JP2022058459A - Light wavelength conversion sheet, backlight device, and image display device - Google Patents

Light wavelength conversion sheet, backlight device, and image display device Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for evaluating degradation of a light wavelength conversion sheet capable of quantitative degradation evaluation with high correlation with visual evaluation.
SOLUTION: A method for evaluating degradation of a light wavelength conversion sheet 10 equipped with a host matrix and quantum dots dispersed in the host matrix. This method comprises the steps of: measuring, while one surface 10A of the light wavelength conversion sheet 10 is irradiated with light having a wavelength convertible by the quantum dots, a luminance distribution of at least part of the other surface 10B on a reverse side of one surface 10A of the light wavelength conversion sheet 10; obtaining a luminance change amount distribution on the basis of the measured luminance distribution; detecting a maximum value from the obtained luminance change amount distribution and a minimum value adjacent to the maximum value; and determining a width between a position where the maximum value is obtained and a position where the minimum value is obtained and evaluating the degradation of the light wavelength conversion sheet on the basis of the width.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2022,JPO&INPIT

Description

本発明は、光波長変換シートの劣化評価方法、光波長変換シート、バックライト装置、
および画像表示装置に関する。
The present invention relates to a method for evaluating deterioration of an optical wavelength conversion sheet, an optical wavelength conversion sheet, a backlight device, and the like.
And the image display device.

液晶表示装置等の透過型画像表示装置は、一般に、液晶表示パネル等の透過型画像表示
パネルの背面側に配置され、透過型画像表示パネルを照明するバックライト装置を備えて
いる。
A transmissive image display device such as a liquid crystal display device is generally arranged on the back side of a transmissive image display panel such as a liquid crystal display panel, and includes a backlight device that illuminates the transmissive image display panel.

現在、色再現性を高めるために、量子ドットおよびバインダ樹脂を含む光波長変換層を
備える光波長変換シートをバックライト装置に組み込むことが検討されている(例えば、
特許文献1参照)。量子ドットは、光(一次光)を吸収して異なる波長の光(二次光)を
放出することができる。量子ドットが放出する光の波長は、主として量子ドットの粒子径
に依存する。したがって、光波長変換シートが組み込まれたバックライト装置では、単一
の波長域の光を投射する光源を用いながら、種々の色を再現することができる。例えば、
青色光を発する光源を用いる場合、光波長変換シートが青色光を吸収して緑色光および赤
色光を放出することもできる。このような光波長変換シートが組み込まれたバックライト
装置は色純度に優れることから、このバックライト装置を用いた画像表示装置は優れた色
再現性を有することになる。
Currently, in order to improve color reproducibility, it is being considered to incorporate an optical wavelength conversion sheet including an optical wavelength conversion layer containing quantum dots and a binder resin into a backlight device (for example,).
See Patent Document 1). Quantum dots can absorb light (primary light) and emit light of different wavelengths (secondary light). The wavelength of the light emitted by the quantum dots mainly depends on the particle size of the quantum dots. Therefore, in a backlight device incorporating an optical wavelength conversion sheet, various colors can be reproduced while using a light source that projects light in a single wavelength range. for example,
When a light source that emits blue light is used, the light wavelength conversion sheet can also absorb blue light and emit green light and red light. Since the backlight device incorporating such an optical wavelength conversion sheet is excellent in color purity, the image display device using this backlight device has excellent color reproducibility.

特開2015-111518号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2015-11518

光波長変換シートにおいては、量子ドットは水分や酸素によって劣化してしまい、発光
効率が低下するおそれがあるので、光波長変換層の両面に、水分および酸素の透過を抑制
するためのバリアフィルムを設けている。バリアフィルムは光波長変換層を挟むように設
けられるので、通常、光波長変換シートは、バリアフィルム、光波長変換層、バリアフィ
ルムの順で積層された構造となっている。
In the optical wavelength conversion sheet, quantum dots are deteriorated by moisture and oxygen, and the luminous efficiency may decrease. Therefore, barrier films for suppressing the transmission of moisture and oxygen are provided on both sides of the optical wavelength conversion layer. It is provided. Since the barrier film is provided so as to sandwich the light wavelength conversion layer, the light wavelength conversion sheet usually has a structure in which the barrier film, the light wavelength conversion layer, and the barrier film are laminated in this order.

しかしながら、上記のような構造の光波長変換シートであっても、通常、光波長変換層
の両面にバリアフィルムを設けた状態で光波長変換シートを所望の大きさに切断するので
、切断された光波長変換シートの側面にはバリアフィルムが存在せず、光波長変換層が露
出している。このため、光波長変換シートの端部の量子ドットが光波長変換シートの中央
部に比べて劣化しやすい。光波長変換シートの端部の量子ドットが劣化した場合、発光時
に端部は中央部の色味とは異なる色味となる。
However, even an optical wavelength conversion sheet having the above structure is usually cut because the optical wavelength conversion sheet is cut to a desired size with barrier films provided on both sides of the optical wavelength conversion layer. There is no barrier film on the side surface of the light wavelength conversion sheet, and the light wavelength conversion layer is exposed. Therefore, the quantum dots at the edges of the optical wavelength conversion sheet are more likely to deteriorate than those at the center of the optical wavelength conversion sheet. When the quantum dots at the edges of the optical wavelength conversion sheet are deteriorated, the edges have a color different from that at the center when emitting light.

現在、光波長変換シートの劣化評価は、目視で行われているが、光波長変換シートの劣
化評価を一定の客観性をもって目視で行うためには熟練した技術を要する。このため、目
視評価と相関の高く、かつ定量化できる光波長変換シートの劣化評価方法が求められてい
る。なお、光波長変換シートの定量的な劣化評価方法は、未だ確立されていない。
Currently, the deterioration evaluation of the optical wavelength conversion sheet is performed visually, but in order to visually evaluate the deterioration of the optical wavelength conversion sheet with a certain objectivity, a skilled technique is required. Therefore, there is a demand for a deterioration evaluation method for an optical wavelength conversion sheet that has a high correlation with visual evaluation and can be quantified. A quantitative deterioration evaluation method for the optical wavelength conversion sheet has not yet been established.

本発明は、上記問題を解決するためになされたものである。目視評価と相関の高い定量
的な劣化評価が可能な光波長変換シートの劣化評価方法を提供することを目的とする。ま
た、発光時に目視評価したときに量子ドットの劣化による色味変化が確認されにくい光波
長変換シート、およびこのような光波長変換シートを備えるバックライト装置および画像
表示装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems. It is an object of the present invention to provide a deterioration evaluation method for an optical wavelength conversion sheet capable of quantitative deterioration evaluation having a high correlation with visual evaluation. Another object of the present invention is to provide an optical wavelength conversion sheet in which it is difficult to confirm a change in color due to deterioration of quantum dots when visually evaluated at the time of light emission, and a backlight device and an image display device provided with such an optical wavelength conversion sheet. do.

本発明の一の態様によれば、ホストマトリクスと、前記ホストマトリクス中に分散され
た量子ドットとを含む光波長変換層を備える光波長変換シートの劣化評価方法であって、
前記光波長変換シートの一方の面に前記量子ドットによって波長変換可能な光を照射した
状態で、前記光波長変換シートにおける前記一方の表面とは反対側の他方の面の少なくと
も一部の輝度分布を測定する工程と、測定された前記輝度分布に基づいて輝度変化量分布
を得る工程と、得られた前記輝度変化量分布から極大値と、前記極大値に隣接する極小値
とを検出する工程と、前記極大値が得られる位置から前記極小値が得られる位置までの幅
を求め、前記幅に基づいて前記光波長変換シートの劣化を評価する工程とを備える、光波
長変換シートの劣化評価方法が提供される。
According to one aspect of the present invention, there is a deterioration evaluation method for an optical wavelength conversion sheet including an optical wavelength conversion layer including a host matrix and quantum dots dispersed in the host matrix.
In a state where one surface of the optical wavelength conversion sheet is irradiated with light that can be wavelength-converted by the quantum dots, the brightness distribution of at least a part of the other surface of the optical wavelength conversion sheet opposite to the one surface. A step of obtaining a brightness change amount distribution based on the measured brightness distribution, and a step of detecting a maximum value and a minimum value adjacent to the maximum value from the obtained brightness change amount distribution. Deterioration evaluation of the optical wavelength conversion sheet, comprising a step of obtaining a width from a position where the maximum value is obtained to a position where the minimum value is obtained and evaluating deterioration of the optical wavelength conversion sheet based on the width. The method is provided.

上記光波長変換シートの劣化評価方法において、前記輝度分布を測定する工程が、少な
くとも前記光波長変換シートの端部の輝度を測定する工程であり、前記輝度変化量分布を
得る工程が、前記光波長変換シートの前記端部の輝度変化量を得る工程であってもよい。
In the deterioration evaluation method of the light wavelength conversion sheet, the step of measuring the luminance distribution is at least the step of measuring the luminance of the end portion of the luminance conversion sheet, and the step of obtaining the luminance change amount distribution is the step of obtaining the light. It may be a step of obtaining the luminance change amount of the end portion of the wavelength conversion sheet.

上記光波長変換シートの劣化評価方法において、前記輝度分布を測定する工程前に、直
下型のバックライト装置の発光面に前記光波長変換シートを配置する工程をさらに備え、
前記光波長変換シートの大きさが前記発光面の大きさよりも小さく、前記輝度分布を測定
する工程において照射される前記光が前記バックライト装置から照射される光であっても
よい。
In the deterioration evaluation method of the light wavelength conversion sheet, a step of arranging the light wavelength conversion sheet on the light emitting surface of the direct type backlight device is further provided before the step of measuring the luminance distribution.
The size of the light wavelength conversion sheet may be smaller than the size of the light emitting surface, and the light emitted in the step of measuring the luminance distribution may be the light emitted from the backlight device.

上記光波長変換シートの劣化評価方法において、前記光波長変換層の少なくとも片面に
水分や酸素の透過を抑制するバリアフィルムをさらに備えていてもよい。
In the deterioration evaluation method of the light wavelength conversion sheet, a barrier film that suppresses the transmission of water or oxygen may be further provided on at least one surface of the light wavelength conversion layer.

上記光波長変換シートの劣化評価方法において、前記量子ドットによって波長変換可能
な光が青色光であり、前記量子ドットが前記青色光を緑色光に変換する第1の量子ドット
と、前記青色光を赤色光に変換する第2の量子ドットとを含んでいてもよい。
In the deterioration evaluation method of the optical wavelength conversion sheet, the light whose wavelength can be converted by the quantum dots is blue light, and the quantum dots convert the blue light into green light and the blue light. It may include a second quantum dot that converts it into red light.

本発明の他の態様によれば、ホストマトリクスと、前記ホストマトリクス中に分散され
た量子ドットとを含む光波長変換層を備える光波長変換シートであって、前記光波長変換
シートに対し60℃、相対湿度90%環境下に500時間放置する耐久性試験を行い、前
記耐久性試験後において、上記劣化評価方法によって前記光波長変換シートの劣化を評価
したときの上記幅が5mm以下である、光波長変換シートが提供される。
According to another aspect of the present invention, it is an optical wavelength conversion sheet including an optical wavelength conversion layer including a host matrix and quantum dots dispersed in the host matrix, and has a temperature of 60 ° C. with respect to the optical wavelength conversion sheet. After the durability test, the width is 5 mm or less when the deterioration of the optical wavelength conversion sheet is evaluated by the deterioration evaluation method. An optical wavelength conversion sheet is provided.

上記光波長変換シートにおいて、前記光波長変換層の少なくとも片面に水分や酸素の透
過を抑制するバリアフィルムをさらに備えていてもよい。
In the light wavelength conversion sheet, a barrier film that suppresses the transmission of water and oxygen may be further provided on at least one surface of the light wavelength conversion layer.

上記光波長変換シートにおいて、前記量子ドットが前記青色光を緑色光に変換する第1
の量子ドットと、前記青色光を赤色光に変換する第2の量子ドットとを含んでいてもよい
In the light wavelength conversion sheet, the first quantum dot converts the blue light into green light.
Quantum dots and a second quantum dot that converts the blue light into red light may be included.

本発明の他の態様によれば、光源と、前記光源からの光を受ける上記の光波長変換シー
トとを備える、バックライト装置が提供される。
According to another aspect of the present invention, there is provided a backlight device including a light source and the above-mentioned light wavelength conversion sheet that receives light from the light source.

本発明の他の態様によれば、上記のバックライト装置と、前記バックライト装置の出光
側に配置された表示パネルとを備える、画像表示装置が提供される。
According to another aspect of the present invention, there is provided an image display device including the above-mentioned backlight device and a display panel arranged on the light emitting side of the backlight device.

本発明の一の態様の光波長変換シートの劣化評価方法によれば、目視評価と相関が高い
定量的な劣化評価が可能となる。また、本発明の他の態様によれば、発光時に目視評価し
たときに量子ドットの劣化による色味変化が確認されにくい光波長変換シートならびにこ
のような光波長変換シートを備えるバックライト装置および画像表示装置を提供できる。
According to the deterioration evaluation method of the optical wavelength conversion sheet according to one aspect of the present invention, quantitative deterioration evaluation having a high correlation with visual evaluation is possible. Further, according to another aspect of the present invention, an optical wavelength conversion sheet in which color change due to deterioration of quantum dots is less likely to be confirmed when visually evaluated at the time of light emission, and a backlight device and an image provided with such an optical wavelength conversion sheet. A display device can be provided.

実施形態に係る光波長変換シートの劣化評価方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the deterioration evaluation method of the optical wavelength conversion sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る光波長変換シートの輝度分布を測定する際の図である。It is a figure at the time of measuring the luminance distribution of the light wavelength conversion sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る光波長変換シートの概略構成図である。It is a schematic block diagram of the light wavelength conversion sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係る光波長変換シートの作用を示す図である。It is a figure which shows the operation of the light wavelength conversion sheet which concerns on embodiment. 実施形態に係るバックライト装置を含む画像表示装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the image display apparatus including the backlight apparatus which concerns on embodiment. 図4に示されるレンズシートの斜視図である。It is a perspective view of the lens sheet shown in FIG. 図5のレンズシートのI-I線に沿った断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line I-I of the lens sheet of FIG. 実施形態に係る他のバックライト装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the other backlight apparatus which concerns on embodiment. サンプル2に係る光波長変換シートの輝度分布を示したグラフである。It is a graph which showed the luminance distribution of the light wavelength conversion sheet which concerns on a sample 2. サンプル2に係る光波長変換シートの輝度変化量分布を示したグラフである。It is a graph which showed the luminance change amount distribution of the light wavelength conversion sheet which concerns on a sample 2. 図10の輝度変化量分布の一部を拡大したグラフである。It is a graph which enlarged a part of the luminance change amount distribution of FIG.

以下、本発明の実施形態に係る光波長変換シートの劣化評価方法、光波長変換シート、
バックライト装置、および画像表示装置について、図面を参照しながら説明する。本明細
書において、「シート」、「フィルム」等の用語は、呼称の違いのみに基づいて、互いか
ら区別されるものではない。したがって、例えば、「シート」は、フィルムとも呼ばれる
ような部材も含む意味で用いられ、また「フィルム」はシートとも呼ばれ得るような部材
も含む意味で用いられる。図1は実施形態に係る光波長変換シートの劣化評価方法を説明
するための図であり、図2は実施形態に係る光波長変換シートの輝度分布を測定する際の
図であり、図3は本実施形態に係る光波長変換シートの概略構成図であり、図4は本実施
形態に係る光波長変換シートの作用を示す図である。
Hereinafter, a method for evaluating deterioration of an optical wavelength conversion sheet according to an embodiment of the present invention, an optical wavelength conversion sheet,
The backlight device and the image display device will be described with reference to the drawings. In the present specification, terms such as "sheet" and "film" are not distinguished from each other based only on the difference in designation. Therefore, for example, "sheet" is used in the sense of including a member that can also be called a film, and "film" is used in the sense of including a member that can also be called a sheet. FIG. 1 is a diagram for explaining a deterioration evaluation method of the optical wavelength conversion sheet according to the embodiment, FIG. 2 is a diagram for measuring the luminance distribution of the optical wavelength conversion sheet according to the embodiment, and FIG. 3 is a diagram. It is a schematic block diagram of the light wavelength conversion sheet which concerns on this embodiment, and FIG. 4 is a figure which shows the operation of the light wavelength conversion sheet which concerns on this embodiment.

<<<光波長変換シートの劣化評価方法>>>
光波長変換シートの劣化を評価する際には、まず、図1に示されるように、劣化評価装
置1および測定対象である光波長変換シート10を用意する。劣化評価装置1は、直下型
のバックライト装置2、バックライト装置2の上方に配置され、かつ光波長変換シート1
0の輝度を測定する輝度計3と、輝度計3に電気的に接続された処理装置4とを備えてい
る。
<<< Deterioration evaluation method for optical wavelength conversion sheet >>>
When evaluating the deterioration of the optical wavelength conversion sheet, first, as shown in FIG. 1, a deterioration evaluation device 1 and an optical wavelength conversion sheet 10 to be measured are prepared. The deterioration evaluation device 1 is arranged above the direct type backlight device 2 and the backlight device 2, and is an optical wavelength conversion sheet 1.
It includes a luminance meter 3 that measures the luminance of 0, and a processing device 4 that is electrically connected to the luminance meter 3.

<<バックライト装置>>
バックライト装置2は、光源5と、光源5上に配置され、光源5からの光を拡散させる
機能を有する光拡散板6とを備えている。バックライト装置2は、光源5および光拡散板
6の他、光拡散板6上にレンズシートや反射型偏光分離シートを備えていてもよい。図1
に示されるバックライト装置2の発光面2Aは、光拡散板の出光面で構成されている。
<< Backlight device >>
The backlight device 2 includes a light source 5 and a light diffusing plate 6 arranged on the light source 5 and having a function of diffusing the light from the light source 5. In addition to the light source 5 and the light diffusing plate 6, the backlight device 2 may include a lens sheet and a reflective polarizing separation sheet on the light diffusing plate 6. Figure 1
The light emitting surface 2A of the backlight device 2 shown in the above is composed of a light emitting surface of a light diffusing plate.

<光源>
光源5は、後述する量子ドット17によって波長変換される光を照射するものである。
光源5としては、量子ドット17によって波長変換される光を照射するものであれば、特
に限定されないが、例えば、線状の冷陰極管等の蛍光灯や、点状の発光ダイオード(LE
D)や白熱電球等が挙げられる。量子ドット17が青色光を緑色光に変換する第1の量子
ドットと、青色光を赤色光に変換する第2の量子ドットとを含む場合には、光源2として
は、青色光を発する光源、特に青色発光ダイオードが好ましい。本明細書における「青色
光」とは、380nm以上480nm未満の波長域を有する光であり、「緑色光」とは、
480nm以上590nm未満の波長域を有する光であり、「赤色光」とは、590nm
以上750nm以下の波長域を有する光である。
<Light source>
The light source 5 irradiates light whose wavelength is converted by the quantum dots 17, which will be described later.
The light source 5 is not particularly limited as long as it irradiates light whose wavelength is converted by the quantum dots 17, but is, for example, a fluorescent lamp such as a linear cold cathode fluorescent lamp or a point-shaped light emitting diode (LE).
D) and incandescent light bulbs can be mentioned. When the quantum dot 17 includes a first quantum dot that converts blue light into green light and a second quantum dot that converts blue light into red light, the light source 2 is a light source that emits blue light. A blue light emitting diode is particularly preferable. As used herein, "blue light" is light having a wavelength range of 380 nm or more and less than 480 nm, and "green light" is defined as "green light".
Light having a wavelength range of 480 nm or more and less than 590 nm, and "red light" is 590 nm.
Light having a wavelength range of 750 nm or less.

<光拡散板>
光拡散板6は、光源5側の一方の面によって構成された入光面6Aと、光波長変換シー
ト10側の他方の面によって構成された出光面6Bとを有している。入光面6Aから光拡
散板6内に入射した光は、光拡散板6内で拡散され、出光面6Bから出射される。
<Light diffuser>
The light diffusing plate 6 has an incoming light surface 6A formed by one surface on the light source 5 side and an outgoing light surface 6B formed by the other surface on the light wavelength conversion sheet 10. The light incident on the light diffusing plate 6 from the light entering surface 6A is diffused in the light diffusing plate 6 and emitted from the light emitting surface 6B.

