JP2022142208A - 自動分析装置 - Google Patents

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Atsushi Hosooka
瑶季 本田
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Abstract

【課題】液面検知の精度を向上すること。【解決手段】実施形態に係る自動分析装置は、プローブと、液面検知手段とを備える。液面検知手段は、プローブと電気的に接続され、プローブと液面との接触を検知する。液面検知手段は、液面に用いる回路のコンデンサの静電容量を調整する調整部を含む。【選択図】 図６

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、自動分析装置に関する。
従来、自動分析装置において、プローブと液面との接触を検知する液面検知回路が知られている。この液面検知回路は、差動入力された信号を用いて液面を検知する。例えば、液面検知回路の差動入力のうちの一方はプローブに接続され、他方は開放される。液面検知は、プローブと液面とが接触した際のインピーダンス変化に伴う信号の振幅および位相の変化を検知することにより行われる。更に、この液面検知回路には、プローブと液面とが接触していない状態における、差動入力された信号をゼロとみなす自動移相回路が設けられている場合がある。この自動移相回路は、プローブと液面とが接触していない状態の出力をゼロにすることができる。
しかし、上述の自動移相回路は、プローブ単体に関するばらつきを吸収できるものの、プローブと共に用いられる器具などについては考慮されていない。これらの器具には、例えば、容器の蓋に穿孔するピアサ針や、プローブ中の試薬を温めるヒータなどが該当する。これらの器具が液面検知回路に接続されると、自動移相回路だけではばらつきを吸収できず液面検知の精度が下がる可能性がある。
特開昭６３－２５９４２０号公報
本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題の一つは、液面検知の精度を向上することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。
実施形態に係る自動分析装置は、プローブと、液面検知手段とを備える。液面検知手段は、プローブと電気的に接続され、プローブと液面との接触を検知する。液面検知手段は、液面に用いる回路のコンデンサの静電容量を調整する調整部を含む。
図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置の機能構成を例示する図である。 図２は、図１の分析機構の構成を例示する図である。 図３は、第１の実施形態における、液面検知回路の構成を例示する図である。 図４は、第１の実施形態における、試料分注プローブとピアサ針とを例示する図である。 図５は、図４の試料分注プローブとピアサ針との動作を例示する図である。 図６は、第１の実施形態における、ブリッジ回路と、容量調整回路と、ピアサ針と、試料分注プローブとの接続を例示する図である。 図７は、第２の実施形態における、液面検知回路の構成を例示する図である。 図８は、第２の実施形態における、第１試薬分注プローブとヒータとを例示する図である。 図９は、第２の実施形態における、ブリッジ回路と、容量調整回路と、ヒータシールドと、第１試薬分注プローブとの接続を例示する図である。 図１０は、第３の実施形態における、ブリッジ回路と容量調整回路との接続を例示する図である。 図１１は、液面検知回路の構成を例示する従来図である。 図１２は、ブリッジ回路と試料分注プローブとの接続を例示する従来図である。 図１３は、図１１の自動移相回路の構成を例示する従来図である。
以下、図面を参照しながら、自動分析装置の実施形態について詳細に説明する。
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係る自動分析装置１の機能構成を例示する図である。図１の自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース５、出力インタフェース６、通信インタフェース７、記憶回路８、および制御回路９を備える。自動分析装置１は、測定対象の検体と試料との混合液を測定することにより、検体内の成分を測定する。
分析機構２は、標準試料または被検試料（これは検体とも呼ばれる）などの試料と、この試料に設定される各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構２は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データおよび被検データを生成する。また、分析機構２は、液面検知回路２１（液面検知手段）を有する。尚、液面検知回路２１の詳細な説明は後述される。
解析回路３は、分析機構２により生成される標準データおよび被検データを解析することで、検量データおよび分析データなどを生成するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路８から解析プログラムを読み出し、読み出した解析プログラムに従って検量データおよび分析データなどを生成する。例えば、解析回路３は、標準データに基づき、標準データと、標準試料について予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路３は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づき、濃度値および酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路３は生成した検量データおよび分析データなどを制御回路９へと出力する。
駆動機構４は、制御回路９の制御に従い、分析機構２を駆動させる。駆動機構４は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、およびリードスクリューなどにより実現される。
入力インタフェース５は、例えば、操作者から、または病院内ネットワークＮＷを介して、測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータなどの設定を受け付ける。入力インタフェース５は、例えば、マウス、キーボード、および操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッドなどにより実現される。入力インタフェース５は、制御回路９に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路９へと出力する。
