JP2021196328A - 位置検出装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】磁場発生体の移動方向において、所定位置に対応する2つの磁気検出素子を異なる位置に配置しなくても、外部からの磁場による誤動作を抑えることができる位置検出装置を提供することにある。【解決手段】磁場を発生させると共に第1の位置及び第2の位置を移動する磁場発生部10と、第1の磁場を検出する第1の磁気検出素子21と、第1の磁場とは異なる第2の磁場を検出する第2の磁気検出素子22と、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の両方が、予め定められた閾値の検出をしたことにより、磁場発生部10が第1の位置に到達したと判定する判定部40と、を備えている。【選択図】図1

Description

本発明は、位置検出装置に関する。
電動ステアリングロック装置において、車両の走行中にステアリングホイールの回動がロックしないようロック部材が確実にアンロック位置にあることが保障されねばならない。その対策の1つとして、ハウジングに形成された基板収納部に、その内面がロック部材の作動方向と平行となるように基板が収納されており、この基板の内面上下のロック位置とアンロック位置に対応する位置に磁気検出素子である1つのホール素子(LOCK_SW)と2つの第1及び第2のホール素子(UNLOCK_SW#1,#2)がそれぞれ設けられ、これらのホール素子とロック部材に設けられた磁石によって作動位置検出機構が構成される方法がある(例えば、特許文献1)。
そして、2つの第1及び第2のホール素子(UNLOCK_SW#1,#2)は、ロックボルトがアンロック位置に移動したときに、アンロック位置に対応する位置の第1のホール素子がロック部材に設けられた磁石から遠ざかることでON状態からOFF状態に切り替わり、第2のホール素子が逆にロック部材に設けられた磁石に近づくことでOFF状態からON状態に切り替わるとマイコンはロックボルトがアンロック位置に移動したものと判断するようにされている。
この方法によれば、2つのホール素子のうちの一方が故障しているか否かを他方の出力によって確認することができる。そして、ロックボルトの移動中に強電磁場が発生しても、第1及び第2のホール素子が2つとも不意に反転して切り替わることがない。従って、ロックボルトがアンロック位置にないにも拘らず、ロックボルトがアンロック位置に移動したものと誤検知されることがなく、ロックボルトが途中で停止してステアリングホイールの回動がロックされたままの状態でエンジンが始動されてしまう危険性を回避することができる。
特開2012−25269号公報
しかしながら、特許文献1に示す位置検出装置では、磁石の移動方向において、アンロック位置に対応する2つのホール素子を異なる位置に配置する必要があった。
そして、例えば、ギアに設けられた磁石の回転位置検出で、磁石の移動がホール素子を搭載する基板と平行でない場合など、必要な位置に2つのホール素子を配置することができない場合があった。このため、外部からの磁場による誤動作を抑えることができないという問題があった。
したがって、本発明の目的は、磁場発生体の移動方向において、所定位置に対応する2つの磁気検出素子を異なる位置に配置しなくても、外部からの磁場による誤動作を抑えることができる位置検出装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、磁場を発生させると共に第1の位置及び第2の位置を移動する磁場発生部と、第1の磁場を検出する第1の磁気検出素子と、第1の磁場とは異なる第2の磁場を検出する第2の磁気検出素子と、第1の磁気検出素子と前記第2の磁気検出素子の両方が、予め定められた閾値の検出をしたことにより、磁場発生部が第1の位置に到達したと判定する判定部と、を備えた位置検出装置を提供する。
本発明の位置検出装置によれば、磁場発生体の移動方向において、所定位置に対応する2つの磁気検出素子を異なる位置に配置しなくても、外部からの磁場による誤動作を抑えることができる位置検出装置を提供することができる。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置の説明図である。図1(a)は、上面からみた概略構造図であり、図1(b)は、側面から見た透視図とブロック図による構成説明図である。 図2は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置に用いる磁石の斜視図である。 図3は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置に用いる磁気検出素子の特性図である。図3(a)は、第1の磁気検出素子の特性図であり、図3(b)は、第2の磁気検出素子の特性図である。 