光拡散板6としては、光源5からの光を拡散させることができれば、特に限定されない
が、例えば、透明材料中に光拡散性粒子を分散させた板が挙げられる。透明材料としては
、特に限定されないが、例えば透明樹脂、無機ガラス等が挙げられる。前記透明樹脂とし
ては、成形が容易である点で、透明熱可塑性樹脂が好適に用いられる。この透明熱可塑性
樹脂としては、特に限定されるものではないが、例えば、ポリスチレン樹脂、スチレン-
メタクリル酸メチル共重合体樹脂、スチレン-メタクリル酸共重合体樹脂、スチレン-無
水マレイン酸共重合体樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、A
BS樹脂(アクリロニトリル-ブタジエン-スチレン共重合体樹脂)、AS樹脂(アクリ
ロニトリル-スチレン共重合体樹脂)、ポリオレフィン樹脂(ポリエチレン樹脂、ポリプ
ロピレン樹脂等)などが挙げられる。これらのうちの1種を用いても良いし、或いはこれ
らの2種以上を混合して用いても良い。光拡散板6中の光拡散性粒子としては、光拡散板
として一般的に用いられる光拡散性粒子が挙げられる。
The light diffusing plate 6 is not particularly limited as long as it can diffuse the light from the light source 5, and examples thereof include a plate in which light diffusing particles are dispersed in a transparent material. The transparent material is not particularly limited, and examples thereof include transparent resin and inorganic glass. As the transparent resin, a transparent thermoplastic resin is preferably used because it is easy to mold. The transparent thermoplastic resin is not particularly limited, but for example, polystyrene resin, styrene-.
Methyl methacrylate copolymer resin, styrene-methacrylic acid copolymer resin, styrene-maleic anhydride copolymer resin, methacrylic resin, acrylic resin, polycarbonate resin, A
Examples thereof include BS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer resin), AS resin (acrylonitrile-styrene copolymer resin), and polyolefin resin (polyethylene resin, polypropylene resin, etc.). One of these may be used, or two or more of these may be mixed and used. Examples of the light diffusing particles in the light diffusing plate 6 include light diffusing particles generally used as a light diffusing plate.

<<輝度計>>
輝度計3は、光波長変換シート10のバックライト装置2側の一方の表面10Aとは反
対側の他方の表面10Bの輝度分布を測定するものである。輝度計は、面全体の輝度分布
を測定する面輝度計であってもよい。輝度計3としては、特に限定されず、市販品を用い
ていることができる。輝度計の市販品としては、例えば、UA-200(トプコンテクノ
ハウス社製)が挙げられる。光波長変換シート10の表面10Bから輝度計3までの距離
(焦点距離)は、適宜調節可能である。
<< Luminance meter >>
The luminance meter 3 measures the luminance distribution of the other surface 10B on the opposite side of the backlight device 2 side of the optical wavelength conversion sheet 10 from the one surface 10A. The luminance meter may be a surface luminance meter that measures the luminance distribution of the entire surface. The luminance meter 3 is not particularly limited, and a commercially available product can be used. Examples of commercially available luminance meters include UA-200 (manufactured by Topcon Techno House). The distance (focal length) from the surface 10B of the optical wavelength conversion sheet 10 to the luminance meter 3 can be appropriately adjusted.

<<処理装置>>
処理装置4は、輝度計3によって測定された輝度分布をデータとして取り込み、取り込
んだ輝度分布に基づいて輝度変化量分布を求める機能を有するものである。また、処理装
置4は、指定した部分(例えば、光波長変換シートの任意の一方の端縁から他方の端縁ま
での直線部分)における輝度分布を抽出する機能を有していてもよい。
<< Processing equipment >>
The processing device 4 has a function of capturing the luminance distribution measured by the luminance meter 3 as data and obtaining the luminance change amount distribution based on the captured luminance distribution. Further, the processing device 4 may have a function of extracting a luminance distribution in a designated portion (for example, a linear portion from any one end edge to the other end edge of the optical wavelength conversion sheet).

<<光波長変換シート>>
測定対象の光波長変換シート10は、入射する光のうち一部の光の波長を他の波長に変
換し、入射した光の他の一部および波長変換された光を出射させるためのシートである。
光波長変換シート10の大きさは、バックライト装置2の発光面2Aの大きさよりも小さ
いことが好ましい。このような大きさの光波長変換シート10を用いることにより、光波
長変換シート10の端部よりも中央部側の劣化のみならず、光波長変換シート10の端部
の劣化を評価することができる。本明細書における「端部の劣化」とは、光波長変換シー
トの端部に存在する量子ドットが劣化することを意味する。
<< Optical wavelength conversion sheet >>
The light wavelength conversion sheet 10 to be measured is a sheet for converting the wavelength of a part of the incident light into another wavelength and emitting the other part of the incident light and the wavelength-converted light. be.
The size of the light wavelength conversion sheet 10 is preferably smaller than the size of the light emitting surface 2A of the backlight device 2. By using the optical wavelength conversion sheet 10 having such a size, it is possible to evaluate not only the deterioration of the central portion of the optical wavelength conversion sheet 10 with respect to the end portion but also the deterioration of the end portion of the optical wavelength conversion sheet 10. can. As used herein, the term "deterioration of the end portion" means that the quantum dots existing at the end portion of the optical wavelength conversion sheet are deteriorated.

光波長変換シート10は、図3に示されるように、光波長変換層11と、光波長変換層
11の両面に設けられたバリアフィルム12、13と、バリアフィルム12、13におけ
る光波長変換層11側の面とは反対側の面に設けられた光拡散層14、15とを備えてい
る。光波長変換シート10においては、光拡散層14、15の表面が光波長変換シート1
0の表面を構成している。
As shown in FIG. 3, the optical wavelength conversion sheet 10 includes an optical wavelength conversion layer 11, barrier films 12 and 13 provided on both sides of the optical wavelength conversion layer 11, and optical wavelength conversion layers in the barrier films 12 and 13. It is provided with light diffusion layers 14 and 15 provided on a surface opposite to the surface on the 11 side. In the light wavelength conversion sheet 10, the surface of the light diffusion layers 14 and 15 is the light wavelength conversion sheet 1.
It constitutes the surface of 0.

光波長変換シート10は、光拡散層14/バリアフィルム12/光波長変換層11/バ
リアフィルム13/光拡散層15の構造となっているが、光波長変換シートが光波長変換
層を有していれば、光波長変換シートの構造は特に限定されない。例えば、光波長変換シ
ートは、光拡散層/バリアフィルム/光波長変換層/バリアフィルム、バリアフィルム/
光波長変換層/バリアフィルム、光透過性基材/光波長変換層/光透過性基材、光拡散層
/オーバーコート層/光波長変換層/オーバーコート層/光拡散層、またはオーバーコー
ト層/光波長変換層/オーバーコート層の構成であってもよい。
The light wavelength conversion sheet 10 has a structure of a light diffusion layer 14 / barrier film 12 / light wavelength conversion layer 11 / barrier film 13 / light diffusion layer 15, but the light wavelength conversion sheet has a light wavelength conversion layer. If so, the structure of the optical wavelength conversion sheet is not particularly limited. For example, the light wavelength conversion sheet is a light diffusion layer / barrier film / light wavelength conversion layer / barrier film, barrier film /
Light wavelength conversion layer / barrier film, light transmission base material / light wavelength conversion layer / light transmission base material, light diffusion layer / overcoat layer / light wavelength conversion layer / overcoat layer / light diffusion layer, or overcoat layer It may be configured as a / optical wavelength conversion layer / overcoat layer.

光波長変換シート10においては、図4に示されるように、光波長変換シート10の表
面10Aから光を入射させた場合には、光波長変換層11中の量子ドット17に入射した
光L1は光L1とは異なる波長の光L2に変換されて、表面10Bから出射する。一方、
表面10Aから光を入射させた場合であっても、光波長変換層11中の量子ドット17間
を通過する光L1は波長変換されずに、表面10Bから出射する。
In the optical wavelength conversion sheet 10, as shown in FIG. 4, when light is incident from the surface 10A of the optical wavelength conversion sheet 10, the light L1 incident on the quantum dots 17 in the optical wavelength conversion layer 11 is emitted. It is converted into light L2 having a wavelength different from that of light L1 and emitted from the surface 10B. on the other hand,
Even when light is incident from the surface 10A, the light L1 passing between the quantum dots 17 in the optical wavelength conversion layer 11 is emitted from the surface 10B without being wavelength-converted.

光波長変換シート10の厚みは、10μm以上500μm以下となっていることが好ま
しい。光波長変換シート10の平均厚みがこの範囲であれば、光波長変換シート10が組
み込まれるバックライト装置の軽量化および薄膜化に適している。
The thickness of the optical wavelength conversion sheet 10 is preferably 10 μm or more and 500 μm or less. When the average thickness of the light wavelength conversion sheet 10 is in this range, it is suitable for weight reduction and thinning of the backlight device in which the light wavelength conversion sheet 10 is incorporated.

光波長変換シート10の厚みは、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて、光波長変換シ
ート10の断面を撮影し、その断面の画像において光波長変換シート10の厚みを20箇
所測定し、その20箇所の厚みの平均値とする。これらの中でも、光波長変換シート10
の膜厚がμmオーダーであることを考慮すると、SEMを用いることが好ましい。SEM
での測定の際には、加速電圧を30kV、倍率を1000~7000倍とすることが好ま
しい。
The thickness of the optical wavelength conversion sheet 10 is determined by photographing a cross section of the optical wavelength conversion sheet 10 using a scanning electron microscope (SEM), measuring the thickness of the optical wavelength conversion sheet 10 at 20 points in the image of the cross section, and measuring the thickness thereof. The average value of the thicknesses at 20 points. Among these, the optical wavelength conversion sheet 10
Considering that the film thickness is on the order of μm, it is preferable to use SEM. SEM
When measuring in, it is preferable that the acceleration voltage is 30 kV and the magnification is 1000 to 7000 times.

光波長変換シート10においては、バリアフィルム12、13を備えているので、シー
ト全体で、40℃、相対湿度90%での水蒸気透過率(WVTR:Water Vapor Transmission
Rate)が0.1g/(m・24h)未満となっていることが好ましい。水蒸気透過率
はJIS K7129:2008に準拠した手法で得られる数値である。水蒸気透過率は
、水蒸気透過率測定装置(製品名「PERMATRAN-W3/31」、MOCON社製
)を用いて測定することができる。水蒸気透過率は、3回測定して得られた値の平均値と
する。
Since the light wavelength conversion sheet 10 includes the barrier films 12 and 13, the entire sheet has a water vapor transmittance (WVTR: Water Vapor Transmission) at 40 ° C. and a relative humidity of 90%.
Rate) is preferably less than 0.1 g / ( m 2.24 h). The water vapor permeability is a numerical value obtained by a method based on JIS K7129: 2008. The water vapor permeability can be measured using a water vapor permeability measuring device (product name "PERMATRAN-W3 / 31", manufactured by MOCON). The water vapor transmittance shall be the average value of the values obtained by measuring three times.

光波長変換シート10においては、バリアフィルム12、13を備えているので、シー
ト全体で、23℃、相対湿度90%での酸素透過率(OTR: Oxygen Transmission Rate)
が0.1cm/(m・24h・atm)未満となっていることが好ましい。酸素透過
率はJIS K7126:2006に準拠した手法で得られる数値である。酸素透過率は
、酸素ガス透過率測定装置(製品名「OX-TRAN 2/21」、MOCON社製)を
用いて測定することができる。酸素透過率は、3回測定して得られた値の平均値とする。
Since the optical wavelength conversion sheet 10 includes the barrier films 12 and 13, the oxygen transmission rate (OTR: Oxygen Transmission Rate) at 23 ° C. and 90% relative humidity is provided for the entire sheet.
Is preferably less than 0.1 cm 3 / ( m 2.24 h · atm). The oxygen permeability is a numerical value obtained by a method based on JIS K7126: 2006. The oxygen permeability can be measured using an oxygen gas permeability measuring device (product name "OX-TRAN 2/21", manufactured by MOCON). The oxygen permeability shall be the average value of the values obtained by measuring three times.

光波長変換シート10における40℃、相対湿度90%での水蒸気透過率は1.0×1
-2g/(m・24h)以下となっていることが好ましく、また光波長変換シート1
0における23℃、相対湿度90%での酸素透過率が1.0×10-2cm/(m
24h・atm)以下となっていることが好ましい。
The water vapor transmittance of the light wavelength conversion sheet 10 at 40 ° C. and 90% relative humidity is 1.0 × 1.
It is preferably 0-2 g / ( m 2.24 h) or less, and the optical wavelength conversion sheet 1
Oxygen permeability at 23 ° C at 0 and 90% relative humidity is 1.0 × 10 -2 cm 3 / (m 2 ·.
It is preferably 24 h · atm) or less.

<光波長変換層>
光波長変換層11は、ホストマトリクス16と、ホストマトリクス16に分散された量
子ドット17とを含んでいる。光波長変換層11は、波長効率を高めるために光散乱性粒
子18を含んでいることが好ましい。また、光波長変換層11は、量子ドット17の劣化
を抑制するための添加剤を含んでいることが好ましい。光波長変換層11の両面はバリア
フルム12、13で覆われているが、光波長変換層11の側面は露出している。
<Light wavelength conversion layer>
The optical wavelength conversion layer 11 includes a host matrix 16 and quantum dots 17 dispersed in the host matrix 16. The light wavelength conversion layer 11 preferably contains light scattering particles 18 in order to increase the wavelength efficiency. Further, the optical wavelength conversion layer 11 preferably contains an additive for suppressing deterioration of the quantum dots 17. Both sides of the light wavelength conversion layer 11 are covered with the barrier fluids 12 and 13, but the side surfaces of the light wavelength conversion layer 11 are exposed.

光波長変換層11の膜厚は、10μm以上200μm以下となっていることが好ましい
。この光波長変換層11の平均厚みがこの範囲であれば、バックライト装置の軽量化およ
び薄膜化に適している。光波長変換層11の膜厚は、走査型電子顕微鏡(SEM)を用い
て、光波長変換層11の断面を撮影し、その断面の画像において光波長変換層11の膜厚
を20箇所測定し、その20箇所の膜厚の平均値とする。光波長変換層11の平均膜厚の
上限は170μm未満であることがより好ましい。
The film thickness of the optical wavelength conversion layer 11 is preferably 10 μm or more and 200 μm or less. When the average thickness of the light wavelength conversion layer 11 is in this range, it is suitable for reducing the weight and thinning of the backlight device. For the film thickness of the optical wavelength conversion layer 11, a cross section of the optical wavelength conversion layer 11 is photographed using a scanning electron microscope (SEM), and the film thickness of the optical wavelength conversion layer 11 is measured at 20 points in the image of the cross section. , The average value of the film thickness at the 20 points. It is more preferable that the upper limit of the average film thickness of the optical wavelength conversion layer 11 is less than 170 μm.

(ホストマトリクス)
ホストマトリクス16としては、特に限定されないが、バインダ樹脂、シリカガラス等
のガラス、およびシリカゲルの少なくともいずれかが挙げられる。バインダ樹脂としては
、特に限定されないが、重合性化合物の重合体が挙げられる。重合性化合物(硬化性化合
物)は、重合可能な化合物であり、例えば、電離放射線重合性化合物(電離放射線硬化性
化合物)や熱重合性化合物(熱硬化性化合物)が挙げられる。本明細書における電離放射
線としては、可視光線、並びに紫外線、X線、電子線、α線、β線、およびγ線が挙げら
れる。
(Host matrix)
The host matrix 16 is not particularly limited, and examples thereof include at least one of a binder resin, glass such as silica glass, and silica gel. The binder resin is not particularly limited, and examples thereof include polymers of polymerizable compounds. The polymerizable compound (curable compound) is a polymerizable compound, and examples thereof include an ionizing radiation polymerizable compound (ionizing radiation curable compound) and a thermopolymerizable compound (thermocurable compound). Examples of ionizing radiation in the present specification include visible light and ultraviolet rays, X-rays, electron beams, α rays, β rays, and γ rays.

電離放射線重合性化合物は、分子内に電離放射線重合性官能基を少なくとも1つ有する
ものである。電離放射線重合性官能基としては、例えば、(メタ)アクリロイル基、ビニ
ル基、アリル基等のエチレン性不飽和基が挙げられる。なお、「(メタ)アクリロイル基
」とは、「アクリロイル基」および「メタクリロイル基」の両方を含む意味である。
The ionizing radiation polymerizable compound has at least one ionizing radiation polymerizable functional group in the molecule. Examples of the ionizing radiation polymerizable functional group include ethylenically unsaturated groups such as (meth) acryloyl group, vinyl group and allylic group. The "(meth) acryloyl group" means to include both "acryloyl group" and "methacryloyl group".

電離放射線重合性化合物としては、電離放射線重合性モノマー、電離放射線重合性オリ
ゴマー、または電離放射線重合性プレポリマーが挙げられ、これらを適宜調整して、用い
ることができる。電離放射線重合性化合物としては、電離放射線重合性モノマーと、電離
放射線重合性オリゴマーまたは電離放射線重合性プレポリマーとの組み合わせが好ましい
Examples of the ionizing radiation polymerizable compound include an ionizing radiation polymerizable monomer, an ionizing radiation polymerizable oligomer, and an ionizing radiation polymerizable prepolymer, which can be appropriately adjusted and used. As the ionizing radiation polymerizable compound, a combination of an ionizing radiation polymerizable monomer and an ionizing radiation polymerizable oligomer or an ionizing radiation polymerizable prepolymer is preferable.

電離放射線重合性モノマーとしては、例えば、2-ヒドロキシエチル(メタ)アクリレ
ート、2-ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2-エチルヘキシル(メタ)アク
リレート等の水酸基を含むモノマーや、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ジ
エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリエチレングリコールジ(メタ)アクリ
レート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラメチレングリコール
ジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチ
ロールエタントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート
、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ
)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリス
リトールヘキサ(メタ)アクリレート、グリセロール(メタ)アクリレート等の(メタ)
アクリル酸エステル類が挙げられる。
Examples of the ionizing radiation polymerizable monomer include a monomer containing a hydroxyl group such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, and 2-ethylhexyl (meth) acrylate, and ethylene glycol di (meth) acrylate. , Diethylene glycol di (meth) acrylate, triethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, tetramethylene glycol di (meth) acrylate, trimethyl propantri (meth) acrylate, trimethyl ethanetri (meth). ) Acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, glycerol (meth) acrylate Etc. (meta)
Acrylic acid esters can be mentioned.

電離放射線重合性オリゴマーとしては、2官能以上の多官能オリゴマーが好ましく、電
離放射線重合性官能基が3つ(3官能)以上の多官能オリゴマーがより好ましい。上記多
官能オリゴマーとしては、例えば、ポリエステル(メタ)アクリレート、ウレタン(メタ
)アクリレート、ポリエステル-ウレタン(メタ)アクリレート、ポリエーテル(メタ)
アクリレート、ポリオール(メタ)アクリレート、メラミン(メタ)アクリレート、イソ
シアヌレート(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
As the ionizing radiation polymerizable oligomer, a polyfunctional oligomer having two or more functionalities is preferable, and a polyfunctional oligomer having three or more (trifunctional) ionizing radiation polymerizable functional groups is more preferable. Examples of the polyfunctional oligomer include polyester (meth) acrylate, urethane (meth) acrylate, polyester-urethane (meth) acrylate, and polyether (meth).
Examples thereof include acrylates, polyol (meth) acrylates, melamine (meth) acrylates, isocyanurate (meth) acrylates, and epoxy (meth) acrylates.

電離放射線重合性プレポリマーは、重量平均分子量が1万を超えるものであり、重量平
均分子量としては1万以上8万以下が好ましく、1万以上4万以下がより好ましい。重量
平均分子量が8万を超える場合は、粘度が高いため塗工適性が低下してしまい、得られる
光波長変換層の外観が悪化するおそれがある。このため、重量平均分子量が8万を超える
電離放射線重合性プレポリマーを用いている場合には、上記重合性モノマーや上記重合性
オリゴマーを混合して用いることが好ましい。多官能重合性プレポリマーとしては、ウレ
タン(メタ)アクリレート、イソシアヌレート(メタ)アクリレート、ポリエステル-ウ
レタン(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
The ionizing radiation polymerizable prepolymer has a weight average molecular weight of more than 10,000, and the weight average molecular weight is preferably 10,000 or more and 80,000 or less, and more preferably 10,000 or more and 40,000 or less. When the weight average molecular weight exceeds 80,000, the viscosity is high, so that the coating suitability is lowered, and the appearance of the obtained light wavelength conversion layer may be deteriorated. Therefore, when an ionizing radiation-polymerizable prepolymer having a weight average molecular weight of more than 80,000 is used, it is preferable to mix and use the above-mentioned polymerizable monomer and the above-mentioned polymerizable oligomer. Examples of the polyfunctional polymerizable prepolymer include urethane (meth) acrylate, isocyanurate (meth) acrylate, polyester-urethane (meth) acrylate, and epoxy (meth) acrylate.