なお、本明細書において、入力インタフェース５は、マウス、キーボード、およびタッチパッドなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路９へと出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース５の例に含まれる。
出力インタフェース６は、制御回路９に接続され、制御回路９から供給される信号を出力する。出力インタフェース６は、例えば、表示回路、印刷回路、および音声デバイスなどにより実現される。表示回路は、例えば、ＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、およびプラズマディスプレイなどを含む。また、表示回路には、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へと出力する処理回路が含まれてもよい。印刷回路は、例えば、プリンタなどを含む。また、印刷回路には、印刷対象を表すデータを外部へと出力する出力回路が含まれてもよい。音声デバイスは、例えば、スピーカなどを含む。また、音声デバイスには、音声信号を外部へと出力する出力回路が含まれてもよい。
通信インタフェース７は、例えば、病院内ネットワークＮＷと接続する。通信インタフェース７は、病院内ネットワークＮＷを介してＨＩＳ（Ｈｏｓｐｉｔａｌ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ）とデータ通信を行う。尚、通信インタフェース７は、病院内ネットワークＮＷと接続する検査部門システム（Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ：ＬＩＳ）を介してＨＩＳとデータ通信を行ってもよい。
記憶回路８は、磁気的記録媒体、光学的記録媒体、または半導体メモリなどの、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体などを含む。尚、記憶回路８は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路８は、複数の記憶装置により実現されてもよい。
また、記憶回路８は、解析回路３で実行される解析プログラム、および制御回路９に備わる機能を実現するための制御プログラムを記憶している。記憶回路８は、解析回路３により生成される分析データを検査項目毎に記憶する。記憶回路８は、操作者から入力された検査オーダ、または通信インタフェース７が病院内ネットワークＮＷを介して受信した検査オーダを記憶する。
制御回路９は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路９は、記憶回路８に記憶されている制御プログラムを実行することで、実行した制御プログラムに対応する機能を実現する。尚、制御回路９は、記憶回路８で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えてもよい。
図２は、図１の分析機構２の構成を例示する図である。図２に示される分析機構２は、反応ディスク２０１、恒温部２０２、ラックサンプラ２０３、第１試薬庫２０４、および第２試薬庫２０５を備える。また、分析機構２は、試料分注アーム２０６、試料分注プローブ２０７、第１試薬分注アーム２０８、第１試薬分注プローブ２０９、第２試薬分注アーム２１０、第２試薬分注プローブ２１１、電極ユニット２１２、測光ユニット２１３、洗浄ユニット２１４、および攪拌ユニット２１５を備える。
以下では、まず、反応ディスク２０１、恒温部２０２、ラックサンプラ２０３、第１試薬庫２０４、および第２試薬庫２０５について説明する。
反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１１を、環状に配列させて保持する。反応ディスク２０１は、複数の反応容器２０１１を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、反応ディスク２０１は、駆動機構４により、既定の時間間隔（以下、１サイクルと称する）、例えば４．５秒、或いは９．０秒で回動と停止とが交互に繰り返される。反応容器２０１１は、例えば、ガラス、ポリプロピレン（ｐｏｌｙｐｒｏｐｙｌｅｎｅ：ＰＰ）またはアクリルにより形成されている。
恒温部２０２は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留し、貯留する熱媒体に反応容器２０１１を浸漬させることで、反応容器２０１１に収容される混合液を昇温する。
ラックサンプラ２０３は、試料ラック２０３１を、移動可能に支持する。試料ラック２０３１は、測定を依頼された試料を収容する複数の試料容器２０３２を保持することができる。図２に示す例では、５本の試料容器２０３２を並列して保持可能な試料ラック２０３１が示されている。
ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１が投入される投入位置から、測定が完了した試料ラック２０３１を回収する回収位置まで試料ラック２０３１を搬送する搬送領域が設けられている。搬送領域では、短手方向に整列された複数の試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ１へ移動される。
また、ラックサンプラ２０３には、試料ラック２０３１で保持される試料容器２０３２を所定の試料吸引位置へ移動させるため、試料ラック２０３１を搬送領域から引き込む引き込み領域が設けられている。試料吸引位置は、例えば、試料分注プローブ２０７の回動軌道と、ラックサンプラ２０３で支持されて試料ラック２０３１で保持される試料容器２０３２の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。引き込み領域では、搬送されてきた試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ２へ移動される。
また、ラックサンプラ２０３には、試料が吸引された試料容器２０３２を保持する試料ラック２０３１を搬送領域へ戻すための戻し領域が設けられている。戻し領域では、試料ラック２０３１が、駆動機構４により、方向Ｄ３へ移動される。
第１試薬庫２０４は、標準試料および被検試料に含まれる所定の成分と反応する第１試薬を収容する試薬容器１００を複数保冷する。図２では図示していないが、第１試薬庫２０４は、着脱自在な試薬カバーにより覆われている。第１試薬庫２０４内には、試薬ラックが回転自在に設けられている。試薬ラックは、複数の試薬容器１００を円環状に配列して保持する。試薬ラックは、駆動機構４により回動される。
第１試薬庫２０４上の所定の位置には、第１試薬吸引位置が設定されている。第１試薬吸引位置は、例えば、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、試薬ラックに円環状に配列される試薬容器１００の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。