図4は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置の説明図である。図4(a)は、上面からみた概略構造図であり、図4(b)は、図4(a)のA−A断面図であり、図4(c)は、図4(a)のB−B断面図である。 図5は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置判定部の判定プログラムのフロー図である。 図6は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置の回転支柱の回転状態による磁石の位置による特性図である。図6(a)は、磁石と磁気検出素子の距離の関係図であり、図6(b)は、磁気検出素子での磁束密度の特性図であり、図6(c)は、第1と第2の磁気検出素子の出力信号特性図であり、図6(d)は、第3の磁気検出素子の出力信号特性図である。 図7は、第2の実施の形態に係る位置検出装置の部分概略構造図である。 図8は、本発明の第2の実施の形態に係る位置検出装置に用いる磁気検出素子の特性図である。 図9は、第2の実施の形態の変形例に係る位置検出装置の部分概略構造図である。 図10は、第3の実施の形態に係る位置検出装置の部分概略構造図である。 図11は、第4の実施の形態に係る位置検出装置の部分概略構造図である。 図12は、第4の実施の形態に係る位置検出装置の磁気検出素子の回路構成図である。
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置の説明図である。図1(a)は、上面からみた概略構造図であり、図1(b)は、側面から見た透視図とブロック図による構成説明図である。図2は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置に用いる磁石の斜視図である。図3は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置に用いる磁気検出素子の特性図である。図3(a)は、第1の磁気検出素子の特性図であり、図3(b)は、第2の磁気検出素子の特性図である。図4は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置の説明図である。図4(a)は、上面からみた概略構造図であり、図4(b)は、図4(a)のA−A断面図であり、図4(c)は、図4(a)のB−B断面図である。図5は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置判定部の判定プログラムのフロー図である。
本発明の実施の形態に係る位置検出装置1は、図1のように、回転支柱5に取り付けられた磁石10と、基板30に搭載された第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23と、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23からの信号により回転支柱5の回転位置を判定する判定部40を備えている。
回転支柱5は、回転軸(Z軸)まわりに回転可能に取り付けられている。回転支柱5は、図示されていないステアリングホイールの回転をロックする図示されていないロック部材と連動している。回転支柱5は、ロック位置状態のからアンロック状態の位置の間の360度近い角度範囲で回転する。ロック状態の位置とは、ステアリングホイールの回転をロック部材がロックした状態の時の回転支柱5の回転状態の位置である。アンロック状態の位置とは、ステアリングホイールの回転をロック部材がアンロックした状態の時の回転支柱5の回転状態の位置である。
磁石10は、図2のような、片面2極の直方体形状の永久磁石である。この磁石10は、N極とS極の磁石を2対逆向きに組み合わせたように着磁され、N極とS極をそれぞれ2つ有した磁石である。この磁石10は、図1(b)のように、ひとつの面にN極10aとS極10bがある面が回転支柱5の側面側として取り付けられている。この側面側の極性は、回転支柱5の回転軸方向(Z軸方向)に、N極10aとS極10bが並べられて配置され、図1(b)の上方向がN極10aであり、下方向がS極10bである。
第1の磁気検出素子21は、N極単極検知のスイッチ式ホール素子(信号処理回路を有するIC)である。第1の磁気検出素子21は、N極が近づくと出力信号がLoとなり、N極が遠ざかると出力信号がHiになる。
すなわち、図3(a)に示すように、N極単極検知のスイッチ式ホール素子の特性は、N極からの磁場のない状態では、出力信号はHiである。N極が近づき磁束密度の大きさが増し、磁束密度の大きさが閾値の動作磁束密度:Bopになると、出力信号はLoになる。さらに磁束密度の大きさが増しても、出力信号はLOである。一方、出力信号がLoである状態から、N極が遠ざかり磁束密度の大きさが減じ、磁束密度の大きさが復帰磁束密度:Brpになると、出力信号はHiになる。さらに磁束密度の大きさが減じても出力信号はHiである。
