JP2021128099A - 付属品の取り付け位置検査方法及び取り付け位置検査装置 - Google Patents

付属品の取り付け位置検査方法及び取り付け位置検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2021128099A
JP2021128099A JP2020023795A JP2020023795A JP2021128099A JP 2021128099 A JP2021128099 A JP 2021128099A JP 2020023795 A JP2020023795 A JP 2020023795A JP 2020023795 A JP2020023795 A JP 2020023795A JP 2021128099 A JP2021128099 A JP 2021128099A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
accessory
point cloud
cloud data
dimensional point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020023795A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7410387B2 (ja
Inventor
伸一 大島
Shinichi Oshima
伸一 大島
良仁 伊勢居
Yoshihito Isei
良仁 伊勢居
優樹 田村
Yuki Tamura
優樹 田村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP2020023795A priority Critical patent/JP7410387B2/ja
Publication of JP2021128099A publication Critical patent/JP2021128099A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7410387B2 publication Critical patent/JP7410387B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査可能な方法等を提供する。【解決手段】本発明は、光学式の3次元形状測定装置1を用いて被検査体S表面の3次元点群データを取得する第1ステップと、3次元点群データの座標系と、予め用意された被検査体の表面形状モデルの座標系とを合致させる第2ステップと、被検査体表面の3次元点群データと、付属品と被検査体本体の一部とを含む部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる第3ステップと、マッチング結果に基づき、3次元点群データにおける付属品の取り付け位置を特定する第4ステップと、を含む。【選択図】 図2

