JP2021030245A - プラズマ切断機、及びプラズマ切断機を制御するための方法 - Google Patents

プラズマ切断機、及びプラズマ切断機を制御するための方法 Download PDF

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Abstract

【課題】本開示の目的は、プラズマ切断機において、ピアス工程時のプラズマトーチの損傷を回避すると共に、電源容量の無駄を抑えることにある。【解決手段】コントローラは、プラズマトーチをピアス位置に移動させる。コントローラは、プラズマトーチにプラズマアークを発生させてピアス位置でピアス工程を開始する。コントローラは、アーク電圧に基づいてピアス工程が完了したかを判定する。コントローラは、ピアス工程の開始からピアス工程の完了まで、プラズマトーチを水平方向においてピアス位置に保持する。コントローラは、ピアス工程の完了後、プラズマトーチを少なくとも水平方向を含む所定方向に移動させる。【選択図】図6

Description

本発明は、プラズマ切断機、及びプラズマ切断機を制御するための方法に関する。
プラズマ切断機を用いて、鋼板などの材料を切断する場合、最初にプラズマアークによって材料に穴を開ける工程(以下、ピアス工程と呼ぶ)が行われる。例えば特許文献1に示すように、ピアス工程では、プラズマ切断機は、プラズマトーチを切断開始位置の上方に移動させ、切断開始位置の上方でプラズマトーチにプラズマアークを着火する。プラズマアークが材料を貫通することで、ピアス工程が完了する。ピアス工程の完了後、プラズマ切断機は、切断工程に移行する。切断行程では、プラズマ切断機は、事前にプログラムされた形状に沿ってプラズマトーチを移動させることで、材料を切断する。
上記のように、切断工程は、ピアス工程によって材料に貫通穴が形成された後に開始される。その理由は、貫通穴が材料に形成される前は、プラズマアークにより溶かされた溶融金属(スパッタ)が上方に吹き上がってくるからである。スパッタがプラズマトーチに衝突すると、プラズマトーチがダメージを受けて、切断性能が低下する。そのため、スパッタを回避するために、ピアス工程中は、プラズマトーチは高い位置に退避している。
材料に貫通穴が形成された後、プラズマ切断機は、プラズマトーチを切断に適した高さまで下降させてから、切断工程に移行する。
特開2013−202676号公報
プラズマアークは、プラズマトーチの電極と材料との間でのアーク放電より生成される。アーク放電を維持するための電流(以下、アーク電流と呼ぶ)は、プラズマ電源からプラズマトーチに供給される。プラズマ電源は、指令値通りのアーク電流がプラズマトーチに供給されるように、アークを維持するための電圧(以下、「アーク電圧」と呼ぶ)を調整する。
ピアス工程では、プラズマアークが材料を貫通した後に、プラズマアークが引き伸ばされることで、アーク電圧が上昇する。また、プラズマアークが材料を貫通した後に、プラズマトーチがその場に留まっていると、貫通孔がプラズマアークにより拡大する。それにより、プラズマアークと材料との間の距離が広がり、プラズマアークの長さが伸びることで、アーク電圧は更に上昇する。この時、プラズマ電源の出力可能電圧を越えてアーク電圧が上昇すると、プラズマアークが消滅してしまう。プラズマアークが消滅すると、プラズマ切断機は、切断工程に移行できず、加工工程が中断する可能性がある。そのため、プラズマアークの消滅を防止するために、プラズマ電源は、余力のある出力容量を有している。
上記のようなピアス工程の完了時のアーク電圧の上昇は、切断行程よりも非常に短い時間だけ発生する。そのような短い時間でのアーク電圧の上昇に備えるために、十分に余力のある出力容量を有するプラズマ電源が用いられており、電源容量の無駄となっている。
本開示の目的は、プラズマ切断機において、ピアス工程時のプラズマトーチの損傷を回避すると共に、電源容量の無駄を抑えることにある。
