JP2022117853A - 診断回路、電子デバイス及び診断方法 - Google Patents

Abstract

【課題】診断回路の小型化を図る。【解決手段】診断回路１０は、第１マルチプレクサ１の診断を行う診断回路である。第１マルチプレクサ１は、複数の入力データＤ１の入力を受け付け、複数の入力データＤ１の１つを選択して選択データＤ２として出力する。診断回路１０は、比較部３と、第２マルチプレクサ２と、を備える。比較部３は、第１マルチプレクサ１に入力される複数の入力データＤ１の各々と第１マルチプレクサ１から出力される選択データＤ２とを比較する。第２マルチプレクサ２は、複数の入力データＤ１に対する比較部３の複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データＤ３の入力を受け付け、複数の比較データＤ３のうち、第１マルチプレクサ１で選択された入力データＤ１と選択データＤ２との比較結果を含む比較データＤ３を結果データＤ４として出力する。【選択図】図１

Description

本開示は、一般に診断回路、電子デバイス及び診断方法に関し、より詳細には、マルチプレクサの診断を行う診断回路、診断回路を備える電子デバイス、及び診断回路に用いられる診断方法に関する。

特許文献１には、複数の電池セルを直列に接続した蓄電器を監視する蓄電器監視装置が記載されている。特許文献１に記載の蓄電器監視装置は、複数のバランシングスイッチにより複数の電池セルのいずれか１つを放電状態とし、残りの電池セルを放電停止状態としたときに、放電経路をバランシング用マルチプレクサにより順次選択し、差動増幅器及びＡＤ変換器を用いて各バランシングスイッチの両端電圧を測定する。そして、この蓄電器監視装置は、各バランシングスイッチの両端電圧の測定値を所定の期待値と比較し、その比較結果に基づいてバランシング用マルチプレクサが正常であるか否かを診断する。

特開２０１５－１４２４３１号公報

特許文献１に記載の蓄電器監視装置のように、マルチプレクサ（バランシング用マルチプレクサ）が正常であるか否かを診断する場合において、診断対象となるマルチプレクサと同じマルチプレクサを用いて診断することが可能である。この場合、２つのマルチプレクサの出力が一致しているか否かによって、診断対象のマルチプレクサが正常であるか否かを診断することができる。

ところで、近年では、このようなマルチプレクサを用いた電子デバイス（例えば、センサ）の高精度化、高分解能化が求められており、電子デバイス内のデジタル信号処理で扱われるデータのビット数も増加傾向にある。さらに、デジタル信号処理では、高精度化のために演算が複雑化することで、扱われるデータ数も増加し、データ選択のためのマルチプレクサの個数も増加する。そして、各マルチプレクサが扱うデータのビット数及びデータ数が増加するにしたがって、各マルチプレクサが大型化するという問題があった。

このため、上述のような診断において、診断用のマルチプレクサとして、診断対象のマルチプレクサと同じマルチプレクサが用いられると、診断対象のマルチプレクサが扱うデータのビット数及びデータ数が増加するにしたがって、診断用のマルチプレクサが大型化する。その結果、診断用のマルチプレクサを備える診断回路も大型化するという問題があった。

本開示の目的は、小型化を図ることが可能な診断回路、電子デバイス及び診断方法を提供することにある。

本開示の一態様に係る診断回路は、第１マルチプレクサの診断を行う診断回路である。前記第１マルチプレクサは、複数の入力データの入力を受け付け、前記複数の入力データの１つを選択して選択データとして出力する。前記診断回路は、比較部と、第２マルチプレクサと、を備える。前記比較部は、前記第１マルチプレクサに入力される前記複数の入力データの各々と前記第１マルチプレクサから出力される前記選択データとを比較する。前記第２マルチプレクサは、前記複数の入力データに対する前記比較部の複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データの入力を受け付け、前記複数の比較データのうち、前記第１マルチプレクサで選択された入力データと前記選択データとの比較結果を含む比較データを結果データとして出力する。

本開示の一態様に係る電子デバイスは、前記診断回路と、前記第１マルチプレクサと、を備える。

本開示の一態様に係る診断方法は、マルチプレクサの診断を行う診断回路の診断方法である。前記マルチプレクサは、複数の入力データの入力を受け付け、前記複数の入力データの１つを選択して選択データとして出力する。前記診断方法は、比較ステップと、出力ステップと、を有する。前記比較ステップは、前記マルチプレクサに入力される前記複数の入力データの各々と前記マルチプレクサから出力される前記選択データとを前記診断回路にて比較するステップである。前記出力ステップは、前記診断回路にて前記複数の入力データに対する前記比較ステップの複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データのうち、前記マルチプレクサで選択された入力データと前記選択データとの比較結果を含む比較データを結果データとして出力するステップである。

