメータの任意の組合せを含むことができる。
事例2とは反対に、新しい触媒床の場合のサイクルの開始時には、望ましい初期触媒活性よりも高い活性を有するのが一般的であり、一層多いキシレン損失または望ましくないレベルのベンゼン、トルエンまたはA9+分子などの副生物をもたらす。これはまた、単位速度が、設計WHSV未満に実質的に低下した場合、稼働の中間時または終了時にも該当し得る。サイクルの開始時または大きなターンダウン稼働(turndown operation)の間の望ましくない副生成の生成を最小化するため、温度を低下させて、望ましくない副生物の収量を低下することができる。最初の新しい触媒活性を「脱エッジ」する場合、通常、最初の1~2か月間にわたり(しかし、可能性として、極端な場合、最大で1年間またはそれより長い年数になる)、副生物の生成速度が低下するにつれて、温度を徐々に向上させることができる。単位速度のターンダウンがある場合、温度を必要に応じて調節し、収量を管理することができる。温度変化の絶対的な大きさは、設計速度からの低下百分率、および触媒がストリーム上で受けてターンダウン事象に至る相対活性損失に依存するであろう。
事例1に示される通り、反応器の稼働温度を操作して、様々な触媒搭載量またはWHSVからなる反応器に対して類似の収量をもたらすことができる。リードラグ構成または多段反応器構成では、反応器は、様々な量の触媒を有するように最適化/設計することができる。例示のために提示されている事例5aおよび5bに関して、表IIを参照されたい。この開示の表では、簡潔のため、EBは、エチルベンゼンを意味し、L-パラフィンは、直鎖状パラフィンを意味し、BCNAは、分岐状または環式非芳香族炭化水素を意味し、MEBZは、メチルエチルベンゼンを意味し、DEBZは、ジエチルベンゼンを意味し、TriMBZは、トリメチルベンゼンを意味し、DMEBZは、ジメチルエチルベンゼンを意味する。
水素を低濃度で注入することにより、液相異性化システムにおける活性損失が弱化/軽減することが驚くべきことに見出された。リードラグまたは多段反応器システムへの水素同時供給量のレベルは、第1の反応器の入口だけを制御することができるか、または個々の反応器または反応器/触媒床の任意のサブセットの各々に対して個別に制御することができることに留意すべきである。各反応器へのフィード中の水素レベルは、以下の手段のいずれか、すなわち、以下に限定されないが、本明細書に列挙されているサブセット;任意の所与の反応器(単数)/反応器(複数)への独立した水素注入;前の反応器(単数)/反応器(複数)からの排出液の少なくとも一部と一緒にした、後の反応器(単数)/反応器(複数)への新しいフィードの添加、後の反応器(単数)/反応器(複数)への残留液ストリームの少なくとも一部の供給前に、前の反応(単数)/反応器(複数)の排出液をより低い圧の方向に勢いよく流して液相から水素を除去することによって制御され得る。
フィード濃度は、異性化排出液中のp-キシレン/キシレン比と望ましくない副生物の生成の程度の両方に影響する。上の事例1~6に概説した概念は、収量と資本とを最適化するためにも適用することができ、この場合、フィード組成の有意差またはばらつきが予期される。単一床反応器の温度を操作し、標準フィード組成物の場合、高いオルト-キシレン含有フィードに類似した収量を実現する例示に関する表IIIを参照されたい。この例では、標準フィードは、低度のp-キシレン(<1質量%)含有量、低度から中度のEB含有量(約5.3質量%)および中度のo-キシレン含有量(約37質量%)を含む。Oxに富むフィードはまた、低P-キシレン(<1%)を含有するが、やはり低RBおよびm-キシレン含有量(どちらも<1質量%)を有する。この例では、Oxに富むフィードを処理すると、単一触媒床は、2.5時間-1のWHSVおよび240℃という同じ条件における標準フィードの処理に比べると、生成物中に一層低いp-キシレン/キシレン比、および一層低いキシレン損失をもたらす。しかし、この例では、オルト-キシレンに富むフィードの場合の生成物中のp-キシレン/キシレン比は、反応器温度を240℃から250℃まで昇温することによって高まり、標準フィード生成物と一致させることができる。上記の項目において議論した通り、WHSV、温度、または両方の組合せの最適化を使用して、標準フィードの場合と等価な生成物を得ることができる。