熱重合性化合物は、分子内に熱重合性官能基を少なくとも1つ有するものである。熱重
合性官能基としては、例えば、エポキシ基やオキセタニル基等の環状エーテル基、ビニル
エーテル基等が挙げられる。
The thermopolymerizable compound has at least one thermopolymerizable functional group in the molecule. Examples of the thermopolymerizable functional group include a cyclic ether group such as an epoxy group and an oxetanyl group, a vinyl ether group and the like.

熱重合性化合物としては、エポキシ化合物やオキセタン化合物等の分子内に1個以上の
環状エーテル基を有する環状エーテル化合物、ビニルエーテル化合物等が挙げられる。カ
チオン重合性化合物としては、トンネリングの発生をより抑制する観点から、環状エーテ
ル化合物が好ましく、環状エーテル化合物の中でもエポキシ化合物が好ましい。
Examples of the thermopolymerizable compound include a cyclic ether compound having one or more cyclic ether groups in the molecule, such as an epoxy compound and an oxetane compound, and a vinyl ether compound. As the cationically polymerizable compound, a cyclic ether compound is preferable from the viewpoint of further suppressing the occurrence of tunneling, and an epoxy compound is preferable among the cyclic ether compounds.

エポキシ化合物は、分子内に1個以上のエポキシ基を有する化合物である。エポキシ化
合物としては、特に限定されないが、例えば、ビスフェノールA型エポキシ化合物、ビス
フェノールF型エポキシ化合物、ビスフェノールS型エポキシ化合物、ビフェニル型エポ
キシ化合物、フルオレン型エポキシ化合物、ノボラックフェノール型エポキシ化合物、ク
レゾールノボラック型エポキシ化合物、これらの変性物等の芳香族系、あるいは、エチレ
ングリコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル又は1
,6-ヘキサンジオールジグリシジルエーテル等のアルキレングリコールジグリシジルエ
ーテル、グリセリンあるいはそのアルキレンオキサイド付加体のジ又はトリグリシジルエ
ーテル等の多価アルコールのポリグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールあるいは
そのアルキレンオキサイド付加体のジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールあ
るいはそのアルキレンオキサイド付加体のジグリシジルエーテル等のポリアルキレングリ
コールジグリシジルエーテル、及びアルキレンオキサイド等の脂肪族系が挙げられる。こ
こで、アルキレンオキサイドとしては、エチレンオキサイド及びプロピレンオキサイド等
の脂肪族系エポキシ化合物、3’,4’-エポキシシクロヘキシルメチル3,4-エポキシ
シクロヘキサンカルボキシレート、3,4-エポキシシクロヘキシルメチルメタアクリレ
ート等の分子内に1個以上のエポキシ基と1個以上のエステル基を含有する脂環式エポキ
シ化合物等が挙げられる。これらの中では、接着強度および硬化性の点で、3’,4’-
エポキシシクロヘキシルメチル3,4-エポキシシクロヘキサンカルボキシレート、3,4
-エポキシシクロヘキシルメチルメタアクリレート等の脂環式エポキシ化合物が好ましい
An epoxy compound is a compound having one or more epoxy groups in the molecule. The epoxy compound is not particularly limited, but for example, bisphenol A type epoxy compound, bisphenol F type epoxy compound, bisphenol S type epoxy compound, biphenyl type epoxy compound, fluorene type epoxy compound, novolak phenol type epoxy compound, cresol novolak type epoxy. Compounds, aromatics such as modified products thereof, or ethylene glycol diglycidyl ether, propylene glycol diglycidyl ether or 1
, 6-Hexanediol Diglycidyl ether such as alkylene glycol diglycidyl ether, Polyglycidyl ether of polyhydric alcohol such as di or triglycidyl ether of glycerin or its alkylene oxide adduct, diglycidyl of polyethylene glycol or its alkylene oxide adduct Examples thereof include polyalkylene glycol diglycidyl ethers such as ethers, polypropylene glycols or diglycidyl ethers of alkylene oxide adducts thereof, and aliphatic systems such as alkylene oxides. Here, examples of the alkylene oxide include aliphatic epoxy compounds such as ethylene oxide and propylene oxide, 3', 4'-epoxycyclohexylmethyl 3,4-epoxycyclohexanecarboxylate, 3,4-epoxycyclohexylmethylmethacrylate and the like. Examples thereof include an alicyclic epoxy compound containing one or more epoxy groups and one or more ester groups in the molecule. Among these, 3', 4'-in terms of adhesive strength and curability
Epoxy Cyclohexyl Methyl 3,4-Epoxy Cyclohexane Carboxylate, 3,4
-Alicyclic epoxy compounds such as epoxycyclohexylmethylmethacrylate are preferred.

(量子ドット)
量子ドット17は、量子閉じ込め効果(quantum confinement effect)を有するナノサ
イズの半導体粒子である。量子ドット17の粒子径および平均粒子径は、例えば、1nm
以上20nm以下となっている。量子ドット17は、励起源から光を吸収してエネルギー
励起状態に達すると、量子ドットのエネルギーバンドギャップに該当するエネルギーを放
出する。よって、量子ドット17の粒子径又は物質の組成を調節すると、エネルギーバン
ドギャップを調節することができ、様々なレベルの波長帯のエネルギーを得ることができ
る。とりわけ、量子ドット17は、狭い波長帯で強い蛍光を発生することができる。
(Quantum dot)
The quantum dots 17 are nano-sized semiconductor particles having a quantum confinement effect. The particle size and average particle size of the quantum dots 17 are, for example, 1 nm.
It is 20 nm or less. When the quantum dot 17 absorbs light from an excitation source and reaches an energy excited state, the quantum dot 17 emits energy corresponding to the energy band gap of the quantum dot. Therefore, by adjusting the particle size or the composition of the substance of the quantum dots 17, the energy band gap can be adjusted, and energy in various levels of wavelength bands can be obtained. In particular, the quantum dots 17 can generate strong fluorescence in a narrow wavelength band.

具体的には、量子ドット17は粒子径が小さくなるに従い、エネルギーバンドギャップ
が大きくなる。すなわち、結晶サイズが小さくなるにつれて、量子ドット17の発光は青
色側へ、つまり、高エネルギー側へとシフトする。そのため、量子ドット17の粒子径を
変化させることにより、紫外領域、可視領域、赤外領域のスペクトルの波長全域にわたっ
て、その発光波長を調節することができる。例えば、量子ドット17が後述するCdSe
/ZnSから構成されている場合には、量子ドット17の粒子径が2.0nm以上4.0
nm以下の場合は青色光を発し、量子ドット17の粒子径が3.0nm以上6.0nm以
下の場合は緑色光を発し、量子ドット17の粒子径が4.5nm以上10.0nm以下の
場合は赤色光を発する。なお、上記においては、青色光を発する量子ドットの粒子径と緑
色光を発する量子ドットの粒子径の範囲は一部において重複しており、また緑色光を発す
る量子ドットの粒子径と赤色光を発する量子ドットの粒子径の範囲は一部において重複し
ているが、同じ粒子径を有する量子ドットであっても、量子ドットのコアの大きさによっ
ても発光色が異なる場合があるので、何ら矛盾するものではない。
Specifically, the energy band gap of the quantum dots 17 increases as the particle size decreases. That is, as the crystal size becomes smaller, the emission of the quantum dots 17 shifts to the blue side, that is, to the high energy side. Therefore, by changing the particle size of the quantum dot 17, the emission wavelength can be adjusted over the entire wavelength of the spectrum in the ultraviolet region, the visible region, and the infrared region. For example, the quantum dot 17 is CdSe described later.
When composed of / ZnS, the particle size of the quantum dot 17 is 2.0 nm or more and 4.0.
When it is nm or less, it emits blue light, when the particle size of the quantum dot 17 is 3.0 nm or more and 6.0 nm or less, it emits green light, and when the particle size of the quantum dot 17 is 4.5 nm or more and 10.0 nm or less. Emits red light. In the above, the range of the particle size of the quantum dot emitting blue light and the particle size of the quantum dot emitting green light partially overlaps, and the particle size of the quantum dot emitting green light and the red light are overlapped. The range of the particle size of the emitted quantum dots overlaps in part, but even if the quantum dots have the same particle size, the emission color may differ depending on the size of the core of the quantum dots, so there is no contradiction. It's not something to do.

量子ドット17としては、1種類の量子ドットを用いてもよいが、粒子径または材料等
が異なることにより、それぞれ単独の波長域の発光帯を有する2種類以上の量子ドットを
用いることも可能である。具体的には、光波長変換組層11は、第1の量子ドット17A
と、第1の量子ドット17Aとは異なる波長域の発光帯を有する第2の量子ドット17B
とを含んでいてもよい。
As the quantum dots 17, one type of quantum dots may be used, but it is also possible to use two or more types of quantum dots each having a light emitting band in a single wavelength range due to different particle diameters or materials. be. Specifically, the optical wavelength conversion layer 11 is the first quantum dot 17A.
And the second quantum dot 17B having an emission band in a wavelength range different from that of the first quantum dot 17A.
And may be included.

量子ドット17は、所望の狭い波長域で強い蛍光を発生することができる。このため、
光波長変換シートを用いたバックライト装置は、色純度の優れた三原色の光で、表示パネ
ルを照明することができる。この場合、表示パネルは、優れた色再現性を有することにな
る。
The quantum dots 17 can generate strong fluorescence in a desired narrow wavelength range. For this reason,
A backlight device using an optical wavelength conversion sheet can illuminate a display panel with light of three primary colors having excellent color purity. In this case, the display panel will have excellent color reproducibility.

量子ドット17は、例えば、第1の半導体化合物からなるコアと、およびこのコアを覆
い、かつ第1の半導体化合物と異なる第2の半導体化合物からなるシェルと、シェルの表
面に結合したリガンドとから構成されている。
The quantum dots 17 are composed of, for example, a core made of a first semiconductor compound, a shell made of a second semiconductor compound that covers the core and is different from the first semiconductor compound, and a ligand bonded to the surface of the shell. It is configured.

コアを構成する第1の半導体化合物としては、例えば、MgS、MgSe、MgTe、
CaS、CaSe、CaTe、SrS、SrSe、SrTe、BaS、BaSe、BaT
e、ZnS、ZnSe、ZnTe、CdS、CdSe、CdTe、HgS、HgSe及び
HgTeのようなII-VI族半導体化合物、AlN、AlP、AlAs、AlSb、G
aAs、GaP、GaN、GaSb、InN、InAs、InP、InSb、TiN、T
iP、TiAs及びTiSbのようなIII-V族半導体化合物、Si、Ge及びPbの
ようなIV族半導体、等の半導体化合物又は半導体を含有する半導体結晶が挙げられる。
また、InGaPのような3元素以上を含んだ半導体化合物を含む半導体結晶を用いるこ
ともできる。これらの中でも、作製の容易性、可視域での発光を得られる粒子径の制御性
等の観点から、CdS、CdSe、CdTe、InP、InGaP等の半導体結晶が好適
である。
Examples of the first semiconductor compound constituting the core include MgS, MgSe, MgTe, and the like.
CaS, CaSe, CaTe, SrS, SrSe, SrTe, BaS, BaSe, BaT
II-VI group semiconductor compounds such as e, ZnS, ZnSe, ZnTe, CdS, CdSe, CdTe, HgS, HgSe and HgTe, AlN, AlP, AlAs, AlSb, G
aAs, GaP, GaN, GaSb, InN, InAs, InP, InSb, TiN, T
Examples thereof include semiconductor compounds such as group III-V semiconductor compounds such as iP, TiAs and TiSb, group IV semiconductors such as Si, Ge and Pb, or semiconductor crystals containing semiconductors.
Further, a semiconductor crystal containing a semiconductor compound containing three or more elements such as InGaP can also be used. Among these, semiconductor crystals such as CdS, CdSe, CdTe, InP, and InGaP are preferable from the viewpoints of ease of production, controllability of particle size capable of obtaining light emission in the visible range, and the like.

シェルを構成する第2の半導体化合物としては、励起子がコアに閉じ込められるように
、コアを構成する第1の半導体化合物よりもバンドギャップの高い半導体化合物を用いる
ことが好ましい。これにより、量子ドットの発光効率を高めることができる。シェルを構
成する第2の半導体化合物としては、例えば、ZnS、ZnSe、CdS、GaN、Cd
SSe、ZnSeTe、AlP、ZnSTe、ZnSSe等が挙げられる。
As the second semiconductor compound constituting the shell, it is preferable to use a semiconductor compound having a bandgap higher than that of the first semiconductor compound constituting the core so that excitons are confined in the core. This makes it possible to increase the luminous efficiency of the quantum dots. Examples of the second semiconductor compound constituting the shell include ZnS, ZnSe, CdS, GaN, and Cd.
Examples thereof include SSe, ZnSeTe, AlP, ZnSTe, ZnSSe and the like.

コアとシェルからなるコアシェル構造(コア/シェル)の具体的な組み合わせとしては
、例えば、CdSe/ZnS、CdSe/ZnSe、CdSe/CdS、CdTe/Cd
S、InP/ZnS、Gap/ZnS、Si/ZnS、InN/GaN、InP/CdS
Se、InP/ZnSeTe、InGaP/ZnSe、InGaP/ZnS、Si/Al
P、InP/ZnSTe、InP/ZnSSe、InGaP/ZnSTe、InGaP/
ZnSSe等が挙げられる。
Specific combinations of the core-shell structure (core / shell) consisting of the core and the shell include, for example, CdSe / ZnS, CdSe / ZnSe, CdSe / CdS, and CdTe / Cd.
S, InP / ZnS, Gap / ZnS, Si / ZnS, InN / GaN, InP / CdS
Se, InP / ZnSeTe, InGaP / ZnSe, InGaP / ZnS, Si / Al
P, InP / ZnSTe, InP / ZnSSe, InGaP / ZnSTe, InGaP /
ZnSSe and the like can be mentioned.

リガンドは、不安定な量子ドットを安定化させるためのものである。リガンドとしては
、チオール等の硫黄系化合物、ホスフィン系化合物またはホスフィン酸化物等のリン系化
合物、アミン等の窒素系化合物、カルボン酸等が挙げられる。
The ligand is for stabilizing unstable quantum dots. Examples of the ligand include sulfur compounds such as thiol, phosphorus compounds such as phosphine compounds or phosphine oxides, nitrogen compounds such as amines, and carboxylic acids.

量子ドット17の形状は特に限定されず、例えば、球状、棒状、円盤状、その他の形状
であってもよい。半導体ナノ粒子の粒子径は、半導体ナノ粒子の形状が球状でない場合、
同体積を有する真球状の値とすることができる。
The shape of the quantum dot 17 is not particularly limited, and may be, for example, a spherical shape, a rod shape, a disk shape, or any other shape. The particle size of the semiconductor nanoparticles is determined when the shape of the semiconductor nanoparticles is not spherical.
It can be a spherical value having the same volume.

量子ドット17の粒子径、平均粒子径、形状、分散状態等の情報については、透過型電
子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡により得ることができる。量子ドットの平均粒子径
は、透過型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡による観察により測定された20個の
量子ドットの直径の平均値として求めることができる。また、量子ドット17は粒子径に
よって発光色が変化するので、量子ドット17の発光色の確認から量子ドットの粒子径を
求めることも可能である。また、量子ドット17の結晶構造、結晶子サイズについては、
X線結晶回折(XRD)により知ることができる。さらには、紫外-可視(UV-Vis
)吸収スペクトルによって、量子ドットの粒子径等に関する情報を得ることもできる。
Information such as the particle size, average particle size, shape, and dispersed state of the quantum dots 17 can be obtained by a transmission electron microscope or a scanning transmission electron microscope. The average particle size of the quantum dots can be obtained as the average value of the diameters of the 20 quantum dots measured by observation with a transmission electron microscope or a scanning transmission electron microscope. Further, since the emission color of the quantum dot 17 changes depending on the particle diameter, it is also possible to obtain the particle diameter of the quantum dot by confirming the emission color of the quantum dot 17. Regarding the crystal structure and crystallite size of the quantum dots 17,
It can be known by X-ray crystal diffraction (XRD). Furthermore, UV-Vis
) Information on the particle size of quantum dots can be obtained from the absorption spectrum.

光波長変換層11中の量子ドット17の含有量は、0.01質量%以上2質量%以下で
あることが好ましく、0.03質量%以上1質量%以下であることがより好ましい。光波
長変換粒子の含有量が0.01質量%未満であると、充分な発光強度が得られないおそれ
があり、また、光波長変換粒子の含有量が2質量%を超えると、充分な励起光の透過光強
度が得られないおそれがある。なお、硬化物である光波長変換層中の量子ドットの質量%
や後述する光散乱性粒子の質量%は、以下の方法によって概略算出することができる。ま
ず、光波長変換シートから光波長変換層の少なくとも一部をサンプリングし、その質量を
測定する。次いでサンプリングした部分に含まれるホストマトリクスを溶剤に溶解または
燃焼により灰化させて、ホストマトリクスの成分を除去する。ホストマトリクスの成分の
除去の際、量子ドットおよび光散乱性粒子は除去されず、また量子ドットと光散乱性粒子
の成分は粒子径が大きく異なるので、粒子径の相違から量子ドットの成分と光散乱性粒子
の成分を分離する。次いで、分離した量子ドットの成分の質量および光散乱性粒子の成分
をそれぞれ測定する。そして、サンプリングした光波長変換層の少なくとも一部の質量と
量子ドットの質量に基づいてサンプリングした光波長変換層の少なくとも一部に含まれる
量子ドットの質量の割合を算出する。また、サンプリングした光波長変換層の少なくとも
一部の質量と光散乱性粒子の質量に基づいてサンプリングした光波長変換層の少なくとも
一部に含まれる光散乱性粒子の質量の割合を算出する。
The content of the quantum dots 17 in the optical wavelength conversion layer 11 is preferably 0.01% by mass or more and 2% by mass or less, and more preferably 0.03% by mass or more and 1% by mass or less. If the content of the light wavelength conversion particles is less than 0.01% by mass, sufficient emission intensity may not be obtained, and if the content of the light wavelength conversion particles exceeds 2% by mass, sufficient excitation may be obtained. There is a possibility that the transmitted light intensity of light cannot be obtained. The mass% of the quantum dots in the optical wavelength conversion layer which is a cured product.
And the mass% of the light-scattering particles described later can be roughly calculated by the following method. First, at least a part of the light wavelength conversion layer is sampled from the light wavelength conversion sheet, and its mass is measured. Next, the host matrix contained in the sampled portion is dissolved in a solvent or incinerated by combustion to remove the components of the host matrix. When the components of the host matrix are removed, the quantum dots and light-scattering particles are not removed, and since the particle sizes of the quantum dots and the light-scattering particles are significantly different, the quantum dot components and light are different due to the difference in particle size. Separate the components of the scattering particles. Then, the mass of the separated quantum dot component and the component of the light-scattering particle are measured, respectively. Then, the ratio of the mass of the quantum dots contained in at least a part of the sampled light wavelength conversion layer based on the mass of at least a part of the sampled light wavelength conversion layer and the mass of the quantum dots is calculated. Further, the ratio of the mass of the light scattering particles contained in at least a part of the sampled light wavelength conversion layer is calculated based on the mass of at least a part of the sampled light wavelength conversion layer and the mass of the light scattering particles.

(光散乱性粒子)
光散乱性粒子18は、光波長変換層11に進入した光を散乱させることによって光の進
行方向を変化させる作用を有する粒子である。
(Light scattering particles)
The light scattering particles 18 are particles having an action of changing the traveling direction of light by scattering the light that has entered the light wavelength conversion layer 11.

