JP2022058101A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2022058101A
JP2022058101A JP2021036802A JP2021036802A JP2022058101A JP 2022058101 A JP2022058101 A JP 2022058101A JP 2021036802 A JP2021036802 A JP 2021036802A JP 2021036802 A JP2021036802 A JP 2021036802A JP 2022058101 A JP2022058101 A JP 2022058101A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
modulation
group
width
sublayers
solid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2021036802A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7096387B2 (ja
Inventor
育淇 張
Yu-Chi Chang
品嘉 曾
Pin-Chia Tseng
宗儒 塗
Zong-Ru Tu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
VisEra Technologies Co Ltd
Original Assignee
VisEra Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by VisEra Technologies Co Ltd filed Critical VisEra Technologies Co Ltd
Publication of JP2022058101A publication Critical patent/JP2022058101A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7096387B2 publication Critical patent/JP7096387B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/20Filters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • H01L27/14605Structural or functional details relating to the position of the pixel elements, e.g. smaller pixel elements in the center of the imager compared to pixel elements at the periphery
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)

Abstract

【課題】 花びら状のフレアを軽減できる変調層を含む固体撮像素子を提供する。【解決手段】 固体撮像素子は、複数の光電変換素子を含む。固体撮像素子はまた複数の光電変換素子の上に配置され、複数の変調セグメントを有する変調層を含む。変調層は、異なる屈折率を有する複数の第1の副層および複数の第2の副層を含む。変調層の上面図より、複数の変調セグメントは、第1のグループ、および第1のグループに隣接した第2のグループを形成する。第1のグループの複数の第1の副層および複数の第2の副層の配置は、第2のグループの複数の第1の副層および複数の第2の副層の配置と異なる。【選択図】 図1

