JP2022114182A - Drawing device, drawing method, method for manufacturing laminated substrate, and program - Google Patents

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Abstract

To appropriately generate drawing data.SOLUTION: A drawing device includes: a drawing unit for drawing a pattern on a substrate; and a drawing data generation part 42 for generating drawing data used in drawing of the pattern in the drawing unit. Design data indicating the pattern to be drawn on the substrate includes a lower figure that is a pattern region, and an upper figure superposed on the lower figure. The drawing data generation part 42 subjects the one figure of the lower figure and the upper figure to deformation processing, and generates drawing data by superposing the deformed one figure on the other figure that is not subjected to deformation processing or the other figure that has been subjected to deformation processing different from that of the one figure. Thereby, it is possible to appropriately generate the drawing data in which the one figure of the lower figure and the upper figure has been subjected to the deformation processing, and the other figure has not been subjected to the deformation processing or has been subjected to the different deformation processing.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、描画装置、描画方法、積層基板の製造方法およびプログラムに関する。 The present invention relates to a drawing apparatus, a drawing method, a laminated substrate manufacturing method, and a program.

従来、マスクを用いることなく、基板上の感光材料にパターンを描画する描画装置が実用化されている。描画装置では、CAD等を用いて作成した、ベクトルデータである設計データをRIP処理することにより、パターンの描画に利用される描画データが生成され、当該描画データに基づいてパターンの描画が行われる。なお、特許文献1の装置では、画像の記録後に変形する記録媒体に対して画像情報が示す画像を記録する際に、変形後の記録媒体上の画像が当該画像情報により示される画像と同一形状となるように、画像情報が変換される。そして、変換された画像情報に基づいて、変形前の記録媒体に画像が記録される。 2. Description of the Related Art Conventionally, a drawing apparatus that draws a pattern on a photosensitive material on a substrate without using a mask has been put into practical use. In the drawing apparatus, design data, which is vector data created using CAD or the like, is RIP-processed to generate drawing data used for pattern drawing, and pattern drawing is performed based on the drawing data. . In the apparatus disclosed in Patent Document 1, when an image indicated by image information is recorded on a recording medium that is deformed after the image is recorded, the image on the recording medium after deformation has the same shape as the image indicated by the image information. The image information is converted so that Then, based on the converted image information, an image is recorded on the recording medium before deformation.

また、近年、多数の基板が積層された超高多層基板(以下、「積層基板」という。)が製造されている。積層基板の製造では、複数の基板のそれぞれに対して回路パターンを描画し、現像、エッチング等の処理を行うことにより、回路パターンが形成される。続いて、各基板に孔部が形成され、その後、複数の基板が積層される。積層された複数の基板は、金型に取り付けられる。当該複数の基板では、複数の孔部が積層方向に連続しており、金型に含まれる位置決め用の基準ピンを当該複数の孔部に挿入した状態で、当該複数の基板に対して結合処理が施される。 Also, in recent years, ultra-high multilayer substrates (hereinafter referred to as "laminated substrates") in which a large number of substrates are laminated have been manufactured. In manufacturing a laminated substrate, a circuit pattern is formed by drawing a circuit pattern on each of a plurality of substrates and performing processing such as development and etching. Subsequently, a hole is formed in each substrate, and then multiple substrates are laminated. A plurality of laminated substrates are attached to a mold. In the plurality of substrates, the plurality of holes are continuous in the stacking direction, and the plurality of substrates are subjected to a bonding process while the positioning reference pins included in the mold are inserted into the plurality of holes. is applied.

特開2005-157326号公報JP 2005-157326 A

ところで、積層基板では、各基板が薄いため、結合処理において基板が伸縮し、基板のサイズが設計データにおけるサイズから変動する。基板の伸縮率(スケール)は、例えば、積層方向における位置によって相違する。そこで、積層基板における各基板上の回路パターンが設計データに近づくように、当該基板に対して予測される伸縮率に基づいて描画データに変形処理(補正)を行い、当該基板に回路パターンを描画することが考えられる。一方、各基板では、孔部を形成すべき位置を示す基準ピンマークも描画される。この場合、設計データは、回路パターンを示す下図形に加えて、下図形に重ねられるとともに基準ピンマークを示す上図形を含む。実質的に、描画データは、下図形に上図形が重ねられた画像を示すラスタデータとなる。 By the way, in a laminated board, since each board is thin, the board expands and contracts in the bonding process, and the size of the board changes from the size in the design data. The expansion ratio (scale) of the substrate differs, for example, depending on the position in the stacking direction. Therefore, in order for the circuit pattern on each board in the laminated board to approach the design data, the drawing data is deformed (corrected) based on the expected expansion and contraction rate of the board, and the circuit pattern is drawn on the board. can be considered. On the other hand, on each substrate, reference pin marks indicating positions where holes should be formed are also drawn. In this case, the design data includes, in addition to the lower graphic indicating the circuit pattern, an upper graphic superimposed on the lower graphic and indicating the reference pin mark. The rendering data is substantially raster data representing an image in which the upper graphic is superimposed on the lower graphic.

ここで、当該描画データに対して、上記のように基板の伸縮率に基づいて変形処理を行うと、積層された複数の基板において複数の孔部の位置が互いにずれてしまい、当該複数の孔部に基準ピンを適切に挿入することができなくなる。積層された複数の基板において複数の孔部の位置を揃えるには、設計データ、描画データ、および、基板に形成されたパターンにおいて、基準ピンマークが同じ位置にある必要がある。したがって、上図形である基準ピンマークを移動することなく(すなわち、基準ピンマークに対して変形処理が行われておらず)、下図形である回路パターンに変形処理が行われている描画データを適切に生成する手法が求められる。基板の用途等によっては、上図形に対して下図形とは異なる変形処理が行われている描画データ、さらに、下図形に対して変形処理が行われておらず、上図形に変形処理が行われている描画データが求められる可能性もある。 Here, if the drawing data is subjected to deformation processing based on the expansion/contraction rate of the substrate as described above, the positions of the plurality of holes in the plurality of stacked substrates will be shifted from each other. It becomes impossible to properly insert the reference pin into the part. In order to align the positions of a plurality of holes in a plurality of stacked substrates, the reference pin marks need to be at the same positions in the design data, drawing data, and patterns formed on the substrates. Therefore, without moving the reference pin mark, which is the upper graphic (that is, the reference pin mark is not deformed), drawing data in which the circuit pattern, which is the lower graphic, is deformed A method to generate it appropriately is required. Depending on the use of the board, there may be drawing data in which the upper graphic is transformed differently from the lower graphic. There is also a possibility that drawing data that has been written is required.

本発明は上記課題に鑑みなされたものであり、下図形および上図形の一方図形に対して変形処理が行われており、他方図形に対して変形処理が行われていない、または、異なる変形処理が行われている描画データを適切に生成することを目的としている。 The present invention has been devised in view of the above problems. One of the lower graphic and the upper graphic is subjected to deformation processing, and the other graphic is not subjected to deformation processing or is subjected to different deformation processing. The purpose is to properly generate drawing data in which

請求項1に記載の発明は、パターンを描画する描画装置であって、基板にパターンを描画する描画ユニットと、前記描画ユニットにおけるパターンの描画に利用される描画データを生成する描画データ生成部とを備え、前記基板に描画すべきパターンを示す設計データが、パターン領域である下図形と、前記下図形上に重ねられる上図形とを含んでおり、前記描画データ生成部が、前記下図形および前記上図形の一方図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない他方図形、または、前記一方図形とは異なる変形処理を行った前記他方図形と、変形後の前記一方図形とを重ねることにより、前記描画データを生成する。 According to a first aspect of the present invention, there is provided a drawing apparatus for drawing a pattern, comprising: a drawing unit for drawing a pattern on a substrate; and a drawing data generating section for generating drawing data used for drawing the pattern in the drawing unit. wherein design data indicating a pattern to be drawn on the substrate includes a lower graphic that is a pattern area and an upper graphic that is superimposed on the lower graphic, and the drawing data generation unit includes the lower graphic and Transformation processing is performed on one graphic of the upper graphic, and the other graphic is not subjected to the deformation processing, or the other graphic subjected to a deformation processing different from the one graphic is superimposed on the one graphic after deformation. generates the drawing data.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の描画装置であって、前記描画データ生成部が、前記下図形を示すラスタデータである下図形画像と、前記上図形を示すラスタデータである上図形画像とを用いて、前記描画データを生成する。 According to a second aspect of the invention, there is provided the drawing apparatus according to the first aspect, wherein the drawing data generation unit generates a lower figure image, which is raster data representing the lower figure, and raster data representing the upper figure. The drawing data is generated using a certain upper graphic image.

請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の描画装置であって、前記上図形が、パターン領域であり、前記設計データが、前記下図形上に重ねられるとともに、前記上図形の周囲を囲む非パターン領域である背景図形をさらに含み、前記描画データ生成部が、前記背景図形を示すラスタデータである背景図形画像を用いて、前記描画データを生成する。 The invention according to claim 3 is the drawing apparatus according to claim 2, wherein the upper figure is a pattern area, and the design data is superimposed on the lower figure and around the upper figure. and the drawing data generation unit generates the drawing data using a background graphic image, which is raster data representing the background graphic.

請求項4に記載の発明は、請求項2または3に記載の描画装置であって、前記下図形画像および前記上図形画像のそれぞれが、ランレングス圧縮されたデータである。 The invention according to claim 4 is the drawing apparatus according to claim 2 or 3, wherein each of the lower graphic image and the upper graphic image is run-length compressed data.