本開示の一態様に係る診断回路、電子デバイス及び診断方法によれば、診断回路の小型化を図ることが可能となる。

図１は、実施形態に係る診断回路を備える電子デバイスの概略構成図である。 図２は、同上の診断回路が備える第２マルチプレクサの一例を示す概略回路図である。 図３は、同上の診断回路の動作を示すフローチャートである。

（実施形態）
（１）概要
まず、実施形態に係る診断回路１０及び電子デバイス１００の概要について、図１を参照して説明する。

実施形態に係る診断回路１０は、電子デバイス１００に用いられる。電子デバイス１００は、例えば、加速度を検出する加速度センサ、又は角速度を検出する角速度センサ（ジャイロセンサ）である。実施形態では一例として、電子デバイス１００は、加速度センサである。電子デバイス１００は、図１に示すように、第１マルチプレクサ１と、診断回路１０と、を備えている。第１マルチプレクサ１は、複数（例えば、３つ）の入力データＤ１の入力を受け付け、複数の入力データＤ１の１つを選択データＤ２として選択して出力する。複数の入力データＤ１及び選択データＤ２の各々は、ｎ１ビットのデータである。ｎ１は２以上の自然数であり、一例として、ｎ１は２０である。すなわち、実施形態に係る診断回路１０では、複数の入力データＤ１及び選択データＤ２の各々は、２０ビットのデータである。

診断回路１０は、例えば、第１マルチプレクサ１の故障診断を行うための診断回路である。診断回路１０は、図１に示すように、比較部３と、第２マルチプレクサ２と、を備えている。比較部３は、複数（例えば、３つ）の比較回路３１を含む。実施形態に係る診断回路１０では、複数の比較回路３１は、複数の入力データＤ１と一対一に対応している。すなわち、実施形態に係る診断回路１０では、複数の入力データＤ１の個数と、複数の比較回路３１の個数とが同数である。

複数の比較回路３１の各々は、複数の入力データＤ１のうち対応する入力データＤ１と選択データＤ２とを比較し、比較結果である比較データＤ３を出力する。すなわち、比較部３は、第１マルチプレクサ１に入力される複数の入力データＤ１の各々と第１マルチプレクサ１から出力される選択データＤ２とを比較する。第２マルチプレクサ２は、複数（例えば、３つ）の比較データＤ３の入力を受け付け、複数の比較データＤ３のうち、第１マルチプレクサ１で選択された入力データＤ１と選択データＤ２との比較結果を含む比較データＤ３を結果データＤ４として出力する。複数の比較データＤ３は、複数の入力データＤ１に対する比較部３の複数の比較結果に一対一に対応している。複数の比較データＤ３及び結果データＤ４は、複数の入力データＤ１と選択データＤ２との比較結果であり、ｎ２ビットのデータである。ｎ２はｎ１より小さい自然数であり、一例として、ｎ２は１である。すなわち、実施形態に係る診断回路１０では、複数の比較データＤ３及び結果データＤ４の各々は、１ビットのデータである。

例えば、比較データＤ３は、入力データＤ１と選択データＤ２とが一致している場合に「０」であり、一致していない場合に「１」である。なお、比較データＤ３は、入力データＤ１と選択データＤ２とが一致している場合に「１」であり、一致していない場合に「０」であってもよい。

実施形態に係る診断回路１０及び電子デバイス１００では、上述したように、第２マルチプレクサ２は、複数の比較データＤ３のうち、第１マルチプレクサ１で選択された入力データＤ１と選択データＤ２との比較結果である比較データＤ３を結果データＤ４として出力する。そして、複数の比較データＤ３の各々は、ｎ１より小さいｎ２ビットのデータである。したがって、複数のｎ１ビットの入力データを第２マルチプレクサに入力し、第１マルチプレクサの出力と第２マルチプレクサの出力とを比較する場合に比べて、第２マルチプレクサ２を小型化することが可能となる。その結果、第２マルチプレクサ２を備える診断回路１０及び電子デバイス１００の小型化を図ることが可能となる。