Description

本発明は、スパイラル鋼管に取り付けられる吊金具など、被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品の取り付け位置を検査する方法及び装置に関する。特に、本発明は、光学式の3次元形状測定装置を用いて、付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査可能な方法及び装置に関する。
図1は、付属品が取り付けられたスパイラル鋼管の一例を模式的に示す図である。図1(a)は付属品が取り付けられたスパイラル鋼管全体を示す図であり、図1(b)は付属品である吊金具を示す図である。
図1に示すように、付属品付きのスパイラル鋼管Sは、スパイラル鋼管S1と、スパイラル鋼管S1の法線方向に突出して取り付けられた付属品(図1に示す例では、スパイラル鋼管S1の外面に取り付けられた吊金具S2)と、を備えている。吊金具S2は、製品の出荷時や施工現場での設置時に、スパイラル鋼管S1をクレーンで吊り下げて運搬するために取り付けられている。なお、付属品としては、吊金具S2の他に、例えば、スパイラル鋼管S1の内面に取り付けられたコマが知られている。
吊金具S2等の付属品は、作業者が図面を基に、スパイラル鋼管S1に手動で溶接して取り付けている。そして、付属品の取付け位置(姿勢を含む)が図面に記載の公差範囲内にあるか否かを別の作業者が検査している。この検査は、コンベックス等の測定器具を用いて手動で行っているが、手動であるため測定誤差が生じたり、測定自体の精度が良くても誤って記録される場合もある。
したがい、付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査する方法が望まれている。
なお、例えば、特許文献1、2には、光学式の3次元形状測定装置を用いて被検査体の表面形状を測定する方法が提案されているが、スパイラル鋼管に取り付けられる吊金具など、被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品の取り付け位置を精度良く検査することについては何ら提案されていない。
特許第5677798号公報 特許第6376081号公報
本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するためになされたものであり、スパイラル鋼管に取り付けられる吊金具など、被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査可能な方法及び装置を提供することを課題とする。
上記の課題を解決するため、本発明者らは、光学式の3次元形状測定装置によって、付属品を含む被検査体の表面形状を測定することで、被検査体表面の3次元点群データを取得する一方、付属品を含む被検査体の設計仕様に基づく3次元CADデータから作成された被検査体の表面形状モデルを用意することを考えた。そして、被検査体表面の3次元点群データと、付属品の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせることで、被検査体表面の3次元点群データにおける付属品の取り付け位置を特定すれば、付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査できるのではないかと考えた。
被検査体表面の3次元点群データと、付属品の部分的な表面形状モデルとのマッチング方法としては、両者から抽出した特徴量を用いる公知の方法を適用することが考えられる。マッチングに用いる特徴量としては、指定したキーポイント周りの情報を記述した特徴量や、複数のキーポイント間の関係を記述した特徴量が知られている。前者の特徴量としては、例えば、キーポイントの法線ベクトルと周辺の点の法線ベクトルとの内積のヒストグラムで表されるSHOT(Signature of Histograms of Orientations)特徴量が知られている。後者の特徴量としては、任意に選択した2点の距離や内積で表されるPPF(Point Pair Feature)特徴量が知られている。PPF特徴量は、前述の特許文献1にも記載されている。
SHOT特徴量を用いたマッチングは、キーポイントが少数であるため、3次元形状測定装置の測定範囲の死角になって、3次元点群データが取得できない部分があると、適切なマッチングを行うことができない可能性がある。
一方、PPF特徴量を用いたマッチングは、3次元点群データの全データから得られるキーポイントを用いるため、3次元形状測定装置の測定範囲の死角になって、3次元点群データが取得できない部分があっても、マッチングを行うことが可能である。ただし、SHOT特徴量を用いたマッチングに比べると、マッチングが失敗し易い性質を有すると考えられる。
本発明者らが、被検査体表面の3次元点群データと、付属品の部分的な表面形状モデルとを、PPF特徴量を用いてマッチングさせることを検討したところ、マッチングが失敗するケースが多く、その結果、被検査体表面の3次元点群データにおける付属品の取り付け位置を精度良く特定できないことが分かった。
そこで、本発明者らは更に鋭意検討した結果、被検査体表面の3次元点群データとマッチングさせる部分的な表面形状モデルに、付属品のみならず、被検査体本体の一部を含ませることで、マッチングの精度が高まり、その結果、被検査体表面の3次元点群データにおける付属品の取り付け位置を精度良く特定できることを見出した。
本発明は、上記本発明者らの知見に基づき完成したものである。
すなわち、前記課題を解決するため、本発明は、被検査体本体と、前記被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品と、を備える被検査体について、前記付属品の取り付け位置を検査する方法であって、以下の第1〜第5ステップを含む付属品の取り付け位置検査方法を提供する。
(1)第1ステップ:光学式の3次元形状測定装置によって前記被検査体の表面形状を測定することで、前記被検査体表面の3次元点群データを取得する。