Description

本発明は、イメージセンサに関するものであり、特に、花びら状のフレアを軽減できる変調層を含む固体撮像素子に関するものである。
固体撮像素子(例えば、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)イメージセンサなど)は、デジタル静止画カメラ、デジタルビデオカメラなどの様々な撮像装置に広く用いられている。信号電荷は、固体撮像素子の光検知部(例えば、光電変換素子)で受光された受光量に応じて発生される。また、光検知部で発生した信号電荷が伝達されて増幅されることにより、画像信号が得られる。
従来の固体撮像素子では、回折格子の問題(例えば、表面回折)が発生しやすく、得られた画像に色分散(花びら状のフレア)およびゴースト画像が発生することがあった。従って、固体撮像素子の設計には、依然として克服しなければならないさまざま様々な課題がある。
花びら状のフレアを軽減できる変調層を含む固体撮像素子を提供する。
本開示のいくつかの実施形態では、固体撮像素子は、表面回折を防ぐことができ、それにより、固体撮像素子の光電変換素子からの画像信号の品質を向上させることができる変調層を含む。
本開示のいくつかの実施形態によれば、固体撮像素子が提供される。固体撮像素子は、複数の光電変換素子を含む。固体撮像素子は、光電変換素子の上に配置された変調層も含み、変調層は、複数の変調セグメントを有する。変調層は、異なる屈折率を有する複数の第1の副層および複数の第2の副層を含む。変調層の上面図より、変調セグメントは、第1のグループ、および第1のグループに隣接した第2のグループを形成する。第1のグループの第1の副層および第2の副層の配置は、第2のグループの第1の副層および第2の副層の配置と異なる。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、各第1の副層は、変調セグメントの1つを占有し、各第2の副層は、別の変調セグメントを占有する。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、第1の副層は斜めに配置され、第2の副層は斜めに配置される。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、各変調セグメントは、第1の副層のうちの1つと第2の副層のうちの1つを含む。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、各第1の副層は、第1の方向において第1の幅および第1の方向と異なる第2の方向において第2の幅を有し、各第2の副層は、第1の方向において第3の幅および第2の方向において第4の幅を有し、且つ各変調セグメントは、第1の方向および第2の方向の両方において変調幅を有する。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、変調幅に対する第1の幅の比率または変調幅に対する第2の幅の比率は、0.25より大きく、1より小さい。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、変調幅に対する第3の幅の比率または変調幅に対する第4の幅の比率は、0.25より大きく、1より小さい。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、変調幅に対する第1の幅の比率および変調幅に対する第2の幅の比率は、0.25より大きく、1より小さい。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、第1の副層の中心と対応する変調セグメントの中心との間の距離は、変調幅と第1の幅との間の差の0~0.5倍の間、または変調幅と第2の幅との間の差の0~0.5倍の間にある。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、第1の副層および第2の副層のうちの1つの形状は、三角形である。
いくつかの実施形態では、変調層の上面図より、第2のグループは、第1の方向において第1のグループに隣接し、変調セグメントは、第2の方向において第1のグループに隣接した第3のグループ、および第2のグループに隣接した第4のグループも形成し、第2の方向は第1の方向と異なる。
いくつかの実施形態では、第3のグループの第1の副層および第2の副層の配置は、第1のグループの第1の副層および第2の副層の配置と異なる。
いくつかの実施形態では、第4のグループの第1の副層および第2の副層の配置は、第2のグループの第1の副層および第2の副層の配置と異なる。
いくつかの実施形態では、第1のグループおよび第2のグループのそれぞれは、変調セグメントのn×mを含み、mおよびnは2以上の正の整数である。
いくつかの実施形態では、変調層の断面図において、各変調セグメントの高さに対する第1の副層の高さの比率、または各変調セグメントの高さに対する第2の副層の高さの比率は、0.5~1の間である。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子は、光電変換素子と変調層との間に配置されたカラーフィルタ層をさらに含む。
いくつかの実施形態では、固体撮像素子は、変調層上に配置された複数の集光構造をさらに含む。
本発明は、添付の図面を参照しながら以下の詳細な説明から、より完全に理解することができる。業界の標準的な慣行に従って、さまざまな特徴が縮尺どおりに描かれていない。実際、さまざまな特徴の寸法は、説明を明確にするために、任意に拡大または縮小されている。
図1は、本開示のいくつかの実施形態による固体撮像素子を示す部分断面図である。 図2は、本開示の一実施形態による変調層を示す部分上面図である。 図3は、本開示のもう1つの実施形態による変調層を示す部分上面図である。 図4は、本開示のもう1つの実施形態による変調層を示す部分上面図である。 図5は、本開示のもう1つの実施形態による変調層を示す部分上面図である。 図6は、本開示のもう1つの実施形態による変調層を示す部分上面図である。 図7は、本開示のいくつかの実施形態による固体撮像素子を示す部分断面図である。 図8は、本開示のいくつかの実施形態による固体撮像素子を示す部分断面図である。
次の開示では、異なる特徴を実施するために、多くの異なる実施形態または実施例を提供する。本開示を簡潔に説明するために、複数の要素および複数の配列の特定の実施形態が以下に述べられる。これらはもちろん単に例示するためであり、それに限定するという意図はない。例えば、下記の開示において、第1の特徴が第2の特徴の上に形成されるということは、第1と第2の特徴が直接接触して形成される複数の実施形態を含むことができ、且つ第1と第2の特徴が直接接触しないように、付加的な特徴が第1と第2の特徴間に形成される複数の実施形態を含むこともできる。