（２）詳細
次に、実施形態に係る診断回路１０及び電子デバイス１００の構成について、図１及び図２を参照して説明する。

実施形態に係る電子デバイス１００は、上述したように、第１マルチプレクサ１と、診断回路１０と、を備えている。また、電子デバイス１００は、第１マルチプレクサ１及び診断回路１０が実装されるプリント配線板を更に備えている。すなわち、プリント配線板には、診断回路１０を構成する複数の比較回路３１及び第２マルチプレクサ２も実装される。

（２．１）第１マルチプレクサ
第１マルチプレクサ１は、上述したように、複数の入力データＤ１の入力を受け付け、受け付けた複数の入力データＤ１の１つを選択して選択データＤ２として出力する。複数の入力データＤ１の個数はｍである。ｍは２以上の自然数であり、一例として、ｍは３である。すなわち、実施形態に係る電子デバイス１００では、複数の入力データＤ１の個数は３である。要するに、実施形態に係る電子デバイス１００では、第１マルチプレクサ１は、３つの入力データＤ１の入力を受け付け、受け付けた３つの入力データＤ１の１つを選択して選択データＤ２として出力する。第１マルチプレクサ１は、選択信号Ｓ１，Ｓ２に基づいて、複数の入力データＤ１の中から選択データＤ２として出力する入力データＤ１を選択する。選択信号Ｓ１，Ｓ２は、例えば、電子デバイス１００の外部に設けられた制御回路から出力される。

複数の入力データＤ１の各々は、上述したように、ｎ１ビットのデータである。複数の入力データＤ１の各々は、一例として、２０ビットのデータである。したがって、第１マルチプレクサ１から出力される選択データＤ２も、２０ビットのデータである。第１マルチプレクサ１から出力された選択データＤ２は、例えば、加速度又は角速度を演算するための演算回路に入力される。以下の説明において、複数の入力データＤ１を区別する必要がある場合には、複数の入力データＤ１の各々を、「入力データＤ１１，Ｄ１２，Ｄ１３」と称することもある。なお、第１マルチプレクサ１の回路構成は、後述する第２マルチプレクサ２と同様であるため、ここでは説明を省略する。

複数の入力データＤ１の各々は、例えば、センサデータ、補正係数、フィルタ係数、制御データ及び処理データを含む。センサデータは、３軸（Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸）の加速度データである。補正係数は、加速度データを補正するための係数である。フィルタ係数は、加速度データからノイズ成分を除去するための係数である。制御データは、上述の演算回路等を制御するためのデータである。処理データは、電子デバイス１００の処理に要するデータである。

（２．２）診断回路
診断回路１０は、上述したように、比較部３と、第２マルチプレクサ２と、を備えている。また、比較部３は、上述したように、複数の比較回路３１を含む。

複数の比較回路３１の各々は、図１に示すように、入力データＤ１と選択データＤ２とを比較するための回路である。上述したように、入力データＤ１及び選択データＤ２の各々は、ｎ１ビットのデータである。したがって、複数の比較回路３１の各々は、（２×ｎ１－１）個のＥＸＯＲ回路（exclusive-OR circuit）で構成されている。実施形態に係る診断回路１０では、入力データＤ１及び選択データＤ２の各々は、２０ビットのデータであり、複数の比較回路３１の各々は、３９個のＥＸＯＲ回路で構成されている。複数の比較回路３１の各々は、入力データＤ１と選択データＤ２との比較結果である比較データＤ３を出力する。比較データＤ３は、上述したように、１ビットのデータである。複数の比較回路３１の各々から出力される比較データＤ３は、第２マルチプレクサ２に入力される。以下の説明において、複数の比較回路３１を区別する必要がある場合には、複数の比較回路３１の各々を、「比較回路３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ」と称することもある。

第２マルチプレクサ２は、上述したように、比較部３の複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データＤ３の入力を受け付け、受け付けた複数の入力データＤ１のうち、第１マルチプレクサ１で選択された入力データと選択データＤ２との比較結果を含む比較データＤ３を結果データＤ４として出力する。実施形態に係る診断回路１０では、複数の比較データＤ３の個数は３つである。すなわち、実施形態に係る診断回路１０では、第２マルチプレクサ２は、３つの比較データＤ３の中から選択した１つの比較データＤ３を結果データＤ４として出力する。第２マルチプレクサ２は、選択信号Ｓ１，Ｓ２に基づいて、複数の比較データＤ３の中から結果データＤ４として出力する比較データＤ３を選択する。すなわち、実施形態に係る電子デバイス１００では、複数の入力データＤ１の中から選択データＤ２を選択する際に第１マルチプレクサ１に入力される選択信号Ｓ１，Ｓ２と、複数の比較データＤ３の中から結果データＤ４を選択する際に第２マルチプレクサ２に入力される選択信号Ｓ１，Ｓ２と、が同一の信号である。複数の比較データＤ３の各々は、上述したように、１ビットのデータである。したがって、第２マルチプレクサ２から出力される結果データＤ４も、１ビットのデータである。以下の説明において、複数の比較データＤ３を区別する必要がある場合には、複数の比較データＤ３の各々を、「比較データＤ３１，Ｄ３２，Ｄ３３」と称することもある。