(2)第2ステップ:前記第1ステップで取得した前記被検査体表面の3次元点群データの座標系と、予め用意された前記被検査体の表面形状モデルの座標系とを合致させる。
(3)第3ステップ:前記第2ステップで座標系の合致した前記被検査体表面の3次元点群データと、前記被検査体の表面形状モデルのうち、前記付属品と前記被検査体本体の一部とを含む前記被検査体の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる。
(4)第4ステップ:前記第3ステップにおけるマッチング結果に基づき、前記被検査体表面の3次元点群データにおける前記付属品の取り付け位置を特定する。
本発明によれば、第1ステップを実行することにより、被検査体表面の3次元点群データが取得される。すなわち、被検査体本体表面及び付属品表面の3次元点群データが取得される。
次いで、本発明によれば、第2ステップを実行することにより、第1ステップで取得した被検査体表面の3次元点群データの座標系と、予め用意された被検査体の表面形状モデルの座標系とが合致する。被検査体の表面形状モデルは、例えば、設計仕様に基づく3次元CADデータを変換することにより得られる三角メッシュ等で構成された表面形状モデルであり、被検査体本体の表面形状モデル及び付属品の表面形状モデルが含まれる。座標系を合致させる方法としては、例えば、被検査体本体がスパイラル鋼管等の円筒形である場合、3次元点群データに円筒をフィッティングさせるフィッティング処理を施し、フィッティングされた円筒の位置と、被検査体本体の表面形状モデルの位置とを合致させる方法が考えられる。更に、座標系の合致精度を高める上では、上記の方法を実行した後、3次元点群データのうち被検査体本体の端面(被検査体本体がスパイラル鋼管である場合には管端面)を含む部分的な3次元点群データを抽出して、この抽出した部分的な3次元点群データに平面をフィッティングさせるフィッティング処理を施し、フィッティングされた平面の位置と、被検査体本体の端面の表面形状モデルの位置とを合致させる方法を実行してもよい。
次いで、本発明によれば、第3ステップを実行することにより、第2ステップで座標系の合致した被検査体表面の3次元点群データと、被検査体の表面形状モデルのうち、付属品と被検査体本体の一部とを含む被検査体の部分的な表面形状モデルとがマッチングする。前述のように、本発明者らの知見によれば、被検査体表面の3次元点群データとマッチングさせる部分的な表面形状モデルに、付属品のみならず、被検査体本体の一部を含ませることで、マッチングの精度が高まる。
マッチング精度が高まるのは、マッチングさせる部分的な表面形状モデルが含む付属品の法線方向と被検査体本体の一部の法線方向とが異なるため、マッチングに用いる特徴量に有意差がつきやすいからだと考えられる。
最後に、本発明によれば、第4ステップを実行することにより、第3ステップにおけるマッチング結果に基づき、被検査体表面の3次元点群データにおける付属品の取り付け位置が特定される。前述のように、第3ステップにおけるマッチングの精度が高いため、第4ステップで、被検査体表面の3次元点群データにおける付属品の取り付け位置を精度良く特定できる。したがい、特定した付属品の取り付け位置が予め決められた公差範囲内であるか否か等を判定することで、付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査可能である。
なお、第3ステップでマッチングさせる被検査体表面の3次元点群データとしては、第1ステップで取得した被検査体表面の3次元点群データ全体でもよいものの、付属品と被検査体本体の一部とを含み得る被検査体表面の部分的な3次元点群データに制限する方が好ましい。マッチングさせる対象を部分的な3次元点群データに制限することで、マッチング処理の負荷が低減して、処理速度を早めることができるからである。
すなわち、第2ステップの後、以下の第2Aステップを実行することが好ましい。
(5)第2Aステップ:前記第2ステップで座標系の合致した前記被検査体の表面形状モデルにおける前記付属品の位置に基づき、前記被検査体表面の3次元点群データのうち、前記付属品と前記被検査体本体の一部とを含み得る前記被検査体表面の部分的な3次元点群データを抽出する。
そして、本発明の第3ステップでは、第2Aステップで抽出した被検査体表面の部分的な3次元点群データと、被検査体の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせればよい。
第2Aステップでは、被検査体の表面形状モデルの座標系と3次元点群データの座標系とが合致しているため、表面形状モデルにおける付属品の位置を基準として、この付属品の寸法よりも幾分広い範囲を抽出範囲として設定すれば、付属品と被検査体本体の一部とを含み得る被検査体表面の部分的な3次元点群データを抽出可能である。
本発明者らの知見によれば、第3ステップにおいて、被検査体表面の3次元点群データとマッチングさせる被検査体の部分的な表面形状モデルは、付属品以外に含まれる被検査体本体の一部の表面積が大きすぎても小さすぎてもマッチング精度が悪くなり、好ましい範囲が存在する。
具体的には、前記第3ステップにおいて、前記被検査体表面の3次元点群データとマッチングさせる前記被検査体の部分的な表面形状モデルは、前記被検査体本体の一部の表面積をSA1とし、前記付属品の表面積(付属品の被検査体本体の法線方向に沿った大きな2平面の合計面積であり、当該2平面を繋ぐ端面の面積は、当該2平面の面積に比べて相対的に小さいため含まない)をSA2とすると、以下の式(1)で表されることが好ましい。
0.25≦SA1/SA2≦0.75 ・・・(1)
前記第3ステップにおいて、前記被検査体表面の3次元点群データのPPF特徴量と、前記被検査体の部分的な表面形状モデルのPPF特徴量とを用いて、前記被検査体表面の3次元点群データと、前記被検査体の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせることが好ましい。
上記の好ましい方法によれば、第1ステップにおいて、3次元形状測定装置の測定範囲の死角になって、3次元点群データが取得できない部分があっても、第3ステップにおいて、マッチングを行うことが可能である。
