JP2021117053A - 均一度測定装置、均一度測定方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の実施形態に係る均一度測定装置1について、図1及び図2を用いて詳細に説明する。
jは、虚数単位であり、
ωは、角周波数であり、
Tは、CPE定数であり、
pは、CPE指数(ZCPEの次数)である。
次に、図4を参照しながらスラリーXcの評価指標としての均一度を測定する均一度測定処理について説明する。
次に、本実施形態による作用効果について説明する。
上述した均一度測定方法は、均一度の測定をコンピュータに実行させるためのプログラムとして提供することもできる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、上記実施形態は、本発明の適用例の一部を示したに過ぎず、本発明の技術的範囲を上記実施形態の具体的構成に限定する趣旨ではない。
2 電極
3 測定装置本体
31 測定部
32 記憶部
33 操作部
34 表示部
35 処理部
111 解析設定モジュール
112 インピーダンス取得モジュール
113 虚数成分生成部
114 実数成分生成部
115 複素平面インピーダンスデータ生成モジュール、生成モジュール
116 等価回路解析モジュール
117 均一度算出モジュール
Claims (5)
- 液体に不溶性の固体物質が混合された混合液の均一度を測定する均一度測定装置であって、
前記混合液に交流信号を印加する一対の電極と、
前記交流信号が印加された際に前記混合液に流れる応答信号に基づいて前記混合液のインピーダンスを測定する測定手段と、
前記測定手段において測定されたインピーダンスから、抵抗器とコンスタント・フェーズ・エレメントとの並列回路を要素とする等価回路を設定し、設定した前記等価回路を用いて等価回路解析を実行して複素平面インピーダンスを示すデータを生成し、前記並列回路に関するパラメータに基づいて前記均一度を算出する処理手段と、
を備える均一度測定装置。 - 請求項1に記載の均一度測定装置であって、
前記処理手段は、前記コンスタント・フェーズ・エレメントの次数が1に近いほど前記固体物質の大きさの均一性が高いと判断する、
均一度測定装置。 - 請求項1に記載の均一度測定装置であって、
前記処理手段は、前記等価回路解析によって得られた前記並列回路の数に応じて前記固体物質の種類の数を判別する、
均一度測定装置。 - 液体に不溶性の固体物質が混合された混合液の均一度を測定する均一度測定方法であって、
前記混合液に交流信号の周波数を変化させながら前記交流信号を印加し、
前記混合液に前記交流信号が印加された際に前記混合液に流れる応答信号から前記混合液のインピーダンスを測定し、
前記測定されたインピーダンスから、抵抗器とコンスタント・フェーズ・エレメントとの並列回路を要素とする等価回路を求め、前記等価回路を用いて前記均一度を算出する、
均一度測定方法。 - 液体に不溶性の固体物質が混合された混合液における粒子の均一度の測定をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記混合液に交流信号の周波数を変化させながら前記交流信号を印加し、
前記混合液に前記交流信号が印加された際に前記混合液に流れる応答信号から前記混合液のインピーダンスを測定し、
前記測定されたインピーダンスから、抵抗器とコンスタント・フェーズ・エレメントとの並列回路を要素とする等価回路を求め、前記等価回路を用いて前記均一度を算出する、
均一度測定方法を実行させるプログラム。
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