請求項5に記載の発明は、請求項1ないし4のいずれか1つに記載の描画装置であって、前記描画ユニットが、前記基板を保持するステージと、前記ステージ上の前記基板にパターンを描画するヘッドと、前記ステージを前記ヘッドに対して相対的に移動する移動機構と、前記ヘッドおよび前記移動機構を制御することにより前記基板に対する描画を実行する描画制御部と、前記ステージ上の前記基板に形成されたアライメントマークを撮像して、撮像画像を取得する撮像部とを備え、前記描画データ生成部が、前記撮像画像が示す前記アライメントマークの位置に基づいて、前記一方図形に対して変形処理を行う。 The invention according to claim 5 is the drawing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein the drawing unit comprises a stage for holding the substrate and a pattern for applying a pattern to the substrate on the stage. a head for drawing, a movement mechanism for moving the stage relative to the head, a drawing controller for executing drawing on the substrate by controlling the head and the movement mechanism, and the an imaging unit that captures an image of an alignment mark formed on a substrate to obtain a captured image; Perform transformation processing.

請求項6に記載の発明は、請求項1ないし5のいずれか1つに記載の描画装置であって、前記基板が、積層基板に含まれる複数の基板の1つであり、前記上図形が、前記積層基板の製造において、他の基板に対する前記基板の位置合わせに利用される位置を示し、前記描画データの生成において、前記上図形に対して変形処理が行われない。 The invention according to claim 6 is the drawing apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the substrate is one of a plurality of substrates included in a laminated substrate, and the upper figure is , indicates a position used for alignment of the substrate with respect to another substrate in manufacturing the laminated substrate, and deformation processing is not performed on the upper graphic in generating the drawing data.

請求項7に記載の発明は、請求項6に記載の描画装置であって、前記描画データ生成部が、前記積層基板の製造時に生じる予定の前記基板の変形に合わせて、前記下図形に対して変形処理を行う。 According to a seventh aspect of the invention, there is provided the drawing apparatus according to the sixth aspect, wherein the drawing data generation unit is configured to generate the lower figure according to the deformation of the substrate that is expected to occur during the manufacturing of the laminated substrate. to perform the transformation process.

請求項8に記載の発明は、パターンを描画する描画方法であって、a)基板に描画すべきパターンを示すとともに、パターン領域である下図形と、前記下図形上に重ねられる上図形とを含む設計データを準備する工程と、b)前記下図形および前記上図形の一方図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない他方図形、または、前記一方図形とは異なる変形処理を行った前記他方図形と、変形後の前記一方図形とを重ねることにより、描画データを生成する工程と、c)前記描画データを利用して、描画ユニットにより前記基板にパターンを描画する工程とを備える。 According to an eighth aspect of the present invention, there is provided a drawing method for drawing a pattern, comprising: a) indicating a pattern to be drawn on a substrate, and defining a lower figure as a pattern area and an upper figure superimposed on the lower figure; b) performing deformation processing on one of the lower graphic and the upper graphic, and performing the other graphic without the deformation processing, or performing a different deformation processing from the one graphic generating drawing data by overlapping the other graphic and the deformed one graphic; and c) drawing a pattern on the substrate by a drawing unit using the drawing data.

請求項9に記載の発明は、積層基板の製造方法であって、請求項8に記載の描画方法によりパターンが描画された基板を含む複数の基板を積層する工程と、前記基板において前記上図形が示す位置に形成された孔部を含む、複数の孔部が、積層された前記複数の基板において積層方向に連続しており、前記複数の孔部に基準ピンを挿入した状態で、前記複数の基板に対して結合処理を施す工程とを備え、前記描画方法の前記b)工程において、前記上図形に対して変形処理が行われない。 According to a ninth aspect of the invention, there is provided a method for manufacturing a laminated substrate, comprising: stacking a plurality of substrates including a substrate on which a pattern has been drawn by the drawing method according to the eighth aspect; A plurality of holes, including the holes formed at the positions indicated by , are continuous in the stacking direction in the plurality of stacked substrates, and the plurality of and performing a bonding process on the substrate of the drawing method, wherein the deformation process is not performed on the upper figure in the step b) of the drawing method.

請求項10に記載の発明は、パターンの描画に利用される描画データを、コンピュータに生成させるプログラムであって、前記プログラムのコンピュータによる実行は、前記コンピュータに、a)基板に描画すべきパターンを示すとともに、パターン領域である下図形と、前記下図形上に重ねられる上図形とを含む設計データを準備する工程と、b)前記下図形および前記上図形の一方図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない他方図形、または、前記一方図形とは異なる変形処理を行った前記他方図形と、変形後の前記一方図形とを重ねることにより、描画データを生成する工程とを実行させる。 According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a program for causing a computer to generate drawing data used for drawing a pattern, wherein execution of the program by the computer causes the computer to: a) create a pattern to be drawn on a substrate; a step of preparing design data including a lower figure which is a pattern area and an upper figure to be superimposed on the lower figure; and a step of generating drawing data by superimposing the other graphic which is not deformed, or the other graphic which is deformed differently from the one graphic, and the one graphic after deformation.

本発明によれば、下図形および上図形の一方図形に対して変形処理が行われており、他方図形に対して変形処理が行われていない、または、異なる変形処理が行われている描画データを適切に生成することができる。 According to the present invention, drawing data in which one of the lower graphic and the upper graphic has undergone deformation processing, and the other graphic has not been subjected to deformation processing or has been subjected to different deformation processing. can be generated properly.

描画装置の構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing the configuration of a drawing device; FIG. コンピュータの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of a computer. 制御部の機能を示すブロック図である。3 is a block diagram showing functions of a control unit; FIG. 積層基板の製造を説明するための図である。It is a figure for demonstrating manufacture of a laminated substrate. 積層基板の製造の流れを示す図である。It is a figure which shows the flow of manufacture of a laminated substrate. 描画装置における描画の流れを示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the flow of drawing in the drawing device; 基板の上面を示す図である。It is a figure which shows the upper surface of a board|substrate. 設計データが示すパターンの一部を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing part of a pattern indicated by design data; 全図形画像を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a full graphic image; 下図形画像を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a lower graphic image; 上領域画像を示す図である。It is a figure which shows an upper area|region image. 全図形画像と上領域画像とを重ね合わせた図である。It is the figure which overlap|superposed the all figure image and the upper area|region image. 上図形画像を示す図である。It is a figure which shows an upper figure image. 上図形画像と上領域画像とを重ね合わせた図である。It is the figure which superimposed the upper graphic image and the upper region image. 背景図形画像を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a background graphic image; 変形下図形画像と背景図形画像とを重ね合わせた図である。It is the figure which overlap|superposed the figure image under deformation|transformation and the background figure image. 中間合成画像を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an intermediate synthesized image; 中間合成画像と上図形画像とを重ね合わせた図である。It is the figure which superimposed the intermediate synthetic|combination image and the upper figure image. 描画用画像を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing a drawing image;

図1は、本発明の一の実施の形態に係る描画装置1の構成を示す斜視図である。図1では、互いに直交する3つの方向をX方向、Y方向およびZ方向として矢印にて示している。図1に示す例では、X方向およびY方向は水平方向であり、Z方向は鉛直方向である。 FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of a drawing device 1 according to one embodiment of the present invention. In FIG. 1, three directions orthogonal to each other are indicated by arrows as the X direction, the Y direction, and the Z direction. In the example shown in FIG. 1, the X and Y directions are horizontal and the Z direction is vertical.

描画装置1は、空間変調された光を基板9上の感光材料に照射し、当該光の照射領域を基板9上にて走査することによりパターンの描画を行う直接描画装置である。基板9は、例えば、平面視において略矩形状の板状部材である。基板9は、例えば、可撓性を有するプリント配線基板である。基板9では、銅層上に感光材料により形成されたレジスト膜が設けられる。描画装置1では、基板9のレジスト膜に回路パターンが描画される。後工程では、現像、エッチング等の処理が行われ、回路パターンが形成された基板9が得られる。 The drawing apparatus 1 is a direct drawing apparatus that draws a pattern by irradiating a photosensitive material on a substrate 9 with spatially modulated light and scanning the irradiation area of the light on the substrate 9 . The substrate 9 is, for example, a substantially rectangular plate member in a plan view. The substrate 9 is, for example, a flexible printed wiring board. In the substrate 9, a resist film made of a photosensitive material is provided on the copper layer. The drawing apparatus 1 draws a circuit pattern on the resist film of the substrate 9 . In post-processes, processing such as development and etching is performed to obtain a substrate 9 on which a circuit pattern is formed.

描画装置1は、ステージ21と、ステージ移動機構22と、ステージ昇降機構23と、描画部3と、撮像部5と、制御部4とを備える。制御部4は、ステージ移動機構22、ステージ昇降機構23、描画部3および撮像部5等を制御する。ステージ21は、描画部3の下方(すなわち、(-Z)側)において、水平状態の基板9を下側から保持する略平板状の保持部である。ステージ21上に載置された基板9の(+Z)側の主面(以下、「上面91」と呼ぶ。)は、Z方向に対して略垂直であり、X方向およびY方向に略平行である。 The drawing apparatus 1 includes a stage 21 , a stage moving mechanism 22 , a stage elevating mechanism 23 , a drawing section 3 , an imaging section 5 and a control section 4 . The control unit 4 controls the stage moving mechanism 22, the stage elevating mechanism 23, the drawing unit 3, the imaging unit 5, and the like. The stage 21 is a substantially flat plate-like holding portion that holds the horizontal substrate 9 from below below the drawing portion 3 (that is, on the (−Z) side). The (+Z) side principal surface of the substrate 9 placed on the stage 21 (hereinafter referred to as “upper surface 91”) is substantially perpendicular to the Z direction and substantially parallel to the X and Y directions. be.

