JP2022142966A - Wiring board, electronic unit, electronic device, and manufacturing method for wiring board - Google Patents

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Abstract

To suppress radiation noise emitted from a wiring board and to improve the transmission characteristics of a signal transmitted over a signal line.SOLUTION: A wiring board 200 has an insulator portion 230 having a main surface 231 and a main surface 232, a signal line 22 disposed inside the insulator portion 230, a conductive layer 251 disposed on the main surface 231, and a conductive layer 252 disposed on the main surface 232. The main surface 232 is the opposite side surface of the main surface 231. The surface resistivity of the conductive layer 252 is greater than that of the conductive layer 251.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、電磁波ノイズ対策の技術に関する。 The present invention relates to technology for countermeasures against electromagnetic noise.

電子機器、例えば携帯電話、スマートフォン、タブレット端末、及びデジタルカメラにおいては、デジタル信号の伝送路となるフレキシブルプリント配線板を有する。電子機器の機能の向上に伴い、電子機器において取り扱われるデータ量も増加しており、配線板を通るデジタル信号も高速化している。データ通信の大容量化および高速化により、配線板からの放射ノイズが多くなる傾向にあった。 Electronic devices such as mobile phones, smart phones, tablet terminals, and digital cameras have flexible printed wiring boards that serve as transmission paths for digital signals. As the functions of electronic devices have improved, the amount of data handled by the electronic devices has also increased, and the speed of digital signals passing through wiring boards has also increased. Due to the increase in the capacity and speed of data communication, there has been a tendency for the radiation noise from the printed circuit board to increase.

これに対し、特許文献1には、信号線を基準として一方の側に絶縁層を介して配置された、電磁波シールド層及び抵抗体層を有するフレキシブルプリント配線板が開示されている。 On the other hand, Patent Literature 1 discloses a flexible printed wiring board having an electromagnetic wave shield layer and a resistor layer arranged on one side of a signal line with an insulating layer interposed therebetween.

特開2014-90162号公報JP 2014-90162 A

しかしながら、特許文献1に開示されたフレキシブルプリント配線板では、放射ノイズを抑制させようとすると信号の伝送損失が増大することがあった。 However, in the flexible printed wiring board disclosed in Patent Document 1, signal transmission loss may increase when trying to suppress radiation noise.

本発明は、放射ノイズを抑制し、かつ信号の伝送特性を向上させることを目的とする。 An object of the present invention is to suppress radiation noise and improve signal transmission characteristics.

本発明の配線板は、第1主面、及び前記第1主面とは反対側の第2主面を有する絶縁体部と、前記絶縁体部の内部に配置された信号線と、前記第1主面に配置された第1導電層と、前記第2主面に配置された第2導電層と、を備え、前記第2導電層の表面抵抗率が前記第1導電層の表面抵抗率よりも大きい、ことを特徴とする。 A wiring board according to the present invention includes an insulator portion having a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface, a signal line disposed inside the insulator portion, and the second main surface. A first conductive layer disposed on one principal surface and a second conductive layer disposed on the second principal surface, wherein the surface resistivity of the second conductive layer is the surface resistivity of the first conductive layer characterized by being greater than

本発明の配線板の製造方法は、内部に信号線が配置された絶縁体部を用意し、前記絶縁体部の第1主面に第1導電層を、前記絶縁体部の前記第1主面とは反対側の第2主面に前記第1導電層の表面抵抗率よりも大きい表面抵抗率の第2導電層を、それぞれ形成する、ことを特徴とする。 In the wiring board manufacturing method of the present invention, an insulator portion having a signal line disposed therein is prepared, a first conductive layer is formed on a first main surface of the insulator portion, and a first conductive layer is formed on the first main surface of the insulator portion. A second conductive layer having a surface resistivity higher than that of the first conductive layer is formed on each of the second main surfaces opposite to the surface.

本発明によれば、放射ノイズを抑制することができ、かつ信号の伝送特性を向上させることができる。 According to the present invention, radiation noise can be suppressed and signal transmission characteristics can be improved.

実施形態に係る電子機器の一例としての撮像装置であるデジタルカメラの説明図である。1 is an explanatory diagram of a digital camera that is an imaging device as an example of an electronic device according to an embodiment; FIG. (a)は実施形態に係る撮像ユニットの説明図である。(b)は(a)のIIB-IIB線に沿う配線板の断面図である。(a) is an explanatory diagram of an imaging unit according to the embodiment. (b) is a cross-sectional view of the wiring board taken along line IIB-IIB of (a). (a)~(d)は実施形態に係る配線板の製造方法の一例を示す説明図である。(a) to (d) are explanatory diagrams showing an example of a method for manufacturing a wiring board according to the embodiment. (a)は実施例の配線板及び比較例の配線板の放射ノイズ量を測定するシステムの説明図である。(b)は実施例の配線板及び比較例の配線板の伝送特性を評価するのに用いたシステムの模式図である。1A is an explanatory diagram of a system for measuring radiation noise amounts of a wiring board of an example and a wiring board of a comparative example; FIG. (b) is a schematic diagram of a system used to evaluate the transmission characteristics of the wiring board of the example and the wiring board of the comparative example. 実施例の配線板及び比較例の配線板における第1導電層及び第2導電層の層構成を示すテーブルである。4 is a table showing layer structures of first conductive layers and second conductive layers in wiring boards of Examples and wiring boards of Comparative Examples; 実施例の配線板の構成及び評価を示すテーブルである。4 is a table showing the configuration and evaluation of wiring boards of Examples. 比較例の配線板の構成及び評価を示すテーブルである。4 is a table showing the configuration and evaluation of a wiring board of a comparative example; (a)は比較例3の配線板の説明図である。(b)は比較例4の配線板の説明図である。(a) is an explanatory diagram of a wiring board of Comparative Example 3. FIG. (b) is an explanatory diagram of a wiring board of Comparative Example 4;

以下、本発明を実施するための形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。図1は、実施形態に係る電子機器の一例としての撮像装置であるデジタルカメラ600の説明図である。デジタルカメラ600は、レンズ交換式のデジタルカメラであり、カメラ本体601を備える。カメラ本体601は、レンズを含むレンズユニット(レンズ鏡筒)602が着脱可能となっている。カメラ本体601は、筐体611と、電子ユニットの一例である撮像ユニット100と、無線通信ユニット150と、を備える。撮像ユニット100及び無線通信ユニット150は、筐体611の内部に収納されている。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is an explanatory diagram of a digital camera 600 that is an imaging device as an example of an electronic device according to an embodiment. A digital camera 600 is an interchangeable-lens digital camera and includes a camera body 601 . A camera body 601 is detachable with a lens unit (lens barrel) 602 including lenses. The camera body 601 includes a housing 611 , an imaging unit 100 that is an example of an electronic unit, and a wireless communication unit 150 . The imaging unit 100 and the wireless communication unit 150 are housed inside the housing 611 .

撮像ユニット100は、プリント回路板101と、プリント回路板102と、プリント回路板101とプリント回路板102とを電気的に接続する配線板200と、を備える。本実施形態において、配線板200は、フレキシブルプリント配線板である。プリント回路板101は、第1電子モジュールの一例である。プリント回路板102は、第2電子モジュールの一例である。プリント回路板101とプリント回路板102との接続に配線板200を用いることにより、同軸ケーブルよりも配線構造を軽量化することができる。 The imaging unit 100 includes a printed circuit board 101 , a printed circuit board 102 , and a wiring board 200 electrically connecting the printed circuit boards 101 and 102 . In this embodiment, wiring board 200 is a flexible printed wiring board. Printed circuit board 101 is an example of a first electronic module. Printed circuit board 102 is an example of a second electronic module. By using the wiring board 200 to connect the printed circuit board 101 and the printed circuit board 102, the weight of the wiring structure can be reduced as compared with a coaxial cable.

プリント回路板101は、リジッドプリント配線板110と、リジッドプリント配線板110に実装された半導体装置111と、を備える。プリント回路板102は、リジッドプリント配線板120と、リジッドプリント配線板120に実装される半導体装置121と、を備える。半導体装置111及び121のそれぞれは、電子部品の一例である。 The printed circuit board 101 includes a rigid printed wiring board 110 and a semiconductor device 111 mounted on the rigid printed wiring board 110 . The printed circuit board 102 includes a rigid printed wiring board 120 and a semiconductor device 121 mounted on the rigid printed wiring board 120 . Each of the semiconductor devices 111 and 121 is an example of an electronic component.

半導体装置111は、本実施形態ではイメージセンサである。イメージセンサは、例えばCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ又はCCD(Charge Coupled Device)イメージセンサである。イメージセンサは、レンズユニット602を介して入射した光を電気信号に変換する機能を有する。半導体装置121は、本実施形態ではデジタルシグナルプロセッサである。デジタルシグナルプロセッサは、イメージセンサである半導体装置111から画像データを示す電気信号を取得し、取得した電気信号を補正する処理を行い、補正された画像データを生成する機能を有する。本実施形態では、撮像ユニット100は、手振れ補正機能を有しており、プリント回路板101を駆動する駆動源の一例であるモータ160を備える。 The semiconductor device 111 is an image sensor in this embodiment. The image sensor is, for example, a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) image sensor or a CCD (Charge Coupled Device) image sensor. The image sensor has a function of converting light incident through the lens unit 602 into an electrical signal. The semiconductor device 121 is a digital signal processor in this embodiment. The digital signal processor has a function of acquiring an electrical signal representing image data from the semiconductor device 111, which is an image sensor, correcting the acquired electrical signal, and generating corrected image data. In this embodiment, the imaging unit 100 has a camera shake correction function and includes a motor 160 that is an example of a drive source for driving the printed circuit board 101 .

無線通信ユニット150は、GHz帯域の無線通信を行うものであり、モジュール化されている。無線通信ユニット150は、アンテナ(不図示)を含むリジッドプリント配線板151と、リジッドプリント配線板151に実装された無線通信IC152と、を有する。アンテナは無線通信IC152と同じ面内に設けられて、外部と通信しやすいように筐体611に近い位置に配置される。無線通信IC152は、アンテナを介して、例えばPC又は無線ルータなどの外部機器と無線通信を行うことで、画像データの送信及び/又は受信を行うことが可能であることが好ましい。本実施形態では、無線通信IC152は、アンテナを介して、データの送信及び受信を行うことが可能である。具体的には、無線通信IC152は、半導体装置121から取得した画像データを示すデジタル信号を変調し、アンテナから無線規格の通信周波数の電波として送信する。また、無線通信IC152は、アンテナにて受信された電波を、画像データを示すデジタル信号に復調する。無線通信IC152は、例えばWi-Fi(登録商標)やBluetooth(登録商標)といった規格に準拠して外部機器と無線通信する。 The wireless communication unit 150 performs wireless communication in the GHz band and is modularized. The wireless communication unit 150 has a rigid printed wiring board 151 including an antenna (not shown) and a wireless communication IC 152 mounted on the rigid printed wiring board 151 . The antenna is provided in the same plane as the wireless communication IC 152 and is arranged at a position close to the housing 611 so as to facilitate communication with the outside. The wireless communication IC 152 is preferably capable of transmitting and/or receiving image data by wirelessly communicating with an external device such as a PC or a wireless router via an antenna. In this embodiment, the wireless communication IC 152 can transmit and receive data via an antenna. Specifically, the wireless communication IC 152 modulates a digital signal representing image data acquired from the semiconductor device 121, and transmits the modulated signal from an antenna as a radio wave at a wireless standard communication frequency. Also, the wireless communication IC 152 demodulates radio waves received by the antenna into digital signals representing image data. The wireless communication IC 152 wirelessly communicates with external devices in compliance with standards such as Wi-Fi (registered trademark) and Bluetooth (registered trademark).

図2(a)は、実施形態に係る撮像ユニット100の説明図である。図2(a)に示すように、配線板200は、長手方向であるX方向に延びている。X方向は、第1方向の一例である。配線板200は、信号線22を複数備える。各信号線22は、X方向に延びている。X方向は、配線方向でもある。複数の信号線22は、X方向と直交する、短手方向であるY方向に間隔をあけて配置されている。Y方向は、第2方向の一例である。X方向及びY方向と直交するZ方向は、配線板200の厚さ方向である。配線板200は、フレキシブルプリント配線板であり、可撓性を有し、屈曲変形可能である。 FIG. 2A is an explanatory diagram of the imaging unit 100 according to the embodiment. As shown in FIG. 2A, wiring board 200 extends in the X direction, which is the longitudinal direction. The X direction is an example of a first direction. Wiring board 200 includes a plurality of signal lines 22 . Each signal line 22 extends in the X direction. The X direction is also the wiring direction. The plurality of signal lines 22 are arranged at intervals in the Y direction, which is the lateral direction, perpendicular to the X direction. The Y direction is an example of the second direction. The Z direction orthogonal to the X and Y directions is the thickness direction of wiring board 200 . Wiring board 200 is a flexible printed wiring board, has flexibility, and can be bent and deformed.