追加のステップが、例示された方法の前、間、または後に実施されてもよく、例示された方法のその他の実施形態では、いくつかのステップが置き換えられるか、または省略されてもよい。
さらに、「下の方」、「下方」、「下部」、「上」、「上方」、「上部」およびこれらに類する語のような、空間的に相対的な用語は、図において1つの要素または特徴の、別の(複数の)要素と(複数の)特徴との関係を記述するための説明を簡潔にするために用いられる。空間的に相対的な用語は、図に記載された方向に加えて、使用または操作する装置の異なる方向を包含することを意図している。装置は、他に方向づけされてもよく(90度回転、または他の方向に)、ここで用いられる空間的に相対的な記述は、同様にそれに応じて解釈され得る。
本開示では、「約」、「およそ」、および「実質的に」という用語は、一般的に、記載されている値の+/-20%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-10%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-5%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-3%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-2%を意味し、より一般的に、記載されている値の+/-1%を意味し、さらにより一般的に、記載されている値の+/-0.5%を意味する。本開示で記載されている値は、近似値である。即ち、「約」、「およそ」、および「実質的に」という用語の具体的な説明がないとき、記載されている値は、「約」、「およそ」、および「実質的に」の意味を含む。
特に定義されない限り、本明細書で使用される全ての用語(技術的及び科学的用語を含む)は、本発明が属する技術分野の当業者によって一般的に理解されるのと同じ意味を有する。さらに、一般的に使用される辞書に定義されているような用語は、関連技術の文脈における意味と一致する意味を有するものと解釈されるべきであり、本明細書で明示的に定義されていない限り、理想化された又は過度に形式的な意味で解釈されない。
本開示は、以下の実施形態において同じ構成要素の符号または文字を繰り返し用いる可能性がある。繰り返し用いる目的は、簡易化した、明確な説明を提供するためのもので、説明される様々な実施形態および/または構成の関係を限定するものではない。
固体撮像素子は、受光ユニットに入射する光の方向により、大きく2つのグループに分類できる。1つは、読み取り回路の配線層が形成された半導体基板の表面に入射する光を受光する表面照射(FSI)イメージセンサである。もう一つは、配線層が形成されていない半導体基板の裏面に入射する光を受光する裏面照射型(BSI)イメージセンサである。
図1は、本開示のいくつかの実施形態による固体撮像素子100を示す部分断面図である。図1では、固体撮像素子100のいくつかの構成要素は、簡潔にするために、省略されてもよいことに留意されたい。いくつかの実施形態では、固体撮像素子100は、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)画像センサまたは電荷結合素子(CCD)画像センサであり得るが、本開示はそれに限定されない。
図1に示されるように、例えば、ウェハまたはチップであり得る半導体基板10が提供される。図1に示すように、固体撮像素子100は、複数の光電変換素子11を含む。光電変換素子11は、例えばフォトダイオードであってもよく、半導体基板10内に形成されてもよいが、本開示はそれに限定されない。
いくつかの実施形態では、半導体基板10内の光電変換素子11は、シャロートレンチアイソレーション(STI)領域またはディープトレンチアイソレーション(DTI)領域などの分離構造(図示せず)によって互いに分離されることができる。分離構造は、エッチングプロセスを用いて半導体基板10に形成されて、トレンチを形成し、トレンチを絶縁材料または誘電体材料で充填することができる。
いくつかの実施形態では、光電変換素子11は、半導体基板10の裏面10Bに形成され、配線層15は、半導体基板10の表面10Fに形成されるが、本開示はそれに限定されない。配線層15は、複数の誘電体層に埋め込まれた複数の導電線およびビアを含む相互接続構造であることができ、固体撮像素子100に必要な様々な電気回路をさらに含むことができる。入射光は、裏面10B側に照射され、光電変換素子11で受光されることができる。
この実施形態では、入射光は、裏面10B側に照射され、光電変換素子11で受光される。図1に示された固体撮像素子100は、裏面照射型(BSI)撮像素子と呼ばれるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、固体撮像素子は、前面照射型(FSI)撮像素子であってもよい。図1に示された半導体基板10および配線層15は、FSIイメージセンサ用に反転されてもよい。FSI型撮像素子では、入射光は、表面10F側に照射され、配線層15を通過し、次いで半導体基板10の裏面10Bに形成された光電変換素子11で受光される。FSI型撮像素子を通過して光電変換素子11に到達する入射光の経路は、BSI型撮像素子を通過して光電変換素子11に到達する経路よりも遠い。
図1に示されるように、いくつかの実施形態では、高誘電率(高κ(High-κ))膜17は、半導体基板10の裏面10B上に形成され、光電変換素子11を覆うことができる。高κ膜17の材料は、酸化ハフニウム(HfO)、酸化ハフニウムタンタル(HfTaO)、酸化ハフニウムチタン(HfTiO)、酸化ハフニウムジルコニウム(HfZrO)、五酸化タンタル(Ta)、その他の適切な高κ誘電体材料、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はそれに限定されない。高κ膜17は、堆積プロセスによって形成されてもよい。堆積プロセスは、例えば、化学気相堆積(CVD)、プラズマ強化化学気相堆積(PECVD)、原子層堆積(ALD)、または別の堆積技術である。高κ膜107は、高屈折率および光吸収能力を有することができる。
図1に示されるように、いくつかの実施形態では、バッファ層19は、高κ膜17上に形成されてもよい。バッファ層19の材料は、酸化シリコン、窒化シリコン、酸窒化シリコン、その他の適切な絶縁材料、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示は、それに限定されない。バッファ層19は、堆積プロセスによって形成されてもよい。堆積プロセスは、例えば、スピンオンコーティング、化学気相堆積、流動性化学気相堆積(FCVD)、プラズマ強化化学気相堆積、物理気相堆積(PVD)、またはその他の堆積技術である。
