JP2021186666A - 多材料分解のための方法およびシステム - Google Patents
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Abstract
Description
μ=[μkeV1,...,μkeVN]
較正データ内の変数の変化を適用することができる。例えば、較正データの順モデルfcalは、以下のように表すことができる。
ここで、μ=Q×mは、材料経路長mから単色サイノグラムへの変換を表す。したがって、方法300および400に関して順モデルfcal(m)が上記で使用される場合はいつでも、引数は、fcal(Q−1×μ)のように等価的に置換され得る。この場合の未知のものは、単色サイノグラムのベクトルμである。例えば、反復最適化は、単色サイノグラムの最終推定ベクトルμfinalがμ∈Ωμを条件として次式であるように再表現されてもよい。
あるいは、材料経路長mfinalの最終推定値は、m∈Ωmを条件として、以下のより単純な最適化によって得ることができる。
102 ガントリ
104 X線源
106 X線放射ビーム
108 検出器アレイ
110 画像プロセッサユニット
112 対象物
114 テーブル
200 撮像システム
202 検出器素子
204 対象物
206 回転中心
208 制御機構
210 X線コントローラ
212 ガントリモータコントローラ
214 データ収集システム(DAS)
216 コンピューティングデバイス
218 大容量記憶装置
220 オペレータコンソール
224 画像保管通信システム(PACS)
226 テーブルモータコントローラ
230 画像再構築器
232 表示装置/ディスプレイ
300 方法
400 方法
500 一組のグラフ
510 第1のグラフ/プロット
511 第1の表面
513 測定値
515 第1の推定値
516 ドット
517 ドット
519 ドット/グラウンドトゥルース
520 第2のグラフ/プロット
530 第3のグラフ/プロット
540 第4のグラフ/プロット
550 第5のグラフ/プロット
560 第6のグラフ/プロット
570 第7のグラフ/プロット
580 第8のグラフ/プロット
600 一組のグラフ
610 第1のグラフ/プロット
611 領域
613 線形モデル
615 予備推定値
620 第2のグラフ/プロット
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680 第8のグラフ/プロット
700 グラフ
705 プロファイル
710 プロファイル
715 プロファイル
725 領域
800 グラフ
900 グラフ
905 差
910 差
1000 方法
Claims (20)
- 撮像システム(200)を介して、複数のX線スペクトルについて投影データを取得するステップ(305)と、
前記撮像システム(200)の前記投影データおよび前記較正データに基づいて、複数の材料の経路長を推定するステップ(310)と、
前記較正データから導出された線形化モデルに基づいて、前記推定された経路長を反復的に精緻化するステップ(315)と、
前記反復的に精緻化された推定された経路長から前記複数の材料の各材料について材料密度画像を再構築するステップ(320)と、
を含む方法(300、400、1000)。 - 前記撮像システム(200)の前記投影データおよび前記較正データに基づいて前記複数の材料の経路長を推定するステップ(310)は、前記撮像システム(200)の物理をモデル化することなく、前記投影データおよび前記較正データに基づいて前記複数の材料の前記経路長を推定するステップを含み、前記撮像システム(200)の前記物理は、前記複数のX線スペクトルおよび前記撮像システム(200)の検出器のスペクトル応答を含む、請求項1に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記撮像システム(200)の前記投影データおよび前記較正データに基づいて前記複数の材料の経路長を推定するステップ(310)は、前記投影データに対応する前記複数の材料の経路長の第1の推定値を生成するために、前記較正データへの逆関数探索を実行するステップ(410)を含む、請求項1に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記撮像システム(200)の前記投影データおよび前記較正データに基づいて前記複数の材料の経路長を推定するステップ(310)は、前記較正データから構築された順モデルの線形近似を生成するステップ(415)と、前記複数の材料の経路長の予備推定値を取得するために、前記線形近似に基づいて線形方程式系を解くステップ(420)と、をさらに含む、請求項3に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記較正データから導出された線形化モデルに基づいて前記推定された経路長を反復的に精緻化するステップ(315)は、経路長の前記予備推定値を初期推定値として用いて前記複数の材料の各材料の経路長の最終推定値を反復的に計算するステップ(315)を含み、前記材料密度画像は、前記複数の材料の各材料の経路長の前記最終推定値から再構築される、請求項4に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記投影データに対応する前記複数の材料の経路長の前記第1の推定値を生成するために前記較正データへの前記逆関数探索を実行するステップ(410)は、各サイノグラムビンについて、前記較正データから構築された順モデルに入力されたときに前記投影データのしきい値距離内の結果をもたらす前記較正データ内の材料経路長の候補ベクトルを選択するステップと、各サイノグラムビンについて、前記候補ベクトルの加重和から経路長の前記第1の推定値を計算するステップと、を含む、請求項3に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記投影データの強度測定値に基づいて前記加重和の重みを選択するステップをさらに含み、より高い強度はより高い重みに対応する、請求項6に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記順モデルの前記線形近似を生成するステップ(415)は、各材料の既知の経路長の行列と乗算したときに既知の投影測定値の対応する行列をもたらす係数行列を計算するステップを含み、前記較正データは、前記既知の経路長および前記既知の投影測定値を含む、請求項4に