JP2021135296A - 自己テスト回路を備える集積回路、自己テスト回路を備える集積回路の動作方法、マルチコアプロセッサ装置およびマルチコアプロセッサ装置の動作方法 - Google Patents
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Abstract
Description
1.システムの状態が、LBISTの実行前に記憶され、その後に復元される。
2.LBISTの実行後にシステムが再初期化される。
Claims (28)
- 自己テスト回路を備える集積回路であって、前記集積回路は、
・少なくとも1つの論理回路と、
・動作データを記憶する少なくとも1つの入力側記憶要素と、
・少なくとも1つの出力側記憶要素と、
・テストデータを記憶する少なくとも1つの入力側テスト記憶要素と、
・少なくとも1つの出力側テスト記憶要素と、
を有しており、
・前記論理回路は、選択的に、
入力側で前記入力側記憶要素に接続されており、したがって、前記入力側記憶要素は、前記動作データを前記論理回路に提供し、または、
入力側で前記入力側テスト記憶要素に接続されており、したがって、前記入力側テスト記憶要素は、前記テストデータを前記論理回路に提供し、
・前記論理回路は、さらに、出力側で前記出力側記憶要素および前記出力側テスト記憶要素に接続されており、または接続可能であり、したがって、前記論理回路は前記出力側記憶要素および/または前記出力側テスト記憶要素にデータを供給し、
・前記出力側記憶要素は、前記論理回路に前記動作データが供給されると前記論理回路からのデータを処理し、前記論理回路に前記テストデータが供給されると前記論理回路からのデータを処理しないように設定されている、
集積回路。 - 前記集積回路は、さらに制御部を有しており、前記制御部は、
−前記論理回路と前記入力側記憶要素との接続および前記出力側記憶要素の活性化、したがって、前記出力側記憶要素が供給された前記動作データを処理することと、
−前記論理回路と前記入力側テスト記憶要素との接続および前記出力側記憶要素の非活性化、したがって、供給された前記動作データが無視されることと、
の間の切り替え、もしくはその逆の切り替えを行うように設定されている、
請求項1記載の集積回路。 - 前記集積回路は、前記論理回路が前記入力側記憶要素および前記出力側記憶要素に接続されている間、前記テストデータを前記入力側テスト記憶要素にロードするように、さらに設定されている、
請求項1または2記載の集積回路。 - 前記制御部は、マルチプレクサを有している、
請求項2または3記載の集積回路。 - 前記制御部は、
・前記論理回路を前記入力側記憶要素に接続し、前記出力側記憶要素を活性化するために、第1の信号値を有するスイッチング信号を提供し、
・前記論理回路を前記入力側テスト記憶要素に接続し、前記出力側記憶要素を非活性化するために、第2の信号値を有する前記スイッチング信号を提供する、
ように設定されている、
請求項2から4までのいずれか1項記載の集積回路。 - 前記制御部は、前記スイッチング信号を少なくとも前記マルチプレクサおよび前記出力側記憶要素に提供するようにさらに設定されている、
請求項5記載の集積回路。 - 前記入力側記憶要素、前記出力側記憶要素、前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素は、それぞれ少なくとも1つのフリップフロップを有している、
請求項1から5までのいずれか1項記載の集積回路。 - 前記出力側記憶要素の前記少なくとも1つのフリップフロップは、イネーブル入力側および/またはクロックイネーブル入力側を有しており、
前記制御部は、前記スイッチング信号を前記イネーブル入力側または前記クロックイネーブル入力側に提供するようにさらに設定されている、
請求項5を引用する請求項7記載の集積回路。 - 前記マルチプレクサは、制御入力側を有しており、前記制御部は、前記スイッチング信号を前記マルチプレクサの前記制御入力側に提供するように設定されている、
請求項4を引用する請求項5記載の集積回路。 - 前記入力側テスト記憶要素は、動作モードにおいて、入力側セーフティ記憶要素を形成するように設定されており、前記入力側セーフティ記憶要素は、前記入力側記憶要素に記憶されている前記データを冗長的に記憶するように設定されており、かつ/または、
前記出力側テスト記憶要素は、動作モードにおいて、出力側セーフティ記憶要素を形成するように設定されており、前記出力側セーフティ記憶要素は、前記出力側記憶要素に記憶されている前記データを冗長的に記憶するように設定されている、