図5は、改質油ストリームから、キシレン、特にp-キシレン生成物を生成するための方法101を概略的に例示している。この図では、原油の精製工程から生成した重質ナフサストリーム103が、改質ゾーン105に供給される。改質ゾーン105は、任意の従来のナフサ接触改質反応器、例えば、当分野で公知の固定床反応器、流動床反応器の1つまたは複数を含むことができる。改質触媒は改質ゾーンに配設されている。重質ナフサストリーム103中の炭化水素は、当分野で一般に公知のものなどの、改質条件下で改質触媒に接触すると、以下に限定されないが、異性化、芳香族化、脱水素化環化などを含めた一連の化学反応を受け、これにより、パラフィンおよびナフテンの少なくとも一部が、芳香族炭化水素に変換される。C6+芳香族炭化水素(ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼンおよびC9+芳香族炭化水素を含む)を含む改質排出液107が、改質ゾーンから得ることができる。次に、改質排出液107またはその一部は、改質油スプリッター109(例えば、単一蒸留カラムまたは一連の蒸留カラム)に供給され、ここからC6~C7炭化水素に富むストリーム111およびC8+芳香族炭化水素に富むストリーム113が生成される。C6~C7炭化水素に富むストリーム111は、ベンゼン、トルエン、ならびにそれらの共沸点パラフィンおよびナフテンなどを含む。C8+芳香族炭化水素に富むストリーム113は、C8芳香族炭化水素およびC9+芳香族炭化水素を含むことができる。次に、C8+芳香族炭化水素に富むストリーム113は、任意に、ジョイントストリーム114としてのストリーム145(下記)などの他のC8+芳香族に富むストリームと一緒にされて、キシレンスプリッター115に供給され、ここからキシレンに富むストリーム117およびC9+芳香族炭化水素に富むストリーム129が生成する。ジョイントストリーム114は、ストリーム107に比べて、C8+芳香族炭化水素に富み、ベンゼン、トルエン、およびそれらの共蒸発物が少ない。キシレンに富むストリーム117は、キシレンおよびエチルベンゼンに富む。ストリーム117中のエチルベンゼンの濃度は、幅広い範囲で変わり得る。ストリーム117は、キシレンスプリッター115に供給されるC8+芳香族炭化水素に富むストリームの組成に応じて、様々な濃度のp-キシレンを含むことができる。p-キシレン生成物を生成するため、キシレンに富むストリーム117は、通常、p-キシレン回収サブシステム119に供給され、ここから、p-キシレンに富むp-キシレン生成物ストリーム121およびp-キシレンが枯渇したストリーム123が生成する。p-キシレン回収サブシステム119は、当分野で公知の任意の結晶化をベースとするおよび/または吸着クロマトグラフィーをベースとするp-キシレン分離システムとすることができる。ストリーム117に比べて、m-キシレン、o-キシレンおよびエチルベンゼンに富むp-キシレンが枯渇したストリーム123は、その中に配設されている異性化触媒を含有し、かつ異性化条件下で稼働される異性化ゾーン125に、通常、少なくとも一部が供給される。異性化ゾーン125に供給されたストリーム125中のm-キシレンおよびo-キシレンの一部は、異性化条件下で異性化触媒に接触すると、p-キシレンに変換される。異性化ゾーン125を出る異性化排出液127は、p-キシレンが枯渇したストリーム123よりも高い濃度でp-キシレンを含む。異性化排出液127またはその一部は、次に、キシレンスプリッター115に供給される。キシレンスプリッター115、p-キシレン回収サブシステム119、および、異性化ゾーン125は、キシレン-ループを形成する。
この例では、C8芳香族炭化水素フィードストリームは、3.4質量%のp-キシレン、64.1質量%のm-キシレン、18.3質量%のo-キシレン、12.3質量%のエチルベンゼンおよび1.3質量%の他の炭化水素を含んだ。異性化法では、分子状水素のWHSVおよび供給速度などの異性化条件を変えた。異性化反応器に様々な供給速度で同時供給した分子状水素を液相C8芳香族炭化水素に実質的に全体的に溶解した状態を維持するため、反応器圧を変えた。異性化反応器中の反応温度を約280℃に維持した。本方法における、CGpGCの関数としての異性化排出液中のp-キシレン濃度が図6に示されている。図6に示されている様々なCGpGC範囲の間に、分子状水素のWHSV(時間-1)および供給速度(C(H2)、C8芳香族炭化水素フィードストリームの質量に対する分子状水素の質量ppm)を以下の表IIに提示する。図6において、CGpGC範囲201は、2本の垂線L-1およびL-2によって定義され、範囲203は、垂線L-2およびL-3によって定義され、範囲205は、垂線L-3およびL-4によって定義され、範囲207は、垂線L-5およびL-6によって定義され、範囲209は、垂線L-7およびL-8によって定義され、範囲211は、垂線L-8およびL-9によって定義される。
範囲209の終了時に、触媒失活剤を反応器に注入して、異性化触媒の失活を促進させた。この後、範囲211の間、分子状水素を反応器に同時供給しないと同時に、WHSVを20時間-1に維持した。範囲211におけるC(pX)は、触媒の失活、20時間-1の高いWHSVおよび反応器に同時供給する分子状水素がないことの結果として低かった。