第2の磁気検出素子22は、S極単極検知のスイッチ式ホール素子(信号処理回路を有するIC)である。第2の磁気検出素子22は、S極が近づくと出力信号がLoとなり、S極が遠ざかると出力信号がHiになる。
すなわち、図3(b)に示すように、S極単極検知のスイッチ式ホール素子の特性は、S極への磁場のない状態では、出力信号はHiである。S極が近づき磁束密度が増し、磁束密度が閾値の動作磁束密度:Bopになると、出力信号はLoになる。さらに磁束密度が増しても、出力信号はLOである。一方、出力信号がLoである状態から、S極が遠ざかり磁束密度が減じ、磁束密度が復帰磁束密度:Brpになると、出力信号はHiになる。さらに磁束密度が減じても出力信号はHiである。
N極単極検知のスイッチ式ホール素子の第1の磁気検出素子21は、N極からの方向成分の磁束密度を検知する。一方、S極単極検知のスイッチ式ホール素子の第2の磁気検出素子22は、S極への方向成分の磁束密度を検知する。第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22における、動作磁束密度と復帰磁束密度は、同じ大きさの値であるが、方向は逆である。
第3の磁気検出素子23は、第1の磁気検出素子21と同様のN極単極検知のスイッチ式ホール素子(信号処理回路を有するIC)である。
第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23の感磁面は、磁気検出素子の実装面と平行な面であり、感磁方向は感磁面に垂直な方向である。図3(a)、および、図3(b)の横軸の磁束密度は、基板30があるホール素子の背面側から磁石10が近接するホール素子の上面側に向かう方向を正としてある。
基板30は、絶縁性材料からなる回路基板であり、表面には金属による回路パターン(図示せず)が形成されている。基板30は、図1(a)のように、回転支柱5の円柱面の近くに、回転支柱5の回転軸に沿う方向で、基板30の面の法線方向がX軸と平行な方向とされて配置され、図示されていない固定部に取り付けられて固定されている。
第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23は、基板30に実装され、基板30の回路パターンと電気的に接続されている。そして、図1(b)のように、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23は、判定部40と電気的に接続されている。
第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23の感磁面は、基板30と平行な位置関係にある。また、これらの感磁面は、その法線が、回転支柱5の回転軸に直交する位置関係にある。
ロック状態の位置からアンロック状態の位置の間で回転する回転支柱5において、回転角に対応した円周上の磁石10の位置が、図4(a)に実線で示したアンロック位置:PULK位置と、破線で示したロック位置:PLK位置である。そして、基板30に実装された第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23は、アンロック位置およびロック位置における磁石10と対応した位置になるように配置されている。
すなわち、図4(b)のように、磁石10がアンロック位置にあるとき、N極単極検知のスイッチ式ホール素子の第1の磁気検出素子21は、片面2極の磁石10のN極10aに近接する配置である。S極単極検知のスイッチ式ホール素子の第2の磁気検出素子22は、磁石10のS極10bに近接する配置である。そして、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22および磁石10のN極10aとS極10bは、回転支柱5の回転軸方向に対称な配置である。第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の配置は、X軸とY軸方向の位置は同じで、Z軸方向の位置が異なる。
また、図4(c)のように、磁石10がロック位置にあるとき、N極単極検知のスイッチ式ホール素子の第3の磁気検出素子23は、磁石10のN極10aに近接する配置である。なお、第1の磁気検出素子21と第3の磁気検出素子23は、Y軸に対し対称な位置に配置されている。
判定部40は、例えば、記憶されたプログラムに従って、取得したデータに演算、加工等を行うCPU(Central Processing Unit)、半導体メモリであるRAM(Random Access Memory)及びROM(Read Only Memory)等から構成されるマイクロコンピュータである。このROMには、例えば、制御部が動作するためのプログラムが格納されている。RAMは、例えば、一時的に演算した検出情報等を格納する記憶領域として用いられる。