光散乱性粒子18の平均粒子径は、量子ドット17の平均粒子径の20倍以上2000
倍以下であることが好ましく、50倍以上1000倍以下であることがより好ましい。光
散乱性粒子の平均粒子径が量子ドットの平均粒子径の20倍未満であると、光波長変換層
において充分な光散乱性能が得られないことがあり、光散乱性粒子の平均粒子径が量子ド
ットの平均粒子径の2000倍を超えると、添加量が同じであっても光散乱性粒子の数が
少なくなるため、散乱点の数が減り充分な光散乱効果が得られないおそれがある。なお、
光散乱性粒子18の平均粒子径は、上述した量子ドット17の平均粒子径と同様の方法で
測定することができる。
The average particle size of the light-scattering particles 18 is 20 times or more the average particle size of the quantum dots 17 2000.
It is preferably fold or less, and more preferably 50 times or more and 1000 times or less. If the average particle size of the light-scattering particles is less than 20 times the average particle size of the quantum dots, sufficient light-scattering performance may not be obtained in the light wavelength conversion layer, and the average particle size of the light-scattering particles becomes If it exceeds 2000 times the average particle size of the quantum dots, the number of light-scattering particles will decrease even if the amount added is the same, so the number of scattering points will decrease and a sufficient light-scattering effect may not be obtained. .. note that,
The average particle size of the light-scattering particles 18 can be measured by the same method as the average particle size of the quantum dots 17 described above.

また、光散乱性粒子18の平均粒子径は、後述する光波長変換層11の平均膜厚の1/
300以上1/20以下であることが好ましく、1/200以上1/30以下であること
がより好ましい。光散乱性粒子の平均粒子径が光波長変換層の平均膜厚の1/300未満
であると、光波長変換層において充分な光散乱性能が得られないことがあり、光散乱性粒
子の平均粒子径が光波長変換層の平均膜厚の1/20を超えると、添加量が同じであって
も光波長変換層に対する光散乱性粒子の割合が低下するため、散乱点の数が減り充分な光
散乱効果が得られない。
The average particle size of the light-scattering particles 18 is 1 / of the average film thickness of the light wavelength conversion layer 11 described later.
It is preferably 300 or more and 1/20 or less, and more preferably 1/200 or more and 1/30 or less. If the average particle size of the light scattering particles is less than 1/300 of the average film thickness of the light wavelength conversion layer, sufficient light scattering performance may not be obtained in the light wavelength conversion layer, and the average of the light scattering particles. If the particle size exceeds 1/20 of the average film thickness of the light wavelength conversion layer, the ratio of light scattering particles to the light wavelength conversion layer decreases even if the amount added is the same, so that the number of scattering points is sufficiently reduced. No light scattering effect can be obtained.

具体的には、光散乱性粒子18の平均粒子径は、例えば、0.1μm以上10μm以下
であることが好ましく、0.3μm以上5μm以下であることがより好ましい。光散乱性
粒子の平均粒子径が0.1μm未満であると、光波長変換シートの光波長変換効率が不充
分となることがあり、充分な光散乱性を出すためには光散乱性粒子の添加量を多くする必
要がある。一方、光散乱性粒子の平均粒子径が10μmを超えると、添加量(質量%)が
同じであっても光散乱粒子の数が少なくなるため、散乱点の数が減り充分な光散乱効果が
得られない。
Specifically, the average particle diameter of the light-scattering particles 18 is preferably, for example, 0.1 μm or more and 10 μm or less, and more preferably 0.3 μm or more and 5 μm or less. If the average particle size of the light scattering particles is less than 0.1 μm, the light wavelength conversion efficiency of the light wavelength conversion sheet may be insufficient, and in order to obtain sufficient light scattering properties, the light scattering particles may have insufficient light scattering properties. It is necessary to increase the amount added. On the other hand, when the average particle size of the light-scattering particles exceeds 10 μm, the number of light-scattering particles is reduced even if the addition amount (% by mass) is the same, so that the number of scattering points is reduced and a sufficient light-scattering effect is obtained. I can't get it.

光散乱性粒子18の形状は特に限定されず、例えば、球状(真球状、略真球状、楕円球
状等)、多面体状、棒状(円柱状、角柱状等)、平板状、りん片状、不定形状等が挙げら
れる。なお、光散乱性粒子の粒子径は、光散乱性粒子の形状が球状でない場合、同体積を
有する真球状の値とすることができる。
The shape of the light-scattering particles 18 is not particularly limited, and is, for example, spherical (true spherical, substantially true spherical, elliptical spherical, etc.), polyhedral, rod-shaped (cylindrical, prismatic, etc.), flat plate, flaky, indefinite. The shape and the like can be mentioned. When the shape of the light-scattering particles is not spherical, the particle diameter of the light-scattering particles can be a true spherical value having the same volume.

光散乱性粒子18は、光散乱性粒子18をホストマトリクス16中に強固に固定する観
点から、シランカップリング剤で表面処理されていることが好ましい。シランカップリン
グ剤で表面処理されることによって、ホストマトリクス16と化学結合させることができ
る。
The light-scattering particles 18 are preferably surface-treated with a silane coupling agent from the viewpoint of firmly fixing the light-scattering particles 18 in the host matrix 16. By surface-treating with a silane coupling agent, it can be chemically bonded to the host matrix 16.

光散乱性粒子18は、アクリル樹脂粒子、スチレン樹脂粒子、メラミン樹脂粒子、およ
びウレタン樹脂粒子等の有機粒子であってもよいが、耐湿熱性試験等の前後における輝度
変化率を小さくことができ、また光波長変換シートへの入射光を好適に散乱させることが
可能となり、この入射光に対する光波長変換効率の向上を好適に図ることできることから
、無機粒子が好ましい。
The light-scattering particles 18 may be organic particles such as acrylic resin particles, styrene resin particles, melamine resin particles, and urethane resin particles, but the rate of change in brightness before and after the moisture resistance test can be reduced. Further, inorganic particles are preferable because the incident light on the light wavelength conversion sheet can be suitably scattered and the light wavelength conversion efficiency with respect to the incident light can be preferably improved.

無機粒子は、Al等のアルミニウム含有化合物、ZrO等のジルコニウム含有
化合物、アンチモンドープ酸化スズ(ATO)や酸化インジウムスズ(ITO)等のスズ
含有化合物、MgOやMgF等のマグネシウム含有化合物、TiOやBaTiO
のチタン含有化合物、Sb等のアンチモン含有化合物、SiO等のケイ素含有化
合物、およびZnO等の亜鉛含有化合物からなる群から選択される少なくとも1種の化合
物の粒子が挙げられる。これらの無機粒子は、バインダ樹脂との屈折率差を大きくするこ
とができるので、大きなミー散乱強度を得ることができる観点からも好ましい。光波長変
換シート10による入射光に対する光波長変換効率の向上をより好適に図ることができる
ことから、光散乱性粒子18は、2種以上の材料からなるものであってもよい。
The inorganic particles include an aluminum-containing compound such as Al 2 O 3 , a zirconium-containing compound such as ZrO 2 , a tin-containing compound such as antimony-doped tin oxide (ATO) and indium tin oxide (ITO), and magnesium such as MgO and MgF 2 . At least one compound selected from the group consisting of compounds, titanium-containing compounds such as TiO 2 and BaTiO 3 , antimony-containing compounds such as Sb 2 O 5 , silicon-containing compounds such as SiO 2 , and zinc-containing compounds such as ZnO. Particles can be mentioned. Since these inorganic particles can increase the difference in refractive index from the binder resin, they are also preferable from the viewpoint of obtaining a large Mie scattering intensity. The light scattering particles 18 may be made of two or more kinds of materials because the light wavelength conversion efficiency with respect to the incident light can be more preferably improved by the light wavelength conversion sheet 10.

光波長変換層11中の光散乱性粒子18の含有量は、1質量%以上50質量%以下であ
ることが好ましく、3質量%以上30質量%以下であることがより好ましい。光散乱性粒
子の含有量が1質量%未満であると、光散乱効果が充分に得られないおそれがあり、また
、光散乱性粒子の含有量が50質量%を超えると、ミー散乱が起こり難くなるので、光散
乱効果を充分に得られないおそれがあり、さらに光散乱性粒子が多すぎるために加工性が
低下するおそれがある。
The content of the light scattering particles 18 in the light wavelength conversion layer 11 is preferably 1% by mass or more and 50% by mass or less, and more preferably 3% by mass or more and 30% by mass or less. If the content of the light scattering particles is less than 1% by mass, the light scattering effect may not be sufficiently obtained, and if the content of the light scattering particles exceeds 50% by mass, me scattering occurs. Since it becomes difficult, there is a possibility that the light scattering effect cannot be sufficiently obtained, and further, there is a possibility that the processability is deteriorated because there are too many light scattering particles.

光散乱性粒子18とホストマトリクス16との屈折率差の絶対値は、充分な光散乱を得
る観点から、0.05以上であることが好ましく、0.10以上であることがより好まし
い。なお、光散乱性粒子18の屈折率とホストマトリクス16の屈折率とは、いずれの方
が大きくてもよい。ここで、光波長変換層に含有させる前の光散乱性粒子の屈折率の測定
方法としては、例えば、ベッケ法、最小偏角法、偏角解析、モード・ライン法、エリプソ
メトリ法等によって測定することができる。また、光波長変換層11中のホストマトリク
ス16の屈折率は、例えば、光波長変換層11中からホストマトリクス16の欠片を切り
出し等により10個取り出し、取り出した10個の欠片において、ベッケ法によりホスト
マトリクス16の屈折率をそれぞれ測定し、測定したホストマトリクス16の屈折率の1
0個の平均値として求めることができる。また、光散乱性粒子18の屈折率は、例えば、
ホストマトリクス16から光散乱性粒子18の表面の一部が露出した欠片を光波長変換層
11中から切り出し等により取り出し、取り出した欠片において、ベッケ法により表面が
露出した10個の光散乱性粒子18の屈折率をそれぞれ測定し、測定した光散乱性粒子1
8の屈折率の10個の平均値として求めることができる。ベッケ法とは、屈折率が既知の
屈折率標準液を用い、上記欠片をスライドガラスなどに置き、そのサンプル上に屈折率標
準液を滴下し、屈折率標準液で欠片を浸漬し、その様子を顕微鏡観察によって観察し、バ
インダ樹脂や光散乱性粒子の表面と屈折率標準液の屈折率が異なることによってバインダ
樹脂や光散乱性粒子の表面に生じる輝線(ベッケ線)が目視で観察できなくなる屈折率標
準液の屈折率を、ホストマトリクスや光散乱性粒子の屈折率とする方法である。なお、取
り出した欠片において、光散乱性粒子の表面が露出していない場合には、光散乱性粒子の
表面はホストマトリクスによって覆われているので、光散乱性粒子の周囲に存在するホス
トマトリクスと屈折率差が生じない。このため、光散乱性粒子の周囲に存在するホストマ
トリクスとの屈折率差をベッケ法等で測定することによって、光散乱性粒子の表面の一部
が露出しているか否か判断することができる。このほか、位相シフトレーザー干渉顕微鏡
(エフケー光学研究所製の位相シフトレーザー干渉顕微鏡や溝尻光学工業所製の二光束干
渉顕微鏡等)を用いてバインダ樹脂と光散乱性粒子との屈折率差を測定することができる
The absolute value of the difference in refractive index between the light-scattering particles 18 and the host matrix 16 is preferably 0.05 or more, and more preferably 0.10 or more, from the viewpoint of obtaining sufficient light scattering. The refractive index of the light-scattering particles 18 and the refractive index of the host matrix 16 may be larger. Here, as a method for measuring the refractive index of the light-scattering particles before being contained in the light wavelength conversion layer, for example, the Becke method, the minimum declination method, the declination analysis, the mode line method, the ellipsometry method and the like are used. can do. Further, the refractive index of the host matrix 16 in the optical wavelength conversion layer 11 is determined by, for example, 10 pieces of the host matrix 16 taken out from the light wavelength conversion layer 11 by cutting out or the like, and the 10 pieces taken out by the Becke method. The refractive index of the host matrix 16 was measured, and the measured refractive index of the host matrix 16 was 1.
It can be obtained as an average value of 0 pieces. The refractive index of the light-scattering particles 18 is, for example,
Fragments whose surface is partially exposed from the host matrix 16 are taken out from the light wavelength conversion layer 11 by cutting out, etc., and 10 light scattering particles whose surface is exposed by the Becke method in the taken out fragments. The light scattering particles 1 measured by measuring the refractive index of each of the 18
It can be obtained as an average value of 10 refractive indexes of 8. In the Becke method, a refractive index standard solution having a known refractive index is used, the above-mentioned pieces are placed on a slide glass or the like, the refractive index standard solution is dropped onto the sample, and the pieces are immersed in the refractive index standard solution. Is observed by microscopic observation, and the emission line (Becke line) generated on the surface of the binder resin or light-scattering particles cannot be visually observed due to the difference in the refractive index between the surface of the binder resin or light-scattering particles and the refraction index standard solution. Refraction index This is a method in which the refractive index of a standard solution is used as the refractive index of a host matrix or light-scattering particles. When the surface of the light-scattering particles is not exposed in the removed fragments, the surface of the light-scattering particles is covered with the host matrix, so that the surface of the light-scattering particles is covered with the host matrix existing around the light-scattering particles. There is no difference in refractive index. Therefore, by measuring the difference in refractive index from the host matrix existing around the light-scattering particles by the Becke method or the like, it is possible to determine whether or not a part of the surface of the light-scattering particles is exposed. .. In addition, the difference in refractive index between the binder resin and the light-scattering particles is measured using a phase-shift laser interference microscope (such as a phase-shift laser interference microscope manufactured by FK Optical Research Institute or a two-beam interference microscope manufactured by Mizojiri Optical Co., Ltd.). can do.

(添加剤)
添加剤としては、特に限定されないが、量子ドットの酸化や劣化を抑制する化合物が好
ましい。量子ドットの酸化や劣化を抑制する化合物としては、フェノール系化合物、アミ
ン系化合物、硫黄系化合物、リン系化合物、ヒドラジン系化合物、アミド系化合物、およ
びヒンダードアミン系化合物等が挙げられる。添加剤は、ホストマトリクスと結合してい
てもよい。
(Additive)
The additive is not particularly limited, but a compound that suppresses oxidation and deterioration of quantum dots is preferable. Examples of the compound that suppresses oxidation and deterioration of quantum dots include phenol-based compounds, amine-based compounds, sulfur-based compounds, phosphorus-based compounds, hydrazine-based compounds, amide-based compounds, and hindered amine-based compounds. The additive may be bound to the host matrix.

<バリアフィルム>
バリアフィルム12、13は、水分や酸素の透過を抑制して、量子ドット17を水分や
酸素から保護するためのフィルムである。ここで、本明細書における「バリアフィルム」
とは、部材単体で、40℃、相対湿度90%での水蒸気透過率が0.1g/(m・24
h)未満となり、かつ23℃、相対湿度90%での酸素透過率が0.1cm/(m
24h・atm)未満となるフィルムを意味するものとする。バリアフィルムには、単層
構造のフィルムのみならず、多層構造のフィルムも含まれる。光波長変換層11を挟持す
る状態でバリアフィルム12、13を設置することで、より量子ドット17の耐久性を向
上させることができる。図3に示されるバリアフィルム12、13は、光透過性基材19
、20と、光透過性基材19、20における光波長変換層11側に設けられ、かつ水分や
酸素の透過を抑制する機能を有するバリア層21、22とを備えている。
<Barrier film>
The barrier films 12 and 13 are films for suppressing the permeation of water and oxygen to protect the quantum dots 17 from water and oxygen. Here, the "barrier film" in the present specification.
Is a single member with a water vapor permeability of 0.1 g / ( m 2.24) at 40 ° C and 90% relative humidity.
H) or less, and the oxygen permeability at 23 ° C. and 90% relative humidity is 0.1 cm 3 / (m 2 ·.
It shall mean a film having less than 24h · atm). The barrier film includes not only a single-layer structure film but also a multi-layer structure film. By installing the barrier films 12 and 13 in a state of sandwiching the optical wavelength conversion layer 11, the durability of the quantum dots 17 can be further improved. The barrier films 12 and 13 shown in FIG. 3 are light-transmitting base materials 19.
, 20 and barrier layers 21 and 22 provided on the light wavelength conversion layer 11 side of the light transmissive base materials 19 and 20 and having a function of suppressing the transmission of water and oxygen.

バリアフィルム12、13の水蒸気透過率(WVTR:Water Vapor Transmission Rate)
は、40℃、相対湿度90%の条件下において、1.0×10-2g/(m・24h)
以下であることが更に好ましい。なお、上記水蒸気透過率は、水蒸気透過率測定装置(製
品名「PERMATRAN-W3/31」、MOCON社製)を用いて測定することがで
きる。水蒸気透過率は、3回測定して得られた値の平均値とする。
Water vapor transmission rate (WVTR) of barrier films 12 and 13
Is 1.0 × 10 -2 g / (m 2.24h ) under the conditions of 40 ° C. and 90% relative humidity.
The following is more preferable. The water vapor permeability can be measured using a water vapor permeability measuring device (product name "PERMATRAN-W3 / 31", manufactured by MOCON). The water vapor transmittance shall be the average value of the values obtained by measuring three times.

バリアフィルム12、13の酸素透過率(OTR: Oxygen Transmission Rate)は、23
℃、相対湿度90%の条件下において、1.0×10-2cm/(m・24h・at
m)以下であることが更に好ましい。なお、上記酸素透過率は、酸素ガス透過率測定装置
(製品名「OX-TRAN 2/21」、MOCON社製)を用いて測定することができ
る。酸素透過率は、3回測定して得られた値の平均値とする。
The oxygen transmission rate (OTR: Oxygen Transmission Rate) of the barrier films 12 and 13 is 23.
1.0 × 10 -2 cm 3 / ( m 2.24 h ・ at) under conditions of ° C and relative humidity of 90%
m) It is more preferable that it is less than or equal to m). The oxygen permeability can be measured using an oxygen gas permeability measuring device (product name "OX-TRAN 2/21", manufactured by MOCON). The oxygen permeability shall be the average value of the values obtained by measuring three times.

(光透過性基材)
光透過性基材19、20の厚みは、特に限定されないが、10μm以上300μm以下
であることが好ましい。光透過性基材19、20の厚みが、10μm未満であると、光波
長変換シートのアッセンブリ、取扱い時における皺や折れが発生するおそれがあり、また
300μmを超えると、ディスプレイの軽量化および薄膜化に適さないおそれがある。光
透過性基材19、20の厚みのより好ましい下限は50μm以上、より好ましい上限は2
00μm以下である。
(Light transmissive base material)
The thickness of the light-transmitting base materials 19 and 20 is not particularly limited, but is preferably 10 μm or more and 300 μm or less. If the thickness of the light-transmitting base materials 19 and 20 is less than 10 μm, the assembly of the optical wavelength conversion sheet may be wrinkled or broken during handling, and if it exceeds 300 μm, the weight of the display and the thin film may be reduced. It may not be suitable for conversion. The more preferable lower limit of the thickness of the light-transmitting base materials 19 and 20 is 50 μm or more, and the more preferable upper limit is 2.
It is 00 μm or less.

光透過性基材19、20の厚みは、走査型電子顕微鏡(SEM)、透過型電子顕微鏡(
TEM)又は走査透過型電子顕微鏡(STEM)を用いて、光透過性基材19、20の断
面を撮影し、その断面の画像において光透過性基材19、20の厚みを20箇所測定し、
その20箇所の膜厚の平均値とする。
The thickness of the light-transmitting base materials 19 and 20 includes a scanning electron microscope (SEM) and a transmission electron microscope (SEM).
Using a TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM), a cross section of the light transmissive substrate 19 or 20 is photographed, and the thickness of the light transmissive substrate 19 or 20 is measured at 20 points in the image of the cross section.
The average value of the film thicknesses at the 20 locations is used.