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記複数の材料の経路長の前記予備推定値を取得するために前記線形近似に基づいて前記線形方程式系を解くステップ(420)は、前記係数行列と乗算したときに前記投影データの投影測定値の対応する行列をもたらす前記複数の材料の経路長の前記予備推定値の行列を計算するステップを含む、請求項8に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記投影データおよび前記較正データに基づいて少なくとも2つの単色サイノグラムを推定するステップ(1010)と、前記少なくとも2つの単色サイノグラムから少なくとも2つの単色画像を再構築するステップ(1015)と、をさらに含む、請求項1に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記複数の材料の各材料について前記材料密度画像を再構築するステップ(320)は、前記少なくとも2つの単色サイノグラムの線形変換、および画像領域事前情報を使用する反復方式のうちの少なくとも一方を含む純粋画像領域技術を使用して、前記少なくとも2つの単色サイノグラムから再構築された前記少なくとも2つの単色画像から前記複数の材料密度画像を推定するステップを含む、請求項10に記載の方法(300、400、1000)。
- 撮像システム(200)を介して、複数のX線スペクトルについて投影データを取得するステップと、
前記複数のX線スペクトルおよび前記複数のX線スペクトルに対する検出器応答を含む前記撮像システム(200)の物理をモデル化することなく、前記撮像システム(200)の前記投影データおよび較正データに基づいて、複数の材料の経路長の予備推定値を計算するステップと、
前記複数の材料の経路長の最終推定値を取得するために、前記複数の材料の経路長の前記予備推定値を反復的に更新するステップと、
前記複数の材料の経路長の前記最終推定値から前記複数の材料の各材料について材料密度画像を再構築するステップと、
を含む、方法(300、400、1000)。 - 前記複数の材料の経路長の前記予備推定値を計算するステップは、前記較正データへの逆関数探索に基づいて経路長の第1の推定値を計算するステップと、前記複数の材料の経路長の前記予備推定値の線形方程式系を解くステップと、を含み、前記線形方程式系は、前記較正データの順モデルの線形近似に基づいて構築される、請求項12に記載の方法(300、400、1000)。
- 前記複数の材料の経路長の前記最終推定値を取得するために、前記複数の材料の経路長の前記予備推定値を反復的に更新するステップは、前記複数の材料の経路長の前記最終推定値を決定するために、前記複数の材料の経路長の前記予備推定値で初期化された、前記投影データおよび前記較正データを入力として統計関数を反復的に最小化するステップを含む、請求項12に記載の方法(300、400、1000)。
- システム(100、200)であって、
対象物(112)に向かってX線ビーム(106)を生成するように構成されたX線源(104)と、
前記対象物(112)によって減衰された前記X線ビーム(106)を検出するように構成された複数の検出器素子(202)を含む検出器アレイと、
前記X線源(104)および前記検出器アレイに通信可能に結合され、非一時的なメモリ内に命令を有するように構成されたコンピューティングデバイス(216)と、を含み、前記命令は、実行されると前記コンピューティングデバイス(216)に、
異なるエネルギーレベルで複数のX線ビーム(106)を用いて前記対象物(112)をスキャンして投影データを取得するように前記X線源(104)および前記検出器アレイを制御させ、
前記X線源(104)および前記検出器アレイの前記投影データおよび較正データに基づいて複数の材料の経路長を推定させ、
前記較正データから導出された線形化モデルに基づいて、前記推定された経路長を反復的に精緻化させ、
前記反復的に精緻化された推定された経路長から前記複数の材料の各材料について材料密度画像を再構築させる、システム(100、200)。 - 前記コンピューティングデバイス(216)は、前記非一時的メモリ内に命令を有するようにさらに構成され、前記命令は、実行されると、前記コンピューティングデバイス(216)に、前記X線源(104)および前記検出器アレイの物理をモデル化することなく、前記投影データおよび前記較正データに基づいて前記複数の材料の前記経路長を推定させる、請求項15に記載のシステム(100、200)。
- 前記コンピューティングデバイス(216)は、前記非一時的メモリ内に命令を有するようにさらに構成され、前記命令は、実行されると、前記コンピューティングデバイス(216)に、前記投影データに対応する前記複数の材料の経路長の第1の推定値を生成するために前記較正データへの逆関数探索を実行させ、前記較正データから構築された順モデルの線形近似を生成させ、前記複数の材料の経路長の予備推定値を取得するために前記線形近似に基づいて線形方程式系を解かせる、請求項15に記載のシステム(100、200)。
- 前記コンピューティングデバイス(216)は、前記非一時的メモリ内に命令を有するようにさらに構成され、前記命令は、実行されると、前記コンピューティングデバイス(216)に、前記推定された経路長を初期推定値として用いて前記複数の材料の各材料について前記推定された経路長を反復的に精緻化させる、請求項15に記載のシステム(100、200)。
- 前記コンピューティングデバイス(216)は、前記非一時的メモリ内に命令を有するようにさらに構成され、前記命令は、実行されると、前記コンピューティングデバイス(216)に、前記投影データおよび前記較正データに基づいて少なくとも2つの単色サイノグラムを推定させ、前記少なくとも2つの単色サイノグラムから少なくとも2つの単色画像を再構築させる、請求項15に記載のシステム(100、200)。
- 前記コンピューティングデバイス(216)は、前記非一時的メモリ内に命令を有するようにさらに構成され、前記命令は、実行されると、前記コンピューティングデバイス(216)に、前記少なくとも2つの単色サイノグラムの線形変換、および画像領域事前情報を使用する反復方式のうちの少なくとも一方を含む純粋画像領域技術を使用して、前記少なくとも2つの単色サイノグラムから再構築された前記少なくとも2つの単色画像から前記複数の材料密度画像を推定させる、請求項19に記載のシステム(100、200)。
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