判定部40は、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22と第3の磁気検出素子23が出力する信号により、磁石10がアンロック位置、あるいは、ロック位置に到達したと判定するプログラムを格納している。
このプログラムは、第1の磁気検出素子21の出力信号と第2の磁気検出素子22の出力信号の両方が、Loであることにより、磁石10がアンロック位置に到達したと判定する。また、このプログラムは、第3の磁気検出素子23の出力信号が、Loであることにより、磁石10がロック位置に到達したと判定する。
すなわち、図5のフロー図のように、S1で第1の磁気検出素子21の出力信号がLoであるかを判定部40は確認する。Loであれば、さらに、S2で第2の磁気検出素子22出力信号がLoであるかを判定部40は確認する。そして、Loであれば、磁石10がアンロック位置に到達したと判定部40は判定する。
また、S1で第1の磁気検出素子21の出力信号がLoでない場合、および、S2で第2の磁気検出素子22出力信号がLoでない場合は、S3で第3の磁気検出素子23の出力信号がLoであるかを判定部40は確認する。Loであれば、磁石10がロック位置に到達したと判定部40は判定する。
(位置検出装置の動作)
図6は、本発明の第1の実施の形態に係る位置検出装置の回転支柱の回転状態による磁石の位置による特性図である。図6(a)は、磁石と磁気検出素子の距離の関係図であり、図6(b)は、磁気検出素子での磁束密度の特性図であり、図6(c)は、第1と第2の磁気検出素子の出力信号特性図であり、図6(d)は、第3の磁気検出素子の出力信号特性図である。
図6(a)〜図6(d)の横軸の回転支柱5の回転角度は、図4(a)において、磁石10がX軸上にあり、基板30に再近接している場合を基準としている。また、この回転角度から、ロック位置:PLK方向へ回転支柱5が回転する方向(図4(a)では右回り)を正方向としている。ただし、実際には磁石10は基準位置には位置しない。磁石10は、回転支柱5の回転によって、ロック位置:PLKからアンロック位置:PULKの間の基準位置側でない位置を移動する。
回転支柱5の回転による磁石10の移動によって、第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22と磁石10の距離、および、第3の磁気検出素子23と磁石10の距離は、図6(a)のように変化する。
すなわち、実線で示した、第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22と磁石10の距離は、可動範囲において、磁石10がロック位置:PLKから正方向へ移動するにつれて距離は大きくなり、170°付近で最大となり、その後、アンロック位置:PULKに近づくにつれて距離は小さくなる。また、破線で示した、第3の磁気検出素子23と磁石10の距離は、可動範囲において、磁石10がアンロック位置:PULKから負方向へ移動するにつれて距離は大きくなり、190°付近で最大となり、その後、ロック位置:PLKに近づくにつれて距離は小さくなる。
実線で示した、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の位置での磁石10からの磁束密度、および、破線で示した、第3の磁気検出素子23の位置での磁石10からの磁束密度は、図6(b)のように、およそ、磁石10との距離の2乗に反比例した大きさとなる。
そして、実線で示した、磁石10がロック位置:PLKからアンロック位置:PULKへ移動する場合、実線で示した、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の位置での磁石10からの磁束密度は、ロック位置:PLKからアンロック位置:PULKに近づく330°の間、動作磁束密度:Bopの1/5にも満たない値である。そして、340°付近から磁石10からの磁束密度は急激に大きくなり、アンロック位置:PULKで動作磁束密度:Bopを超える。
一方、磁石10がアンロック位置:PULKからロック位置:PLKへ移動する場合、破線で示した、第3の磁気検出素子23の位置での磁石10からの磁束密度は、アンロック位置:PULKからロック位置:PLKに近づく30°の間、動作磁束密度:Bopの1/5にも満たない値である。そして、20°付近から磁石10からの磁束密度は急激に大きくなり、ロック位置:PLKで動作磁束密度:Bopを超える。
