JP2021509960A - 保護装置 - Google Patents

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Abstract

本発明はセンサ(2)の隔膜(3)の保護装置(1)に関し、このセンサ(2)は物理量を判断し、この物理量は媒体によって伝達され、この媒体は隔膜(3)に作用する。保護装置(1)はセンサ(2)に装着することができる。保護装置(1)は長手方向軸線(Z)を有する。保護装置(1)はセンサ(2)に装着されているとき、少なくとも1つの放射源(9)からの電磁放射から隔膜(3)を保護する。保護装置(1)は少なくとも1つの通路(7)を有し、保護装置(1)がセンサ(2)に装着されているとき、媒体はこの通路(7)を通って隔膜(3)に到達することができ、保護装置(1)がセンサ(2)に装着されているとき、電磁放射はこの通路(7)内を伝播することができる。通路(7)内を伝播する電磁放射は、通路の壁(略して通路壁)(71)で少なくとも1回は反射した後に、はじめて隔膜(3)に到達する。

Description

本発明は、特許請求の範囲の独立請求項の前文に記載されたセンサに取り付けられる保護装置に関するものである。
センサは、ある物理パラメータを検出し、理想条件の下でその物理パラメータに等価なセンサ信号を提供する。この目的で、その物理パラメータに対する感受性を有するセンサ素子がセンサ内に配置されている。通常、センサ素子は、隔膜などの、センサの保護層によって、例えば、埃、液体、気体、および/または電磁放射などの外部からの衝撃に対して保護されている。ここで「および/または」という用語は、非排他的な選言として理解されるべきである。隔膜は一般に、金属または合金またはプラスティックで作られている。媒体は物理パラメータを担持するものであり、隔膜に作用する。
隔膜は、外部からの衝撃に暴露される。外部からの衝撃は、温度、圧力などである。
物理パラメータは、例えば、圧力である。圧力を検出するセンサの場合、物理パラメータを担持するものは気体または液体であり、隔膜に作用する。しかしながら、圧力センサのセンサ素子は温度依存性を呈し、望ましくない影響がセンサ信号に表れる。
温度の変化を引き起こす温度エネルギーは、熱伝導によって媒体により伝達されるだけではなく、また、対流に起因する熱エントレインメントだけではなく、一種の電磁放射である熱放射によっても伝達される。以下で、電磁放射という用語は、熱放射と意味の区別なく使用される。
隔膜の近傍で炎が発火すると、隔膜に作用する電磁放射が急速に増加する。炎が鎮火すると、隔膜に作用する電磁放射は急速に減少する。隔膜が、結果の入射電磁放射を部分的または完全に吸収すれば、隔膜の温度が上昇する。この隔膜温度の上昇は、少なくとも部分的にはセンサ素子に移行し、それにより、検出されるセンサ信号に影響するか、センサ素子を損傷させる。この、センサ信号への影響は、不正確な物理パラメータ値の検出を引き起こすが、以下で、この検出される物理パラメータは温度自体ではない。
急速に発生する、例えば隔膜またはセンサ素子などの材料の温度の変化は、サーマルショックとも称され、例えば内燃機関などの圧力チャンバ内で媒体が燃焼するときに発生する。内燃機関には、バンケル、ガソリン、ディーゼルなどのエンジンなどの、4ストロークおよび2ストロークのエンジンが挙げられる。サーマルショックは、その他の、ガスタービン内、ジェットエンジン内、ロケットエンジン内、蒸気タービン内、および、蒸気機関などの構造物内などの、圧力がゆきわたる容量の中でも発生する。以下では、内燃機関の圧力チャンバおよび、圧力がゆきわたる上記の容量を、まとめて圧力チャンバと称する。経時的にゆっくりした変動を呈する、ほぼ一定した周囲温度とは対照的に、圧力チャンバ内に置かれたセンサのセンサ信号へのサーマルショックを最小化することは、較正に関わる方法では不可能であるか、不十分である。
さらに、温度が、隔膜の材料の、材料特定の閾値を超えると、隔膜がサーマルショックによって損傷する。さらにまた、繰り返されるサーマルショックにより隔膜が劣化し、経時劣化的な損傷が隔膜に発生する。
隔膜の前部領域に備わるセンサの前部領域に取り付けられる、欧州特許出願公開第EP2024710号(EP2024710A1)に記載の隔膜保護手段が知られており、この隔膜保護手段は、500°Cまでの温度に耐えることができる。一実施形態では、この隔膜保護手段は複数の開口部(通路)を備えており、測定対象の情報を担持する媒体がこの開口部を流れることができる。通路の直径は、この隔膜保護手段が防炎手段となるように、炎の貫通を防ぐように選択される。