ステージ昇降機構23は、ステージ21をZ方向に移動する。ステージ移動機構22は、ステージ21を描画部3に対して水平方向に相対的に移動する。図1に示す例では、ステージ移動機構22は、ステージ21をステージ昇降機構23と共にY方向に移動する。換言すれば、ステージ移動機構22は、基板9の上面91に略平行な方向に、ステージ21を移動する。例えば、ステージ移動機構22は、ステージ21をガイドレールに沿って直線状に移動させる移動機構であり、駆動源として、リニアサーボモータが用いられる。これにより、ステージ21が高精度に移動する。ステージ移動機構22の駆動源としては、ボールねじにモータを取り付けたものが用いられてもよい。描画装置1では、Z方向に延びる回転軸を中心としてステージ21を周方向に回転させる回動機構が設けられてもよい。また、描画装置1では、ステージ昇降機構23が省略されてもよい。 A stage lifting mechanism 23 moves the stage 21 in the Z direction. The stage moving mechanism 22 horizontally moves the stage 21 relative to the drawing unit 3 . In the example shown in FIG. 1, the stage moving mechanism 22 moves the stage 21 together with the stage lifting mechanism 23 in the Y direction. In other words, the stage moving mechanism 22 moves the stage 21 in a direction substantially parallel to the upper surface 91 of the substrate 9 . For example, the stage moving mechanism 22 is a moving mechanism that linearly moves the stage 21 along the guide rails, and uses a linear servomotor as a drive source. This allows the stage 21 to move with high precision. As a drive source for the stage moving mechanism 22, a ball screw with a motor attached may be used. The drawing apparatus 1 may be provided with a rotation mechanism that rotates the stage 21 in the circumferential direction around a rotation axis extending in the Z direction. Further, in the drawing apparatus 1, the stage lifting mechanism 23 may be omitted.

描画部3は、X方向およびY方向に配列される複数(図1に示す例では、5つ)のヘッド31を備える。複数のヘッド31は、ステージ21を跨いで設けられるヘッド支持部19により、ステージ21の上方にて支持される。各ヘッド31は、光源と、光変調部とを備える。光変調部として、例えば、複数の微小ミラーが二次元に配列されたDMD(デジタルミラーデバイス)が、利用される。光変調部は、複数の光変調素子が一次元に配列された変調器等であってもよい。複数のヘッド31は、略同じ構造を有する。 The drawing unit 3 includes a plurality of (five in the example shown in FIG. 1) heads 31 arranged in the X direction and the Y direction. A plurality of heads 31 are supported above the stage 21 by a head support portion 19 provided across the stage 21 . Each head 31 includes a light source and an optical modulator. For example, a DMD (digital mirror device) in which a plurality of micromirrors are arranged two-dimensionally is used as the light modulation section. The light modulating section may be a modulator or the like in which a plurality of light modulating elements are arranged one-dimensionally. The multiple heads 31 have substantially the same structure.

描画装置1では、描画部3の複数のヘッド31から変調(すなわち、空間変調)された光が基板9の上面91上に照射されるとともに、ステージ移動機構22により基板9がY方向に移動する。これにより、複数のヘッド31からの光の照射領域が基板9上にてY方向に走査し、基板9に対する回路パターンの描画が行われる。以下の説明では、Y方向を「走査方向」とも呼び、X方向を「幅方向」とも呼ぶ。 In the drawing apparatus 1, the upper surface 91 of the substrate 9 is irradiated with modulated (that is, spatially modulated) light from the plurality of heads 31 of the drawing unit 3, and the substrate 9 is moved in the Y direction by the stage moving mechanism 22. . As a result, the irradiation area of the light from the plurality of heads 31 scans the substrate 9 in the Y direction, and the circuit pattern is drawn on the substrate 9 . In the following description, the Y direction is also called "scanning direction", and the X direction is also called "width direction".

図1の描画装置1では、基板9に対する描画は、いわゆるシングルパス(ワンパス)方式で行われる。具体的には、ステージ移動機構22により、ステージ21が複数のヘッド31に対してY方向に移動し、複数のヘッド31からの光の照射領域が、基板9の上面91上にてY方向(すなわち、走査方向)に1回のみ走査する。これにより、基板9に対する回路パターンの描画が完了する。なお、描画装置1では、ステージ21またはヘッド31をX方向に移動する副走査機構が設けられ、いわゆるマルチパス方式で基板9に対する描画が行われてもよい。 In the drawing apparatus 1 of FIG. 1, drawing on the substrate 9 is performed by a so-called single-pass (one-pass) method. Specifically, the stage moving mechanism 22 moves the stage 21 with respect to the plurality of heads 31 in the Y direction, and the irradiation area of the light from the plurality of heads 31 is shifted in the Y direction ( That is, scanning is performed only once in the scanning direction. Thus, drawing of the circuit pattern on the substrate 9 is completed. Note that the drawing apparatus 1 may be provided with a sub-scanning mechanism that moves the stage 21 or the head 31 in the X direction, and drawing on the substrate 9 may be performed by a so-called multi-pass method.

撮像部5は、複数のカメラ51(例えば、CCDカメラ)を有する。複数のカメラ51は、ヘッド31と同様に、ヘッド支持部19によりステージ21の上方にて支持される。複数のカメラ51は、幅方向に間隔を空けて配置される。図1の例では、2個のカメラ51が、描画部3の幅方向の両側にそれぞれ設けられる。各カメラ51は、ステージ21上の基板9を撮像して撮像画像のデータを取得する。なお、カメラ51の数および配置等は、様々に変更されてよい。 The imaging unit 5 has a plurality of cameras 51 (for example, CCD cameras). A plurality of cameras 51 are supported above the stage 21 by the head support section 19 in the same manner as the head 31 . The multiple cameras 51 are arranged at intervals in the width direction. In the example of FIG. 1, two cameras 51 are provided on both sides of the drawing unit 3 in the width direction. Each camera 51 captures an image of the substrate 9 on the stage 21 and acquires captured image data. Note that the number and arrangement of the cameras 51 may be changed variously.

図2は、コンピュータ11の構成を示す図である。コンピュータ11は、各種演算処理を行うCPU111と、基本プログラムを記憶するROM112と、各種情報を記憶するRAM113とを含む一般的なコンピュータシステムの構成となっている。コンピュータ11は、情報記憶を行う固定ディスク114と、各種情報の表示を行う表示部115と、入力部116として操作者からの入力を受け付けるキーボード116aおよびマウス116bと、光ディスク、磁気ディスク、光磁気ディスク等のコンピュータ読み取り可能な記録媒体12から情報の読み取りを行ったり記録媒体12に情報の書き込みを行う読取/書込装置118と、描画装置1の各構成と通信を行う通信部119とをさらに含む。 FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the computer 11. As shown in FIG. The computer 11 has a configuration of a general computer system including a CPU 111 that performs various arithmetic processing, a ROM 112 that stores basic programs, and a RAM 113 that stores various information. The computer 11 includes a fixed disk 114 for storing information, a display unit 115 for displaying various kinds of information, a keyboard 116a and a mouse 116b for receiving input from an operator as an input unit 116, an optical disk, a magnetic disk, and a magneto-optical disk. A reading/writing device 118 for reading information from or writing information to a computer-readable recording medium 12 such as a computer-readable recording medium 12; .

コンピュータ11では、事前に読取/書込装置118を介して記録媒体12からプログラム120が読み出され、固定ディスク114に記憶されている。プログラム120はネットワークを介して固定ディスク114に記憶されてもよい。CPU111がRAM113および固定ディスク114を利用しつつプログラム120に従って演算処理を実行することにより(すなわち、コンピュータがプログラムを実行することにより)、コンピュータ11が、図1の描画装置1における制御部4として機能する。制御部4は、専用の電気回路により構築されてもよく、部分的に専用の電気回路が利用されてもよい。制御部4は、複数のコンピュータが協働して実現されてもよく、この場合に、当該複数のコンピュータが互いに離れた位置に設けられてもよい。 In the computer 11 , the program 120 is previously read from the recording medium 12 via the read/write device 118 and stored in the fixed disk 114 . Programs 120 may be stored on fixed disk 114 over a network. The computer 11 functions as the control unit 4 in the drawing apparatus 1 of FIG. do. The control unit 4 may be constructed by a dedicated electric circuit, or partially using a dedicated electric circuit. The control unit 4 may be implemented by cooperation of a plurality of computers, and in this case, the plurality of computers may be provided at positions separated from each other.

図3は、コンピュータ11により実現される制御部4の機能を示すブロック図である。図3では、制御部4以外の構成も併せて示す。制御部4は、記憶部41と、描画データ生成部42と、描画制御部43とを備える。記憶部41は、主にRAM113および固定ディスク114により実現され、設計データ等の各種情報を記憶する。設計データは、基板9に描画すべき回路パターン等の画像を示す。描画データ生成部42は、主にCPU111により実現され、パターンの描画に利用される後述の描画データを生成する。描画制御部43は、主にCPU111により実現され、上記描画データに基づいてステージ移動機構22および描画部3のヘッド31等を制御することにより、基板9に対する描画を実行させる。 FIG. 3 is a block diagram showing functions of the control unit 4 realized by the computer 11. As shown in FIG. In FIG. 3, configurations other than the control unit 4 are also shown. The control unit 4 includes a storage unit 41 , a drawing data generation unit 42 and a drawing control unit 43 . The storage unit 41 is mainly realized by the RAM 113 and the fixed disk 114, and stores various information such as design data. The design data indicates images such as circuit patterns to be drawn on the substrate 9 . The drawing data generation unit 42 is mainly realized by the CPU 111 and generates drawing data, which will be described later, used for pattern drawing. The drawing control unit 43 is mainly realized by the CPU 111, and executes drawing on the substrate 9 by controlling the stage moving mechanism 22, the head 31 of the drawing unit 3, and the like based on the drawing data.

