JP2021196276A - Inspection jig and inspection device - Google Patents

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Abstract

To provide an inspection jig and an inspection device that allow a circuit board and a heater block to electrically connect to each other without connecting the circuit board and the heater block to each other by a wire, while suppressing thermal influence that the circuit board receives from the heater block.SOLUTION: An inspection jig 10 of the present invention includes: a substrate 30 having a terminal 35 electrically connected to a device D; and a conductive heater block 40 for heating the device D by contacting the device D. The inspection device 10 for making the device D conductive while heating the device D, includes: a conductive external block 20 arranged at an interval from the heater block 40; and a conductive unit 31b provided on one surface of the substrate 30, the conductive unit 31b making the heater block 40 and the external block 20 conductive.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、被検査体であるデバイスを加熱しながら通電して検査するために用いられる検査治具及び検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection jig and an inspection device used for energizing and inspecting a device to be inspected while heating it.

FET等の半導体素子からなるデバイスでは、検査対象のデバイスを検査治具に取り付け、所定温度に加熱した状態で駆動させて動作不良となる素子を検出するバーンイン検査等の検査が行われている(例えば、下記特許文献1参照)。 For devices made of semiconductor elements such as FETs, inspections such as burn-in inspection are performed in which the device to be inspected is attached to an inspection jig and driven in a state of being heated to a predetermined temperature to detect an element that malfunctions (burn-in inspection). For example, see Patent Document 1 below).

特開平5−36793号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 5-36793

この種の検査において、検査対象が高周波で動作するデバイスの場合、検査対象の当該デバイスを加熱しながらグランドを安定化する必要がある。 In this type of inspection, if the inspection target is a device that operates at high frequencies, it is necessary to stabilize the ground while heating the device to be inspected.

そこで、デバイスに電源を供給する回路基板上にデバイスと接触して加熱するヒータブロックを設け、このヒータブロックを基準電位に接続してデバイスのグランドを安定化することが考えられる。しかしながら、ヒータブロックを回路基板上に設けると、検査対象のデバイスだけでなく回路基板に設けられた電子部品もヒータブロックの熱によって加熱されるため、回路基板に実装された電子部品が劣化しやすくなる。 Therefore, it is conceivable to provide a heater block that contacts and heats the device on a circuit board that supplies power to the device, and connects this heater block to a reference potential to stabilize the ground of the device. However, when the heater block is provided on the circuit board, not only the device to be inspected but also the electronic components provided on the circuit board are heated by the heat of the heater block, so that the electronic components mounted on the circuit board are likely to deteriorate. Become.

回路基板とヒータブロックとを離隔して配置し、回路基板に設けられたグランドラインとヒータブロックとを配線接続することで、回路基板がヒータブロックの熱影響を受けにくくなる。しかしながら、このような場合、回路基板とヒータブロックとを配線接続する必要があり、検査治具の構造が複雑になり組立工数がかかる。加えて、グランドラインが長くなりインピーダンスが高くなるため、検査対象のデバイスが意図しない高周波での動作を引き起こす要因となり得る。 By arranging the circuit board and the heater block apart from each other and connecting the ground line provided on the circuit board and the heater block by wiring, the circuit board is less likely to be affected by the heat of the heater block. However, in such a case, it is necessary to wire and connect the circuit board and the heater block, which complicates the structure of the inspection jig and requires assembling man-hours. In addition, the long ground line and high impedance can cause the device under inspection to operate at unintended high frequencies.

本発明は、上記の点に鑑みてなされたものであり、回路基板が受けるヒータブロックの熱影響を抑えつつ、回路基板とヒータブロックとを配線接続することなく、回路基板とヒータブロックを電気接続することができる検査治具及び検査装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above points, and the circuit board and the heater block are electrically connected without wiring and connecting the circuit board and the heater block while suppressing the thermal influence of the heater block on the circuit board. It is an object of the present invention to provide an inspection jig and an inspection apparatus capable of performing the inspection.

本発明にかかる検査治具は、デバイスに電気接続される端子が設けられた基板と、デバイスに接触してデバイスを加熱する導電性のヒータブロックとを備え、デバイスを加熱しながら通電するための検査治具において、前記ヒータブロックと間隔を隔てて配置された導電性の外部ブロックと、前記基板の一方面に設けられた導電部とを備え、前記導電部が前記ヒータブロックと前記外部ブロックとを導通するものである。 The inspection jig according to the present invention includes a substrate provided with terminals electrically connected to the device and a conductive heater block that contacts the device to heat the device, and is used to energize the device while heating it. The inspection jig includes a conductive outer block arranged at a distance from the heater block and a conductive portion provided on one surface of the substrate, and the conductive portion includes the heater block and the external block. Is conductive.

本発明にかかる検査装置は、検査治具に取り付けられたデバイスを加熱しながら通電する検査装置において、前記検査治具は、デバイスに電気接続される端子が設けられた基板と、デバイスに接触してデバイスを加熱する導電性のヒータブロックと、前記ヒータブロックと間隔を隔てて配置された導電性の外部ブロックと、前記基板の一方面に設けられた導電部とを備え、前記導電部が前記ヒータブロックと前記外部ブロックとを導通するものである。 The inspection device according to the present invention is an inspection device that energizes a device attached to the inspection jig while heating the device. The inspection jig is in contact with a substrate provided with a terminal electrically connected to the device and the device. A conductive heater block for heating the device, a conductive external block arranged at a distance from the heater block, and a conductive portion provided on one surface of the substrate, wherein the conductive portion is described as described above. It conducts the heater block and the external block.

本発明によれば、回路基板が受けるヒータブロックの熱影響を抑えつつ、回路基板とヒータブロックとを配線接続することなく、回路基板とヒータブロックを安定した低インピーダンス状態において電気接続することができる。 According to the present invention, it is possible to electrically connect the circuit board and the heater block in a stable low impedance state without wiring and connecting the circuit board and the heater block while suppressing the thermal influence of the heater block on the circuit board. ..

本発明の第1実施形態にかかる検査治具の斜視図Perspective view of the inspection jig according to the first embodiment of the present invention. 図1の検査治具の分解斜視図An exploded perspective view of the inspection jig shown in FIG. 図1の検査治具の断面斜視図Cross-sectional perspective view of the inspection jig of FIG. 図1の検査治具のソケットを取り外した状態の平面図Top view of the inspection jig socket of FIG. 1 with the socket removed. 図1の検査治具の要部拡大断面図Enlarged sectional view of the main part of the inspection jig shown in FIG. 本発明の第1実施形態の変更例に係る検査治具の斜視図Perspective view of the inspection jig according to the modified example of the first embodiment of the present invention. 図6の検査治具の要部拡大断面図Enlarged sectional view of the main part of the inspection jig of FIG. 本発明の第2実施形態に係る検査治具の分解斜視図An exploded perspective view of the inspection jig according to the second embodiment of the present invention. 図8の検査治具の断面図Sectional drawing of the inspection jig of FIG. 図8の検査治具の平面図Top view of the inspection jig of FIG.