配線板200は、X方向の第1端の一例である端201と、X方向の第2端の一例である端202とを有する。端202は、配線板200において、端201とは反対側に位置している。 Wiring board 200 has an end 201 that is an example of a first end in the X direction and an end 202 that is an example of a second end in the X direction. End 202 is located on the opposite side of wiring board 200 from end 201 .

リジッドプリント配線板110には、コネクタ112が実装されている。コネクタ112は、リジッドプリント配線板110に含まれる導体で半導体装置111に電気的に接続される。コネクタ112には、配線板200の端201が装着されている。これにより、配線板200は、リジッドプリント配線板110、即ち半導体装置111に電気的に接続されている。 A connector 112 is mounted on the rigid printed wiring board 110 . Connector 112 is electrically connected to semiconductor device 111 by a conductor included in rigid printed wiring board 110 . An end 201 of wiring board 200 is attached to connector 112 . Thus, wiring board 200 is electrically connected to rigid printed wiring board 110 , that is, semiconductor device 111 .

リジッドプリント配線板120には、コネクタ122が実装されている。コネクタ122は、リジッドプリント配線板120に含まれる導体で半導体装置121に電気的に接続される。コネクタ122には、配線板200の端202が装着されている。これにより、配線板200は、リジッドプリント配線板120、即ち半導体装置121に電気的に接続されている。 A connector 122 is mounted on the rigid printed wiring board 120 . Connector 122 is electrically connected to semiconductor device 121 by a conductor included in rigid printed wiring board 120 . An end 202 of the wiring board 200 is attached to the connector 122 . Thus, wiring board 200 is electrically connected to rigid printed wiring board 120 , that is, semiconductor device 121 .

以上の構成により、半導体装置111と半導体装置121とは、リジッドプリント配線板110、配線板200及びリジッドプリント配線板120を介して、互いに通信可能に電気的に接続されている。 With the above configuration, the semiconductor devices 111 and 121 are electrically connected via the rigid printed wiring board 110, the wiring board 200, and the rigid printed wiring board 120 so as to be able to communicate with each other.

図2(b)は、図2(a)のIIB-IIB線に沿う配線板200の断面図である。図2(b)に示すように、配線板200は、配線板本体210と、導電層251と、導電層252と、絶縁層243と、絶縁層244とを有する。配線板本体210は、絶縁体部230と、上述した複数の信号線22とを含む。 FIG. 2(b) is a cross-sectional view of wiring board 200 taken along line IIB-IIB in FIG. 2(a). As shown in FIG. 2B, wiring board 200 has wiring board body 210 , conductive layer 251 , conductive layer 252 , insulating layer 243 , and insulating layer 244 . Wiring board body 210 includes an insulator portion 230 and a plurality of signal lines 22 described above.

絶縁体部230は、電気絶縁性を有する物質で構成されている。各信号線22は、導電性を有する物質で構成されている。絶縁体部230及び複数の信号線22は、X方向に延びて形成されている。複数の信号線22は、絶縁体部230の内部にY方向に間隔をあけて配置されている。なお、図2(b)には、複数の信号線22のうちの一対の信号線22を図示している。一対の信号線22で差動信号線220が構成されている。絶縁体部230は、シート状に形成されており、一対の主面231,232を有する。主面231は、第1主面の一例であり、主面232は、第2主面の一例である。 The insulator portion 230 is made of an electrically insulating material. Each signal line 22 is made of a conductive material. The insulator portion 230 and the plurality of signal lines 22 are formed extending in the X direction. The plurality of signal lines 22 are arranged inside the insulator portion 230 at intervals in the Y direction. Note that FIG. 2B shows a pair of signal lines 22 out of the plurality of signal lines 22 . A pair of signal lines 22 constitute a differential signal line 220 . The insulator portion 230 is formed in a sheet shape and has a pair of main surfaces 231 and 232 . The principal surface 231 is an example of a first principal surface, and the principal surface 232 is an example of a second principal surface.

絶縁体部230は、絶縁層241と、絶縁層242と、を有する。絶縁層241は、主面2411と、主面2411とは反対側の主面2412と、を有する。絶縁層241の主面2411上には、複数の信号線22が設けられている。 The insulator section 230 has an insulating layer 241 and an insulating layer 242 . The insulating layer 241 has a major surface 2411 and a major surface 2412 opposite to the major surface 2411 . A plurality of signal lines 22 are provided on the main surface 2411 of the insulating layer 241 .

導電層251は、どの部材にも電気的に接続されていなくてもよいが、本実施形態では、グラウンド線の一部となっている。即ち、導電層251は、リジッドプリント配線板110,120のグラウンド線と電気的に接続されている。これにより、導電層251には、信号線22を通過する信号のリターン電流が流れる。同様に、導電層252は、どの部材にも電気的に接続されていなくてもよいが、本実施形態では、グラウンド線の一部となっている。即ち、導電層252は、リジッドプリント配線板110,120のグラウンド線と電気的に接続されている。 The conductive layer 251 may not be electrically connected to any member, but is part of the ground line in this embodiment. That is, the conductive layer 251 is electrically connected to ground lines of the rigid printed wiring boards 110 and 120 . As a result, the return current of the signal passing through the signal line 22 flows through the conductive layer 251 . Similarly, conductive layer 252 may not be electrically connected to any member, but is part of the ground line in this embodiment. That is, the conductive layer 252 is electrically connected to the ground lines of the rigid printed wiring boards 110,120.

ところで、差動信号線に伝送される正相信号を伝送する信号線と逆相信号を伝送する信号線との平均長が異なると、差動信号の一部がコモンモード信号に変わるモード変換が発生し、コモンモードノイズが誘発される。コモンモードノイズが配線板200上で共振すると、コモンモードノイズの周波数で大きな放射ノイズが発生する。 By the way, if the average length of the signal line that transmits the positive-phase signal and the signal line that transmits the negative-phase signal that are transmitted to the differential signal line is different, mode conversion occurs in which part of the differential signal changes to a common-mode signal. occurs and induces common mode noise. When common mode noise resonates on wiring board 200, large radiation noise occurs at the frequency of the common mode noise.

また、近年の通信データの大容量化に伴い、差動信号線には、例えば、5Gbps(Giga Bits Per Second)以上といったGbpsオーダーの高速の伝送速度となる差動信号が伝送される。信号の伝送速度R[bps]と信号の周波数f[Hz]との間には、R=2fの関係が成り立つ。一般に、伝送される差動信号の周波数が高くなるほど、伝送線路を流れる電流の時間変化量が大きくなるため、発生する放射ノイズ量は増加する。発生した放射ノイズの周波数が無線通信装置の通信周波数帯に近いと、無線通信ICがアンテナを介してPC又は無線ルータなどの外部機器と無線通信を行う際に、通信データにその放射ノイズが重畳してしまうことがある。 In addition, with the recent increase in the capacity of communication data, differential signals with a high transmission speed on the order of Gbps, such as 5 Gbps (Giga Bits Per Second) or higher, are transmitted to differential signal lines. A relationship of R=2f holds between the signal transmission speed R [bps] and the signal frequency f [Hz]. In general, the higher the frequency of the differential signal to be transmitted, the greater the amount of change over time in the current flowing through the transmission line, resulting in an increase in the amount of generated radiation noise. If the frequency of the generated radiation noise is close to the communication frequency band of the wireless communication device, the radiation noise will be superimposed on the communication data when the wireless communication IC performs wireless communication with an external device such as a PC or a wireless router through the antenna. Sometimes I end up doing it.

そこで、本実施形態では、導電層251は、絶縁体部230の主面231に配置され、導電層252は、絶縁体部230の主面232に配置されている。即ち、複数の信号線22は、絶縁体部230を介して導電層251および導電層252に挟まれて配置されている。また、導電層252の表面抵抗率は、導電層251の表面抵抗率よりも大きい。また、Z方向に視て、各信号線22は、導電層251,252と重なるように配線されている。なお、Z方向は、主面231,232と垂直な方向でもある。 Therefore, in the present embodiment, the conductive layer 251 is arranged on the principal surface 231 of the insulator portion 230 and the conductive layer 252 is arranged on the principal surface 232 of the insulator portion 230 . That is, the plurality of signal lines 22 are sandwiched between the conductive layers 251 and 252 with the insulator portion 230 interposed therebetween. Also, the surface resistivity of the conductive layer 252 is higher than the surface resistivity of the conductive layer 251 . Further, each signal line 22 is wired so as to overlap with the conductive layers 251 and 252 when viewed in the Z direction. Note that the Z direction is also the direction perpendicular to the main surfaces 231 and 232 .

以上の構成により、信号伝送時、信号のリターン電流は相対的に表面抵抗率が低い導電層251に流れやすくなる。よって、信号は導電層252の抵抗損失の影響を受けにくくなる。したがって、配線板200を通過する信号において、良好な伝送特性を発揮できる。 With the above configuration, during signal transmission, the return current of the signal can easily flow through the conductive layer 251 having a relatively low surface resistivity. Thus, the signal is less susceptible to resistive losses in conductive layer 252 . Therefore, the signal passing through wiring board 200 can exhibit good transmission characteristics.

一方、信号線22にノイズ電流が流れた場合、導電層251のリターン電流による電磁界で相殺しきれなかったノイズ電流が、導電層252にも流れることで、信号線22のノイズ電流を直接減衰させることができ、高いノイズ抑制効果を発揮できる。 On the other hand, when a noise current flows through the signal line 22, the noise current that cannot be canceled by the electromagnetic field generated by the return current of the conductive layer 251 also flows through the conductive layer 252, thereby directly attenuating the noise current of the signal line 22. It is possible to achieve a high noise suppression effect.

信号線22と導電層251とのZ方向の第1間隔である間隔D1は、信号線22と導電層252とのZ方向の第2間隔である間隔D2よりも狭いことが好ましい。これにより、信号伝送時に導電層251により多くのリターン電流が流れ、信号が導電層252の抵抗損失を受けにくくなり、良好な伝送特性を発揮することができる。 It is preferable that the spacing D1, which is the first spacing in the Z direction between the signal line 22 and the conductive layer 251, be narrower than the spacing D2, which is the second spacing in the Z direction between the signal line 22 and the conductive layer 252. As a result, more return current flows through the conductive layer 251 during signal transmission, and the signal is less susceptible to resistance loss of the conductive layer 252, so that excellent transmission characteristics can be exhibited.

更に、差動信号線220における一対の信号線22のY方向の第3間隔である間隔をDDとすると、D1<DD<D2であることが好ましい。即ち、信号線22と導電層251とのZ方向の間隔D1は、差動信号線220における一対の信号線22のY方向の間隔DDよりも狭いことが好ましい。これにより、各信号線22が導電層251に近接して配置されることになり、導電層251により多くのリターン電流が流れることになり、より良好な伝送特性を発揮することができる。 Furthermore, if DD is the third distance between the pair of signal lines 22 in the differential signal line 220 in the Y direction, it is preferable that D1<DD<D2. That is, the Z-direction spacing D1 between the signal line 22 and the conductive layer 251 is preferably narrower than the Y-direction spacing DD between the pair of signal lines 22 in the differential signal line 220 . As a result, each signal line 22 is arranged close to the conductive layer 251, allowing more return current to flow through the conductive layer 251, thereby exhibiting better transmission characteristics.

次に、絶縁層241について詳細に説明する。配線板200がフレキシブル配線板である場合、絶縁層241の材質は、樹脂であることが好ましい。樹脂としては、例えば、ポリイミド、ポリアミド、ポリアミドイミド等のポリイミド系樹脂、エポキシ等の熱硬化性樹脂や液晶ポリマー等の熱可塑性樹脂が挙げられる。これらの中でもポリイミドまたは液晶ポリマーが好ましい。ポリイミドは、耐熱性や機械特性に優れ、かつ商業的に入手するのが容易である。また、液晶ポリマーは、比誘電率が低いため高速信号伝送用途に好適であり、かつ、吸湿性が低く寸法安定性に優れる。 Next, the insulating layer 241 will be described in detail. When wiring board 200 is a flexible wiring board, the material of insulating layer 241 is preferably resin. Examples of resins include polyimide-based resins such as polyimide, polyamide, and polyamide-imide, thermosetting resins such as epoxy, and thermoplastic resins such as liquid crystal polymers. Among these, polyimide or liquid crystal polymer is preferred. Polyimide has excellent heat resistance and mechanical properties, and is easily commercially available. Liquid crystal polymers are suitable for high-speed signal transmission applications because of their low relative permittivity, and their low hygroscopicity and excellent dimensional stability.