図1に示すように、固体撮像素子100は、光電変換素子11の上に配置された変調層20を含む。図1に示された実施形態では、変調層20は、バッファ層19上に配置される。図1に示されるように、変調層20は、複数の変調セグメント20Sを有する(または分割されてもよい)。図1に示された実施形態では、各変調セグメント20Sは、1つの光電変換素子11に対応するが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、各変調セグメント20Sは、少なくとも2つの光電変換素子11に対応することができる。
さらに、変調層20は、複数の第1の副層21および複数の第2の副層22を含む。本開示の実施形態では、第1の副層21の材料および第2の副層22の材料は、透明材料を含んでもよく、第1の副層21および第2の副層22は、異なる屈折率を有する。例えば、第1の副層21の屈折率は1.5~2.0であることができ、第2の副層22の屈折率は1.0~2.0であることができるが、本開示はそれらに限定されない。変調層20は、堆積プロセスによって形成することができる。 堆積プロセスの例は上述したとおりであり、ここでは繰り返さない。
図1に示すように、固体撮像素子100は、変調層20上に配置された複数の集光構造30をさらに含むことができる。いくつかの実施形態では、集光構造30は、入射光を集光するように用いられることができる。いくつかの実施形態では、集光構造30の材料は、ガラス、エポキシ樹脂、シリコン樹脂、ポリウレタン、任意の他の適用可能な材料、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの実施形態では、集光構造30は、フォトレジストリフロー法、ホットエンボス法、任意の他の適用可能な方法、またはそれらの組み合わせによって形成されることができるが、本開示はそれらに限定されない。いくつかの実施形態では、集光構造30を形成するステップは、スピンコーティングプロセス、リソグラフィプロセス、エッチングプロセス、任意の他の適用可能なプロセス、またはそれらの組み合わせを含むことができるが、本開示はそれらに限定されない。
いくつかの実施形態では、集光構造30は、半凸レンズ構造または凸レンズ構造などのマイクロレンズ構造であることができるが、本開示はそれらに限定されない。いくつかの他の実施形態では、集光構造30は、マイクロピラミッド構造(例えば、円柱、四角錐など)であってもよく、またはマイクロ台形構造(例えば、平頂円錐、平頂四角錐など)であってもよい。あるいは、集光構造30は、屈折率勾配(gradient-index)構造であってもよい。
図1に示された実施形態では、各集光構造30は、1つの変調セグメント20Sに対応するが、本開示はそれらに限定されない。いくつかの他の実施形態では、各集光構造30は、少なくとも2つの変調セグメント20Sに対応することができる。
図2は、本開示の一実施形態による変調層20を示す部分上面図である。例えば、図1に示された変調層20は、図2のA-A’線に沿った部分断面図であることができるが、本開示はそれらに限定されない。図1および図2に示すように、変調セグメント20Sは、第1の方向(即ち、X方向)において第1のグループ20-1および第1のグループ20-1に隣接した第2のグループ20-2を形成し、第1のグループ20-1内の第1の副層21および第2の副層22の配置は、第2のグループ20-2内の第1の副層21および第2の副層22の配置と異なる。
図2に示されるように、いくつかの実施形態では(第1のグループ20-1では)、各第1の副層21は、1つの変調セグメント20Sを占有することができ、各第2の副層22は、もう1つの変調セグメント20Sを占有することができる。より詳細には、第1のグループ20-1は4つの変調セグメント20Sを含み、4つの変調セグメント20Sのうちの2つは2つの第1の副層21によって占有され、4つの変調セグメント20Sのうちのもう2つは2つの第2の副層22によって占有されるが、本開示はそれらに限定されない。いくつかの他の実施形態では、各変調セグメント20Sは、第1の副層21および第2の副層22の両方を含むことができる。
図2に示すように、いくつかの実施形態では(例えば、第1のグループ20-1では)、第1の副層21は斜めに配置されることができ、第2の副層22は斜めに配置されることができるが、本開示はそれらに限定されない。いくつかの他の実施形態では、第1の副層21が互いに隣接して配置されてもよく、第2の副層22が互いに隣接して配置されてもよい。
図2に示されるように、いくつかの実施形態では(例えば、第2のグループ20-2では)、各変調セグメント20Sは、第1の副層21の1つおよび第2の副層22の1つを含むことができる。より詳細には、第2のグループ20-2では、各第1の副層21は、第1の方向(即ち、X方向)において第1の幅21Xを有し、第1の方向と異なる第2の方向(即ち、Y方向)において第2の幅21Yを有し、各第2の副層22は、第1の方向(即ち、X方向)において第3の幅22Xを有し、第2の方向(即ち、Y方向)において第4の幅22Yを有し、且つ各変調セグメント20Sは、第1の方向(即ち、X方向)および第2の方向(即ち、Y方向)の両方において変調幅20Wを有する。
図2に示されるように、いくつかの実施形態では(例えば、第2のグループ20-2では)、変調幅20Wに対する第1の幅21Xの比率は、約0.25より大きく、約1より小さくてもよく、変調幅20Wに対する第3の幅22Xの比率は、約0.25より大きく約1より小さくてもよく、第2の幅21Y、第4の幅22Y、および変調幅20Wは同じであってもよいが、本開示はこれらに限定されない。
いくつかの実施形態では、変調層20は、固体撮像素子100のカラーフィルタ層と見なすことができるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの実施形態では、第1のグループ20-1および第2のグループ20-2は、第1の副層21および第2の副層22の異なる配置を有し、それにより、第1のグループ20-1および第2のグループ20-2がモザイクパターンを形成することができる。モザイクパターンは、表面回折の発生を防ぐことができる位相変調を起こすことができ、それにより、固体撮像素子100の光電変換素子11からの画像信号の品質を向上させることができる。いくつかの実施形態では、変調層20は、複数のモザイクパターン(即ち、複数の第1のグループ20-1および第2のグループ20-2)を有することができる。