このことには、少なくとも1つの放射源により媒体の側部で生成される電磁放射が通路を通して直接隔膜に作用することがあるために、サーマルショックを引き起こし得るという欠点がある。これがセンサ信号に影響して、不正確な物理パラメータの値が検出されることになる。電磁放射の強度によっては、電磁放射は隔膜および/またはセンサ素子を損傷させることがある。
欧州特許出願公開第EP2024710号
本発明の目的は、通路内を伝播する電磁放射が隔膜に到達する前に通路の壁で少なくとも1回は反射し、それにより、隔膜に衝突する電磁放射の強度が低減するような構成の、センサの隔膜の保護装置を提供することである。本発明の別の目的は、物理パラメータを担持するものである媒体が、可能な限り妨害されることなく隔膜に作用することができるような構成の、保護装置を提供することである。
これらの目的のうち少なくとも1つを、特許請求の範囲の独立請求項の特徴によって達成した。本発明はセンサの隔膜の保護装置に関し、このセンサは物理パラメータを検出し、当該物理パラメータは媒体によって伝達され、この媒体は隔膜に作用し、この保護装置はセンサに取り付けることができ、この保護装置は長手方向軸線を有し、この保護装置はセンサに取り付けられているとき、少なくとも1つの放射源の電磁放射から隔膜を保護し、当該保護装置は少なくとも1つの通路を備え、保護装置がセンサに取り付けられているとき、この通路を通して媒体が隔膜に到達することができ、保護装置がセンサに取り付けられているとき、この通路内を電磁放射が伝播することができ、通路内で伝播している電磁放射は、隔膜に到達する前に、まず、少なくとも1回は通路の壁(略して通路壁)から反射する。
このように、隔膜に衝突する電磁放射の強度は、電磁放射が通路の壁で反射することなく放射源から隔膜に伝播することのできる、通路のない保護装置と比較して、低下する。
放射源からの電磁放射の伝播は、空間内で輻射方向および直線方向に発生する。
電磁放射(略して放射)は、放射が放射源から隔膜に到達するためには、本発明によれば、保護装置に衝突し、その後、通路の壁(略して通路壁)での少なくとも1回の反射が必要である。放射が通路壁に衝突すると、当該放射は部分的に吸収され、部分的に反射し、部分的に散乱し、その後、通路壁から輻射方向および直線方向に伝播する。
放射の反射とは、ある表面からの方向性をもつ反射を意味すると理解され、放射の散乱とは、ある表面からの拡散反射を意味すると理解される。吸収とは、ある表面において放射が熱エネルギーに変換され、その熱エネルギーがその表面に供給されることを意味すると理解される。
よって、放射が通路壁に衝突した後、通路内を伝播する放射の強度は低下する。これは、通路壁による、放射の一部の吸収に起因する。これはまた、保護装置の隔膜に対面しない側(略して媒体側)で、隔膜に到達できなくなる方向へ通路から放射が放出される、放射の部分的な反射および散乱にも起因する。これは、それぞれ後方散乱または後方反射として知られる。
通路壁にただ1回衝突した後に隔膜に衝突することができる放射の割合は、ごく小さい。放射の大部分は通路壁に何度か衝突し、上記の吸収に起因して、衝突のたびに強度が低下する。それに加えて、後方散乱および後方反射が、隔膜に到達する放射の強度を低下させる。したがって、隔膜に到達する放射は、従来技術の保護装置を通して隔膜に到達する放射に比較して、何分の1もの少なさである。
さらに、保護装置の幾何形状が検出対象の情報に与える影響を最小化するために、媒体は、可能な限り妨げられることなく通過する必要がある。通路の流体抵抗が高い場合、圧力の変化は、通路を通って流れる媒体の流体抵抗に起因して、遅れて隔膜に作用する。流体抵抗は、通路の内法および、通路を通る媒体の経路の長さに依存する。通路の内法は、平面に投影される通路の面積である。圧力変化には遮断周波数が存在し、この遮断周波数の逆数よりも速く発生する圧力変化のみが検出可能であるため、経時的な圧力プロファイルに関して正確性は不十分である。
さらに、保護装置とセンサの組み合わせが、少なくとも1つの共鳴周波数を有するホルムヘルツ共鳴器を表すので、通路は共鳴周波数を有する。共鳴周波数の逆数の範囲内の時間スケールで発生する圧力変化の検出は、不正確である。共鳴周波数は、保護装置と隔膜の間の容量および、通路の内法に依存する。通路の内法は、平面に投影される通路の面積である。