ここで、基板9を用いて製造される積層基板について説明する。図4は、積層基板90の製造を説明するための図であり、図5は、積層基板90の製造の流れを示す図である。積層基板90は、複数(例えば、80~100個)の基板900が積層された超高多層基板である。図4では、実際よりも基板900の個数を少なく描いている。典型的には、複数の基板900のサイズは略同じである。描画装置1により回路パターンが描画される基板9は、積層基板90に含まれる複数の基板900の1つである。積層基板90には、描画装置1により回路パターンが描画される2個以上の基板9が含まれてもよい。 Here, a laminated substrate manufactured using the substrate 9 will be described. 4A and 4B are diagrams for explaining the manufacturing of the laminated substrate 90, and FIG. 5 is a diagram showing the flow of manufacturing the laminated substrate 90. FIG. The laminated board 90 is a super multi-layered board in which a plurality of (for example, 80 to 100) boards 900 are laminated. In FIG. 4, the number of substrates 900 is drawn smaller than the actual number. Typically, the multiple substrates 900 are approximately the same size. The substrate 9 on which the circuit pattern is drawn by the drawing device 1 is one of the plurality of substrates 900 included in the laminated substrate 90 . The laminated substrate 90 may include two or more substrates 9 on which circuit patterns are drawn by the drawing device 1 .

積層基板90の製造では、回路パターンが形成された複数の基板900が準備され、積層される(ステップS1)。例えば、銅層上にレジスト膜が設けられた各基板900に対して、回路パターンを描画し、その後、現像、エッチング等の処理を行うことにより、回路パターンが形成された複数の基板900が準備される。複数の基板900は、所定の順序にて積層される。 In manufacturing the laminated substrate 90, a plurality of substrates 900 having circuit patterns formed thereon are prepared and laminated (step S1). For example, a plurality of substrates 900 on which circuit patterns are formed are prepared by drawing a circuit pattern on each substrate 900 having a resist film provided on a copper layer, and then performing processing such as development and etching. be done. A plurality of substrates 900 are stacked in a predetermined order.

ここで、各基板900には、孔部901を形成すべき位置を示す複数のマークが、回路パターンと共に形成されており、複数の基板900を積層する前に、ドリル等を用いて各マークの位置に孔部901が形成される。孔部901には、後述の基準ピン81が挿入されるため、以下、当該マークを「基準ピンマーク」という。基板900における所定の基準位置(例えば、中央)に対する各基準ピンマークの位置は、複数の基板900において同じである。したがって、積層された複数の基板900では、複数の孔部901が積層方向(図4の上下方向)に連続する。 Here, on each substrate 900, a plurality of marks indicating the positions where the hole portions 901 are to be formed are formed together with a circuit pattern. A hole 901 is formed at the position. Since a reference pin 81, which will be described later, is inserted into the hole 901, the mark is hereinafter referred to as a "reference pin mark". The position of each reference pin mark relative to a predetermined reference position (eg, center) on substrate 900 is the same for multiple substrates 900 . Therefore, in the plurality of stacked substrates 900, the plurality of holes 901 are continuous in the stacking direction (vertical direction in FIG. 4).

連続する複数の孔部901には、金型80に含まれる位置決め用の基準ピン81が挿入される。金型80は、上金型82および下金型83も含み、上金型82および下金型83は、積層方向における複数の基板900の両側に配置される。複数の基準ピン81の両端は、上金型82および下金型83により支持される。積層方向における上金型82および下金型83の両外側には、2個の熱板84がそれぞれ設けられる。当該2個の熱板84は、所定の温度に加熱される。複数の孔部901に基準ピン81を挿入した状態で、当該2個の熱板84を介して複数の基板900が積層方向に熱プレスされる(図4中の矢印A1参照)。このようにして、複数の基板900に対して結合処理を施すことにより、複数の基板900が互いに結合され、積層基板90が製造される(ステップS2)。 A positioning reference pin 81 included in the mold 80 is inserted into a plurality of continuous holes 901 . The mold 80 also includes an upper mold 82 and a lower mold 83, and the upper mold 82 and the lower mold 83 are arranged on both sides of the plurality of substrates 900 in the stacking direction. Both ends of the plurality of reference pins 81 are supported by an upper die 82 and a lower die 83 . Two hot plates 84 are provided on both outer sides of the upper mold 82 and the lower mold 83 in the stacking direction. The two hot plates 84 are heated to a predetermined temperature. With the reference pins 81 inserted into the holes 901, the substrates 900 are hot-pressed in the stacking direction via the two hot plates 84 (see arrow A1 in FIG. 4). By performing the bonding process on the plurality of substrates 900 in this manner, the plurality of substrates 900 are bonded to each other to manufacture the laminated substrate 90 (step S2).

積層基板90の一例では、結合処理において、熱の影響により各基板900が全体的に僅かに収縮する。また、積層方向における基板900の位置によって、収縮率が異なる。積層基板90の製造では、実験により、または、経験的に、積層方向の各位置に配置される基板900の収縮率が、積層時変形情報として予め取得されている。基板9の積層時変形情報は、図3の描画データ生成部42に記憶される。 In one example of laminated substrates 90, the bonding process causes each substrate 900 to shrink slightly overall due to thermal effects. Also, the shrinkage rate differs depending on the position of the substrate 900 in the stacking direction. In manufacturing the laminated substrate 90, the shrinkage rate of the substrate 900 arranged at each position in the lamination direction is acquired in advance as deformation information during lamination by experiment or empirically. The deformation information of the substrate 9 during stacking is stored in the drawing data generation unit 42 of FIG.

次に、描画装置1における描画の流れについて、図6を参照しつつ説明する。描画装置1では、基板9に描画すべきパターンを示す設計データが、記憶部41に記憶されて準備される(ステップS11)。本実施の形態における設計データは、CAD(Computer-Aided Design)データであり、複数の図形(オブジェクト)を含むベクトルデータである。設計データの詳細については後述する。 Next, the flow of drawing in the drawing apparatus 1 will be described with reference to FIG. In the drawing apparatus 1, design data indicating a pattern to be drawn on the substrate 9 is stored in the storage unit 41 and prepared (step S11). The design data in the present embodiment is CAD (Computer-Aided Design) data, which is vector data including a plurality of graphics (objects). Details of the design data will be described later.

また、処理対象の基板9が、図1のステージ21上に載置されて保持される。基板9は、ステージ21の移動により撮像部5の下方へと移動し、複数のカメラ51により基板9の上面91が撮像される。 Also, the substrate 9 to be processed is placed and held on the stage 21 in FIG. The substrate 9 is moved below the imaging unit 5 by the movement of the stage 21 , and the upper surface 91 of the substrate 9 is imaged by the cameras 51 .

図7は、基板9の上面91を示す図である。基板9の上面91には複数のアライメントマーク911が形成されている。アライメントマーク911は、基板9上に予め設けられている貫通孔や配線等の一部であってもよい。アライメントマーク911はレジスト膜を介して観察可能であり、各カメラ51では、アライメントマーク911を撮像した撮像画像(のデータ)が取得される。図7の例では、走査方向(Y方向)における両端部に複数のアライメントマーク911が設けられている。したがって、ステージ移動機構22が基板9を走査方向に移動することにより、基板9の両端部における複数のアライメントマーク911が複数のカメラ51により撮像される。 FIG. 7 is a diagram showing the top surface 91 of the substrate 9. As shown in FIG. A plurality of alignment marks 911 are formed on the upper surface 91 of the substrate 9 . The alignment mark 911 may be a part of a through-hole, wiring, or the like that is provided in advance on the substrate 9 . The alignment mark 911 can be observed through the resist film, and each camera 51 acquires (data of) a captured image of the alignment mark 911 . In the example of FIG. 7, a plurality of alignment marks 911 are provided at both ends in the scanning direction (Y direction). Therefore, when the stage moving mechanism 22 moves the substrate 9 in the scanning direction, the plural alignment marks 911 at both ends of the substrate 9 are imaged by the plural cameras 51 .

複数の撮像画像は、制御部4に入力される。制御部4では、複数の撮像画像から、ステージ21上の基板9における複数のアライメントマーク911の位置(基準位置に対する相対位置)が求められる。制御部4では、理想的な基板(変形が生じていない基板9)における複数のアライメントマーク911の位置も予め記憶されており、実際の基板9におけるアライメントマーク911の位置と比較される。これにより、パターンの描画時における基板9の変形を示す描画時変形情報が取得される(ステップS12)。基板9の変形は、例えば、当該基板9に対する前工程により基板9において発生する伸縮や歪みである。基板9の変形を示す描画時変形情報は、図3の描画データ生成部42へと出力される。 A plurality of captured images are input to the control unit 4 . The controller 4 obtains the positions (relative positions to the reference position) of the plurality of alignment marks 911 on the substrate 9 on the stage 21 from the plurality of captured images. The controller 4 also pre-stores the positions of the plurality of alignment marks 911 on the ideal substrate (the substrate 9 without deformation) and compares them with the positions of the alignment marks 911 on the actual substrate 9 . As a result, drawing deformation information indicating the deformation of the substrate 9 during pattern writing is obtained (step S12). The deformation of the substrate 9 is, for example, expansion and contraction or strain that occurs in the substrate 9 due to a previous process for the substrate 9 . The drawing deformation information indicating the deformation of the substrate 9 is output to the drawing data generation unit 42 in FIG.

