JP2022538468A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020243333A1 (en) 2019-05-30 2020-12-03 The Research Foundation For The State University Of New York System, method, and computer-accessible medium for generating multi-class models from single-class datasets
US11295439B2 (en) * 2019-10-16 2022-04-05 International Business Machines Corporation Image recovery
CN115461612A (zh) * 2020-04-28 2022-12-09 三菱电机株式会社 外观检查装置和外观检查方法
US11967139B2 (en) * 2020-05-19 2024-04-23 Objectvideo Labs, Llc Adversarial masks for false detection removal
CN111667420B (zh) * 2020-05-21 2023-10-24 维沃移动通信有限公司 图像处理方法及装置
DE102020207324A1 (de) * 2020-06-12 2021-12-16 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Plausibilisierung der Ausgabe eines Bildklassifikators mit einem Generator für abgewandelte Bilder
JP7535934B2 (ja) * 2020-12-18 2024-08-19 株式会社豊田中央研究所 不良箇所検出装置、不良箇所検出方法、およびコンピュータプログラム
JP7563665B2 (ja) * 2021-01-26 2024-10-08 日東電工株式会社 検査システム、検査方法及び検査プログラム
CN112967248B (zh) * 2021-03-03 2024-01-23 北京百度网讯科技有限公司 生成缺陷图像样本的方法、装置、介质及程序产品
CN112950606B (zh) * 2021-03-15 2023-04-07 重庆邮电大学 一种基于小样本的手机屏幕缺陷分割方法
US11216932B1 (en) * 2021-03-26 2022-01-04 Minds AI Technologies Ltd Electronic substrate defect detection
US11386580B1 (en) * 2021-08-13 2022-07-12 Goodsize Inc. System apparatus and method for guiding user to comply with application-specific requirements
US12079982B2 (en) * 2021-11-17 2024-09-03 Yahoo Ad Tech Llc Object defect detection
CN113870262B (zh) * 2021-12-02 2022-04-19 武汉飞恩微电子有限公司 基于图像处理的印刷电路板分类方法、装置及储存介质
CN114494135B (zh) * 2021-12-24 2024-12-17 深圳英博达智能科技有限公司 Pcb板表面凸点缺陷检测方法、系统、及电子设备
CN114565622B (zh) * 2022-03-03 2023-04-07 北京安德医智科技有限公司 房间隔缺损长度的确定方法及装置、电子设备和存储介质
CN114332084B (zh) * 2022-03-11 2022-09-16 齐鲁工业大学 一种基于深度学习的pcb表面缺陷检测方法
CN115661123B (zh) * 2022-11-14 2023-06-23 哈尔滨工业大学 基于弱监督目标检测的工业品表面缺陷位置检测方法
JP2024082013A (ja) 2022-12-07 2024-06-19 株式会社Screenホールディングス 画像処理装置、特徴抽出器の学習方法、識別器の更新方法、および画像処理方法
CN115937147B (zh) * 2022-12-09 2023-09-26 北京小米移动软件有限公司 缺陷检测参数的确定方法、装置、设备及存储介质
CN118314490B (zh) * 2024-06-11 2024-09-17 合肥工业大学 一种特高压变电站空天地多尺度重决策方法及系统

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4644613B2 (ja) 2006-02-27 2011-03-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥観察方法及びその装置
JP5275017B2 (ja) 2008-12-25 2013-08-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査方法及びその装置
CN101604080B (zh) 2009-07-10 2011-05-04 友达光电股份有限公司 透镜基板的检测方法及其应用于显示装置的制造方法
JP6403627B2 (ja) 2015-04-14 2018-10-10 キヤノン株式会社 インプリント装置、インプリント方法及び物品の製造方法
JP6546826B2 (ja) 2015-10-08 2019-07-17 株式会社日立パワーソリューションズ 欠陥検査方法、及びその装置
KR102376200B1 (ko) * 2016-05-12 2022-03-18 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 기계 학습에 의한 결함 또는 핫스폿의 식별
WO2018216629A1 (ja) 2017-05-22 2018-11-29 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
JP7031963B2 (ja) 2017-08-22 2022-03-08 株式会社ディスコ チップの製造方法
JP2019039727A (ja) 2017-08-23 2019-03-14 富士通株式会社 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム
US10424059B2 (en) * 2017-09-11 2019-09-24 International Business Machines Corporation Quality evaluation
JP6936957B2 (ja) 2017-11-07 2021-09-22 オムロン株式会社 検査装置、データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム
CN109118482B (zh) 2018-08-07 2019-12-31 腾讯科技(深圳)有限公司 一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质
CN109035248A (zh) * 2018-09-05 2018-12-18 深圳灵图慧视科技有限公司 疵点检测方法、装置、终端设备、服务器和存储介质
CN109741328B (zh) * 2019-02-02 2023-04-14 东北大学 一种基于生成式对抗网络的汽车表观质量检测方法

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