センサに取り付けられた保護装置は、センサの隔膜に対面する面を備え、これを隔膜側と称する。保護装置の隔膜に対面しない側を、媒体側と称する。通路は、媒体側から隔膜側まで延在する。
保護装置の構成は、隔膜の表面に対する、通路の隔膜側または媒体側の内法の合計の比率が少なくとも0.25であるようになされる。これにより共鳴周波数および遮断周波数が増大し、共鳴周波数の影響を一切なくしながら、内燃エンジンで発生するものなどの高速の圧力変化が検出される。
下記では、例として、図面を参照しながら本発明をさらに詳細に説明する。
わかりやすくするために斜線ハッチングなしで表現されたセンサを設置部分内に備える、好ましい実施形態の保護装置の断面図である。 図1による保護装置の実施形態を通る長手方向軸線に平行な断面の図である。 図1による保護装置の図である。 わかりやすくするために斜線ハッチングなしで表現されたセンサを設置部分内に備える、別の実施形態の保護装置の断面図である。 図4による保護装置の実施形態を通る長手方向軸線に平行な断面の図である。 図4による保護装置の図である。
図1は、設置部分4内にセンサ2を備える、好ましい実施形態の保護装置1の断面図である。センサ2は、わかりやすくするために斜線ハッチングなしで表されている。
センサ2は、長手方向軸線Zに沿って略棒状である。センサ2は、設置部分4内に組み込まれている。有利には、センサ2は設置部分4内に差し込まれている。設置部分4はチャンバ容量11の範囲を定め、この容量内で物理パラメータが検出される。物理パラメータを担持するものである媒体が、チャンバ容量11内にある。センサ2は隔膜3を備え、この隔膜は、センサ2のチャンバ容量11に対面する端部で、第1の径方向軸線Xに平行に、かつ、第2の径方向軸線Yに平行に延在する。長手方向軸線Z、第1の径方向軸線X、および第2の径方向軸線Yは、直交系を形成する。第1および第2の径方向軸線は、径方向平面XYを形成する。媒体は、隔膜3に作用する。
一実施形態では、チャンバ容量は、内燃機関の圧力チャンバのチャンバ容量である。
別の方法として、第1および第2の径方向軸線X、Yがわたる径方向平面XYは、下記で半径Rおよび極角Wを使用して記述される。半径R、極角W、および長手方向軸線Zは、円筒座標系を形成する。
好ましい一実施形態では、保護装置1は、円盤形状のポット底部5および中空円筒のポット壁6を備えるポット形状で、当該中空円筒ポット壁6は長手方向軸線Zを有する。ポット壁6とポット底部5は、一体成形されているか、材料接着により互いに結合されている。
保護装置1は、センサ2に取り付けることができる。センサ2に取り付けた場合、保護装置1は、少なくとも1つの放射源9の電磁放射から隔膜3を保護し、当該放射源9はチャンバ容量45の中に配置されている。
センサ2に取り付けられた保護装置1は、中空円筒ポット壁6の内側表面がセンサ2の外側表面に対面し、隔膜3がポット底部5の隔膜側31に対面するように配置されている。円盤形状のポット底部5の他方の側を、媒体側41と称する。隔膜3とポット底部5は、略平行に配向され、長手方向軸線Zに沿って互いに離間されている。したがって、保護装置1は隔膜3とチャンバ容量45の間に配置され、センサ2の長手方向軸線Zは中空円筒ポット壁6の長手方向軸線Zと一致する。
一実施形態では、保護装置1は、例えば溶接結合を用いて、センサ2に一体的に結合されている。
別の実施形態では、保護装置1は、例えば、ねじ結合またはクランプ部材による力係止結合によってセンサ2に結合されている。
さらに別の実施形態では、保護装置1は、例えばバヨネットキャッチを用いて、形状係止結合によってセンサ2に結合されている。
隔膜3、ポット底部5、およびポット壁6は、隔膜側の容量(略して隔膜容量と称する)35を取り囲む。
ポット底部5の中に少なくとも1つの通路7が形成されて、保護装置1がセンサ2に取り付けられたときに、媒体側41のチャンバ容量45から隔膜側31の隔膜容量35へ、媒体が当該通路7を通過するようになされている。保護装置1がセンサ2に取り付けられているとき、電磁放射は通路7内を伝播することができる。
本発明によれば、保護装置1のポット底部5内の通路7は、通路7内を伝播する、チャンバ容量45内の放射源9からの電磁放射が、隔膜3に到達する前に、まず、少なくとも1回は通路壁71から反射するように構成される。