光透過性基材19、20の構成原料としては、例えば、ポリエステル(例えば、ポリエ
チレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート)、セルローストリアセテート、セル
ロースジアセテート、セルロースアセテートブチレート、ポリアミド、ポリイミド、ポリ
エーテルスルフォン、ポリスルフォン、ポリプロピレン、ポリメチルペンテン、ポリ塩化
ビニル、ポリビニルアセタール、ポリエーテルケトン、ポリメタクリル酸メチル、ポリカ
ーボネート、又は、ポリウレタン等の熱可塑性樹脂が挙げられる。光透過性基材12、1
3の構成材料としては、好ましくは、ポリエステル(例えば、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリエチレンナフタレート)が挙げられる。
Examples of the constituent raw materials of the light-transmitting base materials 19 and 20 include polyester (for example, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate), cellulose triacetate, cellulose diacetate, cellulose acetate butyrate, polyamide, polyimide, polyethersulfone, and polysulfone. , Polypropylene, polymethylpentene, polyvinyl chloride, polyvinyl acetal, polyether ketone, polymethyl methacrylate, polycarbonate, or thermoplastic resins such as polyurethane. Light-transmitting substrate 12, 1
The constituent material of 3 is preferably polyester (for example, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate).

光透過性基材19、20は、単一の基材から構成されていてもよいが、複数の基材から
構成される積層基材であってもよい。このような積層基材は、用途に応じて、同種の構成
原料の層からなる複数の層から構成されていてもよく、異なる種類の構成原料の層からな
る複数の層から構成されていてもよい。
The light-transmitting base materials 19 and 20 may be composed of a single base material, or may be a laminated base material composed of a plurality of base materials. Such a laminated base material may be composed of a plurality of layers composed of layers of the same type of constituent raw materials, or may be composed of a plurality of layers composed of layers of different types of constituent raw materials, depending on the intended use. good.

(バリア層)
バリア層21、22は、水分や酸素の透過を抑制する機能を有する蒸着層から構成され
ている。蒸着層は、例えば、スパッタリング法、イオンプレーティング法等の物理気相成
長(PVD)法や化学気相成長(CVD)法等の蒸着法で形成された層である。蒸着層は
、バリア性を高めることができるという利点を有する。
(Barrier layer)
The barrier layers 21 and 22 are composed of a thin-film deposition layer having a function of suppressing the permeation of water and oxygen. The thin-film deposition layer is a layer formed by a vapor deposition method such as a physical vapor deposition (PVD) method such as a sputtering method or an ion plating method or a chemical vapor deposition (CVD) method. The thin-film deposition layer has the advantage that the barrier property can be enhanced.

蒸着層の形成材料としては、蒸着法によって蒸着でき、かつバリア性が得られるもので
あれば特に限定されないが、例えば、酸化ケイ素や酸化アルミニウム等の無機酸化物や金
属等が挙げられる。
The material for forming the thin-film vapor deposition layer is not particularly limited as long as it can be vapor-deposited by a thin-film deposition method and can obtain a barrier property, and examples thereof include inorganic oxides such as silicon oxide and aluminum oxide, and metals.

蒸着層の膜厚は、特に限定されないが、0.01μm以上1μm以下であることが好ま
しい。蒸着層の膜厚が0.01μm未満であると、蒸着層のバリア性能が不充分となるこ
とがあり、また1μmを超えると、蒸着層のクラック等によりバリア性能の劣化が起こり
やすくなることがある。蒸着層の厚みのより好ましい下限は0.03μm以上であり、よ
り好ましい上限は0.5μm以下である。
The film thickness of the thin-film deposition layer is not particularly limited, but is preferably 0.01 μm or more and 1 μm or less. If the film thickness of the thin-film vapor deposition layer is less than 0.01 μm, the barrier performance of the thin-film deposition layer may be insufficient, and if it exceeds 1 μm, the barrier performance may be easily deteriorated due to cracks in the thin-film deposition layer. be. The more preferable lower limit of the thickness of the vapor-filmed layer is 0.03 μm or more, and the more preferable upper limit is 0.5 μm or less.

蒸着層の膜厚は、走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて、光波長変換シート60の断面
を撮影し、その断面の画像において蒸着膜の膜厚を20箇所測定し、その20箇所の膜厚
の平均値とする。また、蒸着層は、単一の層であってもよく、複数の層が積層されたもの
であってもよい。蒸着層が複数層積層されたものである場合、蒸着層を構成する各層は、
直接積層形成されていてもよく、貼り合わされていてもよい。
The film thickness of the thin-film deposition layer is determined by photographing the cross section of the optical wavelength conversion sheet 60 using a scanning electron microscope (SEM), measuring the film thickness of the vapor-film deposition film at 20 points in the image of the cross section, and measuring the film thickness at 20 points. The average value of the thickness. Further, the thin-film deposition layer may be a single layer or may be a stack of a plurality of layers. When a plurality of thin-film deposition layers are laminated, each layer constituting the thin-film deposition layer is
It may be directly laminated or laminated.

<光拡散層>
光拡散層14、15は、表面に凹凸形状を有しており、この凹凸形状によって光波長変
換シート10に入射する光および出射する光を拡散させることができる。光拡散層14、
15を設けることにより、光波長変換シート10における光波長変換効率をより高めるこ
とができる。光拡散層14、15は、光散乱性粒子とバインダ樹脂とを含んでいる。
<Light diffusion layer>
The light diffusion layers 14 and 15 have an uneven shape on the surface, and the uneven shape can diffuse the light incident on the light wavelength conversion sheet 10 and the light emitted from the light wavelength conversion sheet 10. Light diffusion layer 14,
By providing 15, the optical wavelength conversion efficiency of the optical wavelength conversion sheet 10 can be further improved. The light diffusing layers 14 and 15 contain light scattering particles and a binder resin.

(光散乱性粒子)
光拡散層14、15中の光散乱性粒子は、主に、光拡散層14、15の表面に凹凸形状
を形成するとともに光散乱性機能を発揮するためのものである。
(Light scattering particles)
The light-scattering particles in the light-diffusing layers 14 and 15 are mainly for forming an uneven shape on the surface of the light-diffusing layers 14 and 15 and exhibiting a light-scattering function.

光拡散層14、15中の光散乱性粒子の平均粒子径は、上述した量子ドット17の平均
粒子径の10倍以上2万倍以下であることが好ましく、10~5000倍であることがよ
り好ましい。光散乱性粒子の平均粒子径が量子ドットの平均粒子径の10倍未満であると
、光拡散層に充分な光拡散性が得られないことがあり、また光散乱性粒子の平均粒子径が
量子ドットの平均粒子径の2万倍を超えると、光拡散層の光拡散性能は優れたものとなる
が、光拡散層の光の透過率が大幅にダウンしやすくなる。なお、光散乱性粒子の平均粒子
径は、上述した量子ドット17の平均粒子径と同様の方法で測定することができる。
The average particle size of the light-scattering particles in the light diffusion layers 14 and 15 is preferably 10 times or more and 20,000 times or less the average particle size of the above-mentioned quantum dots 17, and more preferably 10 to 5000 times. preferable. If the average particle size of the light-scattering particles is less than 10 times the average particle size of the quantum dots, sufficient light-diffusivity may not be obtained in the light-diffusing layer, and the average particle size of the light-scattering particles may not be sufficient. If it exceeds 20,000 times the average particle size of the quantum dots, the light diffusion performance of the light diffusion layer becomes excellent, but the light transmission rate of the light diffusion layer tends to be significantly reduced. The average particle size of the light-scattering particles can be measured by the same method as the average particle size of the quantum dots 17 described above.

具体的には、光拡散層14、15中の光散乱性粒子の平均粒子径は、例えば、1μm以
上30μm以下であることが好ましく、1μm以上20μm以下であることがより好まし
い。光散乱性粒子の平均粒子径が1μm未満であると、光波長変換シートの光波長変換効
率が不充分となることがあり、充分な光拡散性を出すためには光散乱性粒子の添加量を多
くする必要がある。一方、光散乱性粒子の平均粒子径が30μmを超えると、光拡散性能
は優れたものとなるが、光拡散層の光の透過率が大幅にダウンしやすくなる。
Specifically, the average particle size of the light-scattering particles in the light diffusion layers 14 and 15 is preferably, for example, 1 μm or more and 30 μm or less, and more preferably 1 μm or more and 20 μm or less. If the average particle size of the light-scattering particles is less than 1 μm, the light wavelength conversion efficiency of the light wavelength conversion sheet may be insufficient, and the amount of the light-scattering particles added in order to obtain sufficient light diffusivity. Need to be increased. On the other hand, when the average particle size of the light-scattering particles exceeds 30 μm, the light diffusing performance becomes excellent, but the light transmittance of the light diffusing layer tends to be significantly reduced.

光拡散層14、15中の光散乱性粒子とバインダ樹脂との屈折率差の絶対値は、0.0
2以上0.15以下であることが好ましい。0.02未満であると、光学的に光散乱性粒
子の持つ屈折率による光拡散性が得られず、光波長変換シートの光波長変換効率の向上が
不充分となることがあり、0.15を超えると、光拡散層の透過率が低下してしまうこと
がある。光散乱性粒子とバインダ樹脂との屈折率差のより好ましい下限は0.03以上、
より好ましい上限は0.12以下である。なお、光散乱性粒子の屈折率とバインダ樹脂の
屈折率とは、いずれの方が大きくてもよい。光散乱性粒子およびバインダ樹脂の屈折率は
、光散乱性粒子18およびバインダ樹脂の屈折率と同様の手法によって測定することがで
きる。
The absolute value of the difference in refractive index between the light-scattering particles in the light-diffusing layers 14 and 15 and the binder resin is 0.0.
It is preferably 2 or more and 0.15 or less. If it is less than 0.02, the light diffusivity due to the refractive index of the light scattering particles cannot be obtained optically, and the improvement of the light wavelength conversion efficiency of the light wavelength conversion sheet may be insufficient. If it exceeds 15, the transmittance of the light diffusion layer may decrease. A more preferable lower limit of the difference in refractive index between the light-scattering particles and the binder resin is 0.03 or more.
A more preferable upper limit is 0.12 or less. It should be noted that either the refractive index of the light-scattering particles or the refractive index of the binder resin may be larger. The refractive index of the light-scattering particles and the binder resin can be measured by the same method as the refractive index of the light-scattering particles 18 and the binder resin.

光拡散層14、15中の光散乱性粒子の形状は光波長変換層11中の光散乱性粒子18
の形状と同様であるので、ここでは説明を省略するものとする。光拡散層14、15中の
光散乱性粒子は、光散乱性粒子をバインダ樹脂中に強固に固定する観点から、バインダ樹
脂と化学結合していることが好ましい。この化学結合は、シランカップリング剤で表面修
飾された光散乱性粒子を用いることによって実現できる。
The shape of the light-scattering particles in the light-diffusing layers 14 and 15 is the light-scattering particles 18 in the light wavelength conversion layer 11.
Since it is the same as the shape of, the description thereof will be omitted here. The light-scattering particles in the light-diffusing layers 14 and 15 are preferably chemically bonded to the binder resin from the viewpoint of firmly fixing the light-scattering particles in the binder resin. This chemical bond can be realized by using light scattering particles surface-modified with a silane coupling agent.

光散乱性粒子は、有機材料からなる粒子または無機材料からなる粒子であってもよい。
光散乱性粒子を構成する有機材料としては特に限定されず、例えば、ポリエステル、ポリ
スチレン、メラミン樹脂、(メタ)アクリル樹脂、アクリル-スチレン共重合体樹脂、シ
リコーン樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、ベンゾグアナミン・ホルムアルデヒド縮合樹脂、
ポリカーボネート、ポリエチレン、ポリオレフィン等が挙げられる。なかでも、架橋アク
リル樹脂が好適に用いられる。また、上記光拡散粒子を構成する無機材料としては特に限
定されず、例えば、シリカ、アルミナ、チタニア、酸化スズ、アンチモンドープ酸化スズ
(ATO)、酸化亜鉛微粒子等の無機酸化物等が挙げられる。なかでも、シリカ及び/又
はアルミナが好適に用いられる。
The light-scattering particles may be particles made of an organic material or particles made of an inorganic material.
The organic material constituting the light-scattering particles is not particularly limited, and for example, polyester, polystyrene, melamine resin, (meth) acrylic resin, acrylic-styrene copolymer resin, silicone resin, benzoguanamine resin, benzoguanamine / formaldehyde condensation resin. ,
Examples thereof include polycarbonate, polyethylene and polyolefin. Of these, crosslinked acrylic resin is preferably used. The inorganic material constituting the light diffusing particles is not particularly limited, and examples thereof include inorganic oxides such as silica, alumina, titania, tin oxide, antimonated tin oxide (ATO), and zinc oxide fine particles. Among them, silica and / or alumina are preferably used.

(バインダ樹脂)
バインダ樹脂としては、重合性化合物の重合体を用いることができる。重合性化合物と
しては、光波長変換層の欄で説明した重合性化合物と同様のものを用いることができるの
で、ここでは説明を省略するものとする。
(Binder resin)
As the binder resin, a polymer of a polymerizable compound can be used. As the polymerizable compound, the same polymerizable compound as that described in the column of the light wavelength conversion layer can be used, and therefore the description thereof will be omitted here.

劣化評価装置1および光波長変換シート10を用意した後、バックライト装置2の発光
面2A(光拡散板6の出光面3B)上に光波長変換シート10を載せる。次いで、バック
ライト装置2の光源5から光波長変換シート10の表面10Aに量子ドット17によって
波長変換可能な光を照射する。そして、この状態で、光波長変換シート10の表面10B
の少なくとも一部の輝度分布を輝度計3によって測定する。輝度計3として面輝度計を用
いた場合には、光波長変換シート10の表面10B全体の輝度が測定される。
After preparing the deterioration evaluation device 1 and the light wavelength conversion sheet 10, the light wavelength conversion sheet 10 is placed on the light emitting surface 2A (light emitting surface 3B of the light diffusing plate 6) of the backlight device 2. Next, the light source 5 of the backlight device 2 irradiates the surface 10A of the light wavelength conversion sheet 10 with light whose wavelength can be converted by the quantum dots 17. Then, in this state, the surface 10B of the optical wavelength conversion sheet 10
The luminance distribution of at least a part of the above is measured by the luminance meter 3. When a surface luminance meter is used as the luminance meter 3, the luminance of the entire surface 10B of the optical wavelength conversion sheet 10 is measured.

輝度計3によって測定された輝度分布は、データとして処理装置4に取り込まれる。処
理装置4においては、データとして取り込んだ輝度分布に基づいて輝度変化量分布を求め
る。具体的には、例えば、輝度分布において、最大輝度が100%となるように輝度分布
を規格化して、単位を%に変換した上で、輝度分布から輝度変化量分布を得る。輝度変化
量は、輝度を測定する際の測定間隔毎の輝度の差である。測定間隔は0.5mm以下であ
ることが好ましく、0.2mm以下であることがより好ましい。輝度計3として面輝度計
を用いた場合には、光波長変換シート10の大きさが、発光面2Aの大きさよりも小さい
場合には、光波長変換シート10の表面10B全体の輝度のみならず、光波長変換シート
10よりも外側の発光面2Aの輝度も測定できるので、処理装置4において、図2に示さ
れるように光波長変換シート10よりも外側の発光面2Aにある任意の点Aから光波長変
換シート10の一辺に沿って光波長変換シート10を横切り、光波長変換シート10より
も外側の発光面2Aにある別の任意の点Bまでの直線部分を指定すれば、この指定した部
分における輝度分布が抽出され、指定した部分の輝度変化量分布が得られる。このように
、光波長変換シート10よりも外側の発光面2Aにある任意の点Aから光波長変換シート
10の一辺に沿って光波長変換シート10を横切り、光波長変換シート10よりも外側の
発光面2Aにある別の任意の点Bまでの輝度変化量分布を得ることにより、光波長変換シ
ート10の端部10C、10Dも正確に評価できるので、光波長変換シート10の端部1
0C、10Dよりも内側の部分の劣化のみならず、光波長変換シート10の端部10C、
10Dの劣化を評価できる。
The luminance distribution measured by the luminance meter 3 is taken into the processing apparatus 4 as data. In the processing apparatus 4, the luminance change amount distribution is obtained based on the luminance distribution captured as data. Specifically, for example, in the luminance distribution, the luminance distribution is standardized so that the maximum luminance is 100%, the unit is converted to%, and then the luminance change amount distribution is obtained from the luminance distribution. The amount of change in brightness is the difference in brightness for each measurement interval when measuring brightness. The measurement interval is preferably 0.5 mm or less, more preferably 0.2 mm or less. When a surface luminance meter is used as the luminance meter 3, when the size of the light wavelength conversion sheet 10 is smaller than the size of the light emitting surface 2A, not only the brightness of the entire surface 10B of the light wavelength conversion sheet 10 but also the luminance Since the brightness of the light emitting surface 2A outside the light wavelength conversion sheet 10 can also be measured, in the processing apparatus 4, any point A on the light emitting surface 2A outside the light wavelength conversion sheet 10 as shown in FIG. By crossing the light wavelength conversion sheet 10 along one side of the light wavelength conversion sheet 10 and designating a straight portion to another arbitrary point B on the light emitting surface 2A outside the light wavelength conversion sheet 10, this designation is made. The brightness distribution in the specified part is extracted, and the brightness change amount distribution in the specified part is obtained. In this way, the light wavelength conversion sheet 10 is crossed along one side of the light wavelength conversion sheet 10 from an arbitrary point A on the light emitting surface 2A outside the light wavelength conversion sheet 10, and is outside the light wavelength conversion sheet 10. Since the end portions 10C and 10D of the light wavelength conversion sheet 10 can be accurately evaluated by obtaining the brightness change amount distribution up to another arbitrary point B on the light emitting surface 2A, the end portion 1 of the light wavelength conversion sheet 10 can be accurately evaluated.
Not only the deterioration of the part inside 0C and 10D, but also the end portion 10C of the optical wavelength conversion sheet 10.
The deterioration of 10D can be evaluated.

そして、得られた輝度変化量分布から極大値と、極大値に隣接した極小値とを検出する
。本明細書における「極大値」とは、輝度変化量が増加から減少に転じる点であって、か
つ輝度変化量が1.5%以上となる点を意味する。また、本明細書における「極小値」と
は、輝度変化量が減少から増加に転じる点であって、かつ輝度変化量が-1.5%以下と
なる点を意味する。なお、極大値や極小値が検出されない場合には、この部分においては
光波長変換シートの劣化はないと判断する。
Then, the maximum value and the minimum value adjacent to the maximum value are detected from the obtained luminance change amount distribution. The "maximum value" in the present specification means a point where the amount of change in luminance changes from an increase to a decrease, and the amount of change in luminance is 1.5% or more. Further, the “minimum value” in the present specification means a point where the amount of change in luminance changes from a decrease to an increase, and the amount of change in luminance is −1.5% or less. If the maximum value or the minimum value is not detected, it is determined that there is no deterioration of the optical wavelength conversion sheet in this portion.

極大値および極小値が検出された場合、極大値が得られる位置から極小値が得られる位
置までの幅(以下、この幅を「劣化幅」と称する。)を求めて、この劣化幅に基づいて光
波長変換シートの劣化を評価する。具体的には、例えば、この劣化幅が所定の範囲内か否
かで、光波長変換シートの劣化を評価することができる。例えば、この劣化幅が5mm以
下の場合には、光波長変換シートの色味変化を目視で評価しても、色味変化に気付かない
ので、光波長変換シートをこの劣化幅が5mm以下である場合には、光波長変換シートの
劣化を評価した部分においては劣化していないと判断できる。このため、この劣化幅が5
mm以下であるか否かによって、光波長変換シートの劣化を評価することができる。
When the maximum value and the minimum value are detected, the width from the position where the maximum value is obtained to the position where the minimum value is obtained (hereinafter, this width is referred to as "deterioration width") is obtained and based on this deterioration width. And evaluate the deterioration of the optical wavelength conversion sheet. Specifically, for example, the deterioration of the optical wavelength conversion sheet can be evaluated depending on whether or not the deterioration width is within a predetermined range. For example, when this deterioration width is 5 mm or less, even if the color change of the light wavelength conversion sheet is visually evaluated, the color change is not noticed, so that the deterioration width of the light wavelength conversion sheet is 5 mm or less. In that case, it can be determined that the deterioration of the optical wavelength conversion sheet is not deteriorated in the evaluated portion. Therefore, this deterioration width is 5.
Deterioration of the optical wavelength conversion sheet can be evaluated depending on whether or not it is mm or less.