描画データ生成部42では、設計データからパターンの描画に利用される描画データが生成される(ステップS13)。設計データから描画データを生成する処理の詳細については、後述する。描画データ生成部42により生成された描画データは、描画制御部43に送られる。そして、描画制御部43により描画データに基づいてステージ移動機構22および描画部3のヘッド31が制御されることにより、基板9に対するパターンの描画が実行される(ステップS14)。描画装置1では、ステージ21、ヘッド31、ステージ移動機構22、描画制御部43、および、撮像部5を主たる構成とする描画ユニットにより、基板9にパターンが描画される。 The drawing data generator 42 generates drawing data used for pattern drawing from the design data (step S13). Details of the process of generating drawing data from design data will be described later. The drawing data generated by the drawing data generating section 42 is sent to the drawing control section 43 . Then, the stage moving mechanism 22 and the head 31 of the drawing section 3 are controlled by the drawing control section 43 based on the drawing data, so that the pattern is drawn on the substrate 9 (step S14). In the drawing apparatus 1 , a pattern is drawn on the substrate 9 by a drawing unit mainly composed of a stage 21 , a head 31 , a stage moving mechanism 22 , a drawing control section 43 and an imaging section 5 .

次に、設計データから描画データを生成する処理について説明する。図8は、設計データが示すパターンの一部を示す図である。設計データは、下図形と、下図形上に重ねられる上図形とを含む。下図形は、基板9に描画すべき回路パターン71を示すパターン領域(ポジ極性の領域)である。上図形は、既述の基準ピンマーク76を示すパターン領域である。基準ピンマーク76は、回路パターン71上に重ねられる。設計データは、下図形上に重ねられるとともに、上図形の周囲を囲む背景図形をさらに含む。背景図形は、基準ピンマーク76の周囲領域77(以下、「マーク周囲領域77」という。)を示す非パターン領域(ネガ極性の領域)である。マーク周囲領域77は、回路パターン71上に重ねられる。設計データが示す画像では、回路パターン71においてマーク周囲領域77と重なる領域は、非パターン領域となる。 Next, processing for generating drawing data from design data will be described. FIG. 8 is a diagram showing part of a pattern indicated by design data. The design data includes a lower graphic and an upper graphic superimposed on the lower graphic. The lower figure is a pattern area (positive polarity area) indicating a circuit pattern 71 to be drawn on the substrate 9 . The upper figure is a pattern area showing the reference pin mark 76 already described. A reference pin mark 76 is superimposed on the circuit pattern 71 . The design data further includes a background graphic that is superimposed on the lower graphic and surrounds the upper graphic. The background figure is a non-pattern area (negative polarity area) indicating a surrounding area 77 of the reference pin mark 76 (hereinafter referred to as "mark surrounding area 77"). A mark surrounding region 77 is overlaid on the circuit pattern 71 . In the image indicated by the design data, the area of the circuit pattern 71 that overlaps the mark surrounding area 77 is a non-pattern area.

本処理例における設計データでは、下図形と、上図形および背景図形とに対して異なる属性情報が付与されており、属性情報を用いて下図形と、上図形および背景図形とが区別可能である。換言すると、本処理例では、上図形および背景図形に同じ属性情報が付与されており、属性情報を用いた両者の区別が不能である。後述するように、上図形と背景図形とに対して異なる属性情報が付与されてもよい。図8では、回路パターン71および基準ピンマーク76、すなわち、パターン領域に平行斜線を付している(後述の図9ないし図19において同様)。また、マーク周囲領域77の外縁を細い破線にて示している。 In the design data in this processing example, different attribute information is given to the lower graphic and the upper graphic and background graphic, and the lower graphic, upper graphic and background graphic can be distinguished using the attribute information. . In other words, in this processing example, the same attribute information is given to the top graphic and the background graphic, and it is impossible to distinguish between the two using the attribute information. As will be described later, different attribute information may be given to the upper graphic and the background graphic. In FIG. 8, the circuit pattern 71 and the reference pin marks 76, that is, the pattern regions are hatched (the same applies to FIGS. 9 to 19 described later). Also, the outer edge of the mark surrounding area 77 is indicated by a thin dashed line.

描画データ生成部42では、設計データをRIP処理することにより、下図形と、下図形上に重ねた上図形および背景図形とを示すラスタデータが生成される。当該ラスタデータは、図9のように、回路パターン71上に基準ピンマーク76およびマーク周囲領域77を重ねた二値画像61(以下、「全図形画像61」という。)を示す。全図形画像61は、多値画像であってもよい(他の画像において同様)。実際の描画装置1では、全図形画像61は、ランレングス圧縮されたデータ、すなわち、ランレングスデータである。当該ランレングスデータは、パターンの描画において基板9に対する光の照射のON/OFFを切り替える位置(変化点)を示す。 The drawing data generation unit 42 generates raster data representing a lower graphic, an upper graphic superimposed on the lower graphic, and a background graphic by RIP-processing the design data. The raster data represents a binary image 61 (hereinafter referred to as "full graphic image 61") in which the reference pin mark 76 and the mark surrounding area 77 are superimposed on the circuit pattern 71, as shown in FIG. The full graphic image 61 may be a multivalued image (similarly for other images). In the actual rendering device 1, the entire graphic image 61 is run-length compressed data, that is, run-length data. The run-length data indicates positions (change points) at which ON/OFF of light irradiation to the substrate 9 is switched during pattern writing.

また、設計データから、上図形および背景図形を除外したものをRIP処理することにより、下図形を示すラスタデータが生成される。当該ラスタデータは、図10のように、回路パターン71の二値画像62(以下、「下図形画像62」という。)を示す。下図形画像62も、ランレングス圧縮されたデータである。さらに、設計データから、上図形および背景図形を抽出しつつ、抽出した全ての図形をパターン領域としたものをRIP処理することにより、上図形および背景図形の領域を示すラスタデータが生成される。当該ラスタデータは、図11のように、基準ピンマーク76およびマーク周囲領域77の双方をパターン領域とする二値画像62(以下、「上領域画像63」という。)を示す。上領域画像63も、ランレングス圧縮されたデータである。図11では、基準ピンマーク76の外縁を細い破線にて示している。 By RIP-processing the design data excluding the upper graphic and the background graphic, raster data representing the lower graphic is generated. The raster data indicates a binary image 62 of the circuit pattern 71 (hereinafter referred to as "lower graphic image 62"), as shown in FIG. The lower graphic image 62 is also run-length compressed data. Furthermore, while extracting the upper graphic and the background graphic from the design data, RIP processing is performed on all the extracted figures as pattern regions to generate raster data indicating the regions of the upper graphic and the background graphic. As shown in FIG. 11, the raster data represents a binary image 62 (hereinafter referred to as "upper area image 63") having both the reference pin mark 76 and the mark surrounding area 77 as pattern areas. The upper region image 63 is also run-length compressed data. In FIG. 11, the outer edge of the reference pin mark 76 is indicated by a thin dashed line.

典型的には、描画データ生成部42では、図6のステップS11にて設計データが記憶部41に記憶された後、直ぐに、全図形画像61、下図形画像62および上領域画像63が生成される。全図形画像61、下図形画像62および上領域画像63の生成は、ステージ21上への基板9の載置時に、完了していることが好ましい。ある程度の時間を要するRIP処理を予め行うことにより、ステージ21上への基板9の載置後、短時間でパターンの描画を開始することが可能となる。 Typically, in the drawing data generation unit 42, immediately after the design data is stored in the storage unit 41 in step S11 of FIG. be. The generation of the full graphic image 61 , the lower graphic image 62 and the upper area image 63 is preferably completed when the substrate 9 is placed on the stage 21 . By performing the RIP process, which requires a certain amount of time, in advance, it is possible to start pattern drawing in a short time after the substrate 9 is placed on the stage 21 .

続いて、図12に示すように、全図形画像61(図9参照)と上領域画像63(図11参照)とを重ね合わせた場合に、両画像においてパターン領域となっている領域(図12中にてクロスハッチングを付す領域)が抽出される。換言すると、全図形画像61と上領域画像63とのAND(論理積)合成が行われる。これにより、図13に示すように、基準ピンマーク76をパターン領域として示す上図形画像64が生成される。なお、設計データにおいて、上図形と背景図形とに対して異なる属性情報が付与されている場合には、上図形画像64は、設計データから上図形を抽出したものをRIP処理することにより生成されてもよい。 Subsequently, as shown in FIG. 12, when the full figure image 61 (see FIG. 9) and the upper area image 63 (see FIG. 11) are superimposed, the pattern area (see FIG. 12) is formed in both images. cross-hatched area) are extracted. In other words, an AND (logical product) combination of the all graphic image 61 and the upper area image 63 is performed. As a result, as shown in FIG. 13, an upper figure image 64 showing the reference pin mark 76 as a pattern area is generated. In the design data, when different attribute information is assigned to the upper graphic and the background graphic, the upper graphic image 64 is generated by RIP-processing the upper graphic extracted from the design data. may

上図形画像64が生成されると、図14に示すように、上図形画像64と上領域画像63(図11参照)とを重ね合わせた場合に、いずれか一方の画像のみにおいてパターン領域となっている領域(図14中にて平行斜線を付す領域のうちクロスハッチングを付す領域を除く領域)が抽出される。換言すると、上図形画像64と上領域画像63とのXOR(排他的論理和)合成が行われる。これにより、図15に示すように、マーク周囲領域77をパターン領域として示す背景図形画像65が生成される。なお、設計データにおいて、上図形と背景図形とに対して異なる属性情報が付与されている場合には、背景図形画像65は、設計データから背景図形を抽出したものをRIP処理することにより生成されてもよい。ステージ21上への基板9の載置時には、上図形画像64および背景図形画像65の生成が完了していることが好ましい。 When the upper figure image 64 is generated, as shown in FIG. 14, when the upper figure image 64 and the upper area image 63 (see FIG. 11) are superimposed, only one of the images becomes a pattern area. 14 (regions hatched in FIG. 14, excluding cross-hatched regions) are extracted. In other words, the upper graphic image 64 and the upper area image 63 are XOR-combined. As a result, as shown in FIG. 15, a background graphic image 65 showing the mark surrounding area 77 as a pattern area is generated. In the design data, when different attribute information is assigned to the upper graphic and the background graphic, the background graphic image 65 is generated by RIP-processing the background graphic extracted from the design data. may When the substrate 9 is placed on the stage 21, it is preferable that the generation of the upper graphic image 64 and the background graphic image 65 is completed.