隔膜側31上のある位置と媒体側41上のある位置の間に、通路7を通る直線的接続は存在しない。
図2は、保護装置1の好ましい第1の実施形態の表現であり、この表現では、長手方向軸線Zおよび半径Rに沿って一定した極角Wで断面が延在する。ポット底部5は、図3に示される所定の幅Bを有する少なくとも1つの通路7を備え、この通路7は、断面内に、90°傾けた文字Vに類似した形状で延在する。V字状の通路の道筋は、径方向平面XY内に通路経路の中心を示して断面内に軌道として表されており、この軌道は、半径Rを、長手方向軸線上の位置の関数として示し、縦方向Zに進行するにつれて、ポット底部5の隔膜側31とポット底部5の媒体側41の略中央にある点までは、軌道の半径は幅Bよりも大きい幅だけ拡大する。この、ポット底部5の隔膜側31とポット底部5の媒体側41の略中央にある点からは、軌道の半径Rは再び、幅Bよりも大きい幅だけ縮小する。軌道のこの形状に起因して、隔膜側31と媒体側41の間に通路7を通した直線的接続は存在しない。放射源9から発し、ある程度直線状に通路7の中へも伝播する電磁放射は、隔膜3に到達する前に、まず、少なくとも1回は通路壁71から反射する。
図3に示すように、長手方向軸線Zに垂直な各平面について、通路7は、極角Wに沿って一定半径Rで少なくとも1つの円弧を描き、円弧の中心角Aは355°よりも小さい。中心角Aは、その円弧が属する円の中心から円弧の両端まで伸びる、2本の直線の間の角度である。同一の半径Rで複数の通路がある場合は、中心角Aの合計は355°よりも小さくなる。通路7によって占められない、少なくとも5°の残りの角度は、ポット底部5を安定させ、また、ポット底部5が通路7の円弧によって複数の部分に分断されないようにする役割を担う。
有利には、複数の通路7がポット底部5内に配置され、複数の異なる通路7の通路壁71が互いに干渉することなく、それらの通路が、媒体側41においてさまざまな半径Rで始まり、長手方向軸線Zに沿ってV字状となり、隔膜側31において終わるようになされる。このように、少なくともポット底部5の隔膜側41またはポット底部5の媒体側41上の通路7の内法の合計は、隔膜3の表面に対する通路7の内法の合計の比率が少なくとも0.25であるようになっている。通路7の内法は、例えば、ポット底部5の媒体側41または隔膜側31の表面の平面などの、平面に投影される通路7の面積である。
好ましい実施形態では、保護装置1は、有利には金属または合金で作られている。特に有利な実施形態では、保護装置1は、500℃より高い温度に耐える金属または合金で作られている。
さらに別の実施形態では、保護装置1は、例えば窒化ケイ素などのセラミック材料で作られている。
好ましい実施形態では、保護装置1は、有利には選択的レーザー焼結法または選択的レーザー溶融法を用いて生産され、これらの方法は、例えば、合金、金属、またはセラミックなどの微粉状材料を局部的に溶融することに基づく。微粉状材料を1層ずつ積層して選択的に溶融することによって、通路7を上記の複雑な形状で製造することが可能になる。
ただし、当業者ならば別の製造方法を使用することもでき、それらの方法には、ノズルを用いて特定の位置を狙って金属粉末を堆積させることからなるレーザーメタルデポジションまたはダイレクトメタルデポジションなどがあり、この方法では、粉体はレーザーにより溶融されながらその位置に搬送される。
特に好ましい実施形態では、少なくとも1つの通路7の通路壁71の、DIN EN ISO 4287:2010に準拠する表面粗さ(略して「粗さ」と称する)の算術平均値は高く、少なくとも5マイクロメートルである。それにより、入射する電磁放射は反射するだけでなく、さらに散乱もする。有利には、反射する電磁放射のうち方向性を有して反射する部分、すなわち反射は、80%未満である。これにより、通路壁71で反射し、よって媒体側41から隔膜側31へ伝播することのできる電磁放射の割合が最小化され、隔膜3への電磁放射の衝撃が減少する。
図4は、保護装置1の別の好ましい実施形態の断面図である。センサ2は、わかりやすくするために斜線ハッチングなしで表されている。
