JP2022011817A - ステージ装置、露光装置及び物品の製造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 112
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 58
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 12
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
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- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70216—Mask projection systems
- G03F7/70358—Scanning exposure, i.e. relative movement of patterned beam and workpiece during imaging
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70758—Drive means, e.g. actuators, motors for long- or short-stroke modules or fine or coarse driving
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/027—Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
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Abstract
Description
図10は、比較例としての基板ステージ500Aの全体的な構成を示す図である。ステージベース505の上には、XYスライダ504がX方向及びY方向に移動可能(滑動自在)に設けられている。XYスライダ504の上には、Xスライダ502がX方向に移動可能(滑動自在)に設けられている。Xスライダ502の上には、Yスライダ503がY方向に移動可能(滑動自在)に設けられている。また、Xスライダ502及びYスライダ503の両側には、粗動リニアモータ506が設けられている。粗動リニアモータ506は、Xスライダ502及びYスライダ503のそれぞれをX方向及びY方向に移動させる。Xスライダ502、Yスライダ503、XYスライダ504及び粗動リニアモータ506は、構造体としての微動ベース501-2を移動させる移動部として機能する。
図2、図3及び図4を参照して、第1実施形態における基板ステージ500を説明する。図2は、第1実施形態における基板ステージ500の全体的な構成を示す図であって、微動天板101-1を取り外した状態を示している。図2を参照するに、基板ステージ500の中央部に微動電磁石101-3が設けられている。第1実施形態における基板ステージ500において、微動電磁石101-3を除く構成は比較例と同じであるため、第1実施形態では、微動電磁石101-3について説明する。
図5、図6及び図7を参照して、第2実施形態における基板ステージ500を説明する。図5は、第2実施形態における基板ステージ500の全体的な構成を示す図であって、微動天板を取り外した状態を示している。図5を参照するに、基板ステージ500の中央部に微動ステージ201が設けられている。第2実施形態における基板ステージ500において、微動ステージ201を除く構成は比較例と同じであるため、第2実施形態では、微動ステージ201について説明する。
Claims (12)
- 原版と基板とを走査方向に相対的に走査しながら前記基板を露光する走査型の露光装置に用いられ、前記基板を前記走査方向に走査するステージ装置であって、
前記基板を保持して移動するステージと、
第1電磁石を含み、前記ステージに対して、前記第1電磁石で発生する力を、前記ステージを前記走査方向に加速させる力として与える第1ユニットと、
第2電磁石を含み、前記ステージに対して、前記第2電磁石で発生する力を、前記ステージを前記走査方向に交差する方向に加速させる力として与える第2ユニットと、
前記第1ユニット及び前記第2ユニットが設けられた構造体を移動させる移動部と、を有し、
前記第2電磁石のコアを、前記走査方向に交差する方向を法線とする平面に投影して得られる投影面積が、前記第1電磁石のコアを、前記走査方向を法線とする平面に投影して得られる投影面積よりも大きいことを特徴とするステージ装置。 - 前記第2電磁石のコアを、前記走査方向に交差する方向を法線とする平面に投影して得られる投影面積は、前記第1電磁石のコアを、前記走査方向を法線とする平面に投影して得られる投影面積の1.1倍以上の大きさを有することを特徴とする請求項1に記載のステージ装置。
- 原版と基板とを走査方向に相対的に走査しながら前記基板を露光する走査型の露光装置に用いられ、前記基板を前記走査方向に走査するステージ装置であって、
前記基板を保持して移動するステージと、
第1リニアモータを含み、前記ステージに対して、前記第1リニアモータで発生する力を、前記ステージを前記走査方向に加速させる力として与える第1ユニットと、
第2リニアモータを含み、前記ステージに対して、前記第2リニアモータで発生する力を、前記ステージを前記走査方向に交差する方向に加速させる力として与える第2ユニットと、
前記第1ユニット及び前記第2ユニットが設けられた構造体を移動させる移動部と、を有し、
前記第2リニアモータのコイル及び磁石のそれぞれの体積の総和が、前記第1リニアモータのコイル及び磁石のそれぞれの体積の総和よりも大きいことを特徴とするステージ装置。 - 前記第2リニアモータのコイル及び磁石のそれぞれの体積の総和は、前記第1リニアモータのコイル及び磁石のそれぞれの体積の総和の1.1倍以上であることを特徴とする請求項3に記載のステージ装置。
- 前記ステージの前記走査方向の位置を制御する第3ユニットと、
前記ステージの前記走査方向に交差する方向の位置を制御する第4ユニットと、
を更に有することを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載のステージ装置。 - 前記ステージの加速度をSA[G]とし、前記ステージの走査速度をSV[m/s]とすると、
SA/SV > 4.5
を満たすことを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか1項に記載のステージ装置。 - 原版と基板とを走査方向に相対的に走査しながら前記基板を露光する走査型の露光装置に用いられ、前記基板を前記走査方向に走査するステージ装置であって、
前記基板を保持して移動するステージと、
前記ステージを前記走査方向に移動させる推力を発生する第1アクチュエータと、
前記ステージを前記走査方向に交差する方向に移動させる推力を発生する第2アクチュエータと、を有し、