前記第1ステップで用いる前記光学式の3次元形状測定装置は、TOF方式の3次元形状測定装置であることが好ましい。
上記の好ましい方法によれば、測定範囲が広いTOF(Time Of Flight)方式の3次元形状測定装置を用いることで、被検査体本体がスパイラル鋼管である場合のように、寸法が大きな被検査体であっても、3次元点群データを比較的容易に取得可能である。
本発明は、前記被検査体本体がスパイラル鋼管であり、前記付属品が吊金具である場合に特に有用である。
また、前記課題を解決するため、本発明は、被検査体本体と、前記被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品と、を備える被検査体について、前記付属品の取り付け位置を検査する装置であって、前記被検査体の表面形状を測定する光学式の3次元形状測定装置と、前記被検査体の表面形状モデルが予め記憶されており、前記3次元形状測定装置による測定結果が入力され、所定の演算を実行する演算装置と、を備え、前記演算装置は、前記3次元形状測定装置による測定結果に基づき、前記被検査体表面の3次元点群データを生成する第1ステップと、前記第1ステップで取得した前記被検査体表面の3次元点群データの座標系と、予め用意された前記被検査体の表面形状モデルの座標系とを合致させる第2ステップと、前記第2ステップで座標系の合致した前記被検査体表面の3次元点群データと、前記被検査体の表面形状モデルのうち、前記付属品と前記被検査体本体の一部とを含む前記被検査体の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる第3ステップと、前記第3ステップにおけるマッチング結果に基づき、前記被検査体表面の3次元点群データにおける前記付属品の取り付け位置を特定する第4ステップと、を実行する付属品の取り付け位置検査装置としても提供される。
本発明によれば、被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査可能である。
付属品が取り付けられたスパイラル鋼管の一例を示す図である。 本発明の一実施形態に係る付属品の取り付け位置検査装置の概略構成を模式的に示す図である。 本発明の一実施形態に係る付属品の取り付け位置検査方法の第3ステップにおけるマッチング結果の一例を示す図である。 本発明の一実施形態に係る付属品の取り付け位置検査方法を用いて、付属品の取り付け位置を検査した結果の一例を示す。
以下、添付図面を適宜参照しつつ、本発明の一実施形態について、被検査体本体がスパイラル鋼管であり、付属品が吊金具である場合を例に挙げて説明する。
図2は、本発明の一実施形態に係る付属品の取り付け位置検査装置(以下、適宜、単に「検査装置」という)の概略構成を模式的に示す図である。
図2に示すように、本実施形態に係る検査装置100は、被検査体本体(スパイラル鋼管)S1と、被検査体本体S1の外面に法線方向に突出して取り付けられた付属品(吊金具)S2と、を備える被検査体(吊金具付きスパイラル鋼管)Sについて、付属品S2の取り付け位置を検査する装置である。一般に、スパイラル鋼管は、外径が最大2500mm程度であり、長さが最大70m程度である。また、一般に、吊金具は、スパイラル鋼管の端面から1〜2m程度離れた位置において、径方向に対向して一対取り付けられる。
本実施形態に係る検査装置100は、光学式の3次元形状測定装置1と、演算装置2と、を備えている。
3次元形状測定装置1は、被検査体Sに対して光を投受光することで、被検査体Sの表面形状を測定する装置である。具体的には、本実施形態の3次元形状測定装置1は、投光した光(レーザ光など)が被検査体Sで反射して受光されるまでの時間に基づき、被検査体Sの表面までの距離を測定し、光の投光方向をスキャンすることで、被検査体Sの表面形状を測定するTOF(Time Of Flight)方式の3次元形状測定装置である。TOF方式の3次元形状測定装置は、測定範囲が広いため、被検査体本体S1がスパイラル鋼管である場合のように、寸法が大きな被検査体Sであっても、3次元点群データを比較的容易に取得可能である。TOF方式の3次元形状測定装置の具体的構成は公知であるため、ここでは、その詳細な説明は省略する。TOF方式の3次元形状測定装置1としては、例えば、FARO社製レーザースキャナ「FocusS70」を好適に用いることができる。
ただし、本発明で用いる3次元形状測定装置1としては、必ずしもTOF方式の3次元形状測定装置に限るものではなく、測定環境が許す限りにおいて、ステレオカメラ方式や、パターン投影方式の3次元形状測定装置を適用することも可能である。
本実施形態では、図2に示すように、1台の3次元形状測定装置1を、被検査体Sの端面SEを測定範囲の略中心とする位置(符号1a、1bで示す位置)と、被検査体Sの付属品S2を測定範囲の略中心とする位置(符号1c、1d示す位置)との計4箇所の位置に移動させ、それぞれの位置で被検査体Sの表面形状を測定する。なお、少なくとも被検査体Sの長手方向(図2の左右方向)に隣り合う位置での3次元形状測定装置1の測定範囲はオーバラップする部分を有するように移動させる。すなわち、位置1aでの3次元形状測定装置1の測定範囲と、位置1cでの3次元形状測定装置1の測定範囲とは、オーバラップする部分を有する。また、位置1bでの3次元形状測定装置1の測定範囲と、位置1dでの3次元形状測定装置1の測定範囲とは、オーバラップする部分を有する。そして、被検査体Sの表面形状を測定する前に、オーバラップする部分に校正片(例えば、基準球)を設置して、それぞれの位置1a〜1dの3次元形状測定装置1で校正片の位置を測定する。