保護装置1は、円盤形状のポット底部5および中空円筒のポット壁6を備えるポット形状である。円盤形状のポット底部5は、少なくとも2つの円盤形状のポット底部部品34、31を有し、それらは互いに平行に重ね合わされて、材料接合着により結合されている。数なくとも1つのポット底部部品34は、ポット底部部品51の外周上に、他方のポット底部部品31に対面する側の表面の外周全体に形成された肋材形状の突出部53を、長手方向軸線Zの方向に備える。肋材形状の突出部53は、他方のポット底部部品52に当接する。ポット底部部品51、52は材料接合によって肋材形状の突出部53に結合されており、この材料結合は図4および5に黒色の三角形で示されている。ポット底部5の外周上の肋材形状の突出部53は、ポット底部部品34と31の間に容量を形成し、これは中間容量55と称される。
ポット壁6と1つのポット底部部品51は一体成形されるか、材料接合によって結合されている。センサ2は、保護装置1内に、ポット壁6の内側表面がセンサ2の外側表面に対面し、隔膜3がポット底部5の隔膜側31に対面するように配置されている。
底部部品51、52は通路7を含み、通路7は、長手方向軸線Zに平行な少なくとも1つの断面図において、通路7が中間容量55と共に略S字状をなすように、ポット底部部品51、52に配置されている。図5に示すように、ポット底部部品34、52の通路7の位置および突出部53の寸法は、チャンバ容量45内に配置された放射源9から通路内に伝播する電磁放射が隔膜3に到達する前に、まず、必ず少なくとも1回は通路壁71から反射するように選択される。
図6に示すように、少なくともポット底部5の隔膜側31上またはポット底部5の媒体側41上の通路7の内法の合計は、隔膜3の表面に対する通路7の内法の合計の比率が少なくとも0.25であるようになっている。
一実施形態では、保護装置1は、マシニング生産方法によって製造される。通路7は、例えば、複数の作業手順でさまざまな角度からフライス加工または穿孔することによって生産されてもよい。
保護装置1の一実施形態では、少なくとも1つの通路壁71はコーティングを含み、このコーティングは電磁放射を吸収する。コーティングは入射電磁放射強度の少なくとも10%を吸収し、よって、コーティングされていない通路壁71と比較して反射強度を少なくとも10%低下させる。
保護装置1のさらに別の実施形態では、通路壁71はコーティングを含み、このコーティングは非粘着性コーティングである。非粘着性コーティングの結果、コーティングされていない通路壁71と比較して、媒体内に存在する粒子の通路壁71における吸収が50%低減する。
ただし、当然ながら当業者は、これとは異なる通路壁7の配置を選択してもよい。通路7は、長手方向軸線Zに平行な平面内の円弧ではなく、直線に沿って延在するとして構想されてもよい。さらに、円形の内法を有する通路7もまた、構想可能である。
ただし、当然ながら当業者は、略S字状またはV字状ではないが、放射源15から通路7内を伝播する電磁放射が隔膜3に到達する前に必ず少なくとも1回は通路壁71で反射するような形状の軌道に沿って、長手方向軸線Zに平行な断面内に延在する通路7を設計してもよい。
好ましい実施形態では、センサは圧力センサであり、当該圧力センサ内に圧電測定素子が配置される。隔膜に作用する圧力の衝撃下では、隔膜は圧電測定素子に力を加え、この素子は加えられた力に対応する電荷を生成する。電荷は変換され、よく知られた電子構成要素を使用して、センサ信号として提供される。
1 保護装置
2 センサ
3 隔膜
4 設置部分
5 ポット底部
6 ポット壁
7 通路
9 放射源
31 隔膜側
35 隔膜側の容量、隔膜容量
41 媒体側
45 チャンバ容量
51 ポット底部部品
52 ポット底部部品
53 突出部
55 中間容量
71 通路壁、通路の壁
A 中心角
R 半径
W 極角
X 第1の径方向軸線
Y 第2の径方向軸線
Z 長手方向軸線

Claims (14)

  1. センサ(2)の隔膜(3)の保護装置(1)であって、前記センサ(2)は物理パラメータを検出し、前記物理パラメータは媒体を通して伝達され、前記媒体は前記隔膜(3)に作用し、
    前記保護装置(1)は前記センサ(2)に取り付けることができ、
    前記保護装置(1)は長手方向軸線(Z)を有し、
    前記保護装置(1)は前記センサ(2)に取り付けられると、少なくとも1つの放射源(9)からの電磁放射から前記隔膜(3)を保護するようになっており、
    前記保護装置(1)は少なくとも1つの通路(7)を備え、前記保護装置(1)が前記センサ(2)に取り付けられると、前記媒体が前記通路(7)を通して前記隔膜(7)に到達することができるようになっており、