アンロック位置での第1の磁気検出素子21およびロック位置での第3の磁気検出素子23では、磁場は磁石10のN極から基板30への方向である。アンロック位置での第2の磁気検出素子22では、磁場は基板30から磁石10のS極への方向である。また、ホール素子の磁気検出素子は、感磁面に対して垂直な方向成分の磁束密度を検出する。アンロック位置では、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の感磁面の垂直成分の磁束密度の大きさが、閾値の動作磁束密度:Bopに達する。ロック位置では、第3の磁気検出素子23の感磁面の垂直成分の磁束密度の大きさが、閾値の動作磁束密度:Bopに達する。
なお、アンロック位置:PULKおよびロック位置:PLK付近における、回転支柱5の回転による、磁気検出素子の感磁面での磁束密度の垂直成分の変化は、磁束密度の大きさの変化より急激な変化となる。このため検出位置精度は高くなる。また、90度あるいは270度付近では、磁束の方向が感磁面に対して平行になるので、磁束密度の垂直成分はゼロになる。
図6(c)のように、磁石10がロック位置:PLKからアンロック位置:PULKへ移動する場合、実線で示した、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の出力信号は、磁石10がアンロック位置:PULKになる直前までHiである。磁石10がアンロック位置:PULKに到達すると、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の出力信号は、Loになる。
そして、判定部40は、判定プログラムに従って、磁石10がアンロック位置に到達したと判定する。
なお、磁石10がアンロック位置:PULKからロック位置:PLKへ移動する場合、図6(c)のように、磁石10がアンロック位置:PULKから数度離れると、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の出力信号は、LoからHiへ変わる。その後、ロック位置:PLKまで出力信号はHiである。
図6(d)のように、磁石10がアンロック位置:PULKからロック位置:PLKへ移動する場合、破線で示した、第3の磁気検出素子23の出力信号は、磁石10がロック位置:PLKになる直前までHiである。磁石10がロック位置:PLKに到達すると、第3の磁気検出素子23の出力信号は、Loになる。
そして、判定部40は、判定プログラムに従い、第3の磁気検出素子23の出力信号がLoになったことで、磁石10がロック位置に到達したと判定する。
なお、磁石10がロック位置:PLKからアンロック位置:PULKへ移動する場合、図6(d)のように、磁石10がロック位置:PLKから数度離れると、第3の磁気検出素子23の出力信号は、LoからHiへ変わる。その後、出力信号は、アンロック位置:PULKまでHiである。
外乱磁場が発生した場合、磁石10がアンロック位置に到達していない状態で、同一方向に配置されている第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の一方の出力信号がLoになる場合はあるが、両方の出力信号がLoにはならない。すなわち、図3(a)と図3(b)の磁気検出素子の特性図に示されているように、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22は、180度異なる1方向の磁場にしか感度がない。このため、強い外乱磁場が発生したとしても、両方がLoの出力信号とはならない。
そして、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の配置は、回転支柱5の同一の回転方向(X軸とY軸方向の位置は同じ)であり、回転支柱5の移動中に強電磁場が発生しても、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の両方が不意に反転して切り替わることはない。そして、判定部40がロック位置に到達したと誤判定することはない。
(本発明の第1の実施の形態の効果)
上記した本発明の実施の形態によると、N極による磁場を検出する第1の磁気検出素子と、S極による磁場を検出する第2の磁気検出素子によって、アンロック位置に到達したことを検出し判定する構成としてある。これにより、2つの磁気検出素子を異なる位置に配置しなくても、外部からの磁場による誤動作を抑える効果が得られる。
[第2の実施の形態]
図7は、第2の実施の形態に係る位置検出装置の部分概略構造図である。図8は、本発明の第2の実施の形態に係る位置検出装置に用いる磁気検出素子の特性図である。以下の説明において、第1の実施の形態と同一の構成および機能を有する部分については同一の引用数字を付している。
第1の実施の形態では、磁石は1つの片面2極の磁石とし、第1および第2の磁気検出素子は、N極単極およびS極単極検知のスイッチ式ホール素子とした。これに対し、第2の実施の形態では、磁石は2つの一対のN極とS極の磁石とし、第1および第2の磁気検出素子は、同一仕様のリニア式ホール素子とした点が異なる。また、Hi/Loの出力信号を判定部が判定する点が異なる。
