JP2021513730A - 計器内の荷電粒子の生成を確認するための方法、および関連する計器 - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2018年2月13日に提出された、米国仮出願第62/629,854号の利益およびその優先権を主張し、その内容は、あたかも本明細書に完全に列挙されるかのように、参照により本明細書に組み込まれている。
Claims (24)
- 質量分析計内の荷電粒子の生成を確認するための方法であって、
荷電粒子光学系がチャンバ内にある間、前記質量分析計の前記荷電粒子光学系への電気接続を提供することと、
前記チャンバ内に生成される荷電粒子電流に、インピーダンスを含む電気部品を結合することと、
前記荷電粒子電流に対する前記電気部品による電気的な応答を測定することと
を含む方法。 - 前記荷電粒子光学系への前記電気接続を提供することは、
前記荷電粒子光学系の隣り合うイオン光学スクリーンもしくはプレートを接地すること、または当該イオン光学スクリーンもしくはプレートに電圧を印加することを含む、請求項1に記載の方法。 - 前記電気部品は、前記チャンバの外にある抵抗器を備え、
前記インピーダンスは、10キロオーム(kΩ)から100メガオーム(MΩ)の間の前記抵抗器の抵抗値を含み、
前記荷電粒子光学系の隣り合うイオン光学スクリーンもしくはプレートを接地すること、または当該イオン光学スクリーンもしくはプレートに前記電圧を印加することは、
前記荷電粒子光学系の抽出プレートを接地することと、
バックバイアスプレートが前記チャンバ内にある間、および前記抵抗器が前記チャンバの外にある間、前記抵抗器の第1の側を前記荷電粒子光学系の前記バックバイアスプレートに接続することと、
電源が前記チャンバの外にある間、前記電源を前記抵抗器の第2の側に接続することと、
前記電源が前記チャンバの外にある間、前記電源を介して前記電圧を印加することと
を含む、請求項2に記載の方法。 - 前記抵抗器の前記抵抗値は、100kΩから100MΩの間である、請求項3に記載の方法。
- 前記抽出プレートおよび前記バックバイアスプレート以外の前記荷電粒子光学系の構成要素に取り付けられたケーブルを切り離すことをさらに含む、請求項3または4に記載の方法。
- 前記抽出プレートが接地されている間、前記抵抗器の前記第1の側が前記バックバイアスプレートに、および前記抵抗器の前記第2の側が前記電源にそれぞれ接続されている間、ならびに前記電源が前記電圧を印加している間、前記チャンバ内にある試料プレートに向けて前記質量分析計のレーザーを発射して前記チャンバ内で前記荷電粒子電流を生成することをさらに含む、請求項3から5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記レーザーを発射することは、前記試料プレート上の試料に向けて前記レーザーを発射することを含み、
前記方法は、
いかなる試料も含まない空のスライドに向けて前記レーザーを発射することと、
前記レーザーを前記空のスライドに向けて発射することによって生成される測定可能な電流が前記抵抗器を通過するかどうかを判定することと
をさらに含む、請求項6に記載の方法。 - 前記荷電粒子光学系の下流の荷電粒子光学装置構成要素を取り外すことをさらに含み、前記荷電粒子電流に前記電気部品を結合することは、前記下流の荷電粒子光学装置構成要素が取り外されている間に行われる、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記方法は、前記質量分析計によって信号が生成されていないことを判定することをさらに含み、
前記荷電粒子光学系への前記電気接続を提供することは、前記質量分析計によって信号が生成されていないことの前記判定に応じて、前記電気接続のこれ以前の第2の状態とは異なる前記電気接続の第1の状態を提供することを含む、請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。 - 前記荷電粒子電流は、測定されたイオン電流を含み、
前記方法は、前記測定されたイオン電流を所定の値と比較することによって、前記チャンバ内に生成されるイオンの分量を判定することをさらに含む、請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。 - 前記荷電粒子電流は、前記チャンバ内で生成された電子ビームの電流を含む、請求項1から10のいずれか一項に記載の方法。
- 結合することは、前記チャンバ内にある標的に向けて前記質量分析計のレーザーを発射して前記荷電粒子電流を生成することを含み、
前記方法は、前記荷電粒子電流に対する前記電気部品による前記電気的な応答の前記測定に応じて、前記レーザーのレーザーエネルギーおよび/またはレーザー焦点を調整することをさらに含む、請求項1から11のいずれか一項に記載の方法。 - 前記電気接続を提供することは、前記チャンバが真空圧下にある間に行われる、請求項1から12のいずれか一項に記載の方法。
- 質量分析計内のイオン化を確認するための方法であって、
第1のプレートまたはスクリーンが真空圧下にあるチャンバ内にある間、前記質量分析計のイオン光学系の前記第1のプレートまたはスクリーンを接地することと、
第2のプレートまたはスクリーンが前記チャンバ内にある間、前記イオン光学系の前記第2のプレートまたはスクリーンに、インピーダンスを含む電気部品の第1の側を接続することと、
電源が前記チャンバの外にある間、前記電源を前記電気部品の第2の側に接続することと、
前記電源が前記チャンバの外にある間、前記電源を介して電圧を印加することと、