第２試薬庫２０５は、２試薬系の第１試薬と対をなす第２試薬を収容する試薬容器１００を複数保冷する。図２では図示していないが、第２試薬庫２０５は、着脱自在な試薬カバーにより覆われている。第２試薬庫２０５内には、試薬ラックが回転自在に設けられている。試薬ラックは、複数の試薬容器１００を円環状に配列して保持する。なお、第２試薬庫２０５で保冷される第２試薬は、第１試薬庫２０４で保冷される第１試薬と同一成分、且つ同一濃度の試薬であってもよい。
第２試薬庫２０５上の所定の位置には、第２試薬吸引位置が設定されている。第２試薬吸引位置は、例えば、後述される第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、試薬ラックに円環状に配列される試薬容器１００の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。
次に、試料分注アーム２０６、試料分注プローブ２０７、第１試薬分注アーム２０８、第１試薬分注プローブ２０９、第２試薬分注アーム２１０、第２試薬分注プローブ２１１、電極ユニット２１２、測光ユニット２１３、洗浄ユニット２１４、および攪拌ユニット２１５について説明する。
試料分注アーム２０６は、反応ディスク２０１とラックサンプラ２０３との間に設けられている。試料分注アーム２０６は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、且つ水平方向に回動自在に設けられている。試料分注アーム２０６は、一端に試料分注プローブ２０７を保持する。
試料分注プローブ２０７は、試料分注アーム２０６の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、ラックサンプラ２０３上の試料ラック２０３１で保持される試料容器の開口部が位置するようになっている。
また、試料分注プローブ２０７の回動軌道上には、試料分注プローブ２０７が吸引した試料を反応容器２０１１へ吐出するための試料吐出位置が設けられている。試料吐出位置は、試料分注プローブ２０７の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道との交点に相当する。
また、試料分注プローブ２０７は、駆動機構４によって駆動され、ラックサンプラ２０３上の試料ラック２０３１で保持される試料容器の開口部の直上、または試料吐出位置において上下方向に移動する。
また、試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、試料分注プローブ２０７は、制御回路９の制御に従い、吸引した試料を、試料吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。試料分注プローブ２０７は、吸引および吐出の一連の分注動作を、例えば、１サイクルの間に１回実施する。
第１試薬分注アーム２０８は、例えば、反応ディスク２０１と第１試薬庫２０４との間に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、且つ水平方向に回動自在に設けられている。第１試薬分注アーム２０８は、一端に第１試薬分注プローブ２０９を保持する。
第１試薬分注プローブ２０９は、第１試薬分注アーム２０８の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第１試薬吸引位置が設けられている。また、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０９が吸引した試薬を反応容器２０１１へ吐出するための第１試薬吐出位置が設定されている。第１試薬吐出位置は、第１試薬分注プローブ２０９の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道との交点に相当する。
第１試薬分注プローブ２０９は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第１試薬吸引位置、または第１試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、第１試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第１試薬を吸引する。また、第１試薬分注プローブ２０９は、制御回路９の制御に従い、吸引した第１試薬を、第１試薬吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。
第２試薬分注アーム２１０は、例えば、反応ディスク２０１と第２試薬庫２０５との間に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、駆動機構４により、鉛直方向に上下動自在、且つ水平方向に回動自在に設けられている。第２試薬分注アーム２１０は、一端に第２試薬分注プローブ２１１を保持する。
第２試薬分注プローブ２１１は、第２試薬分注アーム２１０の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第２試薬吸引位置が設けられている。また、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２１１が吸引した試薬を反応容器２０１１へ吐出するための第２試薬吐出位置が設定されている。第２試薬吐出位置は、第２試薬分注プローブ２１１の回動軌道と、反応ディスク２０１に保持されている反応容器２０１１の移動軌道との交点に相当する。
第２試薬分注プローブ２１１は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第２試薬吸引位置、または第２試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、第２試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第２試薬を吸引する。また、第２試薬分注プローブ２１１は、制御回路９の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置の直下に位置する反応容器２０１１へ吐出する。
以上、自動分析装置および分析機構の構成について説明した。次に、分析機構が備える従来の液面検知回路について図１１を用いて説明する。
図１１は、液面検知回路ＬＤＣの構成を例示する従来図である。図１１に示される液面検知回路ＬＤＣは、発振回路３１０、ブリッジ回路３２０、差動増幅回路３３０、同期検波回路３４０、積分回路３５０、増幅回路３６０、比較回路３７０、および自動移相回路３８０を備える。自動移相回路３８０は、サンプルホールド回路３８１および参照信号生成回路３８２を備える。