（２．３）第２マルチプレクサの回路構成
次に、第２マルチプレクサ２の回路構成について、図２を参照して説明する。

第２マルチプレクサ２は、上述したように、３つの比較データＤ３の入力を受け付け、受け付けた３つの比較データＤ３のうち、第１マルチプレクサ１で選択された入力データＤ１と選択データＤ２との比較結果である比較データＤ３を結果データＤ４として出力する。また、３つの比較データＤ３の各々は、上述したように、１ビットのデータである。したがって、実施形態に係る診断回路１０では、第２マルチプレクサ２は、図２に示すように、２つの単位回路２１，２２によって構成される。単位回路２１は、２つのＡＮＤ回路２１１，２１２と、ＯＲ回路２１３と、ＮＯＴ回路２１４と、を含む。単位回路２２は、２つのＡＮＤ回路２２１，２２２と、ＯＲ回路２２３と、ＮＯＴ回路２２４と、を含む。

ＡＮＤ回路２１１は、２つの入力端子２１１１，２１１２と、出力端子２１１３と、を有している。入力端子２１１１は、上述の比較データＤ３１を第２マルチプレクサ２に入力するための端子である。入力端子２１１２は、選択信号Ｓ１を第２マルチプレクサ２に入力するための端子である。出力端子２１１３は、ＯＲ回路２１３の入力端子２１３１に接続されている。

ＡＮＤ回路２１２は、２つの入力端子２１２１，２１２２と、出力端子２１２３と、を有している。入力端子２１２１は、上述の比較データＤ３２を第２マルチプレクサ２に入力するための端子である。入力端子２１２２は、ＮＯＴ回路２１４の出力端子２１４２に接続されている。出力端子２１２３は、ＯＲ回路２１３の入力端子２１３２に接続されている。

ＯＲ回路２１３は、２つの入力端子２１３１，２１３２と、出力端子２１３３と、を有している。入力端子２１３１は、上述したように、ＡＮＤ回路２１１の出力端子２１１３に接続されている。入力端子２１３２は、上述したように、ＡＮＤ回路２１２の出力端子２１２３に接続されている。出力端子２１３３は、単位回路２２のＡＮＤ回路２２２の入力端子２２２１に接続されている。

ＮＯＴ回路２１４は、入力端子２１４１と、出力端子２１４２と、を有している。入力端子２１４１は、選択信号Ｓ１を第２マルチプレクサ２に入力するための端子である。出力端子２１４２は、上述したように、ＡＮＤ回路２１２の入力端子２１２２に接続されている。

ＡＮＤ回路２２１は、２つの入力端子２２１１，２２１２と、出力端子２２１３と、を有している。入力端子２２１１は、上述の比較データＤ３３を第２マルチプレクサ２に入力するための端子である。入力端子２２１２は、選択信号Ｓ２を第２マルチプレクサ２に入力するための端子である。出力端子２２１３は、ＯＲ回路２２３の入力端子２２３１に接続されている。

ＡＮＤ回路２２２は、２つの入力端子２２２１，２２２２と、出力端子２２２３と、を有している。入力端子２２２１は、上述したように、単位回路２１のＯＲ回路２１３の出力端子に接続されている。入力端子２２２２は、ＮＯＴ回路２２４の出力端子２２４２に接続されている。出力端子２２２３は、ＯＲ回路２２３の入力端子２２３２に接続されている。

ＯＲ回路２２３は、２つの入力端子２２３１，２２３２と、出力端子２２３３と、を有している。入力端子２２３１は、上述したように、ＡＮＤ回路２２１の出力端子２２１３に接続されている。入力端子２２３２は、上述したように、ＡＮＤ回路２２２の出力端子２２２３に接続されている。出力端子２２３３は、結果データＤ４を第２マルチプレクサ２から出力するための端子である。