いくつかの実施形態では、図2に示されるように、第2のグループ20-2は、第1の方向(即ち、X方向)において第1のグループ20-1に隣接し、変調セグメント20Sは、第2の方向(即ち、Y方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置された第3のグループ20-3および第2のグループ20-2に隣接して配置された第4のグループ20-4をさらに形成することができる。
いくつかの実施形態では、第3のグループ20-3内の第1の副層21および第2の副層22の配置は、第1のグループ20-1内の第1の副層21および第2の副層22の配置と異なり、且つ第2のグループ20-2内の第1の副層21および第2の副層22の配置と異なるが本開示はそれらに限定されない。例えば、第3のグループ20-3内の第1の副層21’の第1の幅21X’は、第2のグループ20-2内の第1の副層21の第1の幅21Xよりも大きくてもよいが、本開示は、それに限定されない。
いくつかの実施形態では、第4のグループ20-4内の第1の副層21および第2の副層22の配置は、第1のグループ20-1内の第1の副層21および第2の副層22の配置と異なり、且つ第2のグループ20-2内の第1の副層21および第2の副層22の配置と異なり、且つ第3のグループ20-3内の第1の副層21および第2の副層22の配置と異なるが本開示はそれらに限定されない。例えば、第4のグループ20-4内の第1の副層21”の第1の幅21X”は、第3のグループ20-3内の第1の副層21’の第1の幅21X’よりも大きくてもよいが、本開示は、それに限定されない。
同様に、いくつかの実施形態では、第1のグループ20-1、第2のグループ20-2、第3のグループ20-3、および第4のグループ20-4は、第1の副層21および第2の副層22の異なる配置を有し、それにより、第1のグループ20-1、第2のグループ20-2、第3のグループ20-3、および第4のグループ20-4がモザイクパターンを形成することができる。モザイクパターンは、表面回折の発生を防ぐことができる位相変調を起こすことができ、それにより、固体撮像素子100の光電変換素子11からの画像信号の品質を向上させることができる。いくつかの実施形態では、変調層20は、複数のモザイクパターン(即ち、複数の第1のグループ20-1、第2のグループ20-2、第3のグループ20-3、および第4のグループ20-4)を有することができる。
図3は、本開示のもう1つの実施形態による変調層20を示す部分上面図である。同様に、変調セグメント20Sは、第1のグループ20-1、第2のグループ20-2、第3のグループ20-3、および第4のグループ20-4を形成することができる。図3に示されるように、第2のグループ20-2は、第1の方向(即ち、X方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置され、第3のグループ20-3は、第2の方向(即ち、Y方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置され、且つ第4のグループ20-4は、第2の方向(即ち、Y方向)において第2のグループ20-2に隣接して配置される。
図3に示されるように、いくつかの変調セグメント20S(例えば、変調セグメント20S1)では、変調幅20Wに対する第1の幅21Xの比率は、約0.25より大きく、約1より小さくてもよく、変調幅20Wに対する第3の幅22Xの比率は、約0.25より大きく約1より小さくてもよく、第2の幅21Y、第4の幅22Y、および変調幅20Wは同じであってもよい。他の変調セグメント20S(例えば、変調セグメント20S2)では、第1の幅21X、第3の幅22X、および変調幅20Wは同じであってもよく、変調幅20Wに対する第2の幅21Yの比率は、約0.25より大きく、約1より小さくてもよく、変調幅20Wに対する第4の幅22Yの比率は、約0.25より大きく約1より小さくてもよい。
図4は、本開示のもう1つの実施形態による変調層20を示す部分上面図である。同様に、変調セグメント20Sは、第1のグループ20-1、第2のグループ20-2、第3のグループ20-3、および第4のグループ20-4を形成することができる。図4に示されるように、第2のグループ20-2は、第1の方向(即ち、X方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置され、第3のグループ20-3は、第2の方向(即ち、Y方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置され、且つ第4のグループ20-4は、第2の方向(即ち、Y方向)において第2のグループ20-2に隣接して配置される。
図4に示されるように、いくつかの変調セグメント20S(例えば、変調セグメント20S3)では、第1の副層21および/または第2の副層22は、三角形に形成されることができるが、本開示はそれに限定されない。いくつかの他の実施形態では、第1の副層21および/または第2の副層22は、他のタイプの多角形(例えば、五角形)、円形、または不規則な形状に形成されてもよい。
前述の実施形態では、第1のグループ20-1、第2のグループ20-2、第3のグループ20-3、および第4のグループ20-4は、2×2の変調セグメントをそれぞれ含むが、本開示はそれに限定されない。
図5は、本開示のもう1つの実施形態による変調層20を示す部分上面図である。この実施形態では、変調セグメント20Sは、第1のグループ20-1および第2のグループ20-2を形成することができる。図5に示されるように、第2のグループ20-2は、第2の方向(即ち、Y方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置される。
図5に示された実施形態では、第1のグループ20-1および第2のグループ20-2は、4×2の変調セグメントをそれぞれ含むが、本開示はそれに限定されない。いくつかの実施形態では、第1のグループ20-1および第2のグループ20-2(および/または第3のグループ20-3、第4のグループ20-4)のそれぞれは、変調セグメントのn×mを含むことができ、mおよびnは2以上の正の整数である。
図6は、本開示のもう1つの実施形態による変調層20を示す部分上面図である。同様に、変調セグメント20Sは、第1のグループ20-1、第2のグループ20-2、第3のグループ20-3、および第4のグループ20-4を形成することができる。図6に示されるように、第2のグループ20-2は、第1の方向(即ち、X方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置され、第3のグループ20-3は、第2の方向(即ち、Y方向)において第1のグループ20-1に隣接して配置され、且つ第4のグループ20-4は、第2の方向(即ち、Y方向)において第2のグループ20-2に隣接して配置される。