    前記保護装置(1)が前記センサ(2)に取り付けられると、前記電磁放射が前記通路(7)内を伝播することができるようになっている、前記保護装置において、
    前記通路(7)内を伝播する前記電磁放射が前記隔膜(3)に到達する前に、必ず少なくとも1回は前記通路の壁、すなわち通路壁(71)で反射するようになっていることを特徴とする、保護装置。
  2. 前記長手方向軸線(Z)に平行な断面の少なくとも1つの断面図内で前記通路(7)が略V字状であることを特徴とする、請求項1に記載の保護装置(1)。
  3. 前記長手方向軸線(Z)に平行な断面の少なくとも1つの断面図内で少なくとも1つの前記通路(7)が略S字状であることを特徴とする、請求項1に記載の保護装置(1)。
  4. 前記保護装置(1)が取り付けられると、前記隔膜(3)に対面する面、すなわち隔膜側(31)を備え、
    前記保護装置(1)が取り付けられると、前記隔膜(3)に対面しない表面、すなわち媒体側(41)を備えること、および、
    前記隔膜(7)の表面に対する、前記隔膜側(31)または前記媒体側(41)の前記通路(7)の内法の合計の比率が少なくとも0.25であることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の保護装置(1)。
  5. ある通路内に存在する通路壁(71)の表面粗さの算術平均値が少なくとも5マイクロメートルであること、および、
    方向性を有する前記入射電磁放射が、反射した放射のうち方向性をもつものの割合が80%未満になるように、前記粗面で反射することを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載の保護装置(1)。
  6. 前記保護装置(1)が少なくとも2つの保護装置部品(51、52)からなり、前記保護装置(1)が取り付けられるとき、前記保護装置部品(51、52)が前記長手方向軸線(Z)に垂直に重ね合わされていること、および、前記保護装置部品(51、52)が材料接合により結合されていることを特徴とする、請求項1〜5のいずれか1項に記載の保護装置(1)。
  7. 1つの通路内の壁である通路壁(71)が電磁放射を吸収するコーティングを備え、前記コーティングが前記入射電磁放射強度の少なくとも10%を吸収し、その結果、コーティングされていない通路壁(71)と比較して反射強度を少なくとも10%低下させるようになっていることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか1項に記載の保護装置(1)。
  8. 1つの通路内の壁である通路壁(71)が非粘着性コーティングであるコーティングを備え、コーティングされていない通路壁(71)と比較して前記媒体内に存在する粒子の前記通路壁(71)における吸収が50%低減することを特徴とする、請求項1〜7のいずれか1項に記載の保護装置(1)。
  9. 前記保護装置(1)が金属または合金で作られていることを特徴とする、請求項1〜8のいずれか1項に記載の保護装置(1)。
  10. 前記保護装置(1)がセラミック材料で作られている、請求項1〜8のいずれか1項に記載の保護装置(1)。
  11. 物理パラメータを検出するセンサ(2)であって、前記物理パラメータが媒体によって伝達され、前記センサ(2)が隔膜(3)を備え、前記媒体が前記隔膜(3)に作用する、センサ(2)において、
    請求項1〜10のいずれか1項に記載の保護装置(1)が前記センサ(2)に取り付けられていることを特徴とする、センサ(2)。
  12. 前記センサ(2)が圧力を検出する圧力センサであること、および、前記圧力センサ内に圧電測定素子が配置されていることを特徴とする、請求項11に記載のセンサ(2)。
  13. 前記センサ(2)が内燃機関の圧力チャンバ内に配置されていることを特徴とする、請求項11に記載のセンサ(2)。
  14. 請求項9に記載の保護装置(1)を生産する方法であって、金属粉末がレーザービームにより部分的または完全に溶融される、選択的レーザー焼結法または選択的レーザー溶融法などの方法を用いて前記保護装置(1)が生産されることを特徴とする、方法。
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