第2の実施の形態の位置検出装置2は、図7のように、一対のN極とS極をもつ第1の磁石11と第2の磁石12を備えている。第1の磁石11はN極が回転支柱5の側面側となるように取り付けられ、第2の磁石12はS極が回転支柱5の側面側となるように取り付けられている。第1の磁石11と第2の磁石12がアンロック位置にあるとき、第1の磁気検出素子21は、第1の磁石11のN極に近接する配置であり、第2の磁気検出素子22は、第2の磁石12のS極に近接する配置である。このように、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22に対して、個別の磁石を備えている。
第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22は、リニア式ホール素子である。リニア式ホール素子の特性は、図8に示すように、所定範囲内の磁場において、電圧値として出力される出力値は、磁束密度に比例している。すなわち、N極からの磁束密度が大きいと、大きな出力電圧となり、S極への磁束密度が大きいと、小さな出力電圧となる。磁場がないときはこの中間値となる。
そして、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の位置での磁石10からの磁束密度の大きさは、アンロック位置:PULKで磁束密度:Bpを超える設定としてある。第1の磁気検出素子21は磁束密度:−Bpを検知するとVth_Nの出力をする。第2の磁気検出素子22は磁束密度:Bpを検知するとVth_Sの出力をする。
判定部40は、第1の磁気検出素子21の出力が閾値:Vth_N以上であれば、第1の磁気検出素子21の出力信号をLoと判定する。また、判定部40は、第2の磁気検出素子22の出力が閾値:Vth_S以下であれば、第2の磁気検出素子22の出力信号をLoと判定する。つまり、N極からのN極磁場検出とS極へのS極磁場検出によって、判定部40は判定を行う。そして、第1の実施の形態と同様、図5に示したフローで、アンロック位置やロック位置の判定を行う。
外乱磁場が発生した場合、図8の磁気検出素子の特性図に示されているように、同時に第1の磁気検出素子21がVth_N以上、第2の磁気検出素子22がVth_S以下第1の磁気検出素子2とはならない。このため、強い外乱磁場が発生したとしても、両方がLoの出力信号とはならない。
図9は、第2の実施の形態の変形例に係る位置検出装置の部分概略構造図である。
第2の実施の形態の変形例は、図9のように、第2の実施の形態の一対のN極とS極をもつ第1の磁石11の両極が、回転支柱5の側面側となるように取り付けられている。1つの磁石のN極とS極によって、第1の磁石11がアンロック位置にあるとき、第1の磁気検出素子21はN極に近接し、第2の磁気検出素子22はS極に近接する。なお、磁石の磁力を補うために、第1の磁石11と第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22の距離を短く設定する。あるいは、磁力を補うためヨーク材などの磁性材料を用いるなどとしてもよい。
以上のように、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22は、同一仕様のリニア式ホール素子とし、これらの出力信号がそれぞれ逆方向の磁場の大きさに達した判定を判定部40が行うとした本実施の形態によっても、第1の実施の形態について説明した作用及び効果を得ることができる。
[第3の実施の形態]
図10は、第3の実施の形態に係る位置検出装置の部分概略構造図である。
第1および第2の実施の形態では、磁気検出素子はホール素子とし、回転支柱5の中心軸に直交する方向の磁場検出を行う形態を示したが、第3の実施の形態では、磁気検出素子は磁気抵抗素子とし、回転支柱5の中心軸に沿う方向の磁場検出を行うことにおいて第1および第2の実施の形態と相違している。
第3の実施の形態の位置検出装置3は、図10のように、一対のN極とS極をもつ第1の磁石11と第2の磁石12を備えている。第1の磁石11と第2の磁石12は、それぞれの両極が回転支柱5の側面側となるように取り付けられている。第1の磁石11と第2の磁石12のそれぞれの両極は、第1の磁石11のN極、第1の磁石11のS極、第2の磁石12のS極、第2の磁石12のN極の順で、回転支柱5の回転軸方向(Z軸方向)に並べられて配置されている。
第3の実施の形態の位置検出装置3の第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22は、磁気抵抗素子であるGMR(Giant Magnetoresistance Effect)素子である。GMR素子の感磁面は、基板30と平行な面である。GMR素子は、感磁面に沿った磁場の方向で抵抗値が変わる素子である。すなわち、所定の方向(図10の第1の磁気検出素子21あるいは第2の磁気検出素子22の矢印方向)に対する磁場の方向の角度の余弦値に相当する特性変化がある。所定の方向と磁場の方向が同じであれば抵抗値は最小値をとり、磁場の方向が反対方向であれば抵抗値は最大値をとる。