前記第1のプレートまたはスクリーンが接地されている間、前記電気部品の前記第1の側が第2のプレートまたはスクリーンに、および前記電気部品の前記第2の側が前記電源にそれぞれ接続されている間、ならびに前記電源が前記電圧を印加している間、前記質量分析計の試料プレートに向けて前記質量分析計のレーザーを発射することと、
前記試料プレートが前記チャンバ内にある間、前記電気部品を前記試料プレート上にある試料から生成されるイオン電流に結合することと
を含む方法。 - 前記電気部品は、前記チャンバの外にある抵抗器を備え、
前記インピーダンスは、100キロオーム(kΩ)から100メガオーム(MΩ)の間の前記抵抗器の抵抗値を含み、
前記方法は、前記質量分析計によって信号が生成されていないことを判定することをさらに含み、
前記第1のプレートまたはスクリーンは抽出プレートを備え、
前記第2のプレートまたはスクリーンはバックバイアスプレートを備え、
前記第1の側を接地すること、および接続することは、前記質量分析計によって信号が生成されていないことの前記判定に応じて行われる、請求項14に記載の方法。 - 前記イオン電流に対する前記電気部品による第1の電気的な応答を測定することと、
いかなる試料も含まない空のスライドに向けて前記レーザーを発射することと、
前記空のスライドに向けた前記レーザーの前記発射に対する前記電気部品による第2の電気的な応答を測定すること、または第2の電気的な応答がないことを検出することと
をさらに含む、請求項14または15に記載の方法。 - 前記イオン電流を所定の値と比較することによって、生成されるイオンの分量を判定することをさらに含む、請求項14から16のいずれか一項に記載の方法。
- チャンバであって、
第1のプレートまたはスクリーンおよび第2のプレートまたはスクリーンを備えるイオン光学系、ならびに
試料プレート
を備えるチャンバと、
前記チャンバの外にある電源と、
前記第2のプレートまたはスクリーンと前記電源との間に接続可能である電気部品と
を備え、前記電気部品は、インピーダンスを含み、前記チャンバ内に生成された荷電粒子電流を受け取るように構成される、質量分析計。 - 前記電気部品は、前記チャンバの外にある抵抗器を備え、前記インピーダンスは、10キロオーム(kΩ)から100メガオーム(MΩ)の間の前記抵抗器の抵抗値を含む、請求項18に記載の質量分析計。
- 前記抵抗器の第1の側が前記第2のプレートまたはスクリーンに、および前記抵抗器の第2の側が前記電源にそれぞれ接続されている間、ならびに前記電源が電圧を印加している間、前記試料プレートに向けて発射するように構成されたレーザーをさらに備え、
前記抵抗器は、前記試料プレート上にある試料から生成されるイオン電流を受け取るように構成されており、
前記抵抗器の前記抵抗値は、100kΩから100MΩの間の所定の値を含み、
前記第1のプレートまたはスクリーンは抽出プレートを備え、前記第2のプレートまたはスクリーンはバックバイアスプレートを備える、請求項19に記載の質量分析計。 - 前記抽出プレートを接地に接続することが可能な短絡プラグをさらに備え、前記レーザーは、前記抽出プレートが接地されている間、前記試料プレートに向けて発射するように構成されている、請求項20に記載の質量分析計。
- 前記抽出プレートを切り替え式に接地に接続することが可能なスイッチをさらに備え、
前記スイッチは前記チャンバの外にあり、
前記レーザーは、前記抽出プレートが接地されている間、前記試料プレートに向けて発射するように構成されている、請求項20または21に記載の質量分析計。 - 前記抵抗器を、前記バックバイアスプレートと前記電源との間に切り替え式に接続することが可能なスイッチをさらに備え、前記スイッチは前記チャンバの外にある、請求項20から22のいずれか一項に記載の質量分析計。
- 前記イオン光学系のそらせ板部分は、前記イオン光学系から取り外し可能である、請求項18から23のいずれか一項に記載の質量分析計。
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Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5039995A (ja) * | 1973-08-15 | 1975-04-12 | ||
JPH08501407A (ja) * | 1992-03-06 | 1996-02-13 | ヒューレット―パッカード・カンパニー | レーザ脱離イオン化質量モニター(ldim) |
US5545304A (en) * | 1995-05-15 | 1996-08-13 | Battelle Memorial Institute | Ion current detector for high pressure ion sources for monitoring separations |
JP2000088809A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 固体中の特定原子の検出方法及び検出装置 |
JP2002502084A (ja) * | 1998-01-23 | 2002-01-22 | ユニヴァーシティー オブ マニトーバ | パルスイオン源及びイオン運動を制動するための輸送デバイスを備えた分析計並びにその使用方法 |
WO2003065406A1 (en) * | 2002-02-01 | 2003-08-07 | Hitachi High-Technologies Corporation | Electrospray ionization mass spectrometric device and system therefor |