図6に示されるように、いくつかの変調セグメント20S(例えば、変調セグメント20S4)では、変調幅20Wに対する第1の幅21Xの比率と、変調幅20Wに対する第2の幅21Yの比率の両方は、約0.25より大きく約1より小さくてもよい。本実施形態では、変調セグメント20S4の第1の副層21は、長方形(例えば、第1の幅21Xは、第2の幅21Yに等しい)に形成されることができるが、本開示は、それに限定されない。
いくつかの実施形態では、第1の副層21の中心と変調セグメント20S4の中心との間の距離dは、変調幅20Wと第1の幅21Xとの間、または第2の幅21Yとの間の差の0~0.5倍の間(即ち、0<d<(20W‐21X)/2または0<d<(20W‐21Y)/2)にあることができる。即ち、変調セグメント20S4の第1の副層21の中心は、対応する光電変換素子11の中心に対して余分なシフト(extra-shift)を有することができるが、本開示はそれに限定されない。
図7は、本開示のいくつかの実施形態による固体撮像素子102を示す部分断面図である。同様に、図7では、固体撮像素子102のいくつかの構成要素は、簡潔にするために、省略されてもよい。
図7に示された固体撮像素子102は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有する。図7に示されるように、図1に示す固体撮像素子100との違いは、固体撮像素子102のいくつかの変調セグメント20S(例えば、変調セグメント20S5)において、第1の副層21の高さ21Hが変調セグメント20Sの高さ20Hより小さくてもよく、第2の副層22の高さ22が変調セグメント20Sの高さ20Hに等しくすることとしてもよいが、本開示はそれらに限定されない。いくつかの他の実施形態では、第2の副層22の高さ22Hは、変調セグメント20Sの高さ20Hより小さくてもよく、第1の副層21の高さ21Hは、変調セグメント20Sの高さ20Hに等しくすることとしてもよい。
いくつかの実施形態では、変調セグメント20Sの高さ20Hに対する第1の副層21の高さ21Hの比率(または変調セグメント20Sの高さ20Hに対する第2の副層22の高さ22Hの比率)は、約0.5~約1の間であってもよいが、本開示はそれに限定されない。
図8は、本開示のいくつかの実施形態による固体撮像素子104を示す部分断面図である。同様に、図8では、固体撮像素子104のいくつかの構成要素は、簡潔にするために、省略されてもよい。
図8に示された固体撮像素子104は、図1に示された固体撮像素子100と同様の構造を有する。図8に示されるように、図1に示す固体撮像素子100との違いは、固体撮像素子104が光電変換素子11と変調層20との間に配置されたカラーフィルタ層40をさらに含んでもよいことである。
図8に示されるように、カラーフィルタ層40は、複数のカラーフィルタセグメント40Sを有してもよい。 カラーフィルタセグメント40Sは、同じ色または異なる色に対応することができる。例えば、図8に示された実施形態では、カラーフィルタセグメント40Sのうちの1つは赤色カラーフィルタセグメント(即ち、カラーフィルタセグメント40SR)であってもよく、カラーフィルタセグメント40Sのうちの別の1つは緑色カラーフィルタセグメント(即ち、カラーフィルタセグメント40SG)であってもよいが、本開示はそれらに限定されない。いくつかの他の実施形態では、カラーフィルタセグメント40Sは、青色カラーフィルタセグメント、白色カラーフィルタセグメントなどを含むことができる。
要約すると、本開示の実施形態によれば、固体撮像素子は、変調層を含み、変調層は、変調層の上面図より少なくとも2つのグループ(例えば、第1のグループおよび第2のグループ)を形成することができる複数の変調セグメントを有する。これらのグループは、異なる屈折率を有する2つの副層の異なる配置を有することができ、それによりモザイクパターンを形成する。モザイクパターンは、表面回折の発生を防ぐことができる位相変調を起こすことができ、それにより、固体撮像素子の光電変換素子からの画像信号の品質を向上させることができる。
上述の内容は、当業者が本開示の態様をよりよく理解できるように、いくつかの実施形態の特徴を概説している。当業者は、同じ目的を実行するため、および/または本明細書に導入される実施形態の同じ利点を達成するための他のプロセスおよび構造を設計または修正するための基礎として本開示を容易に使用できることを理解するべきである。当業者はまた、そのような同等の構造が本開示の精神および範囲から逸脱せず、且つそれらは、本開示の趣旨および範囲から逸脱することなく、本明細書で様々な変更、置換、および代替を行うことができることを理解するべきである。従って、保護の範囲は請求項を通じて決定される必要がある。さらに、本開示のいくつかの実施形態が上記に開示されているが、それらは、本開示の範囲を限定することを意図していない。
本明細書全体にわたる特徴、利点、または同様の用語への言及は、本開示で実現され得る全ての特徴および利点が、本開示の任意の単一の実施形態で実現されるべきまたは実現され得ることを意味するのではない。むしろ、特徴および利点に言及する用語は、実施形態に関連して説明される特定の特徴、利点、または特性が本開示の少なくとも1つの実施形態に含まれることを意味すると理解される。従って、本明細書全体にわたる特徴および利点、ならびに類似の用語の議論は、必ずしもそうではないが、同じ実施形態を指すことがある。
さらに、1つまたは複数の実施形態では、本開示の説明された特徴、利点、および特性は、任意の適切な方法で組み合わせることとしてもよい。当業者は、本明細書の説明に基づいて、特定の実施形態の1つまたは複数の特定の特徴または利点なしに本開示を実施できることを認識するであろう。他の例では、本開示の全ての実施形態に存在しない可能性がある、追加の特徴および利点が特定の実施形態において認識され得る。
100、102、104 固体撮像素子
10 半導体基板
10B 半導体基板の裏面
10F 半導体基板の表面
11 光電変換素子
15 配線層
17 高誘電率(高κ)膜
19 バッファ層
20 変調層
20-1 第1のグループ
20-2 第2のグループ
20-3 第3のグループ
20-4 第4のグループ
20S 変調セグメント
20S1、20S2、20S3、20S4、20S5 変調セグメント
20W 変調幅
20H 高さ
21、21’、21” 第1の副層
21H 高さ
21X、21X’、21X” 第1の幅
21Y 第2の幅
22 第2の副層
22H 高さ
22X 第3の幅
22Y 第4の幅
30 集光構造
40 カラーフィルタ層
40S、40SR、40SG カラーフィルタセグメント
A-A’ 線
d 第1の副層の中心と変調セグメントの中心との間の距離
X、Y、Z 座標軸