(第1実施形態)
以下、本発明の第1実施形態について図1〜図5を参照して説明する。
(First Embodiment)
Hereinafter, the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 5.

本実施形態の検査治具10は、バーンイン検査等の信頼性検査を行う検査装置に1又は複数設けられ、検査対象のデバイスDを加熱しながら通電する。 The inspection jig 10 of the present embodiment is provided in one or a plurality of inspection devices for performing reliability inspection such as burn-in inspection, and energizes the device D to be inspected while heating it.

この検査治具10は、中央部に開口部11が形成された枠状の支持台12と、開口部11を塞ぐように支持台12の上に取り付けられた外部ブロック20と、外部ブロック20の上面に載置されたソケット基板30と、デバイスDに接触して加熱するヒータブロック40とを備える。 The inspection jig 10 includes a frame-shaped support base 12 having an opening 11 formed in the central portion, an external block 20 mounted on the support base 12 so as to close the opening 11, and an external block 20. It includes a socket substrate 30 placed on the upper surface and a heater block 40 that contacts and heats the device D.

図2に示すように、外部ブロック20は、開口部11を覆うように支持台12の上面に設けられた略板状のベースプレート21と、ベースプレート21の上面に取り付けられた一対のグランドプレート22とを備える。外部ブロック20を構成するベースプレート21及びグランドプレート22は、銅やその合金などの導電性を有する金属材からなる。 As shown in FIG. 2, the outer block 20 includes a substantially plate-shaped base plate 21 provided on the upper surface of the support base 12 so as to cover the opening 11, and a pair of ground plates 22 attached to the upper surface of the base plate 21. To be equipped. The base plate 21 and the ground plate 22 constituting the outer block 20 are made of a conductive metal material such as copper or an alloy thereof.

ベースプレート21は、所定の第1方向Xに延びる細長い矩形状のスリット23が設けられている。ベースプレート21は、スリット23が支持台12の開口部11と上下に連通するように支持台12上に重ねて設けられ、ボルトなどによって支持台12に固定される。ベースプレート21は、その上面に載置されたソケット基板30の回路基板31を支持する。 The base plate 21 is provided with an elongated rectangular slit 23 extending in a predetermined first direction X. The base plate 21 is provided so as to be overlapped with the support base 12 so that the slit 23 communicates vertically with the opening 11 of the support base 12, and is fixed to the support base 12 by bolts or the like. The base plate 21 supports the circuit board 31 of the socket board 30 mounted on the upper surface thereof.

ベースプレート21の下面には、開口部11を通って支持台12の下方へ延びる柱状スペーサ25が複数設けられている。柱状スペーサ25の下端には、支持台12の下方にベースプレート21と平行に配置された底板26が取り付けられている。 A plurality of columnar spacers 25 extending downward from the support base 12 through the opening 11 are provided on the lower surface of the base plate 21. At the lower end of the columnar spacer 25, a bottom plate 26 arranged in parallel with the base plate 21 is attached below the support base 12.

ベースプレート21の上面には、下方に凹んだ取付凹部24が設けられている。取付凹部24は、スリット23を挟んで対向するように第1方向Xに垂直な第2方向Yに間隔をあけて2箇所設けられている。取付凹部24の底面には、グランドプレート22が重ねて設けられている。 A mounting recess 24 recessed downward is provided on the upper surface of the base plate 21. The mounting recesses 24 are provided at two locations at intervals in the second direction Y perpendicular to the first direction X so as to face each other with the slit 23 interposed therebetween. A ground plate 22 is provided on the bottom surface of the mounting recess 24 so as to overlap with each other.

図2及び図4に示すように、一対のグランドプレート22は、ベースプレート21のスリット23の上方に隙間Sができるように、第2方向Yに間隔をあけて取付凹部24に配置されボルトなどによって固定されている。 As shown in FIGS. 2 and 4, the pair of ground plates 22 are arranged in the mounting recess 24 at intervals in the second direction Y so as to form a gap S above the slit 23 of the base plate 21, and are arranged by bolts or the like. It is fixed.

一対のグランドプレート22において隙間Sを向いた先端部には、対向するグランドプレート22へ(つまり、第2方向Yへ)向けて突出する突起27が第1方向Xに間隔をあけて複数(本実施形態では2箇所)突出している。一方のグランドプレート22の突起27は、隙間Sを挟んで対向する他方のグランドプレート22の突起27と第2方向Yに対向するように設けられている(図4参照)。グランドプレート22の突起27の下面には、前端に行くほど厚みが薄くなるように傾斜する傾斜面27aが設けられている。 At the tip of the pair of ground plates 22 facing the gap S, a plurality of protrusions 27 protruding toward the facing ground plates 22 (that is, toward the second direction Y) are spaced apart from each other in the first direction X (this). In the embodiment, there are two places) protruding. The protrusion 27 of one ground plate 22 is provided so as to face the protrusion 27 of the other ground plate 22 facing the gap S across the gap S in the second direction Y (see FIG. 4). An inclined surface 27a that is inclined so as to become thinner toward the front end is provided on the lower surface of the protrusion 27 of the ground plate 22.

また、一対のグランドプレート22には、検査装置の制御部など検査治具10の外部から検査信号及び基準電位(グランド電位)が入力されるコネクタ28が設けられている。 Further, the pair of ground plates 22 are provided with a connector 28 to which an inspection signal and a reference potential (ground potential) are input from the outside of the inspection jig 10 such as a control unit of the inspection device.

このようなグランドプレート22の上面には、ソケット基板30が設けられている。ソケット基板30は、グランドプレート22に設けられたコネクタ28と電気接続されており、検査信号と基準電位が外部より伝送されるようになっている。 A socket substrate 30 is provided on the upper surface of such a ground plate 22. The socket board 30 is electrically connected to the connector 28 provided on the ground plate 22, and the inspection signal and the reference potential are transmitted from the outside.

ソケット基板30は、グランドプレート22の上面に載置された回路基板31と、回路基板31の上面に実装されたソケット部32とを備える。 The socket board 30 includes a circuit board 31 mounted on the upper surface of the ground plate 22, and a socket portion 32 mounted on the upper surface of the circuit board 31.

回路基板31は、信号パターン31a及びグランドパターン31bが形成されるとともに、コンデンサなどの電子部品31cが実装されたプリント基板である(図5参照)。回路基板31は、一対のグランドプレート22の間に形成された隙間Sの上方位置に基板貫通孔31dが設けられている。 The circuit board 31 is a printed circuit board on which a signal pattern 31a and a ground pattern 31b are formed and an electronic component 31c such as a capacitor is mounted (see FIG. 5). The circuit board 31 is provided with a substrate through hole 31d at a position above the gap S formed between the pair of ground plates 22.