US20040144916A1 (en) * | 1998-01-23 | 2004-07-29 | University Of Manitoba | Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use |
US20040169137A1 (en) * | 2002-11-27 | 2004-09-02 | Westphall Michael S. | Inductive detection for mass spectrometry |
US20080272289A1 (en) * | 2007-05-01 | 2008-11-06 | Vestal Marvin L | Linear tof geometry for high sensitivity at high mass |
CN205680655U (zh) * | 2016-06-15 | 2016-11-09 | 安图实验仪器(郑州)有限公司 | 适于激光解析电离飞行时间质谱仪的离子检测系统 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5160840A (en) * | 1991-10-25 | 1992-11-03 | Vestal Marvin L | Time-of-flight analyzer and method |
US5770859A (en) | 1994-07-25 | 1998-06-23 | The Perkin-Elmer Corporation | Time of flight mass spectrometer having microchannel plate and modified dynode for improved sensitivity |
US5565680A (en) * | 1994-08-23 | 1996-10-15 | Ebara Corporation | High frequency mass spectrometer |
US5625184A (en) | 1995-05-19 | 1997-04-29 | Perseptive Biosystems, Inc. | Time-of-flight mass spectrometry analysis of biomolecules |
US6348688B1 (en) | 1998-02-06 | 2002-02-19 | Perseptive Biosystems | Tandem time-of-flight mass spectrometer with delayed extraction and method for use |
US6614021B1 (en) | 1998-09-23 | 2003-09-02 | Varian Australian Pty Ltd | Ion optical system for a mass spectrometer |
AUPS177202A0 (en) | 2002-04-16 | 2002-05-23 | Diakyne Pty Ltd | Multi-element screening of trace elements |
US7148472B2 (en) * | 2004-02-28 | 2006-12-12 | Ngx, Inc. | Aerosol mass spectrometer for operation in a high-duty mode and method of mass-spectrometry |
US7408151B2 (en) * | 2004-07-01 | 2008-08-05 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Dynamic biasing of ion optics in a mass spectrometer |
EP1782451A2 (en) * | 2004-07-01 | 2007-05-09 | Ciphergen Biosystems, Inc. | Dynamic biasing of ion optics in a mass spectrometer |
US7973277B2 (en) | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
US8399828B2 (en) | 2009-12-31 | 2013-03-19 | Virgin Instruments Corporation | Merged ion beam tandem TOF-TOF mass spectrometer |
FR2961628B1 (fr) | 2010-06-18 | 2012-08-31 | Photonis France | Détecteur a multiplicateur d'électrons forme d'une couche de nanodiamant hautement dope. |
FR2964785B1 (fr) | 2010-09-13 | 2013-08-16 | Photonis France | Dispositif multiplicateur d'électrons a couche de nanodiamant. |
CN104011829A (zh) | 2011-12-27 | 2014-08-27 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 用于脉冲计数应用的与电子倍增器连接的超快跨阻放大器 |