ＮＯＴ回路２２４は、入力端子２２４１と、出力端子２２４２と、を有している。入力端子２２４１は、選択信号Ｓ２を第２マルチプレクサ２に入力するための端子である。出力端子２２４２は、上述したように、ＡＮＤ回路２２２の入力端子２２２２に接続されている。

２つの単位回路２１，２２で構成される第２マルチプレクサ２は、上述したように、第１マルチプレクサ１及び複数の比較回路３１と共にプリント配線板に実装される。

ここで、実施形態に係る診断回路１０では、上述したように、第２マルチプレクサ２に入力される比較データＤ３の個数は３つである。これに対して、第２マルチプレクサ２を構成する単位回路の個数は２つである。また、第２マルチプレクサ２に入力される比較データの個数が２つの場合、第２マルチプレクサ２を構成する単位回路の個数は１つである。すなわち、第２マルチプレクサ２に入力される比較データＤ３の個数が１つ増加するたびに、単位回路の個数も１つ増加することになる。したがって、第２マルチプレクサ２に入力される比較データＤ３の個数が増加するたびに、プリント配線板における第２マルチプレクサ２の実装面積も増加することになる。

また、第２マルチプレクサ２のようなマルチプレクサでは、一般的に、マルチプレクサに入力されるデータのビット数が増加するたびに、マルチプレクサの単位回路の個数も増加することになり、プリント配線板におけるマルチプレクサの実装面積も増加する。

このため、例えば、第１マルチプレクサの出力と第２マルチプレクサの出力とを比較することにより第１マルチプレクサの故障診断を行う場合（比較例）では、第１マルチプレクサへの入力が第２マルチプレクサに入力されるため、第２マルチプレクサに入力されるデータのビット数が大きくなり、プリント配線板における第２マルチプレクサの実装面積も大きくなる。その結果、診断回路及び電子デバイスが大型化するという問題があった。

これに対して、実施形態に係る診断回路１０及び電子デバイス１００は、上述したように、１ビットの比較データＤ３を第２マルチプレクサ２に入力するように構成されている。したがって、第１マルチプレクサの出力と第２マルチプレクサの出力とを比較する場合（比較例）に比べて、第２マルチプレクサ２に入力されるデータのビット数を小さくすることが可能となり、その結果、第２マルチプレクサ２を小型化することが可能となる。これにより、プリント配線板における第２マルチプレクサ２の実装面積を小さくすることが可能となり、その結果、第２マルチプレクサ２を備える診断回路１０、及び診断回路１０を備える電子デバイス１００の小型化を図ることが可能となる。

ここで、第２マルチプレクサ２に入力される入力データＤ１の個数は１０以上であることが好ましい。この場合、第１マルチプレクサの出力と第２マルチプレクサの出力とを比較することにより第１マルチプレクサの故障診断を行う場合に比べて、プリント配線板における診断回路１０の実装面積を２割以上削減することが可能となる。ここで、プリント配線板における診断回路１０の実装面積には、第２マルチプレクサ２の実装面積、及び複数の比較回路３１の実装面積に加えて、複数の比較回路３１と第２マルチプレクサ２との間の配線の実装面積も含まれている。

（３）動作
次に、実施形態に係る診断回路１０の動作について、図３を参照して説明する。

まず、複数の比較回路３１の各々は、複数の入力データＤ１のうち対応する入力データＤ１と選択データＤ２とを比較する（比較ステップＳＴ１）。より具体的には、比較回路３１Ａは、入力データＤ１１と選択データＤ２とを比較し、比較結果である比較データＤ３１を第２マルチプレクサ２に出力する。また、比較回路３１Ｂは、入力データＤ１２と選択データＤ２とを比較し、比較結果である比較データＤ３２を第２マルチプレクサ２に出力する。また、比較回路３１Ｃは、入力データＤ１３と選択データＤ２とを比較し、比較結果である比較データＤ３３を第２マルチプレクサ２に出力する。