続いて、図10の下図形画像62に対して変形処理が行われる。このとき、好ましくは、基板9の上面91において、互いに直交する2方向にマトリクス状に配置された複数の描画ブロックが設定されており、上述のRIP処理が行われる際に、各画像が、複数の描画ブロックに対応する複数の描画データ要素(いわゆる、メッシュデータ)に分割されている。描画データ生成部42では、下図形画像62における複数の描画データ要素の位置を移動することにより、すなわち、複数の描画ブロックの基板9上における描画位置を移動することにより、変形処理が行われる。もちろん、他の手法により変形処理が行われてもよい。 Subsequently, deformation processing is performed on the lower graphic image 62 in FIG. At this time, preferably, a plurality of drawing blocks arranged in a matrix in two directions orthogonal to each other are set on the upper surface 91 of the substrate 9, and when the above-described RIP processing is performed, each image is divided into a plurality of drawing blocks. is divided into a plurality of drawing data elements (so-called mesh data) corresponding to the drawing blocks. In the drawing data generation unit 42 , deformation processing is performed by moving the positions of the plurality of drawing data elements in the lower graphic image 62 , that is, by moving the drawing positions of the plurality of drawing blocks on the substrate 9 . Of course, deformation processing may be performed by other methods.

本実施の形態では、変形処理は、描画時変形情報に基づいて行われる。既述のように、描画時変形情報は、理想的な基板(変形が生じていない基板9)におけるアライメントマーク911の位置と、実際の基板9におけるアライメントマーク911の位置との相違を示す。また、下図形画像62は、理想的な基板に合わせた回路パターン71を示す。したがって、描画時変形情報を参照することにより、基板9の変形に合わせて、下図形画像62を変形(補正)して、変形後の回路パターンを示す変形下図形画像が生成される。なお、4個の角部にアライメントマーク911が設けられる図7の基板9は一例に過ぎず、所望の位置にアライメントマーク911が設けられてよい。また、上面91において複数の個片領域が設定され、個片領域毎に描画時変形情報に基づく下図形画像62の変形処理が行われてもよい。 In this embodiment, the deformation processing is performed based on the drawing deformation information. As described above, the deformation information during writing indicates the difference between the position of the alignment mark 911 on the ideal substrate (the substrate 9 with no deformation) and the position of the alignment mark 911 on the actual substrate 9 . Also, the lower graphic image 62 shows a circuit pattern 71 adapted to an ideal substrate. Therefore, by referring to the drawing deformation information, the lower graphic image 62 is deformed (corrected) in accordance with the deformation of the substrate 9, and a deformed lower graphic image representing the circuit pattern after deformation is generated. Note that the substrate 9 in FIG. 7 in which the alignment marks 911 are provided at four corners is merely an example, and the alignment marks 911 may be provided at desired positions. Further, a plurality of individual piece areas may be set on the upper surface 91, and the deformation processing of the lower figure image 62 may be performed for each individual piece area based on the drawing-time deformation information.

変形処理は、既述の積層時変形情報に基づいて行われてもよい。この場合、例えば、基準位置を中心として、下図形画像62の全体を拡大または縮小する処理が行われる。図4の例では、積層基板90の製造時に基板9が僅かに収縮するため、収縮後の基板9において設計データ通りのパターンが形成されるように、下図形画像62を拡大する変形処理が行われる。これにより、拡大後の回路パターンを示す変形下図形画像が生成される。変形処理は、描画時変形情報および積層時変形情報の双方に基づいて行われてもよい。この場合、例えば、描画時変形情報に基づく変形後の下図形画像に対して、積層時変形情報に基づいて全体を拡大または縮小する変形処理がさらに行われる。描画装置1では、描画時変形情報および積層時変形情報以外の情報に基づいて、下図形画像62の変形処理が行われてもよい。 The deformation processing may be performed based on the already described deformation information during stacking. In this case, for example, a process of enlarging or reducing the entire lower graphic image 62 is performed with the reference position as the center. In the example of FIG. 4, since the substrate 9 shrinks slightly during the manufacturing of the laminated substrate 90, deformation processing is performed to enlarge the lower graphic image 62 so that the pattern according to the design data is formed on the substrate 9 after shrinking. will be As a result, a deformed graphic image showing the circuit pattern after enlargement is generated. The deformation processing may be performed based on both the drawing deformation information and the lamination deformation information. In this case, for example, the deformation processing for enlarging or reducing the entire lower graphic image after deformation based on the drawing deformation information is further performed based on the stacking deformation information. In the drawing device 1, the deformation processing of the lower graphic image 62 may be performed based on information other than the deformation information during drawing and the deformation information during stacking.

続いて、図16に示すように、変形後の回路パターン71aを示す変形下図形画像と、変形処理が行われていない背景図形画像65(図15参照)とを重ね合わせた場合に、変形下図形画像のパターン領域において背景図形画像65のパターン領域と重なる領域(すなわち、変形後の回路パターン71aとマーク周囲領域77とが重なる領域であり、図16中にてクロスハッチングを付す領域)が非パターン領域に変換される。これにより、図17に示すように、変形後の回路パターン71aのうち、マーク周囲領域77を除く領域をパターン領域として示す中間合成画像66が生成される。中間合成画像66は、変形処理が行われていない背景図形を、変形後の下図形上に重ねた画像を示す。なお、図16および図17では、下図形画像62の変形処理により、回路パターン71aが右側に移動している。 Subsequently, as shown in FIG. 16, when the deformed graphic image showing the circuit pattern 71a after deformation is superimposed on the background graphic image 65 (see FIG. 15) on which the deformation processing is not performed, the deformed In the pattern area of the graphic image, the area overlapping the pattern area of the background graphic image 65 (that is, the area where the modified circuit pattern 71a and the mark surrounding area 77 overlap, and the cross-hatched area in FIG. 16) is non-existent. Converted to pattern area. As a result, as shown in FIG. 17, an intermediate synthesized image 66 is generated that shows, as a pattern area, the area of the modified circuit pattern 71a excluding the mark surrounding area 77. FIG. An intermediate composite image 66 shows an image in which a background graphic that has not undergone deformation processing is superimposed on the lower graphic after deformation. In FIGS. 16 and 17, the circuit pattern 71a is moved to the right side due to the deformation processing of the lower graphic image 62. FIG.

その後、図18に示すように、中間合成画像66と変形処理が行われていない上図形画像64(図13参照)とを重ね合わせた場合に、一方または両方の画像においてパターン領域となっている領域(図18中にて、いずれかの平行斜線を付す領域)が抽出される。換言すると、中間合成画像66と上図形画像64とのOR(論理和)合成が行われる。これにより、図19に示す描画用画像67、すなわち、描画データが生成される。描画用画像67は、パターン領域である基準ピンマーク76、および、非パターン領域であるマーク周囲領域77を、変形後の回路パターン71a上に重ねた画像を示す。換言すると、描画用画像67は、変形処理が行われていない上図形および背景図形を、変形後の下図形に重ねた画像を示す。 After that, as shown in FIG. 18, when the intermediate synthesized image 66 and the upper graphic image 64 (see FIG. 13) not subjected to deformation processing are superimposed, one or both images have a pattern area. Regions (in FIG. 18, any of the hatched regions) are extracted. In other words, the intermediate synthesized image 66 and the upper graphic image 64 are OR-synthesized. As a result, the drawing image 67 shown in FIG. 19, that is, the drawing data is generated. The drawing image 67 shows an image in which the reference pin mark 76, which is the pattern area, and the mark surrounding area 77, which is the non-pattern area, are superimposed on the modified circuit pattern 71a. In other words, the drawing image 67 shows an image in which the upper graphic and the background graphic which have not been deformed are superimposed on the lower graphic after deformation.

以上に説明したように、描画装置1では、基板9に描画すべきパターンを示す設計データが準備される。設計データは、パターン領域である下図形と、下図形上に重ねられるパターン領域である上図形と、下図形上に重ねられるとともに、上図形の周囲を囲む非パターン領域である背景図形とを含む。描画データ生成部42は、下図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない上図形および背景図形を、変形後の下図形上に重ねることにより、描画データを生成する。これにより、下図形に対して変形処理が行われており、上図形および背景図形に対して変形処理が行われていない描画データを適切に生成することができる。 As described above, the drawing apparatus 1 prepares design data indicating patterns to be drawn on the substrate 9 . The design data includes a lower figure that is a pattern area, an upper figure that is a pattern area superimposed on the lower figure, and a background figure that is a non-pattern area that is superimposed on the lower figure and surrounds the upper figure. . The drawing data generation unit 42 generates drawing data by performing a deformation process on the lower graphic and superimposing the upper graphic and the background graphic which are not subjected to the deformation process on the modified lower graphic. As a result, it is possible to appropriately generate drawing data in which the lower graphic has been subjected to the deformation process and the upper graphic and the background graphic have not been subjected to the deformation process.