US8735810B1 (en) | 2013-03-15 | 2014-05-27 | Virgin Instruments Corporation | Time-of-flight mass spectrometer with ion source and ion detector electrically connected |
WO2015026727A1 (en) | 2013-08-19 | 2015-02-26 | Virgin Instruments Corporation | Ion optical system for maldi-tof mass spectrometer |
CN106663589B (zh) | 2014-08-29 | 2019-06-14 | 生物梅里埃有限公司 | 具有延迟时间变化的maldi-tof质谱仪及相关方法 |
US20170263426A1 (en) * | 2016-03-10 | 2017-09-14 | Leco Corporation | Dynamic Baseline Adjuster |
EP3225982A1 (en) * | 2016-03-28 | 2017-10-04 | Naturion Pte. Ltd. | Device for measuring ion concentration |
-
2019
- 2019-02-11 US US16/272,621 patent/US10903063B2/en active Active
- 2019-02-11 JP JP2020564799A patent/JP7196199B2/ja active Active
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2021
- 2021-01-25 US US17/157,480 patent/US11640904B2/en active Active
-
2023
- 2023-09-08 AU AU2023226786A patent/AU2023226786A1/en active Pending
Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5039995A (ja) * | 1973-08-15 | 1975-04-12 | ||
JPH08501407A (ja) * | 1992-03-06 | 1996-02-13 | ヒューレット―パッカード・カンパニー | レーザ脱離イオン化質量モニター(ldim) |
US5545304A (en) * | 1995-05-15 | 1996-08-13 | Battelle Memorial Institute | Ion current detector for high pressure ion sources for monitoring separations |
JP2002502084A (ja) * | 1998-01-23 | 2002-01-22 | ユニヴァーシティー オブ マニトーバ | パルスイオン源及びイオン運動を制動するための輸送デバイスを備えた分析計並びにその使用方法 |
US20040144916A1 (en) * | 1998-01-23 | 2004-07-29 | University Of Manitoba | Spectrometer provided with pulsed ion source and transmission device to damp ion motion and method of use |
JP2000088809A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 固体中の特定原子の検出方法及び検出装置 |
WO2003065406A1 (en) * | 2002-02-01 | 2003-08-07 | Hitachi High-Technologies Corporation | Electrospray ionization mass spectrometric device and system therefor |
US20030155497A1 (en) * | 2002-02-01 | 2003-08-21 | Yoshiaki Kato | Electrospray ionization mass analysis apparatus and system thereof |
US20040169137A1 (en) * | 2002-11-27 | 2004-09-02 | Westphall Michael S. | Inductive detection for mass spectrometry |
US20080272289A1 (en) * | 2007-05-01 | 2008-11-06 | Vestal Marvin L | Linear tof geometry for high sensitivity at high mass |
CN205680655U (zh) * | 2016-06-15 | 2016-11-09 | 安图实验仪器(郑州)有限公司 | 适于激光解析电离飞行时间质谱仪的离子检测系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190252176A1 (en) | 2019-08-15 |
AU2023226786A1 (en) | 2023-09-28 |
JP7196199B2 (ja) | 2022-12-26 |
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