JP2021507422A - 温度ベースのメモリ動作 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (24)
- 装置であって、
メモリデバイスと、
コントローラであって、前記メモリデバイスに結合され、
前記装置の動作温度を判定すること、
前記装置の前記動作温度に基づいてデータを書き込むために、前記メモリデバイスの複数の指定された開ブロックのうちの1つを判定すること、及び
前記メモリデバイスの前記複数の指定されたブロックのうちの前記判定された1つに前記データを書き込むこと
を行うように構成された、前記コントローラと
を備える、前記装置。 - 前記コントローラが、前記装置の前記動作温度と前記データのサイズとに基づいてデータを書き込むために、前記メモリデバイスの前記複数の指定された開ブロックのうちの前記1つを判定するように構成された、請求項1に記載の装置。
- 前記複数のブロックが、
第1の温度閾値未満の第1の動作温度範囲に対応する第1のブロックと、
第2の温度閾値を超える第2の動作温度範囲に対応する第2のブロックと、
前記第1の温度閾値を超えて、かつ前記第2の温度閾値未満である第3の動作温度範囲に対応する第3のブロックと、
前記第3の動作温度範囲に対応する第4のブロックと
を含む、請求項1に記載の装置。 - 前記コントローラは、前記データのサイズがサイズ閾値未満であることに応答して、前記データを書き込むための前記第3のブロックを判定するように構成されている、請求項3に記載の装置。
- 前記コントローラは、前記データのサイズが前記サイズ閾値を超えることに応答して、前記データを書き込むための前記第4のブロックを判定するように構成されている、請求項4に記載の装置。
- 前記第1の温度閾値及び前記第2の温度閾値が、乗り物の目標動作温度に基づいて決定される、請求項3に記載の装置。
- 前記第1の温度閾値が0℃であり、前記第2の温度閾値が70℃である、請求項3に記載の装置。
- 前記メモリデバイスが不揮発性メモリを含む、請求項1〜7のいずれか1項に記載の装置。
- 前記メモリデバイスがNANDフラッシュメモリを含む、請求項1〜7のいずれか1項に記載の装置。
- 前記装置が乗り物内の電子システムの一部である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の装置。
- 温度ベースのメモリ動作の方法であって、
シングルレベルセル(SLC)及びマルチレベルセル(MLC)として動作可能なメモリセルを含むメモリ装置にデータを書き込むための要求を受け取ること、
前記メモリ装置に関連する温度を判定すること、ならびに
前記判定された温度に基づいて書き込み動作を実行する複数の開ブロックの1つを選択することを含み、
前記複数の開ブロックの前記選択された1つは、SLCブロックとして指定され、それぞれの複数の異なる温度範囲に対応する複数の開ブロックを含む、維持された複数の開ブロックの中から選択される、前記方法。 - 前記複数の開ブロックが、MLCブロックとして指定された開ブロックも含む、請求項11に記載の方法。
- 前記方法は、データが書き込まれる温度範囲が、前記書き込まれるデータと共にインジケータを格納することなく分かるように、ブロックごとの単位で、前記複数の異なる温度範囲を追跡することを含む、請求項11〜12のいずれか1項に記載の方法。
- 前記方法が、
前記複数の開ブロックのうちの1つが閉じられたことを判定すること、及び
前記閉じられたブロックを、空きブロックのプールからのブロックで置き換えること
を含む、請求項11〜12のいずれか1項に記載の方法。 - 前記方法が、指定された温度範囲によって編成された別個の閉じたブロックのプールを維持することを含む、請求項11〜12のいずれか1項に記載の方法。
- 温度ベースのメモリ動作の方法であって、
第1の時点における乗り物のメモリデバイスの第1の動作温度を判定すること、
前記メモリデバイスの前記動作温度及びデータのサイズに基づいた書き込み要求に応答して、前記メモリデバイスの複数の指定された開ブロックの1つに前記データを書き込むことであって、前記複数のブロックは、
第1の温度閾値未満の第1の動作温度範囲に対応する第1のブロックタイプの第1のブロックと、
第2の温度閾値を超える第2の動作温度範囲に対応する前記第1のブロックタイプの第2のブロックと、