絶縁層241のZ方向の厚さは、10μm以上100μm以下が好ましい。絶縁層241のZ方向の厚さが10μm以上であることで、信号線22と導電層251との離間距離を確保することができ、信号線22における特性インピーダンスが変更されるのを抑制することができる。また、絶縁層241のZ方向の厚さが100μm以下であることで、絶縁層241における剛性を低くすることができ、フレキシブルプリント配線板において十分な可撓性が得られる。以上の観点から、絶縁層241のZ方向の厚さは、12μm以上75μm以下がより好ましい。 The thickness of the insulating layer 241 in the Z direction is preferably 10 μm or more and 100 μm or less. Since the thickness of the insulating layer 241 in the Z direction is 10 μm or more, the separation distance between the signal line 22 and the conductive layer 251 can be secured, and the characteristic impedance of the signal line 22 can be suppressed from being changed. can be done. Moreover, since the thickness of the insulating layer 241 in the Z direction is 100 μm or less, the rigidity of the insulating layer 241 can be reduced, and sufficient flexibility can be obtained in the flexible printed wiring board. From the above point of view, the thickness of the insulating layer 241 in the Z direction is more preferably 12 μm or more and 75 μm or less.

なお、配線板200がリジッド配線板である場合、絶縁層241の材質は、繊維基材であることが好ましい。繊維基材としては、例えば、ガラス繊布、ガラス不繊布等のガラス繊維基材、又はガラス以外の無機化合物を成分とする繊布若しくは不繊布等の無機繊維基材が挙げられる。また、繊維基材としては、芳香族ポリアミド、ポリアミド、芳香族ポリエステル、ポリエステル、ポリイミド、フッ素樹脂等の有機繊維で構成される有機繊維基材が挙げられる。これらの中でも強度に優れ、吸水が少ないという観点でガラス繊維基材が好ましい。 In addition, when wiring board 200 is a rigid wiring board, the material of insulating layer 241 is preferably a fiber base material. Examples of the fiber base material include glass fiber base materials such as glass woven fabric and glass non-woven fabric, and inorganic fiber base materials such as woven fabric or non-woven fabric containing an inorganic compound other than glass as a component. Examples of fiber base materials include organic fiber base materials composed of organic fibers such as aromatic polyamide, polyamide, aromatic polyester, polyester, polyimide, and fluororesin. Among these, glass fiber substrates are preferable from the viewpoint of excellent strength and low water absorption.

次に、各信号線22について詳細に説明する。一対の信号線22で構成される差動信号線220には、画像データを示すデジタル信号であるデータ信号が伝送される。各信号線22の製造方法は特に限定されないが、例えば金属箔の貼合せ、金属メッキ、インクジェットプロセス等の方法により信号線22を形成することができる。金属箔として銅箔を用いる場合は、接着剤等で貼り合わせたフィルムを用い、フォトリソ・エッチングプロセスで必要な伝送線路パターンを形成することができる。また、インクジェットプロセスを用いる場合は、導電性を有する金属粒子を含む高分子インクを必要なパターンに描画し、絶縁層241のガラス転移点(Tg)以下の温度で当該パターンを焼成して形成できる。各信号線22の厚さは特に限定されないが、例えば、0.1μm以上20μm以下であることが好ましい。 Next, each signal line 22 will be described in detail. A data signal, which is a digital signal representing image data, is transmitted to a differential signal line 220 formed by a pair of signal lines 22 . The method of manufacturing each signal line 22 is not particularly limited, but the signal line 22 can be formed by, for example, lamination of metal foil, metal plating, an inkjet process, or the like. When a copper foil is used as the metal foil, a film bonded with an adhesive or the like can be used, and the required transmission line pattern can be formed by a photolithographic etching process. In the case of using an inkjet process, polymer ink containing conductive metal particles is drawn in a required pattern, and the pattern can be formed by baking the pattern at a temperature below the glass transition point (Tg) of the insulating layer 241. . Although the thickness of each signal line 22 is not particularly limited, it is preferably 0.1 μm or more and 20 μm or less, for example.

次に、絶縁層242について詳細に説明する。絶縁層242は、絶縁層241の主面2411上及び複数の信号線22上に設けられている。絶縁層242は、接着部2421および被覆部2422を含む。複数の信号線22上に、接着部2421および被覆部2422の順で積層されている。 Next, the insulating layer 242 will be described in detail. The insulating layer 242 is provided on the main surface 2411 of the insulating layer 241 and on the plurality of signal lines 22 . Insulating layer 242 includes adhesive portion 2421 and covering portion 2422 . The bonding portion 2421 and the covering portion 2422 are laminated in this order on the plurality of signal lines 22 .

接着部2421は、電気絶縁性が高いことが好ましい。接着部2421は、接着剤の硬化物である。接着部2421を形成するのに用いられる接着剤として、例えばアクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)系接着剤、ポリアミド系接着剤、ポリエステル系接着剤、アクリル系接着剤、ポリエステルポリウレタン系接着剤、シリコーン系接着剤が挙げられる。 It is preferable that the adhesive part 2421 has high electrical insulation. The adhesive portion 2421 is a hardened adhesive. Examples of adhesives used to form the adhesive portion 2421 include acrylonitrile-butadiene rubber (NBR)-based adhesives, polyamide-based adhesives, polyester-based adhesives, acrylic-based adhesives, polyester-polyurethane-based adhesives, and silicone-based adhesives. is mentioned.

接着部2421のZ方向の厚さは、特に限定されないが、伝送線路である各信号線22を十分に被覆でき、かつ、平滑になることが好ましい。具体的には、接着部2421のZ方向の厚さは、2μm以上50μm以下であることが好ましい。接着部2421の厚さが2μm以上であると、接着剤の信号線22間への埋め込みが十分となり、接着部2421により強固に接着することができる。また、接着部2421の厚さが50μm以下であると、絶縁層241と被覆部2422と間から側方へ接着剤が染み出すのを抑制することができる。以上の観点から、接着部2421のZ方向の厚さは、5μm以上30μm以下であることがより好ましい。 Although the thickness of the bonding portion 2421 in the Z direction is not particularly limited, it is preferable that the bonding portion 2421 can sufficiently cover the signal lines 22 that are transmission lines and be smooth. Specifically, the thickness of the bonding portion 2421 in the Z direction is preferably 2 μm or more and 50 μm or less. When the thickness of the adhesive portion 2421 is 2 μm or more, the adhesive can be sufficiently embedded between the signal lines 22, and the adhesive portion 2421 can be firmly attached. Further, when the thickness of the adhesive part 2421 is 50 μm or less, it is possible to suppress the adhesive from seeping out from between the insulating layer 241 and the covering part 2422 to the side. From the above point of view, it is more preferable that the thickness of the bonding portion 2421 in the Z direction is 5 μm or more and 30 μm or less.

接着部2421の形成方法は特に限定されないが、例えばシート状の接着剤を貼り合わせて硬化させる方法、液状の接着剤をディスペンサまたは印刷法等により塗布して熱または紫外線によって硬化させる方法などが挙げられる。 The method of forming the adhesive part 2421 is not particularly limited, but examples include a method of bonding sheet-like adhesives together and curing, a method of applying a liquid adhesive by a dispenser or a printing method, and a method of curing with heat or ultraviolet rays. be done.

次に、被覆部2422について詳細に説明する。被覆部2422は、電気絶縁性及び可撓性を有するプラスチックからなるカバーフィルムと、絶縁樹脂からなるコーティング層で構成される。 Next, the covering portion 2422 will be described in detail. The covering portion 2422 is composed of a cover film made of electrically insulating and flexible plastic and a coating layer made of insulating resin.

カバーフィルムとしては、いわゆるエンジニアリングプラスチックを使用することが好ましい。即ちカバーフィルムに用いられるプラスチックとしては、例えば、ポリプロピレン、架橋ポリエチレン、ポリエステル、ポリベンゾイミダゾール、ポリアミド、ポリイミド、ポリイミドアミド、ポリエーテルイミドが挙げられる。また、カバーフィルムに用いられるプラスチックとしては、例えば、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)が挙げられる。低コストという観点においては、ポリエステルフィルムが好ましい。難燃性に優れるという観点においては、ポリフェニレンサルファイドフィルムを用いることが好ましい。さらに耐熱性が要求される場合には、アラミドフィルムやポリイミドフィルムを使用することが好ましい。 A so-called engineering plastic is preferably used as the cover film. Examples of plastics used for the cover film include polypropylene, crosslinked polyethylene, polyester, polybenzimidazole, polyamide, polyimide, polyimideamide, and polyetherimide. Plastics used for cover films include, for example, polyphenylene sulfide (PPS), polyethylene naphthalate (PEN), and polyetheretherketone (PEEK). From the viewpoint of low cost, a polyester film is preferred. From the viewpoint of excellent flame retardancy, it is preferable to use a polyphenylene sulfide film. If further heat resistance is required, it is preferable to use an aramid film or a polyimide film.

絶縁樹脂としては、電気絶縁性を有する樹脂であればよく、例えば、熱硬化性樹脂又は紫外線硬化性樹脂などが挙げられる。熱硬化性樹脂としては、フェノール樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、メラミン樹脂、シリコーン樹脂、アクリル変性シリコーン樹脂などが挙げられる。紫外線硬化性樹脂としては、エポキシアクリレート樹脂、ポリエステルアクリレート樹脂、及びそれらのメタクリレート変性品などが挙げられる。なお、硬化形態としては、熱硬化、紫外線硬化、電子線硬化などいずれでもよい。また、必要に応じて、着色顔料や、難燃剤、酸化防止剤、潤滑剤、脱塵防止剤、硬化促進剤等の、その他の添加剤を配合してもよい。 The insulating resin may be any resin having electrical insulating properties, and examples thereof include thermosetting resins and ultraviolet curable resins. Thermosetting resins include phenol resins, acrylic resins, epoxy resins, melamine resins, silicone resins, and acrylic-modified silicone resins. Examples of ultraviolet curable resins include epoxy acrylate resins, polyester acrylate resins, and methacrylate-modified products thereof. The curing mode may be heat curing, ultraviolet curing, electron beam curing, or the like. Further, if necessary, other additives such as a coloring pigment, a flame retardant, an antioxidant, a lubricant, an antidust agent, and a curing accelerator may be blended.

被覆部2422の形成方法は特に限定されず、絶縁樹脂をカバーフィルムにコーティングする際には、以下の方法で実施できる。例えば絶縁性樹脂を溶媒に溶解させた溶解液を、グラビアコート方式、キスコート方式、ダイコート方式、ブレード方式、ロールコート方式、ナイフコート方式、スプレーコート方式、バーコート方式、スピンコート方式、ディップコート方式で塗工できる。溶媒は、使用する樹脂の種類により適宜選択できる。例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン系溶媒、メタノール、エタノール、プロパノール、エチレングリコール、グリセリン、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのアルコール系溶媒を用いることができる。また、例えば、酢酸などの酸、ホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドンなどのアミド系溶媒、アセトニトリル、プロピロニトリルなどのニトリル系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチルなどのエステル系溶媒を用いることができる。また、例えば、ジメチルカーボネート、ジエチルカーボネートなどのカーボネート系溶媒なども用いることができる。塗工の際、必要に応じて溶媒を揮発させるための、加熱工程あるいは乾燥工程を設けてもよい。加熱及び乾燥は、熱風乾燥機及び赤外線ヒーター等、加熱装置及び乾燥装置が使用でき、加熱温度及び乾燥温度や加熱時間及び乾燥時間は、適宜選択できる。 The method of forming the covering portion 2422 is not particularly limited, and the following method can be used when coating the insulating resin on the cover film. For example, a solution obtained by dissolving an insulating resin in a solvent is applied to gravure coating, kiss coating, die coating, blade coating, roll coating, knife coating, spray coating, bar coating, spin coating, and dip coating. can be coated with The solvent can be appropriately selected depending on the type of resin used. For example, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, and alcohol solvents such as methanol, ethanol, propanol, ethylene glycol, glycerin and propylene glycol monomethyl ether can be used. Further, for example, acids such as acetic acid, amide solvents such as formamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone, nitrile solvents such as acetonitrile and propylonitrile, and ester solvents such as methyl acetate and ethyl acetate can be used. . Carbonate-based solvents such as dimethyl carbonate and diethyl carbonate can also be used. During coating, a heating step or a drying step may be provided for volatilizing the solvent, if necessary. For heating and drying, a heating device and a drying device such as a hot air dryer and an infrared heater can be used, and the heating temperature, drying temperature, heating time and drying time can be appropriately selected.