第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22は、図10のように、上述の所定の方向が逆方向になるように基板30に実装されている。そして、第1の磁石11と第2の磁石12がアンロック位置にあるとき、第1の磁気検出素子21は、第1の磁石11に近接し、第1の磁石11のN極からS極に通る磁場が矢印の方向に通る配置である。また、第2の磁気検出素子22は、第2の磁石12に近接し、第2の磁石12のN極からS極に通る磁場が矢印の方向に通る配置である。
判定部40は、第2の実施の形態と同様、第1の磁石11と第2の磁石12がアンロック位置になったときの第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22の出力の閾値を備え、Lo/Hiの判定を行い、アンロック位置の判定を行う。
外乱磁場が発生した場合、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22は、上述の所定の方向が逆方向になるように基板30に実装されているため、両方の抵抗値が低い値とはならない。このため、強い外乱磁場が発生したとしても、両方がLoの出力信号とはならない。
以上のように、磁気検出素子は磁気抵抗素子とし、回転支柱5の中心軸に沿い180度異なる方向の磁場検出を行うとした本実施の形態によっても、第1の実施の形態について説明した作用及び効果を得ることができる。
なお、GMR素子に代えて、TMR(Tunnel Magnetoresistance Effect)素子を用いても同様のことができる。
[第4の実施の形態]
図11は、第4の実施の形態に係る位置検出装置の部分概略構造図である。図12は、第4の実施の形態に係る位置検出装置の磁気検出素子の回路構成図である。
第4の実施の形態では、磁気検出素子は磁気抵抗素子であることにおいて第3の実施の形態と同様であるが、磁気抵抗素子の種類と磁場検出の方向が相違している。
第4の実施の形態の位置検出装置4は、図11(a)のように、一対のN極とS極をもつ第1の磁石11と第2の磁石12を備えている。第1の磁石11と第2の磁石12は、それぞれの両極が回転支柱5の側面側となるように取り付けられている。そして、図11(b)のように、第1の磁石11の両極は、回転支柱5の回転軸方向(Z軸方向)に並べられて、N極が上、S極が下として配置されている。第2の磁石12の両極は、回転支柱5の回転軸方向(Z軸方向)に直交する方向に並べられて、N極が左、S極が右として配置されている。
第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22は、磁気抵抗素子であるAMR(Anisotropic Magnetoresistance Effect)素子である。AMR素子は、通電電流方向に垂直な方向成分の磁場により抵抗値が大きくなる素子である。
第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22の感磁面は、図12に示されているように、Z軸方向に配置されたAMR素子:R1とZ軸方向に直交する方向に配置されたAMR素子:R2から構成されている。このため、AMR素子:R1とAMR素子:R2の中間位置の中間電圧:Vdは、磁場がないとき、Vcc/2となる。Z方向の磁場があるとき、R2の抵抗値が大きくなり、中間電圧:VdはVcc/2より小さな値となる。Z方向に直交する方向の磁場があるとき、R1の抵抗値が大きくなり、中間電圧:VdはVcc/2より大きな値となる。
そして、第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22は、同一方向で、基板30に実装されている。第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22の感磁面は、基板30と平行な面である。
第1の磁石11と第2の磁石12がアンロック位置にあるとき、第1の磁気検出素子21は、第1の磁石11に近接し、第1の磁石11のN極からS極に通る磁場がZ軸方向に通る配置である。また、第2の磁気検出素子22は、第2の磁石12に近接し、第2の磁石12のN極からS極に通る磁場がZ軸に直交する方向に通る配置である。このため、第1の磁気検出素子21の中間電圧:Vdは最小値をとる。一方、第2の磁気検出素子22の中間電圧:Vdは最大値をとる。
判定部40は、第2の実施の形態と同様、第1の磁石11と第2の磁石12がアンロック位置になったときの第1の磁気検出素子21および第2の磁気検出素子22の出力の閾値を備えている。第4の実施の形態では、上述の第1の磁気検出素子21の最小値と第2の磁気検出素子22の最大値が閾値である。これにより、Lo/Hiの判定を行い、アンロック位置の判定を行う。