上記劣化幅は、量子ドットの劣化がどの程度広がっているかを表しており、この劣化幅
が大きいほど、量子ドットが劣化している領域が広い。ここで、人間の目は、局所的に輝
度変化が大きい場合には光波長変換シートの劣化を検知しやすい一方で、光波長変換シー
トの劣化している領域が狭い場合には検知できない傾向がある。このため、人間の目では
、局所的に輝度変化が大きく、かつ光波長変換シートの劣化している領域が広い場合には
、光波長変換シートの劣化を検知できるが、局所的に輝度変化が大きくても、光波長変換
シートの劣化している領域が狭い場合には、光波長変換シートの劣化を検知できない。こ
れに対し、本実施形態においては、上記劣化幅によって光波長変換シートの劣化を評価し
ているので、目視評価と相関が高い定量的な劣化の評価を行うことができる。
The deterioration width indicates how wide the deterioration of the quantum dots is, and the larger the deterioration width is, the wider the region where the quantum dots are deteriorated. Here, the human eye tends to detect deterioration of the optical wavelength conversion sheet when the local brightness change is large, but cannot detect deterioration of the optical wavelength conversion sheet when the deteriorated region is narrow. be. Therefore, with the human eye, when the change in brightness is large locally and the area where the light wavelength conversion sheet is deteriorated is wide, the deterioration of the light wavelength conversion sheet can be detected, but the change in brightness is locally caused. Even if it is large, if the deteriorated region of the optical wavelength conversion sheet is narrow, the deterioration of the optical wavelength conversion sheet cannot be detected. On the other hand, in the present embodiment, since the deterioration of the optical wavelength conversion sheet is evaluated by the deterioration width, it is possible to perform a quantitative deterioration evaluation having a high correlation with the visual evaluation.

本実施形態の劣化評価方法は、光波長変換シート10のような光波長変換層の両面にバ
リアフィルムを備えている光波長変換シートにおいて特に有効である。すなわち、光波長
変換層の両面にバリアフィルムを備えている場合には、光波長変換層の両面はバリアフィ
ルムで覆われているが、光波長変換層の端縁(エッジ)は露出しているので、光波長変換
層の端部(端縁を含む部分)が劣化しやすい。ここで、光波長変換シートにおいて、光波
長変換シートの端部が劣化している場合、バックライト装置の光源からの光(例えば、青
色光)を吸収し損失するので、光波長変換シートの端部においては急激に輝度が低下する
。このため、光波長変換シートの大きさがバックライト装置の発光面よりも小さい場合に
おいて、光波長変換シートよりも外側のバックライト装置の発光面にある任意の点から光
波長変換シートの一辺に沿って光波長変換シートを横切り、光波長変換シートよりも外側
の発光面にある別の任意の点までの輝度変化量分布を測定した場合には、上記任意の点か
ら光波長変換シートのこの点側の光波長変換シートの端縁まではバックライト装置の光源
からの光を吸収しない光拡散板が存在するので、輝度変化量がほぼ一定であるが、光波長
変換シートの端部に入ると輝度が急激に低下するので、輝度変化量分布において極小値が
現れる。そして、劣化している端部を通り過ぎると、光波長変換シートの劣化していない
部分に入るので、輝度が急激に高くなり、輝度変化量分布において極大値が現れる。さら
に、光波長変換シートの劣化していない部分においては、輝度変化量がほぼ一定となるが
、劣化している逆側の端部に入ると、輝度が急激に低下するので、輝度変化量分布におい
て再度極小値が現れる。そして、光波長変換シートの前記端縁とは反対側の端縁を通り過
ぎると、光拡散板に入るので、輝度変化量分布において再度極大値が現れる。したがって
、光波長変換シートの端部においては、上記劣化幅を測定することによって、光波長変換
シートの端縁から中央部に向けてどの程度劣化しているか容易に把握することができる。
The deterioration evaluation method of the present embodiment is particularly effective in an optical wavelength conversion sheet having barrier films on both sides of the optical wavelength conversion layer such as the optical wavelength conversion sheet 10. That is, when the barrier films are provided on both sides of the light wavelength conversion layer, both sides of the light wavelength conversion layer are covered with the barrier film, but the edges of the light wavelength conversion layer are exposed. Therefore, the end portion (the portion including the edge) of the optical wavelength conversion layer is liable to deteriorate. Here, in the light wavelength conversion sheet, when the end portion of the light wavelength conversion sheet is deteriorated, the light from the light source of the backlight device (for example, blue light) is absorbed and lost, so that the end portion of the light wavelength conversion sheet is lost. The brightness drops sharply in the part. Therefore, when the size of the light wavelength conversion sheet is smaller than the light emitting surface of the backlight device, it can be placed on one side of the light wavelength conversion sheet from any point on the light emitting surface of the backlight device outside the light wavelength conversion sheet. When the brightness change distribution is measured along the light wavelength conversion sheet to another arbitrary point on the light emitting surface outside the light wavelength conversion sheet, this of the light wavelength conversion sheet from the above arbitrary point. Since there is a light diffuser that does not absorb the light from the light source of the backlight device up to the edge of the light wavelength conversion sheet on the point side, the amount of change in brightness is almost constant, but it enters the edge of the light wavelength conversion sheet. Since the brightness drops sharply, a minimum value appears in the brightness change amount distribution. Then, when it passes through the deteriorated end portion, it enters the non-deteriorated portion of the optical wavelength conversion sheet, so that the luminance increases sharply and a maximum value appears in the luminance change amount distribution. Further, in the non-deteriorated portion of the optical wavelength conversion sheet, the amount of change in brightness is almost constant, but when it enters the end on the opposite side of the deterioration, the brightness drops sharply, so that the amount of change in brightness is distributed. The minimum value appears again in. Then, when the light wavelength conversion sheet passes through the edge opposite to the edge, it enters the light diffusing plate, so that the maximum value appears again in the luminance change amount distribution. Therefore, at the end of the optical wavelength conversion sheet, by measuring the deterioration width, it is possible to easily grasp how much the deterioration is from the edge of the optical wavelength conversion sheet toward the center.

上記においては、バックライト装置の発光面よりも小さい光波長変換シートを用いてい
るが、例えば、光波長変換シートの端部以外の部分において量子ドットがスポット状に劣
化することもあり、量子ドットが劣化しているスポットがどの程度の大きさか等を把握す
る場合には、必ずしも、光波長変換シートの大きさは、バックライト装置の発光面よりも
小さくなくともよい。
In the above, a light wavelength conversion sheet smaller than the light emitting surface of the backlight device is used, but for example, the quantum dots may deteriorate in a spot shape in a portion other than the end portion of the light wavelength conversion sheet, and the quantum dots may be deteriorated. The size of the light wavelength conversion sheet does not necessarily have to be smaller than the light emitting surface of the backlight device in order to grasp how large the spot is deteriorated.

本実施形態の劣化評価方法によって光波長変換シート10の劣化を評価したとき、光波
長変換シート10の劣化幅が5mm以下となっている場合には、上記した理由から、発光
時における目視評価で量子ドット17の劣化による色味変化が確認されにくい。特に、光
波長変換シート10に対し60℃、相対湿度90%環境下に500時間放置する耐久性試
験を行い、耐久性試験後の光波長変換シート10の劣化幅が5mm以下となっていること
により、耐久性試験後においても、発光時における目視評価で量子ドット17の劣化によ
る色味変化が確認されにくい。これにより、発光時に量子ドット17の劣化による色味変
化が確認されにくい光波長変換シート10を提供することができる。劣化幅が5mm以下
となる光波長変換シートは、例えば、光波長変換層に量子ドットの劣化を抑制するための
上記添加剤等を添加することによって達成することができる。
When the deterioration of the light wavelength conversion sheet 10 is evaluated by the deterioration evaluation method of the present embodiment, if the deterioration width of the light wavelength conversion sheet 10 is 5 mm or less, the visual evaluation at the time of light emission is performed for the above reason. It is difficult to confirm the change in color due to the deterioration of the quantum dots 17. In particular, a durability test was performed on the light wavelength conversion sheet 10 in an environment of 60 ° C. and a relative humidity of 90% for 500 hours, and the deterioration width of the light wavelength conversion sheet 10 after the durability test was 5 mm or less. Therefore, even after the durability test, it is difficult to confirm the change in color due to the deterioration of the quantum dots 17 by visual evaluation at the time of light emission. This makes it possible to provide the optical wavelength conversion sheet 10 in which it is difficult to confirm the change in color due to the deterioration of the quantum dots 17 at the time of light emission. An optical wavelength conversion sheet having a deterioration width of 5 mm or less can be achieved, for example, by adding the above-mentioned additive or the like for suppressing the deterioration of quantum dots to the optical wavelength conversion layer.

光波長変換シート10は、バックライト装置および画像表示装置に組み込んで使用する
ことができる。以下、光波長変換シート10をバックライト装置および画像表示装置に組
み込んだ例について説明する。図5は本実施形態に係るバックライト装置を含む画像表示
装置の概略構成図であり、図6は図5に示されるレンズシートの斜視図であり、図7は図
6のレンズシートのI-I線に沿った断面図であり、図8は本実施形態に係る他のバック
ライト装置の概略構成図である。
The optical wavelength conversion sheet 10 can be used by incorporating it into a backlight device and an image display device. Hereinafter, an example in which the light wavelength conversion sheet 10 is incorporated into a backlight device and an image display device will be described. 5 is a schematic configuration diagram of an image display device including a backlight device according to the present embodiment, FIG. 6 is a perspective view of the lens sheet shown in FIG. 5, and FIG. 7 is an I- of the lens sheet of FIG. It is a cross-sectional view along the line I, and FIG. 8 is a schematic configuration diagram of another backlight device according to the present embodiment.

<<<画像表示装置>>>
図4に示される画像表示装置30は、バックライト装置40と、バックライト装置40
の出光側に配置された表示パネル80とを備えている。画像表示装置30は、画像を表示
する表示面30Aを有している。図5に示される画像表示装置30においては、表示パネ
ル80の表面が表示面30Aとなっている。
<<< Image display device >>>
The image display device 30 shown in FIG. 4 includes a backlight device 40 and a backlight device 40.
It is provided with a display panel 80 arranged on the light emitting side of the above. The image display device 30 has a display surface 30A for displaying an image. In the image display device 30 shown in FIG. 5, the surface of the display panel 80 is the display surface 30A.

バックライト装置40は、表示パネル80を背面側から面状に照らすものである。表示
パネル80は、バックライト装置40からの光の透過または遮断を画素毎に制御するシャ
ッターとして機能し、表示面70Aに像を表示するように構成されている。
The backlight device 40 illuminates the display panel 80 in a plane from the back surface side. The display panel 80 functions as a shutter that controls the transmission or blocking of light from the backlight device 40 for each pixel, and is configured to display an image on the display surface 70A.

<<表示パネル>>
図5に示される表示パネル80は、液晶表示パネルであり、入光側に配置された偏光板
81と、出光側に配置された偏光板82と、偏光板81と偏光板82との間に配置された
液晶セル83とを備えている。偏光板81、82は、入射した光を直交する二つの直線偏
光成分(S偏光およびP偏光)に分解し、一方の方向(透過軸と平行な方向)に振動する
直線偏光成分(例えば、P偏光)を透過させ、前記一方の方向に直交する他方の方向(吸
収軸と平行な方向)に振動する直線偏光成分(例えば、S偏光)を吸収する機能を有して
いる。
<< Display panel >>
The display panel 80 shown in FIG. 5 is a liquid crystal display panel, and is between the polarizing plate 81 arranged on the incoming light side, the polarizing plate 82 arranged on the light emitting side, and the polarizing plate 81 and the polarizing plate 82. It is provided with an arranged liquid crystal cell 83. The polarizing plates 81 and 82 decompose the incident light into two orthogonal linear polarization components (S-polarization and P-polarization) and vibrate in one direction (direction parallel to the transmission axis) (for example, P). It has a function of transmitting (polarized light) and absorbing a linearly polarized light component (for example, S-polarized light) that vibrates in the other direction (direction parallel to the absorption axis) orthogonal to the one direction.

液晶セル83には、一つの画素を形成する領域毎に、電圧の印加がなされ得るように構
成されている。そして、電圧印加の有無によって液晶セル83中の液晶分子の配向方向が
変化するようになる。一例として、入光側に配置された偏光板81を透過した特定方向の
直線偏光成分は、電圧印加がなされた液晶セル83を通過する際にその偏光方向を90°
回転させ、その一方で、電圧印加がなされていない液晶セル83を通過する際にその偏光
方向を維持する。この場合、液晶セル83への電圧印加の有無によって、偏光板81を透
過した特定方向に振動する直線偏光成分を偏光板82に対して透過させ、または偏光板8
2で吸収して遮断することができる。このようにして、表示パネル80では、バックライ
ト装置40からの光の透過または遮断を画素毎に制御し得るように構成されている。なお
、液晶表示パネルの詳細については、種々の公知文献(例えば、「フラットパネルディス
プレイ大辞典(内田龍男、内池平樹監修)」2001年工業調査会発行)に記載されてお
り、ここではこれ以上の詳細な説明を省略する。
The liquid crystal cell 83 is configured so that a voltage can be applied to each region forming one pixel. Then, the orientation direction of the liquid crystal molecules in the liquid crystal cell 83 changes depending on the presence or absence of voltage application. As an example, the linearly polarized light component in a specific direction transmitted through the polarizing plate 81 arranged on the incoming light side has a polarization direction of 90 ° when passing through the liquid crystal cell 83 to which a voltage is applied.
It is rotated while maintaining its polarization direction as it passes through the liquid crystal cell 83 to which no voltage is applied. In this case, depending on whether or not a voltage is applied to the liquid crystal cell 83, the linearly polarized light component vibrating in a specific direction transmitted through the polarizing plate 81 is transmitted through the polarizing plate 82, or the polarizing plate 8 is used.
It can be absorbed and blocked at 2. In this way, the display panel 80 is configured so that the transmission or blocking of light from the backlight device 40 can be controlled for each pixel. The details of the liquid crystal display panel are described in various publicly known documents (for example, "Flat Panel Display Encyclopedia (supervised by Tatsuo Uchida and Hiraki Uchiike)" published by Kogyo Chosakai in 2001). The detailed explanation of is omitted.

<<バックライト装置>>
図5に示されるバックライト装置40は、エッジライト型のバックライト装置として構
成され、光源50と、光源50の側方に配置された導光板としての光学板55と、光学板
55の出光側に配置された光波長変換シート10と、光波長変換シート10の出光側に配
置されたレンズシート60と、レンズシート60の出光側に配置されたレンズシート65
と、レンズシート65の出光側に配置された反射型偏光分離シート70と、光学板55の
出光側とは反対側に配置された反射シート75とを備えている。バックライト装置40は
、光学板55、レンズシート60、65、反射型偏光分離シート70、反射シート75を
備えているが、これらのシート等は備えられていなくともよい。本明細書において、「出
光側」とは、各部材においてバックライト装置から出射する方向に向かう光が出射される
側を意味する。
<< Backlight device >>
The backlight device 40 shown in FIG. 5 is configured as an edge light type backlight device, and has a light source 50, an optical plate 55 as a light guide plate arranged on the side of the light source 50, and a light emitting side of the optical plate 55. The optical wavelength conversion sheet 10 arranged in the light wavelength conversion sheet 10, the lens sheet 60 arranged on the light source side of the light wavelength conversion sheet 10, and the lens sheet 65 arranged on the light source side of the lens sheet 60.
A reflective polarizing separation sheet 70 arranged on the light emitting side of the lens sheet 65, and a reflective sheet 75 arranged on the side opposite to the light emitting side of the optical plate 55 are provided. The backlight device 40 includes an optical plate 55, lens sheets 60 and 65, a reflective polarizing separation sheet 70, and a reflective sheet 75, but these sheets and the like may not be provided. As used herein, the term "light emitting side" means the side of each member where light emitted in the direction emitted from the backlight device is emitted.

バックライト置40は、面状に光を発光する発光面40Aを有している。図5に示され
るバックライト装置40においては、反射型偏光分離シート70の出光面がバックライト
装置40の発光面40Aとなっている。
The backlight setting 40 has a light emitting surface 40A that emits light in a planar manner. In the backlight device 40 shown in FIG. 5, the light emitting surface of the reflective polarizing separation sheet 70 is the light emitting surface 40A of the backlight device 40.

光波長変換シート10における光学板95側の面が表面10A(入光面)となっており
、光波長変換シート10におけるレンズシート60側の面が表面10B(出光面)となっ
ている。
The surface of the optical wavelength conversion sheet 10 on the optical plate 95 side is the surface 10A (light entry surface), and the surface of the light wavelength conversion sheet 10 on the lens sheet 60 side is the surface 10B (light emission surface).

<光源>
光源50は、上記光源と同様のものであるので、ここでは説明を省略するものとする。
<Light source>
Since the light source 50 is the same as the above light source, the description thereof will be omitted here.

<光学板>
導光板としての光学板65は、平面視形状が四角形形状に形成されている。光学板65
は、表示パネル80側の一方の主面によって構成された出光面65Aと、出光面65Aに
対向するもう一方の主面からなる裏面65Bと、出光面65Aおよび裏面65Bの間を延
びる側面とを有している。側面のうちの光源50側の側面が、光源50からの光を受ける
入光面55Cとなっている。入光面55Cから光学板55内に入射した光は、入光面55
Cと、入光面55Cと対向する反対面とを結ぶ方向(導光方向)に光学板内を導光され、
出光面55Aから出射される。
<Optical plate>
The optical plate 65 as a light guide plate has a rectangular shape in a plan view. Optical plate 65
Refers to a back surface 65A composed of one main surface on the display panel 80 side, a back surface 65B composed of the other main surface facing the light emitting surface 65A, and a side surface extending between the light emitting surface 65A and the back surface 65B. Have. The side surface of the side surface on the light source 50 side is an incoming light receiving surface 55C that receives light from the light source 50. The light incident on the optical plate 55 from the light entering surface 55C is the light entering surface 55.
The inside of the optical plate is guided in the direction (light guide direction) connecting C and the opposite surface facing the incoming light surface 55C.
It is emitted from the light emitting surface 55A.

光学板55を構成する材料としては、画像表示装置に組み込まれる光学シート用の材料
として広く使用され、優れた機械的特性、光学特性、安定性および加工性等を有するとと
もに安価に入手可能な材料、例えば、アクリル樹脂、ポリスチレン、ポリカーボネート、
ポリエチレンテレフタレート、ポリアクリロニトリル等の一以上を主成分とする透明樹脂
や、エポキシアクリレートやウレタンアクリレート系の反応性樹脂(電離放射線硬化型樹
脂等)が好適に使用され得る。なお、必要に応じて、光学板55中に光を拡散させる機能
を有する光拡散材を添加することもできる。光拡散材としては、例えば、平均粒子径が0
.5μm以上100μm以下のシリカ(二酸化珪素)、アルミナ(酸化アルミニウム)、
アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、シリコーン樹脂等の透明物質からなる粒子を用い
ることができる。
As a material constituting the optical plate 55, it is widely used as a material for an optical sheet incorporated in an image display device, and has excellent mechanical properties, optical properties, stability, processability, etc., and is inexpensively available. For example, acrylic resin, polystyrene, polycarbonate,
A transparent resin containing one or more of polyethylene terephthalate, polyacrylonitrile or the like as a main component, or an epoxy acrylate or urethane acrylate-based reactive resin (ionizing radiation curable resin or the like) can be preferably used. If necessary, a light diffusing material having a function of diffusing light can be added to the optical plate 55. As a light diffusing material, for example, the average particle size is 0.
.. Silica (silicon dioxide), alumina (aluminum oxide), 5 μm or more and 100 μm or less,
Particles made of a transparent substance such as an acrylic resin, a polycarbonate resin, and a silicone resin can be used.

<<レンズシート>>
レンズシート60、65は、入射した光の進行方向を変化させて出光側から出射させる
機能を有する。本実施形態においては、図7に示されるように、入射角度が大きい光L3
の進行方向を変化させて出光側から出射させて、正面方向の輝度を集中的に向上させる機
能(集光機能)とともに、入射角度が小さい光L4を反射させて、光波長変換シート10
側に戻す機能(再帰反射機能)を有している。レンズシート60、65は、光透過性基材
61と、光透過性基材61の一方の面に設けられたレンズ層62とを備えている。
<< Lens sheet >>
The lens sheets 60 and 65 have a function of changing the traveling direction of the incident light and emitting the incident light from the light emitting side. In the present embodiment, as shown in FIG. 7, the light L3 having a large incident angle
The light wavelength conversion sheet 10 reflects light L4 having a small incident angle, as well as a function (condensing function) of changing the traveling direction of the light and emitting it from the light emitting side to intensively improve the brightness in the front direction.
It has a function to return to the side (retroreflection function). The lens sheets 60 and 65 include a light transmitting base material 61 and a lens layer 62 provided on one surface of the light transmitting base material 61.