本開示の一態様は、プラズマ切断機であって、テーブルと、プラズマトーチと、プラズマ電源と、アクチュエータと、電圧センサと、コントローラとを備える。テーブルは、材料を支持する、プラズマトーチは、電極を含む。プラズマ電源は、プラズマトーチに接続される。アクチュエータは、テーブルに対して水平方向及び上下方向に移動可能に、プラズマトーチを支持する。電圧センサは、プラズマ電源からプラズマトーチに印可されるアーク電圧を検出する。コントローラは、プラズマ電源とアクチュエータと電圧センサと通信する。
コントローラは、以下の処理を実行するように構成されている。コントローラは、プラズマトーチをピアス位置に移動させる。コントローラは、プラズマトーチにプラズマアークを発生させてピアス位置でピアス工程を開始する。コントローラは、アーク電圧に基づいてピアス工程が完了したかを判定する。コントローラは、ピアス工程の開始からピアス工程の完了まで、プラズマトーチを水平方向においてピアス位置に保持する。コントローラは、ピアス工程の完了後、プラズマトーチを少なくても水平方向を含む所定方向に移動させる。
本開示の他の態様に係る方法は、プラズマ切断機を制御するための方法であって、以下の処理を備える。第1の処理は、プラズマトーチをピアス位置に移動させることである。第2の処理は、プラズマトーチにプラズマアークを発生させてピアス位置でピアス工程を開始することである。第3の処理は、プラズマトーチに印可されるアーク電圧を取得することである。第4の処理は、アーク電圧に基づいてピアス工程が完了したかを判定することである。第5の処理は、ピアス工程の開始からピアス工程の完了まで、プラズマトーチを水平方向においてピアス位置に保持することである。第6の処理は、ピアス工程の完了後、プラズマトーチを少なくとも水平方向を含む所定方向に移動させることである。なお、上述した各処理の名称は、説明の便宜のために付されたものであり、各処理が実行される順番を限定するものではない。
本開示によれば、プラズマ切断機において、ピアス工程時のプラズマトーチの損傷が回避されると共に、電源容量の無駄が抑えられる。
実施形態に係るプラズマ切断機の斜視図である。 プラズマトーチの一部を示す断面図である。 プラズマ切断機の制御システムを示すブロック図である。 プラズマ切断機の制御の処理を示すフローチャートである。 プラズマトーチの位置を示す模式図である。 アーク電流およびアーク電圧の変化の一例と、プラズマトーチの高さの変化とを示す図である。
以下、図面を参照して本開示の実施形態について説明する。図1は、実施形態に係るプラズマ切断機1の斜視図である。プラズマ切断機1は、テーブル2と、プラズマトーチ3と、アクチュエータ4と、入力装置5とを備えている。テーブル2上には、鋼板などの材料100が置かれる。テーブル2は、切断される材料100を支持する。プラズマトーチ3は、テーブル2の上方に配置されている。プラズマトーチ3は、プラズマアークを噴出する。
図2は、プラズマトーチ3の一部を示す断面図である。図2に示すように、プラズマトーチ3は、電極11と、ノズル12と、シールドキャップ13とを含む。電極11の先端は、ノズル12内に配置されている。ノズル12は、噴出孔14を含む。ノズル12の噴出孔14は、電極11の先端に向かい合っている。シールドキャップ13は、ノズル12を覆う。シールドキャップ13は、ノズル12の噴出孔14に向かい合う噴出孔15を含む。プラズマトーチ3は、電極11と材料100との間のアーク放電によって、プラズマアークを発生させる。
アクチュエータ4は、プラズマトーチ3をテーブル2に対して水平方向及び上下方向に移動可能に支持する。図1に示すように、アクチュエータ4は、第1リニアガイド21と、第1キャリッジ22と、第2リニアガイド23と、第2キャリッジ24とを含む。第1リニアガイド21は、テーブル2の側方に配置されている。第1リニアガイド21は、X軸方向に延びている。第2リニアガイド23は、テーブル2の上方に配置されている。第2リニアガイド23は、Y軸方向に延びている。なお、本実施形態において、X軸及びY軸は、テーブル2の上面に沿う座標である。X軸及びY軸は、互いに直交しており、水平方向に延びる。Z軸は、テーブル2の上面に直交し、上下方向に延びている。