Claims (12)

  1. 複数の光電変換素子、および
    前記複数の光電変換素子の上に配置され、複数の変調セグメントを有する変調層を含み、
    前記変調層は、異なる屈折率を有する複数の第1の副層および複数の第2の副層を含み、前記変調層の上面図より、前記複数の変調セグメントは、第1のグループ、および前記第1のグループに隣接した第2のグループを形成し、前記第1のグループの前記複数の第1の副層および前記複数の第2の副層の配置は、前記第2のグループの前記複数の第1の副層および前記複数の第2の副層の配置と異なる固体撮像素子。
  2. 前記変調層の上面図より、前記複数の第1の副層の各々は、前記複数の変調セグメントの1つを占有し、前記複数の第2の副層の各々は、前記複数の別の変調セグメントを占有し、前記複数の第1の副層は斜めに配置され、前記複数の第2の副層は斜めに配置される請求項1に記載の固体撮像素子。
  3. 前記変調層の上面図より、前記複数の変調セグメントの各々は、前記複数の第1の副層のうちの1つと前記複数の第2の副層のうちの1つを含み、前記複数の第1の副層の各々は、第1の方向において第1の幅および前記第1の方向と異なる第2の方向において第2の幅を有し、前記複数の第2の副層の各々は、前記第1の方向において第3の幅および第2の方向において第4の幅を有し、且つ前記複数の変調セグメントの各々は、前記第1の方向および前記第2の方向の両方において変調幅を有する請求項1に記載の固体撮像素子。
  4. 前記変調層の上面図より、前記変調幅に対する前記第1の幅の比率または前記変調幅に対する前記第2の幅の比率は、0.25より大きく、1より小さく、前記変調幅に対する前記第3の幅の比率または前記変調幅に対する前記第4の幅の比率は、0.25より大きく、1より小さく、または前記変調幅に対する前記第1の幅の比率および前記変調幅に対する前記第2の幅の比率の両方は、0.25より大きく、1より小さい請求項3に記載の固体撮像素子。
  5. 前記変調層の上面図より、前記複数の第1の副層のうちの1つの中心と前記変調セグメントのうちの対応する1つの中心との間の距離は、前記変調幅と前記第1の幅との間の差の0~0.5倍の間、または前記変調幅と前記第2の幅との間の差の0~0.5倍の間にある請求項3に記載の固体撮像素子。
  6. 前記変調層の上面図より、前記複数の変調セグメントのそれぞれは、前記複数の第1の副層のうちの1つ、および前記複数の第2の副層のうちの1つを含み、前記複数の第1の副層および前記複数の第2の副層のうちの1つの形状は、三角形である請求項1に記載の固体撮像素子。
  7. 前記変調層の上面図より、前記第2のグループは、第1の方向において前記第1のグループに隣接し、前記複数の変調セグメントは、第2の方向において第1のグループに隣接した第3のグループ、および第2のグループに隣接した第4のグループもさらに形成し、前記第2の方向は前記第1の方向と異なり、前記第3のグループの前記複数の第1の副層および前記複数の第2の副層の配置は、前記第1のグループの前記複数の第1の副層および前記複数の第2の副層の配置と異なる請求項1に記載の固体撮像素子。
  8. 前記変調層の上面図より、前記第2のグループは、第1の方向において前記第1のグループに隣接し、前記複数の変調セグメントは、第2の方向において第1のグループに隣接した第3のグループ、および第2のグループに隣接した第4のグループもさらに形成し、前記第2の方向は前記第1の方向と異なり、前記第4のグループの前記複数の第1の副層および前記複数の第2の副層の配置は、前記第2のグループの前記複数の第1の副層および前記複数の第2の副層の配置と異なる請求項1に記載の固体撮像素子。
  9. 前記第1のグループおよび前記第2のグループのそれぞれは、前記複数の変調セグメントのn×mを含み、mおよびnは2以上の正の整数である請求項1に記載の固体撮像素子。
  10. 前記変調層の断面図において、前記複数の変調セグメントのそれぞれの高さに対する前記複数の第1の副層のうちの1つの高さの比率、または前記複数の変調セグメントのそれぞれの高さに対する前記複数の第2の副層のうちの1つの高さの比率は、0.5~1の間である請求項1に記載の固体撮像素子。
  11. 前記複数の光電変換素子と前記変調層との間に配置されたカラーフィルタ層をさらに含む請求項1に記載の固体撮像素子。
  12. 前記変調層上に配置された複数の集光構造をさらに含む請求項1に記載の固体撮像素子。
JP2021036802A 2020-09-30 2021-03-09 固体撮像素子 Active JP7096387B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US17/039,707 US11710754B2 (en) 2020-09-30 2020-09-30 Solid-state image sensor including modulation layer decreasing petal flares
US17/039,707 2020-09-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022058101A true JP2022058101A (ja) 2022-04-11
JP7096387B2 JP7096387B2 (ja) 2022-07-05

