JP2021067547A - 硬さ試験機、硬さ試験方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機であって、
前記圧子の中心軸に対して均等に所定の距離だけ離れた位置に配設される少なくとも2つの接触部と、
前記圧子と前記接触部とがそれぞれ前記試料の表面に接触したタイミングでの高さ位置の差分を測定する第1の測定手段と、
前記第1の測定手段により測定された前記差分と、前記圧子と前記接触部との位置関係と、に基づいて前記試料の径を導出する導出手段と、
前記導出手段により導出された前記試料の径を考慮して当該試料の硬さを測定する第2の測定手段と、
を備えることを特徴とする。
前記圧子の中心軸に対する前記接触部の距離を調整可能な調整手段を備えることを特徴とする。
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機の硬さ試験方法であって、
前記圧子と当該圧子の中心軸に対して均等に所定の距離だけ離れた位置に配設される少なくとも2つの接触部とがそれぞれ前記試料の表面に接触したタイミングでの高さ位置の差分を測定する第1の測定工程と、
前記第1の測定工程により測定された前記差分と、前記圧子と前記接触部との位置関係と、に基づいて前記試料の径を導出する導出工程と、
前記導出工程により導出された前記試料の径を考慮して当該試料の硬さを測定する第2の測定工程と、
を含む硬さ試験方法である。
試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機のコンピュータを、
前記圧子と当該圧子の中心軸に対して均等に所定の距離だけ離れた位置に配設される少なくとも2つの接触部とがそれぞれ前記試料の表面に接触したタイミングでの高さ位置の差分を測定する第1の測定手段、
前記第1の測定手段により測定された前記差分と、前記圧子と前記接触部との位置関係と、に基づいて前記試料の径を導出する導出手段、
前記導出手段により導出された前記試料の径を考慮して当該試料の硬さを測定する第2の測定手段、
として機能させるためのプログラムである。
XYステージ3は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動する駆動機構部(図示省略)により駆動され、試料台2を圧子14aの移動方向(Z方向)に垂直な方向(X,Y方向)に移動させる。
AFステージ4は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、CCDカメラ12が撮像した画像データに基づき試料台2を微細に昇降させることで、試料Sの表面に焦点を合わせる。
昇降機構部5は、制御部6が出力する制御信号に応じて駆動され、試料台2(XYステージ3、AFステージ4)をZ方向に移動させることで、試料台2と対物レンズ15との間の相対距離を変化させる。なお、昇降機構部5は、AFステージ4を含んで一体化された構成とすることも可能である。
また、AFステージ4及び昇降機構部5を備えない構成とすることも可能である。この場合、硬さ測定部1をZ方向に上下動可能に構成するとよい。即ち、硬さ測定部1のZ方向の上下動により、試料台2と対物レンズ15との間の相対距離を変化させて、試料Sの表面に焦点を合わせるオートフォーカス機能を実現することができる。
具体的には、操作部7は、ユーザーが、くぼみの合焦位置を決定する条件を選択する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザーが、試料台2(昇降機構部5及びAFステージ4)の移動する範囲(試料台2と対物レンズ15との間の相対距離の範囲)を指定する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザーが、硬さ試験機100による硬さ試験を実施する際の試験条件値を入力する操作を受け付ける。入力された試験条件値は、制御部6に送信される。ここで、試験条件値とは、例えば、試料Sの材質、圧子14aにより試料Sに負荷される試験力(N)、対物レンズ15の倍率、等の値である。
また、操作部7は、ユーザーが、くぼみの合焦位置の決定を手動で行う手動モード又は自動で行う自動モードの何れかを選択する操作を受け付ける。
また、操作部7は、ユーザーが、硬さ試験を実施する際の試験位置をプログラミングする操作を受け付ける。
RAM62は、CPU61により実行された処理プログラム等をRAM62内のプログラム格納領域に展開するとともに、入力データや上記処理プログラムが実行される際に生じる処理結果等をデータ格納領域に格納する。
記憶部63は、例えば、プログラムやデータ等を記憶する記録媒体(図示省略)を有しており、この記録媒体は、半導体メモリ等で構成されている。また、記憶部63は、CPU61が硬さ試験機100全体を制御する機能を実現させるための各種データ、各種処理プログラム、これらプログラムの実行により処理されたデータ等を記憶する。
また、記憶部63は、一つの試料Sにレイアウトされた試験パターンのプログラム(パートプログラム)を記憶する。
