JP2021515495A - 時間インターリーブされるアナログ−デジタル変換器における、チョッピングスイッチの時間スキュー校正 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 31
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 34
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 19
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 101150017921 DDIT3 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 230000007123 defense Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
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- H03M1/0634—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale
- H03M1/0656—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal
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- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
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- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/08—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of noise
- H03M1/0836—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of noise of phase error, e.g. jitter
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- H—ELECTRICITY
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- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1009—Calibration
- H03M1/1014—Calibration at one point of the transfer characteristic, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
- H03M1/1023—Offset correction
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- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/1205—Multiplexed conversion systems
- H03M1/121—Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel
- H03M1/1215—Interleaved, i.e. using multiple converters or converter parts for one channel using time-division multiplexing
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- H—ELECTRICITY
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- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
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Abstract
Description
本発明は、アメリカ国防高等研究計画局により認可された契約番号HR0011−16−3−0004の下で部分的に政府支援を伴ってなされた。この発明において、政府は、一定の権利を有する。
本開示の例は、一般的に、電子回路に関し、特に、時間インターリーブされるアナログ−デジタル変換器(ADC:analog-to-digital converter)における、チョッピングスイッチの時間スキュー校正に関する。
時間インターリーブは、アナログ−デジタル変換回路(ADC)をサンプリングする無線周波数(RF:radio frequency)において、ほぼ例外なく用いられる。時間インターリーブされるADCは、サンプリング点と並列に数個のADCチャネルを例示し、当該サンプリング点は、当該チャネルにわたって一様に広げられる。主な利点は、全体のADCサンプリングレートが、単一のチャネルを用いるときよりもN倍高いことである(ここで、Nはチャネルの数である)。
時間インターリーブされるアナログ−デジタル変換器における、チョッピングスイッチの時間スキュー校正のための技法が開示される。ある例において、時間スキュー校正回路は、複数の第1の回路を含み、各第1の回路は、第1の累算器および第2の累算器を含み、時間スキュー校正回路は、さらに、複数の第2の回路を含み、各第2の回路は、第1の累算器および第2の累算器の出力に結合される第1の加算器と、第1の累算器および第2の累算器の出力に結合される第2の加算器と、第1の加算器の出力に結合される第3の加算器と、第3の加算器の出力に結合される第1の乗算器と、第2の加算器の出力に結合される第2の乗算器と、第1および第2の乗算器の出力に結合される第3の累算器と、第1および第2の乗算器の出力に結合される第4の累算器と、第1および第2の累算器の出力、ならびに第3の加算器の入力に結合される平均回路とを含む。
上述された特徴が詳細に理解され得るような方法で、上記において簡潔に要約された、より特定的な説明が、例示的な実施形態への参照によりなされる。実施形態のいくつかは、添付される図面に例示される。しかしながら、添付される図面は、典型的な例示的な実施形態のみを例示するため、その範囲の限定をするとは考えられないことに注意されたい。
図を参照して、以下、種々の特徴が説明される。図は、正寸で描かれているか、または正寸で描かれていないことがあり、同様の構造または機能の要素は、図面全体を通じて同様の参照番号により表されることに注意されるべきである。図は、特徴の説明を容易にすることを意図されているにすぎないことに注意されるべきである。図は、請求される発明の排他的な説明として、または、請求される発明の範囲に関する限定として意図されていない。加えて、示される例は、示される全ての態様または利点を有する必要はない。特定の例と併せて説明される態様または利点は、必ずしもその例に限定されず、そのように例示されていない場合、またはそのように明確に説明されていない場合であっても、任意の他の例において実施され得る。
Claims (15)
- 時間スキュー校正回路であって、前記時間スキュー校正回路は、
複数の第1の回路を備え、各前記第1の回路は、第1の累算器および第2の累算器を含み、
前記時間スキュー校正回路は、さらに、
複数の第2の回路を備え、各前記第2の回路は、
前記第1の累算器および前記第2の累算器の出力に結合される第1の加算器と、
前記第1の累算器および前記第2の累算器の前記出力に結合される第1の減算器と、
前記第1の加算器の出力および前記第1の減算器の出力を組み合わせるように構成されている決定回路とを含む、時間スキュー校正回路。 - 前記決定回路は、
前記第1の加算器の出力に結合される第2の減算器と、
前記第2の減算器の出力に結合される第1の乗算器と、
前記第1の減算器の出力に結合される第2の乗算器とを備える、請求項1に記載の時間スキュー校正回路。 - 前記決定回路は、
前記第1および第2の乗算器の出力に結合される第3の累算器と、