信号パターン31aは、グランドプレート22に設けられたコネクタ28の中心導体28aと電気接続され、外部からコネクタ28に入力された検査信号をソケット部32を介して検査対象のデバイスDへ伝送する。 The signal pattern 31a is electrically connected to the central conductor 28a of the connector 28 provided on the ground plate 22, and transmits an inspection signal input to the connector 28 from the outside to the device D to be inspected via the socket portion 32.

グランドパターン31bは、グランドプレート22とともにコネクタ28の外部導体28bと電気接続され、外部からコネクタ28に入力された基準電位をヒータブロック40を介してデバイスDへ伝送する。 The ground pattern 31b is electrically connected to the outer conductor 28b of the connector 28 together with the ground plate 22, and transmits the reference potential input to the connector 28 from the outside to the device D via the heater block 40.

本実施形態では、グランドプレート22が、コネクタ28の外部導体28bと電気接続されている。また、グランドパターン31bが、グランドプレート22及びヒータブロック40と接触するように回路基板31の下面に設けられており、グランドプレート22に電気接続されたコネクタ28の外部導体28bが、グランドプレート22及びグランドパターン31bを介してヒータブロック40と電気接続されている。 In this embodiment, the ground plate 22 is electrically connected to the outer conductor 28b of the connector 28. Further, the ground pattern 31b is provided on the lower surface of the circuit board 31 so as to be in contact with the ground plate 22 and the heater block 40, and the external conductor 28b of the connector 28 electrically connected to the ground plate 22 is the ground plate 22 and the outer conductor 28b. It is electrically connected to the heater block 40 via the ground pattern 31b.

なお、コネクタ28は、グランドプレート22の任意の位置に設けることができるが、図4に示すように、平面視においてコネクタ28を結ぶ直線上にデバイスDが位置するようにコネクタ28がグランドプレート22に設けられていることが好ましい。 The connector 28 can be provided at an arbitrary position on the ground plate 22, but as shown in FIG. 4, the connector 28 is located on the ground plate 22 so that the device D is located on a straight line connecting the connectors 28 in a plan view. It is preferable that the connector is provided in.

また、グランドパターン31bは、グランドプレート22及びヒータブロック40と面接触するように回路基板31の下面に設けられていることが好ましく、例えば、回路基板31の下面において信号パターン31aや電子部品31c等と干渉しない領域全体に設けられていることが好ましい。 Further, the ground pattern 31b is preferably provided on the lower surface of the circuit board 31 so as to be in surface contact with the ground plate 22 and the heater block 40. For example, the signal pattern 31a, the electronic component 31c, etc. are provided on the lower surface of the circuit board 31. It is preferable that it is provided in the entire region that does not interfere with.

ソケット部32は、回路基板31の上面に固定された下ソケット33と、下ソケット33の上側に設けられた上ソケット34と、回路基板31の信号パターン31aとデバイスDの電極とを電気接続する端子35とを備える。 The socket portion 32 electrically connects the lower socket 33 fixed to the upper surface of the circuit board 31, the upper socket 34 provided on the upper side of the lower socket 33, the signal pattern 31a of the circuit board 31, and the electrode of the device D. It is provided with a terminal 35.

下ソケット33は、その上面に下方へ凹んだ凹部33aが形成され、凹部33aの中央部に下ソケット貫通孔33bが形成されている。下ソケット貫通孔33bは、回路基板31の基板貫通孔31dと、一対のグランドプレート22の間に形成された隙間Sと、ベースプレート21のスリット23と、支持台12の開口部11と上下に連通している。 The lower socket 33 has a concave portion 33a recessed downward on the upper surface thereof, and a lower socket through hole 33b is formed in the central portion of the concave portion 33a. The lower socket through hole 33b communicates vertically with the substrate through hole 31d of the circuit board 31, the gap S formed between the pair of ground plates 22, the slit 23 of the base plate 21, and the opening 11 of the support base 12. is doing.

凹部33aの底面部には、ソケット貫通孔33bの周囲に複数の端子35が設けられている。端子35の下端部は、下ソケット33を貫通して回路基板31の信号パターン31aに電気接続されている。 A plurality of terminals 35 are provided on the bottom surface of the recess 33a around the socket through hole 33b. The lower end of the terminal 35 penetrates the lower socket 33 and is electrically connected to the signal pattern 31a of the circuit board 31.

下ソケット33の凹部33aには、デバイスDを収容可能な形状及び大きさの開口部37aが形成された中板37が設けられている。中板37は、凹部33aに設けられた端子35の上端部が開口部37aの周縁部から内方へ向かって突出するように端子35を上方から覆う。 A middle plate 37 having an opening 37a having a shape and a size capable of accommodating the device D is provided in the recess 33a of the lower socket 33. The middle plate 37 covers the terminal 35 from above so that the upper end portion of the terminal 35 provided in the recess 33a projects inward from the peripheral edge portion of the opening 37a.

上ソケット34は、凹部33aの上面開口部を開閉するようにヒンジ36を介して下ソケット33に連結されている。上ソケット34は、下ソケット33の上面開口部を閉塞した状態において、下ソケット貫通孔33bと上下に連通する上ソケット貫通孔34aと、上ソケット貫通孔34aの周縁部から下方へ突出する枠状の突条34bが設けられている。 The upper socket 34 is connected to the lower socket 33 via a hinge 36 so as to open and close the upper surface opening of the recess 33a. The upper socket 34 has an upper socket through hole 34a that communicates vertically with the lower socket through hole 33b and a frame shape that protrudes downward from the peripheral edge of the upper socket through hole 34a in a state where the upper surface opening of the lower socket 33 is closed. The ridge 34b is provided.

このようなソケット部32は、中板37の開口部37aにデバイスDを収容すると、開口部37aの周縁部から突出する端子35の上端部が、デバイスDの下面に設けられた電極に接触する。これにより、デバイスDは、端子35を介して回路基板31の信号パターン31aに電気接続される。そして、下ソケット33の凹部33aの上面開口部を上ソケット34によって閉塞すると、上ソケット34に設けられた突条34bがデバイスDを下方へ押さえつけて端子35や後述するヒータブロック40の第2突出部45に密着させる。 When the device D is housed in the opening 37a of the middle plate 37, the upper end of the terminal 35 protruding from the peripheral edge of the opening 37a comes into contact with the electrode provided on the lower surface of the device D. .. As a result, the device D is electrically connected to the signal pattern 31a of the circuit board 31 via the terminal 35. Then, when the upper surface opening of the recess 33a of the lower socket 33 is closed by the upper socket 34, the ridge 34b provided in the upper socket 34 presses the device D downward and the terminal 35 and the second protrusion of the heater block 40 described later are projected. It is brought into close contact with the portion 45.

図2、図3及び図5に示すように、ヒータブロック40は、銅やその合金などの導電性を有する金属材からなるブロック本体41と、ブロック本体41を加熱するヒータ42と、ブロック本体41の温度を検出する熱電対43とを備える。 As shown in FIGS. 2, 3 and 5, the heater block 40 includes a block body 41 made of a conductive metal material such as copper or an alloy thereof, a heater 42 for heating the block body 41, and a block body 41. It is provided with a thermocouple 43 for detecting the temperature of the above.