被覆部2422のZ方向の厚さは、5μm以上50μm以下であることが好ましい。被覆部2422のZ方向の厚さが5μm以上であると、被覆部2422において十分な強度を確保することができる。被覆部2422のZ方向の厚さが50μm以下であると、摺動性や屈曲性が向上する。以上の観点から、被覆部2422のZ方向の厚さは、10μm以上30μm以下であることがより好ましい。また、被覆部2422の体積抵抗値は、10Ω・cm以上が好ましく、1013Ω・cm以上であることがより好ましい。なお、被覆部2422が絶縁層241および複数の信号線22と接着できる機能を有していれば、接着部2421を省略してもよい。 The Z-direction thickness of the covering portion 2422 is preferably 5 μm or more and 50 μm or less. When the Z-direction thickness of the covering portion 2422 is 5 μm or more, sufficient strength can be ensured in the covering portion 2422 . When the Z-direction thickness of the covering portion 2422 is 50 μm or less, slidability and flexibility are improved. From the above point of view, it is more preferable that the thickness of the covering portion 2422 in the Z direction is 10 μm or more and 30 μm or less. Moreover, the volume resistivity of the covering portion 2422 is preferably 10 9 Ω·cm or more, more preferably 10 13 Ω·cm or more. Note that if the covering portion 2422 has a function of adhering to the insulating layer 241 and the plurality of signal lines 22, the adhesion portion 2421 may be omitted.

次に、導電層251について詳細に説明する。導電層251は、以下の印刷方法により導電性樹脂組成物を絶縁層241上に印刷することで形成することができる。印刷方法としては、例えば、グラビア印刷、マイクログラビア印刷、フレキソ印刷、スクリーン印刷、インクジェット印刷、ディスペンサ印刷が挙げられる。また、その他の印刷方法としては、例えば、スプレーコート、スピンコート、ダイコート、リップコート、ナイフコート、ディップコート、カーテンコート、ロールコート、バーコートなどが挙げられる。 Next, the conductive layer 251 will be described in detail. The conductive layer 251 can be formed by printing a conductive resin composition on the insulating layer 241 by the following printing method. Examples of printing methods include gravure printing, microgravure printing, flexographic printing, screen printing, inkjet printing, and dispenser printing. Other printing methods include, for example, spray coating, spin coating, die coating, lip coating, knife coating, dip coating, curtain coating, roll coating, and bar coating.

なお、導電層251を構成する金属は、銅、アルミニウム、ニッケル、鉄、金、銀、白金、タングステン、クロム、チタン、スズ、鉛、パラジウムなどが挙げられ、それらの1種または2種以上の組み合わせでもよい。これらのうち、導電性及び低コストの観点から、銀または銅が好ましい。 Note that examples of the metal forming the conductive layer 251 include copper, aluminum, nickel, iron, gold, silver, platinum, tungsten, chromium, titanium, tin, lead, and palladium. A combination may be used. Among these, silver or copper is preferable from the viewpoint of conductivity and low cost.

屈曲耐性の観点から、導電層251のZ方向の厚さは、1μm以上であることが好ましく、5μm以上であることがより好ましい。 From the viewpoint of bending resistance, the thickness of the conductive layer 251 in the Z direction is preferably 1 μm or more, more preferably 5 μm or more.

導電層251の表面抵抗率は、1Ω/□以下であることが好ましい。導電層251の表面抵抗率が1Ω/□以下であると、信号伝送時のリターン電流が受ける抵抗損失が小さくなり、伝送特性が更に向上する。以上の観点から、導電層251の表面抵抗率は、0.1Ω/□以下であることが好ましい。なお、表面抵抗率は、シート抵抗ともいう。 The surface resistivity of the conductive layer 251 is preferably 1Ω/□ or less. When the surface resistivity of the conductive layer 251 is 1 Ω/□ or less, the resistance loss received by the return current during signal transmission is reduced, and the transmission characteristics are further improved. From the above point of view, the surface resistivity of the conductive layer 251 is preferably 0.1Ω/□ or less. The surface resistivity is also called sheet resistance.

次に、導電層252について詳細に説明する。導電層252は、絶縁層242上に設けられている。導電層252には、導電性フィラーを、バインダーとなる樹脂組成物に混ぜ込んで構成される導電性樹脂組成物が用いられる。 Next, the conductive layer 252 will be described in detail. The conductive layer 252 is provided over the insulating layer 242 . The conductive layer 252 is made of a conductive resin composition in which a conductive filler is mixed with a binder resin composition.

樹脂組成物は、導電性フィラーを含有する機能と、絶縁層242と密着し得る機能が求められるため、熱硬化性樹脂、及びUV硬化性樹脂が好ましい。熱硬化性樹脂としては、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹脂、アミノ樹脂、アルキッド樹脂、ウレタン樹脂、合成ゴム、UV硬化アクリレート樹脂が挙げられる。また、UV硬化型樹脂としては、フリーラジカル付加重合が可能な又は架橋可能なエチレン性不飽和基を有する化合物が挙げられる。その化合物は、1以上のエチレン性不飽和基、例えばビニル基若しくはアリル基を有するモノマー、オリゴマー、または末端若しくは側鎖にエチレン性不飽和基を有するポリマーである。その化合物として、例えば、アクリル酸及びその塩、アクリル酸エステル類、アクリルアミド類、メタクリル酸及びその塩、メタクリル酸エステル類、メタクリルアミド類、無水マレイン酸、マレイン酸エステル類が挙げられる。また、その化合物として、例えば、イタコン酸エステル類、スチレン類、ビニルエーテル類、ビニルエステル類、N-ビニル複素環類、アリルエーテル類、アリルエステル類が挙げられる。また、その化合物として、例えば、これらの誘導体などが挙げられる。樹脂組成物に可撓性を付与するために、樹脂組成物にゴム成分、例えばカルボキシル変性ニトリルゴムや、粘着付与剤等を含ませてもよい。また、樹脂組成物の強度を高めるため、樹脂組成物にセルロース樹脂、ミクロフィブリル(ガラス繊維等)を含ませてもよい。 Since the resin composition is required to have a function of containing a conductive filler and a function of being able to adhere to the insulating layer 242, a thermosetting resin and a UV curable resin are preferable. Thermosetting resins include, for example, epoxy resins, phenolic resins, amino resins, alkyd resins, urethane resins, synthetic rubbers, and UV curable acrylate resins. UV curable resins also include compounds having ethylenically unsaturated groups capable of free radical addition polymerization or crosslinkable. The compounds are monomers, oligomers, or polymers with terminal or side chain ethylenically unsaturated groups having one or more ethylenically unsaturated groups, such as vinyl or allyl groups. Examples of such compounds include acrylic acid and its salts, acrylic acid esters, acrylamides, methacrylic acid and its salts, methacrylic acid esters, methacrylamides, maleic anhydride and maleic acid esters. Examples of such compounds include itaconic acid esters, styrenes, vinyl ethers, vinyl esters, N-vinyl heterocycles, allyl ethers, and allyl esters. Further, examples of the compounds include derivatives thereof. In order to impart flexibility to the resin composition, the resin composition may contain a rubber component such as carboxyl-modified nitrile rubber, a tackifier, or the like. Moreover, in order to increase the strength of the resin composition, the resin composition may contain a cellulose resin or microfibrils (glass fiber or the like).

導電性フィラーは、導電性を付与するためのフィラーである。導電性フィラーは、金属、導電性金属酸化物、炭素材料などが挙げられ、それらの1種または2種以上の組み合わせでもよい。金属としては、例えば、金、ニッケル、錫、鉛、亜鉛、チタン、ビスマス、アンチモン、及びこれらを合金化した金属粉などが挙げられる。導電性金属酸化物としては、例えば、酸化亜鉛、酸化スズ、酸化インジウムが挙げられる。炭素材料としては、例えば、カーボンブラック、カーボンファイバー、カーボンナノチューブ、カーボンナノコイルが挙げられる。 A conductive filler is a filler for imparting conductivity. Examples of conductive fillers include metals, conductive metal oxides, carbon materials, and the like, and one or a combination of two or more thereof may be used. Examples of metals include gold, nickel, tin, lead, zinc, titanium, bismuth, antimony, and metal powders obtained by alloying these. Examples of conductive metal oxides include zinc oxide, tin oxide, and indium oxide. Examples of carbon materials include carbon black, carbon fibers, carbon nanotubes, and carbon nanocoils.

導電層252は、以下の印刷方法により導電性樹脂組成物を絶縁層242上に印刷することで形成することができる。印刷方法としては、例えば、グラビア印刷、マイクログラビア印刷、フレキソ印刷、スクリーン印刷、インクジェット印刷、ディスペンサ印刷が挙げられる。また、その他の印刷方法としては、例えば、スプレーコート、スピンコート、ダイコート、リップコート、ナイフコート、ディップコート、カーテンコート、ロールコート、バーコートなどが挙げられる。 The conductive layer 252 can be formed by printing a conductive resin composition on the insulating layer 242 by the following printing method. Examples of printing methods include gravure printing, microgravure printing, flexographic printing, screen printing, inkjet printing, and dispenser printing. Other printing methods include, for example, spray coating, spin coating, die coating, lip coating, knife coating, dip coating, curtain coating, roll coating, and bar coating.

導電層252のZ方向の厚さは、0.1μm以上100μm以下であることが好ましい。導電層252のZ方向の厚さが0.1μm以上であると、導電層252の屈曲による耐久性が向上し、ノイズ抑制効果が更に向上する。導電層252のZ方向の厚さが100μm以下であることにより、配線板200を薄型にでき、配線板200の柔軟性が更に向上する。以上の観点から、導電層252のZ方向の厚さは、1μm以上50μm以下であることが好ましい。 The thickness of the conductive layer 252 in the Z direction is preferably 0.1 μm or more and 100 μm or less. When the thickness of the conductive layer 252 in the Z direction is 0.1 μm or more, the durability against bending of the conductive layer 252 is improved, and the noise suppressing effect is further improved. Since the thickness of the conductive layer 252 in the Z direction is 100 μm or less, the wiring board 200 can be made thinner, and the flexibility of the wiring board 200 is further improved. From the above point of view, the thickness of the conductive layer 252 in the Z direction is preferably 1 μm or more and 50 μm or less.

導電層252の表面抵抗率は、ノイズ電流を層内に吸収しやすく、層内部で減衰させやすい、10Ω/□以上10000Ω/□以下が好ましく、10Ω/□以上1000Ω/□以下がより好ましい。 The surface resistivity of the conductive layer 252 is preferably 10 Ω/□ or more and 10000 Ω/□ or less, more preferably 10 Ω/□ or more and 1000 Ω/□ or less so that noise current can be easily absorbed and attenuated inside the layer.

絶縁層243,244について詳細に説明する。導電層251の上には、絶縁層243が設けられている。導電層252の上には絶縁層244が設けられている。各絶縁層243,244は、配線板200が筐体611内の他の部品に接触した際に各導電層251,252が他の部品と導通するのを防止するためのものであり、電気絶縁性を有する材料で構成される。各絶縁層243,244は、可撓性を有する必要があるため、樹脂材料で構成されるのが好ましい。本実施形態では、各絶縁層243,244は、絶縁樹脂と、絶縁樹脂上に設けられたコーティング層とからなる。 The insulating layers 243 and 244 are described in detail. An insulating layer 243 is provided over the conductive layer 251 . An insulating layer 244 is provided over the conductive layer 252 . The insulating layers 243 and 244 are for preventing the conductive layers 251 and 252 from conducting to other parts when the wiring board 200 comes into contact with other parts in the housing 611. It is composed of materials with properties. Since each insulating layer 243, 244 needs to have flexibility, it is preferable to be made of a resin material. In this embodiment, each of the insulating layers 243 and 244 is composed of an insulating resin and a coating layer provided on the insulating resin.