上述のように、上図形は、積層基板90の製造において、他の基板900に対する基板9の位置合わせに利用される位置(上記の例では、基準ピンマーク76)を示す。描画装置1では、上図形に対して変形処理が行われないため、位置合わせに利用される上記位置が、設計データが示す位置からずれることが防止される。これにより、積層基板90の製造において、基板9の位置がずれることを防止することができ、その結果、積層基板90を適切に製造することができる。好ましくは、描画データ生成部42が、積層基板90の製造時に生じる予定の基板9の変形に合わせて、下図形に対して変形処理を行う。これにより、積層基板90において、下図形に対応する基板9上の回路パターンを設計データに近似させることができる。 As described above, the top figure shows the positions (reference pin marks 76 in the above example) that are used to align the substrate 9 with respect to the other substrate 900 in manufacturing the laminated substrate 90 . Since the drawing apparatus 1 does not perform deformation processing on the upper graphic, the position used for alignment is prevented from deviating from the position indicated by the design data. As a result, it is possible to prevent the position of the substrate 9 from being shifted in the manufacturing of the laminated substrate 90, and as a result, the laminated substrate 90 can be properly manufactured. Preferably, the drawing data generation unit 42 performs deformation processing on the lower graphic according to the deformation of the substrate 9 that is expected to occur when the laminated substrate 90 is manufactured. Thereby, in the laminated substrate 90, the circuit pattern on the substrate 9 corresponding to the lower figure can be approximated to the design data.

ところで、設計データから生成されるラスタデータ(本実施の形態では、ランレングスデータ)では、設計データのように、図形の重ね合わせについての情報を含むことができない。したがって、図9の全図形画像61のみでは、回路パターン71の領域や、基準ピンマーク76の領域を特定することが不可能である。そこで、例えば、全図形画像61中の回路パターン71の領域を別途指定することにより、回路パターン71に対して変形処理を行うことも考えられる。しかしながら、全図形画像61では、基準ピンマーク76およびマーク周囲領域77(上図形および背景画像)と重なっている回路パターン71(下図形)の部分の情報が失われているため、変形処理により回路パターン71の当該部分が基準ピンマーク76およびマーク周囲領域77と重ならなくなっても、当該部分を適切に再現することができない。 By the way, raster data (in this embodiment, run length data) generated from design data cannot contain information about superimposition of graphics unlike design data. Therefore, it is impossible to specify the area of the circuit pattern 71 and the area of the reference pin mark 76 only with the full graphic image 61 of FIG. Therefore, for example, it is conceivable to perform deformation processing on the circuit pattern 71 by separately designating the area of the circuit pattern 71 in the all graphic image 61 . However, in the all-graphic image 61, the information of the portion of the circuit pattern 71 (lower graphic) that overlaps the reference pin mark 76 and the mark surrounding area 77 (upper graphic and background image) is lost. Even if the relevant portion of the pattern 71 does not overlap the reference pin mark 76 and the mark surrounding area 77, the relevant portion cannot be reproduced properly.

これに対し、描画データ生成部42では、下図形を示すラスタデータである下図形画像62と、上図形を示すラスタデータである上図形画像64と、背景図形を示すラスタデータである背景図形画像65とを用いて、描画データが生成される。これにより、変形処理により上図形および背景図形と重ならなくなった下図形の部分も描画データにおいて適切に再現することができ、描画データを精度よく生成することができる。なお、背景図形画像は、基準ピンマーク76およびマーク周囲領域77の双方をパターン領域として示す図11の上領域画像63であってもよい。上記処理例では、下図形画像62、上図形画像64および背景図形画像65は、ランレングスデータであるが、必ずしもランレングスデータである必要はない。 On the other hand, the drawing data generator 42 generates a lower figure image 62 as raster data representing a lower figure, an upper figure image 64 as raster data representing an upper figure, and a background figure image as raster data representing a background figure. 65 are used to generate drawing data. As a result, even the portion of the lower graphic that does not overlap the upper graphic and the background graphic due to the deformation process can be appropriately reproduced in the drawing data, and the drawing data can be generated with high accuracy. The background graphic image may be the upper area image 63 in FIG. 11 showing both the reference pin mark 76 and the mark surrounding area 77 as pattern areas. In the above processing example, the lower graphic image 62, the upper graphic image 64, and the background graphic image 65 are run-length data, but they do not necessarily have to be run-length data.

描画データ生成部42では、下図形、上図形および背景図形を含む設計データ(ベクトルデータ)において、下図形に対する変形処理が行われてもよい。この場合、変形処理が行われていない上図形および背景図形と、変形後の下図形とを重ねた画像を示す変形後の設計データをRIP処理することにより、描画データが生成される。これにより、下図形に対して変形処理が行われており、上図形および背景図形に対して変形処理が行われていない描画データを適切に生成することが可能となる。 In the drawing data generator 42, the design data (vector data) including the lower graphic, the upper graphic and the background graphic may be subjected to deformation processing for the lower graphic. In this case, drawing data is generated by performing RIP processing on modified design data representing an image in which an upper graphic and a background graphic which have not been subjected to deformation processing and a lower graphic after deformation are superimposed. As a result, it is possible to appropriately generate drawing data in which the lower graphic has been subjected to the deformation process and the upper graphic and the background graphic have not been subjected to the deformation process.

ところで、RIP処理には、ある程度の時間を要するため、ステージ21上への基板9の載置後、短時間でパターンの描画を開始するには、ステージ21上への基板9の載置時にRIP処理が完了していることが好ましい。一方、描画装置1における好ましい処理では、撮像画像が示す実際の基板9のアライメントマーク911の位置に基づいて、下図形に対して変形処理が行われる。この場合に、設計データにおいて下図形に対する変形処理を行う上記手法を採用すると、撮像画像の取得後に下図形に変形処理を行い、その後、RIP処理を行うことになり、ステージ21上への基板9の載置後、短時間でパターンの描画を開始することができない。したがって、ステージ21上への基板9の載置後、短時間でパターンの描画を開始するには、上述のように、下図形画像62、上図形画像64および背景図形画像65を用いて、描画データを生成することが好ましい。 By the way, since the RIP process requires a certain amount of time, in order to start pattern drawing in a short time after mounting the substrate 9 on the stage 21, it is necessary to perform RIP when the substrate 9 is mounted on the stage 21. Processing is preferably complete. On the other hand, in preferred processing in the drawing apparatus 1, the deformation processing is performed on the lower figure based on the actual position of the alignment mark 911 on the substrate 9 indicated by the captured image. In this case, if the above-described method of performing deformation processing on the lower figure in the design data is adopted, the lower figure is subjected to the deformation process after the captured image is acquired, and then the RIP process is performed. pattern drawing cannot be started in a short period of time after the placement of the . Therefore, in order to start pattern drawing in a short time after placing the substrate 9 on the stage 21, the lower graphic image 62, the upper graphic image 64 and the background graphic image 65 are used as described above. Data is preferably generated.

上記描画装置1、描画方法、および、積層基板90の製造方法では様々な変形が可能である。 Various modifications can be made to the drawing apparatus 1, the drawing method, and the manufacturing method of the laminated substrate 90 described above.

基板9に描画すべきパターンによっては、設計データにおいて、背景図形が省略されてもよい。この場合、描画データ生成部42では、下図形を示すラスタデータである下図形画像と、上図形を示すラスタデータである上図形画像とを用いて、描画データが生成される。また、上図形が、非パターン領域であってもよい。すなわち、設計データにおいて、パターン領域である下図形と、非パターン領域である上図形とが含まれてもよい。 Depending on the pattern to be drawn on the substrate 9, the background figure may be omitted from the design data. In this case, the drawing data generator 42 generates drawing data using the lower graphic image, which is raster data representing the lower graphic, and the upper graphic image, which is raster data representing the upper graphic. Also, the upper figure may be a non-pattern area. In other words, the design data may include a lower figure, which is a pattern area, and an upper figure, which is a non-pattern area.

描画装置1では、上図形に対して下図形とは異なる変形処理が行われてもよい。また、下図形に対して変形処理を行うことなく、上図形に対して変形処理が行われてもよい。以上のように、描画データ生成部42は、下図形および上図形の一方図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない他方図形、または、当該一方図形とは異なる変形処理を行った当該他方図形と、変形後の当該一方図形とを重ねることにより、描画データを生成する。これにより、下図形および上図形の一方図形に対して変形処理が行われており、他方図形に対して変形処理が行われていない、または、異なる変形処理が行われている描画データを適切に生成することができる。 In the drawing device 1, the deformation processing different from that for the lower graphic may be performed on the upper graphic. Also, the deformation process may be performed on the upper graphic without performing the deformation process on the lower graphic. As described above, the drawing data generation unit 42 performs the deformation process on one of the lower graphic and the upper graphic, and the other graphic without the deformation process, or the corresponding figure with the deformation process different from the one graphic. Drawing data is generated by superimposing the other graphic and the deformed one graphic. As a result, drawing data in which one of the lower graphic and the upper graphic has undergone transformation processing, and the other graphic has not undergone transformation processing or has undergone a different transformation processing, can be displayed appropriately. can be generated.

設計データにおいて、上図形と下図形との重なり関係(上下関係)が、両図形が互いに異なる画層に配置されることにより表現されていてもよい。 In the design data, the overlapping relationship (hierarchical relationship) between the upper graphic and the lower graphic may be expressed by arranging the two graphics on different layers.

描画装置1における移動機構は、ステージ21がヘッド31に対して相対的に移動するのであれば、様々な構造が採用可能である。例えば、ステージ21が固定され、ヘッド31がY方向に移動してもよい。あるいは、ヘッド31およびステージ21の双方が移動してもよい。 Various structures can be adopted for the movement mechanism in the drawing apparatus 1 as long as the stage 21 moves relative to the head 31 . For example, the stage 21 may be fixed and the head 31 may move in the Y direction. Alternatively, both head 31 and stage 21 may move.

描画装置1において、基板9にパターンを描画する描画ユニットは、電子線等によるパターンの描画や、インクジェットによるパターンの描画を行うものであってもよい。 In the drawing apparatus 1, the drawing unit that draws the pattern on the substrate 9 may draw the pattern with an electron beam or the like, or draw the pattern with an inkjet.