この例では、C8芳香族炭化水素フィードストリームは、1.1質量%のp-キシレン、67.7質量%のm-キシレン、29.8質量%のo-キシレン、1質量%のエチルベンゼンおよび0.5質量%の他の炭化水素を含んだ。異性化プロセスにおいて、WHSVを変えて、分子状水素の供給速度を、C8芳香族炭化水素フィードストリームの質量に対して9質量ppmに維持した。異性化反応器における反応温度を約239℃に維持した。異性化反応器に同時供給した分子状水素を液相C8芳香族炭化水素に実質的に全体的に溶解した状態を維持するための反応器圧は十分であった。この方法における、WHSV(時間-1)の関数としての、キシレンの総量に対する異性化排出液中のp-キシレン濃度(C(pX/X)、質量%)が図7に示されている。
この例に使用したフィードストリームは、その中のエチルベンゼンの濃度が低いために、比較的容易に異性化すると考えられる。したがって、高いWHSVでは、類似した触媒性能があると認識されると思われる。それにもかかわらず、図7が明確に示す通り、WHSVが2.5時間-1から6時間-1まで向上すると、C(pX/X)は有意に低下し、このことは、WHSVが低下すると、2.5~6時間-1の範囲の比較的低いWHSVでさえも、触媒は失活したことを示している。この例は、9ppmという低い供給速度で分子状水素を同時供給しても、低濃度のエチルベンゼンを含む良好なフィードを使用した場合でさえも、異性化触媒の失活に対して大きな利点をもたらさないことを示している。
この例では、C8芳香族炭化水素フィードストリームは、8.1質量%のp-キシレン、58.1質量%のm-キシレン、24.4質量%のo-キシレン、7.5質量%のエチルベンゼンおよび1.9質量%の他の炭化水素を含んだ。異性化プロセスでは、WHSVを4時間-1に維持した。分子状水素は、異性化反応器に供給しなかった。異性化反応器における反応温度を約239℃に維持した。この方法における、ストリームに対する時間の関数(TOS、日数)としての、キシレンの総量に対する異性化排出液中のp-キシレン濃度(C(pX/X)、質量%)が図8に示されている。
本発明のまた別の態様は、以下のとおりであってもよい。
〔1〕その中に配設されている異性化触媒を有する異性化反応器に、分子状水素、およびC8芳香族炭化水素を含む液相異性化炭化水素フィードを供給するステップであって、分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~5000質量ppmの供給速度で供給される、ステップと、
異性化反応器中、異性化条件下で、分子状水素およびC8芳香族炭化水素に異性化触媒を接触させて、異性化排出液を生成するステップであって、異性化条件が、C8芳香族炭化水素が異性化反応器中で実質的に液相中に存在するよう、異性化反応器において1,700kPa-ゲージ~3,500kPa-ゲージの反応圧力および反応温度、ならびに5~20時間 -1 の時間あたりの質量空間速度を含む、ステップと、
を含む、方法。
〔2〕分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~1000質量ppmの供給速度で異性化反応器に供給される、前記〔1〕に記載の方法。
〔3〕C8芳香族炭化水素が、異性化反応器中で実質的に全体的に液相中に存在する、前記〔1〕または前記〔2〕に記載の方法。
〔4〕分子状水素の少なくとも一部が、異性化反応器への供給前に、異性化炭化水素フィードの液相に溶解している、前記〔1〕~〔3〕のいずれかに記載の方法。
〔5〕異性化条件が、5~20時間 -1 の時間あたりの質量空間速度を含む、前記〔1〕~〔4〕のいずれかに記載の方法。
〔6〕異性化条件が、異性化反応器において、200~300℃の反応温度を含む、前記〔1〕~〔5〕のいずれかに記載の方法。
〔7〕異性化条件が、異性化反応器において、240~300℃の反応温度を含む、前記〔6〕に記載の方法。
〔8〕異性化条件が、異性化反応器において、260~300℃の反応温度、および10~20時間 -1 の時間あたりの質量空間速度を含む、前記〔7〕に記載の方法。
〔9〕異性化炭化水素フィードが、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、20質量%以下の濃度のエチルベンゼンを含む、前記〔1〕~〔8〕のいずれかに記載の方法。
〔10〕異性化炭化水素フィードが、10質量%以下の濃度のp-キシレンを含む、前記〔1〕~〔9〕のいずれかに記載の方法。
〔11〕異性化触媒が貴金属を含まない、前記〔1〕~〔10〕のいずれかに記載の方法。