演算装置2は、3次元形状測定装置1による測定結果が入力され、所定の演算を実行する。具体的には、演算装置2には、各位置1a〜1dの3次元形状測定装置1で測定した被検査体Sの表面形状と、各位置1a〜1dの3次元形状測定装置1で測定した校正片の位置とが入力される。そして、演算装置2は、位置1aの3次元形状測定装置1で測定した校正片の位置と、位置1aに隣り合う位置1cの3次元形状測定装置1で測定した校正片の位置とに基づき、これらの校正片の位置が合致するように、位置1aの3次元形状測定装置1で測定した被検査体Sの表面形状と、位置1cの3次元形状測定装置1で測定した被検査体Sの表面形状とを合成して、被検査体Sの端面SEから付属品S2(図2の上側の付属品S2)までの範囲を含む被検査体S表面の3次元点群データを生成(取得)する。同様にして、演算装置2は、位置1bの3次元形状測定装置1で測定した校正片の位置と、位置1bに隣り合う位置1dの3次元形状測定装置1で測定した校正片の位置とに基づき、これらの校正片の位置が合致するように、位置1bの3次元形状測定装置1で測定した被検査体Sの表面形状と、位置1dの3次元形状測定装置1で測定した被検査体Sの表面形状とを合成して、被検査体Sの端面SEから付属品S2(図2の下側の付属品S2)までの範囲を含む被検査体S表面の3次元点群データを生成(取得)する。そして、生成した3次元点群データに対して、後述する各種の演算を実行する。
演算装置2は、例えば、上記の演算を実行するプログラムやアプリケーションがインストールされたコンピュータから構成される。具体的には、例えば、オープンソース系の「PCL(Point Cloud Library)」や、MVTec社製「HALCON」のような公知の点群処理ライブラリをコンピュータに実装することで、演算装置2を構成可能である。上記の点群処理ライブラリは、点群データに加えて、表面データ(円筒、平面、三角メッシュ等で構成されたデータ)を扱うことが可能であり、スムージングや間引き処理等の前処理、座標や距離等に基づく点群データの抽出、座標変換、マッチング処理、フィッティング処理、点群データの寸法測定、立体表面の生成など、点群データや表面データに関する種々の演算を実行可能である。後述するPPF特徴量を用いたマッチング処理も上記の点群処理ライブラリによって実行可能である。
また、演算装置2には、被検査体Sの設計仕様に基づき作成された被検査体Sの表面形状モデルが予め記憶されている。具体的には、演算装置2には、設計仕様に基づく被検査体Sの3次元CADデータが入力され、演算装置2は、この入力されたCADデータを三角メッシュ等で構成された表面形状モデルに変換して記憶する。
以下、上記の構成を有する検査装置100を用いた付属品S2の取り付け位置検査方法(以下、適宜、単に「検査方法」という)について説明する。
本実施形態に係る検査方法は、第1ステップ〜第4ステップを含むことを特徴としている。以下、各ステップについて順次説明する。
<第1ステップ>
第1ステップでは、3次元形状測定装置1によって被検査体Sの表面形状を測定することで、被検査体S表面の3次元点群データを取得する。
具体的には、3次元形状測定装置1を位置1a〜1dの4箇所の位置に移動させ、それぞれの位置で被検査体Sの表面形状及び校正片の表面形状を測定する。これらの測定結果は、SDカード等の記憶媒体等を介して、演算装置2に入力され、記憶される。演算装置2は、入力された測定結果に基づき、前述のようにして、被検査体Sの端面SEから付属品S2までの範囲を含む被検査体S表面の3次元点群データを生成(取得)する。
<第2ステップ>
第2ステップでは、演算装置2が、第1ステップで取得した被検査体S表面の3次元点群データの座標系と、被検査体Sの設計仕様に基づき予め用意された被検査体Sの表面形状モデルの座標系とを合致させる。具体的には、演算装置2は、3次元点群データに円筒をフィッティングさせるフィッティング処理を施す。そして、演算装置2は、フィッティングされた円筒の位置と、被検査体本体S1の表面形状モデルの位置とを合致させる(例えば、フィッティングされた円筒を平行移動及び回転移動させて合致させる)ことで、上記の両座標系を合致させる。
更に、本実施形態では、座標系の合致精度を高めるために、演算装置2は、上記の処理を実行した後、3次元点群データのうち被検査体本体S1の端面SEを含む部分的な3次元点群データを抽出して、この抽出した部分的な3次元点群データに平面をフィッティングさせるフィッティング処理を施す。そして、演算装置2は、フィッティングされた平面の位置と、被検査体本体S1の端面の表面形状モデルの位置とを合致させる(例えば、フィッティングされた平面を平行移動させて合致させる)ことで、上記の両座標系を精度良く合致させる。
<第2Aステップ>
第2Aステップでは、演算装置2が、第2ステップで座標系の合致した被検査体Sの表面形状モデルにおける付属品S2の位置に基づき、被検査体S表面の3次元点群データのうち、付属品Sと被検査体本体S1の一部とを含み得る被検査体S表面の部分的な3次元点群データを抽出する。第2ステップを実行することにより、被検査体Sの表面形状モデルの座標系と3次元点群データの座標系とが合致している。このため、付属品S2の寸法よりも幾分広い範囲を抽出範囲として演算装置2に設定しておけば、演算装置2は、表面形状モデルにおける付属品S2の位置を基準として、この付属品S2と被検査体本体S1の一部とを含み得る被検査体S表面の部分的な3次元点群データを抽出可能である。
<第3ステップ>
第3ステップでは、演算装置2が、第2Aステップで抽出した被検査体S表面の部分的な3次元点群データと、被検査体Sの表面形状モデルのうち、付属品S2と被検査体本体S1の一部とを含む被検査体Sの部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる。
具体的には、本実施形態では、演算装置2が、被検査体S表面の部分的な3次元点群データのPPF特徴量と、被検査体Sの部分的な表面形状モデルのPPF特徴量とを用いて、被検査体S表面の部分的な3次元点群データと、被検査体Sの部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる。
図3は、第3ステップにおけるマッチング結果の一例を示す図である。図3(a)は、参考として、第2Aステップで抽出した被検査体S表面の部分的な3次元点群データ(被検査体本体S1の一部の3次元点群データS1d及び付属品S2の3次元点群データS2d)と、被検査体Sの表面形状モデルのうち、付属品S2の表面形状モデルS2mのみとをマッチングさせた結果の一例を示す。図3(b)及び図3(c)は、第2Aステップで抽出した被検査体S表面の部分的な3次元点群データ(被検査体本体S1の一部の3次元点群データS1d及び付属品S2の3次元点群データS2d)と、被検査体Sの表面形状モデルのうち、付属品S2の表面形状モデルS2m及び被検査体本体S1の一部の表面形状モデルS1mとをマッチングさせた結果の一例を示す。