第２マルチプレクサ２は、上述の制御回路からの選択信号Ｓ１，Ｓ２によって、３つの比較データＤ３の中から１つの比較データＤ３を選択する（選択ステップＳＴ２）。ここで、選択信号Ｓ１，Ｓ２の各々は、１ビットの信号であって、「０」又は「１」である。第２マルチプレクサ２は、例えば、選択信号Ｓ１が「１」で、選択信号Ｓ２が「０」であれば、比較データＤ３１を選択する。また、第２マルチプレクサ２は、例えば、選択信号Ｓ１が「０」で、選択信号Ｓ２が「０」であれば、比較データＤ３２を選択する。また、第２マルチプレクサ２は、例えば、選択信号Ｓ１が「０」で、選択信号Ｓ２が「１」であれば、比較データＤ３３を選択する。そして、第２マルチプレクサ２は、上述の選択ステップＳＴ２で選択した比較データＤ３を結果データＤ４として出力する（出力ステップＳＴ３）。このように、第２マルチプレクサ２は、選択信号Ｓ１，Ｓ２によって順番に選択される比較データＤ３を結果データＤ４として順番に出力する。

すなわち、実施形態に係る診断方法は、上述したように、第１マルチプレクサ１の診断を行う診断回路１０の診断方法である。第１マルチプレクサ１は、複数の入力データＤ１（Ｄ１１，Ｄ１２，Ｄ１３）の入力を受け付け、複数の入力データＤ１の１つを選択して選択データＤ２として出力する。この診断方法は、比較ステップＳＴ１と、出力ステップＳＴ３と、を有する。比較ステップＳＴ１は、第１マルチプレクサ１に入力される複数の入力データＤ１の各々と第１マルチプレクサ１から出力される選択データＤ２とを診断回路１０にて比較するステップである。出力ステップＳＴ３は、診断回路１０にて複数の入力データＤ１に対する比較ステップＳＴ１の複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データＤ３のうち、第１マルチプレクサ１で選択された入力データＤ１と選択データＤ２との比較結果を含む比較データＤ３を結果データＤ４として出力するステップである。

（４）効果
実施形態に係る診断回路１０は、上述したように、比較部３の比較結果である複数の比較データＤ３が第２マルチプレクサ２に入力されるように構成されている。そして、複数の比較データＤ３の各々は、上述したように、１ビットのデータである。一方で、第１マルチプレクサ１に入力される複数の入力データＤ１の各々は、上述したように、２０ビットのデータである。したがって、実施形態に係る診断回路１０によれば、２０ビットの入力データを第２マルチプレクサに入力し、第１マルチプレクサの出力と第２マルチプレクサの出力とを比較する場合（比較例）に比べて、第２マルチプレクサ２を小型化することが可能となる。これにより、第２マルチプレクサ２を備える診断回路１０、及び診断回路１０を備える電子デバイス１００の小型化を図ることが可能となる。特に、入力データＤ１の個数が１０以上であれば、プリント配線板における第２マルチプレクサ２の実装面積を２割以上削減することが可能となる。

また、実施形態に係る診断回路１０では、上述したように、複数の入力データＤ１と複数の比較回路３１とが一対一に対応している。すなわち、複数の入力データＤ１の個数と複数の比較回路３１の個数とが同数である。この場合、複数の入力データＤ１と選択データＤ２との比較を同時に行うことが可能であり、複数の入力データの個数が比較回路の個数よりも多い場合に比べて、入力データＤ１と選択データＤ２との比較処理に要する時間を短縮することが可能となる。

また、実施形態に係る診断回路１０では、複数の入力データＤ１の中から選択データＤ２を選択する際に第１マルチプレクサ１に入力される選択信号Ｓ１，Ｓ２と、複数の比較データＤ３の中から結果データＤ４を選択する際に第２マルチプレクサ２に入力される選択信号Ｓ１，Ｓ２と、が同一の信号である。これにより、第１マルチプレクサ１から選択データＤ２を出力するタイミングで、この選択データＤ２について第１マルチプレクサ１が正常であるか否かを診断することが可能となる。

（５）変形例
上述の実施形態は、本開示の様々な実施形態の一つにすぎない。上述の実施形態は、本開示の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。以下、上述の実施形態の変形例を列挙する。以下に説明する変形例は、適宜組み合わせて適用可能である。

第１マルチプレクサ１への入力データの個数は、上述の実施形態では３つであるが、３つに限らない。第１マルチプレクサ１への入力データの個数は、１つ又は２つであってもよいし、４つ以上であってもよい。このような場合であっても、第１マルチプレクサの出力と第２マルチプレクサの出力とを比較する場合（比較例）に比べて、プリント配線板における第２マルチプレクサ２の実装面積を削減することが可能となる。これにより、診断回路１０の小型化を図ることが可能となる。