〔12〕異性化触媒が、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Re、Os、Ir、Ptおよびそれらの組合せから選択される第1の金属元素を含み、および、任意にSn、Zn、Agおよびそれらの組合せから選択される第2の金属元素を含んでもよい、前記〔1〕~〔9〕のいずれかに記載の方法。
〔13〕異性化排出液中のp-キシレン/キシレン質量比を実質的に低下させることなく、反応温度および/または時間あたりの質量空間速度を増大させるステップ
をさらに含む、前記〔1〕~〔12〕のいずれかに記載の方法。
〔14〕キシレン損失を実質的に増大させることなく、反応温度および/または時間あたりの質量空間速度を増大させるステップ
をさらに含む、前記〔1〕~〔13〕のいずれかに記載の方法。
〔15〕触媒サイクルの開始期の後に、分子状水素の供給速度を増大させるステップをさらに含む、前記〔1〕~〔14〕のいずれかに記載の方法。
〔16〕その中に配設されている異性化触媒を有する異性化反応器に、分子状水素、およびC8芳香族炭化水素を含む液相異性化炭化水素フィードを供給するステップであって、分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~5000質量ppmの供給速度で供給されるステップと、
異性化反応器中、異性化条件下で、分子状水素およびC8芳香族炭化水素に異性化触媒を接触させて、異性化排出液を生成するステップであって、異性化条件が、C8芳香族炭化水素が異性化反応器中で実質的に液相中に存在するよう、1,700kPa-ゲージ~3,500kPa-ゲージの反応圧力および200~300℃の反応温度、ならびに5~20時間 -1 の時間あたりの質量空間速度を含み、異性化排出液が、p-キシレンを異性化炭化水素フィードよりも高い濃度で含む、ステップと、
異性化排出液からp-キシレンの少なくとも一部を回収するステップと、
を含む、p-キシレンを生成する方法。
〔17〕分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~1000質量ppmの供給速度で異性化反応器に供給される、前記〔16〕に記載の方法。
〔18〕C8芳香族炭化水素が、異性化反応器中で実質的に全体的に液相中に存在する、前記〔16〕または前記〔17〕に記載の方法。
〔19〕C8芳香族炭化水素の少なくとも98%が、異性化反応器中で液相中に存在する、前記〔18〕に記載の方法。
〔20〕分子状水素の少なくとも98%が、異性化反応器中、C8芳香族炭化水素の液相に溶解している、前記〔18〕に記載の方法。
〔21〕異性化条件が、5~20時間 -1 の時間あたりの質量空間速度を含む、前記〔16〕~〔20〕のいずれかに記載の方法。
〔22〕異性化触媒が貴金属を含まない、前記〔16〕~〔21〕のいずれかに記載の方法。
〔23〕異性化触媒が、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Re、Os、Ir、Ptおよびそれらの組合せから選択される第1の金属元素を含み、および、任意にSn、Zn、Agおよびそれらの組合せから選択される第2の金属元素を含んでもよい、前記〔16〕~〔22〕のいずれかに記載の方法。
〔24〕異性化排出液中のp-キシレン/キシレン質量比を実質的に低下させることなく、反応温度および/または時間あたりの質量空間速度を増大させるステップ
をさらに含む、前記〔1〕~〔23〕のいずれかに記載の方法。
〔25〕触媒サイクルの開始期の後に、分子状水素の供給速度を増大させるステップをさらに含む、前記〔1〕~〔24〕のいずれかに記載の方法。
Claims (25)
- その中に配設されている異性化触媒を有する異性化反応器に、分子状水素、およびC8芳香族炭化水素を含む液相異性化炭化水素フィードを供給するステップであって、分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~5000質量ppmの供給速度で供給される、ステップと、
異性化反応器中、異性化条件下で、分子状水素およびC8芳香族炭化水素に異性化触媒を接触させて、異性化排出液を生成するステップであって、異性化条件が、C8芳香族炭化水素が異性化反応器中で実質的に液相中に存在するよう、異性化反応器において1,700kPa-ゲージ~3,500kPa-ゲージの反応圧力および反応温度、ならびに5~20時間-1の時間あたりの質量空間速度を含む、ステップと、
を含む、方法。 - 分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~1000質量ppmの供給速度で異性化反応器に供給される、請求項1に記載の方法。