第1キャリッジ22は、第1リニアガイド21に沿ってX軸方向に移動可能である。第2リニアガイド23は、第1キャリッジ22に支持されている。第2キャリッジ24は、第2リニアガイド23に沿ってY軸方向に移動可能である。プラズマトーチ3は、第2キャリッジ24に取り付けられている。第2キャリッジ24は、プラズマトーチ3をZ軸方向に移動可能に支持している。
図3は、プラズマ切断機1の制御システムを示すブロック図である。図3に示すように、プラズマ切断機1は、第1モータ25と、第2モータ26と、第3モータ27とを備えている。第1モータ25は、第1キャリッジ22を第1リニアガイド21に沿って移動させる。第2モータ26は、第2キャリッジ24を第2リニアガイド23に沿って移動させる。第3モータ27は、プラズマトーチ3を第2キャリッジ24に対して上下に移動させる。第1〜第3モータ25−27が駆動されることで、アクチュエータ4は、プラズマトーチ3を、テーブル2上の材料100に対して、水平方向(X,Y軸方向)及び上下方向(Z軸方向)の任意の位置に移動させる。
図3に示すように、プラズマ切断機1は、プラズマ電源28と電圧センサ29とを備えている。プラズマ電源28は、プラズマトーチ3に電気的に接続されている。プラズマ電源28は、プラズマアークを発生させるための電力をプラズマトーチ3に供給する。プラズマ電源28は、例えば整流器とインバータと変圧器とを含む。電圧センサ29は、プラズマ電源28からプラズマトーチ3に印可されるアーク電圧を検出する。電圧センサ29は、アーク電圧を示す信号を出力する。入力装置5は、例えば複数の入力キーとディスプレイとを含む。オペレータは、入力装置5を用いて、加工条件などのデータを入力する。入力装置5は、入力されたデータを示す信号を出力する。
図3に示すように、プラズマ切断機1は、コントローラ31を備えている。コントローラ31は、取得したデータに基づいて、プラズマ切断機1を制御するようにプログラムされている。コントローラ31は、記憶装置32とプロセッサ33とを含む。記憶装置32は、ROMなどの不揮発性メモリと、RAMなどの揮発性メモリとを含む。記憶装置32は、ハードディスク、或いはSSD(Solid State Drive)などの補助記憶装置を含んでもよい。記憶装置32は、非一時的な(non-transitory)コンピュータで読み取り可能な記録媒体の一例である。記憶装置32は、プラズマ切断機1を制御するためのコンピュータ指令及びデータを記憶している。
プロセッサ33は、例えばCPU(central processing unit)である。プロセッサ33は、プログラムに従って、プラズマ切断機1を制御するための処理を実行する。コントローラ31は、第1〜第3モータ25−27、プラズマ電源28、及び電圧センサ29と通信を行う。コントローラ31は、第1〜第3モータ25−27を制御することで、プラズマトーチ3を移動させる。コントローラ31は、プラズマ電源28を制御することで、プラズマトーチ3にプラズマアークを発生させる。コントローラ31は、プラズマトーチ3においてプラズマアークを維持しながら、プラズマトーチ3を移動させることで、材料100を切断する。
次に、コントローラ31によって実行されるプラズマ切断機1による加工の処理について説明する。プラズマ切断機1による加工では、まずピアス工程により材料100にピアス孔が形成される。そして、切断工程によって、材料100から製品が切り出される。図4は、プラズマ切断機1の制御の処理を示すフローチャートである。
図4に示すように、プラズマ切断機1による加工が開始されると、ステップS101において、コントローラ31は、プラズマトーチ3をピアス位置へ移動させる。ピアス位置は、テーブル2上における水平方向の位置であり、XY座標で示される。図5は、プラズマトーチ3の位置を示す模式図である。図5(a)に示すように、コントローラ31は、ピアス位置においてプラズマトーチ3を第1高さH1に配置する。