上述したように、第１マルチプレクサ１への入力データの個数が１０個以上であれば、第１マルチプレクサの出力と第２マルチプレクサの出力とを比較する場合（比較例）に比べて、プリント配線板における第２マルチプレクサ２の実装面積を２割以上削減することが可能となる。これにより、第１マルチプレクサへの入力データの個数が１０個よりも少ない場合に比べて、診断回路１０の更なる小型化を図ることが可能となる。

複数の入力データＤ１の各々のビット数は、上述の実施形態では２０であるが、２０に限らない。複数の入力データＤ１の各々のビット数は、例えば、３０、５０又は１００であってもよいし、それ以外であってもよい。

上述の実施形態では、複数の入力データＤ１の個数と比較回路３１の個数とが同数であるが、複数の入力データＤ１の個数と比較回路３１の個数とが異なっていてもよい。より具体的には、複数の比較回路３１の個数が複数の入力データＤ１の個数よりも少なくてもよい。

（態様）
本明細書には、以下の態様が開示されている。

第１の態様に係る診断回路（１０）は、第１マルチプレクサ（１）の診断を行う診断回路（１０）である。第１マルチプレクサ（１）は、複数の入力データ（Ｄ１）の入力を受け付け、複数の入力データ（Ｄ１）の１つを選択して選択データ（Ｄ２）として出力する。診断回路（１０）は、比較部（３）と、第２マルチプレクサ（２）と、を備える。比較部（３）は、第１マルチプレクサ（１）に入力される複数の入力データ（Ｄ１）の各々と第１マルチプレクサ（１）から出力される選択データ（Ｄ２）とを比較する。第２マルチプレクサ（２）は、複数の入力データ（Ｄ１）に対する比較部（３）の複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データ（Ｄ３）の入力を受け付け、複数の比較データ（Ｄ３）のうち、第１マルチプレクサ（１）で選択された入力データ（Ｄ１）と選択データ（Ｄ２）との比較結果を含む比較データ（Ｄ３）を結果データ（Ｄ４）として出力する。

この態様によれば、診断回路（１０）の小型化を図ることが可能となる。

第２の態様に係る診断回路（１０）では、第１の態様において、比較部（３）は、複数の比較回路（３１）を含む。複数の比較回路（３１）は、複数の入力データ（Ｄ１）と一対一に対応する。複数の比較回路（３１）の各々は、複数の入力データ（Ｄ１）のうち対応する入力データ（Ｄ１）と選択データ（Ｄ２）とを比較し、対応する入力データ（Ｄ１）に対する比較結果を出力する。

この態様によれば、入力データ（Ｄ１）と選択データ（Ｄ２）との比較処理に要する時間を短くすることが可能となる。

第３の態様に係る診断回路（１０）では、第１又は第２の態様において、複数の入力データ（Ｄ１）の各々は、ｎ１（ｎ１は２以上の自然数）ビットのデータである。複数の比較データ（Ｄ３）の各々は、ｎ２（ｎ２はｎ１より小さい自然数）ビットのデータである。

この態様によれば、診断回路（１０）の小型化を図ることが可能となる。

第４の態様に係る診断回路（１０）では、第３の態様において、複数の比較データ（Ｄ３）の各々は、１ビットのデータである。

この態様によれば、診断回路（１０）の小型化を図ることが可能となる。

第５の態様に係る電子デバイス（１００）は、第１～第４の態様のいずれか１つの診断回路（１０）と、第１マルチプレクサ（１）と、を備える。

この態様によれば、診断回路（１０）を備えているので、電子デバイス（１００）の小型化を図ることが可能となる。

第６の態様に係る電子デバイス（１００）では、第５の態様において、複数の入力データ（Ｄ１）の中から選択データ（Ｄ２）を選択する際に第１マルチプレクサ（１）に入力される選択信号（Ｓ１，Ｓ２）と、複数の比較データ（Ｄ３）の中から結果データ（Ｄ４）を選択する際に第２マルチプレクサ（２）に入力される選択信号（Ｓ１，Ｓ２）と、が同一の信号である。

この態様によれば、第１マルチプレクサ（１）から選択データ（Ｄ２）を出力するタイミングで、この選択データ（Ｄ２）について第１マルチプレクサ（１）が正常であるか否かを診断することが可能となる。