具体的には、本実施形態に係る硬さ試験機100において、試料の曲面(例えば、凸円筒面)の硬さを測定する処理について、図5のフローチャートを参照して説明する。この処理は、ユーザーによる曲面を対象とした硬さ試験開始の指示操作を検出したことを契機として開始される。なお、この指示操作の際に曲面の種類(例えば、凸円筒面、凹円筒面、凸球面、凹球面)の入力操作が行われているものとする。曲面の種類に応じて補正係数の値が異なるためである(JISZ2244:2009 附属書B参照)。
d2=l2+(d−a)2・・・(1)
そして、この等式(1)を変形すると下記(2)の等式が成り立つ。
2d=(a2+l2)/a・・・(2)
つまり、ゲージG2で計測された値とゲージG0で計測された値との差分、及び、ゲージG2で計測された値とゲージG1で計測された値との差分の絶対値aと、各接触部18aと圧子軸14との距離lの値と、を上記の(2)の等式に代入することによって、試料S2の曲面(凸円筒面)の直径2dが導出されることとなる。
したがって、本実施形態に係る硬さ試験機100によれば、通常の硬さ試験の一連の流れのなかで試料S2の曲面の径を導出し試料S2の曲面の硬さ値を算出する際に用いられる補正係数を得ることができるので、硬さ試験機100による硬さ試験とは別に、ユーザーが試料S2の曲面の径を測定し上記補正係数を得る必要がなくなり、試料S2の曲面に対する硬さ試験を効率良く行うことができる。
これにより、試料S2のサイズに応じて、圧子14aの中心軸と各接触部18a,18aとの距離を調整することができるので、試料S2の曲面の径の導出を適切に行うことができる。
10 試験機本体
1 硬さ測定部
11 照明装置
12 CCDカメラ
14 圧子軸
14a 圧子
15 対物レンズ
16 ターレット
17 フレームグラバー
18 試料表面基準機構
18a 接触部
2 試料台
3 XYステージ
4 AFステージ
5 昇降機構部
6 制御部(第1の測定手段、導出手段、第2の測定手段)
7 操作部
8 モニター
S1 基準試料
S2 試料
Claims (4)
- 試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機であって、
前記圧子の中心軸に対して均等に所定の距離だけ離れた位置に配設される少なくとも2つの接触部と、
前記圧子と前記接触部とがそれぞれ前記試料の表面に接触したタイミングでの高さ位置の差分を測定する第1の測定手段と、
前記第1の測定手段により測定された前記差分と、前記圧子と前記接触部との位置関係と、に基づいて前記試料の径を導出する導出手段と、
前記導出手段により導出された前記試料の径を考慮して当該試料の硬さを測定する第2の測定手段と、
を備えることを特徴とする硬さ試験機。 - 前記圧子の中心軸に対する前記接触部の距離を調整可能な調整手段を備えることを特徴とする請求項1に記載の硬さ試験機。
- 試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機の硬さ試験方法であって、
前記圧子と当該圧子の中心軸に対して均等に所定の距離だけ離れた位置に配設される少なくとも2つの接触部とがそれぞれ前記試料の表面に接触したタイミングでの高さ位置の差分を測定する第1の測定工程と、
前記第1の測定工程により測定された前記差分と、前記圧子と前記接触部との位置関係と、に基づいて前記試料の径を導出する導出工程と、
前記導出工程により導出された前記試料の径を考慮して当該試料の硬さを測定する第2の測定工程と、
を含む硬さ試験方法。 - 試料の表面に圧子により所定の試験力を負荷してくぼみを形成させ、当該くぼみの寸法を計測することにより試料の硬さを測定する硬さ試験機のコンピュータを、
前記圧子と当該圧子の中心軸に対して均等に所定の距離だけ離れた位置に配設される少なくとも2つの接触部とがそれぞれ前記試料の表面に接触したタイミングでの高さ位置の差分を測定する第1の測定手段、
前記第1の測定手段により測定された前記差分と、前記圧子と前記接触部との位置関係と、に基づいて前記試料の径を導出する導出手段、
前記導出手段により導出された前記試料の径を考慮して当該試料の硬さを測定する第2の測定手段、
として機能させるためのプログラム。
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JPS5860204U (ja) * | 1981-10-19 | 1983-04-23 | 株式会社ミツトヨ | 内外径測定器 |
JPH06308005A (ja) * | 1993-04-23 | 1994-11-04 | Akashi:Kk | 硬度計 |
JP2018165638A (ja) * | 2017-03-28 | 2018-10-25 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機及びプログラム |
CN111189697A (zh) * | 2020-01-15 | 2020-05-22 | 林丽洁 | 一种布氏硬度圆槽压痕直径测量装置 |
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