外乱磁場が発生した場合、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22は、閾値に達する磁場の方向が90度異なるため、両方の中間電圧:Vdが閾値に達する値とはならない。このため、強い外乱磁場が発生したとしても、両方がLoの出力信号とはならない。
以上のように、磁気検出素子は磁気抵抗素子とし、回転支柱5の中心軸方向とそれに直交する方向の磁場検出を行うとした本実施の形態によっても、第1の実施の形態について説明した作用及び効果を得ることができる。
以上、本発明の実施の形態を説明したが、これらの実施の形態は、一例に過ぎず、特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。これら新規な実施の形態およびその変形例は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更等を行うことができる。
以上説明した実施の形態では、第1と第2の実施の形態のホール素子は、回転軸に垂直な方向の磁場を検出し、第3と第4の実施の形態の磁気抵抗素子は回転軸に沿った方向の磁場を検出する構成を示したが、これらに限るものではない。例えば、ホール素子は、感磁面の法線方向を回転軸と同じ方向に配置して、回転軸に沿った方向の磁場を検出する構成としてもよい。この場合、磁石は第3の実施の形態のように配置する。例えば、このように、磁気検出素子の感磁面と磁石による磁場の関係が第1〜第4の実施の形態と同じ配置であれば、同様の効果を得ることができる。
また、第1の磁気検出素子21と第2の磁気検出素子22の両方がLoとなった場合、アンロック位置にあると判断する形態を示したが、これに限るものではない。アンロック位置にあると判断される条件をHiとして、両方がHiとなった場合、アンロック位置にあると判断するとしても構わない。Lo/Hiの組み合わせで、アンロック位置にあると判断される設定でも構わない。Lo/Hiの設定は任意である。
また、磁石が回転支柱5の側面に取り付けられて、回転位置を検出する形態を示したが、これに限るものではない。例えば、磁石は回転体に回転駆動力を与えるギアに取り付けられてもよい。また、側面ではなく、例えば、上面に磁石が取り付けられてもよい。また、回転体ではなく、例えば、直線移動する移動体に磁石が取り付けられた位置検出装置としても構わない。また、用途はステアリングロック装置に限らない。
また、磁石を永久磁石として説明したが、電磁石であっても構わない。
なお、これら実施の形態の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない。さらに、これら実施の形態およびその変形例は、発明の範囲及び要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1、2、3、4…位置検出装置、5…回転支柱、
10…磁石、11…第1の磁石、12…第2の磁石、21…第1の磁気検出素子、22…第2の磁気検出素子、23…第3の磁気検出素子、30…基板、40…判定部

Claims (6)

  1. 磁場を発生させると共に第1の位置及び第2の位置を移動する磁場発生部と、
    第1の磁場を検出する第1の磁気検出素子と、
    前記第1の磁場とは異なる第2の磁場を検出する第2の磁気検出素子と、
    前記第1の磁気検出素子と前記第2の磁気検出素子の両方が、予め定められた閾値の検出をしたことにより、前記磁場発生部が前記第1の位置に到達したと判定する判定部
    を備えた位置検出装置。
  2. 前記磁場発生部は、前記移動方向に対し垂直方向へ異なる2方向の磁場を発生し、
    前記第1の磁気検出素子は、前記異なる2方向の磁場の一方を検出し、前記第2の磁気検出素子は、前記異なる2方向の磁場の他方を検出する
    請求項1に記載の位置検出装置。
  3. 前記磁場発生部は、片面2極型の永久磁石である
    請求項2に記載の位置検出装置。
  4. 前記磁場発生部は、前記第1の磁気検出素子、および、前記第2の磁気検出素子にそれぞれ対応した2つの永久磁石である
    請求項2に記載の位置検出装置。
  5. 前記第1の磁気検出素子はN極検出のホール素子であり、前記第2の磁気検出素子はS極検出のホール素子である
    請求項1から4のいずれか一項に記載の位置検出装置。
  6. 前記磁場発生部の移動は所定の円周上であり、前記第1の磁気検出素子、および、前記第2の磁気検出素子は、前記円周の中心軸方向に並べて配置されている
    請求項1から5のいずれか一項に記載の位置検出装置。

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