請求項1から9までのいずれか1項記載の集積回路。 - 前記集積回路は、少なくとも1つの付加的な出力側記憶要素と少なくとも1つの付加的な出力側テスト記憶要素とをさらに有しており、
前記少なくとも1つの論理回路は、複数の論理回路を有しており、
前記論理回路と前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素との接続の間、前記入力側テスト記憶要素と前記出力側テスト記憶要素と前記少なくとも1つの付加的な出力側テスト記憶要素と共に、前記複数の論理回路は、1つのスキャンチェーンを形成し、
前記少なくとも1つの付加的な出力側記憶要素は、前記スキャンチェーンの一部ではない、
請求項1から10までのいずれか1項記載の集積回路。 - 前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素に接続されている前記論理回路は、前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素と共に、前記スキャンチェーンの第1のチェーン素子を形成し、
前記スキャンチェーンの各付加的なチェーン素子は、前記複数の論理回路のうちの1つを有しており、前記論理回路は、入力側で、先行する前記チェーン素子の前記出力側テスト記憶要素に接続されており、出力側で、別の前記出力側テスト記憶要素に接続されている、
請求項11記載の集積回路。 - 先行する前記チェーン素子の前記出力側テスト記憶要素は、前記付加的なチェーン素子の各前記論理回路に、先行する前記チェーン素子の前記論理回路によって処理された前記テストデータを提供し、
前記付加的なチェーン素子の各前記論理回路は、自身によって処理された前記テストデータを、出力側で、前記出力側テスト記憶要素に供給する、
請求項12記載の集積回路。 - マルチコアプロセッサ装置であって、前記マルチコアプロセッサ装置は
・第1のプロセッサを有しており、前記第1のプロセッサは、データを処理し、出力するように設定されており、
・第2のプロセッサを有しており、前記第2のプロセッサは、同一のデータを処理し、出力するように設定されており、
・比較器を有しており、前記比較器は、請求項1から13までのいずれか1項記載の集積回路を形成し、前記第1のプロセッサから出力されたデータを前記第2のプロセッサから出力されたデータと比較するようにさらに設定されている、
マルチコアプロセッサ装置。 - 自己テスト回路を備える集積回路の動作方法であって、
前記集積回路は、少なくとも1つの論理回路、動作データを記憶する少なくとも1つの入力側記憶要素、少なくとも1つの出力側記憶要素、テストデータを記憶する少なくとも1つの入力側テスト記憶要素および少なくとも1つの出力側テスト記憶要素を有しており、
前記論理回路は、出力側で前記出力側記憶要素および前記出力側テスト記憶要素に接続されており、または接続可能であり、
前記方法は
・選択的に、入力側での前記入力側記憶要素との前記論理回路の接続を有しており、さらに
・前記入力側記憶要素による前記論理回路での動作データの提供を有しており、
・前記論理回路によって処理された前記動作データの前記出力側記憶要素への供給を有しており、
・前記出力側記憶要素における前記論理回路からの前記データの処理を有しており、または
前記方法は
・入力側での前記入力側テスト記憶要素との前記論理回路の接続を有しており、さらに
・前記入力側テスト記憶要素による前記論理回路でのテストデータの提供を有しており
・前記論理回路によって処理された前記動作データの前記出力側テスト記憶要素および前記出力側記憶要素への供給を有しており、
・前記出力側記憶要素における前記論理回路からの前記データの無視を有している、
方法。 - 前記方法は、さらに、
・切り替えを有しており、前記切り替えは、
−前記論理回路と前記入力側記憶要素との接続および活性化された前記出力側記憶要素と、
−前記論理回路と前記入力側テスト記憶要素との接続および非活性化された前記出力側テスト記憶要素と、
の間の切り替え、
−もしくはその逆の切り替えである、
請求項15記載の方法。 - 前記方法は、さらに、
・前記論理回路が前記入力側記憶要素に接続されている間、前記入力側テスト記憶要素へ前記テストデータをロードすることを有している、
請求項15または16記載の方法。 - 前記集積回路は、自由選択的にマルチプレクサを有している制御部を有している、
請求項16または17記載の方法。 - 前記方法は、さらに、選択的に、