ブロック本体41は、ベースプレート21に設けられたスリット23や一対のグランドプレート22の間に形成された隙間Sに挿入可能なように第2方向Yに狭い細幅で第1方向Xに延びる第1突出部44と、第1突出部44から上方に突出する第2突出部45とを備える。ブロック本体41は、第2突出部45が第1突出部44より第1方向及びY第2方向Yに短く設けられており、第1突出部44と第2突出部45との間に段部46が形成されている。 The block body 41 has a narrow width in the second direction Y and extends in the first direction X so that it can be inserted into a gap S formed between a slit 23 provided in the base plate 21 and a pair of ground plates 22. A protruding portion 44 and a second protruding portion 45 projecting upward from the first protruding portion 44 are provided. The block main body 41 is provided with a second protruding portion 45 shorter than the first protruding portion 44 in the first direction and Y in the second direction Y, and a stepped portion is provided between the first protruding portion 44 and the second protruding portion 45. 46 is formed.

ブロック本体41は、第1突出部44が、ベースプレート21のスリット23及び一対のグランドプレート22の間に形成された隙間Sに下方から挿入され、第2突出部45が、基板貫通孔31d及び下ソケット貫通孔33bに下方から挿入されるように、耐熱性を有するスペーサを介して底板26上面に固定されている。 In the block body 41, the first protrusion 44 is inserted from below into the gap S formed between the slit 23 of the base plate 21 and the pair of ground plates 22, and the second protrusion 45 is the substrate through hole 31d and the bottom. It is fixed to the upper surface of the bottom plate 26 via a heat-resistant spacer so that it can be inserted into the socket through hole 33b from below.

このようにブロック本体41を底板26に固定すると、第1突出部44はベースプレート21やグランドプレート22の突起27と接触することなく所定間隔をあけて配置され、ブロック本体41の段部46は基板貫通孔31dの周縁部において回路基板31の下面に設けられたグランドパターン31bと面接触する。つまり、回路基板31のグランドパターン31bは、グランドプレート22とブロック本体41の段部46に跨がって設けられ、グランドプレート22とブロック本体41とを導通する導電部として機能する。 When the block main body 41 is fixed to the bottom plate 26 in this way, the first protruding portion 44 is arranged at a predetermined interval without contacting the protrusion 27 of the base plate 21 or the ground plate 22, and the step portion 46 of the block main body 41 is a substrate. At the peripheral edge of the through hole 31d, the ground pattern 31b provided on the lower surface of the circuit board 31 is in surface contact with the ground pattern 31b. That is, the ground pattern 31b of the circuit board 31 is provided so as to straddle the step portion 46 of the ground plate 22 and the block main body 41, and functions as a conductive portion that conducts the ground plate 22 and the block main body 41.

また、第2突出部45は、回路基板31や下ソケット33と接触することなく所定間隔をあけて配置され、第2突出部45の先端が、下ソケット33の凹部33aの底面より上方へ突出し、中板37の開口部37aに収容されたデバイスDの下面に接触する。これにより、段部46に接触するグランドパターン31bと、第2突出部45の先端に接触するデバイスDとがブロック本体41を介して電気接続される。 Further, the second protruding portion 45 is arranged at a predetermined interval without contacting the circuit board 31 or the lower socket 33, and the tip of the second protruding portion 45 projects upward from the bottom surface of the recess 33a of the lower socket 33. , Contact the lower surface of the device D housed in the opening 37a of the middle plate 37. As a result, the ground pattern 31b that contacts the step portion 46 and the device D that contacts the tip of the second protrusion 45 are electrically connected via the block main body 41.

なお、図2に示すように、ブロック本体41の第1突出部44の上面には、第2突出部45の周囲にソケット基板30の回路基板31から下方へ突出する端子35との接触を回避する凹部48が設けられている。 As shown in FIG. 2, the upper surface of the first protruding portion 44 of the block main body 41 avoids contact with the terminal 35 protruding downward from the circuit board 31 of the socket board 30 around the second protruding portion 45. A recess 48 is provided.

本実施形態の検査治具10では、図3に示すように上ソケット34を下ソケット33に対して開き、中板37の開口部37aにデバイスDを収容した後、上ソケット34を閉じて下ソケット33の上面開口部を閉塞することで、検査治具10にデバイスDがセットされる。このように検査治具10にセットされたデバイスDは、上ソケット34に設けられた突条34bに下方へ押さえられ、端子35及びヒータブロック40の第2突出部45の先端に密着する。 In the inspection jig 10 of the present embodiment, as shown in FIG. 3, the upper socket 34 is opened with respect to the lower socket 33, the device D is accommodated in the opening 37a of the middle plate 37, and then the upper socket 34 is closed and lowered. By closing the opening on the upper surface of the socket 33, the device D is set in the inspection jig 10. The device D set in the inspection jig 10 in this way is pressed downward by the ridge 34b provided on the upper socket 34, and comes into close contact with the tip of the second protrusion 45 of the terminal 35 and the heater block 40.

そして、検査治具10は、不図示の検査装置の制御部よりヒータ42にヒータ電源が供給されるとともに、コネクタ28の中心導体28a及び外部導体28bへ検査信号及び基準電位がそれぞれ入力される。 Then, in the inspection jig 10, the heater power is supplied to the heater 42 from the control unit of the inspection device (not shown), and the inspection signal and the reference potential are input to the central conductor 28a and the outer conductor 28b of the connector 28, respectively.

これにより、ヒータブロック40に設けられたヒータ42は、熱電対43によって検出される温度が所定温度になるようにブロック本体41を加熱することで、第2突出部45の先端からデバイスDを加熱しながら通電する。つまり、コネクタ28の中心導体28aに入力された検査信号は、回路基板31の信号パターン31a及びソケット部32の端子35を介してデバイスDの電極に入力され、外部導体28bに入力された基準電位は、外部ブロック20のグランドプレート22、回路基板31のグランドパターン31b及びヒータブロック40のブロック本体41を介してデバイスDの下面に入力されることで、デバイスDが所定条件によって通電される。 As a result, the heater 42 provided in the heater block 40 heats the device D from the tip of the second protrusion 45 by heating the block main body 41 so that the temperature detected by the thermocouple 43 becomes a predetermined temperature. Energize while energizing. That is, the inspection signal input to the central conductor 28a of the connector 28 is input to the electrode of the device D via the signal pattern 31a of the circuit board 31 and the terminal 35 of the socket portion 32, and the reference potential input to the external conductor 28b. Is input to the lower surface of the device D via the ground plate 22 of the external block 20, the ground pattern 31b of the circuit board 31, and the block body 41 of the heater block 40, so that the device D is energized according to a predetermined condition.