図3(a)に示すように、被検査体S表面の部分的な3次元点群データS1d及びS2d(図中、ドット状にプロットしたデータ)とマッチングさせる被検査体Sの部分的な表面形状モデルが、付属品S2の表面形状モデルS2m(図中、塗りつぶしたモデル)のみの場合、3次元点群データS1dの影響が大きく、マッチングが失敗するケースが多い。
これに対して、本実施形態に係る検査方法の第3ステップでは、図3(b)に示すように、被検査体S表面の部分的な3次元点群データS1d及びS2dとマッチングさせる部分的な表面形状モデルが、付属品S2の表面形状モデルS2m及び被検査体本体S1の一部の表面形状モデルS1m(図中、塗りつぶしたモデル)であるため、適切なマッチングが可能である。
ただし、図3(c)に示すように、被検査体S表面の部分的な3次元点群データS1d及びS2dとマッチングさせる被検査体本体S1の一部の表面形状モデルS1mの表面積が大きすぎても、マッチング精度が悪くなり、マッチングが失敗するおそれがある。被検査体本体S1の一部の表面形状モデルS1mの表面積が小さすぎる場合も同様である。
したがい、本実施形態では、被検査体S表面の部分的な3次元点群データS1d及びS2dとマッチングさせる被検査体Sの部分的な表面形状モデルとしては、被検査体本体S1の一部の表面積をSA1とし、付属品S2の表面積(付属品S2の被検査体本体S1の法線方向に沿った大きな2平面の合計面積であり、当該2平面を繋ぐ端面の面積は、当該2平面の面積に比べて相対的に小さいため含まない)をSA2とすると、以下の式(1)で表されるものを用いている。
0.25≦SA1/SA2≦0.75 ・・・(1)
<第4ステップ>
第4ステップでは、演算装置2が、第3ステップにおけるマッチング結果に基づき、被検査体S表面の3次元点群データにおける付属品S2の取り付け位置を特定する。例えば、図3(b)に示す付属品S2の表面形状モデルS2mとマッチングした3次元点群データS2dが、被検査体Sの付属品S2の3次元点群データであると特定できるため、その3次元点群データS2dの位置を付属品S2の取り付け位置と特定できる。
したがい、演算装置2に、付属品S2の取り付け位置の予め決められた公差範囲を設定しておくことで、演算装置2は、第4ステップで特定した付属品S2の取り付け位置が予め決められた公差範囲内であるか否かを自動で判定可能である。すなわち、付属品S2の取り付け位置を自動で精度良く検査可能である。
図4は、本実施形態に係る検査方法を用いて、付属品S2の取り付け位置を検査した結果の一例を示す。図4(a)は、第3ステップにおいて、SA1/SA2=0.6の部分的な表面形状モデルを用いてマッチングを行った場合の付属品S2の取り付け位置の特定(算出)結果を示す。図4(b)は、図4(a)に示すものと同じ被検査体Sに対して、第4ステップにおいて、SA1/SA2の値を変更してマッチングを行った場合のマッチングの良否を評価した結果を示す。図4(b)に示す「〇」はマッチングが適切に行われたことを、「×」はマッチングが失敗したことを意味する。
設計仕様では、図4(a)に示す上側の付属品S2の取り付け位置は、被検査体Sの端面SEから約599mmであり、下側の付属品S2の取り付け位置は、被検査体Sの端面SEから約601mmである。本実施形態に係る検査方法(特に、SA1/SA2=0.6)を用いれば、上側の付属品S2の取り付け位置は端面SEから659.1mmと算出(特定)され、下側の付属品S2の取り付け位置は端面SEから661.5mmと算出(特定)された。コンベックスを用いて各付属品S2の取り付け位置を測定したところ、上側の付属品S2の取り付け位置は端面SEから662.5mmで、下側の付属品S2の取り付け位置は端面SEから662.5mmであり、本実施形態に係る検査方法によれば、付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査できることが確認できた。
また、図4(b)から分かるように、前述の式(1)を満足する、すなわち、0.25≦SA1/SA2≦0.75となる被検査体Sの部分的な表面形状モデルをマッチングに用いることで、マッチングが失敗することなく、精度の良いマッチングを行うことが可能であり、この結果、付属品の取り付け位置を自動で精度良く検査できるといえる。
なお、本実施形態では、1台の3次元形状測定装置1を複数の位置に移動させて、それぞれの位置で被検査体Sの表面形状を測定する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、測定する位置毎に複数台の3次元形状測定装置1を設ける構成を採用することも可能である。
また、本実施形態では、被検査体本体S1がスパイラル鋼管であり、付属品S2が吊金具である場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、付属品S2がコマの場合にも適用可能である。また、被検査体本体S1と、被検査体本体S1の法線方向に突出して取り付けられた付属品S2と、を備えた被検査体Sである限りにおいて、種々の被検査体Sに適用可能である。
さらに、本実施形態では、第2Aステップを含む場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限るものではなく、演算装置2の演算能力に余裕がある場合等であれば、第2Aステップを省略し、第3ステップにおいて、第1ステップで取得した被検査体表面の3次元点群データ全体を被検査体の部分的な表面形状モデルとマッチングさせることも可能である。
1・・・3次元形状測定装置
2・・・演算装置
100・・・検査装置
S・・・被検査体(吊金具付きスパイラル鋼管)
S1・・・被検査体本体(スパイラル鋼管)
S2・・・付属品(吊金具)