絶縁樹脂としては、絶縁性を有する樹脂であればよく、例えば、熱硬化性樹脂又は紫外線硬化性樹脂などが挙げられる。熱硬化性樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、メラミン樹脂、シリコーン樹脂、アクリル変性シリコーン樹脂などが挙げられる。紫外線硬化性樹脂としては、例えば、エポキシアクリレート樹脂、ポリエステルアクリレート樹脂、及びそれらのメタクリレート変性品などが挙げられる。硬化形態としては、熱硬化、紫外線硬化、電子線硬化などいずれでもよく、硬化が達成されるものであればよい。また、必要に応じて、着色顔料や、難燃剤、酸化防止剤、潤滑剤、脱塵防止剤、硬化促進剤等の、その他の添加剤を配合してもよい。 The insulating resin may be any resin having insulating properties, and examples thereof include thermosetting resins and ultraviolet curable resins. Examples of thermosetting resins include phenol resins, acrylic resins, epoxy resins, melamine resins, silicone resins, and acrylic-modified silicone resins. Examples of ultraviolet curable resins include epoxy acrylate resins, polyester acrylate resins, and methacrylate-modified products thereof. The curing mode may be heat curing, ultraviolet curing, electron beam curing, or the like, as long as curing is achieved. Further, if necessary, other additives such as a coloring pigment, a flame retardant, an antioxidant, a lubricant, an antidust agent, and a curing accelerator may be blended.

コーティング層は、例えば、絶縁性樹脂を溶媒に溶解させた絶縁性樹脂溶解液を、以下の方式で塗工できる。例えば、グラビアコート方式、キスコート方式、ダイコート方式、リップコート方式、ブレード方式、ロールコート方式、ナイフコート方式、スプレーコート方式、バーコート方式、スピンコート方式、ディップコート方式が挙げられる。絶縁性樹脂を溶解させる溶媒は、使用する樹脂の種類により適宜選択できる。例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン系溶媒、メタノール、エタノール、プロパノール、エチレングリコール、グリセリン、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのアルコール系溶媒を用いることができる。また、例えば、酢酸などの酸、ホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドンなどのアミド系溶媒、アセトニトリル、プロピロニトリルなどのニトリル系溶媒、酢酸メチル、酢酸エチルなどのエステル系溶媒を用いることができる。また、例えば、ジメチルカーボネート、ジエチルカーボネートなどのカーボネート系溶媒などを用いることができる。塗工の際、必要に応じて溶媒を揮発させるための、加熱工程あるいは乾燥工程を設けてもよい。加熱及び乾燥は、熱風乾燥機及び赤外線ヒーター等、加熱装置及び乾燥装置が使用でき、加熱温度及び乾燥温度や加熱時間及び乾燥時間は、適宜選択できる。 For the coating layer, for example, an insulating resin solution obtained by dissolving an insulating resin in a solvent can be applied by the following method. Examples thereof include gravure coating, kiss coating, die coating, lip coating, blade coating, roll coating, knife coating, spray coating, bar coating, spin coating and dip coating. A solvent for dissolving the insulating resin can be appropriately selected depending on the type of resin to be used. For example, ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, and alcohol solvents such as methanol, ethanol, propanol, ethylene glycol, glycerin and propylene glycol monomethyl ether can be used. Further, for example, acids such as acetic acid, amide solvents such as formamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone, nitrile solvents such as acetonitrile and propylonitrile, and ester solvents such as methyl acetate and ethyl acetate can be used. . Further, for example, carbonate-based solvents such as dimethyl carbonate and diethyl carbonate can be used. During coating, a heating step or a drying step may be provided for volatilizing the solvent, if necessary. For heating and drying, a heating device and a drying device such as a hot air dryer and an infrared heater can be used, and the heating temperature, drying temperature, heating time and drying time can be appropriately selected.

絶縁層243のZ方向の厚さは特に限定されないが、5μm以上50μm以下であることが好ましい。絶縁層243のZ方向の厚さが5μm以上であると、絶縁層243において十分な強度を確保することができる。また、絶縁層243のZ方向の厚さが50μm以下であると、摺動性や屈曲性が向上する。以上の観点から、絶縁層243のZ方向の厚さは10μm以上30μm以下であることがより好ましい。 Although the thickness of the insulating layer 243 in the Z direction is not particularly limited, it is preferably 5 μm or more and 50 μm or less. When the thickness of the insulating layer 243 in the Z direction is 5 μm or more, sufficient strength can be secured in the insulating layer 243 . Moreover, when the thickness of the insulating layer 243 in the Z direction is 50 μm or less, the slidability and flexibility are improved. From the above point of view, it is more preferable that the thickness of the insulating layer 243 in the Z direction is 10 μm or more and 30 μm or less.

また、絶縁層243の体積抵抗値は、絶縁層243の電気絶縁性を高めるという観点から、10Ω・cm以上が好ましく、1013Ω・cm以上がより好ましい。これにより、絶縁層243は、配線板200が筐体611内の他の部品に接触した際に導電層251が他の部品と導通するのを効果的に防止することができる。よって、配線板200が無線通信ユニット150に接触しても、無線通信ユニット150おける通信が良好に維持される。 In addition, the volume resistance value of the insulating layer 243 is preferably 10 9 Ω·cm or more, more preferably 10 13 Ω·cm or more, from the viewpoint of enhancing the electrical insulation of the insulating layer 243 . Thereby, insulating layer 243 can effectively prevent conductive layer 251 from conducting to other parts when wiring board 200 contacts other parts in housing 611 . Therefore, even if wiring board 200 comes into contact with wireless communication unit 150, good communication is maintained in wireless communication unit 150. FIG.

筐体611内における無線通信ユニット150と配線板200の各部との位置関係について説明する。筐体611内において、無線通信ユニット150と導電層251との距離が、無線通信ユニット150と各信号線22との距離よりも短いことが好ましい。すなわち、導電層251は、各信号線22より無線通信ユニット150に近い位置に配置されることが好ましい。導電層251が各信号線22より無線通信ユニット150に近い位置にあることにより、無線通信ユニット150が行う無線通信の電波に、各信号線22から発生する放射ノイズが重畳することを抑制することができる。 The positional relationship between wireless communication unit 150 and each part of wiring board 200 in housing 611 will be described. The distance between the wireless communication unit 150 and the conductive layer 251 in the housing 611 is preferably shorter than the distance between the wireless communication unit 150 and each signal line 22 . That is, the conductive layer 251 is preferably arranged at a position closer to the wireless communication unit 150 than each signal line 22 . Since the conductive layer 251 is located closer to the wireless communication unit 150 than each signal line 22, radiation noise generated from each signal line 22 is suppressed from being superimposed on radio waves of wireless communication performed by the wireless communication unit 150. can be done.

以下、配線板200の製造方法の好適な例について詳細に説明する。図3(a)~図3(c)は、実施形態に係る配線板200の製造方法の一例を示す説明図である。 A preferred example of a method for manufacturing wiring board 200 will be described in detail below. 3A to 3C are explanatory diagrams showing an example of a method for manufacturing the wiring board 200 according to the embodiment.

まず、図3(a)に示すように、内部に配置された複数の信号線22が内部に配置された絶縁体部230を用意する。即ち、配線板本体210を用意する。次に、図3(b)に示すように、絶縁体部230の第1主面上である主面231上に、導電層251を形成する。導電層251の形成方法は、上述した通りである。次に、図3(c)に示すように、絶縁体部230の第2主面上である主面232上に、導電層252を形成する。なお、導電層251,252を形成する順番は、これに限定するものではなく、順番が逆であってもよい。次に、図3(d)に示すように、導電層251上に絶縁層243を形成し、導電層252上に絶縁層244を形成する。以上の製造方法により、配線板200が製造される。 First, as shown in FIG. 3(a), an insulator portion 230 in which a plurality of signal lines 22 are arranged is prepared. That is, the wiring board main body 210 is prepared. Next, as shown in FIG. 3B, a conductive layer 251 is formed on the principal surface 231, which is the first principal surface of the insulator portion 230. Next, as shown in FIG. The method for forming the conductive layer 251 is as described above. Next, as shown in FIG. 3C, a conductive layer 252 is formed on the principal surface 232, which is the second principal surface of the insulator portion 230. Next, as shown in FIG. The order of forming the conductive layers 251 and 252 is not limited to this, and the order may be reversed. Next, as shown in FIG. 3D, an insulating layer 243 is formed over the conductive layer 251, and an insulating layer 244 is formed over the conductive layer 252. Then, as shown in FIG. Wiring board 200 is manufactured by the manufacturing method described above.

(実施例)
次に、実施例、及び実施例と比較する比較例について説明する。実施例の配線板は、上記実施形態の配線板200に相当する。以下、実施例の配線板および比較例の配線板の放射ノイズおよび伝送特性について評価した。なお、表面抵抗率は、ダイアインスツルメンツ製ロレスタ-EP MCP-T360(測定プローブ MCP-TP03P)を用いて、JIS K7194に準拠して測定した。
(Example)
Next, examples and comparative examples to be compared with the examples will be described. The wiring board of the example corresponds to the wiring board 200 of the above embodiment. The radiation noise and transmission characteristics of the wiring boards of the examples and the wiring boards of the comparative examples were evaluated below. The surface resistivity was measured according to JIS K7194 using Loresta-EP MCP-T360 (measuring probe MCP-TP03P) manufactured by Dia Instruments.

(1)放射ノイズ測定
図4(a)は、実施例の配線板200及び比較例の配線板200Xの放射ノイズ量を測定するシステム300の説明図である。実施例の配線板200及び比較例の配線板200Xの放射ノイズ量を図4(a)に示すシステム300を用いて評価した。システム300は、信号発生器31と、オシロスコープ32と、スペクトラムアナライザ33と、スペクトラムアナライザ33に接続された近傍電界プローブ34と、一対の接続基板35とを備える。各接続基板35は、信号の入出力が可能な一対の端子を有する。信号発生器31には、Keysight社製のM8041Aを用いた。オシロスコープ32には、アジレントテクノロジーズ社製の92504Aを用いた。スペクトラムアナライザ33には、Keysight社製のE4440Aを用いた。近傍電界プローブ34には、ペン形状で長さ110mmのElectro metric社製のものを用いた。
(1) Radiation Noise Measurement FIG. 4A is an explanatory diagram of a system 300 for measuring radiation noise amounts of the wiring board 200 of the example and the wiring board 200X of the comparative example. The amount of radiation noise of the wiring board 200 of the example and the wiring board 200X of the comparative example was evaluated using the system 300 shown in FIG. 4(a). The system 300 comprises a signal generator 31 , an oscilloscope 32 , a spectrum analyzer 33 , a near field probe 34 connected to the spectrum analyzer 33 and a pair of connection boards 35 . Each connection board 35 has a pair of terminals capable of inputting and outputting signals. As the signal generator 31, M8041A manufactured by Keysight was used. As the oscilloscope 32, 92504A manufactured by Agilent Technologies was used. E4440A manufactured by Keysight was used as the spectrum analyzer 33 . As the near field probe 34, a pen-shaped probe with a length of 110 mm manufactured by Electrometric was used.

ここで、リファレンス用として、グランド層が無く、かつ差動信号線を含む不図示の配線板を用意した。不図示の配線板は、以下のようにして作製した。まず、厚さ25μmのポリイミドフィルム(東レ・デュポン(株)社製 カプトン100H)を基材とし、基材の一方の面に、厚さ12μmの銅箔を配線層として積層させた。その後、エッチング手法により、線幅140μm、線間隔55μmの全長100mmの差動伝送線路を作製した。次に、差導伝送線路の上に、厚さ12.5μmのポリイミドフィルムと、厚さ15μmのカバーレイ(ニッカン工業社製 CISV1215)を貼り付け、グランド層が無いリファレンス用の配線板を得た。 Here, for reference, a wiring board (not shown) having no ground layer and including differential signal lines was prepared. A wiring board (not shown) was manufactured as follows. First, a 25 μm-thick polyimide film (Kapton 100H manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.) was used as a substrate, and a 12 μm-thick copper foil was laminated as a wiring layer on one surface of the substrate. Thereafter, a differential transmission line having a line width of 140 μm, a line spacing of 55 μm, and a total length of 100 mm was fabricated by etching. Next, a 12.5 μm-thick polyimide film and a 15 μm-thick coverlay (CISV1215 manufactured by Nikkan Kogyo Co., Ltd.) were pasted on the differential transmission line to obtain a reference wiring board without a ground layer. .

次いで、この不図示の配線板を一対の接続基板35に接続した。信号発生器31を用いて、ビットレート5.3GbpsのデータパターンをPRBS23とした信号を不図示の配線板に送った。そして、コモンモード電圧の波形をオシロスコープ32で観測し、コモンモード電圧が150mVになるように入力振幅を調整した。 Next, this wiring board (not shown) was connected to a pair of connection boards 35 . Using the signal generator 31, a signal having a data pattern of 5.3 Gbps as PRBS23 was sent to a wiring board (not shown). Then, the waveform of the common mode voltage was observed with an oscilloscope 32, and the input amplitude was adjusted so that the common mode voltage was 150 mV.