・前記入力側記憶要素との前記論理回路の接続および前記出力側記憶要素の活性化のための第1の信号値を有するスイッチング信号の提供と、
・前記入力側テスト記憶要素との前記論理回路の接続および前記出力側テスト記憶要素の非活性化のための第2の信号値を有するスイッチング信号の提供と、
を有している、
請求項16から18までのいずれか1項記載の方法。 - 前記スイッチング信号を少なくとも前記マルチプレクサおよび前記出力側記憶要素に提供する、
請求項18を引用する請求項19記載の方法。 - 前記入力側記憶要素、前記出力側記憶要素、前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素は、それぞれ少なくとも1つのフリップフロップを有している、
請求項15から20までのいずれか1項記載の方法。 - 前記出力側記憶要素の前記少なくとも1つのフリップフロップは、イネーブル入力側および/またはクロックイネーブル入力側を有しており、前記イネーブル入力側および/または前記クロックイネーブル入力側に前記スイッチング信号を提供する、
請求項19を引用する請求項21記載の方法。 - 前記スイッチング信号を、前記マルチプレクサの制御入力側に提供する、
請求項20から22までのいずれか1項記載の方法。 - 前記入力側テスト記憶要素は、動作モードにおいて、入力側セーフティ記憶要素を形成するように設定されており、前記方法は、さらに、前記入力側記憶要素に記憶されている前記動作データの前記入力側セーフティ記憶要素における冗長的な記憶を有しており、かつ/または、
前記出力側テスト記憶要素は、動作モードにおいて、出力側セーフティ記憶要素を形成するように設定されており、前記方法は、さらに、前記出力側記憶要素に記憶されている前記動作データの前記出力側セーフティ記憶要素における冗長的な記憶を有している、
請求項15から23までのいずれか1項記載の方法。 - 前記集積回路は、さらに少なくとも1つの付加的な出力側記憶要素と少なくとも1つの付加的な出力側テスト記憶要素とを有しており、
前記少なくとも1つの論理回路は、複数の論理回路を有しており、前記論理回路と前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素との接続の間、前記入力側テスト記憶要素と前記出力側テスト記憶要素と前記少なくとも1つの付加的な出力側テスト記憶要素と共に、前記複数の論理回路は、1つのスキャンチェーンを形成し、
前記少なくとも1つの付加的な出力側記憶要素は、前記スキャンチェーンの一部ではない、
請求項15から24までのいずれか1項記載の方法。 - 前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素に接続されている前記論理回路は、前記入力側テスト記憶要素および前記出力側テスト記憶要素と共に、前記スキャンチェーンの第1のチェーン素子を形成し、
前記スキャンチェーンの各さらなるチェーン素子は、前記複数の論理回路のうちの1つを有しており、前記論理回路は、入力側で、先行する前記チェーン素子の前記出力側テスト記憶要素に接続されており、出力側で、別の前記出力側テスト記憶要素に接続されている、
請求項25記載の方法。 - 前記方法は、
前記複数のチェーン素子のうちの1つのチェーン素子の前記論理回路によって処理された前記テストデータをテストデータとして、後続の前記チェーン素子の前記論理回路に提供することと、
最後の前記チェーン素子の前記論理回路によって処理された前記テストデータを、最後の前記チェーン素子の前記論理回路に出力側で接続されている前記出力側テスト記憶要素に供給することと、
をさらに有している、
請求項26記載の方法。 - マルチコアプロセッサ装置の動作方法であって、
前記マルチコアプロセッサ装置は、第1のプロセッサと第2のプロセッサと比較器とを有しており、前記方法は、
動作段階と自己テスト段階とを交互に行うことを有しており、
前記動作段階は、
前記第1のプロセッサによる、前記比較器への第1のデータの提供と、
前記第2のプロセッサによる、前記比較器への第2のデータの提供と、
前記第1のデータと前記第2のデータとの比較と、
を有しており、
前記自己テスト段階は、
請求項15から27までのいずれか1項記載の自己テスト回路を備える集積回路の動作方法の実施を有しており、前記比較器は、前記集積回路を形成する、
マルチコアプロセッサ装置の動作方法。
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