以上のような構成の検査治具10では、デバイスDに接触して加熱するヒータブロック40が、ベースプレート21やグランドプレート22から所定間隔をあけて配置されているため、ヒータブロック40の熱がグランドプレート22に載置されたソケット基板30へ伝わりにくく、回路基板31に実装された電子部品31cの熱劣化を抑えることができる。 In the inspection jig 10 having the above configuration, the heater block 40 that contacts and heats the device D is arranged at a predetermined interval from the base plate 21 and the ground plate 22, so that the heat of the heater block 40 is grounded. It is difficult to transmit to the socket board 30 mounted on the plate 22, and thermal deterioration of the electronic component 31c mounted on the circuit board 31 can be suppressed.

また、本実施形態の検査治具10では、所定間隔をあけて配置されたグランドプレート22とヒータブロック40とを、回路基板31に設けたグランドパターン31bによって導通しているため、ヒータブロック40とグランドプレート22との間を配線接続することなく、簡便な構造によってヒータブロック40とグランドプレート22とを電気接続することができる。 Further, in the inspection jig 10 of the present embodiment, since the ground plate 22 and the heater block 40 arranged at predetermined intervals are conducted by the ground pattern 31b provided on the circuit board 31, the heater block 40 and the inspection jig 10 are connected to each other. The heater block 40 and the ground plate 22 can be electrically connected by a simple structure without wiring and connecting the ground plate 22.

また、本実施形態の検査治具10では、グランドプレート22及びヒータブロック40が、回路基板31の下面に当接してこれを支持するため、回路基板31を容易かつ強固に固定することができる。 Further, in the inspection jig 10 of the present embodiment, since the ground plate 22 and the heater block 40 abut on and support the lower surface of the circuit board 31, the circuit board 31 can be easily and firmly fixed.

しかも、グランドプレート22やヒータブロック40が支持する回路基板31の下面にグランドパターン31bを設けることで、グランドパターン31bとグランドプレート22やヒータブロック40との接触面積を確保しやすくなり、グランドパターン31bのインピーダンスを小さくすることができる。そのため、高周波の検査信号を入力する場合であってもインピーダンスの不整合など抑えて、デバイスDを安定した動作状態で適正に検査することができる。 Moreover, by providing the ground pattern 31b on the lower surface of the circuit board 31 supported by the ground plate 22 and the heater block 40, it becomes easy to secure the contact area between the ground pattern 31b and the ground plate 22 and the heater block 40, and the ground pattern 31b Impedance can be reduced. Therefore, even when a high-frequency inspection signal is input, the device D can be properly inspected in a stable operating state by suppressing impedance mismatch and the like.

また、本実施形態の検査治具10では、第2突出部45が挿入される基板貫通孔31dの周縁部において回路基板31のグランドパターン31bがブロック本体41と接触しており、デバイスDの近い位置でブロック本体41が回路基板31のグランドパターン31bと電気接続されている。そのため、グランドパターン31bのインピーダンスを小さくすることができ、高周波の検査信号を入力する場合であってもインピーダンスの不整合など抑えて、デバイスDを安定した動作状態で適正に検査することができる。 Further, in the inspection jig 10 of the present embodiment, the ground pattern 31b of the circuit board 31 is in contact with the block body 41 at the peripheral edge of the substrate through hole 31d into which the second protrusion 45 is inserted, and is close to the device D. At the position, the block main body 41 is electrically connected to the ground pattern 31b of the circuit board 31. Therefore, the impedance of the ground pattern 31b can be reduced, and even when a high-frequency inspection signal is input, the impedance mismatch can be suppressed and the device D can be properly inspected in a stable operating state.

また、本実施形態では、一対のグランドプレート22の先端部に突起27を設け、グランドプレート22と第1突出部44との間隔を部分的に近接させているため、グランドパターン31bの低インピーダンス化を図りつつ、ヒータブロック40からの熱がグランドプレート22を介して回路基板31へ伝わるのを防ぐことができる。 Further, in the present embodiment, the protrusions 27 are provided at the tips of the pair of ground plates 22 so that the distance between the ground plates 22 and the first protrusions 44 is partially close to each other, so that the impedance of the ground pattern 31b is reduced. It is possible to prevent the heat from the heater block 40 from being transferred to the circuit board 31 via the ground plate 22.

(第1実施形態の変更例)
次に、上記した第1実施形態の変更例について図6〜図7を参照して説明する。
(Example of modification of the first embodiment)
Next, a modified example of the first embodiment described above will be described with reference to FIGS. 6 to 7.

本変更例では、ソケット基板30の回路基板31に設けられたスルーホール31eに、ヒータブロック40の第1突出部44の上面から上方へ突出する凸状接点49が挿入されている。凸状接点49は下方からスルーホール31eに挿入されると、回路基板31に設けられたグランドパターン31bに電気接続される。 In this modification, a convex contact 49 protruding upward from the upper surface of the first protruding portion 44 of the heater block 40 is inserted into the through hole 31e provided in the circuit board 31 of the socket board 30. When the convex contact 49 is inserted into the through hole 31e from below, it is electrically connected to the ground pattern 31b provided on the circuit board 31.

このような変更例では、凸状接点49が回路基板31のスルーホール31eに挿入されるとヒータブロック40に対して回路基板31が位置決めされるため、ヒータブロック40に回路基板31を位置精度よく設けることができ、ソケット基板30に設けられた端子をデバイスDの電極に精度良く接触させつつ、デバイスDの所望位置に第2突出部45を接触させて加熱することができる。 In such a modification example, when the convex contact 49 is inserted into the through hole 31e of the circuit board 31, the circuit board 31 is positioned with respect to the heater block 40, so that the circuit board 31 is positioned accurately in the heater block 40. It can be provided, and the terminal provided on the socket substrate 30 can be brought into contact with the electrode of the device D with high accuracy, and the second protruding portion 45 can be brought into contact with the desired position of the device D to be heated.

なお、本変更例において、凸状接点49は、円錐状や多角錐状のように先端(上端)に行くほど細くなる先細状であると、回路基板31の位置決め精度が高くなることから好ましい。 In this modified example, it is preferable that the convex contact 49 has a tapered shape that becomes thinner toward the tip (upper end), such as a cone or a polygonal pyramid, because the positioning accuracy of the circuit board 31 is improved.

また、本変更例において、図7に示すように、ヒータブロック40の第1突出部44と回路基板31との間にヒータブロック40から回路基板31への熱伝導を抑制する断熱シート39を設けてもよい。つまり、断熱シート39を貫通するスルーホール39aが回路基板31のスルーホール31eと連通するように第1突出部44と回路基板31との間に断熱シート39を設け、断熱シート39のスルーホール39aと回路基板31のスルーホール31eに凸状接点49を下方から挿入することで、回路基板31に設けられたグランドパターン31bに凸状接点49を電気接続する。このような場合、上記した変更例の作用効果に加え、ヒータブロック40から回路基板31への熱伝導が抑制され、回路基板31に実装された電子部品31cの劣化を抑えることができる。 Further, in this modification, as shown in FIG. 7, a heat insulating sheet 39 for suppressing heat conduction from the heater block 40 to the circuit board 31 is provided between the first protruding portion 44 of the heater block 40 and the circuit board 31. You may. That is, a heat insulating sheet 39 is provided between the first protruding portion 44 and the circuit board 31 so that the through hole 39a penetrating the heat insulating sheet 39 communicates with the through hole 31e of the circuit board 31, and the through hole 39a of the heat insulating sheet 39 is provided. By inserting the convex contact 49 into the through hole 31e of the circuit board 31 from below, the convex contact 49 is electrically connected to the ground pattern 31b provided on the circuit board 31. In such a case, in addition to the operation and effect of the above-described modification, heat conduction from the heater block 40 to the circuit board 31 can be suppressed, and deterioration of the electronic component 31c mounted on the circuit board 31 can be suppressed.