液面検知回路ＬＤＣは、試料分注プローブ２０７と電気的に接続される。液面検知回路ＬＤＣは、試料分注プローブ２０７と液面との接触を検知し、検知した情報（検知情報）を制御回路９へと出力する。検知情報は、例えば、液面に接触する瞬間の情報および液面に接触している間の情報を含む。また、液面検知回路ＬＤＣは、制御回路９から液面検知回路の調整を行うためのトリガとなるゼロ調整信号を受け取る。液面検知回路ＬＤＣは、ゼロ調整信号が入力されると、試料分注プローブ２０７が液面に接触していない状態の出力をゼロとするようにばらつきを自動調整する機能を有する。ここでのばらつきには、例えば、ブリッジ回路３２０が備える固定コンデンサＣ０の静電容量に起因するものや、試料分注プローブ２０７の移動に伴う固有容量の変化に起因するものがある。
発振回路３１０は、所定の周波数の発振信号を発生する。発振回路３１０は、発振信号をブリッジ回路３２０および自動移相回路３８０へと出力する。
ブリッジ回路３２０は、発振回路３１０から発振信号を入力する。また、ブリッジ回路３２０は、試料分注プローブ２０７と電気的に接続されている。ブリッジ回路３２０は、回路中の２つの接続点の間の電位差の電圧を差動増幅回路３３０へと出力する。以下では、ブリッジ回路３２０の具体的な構成について図１２を用いて説明する。
図１２は、ブリッジ回路３２０と試料分注プローブ２０７との接続を例示する従来図である。ブリッジ回路３２０は、４つの抵抗Ｒ１からＲ４までと、固定コンデンサＣ０とを備える。４つの抵抗Ｒ１からＲ４までは、それぞれ同一の抵抗値を有する。固定コンデンサＣ０は、試料分注プローブ２０７の通常状態と平衡する静電容量を有する。通常状態とは、試料分注プローブ２０７と液面とが接触していない状態である。即ち、ブリッジ回路３２０は、通常状態の試料分注プローブ２０７に関して発生する静電容量を、固定コンデンサＣ０で相殺することによって、差動増幅回路３３０への入力を平衡に保っている。固定コンデンサＣ０の静電容量は、例えば３．３ｐＦである。尚、以降では、説明の便宜上、素子同士などが接続される点を接続点と呼ぶ。また、ブリッジ回路３２０は、４つの接続点Ｐ１からＰ４までを有する。
接続点Ｐ１には、発振回路３１０の一端と、抵抗Ｒ１の一端と、抵抗Ｒ４の一端とが接続される。発振回路３１０の他端は接地される。抵抗Ｒ１の他端は接続点Ｐ２に接続される。抵抗Ｒ４の他端は接続点Ｐ４に接続される。
接続点Ｐ２には、抵抗Ｒ１の他端と、抵抗Ｒ２の一端と、固定コンデンサＣ０の一端とが接続される。抵抗Ｒ２の他端および固定コンデンサＣ０の他端は接続点Ｐ３に接続される。即ち、抵抗Ｒ２と固定コンデンサＣ０とは並列に接続されている。また、接続点Ｐ２は、差動増幅回路３３０の第１の入力に接続される。
接続点Ｐ３には、抵抗Ｒ２の他端と、固定コンデンサＣ０の他端と、抵抗Ｒ３の他端とが接続され、接地される。
接続点Ｐ４には、抵抗Ｒ３の一端と、抵抗Ｒ４の他端と、試料分注プローブ２０７とが接続される。また、接続点Ｐ４は、差動増幅回路３３０の第２の入力に接続される。
以上のように構成されたブリッジ回路３２０は、試料分注プローブ２０７と液面との接触の有無を、接続点Ｐ２および接続点Ｐ４の間の電位差の電圧によって検出することができる。固定コンデンサＣ０の静電容量は、試料分注プローブ２０７が通常状態の場合、電位差の電圧がゼロになるように設定されている。
差動増幅回路３３０は、ブリッジ回路３２０から接続点Ｐ２および接続点Ｐ４の間の電位差の電圧信号を入力する。差動増幅回路３３０は、入力された電圧信号を差動増幅することによって発生した差動増幅信号を同期検波回路３４０へと出力する。
同期検波回路３４０は、差動増幅回路３３０から差動増幅信号を入力し、自動移相回路３８０から参照信号を入力する。同期検波回路３４０は、参照信号と同一の周波数成分を有する差動増幅信号だけを選択的に取り出すように動作する。具体的には、同期検波回路３４０は、差動増幅信号と同期した参照信号の極性に従って両波整流を行うことによって発生した同期検波信号を積分回路３５０へと出力する。
試料分注プローブ２０７と液面とが接触していない場合、差動増幅信号と参照信号との位相差が９０度に設定されているため、同期検波回路３４０が出力する同期検波信号はゼロを示す。また、差動増幅信号に多少のばらつきが生じた場合でも、自動移相回路３８０により参照信号の位相が調整されるため、同期検波回路３４０が出力する同期検波信号はゼロを示す。
積分回路３５０は、同期検波回路３４０から同期検波信号を入力する。積分回路３５０は、同期検波信号の所定周波数以上の周波数成分を遮断し、その他の周波数成分を通過させることによって発生した低域通過信号を増幅回路３６０へと出力する。
増幅回路３６０は、積分回路３５０から低域通過信号を入力する。増幅回路３６０は、低域通過信号を増幅することによって発生した出力信号を比較回路３７０および自動移相回路３８０へと出力する。
比較回路３７０は、増幅回路３６０から出力信号を入力する。比較回路３７０は、出力信号と、予め設定された検知レベルとを比較することによって検知情報を生成する。例えば、検知情報に含まれる液面に接触する瞬間の情報は、出力信号を微分回路（図示せず）に入力し、微分回路からの出力をコンパレータ（図示せず）に入力することによって取得される。また例えば、検知情報に含まれる液面に接触している間の情報は、出力信号をコンパレータ（図示せず）に入力することによって取得される。比較回路３７０は、検知情報を制御回路９へと出力する。
自動移相回路３８０は、発振回路３１０から発振信号を入力し、増幅回路３６０から出力信号を入力し、制御回路９からゼロ調整信号を入力する。自動移相回路３８０は、ゼロ調整信号の入力を契機として、発振信号と入力信号とに基づき、参照信号を生成する。自動移相回路３８０は、参照信号を同期検波回路３４０へと出力する。
サンプルホールド回路３８１は、ゼロ調整信号が入力されると、出力信号を誤差増幅回路（図示せず）によって増幅させ、発生した増幅信号を保持する。サンプルホールド回路３８１は、保持した増幅信号を参照信号生成回路３８２へと出力する。
参照信号生成回路３８２は、サンプルホールド回路３８１から増幅信号が入力されると、発振信号と増幅信号とに基づき、参照信号を生成する。このとき、参照信号は、発振信号との位相差が９０度となっている。以下では、自動移相回路３８０のより具体的な構成について図１３を用いて説明する。
図１３は、図１１の自動移相回路３８０の構成を例示する従来図である。自動移相回路３８０は、サンプルホールド回路３８１と、参照信号生成回路３８２とを備える。参照信号生成回路３８２は、乗算回路３８２１と、位相遅回路３８２２と、位相進回路３８２３と、加算回路３８２４とを備える。
位相遅回路３８２２は、発振信号に所定の位相遅れを与えることによって位相遅信号を発生する。位相遅回路３８２２は、位相遅信号を乗算回路３８２１へと出力する。