前記第2アクチュエータで発生する最大推力は、前記第1アクチュエータで発生する最大推力よりも大きいことを特徴とするステージ装置。 - 原版と基板とを走査方向に相対的に走査しながら前記基板を露光する走査型の露光装置に用いられ、前記基板を前記走査方向に走査するステージ装置であって、
前記基板を保持して移動するステージと、
前記ステージを前記走査方向に移動させる推力を発生する第1アクチュエータと、
前記ステージを前記走査方向に交差する方向に移動させる推力を発生する第2アクチュエータと、を有し、
前記第2アクチュエータで発生する最大推力を前記走査方向に交差する方向の可動質量で割った値は、前記第1アクチュエータで発生する最大推力を前記走査方向の可動質量で割った値よりも大きいことを特徴とするステージ装置。 - 原版と基板とを走査方向に相対的に走査しながら前記基板を露光する走査型の露光装置に用いられ、前記基板を前記走査方向に走査するステージ装置であって、
前記基板を保持して移動するステージと、
前記ステージに対して、前記ステージを前記走査方向に加速させる力を与える第1ユニットと、
前記ステージに対して、前記ステージを前記走査方向に交差する方向に加速させる力を与える第2ユニットと、
前記第1ユニット及び前記第2ユニットが設けられた構造体を移動させる移動部と、を有し、
前記第2ユニットのサイズは、前記第1ユニットのサイズよりも大きいことを特徴とするステージ装置。 - 前記走査方向と前記走査方向に交差する方向とは、直交していることを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか1項に記載のステージ装置。
- 原版と基板とを走査方向に相対的に走査しながら前記基板を露光する走査型の露光装置であって、
前記基板を前記走査方向に走査する請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載のステージ装置と、
前記ステージ装置によって前記走査方向に走査されている前記基板に前記原版のパターンを投影する投影光学系と、
を有することを特徴とする露光装置。 - 請求項11に記載の露光装置を用いて基板を露光する工程と、
露光された前記基板を現像する工程と、
現像された前記基板から物品を製造する工程と、
を有することを特徴とする物品の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020113193A JP7531333B2 (ja) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | ステージ装置、露光装置及び物品の製造方法 |
TW110120381A TWI858262B (zh) | 2020-06-30 | 2021-06-04 | 載台裝置、曝光裝置及物品之製造方法 |
KR1020210077803A KR20220002100A (ko) | 2020-06-30 | 2021-06-16 | 스테이지 장치, 노광 장치 및 물품의 제조 방법 |
CN202110716757.0A CN113867102A (zh) | 2020-06-30 | 2021-06-28 | 载置台装置、曝光装置以及物品的制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020113193A JP7531333B2 (ja) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | ステージ装置、露光装置及び物品の製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022011817A true JP2022011817A (ja) | 2022-01-17 |
JP2022011817A5 JP2022011817A5 (ja) | 2024-02-29 |
JP7531333B2 JP7531333B2 (ja) | 2024-08-09 |
Family
ID=78990033
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020113193A Active JP7531333B2 (ja) | 2020-06-30 | 2020-06-30 | ステージ装置、露光装置及び物品の製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7531333B2 (ja) |
KR (1) | KR20220002100A (ja) |
CN (1) | CN113867102A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023164060A (ja) * | 2022-04-28 | 2023-11-10 | キヤノン株式会社 | 電磁装置、位置合わせ装置および物品製造方法 |
CN114999991A (zh) * | 2022-06-30 | 2022-09-02 | 北京华卓精科科技股份有限公司 | 超精密运动台的片爪 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004260116A (ja) | 2003-02-27 | 2004-09-16 | Nikon Corp | ステージ装置、露光装置、及びデバイス製造方法 |
JP2013201801A (ja) | 2012-03-23 | 2013-10-03 | Nikon Corp | 平面モータ及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
JP6449875B2 (ja) | 2013-10-29 | 2019-01-09 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
-
2020
- 2020-06-30 JP JP2020113193A patent/JP7531333B2/ja active Active
-
2021
- 2021-06-16 KR KR1020210077803A patent/KR20220002100A/ko not_active Application Discontinuation
- 2021-06-28 CN CN202110716757.0A patent/CN113867102A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220002100A (ko) | 2022-01-06 |
JP7531333B2 (ja) | 2024-08-09 |
TW202219646A (zh) | 2022-05-16 |
CN113867102A (zh) | 2021-12-31 |
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