(第2実施形態)
次に、本発明の第2実施形態について図8〜図10を参照して説明する。
(Second Embodiment)
Next, the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 8 to 10.

本実施形態の検査治具110では、検査信号や基準電位をデバイスDへ伝送する回路基板131と、デバイスDに接触して加熱するブロック本体141の構成が、上記した第1実施形態の検査治具10と異なっている。なお、第1実施形態と同一又は対応する構成には同一符号を付し、詳細な説明を省略する。 In the inspection jig 110 of the present embodiment, the configuration of the circuit board 131 for transmitting the inspection signal and the reference potential to the device D and the block main body 141 for contacting and heating the device D is the inspection cure of the first embodiment described above. It is different from the tool 10. The same or corresponding configurations as those in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

図8に示すように、回路基板131は、信号パターン131a及びグランドパターン131bが形成されるとともに、コンデンサなどの電子部品131cが実装されたプリント基板である。回路基板131は、一対のグランドプレート22の間に形成された隙間Sを跨ぐように一対のグランドプレート22の上面に載置され、隙間Sの上方位置に基板貫通孔131dが設けられている。 As shown in FIG. 8, the circuit board 131 is a printed circuit board on which a signal pattern 131a and a ground pattern 131b are formed and an electronic component 131c such as a capacitor is mounted. The circuit board 131 is placed on the upper surface of the pair of ground plates 22 so as to straddle the gap S formed between the pair of ground plates 22, and the substrate through hole 131d is provided above the gap S.

信号パターン131aは、グランドプレート22に設けられたコネクタ28の中心導体28aと電気接続され、外部からコネクタ28に入力された検査信号を検査対象のデバイスDへ伝送する。本実施形態では、信号パターン131aは、一端がグランドプレート22に設けられたコネクタ28の中心導体28aと電気接続され、他端が基板貫通孔131dの周縁部で終端している。基板貫通孔131dの周縁部に位置する信号パターン131aの他端部は、基板貫通孔131dに収容されたデバイスDの電極と接触して電気接続される端子として機能する。 The signal pattern 131a is electrically connected to the central conductor 28a of the connector 28 provided on the ground plate 22, and transmits an inspection signal input to the connector 28 from the outside to the device D to be inspected. In the present embodiment, one end of the signal pattern 131a is electrically connected to the central conductor 28a of the connector 28 provided on the ground plate 22, and the other end is terminated at the peripheral edge of the substrate through hole 131d. The other end of the signal pattern 131a located at the peripheral edge of the substrate through hole 131d functions as a terminal that is in contact with the electrode of the device D accommodated in the substrate through hole 131d and is electrically connected.

グランドパターン131bは、グランドプレート22とともにコネクタ28の外部導体28bと電気接続されている。また、グランドパターン131bは、グランドプレート22及びヒータブロック140と接触するように回路基板131の下面に設けられている。 The ground pattern 131b is electrically connected to the outer conductor 28b of the connector 28 together with the ground plate 22. Further, the ground pattern 131b is provided on the lower surface of the circuit board 131 so as to be in contact with the ground plate 22 and the heater block 140.

なお、グランドパターン131bは、グランドプレート22及びヒータブロック140と面接触するように回路基板131の下面に設けられていることが好ましく、例えば、回路基板131の下面において信号パターン131aや電子部品131c等と干渉しない領域全体に設けられていることが好ましい。 The ground pattern 131b is preferably provided on the lower surface of the circuit board 131 so as to be in surface contact with the ground plate 22 and the heater block 140. For example, the signal pattern 131a, the electronic component 131c, etc. are provided on the lower surface of the circuit board 131. It is preferable that it is provided in the entire region that does not interfere with.

図8〜図10に示すように、ヒータブロック140を構成するブロック本体141は、ベースプレート21に設けられたスリット23や一対のグランドプレート22の間に形成された隙間Sに挿入可能なように第2方向Yに狭い細幅で第1方向Xに延びる第1突出部144を備える。 As shown in FIGS. 8 to 10, the block main body 141 constituting the heater block 140 can be inserted into a gap S formed between a slit 23 provided in the base plate 21 and a pair of ground plates 22. A first protrusion 144 extending in the first direction X with a narrow width in the two directions Y is provided.

第1突出部144は、グランドプレート22と第2方向Yに対向する位置に、グランドプレート22から離れるように第2方向Yに凹んだくびれ部150が設けられている。第1突出部144において、くびれ部150によって第2方向Yに幅狭な部分は、回路基板131に設けられた基板貫通孔131dと上下方向に重なりデバイスDが載置される載置部151となる。 The first protruding portion 144 is provided with a constricted portion 150 recessed in the second direction Y so as to be away from the ground plate 22 at a position facing the ground plate 22 in the second direction Y. In the first protruding portion 144, the portion narrowed in the second direction Y by the constricted portion 150 is vertically overlapped with the substrate through hole 131d provided in the circuit board 131 and the mounting portion 151 on which the device D is mounted. Become.

第1突出部144は、くびれ部150と回路基板131の基板貫通孔131dとが上下に重なるように、ベースプレート21のスリット23及び一対のグランドプレート22の間に形成された隙間Sに下方から挿入され、第1突出部144の上面が回路基板131の下面に設けられたグランドパターン131bと面接触する。 The first protruding portion 144 is inserted from below into the gap S formed between the slit 23 of the base plate 21 and the pair of ground plates 22 so that the constricted portion 150 and the substrate through hole 131d of the circuit board 131 overlap each other vertically. The upper surface of the first protruding portion 144 comes into surface contact with the ground pattern 131b provided on the lower surface of the circuit board 131.

この状態では、第1突出部144がベースプレート21やグランドプレート22と接触することなく所定間隔をあけて配置されている。また、載置部151は回路基板131の基板貫通孔131dを下方から覆い、載置部151から第1方向Xに離れた位置において、つまり、基板貫通孔131dの周縁部において、第1突出部144の上面が回路基板131の下面に設けられたグランドパターン131bと面接触する。 In this state, the first protrusions 144 are arranged at predetermined intervals without contacting the base plate 21 and the ground plate 22. Further, the mounting portion 151 covers the substrate through hole 131d of the circuit board 131 from below, and is a first protruding portion at a position away from the mounting portion 151 in the first direction X, that is, at the peripheral portion of the substrate through hole 131d. The upper surface of 144 comes into surface contact with the ground pattern 131b provided on the lower surface of the circuit board 131.