<光透過性基材>
光透過性基材61は、光透過性基材12、13と同様のものであるので、ここでは説明
を省略するものとする。
<Light transmissive base material>
Since the light-transmitting base material 61 is the same as the light-transmitting base materials 12 and 13, the description thereof will be omitted here.

<レンズ層>
レンズ層62は、図6および図7に示されるように、シート状の本体部63、および本
体部63の出光側に並べて配置された複数の単位レンズ64を備えている。
<Lens layer>
As shown in FIGS. 6 and 7, the lens layer 62 includes a sheet-shaped main body portion 63 and a plurality of unit lenses 64 arranged side by side on the light emitting side of the main body portion 63.

本体部63は、単位レンズ64を支持するシート状部材として機能する。図6および図
7に示されるように、本体部63の出光側面63A上には、単位レンズ64が隙間をあけ
ることなく並べられている。したがって、レンズシート60、65の出光面60B、65
Bは、レンズ面によって形成されている。その一方で、図7に示すように、本体部63は
、出光側面63Aに対向する入光側面63Bとして、レンズ層62の入光側面をなす平滑
な面を有している。
The main body 63 functions as a sheet-like member that supports the unit lens 64. As shown in FIGS. 6 and 7, unit lenses 64 are arranged on the light emitting side surface 63A of the main body 63 without leaving a gap. Therefore, the light emitting surfaces 60B, 65 of the lens sheets 60, 65.
B is formed by the lens surface. On the other hand, as shown in FIG. 7, the main body portion 63 has a smooth surface forming the light entering side surface of the lens layer 62 as the light entering side surface 63B facing the light emitting side surface 63A.

単位レンズ64は、本体部63の出光側面63A上に並べて配列されている。図6に示
されるように単位レンズ64は、単位レンズ64の配列方向ADと交差する方向に線状、
とりわけ本実施の形態においては直線状に、延びている。また本実施の形態において、一
つのレンズシート60、65に含まれる多数の単位レンズ64は、互いに平行に延びてい
る。また、レンズシート60、65の単位レンズ64の長手方向LDは、レンズシート6
0、65における単位レンズ64の配列方向ADと直交している。
The unit lenses 64 are arranged side by side on the light emitting side surface 63A of the main body portion 63. As shown in FIG. 6, the unit lens 64 is linear in a direction intersecting the arrangement direction AD of the unit lens 64.
In particular, in the present embodiment, it extends linearly. Further, in the present embodiment, a large number of unit lenses 64 included in one lens sheet 60, 65 extend in parallel with each other. Further, the longitudinal LD of the unit lens 64 of the lens sheets 60 and 65 is the lens sheet 6.
It is orthogonal to the arrangement direction AD of the unit lens 64 at 0 and 65.

単位レンズ64は、三角柱状であってもよいし、波状や例えば半球状のような椀状であ
ってもよい。具体的には、単位レンズとしては、単位プリズム、単位シリンドリカルレン
ズ、単位マイクロレンズ等が挙げられる。なお、そのような単位レンズ形状を有するレン
ズシートとしては、プリズムシート、レンチキュラーレンズシート、マイクロレンズシー
ト等が挙げられる。本実施形態では、単位レンズとして、出光側に向けて幅が狭くなる三
角柱状の単位プリズムについて説明する。レンズシート60、65のシート面の法線方向
NDおよび単位レンズ64の配列方向ADの両方に平行な断面(レンズシートの主切断面
とも呼ぶ)の形状は、出光側に突出する三角形形状となっている。とりわけ、正面方向輝
度を集中的に向上させるという観点から、主切断面における単位レンズ64の断面形状は
二等辺三角形形状であるとともに、等辺の間に位置する頂角が本体部63の出光側面63
Aから出光側に突出するように、各単位レンズ64が構成されている。
The unit lens 64 may have a triangular columnar shape, or may have a wavy shape or a bowl shape such as a hemispherical shape. Specifically, examples of the unit lens include a unit prism, a unit cylindrical lens, a unit microlens and the like. Examples of the lens sheet having such a unit lens shape include a prism sheet, a lenticular lens sheet, and a micro lens sheet. In the present embodiment, as a unit lens, a triangular columnar unit prism whose width becomes narrower toward the light emitting side will be described. The shape of the cross section (also called the main cut surface of the lens sheet) parallel to both the normal direction ND of the sheet surfaces of the lens sheets 60 and 65 and the arrangement direction AD of the unit lens 64 is a triangular shape protruding toward the light emitting side. ing. In particular, from the viewpoint of intensively improving the brightness in the front direction, the cross-sectional shape of the unit lens 64 on the main cutting surface is an isosceles triangle shape, and the apex angle located between the equilateral sides is the light emitting side surface 63 of the main body portion 63.
Each unit lens 64 is configured so as to project from A to the light emitting side.

単位レンズ64は、光の利用効率を向上させる観点から、80°以上100°以下の頂
角を有することが好ましく、約90°の頂角を有することがより好ましい。ただし、光波
長変換シートの巻き取りの際における単位レンズの先端の破損を考慮すると、単位レンズ
64の先端は曲面であってもよい。
From the viewpoint of improving the efficiency of light utilization, the unit lens 64 preferably has an apex angle of 80 ° or more and 100 ° or less, and more preferably about 90 °. However, considering the damage to the tip of the unit lens when winding the optical wavelength conversion sheet, the tip of the unit lens 64 may be a curved surface.

レンズシート60、65の寸法は、一例として、以下のように設定され得る。まず、単
位レンズ64の具体例として、単位レンズ64の配列ピッチ(図示された例では、単位レ
ンズ64の幅に相当)を10μm以上200μm以下とすることができる。ただし、昨今
においては、単位レンズ64の配列の高精細化が急速に進んでおり、単位レンズ64の配
列ピッチを10μm以上50μm以下とすることが好ましい。また、レンズシート60、
65のシート面への法線方向NDに沿った本体部63からの単位レンズ64の突出高さを
5μm以上100μm以下とすることができる。さらに、単位レンズ64の頂角θを60
°以上120°以下とすることができる。
The dimensions of the lens sheets 60 and 65 can be set as follows, for example. First, as a specific example of the unit lens 64, the arrangement pitch of the unit lens 64 (corresponding to the width of the unit lens 64 in the illustrated example) can be set to 10 μm or more and 200 μm or less. However, in recent years, the arrangement of the unit lens 64 has been rapidly improved in definition, and it is preferable that the arrangement pitch of the unit lens 64 is 10 μm or more and 50 μm or less. In addition, the lens sheet 60,
The protruding height of the unit lens 64 from the main body 63 along the normal direction ND to the seat surface of 65 can be 5 μm or more and 100 μm or less. Further, the apex angle θ of the unit lens 64 is set to 60.
It can be ° or more and 120 ° or less.

図5から理解され得るように、レンズシート60の単位レンズ64の配列方向とレンズ
シート65の単位レンズ64の配列方向とは交差、さらに限定的には直交している。
As can be understood from FIG. 5, the arrangement direction of the unit lens 64 of the lens sheet 60 and the arrangement direction of the unit lens 64 of the lens sheet 65 intersect, and more specifically, are orthogonal to each other.

<反射型偏光分離シート>
反射型偏光分離シート70は、レンズシート65から出射される光のうち、第1の直線
偏光成分(例えば、P偏光)のみを透過し、かつ第1の直線偏光成分と直交する第2の直
線偏光成分(例えば、S偏光)を吸収せずに反射する機能を有する。反射型偏光分離シー
ト70で反射された第2の直線偏光成分は再度反射され、偏光が解消された状態(第1の
直線偏光成分と第2の直線偏光成分とを両方含んだ状態)で、再度、反射型偏光分離シー
ト70に入射する。よって、反射型偏光分離シート70は再度入射する光のうち第1の直
線偏光成分を透過し、第1の直線偏光成分と直交する第2の直線偏光成分は再度反射され
る。以下、同上の過程を繰り返す事により、レンズシート65から出光した光の70~8
0%程度が第1の直線偏光成分となった光源光として出光される。したがって、反射型偏
光分離シート70の第1の直線偏光成分(透過軸成分)の偏光方向と表示パネル80の偏
光板121の透過軸方向とを一致させることにより、バックライト装置40からの出射光
は全て表示パネル80で画像形成に利用可能となる。したがって、光源50から投入され
る光エネルギーが同じであっても、反射型偏光分離シート70を未配置の場合に比べて、
より高輝度の画像形成が可能となり、又光源50のエネルギー利用効率も向上する。とり
わけ、反射型偏光分離シート70で反射された光は、光波長変換シート10で波長変換が
行われ得る。したがって、反射型偏光分離シート70を配置することによって、光波長変
換シート10の波長変換効率がさらに上昇させることができる。したがって、更なる光の
利用効率の改善を期待することができる。
<Reflective polarization separation sheet>
The reflective polarization separation sheet 70 transmits only the first linear polarization component (for example, P-polarization) among the light emitted from the lens sheet 65, and is a second straight line orthogonal to the first linear polarization component. It has a function of reflecting a polarizing component (for example, S-polarized light) without absorbing it. The second linear polarization component reflected by the reflective polarization separation sheet 70 is reflected again, and the polarization is eliminated (a state in which both the first linear polarization component and the second linear polarization component are included). It is incident on the reflective polarizing separation sheet 70 again. Therefore, the reflective polarization separation sheet 70 transmits the first linear polarization component of the light incident again, and the second linear polarization component orthogonal to the first linear polarization component is reflected again. Hereinafter, by repeating the same process, 70 to 8 of the light emitted from the lens sheet 65
About 0% is emitted as the light source light which is the first linearly polarized light component. Therefore, by matching the polarization direction of the first linear polarization component (transmission axis component) of the reflective polarization separation sheet 70 with the transmission axis direction of the polarizing plate 121 of the display panel 80, the light emitted from the backlight device 40 Are all available for image formation on the display panel 80. Therefore, even if the light energy input from the light source 50 is the same, as compared with the case where the reflective polarizing separation sheet 70 is not arranged,
It is possible to form an image with higher brightness, and the energy utilization efficiency of the light source 50 is also improved. In particular, the light reflected by the reflective polarizing separation sheet 70 may be wavelength-converted by the optical wavelength conversion sheet 10. Therefore, by arranging the reflective polarization separation sheet 70, the wavelength conversion efficiency of the optical wavelength conversion sheet 10 can be further increased. Therefore, further improvement in light utilization efficiency can be expected.

反射型偏光分離シート70としては、3M社から入手可能な「DBEF」(登録商標)
を用いることができる。また、「DBEF」以外にも、Shinwha Intertek社から入手可能
な高輝度偏光シート「WRPS」やワイヤーグリッド偏光子等を、反射型偏光分離シート
90として用いることができる。
The reflective polarization separation sheet 70 is "DBEF" (registered trademark) available from 3M.
Can be used. In addition to the "DBEF", a high-intensity polarizing sheet "WRPS" available from Shinwha Intertek, a wire grid polarizing element, or the like can be used as the reflective polarizing separation sheet 90.

<反射シート>
反射シート75は、光学板55の裏面55Bから漏れ出した光を反射して、再び光学板
90内に入射させる機能を有する。反射シート75は、白色の散乱反射シート、金属等の
高い反射率を有する材料からなるシート、高い反射率を有する材料からなる薄膜(例えば
金属薄膜)を表面層として含んだシート等から、構成され得る。反射シート75での反射
は、正反射(鏡面反射)でもよく、拡散反射でもよい。反射シート75での反射が拡散反
射の場合には、当該拡散反射は、等方性拡散反射であってもよいし、異方性拡散反射であ
ってもよい。
<Reflective sheet>
The reflective sheet 75 has a function of reflecting the light leaked from the back surface 55B of the optical plate 55 and making it enter the optical plate 90 again. The reflective sheet 75 is composed of a white diffuse reflective sheet, a sheet made of a material having a high reflectance such as metal, a sheet containing a thin film made of a material having a high reflectance (for example, a metal thin film) as a surface layer, and the like. obtain. The reflection on the reflective sheet 75 may be normal reflection (specular reflection) or diffuse reflection. When the reflection on the reflection sheet 75 is diffuse reflection, the diffuse reflection may be isotropic diffuse reflection or anisotropic diffuse reflection.

<<他のバックライト装置>>
光波長変換シート10を組み込むバックライト装置は、図8に示されるような直下型の
バックライト装置であってもよい。図8に示されるバックライト装置90は、光源50と
、光源50の光を受け、かつ光拡散板として機能する光学板100と、光学板100の出
光側に配置された光波長変換シート10、光波長変換シート10の出光側に配置されたレ
ンズシート60と、レンズシート60の出光側に配置されたレンズシート65と、レンズ
シート65の出光側に配置された反射型偏光分離シート70とを備えている。本実施形態
においては、光源50は、光学板100の側方ではなく、光学板100の直下に配置され
ている。図8において、図5と同じ符号が付されている部材は、図5で示した部材と同じ
ものであるので、説明を省略するものとする。なお、バックライト装置90においては、
反射シート75は備えられていない。
<< Other backlight devices >>
The backlight device incorporating the light wavelength conversion sheet 10 may be a direct type backlight device as shown in FIG. The backlight device 90 shown in FIG. 8 includes a light source 50, an optical plate 100 that receives the light of the light source 50 and functions as a light diffusing plate, and an optical wavelength conversion sheet 10 arranged on the light emitting side of the optical plate 100. The lens sheet 60 arranged on the light emitting side of the optical wavelength conversion sheet 10, the lens sheet 65 arranged on the light emitting side of the lens sheet 60, and the reflection type polarization separation sheet 70 arranged on the light emitting side of the lens sheet 65. I have. In the present embodiment, the light source 50 is arranged directly under the optical plate 100, not on the side of the optical plate 100. In FIG. 8, the members having the same reference numerals as those in FIG. 5 are the same as the members shown in FIG. 5, and therefore the description thereof will be omitted. In the backlight device 90, it should be noted.
The reflective sheet 75 is not provided.

<光学板>
光拡散板としての光学板100は、光拡散板3と同様のものであるので、ここでは説明
を省略するものとする。
<Optical plate>
Since the optical plate 100 as the light diffusing plate is the same as the light diffusing plate 3, the description thereof will be omitted here.

本発明を詳細に説明するために、以下に実施例を挙げて説明するが、本発明はこれらの
記載に限定されない。
In order to explain the present invention in detail, examples will be given below, but the present invention is not limited to these descriptions.

<光波長変換層用組成物の調製>
まず、下記に示す組成となるように各成分を配合して、光波長変換層用組成物を得た。
(光波長変換層用組成物1)
・エポキシアクリレート(製品名「ユニディックV-5500」、DIC社製):92.
5質量部
・トリフェニルホスフィン(ホスフィン系化合物、製品名「JC-263」、城北化学工
業社製):7.5質量部
・緑色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 530」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径3.3nm):0.2質量部
・赤色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 610」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径5.2nm):0.2質量部
・ラジカル重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irg
acure(登録商標)184」、BASFジャパン社製):0.2質量部
<Preparation of composition for optical wavelength conversion layer>
First, each component was blended so as to have the composition shown below to obtain a composition for an optical wavelength conversion layer.
(Composition for Light Wavelength Conversion Layer 1)
-Epoxy acrylate (product name "Unidic V-5500", manufactured by DIC Corporation): 92.
5 parts by mass, triphenylphosphine (phosphine compound, product name "JC-263", manufactured by Johoku Chemical Industry Co., Ltd.): 7.5 parts by mass, green emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 530", SIGMA-ALDRI)
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 3.3 nm): 0.2 parts by mass, red emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 610", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 5.2 nm): 0.2 parts by mass ・ Radical polymerization initiator (1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, product name “Irg”
acure (registered trademark) 184 ", manufactured by BASF Japan Ltd.): 0.2 parts by mass

(光波長変換層用組成物2)
・エポキシアクリレート(製品名「ユニディックV-5500」、DIC社製):95質
量部
・トリフェニルホスフィン(ホスフィン系化合物、製品名「JC-263」、城北化学工
業社製):5.0質量部
・緑色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 530」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径3.3nm):0.2質量部
・赤色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 610」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径5.2nm):0.2質量部
・ラジカル重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irg
acure(登録商標)184」、BASFジャパン社製):0.2質量部
(Composition for Light Wavelength Conversion Layer 2)
-Epoxy acrylate (product name "Unidic V-5500", manufactured by DIC): 95 parts by mass-Triphenylphosphine (phosphine compound, product name "JC-263", manufactured by Johoku Chemical Industry Co., Ltd.): 5.0 mass Part ・ Green emission quantum dots (product name “CdSe / ZnS 530”, SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 3.3 nm): 0.2 parts by mass, red emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 610", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 5.2 nm): 0.2 parts by mass ・ Radical polymerization initiator (1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, product name “Irg”
acure (registered trademark) 184 ", manufactured by BASF Japan Ltd.): 0.2 parts by mass

(光波長変換層用組成物3)
・エポキシアクリレート(製品名「ユニディックV-5500」、DIC社製):50質
量部
・トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトブチレート)(製品名「TPMB」、
昭和電工社製):50質量部
・緑色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 530」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径3.3nm):0.2質量部
・赤色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 610」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径5.2nm):0.2質量部
・ラジカル重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irg
acure(登録商標)184」、BASFジャパン社製):0.2質量部
(Composition for Light Wavelength Conversion Layer 3)
-Epoxy acrylate (product name "Unidic V-5500", manufactured by DIC Corporation): 50 parts by mass-trimethylolpropane tris (3-mercaptobutyrate) (product name "TPMB",
Showa Denko Corporation): 50 parts by mass, green emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 530", SIGMA-ALDRI)
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 3.3 nm): 0.2 parts by mass, red emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 610", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 5.2 nm): 0.2 parts by mass ・ Radical polymerization initiator (1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, product name “Irg”
acure (registered trademark) 184 ", manufactured by BASF Japan Ltd.): 0.2 parts by mass

(光波長変換層用組成物4)
・エポキシアクリレート(製品名「ユニディックV-5500」、DIC社製):70質
量部
・トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトブチレート)(製品名「TPMB」、
昭和電工社製):30質量部
・緑色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 530」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径3.3nm):0.2質量部
・赤色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 610」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径5.2nm):0.2質量部
・ラジカル重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irg
acure(登録商標)184」、BASFジャパン社製):0.2質量部
(Composition for Light Wavelength Conversion Layer 4)
-Epoxy acrylate (product name "Unidic V-5500", manufactured by DIC Corporation): 70 parts by mass-trimethylolpropane tris (3-mercaptobutyrate) (product name "TPMB",
Showa Denko Corporation): 30 parts by mass, green emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 530", SIGMA-ALDRI)
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 3.3 nm): 0.2 parts by mass, red emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 610", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 5.2 nm): 0.2 parts by mass ・ Radical polymerization initiator (1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, product name “Irg”
acure (registered trademark) 184 ", manufactured by BASF Japan Ltd.): 0.2 parts by mass

(光波長変換層用組成物5)
・エポキシアクリレート(製品名「ユニディックV-5500」、DIC社製):100
質量部
・緑色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 530」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径3.3nm):0.2質量部
・赤色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 610」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径5.2nm):0.2質量部
・ラジカル重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irg
acure(登録商標)184」、BASFジャパン社製):0.2質量部
(Composition for Light Wavelength Conversion Layer 5)
-Epoxy acrylate (product name "Unidic V-5500", manufactured by DIC Corporation): 100
Mass part, green emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 530", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 3.3 nm): 0.2 parts by mass, red emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 610", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 5.2 nm): 0.2 parts by mass ・ Radical polymerization initiator (1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, product name “Irg”
acure (registered trademark) 184 ", manufactured by BASF Japan Ltd.): 0.2 parts by mass