Claims (6)

  1. 被検査体本体と、前記被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品と、を備える被検査体について、前記付属品の取り付け位置を検査する方法であって、
    光学式の3次元形状測定装置によって前記被検査体の表面形状を測定することで、前記被検査体表面の3次元点群データを取得する第1ステップと、
    前記第1ステップで取得した前記被検査体表面の3次元点群データの座標系と、予め用意された前記被検査体の表面形状モデルの座標系とを合致させる第2ステップと、
    前記第2ステップで座標系の合致した前記被検査体表面の3次元点群データと、前記被検査体の表面形状モデルのうち、前記付属品と前記被検査体本体の一部とを含む前記被検査体の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる第3ステップと、
    前記第3ステップにおけるマッチング結果に基づき、前記被検査体表面の3次元点群データにおける前記付属品の取り付け位置を特定する第4ステップと、
    を含む付属品の取り付け位置検査方法。
  2. 前記第3ステップにおいて、前記被検査体表面の3次元点群データとマッチングさせる前記被検査体の部分的な表面形状モデルは、前記被検査体本体の一部の表面積をSA1とし、前記付属品の表面積をSA2とすると、以下の式(1)で表される、
    請求項1に記載の付属品の取り付け位置検査方法。
    0.25≦SA1/SA2≦0.75 ・・・(1)
  3. 前記第3ステップにおいて、前記被検査体表面の3次元点群データのPPF特徴量と、前記被検査体の部分的な表面形状モデルのPPF特徴量とを用いて、前記被検査体表面の3次元点群データと、前記被検査体の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる、
    請求項1又は2に記載の付属品の取り付け位置検査方法。
  4. 前記第1ステップで用いる前記光学式の3次元形状測定装置は、TOF方式の3次元形状測定装置である、
    請求項1から3の何れかに記載の付属品の取り付け位置検査方法。
  5. 前記被検査体本体は、スパイラル鋼管であり、
    前記付属品は、吊金具である、
    請求項1から4の何れかに記載の付属品の取り付け位置検査方法。
  6. 被検査体本体と、前記被検査体本体の法線方向に突出して取り付けられた付属品と、を備える被検査体について、前記付属品の取り付け位置を検査する装置であって、
    前記被検査体の表面形状を測定する光学式の3次元形状測定装置と、
    前記被検査体の表面形状モデルが予め記憶されており、前記3次元形状測定装置による測定結果が入力され、所定の演算を実行する演算装置と、を備え、
    前記演算装置は、
    前記3次元形状測定装置による測定結果に基づき、前記被検査体表面の3次元点群データを生成する第1ステップと、
    前記第1ステップで取得した前記被検査体表面の3次元点群データの座標系と、予め用意された前記被検査体の表面形状モデルの座標系とを合致させる第2ステップと、
    前記第2ステップで座標系の合致した前記被検査体表面の3次元点群データと、前記被検査体の表面形状モデルのうち、前記付属品と前記被検査体本体の一部とを含む前記被検査体の部分的な表面形状モデルとをマッチングさせる第3ステップと、
    前記第3ステップにおけるマッチング結果に基づき、前記被検査体表面の3次元点群データにおける前記付属品の取り付け位置を特定する第4ステップと、
    を実行する付属品の取り付け位置検査装置。
JP2020023795A 2020-02-14 2020-02-14 付属品の取り付け位置検査方法及び取り付け位置検査装置 Active JP7410387B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020023795A JP7410387B2 (ja) 2020-02-14 2020-02-14 付属品の取り付け位置検査方法及び取り付け位置検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020023795A JP7410387B2 (ja) 2020-02-14 2020-02-14 付属品の取り付け位置検査方法及び取り付け位置検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021128099A true JP2021128099A (ja) 2021-09-02
JP7410387B2 JP7410387B2 (ja) 2024-01-10