乗算回路３８２１は、増幅信号と位相遅信号とを乗算することによって乗算信号を発生する。乗算回路３８２１は、乗算信号を加算回路３８２４へと出力する。
位相進回路３８２３は、発振信号に所定の位相進みを与えることによって位相進信号を発生する。位相進回路３８２３は、位相進信号を加算回路３８２４へと出力する。
加算回路３８２４は、乗算回路３８２１から乗算信号を入力し、位相進回路３８２３から位相進信号を入力する。加算回路３８２４は、乗算信号と位相進信号とを加算することによって参照信号を発生する。加算回路３８２４は、参照信号を同期検波回路３４０へと出力する。
以上のように、従来の液面検知回路ＬＤＣは、自動移相回路３８０によって、試料分注プローブ２０７が液面に接触していない状態の出力におけるばらつきをある程度吸収することができる。例えば、液面検知回路ＬＤＣは、ブリッジ回路３２０に搭載される固定コンデンサＣ０の静電容量が３．３ｐＦからずれていたとしても、±４ｐＦまでの変化を吸収することができる。また例えば、液面検知回路ＬＤＣは、試料分注プローブ２０７の移動に伴う固有容量の変化についても同様に、変化を吸収することができる。
換言すると、従来の液面検知回路ＬＤＣは、プローブと液面とが接触した際のインピーダンス変化に伴う信号の振幅および位相の変化を検出し、プローブと液面とが非接触の場合に、上記信号に基づく電圧値を所定の値に調整することができる。
しかし、極端にばらつきが大きくなった場合、従来の液面検知回路ＬＤＣは、出力のばらつきを吸収することができなくなる。例えば、サンプルホールド回路３８１の出力が第１の電圧値（例えば、＋１５Ｖ）以上、或いは第２の電圧値（例えば、－１５Ｖ）以下である場合、液面検知回路ＬＤＣは、自動移相による参照信号の調整が困難となり、ばらつきを吸収することができない。このことは、例えば、試料分注プローブ２０７と、試料分注プローブ２０７と共に用いられる器具（例えば、ピアサ針）とが電気的に接続されることによって発生することがある。即ち、プローブ側の容量が極端に大きくなることによって、差動入力の平衡が固定コンデンサＣ０だけでは維持できなくなることに起因するものである。
以上、分析機構が備える従来の液面検知回路について図１１から図１３を用いて説明した。尚、以上の説明では、試料分注プローブを例としたが、他のプローブ（例えば、試薬分注プローブ）の場合も同様である。
次に、第１の実施形態における、液面検知回路について図３を用いて説明する。第１の実施形態の液面検知回路は、試料分注プローブと液面との接触を検知するものとする。また、第１の実施形態に係る試料分注プローブは、ピアサ針と共に使用されるものとする。
図３は、第１の実施形態における、液面検知回路２１の構成を例示する図である。図３に示される液面検知回路２１は、発振回路３１０、ブリッジ回路３２０、差動増幅回路３３０、同期検波回路３４０、積分回路３５０、増幅回路３６０、比較回路３７０、自動移相回路３８０、および容量調整回路３９０（調整部）を備える。自動移相回路３８０は、サンプルホールド回路３８１および参照信号生成回路３８２を備える。
液面検知回路２１は、容量調整回路３９０が追加されている点において、図１１の液面検知回路ＬＤＣと異なる。液面検知回路２１は、試料分注プローブ２０７と電気的に接続される。また、液面検知回路２１は、ピアサ針２０７１とも電気的に接続される。以下では、ピアサ針２０７１に関して図４および図５を用いて説明する。
図４は、第１の実施形態における、試料分注プローブ２０７とピアサ針２０７１とを例示する図である。図４（ａ）にはピアサ針２０７１の中に収められた試料分注プローブ２０７が示されており、図４（ｂ）にはその断面が示されている。ピアサ針２０７１は、上下方向に長い円筒形の管で形成され、試料分注プローブ２０７が侵入可能となっている。ピアサ針２０７１の上端は、開口部を有し、下端は、針状となっている。ピアサ針２０７１は、試料容器２０３２の蓋２０３２１を穿孔させるために用いられる。
図５は、図４の試料分注プローブ２０７とピアサ針２０７１との動作を例示する図である。図５（ａ）に示すように、ピアサ針２０７１は、駆動機構４により、試料容器２０３２の直上から方向Ｄ１１へ移動される。ピアサ針２０７１が方向Ｄ１１へ移動することによって試料容器２０３２を封止している蓋２０３２１を穿孔した後、図５（ｂ）に示すように、試料分注プローブ２０７は、ピアサ針２０７１の内部へ侵入するように方向Ｄ１２へ移動される。その後、図５（ｃ）に示すように、試料分注プローブ２０７は、ピアサ針２０７１を介して試料容器２０３２に貯留された試料を吸引する。
自動移相回路３８０は、更に、参照信号を発生させる際に用いた増幅信号を容量調整回路３９０へと出力する。具体的には、自動移相回路３８０のサンプルホールド回路３８１は、制御回路９からのゼロ調整信号の入力を契機として、増幅信号を容量調整回路３９０へと出力する。
容量調整回路３９０は、ブリッジ回路３２０と電気的に接続されている。容量調整回路３９０は、自動移相回路３８０から増幅信号を入力する。容量調整回路３９０は、増幅信号の電圧値に応じてブリッジ回路３２０に接続する容量を変更する。換言すると、容量調整回路３９０は、液面検知に用いる回路のコンデンサの静電容量を調整する。以下では、容量調整回路３９０の具体的な構成について図６を用いて説明する。
図６は、第１の実施形態における、ブリッジ回路３２０と、容量調整回路３９０と、ピアサ針２０７１と、試料分注プローブ２０７との接続を例示する図である。以下では、図１２との差分について説明する。
容量調整回路３９０は、判定回路３９１と、スイッチ制御回路３９２と、複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでと、複数のコンデンサＣｓ１からＣｓＮまでとを備える。尚、Ｎは、設計値であり、任意の数でよい。
判定回路３９１は、増幅信号の値を閾値と比較する。具体的には、閾値をゼロとした場合、判定回路３９１は、増幅信号の値がゼロか否かを判定する。判定回路３９１は、増幅信号の値がゼロではない場合に、増幅信号の値に対応した判定信号を生成する。そして、判定回路３９１は、生成した判定信号をスイッチ制御回路３９２へと出力する。
スイッチ制御回路３９２は、判定回路３９１から判定信号を入力する。スイッチ制御回路３９２は、判定信号に基づいて、複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでをそれぞれ制御する制御信号を生成する。スイッチ制御回路３９２は、制御信号を複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでのそれぞれへと出力する。