次に、測定対象となる配線板200を一対の接続基板35に接続し、信号発生器31を用いて、ビットレート5.3GbpsのデータパターンをPRBS23とした信号を配線板200に送った。ここで、導電層が無いリファレンス用の配線板を用いて調整した入力振幅で信号を送った。配線板200から発生した5GHzの放射ノイズ36を近傍電界プローブ34で検出し、放射ノイズ量をスペクトラムアナライザ33で計測した。ここで、放射ノイズ量の計測方法について説明する。まず、配線板200から5mmの高さの地点に近傍電界プローブ34を設置した。導電層が形成された領域に規定した1mm間隔の複数の点を、近傍電界プローブ34で5回スキャンし、各点から得られた全てのデータの平均値を放射ノイズ量とした。 Next, the wiring board 200 to be measured was connected to the pair of connection boards 35 , and the signal generator 31 was used to send to the wiring board 200 a signal with a bit rate of 5.3 Gbps and a PRBS23 data pattern. Here, a signal was sent with an input amplitude adjusted using a reference wiring board without a conductive layer. 5 GHz radiation noise 36 generated from the wiring board 200 was detected by the near electric field probe 34 and the amount of radiation noise was measured by the spectrum analyzer 33 . Here, a method for measuring the amount of radiation noise will be described. First, the near field probe 34 was installed at a point 5 mm above the wiring board 200 . A plurality of points at intervals of 1 mm defined in the region where the conductive layer was formed was scanned five times with the near electric field probe 34, and the average value of all the data obtained from each point was taken as the amount of radiation noise.

放射ノイズ量が小さいほど、配線板200において放射ノイズ36が遮蔽されていることになる。なお、放射ノイズの測定は、温度25℃、相対湿度23~50%の雰囲気で、300kHz~20GHzの周波数範囲で測定を行った。以上、実施例の配線板200における放射ノイズ量の計測方法について説明したが、比較例の配線板200Xについても同様の方法で放射ノイズ量の計測を行った。 The smaller the amount of radiation noise, the more shielding the radiation noise 36 has on the wiring board 200 . The radiation noise was measured in an atmosphere with a temperature of 25° C. and a relative humidity of 23 to 50% in a frequency range of 300 kHz to 20 GHz. The method for measuring the amount of radiation noise in wiring board 200 of the example was described above, and the amount of radiation noise was measured in the same manner for wiring board 200X of the comparative example.

放射ノイズ量を、A,B,C,Dの4段階で評価した。Aは、16dBμV未満である。Bは、16dBμV以上、18dBμV未満である。Cは、18dBμV以上、20dBμV未満である。Dは、20dBμV以上である。計測数値が小さいほど放射ノイズ量が小さい。したがって、放射ノイズ量において、CはDよりも優れ、BはCよりも優れ、AはBよりも優れている。 The amount of radiation noise was evaluated in four stages of A, B, C, and D. A is less than 16 dBμV. B is greater than or equal to 16 dBμV and less than 18 dBμV. C is greater than or equal to 18 dBμV and less than 20 dBμV. D is 20 dBμV or more. The smaller the measured value, the smaller the amount of radiation noise. Therefore, C is superior to D, B is superior to C, and A is superior to B in terms of radiation noise amount.

(2)伝送特性(アイパターン)
図4(b)は、実施例の配線板200及び比較例の配線板200Xの伝送特性を評価するのに用いたシステム400の模式図である。このシステム400は、アジレントテクノロジーズ社製のM8041Aの信号発生器41と、アジレントテクノロジーズ社製の92504Aのオシロスコープ42と、1対の接続基板35とで構成される。図4(b)に示す構成のシステム400を用いて配線板200,200Xの伝送特性、即ち出力波形特性を評価した。各接続基板35は、信号の入出力が可能な一対の端子を有する。
(2) Transmission characteristics (eye pattern)
FIG. 4B is a schematic diagram of a system 400 used to evaluate the transmission characteristics of the wiring board 200 of the example and the wiring board 200X of the comparative example. This system 400 comprises an Agilent Technologies M8041A signal generator 41 , an Agilent Technologies 92504A oscilloscope 42 , and a pair of connection boards 35 . Using the system 400 configured as shown in FIG. 4B, the transmission characteristics of the wiring boards 200 and 200X, that is, the output waveform characteristics were evaluated. Each connection board 35 has a pair of terminals capable of inputting and outputting signals.

1対の接続基板35の間に、実施例の配線板200及び比較例の配線板200Xをそれぞれ空中に浮かした状態で接続した。また、信号発生器41と一方の接続基板35とを接続して、一方の接続基板35にビットレート5.3GbpsのPRBS23の疑似ランダム信号を入力した。一方の接続基板35の各端子への入力信号の振幅は、150mV/sideとした。すなわち、一方の接続基板35の一対の端子へ入力した差動信号の振幅は、300mVとした。また、他方の接続基板35には、オシロスコープ42を接続した。オシロスコープ42により、他方の接続基板35から出力される信号のアイパターンの開口振幅を観測した。アイパターンの開口振幅の測定は、温度25℃、相対湿度30~50%の雰囲気で行った。 A wiring board 200 of the example and a wiring board 200X of the comparative example were connected between a pair of connection boards 35 in a state of being suspended in the air. Further, the signal generator 41 and one connection board 35 were connected, and a pseudo-random signal of PRBS 23 with a bit rate of 5.3 Gbps was input to one connection board 35 . The amplitude of the input signal to each terminal of one connection substrate 35 was set to 150 mV/side. That is, the amplitude of the differential signal input to the pair of terminals of one connection board 35 was set to 300 mV. An oscilloscope 42 was connected to the other connection board 35 . The oscilloscope 42 was used to observe the aperture amplitude of the eye pattern of the signal output from the other connection board 35 . The eye pattern aperture amplitude was measured in an atmosphere with a temperature of 25° C. and a relative humidity of 30 to 50%.

以下、伝送特性、即ちアイパターンの開口振幅をA,B,C,Dの4段階で評価した。Aは、開口振幅が120mV以上である。Bは、開口振幅110mV以上、120mV未満である。Cは、開口振幅100mV以上、110mV未満である。Dは、開口振幅100mV未満である。伝送特性において、CはDよりも優れ、BはCよりも優れ、AはBよりも優れている。 The transmission characteristics, that is, the aperture amplitude of the eye pattern were evaluated in four stages of A, B, C, and D below. A has an aperture amplitude of 120 mV or more. B is an aperture amplitude of 110 mV or more and less than 120 mV. C is an aperture amplitude of 100 mV or more and less than 110 mV. D is less than 100 mV aperture amplitude. C is superior to D, B is superior to C, and A is superior to B in transmission characteristics.

実施例として、実施例1~10の10種類の配線板200を製造した。また、比較例として、比較例1~4の4種類の配線板200Xを製造した。図5は、実施例の配線板200及び比較例の配線板200Xにおける第1導電層及び第2導電層の層構成を示すテーブルである。図6は、実施例の配線板200の構成及び評価を示すテーブルである。図7は、比較例の配線板200Xの構成及び評価を示すテーブルである。 As examples, ten types of wiring boards 200 of Examples 1 to 10 were manufactured. As comparative examples, four types of wiring boards 200X of comparative examples 1 to 4 were manufactured. FIG. 5 is a table showing layer configurations of the first conductive layer and the second conductive layer in the wiring board 200 of the example and the wiring board 200X of the comparative example. FIG. 6 is a table showing the configuration and evaluation of the wiring board 200 of the example. FIG. 7 is a table showing the configuration and evaluation of a wiring board 200X of a comparative example.

各実施例1~10の配線板200の構成について図5及び図6を参照しながら説明する。 The configuration of the wiring board 200 of each of Examples 1 to 10 will be described with reference to FIGS. 5 and 6. FIG.

(実施例1)
絶縁層241として、厚さ25μmのポリイミドフィルムを用意した。このポリイミドフィルムには、東レ・デュポン(株)社製のカプトン100Hを用いた。絶縁層241の主面2411に厚さ12μmの銅箔を積層させ、エッチング手法により、線幅50μm、線間隔140μm、全長100mmの一対の信号線22を作製した。次に、一対の信号線22の上、即ち絶縁層241の主面2411の上に、厚さ25μmの接着剤で厚さ15μmのカバーレイを貼り付けて絶縁層242を形成した。カバーレイには、有沢製作所社製のCEAM0525KAを用いた。これにより、合計厚さ37.5μmの配線板本体210を得た。
(Example 1)
A polyimide film having a thickness of 25 μm was prepared as the insulating layer 241 . Kapton 100H manufactured by DuPont Toray Co., Ltd. was used for this polyimide film. A copper foil having a thickness of 12 μm was laminated on the main surface 2411 of the insulating layer 241, and a pair of signal lines 22 having a line width of 50 μm, a line interval of 140 μm, and a total length of 100 mm were produced by etching. Next, an insulating layer 242 was formed by attaching a 15 μm-thick coverlay with a 25 μm-thick adhesive onto the pair of signal lines 22 , that is, on the main surface 2411 of the insulating layer 241 . CEAM0525KA manufactured by Arisawa Seisakusho Co., Ltd. was used as the coverlay. Thus, a wiring board body 210 having a total thickness of 37.5 μm was obtained.

次いで、絶縁層241の主面2412の上、即ち絶縁体部230の主面231の上に、導電層251を形成し、絶縁層242の上、即ち絶縁体部230の主面232の上に、導電層252を形成した。実施例1において、導電層251は、Ag(銀)を主成分(50wt%以上)として含有する。以下、各導電層251,252の形成方法について説明する。 Next, a conductive layer 251 is formed on the main surface 2412 of the insulating layer 241, that is, on the main surface 231 of the insulator section 230, and on the insulating layer 242, that is, on the main surface 232 of the insulator section 230. , a conductive layer 252 was formed. In Example 1, the conductive layer 251 contains Ag (silver) as a main component (50 wt % or more). A method for forming the conductive layers 251 and 252 will be described below.

各導電層251,252を構成するバインダーとして、ポリエステルウレタン樹脂溶液を用いた。このポリエステルウレタン樹脂溶液として、固形分30vol%の東洋紡社製のUR1400を用いた。 A polyester urethane resin solution was used as a binder for forming the conductive layers 251 and 252 . As this polyester urethane resin solution, UR1400 manufactured by Toyobo Co., Ltd. having a solid content of 30 vol % was used.

導電層251を構成する導電フィラーとして図5に示す層構成(A)に記載のAgを用いた。Agとポリエステルウレタン樹脂溶液の固形分との合計を100wt%とした場合、Agが92wt%となるようにAgをポリエステルウレタン樹脂溶液に添加した。そして、Agを添加したポリエステルウレタン樹脂溶液を、ホモジナイザーを用いて15000rpmで30分間攪拌して導電性フィラーであるAgを分散させた。この組成物を、配線板本体210の絶縁体部230の主面231の上に、アプリケータを用いて塗工し、その後100℃で10分間乾燥させた。これにより、Agを92wt%含有する導電層251が形成された。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。 Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5 was used as the conductive filler forming the conductive layer 251 . Ag was added to the polyester urethane resin solution so that Ag was 92 wt % when the total of Ag and the solid content of the polyester urethane resin solution was 100 wt %. Then, the Ag-added polyester urethane resin solution was stirred at 15,000 rpm for 30 minutes using a homogenizer to disperse Ag, which is a conductive filler. This composition was applied onto main surface 231 of insulator portion 230 of wiring board main body 210 using an applicator, and then dried at 100° C. for 10 minutes. Thus, a conductive layer 251 containing 92 wt % Ag was formed. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□.

導電層252を構成する導電フィラーとして図5に示す層構成(E)に記載のNiを用いた。導電層252は、導電層251と同様の方法で形成した。これにより、Niを80wt%含有する導電層252が形成された。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5 was used as the conductive filler forming the conductive layer 252 . The conductive layer 252 was formed by a method similar to that of the conductive layer 251 . Thus, a conductive layer 252 containing 80 wt % Ni was formed. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

次に、各導電層251,252の上に、導電層251,252の形成に用いたものと同じ構成のポリエステルウレタン樹脂溶液を、アプリケータを用いて塗工し、その後100℃で10分間乾燥させて、絶縁層243及び絶縁層244を形成した。これにより実施例1の配線板200を得た。絶縁層243及び絶縁層244の厚さは10μmであった。 Next, a polyester urethane resin solution having the same composition as that used to form the conductive layers 251 and 252 is applied onto each of the conductive layers 251 and 252 using an applicator, and then dried at 100° C. for 10 minutes. An insulating layer 243 and an insulating layer 244 were formed. Thus, wiring board 200 of Example 1 was obtained. The thickness of the insulating layers 243 and 244 was 10 μm.