Family

ID=77488406

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020023795A Active JP7410387B2 (ja) 2020-02-14 2020-02-14 付属品の取り付け位置検査方法及び取り付け位置検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7410387B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59190590A (ja) * 1983-04-14 1984-10-29 九州スパイラル鋼管株式会社 スパイラルダクト
JPH0795560A (ja) * 1993-09-20 1995-04-07 Hitachi Ltd 遠隔操作システムの画像計測方法及びその装置並びに距離計測方法
JP2014055915A (ja) * 2012-09-14 2014-03-27 Keyence Corp 外観検査装置、外観検査法およびプログラム

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59190590A (ja) * 1983-04-14 1984-10-29 九州スパイラル鋼管株式会社 スパイラルダクト
JPH0795560A (ja) * 1993-09-20 1995-04-07 Hitachi Ltd 遠隔操作システムの画像計測方法及びその装置並びに距離計測方法
JP2014055915A (ja) * 2012-09-14 2014-03-27 Keyence Corp 外観検査装置、外観検査法およびプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP7410387B2 (ja) 2024-01-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4492654B2 (ja) 3次元計測方法および3次元計測装置
CN111505606A (zh) 多相机与激光雷达系统相对位姿检校方法及装置
JP6736257B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法、プログラム
JP2014044203A5 (ja)
KR102113068B1 (ko) 수치지도 및 도로정밀지도 구축 자동화를 위한 방법
US8205500B2 (en) Systems and methods for inspecting an object using ultrasound
JP5388921B2 (ja) 3次元距離計測装置及びその方法
JP2010261772A (ja) 鉄筋のかぶり厚さ検査装置および鉄筋のかぶり厚さ検査方法
US20190017815A1 (en) Deformation processing support system and deformation processing support method
US8467992B1 (en) Vision based location and measurement device and methods
WO2018186213A1 (ja) 変形加工支援システムおよび変形加工支援方法
WO2018168757A1 (ja) 画像処理装置、システム、画像処理方法、物品の製造方法、プログラム
Allard et al. Differentiation of 3D scanners and their positioning method when applied to pipeline integrity
JP6289317B2 (ja) モデル化データ算出方法及びモデル化データ算出装置
JP2015147517A (ja) 整備支援システムおよび整備支援方法
Jin et al. A multi-vision-based system for tube inspection
KR101792701B1 (ko) 도면 검사 장치 및 방법
JP2021128099A (ja) 付属品の取り付け位置検査方法及び取り付け位置検査装置
JP2017181263A (ja) 欠陥検出装置
US11566888B1 (en) Systems and methods for automatic measurement and scanning of complex surfaces
JP2010048581A (ja) 埋金設置位置照合方法および埋金設置位置照合システム
JP2012013593A (ja) 3次元形状測定機の校正方法及び3次元形状測定機
WO2023199575A1 (ja) モデル生成装置、モデル生成システム、モデル生成方法及びプログラム
WO2022260028A1 (ja) 外観検査装置、外観検査方法、画像生成装置および画像生成方法
JP6091092B2 (ja) 画像処理装置、及び画像処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20221006

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230517

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230523

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230623

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230829

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230927

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20231005

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231031

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231102

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231121

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231204

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 7410387

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151