複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでは、それぞれの一端が接続点Ｐ２に接続され、それぞれの他端が複数のコンデンサＣｓ１からＣｓＮまでのそれぞれの一端に接続される。複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでは、スイッチ制御回路３９２からそれぞれ制御信号を入力する。そして、複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでは、制御信号に従ってそれぞれオン状態とオフ状態とを切り替える。
複数のコンデンサＣｓ１からＣｓＮまでは、それぞれの一端が複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでのそれぞれの他端に接続され、それぞれの他端が接地される。複数のコンデンサＣｓ１からＣｓＮまでは、それぞれ異なる容量を有してもよいし、少なくとも２つが同じ容量を有してもよい。
ブリッジ回路３２０の接続点Ｐ２には、更に、複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでのそれぞれの一端が接続される。また、ブリッジ回路３２０の接続点Ｐ４には、更に、ピアサ針２０７１が接続される。接続点P4にピアサ針２０７１が接続されることによってピアサ針２０７１に関して発生する静電容量が増えるため、容量調整回路３９０は、試料分注プローブ２０７およびピアサ針２０７１の静電容量と平衡するように複数のスイッチを制御し、固定コンデンサＣ０の容量を仮想的に調整する。
例えば、ピアサ針２０７１が接続されることによって接続点Ｐ４側の容量が１０ｐＦ相当になった場合、接続点Ｐ２側の固定コンデンサＣ０の容量（例えば、３．３ｐＦ）だけではブリッジ回路３２０における２出力の平衡が保たれない。そのため、第１の実施形態では、容量調整回路３９０を用いることによって、接続点Ｐ２側の容量を増やし、ブリッジ回路３２０の２出力が平衡するようにしている。
以上説明したように、第１の実施形態に係る自動分析装置は、試料分注プローブと電気的に接続され、試料分注プローブと液面との接触を検知し、液面検知に用いる回路のコンデンサの静電容量を調整する。従って、第１の実施形態に係る自動分析装置は、液面検知の精度を向上することができるため、従来よりも信頼性の高い検査をおこなうことができる。また、この自動分析装置は、ピアサ針などの経年劣化によるばらつきも吸収することができる。
なお、第１の実施形態に係る自動分析装置は、試料分注プローブと液面との接触を検知していたが、これに限らない。例えば、ピアサ針を用いて液面を検知してもよい。これにより、試料分注プローブの径を細くすることができる。
（第２の実施形態）
第１の実施形態では、ブリッジ回路に搭載される固定コンデンサＣ０の見かけ上の静電容量が増やせるように容量調整回路を接続することについて説明した。他方、第２の実施形態では、ブリッジ回路に接続されるプローブに関して発生する静電容量が増やせるように容量調整回路を接続することについて説明する。
以下では、第２の実施形態における、液面検知回路について図７を用いて説明する。第２の実施形態の液面検知回路は、試薬分注プローブと液面との接触を検知するものとする。また、第２の実施形態に係る試薬分注プローブは、ヒータと共に使用されるものとする。
図７は、第２の実施形態における、液面検知回路２１Ａの構成を例示する図である。図７に示される液面検知回路２１Ａは、発振回路３１０Ａ、ブリッジ回路３２０Ａ、差動増幅回路３３０Ａ、同期検波回路３４０Ａ、積分回路３５０Ａ、増幅回路３６０Ａ、比較回路３７０Ａ、自動移相回路３８０Ａ、および容量調整回路３９０Ａを備える。自動移相回路３８０Ａは、サンプルホールド回路３８１Ａおよび参照信号生成回路３８２Ａを備える。
なお、発振回路３１０Ａ、差動増幅回路３３０Ａ、同期検波回路３４０Ａ、積分回路３５０Ａ、増幅回路３６０Ａ、比較回路３７０Ａ、および自動移相回路３８０Ａは、それぞれ発振回路３１０、差動増幅回路３３０、同期検波回路３４０、積分回路３５０、増幅回路３６０、比較回路３７０、および自動移相回路３８０と略同様であり、説明を省略する。
液面検知回路２１Ａは、第１試薬分注プローブ２０９と液面との接触を検知する点において、図３の液面検知回路２１と異なる。液面検知回路２１Ａは、第１試薬分注プローブ２０９と電気的に接続される。また、液面検知回路２１Ａは、ヒータが備えるヒータシールド２０９１とも電気的に接続される。
図８は、第２の実施形態における、第１試薬分注プローブ２０９とヒータ２０９２とを例示する図である。図８（ａ）には、ヒータ２０９２が巻かれたヒータシールド２０９１の中に収められた第１試薬分注プローブ２０９が示されており、図８（ｂ）にはその断面が示されている。ヒータシールド２０９１は、上下方向に長い円筒形の管で形成される導電性の部材である。また、ヒータシールド２０９１は、第１試薬分注プローブ２０９が侵入可能となっている。ヒータ２０９２およびヒータシールド２０９１は、第１試薬分注プローブ２０９に保持された第１試薬を温めるために用いられる。
図９は、第２の実施形態における、ブリッジ回路３２０Ａと、容量調整回路３９０Ａと、ヒータシールド２０９１と、第１試薬分注プローブ２０９との接続を例示する図である。以下では、図６との違い、および図１２との差分について説明する。
ブリッジ回路３２０Ａは、発振回路３１０Ａから発振信号を入力する。また、ブリッジ回路３２０Ａは、第１試薬分注プローブ２０９およびヒータシールド２０９１と電気的に接続されている。ブリッジ回路３２０Ａは、回路中の２つの接続点の間の電位差の電圧を差動増幅回路３３０へと出力する。尚、第１試薬分注プローブ２０９およびヒータシールド２０９１は、互いに導通していないものとする。
具体的には、ブリッジ回路３２０Ａは、４つの抵抗Ｒ１ＡからＲ４Ａまでと、固定コンデンサＣ０Ａとを備える。４つの抵抗Ｒ１ＡからＲ４Ａまでは、それぞれ同一の抵抗値を有する。固定コンデンサＣ０Ａは、第１試薬分注プローブ２０９の通常状態と平衡する静電容量を有する。通常状態とは、第１試薬分注プローブ２０９と液面とが接触していない状態である。また、ブリッジ回路３２０Ａは、４つの接続点Ｐ１ＡからＰ４Ａまでを有する。
接続点Ｐ１Ａには、発振回路３１０Ａの一端と、抵抗Ｒ１Ａの一端と、抵抗Ｒ４Ａの一端とが接続される。発振回路３１０Ａの他端は接地される。抵抗Ｒ１Ａの他端は接続点Ｐ２Ａに接続される。抵抗Ｒ４Ａの他端は接続点Ｐ４Ａに接続される。
接続点Ｐ２Ａには、抵抗Ｒ１Ａの他端と、抵抗Ｒ２Ａの一端と、固定コンデンサＣ０Ａの一端とが接続される。抵抗Ｒ２Ａの他端および固定コンデンサＣ０Ａの他端は接続点Ｐ３Ａに接続される。即ち、抵抗Ｒ２Ａと固定コンデンサＣ０Ａとは並列に接続されている。また、接続点Ｐ２Ａは、差動増幅回路３３０Ａの第１の入力に接続される。
接続点Ｐ３Ａには、抵抗Ｒ２Ａの他端と、固定コンデンサＣ０Ａの他端と、抵抗Ｒ３Ａの他端とが接続され、接地される。