- C8芳香族炭化水素が、異性化反応器中で実質的に全体的に液相中に存在する、請求項1または請求項2に記載の方法。
- 分子状水素の少なくとも一部が、異性化反応器への供給前に、異性化炭化水素フィードの液相に溶解している、請求項1~3のいずれかに記載の方法。
- 異性化条件が、5~20時間-1の時間あたりの質量空間速度を含む、請求項1~4のいずれかに記載の方法。
- 異性化条件が、異性化反応器において、200~300℃の反応温度を含む、請求項1~5のいずれかに記載の方法。
- 異性化条件が、異性化反応器において、240~300℃の反応温度を含む、請求項6に記載の方法。
- 異性化条件が、異性化反応器において、260~300℃の反応温度、および10~20時間-1の時間あたりの質量空間速度を含む、請求項7に記載の方法。
- 異性化炭化水素フィードが、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、20質量%以下の濃度のエチルベンゼンを含む、請求項1~8のいずれかに記載の方法。
- 異性化炭化水素フィードが、10質量%以下の濃度のp-キシレンを含む、請求項1~9のいずれかに記載の方法。
- 異性化触媒が貴金属を含まない、請求項1~10のいずれかに記載の方法。
- 異性化触媒が、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Re、Os、Ir、Ptおよびそれらの組合せから選択される第1の金属元素を含み、および、任意にSn、Zn、Agおよびそれらの組合せから選択される第2の金属元素を含んでもよい、請求項1~9のいずれかに記載の方法。
- 異性化排出液中のp-キシレン/キシレン質量比を実質的に低下させることなく、反応温度および/または時間あたりの質量空間速度を増大させるステップ
をさらに含む、請求項1~12のいずれかに記載の方法。 - キシレン損失を実質的に増大させることなく、反応温度および/または時間あたりの質量空間速度を増大させるステップ
をさらに含む、請求項1~13のいずれかに記載の方法。 - 触媒サイクルの開始期の後に、分子状水素の供給速度を増大させるステップをさらに含む、請求項1~14のいずれかに記載の方法。
- その中に配設されている異性化触媒を有する異性化反応器に、分子状水素、およびC8芳香族炭化水素を含む液相異性化炭化水素フィードを供給するステップであって、分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~5000質量ppmの供給速度で供給されるステップと、
異性化反応器中、異性化条件下で、分子状水素およびC8芳香族炭化水素に異性化触媒を接触させて、異性化排出液を生成するステップであって、異性化条件が、C8芳香族炭化水素が異性化反応器中で実質的に液相中に存在するよう、1,700kPa-ゲージ~3,500kPa-ゲージの反応圧力および200~300℃の反応温度、ならびに5~20時間-1の時間あたりの質量空間速度を含み、異性化排出液が、p-キシレンを異性化炭化水素フィードよりも高い濃度で含む、ステップと、
異性化排出液からp-キシレンの少なくとも一部を回収するステップと、
を含む、p-キシレンを生成する方法。 - 分子状水素が、異性化炭化水素フィードの総質量に対して、100質量ppm~1000質量ppmの供給速度で異性化反応器に供給される、請求項16に記載の方法。
- C8芳香族炭化水素が、異性化反応器中で実質的に全体的に液相中に存在する、請求項16または請求項17に記載の方法。
- C8芳香族炭化水素の少なくとも98%が、異性化反応器中で液相中に存在する、請求項18に記載の方法。
- 分子状水素の少なくとも98%が、異性化反応器中、C8芳香族炭化水素の液相に溶解している、請求項18に記載の方法。
- 異性化条件が、5~20時間-1の時間あたりの質量空間速度を含む、請求項16~20のいずれかに記載の方法。
- 異性化触媒が貴金属を含まない、請求項16~21のいずれかに記載の方法。
- 異性化触媒が、Fe、Co、Ni、Ru、Rh、Pd、Re、Os、Ir、Ptおよびそれらの組合せから選択される第1の金属元素を含み、および、任意にSn、Zn、Agおよびそれらの組合せから選択される第2の金属元素を含んでもよい、請求項16~22のいずれかに記載の方法。
- 異性化排出液中のp-キシレン/キシレン質量比を実質的に低下させることなく、反応温度および/または時間あたりの質量空間速度を増大させるステップ
をさらに含む、請求項1~23のいずれかに記載の方法。 - 触媒サイクルの開始期の後に、分子状水素の供給速度を増大させるステップをさらに含む、請求項1~24のいずれかに記載の方法。
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