描画装置1は、積層基板90の製造以外に用いられてもよい。パターンが描画される基板9は、プリント配線基板以外に、半導体基板やガラス基板等であってもよい。 The drawing apparatus 1 may be used for purposes other than manufacturing the laminated substrate 90 . The substrate 9 on which the pattern is drawn may be a semiconductor substrate, a glass substrate, or the like, in addition to the printed wiring board.

上記実施の形態および各変形例における構成は、相互に矛盾しない限り適宜組み合わされてよい。 The configurations in the above embodiment and each modified example may be combined as appropriate as long as they do not contradict each other.

1 描画装置
5 撮像部
9,900 基板
11 コンピュータ
21 ステージ
22 ステージ移動機構
31 ヘッド
42 描画データ生成部
43 描画制御部
62 下図形画像
64 上図形画像
65 背景図形画像
67 描画用画像
71,71a 回路パターン
76 基準ピンマーク
77 マーク周囲領域
81 基準ピン
90 積層基板
120 プログラム
901 (基板の)孔部
911 アライメントマーク
S1,S2,S11~S14 ステップ
REFERENCE SIGNS LIST 1 drawing device 5 imaging section 9,900 substrate 11 computer 21 stage 22 stage moving mechanism 31 head 42 drawing data generation section 43 drawing control section 62 lower graphic image 64 upper graphic image 65 background graphic image 67 drawing image 71, 71a circuit pattern 76 reference pin mark 77 mark surrounding area 81 reference pin 90 laminated substrate 120 program 901 hole (of substrate) 911 alignment mark S1, S2, S11 to S14 steps

Claims (10)

パターンを描画する描画装置であって、
基板にパターンを描画する描画ユニットと、
前記描画ユニットにおけるパターンの描画に利用される描画データを生成する描画データ生成部と、
を備え、
前記基板に描画すべきパターンを示す設計データが、パターン領域である下図形と、前記下図形上に重ねられる上図形とを含んでおり、
前記描画データ生成部が、前記下図形および前記上図形の一方図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない他方図形、または、前記一方図形とは異なる変形処理を行った前記他方図形と、変形後の前記一方図形とを重ねることにより、前記描画データを生成することを特徴とする描画装置。
A drawing device for drawing a pattern,
a drawing unit for drawing a pattern on a substrate;
a drawing data generation unit that generates drawing data used for pattern drawing in the drawing unit;
with
design data indicating a pattern to be drawn on the substrate includes a lower figure that is a pattern area and an upper figure that is superimposed on the lower figure;
The drawing data generation unit performs a deformation process on one of the lower graphic and the upper graphic, and converts the other graphic to which no deformation process is performed, or the other graphic to which a different deformation process is performed than the one graphic. and generating the drawing data by superimposing the deformed one graphic.
請求項1に記載の描画装置であって、
前記描画データ生成部が、前記下図形を示すラスタデータである下図形画像と、前記上図形を示すラスタデータである上図形画像とを用いて、前記描画データを生成することを特徴とする描画装置。
The drawing apparatus according to claim 1,
The drawing data generation unit generates the drawing data using a lower graphic image that is raster data representing the lower graphic and an upper graphic image that is raster data representing the upper graphic. Device.
請求項2に記載の描画装置であって、
前記上図形が、パターン領域であり、
前記設計データが、前記下図形上に重ねられるとともに、前記上図形の周囲を囲む非パターン領域である背景図形をさらに含み、
前記描画データ生成部が、前記背景図形を示すラスタデータである背景図形画像を用いて、前記描画データを生成することを特徴とする描画装置。
The drawing apparatus according to claim 2,
the upper figure is a pattern area,
The design data further includes a background graphic that is a non-pattern area that is superimposed on the lower graphic and surrounds the upper graphic,
A drawing apparatus, wherein the drawing data generation unit generates the drawing data using a background graphic image, which is raster data representing the background graphic.
請求項2または3に記載の描画装置であって、
前記下図形画像および前記上図形画像のそれぞれが、ランレングス圧縮されたデータであることを特徴とする描画装置。
4. The drawing device according to claim 2 or 3,
A drawing apparatus, wherein each of said lower graphic image and said upper graphic image is run-length compressed data.
請求項1ないし4のいずれか1つに記載の描画装置であって、
前記描画ユニットが、
前記基板を保持するステージと、
前記ステージ上の前記基板にパターンを描画するヘッドと、
前記ステージを前記ヘッドに対して相対的に移動する移動機構と、
前記ヘッドおよび前記移動機構を制御することにより前記基板に対する描画を実行する描画制御部と、
前記ステージ上の前記基板に形成されたアライメントマークを撮像して、撮像画像を取得する撮像部と、
を備え、
前記描画データ生成部が、前記撮像画像が示す前記アライメントマークの位置に基づいて、前記一方図形に対して変形処理を行うことを特徴とする描画装置。
The drawing apparatus according to any one of claims 1 to 4,
The drawing unit
a stage holding the substrate;
a head for drawing a pattern on the substrate on the stage;
a moving mechanism that moves the stage relative to the head;
a drawing control unit that executes drawing on the substrate by controlling the head and the moving mechanism;
an imaging unit that captures an image of an alignment mark formed on the substrate on the stage to obtain a captured image;
with
The drawing apparatus, wherein the drawing data generating section performs deformation processing on the one figure based on the position of the alignment mark indicated by the captured image.
請求項1ないし5のいずれか1つに記載の描画装置であって、
前記基板が、積層基板に含まれる複数の基板の1つであり、
前記上図形が、前記積層基板の製造において、他の基板に対する前記基板の位置合わせに利用される位置を示し、
前記描画データの生成において、前記上図形に対して変形処理が行われないことを特徴とする描画装置。
The drawing apparatus according to any one of claims 1 to 5,
the substrate is one of a plurality of substrates included in a laminated substrate;
wherein the upper figure indicates a position used for aligning the substrate with respect to another substrate in manufacturing the laminated substrate;
1. A drawing apparatus, wherein in generating said drawing data, said upper graphic is not deformed.
請求項6に記載の描画装置であって、
前記描画データ生成部が、前記積層基板の製造時に生じる予定の前記基板の変形に合わせて、前記下図形に対して変形処理を行うことを特徴とする描画装置。
The drawing device according to claim 6,
A drawing apparatus according to claim 1, wherein the drawing data generating section performs a deformation process on the lower figure in accordance with a deformation of the substrate that is expected to occur when manufacturing the laminated substrate.
パターンを描画する描画方法であって、
a)基板に描画すべきパターンを示すとともに、パターン領域である下図形と、前記下図形上に重ねられる上図形とを含む設計データを準備する工程と、
b)前記下図形および前記上図形の一方図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない他方図形、または、前記一方図形とは異なる変形処理を行った前記他方図形と、変形後の前記一方図形とを重ねることにより、描画データを生成する工程と、
c)前記描画データを利用して、描画ユニットにより前記基板にパターンを描画する工程と、
を備えることを特徴とする描画方法。
A drawing method for drawing a pattern,
a) a step of preparing design data indicating a pattern to be drawn on a substrate and including a lower figure as a pattern area and an upper figure superimposed on the lower figure;
b) One of the lower graphic and the upper graphic is subjected to deformation processing and the other graphic is not subjected to deformation processing, or the other graphic is subjected to deformation processing different from that of the one graphic and the deformation processing is performed. On the other hand, a step of generating drawing data by superimposing figures;
c) drawing a pattern on the substrate by a drawing unit using the drawing data;
A drawing method comprising:
積層基板の製造方法であって、
請求項8に記載の描画方法によりパターンが描画された基板を含む複数の基板を積層する工程と、
前記基板において前記上図形が示す位置に形成された孔部を含む、複数の孔部が、積層された前記複数の基板において積層方向に連続しており、前記複数の孔部に基準ピンを挿入した状態で、前記複数の基板に対して結合処理を施す工程と、
を備え、
前記描画方法の前記b)工程において、前記上図形に対して変形処理が行われないことを特徴とする積層基板の製造方法。
A method for manufacturing a laminated substrate,
A step of stacking a plurality of substrates including a substrate on which a pattern has been drawn by the drawing method according to claim 8;
A plurality of holes including the hole formed at the position indicated by the upper figure in the substrate are continuous in the stacking direction in the plurality of stacked substrates, and a reference pin is inserted into the plurality of holes. a step of performing a bonding process on the plurality of substrates in this state;
with
A method for manufacturing a laminated substrate, wherein in the step b) of the drawing method, the upper figure is not deformed.
パターンの描画に利用される描画データを、コンピュータに生成させるプログラムであって、前記プログラムのコンピュータによる実行は、前記コンピュータに、
a)基板に描画すべきパターンを示すとともに、パターン領域である下図形と、前記下図形上に重ねられる上図形とを含む設計データを準備する工程と、
b)前記下図形および前記上図形の一方図形に対して変形処理を行い、変形処理を行わない他方図形、または、前記一方図形とは異なる変形処理を行った前記他方図形と、変形後の前記一方図形とを重ねることにより、描画データを生成する工程と、
を実行させることを特徴とするプログラム。
A program for causing a computer to generate drawing data used for drawing a pattern, wherein execution of the program by the computer causes the computer to:
a) a step of preparing design data indicating a pattern to be drawn on a substrate and including a lower figure as a pattern area and an upper figure superimposed on the lower figure;
b) One of the lower graphic and the upper graphic is subjected to deformation processing and the other graphic is not subjected to deformation processing, or the other graphic is subjected to deformation processing different from that of the one graphic and the deformation processing is performed. On the other hand, a step of generating drawing data by superimposing figures;
A program characterized by causing the execution of
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