前記第1および第2の乗算器の前記出力に結合される第4の累算器とをさらに備える、請求項2に記載の時間スキュー校正回路。 - 前記複数の第1の回路の各々は、
第3の減算器と、
前記第3の減算器の出力に結合される絶対値回路と、
前記絶対値回路の出力に結合される第3の乗算器と、
前記第3の乗算器の出力に結合される入力、ならびに前記第1および第2の累算器の入力に結合される出力を有するデマルチプレクサとをさらに含む、請求項2または3に記載の時間スキュー校正回路。 - 前記第1および第2の累算器の前記出力と、前記第2の減算器の入力とに結合される平均回路をさらに備える、請求項2〜4のいずれか1項に記載の時間スキュー校正回路。
- 前記複数の第2の回路の各々は、
前記第3および第4の累算器の出力にそれぞれ結合される、第1および第2の丸め回路を備える、請求項1〜5のいずれか1項に記載の時間スキュー校正回路。 - 前記複数の第2の回路の出力にそれぞれ結合される複数の訂正回路をさらに備える、請求項1〜6のいずれか1項に記載の時間スキュー校正回路。
- アナログ−デジタル変換器(ADC:An analog-to-digital converter)であって、前記アナログ−デジタル変換器は、
各々がチョッピング回路を含む複数のチャネルと、
前記複数のチャネルに結合される時間スキュー校正回路とを備え、
前記時間スキュー校正回路は、
複数の第1の回路を備え、各前記第1の回路は、第1の累算器と第2の累算器とを含み、
前記時間スキュー校正回路は、さらに、
複数の第2の回路を備え、各前記第2の回路は、
前記第1の累算器および前記第2の累算器の出力に結合される第1の加算器と、
前記第1の累算器および前記第2の累算器の前記出力に結合される第1の減算器と、
前記第1の加算器の出力および前記第1の減算器の出力を組み合わせるように構成されている決定回路とを含む、時間スキュー校正回路。 - 前記決定回路は、
前記第1の加算器の出力に結合される第2の減算器と、
前記第2の減算器の出力に結合される第1の乗算器と、
前記第1の減算器の出力に結合される第2の乗算器とを備える、請求項8に記載のアナログ−デジタル変換器。 - 前記決定回路は、
前記第1および第2の乗算器の出力に結合される第3の累算器と、
前記第1および第2の乗算器の前記出力に結合される第4の累算器とをさらに備える、請求項9に記載のアナログ−デジタル変換器。 - 時間インターリーブされるアナログ−デジタル変換器(ADC)のための時間スキュー校正の方法であって、前記方法は、
時間スキュー校正観測窓への、前記アナログ−デジタル変換器のチャネルにおけるチョッピング回路に適用されるチョッピングシーケンスを同期させることと、
前記時間スキュー校正観測窓の中の途中で前記チョッピングシーケンスの極性を反転させることと、
前記アナログ−デジタル変換器の前記チャネルの出力に関する、二重ループの時間スキュー校正を実行することとを含む、方法。 - 前記チョッピングシーケンスを同期させることは、前記時間スキュー校正観測窓において、整数回数、前記チョッピングシーケンスを繰り返すことを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記二重ループの時間スキュー校正を実行することは、複数の第1の回路および複数の第2の回路を通じて、前記チャネルの各々における前記チョッピング回路の出力信号を処理することを含み、前記複数の第1の回路の各々は、第1の累算器および第2の累算器を含み、前記複数の第2の回路の各々は、前記第1の累算器および前記第2の累算器の出力に結合される第1の加算器と、前記第1の累算器および前記第2の累算器の前記出力に結合される第1の減算器と、前記第1の加算器の出力および前記第1の減算器の出力を組み合わせるように構成されている決定回路とを含む、請求項11または12に記載の方法。
- 前記決定回路は、前記第1の加算器の出力に結合される第2の減算器と、前記第2の減算器の出力に結合される第1の乗算器と、前記第1の減算器の出力に結合される第2の乗算器とを備える、請求項13に記載の方法。
- 前記決定回路は、前記第1および第2の乗算器の出力に結合される第3の累算器と、前記第1および第2の乗算器の前記出力に結合される第4の累算器とをさらに備える、請求項14に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US15/914,364 US10291247B1 (en) | 2018-03-07 | 2018-03-07 | Chopping switch time-skew calibration in time-interleaved analog-to-digital converters |
US15/914,364 | 2018-03-07 | ||
PCT/US2019/021052 WO2019173540A1 (en) | 2018-03-07 | 2019-03-06 | Chopping switch time-skew calibration in time-interleaved analog-to-digital converters |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021515495A true JP2021515495A (ja) | 2021-06-17 |
JP7374109B2 JP7374109B2 (ja) | 2023-11-06 |
Family
ID=65818684
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020546321A Active JP7374109B2 (ja) | 2018-03-07 | 2019-03-06 | 時間インターリーブされるアナログ-デジタル変換器における、チョッピングスイッチの時間スキュー校正 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10291247B1 (ja) |
EP (1) | EP3738212A1 (ja) |
JP (1) | JP7374109B2 (ja) |
KR (1) | KR20200128724A (ja) |
CN (1) | CN111869110A (ja) |
WO (1) | WO2019173540A1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113296064A (zh) * | 2021-04-13 | 2021-08-24 | 武汉卓目科技有限公司 | 一种基于Frank码的SAR雷达接收通道时延校准方法及系统 |
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- 2019-03-06 CN CN201980017446.6A patent/CN111869110A/zh active Pending
- 2019-03-06 EP EP19712415.9A patent/EP3738212A1/en active Pending
- 2019-03-06 WO PCT/US2019/021052 patent/WO2019173540A1/en active Search and Examination
- 2019-03-06 JP JP2020546321A patent/JP7374109B2/ja active Active
- 2019-03-06 KR KR1020207028668A patent/KR20200128724A/ko active IP Right Grant
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CN111869110A (zh) | 2020-10-30 |
KR20200128724A (ko) | 2020-11-16 |
EP3738212A1 (en) | 2020-11-18 |
WO2019173540A1 (en) | 2019-09-12 |
US10291247B1 (en) | 2019-05-14 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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