接続点Ｐ４Ａには、抵抗Ｒ３Ａの一端と、抵抗Ｒ４Ａの他端とが接続される。また、接続点Ｐ４Ａは、差動増幅回路３３０Ａの第２の入力に接続される。
以上のように構成されたブリッジ回路３２０Ａは、第１試薬分注プローブ２０９と液面との接触の有無を、接続点Ｐ２Ａおよび接続点Ｐ４Ａの間の電位差の電圧によって検出することができる。固定コンデンサＣ０Ａの静電容量は、第１試薬分注プローブ２０９のみを考慮した場合、電位差の電圧がゼロになるように設定されている。
容量調整回路３９０Ａは、判定回路３９１Ａと、スイッチ制御回路３９２Ａと、複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでと、複数のコンデンサＣｐ１からＣｐＭまでとを備える。尚、Ｍは、設計値であり、任意の数でよい。
判定回路３９１Ａは、増幅信号の値を閾値と比較する。具体的には、閾値をゼロとした場合、判定回路３９１Ａは、増幅信号の値がゼロか否かを判定する。判定回路３９１Ａは、増幅信号の値がゼロではない場合に、増幅信号の値に対応した判定信号を生成する。そして、判定回路３９１Ａは、生成した判定信号をスイッチ制御回路３９２Ａへと出力する。
スイッチ制御回路３９２Ａは、判定回路３９１Ａから判定信号を入力する。スイッチ制御回路３９２Ａは、判定信号に基づいて、複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでをそれぞれ制御する制御信号を生成する。スイッチ制御回路３９２Ａは、制御信号を複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでのそれぞれへと出力する。
複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでは、それぞれの一端が接続点Ｐ４Ａに接続され、それぞれの他端が複数のコンデンサＣｐ１からＣｐＭまでのそれぞれの一端に接続される。複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでは、スイッチ制御回路３９２Ａからそれぞれ制御信号を入力する。そして、複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでは、制御信号に従ってそれぞれオン状態とオフ状態とを切り替える。
複数のコンデンサＣｐ１からＣｐＭまでは、それぞれの一端が複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでのそれぞれの他端に接続され、それぞれの他端が接地される。複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでは、それぞれ異なる容量を有してもよいし、少なくとも２つが同じ容量を有してもよい。
ブリッジ回路３２０Ａの接続点Ｐ２Ａには、更に、ヒータシールド２０９１が接続される。また、ブリッジ回路３２０Ａの接続点Ｐ４Ａには、更に、複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでのそれぞれの一端が接続される。接続点Ｐ２Ａにヒータシールド２０９１が接続されることによってヒータシールド２０９１に関して発生する静電容量が増えるため、容量調整回路３９０Ａは、ヒータシールド２０９１の静電容量と平衡するように複数のスイッチを制御し、第１試薬分注プローブ２０９に関して発生する静電容量を仮想的に調整する。
例えば、ヒータシールド２０９１が接続されることによって、接続点Ｐ２Ａ側の容量が１９０ｐＦ相当になった場合、第１試薬分注プローブ２０９に関して発生する静電容量（例えば、３．３ｐＦ相当）だけではブリッジ回路３２０Ａにおける２出力の平衡が保たれない。そのため、第２の実施形態では、容量調整回路３９０Ａを用いることによって、接続点Ｐ４Ａ側の容量を増やし、ブリッジ回路３２０Ａの２出力が平衡しているようにしている。
以上説明したように、第２の実施形態に係る自動分析装置は、第１試薬分注プローブと電気的に接続され、第１試薬分注プローブと液面との接触を検知し、液面検知に用いる回路のコンデンサの静電容量を調整する。従って、第２の実施形態に係る自動分析装置は、液面検知の精度を向上することができるため、従来よりも信頼性の高い検査をおこなうことができる。また、第２の実施形態に係る自動分析装置は、ヒータの性能に合わせて容量調整回路を設計することが可能であるため、従来は使用することが困難であった温度上昇性能の高いヒータを使用することができる。また、この自動分析装置は、ヒータなどの経年劣化によるばらつきも吸収することができる。
なお、第２の実施形態では、第１試薬分注プローブ２０９およびヒータシールド２０９１が互いに導通していないものとしたが、これに限らない。第１試薬分注プローブ２０９およびヒータシールド２０９１が互いに導通している場合、接続点Ｐ４Ａにはヒータシールド２０９１を接続し、接続点Ｐ２Ａには容量調整回路３９０Ａを接続すればよい。
また、以上の説明では、第１試薬分注プローブ２０９に対してヒータが用いられるものとして説明したが、これに限らない。例えば、第２試薬分注プローブ２１１に対してヒータが用いられてもよい。
（第３の実施形態）
第１の実施形態および第２の実施形態では、固定コンデンサが接続されている側、またはプローブが接続されている側のいずれかに容量調整回路を接続することについて説明した。他方、第３の実施形態では、それら両方に容量調整回路を接続することについて説明する。
図１０は、第３の実施形態における、ブリッジ回路３２０Ｂと容量調整回路３９０Ｂとの接続を例示する図である。尚、図１０では、プローブおよびプローブと共に用いられる器具（例えば、ピアサ針およびヒータ）の図示を省略している。
ブリッジ回路３２０Ｂは、図６のブリッジ回路３２０および図９のブリッジ回路３２０Ａと略同様の構成を備える。具体的には、ブリッジ回路３２０Ｂは、４つの抵抗Ｒ１ＢからＲ４Ｂまでと、固定コンデンサＣ０Ｂとを備える。４つの抵抗Ｒ１ＢからＲ４Ｂまでは、それぞれ同一の抵抗値を有する。固定コンデンサＣ０Ｂは、図示していないプローブの通常状態と平衡する静電容量を有する。通常状態とは、プローブと液面とが接触していない状態である。また、ブリッジ回路３２０Ｂは、４つの接続点Ｐ１ＢからＰ４Ｂまでを有する。尚、４つの抵抗Ｒ１ＢからＲ４Ｂまでと、固定コンデンサＣ０Ｂとの接続関係は、４つの抵抗Ｒ１ＡからＲ４Ａまでと、固定コンデンサＣ０Ａとの接続関係と同様であるため、説明を省略する。
容量調整回路３９０Ｂは、判定回路３９１Ｂと、スイッチ制御回路３９２Ｂと、複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでと、複数のコンデンサＣｓ１からＣｓＮまでと、複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでと、複数のコンデンサＣｐ１からＣｐＭまでとを備える。尚、ＮおよびＭは、どちらも設計値であり、任意の数でよい。