ステップS102では、コントローラ31は、プラズマトーチ3にプラズマアークを着火する。それにより、コントローラ31は、ピアス工程を開始する。図6は、アーク電流およびアーク電圧の変化の一例と、プラズマトーチ3の高さの変化とを示す図である。図6において、実線A1はプラズマトーチ3の高さの変化を示し、破線I1はアーク電流を示し、実線V1はアーク電圧を示す。図6に示すように、時間T1において、コントローラ31は、プラズマトーチ3の電極11に高電圧を印加する。それにより、プラズマトーチ3においてプラズマアークが発生する。プラズマアークが発生することで、時間T2においてアーク電圧が低下する。
次に、ステップS103において、コントローラ31は、プラズマトーチ3を上昇させる。図5に示すように、コントローラ31は、ピアス位置で、プラズマトーチ3を第2高さH2に上昇させる。第2高さH2は、第1高さH1よりも上方に位置する。図6に示すように、時間T1〜T3において、コントローラ31は、プラズマトーチ3を上昇させる。それにより、アーク電圧が上昇する。
ステップS104において、コントローラ31は、ピアス位置でプラズマトーチ3を第2高さH2に保持する。それにより、図5(b)に示すように、プラズマアークによって、ピアス孔が材料100に形成される。このとき、材料100からスパッタが飛散するが、プラズマトーチ3は第2高さH2に位置していることで、スパッタのプラズマトーチ3への衝突が回避される。図6では、時間T3〜T4において、ピアス孔200が材料100に形成される。このとき、ピアス孔200の伸長に伴い、アーク電圧が上昇する。
ステップS105において、コントローラ31は、ピアス工程が完了したかを判定する。コントローラ31は、アーク電圧に基づいてピアス工程が完了したかを判定する。詳細には、コントローラ31は、アーク電圧の単位時間当たりの上昇率を取得する。コントローラ31は、電圧センサ29の検出値から、アーク電圧の単位時間当たりの上昇率を算出する。コントローラ31は、上昇率が閾値以上であるときに、ピアス工程が完了したと判定する。図5(c)に示すように、ピアス工程は、ピアス孔200が材料100を貫通したときに完了する。ピアス孔200が材料100を貫通すると、プラズマアークが引き伸ばされる。それにより、図6において時間T4〜T5で、アーク電圧が急上昇する。コントローラ31は、このときのアーク電圧の急上昇を検出することで、ピアス工程の完了を判定する。
なお、コントローラ31は、プラズマアークの発生開始時点から所定時間の間には、ピアス工程の完了の判定を無効とする。それにより、例えば、図6において時間T1〜T3の間のプラズマアークの発生時の電圧上昇により、ピアス工程の完了が誤って判断されることを防止できる。
ステップS105において、コントローラ31が、ピアス工程が完了していないと判定したときには、処理はステップS106に進む。ステップS106において、コントローラ31は、ピアス工程の開始から所定時間が経過したかを判定する。所定時間は、切断条件ごとに設定されてもよい。或いは、所定時間は一定値であってもよい。ピアス工程の開始から所定時間が経過していないときには、処理はステップS104に戻る。すなわち、コントローラ31は、ピアス工程の完了まで、或いはピアス工程の開始から所定時間が経過するまで、プラズマトーチ3をピアス位置において第2高さH2に保持する。ステップS105において、コントローラ31が、ピアス工程が完了したと判定したとき、或いはステップS106において、コントローラ31が、ピアス工程の開始から所定時間が経過したと判定したときには、処理はステップS107に進む。
ステップS107では、コントローラ31は、プラズマトーチ3を下降させながら切断工程を開始する。図5(d)に示すように、コントローラ31は、プラズマトーチ3を第3高さH3まで下降させながら、プラズマトーチ3の目標軌道に従って水平方向へ移動させる。第3高さH3は、第2高さH2よりも下方に位置する。第3高さH3は、第1高さH1よりも下方に位置する。プラズマトーチ3が第3高さH3に到達した後、図5(e)に示すように、コントローラ31は、プラズマトーチ3の高さを第3高さH3に保持しながら、プラズマトーチ3を目標軌道に沿って水平方向へ移動させる。目標軌道は、予め設定された製品の目標形状に従って、コントローラ31によって決定される。プラズマトーチ3が目標軌道に沿って移動することで、材料100から製品が切り出される。なお、上述したピアス位置、第1〜第3高さH3、製品の目標形状は、記憶装置32に保存されている。