(実施例2~9)
各実施例2~9における各導電層251,252の層構成、即ち材料、厚さ及び表面抵抗率は、図6に記載した条件とした。また、各実施例2~9における各絶縁層243,244の層構成、即ち材料及び厚さは、実施例1と同様とした。各実施例2~9における配線板200の形成方法は実施例1と同様とした。これにより、実施例2~9の配線板200が得られた。
(Examples 2 to 9)
The layer structure, that is, the material, thickness and surface resistivity of the conductive layers 251 and 252 in each of Examples 2 to 9 were the conditions shown in FIG. Further, the layer structure, ie, the material and thickness of each insulating layer 243, 244 in each of Examples 2 to 9 was the same as in Example 1. The method of forming the wiring board 200 in each of Examples 2 to 9 was the same as in Example 1. FIG. Thus, wiring boards 200 of Examples 2 to 9 were obtained.

実施例2の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(B)に記載のAg(銀)及びCu(銅)であり、導電層251は、Agを主成分とし、Ag及びCuを合わせた導電性フィラーを85wt%含有する。導電層251の厚さは、10μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.9Ω/□であった。実施例2の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、導電層252は、Niを80wt%含有する。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive fillers forming the conductive layer 251 in the wiring board 200 of Example 2 are Ag (silver) and Cu (copper) described in the layer structure (B) shown in FIG. It contains 85 wt % of a conductive filler consisting of Ag and Cu as a main component. The thickness of the conductive layer 251 was 10 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.9Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 2 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 80 wt % of Ni. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

実施例3の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、導電層251は、Agを92wt%含有する。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。実施例3の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(F)に記載のCB(カーボン)であり、導電層252は、CBを15wt%含有する。導電層252の厚さは、1μmであった。導電層252の表面抵抗率は、9100Ω/□であった。 The conductive filler constituting conductive layer 251 in wiring board 200 of Example 3 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5, and conductive layer 251 contains 92 wt % of Ag. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 3 is CB (carbon) described in the layer structure (F) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 15 wt % of CB. The thickness of the conductive layer 252 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 9100Ω/□.

実施例4の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(C)に記載のAg及びCuであり、導電層251は、Agを主成分とし、Ag及びCuを合わせた導電性フィラーを80wt%含有する。導電層251の厚さは、2μmであった。導電層251の表面抵抗率は、2Ω/□であった。実施例4の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、導電層252は、Niを80wt%含有する。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive filler constituting the conductive layer 251 in the wiring board 200 of Example 4 is Ag and Cu described in the layer structure (C) shown in FIG. It contains 80 wt % of conductive filler including Cu. The thickness of the conductive layer 251 was 2 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 2Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 4 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 80 wt % of Ni. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

実施例5の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、導電層251は、Agを92wt%含有する。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。実施例5の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(G)に記載のCB(カーボン)であり、導電層252は、CBを10wt%含有する。導電層252の厚さは、0.1μmであった。導電層252の表面抵抗率は、22000Ω/□であった。 The conductive filler constituting conductive layer 251 in wiring board 200 of Example 5 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5, and conductive layer 251 contains 92 wt % of Ag. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 5 is CB (carbon) described in the layer structure (G) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 10 wt % of CB. The thickness of the conductive layer 252 was 0.1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 22000Ω/□.

実施例6の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、導電層251は、Agを92wt%含有する。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。実施例6の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(H)に記載のCB(カーボン)であり、導電層252は、CBを10wt%含有する。導電層252の厚さは、100μmであった。導電層252の表面抵抗率は、1200Ω/□であった。 The conductive filler constituting conductive layer 251 in wiring board 200 of Example 6 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5, and conductive layer 251 contains 92 wt % of Ag. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 6 is CB (carbon) described in the layer structure (H) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 10 wt % of CB. The thickness of the conductive layer 252 was 100 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 1200Ω/□.

実施例7の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(B)に記載のAg及びCuであり、導電層251は、Agを主成分とし、Ag及びCuを合わせた導電性フィラーを85wt%含有する。導電層251の厚さは、10μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.9Ω/□であった。実施例7の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(C)に記載のAg及びCuであり、導電層251は、Ag及びCuを合わせた導電性フィラーを80wt%含有する。導電層251の厚さは、2μmであった。導電層251の表面抵抗率は、2Ω/□であった。 The conductive filler constituting the conductive layer 251 in the wiring board 200 of Example 7 is Ag and Cu described in the layer structure (B) shown in FIG. It contains 85 wt % of conductive filler including Cu. The thickness of the conductive layer 251 was 10 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.9Ω/□. The conductive filler constituting the conductive layer 251 in the wiring board 200 of Example 7 is Ag and Cu described in the layer configuration (C) shown in FIG. It contains 80 wt% of filler. The thickness of the conductive layer 251 was 2 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 2Ω/□.

実施例8の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、導電層251は、Agを92wt%含有する。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。実施例8の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、導電層252は、Niを80wt%含有する。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive filler constituting conductive layer 251 in wiring board 200 of Example 8 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5, and conductive layer 251 contains 92 wt % of Ag. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 8 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 80 wt % of Ni. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

実施例9の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(D)に記載のAg及びCuであり、導電層251は、Agを主成分とし、Ag及びCuを合わせた導電性フィラーを75wt%含有する。導電層251の厚さは、5μmであった。導電層251の表面抵抗率は、3Ω/□であった。実施例9の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、導電層252は、Niを80wt%含有する。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive filler constituting the conductive layer 251 in the wiring board 200 of Example 9 is Ag and Cu described in the layer structure (D) shown in FIG. It contains 75 wt % of conductive filler including Cu. The thickness of the conductive layer 251 was 5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 3Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 9 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 80 wt % of Ni. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

(実施例10)
実施例10では、絶縁層241の厚さを50μmに変更した。
(Example 10)
In Example 10, the thickness of the insulating layer 241 was changed to 50 μm.

実施例10の配線板200における導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、導電層251は、Agを92wt%含有する。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。実施例10の配線板200における導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、導電層252は、Niを80wt%含有する。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive filler constituting conductive layer 251 in wiring board 200 of Example 10 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5, and conductive layer 251 contains 92 wt % of Ag. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□. The conductive filler constituting conductive layer 252 in wiring board 200 of Example 10 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5, and conductive layer 252 contains 80 wt % of Ni. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

(比較例1及び比較例2)
各比較例1~2における各導電層251,252の層構成、即ち材料、厚さ及び表面抵抗率は、図7に記載した条件とした。また、各比較例1~2における各絶縁層243,244の層構成、即ち材料及び厚さは、実施例1と同様とした。各比較例1~2における配線板200Xの形成方法は実施例1と同様とした。これにより、比較例1~2の配線板200Xが得られた。
(Comparative Example 1 and Comparative Example 2)
The layer structure, ie, the material, thickness and surface resistivity of the conductive layers 251 and 252 in each of Comparative Examples 1 and 2 were the conditions shown in FIG. The layer structure, ie, the material and thickness of each insulating layer 243 and 244 in each of Comparative Examples 1 and 2 was the same as in Example 1. The method of forming the wiring board 200X in each of Comparative Examples 1 and 2 was the same as in Example 1. As a result, wiring boards 200X of Comparative Examples 1 and 2 were obtained.

比較例1の配線板200Xにおける各導電層251,252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、各導電層251,252は、Agを92wt%含有する。各導電層251,252の厚さは、1μmであった。各導電層251,252の表面抵抗率は、ともに同じ0.02Ω/□であった。 The conductive filler constituting each of the conductive layers 251 and 252 in the wiring board 200X of Comparative Example 1 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. contains. The thickness of each conductive layer 251, 252 was 1 μm. The surface resistivities of the conductive layers 251 and 252 were both the same, 0.02Ω/□.

比較例2の配線板200Xにおける各導電層251,252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、各導電層251,252は、Niを80wt%含有する。各導電層251,252の厚さは、0.5μmであった。各導電層251,252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive filler constituting each of the conductive layers 251 and 252 in the wiring board 200X of Comparative Example 2 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. contains. The thickness of each conductive layer 251, 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of each conductive layer 251, 252 was 100Ω/□.

即ち、比較例1,2では、導電層251の表面抵抗率を導電層252の表面抵抗率と同じ値としたものである。 That is, in Comparative Examples 1 and 2, the surface resistivity of the conductive layer 251 is set to the same value as the surface resistivity of the conductive layer 252 .

(比較例3)
図8(a)は、比較例3の配線板200Xの説明図である。なお、図8(a)において、実施形態と同様の構成については、同一符号を付している。比較例3では、実施例1と同様に、配線板本体210を作製した後、絶縁層241の主面2412の上に、導電層251、絶縁層243、導電層252、絶縁層244の順にアプリケータを用いて形成することで、配線板200Xを作製した。絶縁層243,244の材料及び厚さは、実施例1と同様とした。
(Comparative Example 3)
FIG. 8A is an explanatory diagram of a wiring board 200X3 of Comparative Example 3. FIG. In addition, in FIG. 8A, the same reference numerals are given to the same configurations as in the embodiment. In Comparative Example 3, in the same manner as in Example 1, after manufacturing wiring board body 210 , conductive layer 251 , insulating layer 243 , conductive layer 252 , and insulating layer 244 were applied in this order on main surface 2412 of insulating layer 241 . A wiring board 200X3 was manufactured by forming the wiring board 200X3 . The material and thickness of the insulating layers 243 and 244 were the same as in the first embodiment.

比較例3の配線板200Xにおける導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、導電層251は、Agを92wt%含有する。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。比較例3の配線板200Xにおける導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、導電層252は、Niを80wt%含有する。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive filler constituting the conductive layer 251 in the wiring board 200X3 of Comparative Example 3 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5, and the conductive layer 251 contains 92 wt % of Ag. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□. The conductive filler constituting the conductive layer 252 in the wiring board 200X3 of Comparative Example 3 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5, and the conductive layer 252 contains 80 wt % of Ni. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

(比較例4)
図8(b)は、比較例4の配線板200Xの説明図である。なお、図8(b)において、実施形態と同様の構成については、同一符号を付している。比較例4では、実施例1と同様に、配線板本体210を作製した後、絶縁層241の主面2412の上に、導電層252、絶縁層244、導電層251、絶縁層243の順にアプリケータを用いて形成することで、配線板200Xを作製した。絶縁層243,244の材料及び厚さは、実施例1と同様とした。
(Comparative Example 4)
FIG. 8B is an explanatory diagram of a wiring board 200X4 of Comparative Example 4. FIG. In addition, in FIG.8(b), the same code|symbol is attached|subjected about the structure similar to embodiment. In Comparative Example 4, in the same manner as in Example 1, after manufacturing wiring board body 210 , conductive layer 252 , insulating layer 244 , conductive layer 251 , and insulating layer 243 were applied in this order on main surface 2412 of insulating layer 241 . A wiring board 200X4 was manufactured by forming the wiring board 200X4 . The material and thickness of the insulating layers 243 and 244 were the same as in the first embodiment.

比較例4の配線板200Xにおける導電層251を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(A)に記載のAgであり、導電層251は、Agを92wt%含有する。導電層251の厚さは、1μmであった。導電層251の表面抵抗率は、0.02Ω/□であった。比較例4の配線板200Xにおける導電層252を構成する導電性フィラーは、図5に示す層構成(E)に記載のNiであり、導電層252は、Niを80wt%含有する。導電層252の厚さは、0.5μmであった。導電層252の表面抵抗率は、100Ω/□であった。 The conductive filler constituting the conductive layer 251 in the wiring board 200X4 of Comparative Example 4 is Ag described in the layer structure (A) shown in FIG. 5, and the conductive layer 251 contains 92 wt % of Ag. The thickness of the conductive layer 251 was 1 μm. The surface resistivity of the conductive layer 251 was 0.02Ω/□. The conductive filler constituting the conductive layer 252 in the wiring board 200X4 of Comparative Example 4 is Ni described in the layer structure (E) shown in FIG. 5, and the conductive layer 252 contains 80 wt % of Ni. The thickness of the conductive layer 252 was 0.5 μm. The surface resistivity of the conductive layer 252 was 100Ω/□.