判定回路３９１Ｂは、増幅信号の値を閾値と比較する。具体的には、閾値をゼロとした場合、判定回路３９１Ｂは、増幅信号の値がゼロか否かを判定する。判定回路３９１Ｂは、増幅信号の値がゼロではない場合に、増幅信号の値に対応した判定信号を生成する。そして、判定回路３９１Ｂは、生成した判定信号をスイッチ制御回路３９２Ｂへと出力する。
スイッチ制御回路３９２Ｂは、判定回路３９１Ｂから判定信号を入力する。スイッチ制御回路３９２Ｂは、判定信号に基づいて、複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまで、および複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでの少なくとも一方を制御する制御信号を生成する。スイッチ制御回路３９２Ｂは、制御信号を複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまで、および複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでの少なくとも一方へと出力する。
複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまでは、それぞれの一端が接続点Ｐ２Ｂに接続され、それぞれの他端が複数のコンデンサＣｓ１からＣｓＮまでのそれぞれの一端に接続される。尚、複数のコンデンサＣｓ１からＣｓＮまでは、第１の実施形態と同様のため、説明を省略する。
複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでは、それぞれの一端が接続点Ｐ４Ｂに接続され、それぞれの他端が複数のコンデンサＣｐ１からＣｐＭまでのそれぞれの一端に接続される。尚、複数のコンデンサＣｐ１からＣｐＭまでは、第２の実施形態と同様のため、説明を省略する。
以上のような構成によれば、第３の実施形態に係る自動分析装置は、ピアサ針またはヒータシールドをブリッジ回路３２０Ｂに接続する際に、接続点Ｐ２Ｂおよび接続点Ｐ４Ｂのいずれに接続しても、ブリッジ回路３２０Ｂの２出力が平衡するようにできる。また、第３の実施形態に係る自動分析装置は、複数のスイッチＳＷｓ１からＳＷｓＮまで、および複数のスイッチＳＷｐ１からＳＷｐＭまでを組み合わせて制御することにより、第１の実施形態および第２の実施形態よりも精度の高い制御をすることができる。
（他の実施形態）
第１の実施形態から第３の実施形態に係る自動分析装置では、ブリッジ回路に固定コンデンサを搭載させ、プローブとのバランスを取っていたが、これに限らない。これらの実施形態に係る自動分析装置は、固定コンデンサを搭載させずに、容量調整回路でプローブとのバランスを取ってもよい。
また、第１の実施形態から第３の実施形態に係る自動分析装置では、判定回路での比較において、閾値をゼロとしたが、これに限らない。これらの実施形態に係る自動分析装置は、液面検知が行われた際の、サンプルホールド回路の出力と、ブリッジ回路の出力との関係から、ブリッジ回路の出力が最大となるサンプルホールド回路の出力に合わせて閾値が設定されてもよい。例えば、閾値は０．４Ｖ程度でもよい。
以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、液面検知の精度を向上することができる。
いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、実施形態同士の組み合わせを行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
１ 自動分析装置
２ 分析機構
３ 解析回路
４ 駆動機構
５ 入力インタフェース
６ 出力インタフェース
７ 通信インタフェース
８ 記憶回路
９ 制御回路
２１，２１Ａ，ＬＤＣ 液面検知回路
１００ 試薬容器
２０１ 反応ディスク
２０１１ 反応容器
２０２ 恒温部
２０３ ラックサンプラ
２０３１ 試料ラック
２０３２ 試料容器
２０３２１ 蓋
２０４ 第１試薬庫
２０５ 第２試薬庫
２０６ 試料分注アーム
２０７ 試料分注プローブ
２０７１ ピアサ針
２０８ 第１試薬分注アーム
２０９ 第１試薬分注プローブ
２０９１ ヒータシールド
２０９２ ヒータ
２１０ 第２試薬分注アーム
２１１ 第２試薬分注プローブ
２１２ 電極ユニット
２１３ 測光ユニット
２１４ 洗浄ユニット
２１５ 攪拌ユニット
３３０，３３０Ａ 差動増幅回路
３６０，３６０Ａ 増幅回路

Claims (7)

  1. プローブと、
    前記プローブと電気的に接続され、前記プローブと液面との接触を検知する液面検知手段と、
    を具備し、
    前記液面検知手段は、液面検知に用いる回路のコンデンサの静電容量を調整する調整部を含む、自動分析装置。
  2. 前記調整部は、前記液面検知に用いる回路に接続されるコンデンサを切り替えることによって静電容量を調整する、
    請求項１に記載の自動分析装置。
  3. 前記液面検知に用いる回路は、ブリッジ回路であり、
    前記調整部は、前記ブリッジ回路に接続されるコンデンサを切り替えることによって静電容量を調整する、
    請求項１または請求項２に記載の自動分析装置。
  4. 試料容器の蓋を穿孔し、内部に前記プローブが侵入可能に構成されたピアサ針と、
    前記ピアサ針を駆動する駆動機構と
    を更に具備し、
    前記調整部は、前記ピアサ針に起因する静電容量のばらつきを調整する、
    請求項１から請求項３までのうちのいずれか一項に記載の自動分析装置。
  5. 前記プローブ内の液体を加熱するヒータと、
    前記ヒータと前記プローブとの間に設けられた導電性の部材と
    を更に具備し、
    前記調整部は、前記部材に起因する静電容量のばらつきを調整する、
    請求項１から請求項３までのうちのいずれか一項に記載の自動分析装置。
  6. 前記液面検知手段は、前記プローブと前記液面とが接触した際のインピーダンス変化に伴う信号の振幅および位相の変化を検出し、前記プローブと前記液面とが非接触の場合に、前記信号に基づく電圧値を所定の値に調整する、
    請求項１から請求項５までのうちのいずれか一項に記載の自動分析装置。
  7. 前記調整部は、複数のスイッチと、複数のコンデンサと、スイッチ制御部と、判定部とを具備し、
    前記複数のスイッチは、前記複数のコンデンサのそれぞれと、前記液面検知に用いる回路とに電気的に接続され、
    前記スイッチ制御部は、前記判定部からの入力に基づいて、前記複数のスイッチのオンオフを制御する、
    請求項１から請求項６までのいずれか一項に記載の自動分析装置。
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