以上説明した本実施形態に係るプラズマ切断機1では、コントローラ31は、アーク電圧に基づいてピアス工程の完了を判定する。そのため、ピアス工程の完了までの推定時間に基づいてピアス工程の完了が判定される場合と比べて、精度よくピアス工程の完了を判定することができる。それにより、ピアス工程の時間を短縮することで、ピアス孔200の拡大によるアーク電圧の上昇を抑えることができる。
また、実施形態に係るプラズマ切断機1では、コントローラ31は、ピアス工程の完了後、プラズマトーチ3を下降させながら、速やかに水平方向に移動させる。そのため、ピアス工程の完了後にプラズマトーチ3がピアス位置に保持されたまま下降する場合と比べて、ピアス孔200の拡大を抑えることができる。それにより、アーク電圧の上昇を抑えることができる。なお、図6では、時間T1において電圧が急激に上昇しているが、電流が小さいために、電源容量の増大を招くものではない。以上より、本実施形態に係るプラズマ切断機1では、ピアス工程によるアーク電圧の上昇に備えるためのプラズマ電源28の電源容量を小さく抑えることができる。或いは、同じ電源容量であれば、アーク電圧が抑えられることで、アーク電流を増大することができる。それにより、電源容量の増大を抑えながら、プラズマ切断機1の切断性能を向上させることができる。
図6において、二点鎖線A2は、比較例に係るプラズマトーチ3の高さの変化を示し、二点鎖線V2は、比較例に係るアーク電圧を示す。比較例では、コントローラは、ピアス工程の開始から所定時間後に、プラズマトーチを真下に降下させる。そして、コントローラは、プラズマトーチの下降を所定の高さ位置で停止し、その後、水平方向にプラズマトーチを移動させる。比較例では、ピアス工程の開始から完了までの予測時間が、所定時間として設定される。予測時間は余裕をもって見積もられるため、図6に示すように、比較例では、上述した時間T5よりも遅い時間T5’でプラズマトーチが下降を開始する。また、比較例では、プラズマトーチが真下に降下し、その後、水平方向に移動する。そのため、図6においてV2で示されているように、アーク電圧の最高電圧が大きくなる。それに対して、本実施形態に係る一例では、図6においてV1で示されているように、アーク電圧の最高電圧が低く抑えられる。それにより、電源容量の増大を抑えながら、プラズマ切断機1の切断性能を向上させることができる。
コントローラ31は、アーク電圧に基づいてピアス工程が完了していないと判定しても、ピアス工程の開始から所定時間が経過したと判定したときには、プラズマトーチ3を下降させながら水平方向に移動させる。そのため、切断条件によっては、ピアス貫通時のアーク電圧上昇が小さく、上記のようなアーク電圧の変化を検知できない場合であっても、アーク電圧の上昇を抑えることができる。
コントローラ31は、アーク電圧の単位時間当たりの上昇率によって、ピアス工程の完了を判定している。それにより、ピアス工程での溶接トーチの高さ、或いはアーク電流の値などの切断条件の違いによる影響を抑えて、精度良くピアス工程の完了を判定することができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。例えば、プラズマトーチ3の構成は変更されてもよい。アクチュエータ4の構成は変更されてもよい。上述したコントローラ31による処理は、変更、或いは追加されてもよい。コントローラ31による処理の一部が省略されてもよい。コントローラ31による処理の実行順序が変更されてもよい。
ピアス工程の完了の判定方法は変更されてもよい。例えば、アーク電圧が所定の閾値以上であるときに、ピアス工程の完了が判定されてもよい。上記の実施形態では、コントローラ31は、ピアス工程の完了後、プラズマトーチ3を下降させながら水平方向に移動させる。しかし、コントローラ31は、ピアス工程の完了後、プラズマトーチ3を水平方向に移動させてもよい。