Family

ID=80821448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021036802A Active JP7096387B2 (ja) 2020-09-30 2021-03-09 固体撮像素子

Country Status (5)

Country Link
US (1) US11710754B2 (ja)
JP (1) JP7096387B2 (ja)
KR (1) KR102492595B1 (ja)
CN (1) CN114335035A (ja)
TW (1) TWI775378B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023123331A (ja) * 2022-02-24 2023-09-05 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 固体撮像素子

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11984463B2 (en) * 2021-09-01 2024-05-14 Omnivision Technologies, Inc. Flare-reducing image sensor
US20240105744A1 (en) * 2022-09-28 2024-03-28 Visera Technologies Company Ltd. Image sensor

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018505617A (ja) * 2015-01-29 2018-02-22 ウィリアム マーシュ ライス ユニバーシティWilliam Marsh Rice University 一つ以上の減衰層を有するイメージセンサを使用したレンズ無しイメージングシステム
WO2019189099A1 (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 ソニー株式会社 撮像素子、撮像装置、並びに、情報処理方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2850950B2 (ja) * 1996-01-19 1999-01-27 日本電気株式会社 導波型光デバイス
JP5609119B2 (ja) * 2009-01-21 2014-10-22 ソニー株式会社 固体撮像装置、その製造方法および撮像装置
JP5710526B2 (ja) * 2012-03-14 2015-04-30 株式会社東芝 固体撮像装置、及び固体撮像装置の製造方法
US9224782B2 (en) 2013-04-19 2015-12-29 Semiconductor Components Industries, Llc Imaging systems with reference pixels for image flare mitigation
US9281333B2 (en) * 2014-05-01 2016-03-08 Visera Technologies Company Limited Solid-state imaging devices having light shielding partitions with variable dimensions
US10686000B1 (en) * 2019-04-12 2020-06-16 Visera Technologies Company Limited Solid-state imaging device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018505617A (ja) * 2015-01-29 2018-02-22 ウィリアム マーシュ ライス ユニバーシティWilliam Marsh Rice University 一つ以上の減衰層を有するイメージセンサを使用したレンズ無しイメージングシステム
WO2019189099A1 (ja) * 2018-03-26 2019-10-03 ソニー株式会社 撮像素子、撮像装置、並びに、情報処理方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2023123331A (ja) * 2022-02-24 2023-09-05 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 固体撮像素子
JP7458449B2 (ja) 2022-02-24 2024-03-29 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 固体撮像素子

Also Published As

Publication number Publication date
US11710754B2 (en) 2023-07-25
TW202215081A (zh) 2022-04-16
KR20220044072A (ko) 2022-04-06
CN114335035A (zh) 2022-04-12
JP7096387B2 (ja) 2022-07-05
KR102492595B1 (ko) 2023-01-30
TWI775378B (zh) 2022-08-21
US20220102412A1 (en) 2022-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7096387B2 (ja) 固体撮像素子
CN103035659B (zh) 固态摄像装置、制造固态摄像装置的方法以及电子设备
TWI691065B (zh) 影像感測裝置、影像感測系統及其形成方法
JP2021145121A (ja) 固体撮像素子
JP6195596B2 (ja) 固体撮像素子
JP2007181209A (ja) イメージセンサ及びその製造方法
JP2004047682A (ja) 固体撮像装置
JP2022077951A (ja) 固体撮像素子
US20050281942A1 (en) Method for forming microlens of image sensor
JP7554698B2 (ja) イメージセンサおよびその形成方法
US7449359B2 (en) Fabricating method of CMOS image sensor
JP2007147738A (ja) カラーフィルタ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子、およびその製造方法
US20060138490A1 (en) CMOS image sensor and method for fabricating the same
TWI773209B (zh) 固態成像裝置
JP7250856B2 (ja) 固体撮像素子
KR102685050B1 (ko) 솔리드-스테이트 이미지 센서
KR20070044626A (ko) 이미지센서 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210309

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220322

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20220524

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20220614

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20220623

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7096387

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150