そして、ブロック本体141は、このような状態で耐熱性を有するスペーサを介して底板26上面に固定されている。 Then, the block main body 141 is fixed to the upper surface of the bottom plate 26 via a spacer having heat resistance in such a state.

本実施形態では、載置部151から第1方向Xに離れた位置において、ネジなどの固定具152によってブロック本体141の第1突出部144に回路基板131が固定されている。この固定具152は、回路基板131を第1突出部144に固定するとともに、載置部151から第1方向Xに離れた位置において回路基板131の下面に設けられたグランドパターン131bを第1突出部144の上面に押し付ける押圧部材として機能する。 In the present embodiment, the circuit board 131 is fixed to the first protruding portion 144 of the block main body 141 by a fixing tool 152 such as a screw at a position away from the mounting portion 151 in the first direction X. The fixture 152 fixes the circuit board 131 to the first protrusion 144, and first projects the ground pattern 131b provided on the lower surface of the circuit board 131 at a position away from the mounting portion 151 in the first direction X. It functions as a pressing member that is pressed against the upper surface of the portion 144.

このような本実施形態の検査治具110では、図9及び図10に示すように、回路基板131の基板貫通孔131dにデバイスDが収容されると、デバイスDの下面がヒータブロック140の第1突出部144に設けられた載置部151と面接触する。また、デバイスDの電極は、回路基板131の基板貫通孔131dの周縁部に設けられた信号パターン131aの端部に接触する。 In such an inspection jig 110 of the present embodiment, as shown in FIGS. 9 and 10, when the device D is housed in the substrate through hole 131d of the circuit board 131, the lower surface of the device D becomes the second heater block 140. 1 It comes into surface contact with the mounting portion 151 provided on the protruding portion 144. Further, the electrode of the device D comes into contact with the end portion of the signal pattern 131a provided on the peripheral edge portion of the substrate through hole 131d of the circuit board 131.

そして、検査治具110は、不図示の検査装置の制御部よりヒータ42にヒータ電源が供給されるとともに、コネクタ28の中心導体28a及び外部導体28bへ検査信号及び基準電位がそれぞれ入力される。 Then, in the inspection jig 110, the heater power is supplied to the heater 42 from the control unit of the inspection device (not shown), and the inspection signal and the reference potential are input to the central conductor 28a and the outer conductor 28b of the connector 28, respectively.

これにより、ヒータブロック140に設けられたヒータ42は、熱電対43によって検出される温度が所定温度になるようにブロック本体141を加熱することで、第1突出部144の載置部151からデバイスDを加熱しながら通電する。つまり、コネクタ28の中心導体28aに入力された検査信号は、回路基板131の信号パターン131aを介してデバイスDの電極に入力され、外部導体28bに入力された基準電位は、外部ブロック20のグランドプレート22、回路基板131のグランドパターン131b及びヒータブロック140のブロック本体141を介してデバイスDの下面に入力されることで、デバイスDが所定条件によって通電される。 As a result, the heater 42 provided in the heater block 140 heats the block main body 141 so that the temperature detected by the thermocouple 43 becomes a predetermined temperature, thereby causing the device from the mounting portion 151 of the first protruding portion 144. Energize while heating D. That is, the inspection signal input to the central conductor 28a of the connector 28 is input to the electrode of the device D via the signal pattern 131a of the circuit board 131, and the reference potential input to the external conductor 28b is the ground of the external block 20. The device D is energized according to a predetermined condition by being input to the lower surface of the device D via the plate 22, the ground pattern 131b of the circuit board 131, and the block main body 141 of the heater block 140.

以上のような構成の検査治具110でも、上記した第1実施形態の検査治具10と同様、ヒータブロック140の熱がグランドプレート22に載置された回路基板131へ伝わりにくく、回路基板131に実装された電子部品131cの熱劣化を抑えることができる。 Even with the inspection jig 110 having the above configuration, the heat of the heater block 140 is difficult to be transferred to the circuit board 131 mounted on the ground plate 22, and the circuit board 131 is difficult to transfer, as in the inspection jig 10 of the first embodiment described above. It is possible to suppress thermal deterioration of the electronic component 131c mounted on the.

また、ヒータブロック140とグランドプレート22との間を配線接続することなく、接触面積を確保しながらヒータブロック140とグランドプレート22とを電気接続することができ、簡便な構造によってグランドパターン131bのインピーダンスを小さく保ちながらデバイスDに基準電位を入力することができる。 Further, the heater block 140 and the ground plate 22 can be electrically connected while securing a contact area without wiring and connecting the heater block 140 and the ground plate 22, and the impedance of the ground pattern 131b can be obtained by a simple structure. The reference potential can be input to the device D while keeping the size small.

また、本実施形態の検査治具110では、回路基板131の下面に設けられたグランドパターン131bが基板貫通孔131dの第1方向X側においてブロック本体141と接触しており、デバイスDに近い位置でブロック本体141が回路基板131のグランドパターン131bと電気接続されている。そのため、グランドパターン131bのインピーダンスを小さくすることができ、高周波の検査信号を入力する場合であってもノイズ発生を抑えてデバイスDを検査することができる。しかも、本実施形態では、固定具152が回路基板131の下面に設けられたグランドパターン131bをブロック本体141に押し付けているため、接触抵抗を低減することができる。 Further, in the inspection jig 110 of the present embodiment, the ground pattern 131b provided on the lower surface of the circuit board 131 is in contact with the block body 141 on the first direction X side of the substrate through hole 131d, and is located near the device D. The block body 141 is electrically connected to the ground pattern 131b of the circuit board 131. Therefore, the impedance of the ground pattern 131b can be reduced, and the device D can be inspected while suppressing noise generation even when a high-frequency inspection signal is input. Moreover, in the present embodiment, since the fixture 152 presses the ground pattern 131b provided on the lower surface of the circuit board 131 against the block main body 141, the contact resistance can be reduced.

また、本実施形態では、ブロック本体141においてデバイスDが載置される載置部151とグランドプレート22との間にくびれ部150が設けられているため、グランドプレート22とブロック本体141との間隔が広がり、ヒータブロック140の熱がグランドプレート22に載置された回路基板131へ伝わりにくくなり、回路基板131に設けられた電子部品131cの劣化を抑えることができる。 Further, in the present embodiment, since the constricted portion 150 is provided between the mounting portion 151 on which the device D is mounted and the ground plate 22 in the block main body 141, the distance between the ground plate 22 and the block main body 141 is provided. The heat of the heater block 140 is less likely to be transferred to the circuit board 131 mounted on the ground plate 22, and deterioration of the electronic component 131c provided on the circuit board 131 can be suppressed.