前記第1の温度閾値を超えて、かつ前記第2の温度閾値未満である第3の動作温度範囲に対応すると共に、データサイズ閾値未満のデータサイズに対応する前記第1のブロックタイプの第3のブロックと、
前記第3の動作温度範囲に対応すると共に、データサイズ閾値を超えるデータサイズに対応する第2のブロックタイプの第4のブロックと
を含む、前記データを書き込むこと、
第2の時点における前記乗り物の前記メモリデバイスの第2の動作温度を判定すること、ならびに
前記第2の動作温度が前記第3の動作温度範囲の範囲内であるという判定に応答して、前記第1のブロックタイプの閉じたブロックから、前記第2のブロックタイプの少なくとも1つの空きブロックにデータをフォールディングすること
を含む、前記方法。 - 前記第1のブロックタイプはシングルレベルセルのブロックタイプであり、
前記第2のブロックタイプはマルチレベルセルのブロックタイプである、請求項16に記載の方法。 - 前記方法は、前記第2の動作温度が前記第3の動作温度範囲の範囲内であるという前記判定に応答して、前記第1のブロックタイプの閉じたブロックでガベージコレクションを実行することを含む、請求項16〜17のいずれか1項に記載の方法。
- 前記方法は、組み込み型温度センサを使用して前記動作温度を判定することを含む、請求項16〜17のいずれか1項に記載の方法。
- 前記方法は、前記第2の動作温度が前記第3の動作温度範囲の範囲内にないという判定に応答して、前記第1のブロックタイプの閉じたブロックから、前記第2のブロックタイプの少なくとも1つの空きブロックにデータをフォールディングしないこと、及び前記第1のブロックタイプの閉じたブロックでガベージコレクションを実行しないことを含む、請求項16〜17のいずれか1項に記載の方法。
- 第1の時点における乗り物のメモリデバイスの第1の動作温度を判定すること、
前記メモリデバイスの複数の指定された開ブロックと通信することであって、前記複数の指定されたブロックが、
第1の温度閾値未満の第1の動作温度範囲に対応する第1のブロックと、
第2の温度閾値を超える第2の動作温度範囲に対応する第2のブロックと、
前記第1の温度閾値を超えて、かつ前記第2の温度閾値未満である第3の動作温度範囲に対応する第3のブロックと、
前記第3の動作温度範囲に対応する第4のブロックと
を含む、前記開ブロックと通信すること、
前記第1の時点における前記動作温度が、前記第1の温度閾値未満であるという判定に応答して、前記第1のブロックにデータを書き込むこと、
前記第1の時点における前記動作温度が、前記第2の温度閾値を超えているという判定に応答して、前記第2のブロックにデータを書き込むこと、
前記第3のブロックにデータを書き込むことであって、
前記第1の時点における前記動作温度が、前記第1の温度閾値を超えており、前記第2の温度閾値未満であるという判定と、
前記データのサイズが、サイズ閾値未満であるという判定と
に応答して、前記第3のブロックに前記データを書き込むこと、及び
前記第4のブロックに前記データを書き込むことであって、
前記第1の時点における前記動作温度が、前記第1の温度閾値を超えており、前記第2の温度閾値未満であるという前記判定と、
前記データの前記サイズが、前記サイズ閾値を超えているという判定と
に応答して、前記第4のブロックに前記データを書き込むこと
を行うように構成された回路を備える、コントローラ。 - 前記第1のブロック、前記第2のブロック、及び前記第3のブロックはシングルレベルセルのブロックを備え、前記第4のブロックがマルチレベルセルのブロックを備える、請求項21に記載のコントローラ。
- 前記コントローラが、前記乗り物のインフォテインメントシステム、前記乗り物のインストルメントクラスタシステム、及び前記乗り物のブラックボックスデータ記録システムのうちの1つのシステムの一部分である、請求項21〜22のいずれか1項に記載のコントローラ。
- 前記コントローラは、
空きブロックが、前記第1のブロック、前記第2のブロック、前記第3のブロック、及び前記第4のブロックのうちの1つであることを示す指定で、前記空きブロックにタグ付けするように構成されている、請求項21〜22のいずれか1項に記載のコントローラ。
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