(光波長変換層用組成物6)
・エポキシアクリレート(製品名「ユニディックV-5500」、DIC社製):99.
8質量部
・トリフェニルホスフィン(ホスフィン系化合物、製品名「JC-263」、城北化学工
業社製):0.2質量部
・緑色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 530」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径3.3nm):0.2質量部
・赤色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 610」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径5.2nm):0.2質量部
・ラジカル重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irg
acure(登録商標)184」、BASFジャパン社製):0.2質量部
(Composition for Light Wavelength Conversion Layer 6)
-Epoxy acrylate (product name "Unidic V-5500", manufactured by DIC Corporation): 99.
8 parts by mass, triphenylphosphine (phosphine compound, product name "JC-263", manufactured by Johoku Chemical Industry Co., Ltd.): 0.2 parts by mass, green emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 530", SIGMA-ALDRI)
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 3.3 nm): 0.2 parts by mass, red emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 610", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 5.2 nm): 0.2 parts by mass ・ Radical polymerization initiator (1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, product name “Irg”
acure (registered trademark) 184 ", manufactured by BASF Japan Ltd.): 0.2 parts by mass

(光波長変換層用組成物7)
・エポキシアクリレート(製品名「ユニディックV-5500」、DIC社製):97質
量部
・トリメチロールプロパントリス(3-メルカプトブチレート)(製品名「TPMB」、
昭和電工社製):3質量部
・緑色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 530」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径3.3nm):0.2質量部
・赤色発光量子ドット(製品名「CdSe/ZnS 610」、SIGMA-ALDRI
CH社製、コア:CdSe、シェル:ZnS、平均粒径5.2nm):0.2質量部
・ラジカル重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irg
acure(登録商標)184」、BASFジャパン社製):0.2質量部
(Composition for Light Wavelength Conversion Layer 7)
-Epoxy acrylate (product name "Unidic V-5500", manufactured by DIC Corporation): 97 parts by mass-trimethylolpropane tris (3-mercaptobutyrate) (product name "TPMB",
Showa Denko Corporation): 3 parts by mass, green emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 530", SIGMA-ALDRI)
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 3.3 nm): 0.2 parts by mass, red emission quantum dots (product name "CdSe / ZnS 610", SIGMA-ALDRI
Made by CH, core: CdSe, shell: ZnS, average particle size 5.2 nm): 0.2 parts by mass ・ Radical polymerization initiator (1-hydroxycyclohexylphenyl ketone, product name “Irg”
acure (registered trademark) 184 ", manufactured by BASF Japan Ltd.): 0.2 parts by mass

<光拡散層用組成物の調製>
下記に示す組成となるように各成分を配合して、光拡散層用組成物1を得た。
(光拡散層用組成物1)
・ペンタエリスリトールトリアクリレート:99質量部
・光散乱性粒子(架橋ポリスチレン樹脂ビーズ、製品名「SBX-4」、積水化成品工業
株式会社製、平均粒子径4μm):158質量部
・光重合開始剤(1-ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、製品名「Irgacu
re(登録商標)184、BASFジャパン社製):1質量部
・溶剤(メチルイソブチルケトン:シクロヘキサノン=1:1(質量比)):170質量
<Preparation of composition for light diffusion layer>
Each component was blended so as to have the composition shown below to obtain a composition 1 for a light diffusion layer.
(Composition 1 for light diffusion layer)
-Pentaerythritol triacrylate: 99 parts by mass-Light scattering particles (crosslinked polystyrene resin beads, product name "SBX-4", manufactured by Sekisui Kasei Kogyo Co., Ltd., average particle diameter 4 μm): 158 parts by mass-Photopolymerization initiator (1-Hydroxycyclohexylphenylketone, product name "Irgacu"
re (registered trademark) 184, manufactured by BASF Japan Ltd.): 1 part by mass, solvent (methyl isobutyl ketone: cyclohexanone = 1: 1 (mass ratio)): 170 parts by mass

<サンプル1>
まず、2枚のバリアフィルムを次のような方法で作製した。高周波スパッタリング装置
において、電極に周波数13.56MHz、電力5kWの高周波電力を印加することによ
り、チャンバー内で放電を生じさせて、大きさ7インチおよび厚みが50μmの光透過性
基材としてのポリエチレンテレフタレートフィルム(製品名「ルミラーT60」、東レ社
製)の片面にターゲット物質(シリカ)からなる、厚みが50nmであり、かつ屈折率が
1.46であるバリア層としてのシリカ蒸着層を形成し、これにより、ポリエチレンテレ
フタレートフィルムの一方の面にシリカ蒸着層が形成されたバリアフィルムを2枚形成し
た。
<Sample 1>
First, two barrier films were prepared by the following method. In a high-frequency sputtering apparatus, by applying a high-frequency power of 13.56 MHz and a power of 5 kW to the electrodes, a discharge is generated in the chamber, and polyethylene terephthalate as a light-transmitting substrate having a size of 7 inches and a thickness of 50 μm is generated. A silica-deposited layer made of a target substance (silica), having a thickness of 50 nm and a refractive index of 1.46, was formed on one side of a film (product name "Lumirror T60", manufactured by Toray Industries, Inc.). As a result, two barrier films having a silica-deposited layer formed on one surface of the polyethylene terephthalate film were formed.

次いで、両方のバリアフィルムにおけるシリカ蒸着層側の面とは反対側の面に上記光拡
散層用組成物を、塗布し、塗膜を形成した。次いで、形成した塗膜に対して、80℃の乾
燥空気を30秒間流通させて乾燥させることにより塗膜中の溶剤を蒸発させた。その後、
紫外線を積算光量が500mJ/cmになるように照射して塗膜を硬化させることによ
り膜厚が10μmの光拡散層を形成し、光拡散層付きバリアフィルムを形成した。
Next, the composition for the light diffusion layer was applied to the surface of both barrier films opposite to the surface on the silica-deposited layer side to form a coating film. Next, the solvent in the coating film was evaporated by passing dry air at 80 ° C. for 30 seconds through the formed coating film to dry it. afterwards,
A light diffusing layer having a film thickness of 10 μm was formed by irradiating ultraviolet rays so that the integrated light amount was 500 mJ / cm 2 to cure the coating film, and a barrier film with a light diffusing layer was formed.

次いで、一方の光拡散層付きバリアフィルムのシリカ蒸着層側に光波長変換層用組成物
1を塗布し、80℃で乾燥させて、塗膜を形成した。そして、塗膜における光拡散層付き
バリアフィルムのシリカ蒸着層の面に、シリカ蒸着層が接するように他方の光拡散層付き
バリアフィルムを積層した。この状態で、紫外線を積算光量が500mJ/cmになる
ように照射して塗膜を硬化させることにより、両方の光拡散層付きバリアフィルムに密着
した膜厚が100μmの光波長変換層を形成した。これにより、縦10cm×横10cm
のサンプル1に係る光波長変換シートを得た。
Next, the composition 1 for a light wavelength conversion layer was applied to the silica-deposited layer side of one of the barrier films with a light diffusion layer and dried at 80 ° C. to form a coating film. Then, the other barrier film with a light diffusion layer was laminated on the surface of the silica-deposited layer of the barrier film with a light diffusion layer in the coating film so that the silica vapor deposition layer was in contact with the surface. In this state, by irradiating the coating film with ultraviolet rays so that the integrated light amount becomes 500 mJ / cm 2 , a light wavelength conversion layer having a thickness of 100 μm in close contact with both barrier films with a light diffusion layer is formed. bottom. As a result, length 10 cm x width 10 cm
The optical wavelength conversion sheet according to the sample 1 of the above was obtained.

<サンプル2~7>
サンプル2~7においては、光波長変換組成物1の代わりに表1に示される各光波長変
換組成物を用いたこと以外は、サンプル1と同様にして、光波長変換シートを作製した。
<Samples 2-7>
In Samples 2 to 7, an optical wavelength conversion sheet was prepared in the same manner as in Sample 1 except that each optical wavelength conversion composition shown in Table 1 was used instead of the optical wavelength conversion composition 1.

<劣化幅による光波長変換シートの劣化評価>
上記サンプル1~7に係る光波長変換シートにおいて、光波長変換シートを60℃、相
対湿度90%環境下に500時間放置する耐久性試験を行い、耐久性試験後の光波長変換
シートにおいて、劣化している部分があるか否か評価した。
<Evaluation of deterioration of optical wavelength conversion sheet by deterioration width>
In the optical wavelength conversion sheet according to the above samples 1 to 7, a durability test was performed in which the optical wavelength conversion sheet was left in an environment of 60 ° C. and a relative humidity of 90% for 500 hours, and the optical wavelength conversion sheet after the durability test deteriorated. It was evaluated whether there was a part that was doing.

具体的には、まず、発光ピーク波長が450nmの21個の青色発光ダイオードと、青
色発光ダイオード上に配置された光拡散板とを備えるバックライト装置を用意した。青色
発光ダイオードは、平面状に等間隔に縦7×横3個配置されており、光拡散板の大きさは
、縦25cm×横15cmであった。なお、バックライト装置の発光面は、光拡散板の出
光面から構成されていた。
Specifically, first, a backlight device including 21 blue light emitting diodes having a emission peak wavelength of 450 nm and a light diffusing plate arranged on the blue light emitting diodes was prepared. The blue light emitting diodes were arranged in a plane at equal intervals of 7 in length and 3 in width, and the size of the light diffusing plate was 25 cm in length × 15 cm in width. The light emitting surface of the backlight device was composed of the light emitting surface of the light diffusing plate.

一方で、上記サンプル1~7に係る光波長変換シートにおいて、光波長変換シートを4
0℃、相対湿度90%環境下に300時間放置する耐久性試験を行った。そして、バック
ライト装置の発光面(光拡散板の出光面)上に、耐久性試験後の光波長変換シートを載せ
た。そして、バックライト装置の青色発光ダイオードを点灯させた状態で、光波長変換シ
ートの上方から2D色彩輝度計(製品名「UA-200」、トプコンテクノハウス社製)
を用いて、光波長変換シートにおける2D色彩輝度計側の表面全体および光波長変換シー
トよりも外側の発光面の輝度分布を測定した。
On the other hand, in the optical wavelength conversion sheet according to the above samples 1 to 7, 4 optical wavelength conversion sheets are used.
A durability test was conducted in which the product was left in an environment of 0 ° C. and a relative humidity of 90% for 300 hours. Then, the light wavelength conversion sheet after the durability test was placed on the light emitting surface of the backlight device (the light emitting surface of the light diffusing plate). Then, with the blue light emitting diode of the backlight turned on, a 2D color luminance meter (product name "UA-200", manufactured by Topcon Techno House Co., Ltd.) from above the optical wavelength conversion sheet.
Was used to measure the brightness distribution of the entire surface of the 2D color luminance meter side of the light wavelength conversion sheet and the light emitting surface outside the light wavelength conversion sheet.

輝度分布を測定した後、測定された輝度分布をデータとしてパーソナルコンピュータに
取り込み、パーソナルコンピュータにおいて、取り込んだ輝度分布のデータから光波長変
換シートよりも外側の発光面にある任意の点から光波長変換シートの一辺に沿って光波長
変換シートを横切り、光波長変換シートよりも外側の発光面にある別の任意の点まで直線
部分の輝度分布を抽出した(図9参照)。次いで、この抽出した輝度分布において、最大
輝度が100%となるように輝度分布を規格化して、単位を%に換算した上で、輝度分布
から輝度変化量分布を求め、輝度変化量分布から極大値と、極大値に隣接した極小値とを
検出した(図10および図11参照)。なお、輝度の測定間隔は、0.12mmとした。
そして、検出した極大値から極小値までの幅である劣化幅を求めた。なお、光波長変換シ
ートの2つの端部を通るので、輝度変化量分布においては、一方の端部で極大値および極
小値が現れ、他方の端部で極大値および極小値が現れることもあるが、その場合にはそれ
ぞれ劣化幅を求めて、大きい方の劣化幅を劣化幅とした。図10および図11においては
、横軸がピクセル数であるので、極大値が表れるピクセルと極小値が表れるピクセルとの
差の絶対値に1ピクセルの大きさである0.12mmを乗じることによって劣化幅dwを
求めた。
After measuring the brightness distribution, the measured brightness distribution is imported into a personal computer as data, and the captured brightness distribution data is converted into light wavelength from any point on the light emitting surface outside the light wavelength conversion sheet. The light wavelength conversion sheet was crossed along one side of the sheet, and the luminance distribution of the linear portion was extracted to another arbitrary point on the light emitting surface outside the light wavelength conversion sheet (see FIG. 9). Next, in this extracted luminance distribution, the luminance distribution is standardized so that the maximum luminance is 100%, the unit is converted to%, the luminance change amount distribution is obtained from the luminance distribution, and the maximum luminance is obtained from the luminance distribution. A value and a minimum value adjacent to the maximum value were detected (see FIGS. 10 and 11). The luminance measurement interval was 0.12 mm.
Then, the deterioration width, which is the width from the detected maximum value to the minimum value, was obtained. Since it passes through the two ends of the optical wavelength conversion sheet, the maximum value and the minimum value may appear at one end and the maximum value and the minimum value may appear at the other end in the luminance change amount distribution. However, in that case, the deterioration width was obtained for each, and the larger deterioration width was used as the deterioration width. In FIGS. 10 and 11, since the horizontal axis is the number of pixels, it is deteriorated by multiplying the absolute value of the difference between the pixel in which the maximum value appears and the pixel in which the minimum value appears by 0.12 mm, which is the size of one pixel. The width dw was calculated.

<目視による光波長変換シートの劣化評価>
上記耐久性試験後のサンプル1~7に係る光波長変換シートにおいて、劣化している部
分があるか否か目視により評価した。具体的には、発光ピーク波長が450nmの青色発
光ダイオード上にある光拡散板上に、耐久性試験後の光波長変換シートを載せた。そして
、青色発光ダイオードを点灯させた状態で、光波長変換シートの表面を目視により評価し
た。評価基準は以下の通りとした。
○:端部の色味が中央部の色味と同等であったので、端部の劣化が確認されなかった。
×:端部の色味が中央部の色味と異なっていたので、端部の劣化が確認された。
<Visual deterioration evaluation of optical wavelength conversion sheet>
In the optical wavelength conversion sheet according to Samples 1 to 7 after the durability test, it was visually evaluated whether or not there was a deteriorated portion. Specifically, the optical wavelength conversion sheet after the durability test was placed on a light diffusing plate on a blue light emitting diode having an emission peak wavelength of 450 nm. Then, the surface of the light wavelength conversion sheet was visually evaluated with the blue light emitting diode turned on. The evaluation criteria are as follows.
◯: Since the color of the edge was equivalent to that of the center, no deterioration of the edge was confirmed.
X: Since the color of the edge was different from the color of the center, deterioration of the edge was confirmed.

以下、結果を表1に示す。

Figure 2022058459000002
The results are shown in Table 1 below.
Figure 2022058459000002

以下、結果について述べる。表1に示されるように、サンプル4~7に係る光波長変換
シートは、劣化幅が5mmを超えていたので、目視評価でも端部の劣化が確認された。こ
れに対し、サンプル1~4に係る光波長変換シートにおいては、劣化幅が5mm以下であ
ったので、目視評価でも端部の劣化が確認されなかった。
The results will be described below. As shown in Table 1, since the deterioration width of the optical wavelength conversion sheet according to Samples 4 to 7 exceeded 5 mm, deterioration of the end portion was confirmed by visual evaluation. On the other hand, in the optical wavelength conversion sheets according to Samples 1 to 4, the deterioration width was 5 mm or less, so that the deterioration of the end portion was not confirmed by visual evaluation.

1…劣化評価装置
2…バックライト装置
2A…発光面
3…輝度計
4…処理装置
5…光源
6…光拡散板
10…光波長変換シート
11…光波長変換層
16…バインダ樹脂
17…量子ドット
30…画像表示装置
40、90…バックライト装置
80…表示パネル
1 ... Deterioration evaluation device 2 ... Backlight device 2A ... Light emitting surface 3 ... Brightness meter 4 ... Processing device 5 ... Light source 6 ... Light diffusion plate 10 ... Light wavelength conversion sheet 11 ... Light wavelength conversion layer 16 ... Binder resin 17 ... Quantum dots 30 ... Image display device 40, 90 ... Backlight device 80 ... Display panel

Claims (6)

ホストマトリクスと、前記ホストマトリクス中に分散された量子ドットおよび添加剤とを含む光波長変換層を備える光波長変換シートであって、
前記量子ドットが、第1の半導体化合物からなるコアと、前記コアを覆い、かつ前記第1の半導体化合物とは異なる第2の半導体化合物からなるシェルと、前記シェルの表面に結合したリガンドとから構成され、
前記添加剤が、ホスフィン系化合物およびトリメチロールプロパントリス(3-メルカプトブチレート)の少なくともいずれかであり、
前記光波長変換層の側面が露出しており、前記光波長変換シートに対し60℃、相対湿度90%環境下に500時間放置する耐久性試験を行い、前記耐久性試験後の前記光波長変換シートにおいて、前記光波長変換シートの一方の表面に前記量子ドットによって波長変換可能な光を照射した状態で、前記光波長変換シートにおける前記一方の表面とは反対側の他方の表面の少なくとも一部の輝度分布を測定する工程と、測定された前記輝度分布に基づいて前記輝度分布を測定する際の測定間隔毎の輝度の差の分布である輝度変化量分布を得る工程と、得られた前記輝度変化量分布から極大値と、前記極大値に隣接する極小値とを検出する工程と、前記極大値が得られる位置から前記極小値が得られる位置までの幅を求め、前記幅が5mm以下であるか否かによって前記光波長変換シートの劣化を評価する工程とを備える光波長変換シートの劣化評価方法によって前記光波長変換シートの劣化を評価したときの前記幅が5mm以下である、光波長変換シート。
An optical wavelength conversion sheet including a host matrix and an optical wavelength conversion layer containing quantum dots and additives dispersed in the host matrix.
The quantum dots consist of a core made of a first semiconductor compound, a shell made of a second semiconductor compound that covers the core and is different from the first semiconductor compound, and a ligand bonded to the surface of the shell. Configured
The additive is at least one of a phosphine compound and trimethylolpropane tris (3-mercaptobutyrate).
The side surface of the light wavelength conversion layer is exposed, and a durability test is performed on the light wavelength conversion sheet in an environment of 60 ° C. and 90% relative humidity for 500 hours, and the light wavelength conversion after the durability test is performed. At least a part of the other surface of the light wavelength conversion sheet opposite to the one surface in a state where one surface of the light wavelength conversion sheet is irradiated with light whose wavelength can be converted by the quantum dots. A step of measuring the brightness distribution of the light, and a step of obtaining a brightness change amount distribution which is a distribution of the difference in brightness for each measurement interval when measuring the brightness distribution based on the measured brightness distribution. The step of detecting the maximum value and the minimum value adjacent to the maximum value from the brightness change amount distribution, and the width from the position where the maximum value is obtained to the position where the minimum value is obtained are obtained, and the width is 5 mm or less. The width when the deterioration of the optical wavelength conversion sheet is evaluated by the deterioration evaluation method of the optical wavelength conversion sheet including the step of evaluating the deterioration of the optical wavelength conversion sheet depending on whether or not the light is 5 mm or less. Wave conversion sheet.
前記光波長変換層の少なくとも片面に水分や酸素の透過を抑制するバリアフィルムをさらに備える、請求項1に記載の光波長変換シート。 The light wavelength conversion sheet according to claim 1, further comprising a barrier film that suppresses the transmission of water and oxygen on at least one surface of the light wavelength conversion layer. 前記量子ドットが前記青色光を緑色光に変換する第1の量子ドットと、前記青色光を赤色光に変換する第2の量子ドットとを含む、請求項1または2に記載の光波長変換シート。 The optical wavelength conversion sheet according to claim 1 or 2, wherein the quantum dots include a first quantum dot that converts the blue light into green light and a second quantum dot that converts the blue light into red light. .. 前記ホスフィン系化合物が、トリフェニルホスフィンである、請求項1ないし3のいずれか一項に記載の光波長変換シート。 The optical wavelength conversion sheet according to any one of claims 1 to 3, wherein the phosphine-based compound is triphenylphosphine. 光源と、
前記光源からの光を受ける請求項1ないし4のいずれか一項に記載の光波長変換シートと
を備える、バックライト装置。
Light source and
A backlight device comprising the light wavelength conversion sheet according to any one of claims 1 to 4, which receives light from the light source.
請求項5に記載のバックライト装置と、
前記バックライト装置の出光側に配置された表示パネルと
を備える、画像表示装置。
The backlight device according to claim 5 and
An image display device including a display panel arranged on the light emitting side of the backlight device.
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