(その他の実施形態)
以上、本発明の実施形態を説明したが、これらの実施形態は例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これらの実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
(Other embodiments)
Although the embodiments of the present invention have been described above, these embodiments are presented as examples and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other embodiments, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and variations thereof are included in the scope of the invention described in the claims and the equivalent scope thereof, as are included in the scope and gist of the invention.

10…検査治具、11…開口部、12…支持台、20…外部ブロック、21…ベースプレート、22…グランドベース、23…スリット、24…取付凹部、25…柱状スペーサ、26…底板、27…突起、28…コネクタ、28a…中心導体、28b…外部導体、30…ソケット基板、31…回路基板、31a…信号パターン、31b…グランドパターン、31c…電子部品、31d…基板貫通孔、31e…スルーホール、32…ソケット部、33…下ソケット、33a…凹部、33b…下ソケット貫通孔、34…上ソケット、34a…上ソケット貫通孔、34b…突条、35…端子、36…ヒンジ、37…中板、37a…開口部、40…ヒータブロック、41…ブロック本体、42…ヒータ、43…熱電対、44…第1突出部、45…第2突出部、46…段部 10 ... Inspection jig, 11 ... Opening, 12 ... Support stand, 20 ... External block, 21 ... Base plate, 22 ... Ground base, 23 ... Slit, 24 ... Mounting recess, 25 ... Columnar spacer, 26 ... Bottom plate, 27 ... Projection, 28 ... Connector, 28a ... Center conductor, 28b ... External conductor, 30 ... Socket board, 31 ... Circuit board, 31a ... Signal pattern, 31b ... Ground pattern, 31c ... Electronic components, 31d ... Board through hole, 31e ... Through Hole, 32 ... Socket part, 33 ... Lower socket, 33a ... Recess, 33b ... Lower socket through hole, 34 ... Upper socket, 34a ... Upper socket through hole, 34b ... Spike, 35 ... Terminal, 36 ... Hinge, 37 ... Middle plate, 37a ... Opening, 40 ... Heater block, 41 ... Block body, 42 ... Heater, 43 ... Thermocouple, 44 ... First protrusion, 45 ... Second protrusion, 46 ... Step

Claims (10)

デバイスに電気接続される端子が設けられた基板と、デバイスに接触してデバイスを加熱する導電性のヒータブロックとを備え、デバイスを加熱しながら通電するための検査治具において、
前記ヒータブロックと間隔を隔てて配置された導電性の外部ブロックと、前記基板の一方面に設けられた導電部とを備え、前記導電部が前記ヒータブロックと前記外部ブロックとを導通する検査治具。
In an inspection jig provided with a substrate provided with terminals electrically connected to the device and a conductive heater block that contacts the device and heats the device, and energizes the device while heating it.
An inspection method in which a conductive outer block arranged at a distance from the heater block and a conductive portion provided on one surface of the substrate are provided, and the conductive portion conducts the heater block and the external block. Ingredients.
前記ヒータブロック及び前記外部ブロックは、前記基板の一方面に当接して前記基板を支持する請求項1に記載の検査治具。 The inspection jig according to claim 1, wherein the heater block and the external block abut on one surface of the substrate to support the substrate. 前記基板は、貫通孔を備え、
前記ヒータブロック及びデバイスの少なくとも一方が前記貫通孔に挿入されて前記ヒータブロックがデバイスに接触し、
前記貫通孔の周縁部の少なくとも一部に前記導電部が設けられている請求項1又は2に記載の検査治具。
The substrate has through holes and
At least one of the heater block and the device is inserted into the through hole and the heater block comes into contact with the device.
The inspection jig according to claim 1 or 2, wherein the conductive portion is provided at least a part of the peripheral portion of the through hole.
前記基板は、貫通孔を備え、
前記ヒータブロックは、前記貫通孔に挿通され前記基板の一方面側から他方面側へ突出する突出部を備え、
前記突出部の先端がデバイスに接触する請求項1〜3のいずれか1項に記載の検査治具。
The substrate has through holes and
The heater block includes a protrusion that is inserted through the through hole and projects from one side to the other side of the substrate.
The inspection jig according to any one of claims 1 to 3, wherein the tip of the protrusion contacts the device.
前記外部ブロック、前記導電部及び前記ヒータブロックを介して、デバイスに基準電位が入力される請求項1〜4のいずれか1項に記載の検査治具。 The inspection jig according to any one of claims 1 to 4, wherein a reference potential is input to the device via the external block, the conductive portion, and the heater block. 前記基板は、第1スルーホールを備え、
前記ヒータブロックは、前記第1スルーホールに挿入され、前記基板に設けられた前記導電部に電気接続される凸状接点を備える請求項1〜5のいずれか1項に記載の検査治具。
The substrate comprises a first through hole.
The inspection jig according to any one of claims 1 to 5, wherein the heater block is inserted into the first through hole and has a convex contact that is electrically connected to the conductive portion provided on the substrate.
前記基板と前記ヒータブロックとの間に設けられ、前記凸状接点が挿通される第2スルーホールが形成された断熱シートを備える請求項6に記載の検査治具。 The inspection jig according to claim 6, further comprising a heat insulating sheet provided between the substrate and the heater block and formed with a second through hole through which the convex contact is inserted. 前記ヒータブロックと前記外部ブロックは、前記基板の一方面に対向するように一方面に平行な方向に間隔をあけて配置され、
前記ヒータブロックは、デバイスが接触する部分と前記外部ブロックとの間に前記外部ブロックから離れるように凹んだくびれ部を備える請求項1〜7のいずれか1項に記載の検査治具。
The heater block and the external block are arranged at intervals in a direction parallel to one surface so as to face one surface of the substrate.
The inspection jig according to any one of claims 1 to 7, wherein the heater block is provided with a constricted portion between a portion in contact with the device and the external block so as to be separated from the external block.
前記ヒータブロックと前記外部ブロックとが対向する方向と直交する方向に、前記基板を前記ヒータブロックに押さえつける押圧部材が設けられている請求項8に記載の検査治具。 The inspection jig according to claim 8, wherein a pressing member for pressing the substrate against the heater block is provided in a direction orthogonal to the direction in which the heater block and the external block face each other. 検査治具に取り付けられたデバイスを加熱しながら通電する検査装置において、
前記検査治具は、デバイスに電気接続される端子が設けられた基板と、デバイスに接触してデバイスを加熱する導電性のヒータブロックと、前記ヒータブロックと間隔を隔てて配置された導電性の外部ブロックと、前記基板の一方面に設けられた導電部とを備え、前記導電部が前記ヒータブロックと前記外部ブロックとを導通する検査装置。
In an inspection device that energizes the device attached to the inspection jig while heating it.
The inspection jig includes a substrate provided with terminals electrically connected to the device, a conductive heater block that contacts the device and heats the device, and a conductive heater block that is spaced apart from the heater block. An inspection device including an external block and a conductive portion provided on one surface of the substrate, wherein the conductive portion conducts the heater block and the external block.
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