本開示によれば、プラズマ切断機において、ピアス工程時のプラズマトーチの損傷が回避されると共に、電源容量の無駄が抑えられる。
2 テーブル
3 プラズマトーチ
4 アクチュエータ
28 プラズマ電源
29 電圧センサ
31 コントローラ

Claims (10)

  1. プラズマアークによって材料を切断するプラズマ切断機であって、
    前記材料を支持するためのテーブルと、
    電極を含むプラズマトーチと、
    前記プラズマトーチに接続されたプラズマ電源と、
    前記プラズマトーチを前記テーブルに対して水平方向及び上下方向に移動可能に支持するアクチュエータと、
    前記プラズマ電源から前記プラズマトーチに印可されるアーク電圧を検出する電圧センサと、
    プラズマ電源と前記アクチュエータと前記電圧センサと通信するコントローラと、
    を備え、
    前記コントローラは、
    前記プラズマトーチをピアス位置に移動させ、
    前記プラズマトーチにプラズマアークを発生させて前記ピアス位置でピアス工程を開始し、
    前記アーク電圧に基づいて前記ピアス工程が完了したかを判定し、
    前記ピアス工程の開始から前記ピアス工程の完了まで、前記プラズマトーチを前記水平方向において前記ピアス位置に保持し、
    前記ピアス工程の完了後、前記プラズマトーチを少なくとも前記水平方向を含む所定方向に移動させる、
    プラズマ切断機。
  2. 前記コントローラは、前記ピアス工程の完了後、前記プラズマトーチを下降させながら前記水平方向に移動させる、
    請求項1に記載のプラズマ切断機。
  3. 前記コントローラは、
    前記アーク電圧の単位時間当たりの上昇率を取得し、
    前記上昇率が閾値以上であるときに、前記ピアス工程が完了したと判定する、
    請求項1又は2に記載のプラズマ切断機。
  4. 前記コントローラは、前記アークの発生開始時点から所定時間の間には、前記ピアス工程の完了の判定を無効とする、
    請求項1から3のいずれかに記載のプラズマ切断機。
  5. 前記コントローラは、前記アーク電圧に基づいて前記ピアス工程が完了していないと判定しても、前記ピアス工程の開始後、所定時間が経過したときには、前記プラズマトーチを少なくとも前記水平方向を含む前記所定方向に移動させる、
    請求項1から4のいずれかに記載のプラズマ切断機。
  6. プラズマトーチを含み、プラズマアークによって材料を切断するプラズマ切断機を制御するための方法であって、
    前記プラズマトーチをピアス位置に移動させることと、
    前記プラズマトーチにプラズマアークを発生させて前記ピアス位置でピアス工程を開始することと、
    前記プラズマトーチに印可されるアーク電圧を取得することと、
    前記アーク電圧に基づいて前記ピアス工程が完了したかを判定することと、
    前記ピアス工程の開始から前記ピアス工程の完了まで、前記プラズマトーチを前記水平方向において前記ピアス位置に保持することと、
    前記ピアス工程の完了後、前記プラズマトーチを少なくとも前記水平方向を含む所定方向に移動させること、
    を備える方法。
  7. 前記ピアス工程の完了後、前記プラズマトーチを下降させながら前記水平方向に移動させることを備える、
    請求項6に記載の方法。
  8. 前記アーク電圧の単位時間当たりの上昇率を取得することをさらに備え、
    前記上昇率が閾値以上であるときに、前記ピアス工程の完了が判定される、
    請求項6又は7に記載の方法。
  9. 前記アークの発生開始時点から所定時間の間には、前記ピアス工程の完了の判定が無効とされる、
    請求項6から8のいずれかに記載の方法。
  10. 前記アーク電圧に基づいて前記ピアス工程が完了していないと判定されても、前記ピアス工程の開始後、所定時間が経過したときには、前記プラズマトーチを少なくとも前記水平方向を含む前記所定方向に移動させることをさらに備える、
    請求項6から9のいずれかに記載の方法。
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