即ち、比較例3,4では、各導電層251,252の構成は実施例1と同様としたが、導電層251,252の配置を実施例1~10と異ならせたものである。 That is, in Comparative Examples 3 and 4, the configuration of each of the conductive layers 251 and 252 was the same as in Example 1, but the arrangement of the conductive layers 251 and 252 was different from that in Examples 1-10.

これら実施例の配線板及び比較例の配線板について、上記(1)~(2)の評価結果を図6及び図7に示す。 6 and 7 show the evaluation results of the above (1) and (2) for the wiring boards of these examples and the wiring boards of the comparative examples.

図6に示すように、実施例1~10の配線板200では、いずれも5GHzにおける放射ノイズ量は少なく、アイパターンの開口振幅も全てCランク以上で良好であった。 As shown in FIG. 6, in the wiring boards 200 of Examples 1 to 10, the amount of radiation noise at 5 GHz is small, and the aperture amplitudes of the eye patterns are all C-rank or higher, which is good.

実施例1、8及び10を比較すると、間隔D1が間隔D2よりも狭い、即ち(D2-D1)が大きいほど、信号の伝送特性が良好になることが分かる。 Comparing Examples 1, 8 and 10, it can be seen that the signal transmission characteristics are improved as the interval D1 is narrower than the interval D2, ie, (D2-D1) is larger.

実施例1、2、4及び9を比較すると、導電層251におけるAg及びCuの含有量が多く、かつ導電層251の表面抵抗率が低いほど、信号の伝送特性が良好になることが分かる。 Comparing Examples 1, 2, 4, and 9, it can be seen that the higher the Ag and Cu contents in the conductive layer 251 and the lower the surface resistivity of the conductive layer 251, the better the signal transmission characteristics.

即ち、導電層251の表面抵抗率が3Ω/□以下であることが好ましい。また、導電層251の表面抵抗率が1Ω/□以下であることがより好ましい。また、導電層251の表面抵抗率が0.1Ω/□以下であることがより好ましい。 That is, it is preferable that the surface resistivity of the conductive layer 251 is 3Ω/□ or less. Moreover, it is more preferable that the surface resistivity of the conductive layer 251 is 1 Ω/□ or less. Further, it is more preferable that the surface resistivity of the conductive layer 251 is 0.1Ω/□ or less.

また、導電層251は、Ag及びCuからなる金属フィラーを75wt%以上含有することが好ましい。また、導電層251は、Ag及びCuからなる金属フィラーを80wt%以上含有することがより好ましい。また、導電層251は、Ag及びCuからなる金属フィラーを85wt%以上含有することがより好ましい。また、導電層251は、Agからなる金属フィラーを92wt%以上含有することがより好ましい。 In addition, the conductive layer 251 preferably contains 75 wt % or more of metal filler made of Ag and Cu. In addition, the conductive layer 251 more preferably contains 80 wt % or more of metal filler made of Ag and Cu. In addition, the conductive layer 251 more preferably contains 85 wt % or more of metal filler made of Ag and Cu. Moreover, it is more preferable that the conductive layer 251 contains 92 wt % or more of a metal filler made of Ag.

実施例1、3、5、6及び7を比較すると、導電層251の表面抵抗率が2Ω/□以上22000Ω/□以下において、高いノイズ抑制効果が得られることが分かる。この観点から、導電層251の表面抵抗率が10Ω/□以上10000Ω/□以下であることが好ましく、導電層251の表面抵抗率が10Ω/□以上1000Ω/□以下であることがより好ましい。 Comparing Examples 1, 3, 5, 6, and 7, it can be seen that a high noise suppression effect is obtained when the surface resistivity of the conductive layer 251 is 2 Ω/□ or more and 22000 Ω/□ or less. From this point of view, the surface resistivity of the conductive layer 251 is preferably 10 Ω/square or more and 10000 Ω/square or less, and more preferably 10 Ω/square or more and 1000 Ω/square or less.

また、実施例1~10を比較すると、導電層252の厚さが0.1μm以上100μm以下であることが好ましい。 Further, when comparing Examples 1 to 10, it is preferable that the thickness of the conductive layer 252 is 0.1 μm or more and 100 μm or less.

一方、図7に示すように、比較例1の配線板200Xにおいては、導電層251及び導電層252の表面抵抗率がどちらも小さく、抵抗損失によるノイズ電流の減衰効果が得られず、十分なノイズ抑制効果が得られない。比較例2の配線板200Xにおいては、導電層251及び導電層252の表面抵抗率がどちらも大きく、信号電流のリターン電流が抵抗損失で減衰してしまい、良好な信号伝送特性を得られない。比較例3の配線板200Xにおいては、放射ノイズ抑制の役割を担う導電層252にノイズ電流がほとんど流れず、十分なノイズ抑制効果がえられない。比較例4の配線板200Xにおいては、信号電流のリターン電流のほとんどが抵抗損失の大きい導電層252に流れてしまい、良好な伝送特性を得られない。 On the other hand, as shown in FIG. 7, in the wiring board 200X of Comparative Example 1, both the conductive layers 251 and 252 have low surface resistivities, and the noise current attenuation effect due to the resistance loss cannot be obtained. Noise suppression effect cannot be obtained. In the wiring board 200X of Comparative Example 2, both the conductive layers 251 and 252 have high surface resistivities, and the return current of the signal current is attenuated due to resistance loss, and good signal transmission characteristics cannot be obtained. In the wiring board 200X3 of Comparative Example 3 , almost no noise current flows through the conductive layer 252 that plays the role of radiation noise suppression, and a sufficient noise suppression effect cannot be obtained. In the wiring board 200X4 of Comparative Example 4 , most of the return current of the signal current flows through the conductive layer 252 with large resistance loss, and good transmission characteristics cannot be obtained.

以上のことから、実施例1~10によれば、比較例1~4と比較して、配線板200から放射される放射ノイズを抑制することができ、かつ信号線22を伝送される信号の伝送特性を向上させることができる。 As described above, according to Examples 1 to 10, compared with Comparative Examples 1 to 4, the radiation noise radiated from the wiring board 200 can be suppressed, and the signal transmitted through the signal line 22 can be suppressed. Transmission characteristics can be improved.

本発明は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で多くの変形が可能である。また、実施形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、実施形態に記載されたものに限定されない。 The present invention is not limited to the embodiments described above, and many modifications are possible within the technical concept of the present invention. Moreover, the effects described in the embodiments are merely enumerations of the most suitable effects resulting from the present invention, and the effects of the present invention are not limited to those described in the embodiments.

22…信号線、200…配線板、230…絶縁体部、231…主面(第1主面)、232…主面(第2主面)、251…導電層(第1導電層)、252…導電層(第2導電層) 22 Signal line 200 Wiring board 230 Insulator portion 231 Main surface (first main surface) 232 Main surface (second main surface) 251 Conductive layer (first conductive layer) 252 ... conductive layer (second conductive layer)

Claims (20)

第1主面、及び前記第1主面とは反対側の第2主面を有する絶縁体部と、
前記絶縁体部の内部に配置された信号線と、
前記第1主面に配置された第1導電層と、
前記第2主面に配置された第2導電層と、を備え、
前記第2導電層の表面抵抗率が前記第1導電層の表面抵抗率よりも大きい、
ことを特徴とする配線板。
an insulator portion having a first principal surface and a second principal surface opposite to the first principal surface;
a signal line arranged inside the insulator;
a first conductive layer disposed on the first main surface;
a second conductive layer disposed on the second main surface;
the surface resistivity of the second conductive layer is greater than the surface resistivity of the first conductive layer;
A wiring board characterized by:
前記信号線と前記第1導電層との第1間隔は、前記信号線と前記第2導電層との第2間隔よりも狭い、
ことを特徴とする請求項1に記載の配線板。
a first spacing between the signal line and the first conductive layer is narrower than a second spacing between the signal line and the second conductive layer;
The wiring board according to claim 1, characterized in that:
前記信号線を複数備え、
前記複数の信号線のうち互いに隣り合う一対の信号線で差動信号が伝送される差動信号線が構成され、
前記第1間隔は、前記一対の信号線の第3間隔よりも狭い、
ことを特徴とする請求項2に記載の配線板。
comprising a plurality of the signal lines,
A pair of signal lines adjacent to each other among the plurality of signal lines constitutes a differential signal line through which a differential signal is transmitted,
the first spacing is narrower than the third spacing between the pair of signal lines;
The wiring board according to claim 2, characterized in that:
前記第1主面に垂直な方向に視て、前記信号線は、前記第1導電層及び前記第2導電層と重なる、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の配線板。
When viewed in a direction perpendicular to the first main surface, the signal line overlaps the first conductive layer and the second conductive layer,
The wiring board according to any one of claims 1 to 3, characterized in that:
前記第1導電層の表面抵抗率が3Ω/□以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer has a surface resistivity of 3 Ω/□ or less.
The wiring board according to any one of claims 1 to 4, characterized in that:
前記第1導電層の表面抵抗率が1Ω/□以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer has a surface resistivity of 1 Ω/□ or less.
The wiring board according to any one of claims 1 to 4, characterized in that:
前記第1導電層の表面抵抗率が0.1Ω/□以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer has a surface resistivity of 0.1 Ω/□ or less.
The wiring board according to any one of claims 1 to 4, characterized in that:
前記第1導電層は、Agを主成分として含有する、
ことを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer contains Ag as a main component,
The wiring board according to any one of claims 1 to 7, characterized in that:
前記第1導電層は、Agを92wt%以上含有する、
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer contains 92 wt% or more of Ag,
The wiring board according to any one of claims 1 to 8, characterized in that:
前記第1導電層は、Ag及びCuを合わせて75wt%以上含有する、
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer contains a total of 75 wt% or more of Ag and Cu,
The wiring board according to any one of claims 1 to 8, characterized in that:
前記第1導電層は、Ag及びCuを合わせて80wt%以上含有する、
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer contains a total of 80 wt% or more of Ag and Cu,
The wiring board according to any one of claims 1 to 8, characterized in that:
前記第1導電層は、Ag及びCuを合わせて85wt%以上含有する、
ことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の配線板。
The first conductive layer contains 85 wt% or more of Ag and Cu in total.
The wiring board according to any one of claims 1 to 8, characterized in that:
前記第2導電層の表面抵抗率が2Ω/□以上22000Ω/□以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の配線板。
The second conductive layer has a surface resistivity of 2 Ω/□ or more and 22000 Ω/□ or less.
The wiring board according to any one of claims 1 to 12, characterized in that:
前記第2導電層の表面抵抗率が10Ω/□以上10000Ω/□以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の配線板。
The second conductive layer has a surface resistivity of 10 Ω/□ or more and 10000 Ω/□ or less.
The wiring board according to any one of claims 1 to 12, characterized in that:
前記第2導電層の表面抵抗率が10Ω/□以上1000Ω/□以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の配線板。
The second conductive layer has a surface resistivity of 10 Ω/□ or more and 1000 Ω/□ or less.
The wiring board according to any one of claims 1 to 12, characterized in that:
前記第2導電層の厚さが0.1μm以上100μm以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至15のいずれか1項に記載の配線板。
The thickness of the second conductive layer is 0.1 μm or more and 100 μm or less,
The wiring board according to any one of claims 1 to 15, characterized in that:
前記配線板がフレキシブルプリント配線板である、
ことを特徴とする請求項1乃至16のいずれか1項に記載の配線板。
The wiring board is a flexible printed wiring board,
The wiring board according to any one of claims 1 to 16, characterized in that:
請求項1乃至17のいずれか1項に記載の配線板と、
前記配線板に電気的に接続された電子部品と、を備える、
ことを特徴とする電子ユニット。
A wiring board according to any one of claims 1 to 17;
an electronic component electrically connected to the wiring board;
An electronic unit characterized by:
請求項18に記載の電子ユニットと、
前記電子ユニットが収納される筐体と、を備える、
ことを特徴とする電子機器。
an electronic unit according to claim 18;
a housing in which the electronic unit is housed,
An electronic device characterized by:
内部に信号線が配置された絶縁体部を用意し、
前記絶縁体部の第1主面に第1導電層を、前記絶縁体部の前記第1主面とは反対側の第2主面に前記第1導電層の表面抵抗率よりも大きい表面抵抗率の第2導電層を、それぞれ形成する、
ことを特徴とする配線板の製造方法。
Prepare an insulator part inside which the signal line is arranged,
A first conductive layer is formed on the first main surface of the insulator portion, and a surface resistance higher than the surface resistivity of the first conductive layer is formed on the second main surface of the insulator portion opposite to the first main surface. each forming a second conductive layer of
A wiring board manufacturing method characterized by:
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