第７の態様に係る電子デバイス（１００）では、第５又は第６の態様において、複数の入力データ（Ｄ１）の個数は、１０以上である。

この態様によれば、複数の入力データ（Ｄ１）の個数が１０よりも小さい場合に比べて、電子デバイス（１００）の更なる小型化を図ることが可能となる。

第８の態様に係る診断方法は、マルチプレクサ（１）の診断を行う診断回路（１０）の診断方法である。マルチプレクサ（１）は、複数の入力データ（Ｄ１）の入力を受け付け、複数の入力データ（Ｄ１）の１つを選択して選択データ（Ｄ２）として出力する。診断方法は、比較ステップ（ＳＴ１）と、出力ステップ（ＳＴ３）と、を有する。比較ステップ（ＳＴ１）は、マルチプレクサ（１）に入力される複数の入力データ（Ｄ１）の各々とマルチプレクサ（１）から出力される選択データ（Ｄ２）とを診断回路（１０）にて比較するステップである。出力ステップ（ＳＴ３）は、診断回路（１０）にて複数の入力データ（Ｄ１）に対する比較ステップ（ＳＴ１）の複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データ（Ｄ３）のうち、マルチプレクサ（１）で選択された入力データ（Ｄ１）と選択データ（Ｄ２）との比較結果を含む比較データ（Ｄ３）を結果データ（Ｄ４）として出力するステップである。

この態様によれば、診断回路（１０）の小型化を図ることが可能となる。

第２～第４の態様に係る構成については、診断回路（１０）に必須の構成ではなく、適宜省略可能である。

第６～第７の態様に係る構成については、電子デバイス（１００）に必須の構成ではなく、適宜省略可能である。

１ 第１マルチプレクサ
２ 第２マルチプレクサ
３ 比較部
１０ 診断回路
３１，３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ 比較回路
１００ 電子デバイス
Ｄ１，Ｄ１１，Ｄ１２，Ｄ１３ 入力データ
Ｄ２ 選択データ
Ｄ３，Ｄ３１，Ｄ３２，Ｄ３３ 比較データ
Ｄ４ 結果データ
Ｓ１，Ｓ２ 選択信号
ＳＴ１ 比較ステップ
ＳＴ３ 出力ステップ

Claims (8)

1. 複数の入力データの入力を受け付け、前記複数の入力データの１つを選択して選択データとして出力する第１マルチプレクサの診断を行う診断回路であって、
   前記第１マルチプレクサに入力される前記複数の入力データの各々と前記第１マルチプレクサから出力される前記選択データとを比較する比較部と、
   前記複数の入力データに対する前記比較部の複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データの入力を受け付け、前記複数の比較データのうち、前記第１マルチプレクサで選択された入力データと前記選択データとの比較結果を含む比較データを結果データとして出力する第２マルチプレクサと、を備える、
   診断回路。
2. 前記比較部は、
   前記複数の入力データと一対一に対応する複数の比較回路を含み、
   前記複数の比較回路の各々は、前記複数の入力データのうち対応する入力データと前記選択データとを比較し、対応する入力データに対する比較結果を出力する、
   請求項１に記載の診断回路。
3. 前記複数の入力データの各々は、ｎ１（ｎ１は２以上の自然数）ビットのデータであり、
   前記複数の比較データの各々は、ｎ２（ｎ２はｎ１より小さい自然数）ビットのデータである、
   請求項１又は２に記載の診断回路。
4. 前記複数の比較データの各々は、１ビットのデータである、
   請求項３に記載の診断回路。
5. 請求項１～４のいずれか１項に記載の診断回路と、
   前記第１マルチプレクサと、を備える、
   電子デバイス。
6. 前記複数の入力データの中から前記選択データを選択する際に前記第１マルチプレクサに入力される選択信号と、
   前記複数の比較データの中から前記結果データを選択する際に前記第２マルチプレクサに入力される選択信号と、が同一の信号である、
   請求項５に記載の電子デバイス。
7. 前記複数の入力データの個数は、１０以上である、
   請求項５又は６に記載の電子デバイス。
8. 複数の入力データの入力を受け付け、前記複数の入力データの１つを選択して選択データとして出力するマルチプレクサの診断を行う診断回路の診断方法であって、
   前記マルチプレクサに入力される前記複数の入力データの各々と前記マルチプレクサから出力される前記選択データとを前記診断回路にて比較する比較ステップと、
   前記診断回路にて前記複数の入力データに対する前記比較ステップの複数の比較結果に一対一に対応する複数の比較データのうち、前記マルチプレクサで選択された入力データと前記選択データとの比較結果を含む比較データを結果データとして出力する出力ステップと、有する、
   診断方法。

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